JPS607344A - 原子吸光分光光度計 - Google Patents

原子吸光分光光度計

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JPS607344A
JPS607344A JP59114693A JP11469384A JPS607344A JP S607344 A JPS607344 A JP S607344A JP 59114693 A JP59114693 A JP 59114693A JP 11469384 A JP11469384 A JP 11469384A JP S607344 A JPS607344 A JP S607344A
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JP
Japan
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lamp
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microprocessor
atomic absorption
memory
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JP59114693A
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English (en)
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トレボ−ル・ジヨン・ストツクデイル
ペ−タ−・モ−レイ
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Koninklijke Philips NV
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Philips Gloeilampenfabrieken NV
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/3103Atomic absorption analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
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    • G01N2021/3114Multi-element AAS arrangements

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、1種以上の元素に特有の共鳴線放射を生じる
光源ランプと、1棟以上の元素に特有の選択波長の放射
を通すモノクロメータと1供給される波長情報に応答し
、前記モノクロメータを前°記述択波長に設定する波長
制御装置と、マイクロプロセッサと、複数個の前記光源
ランプのそれぞれのl 和以上の元素の各々と関連する
位置に波長情報を保持するメモリと、前記マイクロプロ
セッサが前記光源ランプの1神以上の元素を識別しうる
ようにするイネーブル装置にとを具える原子吸光分光光
v計であって、前記のマイクロプロセッサは識別さ′i
tた元素に対し前記メモリから取出された波長情′;反
を前記波長制御装置“i:に供給するように構成されて
いる原子吸光分光光度計に関するものである。
上述しンζ分元光度計は英国特許出願第8188968
号(%開昭58−88626号に対応)明細書に記載さ
れている0この英国7侍許出願明細書に記載されている
分光光度計は光源ランプを用いておシ、この光弁ラング
はその口金内に収容きれた抵抗の回路網を有しておシ、
この分光光度計は更に、ランプから生じる/l’?定の
波長、すなわち共鳴線放射によシ表わされる特定の元素
を前記の抵抗の値から識別する測定回路を有している。
本発明の目的は、ラングの元素を識別する他の手段を有
する原子吸光分光光度計を提供せんとするにある。
本発明は上述した自動原子吸光分光光度計において、前
記光源ランプを前記一種以上の元素を表わすコードによ
り磁気的に符号化し、且つ当該分光光度計は更に前記磁
気コードを読取る磁気コード読取器と、該磁気コード読
取器からの出力信号を前記マイクロプロセッサに供給し
て該マイクロプロセッサが前記一種以上の元素を識別し
得るようにする手段とを具えることを9徴とする〇第1
の構成例では、前記光源ラングに磁気コードを有するカ
ードを取付け、前記磁気コード読取器は該カードを挿入
するとその磁気コードを読取ることができるスロットを
有するものとする0他の例では光源ラングの外面に磁気
コードを有するラベルを設けることができる。
本発明分光光度計においては、更に、複数個の光源ラン
プを保持するランプタレットを設け、磁気コード読取器
を該タンット上に各ライング位置°に対応して設けるこ
とができる。
本発明分光光度計においては、更に前記磁気コートはラ
ンプ動作電流も表わすものとし、ランプ電源装置と、ラ
ンプ1Li流情報を保持するメモリを設け、前記マイク
ロプロセッサにより、前記メモリからの前記ランプ電流
情報とともに前記磁気コードから前記磁気コード読取器
に、j:り取り出されるランプ電流情報を用いて前記ラ
ンプ電源装置を制御するようにする。
一以上の試料を前記光源ランプの一元素について分析す
る本発明分光光度計の分析動作は、読出し専用メモリか
ら取シ出ずことができる前記波長情報を含む当該元素に
対する元素に関する情報を、他から取り出すことができ
る前記−以上の試料に対する試料に関する情報上セット
にして読出し一書込みメモリに少くとも肖該分析中蓄え
てこの情報セットを使用するようプロクラムされたマイ
クロプロセッサによシ制御する。
本発明分光光度計においては、一度に複数個の光源ラン
プを保持する手段を設けると共に各光源゛ランプに対し
磁気コード読取器を設け、これら礎”気コード読取器の
出力端子を前記マイクロプロセッサに接続し、更に前記
a数個の光源ランプを一度に1個づつモノクロメータの
光路内に位置させる位置決め手段を設けて一以上の試料
を一組の元素の各元素について順次に分析することがで
き、この分析シーケンスは、各元素に対する光源ランプ
を前記複数個のランプの一つとして、前記保持手段及び
位置決め手段を制御して前記−組の元素の各元素に特有
の共鳴線放射を発生するランプをモノクロメータの光路
内に順次位置するようプログラムてれていると共に前記
−組の元素の各元素に対する複数個の前記情報セットを
少くとも当該分析シーケンス中読出し一書込みメモリ内
に連続的に蓄えて順次使用するよ゛うにプログラムされ
てイルマイクロプロセッサによシ制a−+−る0図面に
つき本発明を説明するO i1図に示すように、単一元素中空陰極ランプHOLの
形態の共鳴線光源ランプは密封された容器SF内に入れ
られた中空陰極電極OAおよび陽極室°極ANを41す
る。容器5FICは口金BAが取付けられており、この
口金BAは陽極ANおよび陰極OAがそれぞれ接Utさ
れi2本の端子ビンP1およびP2を有しており、これ
ら端子ビンPLおよびP2は口金BAから突出している
。これら端子ビンはランプ′屯の装fi’fLPs(第
4図参照)力島ら陽極ANおよび陰極OAへの接続手段
を構成する。
中空陰極ランプHCLの容器SEには磁気ストリップM
C8′f:有するラベルLAをはりつける0この1m 
気ス) +) ツブMO8はランプの元素を表すよう符
号化されており、更にランプ電源装置LPSからランプ
HCLが心安とする電流も表わすようにすることができ
る。このラベルLAのコードを読取る為に磁気コード読
取器MORを設け、このコード読取器によりコードに依
存する電気出力を生せしめ、この電気出力を分光光度計
内のマイクロプロセッサμPに供給する(第4図参照)
0 第2図は中空陰極ラングHGLを有する他のランプアセ
ンブリを示し、このランプHOLには、その口金BAK
設けたラグLUKあけた孔に通した約状゛可撓体STに
よってカードCoを取付ける。このカード00はランプ
の元素を表わすようコード化された磁気ストリップMO
3’i有しており、これにはランプ動作電流を表わすコ
ードを設けることもできる。カードCGは磁気コードを
有するノく−やロッドのような他の形態のものとするこ
ともできる0このバーやロッドはその長さ方向に沿って
磁気コードを構成する交互のN極及びS極を有する磁気
材料で形成することができる。
磁気コードは比較的晶密度に形成することができ、この
場合には読取ヘッドと磁気ストリップとを相対的に移動
させる必要がある。これは、読取ヘッドを磁気ストリッ
プ上を自動的に又は手動的に移動させることにより、或
は例えばカードを固定読取ヘッドに近接するスロットに
挿入することによって磁気ストリップを読取ヘッドに沿
って通過させることにより達成することができる。低密
度のコードの場合には磁気ストリップと読取ヘッドをと
もに固定し、例えばホール効実装置によりそのコードを
読取ることができる。
第3図は4つの光性ランプHOLI −HOL4と4つ
のコードoノC取器MORI −MOR4とを有する回
転テーブルの形Wのタレツ) TUを示す。ランプHO
LI〜HGL4は第2図に示す型のものとし、コード読
取器MQR]〜M OR4の各々は符号化されたカード
CC1〜CG手が挿入されるスロットCC81〜CO8
+ f有している。この構成の場合、カードの存在を常
にモニタ1゛ることかできると共に、磁気コードが適正
な形であれば挿入されたランプの種類も常にモニタする
ことができるという利点が得1′”られる。磁気コード
を常にモニタしなくても、ランプ電ふ装置LPSから供
給される電流をモニタすることによりランプがソケット
から抜かれたことを容易に検出することができる。その
理由は、ランプが抜かれると、ソケットに供給されてい
る゛電流が零に1li1:下する為である。
ilおよび2図につき説明したランプアセンブリは年−
元素中空陰極ランプであるが、1種以上の元素に特有な
共鳴ね放射を生じる他のランプを同様に用いることもで
きる0このようなランプに°は、多元素中空陰極ランプ
や無電極放電灯がある。
次に第4・図につき述べると、ここには4個の単−元素
中壁陰極ランプHOL 1〜HOL+を保持する原子吸
光分光光度計が示されている。中空陰極ランプHOL 
J〜HOL4は各々第2図につき述べたものであって、
磁気コード読取器M CR1〜MOR4にそれぞれ接U
tされ1これら読取器の出力端子はマイクロプロセサμ
P&″?C&’ 続−Jれている。これら4個のランプ
HOLI −)(OL4はタレツ) TU内に保持され
、タレットTUはタレット制御手段TUOで駆動されて
4個のランプHOLI〜HOL 4の選択した一つを分
光光度計の光路内((位1「:t、させる。第4図はラ
ンプHCLIが光路内にあるところを示す。ランプHO
LIにエリ放出された光線は陰極CALからアトマイザ
ATを通る。このアトマイザATは通當の火炎形とする
こともできるし、電熱炉形とすることもできる。分光光
lW計により分析する試料は自動サンプラASからアト
マイザATに供給される。
自動サンプラΔSは白!助サンプラ制御手段AsCにょ
υ動作妊せられ、アトマイザATはアトマイザ制御手段
ATOにより動作させられる。光線はアトマイザATを
通過しり仏、モノクロメータINを通過する。モノクロ
メータを通過する光線の波長は波長制御手段MWOによ
り選択され、モノクロメータの帯域幅、即ちスリットの
幅はスリンl” I制御手段λ1SCにより選択される
。光電子増倍管検出器DETはモノクロメータMNから
の出力光線の強さに比例する振幅を廟する電圧信号を出
力する0そして対数変換器LGが光電子増倍管検出器D
ETの出力の対数に比例する増幅されfc電圧侶号を出
力する。アトマイザATに供給され分析されたサンプル
の元素の詩匿は本質的に対数変換器LGの出力信号に比
例する。
谷ランフ゛HOLI −HOL手の21固の’;tj 
4返はランン゛電源装置LPS (/7:接続するが、
第4図には中空陰極電極CA1等の接続だけを1本の脚
で線図的に示しである。本例分光光度計の動作ンζおい
て(旬、磁気コード読取器M OR1〜1シCR4−が
ランフHCLI −HOL+に増刊けられたカード00
1−004上の磁気コードを、これらカードが読取器の
スロットに挿入されると同時に読取る。IUrる後に、
この読取がバックグラウンドチェックルーチンとして繰
返えされる。
このルーチンは分光光度計により発生されたアナログ信
号、例えば対1tii換器LGの出力をアナログ−デジ
タル変換器ADOを経てマイクロプロセッサに供給する
必要かめるときは遮断される。バンクグラウンドグーニ
ックルー千ンは例えばランプが所要の位置にない場合に
エラー係号を発生ずるのに使用することができる。
マイクロコンピュータMOPハマイクロブロセサμPと
、マイクロプロセサμPで処理するデータを一時的に蓄
わえる1ζめの揮発性の読出し一書込みメモリRAMと
、マイクロプロセサμPの動作を制御するプログラム情
報を保持する読出し専用メモリROMとを具える0バス
BSはマイクロプロセサμPを読出し一岩込みメモリR
AM、読出し専用メモリROM 、アナログ−ディジタ
ル変換器ADO。
ラッチ回路手段LH1ランプ電源LPS 、タレット制
御手段TUO、自動サンプラ制御手段ASO、アトマイ
ザ制御手段ATC,スリット制御手段MSO°及び波長
制御手段MWCK接続する。
フロクラム1ft報を蓄わえるのに加えて、読出し専用
メモIJROMは当該分光光度計に使用しイqる複数個
の111.−元素中空陰極ランプの各々のそれぞれの元
素とl&i述する記憶位置に、殊に波長情報を含む元素
に関する情報を蓄わえる060個以上のこのような単一
元素中空陰極ランプを用いることもできるか、それぞれ
のカードをコード読取器MOHに挿入して分光光度計内
に一度に装着し得るのは1 [i・1又は数個のランプ
、例えば4個のランプHOLI〜HQL4である。マイ
クロプロセサpPは1個又は数1同のラングの元素を識
別するようにプログラムされている。第4図に示す4個
のランプHOLI〜HOL4の場合、この識別は磁気コ
ード読取器の出力をマイクロプロセッサμPによりラン
チ回路手段LHを弁して順次に間合わせてそれらの出力
に応答する形で行なわれる。マイクロプロセッサIJP
は、更に元素が識別され且つモノクロメータの光路内に
位置するランプに対する波長情報を枦1出し専用メモリ
ROMから取り出し、この情報゛を波長制御手段t+W
Cに供給するようにプログラムされている。タレットT
U及びタレット制御手段TUOにはマイクロプロセッサ
μPがモノクロメータの光路内に位置するランプを識別
し得る手段が含まれている。
読出し専用メモリROMはすたランプ電流帝報を蓄わえ
ている。マイクロプロセッサμPは元素が磁気コード読
取器MORKよシ識別されている1個又は数個のランプ
に対するランプ電流情報を用いてランプ電源装置LPS
を制御するようにプログラムされている。マイクロプロ
セッサμPは磁気コード読取器MOHにより磁気コード
から]i2 C出された最大ラング電流情報を読出し専
用メモIJROMから取り出されたランプ電流情報と一
緒に用いてランプ電源装置tLPSを制御するようにす
るのが有利である。磁気コードが夫々のランプの最大ラ
ンプ動作電流を表わす情報エレメントを含1.ない場合
には、読出し専用メモリRQM内のランプM流r胃報を
複数個の中空陰極ランプの各々の夫々の元素と関連する
位置に蓄え、これにより夫々のランプの動作電°流を完
全に定めることができる。
1個以上の試料を11′j報が胱出し専用メモリに蓄わ
えられている複数個の中空陰極ランプの一つの単一元素
について自動分析1″る当該分光光度計の分析1υ作を
行なうためには元素に関する情報と試料に1叫するIf
J ′flの両刀が必要である。この自動動作は、両方
のタイプの11′I報から成る情報セットを少なくとも
当該分析のlI)続時間中不揮発性の読出し一碧・込み
メモリNVM vc連続的に蓄わえておいて天性される
。マイクロプロセッサμPはこのメモリNVMにバスB
Sを介して接続され、この情報セットを用いて当該分析
を制御するようにプログラムされている。
メモIJNVM内の各情報セットのうちの元素に関する
情報は、夫々のランプの元素の識別時にマイクロプロセ
ツーリ−μPにより読出し待−用ノー1−リROMから
取り出きれ、メモリN V Mに転送される0この元素
に関する情報は前述した波長情報と・スリット制御手段
ISOに供給されるスリット幅情報とを含む。アトマイ
ザA、 Tが火炎形の場合には、読°出し専用メモIJ
ROMから取り出し得る元素に関する情報に、アトマイ
ザ制御手段ATOに供給する燃料の種類と流量を指定す
る情報を含め、また測定時間情報を含めることもできる
。この測定時間情報は、対数変換器LG及びアナログ−
ディジタル変換器ADOを介して受信される検出器DE
Tの出力信号を平均化してその信号の雑音を小さくする
ための時間を定める。アトマイザATが電熱炉形の場合
には、元素に関する情報に、同様に波長情報とスリット
幅情報を含め、更にアトマイザ制御手段ATOに供給す
る炉加熱サイクル情報を含め、更に検出器DETの出力
信号からのピーク高さ及びピーク区域を測定する処理に
関する測定時間情報を含めることもできる。
メモリNVM内の各情報セットの試料に関する情報は分
光光度計の使用者がバスBSを介してマイクロプロセッ
サμPに接続されているキーノシツドKPDによりメモ
リN V M内の適当な記憶位置に入れることができる
0この試料に関する情報は自動サングラAs内に保持す
べき標準濃度の試料の°数とこれらの標準試料の濃度を
識別する情報とを含む。分光光度計には通常バックグラ
ウンド補正手段(これは周知であり、それ故この明細書
ではここ以外では述べない〕が設けられており、その場
合には試料に関する情報に、このバックグラウンド補正
を特定の分析に使用すべきか否かを示す情報も含める0
この場合には元素に関する情報に、モノクロメータが通
ずべき光線の波長がある値以上である元素に対してバッ
クグラウンド補正をスイッチオフさせる無効命令を含め
ることができるd単一元素についての1個又は初数個の
試料の分析結果はマイクロコンピュータMOPの揮発性
の読出し一書込みメモ!JRAMに一時的に蓄わえられ
、次いで適当なレコーダ、例えばバスBSによりマイク
ロプロセッサμPに接続されている図示のプリンタPR
I及び表示装置(図示せず)に最終的に出力される〇 ここで説明の都合上自動サンプラAsは場合に応じて火
炎形アトマイザAT又は電熱炉形アトマイザATのいず
れかと使用するの((特に適したタイプのものであるも
のとするOまた、自動サンプラ制御手段ASOは通常は
部分的に特定の自動サンプラASK%有で且つサンプラ
内に組込まれており1且つ部分的に永久的にマイクロプ
ロセッサμPと結合され、分光光度計の本体内に配置さ
れる。原子吸光分光光度計においては一つのタイプのア
トマイザを主として使用するようにこれを設け、他のタ
イプのアトマイザ金アクセサリとして設けてこれを使用
することができるようにすることは周知であるO例えば
主として火炎モードで使用されるが、電熱炉モードでも
使用することができる原子吸光分光光度計が知られてい
るOそしてこの場合電熱炉用のアトマイザ制御手段AT
Oはその電熱炉とともに装置の本体内に配置しないで且
つ永続的にマイクロプロセッサμPと結合しないでアク
セサリとして設ける。適当なセンサ(図示せス)ヲ設け
、アトマイザATQタイプ及び自動サンプラASをマイ
クロプロセッサμpicitlJさせて、適正な動作を
行なわせるようにする0アトマイザ制御手段を分光光度
計のアクセサリ部として設けちる上述の場合にはこの制
御手段自体に不揮発性の読出し一摺:込みメモリを持た
せ、複数組の炉加熱サイクル情報を蓄わえさせることが
できる。このfi’7報は上述し1ξところでは読出し
専用メモリROMから取り出されるものとして述べられ
ているが、代りに電熱炉アトマイザ制御手段ATOの不
揮発性読出し一書込みメモリ内に蓄わえることもでき、
この場合この不揮発性読出し一書込みメモリは分析のた
めの全部の情報セットを蓄わえる不揮発性読み出し一0
1t)込みメモIJNVMの一部と(・・みなすことが
できるの 不揮発性読出し一部込みメモlJ、NVMは上述した複
数個の情報セットを蓄わえる記憶容量を有する。
斯くシて、自動サンプラAS内に保持されている1個又
は複数個の試料を一組の元素の名々につい・て順次分析
する当該分光光度計の分析シーケンスは、−組の元素の
各元素にそれぞれ対応する複数個の情報セットの各セッ
トを順次使用するようプロクラムさレタマイクロプロセ
ッサμPにx リ宙制御されるo複数個の情報セットは
少なくとも分析シーケンスの持続時間中読出し一書込み
メモリNVM内に連続的に蓄わえる。例えばメモリNV
Mは第4図に示した4個の単一元素中空陰極ラングHO
LI −HOL4の各々にそれぞれ対応する少なくとも
4個の情報セットを蓄わえる容量を有する。
このような4個のランプを用いる場合、各情報セット内
の元素に関する情報は読出し専用メモリROMから取り
出される。分光光度計は夫々の元素を識別するコードを
有する第1及び第2図のランプ以外のランプを使用する
こともできる。例えば4個のタレットランプ位置の各々
に通常の単一元素中空陰極ラングを装着することもでき
る。この場合には分光光度計の使用者は、キーバッドK
PDによシ各ランプの元素を識別する情報をマイクロプ
ロセッサμPに与えることが簡単にでき、マイクロプロ
セッサμPがこれに応答して読出し専用メモリROMか
ら必要な元素に関する情報を取シ出し、それを不揮発性
メモIJNVMに転送して使用できるようにすることが
できる0もう一つの例では、通常のFJit電極放箪ラ
ンプを4個のタレットランプ位置の各々に装着すること
ができる。こゝの場合も使用者はキーバッドKPDによ
シランブの夫々の元素を識別する情報を与えることがで
き、この場合には使用者は無電極放電管を動作させるた
めの補助電源に対する情報も与える必要がある。
更にもう一つの例は多元素中空陰極ランプを使用するこ
とである。これらランプは慣例のものとすることができ
、この場合には使用者はキーバッドKPDによりこのラ
ングが多元素ランプであると識別する情報と、ランプの
元素を識別する情報と)へランプ電流情報とを与える。
この例の変形例では多元素中空陰極ランプに磁気コード
カードを設け、これを磁気コード読取器MCRにより□
読取り、これによシランプ電流情報と、多元素ランプ識
別情報とを与えるようにする0この場合には使用者は1
キーバツドKPDによりランプの元素を識別する情報ヲ
与えるだけでよく、マイクロプロセッサμPは読出し専
用メモ!J ROMから元素に関する情報を取り出し、
それを不揮発性読出し一書込みメモリNVM内の各元素
に対する各別の情報セットに転゛送するようプログラム
する。
分光光度計には手動オーバーライディング機能を持たせ
て、使用者がキーバッドKPDによシネ揮発性読出し一
書込メモ!J NVM内の情報セットに、読出し専用メ
モリROMから取り出される情報と異なる元素に関する
情報全入力し得るようにすることができる〇 外部の計算機(図示せず)を適当なインタフェース回路
を介してバスBSに接続することができる。外部計算機
の一つの用途は不揮発性読出し一書込みメモリNVMの
機能を増強させることにより分光光度計の自動動作を更
に容易にするにある。
例えば前述したように冗;にに関する情報と試料に関す
る情報とから成る情報セットが特定の分析のために不揮
発性メモ!JNVMp:JK入力されると同時に、この
情報セットを外部計’JT−mに転送しておき、後にこ
の情報セットを、不揮発性メモIJNVMの記憶容量が
それまでの間に種々の分析のために全部使われてし1つ
でも任意の時点に再び呼び出して同じ分析を反後するの
に使用することができ°るO 第4図につき上述した原子吸光分光光度計の説明VCお
いては、このような分光光度計の本発明に関連する特徴
だけを述べたが、更に設けると都合のよい又は設けるこ
とができる他の特徴も存在する0例えば、ランプ電源装
置の出力は通常変調されており、その場合には検出器D
ETからの信号はこれに応じて対数変換器LGて処理す
る前に復調する0ブた検出器DETに自DI力とするこ
とができる利得制御イ〔かけることもできる。また二重
ビーム動作、即ちアトマイザをバイパスする基準光路を
設け、この基準光路から得られる信号を用いて機器、殊
に中量陰極ランプの出力及び検出器出力のドリフトを除
去するベースライン補正を与えることが原子吸光分光光
度計のオプションとして周知である0長時間に亘り自D
in !lit作できる第4図につき前述した分光光度
計の場合は、二重ビーム動作は殊に有利であシ、これを
組込むのが極めて好適である。
第5図には第4図に示した分光光度計の動作の流れ図が
示されている。
動作1「スイッチオン」において、使用者が分光光度計
への電源をスイッチオンする。動作2「イニシャライズ
」において、使用−考は4個の単一元素中空陰極ランプ
HOL l〜HOL4をタレットTU内に装着して電気
的に接続し、4個の対応する情報セットを不揮発性読出
し一再込みメモリNVMに入れる。ランプが分光光度計
の光軸上に位置するローティング位置、即ち、第4図に
示すランプHOLIの位置は一つしかない。各ランプが
順次にローディング位置に位置されると、マイクロプロ
セッサμPは磁気コード胱取器MORI〜MOR4によ
シ読取られたコードに応答して夫々の情報セットに対す
る元素に関する情報を読出し専用メモリROMから不揮
発性メモ!J NVMの適当な記憶位置に転送する。各
ランプがローディング位置にある時、使用者は夫々の情
報セットに対する当該試料に関する情報をギーバツドK
PDとマイクロプロセッサμPを介してメモリNVM内
に入れることができる0自動サンシラAS内の新しい試
料セットに゛対し、同一ランプHOLI −HGL4の
元素に関するそ□の前の試料セットの分析シーケンスを
くり返すようにすることもできる。この場合にはランプ
は既に装着されており、対応する情報セットは予じめ不
揮発性メモリ内にあり、使用者が「スイッチオン」や「
イニシャライズ」動作を行なう必要はなく〃る0動作8
「ランプ給t」では使用者は各ランプに対するランプ電
源装置LPSを順次にスイッチオンし、各ランプに対す
るこの動作に応答してマイクロプロセッサμPKより不
揮発性メモリNVMから適当なランプ電流情報を次々に
取p出し、ランプ電源装置LPSに印〃11する0アト
マイザATか火炎形の場合は図示しないが動作2又は8
の後に使用者がアトマイザ制御手段を点火する動作が必
要と万る0動作4「自動サングラスタート」では使用者
は自動サンプラASの動作を開始させ、この動作VC応
答して適当な情報が自動ザングラ制御乎段ASGから読
出し一書込みメモIJRAMに入れられ、I!+[る後
に分光光度計の動作は使用者による他の割り込みがない
限りマイクロプロセッサμPの制御の下で完全に自動に
なるO 動作4に応答してマイクロプロセッサμPは動作5 「
N=1セット」を実行する。ここでNはタレットのカウ
ントを表わす0タレツトのカウントNは自動サンプラh
sの動作中、即ちその中の試料の一元素についての分析
中に4個のランプ)lCL 1〜HGL4のどの一つを
光路内に位置させるべきかを決め、不揮発性メモIJN
VM内のどの情報セットをこの分析ら中マイクロプロセ
ッサμPで使用するかを決める。タレットカウントNは
各分析中読出し一誓込みメモ!JRAM内に蓄わえられ
る0動作5に応答シてマイクロプロセッサμPは動作6
「ランプタレットをNにセット」を実行するQこの動作
ではタレットTUがタレット制御手段TUOによシ位置
Nに駆動される(この段階ではN=1で蝶ランプHOL
Iに対応する)。動作6に応答してマイクロプロセッサ
μPは動作7「スリットセット」を制御し、モノクロメ
ータINのスリット幅が不揮発性メモリNVM内の情報
セットから得られるスリット幅情報を用いてスリット制
御手段ISOによリセットされる。次にマイクロプロセ
ッサμPは動作8「波長セット」を制御し、不揮発性メ
モリNVM内の情報セットからの波長情報を用いて波長
制御手段MW(3によりモノクロメータMNの波長がセ
ットされる。通常の如く、検出器DETの利得はモノク
ロメータの波長セットと共に自動的に調整δれる。また
動作6に応答してマイクロプロセッサμPは測定時間情
報を不揮発性メモIJNVMから挿孔性読出し一曹込み
メモIJRAMへ転送し、マイクロプロセッサμPがこ
の情報を一元素について順次の試料の測定中に利用でき
るようにするO動作8に続いてマイクロプロセッサμP
は動作9「ブランクの測定」を制御する0この動作9で
は自動サンプラ制御手段ASGの制御の下に自動サンプ
ラASは試料セットの分析対象の一元素の濃度がゼロで
ある試料をアトマイザATに供給する0この試料はアト
マイザ制御手段ATOの制御の下にアトマイザATで鳴
動化され1その時の検出器DETの出力信号が対数変換
器LG及びアナログ−ディジタル変換器Al)Oを経て
マイクロプロセ。
゛フサμPに送られ、その結果が一元素についての当該
試料セットの分析中当該元素のゼロ濃度を表わすベース
ライン測定値として読出し一書込みメモリRAM内に蓄
わえられる。アトマイザATが火炎形の場合、マイクロ
プロセッサμPは不揮発性メモIJNVMからアトマイ
ザ制御手段ATCに燃料のタイプと流量についての情報
を、当該ブランク試料と次に特定の元素について分析す
る全ての試料を噴霧化するために供給する。アトマイザ
A T −1)i 電熱炉彫の場合は、マイクロプロセ
ッサμPは不揮発性メモIJNVMからアトマイザ制御
手段ATOに炉加熱サイクル情報を当該ブランク試料と
次に特定の元素について分析する全ての試料を噴霧化す
るために供給する。動作9の次にマイクロフロセッサμ
Pは動作lO「標試試料測定」を制御する。この動作で
は、予じめ足められた数(この数は不揮発性メモリRA
M内の関連情報セット内に存在する)の標準試料即ち既
知の濃度の試料を次々に自動サンプラAsによりアトマ
イザATへ与える。各場合において検出器DETの出力
信号°はアナログ−デジタル変換器ADOを経てマイク
ロプロセッサ/IPに与えられ、吸光結果が読出し一書
込みメモIJRAM内のベースライン測定値と比較され
て計算され、次いで読出し−W込みメモIJRAM内に
有わえられる。動作10の次にマイクロフロセッサμP
は!1の作11「較正」を行なう。このCCす作−C’
 tJニア イクロプロセッサ/JPは不f■j発性)
 モIJN V l、i内のβ”21連情報セツトから
4.、Hq #サンプルの既知の濃度値を取り出し、こ
れらの濃度値を動作10で読出し−fi’込みメモ’J
RAMに既に蓄わえられている橡準試料の吸光結果と共
に使用して一組の較正係数を計算し、次いでこれ乏・−
元素についての分析中;□)7出(7−■込みメモリR
hMvc8わえるOこねらの1ヅ正係数はスケール伸張
及び皆曲補正として知られている機能を次の試料σ1り
定に与えることを可7]ごにする。・ 21+J作]−1に胚いてマイクロプロセッサμP(は
動作12[試料測定、計q及び17::’度蓄積−1を
y行する。このi19.1作では試料セット力)らJ)
1.−元プζにつき分析すべき一つの試料を自ルDザン
ブラASにより゛アトマイザATに与える。検出器DE
Tの出力信号から導びき出された試料の吸光結果を読出
し一書込みメモリRAMに送シ、この読出し一書込みメ
モIJRAM内に蓄わえられている較正係数をこの吸光
結果に与え、濃度結果を得、この濃度結果を読出し一書
込みメモIJRI内に蓄わえる。動作120次にマイク
ロフロセッサμPはi+U作18「自動サングラ終了?
」を制御するにの動作において、自動サンプラ制御手段
ASCは自動サンプラASがその動作の終了点に達し、
測定すべき試料がもうないか否かを検出する。答えが「
NO」であれば、次の試料につき動作12を反復する。
動作12が全部の試料につき行なわれ、人々の県度結果
が読出し一書込みメモIJRAMK蓄わえられている時
は、動作18は答え「YeS」を出力し、マイクロプロ
セッサpPは動作14. 「N = Lim1t ? 
J K進む。この動作においてはタレットカウントNが
チェックされ、それがタレット位置の数(例えば第4図
に示す例では4)に対応するか否かを判定する。動作5
によシセットされたように第1の分析°N−1等ではり
田作14は答「NO」を出力する。
そしてこれに応答してマイクロプロセッサμPは動作1
51−N=N+IJを実行し、タレットカウントNの値
をN7ず6 qiQ作15に応答してマイクロプロセッ
サμPは動作6を行ない、そこでタレットTUを次の位
置に進め、次のランフHCj L 2を分光光度61の
光路内に持ち来たし、動作7〜13を繰り返し、もう−
組の濃度結果を読出し一書込みメモ!JRAMに与える
。これは次のランプHOL2の単一元素についての自動
サンプラAS内の同じ組1・・の試料についてのもので
ある0最後に動作14が答rYeSji出力する時マイ
クロプロセッサμPは動作IUr結果プリント、停止」
を実行する0この動作ではタレツl−T U内((ある
全ての単一元素組立体IICLI〜1(CC4の元素に
ついての自動サンプラAS内の一組の試料の芋−この試
料の濃度結果が治シ出し一兆込みメモリRAMから取り
出され、表にまとめらtl、プリンタPRIによりプリ
ントされ、次ぐこ分光ブ0度計を停止才る0即ち殆んど
の電fjfをスイッチオンし、休止状態にセット1−る
0次に新しい−組の試料の分析のために動作1からのシ
ーケンスをスタートすることが使用者に要求される。
【図面の簡単な説明】
第1図は外面に磁気コードをはりつけた単一元素中空陰
極ランプの形態の本発明による共鳴線光源ランプの第1
実施例を示す線図、 第2図は磁気コードを肩するカードを取り付けた単一元
素中空陰極ラングの形態の本発明による共鳴線光源ラン
グの第2実施例を示す斜視図、第8図は第2図に示す4
個のラングを保持するランプタレット’を示す線図、 第4図は第2図に71にす4個のランプを用いる本発明
原子吸光分光光度計の一実施例のブロック図、第5図は
第4図に示す分光を度肝の動作を説明するための流れ図
であるr HOL、 HOLI 〜HOL4 ・、、中梁陰極ラン
プOA・・・中9陰極電極 AN・・・陽極電極SE・
・・容器 I3A・・・ベース P、 P2・・・端子ピン I、A・・・ラベルMO3
・・・磁気ストリップ CC・・・カードST・・・線
条可併体 MOR□〜MCR,・・・磁気コード読取器00S l
〜C084・・・スロワl−LPS・・・ランプ電源装
置ADO・・・アナログ−ディジタル変換器TU・・・
タレット TUO・・・タレット制御手段AT・・・ア
トマイザ AS・・・自動サンプラASO・・・自動サ
ンプラ制御手段 ATC・・・アトマイザ制御手段 IN・・・モノクロメータ MWC・・・波長制御手段
MSO・・・スリット制御手段 DET・・・光電子増
倍管検出器LC・・・対む変換器 LH・・・ラッチ回
路手段MOP・・・マイクロコンピュータ μP・・・マイクロプロセッサ RAM・・・読出し一書込みメモリ ROM・・・1洸出し専用メモリ NVM・・・不揮発性の読出し−111込みメモリKP
D・・・キーバッド PRI・・・プリンタ。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 11w1以上の元素に特有の共鳴線放射を生じる光源ラ
    ンプと、1種以上の元素に特有の選択波長の放射を通す
    モノクロメータと、供給される波長情報に応答し、前記
    モノクロメータを前記選択波長に設定する波長制御装置
    と、マイクロプロセッサと、複数個の前記光源ランプの
    それぞれのlli以上の元素の各々と関連する位置に波
    長情報を保持するメモリと、前記マイクロプロセッサが
    前記光源ランプの1種以上の元素を識別しうるようにす
    るイネーブル装置とを具える原子吸光分光光度計であっ
    て、前記のマイクロプロセッサは識別された元素に対し
    前記メモリから取出された波長情報を前記波長制御装置
    に供給するように構成されている原子吸光分光光度計に
    おいて、前記光源ランプを前記一種以上の元素を表わす
    コードにより磁気的に符号化し、当該分光光度計は更に
    前記磁気コードを読取る磁気コード読取器と、該磁気コ
    ード読取器からの出力(g −”f k前記マイクロプ
    ロセッサに供給して前記マイクロプロセッサが前記一種
    以上の元素を識別し得るようにする手段とを具えること
    を特徴とする原子吸光分光光度言1゜2、特許請求の範
    囲1記載の原子吸光分光光度計において、前記光源ラン
    プはこれに取付けられた磁気コードを有するカードを有
    し、且つ前記磁気コード読取器は前記カードを挿入1・
    ・することによりその磁気コードを読取ることかできる
    スロットを具えていることを特徴とする原子吸光分光光
    度計。 8、 特許請求の範囲1記載の原子吸光分光光度言1に
    おいて、前記光源ランプはその外面に、磁気コードを有
    するラベルが設けられていることを特徴とする原子吸光
    分光光度言1゜’ 4’y BT請求の範囲1.2又は
    8記載の原子吸光分光光度計において、複数個の光υ6
    ランプを保投するランプタレットを具え、且つ磁気コー
    ド読取器が前記タレット上に各ランプに対し設けられて
    いることを特徴とする原子吸光分光光度計。 5、 %許請求の範囲1〜41の何れかに記載の原子吸
    光分光光度計において、前記コードはランプ動作電流も
    表わし、当該分光光度計はランプ電源装置と、ランプ電
    流情報を保持するメモリとを具え、r+iJ記マイクロ
    プロセッサによシ前記読諧へ専用メモリからの前記ラン
    プ電流情報とともに前記磁気コードから前記磁気コード
    読取器により読取られた他のランプ電流情報を用いて前
    記ランプ電源装置を制御するようにしたことを特徴とす
    る原子吸光分光光度計0 6、 特許請求の範囲1〜5の何れかに記載の原子吸光
    分光光度計において、前記メモリは読出し専用メモリで
    あることを特徴とする原子吸光分光光度計。 7、 特許請求の範Ifl1g146項記載の原子吸光
    分光光度計において、−以上の試料を前記光源ランプの
    一元素について分析する当該分光光度計の分析動作は、
    当該元素に対して前記読取専用メモリから取り出すこと
    ができる前記波長情報を含む元素に関する情報と前記−
    以上の試料に対して他の楊ルrから取り出すことができ
    る試料に関する情報とをセットにして少くとも当該分析
    中流出し一畳込みメモリ内に連続的に蓄えて当該分化l
    中この情報セットを使用するようブロクラムされている
    前記マイクロプロセッサで制御されるようにしであるこ
    ・・とを特徴とする原子吸光分光光度計。 & %(’F 請求の範囲7記載の原子吸光分光光度計
    において、当該分光光度計は一度に複数個の光?I’1
    ランプを保持する手段であって各光源ランプに対する磁
    気コード読取器が設けられ、該磁気コード読取器の出力
    端子が前記マイクロプロセッサに接続ちれているランプ
    保持手段と、前記複数個のランプを一度に1つづつ前記
    モノクロメータの光路内に順次位置させる位置決め手段
    とを具え、前記−以上の試料を一組の元素の各元素につ
    いて順次分析する当該分光光度計の分析シーケスは、こ
    のとき前記−組の元素の各元素に対するランプを前記複
    数個のランプの1個として、前記ランプ保持手段及び位
    置決め手段を制御して前記−組の元素の各元素に特有の
    共鳴放射を生ずる各ランプを前記モノクロメータの光路
    内に順次位置させるようにプログラムされていると共に
    前記−組の元素の各元素にそれぞれ対応する複数個の前
    記情報セットを少くとも当該分析シーケンス中前記読出
    し一書込みメモリ内に連続的に蓄えて各情報セットを順
    次使用するようにプログラムされている前記マイクロプ
    ロセッサで制御されるようにしであることを特徴とする
    原子吸光分光光度計0
JP59114693A 1983-06-06 1984-06-06 原子吸光分光光度計 Pending JPS607344A (ja)

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