JP2020071084A - 光学特性測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】使い勝手を向上する。【解決手段】光学特性測定装置は、照明光で照明された測定対象からの反射光を受光して受光光量を表す試料受光信号を出力し、照明光の一部を参照光として受光して受光光量を表す参照受光信号を出力し、試料受光信号と参照受光信号とに基づき測定対象の光学特性を測定する光学特性測定部と、ゼロ校正を実行するためのゼロ校正部と、ゼロ校正が正常に実行されたか否かを判定するためのゼロ判定閾値を予め記憶する記憶部と、ゼロ校正がユーザにより実行されたときに得られた試料受光信号を参照受光信号で除算した商であるゼロ校正値とゼロ判定閾値とに基づき、ゼロ校正が正常に実行されたか否かを判定する校正判定部と、ゼロ校正が正常に実行されていないと判定されると、ゼロ校正部を測定対象として用いて、ゼロ校正を再実行するようにユーザに報知する報知部と、を備える。【選択図】図１

Description

本発明は、測定対象の光学特性を測定する光学特性測定装置に関する。

従来、測定対象の色彩、色差、輝度などの光学特性を測定する分光測色計、色彩色差計、輝度計等の光学特性測定装置が知られている。このような光学特性測定装置では、非特許文献１に説明されているように、ゼロ校正を正しく行うことが必要となっている。

コニカミノルタ株式会社、計測機器、お客様サポート、よくあるご質問、分光測色計・色彩色差計、分光測色計・色彩色差計のＦＡＱ、エラー・トラブルについて、［online］、コニカミノルタ株式会社、［平成３０年１０月１０日検索］、インターネット、＜ＵＲＬ：https://www.konicaminolta.jp/instruments/support/faq/color/common/common_128.html＞

しかしながら、非特許文献１に記載の光学特性測定装置では、単に、「校正を正しい手順で行ってください」というメッセージが出力されるだけである。そこで、ユーザに対して、ゼロ校正をどのように実行するべきかを報知することにより、使い勝手を向上した光学特性測定装置を実現することが望まれる。

本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、ゼロ校正が正常に実行されなかったときに、ゼロ校正をどのように実行するべきかをユーザに報知することにより、使い勝手を向上した光学特性測定装置を提供することを目的とする。

本発明の一態様に係る光学特性測定装置は、
測定開口を介して照明光で照明された測定対象からの反射光を受光して受光光量を表す試料受光信号を出力し、前記照明光の一部を参照光として受光して受光光量を表す参照受光信号を出力し、前記試料受光信号と前記参照受光信号とに基づき前記測定対象の光学特性を測定する光学特性測定部と、
前記測定対象として用いられてゼロ校正を実行するためのゼロ校正部と、
前記ゼロ校正部が前記測定対象として用いられて前記ゼロ校正が正常に実行されたか否かを判定するためのゼロ判定閾値を予め記憶する記憶部と、
前記ゼロ校正がユーザにより実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商であるゼロ校正値と前記ゼロ判定閾値とに基づき、前記ゼロ校正が正常に実行されたか否かを判定する校正判定部と、
前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定されると、前記ゼロ校正部を前記測定対象として用いて、前記ゼロ校正を再実行するように前記ユーザに報知する報知部と、
を備えるものである。

この態様によれば、ゼロ校正部が測定対象として用いられてゼロ校正が正常に実行されたか否かを判定するためのゼロ判定閾値と、ゼロ校正がユーザにより実行されたときに得られた試料受光信号を参照受光信号で除算した商であるゼロ校正値とに基づき、ゼロ校正が正常に実行されたか否かが判定される。ゼロ校正が正常に実行されていないと判定されると、ゼロ校正部を測定対象として用いて、ゼロ校正を再実行するようにユーザに報知される。したがって、ユーザは、測定対象を誤ってゼロ校正を実行していたことを知ることができる。よって、光学特性測定装置の使い勝手を向上することができる。

上記一態様において、例えば、
前記記憶部は、前記ゼロ判定閾値として、
前記光学特性測定装置の出荷前に、前記ゼロ校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商である初期ゼロ校正値と、
前記初期ゼロ校正値からの予め定められた差分を表すゼロ差分閾値と、
を予め記憶し、
前記校正判定部は、前記ゼロ校正値と前記初期ゼロ校正値との差が前記ゼロ差分閾値を超えると、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定してもよい。

器差又は環境誤差に起因して、ゼロ校正値と初期ゼロ校正値とが変動しても、これらは同じように変動するため、ゼロ差分閾値は共通に用いることができる。したがって、この態様によれば、ゼロ差分閾値を用いることにより、ゼロ校正が正常に実行されていないと精度良く判定することができる。

上記一態様において、例えば、
所定開口径の開口を有するマスク部材と、
前記測定開口の周辺に設けられ、前記マスク部材が着脱可能に取り付けられるマスク部材装着部と、
前記マスク部材を収納するマスク部材収納部が設けられた校正台と、を更に備え、
前記ゼロ校正部は、前記校正台に設けられ、
前記光学特性測定部は、前記測定対象からの反射光に正反射成分を含ませるＳＣＩ反射特性と、前記測定対象からの反射光から正反射成分を除去するＳＣＥ反射特性と、を測定する機能を有し、
前記記憶部は、前記ゼロ判定閾値として、第１閾値と、前記第１閾値より大きい第２閾値と、前記第２閾値より大きい第３閾値と、を予め記憶し、
前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第２閾値以上かつ前記第３閾値未満のときは、前記マスク部材収納部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたために、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定してもよい。

この態様によれば、マスク部材収納部とゼロ校正部とが校正台に設けられているため、ユーザは、誤って、ゼロ校正部ではなくて、マスク部材収納部を測定対象として、ゼロ校正を実行する可能性がある。この態様では、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正が実行されたときのゼロ校正値が第１閾値以上であって、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正が実行されたときのゼロ校正値が第２閾値以上かつ第３閾値未満のときは、マスク部材収納部を測定対象としてゼロ校正が実行されたために、ゼロ校正が正常に実行されていないと判定される。したがって、ゼロ校正部を測定対象として用いて、ゼロ校正を再実行するようにユーザに報知されることとなる。その結果、ユーザは、測定対象を誤ってゼロ校正を実行していたことを知ることができる。よって、光学特性測定装置の使い勝手を向上することができる。

上記一態様において、例えば、
前記ユーザによって操作され、前記反射光を受光する受光径を切り替えるための受光径切替部を更に備え、
前記マスク部材は、互いに異なる複数の開口径の開口を有し、
前記受光径切替部は、前記反射光を受光する受光径を、前記開口径に対応する受光径に切り替え、
前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第３閾値以上のときは、前記マスク部材装着部に取り付けられた前記マスク部材の開口径が、前記受光径切替部により切り替えられた前記受光径に対応していないために、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定し、
前記報知部は、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定されると、前記受光径切替部により切り替えられている前記受光径に対応する前記マスク部材を前記マスク部材装着部に取り付けて、前記ゼロ校正を再実行するように前記ユーザに報知してもよい。

この態様によれば、ゼロ校正が正常に実行されていないと判定されると、受光径切替部により切り替えられている受光径に対応するマスク部材をマスク部材装着部に取り付けて、ゼロ校正を再実行するようにユーザに報知される。したがって、ユーザは、誤って異なるマスク部材をマスク部材装着部に取り付けて、ゼロ校正を実行していたことを知ることができる。よって、光学特性測定装置の使い勝手を向上することができる。

上記一態様において、例えば、
前記マスク部材は、第１開口径の開口と、前記第１開口径より大きい第２開口径の開口と、を有し、
前記受光径切替部は、前記反射光を受光する受光径を、前記第１開口径に対応する第１受光径と、前記第２開口径に対応する第２受光径と、に切り替え、
前記第２受光径は、前記第１開口径より大きく、
前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第３閾値以上のときは、前記マスク部材装着部に前記第１開口径の開口を有する前記マスク部材が取り付けられ、前記受光径切替部により前記受光径が前記第２受光径に切り替えられた状態で、前記ゼロ校正が実行されたと判定してもよい。

この態様によれば、第２受光径は、第１開口径より大きいため、マスク部材装着部に第１開口径の開口を有するマスク部材が取り付けられ、受光径切替部により受光径が第２受光径に切り替えられた状態では、マスク部材が有する第１開口径の開口の周囲における開口以外の部分の反射光が受光されてしまう。このため、ゼロ校正が実行されたときのゼロ校正値は、正常に実行された場合に比べて大きい値となる。その結果、マスク部材装着部に取り付けられたマスク部材の開口径と、受光径切替部により切り替えられた受光径とが対応していないことを正確に判定することが可能となる。

上記一態様において、例えば、
前記測定対象として用いられて白色校正を実行するための白色校正部を更に備え、
前記マスク部材は、前記照明光及び前記反射光の波長に対して透明なカバー部材が前記開口に取り付けられたカバー付きマスク部材と、前記カバー部材が前記開口に取り付けられていないカバー無しマスク部材と、を含み、
前記校正判定部は、
前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値未満のときは、前記マスク部材装着部に前記カバー無しマスク部材が取り付けられていると判定し、
前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第２閾値未満のときは、前記マスク部材装着部に前記カバー付きマスク部材が取り付けられていると判定してもよい。

この態様によれば、カバー付きマスク部材に比べて、カバー無しマスク部材の方が、反射率が低いため、マスク部材装着部に取り付けられているマスク部材がカバー付きマスク部材であるかカバー無しマスク部材であるかを確実に判定することができる。

上記一態様において、例えば、
前記光学特性測定装置の出荷前に、前記カバー付きマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられた状態で、前記白色校正部を前記測定対象として前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商が、第１初期白色校正値と定義され、
前記光学特性測定装置の出荷前に、前記カバー無しマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられた状態で、前記白色校正部を前記測定対象として前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商が、第２初期白色校正値と定義され、
前記記憶部は、更に、
前記第１初期白色校正値及び前記第２初期白色校正値の一方であるカバー初期値と、
前記第１初期白色校正値と前記第２初期白色校正値との差のほぼ半分である白色差分閾値と、を予め記憶し、
前記校正判定部は、
前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が前記ユーザにより実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商である白色校正値と、前記カバー初期値との差が前記白色差分閾値未満である場合、
前記カバー初期値が前記第１初期白色校正値のときは、前記カバー付きマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられていると判定し、
前記カバー初期値が前記第２初期白色校正値のときは、前記カバー無しマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられていると判定してもよい。

白色校正部のような高反射率の部材が測定対象とされると、器差又は環境誤差に起因して、測定値が大きく変動する。これに対して、この態様では、第１初期白色校正値と第２初期白色校正値とが変動しても、これらは同じように変動するため、白色差分閾値は共通に用いることができる。したがって、この態様によれば、白色差分閾値を用いることにより、マスク部材装着部に取り付けられているマスク部材が、カバー付きマスク部材であるかカバー無しマスク部材であるかを、精度良く判定することができる。

上記一態様において、例えば、
前記校正判定部は、
前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値未満であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が前記ユーザにより実行されたときに前記カバー付きマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられていると判定したときは、前記マスク部材装着部に取り付けられている前記マスク部材が、前記カバー無しマスク部材から前記カバー付きマスク部材に取り替えられたと判定し、
前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上、かつ、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第２閾値未満であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が前記ユーザにより実行されたときに前記カバー無しマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられていると判定したときは、前記マスク部材装着部に取り付けられている前記マスク部材が、前記カバー付きマスク部材から前記カバー無しマスク部材に取り替えられたと判定し、
前記報知部は、前記マスク部材装着部に取り付けられている前記マスク部材が取り替えられたと判定されると、前記ゼロ校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正を再実行するように前記ユーザに報知してもよい。

この態様によれば、マスク部材装着部に取り付けられているマスク部材の判定結果が、ゼロ校正のときと白色校正のときとで異なると、マスク部材装着部に取り付けられているマスク部材が取り替えられたと判定されて、ゼロ校正部を測定対象としてゼロ校正を再実行するようにユーザが報知される。したがって、誤った校正が実行された状態で、光学特性の測定が行われるのを未然に防止することができる。

上記一態様において、例えば、
前記測定対象の光沢度を測定する光沢測定部と、
前記校正台に設けられ、前記測定対象として用いられて光沢校正を実行するための光沢校正部と、を更に備え、
前記記憶部は、前記ゼロ判定閾値として、更に、第４閾値と、前記第４閾値より大きい第５閾値と、を予め記憶し、
前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特定による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第４閾値以上のときは、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定してもよい。

ＳＣＩ反射特定によるゼロ校正がユーザにより実行されたときのゼロ校正値が第４閾値以上のときは、ゼロ校正部を測定対象として用いたときのゼロ校正値に比べて、大き過ぎる。このため、ゼロ校正部を測定対象として用いて、ゼロ校正を再実行するようにユーザに報知されることとなる。したがって、この態様によれば、誤ってゼロ校正が実行された状態で、光学特性の測定が行われることを未然に防止することができる。

上記一態様において、例えば、
前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特定による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第４閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第５閾値未満のときは、前記光沢校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたと判定し、
前記報知部は、前記光沢校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたと判定されると、前記光沢校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたことを前記ユーザに報知してもよい。

この態様によれば、ユーザは、ゼロ校正を実行した際に、光沢校正部を測定対象としたという誤りを知ることができる。

本発明の一態様に係る光学特性測定装置によれば、ユーザは、測定対象を誤ってゼロ校正を実行していたことを知ることができ、使い勝手を向上することができる。

第１実施形態における光学特性測定装置が備える測定ユニットの電気的構成例を概略的に示すブロック図である。 第１実施形態の測定ユニットの光学的構成例を概略的に示す図である。 第１実施形態における光学特性測定装置の外観を概略的に示す斜視図である。 測定ユニットの側面を概略的に示す図である。 測定ユニットの底面を概略的に示す図である。 光学特性測定装置に付属するマスク板を概略的に示す斜視図である。 光学特性測定装置に付属するマスク板を概略的に示す斜視図である。 光学特性測定装置に付属するマスク板を概略的に示す斜視図である。 光学特性測定装置に付属するマスク板を概略的に示す斜視図である。 各マスク板の照明径及び受光径を概略的に示す図である。 光学特性測定装置の出荷前に、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。 光学特性測定装置の出荷前に、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。 光学特性測定装置の出荷前に、ＳＣＥ反射特性による白色校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。 第１実施形態の光学特性測定装置におけるゼロ校正の動作を概略的に示すフローチャートである。 第１実施形態の光学特性測定装置における白色校正の動作を概略的に示すフローチャートである。 第２実施形態における光学特性測定装置が備える測定ユニットの電気的構成例を概略的に示すブロック図である。 第２実施形態の測定ユニットの光学的構成例を概略的に示す図である。 第２実施形態における光学特性測定装置の外観を概略的に示す斜視図である。 光学特性測定装置の出荷前に、径切替レバーがマスク板に一致するように切り替えられた状態で、ＳＣＩ反射特性によりゼロ校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。 光学特性測定装置の出荷前に、径切替レバーがマスク板に一致するように切り替えられた状態で、ＳＣＥ反射特性によりゼロ校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。 第２実施形態の光学特性測定装置におけるゼロ校正及び白色校正の動作を概略的に示すフローチャートである。

以下、本発明の実施の形態が、図面を参照しながら説明される。なお、各図面において、同じ構成要素には同じ符号が用いられ、詳細な説明は、適宜、省略される。

（第１実施形態の構成）
図１は、第１実施形態における光学特性測定装置が備える測定ユニット１００の電気的構成例を概略的に示すブロック図である。図２は、測定ユニット１００の光学的構成例を概略的に示す図である。

図１に示されるように、測定ユニット１００は、測色用の光源１０２、試料用の受光センサ１０４、移動機構１０６、参照用の受光センサ１０８、径切替レバー１１０、電源ボタン１１２、測定ボタン１１４、スクロールボタン１１６Ａ〜１１６Ｄ、決定ボタン１１８、ディスプレイ１２０、電子ブザー１２２、及び、これらと電気的に接続された制御回路１４０を備える。制御回路１４０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）１５０、メモリ１６０、周辺回路（図示省略）を含む。

メモリ１６０（記憶部の一例に相当）は、例えば半導体メモリ又はハードディスク等により構成される。メモリ１６０は、例えばリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、電気的に消去書き換え可能なＲＯＭ（ＥＥＰＲＯＭ）などを含む。メモリ１６０の例えばＲＯＭは、ＣＰＵ１５０を動作させる第１実施形態の制御プログラムを記憶する。メモリ１６０の例えばＲＯＭは、上記制御プログラムの一部として、ゼロ判定閾値１６１、白色判定閾値１６２を予め記憶する。ＣＰＵ１５０は、メモリ１６０に記憶された第１実施形態の制御プログラムにしたがって動作することによって、測色制御部１５１、校正判定部１５２、報知制御部１５３として機能する。図１に示される各部は、後に詳述される。

図２に示されるように、測定ユニット１００は、積分球１を備える。積分球１は、その内壁１ａに高拡散、高反射率の例えば酸化マグネシウム、酸化アルミニウム、硫酸バリウム、硫酸マグネシウム、酸化亜鉛等の白色拡散反射塗料が塗布された中空の球である。積分球１は、底部に形成され、測定対象３を照明するための測定開口５と、積分球１の中心より少し高い位置に形成され、光源１０２からの照明光を入射させるための光源用開口７と、測定開口５の開口面の法線（測定対象３が平滑な場合には測定対象３の法線に一致する）に対して８°傾斜した方向に形成され、測定対象３からの反射光を受光光学系９に入射させるための受光用開口１１と、受光光学系９の光軸と対称な方向（つまり測定開口５の開口面の法線に対して−８°傾斜した方向）に形成されたトラップ用開口１５と、トラップ用開口１５を閉塞するための閉塞部材１７と、を備える。

移動機構１０６（図１）は、測色制御部１５１（図１）により制御されて、閉塞部材１７を、トラップ用開口１５が閉塞される閉塞位置（図２中、実線）とトラップ用開口１５が開放される退避位置（図２中、二点鎖線）とに移動させる。閉塞位置（図２中、実線）に配置された閉塞部材１７は、測定対象３が平滑なときに、受光光学系９に対する測定対象３の正反射光の光源となる。一方、閉塞部材１７が退避位置（図２中、二点鎖線）に配置されると、トラップ用開口１５が開放されるため、受光光学系９に対する測定対象３の正反射光の光源が無くなる。よって、図２において、閉塞位置（図２中、実線）に配置された閉塞部材１７によりトラップ用開口１５が閉塞された状態で、測定対象３のＳＣＩ反射特性が測定され、閉塞部材１７が退避位置（図２中、二点鎖線）に配置されてトラップ用開口１５が開放された状態で、測定対象３のＳＣＥ反射特性が測定される。

光源１０２は、例えばキセノンフラッシュランプ等で構成される。光源１０２からの光は、積分球１の内壁１ａで多重反射されて、拡散照明光として測定対象３を照明する。

受光光学系９は、レンズ等からなり、受光光学系９の光軸が測定開口５の開口面の法線に対して８°傾斜するように配置されている。受光光学系９は、測定対象３からの反射光のうち８°傾斜した方向の成分を集光して試料用分光部１３に導く。これによって、測定ユニット１００では、拡散照明、８°受光のｄ／８ジオメトリが形成されている。

試料用分光部１３は、受光センサ１０４、光学系及び反射型回折格子（図示省略）等を備える公知の構成を有する。受光センサ１０４は、ライン状に並べられた複数の光電変換素子（例えばフォトダイオード）を含む。受光光学系９からの光は、例えば平行光にされて、反射型回折格子に導かれる。反射型回折格子は、その平行光を回折して反射する。反射型回折格子により回折された光は、波長の順に受光センサ１０４の異なる位置に導かれる。受光センサ１０４の各光電変換素子は、それぞれ異なる波長の光を受光し、受光光量を表す試料カウント値を出力する。受光センサ１０４は、受光センサ１０４の各光電変換素子が受光した波長ごとの光量を表す試料カウント値は、制御回路１４０（図１）へ出力される。

積分球１には、更に、参照用光ファイバ２１が取り付けられている。光源１０２からの照明光が、積分球１の内壁１ａで多重反射されて得られた拡散照明光の一部は、参照用光ファイバ２１によって、参照用分光部２３に導かれる。参照用分光部２３は、試料用分光部１３と同様の構成を有する。すなわち、参照用分光部２３は、受光センサ１０８、光学系及び反射型回折格子（図示省略）等を備える公知の構成を有する。受光センサ１０８は、ライン状に並べられた複数の光電変換素子（例えばフォトダイオード）を含む。参照用光ファイバ２１に導かれた光は、例えば平行光にされて、反射型回折格子に導かれる。反射型回折格子は、その平行光を回折して反射する。反射型回折格子により回折された光は、波長の順に受光センサ１０８の異なる位置に導かれる。受光センサ１０８の各光電変換素子は、それぞれ異なる波長の光を受光し、受光光量を表す参照カウント値を出力する。受光センサ１０８は、受光センサ１０８の各光電変換素子が受光した波長ごとの光量を表す参照カウント値は、制御回路１４０（図１）へ出力される。

測定ユニット１００は、積分球１、光源１０２、受光光学系９、試料用分光部１３、参照用光ファイバ２１、参照用分光部２３、及び測色制御部１５１によって構成される分光測色計（光学特性測定部の一例に相当）を含む。

図３は、第１実施形態における光学特性測定装置１０の外観を概略的に示す斜視図である。図４及び図５は、それぞれ、測定ユニット１００の側面及び底面を概略的に示す図である。図６〜図９は、それぞれ、光学特性測定装置１０に付属するマスク板Ｍ１〜Ｍ４を概略的に示す斜視図である。

図３に示されるように、第１実施形態における光学特性測定装置１０は、測定ユニット１００と、校正台２００とを備える。測定ユニット１００は、積分球１（図２）等を収容する箱形状の筐体２５を備える。図４、図５に示されるように、筐体２５の底壁の測定開口５の周辺には、マスク板装着部３７が設けられている。マスク板装着部３７（マスク部材装着部の一例に相当）は、磁力によって、マスク板Ｍ１〜Ｍ４が着脱可能に取り付けられるように構成されている。

マスク板Ｍ１〜Ｍ４（マスク部材の一例に相当）は、それぞれ、図６〜図９に示されるように、薄い円板形状を有し、中心に円形の開口が形成されている。マスク板Ｍ１（図６）及びマスク板Ｍ３（図８）には、大径の開口ＡＬが形成され、マスク板Ｍ２（図７）及びマスク板Ｍ４（図９）には、小径の開口ＡＳが形成されている。また、マスク板Ｍ３，Ｍ４（カバー付きマスク部材の一例に相当）は、それぞれ、開口ＡＬ，ＡＳに薄いガラス板ＧＬが取り付けられたガラス付きマスク板である。一方、マスク板Ｍ１，Ｍ２（カバー無しマスク部材の一例に相当）は、それぞれ、開口ＡＬ，ＡＳにガラス板が取り付けられていないガラス無しマスク板である。図２、図４、図５の例では、マスク板装着部３７には、マスク板Ｍ１が取り付けられている。

図３に示されるように、校正台２００の上面には、ゼロ校正部３１と、白色校正部３３と、マスク板収納部３５と、が設けられている。ゼロ校正部３１は、測定対象として用いられて、ゼロ校正を実行するためのものである。ゼロ校正部３１には、ゼロ校正用孔３１Ａが設けられている。ゼロ校正部３１に測定ユニット１００を取り付けてゼロ校正を実行すると、積分球１から出射された照明光の反射光が積分球１に戻ってこないように構成されている。

白色校正部３３は、測定対象として用いられて、白色校正を実行するためのものである。白色校正部３３には、白色校正板３３Ａが設けられている。白色校正部３３に測定ユニット１００を取り付けて白色校正を実行すると、積分球１から出射された照明光が、高反射率の白色校正板３３Ａで反射された反射光が、積分球１に戻ってくるように構成されている。マスク板収納部３５は、マスク板Ｍ１〜Ｍ４を収納するためのものである。マスク板収納部３５には、薄板形状のマグネット３５Ａが設けられている。マスク板Ｍ１〜Ｍ４は、マグネット３５Ａの磁力によって、マスク板収納部３５に収納されるように構成されている。

図３に示されるように、筐体２５の上壁には、電源ボタン１１２、スクロールボタン１１６Ａ〜１１６Ｄ、決定ボタン１１８、ディスプレイ１２０が設けられている。図３、図４に示されるように、筐体２５の側壁には、径切替レバー１１０、測定ボタン１１４が設けられている。電源ボタン１１２は、ユーザによって操作されると、内蔵する電池（図示省略）から図１の各部（例えば制御回路１４０等）への電力供給をオンオフする。

ディスプレイ１２０は、例えば液晶パネル等を含む。測色制御部１５１（図１）は、ディスプレイ１２０に、測定ユニット１００で実行される作業を選択するための作業メニューを表示し、測定結果を表示するなど、測色に関するディスプレイ１２０の表示を制御する。測色制御部１５１は、例えば、ディスプレイ１２０に作業メニューを表示しているときは、選択されていることを表すメニューバーを作業メニューに重ねて表示する。測色制御部１５１は、例えば、スクロールボタン１１６Ａが押されると、メニューバーを上にスクロールし、スクロールボタン１１６Ｂが押されると、メニューバーを下にスクロールし、スクロールボタン１１６Ｃが押されると、メニューバーを左にスクロールし、スクロールボタン１１６Ｄが押されると、メニューバーを右にスクロールする。

測色制御部１５１は、決定ボタン１１８が押されると、メニューバーが重ねて表示されている作業メニューに決定する。例えば、「ゼロ校正」メニューに決定された状態で、測定ボタン１１４が押されると、測色制御部１５１は、ゼロ校正を実行する。例えば、「測定」メニューに決定され、測定ボタン１１４が押されると、測色制御部１５１は、測色を実行する。

径切替レバー１１０（受光径切替部の一例に相当）は、マスク板装着部３７に取り付けられるマスク板Ｍ１〜Ｍ４の開口径に一致するように、ユーザによって操作される。例えば、マスク板Ｍ１，Ｍ３がマスク板装着部３７に取り付けられるときは、径切替レバー１１０は、ユーザによってＬＶ側に操作される。例えば、マスク板Ｍ２，Ｍ４がマスク板装着部３７に取り付けられるときは、径切替レバー１１０は、ユーザによってＳＶ側に操作される。図３、図４の例では、径切替レバー１１０は、ＬＶ側に操作されている。

図１０は、各マスク板の照明径及び受光径を概略的に示す図である。外径ＤＭは、マスク板Ｍ１〜Ｍ４に共通の外径を表す。照明径ＬＶ１は、マスク板Ｍ１，Ｍ３がマスク板装着部３７に取り付けられたときに測定対象３（図２）を照明する照明径を表し、開口ＡＬ（図６、図８）の直径に等しい。受光径ＬＶ２は、径切替レバー１１０がＬＶ側に操作されたときに、試料用分光部１３が受光する受光径を表し、照明径ＬＶ１より多少小さい値に設定されている。照明径ＳＶ１は、マスク板Ｍ２，Ｍ４がマスク板装着部３７に取り付けられたときに測定対象３（図２）を照明する照明径を表し、開口ＡＳ（図７、図９）の直径に等しい。受光径ＳＶ２は、径切替レバー１１０がＳＶ側に操作されたときに、試料用分光部１３が受光する受光径を表し、照明径ＳＶ１より多少小さい値に設定されている。受光径ＬＶ２，ＳＶ２は、例えば、受光光学系９（図２）に近接して配置された絞り（図示省略）によって決定される。

図１に戻って、校正判定部１５２は、ゼロ校正が実行されたときに、メモリ１６０に予め記憶されているゼロ判定閾値１６１に基づいて、ゼロ校正が正常に実行されたか否かと、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板がガラス無しマスク板であるかガラス付きマスク板であるかと、を判定する。校正判定部１５２は、白色校正が実行されたときに、メモリ１６０に予め記憶されている白色判定閾値１６２に基づいて、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板が、ガラス無しマスク板であるかガラス付きマスク板であるかを判定する。

測色制御部１５１は、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板が、ガラス付きマスク板であると校正判定部１５２によって判定されると、ガラス付きマスク板であることを表すガラスマークを、ディスプレイ１２０に表示する。測色制御部１５１は、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板が、ガラス無しマスク板であると校正判定部１５２によって判定されると、上記ガラスマークをディスプレイ１２０から消去する。

報知制御部１５３は、ゼロ校正又は白色校正が正常に実行されていないと校正判定部１５２によって判定されると、ゼロ校正又は白色校正が正常に実行されていないことを、ディスプレイ１２０及び電子ブザー１２２を用いて、ユーザに報知する。この第１実施形態において、報知制御部１５３、ディスプレイ１２０及び電子ブザー１２２は、報知部の一例に相当する。

図１１は、光学特性測定装置１０の出荷前に、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。図１１において、横軸は、波長を表し、縦軸は、測定値を表す。この第１実施形態及び後述の第２実施形態では、測定値として、受光センサ１０４から出力される試料カウント値Ｓが受光センサ１０８から出力される参照カウント値Ｒで除算された商であるＳ／Ｒ値が用いられている。以下では、測定値は、Ｓ／Ｒ値とも称される。図１１を用いて、ゼロ判定閾値１６１としてメモリ１６０に記憶される第１閾値ＴＨ１の決定手法が説明される。

測定値ＺＣ１は、マスク板Ｍ１がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がゼロ校正部３１に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ２は、マスク板Ｍ３がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がゼロ校正部３１に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ１は、ガラス無しマスク板が用いられ、測定値ＺＣ２は、ガラス付きマスク板が用いられている点で相違するが、両方とも、ゼロ校正が正しく実行されたときの測定値である。ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正の場合、ガラス付きマスク板では、ガラスからの正反射光によって、ガラス無しマスク板に比べて受光光量が大きくなる。このため、ＺＣ２＞ＺＣ１になっている。

一方、測定値ＺＣ３は、マスク板Ｍ１がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ４は、マスク板Ｍ３がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられた状態での測定値である。すなわち、ガラス無しマスク板が用いられた測定値ＺＣ３と、ガラス付きマスク板が用いられた測定値ＺＣ４とは、いずれも、径切替レバー１１０が正しく切り替えられているが、測定ユニット１００が、ゼロ校正部３１ではなく、誤ってマスク板収納部３５に取り付けられた状態で、ゼロ校正が実行されている。このため、マスク板収納部３５からの反射光によって受光光量が大きくなるので、ＺＣ３＞ＺＣ１、ＺＣ４＞ＺＣ２になっている。また、上述のように、ガラスからの正反射光によって、ＺＣ４＞ＺＣ３になっている。

マスク板収納部３５に設けられているマグネット３５Ａは、黒色である場合が多い。このため、ユーザが、測定ユニット１００を、誤ってマスク板収納部３５に取り付けた状態で、ゼロ校正を実行することがあり得る。そこで、第１閾値ＴＨ１は、測定値ＺＣ１と、測定値ＺＣ２，ＺＣ３，ＺＣ４とを区別できるように設定されている。この第１実施形態及び後述の第２実施形態では、各測定値は、波長ＷＬにおいて、比較されている。

図１２は、光学特性測定装置１０の出荷前に、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。図１２において、横軸は、波長を表し、縦軸は、測定値（Ｓ／Ｒ値）を表す。図１２を用いて、ゼロ判定閾値１６１としてメモリ１６０に記憶される第２閾値ＴＨ２、第３閾値ＴＨ３の決定手法が説明される。

測定値ＺＣ１１は、マスク板Ｍ１がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がゼロ校正部３１に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ１２は、マスク板Ｍ３がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がゼロ校正部３１に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ１１は、ガラス無しマスク板が用いられ、測定値ＺＣ１２は、ガラス付きマスク板が用いられている点で相違するが、両方とも、ゼロ校正が正しく実行されている。ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正の場合、マスク板からの正反射光が除去されているので、ガラス付きマスク板とガラス無しマスク板とで有意差が無い。このため、ＺＣ１１＝ＺＣ１２になっている。

一方、測定値ＺＣ１３は、マスク板Ｍ１がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ１４は、マスク板Ｍ３がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられた状態での測定値である。すなわち、ガラス無しマスク板が用いられた測定値ＺＣ１３と、ガラス付きマスク板が用いられた測定値ＺＣ１４とは、いずれも、径切替レバー１１０が正しく切り替えられているが、測定ユニット１００が、ゼロ校正部３１ではなく、誤ってマスク板収納部３５に取り付けられた状態で、ゼロ校正が実行されている。そこで、第２閾値ＴＨ２は、測定値ＺＣ１１，ＺＣ１２と、測定値ＺＣ１３，ＺＣ１４とを区別できるように設定されている。

測定値ＺＣ１５は、マスク板Ｍ２がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００がゼロ校正部３１に取り付けられた状態での測定値である。つまり、測定値ＺＣ１５は、測定ユニット１００がゼロ校正部３１に正しく取り付けられているが、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられた状態であるにも拘わらず、誤って、開口ＡＳ（図７）を有するマスク板Ｍ２がマスク板装着部３７に取り付けられたときの測定値である。言い換えると、ユーザは、誤ったマスク板をマスク板装着部３７に取り付けている。

径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられているので、図１０に示されるように、試料用分光部１３の受光径ＬＶ２は、照明径ＳＶ１より大きくなっている。このため、受光センサ１０４は、マスク板Ｍ２の開口ＡＳ（図７）の周囲のマスク部分からの反射光も受光してしまう。その結果、測定値ＺＣ１５は、他の測定値ＺＣ１１〜ＺＣ１４より大きい値になっている。そこで、第３閾値ＴＨ３は、測定値ＺＣ１１〜ＺＣ１４と、測定値ＺＣ１５とを区別できるように設定されている。図１１、図１２に示されるように、第１閾値ＴＨ１〜第３閾値ＴＨ３の大きさは、ＴＨ１＜ＴＨ２＜ＴＨ３に設定されている。

図１３は、光学特性測定装置１０の出荷前に、ＳＣＥ反射特性による白色校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。図１３において、横軸は、波長を表し、縦軸は、測定値（Ｓ／Ｒ値）を表す。図１３を用いて、白色判定閾値１６２としてメモリ１６０に記憶される白色差分閾値ΔＴＨの決定手法が説明される。

測定値ＷＣ１は、マスク板Ｍ１がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００が白色校正部３３に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＷＣ２は、マスク板Ｍ３がマスク板装着部３７に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００が白色校正部３３に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＷＣ１は、ガラス無しマスク板が用いられ、測定値ＷＣ２は、ガラス付きマスク板が用いられている点で相違するが、両方とも、白色校正が正しく実行されている。ガラス付きマスク板では、白色校正板３３Ａを照明する照明光のうち、ガラスの表面で反射する分とガラスの裏面で反射する分とを合わせて数％が除去される。このため、ガラス無しマスク板に比べて照明光の光量が減少し、それに応じて反射光の光量が減少する。その結果、ＷＣ１＞ＷＣ２になっている。

白色差分閾値ΔＴＨは、波長ＷＬにおける測定値ＷＣ１（ＷＬ）と測定値ＷＣ２（ＷＬ）との差｛ＷＣ１（ＷＬ）−ＷＣ２（ＷＬ）｝の半分に設定されている。また、メモリ１６０（図１）には、白色判定閾値１６２として、波長ＷＬにおける測定値ＷＣ１（ＷＬ）が予め記憶されている。校正判定部１５２（図１）は、ＳＣＥ反射特性による白色校正がユーザによって実行されたときに得られた測定値（Ｓ／Ｒ値）と、測定値ＷＣ１（ＷＬ）との差の絶対値ΔＳ／Ｒを算出する。校正判定部１５２は、算出した差の絶対値ΔＳ／Ｒが白色差分閾値ΔＴＨ以下のときは、ガラス無しマスク板がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定する。一方、校正判定部１５２は、上記差の絶対値ΔＳ／Ｒが白色差分閾値ΔＴＨを超えるときは、ガラス付きマスク板がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定する。

代替的に、メモリ１６０には、白色判定閾値１６２として、波長ＷＬにおける測定値ＷＣ２（ＷＬ）が予め記憶されていてもよい。この場合には、校正判定部１５２は、ＳＣＥ反射特性による白色校正がユーザによって実行されたときに得られた測定値（Ｓ／Ｒ値）と、測定値ＷＣ２（ＷＬ）との差の絶対値ΔＳ／Ｒが、白色差分閾値ΔＴＨ以下のときは、ガラス付きマスク板がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定し、上記差の絶対値ΔＳ／Ｒが、白色差分閾値ΔＴＨを超えるときは、ガラス無しマスク板がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定する。

（第１実施形態の動作）
図１４は、第１実施形態の光学特性測定装置１０におけるゼロ校正の動作を概略的に示すフローチャートである。ディスプレイ１２０に表示された作業メニューのうちゼロ校正が決定ボタン１１８により決定されると、図１４の動作が開始される。ステップＳ１４００において、測色制御部１５１は、ユーザによって、測定ボタン１１４が操作されたか否かを判定する。測定ボタン１１４が操作されると（ステップＳ１４００でＹＥＳ）、処理はステップＳ１４０５に進む。測定ボタン１１４が操作されない間は（ステップＳ１４００でＮＯ）、処理はステップＳ１４００で待機する。すなわち、測定ボタン１１４が操作されると、測色制御部１５１は、ユーザによって、測定ユニット１００がゼロ校正部３１に取り付けられたと判断して、ゼロ校正を開始する。

ステップＳ１４０５において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を閉塞位置に配置した状態で、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正を実行して、Ｓ／Ｒ値を取得する。ステップＳ１４１０において、校正判定部１５２は、Ｓ／Ｒ値が第１閾値ＴＨ１未満であるか否かを判定する。Ｓ／Ｒ値が第１閾値ＴＨ１未満であれば（ステップＳ１４１０でＹＥＳ）、処理はステップＳ１４１５に進む。一方、Ｓ／Ｒ値が第１閾値ＴＨ１以上であれば（ステップＳ１４１０でＮＯ）、処理はステップＳ１４３０に進む。

ステップＳ１４１５において、校正判定部１５２は、ガラス無しマスク板がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定する。ステップＳ１４２０において、測色制御部１５１は、ディスプレイ１２０にガラスマークが表示されていれば、これを消去する。ステップＳ１４２５において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を退避位置に配置した状態で、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正を実行する。その後、図１４の動作は終了する。報知制御部１５３は、例えば電子ブザー１２２を１秒間オンさせて、ゼロ校正が正常に実行されたことをユーザに報知してもよい。

ステップＳ１４３０において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を退避位置に配置した状態で、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正を実行して、Ｓ／Ｒ値を取得する。ステップＳ１４３５において、校正判定部１５２は、Ｓ／Ｒ値と、第２閾値ＴＨ２及び第３閾値ＴＨ３とを比較して、大小関係を判定する。Ｓ／Ｒ値が、第２閾値ＴＨ２未満であれば、処理はステップＳ１４４０に進む。Ｓ／Ｒ値が、第２閾値ＴＨ２以上かつ第３閾値ＴＨ３未満であれば、処理はステップＳ１４５０に進む。Ｓ／Ｒ値が、第３閾値ＴＨ３以上であれば、処理はステップＳ１４６０に進む。

ステップＳ１４４０において、校正判定部１５２は、ガラス付きマスク板がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定する。ステップＳ１４４５において、測色制御部１５１は、ディスプレイ１２０にガラスマークを表示する。その後、図１４の動作は終了する。報知制御部１５３は、例えば電子ブザー１２２を１秒間オンさせて、ゼロ校正が正常に実行されたことをユーザに報知してもよい。

ステップＳ１４５０において、校正判定部１５２は、測定ユニット１００がゼロ校正部３１ではなくてマスク板収納部３５に取り付けられてゼロ校正が実行されたと判定する。ステップＳ１４５５において、報知制御部１５３は、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられているので、ゼロ校正部３１に取り付けてゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示する。報知制御部１５３は、更に、０．５秒間オン及び０．５秒間オフを電子ブザー１２２に複数回繰り返させて、ゼロ校正が正常に実行されなかったことをユーザに報知してもよい。その後、図１４の動作は終了する。

ステップＳ１４６０において、校正判定部１５２は、径切替レバー１１０の状態と、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板とが一致していないと判定する。具体的には、校正判定部１５２は、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられているにも拘らず、開口ＡＳを有するマスク板Ｍ２又はマスク板Ｍ４がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定する。ステップＳ１４６５において、報知制御部１５３は、正しいマスク板をマスク板装着部３７に取り付けて、ゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示する。報知制御部１５３は、更に、０．５秒間オン及び０．５秒間オフを電子ブザー１２２に複数回繰り返させて、ゼロ校正が正常に実行されなかったことをユーザに報知してもよい。その後、図１４の動作は終了する。

図１５は、第１実施形態の光学特性測定装置１０における白色校正の動作を概略的に示すフローチャートである。図１４の動作でゼロ校正が正常に終了すると、図１５の動作が開始される。言い換えると、図１４の動作でゼロ校正が正常に実行されなかった場合には、図１５の動作は開始されない。

ステップＳ１５００において、測色制御部１５１は、ユーザによって、測定ボタン１１４が操作されたか否かを判定する。測定ボタン１１４が操作されると（ステップＳ１５００でＹＥＳ）、処理はステップＳ１５０５に進む。測定ボタン１１４が操作されない間は（ステップＳ１５００でＮＯ）、処理はステップＳ１５００で待機する。すなわち、測定ボタン１１４が操作されると、測色制御部１５１は、ユーザによって、測定ユニット１００が白色校正部３３に取り付けられたと判断して、白色校正を開始する。

ステップＳ１５０５において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を閉塞位置に配置した状態で、ＳＣＩ反射特性による白色校正を実行する。ステップＳ１５１０において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を退避位置に配置した状態で、ＳＣＥ反射特性による白色校正を実行して、Ｓ／Ｒ値を取得する。ステップＳ１５１５において、校正判定部１５２は、白色判定閾値１６２としてメモリ１６０に予め記憶されている、波長ＷＬにおける測定値ＷＣ１（ＷＬ）をメモリ１６０から読み出して、取得したＳ／Ｒ値との差の絶対値ΔＳ／Ｒを算出する。

ステップＳ１５２０において、校正判定部１５２は、差の絶対値ΔＳ／Ｒが白色差分閾値ΔＴＨ未満であるか否かを判定する。差の絶対値ΔＳ／Ｒが白色差分閾値ΔＴＨ以上であれば（ステップＳ１５２０でＮＯ）、処理はステップＳ１５３５に進む。一方、差の絶対値ΔＳ／Ｒが白色差分閾値ΔＴＨ未満であれば（ステップＳ１５２０でＹＥＳ）、処理はステップＳ１５２５に進む。

ステップＳ１５２５において、校正判定部１５２は、ガラス無しマスク板がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定する。ステップＳ１５３０において、校正判定部１５２は、ガラスマークが表示されているか否かを判定する。ガラスマークが表示されていれば（ステップＳ１５３０でＹＥＳ）、処理はステップＳ１５４５に進む。一方、ガラスマークが表示されていなければ（ステップＳ１５３０でＮＯ）、図１５の動作を終了する。報知制御部１５３は、例えば電子ブザー１２２を１秒間オンさせて、白色校正が正常に実行されたことをユーザに報知してもよい。

ステップＳ１５３５において、校正判定部１５２は、ガラス付きマスク板がマスク板装着部３７に取り付けられていると判定する。ステップＳ１５４０において、校正判定部１５２は、ガラスマークが表示されているか否かを判定する。ガラスマークが表示されていなければ（ステップＳ１５４０でＮＯ）、処理はステップＳ１５４５に進む。一方、ガラスマークが表示されていれば（ステップＳ１５４０でＹＥＳ）、図１５の動作を終了する。報知制御部１５３は、例えば電子ブザー１２２を１秒間オンさせて、白色校正が正常に実行されたことをユーザに報知してもよい。

ステップＳ１５４５において、校正判定部１５２は、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板のガラスの有無が、ゼロ校正のときと白色校正のときとで不一致と判定する。ステップＳ１５５０において、報知制御部１５３は、ゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示する。報知制御部１５３は、更に、０．５秒間オン及び０．５秒間オフを電子ブザー１２２に複数回繰り返させて、白色校正が正常に実行されなかったことをユーザに報知してもよい。その後、図１５の動作は終了する。

（第１実施形態の効果）
一般に、光学特性測定装置１０の測定値として、受光センサ１０４から出力される試料カウント値Ｓを用いると、装置毎の測定値のばらつきである器差が大きくなる。このため、試料カウント値Ｓに基づく閾値を共通に用いて、校正が正常に実行されたか否かを判定すると、器差が大きいため、誤判定する装置が発生する。これに対して、第１実施形態では、測定値として、受光センサ１０４から出力される試料カウント値Ｓが受光センサ１０８から出力される参照カウント値Ｒで除算されたＳ／Ｒ値が用いられ、Ｓ／Ｒ値に基づく閾値が用いられている。試料カウント値Ｓ及び参照カウント値Ｒには、器差が同じように反映されるので、Ｓ／Ｒ値に基づく閾値には、器差が相殺されている。その結果、第１実施形態によれば、校正が正常に実行されたか否かを誤判定する可能性を低減することができる。

また、温湿度環境が変化したときにも、測定値は変動するが、試料カウント値Ｓ及び参照カウント値Ｒには、温湿度環境の変化が同じように影響するので、温湿度環境が変化したときの変動度合いは、試料カウント値Ｓに比べて、Ｓ／Ｒ値の方が大幅に小さくなっている。このため、第１実施形態によれば、温湿度環境が変化しても、校正が正常に実行されたか否かを安定して精度良く判定することができる。

また、測定値としてＳ／Ｒ値を用いた場合でも、白色校正板３３Ａのような高反射率の部材で測定を行うと、器差及び環境誤差が大きくなってしまうという問題がある。しかしながら、図１３に示される測定値ＷＣ１（ＷＬ）と測定値ＷＣ２（ＷＬ）とが大きく変動したとしても、これらは同じように変動するので、白色差分閾値ΔＴＨでは、器差及び環境誤差が相殺される。したがって、第１実施形態によれば、判定の閾値として白色差分閾値ΔＴＨを用いることにより、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板が、ガラス付きマスク板であるかガラス無しマスク板であるかを、精度良く判定することができる。

また、第１実施形態では、光学特性測定装置１０の出荷前に、ゼロ校正部３１及びマスク板収納部３５を測定対象として、ＳＣＩ反射特性及びＳＣＥ反射特性によるゼロ校正が実行され、得られたＳ／Ｒ値に基づき、第１閾値ＴＨ１、第２閾値ＴＨ２、第３閾値ＴＨ３が決定されて、メモリ１６０に予め記憶されている。したがって、第１実施形態によれば、ゼロ校正が正しく実行されたか否かを精度良く判定することができる。また、ゼロ校正が正しく実行されていない場合に、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板がガラス付きマスク板であるかガラス無しマスク板であるか、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられてゼロ校正が実行されたか否か、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板の開口径が径切替レバー１１０の状態に一致しているか否か、等を精度良く判定することができる。

また、第１実施形態では、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられてゼロ校正が実行されたと判定されると、ディスプレイ１２０に、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられていたので、ゼロ校正部３１に取り付けてゼロ校正を再実行するように促す警告が表示される。また、径切替レバー１１０の状態と、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板とが一致していないと判定されると、ディスプレイ１２０に、正しいマスク板をマスク板装着部３７に取り付けて、ゼロ校正を再実行するように促す警告が表示される。このため、ユーザは、ゼロ校正が正しく実行されなかったということだけでなく、正しく実行されなかった原因を知ることができる。その結果、第１実施形態によれば、光学特性測定装置１０の使い勝手を向上することができる。

（第２実施形態の構成）
図１６は、第２実施形態における光学特性測定装置が備える測定ユニット１００Ａの電気的構成例を概略的に示すブロック図である。図１７は、測定ユニット１００Ａの光学的構成例を概略的に示す図である。

図１６に示されるように、測定ユニット１００Ａは、測色用の光源１０２、試料用の受光センサ１０４、移動機構１０６、参照用の受光センサ１０８、径切替レバー１１０、電源ボタン１１２、測定ボタン１１４、スクロールボタン１１６Ａ〜１１６Ｄ、決定ボタン１１８、ディスプレイ１２０、電子ブザー１２２、光沢測定用の光源１２４、光沢測定用の受光センサ１２６、及び、これらと電気的に接続された制御回路１４０Ａを備える。制御回路１４０Ａは、ＣＰＵ１５０Ａ、メモリ１６０Ａ、周辺回路（図示省略）を含む。

メモリ１６０Ａ（記憶部の一例に相当）は、例えば半導体メモリ又はハードディスク等により構成される。メモリ１６０Ａは、例えばＲＯＭ、ＲＡＭ、ＥＥＰＲＯＭなどを含む。メモリ１６０Ａの例えばＲＯＭは、ＣＰＵ１５０Ａを動作させる第２実施形態の制御プログラムを記憶する。メモリ１６０Ａの例えばＲＯＭは、上記制御プログラムの一部として、ゼロ判定閾値１６１Ａを予め記憶する。ＣＰＵ１５０Ａは、メモリ１６０Ａに記憶された第２実施形態の制御プログラムにしたがって動作することによって、測色制御部１５１、校正判定部１５２Ａ、報知制御部１５３、光沢制御部１５４として機能する。

図１７に示されるように、測定ユニット１００Ａは、積分球１Ａを備える。積分球１Ａは、第１実施形態の積分球１と同様に、その内壁１ａに高拡散、高反射率の白色拡散反射塗料が塗布された中空の球である。積分球１Ａは、測定開口５、光源用開口７、受光用開口１１、トラップ用開口１５、閉塞部材１７に加えて、光沢測定用の光源１２４からの照明光を入射させるための光源用開口４１と、測定対象３からの反射光を光沢測定用の受光光学系４３に入射させるための受光用開口４５と、を備える。積分球１Ａには、第１実施形態の積分球１と同様に、更に、参照用光ファイバ２１が取り付けられており、光源１０２からの照明光が、積分球１Ａの内壁１ａで多重反射されて得られた拡散照明光の一部が、参照用光ファイバ２１によって、参照用分光部２３に導かれる。

光源１２４は、例えば白色のＬＥＤ等で構成される。光源１２４と光源用開口４１との間に、照明光学系４７が配置されている。照明光学系４７は、レンズ等からなり、照明光学系４７の光軸が測定開口５の開口面の法線に対して６０°傾斜するように配置されている。照明光学系４７は、光源１２４からの照明光を平行光にして、測定開口５の開口面の法線に対して６０°傾斜する方向から、測定対象３を照明する。

受光光学系４３は、レンズ等からなり、受光光学系４３の光軸が測定開口５の開口面の法線に対して照明光学系４７の反対側に６０°傾斜するように配置されている。受光光学系４３は、測定対象３からの反射光のうち６０°傾斜した方向の成分を集光して受光センサ１２６に結像する。これによって、測定ユニット１００Ａでは、拡散照明、８°受光のｄ／８ジオメトリと、６０°照明、６０°受光のジオメトリとが形成されている。

受光光学系４３と受光センサ１２６との間に、光学フィルタ４９が配置されている。光学フィルタ４９は、受光光学系４３から受光センサ１２６に導かれる光のうち、予め定められた分光分布の光を通過させるバンドパスフィルタである。光学フィルタ４９の分光透過率と、光源１２４の分光スペクトルとを乗算することにより光沢計の分光感度が決められる。

受光センサ１２６は、光電変換素子（例えばフォトダイオード）を含む。受光センサ１２６の光電変換素子は、光学フィルタ４９を通過した光を受光し、受光した受光光量を表す受光信号を出力する。受光センサ１２６は、制御回路１４０Ａに電気的に接続されており、受光センサ１２６の光電変換素子が受光した受光光量を表す受光信号は、制御回路１４０Ａへ出力される。

測定ユニット１００Ａは、積分球１Ａ、光源１０２、受光光学系９、試料用分光部１３、測色制御部１５１により構成される分光測色計（光学特性測定部の一例に相当）と、光源１２４、照明光学系４７、受光光学系４３、光学フィルタ４９、光沢制御部１５４により構成される光沢計（光学特性測定部の一例に相当）と、を含む。

図１８は、第２実施形態における光学特性測定装置１０Ａの外観を概略的に示す斜視図である。図１８に示されるように、第２実施形態における光学特性測定装置１０Ａは、測定ユニット１００Ａと、校正台２００Ａとを備える。測定ユニット１００Ａは、積分球１Ａ（図１７）等を収容する箱形状の筐体２５を備える。また、筐体２５の底壁の測定開口５（図１７）の周辺には、第１実施形態と同様に、マスク板Ｍ１〜Ｍ４（図６〜図９）が着脱可能に取り付けられるマスク板装着部３７（図４、図５）が設けられている。

図１８に示されるように、校正台２００Ａの上面には、ゼロ校正部３１と、白色校正部３３と、光沢校正部５１と、が設けられている。光沢校正部５１は、光沢校正を実行するためのものである。光沢校正部５１には、光沢校正板５１Ａが設けられている。光沢校正部５１に測定ユニット１００Ａを取り付けて光沢校正を実行すると、積分球１Ａから出射された照明光が光沢校正板５１Ａで反射された反射光が、積分球１Ａに戻ってくるように構成されている。

図１８に示されるように、筐体２５の上壁には、第１実施形態と同様に、電源ボタン１１２、スクロールボタン１１６Ａ〜１１６Ｄ、決定ボタン１１８、ディスプレイ１２０が設けられている。図１８に示されるように、筐体２５の側壁には、第１実施形態と同様に、径切替レバー１１０、測定ボタン１１４が設けられている。

図１６に戻って、光沢制御部１５４は、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられた状態で、光源１２４を発光させて、受光センサ１２６から出力される受光信号を光沢校正の測定値として取得し、メモリ１６０に保存する。また、光沢制御部１５４は、測定ユニット１００Ａが測定対象３に対して配置された状態で、光源１２４を発光させて、受光センサ１２６から出力される受光信号を光沢計の測定値として取得し、メモリ１６０Ａに保存する。

校正判定部１５２Ａは、ゼロ校正が実行されたときに、メモリ１６０Ａに予め記憶されているゼロ判定閾値１６１Ａに基づいて、ゼロ校正が正常に実行されたか否かを判定する。報知制御部１５３は、ゼロ校正が正常に実行されていないと校正判定部１５２Ａによって判定されると、ゼロ校正が正常に実行されていないことを、ディスプレイ１２０及び電子ブザー１２２を用いて、ユーザに報知する。この第２実施形態において、報知制御部１５３、ディスプレイ１２０及び電子ブザー１２２は、報知部の一例に相当する。

図１９は、光学特性測定装置１０Ａの出荷前に、径切替レバー１１０がマスク板に一致するように切り替えられた状態で、ＳＣＩ反射特性によりゼロ校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。図１９において、横軸は、波長を表し、縦軸は、測定値を表す。第２実施形態では、第１実施形態と同様に、測定値として、受光センサ１０４から出力される試料カウント値Ｓが受光センサ１０８から出力される参照カウント値Ｒで除算されたＳ／Ｒ値が用いられている。以下では、測定値は、Ｓ／Ｒ値とも称される。図１９を用いて、ゼロ判定閾値１６１Ａとしてメモリ１６０Ａに記憶される第４閾値ＴＨ４の決定手法が説明される。

測定値ＺＣ２１は、大きい開口ＡＬを有するマスク板Ｍ１（図６）がマスク板装着部３７（図４）に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００Ａがゼロ校正部３１に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ２２は、小さい開口ＡＳを有するマスク板Ｍ２（図７）がマスク板装着部３７（図４）に取り付けられ、径切替レバー１１０がＳＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００Ａがゼロ校正部３１に取り付けられた状態での測定値である。すなわち、測定値ＺＣ２１，ＺＣ２２は、ゼロ校正が正しく実行されたときの測定値である。

測定値ＺＣ２３は、大きい開口ＡＬを有するマスク板Ｍ１（図６）がマスク板装着部３７（図４）に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ２４は、小さい開口ＡＳを有するマスク板Ｍ２（図７）がマスク板装着部３７（図４）に取り付けられ、径切替レバー１１０がＳＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられた状態での測定値である。すなわち、測定値ＺＣ２３，ＺＣ２４は、ゼロ校正が誤って実行されたときの測定値である。

光沢校正部５１に設けられる光沢校正板５１Ａとして、黒色ガラスが用いられる等、光沢校正板５１Ａは、黒色である場合が多い。このため、ユーザは、測定ユニット１００Ａを、誤って光沢校正部５１に取り付けた状態で、ゼロ校正を実行することがあり得る。そこで、第４閾値ＴＨ４は、測定値ＺＣ２１，ＺＣ２２と、測定値ＺＣ２３，ＺＣ２４とを区別できるように設定されている。

図２０は、光学特性測定装置１０Ａの出荷前に、径切替レバー１１０がマスク板に一致するように切り替えられた状態で、ＳＣＥ反射特性によりゼロ校正が実行されたときの測定値を概略的に示す図である。図２０において、横軸は、波長を表し、縦軸は、測定値（Ｓ／Ｒ値）を表す。図２０を用いて、ゼロ判定閾値１６１Ａとしてメモリ１６０Ａに記憶される第５閾値ＴＨ５の決定手法が説明される。

測定値ＺＣ３１は、大きい開口ＡＬを有するマスク板Ｍ１（図６）がマスク板装着部３７（図４）に取り付けられ、径切替レバー１１０がＬＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられた状態での測定値である。測定値ＺＣ３２は、小さい開口ＡＳを有するマスク板Ｍ２（図７）がマスク板装着部３７（図４）に取り付けられ、径切替レバー１１０がＳＶ側に切り替えられ、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられた状態での測定値である。すなわち、測定値ＺＣ３１，ＺＣ３２は、測定ユニット１００Ａがゼロ校正部３１ではなくて光沢校正部５１に取り付けられた状態で、ゼロ校正が誤って実行されたときの測定値である。そこで、第５閾値ＴＨ５は、測定値ＺＣ３１，ＺＣ３２を多少超える値に設定されている。この第５閾値ＴＨ５によって、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられたことによる、誤ったゼロ校正を判定することができる。

（第２実施形態の動作）
図２１は、第２実施形態の光学特性測定装置１０Ａにおけるゼロ校正及び白色校正の動作を概略的に示すフローチャートである。ディスプレイ１２０に表示された作業メニューのうちゼロ校正が決定ボタン１１８により決定されると、図２１の動作が開始される。ステップＳ２１００において、測色制御部１５１は、ユーザによって、測定ボタン１１４が操作されたか否かを判定する。測定ボタン１１４が操作されると（ステップＳ２１００でＹＥＳ）、処理はステップＳ２１０５に進む。測定ボタン１１４が操作されない間は（ステップＳ２１００でＮＯ）、処理はステップＳ２１００で待機する。すなわち、測定ボタン１１４が操作されると、測色制御部１５１は、ユーザによって、測定ユニット１００Ａがゼロ校正部３１に取り付けられたと判断する。

ステップＳ２１０５において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を閉塞位置に配置した状態で、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正を実行して、Ｓ／Ｒ値を取得する。ステップＳ２１１０において、校正判定部１５２Ａは、取得したＳ／Ｒ値が第４閾値ＴＨ４未満であるか否かを判定する。Ｓ／Ｒ値が第４閾値ＴＨ４未満であれば（ステップＳ２１１０でＹＥＳ）、処理はステップＳ２１１５に進む。一方、Ｓ／Ｒ値が第４閾値ＴＨ４以上であれば（ステップＳ２１１０でＮＯ）、処理はステップＳ２１４０に進む。ステップＳ２１１５において、校正判定部１５２Ａは、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正が正常に実行されたと判定する。ステップＳ２１２０において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を退避位置に配置した状態で、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正を実行する。

ステップＳ２１２５において、測色制御部１５１は、ユーザによって、測定ボタン１１４が操作されたか否かを判定する。測定ボタン１１４が操作されると（ステップＳ２１２５でＹＥＳ）、処理はステップＳ２１３０に進む。測定ボタン１１４が操作されない間は（ステップＳ２１２５でＮＯ）、処理はステップＳ２１２５で待機する。すなわち、測定ボタン１１４が操作されると、測色制御部１５１は、ユーザによって、測定ユニット１００Ａが白色校正部３３に取り付けられたと判断する。

ステップＳ２１３０において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を閉塞位置に配置した状態で、ＳＣＩ反射特性による白色校正を実行する。ステップＳ２１３５において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を退避位置に配置した状態で、ＳＣＥ反射特性による白色校正を実行する。その後、図２１の動作は終了する。報知制御部１５３は、例えば電子ブザー１２２を１秒間オンさせて、ゼロ校正及び白色校正が正常に実行されたことをユーザに報知してもよい。

ステップＳ２１４０において、校正判定部１５２Ａは、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正が異常であったと判定する。ステップＳ２１４５において、測色制御部１５１は、移動機構１０６を動作させて閉塞部材１７を退避位置に配置した状態で、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正を実行して、Ｓ／Ｒ値を取得する。ステップＳ２１５０において、校正判定部１５２Ａは、取得したＳ／Ｒ値が、第５閾値ＴＨ５未満であるか否かを判定する。Ｓ／Ｒ値が第５閾値ＴＨ５未満であれば（ステップＳ２１５０でＹＥＳ）、処理はステップＳ２１５５に進む。一方、Ｓ／Ｒ値が第５閾値ＴＨ５以上であれば（ステップＳ２１５０でＮＯ）、処理はステップＳ２１６５に進む。

ステップＳ２１５５において、校正判定部１５２Ａは、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられてゼロ校正が実行されたと判定する。ステップＳ２１６０において、報知制御部１５３は、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられているので、ゼロ校正部３１に取り付けてゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示する。報知制御部１５３は、更に、０．５秒間オン及び０．５秒間オフを電子ブザー１２２に複数回繰り返させて、ゼロ校正が正常に実行されなかったことをユーザに報知してもよい。その後、図２１の動作は終了する。

ステップＳ２１６５において、校正判定部１５２Ａは、ゼロ校正が誤っていると判定する。ステップＳ２１７０において、報知制御部１５３は、ゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示する。報知制御部１５３は、更に、０．５秒間オン及び０．５秒間オフを電子ブザー１２２に複数回繰り返させて、ゼロ校正が正常に実行されなかったことをユーザに報知してもよい。その後、図２１の動作は終了する。

（第２実施形態の効果）
以上説明されたように、第２実施形態では、第１実施形態と同様に、Ｓ／Ｒ値に基づく閾値を用いているので、校正が正常に実行されたか否かを誤判定する可能性を低減することができ、温湿度環境が変化しても、校正が正常に実行されたか否かを安定して精度良く判定することができる。

また、第２実施形態では、光学特性測定装置１０Ａの出荷前に、ゼロ校正部３１及び光沢校正部５１を測定対象として、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正が実行され、得られたＳ／Ｒ値に基づき、第４閾値ＴＨ４が決定されてメモリ１６０Ａに予め記憶されている。したがって、第２実施形態によれば、測定ユニット１００Ａがゼロ校正部３１に取り付けられてゼロ校正が実行されたか否かを精度良く判定することができる。

また、第２実施形態では、光学特性測定装置１０Ａの出荷前に、更に、ゼロ校正部３１及び光沢校正部５１を測定対象として、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正が実行され、得られたＳ／Ｒ値に基づき、第５閾値ＴＨ５が決定されて、メモリ１６０Ａに予め記憶されている。したがって、第２実施形態によれば、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられてゼロ校正が実行されたか否かを精度良く判定することができる。

また、第２実施形態では、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられてゼロ校正が実行されたと判定されると、ディスプレイ１２０に、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられていたので、ゼロ校正部３１に取り付けてゼロ校正を再実行するように促す警告が表示される。このため、ユーザは、ゼロ校正が正しく実行されなかったということだけでなく、正しく実行されなかった原因を知ることができる。その結果、第２実施形態によれば、光学特性測定装置１０Ａの使い勝手を向上することができる。

（その他）
（１）上記第１実施形態では、ゼロ判定閾値１６１として、Ｓ／Ｒ値に基づき、第１閾値ＴＨ１、第２閾値ＴＨ２、第３閾値ＴＨ３が決定されて、メモリ１６０に予め記憶されているが、白色差分閾値ΔＴＨと同様に、ゼロ判定閾値１６１として、ゼロ差分閾値がメモリ１６０に予め記憶されてもよい。

（１−１）例えば、図１１において、測定値ＺＣ１（ＷＬ）と第１閾値ＴＨ１との差であるゼロ差分閾値ΔＴＨ１と、測定値ＺＣ１（ＷＬ）とが、ゼロ判定閾値１６１として、メモリ１６０に予め記憶されていてもよい。校正判定部１５２は、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正がユーザによって実行されたときに得られたＳ／Ｒ値と、測定値ＺＣ１（ＷＬ）との差が、ゼロ差分閾値ΔＴＨ１未満であれば、ガラス無しマスク板と判定してもよい。

（１−２）例えば、図１２において、測定値ＺＣ１１（ＷＬ）と第２閾値ＴＨ２との差であるゼロ差分閾値ΔＴＨ２と、測定値ＺＣ１１（ＷＬ）と、測定値ＺＣ１３（ＷＬ）と第３閾値ＴＨ３との差であるゼロ差分閾値ΔＴＨ３と、測定値ＺＣ１３（ＷＬ）と、がゼロ判定閾値１６１として、メモリ１６０に予め記憶されていてもよい。校正判定部１５２は、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正がユーザによって実行されたときに得られたＳ／Ｒ値が、測定値ＺＣ１１（ＷＬ）とゼロ差分閾値ΔＴＨ２との和より小さければ、ガラス付きマスク板と判定してもよい。

校正判定部１５２は、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正がユーザによって実行されたときに得られたＳ／Ｒ値が、測定値ＺＣ１１（ＷＬ）とゼロ差分閾値ΔＴＨ２との和以上であって、測定値ＺＣ１３（ＷＬ）とゼロ差分閾値ΔＴＨ３との和より小さければ、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられて、ゼロ校正が実行されたと判定してもよい。校正判定部１５２は、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正がユーザによって実行されたときに得られたＳ／Ｒ値が、測定値ＺＣ１３（ＷＬ）とゼロ差分閾値ΔＴＨ３との和以上であれば、校正判定部１５２は、径切替レバー１１０の状態と、マスク板装着部３７に取り付けられているマスク板とが一致していないと判定してもよい。

（１−３）例えば、図１９において、測定値ＺＣ２１（ＷＬ）と第４閾値ＴＨ４との差であるゼロ差分閾値ΔＴＨ４と、測定値ＺＣ２１（ＷＬ）とが、ゼロ判定閾値１６１Ａとして、メモリ１６０Ａに予め記憶されていてもよい。更に、例えば、図２０において、測定値ＺＣ３１（ＷＬ）と第５閾値ＴＨ５との差であるゼロ差分閾値ΔＴＨ５と、測定値ＺＣ３１（ＷＬ）とが、ゼロ判定閾値１６１Ａとして、メモリ１６０Ａに予め記憶されていてもよい。

校正判定部１５２Ａは、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正がユーザによって実行されたときに得られたＳ／Ｒ値が、測定値ＺＣ２１（ＷＬ）とゼロ差分閾値ΔＴＨ４との和より小さければ、ゼロ校正が正常に実行されたと判定してもよい。校正判定部１５２Ａは、ＳＣＩ反射特性によるゼロ校正がユーザによって実行されたときに得られたＳ／Ｒ値が、測定値ＺＣ２１（ＷＬ）とゼロ差分閾値ΔＴＨ４との和以上であって、ＳＣＥ反射特性によるゼロ校正がユーザによって実行されたときに得られたＳ／Ｒ値が、測定値ＺＣ３１（ＷＬ）とゼロ差分閾値ΔＴＨ５との和より小さければ、測定ユニット１００が光沢校正部５１に取り付けられて、ゼロ校正が実行されたと判定してもよい。

（１−４）このように、ゼロ判定閾値１６１として、ゼロ差分閾値を用いることによって、器差又は環境変化による誤差があっても、ゼロ校正が正しく実行されたか否かを精度良く判定することができる。

（２）上記第１実施形態では、ステップＳ１４５５（図１４）において、報知制御部１５３は、測定ユニット１００がマスク板収納部３５に取り付けられているので、ゼロ校正部３１に取り付けてゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示しているが、これに限られない。例えば、報知制御部１５３は、単に、測定ユニット１００をゼロ校正部３１に取り付けてゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示してもよい。

また、上記第２実施形態では、ステップＳ２１６０（図２１）において、報知制御部１５３は、測定ユニット１００Ａが光沢校正部５１に取り付けられているので、ゼロ校正部３１に取り付けてゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示しているが、これに限られない。例えば、報知制御部１５３は、単に、測定ユニット１００Ａをゼロ校正部３１に取り付けてゼロ校正を再実行するように促す警告をディスプレイ１２０に表示してもよい。

これらの場合でも、上記第１、第２実施形態と同様に、ユーザは、ゼロ校正が正しく実行されなかったのは、測定ユニット１００，１００Ａがゼロ校正部３１に取り付けられていなかったことが原因であると知ることができる。

（３）上記第１、第２実施形態では、測定ユニット１００，１００Ａは、電子ブザー１２２を備えているが、これに限られず、電子ブザー１２２を備えずに、ディスプレイ１２０による警告表示のみが行われるようにしてもよい。

（４）上記第１、第２実施形態では、１種類の開口径の開口を有するマスク板Ｍ１〜Ｍ４が用いられているが、これに限られない。例えば、開口径が変更可能な開口を有するマスク板が用いられてもよい。

（５）上記第１、第２実施形態は、測定ユニット１００，１００Ａは、光学特性測定部の一例として、分光測色計を備えているが、これに限られず、例えば、３刺激値型測色計を備えてもよい。測定ユニット１００，１００Ａは、ゼロ校正が実行される測定部を備えていればよい。

１，１Ａ 積分球
１ａ 内壁
３ 測定対象
５ 測定開口
９，４３ 受光光学系
１０，１０Ａ 光学特性測定装置
１３ 試料用分光部
２１ 参照用光ファイバ
２３ 参照用分光部
３１ ゼロ校正部
３３ 白色校正部
３５ マスク板収納部
３７ マスク板装着部
４７ 照明光学系
４９ 光学フィルタ
５１ 光沢校正部
１００，１００Ａ 測定ユニット
１０２，１２４ 光源
１０４，１０８，１２６ 受光センサ
１１０ 径切替レバー
１２０ ディスプレイ
１２２ 電子ブザー
１５１ 測色制御部
１５２，１５２Ａ 校正判定部
１５３ 報知制御部
１５４ 光沢制御部
１６０，１６０Ａ メモリ
１６１，１６１Ａ ゼロ判定閾値
１６２ 白色判定閾値
２００，２００Ａ 校正台
Ｍ１〜Ｍ４ マスク板

Claims (10)

1. 測定開口を介して照明光で照明された測定対象からの反射光を受光して受光光量を表す試料受光信号を出力し、前記照明光の一部を参照光として受光して受光光量を表す参照受光信号を出力し、前記試料受光信号と前記参照受光信号とに基づき前記測定対象の光学特性を測定する光学特性測定部と、
   前記測定対象として用いられてゼロ校正を実行するためのゼロ校正部と、
   前記ゼロ校正部が前記測定対象として用いられて前記ゼロ校正が正常に実行されたか否かを判定するためのゼロ判定閾値を予め記憶する記憶部と、
   前記ゼロ校正がユーザにより実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商であるゼロ校正値と前記ゼロ判定閾値とに基づき、前記ゼロ校正が正常に実行されたか否かを判定する校正判定部と、
   前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定されると、前記ゼロ校正部を前記測定対象として用いて、前記ゼロ校正を再実行するように前記ユーザに報知する報知部と、
   を備える光学特性測定装置。
2. 前記記憶部は、前記ゼロ判定閾値として、
   前記光学特性測定装置の出荷前に、前記ゼロ校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商である初期ゼロ校正値と、
   前記初期ゼロ校正値からの予め定められた差分を表すゼロ差分閾値と、
   を予め記憶し、
   前記校正判定部は、前記ゼロ校正値と前記初期ゼロ校正値との差が前記ゼロ差分閾値を超えると、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定する、
   請求項１に記載の光学特性測定装置。
3. 所定開口径の開口を有するマスク部材と、
   前記測定開口の周辺に設けられ、前記マスク部材が着脱可能に取り付けられるマスク部材装着部と、
   前記マスク部材を収納するマスク部材収納部が設けられた校正台と、を更に備え、
   前記ゼロ校正部は、前記校正台に設けられ、
   前記光学特性測定部は、前記測定対象からの反射光に正反射成分を含ませるＳＣＩ反射特性と、前記測定対象からの反射光から正反射成分を除去するＳＣＥ反射特性と、を測定する機能を有し、
   前記記憶部は、前記ゼロ判定閾値として、第１閾値と、前記第１閾値より大きい第２閾値と、前記第２閾値より大きい第３閾値と、を予め記憶し、
   前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第２閾値以上かつ前記第３閾値未満のときは、前記マスク部材収納部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたために、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定する、
   請求項１又は２に記載の光学特性測定装置。
4. 前記ユーザによって操作され、前記反射光を受光する受光径を切り替えるための受光径切替部を更に備え、
   前記マスク部材は、互いに異なる複数の開口径の開口を有し、
   前記受光径切替部は、前記反射光を受光する受光径を、前記開口径に対応する受光径に切り替え、
   前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第３閾値以上のときは、前記マスク部材装着部に取り付けられた前記マスク部材の開口径が、前記受光径切替部により切り替えられた前記受光径に対応していないために、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定し、
   前記報知部は、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定されると、前記受光径切替部により切り替えられている前記受光径に対応する前記マスク部材を前記マスク部材装着部に取り付けて、前記ゼロ校正を再実行するように前記ユーザに報知する、
   請求項３に記載の光学特性測定装置。
5. 前記マスク部材は、第１開口径の開口と、前記第１開口径より大きい第２開口径の開口と、を有し、
   前記受光径切替部は、前記反射光を受光する受光径を、前記第１開口径に対応する第１受光径と、前記第２開口径に対応する第２受光径と、に切り替え、
   前記第２受光径は、前記第１開口径より大きく、
   前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第３閾値以上のときは、前記マスク部材装着部に前記第１開口径の開口を有する前記マスク部材が取り付けられ、前記受光径切替部により前記受光径が前記第２受光径に切り替えられた状態で、前記ゼロ校正が実行されたと判定する、
   請求項４に記載の光学特性測定装置。
6. 前記測定対象として用いられて白色校正を実行するための白色校正部を更に備え、
   前記マスク部材は、前記照明光及び前記反射光の波長に対して透明なカバー部材が前記開口に取り付けられたカバー付きマスク部材と、前記カバー部材が前記開口に取り付けられていないカバー無しマスク部材と、を含み、
   前記校正判定部は、
   前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値未満のときは、前記マスク部材装着部に前記カバー無しマスク部材が取り付けられていると判定し、
   前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第２閾値未満のときは、前記マスク部材装着部に前記カバー付きマスク部材が取り付けられていると判定する、
   請求項３〜５のいずれか１項に記載の光学特性測定装置。
7. 前記光学特性測定装置の出荷前に、前記カバー付きマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられた状態で、前記白色校正部を前記測定対象として前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商が、第１初期白色校正値と定義され、
   前記光学特性測定装置の出荷前に、前記カバー無しマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられた状態で、前記白色校正部を前記測定対象として前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商が、第２初期白色校正値と定義され、
   前記記憶部は、更に、
   前記第１初期白色校正値及び前記第２初期白色校正値の一方であるカバー初期値と、
   前記第１初期白色校正値と前記第２初期白色校正値との差のほぼ半分である白色差分閾値と、を予め記憶し、
   前記校正判定部は、
   前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が前記ユーザにより実行されたときに得られた前記試料受光信号を前記参照受光信号で除算した商である白色校正値と、前記カバー初期値との差が前記白色差分閾値未満である場合、
   前記カバー初期値が前記第１初期白色校正値のときは、前記カバー付きマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられていると判定し、
   前記カバー初期値が前記第２初期白色校正値のときは、前記カバー無しマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられていると判定する、
   請求項６に記載の光学特性測定装置。
8. 前記校正判定部は、
   前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値未満であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が前記ユーザにより実行されたときに前記カバー付きマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられていると判定したときは、前記マスク部材装着部に取り付けられている前記マスク部材が、前記カバー無しマスク部材から前記カバー付きマスク部材に取り替えられたと判定し、
   前記ＳＣＩ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第１閾値以上、かつ、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第２閾値未満であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記白色校正が前記ユーザにより実行されたときに前記カバー無しマスク部材が前記マスク部材装着部に取り付けられていると判定したときは、前記マスク部材装着部に取り付けられている前記マスク部材が、前記カバー付きマスク部材から前記カバー無しマスク部材に取り替えられたと判定し、
   前記報知部は、前記マスク部材装着部に取り付けられている前記マスク部材が取り替えられたと判定されると、前記ゼロ校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正を再実行するように前記ユーザに報知する、
   請求項７に記載の光学特性測定装置。
9. 前記測定対象の光沢度を測定する光沢測定部と、
   前記校正台に設けられ、前記測定対象として用いられて光沢校正を実行するための光沢校正部と、を更に備え、
   前記記憶部は、前記ゼロ判定閾値として、更に、第４閾値と、前記第４閾値より大きい第５閾値と、を予め記憶し、
   前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特定による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第４閾値以上のときは、前記ゼロ校正が正常に実行されていないと判定する、
   請求項３〜８のいずれか１項に記載の光学特性測定装置。
10. 前記校正判定部は、前記ＳＣＩ反射特定による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第４閾値以上であって、前記ＳＣＥ反射特性による前記ゼロ校正が前記ユーザにより実行されたときの前記ゼロ校正値が前記第５閾値未満のときは、前記光沢校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたと判定し、
    前記報知部は、前記光沢校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたと判定されると、前記光沢校正部を前記測定対象として前記ゼロ校正が実行されたことを前記ユーザに報知する、
    請求項９に記載の光学特性測定装置。