JPH04223236A - 測色計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、各種試料に関する色管
理やＣＣＭ（　Ｃｏｍｐｕｔｅｒ　Ｃｏｌｏｒ　Ｍａｔ
ｃｈｉｎｇ　）に用いて好適な分光型等の測色計に係り
、特に外部機器から種々のコマンドやデータが適宜入力
可能にされた測色計に関する。

【０００２】

【従来の技術】各種産業分野においては、色管理の重要
性がますます高くなっている。すなわち、塗装、印刷、
繊維、窯業、農林水産、医学その他多くの分野において
は、生産現場等で、各種試料の分光反射率や色彩計算値
等の色データが利用されるに至っている。かかる場合、
試料の色データを自動的に測定する測色計は色管理、解
析、調色にとって不可欠な要素となっている。

【０００３】特に、測色計が小型化されている今日にお
いては、上記ＣＣＭ等で膨大なデータを有するコンピュ
ータの外部機器を利用してデータ解析、計算等を効率的
に行わすことが好ましい。近年、かかる測色計として、
外部機器からのコマンド入力によって色測定を行うよう
にした分光型測色計が提供されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】特に、測色計の小型化
に伴ってその応用範囲も広汎となり、例えば研究室や計
算機室を離れて電話回線一本でデータを授受できる遠隔
地へ測色計が持ち出される機会が増え、かかる場合に出
先で、測定、データ送受信、測定結果の表示、判定等を
可能にすることが測定の効率化に寄与する。

【０００５】しかしながら、上記したように、従来の測
色計は外部機器からのコマンドの内容を判断し、その内
容に応じて各種の設定やデータの取り出しを行うだけで
あり、測定結果やその良否判定その他種々の内容を判別
し、表示する構成を備えていなかったため、実用性の点
で一定の制限があった。

【０００６】本発明は上記に鑑みてなされたもので、外
部機器から入力されるコマンドと表示するための内容（
データ）とを識別し、該内容を表示可能にする測色計を
提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明に係る測色計は、
表示部と、外部機器からのコマンド及び表示用データを
入力する入力手段と、入力されたコマンドと表示用デー
タとを判別する判別手段と、表示用データと判別された
ときに該表示用データを上記表示部に表示させる表示制
御手段とを備えたものである。

【０００８】また、表示用データが少なくとも一種類の
コマンドで指定されている場合には、判別手段は上記コ
マンドの有無を判別するようにしてもよい（請求項２）
。

【０００９】

【作用】本発明によれば、測色計が外部機器からコマン
ドや表示用データが取り込めるようになされており、か
かる信号が入力されると、判別手段によって入力信号が
表示用データか否かが判別される。表示用データである
と判別した場合には表示部に導かれて表示内容が表示さ
れる。コマンドであると判別した場合には表示されるこ
となく、該コマンドに基づいた処理が実行されることに
なる。

【００１０】また、請求項２記載の発明によれば、判別
手段は入力信号の前後に所定のコマンドがあるかどうか
を識別し、該コマンドがある場合に表示用データと判別
する。

【００１１】

【実施例】図１１〜図１４は、本発明に係る、例えばｄ
／８光学系を持つ測色計の外観構造図を示し、図１１は
正面図、図１２（ａ）は安定台が取り付けられた状態の
左側面図、図１２（ｂ）は同状態の底面図、図１３（ａ
）は右側面図、図１３（ｂ）は底面図、図１４は背面図
である。図１５は安定台９の外観構造図を示し、同図（
ａ）は側面図、同図（ｂ）は正面図、同図（ｃ）は底面
図である。

【００１２】図１１〜図１５において、測色計本体の下
部測定ヘッドには測定試料の分光反射率を測定するため
の測定開口１が配設され、上記分光反射率の測定は測定
試料を該測定開口１に密着させて行われる。本体の適所
には測定を指示する２個のスイッチ２ａ，２ｂが設けら
れ、いずれのスイッチを用いるかは、スイッチ３で切り
換えることにより選択可能にされている。該スイッチ３
の切換により、本体のホールド状態に応じて上記スイッ
チ２ａ，２ｂの使い分けが適宜選択できるようになって
いる。なお、スイッチ２はホールド時の誤操作を考慮し
て本体に対して着脱可能とされている。

【００１３】４は電源スイッチ、５は測色計に電力供給
を行う電池を内蔵する電池ボックスである。なお、図示
していないが、該電池ボックス５の下方にはＡＣジャッ
クが配設されており、電池以外に商用交流電源によって
も動作可能にしてある。本体の正面上部には測定結果を
表示する液晶（表示部）６が設けられている。また、本
体の後面上部には上記電源スイッチ４と並んで９ピンか
らなるＲＳ−２３２Ｃコネクタ７が配設され、公知のＲ
Ｓ−２３２Ｃインターフェースの規格を利用してパソコ
ン等へのデータ出力が可能とされ、逆にパソコン側から
ＲＳ−２３２Ｃコネクタ７を介してのリモート操作等が
可能とされている。本体の左側面部には、後述するよう
に測定データを保存するメモリカードを内蔵、保護する
ための保護蓋８が装着脱可能に設けられている。このメ
モリカードには後述する校正データが書き込まれている
。

【００１４】本体の下部で、測定開口１の後部適所には
、図１２に示すように安定台９が着脱可能に取り付けら
れている。該安定台９は下面両側のネジ９ａにより本体
に取付け固定されるようになっている。そして、この安
定台９を取り付けることにより本体の姿勢が安定するの
で、特に平面状の測定試料の測定時に有効となり、一方
、安定台９を取外した状態では曲面状の測定試料に対し
ての測定が容易となる。

【００１５】上記液晶６の直ぐ下方には各種操作指示が
可能なキースイッチを備えたキーパネル１０が配設され
ている。レバー１１ａ、ボタン１１ｂは、後述するＳＣ
Ｉ／ＳＣＥの切換えを行うものである。測定開口１の周
面には白色校正板など所定の校正部材を取り付けるため
のフック１２が形成されている。

【００１６】図１６，１７は、上記メモリカード保護蓋
８を取り外した状態を示す部分図で、図１６は左側面図
、図１７は正面図である。１３はメモリカードで、本体
内部にセットされた状態となっている。該メモリカード
１３はイジェクターレバー１４を下方に押し下げること
により取り出すことができる。

【００１７】図１８は白色校正ボックスを本体へ取付け
た状態を示す図で、同図（ａ），（ｂ）は本体の測定開
口１部分の右側面図、正面図である。図１９は白色校正
ボックスが取り付けられる本体の詳細な底面図である。 図２０は白色校正ボックスの構造を示す図で、同図（ａ
）は底面部構造を示す平面図、同図（ｂ）は正面断面図
、同図（ｃ）は平面図、同図（ｄ）は正面図である。図
において、白色校正ボックスＣＢは周面の筐体１７ａと
底面の筐体１７ｂとを備えた円筒形状を有し、その内部
には白色校正板１５、該白色校正板１５を測定開口１の
下面に押圧するためのバネ１６及び白色校正データが書
き込まれたＲＯＭ１９が配置されている。

【００１８】かかる白色校正ボックスＣＢの本体への取
付けはフック１８を測定開口１周面のガイド溝２１に嵌
入し、この状態で該ガイド溝２１に沿って白色校正ボッ
クスＣＢ全体を回転させて本体側のフック１２に係合さ
せることにより行われる。このフック１２と１８の係合
により、白色校正板ＣＢが下方へ抜け落ちることが防止
されるとともに白色校正ボックスＣＢと本体との位置関
係が固定される。また、この状態で、白色校正板１５は
バネ１６によって測定開口１に圧接され、かつ端子２０
ａと２０ｂとが接触する位置に取付け固定される。これ
は、白色校正板１５の反射率が位置によって異なる場合
があることを考慮して、白色校正が、常に所定の位置で
行われるようにしたものである。これにより、例えば、
校正のための測定と校正データの値付けが行われた出荷
場所と異なる場所で白色校正した場合等に絶対値が微妙
に狂ってしまうという欠点が解消される。また、白色校
正ボックスＣＢは防塵キャップの役目も果たしており、
測定開口１から本体内へほこり等が入り込むのを防いで
いる。更に、白色校正ボックスＣＢの内部に白色校正板
１５が収納されていることにより、保管時に白色面が露
出することなく、褪色の虞れがなくなる。

【００１９】ＲＯＭ１９は、前述したように白色校正デ
ータが書き込まれており、この白色校正データは本体と
の装着時に端子２０ａ，２０ｂを介して該本体側へ読み
出される。なお、メモリカード１３と白色校正ボックス
ＣＢの双方に白色校正データが書き込まれている場合に
は、通常白色校正ボックスＣＢのデータが優先して用い
られるようになされている。

【００２０】次に、本体の光学系について図２１〜図２
５を用いて説明する。図２１は全体構成を示す側断面図
で、本発明における光学系はＤＩＮ５０３３　Ｔｅｉｌ
　７に規定されているｄ／８光学系に完全準拠したもの
が用いられる。２３はパルスキセノン（Ｘｅ）ランプで
、該パルスＸｅランプ２３の周囲には反射部材２４が配
設されている。該反射部材２４は、例えばフッ素系樹脂
（ＰＴＦＥ）製であり、高耐光性という特徴を備えてい
る。また、樹脂であることから、成形が可能であり、コ
スト面でも有利である。そして、このパルスＸｅランプ
２３から発せられた光は反射部材２４で反射され、更に
耐光性を考慮して配置された紫外線カットフィルタ２５
により紫外光がカットされた後、積分球２６に導かれる
。該積分球２６は球形状を有し、その内周全面には拡散
光を発生させるための硫酸バリウムが塗布され、かつ図
中上方及び右方適所には、後述するファイバー３０，３
１のための開口が形成されている。上記積分球２６内に
導かれた光は該積分球２６内で乱反射され、略完全拡散
光となって下部測定開口１に準備された測定試料２７上
に照射される。測定試料２７からの反射光の内、試料法
線に対して８度傾いた方向へ反射される光は第１レンズ
２８によって集光される。第２レンズ２９は上記第１レ
ンズ２８で集光された光をファイバー３０に導くもので
ある。

【００２１】なお、３２、３３はアパーチャーで、アパ
ーチャー３２は第１レンズ２８の焦点面に配置され、受
光する光量を規制するものである。また、アパーチャー
３３は測定試料２７の結像位置に配置され、測定径を規
制するものである。ファイバー３１は拡散光のみを取り
込む光源モニターとして用いられる。また、ファイバー
３０，３１はそれぞれ後述する図外の分光セルに接続さ
れている。

【００２２】上記試料法線に対してファイバー３０のた
めの開口と対称となる積分球２６の上方適所にはライト
トラップＬＴが形成されており、トラップ蓋３４を開閉
することにより、測定試料２７表面での正反射光成分を
含めた測定（ＳＣＩ：Ｓｐｅｃｕｌａｒ　ｃｏｍｐｏｎ
ｅｎｔ　ｉｎｃｌｕｄｅ　）と、該正反射光成分を除去
した測定（ＳＣＥ：Ｓｐｅｃｕｌａｒ　ｃｏｍｐｏｎｅ
ｎｔ　ｅｘｃｌｕｄｅ　）とが切換できるようになって
いる。このトラップ蓋３４は水平に支承された軸３５に
連結されており、該軸３５が回動されることにより、上
記ＳＣＩ／ＳＣＥの切換が行われる。

【００２３】図２２はＳＣＩ測定とＳＣＥ測定の場合の
トラップ蓋３４の切換を説明するための一部平面図、図
２３はその一部側断面図で、上記各図とも図（ａ）はＳ
ＣＩ測定の場合、図（ｂ）はＳＣＥ測定の場合を示して
いる。なお、図２４、図２５は、図２２のＢ−Ｂ断面図
及びＣ−Ｃ断面図である。

【００２４】図において、軸３５の一方端にはノブ３６
（図１３、レバー１１ａに対応）が取り付けられ、該ノ
ブ３６を回動することによりトラップ蓋３４の開閉が行
われる。また、軸３５の一方側適所にはコイルバネ３７
が取り付けられ、図２３において時計回り方向に軸３５
を付勢している。又、ライトトラップＬＴの周辺適所で
、閉成時にトラップ蓋３４と当接する位置には該トラッ
プ蓋３４が吸着すべくマグネットが取り付けられている
。図の（ａ）で示すＳＣＩ測定の状態では、トラップ蓋
３４は上記コイルバネ３７の付勢力とマグネット３８の
吸着力によって閉成保持される。

【００２５】また、軸３５の一方側適所には該軸３５と
一体回転する扇状のロック板３９が取り付けられており
、該ロック板３９の周面適所にはロック溝３９ａが穿設
されている。４０はロックレバーで、その略中心位置で
固定軸４２に遊嵌されるとともにコイルバネ４１により
常時上記ロック板３９に圧接されている。ロックレバー
４０の側辺で上記ロック板３９の周面と当接する位置に
は前記ロック溝３９ａに嵌合するロックピン４０ａが取
り付けられ、あるいは形成されている。そして、図（ｂ
）で示すＳＣＥ測定の状態への切換は次のようにして行
われる。すなわち、ノブ３６をコイルバネ３７の付勢力
とマグネット３８の吸着力に抗して、図２３において反
時計回り方向に回転させることによりトラップ蓋３４の
開成が行われる。上記ノブ３６を更に回転させることに
より、ロック板３９のロック溝３９ａがロックピン４０
ａに近づき、所定量だけ回転させると、ロック溝３９ａ
とロックピン４０ａとが嵌合し、トラップ蓋３４の開成
状態が保持される。

【００２６】逆に、ＳＣＥ測定の状態からＳＣＩ測定の
状態への切り換えは、ボタン１１ｂを押し込むことによ
り行われる。すなわち、上記ボタン１１ｂが押し込まれ
て上記ロックレバー４０の他端側を押圧することにより
、該ロックレバー４０が固定軸４２を中心に、図２３に
おいて時計回り方向に回転され、上記ロック溝３９ａと
ロックピン４０ａの嵌合が解除される。かかるＳＣＥ測
定の状態とＳＣＩ測定の切換状態はＳＣＩ／ＳＣＥ検知
スイッチ４５により検知され、該検知信号は本体に導か
れている。

【００２７】図２４はＳＣＥ測定の状態からＳＣＩ測定
の状態への切り換え時の減速構造を示すものである。図
において、ギア４３は軸３５と一体回転するように取り
付けられ、更にこのギア４３はオイルダンパー４４と噛
合されている。ＳＣＩへの切換時は、前述したようにコ
イルバネ３７の付勢力及びマグネット３８の吸着力によ
り強制的に戻されるが、かかる復帰力はオイルダンパー
４４により吸収されるため、復帰速度は効果的に減速さ
れる。このため、ＳＣＥからＳＣＩへ切り換わる際、ト
ラップ蓋３４によるライトトラップＬＴの縁部への衝撃
が緩和されるので、衝撃音も生じず、かつ該トラップ蓋
３４の内側に塗布されている硫酸バリウムが剥がれ落ち
る虞れもなくなる。

【００２８】図２６〜図２９は透過率を測定するための
光学系の実施例を示すもので、図２６は透過率測定用ア
ダプタの一部側断面図、図２７は該透過率測定用アダプ
タを測色計本体に取り付けた状態の側断面図である。ま
た、図２８は透過率測定用の測色計の底面図で、図（ａ
）は本体の底面図、図（ｂ）は透過率測定用アダプタを
測色計本体に取り付けた状態での底面図、図２９は透過
率測定用アダプタを測色計本体に取り付けた状態の外観
図で、図（ａ），（ｂ）はそれぞれ正面図、左側面図で
ある。

【００２９】図において、４６は試料の透過率を測定す
る場合に用いられる透過率測定用アダプタで、積分球４
９、光源５０、発光回路５１、試料台５２、モニター用
ファイバー５３及びガイド５４等から構成されている。 積分球４９及び光源５０部分の構成は前記反射率を測定
する積分球２６及び光源２５部分の構成と同一である。 なお、透過率測定用アダプタ４６は、内部の積分球４９
が本体に対して８度傾斜して配設されるように、該本体
に取り付けられている。

【００３０】測色計本体側は、上記発光回路５１に制御
信号を供給するためのコネクタ４８及びモニター用ファ
イバー５３からの光源光をモニター受光するためにモニ
ター用ファイバー４７の途中が２分岐に形成されている
構成部品とパーツ交換して用いる点を除き、前記図２１
の構成と基本的に同一である。

【００３１】コネクタ５５はアダプタ４６の上部適所に
臨むようにして設けられ、本体側のコネクタ４８と接続
されるようになされている。これにより発光制御のため
の信号が本体側から発光回路５１に供給される。モニタ
ー用ファイバー５３は積分球４９の適所から引き出され
、アダプタ４６の上方まで導かれ、該上方部でモニター
用アダプタ４７の分岐部に対向するように構成され、こ
れにより本体側と光学的に接続される。試料台５２は試
料５６をセットするためのものである。積分球４９の上
部には透過光を通過させるための開口４９ａが、本体側
の積分球２６の測定開口１に対向する位置に設けられて
おり、この開口４９ａを通過した光が上部の積分球２６
に導かれ、ファイバー３０に受光される。ガイド５４は
アダプタ４６の側面に平行して垂直方向に対して８度傾
斜して配設され、試料５６の厚みに応じて積分球４９を
昇降可能にするものである。例えば、図２６に示すよう
に試料として液体試料５８が採用された場合、該液体試
料５８を収容するガラスセル５８ａを取り付けると、該
ガラスセル５８ａの厚み分だけ積分球４９が、ノブ５９
によって下方にスライドされる。なお、積分球４９には
常時上方への付勢力が与えられており、あるいは試料５
６、５８のセット位置で、例えばノブ５９を回すことに
よりスライドにロックが掛かるようになされている。

【００３２】アダプタ４６を測色計本体に取り付けると
、コネクタ４８とコネクタ５２が接続されて本体側の発
光回路５７がオフ、アダプタ４６の発光回路５１がオン
にされて、透過率の測定が可能となる。次に、本発明に
係る測色計の回路構成について図１のブロック図により
説明する。図において、Ｓ１，Ｓ２は入射光を波長毎の
光に分解し、各光の強度に比例した光電流を並列に出力
する分光センサであり、バンドパスフィルタアレイＦ１
，Ｆ２とそれぞれ４０個のシリコンフォトダイオードが
直線的に並んでなるシリコンフォトダイオードアレイＰ
ＤＡ１，ＰＤＡ２で構成されている。該シリコンフォト
ダイオードアレイＰＤＡ１，ＰＤＡ２には、それぞれバ
ンドパスフィルタアレイＦ１，Ｆ２が光路上に配置され
ている。バンドパスフィルタアレイＦ１，Ｆ２は多数の
光学的バンドパスフィルタを直線的に並べてなり、各透
過波長が短波長側から長波長側へ連続的に異なるように
なされている。なお、本実施例では上記短波長から長波
長の範囲を３７０ｎｍ〜７２０ｎｍとしている。そして
、該バンドパスフィルタアレイＦ１，Ｆ２を通して、光
をシリコンフォトダイオードアレイＰＤＡ１，ＰＤＡ２
に入射させることにより、各フォトダイオードが、短波
長から超波長へ連続的に異なる波長の光をそれぞれ検出
するようになっている。

【００３３】発光回路１０３によってパルスＸｅランプ
１０２から発せられた光の一部は光源の分光エネルギー
分布のばらつきを測定するために、光源測定用分光セン
サであるＳ２に入射され、残りは測定試料１０１を照射
する。該測定試料１０１からの反射光は試料測定用分光
センサＳ１に入射される。センサＳ１，Ｓ２に入射した
光は、各シリコンフォトダイオードにより波長毎のエネ
ルギに比例した光電流に変換されて出力される。ＰＤＡ
１，ＰＤＡ２の各シリコンフォトダイオードからの光電
流は測光回路部１０４に入力され、各シリコンフォトダ
イオードからの光電流毎に積分され、該光電流の大きさ
に応じたパルス幅に変換されて制御演算部１０６に入力
される。発光回路１０３は上記制御・演算部（以下、Ｍ
ＰＵという）１０６によって制御される。発光回路１０
３及び測光回路部１０４の詳細な構成及び動作について
は後述する。

【００３４】ＭＰＵ１０６はシステム全体の制御と所要
の演算を行う処理装置である。また、ＭＰＵ１０６は測
光回路部１０４からの入力パルス幅を計測するタイムカ
ウンタを内蔵すると共に後述するように外部機器からの
入力信号の種別を判別するデータ判別機能を備えている
。更に、ＭＰＵ１０６には、該ＭＰＵ１０６が実行する
プログラムを格納するリードオンリーメモリ（ＲＯＭ）
等のプログラム格納部１０７と、演算データやシステム
の状態等を記憶するランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）
等のデータ格納部１０８と、分光センサＳ１，Ｓ２の検
出波長や各種補正定数などを記憶する電気消去可能なプ
ログラマブルリードオンリーメモリ（ＥＥＰＲＯＭ）等
の分光センサデータ格納部１０９とパーソナルコンピュ
ータ等の外部機器との間でデータを入出力するための外
部入出力ポート１１０と、測定データや各種設定条件を
格納するためのメモリカード部１１１と、液晶やＣＲＴ
等からなる表示部１１３を制御する表示制御部１１２と
、キーボード１１４と、現在時刻を計時するリアルタイ
ムクロック１１５及び前記白色校正ボックスＣＢ内に備
え付けられたＲＯＭ１９が接続されており、これらはＭ
ＰＵ１０６によって制御される。

【００３５】図２〜図５は測光回路部１０４の回路図で
あり、図６は測光のタイミングチャートである。先ず、
図２はシリコンフォトダイオードアレイＰＤＡ１，ＰＤ
Ａ２の中の任意の１個のシリコンフォトダイオドＰＤｉ
に接続されている電流電圧変換回路及び積分回路を示し
ている。シリコンフォトダイオードアレイＰＤＡ１，Ｐ
ＤＡ２の全てのシリコンフォトダイオードＰＤｉにそれ
ぞれ図２の回路が接続されている。

【００３６】同図において、ＯＰ１ｉは演算増幅器であ
り、フィードバック抵抗Ｒｆｉとともに電流電圧変換回
路を構成する。シリコンフォトダイオードＰＤｉのアノ
ードは演算増幅器ＯＰ１ｉの反転入力端子に接続されて
おり、カソードはグランドに接続されている。演算増幅
器ＯＰ１ｉ、ＯＰ２ｉ間には積分用抵抗Ｒｃｉが接続さ
れており、該積分用抵抗Ｒｃｉと積分増幅器ＯＰ２ｉ間
にはアナログスイッチＳＷ１ｉが接続されている。演算
増幅器ＯＰ２ｉの反転入力端子と出力端子間には積分用
コンデンサＣｃｉと積分リセット用アナログスイッチＳ
Ｗｉ２とが並列に接続されている。放電用抵抗Ｒｄｉの
一端は演算増幅器ＯＰ２ｉの反転入力端子側に接続され
、他端には−５ｖが印加されている。上記演算増幅器Ｏ
Ｐ２ｉ、積分用コンデンサＣｃｉ及び放電用抵抗Ｒｄｉ
により、積分及び放電回路が構成されている。積分増幅
器ＯＰ２ｉの出力端子にはアナログスイッチＳＷ３ｉが
接続され、該アナログスイッチＳＷ３ｉからの出力をＯ
ｉとする。また、アナログスイッチＳＷ１ｉのコントロ
ール端子には、後述する積分コントロール信号ＣＨＧが
入力されるようになっている。アナログスイッチＳＷ２
ｉのコントロール端子には、後述する積分リセット信号
ＲＥＳが入力されるようになっている。アナログスイッ
チＳＷ３ｉ，ＳＷ４ｉのコントロール端子にはＡＤｉ信
号が入力されるようになっている。以上の回路構成を、
便宜上ＡＮ（ｉ）と呼称する。

【００３７】図６は、図２の回路の動作を説明するタイ
ミングチャートである。今、ｔ１時点で、ＲＥＳ信号が
ローレベル、ＣＨＧ信号がハイレベルに変化すると、ア
ナログスイッチＳＷ２ｉがオフ（遮断状態）、アナログ
イッチＳＷ１ｉがハイ（導通状態）になる。それと同時
か、もしくは少し遅れて発光回路１０３により、パルス
Ｘｅランプ１０２が発光し、その光がバンドパスフィル
タアレイＦ１又はＦ２を通ってシリコンフォトダイオー
ドＰＤｉに入射する。シリコンフォトダイオードＰＤｉ
に光が入射すると、入射光の強度に比例した光電流Ｉ１
ｉがＰＤｉのアノードから演算増幅器ＯＰ１ｉの反転入
力端子に導かれ、そのほとんど全てがフィードバック抵
抗Ｒｆｉに流入する。このときの演算増幅器ＯＰ１ｉの
出力電圧Ｖ１ｉは下式で表される。

【００３８】 　　　　Ｖ１ｉ＝−Ｉ１ｉ／Ｒｆｉ　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　…（
１）今，アナログスイッチＳＷ１ｉがオン、ＳＷ２ｉが
オフであるから、積分増幅器ＯＰ１ｉの出力端子から積
分用コンデンサＣｃｉに向かって下式の電流Ｉ２ｉが流
れる。

【００３９】 　　　　Ｉ２ｉ＝Ｖ１ｉ／Ｒｃｉ　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　…
（２）積分用演算増幅器ＯＰ２ｉの出力電圧Ｖ２ｉは、
下式（３）のようにＩ２ｉを時間積分したものである。

【００４０】

【数１】

【００４１】 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　…（３）このようにして、Ｖ２ｉ
はシリコンフォトダイオードＰＤｉに入射する光の強度
の時間積分値に比例した電圧に変換される。パルスＸｅ
ランプ１０２の発光が終了した後のｔ２時点で積分用演
算増幅器ＯＰ２ｉの出力電圧Ｖ２ｉはホールドされる。 その後、ｔ３時点でＡＤｉ信号がハイになり、アナログ
スイッチＳＷ４ｉ，ＳＥ３ｉがオン（導通状態）になる
。このため、積分用コンデンサＣｃｉに充電されている
電荷がアナログスイッチＳＷ４ｉと放電用抵抗Ｒｄｉを
通して−５ｖへ下式で表される定電流Ｉ３ｉで放電され
る。

【００４２】 　　　　Ｉ３ｉ＝−５／ＲＤｉ　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
…（４）従って、積分用演算増幅器ＯＰ２ｉの出力電圧
Ｖ２ｉは直線的に減少していく。信号Ｏｉの動作及びこ
れ以後における動作は後述する。

【００４３】図３は測光回路部１０４の中の１つのブロ
ック（第ｋブロック）を示す回路図である。シリコンフ
ォトダイオードアレイＰＤＡ１，ＰＤＡ２の中の合計８
０個のシリコンフォトダイオードＰＤｉは１０個ずつの
８つのブロックに分けられている。本実施例では、１つ
のブロック内に含まれるシリコンフォトダイオードＰＤ
ｉが連続した１０個になるように、第ｋブロック（ｋ＝
０，１，…，７）の中の１０個のシリコンフォトダイオ
ードＰＤｊ〜ＰＤｊ＋９（ｊ＝ｋ×１０）のアノードは
各々前記の電流電圧変換・積分回路ＡＮ（ｊ）〜ＡＮ（
ｊ＋９）に接続されている。この回路ＡＮ（ｊ）〜ＡＮ
（ｊ＋９）の中のアナログスイッチＳＷ３ｊ〜ＳＷ３ｊ
＋９の出力Ｏｊ〜Ｏｊ＋９は全てコンパレータＣＭＰｋ
の非反転入力端子に入力される。該コンパレータＣＭＰ
ｋの非反転入力端子には抵抗Ｒ１ｋを介して＋５ｖが印
加され、反転入力端子には基準電圧−ＶＢが印加されて
いる。コンパレータＣＭＰｋの出力を、便宜上Ｃｋと呼
称する。 また、ＡＤｊ〜ＡＤｊ＋９はそれぞれ回路ＡＮ（ｊ）〜
ＡＮ（ｊ＋９）の中のアナログスイッチＳＷ４ｊ〜ＳＷ
４ｊ＋９，ＳＷ３ｊ〜ＳＷ３ｊ＋９のコントロール信号
である。

【００４４】更に、第ｋブロックには、予備の回路ＡＮ
ｔｋが含まれている。第０ブロックの回路は、図７（ａ
）に示すようにシリコンフォトダイオードＰＤｊ〜ＰＤ
ｊ＋９付近の温度を測定するためのサーミスタ等の温度
センサＴＭｏを含んでいる。サーミスタはその抵抗値が
温度の逆数変化量をパラメータとして指数的に変化する
特性を有している。図８において、抵抗値Ｒ１ｔｏ（図
７の（ａ））として下式を満足するような値が選定され
ている。

【００４５】 　　　　Ｒ１ｔｏ＝（ｒ１ｒ２＋ｒ２ｒ３−ｒ１ｒ３）
／（ｒ１＋ｒ３−２ｒ２）　　…（５）但し、ｒ１は温
度Ｔ１（℃）のサーミスタの抵抗値ｒ２は温度Ｔ２（℃
）のサーミスタの抵抗値ｒ３は温度Ｔ３（℃）のサーミ
スタの抵抗値上記のように抵抗値を選定すると、図７（
ａ）のサーミスタの出力電圧Ｖｘは図８に示すように略
直線近似される。なお、温度Ｔ２を実用上室温とするの
が好適であり、Ｔ１，Ｔ３は測色計の使用環境温度から
適宜決める。 このようにして、サーミスタの出力電圧をシリコンフォ
トダイオードの電流電圧変換・積分と同様にして積分コ
ンデンサＣｔｏに蓄積することにより、温度測定が可能
となる。なお、第１ブロック〜第７ブロックの回路ＡＮ
ｔｋはサーミスタに代えて固定抵抗が接続されている。 この固定抵抗は、後述するように温度センサＴＭｏに対
する補正を行うものである。各ブロックの回路ＡＮｔｋ
（ｋ＝０〜７）の出力Ｏｔｋ（ｋ＝０〜７）は、図３に
示すとおり、コンパレータＣＭＰｋの非反転入力端子に
入力される。

【００４６】図４は本実施例の測光回路部１０４の上半
部分の回路図、図５はその下半部分の回路図で、両図を
合わせて全体の回路図が示されている。Ｆ１，Ｆ２は前
記バンドパスフィルタアレイ、ＰＤＡ１，ＰＤＡ２は前
記シリコンフォトダイオードアレイである。ＰＤＡ１，
ＰＤＡ２の中のシリコンフォトダイオードはそれぞれ１
０個ずつの４ブロック、すなわちＰＤＡ１とＰＤＡ２と
を合わせて８ブロックに分かれ、それぞれ図３に示す第
０〜第７ブロックに接続されている。

【００４７】ＩＣ１は４入力１６出力のデコーダである
。このＩＣ１の反転Ｅ入力端子はイネーブル端子であり
、反転Ｅがハイの時には、Ｑ０〜Ｑ１５の出力の全てが
ローになる。反転Ｅがローの時には、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ入
力端子に入力される４ビット信号に応じて出力Ｑ０〜Ｑ
１５の内の１つがハイになり、他はローになる。なお、
本実施例では出力端子Ｑ１１，Ｑ１５は用いないため、
回路上には記述されていない。上記Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，反
転Ｅ入力と出力Ｑ０〜Ｑ１０の関係を表１に示す。

【００４８】

【表１】

【００４９】但し、上表において、Ｈ：ハイレベルＬ：
ローレベル ×：ＨまたはＬ この機能を実現するものとして、例えばＣＭＯＳ−ＩＣ
４５１４が知られている。

【００５０】ＩＣ１の出力Ｑ０はＡＤｊ（但し、ｊ＝１
０×ｋ，ｋ＝０〜７、以下同様）に接続され、出力Ｑ１
はＡＤｊ＋１に接続され、出力Ｑ２はＡＤｊ＋２に接続
され、出力Ｑ３はＡＤｊ＋３に接続され、出力Ｑ４はＡ
Ｄｊ＋４に接続され、出力Ｑ５はＡＤｊ＋５に接続され
、出力Ｑ６はＡＤｊ＋６に接続され、出力Ｑ７はＡＤｊ
＋７に接続され、出力Ｑ８はＡＤｊ＋８に接続され、出
力Ｑ９はＡＤｊ＋９に接続され、出力Ｑ１０はＡＤｔ０
〜ＡＤｔ７に接続されている。また、第０ブロック〜第
７ブロックの中のコンパレータ出力Ｃ０〜Ｃ７はＭＰＵ
１０６に接続される。

【００５１】該ＭＰＵ１０６内の前記タイムカウンタは
、前述したように測光回路部１０４からの入力パルス幅
を計測すべくコンパレータ出力に直結されている。この
ような機能を持ったＭＰＵとして、例えばＭＣ６８３３
２が挙げられる。図９は該タイムカウンタの構成を示す
ためのＭＰＵ１０６の内部構造を示している。図におい
て、タイムカウンタ２００は入出力チャネル２０１と、
該入出力チャネルの機能を決定したり、入出力チャネル
が参照するタイマのスピードを制御するチャネル制御部
２０２と、タイマ２０３とからなっている。タイマ２０
３はＭＰＵ１０６内のクロック生成部４００から基準ク
ロックを供給されている。該基準クロックは同時にＣＰ
Ｕ１００にも入力され、該ＣＰＵ１００の動作速度を決
定している。このクロック生成部４００は電圧制御型発
振器等からなり、外部発振子５００を用いて所定の高周
波クロックパルスを生成するものである。かかるタイム
カウンタ２００は入出力チャネル２０１を種々の機能に
設定することができる。例えば、Ｉ／Ｏとして（ＤＩＯ
機能「個別入出力機能」）、時間計測（ＰＭＭ機能）、
外部信号の極性変化を検出する機能（ＩＴＣ機能）、所
定のデューティ、周波数の信号を出力する機能（ＰＷＭ
機能）等である。

【００５２】本実施例では、入出力チャネル２０１を測
光回路部１０４からの入力パルス幅を計測するために、
後述するようなＩＴＣ（Ｉｎｐｕｔ　Ｃａｐｔｕｒｅ　
ａｎｄ　Ｔｒａｎｓｉｔｉｏｎ　Ｃｏｕｎｔｅｒ　）機
能で動作させるものである。なお、入出力チャネル２０
１には１６個の個別のチャネルがあり、それぞれは前述
の機能のいずれでも割当て可能であるが、本実施例では
コンパレータ出力Ｃ０〜Ｃ７までをＣＨ０〜ＣＨ７に接
続し、デコーダＩＣ１への反転ＥをＣＨ８に接続してい
る。また、前述したＲＥＳ信号及びＣＨＧ信号は制御・
演算部１０６内の入出力ポート３００の出力である。本
実施例では、デコーダＩＣ１のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，反転Ｅ
入力は入出力ポート３００の出力であるが、タイムカウ
ンタ２００の空きチャネルを使って前記ＤＩＯ機能を用
いて出力信号としてもよい。

【００５３】図１０は発光回路１０３を説明するための
ブロック図である。１３５は発光回路用電源であり、６
ｖから９ｖ程度の定電圧直流電源である。１３１はブロ
ッキング発振を利用した昇圧回路であり、パルスＸｅラ
ンプ発光用の電荷を蓄積するためのメインコンデンサ１
３７に充電するための電源を供給する。１３２は電圧制
御回路であり、メインコンデンサ１３７の充電電圧を検
出し、充電電圧が所定の最高電圧に達すると、ＦＣＨＧ
１出力をローレベルにし、一方、メインコンデンサ１３
７の充電電圧が所定の最低電圧まで低下すると、ＦＣＨ
Ｇ１出力をハイレベルにし、前記充電電圧が上記最高電
圧と最低電圧間にあるときは、ＦＣＨＧ１出力にはそれ
までの状態を保持させるというヒステリシスを持った電
圧検出回路である。

【００５４】上記昇圧回路１３１は上記電圧制御回路１
３２からのＦＣＨＧ１信号と、入出力ポート１０５から
の昇圧制御信号ＦＣＨＧ２が入力される。ＦＣＨＧ２信
号は、昇圧回路１３１による電源供給を制御すべくＭＰ
Ｕ１０６から入出力ポート１０５を介して出力される制
御信号である。上記昇圧回路１３１は上記ＦＣＨＧ１信
号とＦＣＨＧ２信号が共にハイレベルの時だけ電源供給
を行う。１３６はメインコンデンサ１３７から昇圧回路
１３１に電流が逆流するのを防止するためのダイオード
である。従って、入出力ポート１０５からのＦＣＨＧ２
信号の出力がハイレベルの間、電圧制御回路１３２から
の出力ＦＣＨＧ１により、昇圧回路１３１が制御され、
メインコンデンサ１３７の充電電圧が前記最高電圧と最
低電圧の間になるように制御される。１３３はメインコ
ンデンサ１３７の充電電圧が前記最低電圧と同じかまた
はそれよりも低い所定の充電完了電圧とを比較し、前記
充電電圧の方が高い場合はＶＣＨＫ出力信号をハイにし
、逆に充電電圧の方が低い場合はＶＣＨＫ出力信号をロ
ーにする。但し、上記最高電圧、最低電圧、充電完了電
圧はパルスＸｅランプ１０２の発光可能な電圧よりも高
く設定されている。

【００５５】前記電圧検出回路１３３からのＶＣＨＫ出
力信号は入出力ポート１０５に入力されており、ＭＰＵ
１０６は入出力ポート１０５を介してＶＣＨＫ出力信号
を入力することにより、発光回路１０３が発光可能な状
態にあるか否かを判別する。１３４はパルスＸｅランプ
１０２を発光させるための発光用トリガ回路であり、入
出力ポート１０５からのＦＬＡＳＨ信号の立上りエッジ
でパルスＸｅランプ１０２を発光させる。ＭＰＵ１０６
は入出力ポート３００を介して上記ＦＬＡＳＨ信号を出
力制御することにより、発光回路１０３の発光タイミン
グを制御する。図３０は本実施例の測光タイミングを示
すタイミングチャートであり、図３１〜図３８はＭＰＵ
１０６による測光回路部１０４の制御と測定値を算出す
るための手順を示すフロ−チャ−トである。以下、図３
０のタイミングチャートと図３１〜３８のフローチャー
トに沿って測光動作を説明する。

【００５６】［測光動作：＃１〜＃２１］図３１の＃１
において、ＭＰＵ１０６は入出力ポ−ト１０５を通して
発光回路１０３からの充電完了信号ＶＣＨＫを入力し、
ＶＣＨＫ信号がハイレベルか否かを判別することにより
、発光回路１０３が発光可能かどうかを判別する。ＶＣ
ＨＫ信号がロ−であれば（＃１でＮＯ）、発光準備が完
了していないので＃２に進み、エラーフラグＥＲＲＦを
１にしてリターンする。ＶＣＨＫがハイであれば（＃１
でＹＥＳ）、発光可能なので＃３に進み、昇圧制御信号
ＦＣＨＧ２をローにする。ＦＣＨＧ２がローになると、
前記昇圧回路１３１は電源供給を停止するが、完全に停
止するまで１００マイクロ秒程度の時間を要するので、
＃４で時間待ちを行う。測光の前に昇圧回路１３１の電
源供給動作を停止させる理由は、昇圧回路１３１は電源
供給を行っている間、高電圧の発振を行っているため、
この発振に起因して発生する有害なノイズによって測光
回路部１０４が誤動作を生じないようにするためである
。

【００５７】次に、ＭＰＵ１０６は＃５に進み、ＲＥＳ
信号をローにし、ＣＨＧ信号をハイにして積分動作を開
始する。その直後に＃６のステップで、ＦＬＡＳＨ信号
をハイにしてパルスＸｅランプ１０２を発光させる（図
３０、τ１）。パルスＸｅランプ１０２から発せられた
光は、その一部が光源測定用分光センサＳ２に入射し、
残りは測定試料１０１に照射され、該測定試料１０１か
らの反射光が試料測定用分光センサＳ１に入射される。 分光センサＳ１，Ｓ２に入射した光は、それぞれバンド
パスフィルタアレイＦ１，Ｆ２によって分光され、シリ
コンフォトダイオードアレイＰＤＡ１，ＰＤＡ２で受光
され、該ＰＤＡ１，ＰＤＡ２の中の各シリコンフォトダ
イオードから、それぞれ分光された光強度に比例した光
電流に変換されて出力される。各シリコンフォトダイオ
ードからの光電流は、図６のタイミングチャートで説明
したように、（２）式に従って積分される。このため、
積分回路の出力電圧Ｖ２０〜Ｖ２７９は、図３０の（τ
１〜τ２）間に示すように正の方向へ増大する。また、
同時にサーミスタなどの温度補正のための出力電圧も積
分され、図３０に正の出力電圧Ｖ２ｔ０、Ｖ２ｔ１〜Ｖ
２ｔ７として示している。

【００５８】ＭＰＵ１０６は＃７のステップで発光が終
了するまでの時間待ちを行い（本実施例では３ｍｓｅｃ
）、＃８のステップでＣＨＧ信号をローにして積分動作
を終了する（図３０、τ２）。この状態で、積分出力電
圧Ｖ２０〜Ｖ２７９には、各シリコンフォトダイオード
に入射された光の強度の時間積分値に比例した電圧が保
持される。また、出力電圧Ｖ２ｔ０，Ｖ２ｔ１〜Ｖ２ｔ
７には、サーミスタ並びに固定抵抗の出力電圧に比例し
た電圧が保持される。この時、ＦＬＡＳＨ信号もローレ
ベルに戻し、次の発光に備えている。

【００５９】次に、ＭＰＵ１０６は＃９に進み、ここで
、変数Ｎを０に設定する。変数Ｎは、図９の出力ポート
３００を通して図５のデコーダＩＣ１のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ
端子へ出力される値であり、変数Ｎを２進数で表現した
時、０ビット目がＡ、１ビット目がＢ、２ビット目がＣ
、３ビット目がＤに対応している。

【００６０】続いて＃１０で、タイムカウンタ２００が
初期化される。この様子を図３９に示す。図３９におい
て、＃７１でチャネルＣＨ０〜ＣＨ８を外部信号の極性
変化を検出する前述のＩＴＣ機能に設定する。＃７２で
は、上記ＣＨ０〜ＣＨ８を、前記極性変化の内、立ち下
がりエッジを検出する機能に設定する。このＩＴＣ機能
では入力信号の極性変化が生じた時点で参照しているタ
イマ２０３の値が各チャネル毎のメモリに記憶され、同
時にチャネル制御部２０２を通してＣＰＵ１００に割込
要求が起こるようになされたものである。＃７３では、
そのためのチャネル毎の割込要求を許可している。

【００６１】図３１の＃１１に戻って、ＭＰＵ１０６側
で割込を許可する。＃１２では前記変数Ｎの値を入出力
ポート３００からデコーダＩＣ１のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ端子
に出力する。次に、＃１３では、Ａ／Ｄ変換のスタート
信号である反転Ｅ信号をローにする（図３０、τ３）。 この時、タイムカウンタ２００の入出力チャネル２０１
のＣＨ８に反転Ｅ信号を入力することにより、反転Ｅ信
号がローになった時点の時刻ＴＣＨ８がＣＨ８のメモリ
に記憶される。

【００６２】変数Ｎ＝０では、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ端子に全
てローが入力されているので、表１に示すようにＱ０信
号がハイになってＡＤｉ（ｉ＝０，１０，２０，３０，
４０，５０，６０，７０）がハイになり、アナログスイ
ッチＳＷ３ｉ，ＳＷ４ｉ（ｉ＝０，１０，２０，３０，
４０，５０，６０，７０）が導通状態になる。従って、
前述したように積分出力電圧Ｖ２ｉ（ｉ＝０，１０，２
０，３０，４０，５０，６０，７０）が直線的に減少し
ていく。この時、コンパレータＣＭＰ０，ＣＭＰ１，Ｃ
ＭＰ２，ＣＭＰ３，ＣＭＰ４，ＣＭＰ５，ＣＭＰ６，Ｃ
ＭＰ７の非反転入力端子はそれぞれアナログスイッチＳ
Ｗ３０，ＳＷ３１０，ＳＷ３２０，ＳＷ３３０，ＳＷ３
４０，ＳＷ３５０，ＳＷ３６０，ＳＷ３７０を通して、
積分出力電圧Ｖ２０，Ｖ２１０，Ｖ２２０，Ｖ２３０，
Ｖ２４０，Ｖ２５０，Ｖ２６０，Ｖ２７０が入力されて
いる。今、Ｖ２０の電圧に着目すると、Ｖ２０はアナロ
グスイッチＳＷ３０を通してコンパレータＣＭＰ０の非
反転入力端子に入力されている。 前述のように、Ｖ２０の出力は直線的に減少して行くが
、コンパレータＣＭＰ０の反転入力端子の基準電圧−Ｖ
ＢよりもＶ２０の方が高い場合は、コンパレータＣＭＰ
０の出力Ｃ０はハイとなる。そして、時間の経過ととも
にＶ２０の電圧は直線的に減少して行き、前記基準電圧
−ＶＢよりも低くなると、コンパレータ出力Ｃ０はハイ
からローに切り換わる。該コンパレータ出力Ｃ０がロー
になると、タイムカウンタ２００の入出力チャネル２０
１のＣＨ０に極性反転が起こって、その時点でのタイマ
２０３の値がＴＣＨ０としてＣＨ０のメモリに記憶され
る、と同時に割込が発生する。ここで、既に起こったＣ
Ｈ８の極性変化時に得られたＴＣＨ８と前述のＴＣＨ０
の差は反転Ｅ信号がローになってから、出力Ｃ０がロー
になるまでの時間に比例した値となり、すなわち（Ｖ２
０＋ＶＢ）の電圧値に比例した値となる。このようにし
て、シリコンフォトダイオードＰＤ０の光電流の積分値
がＡ／Ｄ変換されたことになる。積分出力電圧Ｖ２１０
，Ｖ２２０，Ｖ２３０，Ｖ２４０，Ｖ２５０，Ｖ２６０
，Ｖ２７０も、上記Ｖ２０と同様にしてＡ／Ｄ変換され
る。＃１４では、全チャネルで極性変化が終了したか否
かのチェックが行われ、もしまだなら（＃１４でＮＯ）
、＃２０で、所定時間内に極性変化が起こっているのか
どうかをチェックし、時間オーバーなら＃２１でＡＤＥ
ＲＲＦ（Ａ／Ｄエラーフラグ）に１を立ててリターンす
る。これにより回路上のトラブルによる無限ループを防
いでいる。

【００６３】一方、極性変化が全チャネル終了しておれ
ば（＃１４でＹＥＳ）、＃１５で、一旦反転Ｅ信号をハ
イにして＃１６に移って反転Ｅ信号のローへの変化時点
からＣＨ０〜ＣＨ８のローへの反転時間を全チャネルに
亘り計算する。ここで、 　　　　ＣＭ１（Ｎ＋ｊ）＝ＴＣＨｋ−ＴＣＨ８＝Ｃ１
（Ｖ２ｊ＋ＶＢ）　　　　　　　　　　…（６）但し、
Ｃ１：比例定数 ｋ＝０，１，…７ ｊ＝１０×ｋ ＃１５で、反転Ｅ信号がハイになると（図３０、τ４）
、デコーダＩＣ１の出力Ｑ０〜Ｑ９は全てローになり、
アナログスイッチＳＷ４ｉ，ＳＷ３ｉ（ｉ＝０，１０，
２０，３０，４０，５０，６０，７０）がオフになり、
積分出力Ｖ２ｉ（ｉ＝０，１０，２０，３０，４０，５
０，６０，７０）の電圧は直線的な減少を停止し、その
時点の電圧に保持されている。また、コンパレータＣＭ
Ｐｋ（ｋ＝０，１，…７）の非反転入力はプルアップ抵
抗Ｒ１ｋによってハイになり、コンパレータ出力Ｃｋは
ハイになっている。

【００６４】現在、変数Ｎ＝０なので、ＣＭ１（０），
ＣＭ１（１０），ＣＭ１（２０），……，ＣＭ１（７０
）となり、つまりＶ２ｉのＡ／Ｄ変換値がＣＭ１（ｉ）
（ｉ＝０，１０，２０，……，７０）に格納されたこと
になる。次に、＃１７で、Ｎを１だけインクリメントし
、＃１８で、Ｎが１１であるかどうかを判別し、１１で
なければ（＃１８でＮＯ）、＃１１に戻る。＃１１から
＃１５まで実行すると、Ｎ＝０のときと同様にして今度
はＮ＝１であるから積分出力Ｖ２１，Ｖ２１１，Ｖ２２
１，Ｖ２３１，Ｖ２４１．Ｖ２５１，Ｖ２６１，Ｖ２７
１がＡ／Ｄ変換され、配列変数ＣＭ１（１），ＣＭ１（
１１），ＣＭ１（２１），ＣＭ１（３１），ＣＭ１（４
１），ＣＭ１（５１），ＣＭ１（６１），ＣＭ１（７１
）に格納される。＃１７で、Ｎをまた１だけインクリメ
ントし、以後Ｎが１１になるまで＃１１〜＃１８を繰り
返すと、全ての積分出力Ｖ２ｉとＶ２ｔがＡ／Ｄ変換さ
れ、ＣＭ１（ｉ）に格納される。このＶ２ｉとＣＭ１（
ｉ）との関係は下式で表せる。

【００６５】 　　　　ＣＭ１（ｉ）＝Ｃ１（Ｖ２ｉ＋ＶＢ）　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　…（７）＃
１８でＮが１１になったことが判別されると、全ての積
分出力のＡ／Ｄ変換が終了したことになるので、＃１９
でＲＥＳをハイにして（図３０、τ５）、積分コンデン
サＣｃｉ（ｉ＝０，１，２，……，７９）とＣｔｋ（ｋ
＝０，１，２，……，７）に並列に接続されているアナ
ログスイッチＳＷ２ｉをオンにし、積分コンデンサの電
荷を０にする。更に、ここでＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ端子に０を
入力し、初期状態に戻しておく。

【００６６】［ダークオフセット測定：＃２２〜＃３７
］次に、＃２２に進み、ダークオフセットの測定を行う
。該ダークオフセットの測定は、前述したパルスＸｅラ
ンプ１０２を発光させての測定である＃５〜＃１９とほ
とんど同じであり、ただパルスＸｅランプ１０２を発光
させないのと、測定終了後に＃３５のステップで昇圧制
御信号ＦＣＨＧ２をハイにし、昇圧回路１３１による電
源供給を再開させるところが違うだけであるので、タイ
ミングチャートは省略してある。＃２２〜＃２４で、パ
ルスＸｅランプ１０２を発光させない状態での積分出力
Ｖ２ｉ（ｉ＝０，１，２，……，７９）が得られ、＃２
５〜＃３５で、積分出力が全てＡ／Ｄ変換され、それぞ
れの配列変数ＯＦ（ｉ）に格納される。このＯＦ（ｉ）
の値は、演算増幅器のオフセットや外光の影響及びシリ
コンフォトダイオードの暗電流やアナログスイッチの漏
れ電流等の影響を全て含んだ値であり、パルスＸｅラン
プ１０２を発光させての測定値であるＣＭ１（ｉ）から
このＯＦ（ｉ）を差し引くことにより、前記オフセット
やシリコンフォトダイオードの暗電流、アナログスイッ
チの漏れ電流、外光の影響等による誤差をキャンセルす
ることができる。また、本実施例は光源にパルスＸｅラ
ンプ１０２を使用しているので、定常光を光源とした場
合のように、光をチョッピングすることなくダークオフ
セットを測定することができるので、機械的な駆動部分
を必要としないという長所を持っている。

【００６７】［ダークオフセット補正：＃３８〜＃４２
］＃３８から＃４１において、上記のダークオフセット
の補正を行っている。すなわち、パルスＸｅランプ１０
２を発光しての測定値であるＣＭ１（ｉ）からダークオ
フセットの測定値ＯＦ（ｉ）を差し引いた値をＣＭ１（
ｉ）に更新的に格納する。ＣＭ１（ｉ）（ｉ＝８０〜８
７）には、サーミスタ及び固定抵抗の出力値がＡ／Ｄ変
換されて入力されている。ＣＭ１（８１）〜ＣＭ１（８
７）は、図７（ｂ）の回路からも分かる通り、反転入力
と同電位の入力信号を積分し、Ａ／Ｄ変換しているもの
であるから、この増幅回路のオフセット電圧のＡ／Ｄ変
換をしていることになる。回路ＡＮｔｏのオフセットは
、回路ＡＮｔ１のオフセットで代用し、従ってサーミス
タの出力値は次式によって温度情報として変換され、Ｍ
ＰＵ１０６に取り込まれる。

【００６８】 　　　　ｔ＝ｔ０＋ΔＣ×｛ＣＭ（８０）Ｔ−ＣＭ（８
１）Ｔ｝／｛ＣＭ（８０）Ｔ０−ＣＭ（８１）Ｔ０｝　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　…（８）但し、　　ΔＣ　　　　：図８に示
す直線勾配ＣＭ（８０）Ｔ０：Ｔ０℃時の８０番目のカ
ウント値ＣＭ（８１）Ｔ０：Ｔ０℃時の８１番目のカウ
ント値ＣＭ（８０）Ｔ　：Ｔ　℃時の８０番目のカウン
ト値ＣＭ（８１）Ｔ　：Ｔ　℃時の８１番目のカウント
値＃４２では、かかる温度変換が行われる。

【００６９】［分光感度補正：＃４３〜＃５１］＃４３
からは分光感度補正の計算を行う。ここで、分光感度補
正の意味と原理について、図４０，図４１を参照して説
明を行う。図４０は本実施例で使用する分光センサＳ１
における各シリコンフォトダイオードの光電流Ｉ１ｉと
電流電圧変換・積分回路ＡＮ（ｉ）（ｉ＝０，１，２，
……，３９）の増幅率を乗算した測光回路系としての分
光感度Ｓｉ（λ）（ｉ＝０，１，２，……，３９）であ
る。但し、λは光の波長である。分光センサＳ１，Ｓ２
のバンドパスフィルタアレイＦ１，Ｆ２には赤外線カッ
トと紫外線カットの処理が施してあり、Ｓ０（λ）〜Ｓ
３９（λ）は３７０ｎｍより短い波長領域と７２０ｎｍ
より長い波長領域での値は略零である。Ｓ０（λ）〜Ｓ
３９（λ）は略１０ｎｍピッチで並んでおり、バンドパ
スの半値幅は１０ｎｍよりも広くなっている。また、バ
ンドパスフィルタアレイとフォトダイオードアレイの間
での内面反射等の影響により、ピーク波長からかなり離
れた波長領域にも感度を持っており、これを分光感度の
すそ引きと呼称する。この分光感度のすそ引きと上記半
値幅が広いことによって、測定値に誤差が含まれる。分
光感度補正の計算は、このようにすそ引きがあり、半値
幅の広い分光感度を持つセンサの出力から正しい測定値
を得るためのものである。

【００７０】今、分光感度Ｓｉ（λ）（ｉ＝０，１，２
，……，３９）のピーク波長をＰＫｉ（ｉ＝０，１，２
，……，３９）とする。そして、測定波長領域（本実施
例では３７０〜７２０ｎｍ）を、 　　　　（ＰＫｉ＋ＰＫｉ＋１）／２　　　　（但し、
ｉ＝０，１，２，……，３８）の波長で区切り、４０個
の領域Δλｉ（ｉ＝０，１，２，……，３９）に分割す
る。今、分光センサＳ１に入射する光の分光感度分布を
、図４１に示すように４０個に分割した１つの波長領域
内ではフラットであるように近似し、波長領域Δλｉで
の光強度をＰｉとする。この時、Ｓｉ（λ）の分光感度
を持つ１個のセンサの出力をＯｉ（ｉ＝０，１，２，…
…，３９）とすると、Ｏｉは次の式で表される。

【００７１】

【数２】

【００７２】 …（９） 今、ａｉｊを次のように定義する。

【００７３】

【数３】

【００７４】 …（１０） このように定義すると、（９）式は次式のように表せる
。

【００７５】

【数４】

【００７６】 …（１１） 上式は、ｉ＝０〜３９について成立するので、行列を用
いて次の式が成り立つ。

【００７７】

【数５】

【００７８】 …（１２） （但し、ｎ＝３９） 上式を次のように表す。

【００７９】 Θ＝Λ・Γ　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　…
（１３） 但し、

【００８０】

【数６】

【００８１】（１２）式より、 　　　　Γ＝Λ￣１・Θ　　　　　　　　　　　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　…（１５）ここで、Λ￣１は行列Λの逆行列である。 従って、Λ￣１が分かれば、式（１５）より、分光セン
サＳ１の出力Θの値から入射光の分光エネルギー分布Γ
を知ることができる。Λ￣１を求めるには、まず分光器
を用いて分光センサの分光感度Ｓ０（λ）〜Ｓ３９（λ
）を測定し、（１０）式に従って行列Λ＝［ａｉｊ］を
求め、該行列Λの逆行列Λ￣１を計算すれば良い。

【００８２】以上、便宜上試料測定用分光センサＳ１に
ついて説明したが、光源測定用分光センサＳ２について
も同様である。ここで、入射光の分光エネルギー分布を
波長領域Δλｉの中で、フラットであるというように近
似したが、本実施例は反射物の分光反射率を測定するた
めのものであり、塗料や印刷物などの反射物体の分光反
射率は概してなだらかな曲線を描き、急峻な吸収等のな
いものが多いので、このように近似することができるの
である。

【００８３】ここで、図３６のフローチャートに従って
説明を行う。試料測定用分光センサ（サンプル用センサ
）Ｓ１についての（１５）式中のΛ￣１をБ＝［Ｂｉｊ
］とし、光源測定用分光センサ（リファレンス用センサ
）Ｓ２についての（１５）式中のΛ￣１をБ’＝［Ｂ’
ｉｊ］とする。＃４３から＃４６において、試料測定用
分光センサＳ１について（１５）式に示す分光感度補正
計算を行っている。更に、＃４７から＃５０において、
光源測定用分光センサＳ２について（１５）式に示す分
光感度補正計算を行っている。（１５）式は分光センサ
Ｓ１については下記のとおりである。

【００８４】

【数７】

【００８５】 …（１６） 今、分光センサＳ１の出力Ｏｉ（ｉ＝０，１，２，……
３９）は、ＣＭ１（ｉ）に格納されており、また（１６
）式で計算したＰｉをＣＭ２（ｉ）に格納することにす
れば、

【００８６】

【数８】

【００８７】 …（１７） （ｉ＝０，１，２，……３９） となる。また、（１５）式は分光センサＳ２については
以下の通りである。

【００８８】

【数９】

【００８９】 …（１８） 今、分光センサＳ２の出力はＣＭ１（ｉ＋４０）（ｉ＝
０，１，２，……３９）に格納されており、また、（１
８）式で計算したＰｉをＣＭ２（ｉ＋４０）に格納する
ことにすると、

【００９０】

【数１０】

【００９１】 …（１９） （ｉ＝０，１，２，……３９） となる。なお、Ｂｉｊ及びＢ’ｉｊの値は前記分光セン
サデータ格納部１０９（図１）に、予め記憶されている
。

【００９２】［ゼロ校正：＃５１］ここで、ＣＭ２（ｉ
）は試料で反射され、入射される光に対しての値で、Ｃ
Ｍ２（ｉ＋４０）は試料を照射した光に対しての値であ
る。従って、前記測定開口１を空中に向けた無反射状態
で測定を行えば、ＣＭ２（ｉ）（ｉ＝０，１，２，……
，３９）は０になるはずである。しかし、実際には迷光
（フレア）等が原因で完全には０にならない。 かかる迷光の影響を補正するために、前もって測定開口
１を反射物のない空中に向けて測光し、この時のＣＭ２
（ｉ），ＣＭ２（ｉ＋４０）（ｉ＝０，１，２，……，
３９）を用いて、 　　　　Ｄ（ｉ）＝ＣＭ２（ｉ＋４０）／ＣＭ２（ｉ）
　　　　　　　　　　　　…（２０）を求めておく。か
かる処理をゼロ校正と、Ｄ（ｉ）をゼロ校正値と呼称す
る。このゼロ校正値Ｄ（ｉ）を用いて、＃５１で補正が
行われる。この式にはＣＭ２（ｉ）の項があるため、ゼ
ロ校正時より光量が変化しても、常に光量に応じたゼロ
点補正が可能となる。

【００９３】［光源補正：＃５２〜＃５５］＃５２より
、試料からの反射光に対しての光源補正の計算を行う。 本実施例の照明用光源はパルスＸｅランプ１０２であり
、その分光エネルギー分布は発光の度毎に常に変化しな
いことが望まれるが、実際には種々の理由により若干変
動することが予想される。光源測定用分光センサＳ２は
パルスＸｅランプ１０２の分光エネルギー分布を試料測
定用分光センサＳ１と略同じ波長で測定しているので、
分光センサＳ１によって測定された試料光の分光エネル
ギー分布を、分光センサＳ２によって測定された光源の
分光エネルギーで対応する波長毎に割算し、その値を測
定値とすることにより光源の分光エネルギー分布の変動
による誤差を消去することができる。そして、＃５２か
ら＃５６において、その計算を行っている。＃５３にお
けるＣＭ２（ｉ）は分光センサＳ１のｉ番目のシリコン
フォトダイオードに対応する測定値であり、ＣＭ２（ｉ
＋４０）は分光センサＳ２のｉ番目のシリコンフォトダ
イオードに対応する測定値である。ＣＭ２（ｉ）をＣＭ
２（ｉ＋４０）で割った値をＣＭ３（ｉ）に格納する。 かかる処理をｉ＝０〜３９まで繰り返し、全ての測定値
を光源補正し、ＣＭ３（ｉ）に格納する。このようにし
て照明光源の分光エネルギー分布の変動の補正を終了し
、補正された値はＣＭ３（ｉ）（ｉ＝０〜３９）に格納
される。

【００９４】［波長補正：＃５６〜＃６６］次に、＃５
６に進み、波長補正の計算を行う。ここで、波長補正の
意味を説明する。本実施例の分光センサＳ１，Ｓ２は、
バンドパスフィルタアレイを用いており、ピーク波長は
略１０ｎｍ間隔になっているが、フィルタ製造時の僅か
な特性ずれに起因して波長ピッチに若干のばらつきの生
じる場合が考えられる。この波長ピッチのばらつきを直
線補間計算により１０ｎｍピッチに対応する値に補正す
るのが、ここで述べる波長補正の計算である。 また、測定そのものは３７０ｎｍ〜７２０ｎｍの範囲を
４０分割して行われているが、測色計の出力としては４
００ｎｍ〜７００ｎｍの範囲を１０ｎｍおきに測定した
かのような出力を得るようにしている。

【００９５】＃５６において、まず波長番号Ｊをゼロに
する。波長番号Ｊは４００ｎｍから７００ｎｍの波長領
域内の１０ｎｍ間隔の波長に付した番号であり、４００
ｎｍのときＪ＝０で、１０ｎｍ増す毎に１だけ増える数
値である。 Ｉはセンサ番号であり、＃５７でゼロに初期化する。但
し、Ｉ＝０はピーク波長が最も短波長のセンサの番号で
あり、長波長側に向かってＩが１ずつ増える。＃５８に
おいて、波長番号Ｊに対応する波長Ｗを計算する。そし
て、＃５９において、Ｉ番目のセンサのピーク波長ＰＫ
（Ｉ）とＪ番目の波長Ｗとを比較し、ＰＫ（Ｉ）＜Ｗで
あれば、＃６０でＩを１だけインクリメントして＃５９
に戻る。一方、ＰＫ（Ｉ）≧Ｗであれば、＃６１に進む
。すなわち、＃５９，＃６０において、Ｊ番目の波長Ｗ
以上でかつＷに最も近いピーク波長を持つセンサの番号
を検索する。

【００９６】＃６１〜＃６３においは、図４２に示すＷ
１，Ｗ２，Ｍの値を計算する。Ｗ１とは＃５９，＃６０
で求めたＷ以上で、かつこのＷに最も近いピーク波長を
持つセンサのピーク波長ＰＫ（Ｉ）と、その１つ短波長
側のセンサのピーク波長ＰＫ（Ｉ−１）との差である。 ＭはＩ番目のセンサの測定値ＣＭ３（Ｉ）と（Ｉ−１）
番目のセンサの測定値ＣＭ３（Ｉ−１）との差である。 ＃６４で波長Ｗにおける測定値をＩ番目のセンサと（Ｉ
−１）番目のセンサの測定値から直線補間計算によって
求め、その値をＭＥＡＳ（Ｊ）とする。＃６５において
、波長番号Ｊを１だけ増し、＃６５で４００ｎｍ〜７０
０ｎｍの範囲が全て終了したか否かを判別するために、
Ｊが３１か否かを判別し、３１でなければ＃５８に戻り
、次の波長Ｗにおける測定値を、前述の補間計算により
求める。Ｊが３１になれば、４００ｎｍ〜７００ｎｍの
範囲の１０ｎｍ間隔の測定値が補間計算により全て求め
られたことになるから、測光サブルーチンを終了し、リ
ターンする。

【００９７】本実施例では説明を分かり易くするために
＃５７から＃６２の処理を設けたが、波長Ｗに対応する
センサの番号ＩやＷ１，Ｗ２などは予め計算しておき、
分光センサデータ格納部１０９に格納しておくこともで
き、その場合、＃５７，＃５９〜＃６２は省略すること
ができる。 ［分光反射率の計算：＃８０〜＃８３］次に、前述の補
正計算後の値を用いて分光反射率を計算する方法を述べ
る。先ず、前記補正計算の説明中に述べたゼロ校正を行
う。続いて、分光反射率が既知の標準白色板を用いて白
色校正を行う。これは標準白色板を試料としてセットし
、前述の測光サブルーチンを実行することにより可能と
なる。そして、得られた測定値ＭＥＡＳ（Ｊ）をＣ（Ｊ
）（Ｊ＝０〜３０）に格納する。次に、測色対象とする
試料をセットし、測光サブルーチンを実行することによ
り、その試料のＪ番目の分光反射率Ｒ’（Ｊ）は、　　
　　Ｒ’（Ｊ）＝ＭＥＡＳ（Ｊ）×Ｒ１（Ｊ）／Ｃ（Ｊ
）　　　　　　　　　　　　　　…（２１）但し、ＭＥ
ＡＳ（Ｊ）：試料の測定値 Ｒ１（Ｊ）　　：標準白色板の分光反射率と求まる。本
実施例では、４００ｎｍから７００ｎｍの波長領域の１
０ｎｍピッチの反射率を計算するので、図４３に示すよ
うに波長番号Ｊは０〜３０であり、Ｊ＝１から（＃８０
）、下記（２２）式で表される反射率Ｒ（Ｊ）の計算が
開始され（＃８１）、順次１ずつインクリメントされて
（＃８２）、Ｊ＝３１になった時点で（＃８３でＹＥＳ
）、全ての波長における反射率Ｒ（Ｊ）を計算したこと
になる。

【００９８】上記の分光反射率の計算では、同時に分光
反射率の温度補償も加味されている。すなわち、本実施
例に示すような測色計は小型で携帯可能であるため、白
色校正時と異なる温度環境下で使用される可能性が高い
。通常、測定器は若干の温度特性があるので、温度が変
化すれば再び白色校正しなければ正確な測定値を得るこ
とは出来ない。これを補償する為、予め何点かの異なる
温度で、同じ分光反射率を持つ試料を測定しておき、装
置の温度Ｔ（℃）と、反射率の変化率との関数ｆ（Ｔ）
を求めておく。ただし、２５℃で測定値が正確であると
し、これを基準とする。（つまりＴ＝２５℃でｆ（Ｔ）
＝０）校正時の温度をＴ０、試料を測定した時の温度を
Ｔ１（前記（７）式により求められる）、温度補償なし
で求めた反射率をＲ’（Ｊ）とすると、温度補償された
反射率Ｒ（Ｊ）は 　　　　Ｒ（Ｊ）＝Ｒ’（Ｊ）・｛１＋ｆ（Ｔ１）｝／
｛１＋ｆ（Ｔ０）｝　　　　　　…（２２）となる。こ
の実施例では、以後、分光反射率というときは、この温
度補償済みのＲ（Ｊ）を指す。

【００９９】次に、以上のようにして計算された分光反
射率を記憶する前述のメモリカード１３について説明す
る。図４４に示すように、メモリカード１３の０番地か
ら５３Ｃ１Ｈ番地までは、後述する「各種設定選択」で
設定された値を記憶する領域である。この領域に後述す
る方法で設定値を記憶しておくことにより、測色計の設
定が変更されても上記メモリカードを装着して「ＰＯＷ
ＥＲ　　ＯＮ」すれば、該メモリカードに記憶された設
定内容が測色計本体に読み込まれるので、その分設定操
作が不要となり、操作の簡易性が図れる。

【０１００】また、５３Ｃ２Ｈ番地からＦＦＦＦＨ番地
までの領域には、測定された分光反射率のデータが、デ
ータ番号１のエリアより順にデータ番号５００のエリア
まで書き込まれるようになっている。すなわち、最大５
００個の分光反射率データを１枚のメモリカードに蓄積
でき、更に、メモリカードを交替することによって分光
反射率データを略無貯蔵に保存可能となる。

【０１０１】以上、本発明に係る測色計の外観及び各部
分の機能、補正計算処理について説明したが、以下にシ
ステム全体の動作について図４５以降を用いて説明する
。

【０１０２】先ず、システムの電源をＯＮにすると、図
４５で示す「ＰＯＷＥＲＯＮ］のフローチャートが働く
。同図の＃１００のステップに進み、ＭＰＵ１０６の内
部レジスタ、表示制御部１１２、キーボード１１４及び
測光回路部１０４の初期設定を行う。

【０１０３】次に、＃１０１のステップに進み、メモリ
カード１３に各種設定値が記憶されているかどうかが判
別される。各種設定値が記憶されていれば（＃１０１で
ＹＥＳ）、＃１０２に進み、各種設定値を読み込む（ロ
ードする）。ここでいう各種設定値は、後述する各種設
定値選択で、“設定値のセーブ”を選んだ時にメモリカ
ード１３に記憶される。もし、メモリカード１３にこの
各種設定値が記憶されていなければ（＃１０１でＮＯ）
、＃１０３に進み、分光センサデータ格納部１０９など
の内部メモリに記憶されている設定値を初期化し、＃１
０４に進む。

【０１０４】＃１０４では、校正が行われる。すなわち
、図４６に示すように、ここでは、校正ルーチンの説明
をする表示部に“ゼロ校正”、“白色校正”、“終了”
が表示され（＃１０８）、カーソルでいずれかが選択さ
れる。“ゼロ校正”を行う場合（＃１０９でＹＥＳ）、
測定開口１にゼロ校正ボックスを付けるか、測定開口１
を反射物の無い中空に向けなければならない。ゼロ校正
が実行（＃１１０）されてから、“白色校正”が選択さ
れると（＃１１１でＹＥＳ）、白色校正板に分光反射率
が格納されたＲＯＭ１９が内蔵されているかどうか判別
し、ＲＯＭ１９が内蔵されていれば（＃１１２でＹＥＳ
）、その分光反射率をロードし（＃１１３）、無ければ
（＃１１２でＮＯ）、装着されたメモリカード１３より
ロードしたデータを白色校正データとして白色校正を行
う（＃１１４）。前回の測定時に、ＰＯＷＥＲ　　ＯＦ
Ｆするまでに用いられた校正値を、今回の測定でそのま
ま使用する場合は、ゼロ校正や白色校正をすることなく
“終了”を選択すればリターンする。

【０１０５】以上が校正ルーチンの説明である。この場
合、続いて図４７で示す＃１１５のの測定画面に移る。 測定画面に移ると、メモリカード１３に記憶されている
、あるデータ番号の分光反射率が、後述する各種設定選
択ルーチン中の“データ表示モード選択”で設定された
色データを表わすための表色系の内の１つに対応して表
現されるように計算されて、表示される（＃１１６）。 ここで、キー入力が待たれ（＃１１７）、キー入力があ
れば、＃１１８に移り、キーが“ＭＥＮＵ”であれば、
後述する各種設定選択ルーチンに移行し（＃１１９）、
そうでなければキーが“ＭＯＤＥ”かどうかを判別する
（＃１２０）。“ＭＯＤＥ”であれば、“データ表示モ
ード選択”で設定された表色系のうちの別の１つが計算
・表示される（＃１２１）。

【０１０６】図５０（ａ）は、Ｙｘｙ表色系で示された
値、図５０（ｂ）はＬ＊ａ＊ｂ＊表色系で示された値の
各表示例を示すものである。但し、“データ表示モード
”で１つしか設定されていない場合は、同じものが表示
される。このキーはボタン１つで次々と異なった表色系
の計算結果を見るためのものである。この分光測色計が
計算し得る表色系は１０種類全て備えており、この“Ｍ
ＯＤＥ”キーで見れるようにすると、２、３種類の表色
系を見たいという使用者は、自分の見たい表色系が通り
過ぎた後、次に見たい表色系が表示されるまで、何度も
“ＭＯＤＥ”キーを押さねばならず、頻雑となる。 これを解決するため、“データ表示モード選択”で“Ｍ
ＯＤＥ”キーによって切換えることのできる表色系を設
定する。

【０１０７】キーが“ＭＯＤＥ”でないならば、“ＩＮ
Ｖ”かどうか判別し（＃１２２）、そうであれば表示の
上下を逆転し、再表示する（＃１２３）。これは、図５
１（ａ）に示すように本測色計は測定開口１を下方に向
けた時、表示は順方向に見えるようにしてあるが、ハン
ディな利点を生かして、同図（ｂ）に示すように壁を測
定しようとする時等、逆方向になってしまう。この場合
、“ＩＮＶ”キーの上下反転機能により、上記（ａ）、
（ｂ）の状態を問わず、常に順方向で見ることができる
。

【０１０８】この反転機能は、ソフトウェアによって実
現しており、以下その方法につい説明する。本実施例で
は表示用素子として液晶表示素子を使用する。液晶パネ
ルに文字を表示する方法は、液晶ドットマトリクス・グ
ラフィック表示システム用カラムドライバの表示用ＲＡ
Ｍに８ビットパラレルの表示データを書き込むことによ
り行われる。上記表示用ＲＡＭの１ビットのデータが、
液晶パネル１ドットの点灯、非点灯に対応しており、１
の時点灯、０の時非点灯となる。

【０１０９】表示位置を指定するには、表示用ＲＡＭの
Ｘアドレス、Ｙアドレスを設定する。今、図５２に示す
表示データ用ＲＡＭのアドレス構成図において、Ｘ＝０
，Ｙ＝５５とすると、同図の斜線部分に８ビットのデー
タが表示される。表示形式は正方向表示と反転表示とが
あり、正方向表示は通常の表示方向であり、反転表示は
液晶パネルの逆方向からでも見易いように画面を１８０
°回転して表示するものである。正方向表示か反転表示
かを判断するには、変数ＵＰ−ＳＩＤＥの値を見て０の
時正方向表示、１の時反転表示となる。

【０１１０】反転キーが押されると、表示画面が１８０
°回転して表示される。そのフローチャートを図５３、
図５４に示す。以下、フローチャートに従って説明する
。

【０１１１】説明を簡単にするために、図５５に示した
１６×３０ドットの液晶パネルで考える。同図（ａ）は
正方向表示を示し、同図（ｂ）は反転表示を示している
。先ず＃２００で、表示方向を示す変数ＵＰ−ＳＩＤＥ
の値を０→１（又は１→０）に変更して、＃２０１に進
む。今、例えば、図５５（ａ）のデータＡの１バイト（
８ビットパラレル）の部分で考えると、アドレスを（Ｘ
，Ｙ）＝（０，３）に設定して、＃２０２に進む。 ＃２０２で読み込んだデータＡは２進数で表すと、（０
１０１０００１）となる（図５５（ｃ）参照）。これを
読み込んだデータを記憶するために変数Ｏ−ＤＡＴＡに
入れて、＃２０３に進む。

【０１１２】＃２０３で、データＡを図５５（ｃ）のよ
うに、各ビットの上位と下位を入れ変えて、データＡ’
（１０００１０１０）として、書き込むデータを記憶す
る変数Ｎ−ＤＡＴＡに入れる。＃２０４では、Ｎ−ＤＡ
ＴＡを表示する位置（Ｘ’，Ｙ’）を計算する。計算式
はこの場合、Ｘ’＝１−Ｘ，Ｙ’＝２９−Ｙとなり、＃
２０５に進んで、（Ｘ’，Ｙ’）＝（１，２６）と設定
する。 ＃２０６で、アドレス（１，２６）にあるデータＢを退
避させるため、変数Ｏ−ＤＡＴＡにデータＢ（０００１
００００）を入れ、＃２０７に進んで、Ｎ−ＤＡＴＡの
データＡ’（１０００１０１０）を（１，２６）に書く
。＃２０８では、Ｏ−ＤＡＴＡのデータＢを反転させて
、データＢ’（００００１０００）にして、書き込むデ
ータを入れる変数Ｎ−ＤＡＴＡに入れる。＃２０９で、
最初にデータＡがあった位置のアドレス（Ｘ，Ｙ）＝（
０，３）に設定をし、＃２１０で、アドレス（０，３）
にＮ−ＤＡＴＡのデータＢ’（００００１０００）を書
き込み、＃２１１に進む。ここまでが１サイクルである
。＃２１１では、アドレスが最後まできたかどうかを判
別し、最後ならリターンに行き、最後でなければ、＃２
１２に進んで、アドレスを１つ進める。図５５では、ア
ドレスの最後は（Ｘ，Ｙ）＝（０，２９）で、この場合
アドレスは（Ｘ，Ｙ）＝（０，３）で最後でないので、
＃２１２に進み、Ｙアドレスを１つ進めて、（Ｘ，Ｙ）
＝（０，４）として＃２０１に進む。このようにループ
を繰り返すことにより、図５５（ａ）が図５５（ｂ）の
ように反転表示される。

【０１１３】次に通常１バイト（８ビットパラレル）の
データを読み書きする方法について説明する。

【０１１４】図５６は１バイトのデータを読み込む場合
のフローチャートである。先ず＃２２０で、正方向表示
時に読み込むデータがあるべきアドレス（Ｘ，Ｙ）を設
定して、＃２２１に進む。＃２２１では、表示方向を示
す変数ＵＰ−ＳＩＤＥの値を見て、０の時は＃２２７に
進んで、アドレス（Ｘ，Ｙ）の１バイトのデータＡを読
み込んで変数Ｏ−ＤＡＴＡに入れる。ＵＰ−ＳＩＤＥの
値が１の時は＃２２２に進んで、アドレス（Ｘ，Ｙ）に
対応する反転表示時のアドレス（Ｘ’，Ｙ’）を計算す
る。図５５の液晶パネルの場合、計算式は　　　　Ｘ’
＝１−Ｘ　　　　…（２３），　　　　　　Ｙ’＝２９
−Ｙ　　　　…（２４）で求められる。＃２２３で、ア
ドレスを（Ｘ’，Ｙ’）に設定して、＃２２４でアドレ
ス（Ｘ’，Ｙ’）のデータＡ’（正方向時の表示データ
Ａが反転表示されたもの）を読み込んで変数Ｏ−ＤＡＴ
Ａに入れる。そして、＃２２５でＯ−ＤＡＴＡのデータ
Ａ’を反転してデータＡとした後、＃２２６に進み、ア
ドレスを（Ｘ，Ｙ）に再び設定し直して終了する。

【０１１５】図５７は１バイトのデータを書き込む場合
のフローチャートである。。先ず＃２３０で、書き込む
データＡ（これは正方向時に表示する場合のデータ）を
変数Ｎ−ＤＡＴＡに入れ、＃２３１で正方向表示時に書
き込むべきアドレス（Ｘ，Ｙ）を設定する。＃２３２で
表示方向を示す変数ＵＰ−ＳＩＤＥの値を見て０の時、
＃２３７に進んでアドレス（Ｘ，Ｙ）にＮ−ＤＡＴＡの
データＡを書く。値が１の時は＃２３３に進んで、アド
レス（Ｘ，Ｙ）に対応する反転表示時のアドレス（Ｘ’
，Ｙ’）を計算する。図５５では上記の式（２３），（
２４）で求められる。続いて、＃２３４でＮ−ＤＡＴＡ
のデータＡを反転してデータＡ’（図５５（ｃ）参照）
とし、＃２３５でアドレス（Ｘ’，Ｙ’）にＮ−ＤＡＴ
ＡのデータＡ’を書く。そして＃２３６でアドレスを最
初に設定した値（Ｘ，Ｙ）に設定し直して終了する。

【０１１６】図５３，５４，５６，５７のフローチャー
トを改良することで、（８×ｎ）×（８×ｎ）（ｎは正
の整数）の液晶ドットマトリクス・グラフィック表示装
置を用いる場合に、表示方向を９０°回転させて表示さ
せることもできる。

【０１１７】以下、図５８（ｂ）を用いて説明する。先
ず、ブロック１のパターンを読み込んでワークエリアで
９０°回転したパターンをつくる。次に、ブロック１’
のパターンをメモリに退避させて、上記ワークエリアで
９０°回転したパターンをブロック１’の位置に書き込
む。そして、メモリに退避したブロック１’のパターン
をワークエリアで９０°回転させ、ブロック１”のパタ
ーンをメモリに退避した後に、ブロック１”の位置にワ
ークエリアのパターンを書き込む。以下同様にして、ブ
ロック１”のパターンを９０°回転させたものをブロッ
ク１’”の位置に、ブロック１’”のパターンを９０°
回転させたものをブロック１の位置に書き込んでブロッ
ク１に関する１サイクルが終了する。以下同様にして、
ブロック２に関するサイクル、ブロック３に関するサイ
クル、ブロック４に関するサイクルと進んで表示画面全
体について９０°回転した表示画面を完了する。このよ
うに、９０°回転した表示画面を形成する方法を応用す
ることにより、図５８（ａ）に示すような、より大きな
表示画面についても画面全体を９０°回転させることが
できる。以上で、反転表示の説明を終了する。

【０１１８】図４７のフローチャートに戻り、キーが“
ＩＮＶ”でなければ“ｂｒｅａｋ”かどうか判別し（＃
１２４）、“ｂｒｅａｋ”であれば“測定データの消去
サブルーチン”（＃１２５）へ行く。ここで、図５９を
用いて、このサブルーチンの説明をしておく。＃３００
で、「全データ消去」「１データ消去」「消去しない」
より１つを選択させる。もし、「全データ消去」を選ん
だ場合は（＃３０１でＹＥＳ）、メモリカード１３に保
存される全ての測定データを消去して（＃３０２）、リ
ターンする。「１データ消去」を選んだ場合は（＃３０
３でＹＥＳ）、その時表示されていたデータ番号のデー
タのみ消去して（＃３０４）、リターンする。 なお、＃３０４で消去されたデータよりデータ番号の大
きいデータは、全てデータ番号が１だけ小さくされて記
憶領域が埋められ（＃３０５）、メモリの有効利用を図
っている。また、「消去しない」を選んだ場合、そのま
まリターンする。

【０１１９】図４７のフローチャートに戻り、キーが“
ｂｒｅａｋ”でないとすれば“△”または“▽”かどう
か判別し（＃１２６、＃１２８）、“△”であればデー
タ番号を１増やしてその反射率データより色彩値を演算
、表示する（＃１２７）。もし“▽”であればデータ番
号を１減らして、その反射率データより色彩値を演算、
表示する（＃１２９）。“△”キー及び“▽”キーを押
すことで、メモリカード１３に保存された各データの色
彩値を見ることができる。

【０１２０】もし、キーが“△”でも“▽”でもないと
すれば、“ＡＶＧ．”かどうか判別する（＃１３０）。 “ＡＶＧ．”であれば、次に“ＡＶＧ．”が押されるま
での間に“ＭＥＡＳＵＲＥ”が押されると何度でも測光
する（＃１３１〜＃１３３のループ）。“ＡＶＧ．”が
再度押されたら（＃１４４でＹＥＳ）、その間に測定さ
れた分光反射率を平均し（＃１４５）、＃１４８に進み
、試料番号を１増やして平均された分光反射率データを
メモリカード１３に書き込む。次に＃１４９に進み、自
動出力する設定になっているかどうかを判別し、自動出
力する場合、更にその出力先が、パソコンとプリンター
のいずれに設定されているかを判別して（＃１５０）、
そのフォーマットに合わせてＲＳ２３２Ｃポートよりデ
ータ出力する（＃１５１あるいは＃１５２）。

【０１２１】もし、キーが“ＡＶＧ．”でなく“ＭＥＡ
ＳＵＲＥ”の場合、＃１４７に進み、測光して分光反射
率を計算する。次に＃１４８に進み、後は“ＡＶＧ．”
の場合と同じである。

【０１２２】次に、測定画面で“ＭＥＮＵ”キーを押し
た時に移る、各種設定選択ルーチンについて、図６０、
図６１を用いて説明する。＃４００でメニューを表示し
、＃４０１で９つ表示内容の内のいずれかを選択させる
。“データ表示モード選択”が選ばれると（＃４０２で
ＹＥＳ）、前述したように測定画面で表示することので
きる、すなわち“ＭＯＤＥ”キーによる表示切換えで所
要の表色系を設定させる（＃４０３）。設定が終わると
再び＃４００にもどる。“光源、視野”が選ばれると（
＃４０４でＹＥＳ）、色彩計算に用いる光源、視野を設
定させる（＃４０５）。もし“校正”が選ばれると（＃
４０６でＹＥＳ）、前述の“校正ルーチン”に移る（＃
４０７）。この場合は、“校正ルーチン”からリターン
すると＃４００に戻る。もし“基準値”が選ばれると（
＃４０８でＹＥＳ）、色差計算の基準となる基準値を設
定させる（＃４０９）。設定が終わると＃４００にもど
る。もし“通信パラメータ”を選ばれると（＃４１０で
ＹＥＳ）、ＲＣ２３２Ｃポートの通信パラメータを設定
する。すなわち、ボーレート、ストップビット、パリテ
ィ、自動出力するかどうか、自動出力の出力先等を設定
する（＃４１１）。設定が終われば＃４００にもどる。 もし“リモート”を選ばれると（＃４１２でＹＥＳ）、
リモート・モードに入る（＃４１３）。これは、後述す
るように測色計をＲＳ２３２Ｃポートを介してコントロ
ールするというモードである。リモート・モードを抜け
ると＃４００に戻る。もし“自動平均測定回数”が選ば
れると（＃４１４でＹＥＳ）、自動平均測定回数を設定
させる（＃４１５）。これは“ＭＥＡＳＵＲＥ”キーを
１回押した時に、測光する回数で、その平均値より分光
反射率が計算される。“ＡＶＧ．”キーによるマニュア
ル平均測定とは異なり、同一箇所での測定値を、より精
度良く測定する場合に使用される。マニュアル平均測定
と、自動平均測定を併用することも可能である。 もし“設定値のセーブ”が選ばれると（＃４１６でＹＥ
Ｓ）、各種の設定値が、メモリカード１３にセーブされ
る（＃４１７）。この中には、各種設定ルーチン中で設
定する設定値全ての他に、標準白色板の分光反射率も含
まれる。但し、標準白色板が、分光反射率データを記憶
したＲＯＭ１９付きのタイプの場合、該ＲＯＭ１９のデ
ータが優先される。

【０１２３】なお、“ｂｒｅａｋ”が選択された場合に
は、測定画面にリターンする。次に、図６２図〜図６６
を用いて、リモートモードの動作について説明する。リ
モートモードは、本体の機能を外部からのコマンドによ
って有効とさせるものである。このモードは、本発明に
係る測色計で得られる試料の分光反射率や、色彩計算値
を利用して、生産現場での色管理や、調色の現場で色材
の基礎データをもとに見本色と同一の色を再現する色材
群の調合組成をコンピュータを使って求めるＣＣＭにお
いて非常に有効である。

【０１２４】先ず、図６２の＃５０１において、パソコ
ン等の外部機器との通信用のインタフェース（図１の外
部入出力ポート１１０に相当）をイネーブルにする。通
信には、例えばＲＳ２３２Ｃのインターフェース規格を
用いて、広く汎用パソコンと接続を可能としている。本
実施例では本リモートモードや前述した自動出力（図４
９、＃１４９〜＃１５２）においてのみ通信用インタフ
ェースをイネーブルにすることにしているが、これは他
のモード選択時での電力消費を抑制するためである。Ｒ
Ｓドライバーとして、例えばＣＭＯＳタイプを使用した
場合、数ｍＡから数十ｍＡの電流消費が考えられ、電池
駆動の場合には、かなり大きな負担となるからである。 図６４はこの仕様を実現するためのインタフェース・Ｉ
Ｃが採用された場合のデータ入出力部分の回路ブロック
を示している。該インタフェース・ＩＣとして、例えば
ＭＡＸ２４０等が挙げられ、ＭＰＵ１０６からの信号線
ＳＨＵＴＤＡＷＮの一本でＯＮ／ＯＦＦが制御できる。

【０１２５】次に、＃５０２では、図６４の通信制御信
号ＤＴＲ、ＲＴＳをＯＮして外部機器に通信の準備がで
きていることを知らせる。＃５０３では、前記のＢｒｅ
ａｋキーが押されたかどうかチェックし、押されていれ
ば＃５１１で上記通信制御信号ＲＴＳ，ＤＴＲをＯＦＦ
し、＃５１２で消費電力を低減させるためインタフェー
スＩＣをクリアし、＃５１３で表示部１１３をクリアし
てリターンする。＃５０３で、Ｂｒｅａｋキーが押され
ていなければ、＃５０４へ進みデータが送られてきたか
判別する。図４７の通信バッファ６００は、外部入出力
ポート１１０を通して外部機器からの受信データを一旦
蓄積しておくものである。＃５０４で通信バッファ６０
０の状態から、受信データが送られていなければ、もう
一度＃５０３に戻る。送られていれば＃５０５へ進み、
ブレークコード（０３Ｈ）かどうか判別し、ブレークコ
ードであれば、通信バッファ６００をクリアする。ブレ
ークコードでなければ、表示用データかどうか判別する
（＃５０６）。本実施例においては表示用データは、先
頭にＡＳＣＩＩの「１１Ｈ」を有するものとする。この
「１１Ｈ」は、一般に装置制御用コマンドの１つである
コードＤＣ１として用いられるコードである。＃５０６
で表示用データと判別されれば、ＭＰＵ１０６は「１１
Ｈ」で始まる表示用データを、終了を示すコード「１２
Ｈ」（制御用コードＤＣ２）まで読取って、＃５０９で
表示制御部１１２を経て表示部１１３にデータ表示する
。

【０１２６】受信データとその表示例とを、図６５（ａ
），（ｂ）に示す。同図（ａ）において，受信用データ
は制御コード「１１Ｈ」と「１２Ｈ」で囲まれる。 ＣＲ（キャリッジリターン）、ＬＦ（ラインフィード）
は、パソコン等で一般的にデリミタとして使われ、それ
ぞれＡＳＣＩＩ表示で０ＤＨ、０ＡＨである。図（ａ）
のように送られてきた表示用データは図（ｂ）の如く、
表示部１１３に表示される。本実施例においては受信デ
ータ表示部として２１×６文字のスペースをとっている
。図（ｂ）は一例を示すもので、ＣＣＭ計算結果の一部
を表示している。

【０１２７】また、本発明は図６６のように、遠隔地の
Ｈｏｓｔ　　Ｃｏｍｐｕｔｅｒ７００とのデータ授受が
必要な時に一層の効果を生じる。すなわち、本発明に係
る測色計で基準となる試料を測定し、例えば分光反射率
データをモデム８００ａを介して遠隔地のＨｏｓｔ　　
Ｃｏｍｐｕｔｅｒ７００に転送し、該ＨｏｓｔＣｏｍｐ
ｕｔｅｒ７００からは基準試料に一致させるための調色
に要する色材の組成や価格等を逆にモデム８００ｂを介
し返送し、表示部１１３に表示させることができる。こ
の場合モデム８００ａ，８００ｂと測色計本体とはＲＳ
２３２Ｃを介して通信を行なう。測色計本体にモデム機
能を内蔵させることもできる。

【０１２８】さて、図６２に戻って、＃５０６で表示用
データでなければ、＃５０７において通信バッファ６０
０が調べられ、正しいコマンドであるか否かがチェック
される。未登録のコマンドであれば＃５１０に進み、エ
ラーコード“Ｅ００Ｙ”を送信して外部機器へコマンド
が正しく入力されなかったことを知らせる。

【０１２９】続いて、図６３に移り、＃５１４でコマン
ド判別が行なわれ、コマンドの内容に応じて＃５１５〜
＃５２１のいずれかの処理に移る。図６３では簡略化の
ために７つのコマンドに対しての処理を示しているが、
これ以外のコマンドについても並列に配置することがで
きる。

【０１３０】図６３のフローチャートを簡単に説明する
と、コマンドが“ＭＥＳ”の文字列であった場合、＃５
１５で測光、計算が行われ、分光反射率や色彩計算値が
外部へ出力される。コマンド“ＣＡＬ”であった場合、
＃５１６で白色校正が行われる。これは校正サブルーチ
ンで述べているので、ここでは説明しない。コマンドが
“ＵＺＣ”であった場合、＃５１７で前述のゼロ校正が
行われる。コマンドが“ＣＤＳ”であった場合、＃５１
８で既知の白色板の分光反射率データを外部入出力ポー
ト１１０）から受け取ってメモリに格納する。格納場所
は前述のＲ２（ｉ）（ｉ＝０〜３０）となる。コマンド
が“ＣＭＲ”であった場合、＃５１９でメモリカード１
３の全内容が外部へ出力される。逆にメモリカード１３
へのデータの格納はコマンド“ＣＭＳ”を受けることで
行われ、＃５２０で所定の長さのデータを受信し、メモ
リカード１３へ書き込まれる。メモリカード１３へのデ
ータ入出力の場合、本実施例ではバイナリ形式で行う。 これにより入出力に要する時間短縮の効果を得ることが
出来るが、アスキー形式で行っても良い。コマンドが“
ＳＴＲ”の時は、＃５２１で測色計本体のステータス情
報を出力する。このステータス出力は測色計本体の、主
にハード上の状態を外部へ示す効果がある。ステータス
には、例えば測定準備がＯＫか、ＳＣＩであるかＳＣＥ
であるか、メモリカード１３が装入されているか等があ
る。

【０１３１】＃５１５〜＃５２１のコマンド処理が終わ
れば、フローは図６２の＃５０３に移って、次のサイク
ルに移行することになる。これらの処理は前述のように
Ｂｒｅａｋキーが押されるまで繰り返される。

【０１３２】

【発明の効果】以上説明しように、本発明によれば、コ
ンピュータ等の外部機器からの表示データを判別し、表
示し得るようにしたので、各種のメッセージを必要に応
じて測色計の表示部に表示させることが可能となり、計
測のスピード化が図れるとともに、例えば「注意」等の
警告報知により安全正確な計測が期待し得る。また、外
部機器から所要のデータを受けることが出来るので、測
色計側に大容量のメモリを持たせる必要もなく、計器の
より小型化、携帯化が図れる。

【０１３３】更に、表示用データに識別のためのコマン
ドを持たせ、かかるコマンドの有無を判別するようにし
たので、コマンドと表示用データ（メッセージ）とを、
その都度モードを切り換えて送受信する必要もなく、遠
隔操作、表示が極めて容易に行える。

【図面の簡単な説明】

【図１】測色計の回路構成を示すブロック図である。

【図２】測光回路部内の１個の回路図である。

【図３】測光回路部内の１つのブロックの回路図である
。

【図４】測光回路部の全体回路図の上半部分である。

【図５】測光回路部の全体回路図の下半部分である。

【図６】測光のタイミングチャートである。

【図７】フォトセンサの温度補正のために測光回路部内
に設けられた温度情報を出力する回路図である。

【図８】図７の出力と温度との直線補間を説明するため
の図である。

【図９】タイムカウンタの構成を示すＭＰＵの内部構造
である。

【図１０】発光回路のブロック図である。

【図１１】本発明の一実施例を示すｄ／８光学系を持つ
測色計の正面図である。

【図１２】測色計に安定台が取り付けられた状態の外観
図で、図（ａ）は左側面図、図（ｂ）は底面図である。

【図１３】測色計の外観図で、（ａ）は右側面図、図（
ｂ）は底面図である。

【図１４】測色計の背面図である。

【図１５】安定台の外観構造図を示し、同図（ａ）は側
面図、同図（ｂ）は正面図、同図（ｃ）は底面図である
。

【図１６】メモリカード保護蓋を取り外した状態を示す
左側面部分図である。

【図１７】メモリカード保護蓋を取り外した状態を示す
正面部分図である。

【図１８】白色校正ボックスを本体に取付けた状態を示
す図で、同図（ａ），（ｂ）は本体の測定開口部分の右
側面図、正面図である。

【図１９】白色校正ボックスが取り付けられる本体の詳
細な底面図である。

【図２０】白色校正ボックスの構造を示す図で、同図（
ａ）は底面部構造を示す平面図、同図（ｂ）は正面断面
図、同図（ｃ）は平面図、同図（ｄ）は正面図である。

【図２１】光学系の全体構成を示す側断面図である。

【図２２】ＳＣＩ測定とＳＣＥ測定の場合のトラップ蓋
の切換を説明するための一部平面図で、図（ａ）はＳＣ
Ｉ測定の場合、図（ｂ）はＳＣＥ測定の場合を示してい
る。

【図２３】トラップ蓋周辺の一部側断面図で、図（ａ）
はＳＣＩ測定の場合、図（ｂ）はＳＣＥ測定の場合を示
している。

【図２４】トラップ蓋の閉時の減速構造を説明する、図
２２のＢ−Ｂ断面図である。

【図２５】トラップ蓋の開閉を説明する図で、図２２の
Ｃ−Ｃ断面図である。

【図２６】透過率測定用アダプタの一部側断面図である
。

【図２７】透過率測定用アダプタを測色計本体に取り付
けた状態の側断面図である。

【図２８】透過率測定用の測色計の底面図で、図（ａ）
は本体の底面図、図（ｂ）は透過率測定用アダプタを測
色計本体に取り付けた状態の底面図である。

【図２９】透過率測定用アダプタを測色計本体に取り付
けた状態の外観図で、図（ａ）は正面図、図（ｂ）は左
側面図である。

【図３０】本実施例の測光タイミングを示すタイミング
チャートである。

【図３１】測光制御と測定値計算の手順の一部を示すフ
ローチャートである。

【図３２】測光制御と測定値計算の手順の一部を示すフ
ローチャートである。

【図３３】測光制御と測定値計算の手順の一部を示すフ
ローチャートである。

【図３４】測光制御と測定値計算の手順の一部を示すフ
ローチャートである。

【図３５】測光制御と測定値計算の手順の一部を示すフ
ローチャートである。

【図３６】測光制御と測定値計算の手順の一部を示すフ
ローチャートである。

【図３７】測光制御と測定値計算の手順の一部を示すフ
ローチャートである。

【図３８】測光制御と測定値計算の手順の一部を示すフ
ローチャートである。

【図３９】タイムカウンタの初期化を説明するフローチ
ャートである。

【図４０】分光センサＳ１における分光感度Ｓｉ（λ）
を示す図である。

【図４１】図４０の分光感度Ｓｉ（λ）を１つの波長領
域内でフラットであるように近似した図である。

【図４２】波長補正を説明するための図である。

【図４３】分光反射率の計算の手順を示すフローチャー
トである。

【図４４】分光反射率を記憶するメモリカードのメモリ
マップを示す図である。

【図４５】測色計のシステムの流れを説明するフローチ
ャートである。

【図４６】校正ルーチンを説明するフローチャートであ
る。

【図４７】測定画面からのキー選択及びその処理の一部
を説明するフローチャートである。

【図４８】測定画面からのキー選択及びその処理の一部
を説明するフローチャートである。

【図４９】測定画面からのキー選択及びその処理の一部
を説明するフローチャートである。

【図５０】表色系の表示例を示す図である。

【図５１】測定時における測色計の姿勢を示す図である
。

【図５２】表示データ用ＲＡＭのアドレス構成を示す図
である。

【図５３】反転表示サブルーチンの一部を示すフローチ
ャートである。

【図５４】反転表示サブルーチンの一部を示すフローチ
ャートである。

【図５５】反転表示及びそのための表示データの並べ替
えを説明する図である。

【図５６】データの読み込みを説明するフローチャート
である。

【図５７】データの書き込みを説明するフローチャート
である。

【図５８】パターンの９０゜回転表示を説明する図であ
る。

【図５９】測定データの消去ルーチンを示すフローチャ
ートである。

【図６０】各種設定値選択ルーチンの一部を示すフロー
チャートである。

【図６１】各種設定値選択ルーチンの一部を示すフロー
チャートである。

【図６２】リモートモードのルーチンを示すフローチャ
ートである。

【図６３】上記リモートモードにおけるコマンド処理の
ルーチンを示すフローチャートである。

【図６４】節電可能なインターフェース・ＩＣを用いた
データ通信部分の回路ブロック図である。

【図６５】所定のコマンドで囲まれた表示用データの一
例を示す図である。

【図６６】測色計とホストコンピュタとをモデムを介し
て接続したシステム構成図である。

【符号の説明】

１　　測定開口 ６　　液晶（表示部） ７　　ＲＳ−２３２Ｃコネクタ ９　　安定台 １０　　キーパネル １１ａ　　ＳＣＩ／ＳＣＥ切換レバー １１ｂ　　ＳＣＩ／ＳＣＥ切換ボタン １３　　メモリカード ＣＢ　　白色構成ボックス １５　　白色構成板 １９　　ＲＯＭ ２３，１０２　　パルスキセノン（Ｘｅ）ランプ２６，
４９　　積分球 ３０，３１，４７　　ファイバー ＬＴ　　ライトトラップ ３４　　トラップ蓋 ４５　　ＳＣＩ／ＳＣＥ検知スイッチ ４６　　透過率測定用アダプタ ５１，５７，１０３　　発光回路 Ｓ１，Ｓ２　　分光センサ Ｆ１，Ｆ２　　バンドパスフィルタアレイＰＤＡ１，Ｐ
ＤＡ２　　シリコンフォトダイオードアレイＰＤｉ　　
シリコンフォトダイオード １０１　　試料 １０４　　測光回路部 １０６　　制御・演算部（ＭＰＵ） １０７　　プログラム格納部 １０８　　データ格納部 １０９　　分光センサデータ格納部 １１０　　外部入出力ポート １１１　　メモリカード部 １１２　　表示制御部 １１３　　表示部 １１４　　キーボード １１５　　リアルタイムクロック ＯＰ１ｉ，ＯＰ２ｉ　　演算増幅器 ＳＷ１ｉ〜ＳＷ４ｉ　　アナログスイッチＣＭｐｋ　　
第ｋブロックの比較回路 ＩＣ１　　デコーダ ＴＭｏ　　温度センサ Ｒｔｋ　　固定抵抗 １００　　ＣＰＵ ２００　　タイムカウンタ ２０１　　入出力チャネル ２０２　　チャネル制御部 ２０３　　タイマ ３００　　入出力ポート ４００　　クロック生成部 ５００　　外部発振子 １０５　　入出力ポート １３１　　昇圧回路 ６００　　通信バッファ ７００　　ホストコンピュータ ８００ａ，８００ｂ　　モデム

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　表示部と、外部機器からのコマンド及
   び表示用データを入力する入力手段と、入力されたコマ
   ンドと表示用データとを判別する判別手段と、表示用デ
   ータと判別されたときに該表示用データを上記表示部に
   表示させる表示制御手段とを備えたことを特徴とする測
   色計。
2. 【請求項２】　　前記判別手段は、前記表示用データを
   指定する少なくとも一種類のコマンドの有無を判別する
   ようになされていることを特徴とする請求項１記載の測
   色計。