JP2001264173A

JP2001264173A - 反射特性測定装置

Info

Publication number: JP2001264173A
Application number: JP2000070638A
Authority: JP
Inventors: Shinsuke Fukuchi; 伸輔福地; Toshio Miyashita; 利夫宮下; Takeshi Hirata; 猛平田; Norio Ishikawa; 典夫石川
Original assignee: Minolta Co Ltd
Current assignee: Minolta Co Ltd
Priority date: 2000-03-14
Filing date: 2000-03-14
Publication date: 2001-09-26

Abstract

(57)【要約】【課題】走査機構を備え、非接触で高速、かつ精度良
く反射特性を測定する。【解決手段】ＣＰＵ６５は、分光測色計と測定試料間
の距離と測色データとの関係を表わす補正係数を複数の
走査位置について求め、得られた補正係数をＥＥＰＲＯ
Ｍ６７に格納する。操作表示部１２の測定スイッチが押
されると入出力ＩＣ７０を介してＸ，Ｙ軸パルスモータ
６，１０の動作を制御して分光測色計を移動させ、発光
回路６６を制御して光源２１を測定箇所ごとに発光させ
て測色動作を行い、ＥＥＰＲＯＭ６７に格納されている
白色校正値やゼロ校正値を用いて測定試料の測色値を求
める。そして、ＥＥＰＲＯＭ６７に格納されている補正
係数を求めた走査位置と測定箇所との関係から、補正係
数を補間した補間データを用いて、求められた測色値を
補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、分光測色計などの
反射特性測定装置に係り、特に、測定試料を非接触で走
査する走査機構を備えた反射特性測定装置に関するもの
である。

【０００２】

【従来の技術】従来、走査機構付き測色装置として、測
色部の先端部を測定試料に接触させて測定を行うように
した測色装置が実用化されている。この装置では、照明
部や受光部と測定試料との距離が常に等しくなるので、
距離変動の生じない高精度な測色が可能になっている。

【０００３】ところが、この装置で多数の測定箇所の測
色を行う場合には、測色部を測定試料に接触させて測定
を行うと、一旦測色部を離間させてから次の測定点まで
移動させ、再度測色部を接触させて測定を行う必要があ
る。すなわち、測色部を横方向に移動させる際には、一
旦上下方向に昇降させる必要があるため、多数の測定箇
所を自動的に連続して測定する場合には、測定に時間を
要するという問題がある。印刷業界において、プリンタ
のカラープロファイルを作成する場合には、数百〜数千
のカラーサンプルからなるテストチャートの全てのサン
プルを測定しなければならず、例えば７００サンプルの
測定を行うと、多大な測定時間を要してしまう。この測
定は自動的に行われるものの、測定時間の短縮が望まれ
る。

【０００４】そこで、高速測定を実現するための手段と
して、測色部を測定試料に対して非接触で測定する方法
が知られている。この場合には、測色部を測定試料に対
して平行に移動させるだけでよく、上下方向に昇降させ
る必要がないため、複数の測定箇所を自動的に連続測定
すると大幅な時間短縮が可能になる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、測色部を測定
試料に対して平行に移動させる場合には、測色部と測定
試料との距離変動が機械精度の範囲内で常に存在してし
まう。例えば、測定試料を載置するための試料台の平面
度など測定台の歪み、測色部の移動を案内するための
Ｘ，Ｙ軸方向のレールの曲がり、同レールの試料台に対
する平行度のずれなどによって、測色部と測定試料との
間の距離が変動してしまう。

【０００６】測色部と測定試料との間の距離が変動する
と、照明部からの測定試料上での照明光の光量が変動す
るとともに、その反射光の受光部における受光信号の出
力レベルも変動するため、測色を精度良く行えなくな
る。

【０００７】例えば、図１５（ａ）は45／0ジオメトリ
の測色装置における照明光および反射光を示しており、
この測色装置の受光部は、測定試料の試料面が基準位置
Ｐ０に位置するときにＱ０の範囲の反射光を受光するよ
うに構成されている。これに対して、試料面が基準位置
Ｐ０からＰ１またはＰ２に変化すると、照明光の反射位
置（図中、斜線で表示）が範囲Ｑ０に対して左右にずれ
るため、受光部によって受光される範囲はＱ１またはＱ
２となり、いずれの場合も受光光量が低下する。

【０００８】ところで、反射率Ｒは、Ｒ＝Ｗ・Ｌ／Ｌｗで求められる。但し、Ｗは白色校正板の反射率、Ｌは測
定試料の受光光量／入射光量、Ｌｗは白色校正板の受光
光量／入射光量である。

【０００９】ここで、Ｗは既知の値で一定値である。ま
た、入射光量は光源から直接モニタするため、測色部と
測定試料との距離に依存しない。また、Ｌｗは白色校正
板を基準位置に配置して白色校正を行うため、やはり測
色部と測定試料との距離に依存しない。

【００１０】従って、測定される反射率Ｒは、測定試料
の受光光量、すなわち測色部と測定試料との距離に依存
して増減することになる。図１５（ｂ）は、その様子を
示したもので、測色部と測定試料との距離の基準値に対
する変動量ｈ（図１５（ａ）の例では、基準位置Ｐ０を
原点として、例えばＰ１側を負とし、Ｐ２側を正として
Ｐ０からＰ１，Ｐ２までの距離に相当する）に対して反
射率Ｒが直線的に変化している。

【００１１】一般に、印刷やプリンタの分野では、測色
装置の光学系として45／0ジオメトリが採用されること
が多いが、この45／0ジオメトリは、d／0ジオメトリな
どの拡散照明方式に比べて上記距離の変動による影響を
受け易い。そのため、この距離変動による測定誤差を補
正する必要がある。

【００１２】この補正手段として、例えば、特開平１１
−４４５７８号公報に従来の技術として開示されている
ように、測色部と測定試料との距離を測定し、その測定
値を用いて測色結果を補正する方法が知られている。

【００１３】ところが、この方法では、測色を行うごと
に、距離測定を行うための時間を要するため、非接触で
測色を行うものでありながら高速測定には不向きである
という問題があった。

【００１４】本発明は、上記課題を解決するもので、走
査機構を備え、非接触で高速、かつ精度良く反射特性を
測定可能な反射特性測定装置を提供することを目的とす
る。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明は、試料台に載置
された測定試料の反射特性を非接触で測定する測定手段
と、この測定手段を上記試料台に対して非接触状態を保
ちながら相対移動させる走査手段と、上記測定手段を上
記試料台に対して相対移動させて、上記測定手段により
当該試料台に載置された測定試料上の複数の測定箇所の
反射特性を測定させる測定制御手段と、上記測定手段を
上記試料台に対して相対移動させたときの当該試料台上
における複数の走査位置ごとに求められ、上記測定試料
の反射特性を補正するための複数の補正データが、それ
ぞれ上記走査位置の情報に対応づけて格納されている記
憶手段と、この記憶手段に格納されている複数の補正デ
ータを用いて上記測定試料の各測定箇所における反射特
性を補正する補正演算手段とを備えたことを特徴として
いる。

【００１６】この構成によれば、試料台に載置された測
定試料の反射特性を非接触で測定する測定手段が、試料
台に対して非接触状態を保ちながら相対移動して、測定
試料上の複数の測定箇所の反射特性が測定される。一
方、記憶手段には、測定手段を試料台に対して相対移動
させたときの当該試料台上における複数の走査位置ごと
に求められ、測定試料の反射特性を補正するための複数
の補正データが、それぞれ走査位置の情報に対応づけて
格納されており、この補正データを用いて測定試料の複
数の測定箇所における反射特性が補正される。これによ
って、複数の測定箇所の反射特性が、高速に、かつ精度
良く得られることとなる。

【００１７】特に、所定の形式で多数の測定箇所が配列
されてなる測定試料上の各測定箇所を連続的に測定する
場合において、記憶手段に記憶されている補正データを
用いて補正演算を行う本発明によれば、各測定箇所にお
ける反射特性の測定ごとに距離を測定して補正演算を行
う従来技術に比べて、測定時間の大幅な短縮が可能にな
る。

【００１８】なお、補正データは、走査位置における測
定手段と測定試料または試料台との距離に応じたデータ
であっても、この距離に関係なく得られる他のデータで
あってもよい。

【００１９】また、請求項２の発明は、請求項１記載の
反射特性測定装置において、上記記憶手段に格納されて
いる上記複数の走査位置は、上記試料台のうちで上記測
定手段により測定可能な範囲が分割されてなる複数の小
領域ごとにそれぞれ設定されていることを特徴としてい
る。

【００２０】この構成によれば、記憶手段に格納されて
いる複数の走査位置は、試料台のうちで測定手段により
測定可能な範囲が分割されてなる複数の小領域ごとにそ
れぞれ設定されているので、複数の補正データは、試料
台に載置された測定試料の全領域に対して偏ることなく
得られており、これによって補正データを用いた補正が
精度良く行われることとなる。

【００２１】また、請求項３の発明は、請求項２記載の
反射特性測定装置において、上記補正演算手段は、測定
試料を上記試料台に載置したときに上記小領域に含まれ
る測定箇所における反射特性の補正を、当該小領域の補
正データをそのまま用いて行うことを特徴としている。

【００２２】この構成によれば、測定試料を試料台に載
置したときに小領域に含まれる測定箇所における反射特
性の補正は、当該小領域で設定された走査位置に対応す
る補正データがそのまま用いられて行われる。すなわ
ち、小領域内に複数の測定箇所が含まれる場合には、そ
れらの測定箇所については同一の補正データが用いられ
る。これによって、補正演算が簡素な構成で容易に行わ
れる。

【００２３】また、請求項４の発明は、請求項２記載の
反射特性測定装置において、上記補正演算手段は、上記
測定試料の複数の測定箇所における反射特性の補正を、
上記測定箇所と上記走査位置との位置関係に応じて上記
複数の補正データを補間して得られる補間データを用い
て行うことを特徴としている。

【００２４】この構成によれば、測定試料の複数の測定
箇所における反射特性の補正は、測定箇所と走査位置と
の位置関係に応じて複数の補正データを補間して得られ
る補間データを用いて行われることから、測定箇所が走
査位置に一致していない場合でも、補正が精度良く行わ
れることとなる。

【００２５】また、請求項５の発明は、請求項１乃至４
のいずれかに記載の反射特性測定装置において、上記記
憶手段に格納されている上記補正データは、上記走査位
置における上記測定手段と上記測定試料との距離に応じ
たデータであることを特徴としている。

【００２６】この構成によれば、記憶手段に格納されて
いる補正データは、走査位置における測定手段と測定試
料との距離に応じたデータであることから、測定手段と
測定試料との間の距離の変動による影響が適正に補正さ
れることとなる。

【００２７】また、請求項６の発明は、請求項５記載の
反射特性測定装置において、さらに、上記複数の走査位
置における上記測定手段と上記測定試料との間の距離を
測定する距離測定手段と、この距離測定手段により測定
された距離に応じた補正データを上記走査位置に対応づ
けて上記記憶手段に格納する記憶制御手段とを備えたこ
とを特徴としている。

【００２８】この構成によれば、複数の走査位置におけ
る測定手段と測定試料との間の距離が測定され、この測
定された距離に応じた補正データが走査位置に対応づけ
て記憶手段に格納されることにより、測定試料の厚さが
異なったり、走査手段の経時変化により走査位置におけ
る測定手段と測定試料との間の距離が変化した場合で
も、再度距離を測定して補正データを記憶手段に格納す
ることにより、常に適正な補正データを記憶手段に格納
しておくことが可能になる。

【００２９】また、請求項７の発明は、請求項１乃至４
のいずれかに記載の反射特性測定装置において、上記記
憶手段に格納されている上記補正データは、上記測定試
料として反射特性が既知の試料を測定したときの測定結
果に基づくものであることを特徴としている。

【００３０】この構成によれば、記憶手段に格納されて
いる補正データは、測定試料として反射特性が既知の試
料を測定したときの測定結果に基づくものであることか
ら、測定手段と測定試料との間の距離の変動による影響
が簡易な構成で容易に補正されることとなる。

【００３１】なお、ここでは、反射特性が既知の試料と
して、反射特性から求めることが可能な特性の値、例え
ば濃度や三刺激値などが既知の試料も含むものである。

【００３２】また、請求項８の発明は、請求項７記載の
反射特性測定装置において、さらに、上記測定試料とし
て反射特性が既知の試料を測定したときの測定結果に基
づき補正データを作成する補正作成手段と、作成された
補正データを上記走査位置に対応づけて上記記憶手段に
格納する記憶制御手段とを備えたことを特徴としてい
る。

【００３３】この構成によれば、測定試料として反射特
性が既知の試料を測定したときの測定結果に基づき補正
データが作成され、この作成された補正データが上記走
査位置に対応づけて記憶手段に格納されることから、測
定手段と測定試料との間の距離を測定するのに比べて、
補正データを簡易な構成で容易に求めることが可能にな
る。

【００３４】

【発明の実施の形態】まず、図１を用いて、本発明に係
る反射特性測定装置の一実施形態としての走査機構付き
測色装置の全体構成について説明する。図１（ａ）は同
測色装置の平面図、（ｂ）は同測色装置の側面図であ
る。

【００３５】この走査機構付き測色装置１は、測定試料
を載置するための試料台２と、この試料台２上で測定試
料に対して非接触でＸ軸方向およびＹ軸方向に２次元的
に移動可能な分光測色計３とを備え、測定試料としては
印刷物などの試料台２上に置くことのできる平面物体が
用いられ、その複数の測定箇所の色を非接触で連続的に
測定するものである。

【００３６】試料台２の左右両端には、Ｙ軸に平行に固
定レール４，４が配設され、右端の固定レール４は、Ｙ
軸に平行に配設されたボールねじ軸５を回転可能に支持
している。このボールねじ軸５は、試料台２上に配設さ
れたＹ軸パルスモータ６により回転駆動される。

【００３７】固定レール４，４上には計器支持部７が配
設されており、この計器支持部７は分光測色計３をＸ軸
方向に移動可能に支持している。この計器支持部７には
雌ねじ部８が設けられており、この雌ねじ部８は、上記
ボールねじ軸５に螺合している。また、計器支持部７
は、Ｘ軸に平行に配設されたボールねじ軸９を回転可能
に支持している。このボールねじ軸９は、計器支持部７
に配設されたＸ軸パルスモータ１０により回転駆動され
る。分光測色計３には雌ねじ部１１が設けられ、この雌
ねじ部１１が上記ボールねじ軸９に螺合している。

【００３８】このような構成により、Ｙ軸パルスモータ
６の駆動により計器支持部７がＹ軸方向に移動すること
によって分光測色計３がＹ軸方向に移動し、Ｘ軸パルス
モータ１０の駆動により分光測色計３がＸ軸方向に移動
するようになっており、分光測色計３は、試料台２上の
所定範囲の測色が可能になっている。

【００３９】また、試料台２上の分光測色計３により測
色可能な範囲内には、所定形状（本実施形態では例えば
正方形）の測定試料載置領域２ａと、白色校正部２ｂ
と、ゼロ校正部２ｃとが設けられている。この白色校正
部２ｂおよびゼロ校正部２ｃについては後述する。

【００４０】次に、図２〜図６を用いて分光測色計３の
内部構成について説明する。図２は分光測色計３の断面
図、図３は分光測色計３の平面図、図４は制限枠の正面
図、図５はマスク板の正面図である。また、図６は検出
部を示す図で、（ａ）は側面図、（ｂ）は正面図であ
る。なお、説明の便宜上、図２では光源、検出部および
処理部の図示を省略している。

【００４１】図２に示すように、この分光測色計３は、
上面に操作表示部１２、底面に測定用開口１３を備え、
この測定用開口１３を測定試料１４に対向させた非接触
の状態で当該測定試料１４の測色を行うもので、内部に
照明部２０、受光部３０、分光部４０、検出部５０、処
理回路基板６０１に配設された処理部６０（後述）など
を備えている。

【００４２】操作表示部１２は、使用者により操作され
る操作スイッチ、例えば測定開始を指示するための測定
スイッチや校正開始を指示するための校正スイッチなど
を備えるとともに、測定結果などを表示するためのＬＣ
Ｄを備えている。

【００４３】測定用開口１３の近傍には参照板１５およ
び距離センサ１６（後述）が配設されている。この参照
板１５は、例えば白色またはライトグレーに塗装された
板で、校正時と測定時とで照明部２０からの照明光強度
の変動による影響を補正するために、照明光の光強度を
得るためのもので、照明部２０からの照明光を測定試料
１４を介さずに受光部３０に向けて反射するものであ
る。

【００４４】照明部２０は、光源２１、制限枠２２、ト
ロイダルミラー２３、赤外カットフィルタ２４を備え、
測定用開口１３および参照板１５を含む範囲を照明する
ものである。光源２１は、短寸法のフィラメントを有す
るタングステンランプからなり、フィラメントが測定用
開口１３の法線１３ｎ上に一致するように配置されてい
る。

【００４５】制限枠２２は、開口２２ａを有し、所望の
照明領域以外の光線を遮光し、迷光などの有害な光が受
光部３０に入射しないようにするためのもので、中心が
測定用開口１３の法線１３ｎに一致するように配置され
ている。開口２２ａは、図４に示すように、Ｃ字形状部
２２ｂおよびその左側の扇形状部２２ｃが合わさった形
状の開口と、その左側の円形状の開口２２ｄとからなっ
ている。

【００４６】トロイダルミラー２３は、曲線が軸の周り
に回転して形成される非球面を有するもので、図３に示
すように、受光部３０の部分を除いて測定用開口１３を
囲むように平面視Ｃ字形状のものが採用されており、内
面は、例えばアルミニウムなどの金属が真空蒸着されて
鏡面になっている。このトロイダルミラー２３は、光源
２１（本実施形態ではタングステンランプのフィラメン
トの位置）に焦点が一致するように配置されており、ト
ロイダルミラー２３で反射した光源２１からの光は、ほ
ぼ平行光にされる。

【００４７】赤外カットフィルタ２４は、測定用開口１
３の直ぐ内側に配設され、赤外波長成分の光を吸収し、
それ以下の波長成分を透過するもので、この赤外カット
フィルタ２４により測定用開口１３は閉塞されている。

【００４８】受光部３０は、平面反射鏡３１、結像レン
ズ３２，３３、マスク板３４およびフィールドレンズ３
５を備え、照明部２０からの照明光が測定試料１４で反
射された試料光を分光部４０に導くとともに、参照板１
５で反射された参照光を分光部４０に導くものである。

【００４９】マスク板３４は、図５に示すように、第１
入射スリット３４１と、第２入射スリット３４２とを備
え、照明部２０からの照明光による照明範囲のうちで、
分光部４０に導く測定領域をスリット３４１，３４２に
より限定するためのものである。第１入射スリット３４
１は、中心より多少上方に穿設され、第２入射スリット
３４２は、その下方に穿設されており、スリットの図
中、横方向の寸法は、第１入射スリット３４１より第２
入射スリット３４２の方が大きくなっている。

【００５０】第１入射スリット３４１と測定用開口１３
とは、平面反射鏡３１および結像レンズ３２，３３から
なる光学手段に関して互いに共役な位置に配置され、第
２入射スリット３４２と参照板１５とは、平面反射鏡３
１および結像レンズ３２，３３からなる光学手段に関し
て互いにほぼ共役な位置に配置されている。

【００５１】フィールドレンズ３５は、図３に示すよう
に、結像レンズ３２，３３の光軸Ｌ１に対して多少傾斜
して配置されており、マスク板３４の第１、第２入射ス
リット３４１，３４２を通過した光を平行光として分光
部４０に導くとともに、分光部４０で分光されて反射さ
れた光を平面反射鏡４１を介して検出部５０上に結像す
るように配置されている。

【００５２】図２に戻り、分光部４０は、縦方向（図３
では紙面奥行き方向）の溝が例えば600本／mmのピッチ
で横方向に並んで形成された回折格子からなり、第１入
射スリット３４１を通過した測定試料１４からの試料光
および第２入射スリット３４２を通過した参照板１５か
らの参照光をそれぞれ波長ごとに分光して、図３中、多
少上向きに平面反射鏡４１に向けて反射するものであ
る。

【００５３】このような構成により、光源２１から射出
された光は、制限枠２２によって通過する光が制限さ
れ、トロイダルミラー２３で反射された後、平行光とな
って、ＣＩＥまたはＪＩＳで規定された、測定用開口１
３の法線１３ｎに対して(45±8)°の照明角度で測定用
開口１３およびその近傍を照明する。

【００５４】測定試料１４および参照板１５によって拡
散反射した試料光および参照光は、いずれも、平面反射
鏡３１によって反射され、結像レンズ３２，３３によっ
て集束され、それぞれ、第１入射スリット３４１および
第２入射スリット３４２を通過する。

【００５５】第１、第２入射スリット３４１，３４２を
通過した試料光および参照光は、それぞれ、フィールド
レンズ３５により平行光にされ、分光部４０に入射して
波長ごとに分光されて反射される。分光部４０で反射さ
れた光は、再びフィールドレンズ３５を通過して、平面
反射鏡４１により図中、上向きに反射され、検出部５０
の光電変換素子上に結像する。

【００５６】検出部５０は、図６に示すように２列の検
出列５１，５２を備え、センサ基板４０１上に設けられ
ている。この検出列５１，５２は、１チップのシリコン
ウェハ上に分光波長域（本実施形態では、例えば400nm
〜700nm）に亘って、分光波長ピッチ（本実施形態で
は、例えば10nm）に対応して複数の光電変換素子５３が
それぞれ配設されて形成されている。検出列５１には第
１入射スリット３４１を通過した試料光が入射し、検出
列５２には第２入射スリット３４２を通過した参照光が
入射する。光電変換素子５３は、例えばフォトダイオー
ドからなり、光強度に応じた電気信号（フォトダイオー
ドであれば電流信号）を出力するもので、上方の光電変
換素子５３から順に、各波長ごとの光強度に応じた電気
信号が得られる。なお、検出列５１，５２において、並
んだ位置の光電変換素子５３には、それぞれ同一波長の
光が入射する。

【００５７】次に、図１、図２、図４、図７、図８を用
いて、分光測色計３と測定試料１４間の距離測定につい
て説明する。図７は距離センサ１６の正面図、図８
（ａ）は距離の測定箇所を示す図、（ｂ）は距離測定結
果の一例を示す図である。

【００５８】図２に示すように、光源２１から出力され
る光のうちで、制限枠２２の開口２２ａの円形状の開口
２２ｄ（図４）を通過した光は、トロイダルミラー２３
で反射されて平行光になって測定試料１４を照明して反
射され、測定試料１４からの正反射光成分が距離センサ
１６に入射する。従って、測定試料１４の表面は均一で
あることが好ましい。

【００５９】距離センサ１６は、図７に示すように、２
個の光電変換素子（例えばフォトダイオード）１６１，
１６２が近接して並べられてなる。この光電変換素子１
６１，１６２は、図２中、左右方向に並べられており、
図７に示すように、測定試料１４（図２）からの反射光
による照射領域１７は、双方の光電変換素子１６１，１
６２にまたがった領域になる。

【００６０】ここで、図２において、分光測色計３の下
端（測定用開口１３の端面）と測定試料１４との距離が
基準値（例えば１mm）のときに照射領域１７（図７）の
中心が光電変換素子１６１，１６２の中央になるよう
に、制限枠２２の円形状の開口２２ｄ（図４）および距
離センサ１６の位置を設定しておく。すなわち、分光測
色計３と測定試料１４との距離が基準値のときは、光電
変換素子１６１，１６２の出力信号の比が１：１にな
る。

【００６１】そして、光電変換素子１６１，１６２の出
力信号の比と、分光測色計３と測定試料１４間の距離と
の関係を予め求めておき、後述する処理部６０のＥＥＰ
ＲＯＭ６７（図１０）に格納しておく。これによって、
光電変換素子１６１，１６２の出力信号の比を求めるこ
とにより、分光測色計３と測定試料１４の距離を測定す
ることができる。

【００６２】図１（ａ）に示す試料台２上の測定試料載
置領域２ａは、図８（ａ）に示すように、例えば寸法Ａ
×Ａの正方形で、この領域２ａ内には、６×６に分割さ
れてなる小領域２０１〜２３６が設けられている。そし
て、分光測色計３と測定試料１４との間の距離Ｈの測定
は、小領域２０１〜２３６内の予め設定された位置（走
査位置）、本実施形態では例えば中心（図中、×印）で
行う。その測定結果Ｈ２０１〜Ｈ２３６は、処理部６０
のＲＡＭ６８（図１０）に格納しておく。

【００６３】なお、ＲＡＭ６８（図１０）には、距離の
値をそのまま格納してもよく、あるいは基準値（例えば
１mm）に対する偏差データ（例えば基準値を超える値を
＋、基準値未満の値を−）として格納してもよい。

【００６４】また、距離測定位置（走査位置）と異なる
位置の距離、例えば小領域２０１，２０７，２１３，２
１９，２２５，２３１の中心を通るライン（図中、破
線）上で、×印と×印との間の距離Ｈは、図８（ｂ）に
示すように、各小領域の測定値２０１Ｓ，２０７Ｓ，２
１３Ｓ，２１９Ｓ，２２５Ｓ，２３１Ｓを線形補間した
値とすればよい。

【００６５】また、ライン上以外の位置の距離、例えば
小領域２０８内の位置Ｂの距離ＨＢは、小領域２０１，
２０２の中心の測定値を補間した値と、小領域２０７，
２０８の中心の測定値を補間した値との平均値とすれば
よい。

【００６６】すなわち、任意の位置の距離Ｈ(Ｘ，Ｙ)
は、その(Ｘ，Ｙ)座標に応じて、Ｘ軸方向で当該位置に
最も近い２つの測定値を補間した値と、Ｙ軸方向で当該
位置に最も近い２つの測定値を補間した値との平均値と
すればよい。

【００６７】また、測定試料載置領域２ａを６×６に分
割して小領域を形成するのに限られず、要求される測色
精度に応じて、分割数を多く（小領域の面積を小さく）
したり、分割数を少なく（小領域の面積を大きく）すれ
ばよい。また、小領域は正方形に限られないが、正方形
とすることにより、Ｘ軸方向とＹ軸方向とで補正係数を
求める間隔を等しくすることができる。

【００６８】ここで、分光測色計３と測定試料１４との
間の距離Ｈと測色データとの関係を表わす補正係数Ｋ
(Ｈ)は、例えば後述する処理部６０（図１０）のＣＰＵ
６５により測色を行う前に予め求めておき、ＥＥＰＲＯ
Ｍ６７に格納しておく。

【００６９】この補正係数Ｋ(Ｈ)は、例えば以下のよう
にして求める。すなわち、分光測色計３と白色試料との
距離を基準値（例えば１mm）から増減させて、複数の距
離で測色する。これによって、上記図１５（ｂ）に示す
ような測色値（例えば分光反射特性）の距離依存特性が
得られる。これを適当な関数（例えば１次関数）で近似
した近似関数が補正係数Ｋ(Ｈ)となる。

【００７０】そして、分光測色計３で測定した測色値を
Ｒ(λ)とし、補正係数をＫ(Ｈ)とすると、Ｒｒ(λ)＝Ｒ(λ)・Ｋ(Ｈ) により、各測色箇所（Ｘ，Ｙ）に対して、補正された測
色値Ｒｒ(λ)を得ることができる。

【００７１】なお、一般に、距離が変化すると、反射率
の絶対値は変化するものの、その変化量は波長による相
違は殆どないので、補正係数Ｋ(Ｈ)は、波長には無関係
の距離Ｈのみに依存した値として得られるが、波長λに
も依存する値Ｋ(Ｈ，λ)としてもよい。

【００７２】また、補正係数Ｋ(Ｈ)は、関数で近似せず
に、種々の距離Ｈに対するテーブル形式で与えるように
してもよい。

【００７３】次に、図９を用いて、図２に示した白色校
正部２ｂおよびゼロ校正部２ｃについて説明する。図９
は試料台２上の白色校正部２ｂおよびゼロ校正部２ｃを
示す断面図である。

【００７４】白色校正部２ｂは、分光反射率が既知の白
色校正板、例えば「ＪＩＳＺ８７２２色の測定方
法−反射及び透過物体色４．３．４節」にあるような
白色面を有する板からなる。

【００７５】ゼロ校正部２ｃは、開口２４１を有するボ
ックス２４２からなる。ここで、まず、ゼロ校正につい
て説明する。通常、測色装置においては、光電変換素子
の暗電流や測定試料からの測定したい光以外の迷光が存
在するため、反射率０％の測定試料の反射率を測定した
場合でも、微小レベルのオフセットが出力されて０％と
ならない。ここで、迷光は、例えば測定試料を照明する
ための光源からの光が直接光電変換素子に到達してしま
うものや、レンズなどの光学手段による散乱光などから
なる。

【００７６】この暗電流や迷光等による余分な出力を除
去するために、本実施形態では、測色を行う前にゼロ校
正部２ｃの測定を行い、その結果をゼロ校正値として処
理部６０のＥＥＰＲＯＭ６７またはＲＡＭ６８に格納し
ておく。そして、測定試料１４の測色を行う際に、検出
部５０の光電変換素子５３の出力信号からオフセット分
であるゼロ校正値を差し引くようにしている。

【００７７】ゼロ校正部２ｃの開口２４１の大きさは、
ゼロ校正を行う際に、分光測色計３からの照明光が試料
台２の表面に反射して分光測色計３の測定用開口１３か
ら内部に戻らないような、測定用開口１３より充分大き
い値に設定されている。ボックス２４２の内壁は黒色の
高拡散塗料で塗装されており、その底壁の開口２４１の
直下部分には、例えば円錐形状の傾斜部２４３が形成さ
れている。

【００７８】ボックス２４２の深さは、分光測色計３か
らの照明光が、測定領域（すなわちマスク板３４の第１
入射スリット３４１を通過する領域）を直接照射するこ
とがないような十分深い値に設定されている。

【００７９】このような構成において、ゼロ校正を行う
際に、測定用開口１３および開口２４１を介して分光測
色計３からボックス２４２に入射した照明光は、ボック
ス２４２の内壁で反射を繰り返して多重反射されるため
に、分光測色計３の受光部３０および分光部４０を介し
て検出部５０により受光される光量は、無視できるほど
小さくなっている。

【００８０】また、開口２４１の直下部分のボックス２
４２の底壁に傾斜部２４３を形成しているので、分光測
色計３の照明部２０の迷光が測定領域を直接照射した場
合でも、円錐面で反射されることから、多重反射しない
正反射光が直接受光部２０に入射することがない。従っ
て、ゼロ校正をより適正に行える。

【００８１】このように、ゼロ校正を行っているので、
光源２１の経時変化や外乱などによって迷光量が変化し
た場合でも、これによる影響を適正に除去することがで
き、これによって誤差が生じるのを防止することができ
る。

【００８２】次に、図１０のブロック図を用いて、走査
機構付き測色装置１の電気的構成について説明する。

【００８３】処理部６０は、図１０に示すように、種々
の電子部品からなる回路ブロック６１〜７０を備え、こ
れらの回路ブロック６１〜７０は、処理回路基板６０１
（図２）上に配設されている。

【００８４】検出部５０の検出列５１，５２の各光電変
換素子５３から出力される電流信号は、電流電圧変換回
路６１により、それぞれ電圧信号に変換され、マルチプ
レクサ６２により切り替えられて、それぞれ順次増幅回
路６３により増幅され、Ａ／Ｄ変換部６４によりディジ
タル値に変換されて、ＣＰＵ６５に入力される。

【００８５】また、距離センサ１６の光電変換素子１６
１，１６２（図７）から出力される電流信号は、同様に
電圧信号に変換され、増幅回路６３により増幅され、Ａ
／Ｄ変換部６４によりディジタル値に変換されて、ＣＰ
Ｕ６５に入力される。

【００８６】ＣＰＵ６５は、この測色装置１の各部の動
作を制御するもので、以下の〜に示す機能を有す
る。

【００８７】操作表示部１２の校正スイッチが押さ
れ、その操作信号が入出力ＩＣ７０を介して入力される
と、入出力ＩＣ７０を介してＸ，Ｙ軸パルスモータ６，
１０の動作を制御して白色校正部２ｂおよびゼロ校正部
２ｃに分光測色計３を移動させ、それぞれ発光回路６６
を制御して光源２１を発光させて白色校正およびゼロ校
正動作を行う校正制御部としての機能。

【００８８】ＥＥＰＲＯＭ６７に格納されている光電
変換素子１６１，１６２の出力信号の比と、分光測色計
３と測定試料１４間の距離Ｈとの関係を用いて、光源２
１を発光させたときの光電変換素子１６１，１６２の出
力信号の比から距離Ｈを求める距離測定部としての機
能。このとき、Ｘ，Ｙ軸パルスモータ６，１０の動作を
制御して予め設定された距離測定位置に分光測色計３を
移動させる。

【００８９】分光測色計３と測定試料１４間の距離Ｈ
と測色データとの関係を表わす補正係数Ｋ(Ｈ)を求める
補正作成部としての機能。

【００９０】Ａ／Ｄ変換部６４からの測定値を一時的
にＲＡＭ６８に格納したり、得られた白色校正値、ゼロ
校正値、補正係数Ｋ(Ｈ)などをＥＥＰＲＯＭ６７に格納
する記憶制御部としての機能。

【００９１】操作表示部１２の測定スイッチが押さ
れ、その操作信号が入出力ＩＣ７０を介して入力される
と、入出力ＩＣ７０を介してＸ，Ｙ軸パルスモータ６，
１０の動作を制御して予め設定された測色位置に分光測
色計３を移動させ、発光回路６６を制御して光源２１を
発光させて測色動作を行い、ＥＥＰＲＯＭ６７に格納さ
れている白色校正値やゼロ校正値を用いて測定試料１４
の測色値、例えば分光反射特性を求める測定制御部とし
ての機能。

【００９２】ＥＥＰＲＯＭ６７に格納されている補正
係数Ｋ(Ｈ)を用いて、求められた測色値（分光反射特
性）を補正する補正演算部としての機能。

【００９３】得られた測色値を入出力ＩＣ７０を介し
て操作表示部１２のＬＣＤに表示したり、インターフェ
ースＩＣ６９を介して外部装置７１に出力する出力制御
部としての機能。

【００９４】なお、の校正制御部やの測定制御部に
おいて、それぞれ校正スイッチや測定スイッチに代え
て、外部装置７１（例えばパーソナルコンピュータ）か
らの入力コマンドにより動作させるようにしてもよい。

【００９５】次に、図１１のフローチャートを用いて、
本測色装置１による測色動作の手順について説明する。

【００９６】まず、分光測色計３の距離依存特性が測定
され、その結果がＥＥＰＲＯＭ６７に格納される（＃１
０）。これは、上述したように、例えば分光測色計３を
計器支持部７から取り外した状態で、白色試料との距離
を増減させて測定を行い、測色値（本実施形態では、例
えば分光反射特性）の距離に対する依存特性を求め、こ
れを補正係数Ｋ(Ｈ)としてＥＥＰＲＯＭ６７に格納して
おく。この動作は、例えば測色装置１の製造時や定期的
なメンテナンス時に行うようにする。

【００９７】次いで、測定試料１４を試料台２に載置し
た状態で、分光測色計３と測定試料１４間の距離Ｈが測
定され、その測定結果がＥＥＰＲＯＭ６７に格納される
（＃２０）。これは、図８を用いて説明したように、分
光測色計３により測定可能な範囲内に設けられた測定試
料載置領域２ａが分割されてなる小領域ごとに予め設定
された位置（走査位置）で距離測定を行う。

【００９８】次いで、測定試料１４上の複数の測定箇所
の色が測定され、その結果がＲＡＭ６８に一時的に格納
される（＃３０）。続いて、ＥＥＰＲＯＭ６７に格納さ
れている距離Ｈを測定した位置と色測定箇所とが一致し
ないときは、距離Ｈを補間して得られる距離を距離Ｈと
した補正係数Ｋ(Ｈ)を用いて、色測定結果が補正される
（＃４０）。そして、その補正結果が、操作表示部１２
のＬＣＤに表示される（＃５０）。

【００９９】なお、＃２０では、測定試料１４を試料台
２に載置した状態で距離を測定しているが、これに限ら
れない。

【０１００】例えば、測定試料１４が紙のように薄く、
その厚さが無視できるような場合であって、静電吸着な
どにより試料台２に隙間なく密着できるような場合に
は、分光測色計３と試料台２との間の距離を測定し、そ
の結果をＥＥＰＲＯＭ６７に格納しておいてもよい。こ
の場合には、測色装置１の製造時や定期的なメンテナン
ス時に距離測定を行うようにすればよい。

【０１０１】また、測定試料１４が異なる場合であって
も、その厚さがほぼ同一であるような場合には、新たに
距離測定を行うことなく、既にＥＥＰＲＯＭ６７に格納
されている距離測定結果を用いるようにしてもよい。

【０１０２】このように、本実施形態によれば、予め分
光測色計３と測定試料１４との距離Ｈを測定し、分光測
色計３の距離依存特性を補正係数Ｋ(Ｈ)としてＥＥＰＲ
ＯＭ６７に格納し、分光測色計３を測定試料１４に対し
て非接触のままで移動させるようにしたので、複数の測
定箇所の測色を行う場合でも、測色時間を短縮すること
ができる。特に、プリンタのカラープロファイルを作成
する場合のように数百のカラーサンプルの色測定を行う
ような場合に、測色時間の大幅な短縮を図ることができ
る。

【０１０３】また、分光測色計３により測定可能な範囲
内に設けられた測定試料載置領域２ａを複数の小領域２
０１〜２３６に分割し、当該小領域ごとに距離測定を行
い、色測定箇所の距離は補間によって求めるようにした
ので、全ての色測定箇所の距離測定を行う必要がないた
め、距離測定を高速化することができる。

【０１０４】また、測色用の光源２１からの照明光の反
射光を距離センサ１６に入射するようにしているので、
距離測定のための光源を別途設ける必要がなく、部品点
数の増大によるコストの上昇や装置の大型化を防止する
ことができる。

【０１０５】なお、本発明は、上記実施形態に限られ
ず、以下の変形形態を採用することができる。

【０１０６】（１）上記実施形態では、距離センサ１６
を備え、分光測色計３と測定試料１４との距離Ｈを測定
し、その測定結果を用いて測色値を補正しているが、こ
れに限られず、分光反射率が既知の試料（以下「既知試
料」という。）の測色値を測定し、その結果を用いて測
定試料１４の測色値を補正するようにしてもよい。

【０１０７】既知試料としては、例えば測色する全波長
に亘って高反射率であり、かつ、試料全面に亘って汚れ
や変色のない均一な白色で、試料台２の測定試料載置領
域２ａ（図１）とほぼ同一サイズのものを採用する。

【０１０８】図１２のフローチャートを用いて、この変
形形態における測色動作の手順について説明する。

【０１０９】まず、上記既知試料を試料台２の測定試料
載置領域２ａに載置し、分光測色計３による測色値の位
置依存特性が測定され、その結果がＥＥＰＲＯＭ６７に
格納される（＃１１０）。

【０１１０】これは、図８を用いて説明したように、測
定試料載置領域２ａの小領域ごとに、予め設定された位
置（図８では中心）で測色値の測定を行う。そして、得
られた測色値がＭ(Ｘ，Ｙ)とし、既知の測色値がＷとす
ると、Ｋ(Ｘ，Ｙ)＝Ｗ／Ｍ(Ｘ，Ｙ) で得られる補正係数Ｋ(Ｘ，Ｙ)をＥＥＰＲＯＭ６７に格
納する。この動作は、例えば測色装置１の製造時や定期
的なメンテナンス時に行うようにする。

【０１１１】次いで、測定試料１４上の複数の測定箇所
の色が測定され、その結果がＲＡＭ６８に一時的に格納
される（＃１２０）。

【０１１２】続いて、ＥＥＰＲＯＭ６７に格納されてい
る補正係数Ｋ(Ｘ，Ｙ)を求めた位置と色測定箇所とが一
致しないときは、補正係数Ｋ(Ｘ，Ｙ)を補間して得られ
る補正係数を用いて、色測定結果が補正される（＃１３
０）。この補正は、例えば補間した得られた補正係数を
Ｋ、色測定結果をＣとすると、Ｒ＝Ｃ×Ｋによって行われる。そして、この補正結果Ｒが、操作表
示部１２のＬＣＤに表示される（＃１４０）。

【０１１３】この形態によれば、分光測色計３と測定試
料１４との距離に応じた補正係数として、既知試料の測
色値を用いるようにしているので、上記実施形態の距離
センサ１６が不要となり、部品点数を削減して装置の構
成を簡素化することができる。

【０１１４】なお、既知試料としては、分光反射率が既
知の試料に限られず、濃度やＣＩＥの三刺激値が既知の
試料を用いてもよい。

【０１１５】（２）上記実施形態および上記変形形態
（１）では、補正係数Ｋを求めた位置と色測定箇所とが
一致しないときは、距離Ｈまたは補正係数Ｋ(Ｘ，Ｙ)を
補間して得られる値を補正データとして色測定結果を補
正しているが、これに限られず、小領域ごとに求めた距
離または補正係数を代表値とし、小領域内の色測定箇所
の補正は、この代表値を用いて行うようにしてもよい。
この場合には、補正演算を簡易な構成で容易に行うこと
ができる。

【０１１６】（３）上記実施形態では、距離センサ１６
として光電変換素子１６１，１６２を２個並べたものを
用いているが、これに限られず、３個以上並べたものを
用いてもよい。また、非接触の距離センサ１６に代え
て、接触式で距離を測定するようにしてもよい。

【０１１７】また、距離センサ１６として、１次元ＰＳ
Ｄ(Position Sensitive light Detector)を使用しても
よい。図１３（ａ）は１次元ＰＳＤの動作原理を説明す
るための図、（ｂ）は１次元ＰＳＤによる距離測定を説
明するための図である。

【０１１８】図１３（ａ）において、１次元ＰＳＤ８０
は、Ｉ層（真性半導体）基板８１の表面および裏面にＰ
層８２およびＮ層８３が形成されてなり、Ｎ層８３に共
通電極（アース）８４が接続され、Ｐ層８２の両端に第
１電極８５および第２電極８６が接続されている。そし
て、１次元ＰＳＤ８０のＰ層８２にスポット状の光８７
が入射すると、第１電極８５および第２電極８６から電
流が流出する。

【０１１９】第１電極８５および第２電極８６間の距離
をＬとし、第１電極８５から流出する電流をＩ１とし、
第２電極８６から流出する電流をＩ２として、第１電極
８５から光８７の入射位置までの距離をＸとすると、Ｉ１＝(Ｉ１＋Ｉ２)・(Ｌ−Ｘ)／ＬＩ２＝(Ｉ１＋Ｉ２)・Ｘ／Ｌであるので、Ｘ＝Ｌ・Ｉ２／(Ｉ１＋Ｉ２) となる。従って、第１、第２電極８５，８６から流出す
る電流Ｉ１，Ｉ２を検出することにより、スポット状の
光８７の入射位置Ｘを求めることができる。

【０１２０】そこで、図２に示す分光測色計３の測定用
開口１３の近傍に、図１３（ｂ）に示す赤外ＬＥＤ９
１、投光用レンズ９２、集光用レンズ９３を配設し、１
次元ＰＳＤ８０の一方の電極側の端面が集光用レンズ９
３の中心に対向するように配置する。このような構成に
おいて、測定試料の試料面が位置Ｓ１に位置してレンズ
９２，９３の中心と試料面との距離がＨ１のときは一方
の電極側の端面から距離Ｘ１の位置に入射し、測定試料
の試料面が位置Ｓ２に位置してレンズ９２，９３の中心
と試料面との距離がＨ２のときは一方の電極側の端面か
ら距離Ｘ２の位置に入射することとなる。

【０１２１】従って、投光用レンズ９２と集光用レンズ
９３の光軸間距離をＤとし、集光用レンズ９３の中心と
１次元ＰＳＤ８０の受光面との間の距離をｆとすると、
レンズ９２，９３の中心から測定試料の試料面までの距
離Ｈは、Ｈ＝Ｄ・ｆ／Ｘによって求められる。

【０１２２】このように、１次元ＰＳＤ８０を用いる形
態によれば、別途光源が必要となるが、位置分解能や応
答特性に優れているという効果が得られる。

【０１２３】（４）上記実施形態では、補正を行うため
の距離や補正係数などの補正データを分光測色計３内の
ＥＥＰＲＯＭ６７に格納しているが、これに限られず、
例えば図１０に示す外部装置７１としてパーソナルコン
ピュータを接続し、そのパーソナルコンピュータの記録
媒体、例えばハードディスクやフロッピー（登録商標）
ディスクに格納しておき、必要に応じて入出力ＩＣ７０
を介して補正データを取り込んで補正を行うようにして
もよい。

【０１２４】（５）上記実施形態では、図１に示すよう
に、測色装置１は平板状の試料台２を備えたものとして
いるが、これに限られない。図１４は円柱状の試料台を
備えた測色装置を示す図で、（ａ）は正面図、（ｂ）は
側面図であり、図１と同一機能を果たすものには同一符
号を付している。なお、図１４（ｂ）では試料台２、分
光測色計３、計器支持部７および測定試料１４のみを示
し、その他の部材の図示を省略している。

【０１２５】この測色装置１ａの計器支持部７は、その
両端が一対の支柱１０１，１０１に固定支持され、分光
測色計３をＸ軸方向に移動可能に支持する。試料台２は
円柱形状で、支柱１０１，１０１に固定された回転支持
部１０２，１０２によって、Ｘ軸方向に平行に配設され
た軸２ｄ周りに回転可能に支持されている。そして、測
定試料１４は試料台２の周面に巻き付けられるようにな
っている。

【０１２６】このように、Ｘ軸方向に１次元的に移動可
能な分光測色計３と、Ｘ軸方向に平行な軸周りに回転可
能な試料台２とを備えることで、上記実施形態と同様
に、測定試料１４に対して２次元的に走査することがで
きる。

【０１２７】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１の発明に
よれば、測定手段を試料台に対して相対移動させたとき
の当該試料台上における複数の走査位置ごとに求めら
れ、測定試料の反射特性を補正するための複数の補正デ
ータを、それぞれ走査位置の情報に対応づけて記憶手段
に格納しておき、測定手段を試料台に対して非接触状態
を保ちながら相対移動させて当該試料台に載置された測
定試料上の複数の測定箇所の反射特性を非接触で測定さ
せ、記憶手段に格納されている複数の補正データを用い
て上記測定試料の各測定箇所における反射特性を補正す
るようにしたので、複数の測定箇所の反射特性を、高速
に、かつ精度良く得ることができる。

【０１２８】また、請求項２の発明によれば、複数の走
査位置は、試料台のうちで測定手段により測定可能な範
囲が分割されてなる複数の小領域ごとにそれぞれ設定さ
れているとしたので、複数の補正データは、測定試料の
全領域に対して偏ることなく得ることができ、これによ
って補正データを用いた補正が精度良く行うことができ
る。

【０１２９】また、請求項３の発明によれば、測定試料
を試料台に載置したときに小領域に含まれる測定箇所に
おける反射特性の補正を、当該小領域の補正データをそ
のまま用いて行うようにしているので、補正演算を簡素
な構成で容易に行うことができる。

【０１３０】また、請求項４の発明によれば、測定試料
の複数の測定箇所における反射特性の補正を、測定箇所
と走査位置との位置関係に応じて複数の補正データを補
間して得られる補間データを用いて行うようにしている
ので、測定箇所が走査位置に一致していない場合でも、
補正を精度良く行うことができる。

【０１３１】また、請求項５の発明によれば、補正デー
タは、走査位置における測定手段と測定試料との距離に
応じたデータであるとしたので、測定手段と測定試料と
の間の距離の変動による影響を適正に補正することがで
きる。

【０１３２】また、請求項６の発明によれば、複数の走
査位置における測定手段と測定試料との間の距離を測定
し、測定された距離に応じた補正データを走査位置に対
応づけて記憶手段に格納するようにしたので、測定試料
の厚さが異なったり、走査手段の経時変化により走査位
置と測定試料との間の距離が変化した場合でも、適正な
補正データを記憶手段に格納することができる。

【０１３３】また、請求項７の発明によれば、記憶手段
に格納されている補正データは、測定試料として反射特
性が既知の試料を測定したときの測定結果に基づくもの
であるとしたので、測定手段と測定試料との間の距離の
変動による影響を簡易な構成で容易に補正することがで
きる。

【０１３４】また、請求項８の発明によれば、測定試料
として反射特性が既知の試料を測定したときの測定結果
に基づき補正データを作成し、作成された補正データを
走査位置に対応づけて記憶手段に格納するようにしたの
で、測定手段と測定試料との間の距離を測定するのに比
べて、補正データを簡易な構成で容易に求めることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）は本発明に係る反射特性測定装置の一実
施形態としての走査機構付き測色装置の平面図、（ｂ）
は同測色装置の側面図である。

【図２】分光測色計の断面図である。

【図３】分光測色計の平面図である。

【図４】制限枠の正面図である。

【図５】マスク板の正面図である。

【図６】検出部を示す図で、（ａ）は側面図、（ｂ）は
正面図である。

【図７】距離センサの正面図である。

【図８】（ａ）は距離の測定箇所を示す図、（ｂ）は距
離測定結果の一例を示す図である。

【図９】試料台上の白色校正部およびゼロ校正部を示す
断面図である。

【図１０】走査機構付き測色装置の電気的構成を示すブ
ロック図である。

【図１１】本測色装置による測色動作の手順を示すフロ
ーチャートである。

【図１２】変形形態における測色動作の手順を示すフロ
ーチャートである。

【図１３】（ａ）は１次元ＰＳＤの動作原理を説明する
ための図、（ｂ）は１次元ＰＳＤによる距離測定を説明
するための図である。

【図１４】円柱状の試料台を備えた測色装置を示す図
で、（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。

【図１５】（ａ）は測定試料の試料面の位置が変動した
ときの受光範囲を説明する図、（ｂ）は測色部と測定試
料との距離の基準値に対する変動量に対して反射率が比
例している状態を示す図である。

【符号の説明】

３分光測色計（測定手段）６Ｙ軸パルスモータ（走査手段）１０Ｘ軸パルスモータ（走査手段）１４測定試料１６距離センサ（距離測定手段）６０処理部６５ＣＰＵ（測定制御手段、補正演算手段、記憶制御
手段、補正作成手段）６７ＥＥＰＲＯＭ（記憶手段）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者平田猛大阪市中央区安土町二丁目３番13号大阪国際ビルミノルタ株式会社内 (72)発明者石川典夫大阪市中央区安土町二丁目３番13号大阪国際ビルミノルタ株式会社内Ｆターム(参考） 2G020 AA04 DA12 DA22 DA23 DA31 DA34 DA35 DA36 DA43 2G059 EE02 EE13 FF01 HH01 HH02 JJ02 JJ05 JJ14 KK04 MM10 MM14 NN10 PP04

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】試料台に載置された測定試料の反射特性
を非接触で測定する測定手段と、この測定手段を上記試料台に対して非接触状態を保ちな
がら相対移動させる走査手段と、上記測定手段を上記試料台に対して相対移動させて、上
記測定手段により当該試料台に載置された測定試料上の
複数の測定箇所の反射特性を測定させる測定制御手段
と、上記測定手段を上記試料台に対して相対移動させたとき
の当該試料台上における複数の走査位置ごとに求めら
れ、上記測定試料の反射特性を補正するための複数の補
正データが、それぞれ上記走査位置の情報に対応づけて
格納されている記憶手段と、この記憶手段に格納されている複数の補正データを用い
て上記測定試料の各測定箇所における反射特性を補正す
る補正演算手段とを備えたことを特徴とする反射特性測
定装置。
【請求項２】請求項１記載の反射特性測定装置におい
て、上記記憶手段に格納されている上記複数の走査位置
は、上記試料台のうちで上記測定手段により測定可能な
範囲が分割されてなる複数の小領域ごとにそれぞれ設定
されていることを特徴とする反射特性測定装置。
【請求項３】請求項２記載の反射特性測定装置におい
て、上記補正演算手段は、測定試料を上記試料台に載置
したときに上記小領域に含まれる測定箇所における反射
特性の補正を、当該小領域の補正データをそのまま用い
て行うことを特徴とする反射特性測定装置。
【請求項４】請求項２記載の反射特性測定装置におい
て、上記補正演算手段は、上記測定試料の複数の測定箇
所における反射特性の補正を、上記測定箇所と上記走査
位置との位置関係に応じて上記複数の補正データを補間
して得られる補間データを用いて行うことを特徴とする
反射特性測定装置。
【請求項５】請求項１乃至４のいずれかに記載の反射
特性測定装置において、上記記憶手段に格納されている
上記補正データは、上記走査位置における上記測定手段
と上記測定試料との距離に応じたデータであることを特
徴とする反射特性測定装置。
【請求項６】請求項５記載の反射特性測定装置におい
て、さらに、上記複数の走査位置における上記測定手段
と上記測定試料との間の距離を測定する距離測定手段
と、この距離測定手段により測定された距離に応じた補
正データを上記走査位置に対応づけて上記記憶手段に格
納する記憶制御手段とを備えたことを特徴とする反射特
性測定装置。
【請求項７】請求項１乃至４のいずれかに記載の反射
特性測定装置において、上記記憶手段に格納されている
上記補正データは、上記測定試料として反射特性が既知
の試料を測定したときの測定結果に基づくものであるこ
とを特徴とする反射特性測定装置。
【請求項８】請求項７記載の反射特性測定装置におい
て、さらに、上記測定試料として反射特性が既知の試料
を測定したときの測定結果に基づき補正データを作成す
る補正作成手段と、作成された補正データを上記走査位
置に対応づけて上記記憶手段に格納する記憶制御手段と
を備えたことを特徴とする反射特性測定装置。