JP2019535627A - 複合セラミック材料、物品、および製造方法 - Google Patents

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Abstract

本明細書では、2つ以上の結晶相を含む複合セラミック材料を開示し、ここで、第1の結晶相は、第1の融解点を有する第1の耐火材料を含み、第2の結晶相は、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料を含み、この第2の結晶相は、第2の耐火材料の大きいドメインサイズを含む。そのような複合セラミック材料を含む、ハニカム体、触媒基材、および微粒子フィルタなどの物品も、それらの製造方法に加えて、本明細書に開示する。

Description

優先権
本開示は、米国特許法第119条(e)の定めにより、2016年11月10日出願の米国仮出願第62/420403号の優先権を主張するものであり、その内容は、その全体が参照に依拠し、かつ参照により本明細書に組み込まれる。
本明細書は概して、複合セラミック材料および物品、ならびにこれらの製造に関し、より具体的には、大きいドメインセラミック相を有する複合セラミック材料および物品に関する。
コーディエライト、炭化ケイ素、およびチタン酸アルミニウムなどの耐火セラミック材料で構成されたセラミック物品は、触媒基材および微粒子フィルタを製造するために使用することができる。
本明細書では、2つ以上の結晶相を含む複合セラミック材料を開示し、ここで、第1の結晶相は、第1の融解点を有する第1の耐火材料を含み、第2の結晶相は、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料を含み、この第2の結晶相は、第2の耐火材料の大きいドメインサイズを含む。そのような複合セラミック材料を含む、ハニカム体、触媒基材、および微粒子フィルタなど物品も、それらの製造方法に加えて、本明細書に開示する。
第1の態様では、第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相と、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して5,000μmより大きいドメインサイズを含む、第2の結晶相を含む、セラミック材料を本明細書に開示する。ドメインサイズとは、結晶領域が近似するコーディエライト粒の連続領域または半連続領域を指す。ドメイン内の結晶はおおよそ同じ配向を有するが、隣接するドメインは、著しく異なる配向(20度を超える配向不整)を有する。コーディエライト粒の結晶配向は、電子後方散乱回折 (EBSD)で決定する一方で、ドメインは、類似のc軸配向を有する粒の画像解析によるEBSDマップから決定する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも50体積%を構成する。いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、材料の50体積%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも50体積%を構成し、第2の結晶相が、材料の50体積%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも50重量%を構成する。いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、材料の35重量%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも55重量%を構成し、第2の結晶相が、材料の35重量%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも60重量%を構成し、第2の結晶相が、材料の30重量%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相の融解点が、1500℃より高い。いくつかの実施形態では、第2の結晶相の融解点が、1500℃未満である。いくつかの実施形態では、第2の結晶相の融解点が、1450℃以下であり、これらの実施形態のうちのいくつかでは、第2の結晶相の融解点が、1300℃から1450℃であり、これらの実施形態のうちのいくつかでは、第2の結晶相の融解点が、1425℃から1450℃である。いくつかの実施形態では、第1の結晶相の融解点が、1500℃より高く、第2の結晶相の融解点が、1500℃未満である。
第2の態様では、第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相と、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して2,500μmより大きい平均ドメインサイズを有する、第2の結晶相を含む、セラミック材料を本明細書に開示する。いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、3,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、5,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、10,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、15,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、20,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する。
第3の態様では、第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相と、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して4,000μmより大きいドメインサイズ、2,500μmより大きい平均ドメインサイズを含む、第2の結晶相を含む、セラミック材料を本明細書に開示する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、チアライト(tialite)を含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、MgTi2O5をさらに含む。いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、コーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、セラミック材料が、ムライトを含む第3の結晶相をさらに含む。
第4の態様では、チアライトからなる第1の結晶相であって、第1の融解点および選択した断面平面における第1の最大ドメインサイズを有する、第1の結晶相と、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有するコーディエライトからなり、選択した断面平面における第2の最大ドメインサイズを有する第2の結晶相を含み、第1の最大ドメインサイズに対する第2の最大ドメインサイズの比は6.0以上である、複合セラミック材料を本明細書に開示する。いくつかの実施形態では、第1の最大ドメインサイズに対する第2の最大ドメインサイズの比は、7.0以上、いくつかの実施形態では、8.0以上、いくつかの実施形態では、10.0以上、いくつかの実施形態では、15以上、いくつかの実施形態では、20以上である。
第5の態様では、複合セラミック材料からなる物品の製造方法を本明細書に開示し、本方法は、第1の耐火材料もしくはその前駆体、またはそれらの両方、および第2の耐火材料もしくはその前駆体、またはそれらの両方を含む初期混合物からなる物体を加熱することであって、加熱は、第1の耐火材料前駆体が存在する場合、第1の耐火材料の前駆体の少なくとも一部から第1の耐火材料が反応的に形成されるのを引き起こすのに十分なものであり、第2の耐火材料前駆体が存在する場合、第2の耐火材料の前駆体の少なくとも一部から第2の耐火材料が反応的に形成されるのを引き起こすのに十分なものであり、加熱は、加熱中に第2の耐火材料を融解せずに、第1の耐火材料の少なくとも一部を融解し、第2の耐火材料の少なくとも一部に接触させるのに十分なものである、加熱することと、次いで、複合セラミック材料が形成されるように物体を冷却することと、を含み、複合セラミック材料は、第1の耐火材料からなる第1の結晶相、および第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、5,000μmより大きいドメインサイズを含む、第2の結晶相を含む。
追加の特徴および利点を、後述の発明を実施するための形態に記載し、これらの追加の特徴および利点は、その説明から当業者には容易に部分的に明らかになるか、または後述の発明を実施するための形態、特許請求の範囲、および添付の図面を含む、本明細書に記載される実施形態を実践することにより認識されるであろう。
前述の概説と後述の発明を実施するための形態の両方共に、セラミック物品を形成するための方法および装置の様々な実施形態を説明し、特許請求される主題の性質および特性を理解するための要旨および枠組みを提供することが意図されることを理解されたい。添付図面は、様々な実施形態のさらなる理解を提供するために含めるものであり、本明細書に組み込まれ、本明細書の一部を構成する。図面は、本明細書に記載される様々な実施形態を例示するものであり、説明と一緒になって、特許請求される主題の原理および作用を説明する働きをする。
チタン酸アルミニウムおよびコーディエライトの温度に対する格子膨張の概略プロットである。 コーディエライト結晶の斜方晶構造および各軸の関連する膨張の略図である。 コーディエライト結晶の斜方晶構造を概略的に例示する。 例示的実施形態に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。 例示的実施形態に対応するEBSDデータの画像解析からの、コーディエライト配向の領域/ドメインを示す。 比較例に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。 比較例に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。 比較例に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。 比較例に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。
これより、焼成前に少なくともいくつかの有機材料の抽出を行うことを含む、セラミック物品を生成するための方法の様々な実施形態を詳細に参照し、これらの実施例は、添付の図面に示す。できる限り、図面全体をとおして、同じまたは類似した部品を参照するのに同じ符号を使用する。
明示的に述べられていない限り、本明細書に記載されるいずれの方法も、その工程が特定の順序で行なわれなければならない、または任意の装置に関して、特定の配向が必要であると解釈されることを決して意図しない。したがって、方法のクレームに、工程が従うべき順序が実際に列挙されていないか、または任意の装置のクレームに、個々の構成要素に対する順序もしくは配向が実際に列挙されていない場合、さもなければ、それらの工程が特定の順序に限定されるとクレームもしくは説明に具体的に記載されていないか、または装置の構成要素に対する特定の順序もしくは配向が列挙されていない場合、あらゆる面において、順序または配向が暗示されることを決して意図しない。工程の構成、作業フロー、構成要素の順序、または構成要素の配向に関する論理事項;文法構成または句読点に由来する明白な意味、および本明細書に記載される実施形態の数または種類を含む、解釈のあらゆる可能性のある明示されていない基礎にも当てはまる。
本明細書で使用されるとき、文脈で別途明白に指示されていない限り、単数形「a」、「an」、および「the」には、複数の指示対象が含まれる。したがって、例えば、文脈で別途明白に示されていない限り、「a」要素への参照には、2つ以上のそのような要素を有する態様が含まれる。
本明細書で使用されるとき、バッチ混合物の無機構成成分または有機構成成分の「重量%(wt%)」、「重量パーセント(weight percent)」、または「重量パーセント(percent by weight)」は、それに反して述べられていない限り、その構成成分が含まれる無機物の総重量に基づくものとする。有機構成成分は、本明細書では、使用される無機構成成分100%に基づくさらなる添加として指定される。
構成成分、成分、添加剤、反応物質、定数、倍数、および類似の側面に関して開示される特定の好ましい値、ならびにそれらの範囲は、単に例示を目的とする。これらは、他の規定の値または規定の範囲内の他の値を除外するものではない。本開示の構成成分、装置、および方法には、任意の値または値の組み合わせ、特定の値、または本明細書に記載されるそれらの範囲を有するものが含まれる。本明細書に記載される値の任意の範囲には、その範囲内のすべての値が企図され、当該の特定の範囲内の実数値である端点を有する任意の部分範囲を列挙するクレームを支援すると解釈されたい。
セラミック形成原材料には、無機材料が含まれる。一例として、セラミック形成原材料は、コーディエライト形成原材料、チタン酸アルミニウム形成原材料、炭化ケイ素形成原材料、アルミナ形成原材料、アルミナ、シリカ、マグネシア、チタニア、アルミニウム含有成分、ケイ素含有成分、チタン含有成分などであってもよい。本明細書で使用されるとき、チアライトは、チタン酸アルミニウム(Al2TiO5)、またはチタン酸アルミニウム(Al2TiO5)とチタン酸マグネシウム(MgTi2O5)の固溶体である。
コーディエライト形成原材料には、例えば、少なくとも1種のマグネシウム源、少なくとも1種のアルミナ源、および少なくとも1種のシリカ源が含まれる場合がある。コーディエライト形成原材料には、粘土およびチタニアのうちの1種以上、ならびにアルカリ土類金属および酸化物がさらに含まれる場合がある。
本明細書に記載される実施形態では、マグネシウム源としては、酸化マグネシウムまたは焼成されたときに、Mg(OH)、MgCO、およびこれらの組み合わせなどのMgOに変質する、水への溶解度が低い他の材料が挙げられるが、これらに限定されない。例えば、マグネシウム源は、か焼されたタルクおよび/またはか焼されていないタルク、ならびに粗いタルクおよび/または微細なタルクを含む、タルク(MgSi10(OH))であってもよい。
アルミナ源としては、他の原材料が存在しない状態で十分に高い温度に加熱したときに、実質的に純粋な酸化アルミニウムを生じる粉体が挙げられるが、これらに限定されない。好適なアルミナ源の例としては、αアルミナ、γアルミナなどの遷移アルミナまたはρアルミナ、アルミナ水和物またはアルミニウム三水和物、ギブサイト、コランダム(Al)、ベーマイト(AlO(OH))、擬ベーマイト、水酸化アルミニウム(Al(OH))、アルミニウムオキシ水酸化物、およびこれらの混合物が挙げられ得る。
シリカは、α石英または溶融石英などの、シリカの純粋な化学状態で存在してもよい。シリカ源としては、非結晶性シリカ、例えば溶融石英またはゾルゲルシリカ、シリコーン樹脂、低アルミナの実質的にアルカリを含まないゼオライト、珪藻土シリカ、カオリン、および結晶性シリカ、例えば石英またはクリストバライトが挙げられ得るが、これらに限定されない。さらに、シリカ源としては、加熱したときに遊離シリカを形成する化合物を含むシリカ形成源がさらに挙げられ得るが、これらに限定されない。例えば、ケイ酸またはケイ素有機金属化合物は、加熱したとき、遊離シリカを形成することができる。
コーディエライト形成原材料で使用される水和粘土としては、限定するためではなく例として、カオリナイト(Al(Si)(OH))、ハロイサイト(Al(Si)(OH)・HO)、パイロフィライト(Al(Si)(OH))、これらの組み合わせまたはこれらの混合物などが挙げられ得る。
チタン酸アルミニウム形成原材料には、例えば、アルミナ源、マグネシア源、およびチタニア源が含まれ得る。チタニア源は、ある点において、ルチル型チタニア、アナターゼ型チタニアなどの二酸化チタン組成物、またはこれらの組み合わせであってもよい。アルミナ源およびマグネシア源は、上文に記載するアルミナ源およびマグネシア源から選択してもよい。チタン酸アルミニウムを形成するのに好適な例示的かつ非限定的な無機バッチ構成成分混合物としては、米国特許第4,483,944号、同第4,855,265号、同第5,290,739号、同第6,620,751号、同第6,942,713号、同第6,849,181号、同第7,001,861号、および同第7,294,164号の各明細書に開示されるものが挙げられ、これらの各々は、参照により本明細書に組み込まれる。
炭化ケイ素形成原材料としては、例えば、微粉状のケイ素金属、炭素前駆体、および粉状ケイ素含有充填剤が挙げられ得る。炭素前駆体は、例えば、約1000センチポアズ(cp)(1Pa・s)未満の粘度を有する水溶性架橋熱硬化性樹脂であってもよい。利用される熱硬化性樹脂は、バッチ混合物における、得られる炭素とケイ素との重量比が約12:28(炭化ケイ素の形成に必要なSi−C理論混合比)であるような量の高炭素収率樹脂であってもよい。好適なケイ素含有充填剤としては、炭化ケイ素、窒化ケイ素、ムライト、または他の耐火材料が挙げられる。炭化ケイ素を形成するのに好適な例示的な非限定的無機バッチ構成成分混合物としては、米国特許第6,555,031号および同第6,699,429号に開示されるものが挙げられ、これらの各々は参照により本明細書に組み込まれる。
酸化アルミニウム形成原材料には、Alおよび/または酸化アルミニウム形成成分が含まれ得る。
無機のセラミック形成原材料に加えて、セラミックバッチ混合物101には、潤滑剤、界面活性剤、結合剤、および/または1種以上の細孔形成材料を含んでいてもよい有機材料が含まれ得る。本明細書で使用される場合、用語「有機材料」には、様々なバッチ組成物に含まれる水などの溶媒の量は含めないものとする。有機材料を使用して、相対的に高濃度のセラミック材料を有する流動性分散液を形成することができる。潤滑剤および界面活性剤は、無機構成成分と化学的に相溶性があり、素地の取り扱いを可能にするための十分な強度および剛性を提供する。実施形態では、セラミックバッチ混合物101は、さらなる添加により、無機構成成分の重量パーセントで、約1%から約60%、さらには約2%から約20%の有機材料を有し得る。いくつかの実施形態では、セラミックバッチ混合物101は、さらなる添加により、無機構成成分の重量パーセントで、約5%から約15%、約7%から約12%、さらには約9%から約10%の有機材料を有し得る。いくつかの実施形態では、セラミックバッチ混合物101は、さらなる添加により、無機構成成分の重量パーセントで、約5%から約11%、または約7%の有機材料を有し得る。
いくつかの実施形態では、有機材料には、結合剤が含まれている場合があり、1種以上の細孔形成材料が含まれている場合がある。例えば、有機結合剤は、さらなる添加としてバッチ混合物中に、無機セラミックバッチ成分の0.1重量%から約10.0重量%の範囲の量で存在する場合がある。結合剤としては、メチルセルロース、エチルヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシブチルメチルセルロース、ヒドロキシメチルセルロース、ヒドロキシプロピルメチルセルロース、ヒドロキシエチルメチルセルロース、ヒドロキシブチルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、ヒドロキシプロピルセルロース、カルボキシメチルセルロースナトリウムなどのセルロース含有構成成分、およびこれらの混合物が挙げられ得るがこれらに限定されない。メチルセルロースおよび/またはヒドロキシプロピルメチルセルロースなどのメチルセルロース誘導体が、有機結合剤として特に適している。
細孔形成剤は、好ましくは、素地の乾燥および/または加熱中に燃焼によって気化し、これが起こらずに得られる気孔率よりも大きい気孔率が残る、一時的微粒子材料である。細孔形成材料としては、例えば、炭素(例えば、石墨、活性炭素、石油コークス、およびカーボンブラック)、デンプン(例えば、とうもろこし、大麦、豆、じゃがいも、米、タピオカ、エンドウ、サゴヤシ、小麦、カンナ、および胡桃穀粉)、ポリマー(例えば、ポリブチレン、ポリメチルペンテン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、ポリアミド(ナイロン)、エポキシ、ABS、アクリル、およびポリエステル(PET))、過酸化水素、ならびに/またはフェノール樹脂などの樹脂が挙げられ得る。1種以上の細孔形成材料を用いてもよい。例えば、ポリマーとデンプンの組み合わせを、細孔を形成するために使用してもよい。いくつかの実施形態では、セラミックバッチ混合物は、約10重量%から約60重量%の有機細孔形成剤を含んでいてもよい。有機細孔形成剤は、20マイクロメートル以下のメジアン粒径d50を有していてもよい。いくつかの実施形態では、有機細孔形成剤は、15マイクロメートル以下のメジアン粒径d50、さらには10マイクロメートル以下のメジアン粒径d50を有していてもよい。
潤滑剤は、セラミック前駆体バッチ混合物に流動性をもたらすことができ、成形(すなわち、押出)プロセス中にバッチが十分に堅いままでいることを可能にすることにより、バッチ混合物を素地へと成形する補助をすることができる。潤滑剤としては、例えば、石油から蒸留した鉱物油、グループIIパラフィン基油およびグループIIIパラフィン基油を含む合成基油および半合成基油、ポリアルファオレフィン、アルファオレフィンなどを挙げることができる。様々な実施形態では、潤滑剤は、さらなる添加により、無機構成成分の0から7重量%の量で存在する。
無機粒子に吸着させ、無機粒子を懸濁した状態のままにし、無機粒子の凝集を妨げるために、有機界面活性剤を提供してもよい。有機界面活性剤としては、例えば、ステアリン酸、ラウリン酸、リノール酸、オレイン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、およびパルミトオレイン酸などのC−C22脂肪酸および/またはこれらのエステルもしくはアルコール誘導体、大豆レシチン、ならびにこれらの混合物が挙げられ得る。例えば、有機界面活性剤は、さらなる添加により、無機構成成分の少なくとも0.3重量%の量で存在してもよい。
様々な実施形態では、溶媒をバッチ混合物に添加して、素地が形成されるセラミックペースト(前駆体かまたは前駆体ではないもの)を作製してもよい。実施形態では、溶媒としては、水または水混和性溶媒などの水系溶媒が挙げられ得る。いくつかの実施形態では、溶媒は、水である。セラミック前駆体バッチ中に存在する水性溶媒の量は、約20重量%から約50重量%の範囲であってもよい。
有機材料を少なくとも1種の無機構成成分に添加し、混合して、セラミックバッチ混合物、またはセラミック形成バッチ混合物を形成してもよい。例としては、無機構成成分を粉状材料として合わせて、混和して、実質的に均質なバッチを形成してもよい。
バッチ混合物を、モールディング、プレス、キャスト、押出などの成形手段を使用して、素地構造体へと成形してもよいか、または形成してもよい。例えば、バッチ混合物を、押出機を使用して押出して、素地を成形してもよい。押出機は、特定の実施形態に応じて、液圧ラム押出プレス、2段階脱気シングルオーガ押出機、または押出機の吐出端に取り付けられたダイアセンブリ付き2軸ミキサであってもよい。バッチ混合物は、規定の温度および規定の速度で押出してもよい。
好ましくは、バッチ混合物は、ハニカム構造体へと成形される。ハニカム構造体は、好ましくは、セル壁によって分離された複数のセルを画定するウェブ構造体を備える。しかしながら、素地は、ハニカム構造体以外の形状であってもよい。
有機材料の少なくともいくらかが揮発し素地から除去された後、それに続いて素地を炉に移し、この炉では、多孔質セラミックハニカム構造体などの焼成された多孔質セラミック物品をもたらすように、好適な雰囲気下、選択された温度で、素地の組成、サイズ、および形状に応じた時間、素地を焼成する。炉は、制限するためではなく例として、トンネル炉、単独窯、燃料炉または直接燃焼炉、電気炉、またはマイクロ波補助炉であってもよい。
焼成時間および焼成温度は、素地中の材料の組成および量、ならびに素地を焼成するのに使用する機器の種類などの要因によって決まる。焼成中、焼成プロセス雰囲気における温度は、50℃/時よりも早い速度で上昇させてもよい。
加熱速度は、1時間当たり約50℃(℃/時)以上であってもよい。例えば、いくつかの実施形態では、加熱速度は、約50℃/時から約200℃/時、約60℃/時から約130℃/時、または約75℃/時から約125℃/時であり得る。様々な実施形態では、加熱速度は、約200℃/時以下、約130℃/時以下、約125℃/時以下、さらには約80℃/時以下であり得る。いくつかの実施形態では、加熱速度は、約75℃/時、約100℃/時、さらには約125℃/時であり得る。いくつかの実施形態では、加熱速度は、200℃/時以下に制限され得る。実施形態では、用いられる特定の加熱速度は、素地のサイズ、素地を形成するのに使用されるセラミックバッチ混合物中の成分、および素地の形状によって少なくとも部分的に決定され得る。
第1の態様では、第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相と、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して5,000μmより大きいドメインサイズを含む、第2の結晶相を含む、セラミック材料を本明細書に開示する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも50体積%を構成する。いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、材料の50体積%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも50体積%を構成し、第2の結晶相が、材料の50体積%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも50重量%を構成する。いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、材料の35重量%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも55重量%を構成し、第2の結晶相が、材料の35重量%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも60重量%を構成し、第2の結晶相が、材料の30重量%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相の融解点が、1500℃より高い。いくつかの実施形態では、第2の結晶相の融解点が、1500℃未満である。いくつかの実施形態では、第2の結晶相の融解点は、1450℃以下であり、これらの実施形態のうちのいくつかでは、第2の結晶相の融解点は、1300℃から1450℃であり、これらの実施形態のうちのいくつかでは、第2の結晶相の融解点は、1425℃から1450℃である。いくつかの実施形態では、第1の結晶相の融解点は、1500℃より高く、第2の結晶相の融解点は、1500℃未満である。
いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して10,000μmより大きいドメインサイズ、いくつかの実施形態では、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、15,000μmより大きいドメインサイズ、いくつかの実施形態では、20,000μmより大きいドメインサイズ、いくつかの実施形態では、25,000μmより大きいドメインサイズ、いくつかの実施形態では、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、30,000μmより大きいドメインサイズを含む。
いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、3,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、4,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、5,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、6,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、7,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、10,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、15,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、20,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、主にチアライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、互いに固溶した複数の耐火材料を含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトと固溶したMgTi2O5を含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、ムライトを含む。
いくつかの実施形態では、セラミック材料は、第3の結晶相をさらに含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、ムライトを含み、第2の結晶相は、コーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、ムライトを含み、第2の結晶相は、コーディエライトを含み、第3の結晶相は、チアライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、ムライトを含み、第2の結晶相は、コーディエライトを含み、第3の結晶相は、チアライトおよびMgTi2O5を含む。いくつかの実施形態では、第3の結晶相は、ムライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトを含み、第2の結晶相は、コーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトを含み、第2の結晶相は、コーディエライトを含み、第3の結晶相は、ムライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトおよびMgTi2O5を含み、これらの実施形態のうちのいくつかでは、第1の結晶相は、互いに固溶したチアライトおよびMgTi2O5を含む。
いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、主にコーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトから実質的になる。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトである。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、主たる擬ブルッカイト結晶構造を含む。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相の少なくとも大部分が、分岐した固体のネットワークを提供し、第2の結晶相の少なくとも一部が、固体のネットワークの1つ以上の枝に直接隣接して配置される。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相の最大ドメインサイズに対する、第2の結晶相の最大ドメインサイズの比は、6.0以上、いくつかの実施形態では7.0以上、いくつかの実施形態では8.0以上、いくつかの実施形態では10.0以上、いくつかの実施形態では15以上、いくつかの実施形態では20以上である。
いくつかの実施形態では、10,000μmより大きい第2の結晶相サイズのドメインが、第1の結晶相の粒と直接接触する。いくつかの実施形態では、10,000μmより大きい第2の結晶相サイズのドメインが、第1の結晶相の粒を少なくとも部分的に囲繞する。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、1種以上の希土類酸化物をさらに含む。
いくつかの実施形態では、セラミック材料が、水銀圧入法で測定して、40%よりも高いバルク気孔率を含む。
いくつかの実施形態では、セラミック材料が、10μm以上のd10を有する孔径分布を有する複数の細孔を含む。
いくつかの実施形態では、セラミック材料が、15μm以上のd50を有する孔径分布を有する複数の細孔を含む。
いくつかの実施形態では、セラミック材料が、15から20μmのd50を有する孔径分布を有する複数の細孔を含む。
いくつかの実施形態では、上記のセラミック材料(複数可)からなるセラミック構造体が、本明細書に開示される。いくつかの実施形態では、上記のセラミック材料(複数可)からなる少なくとも1つの壁からなるセラミック構造体が、本明細書に開示される。いくつかの実施形態では、上記のセラミック材料(複数可)からなる交差壁のマトリクスからなるセラミックハニカム構造体が本明細書に開示され、これらの実施形態のうちのいくつかでは、触媒ウォッシュコート材料が、ハニカム構造体の壁のうちの少なくとも1つ上に配置される。いくつかの実施形態では、上記のセラミック材料(複数可)からなるハニカム構造体を含むフィルタが、本明細書に開示され、これらの実施形態のうちのいくつかでは、フィルタは、ハニカム構造体の複数のセル内に配置された複数のプラグをさらに含む。
第2の態様では、第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相と、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して2,500μmより大きい平均ドメインサイズを有する、第2の結晶相を含む、セラミック材料を本明細書に開示する。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、3,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、5,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、10,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、15,000μmより大きい平均ドメインサイズ、いくつかの実施形態では、20,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、MgTi2O5をさらに含む。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、セラミック材料は、第3の耐火材料を含む第3の結晶相をさらに含む。いくつかの実施形態では、第3の結晶相は、ムライトを含む。
第3の態様では、第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相と、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して4,000μmより大きいドメインサイズ、2,500μmより大きい平均ドメインサイズを含む、第2の結晶相を含む、セラミック材料を本明細書に開示する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、MgTi2O5をさらに含む。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、セラミック材料は、ムライトを含む第3の結晶相をさらに含む。
第4の態様では、チアライトからなる第1の結晶相であって、第1の融解点および選択した断面平面における第1の最大ドメインサイズを有する、第1の結晶相と、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有するコーディエライトからなり、選択した断面平面における第2の最大ドメインサイズを有する第2の結晶相を含み、第1の最大ドメインサイズに対する第2の最大ドメインサイズの比は6.0以上である、複合セラミック材料を本明細書に開示する。いくつかの実施形態では、第1の最大ドメインサイズに対する第2の最大ドメインサイズの比は、7.0以上、いくつかの実施形態では、8.0以上、いくつかの実施形態では、10.0以上、いくつかの実施形態では、15以上、いくつかの実施形態では、20以上である。
いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、5,000μmより大きいドメインサイズを有する。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも50体積%を構成する。いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、材料の50体積%未満を構成する。いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、材料の少なくとも50体積%を構成し、第2の結晶相が、材料の50体積%未満を構成する。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、主にチアライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、互いに固溶した複数の耐火材料を含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトと固溶したMgTi2O5を含む。
いくつかの実施形態では、セラミック材料は、第3の結晶相をさらに含む。いくつかの実施形態では、第3の結晶相は、ムライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトを含み、第2の結晶相は、コーディエライトを含み、第3の結晶相は、ムライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトおよびMgTi2O5を含み、これらの実施形態のうちのいくつかでは、第1の結晶相は、互いに固溶したチアライトおよびMgTi2O5を含む。
いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、主にコーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、第2の結晶相が、コーディエライトから実質的になる。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトである。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、主たる擬ブルッカイト結晶構造を含む。
第5の態様では、複合セラミック材料からなる物品の製造方法を本明細書に開示し、本方法は、第1の耐火材料もしくはその前駆体、またはそれらの両方、および第2の耐火材料もしくはその前駆体、またはそれらの両方を含む初期混合物からなる物体を加熱することであって、加熱は、第1の耐火材料前駆体が存在する場合、第1の耐火材料の前駆体の少なくとも一部から第1の耐火材料が反応的に形成されるのを引き起こすのに十分なものであり、第2の耐火材料前駆体が存在する場合、第2の耐火材料の前駆体の少なくとも一部から第2の耐火材料が反応的に形成されるのを引き起こすのに十分なものであり、加熱は、加熱中に第2の耐火材料を融解せずに、第1の耐火材料の少なくとも一部を融解し、第2の耐火材料の少なくとも一部に接触させるのに十分なものである、加熱することと、次いで、複合セラミック材料が形成されるように物体を冷却することと、を含み、複合セラミック材料は、第1の耐火材料からなる第1の結晶相、および第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、5,000μmより大きいドメインサイズを含む、第2の結晶相を含む。
いくつかの実施形態では、加熱中に存在する第2の耐火材料のすべてが、加熱中に融解されるわけではない。これらの実施形態のうちのいくつかでは、融解していない第2の耐火材料が、第2の結晶相がエピタキシャルドメイン成長するための核生成部位を提供する。
いくつかの実施形態では、加熱中に存在する第2の耐火材料の少なくとも10%、いくつかの実施形態では少なくとも20%、いくつかの実施形態では少なくとも50%、いくつかの実施形態では少なくとも90%が、加熱中に融解し、いくつかの実施形態では、加熱中に存在する第2の耐火材料のすべてが、加熱中に融解する。
いくつかの実施形態では、混合物は、1種以上の細孔形成材料をさらに含み、これらの実施形態のうちのいくつかでは、ある平均バルク気孔率がセラミック材料に付与されるように、加熱が混合物からの1種以上の細孔形成材料の燃え尽きを生じさせる。いくつかの実施形態では、平均バルク気孔率は、40%以上である。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相が、第1の融解点を有し、第2の結晶相が、第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する。
いくつかの実施形態では、加熱中に混合物が達する最高温度は、第1の融解点未満である。いくつかの実施形態では、加熱中に混合物が達する最高温度は、1300℃から1450℃である。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、主にチアライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、互いに固溶した複数の耐火材料を含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトと固溶したMgTi2O5を含む。
いくつかの実施形態では、複合セラミック材料は、第3の結晶相をさらに含む。いくつかの実施形態では、第3の結晶相は、第3の耐火材料を含む。いくつかの実施形態では、第3の結晶相は、ムライトを含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、チアライトおよびMgTi2O5を含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、互いに固溶したチアライト、MgTi2O5、およびムライトを含む。
いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、主にコーディエライトを含む。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトから実質的になる。いくつかの実施形態では、第2の結晶相は、コーディエライトである。
いくつかの実施形態では、コーディエライト前駆体は、初期混合物中に存在する。いくつかの実施形態では、初期混合物には、コーディエライトが実質的に含まれていない。
いくつかの実施形態では、第1の結晶相は、主たる擬ブルッカイト結晶構造を含む。いくつかの実施形態では、第1の結晶相の少なくとも大部分が、分岐した固体のネットワークを提供し、第2の結晶相の少なくとも一部が、固体のネットワークの1つ以上の枝に直接隣接して配置される。
いくつかの実施形態では、冷却は、80℃/時以下、いくつかの実施形態では50℃/時以下、いくつかの実施形態では40℃/時以下、いくつかの実施形態では20℃/時以下の速度で物体を冷やすことを含む。
いくつかの実施形態では、冷却が、物体の少なくとも一部が1200℃より高い温度を有するとき、80℃/時以下の速度で物体を冷やすことを含む。いくつかの実施形態では、冷却が、物体の少なくとも一部が1100℃より高い温度を有するとき、80℃/時以下の速度で物体を冷やすことを含む。いくつかの実施形態では、冷却が、物体の少なくとも一部が1000℃より高い温度を有するとき、80℃/時以下の速度で物体を冷やすことを含む。
上文に記載される様々な実施形態を、以下の実施例によりさらに明確にする。
ここで高い割合のチタン酸アルミニウム(AT)を含むセラミック材料に目を向けると、本明細書に開示する材料または物体は、チタン酸アルミニウム(チタン酸マグネシウムで安定化させたチタン酸アルミニウムなどの安定化チタン酸アルミニウム)、およびコーディエライトを含み得、ここで、コーディエライトは、非常に大きいドメイン構造を有する。これらの物体では、熱膨張係数(CTE)は、類似の成分からなるが、より小さいドメイン構造を有する物体におけるものよりも低い場合がある。本明細書に開示されるそのような複合セラミック材料の低CTEは、これらの低CTEをコーディエライト相とAT相の両方に依存している。CTEをより下げることは、そのような材料の操作窓を開く助けとなり得る。AT相とコーディエライト相の両方とも、異方性熱パラメータを有する。例えば、図1は、ATとコーディエライトの両方の格子膨張を示す。両方の相が、熱に対して負の膨張を示す軸を1つ有する。ハニカム体におけるこれらの相の配向の制御は、材料の熱特性を達成する1つの手段である。格子膨張の異方性も、同様に材料の好ましい熱膨張特性を達成するために得ることができる粒レベルでの内部微小応力および微小亀裂の源になり得る。温度が摂氏数百度変化し得るエンジン排気流における用途などの高温環境での様々な用途では、CTEがより低い材料は、典型的に使用中により長持ちし得る。様々な用途では、CTEが低くなる程、材料の性能が良くなる。
図2は、コーディエライト結晶の斜方晶構造の略図および各軸の関連する膨張を示す。
図3コーディエライト結晶の斜方晶構造を概略的に例示する。左の図は、コーディエライトの負の膨張c軸が図の平面内に配向されている結晶の配向を示す。右の図は、コーディエライトの負の膨張c軸が写真の平面に対して垂直に配向されている結晶の配向を示す。コーディエライトにおけるc軸は、斜方晶の長さに対して平行である。a軸およびb軸は、c軸、および互いに直行している。
本明細書に開示されるいくつかの実施形態では、微粒子フィルタまたは触媒基材は、複数またはいくつかの異なる結晶相または材料、例えば、チタン酸アルミニウム、またはチタン酸アルミニウムおよびチタン酸マグネシウムと、長石またはコーディエライトおよび他のより少ない量の相を含む1種以上のセラミック材料を含むハニカム構造体などのセラミック体からなり得る。様々な実施形態では、ATの主たる結晶構造は、擬ブルッカイトと呼ぶ。
チタン酸アルミニウムの特定の結晶性材料は、チアライトと呼ばれる。純粋なチアライトは、約1200℃未満では熱力学的に安定していない。高温での使用中にATが分解するのを防ぐために、いくつかの実施形態では、例えば、Al2TiO5と固溶体を形成することができ、かつ擬ブルッカイト結晶構造においても見られ得るMgTi2O5でATを安定化させてもよい。これらの実施形態では、コーディエライトは、例えば、微粒子フィルタの用途に必要な低CTE、高気孔率、および/または高強度などの所望の物理特性を達成するのに極めて有利な二次相であることが見出された。我々は、コーディエライトが材料の物理特性に驚くほど大きい影響を与えることを見出した。これらのAT実施形態では、最低CTEの材料は、コーディエライトに非常に大きいドメイン構造を作り出すことにより達成することができることが見出された。これらのドメイン構造は、これらの最大の形態では、ハニカム構造体におけるウェブの幅などの制限である巨視的物理的境界によってのみ制限され得る。我々は、これらのコーディエライトドメインが擬ブルッカイト材料に巻かれているか、または擬ブルッカイト材料に巻き付いているという驚くべき特徴を有すること、およびコーディエライトドメインが二次元空間では接触していないように見えるが、実際には三次元空間では接触していることも見出した。したがって、これらの実施形態では、コーディエライトも含有するチタン酸アルミニウム含有材料(チタン酸マグネシウムもしくはチタン酸鉄を伴うか、または伴わない)が提供され、ここで、コーディエライトは、大きいドメイン構造(または「大きいドメイン」)で見られる。これらのドメイン構造は、電子後方散乱回折(EBSD)を使用して測定することができる。測定方法には、多孔質セラミックハニカムをエポキシに真空含浸し、エポキシを硬化させ、次いで、ハニカム押出方向に対して平行(縦断面)または垂直(横断面)のいずれかに研磨して高品質の仕上げにすることが含まれる。帯電を最小限に抑えるために、研磨した断面に薄い金属コーティングを塗布し、EBSDを電界放射型走査電子顕微鏡(FESEM)で完了させる。顕微鏡像における各点の電子後方散乱回折パターンを粉末X線回折データから決定された既知の結晶構造情報と比較して、サブミクロンの空間分解能での結晶型および配向に関する情報をもたらすことができる。EBSDデータを後処理すると、テクスチャ成分プロットを作製することによって、類似の結晶配向を有する結晶領域のマッピングが可能になり、そのプロット内の色は、試料表面に対するATまたはコーディエライトのいずれかの対象の結晶の負の膨張方向の配向を示す。次いで、画像解析を使用して、類似の結晶配向を有する領域の相当球径を決定することができる。これらの領域は二次元空間では連続していないため、標準的なEBSD技法でドメインサイズを直接測定することは、ほとんど不可能である。
これらのAT/コーディエライト実施例では、過半の相は、相対的に不活性である擬ブルッカイトである。いくつかの実施形態では、コーディエライトは、コーディエライトの融解点まで加熱することができ、それによって核が形成され、大きいドメインを形成するのを助けるコーディエライト相形成材料から得ることができる。同様に、いくつかの実施形態では、過半の相が相対的に不活性な擬ブルッカイトであるため、コーディエライト相形成領域は分離し、それによって核形成領域が減少し、大きいドメインがもたらされる。
いくつかの実施形態では、我々は、例えば経費削減の理由のために、焼成サイクル中の最高ソークの持続時間を短くした場合、焼成物品のCTEはより長い最高ソーク焼成時間と比較して増加したが、サイクルの最高ソーク部分を短くした場合、他はすべて同じであり、より低いCTEは、冷却速度がより遅い焼成サイクルの冷却部分を実行することにより、再度達成することができることを見出した。「最高ソーク」は最高炉温度設定点、すなわち、陶磁器が焼成スケジュールによる規定の時間、炉内でさらされる最高炉温度である。
Figure 2019535627
実施例1-チアライトと大きいコーディエライトドメイン
チアライトおよび大きいドメインのコーディエライトからなる複合セラミック材料を、表1の実施例1に見られる材料から調製した。バッチ材料を押出し、乾燥させ、次いで表1の実施例1に見られる条件で焼成した。断面の画像を、EBSDデータから解析した。表1は、最大コーディエライトドメインに対応する大きい方から10個の画像オブジェクトの代表的な面積を示す。大きい方から10個の平均ドメインサイズも、表1に載せている。
図4は、表1に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。
実施例2-チアライトと、緩徐な冷却による大きいコーディエライトドメイン
チアライトおよび大きいドメインのコーディエライトからなる複合セラミック材料を、表1の実施例2に見られる材料から調製した。バッチ材料を押出し、乾燥させ、次いで表1の実施例2に見られる条件で焼成した。断面の画像を、EBSDデータから解析した。表1は、最大コーディエライトドメインに対応する最大画像オブジェクトの代表的な面積を示す。大きい方から10個の平均ドメインサイズも、表1に載せている。
図5は、表2に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似のコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。
実施例3-比較−チアライトと、急速冷却によるコーディエライトドメイン
チアライトおよび大きいドメインのコーディエライトからなる複合セラミック材料を、表1の実施例3に見られる材料から調製した。バッチ材料を押出し、乾燥させ、次いで表1の実施例3に見られる条件で焼成した。断面の画像を、EBSDデータから解析した。表1は、最大コーディエライトドメインに対応する大きい方から10個の画像オブジェクトの代表的な面積を示す。大きい方から10個の平均ドメインサイズも、表1に載せている。
図6は、表3に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似のコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。
実施例4-比較−チアライトと、急速冷却によるコーディエライトドメイン
チアライトおよび大きいドメインのコーディエライトからなる複合セラミック材料を、表1の実施例4に見られる材料から調製した。バッチ材料を押出し、乾燥させ、次いで表1の実施例4に見られる条件で焼成した。断面の画像を、EBSDデータから解析した。表1は、最大コーディエライトドメインに対応する大きい方から10個の画像オブジェクトの代表的な面積を示す。大きい方から10個の平均ドメインサイズも、表1に載せている。
図7は、表4に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。
実施例5-比較−コーディエライトと、急速冷却によるコーディエライトドメイン小さいコーディエライトドメイン
チアライトおよび大きいドメインのコーディエライトからなる複合セラミック材料を、表1の実施例5に見られる材料から調製した。バッチ材料を押出し、乾燥させ、次いで表1の実施例5に見られる条件で焼成した。断面の画像を、EBSDデータから解析した。表1は、最大コーディエライトドメインに対応する大きい方から10個の画像オブジェクトの代表的な面積を示す。大きい方から10個の平均ドメインサイズも、表1に載せている。
図8は、表5に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。
実施例6-比較−チアライトと、コーディエライトドメイン
チアライトおよび大きいドメインのコーディエライトからなる複合セラミック材料を、表1の実施例6に見られる材料から調製した。バッチ材料を押出し、乾燥させ、次いで表1の実施例6に見られる条件で焼成した。断面の画像を、EBSDデータから解析した。表1は、最大コーディエライトドメインに対応する大きい方から10個の画像オブジェクトの代表的な面積を示す。大きい方から10個の平均ドメインサイズも、表1に載せている。
コーディエライト図9は、表6に対応するEBSDデータの画像解析からの、類似したコーディエライト配向の領域/ドメインを示す。
特許請求される主題の趣旨または範囲から逸脱することなく、本明細書に記載される実施形態に対する様々な変更形態および変形が作製され得ることが、当業者には容易に明らかになるであろう。したがって、本明細書は、本明細書に記載される様々な実施形態の変更形態および変形に及ぶが、ただし、そのような変更形態および変形は、添付の特許請求の範囲およびそれらの同等物の範囲内にあることが意図される。
以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。
実施形態1
第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相、
前記第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して5,000μmより大きいドメインサイズを含む、第2の結晶相を含む、セラミック材料。
実施形態2
前記第1の結晶相が、前記セラミック材料の少なくとも50体積%を構成する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態3
前記第2の結晶相が、前記セラミック材料の50体積%未満を構成する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態4
前記第1の結晶相が、前記セラミック材料の少なくとも50重量%を構成する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態5
前記第2の結晶相が、前記セラミック材料の35重量%未満を構成する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態6
前記第1の結晶相が、前記材料の少なくとも55重量%を構成し、前記第2の結晶相が、前記セラミック材料の35重量%未満を構成する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態7
前記第1の結晶相が、前記材料の少なくとも60重量%を構成し、前記第2の結晶相が、前記セラミック材料の30重量%未満を構成する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態8
前記第1の結晶相の前記融解点が、1500℃より高い、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態9
前記第2の結晶相の前記融解点が、1500℃未満である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態10
前記第2の結晶相の前記融解点が、1450℃以下である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態11
前記第2の結晶相の前記融解点が、1300℃から1450℃である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態12
前記第2の結晶相の前記融解点が、1425℃から1450℃である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態13
前記第1の結晶相の前記融解点が、1500℃より高く、前記第2の結晶相の前記融解点が、1500℃未満である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態14
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、10,000μmより大きいドメインサイズを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態15
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、15,000μmより大きいドメインサイズを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態16
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、20,000μmより大きいドメインサイズを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態17
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、25,000μmより大きいドメインサイズを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態18
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、30,000μmより大きいドメインサイズを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態19
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、3,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態20
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、4,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態21
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、5,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態22
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、6,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態23
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、7,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態24
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、10,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態25
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、15,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態26
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、20,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態27
前記第1の結晶相が、チアライトを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態28
前記第1の結晶相が、主にチアライトを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態29
前記第1の結晶相が、互いに固溶した複数の耐火材料を含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態30
前記第1の結晶相が、チアライトと固溶したMgTi2O5を含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態31
前記第1の結晶相が、ムライトを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態32
第3の結晶相をさらに含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態33
前記第1の結晶相が、ムライトを含み、前記第2の結晶相が、コーディエライトを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態34
前記第1の結晶相が、ムライトを含み、前記第2の結晶相が、コーディエライトを含み、第3の結晶相が、チアライトを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態35
前記第1の結晶相が、ムライトを含み、前記第2の結晶相が、コーディエライトを含み、チアライトおよびMgTi2O5を含む第3の結晶相をさらに含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態36
前記第3の結晶相が、ムライトを含む、実施形態32記載のセラミック材料。
実施形態37
前記第1の結晶相が、チアライトを含み、前記第2の結晶相が、コーディエライトを含む、実施形態32記載のセラミック材料。
実施形態38
前記第1の結晶相が、チアライトを含み、前記第2の結晶相が、コーディエライトを含み、前記第3の結晶相が、ムライトを含む、実施形態32記載のセラミック材料。
実施形態39
前記第1の結晶相が、チアライトおよびMgTi2O5を含む、実施形態32記載のセラミック材料。
実施形態40
前記第1の結晶相が、互いに固溶したチアライトおよびMgTi2O5を含む、実施形態32記載のセラミック材料。
実施形態41
前記第2の結晶相が、コーディエライトを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態42
前記第2の結晶相が、主にコーディエライトを含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態43
前記第2の結晶相が、コーディエライトから実質的になる、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態44
前記第2の結晶相が、コーディエライトである、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態45
前記第1の結晶相が、主たる擬ブルッカイト結晶構造を含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態46
前記第1の結晶相の少なくとも大部分が、分岐した固体のネットワークを提供し、前記第2の結晶相の少なくとも一部が、前記固体のネットワークの1つ以上の枝に直接隣接して配置される、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態47
前記第1の結晶相の最大ドメインサイズに対する、前記第2の結晶相の最大ドメインサイズの比は、6.0以上である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態48
前記第1の結晶相の最大ドメインサイズに対する、前記第2の結晶相の最大ドメインサイズの比は、7.0以上である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態49
前記第1の結晶相の最大ドメインサイズに対する、前記第2の結晶相の最大ドメインサイズの比は、8.0以上である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態50
前記第1の結晶相の最大ドメインサイズに対する、前記第2の結晶相の最大ドメインサイズの比は、10.0以上である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態51
前記第1の結晶相の最大ドメインサイズに対する、前記第2の結晶相の最大ドメインサイズの比は、15以上である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態52
前記第1の結晶相の最大ドメインサイズに対する、前記第2の結晶相の最大ドメインサイズの比は、20以上である、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態53
10,000μmより大きい前記第2の結晶相サイズのドメインが、前記第1の結晶相の粒と直接接触する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態54
10,000μmより大きい前記第2の結晶相サイズのドメインが、前記第1の結晶相の粒を少なくとも部分的に囲繞する、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態55
前記第1の結晶相が、1種以上の希土類酸化物をさらに含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態56
前記材料が、水銀圧入法で測定して、40%よりも高いバルク気孔率を含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態57
前記材料が、10μm以上のd10を有する孔径分布を有する複数の細孔を含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態58
前記材料が、15μm以上のd50を有する孔径分布を有する複数の細孔を含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態59
前記材料が、15から20μmのd50を有する孔径分布を有する複数の細孔を含む、実施形態1記載のセラミック材料。
実施形態60
実施形態1記載のセラミック材料からなる、セラミック構造体。
実施形態61
実施形態1記載のセラミック材料からなる少なくとも1つの壁からなる、セラミック構造体。
実施形態62
実施形態1記載のセラミック材料からなる交差壁のマトリクスからなる、セラミックハニカム構造体。
実施形態63
前記壁の少なくとも1つ上に配置された触媒ウォッシュコート材料をさらに含む、実施形態62記載のセラミックハニカム構造体。
実施形態64
実施形態1記載のセラミック材料からなる、ハニカム構造体を備える、フィルタ。
実施形態65
前記ハニカム構造体の複数のセル内に配置された複数のプラグをさらに備える、実施形態64記載のフィルタ。
実施形態66
第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相、
前記第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して2,500μmより大きい平均ドメインサイズを有する、第2の結晶相を含む、セラミック材料。
実施形態67
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、3,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態68
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、5,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態69
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、10,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態70
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、15,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態71
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、20,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態72
前記第1の結晶相が、チアライトを含む、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態73
前記第1の結晶相が、MgTi2O5をさらに含む、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態74
前記第2の結晶相が、コーディエライトを含む、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態75
第3の耐火材料を含む第3の結晶相をさらに含む、実施形態66記載のセラミック材料。
実施形態76
前記第3の結晶相が、ムライトを含む、実施形態75記載のセラミック材料。
実施形態77
第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、第1の融解点を有する、第1の結晶相と、
前記第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、4,000μmより大きいドメインサイズ、2,500μmより大きい平均ドメインサイズを含む、第2の結晶相を含む、セラミック材料。
実施形態78
前記第1の結晶相が、チアライトを含む、実施形態77記載のセラミック材料。
実施形態79
前記第1の結晶相が、MgTi2O5をさらに含む、実施形態77記載のセラミック材料。
実施形態80
前記第2の結晶相が、コーディエライトを含む、実施形態77記載のセラミック材料。
実施形態81
ムライトを含む第3の結晶相をさらに含む、実施形態77記載のセラミック材料。
実施形態82
複合セラミック材料からなる物品を製造する方法であって、当該方法は、
第1の耐火材料もしくはその前駆体、またはそれらの両方、および第2の耐火材料もしくはその前駆体、またはそれらの両方を含む初期混合物からなる物体を加熱することであって、前記加熱は、第1の耐火材料前駆体が存在する場合、前記第1の耐火材料の前駆体の少なくとも一部から第1の耐火材料が反応的に形成されるのを引き起こすのに十分なものであり、第2の耐火材料前駆体が存在する場合、前記第2の耐火材料の前駆体の少なくとも一部から第2の耐火材料が反応的に形成されるのを引き起こすのに十分なものであり、前記加熱は、前記加熱中に前記第2の耐火材料を融解せずに、前記第1の耐火材料の少なくとも一部を融解し、前記第2の耐火材料の少なくとも一部に接触させるのに十分なものである、加熱することと、次いで、
複合セラミック材料が形成されるように前記物体を冷却することと、を含み、前記複合セラミック材料は、前記第1の耐火材料からなる第1の結晶相、および前記第2の耐火材料からなる第2の結晶相を含み、当該第2の結晶相は、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、5,000μmより大きいドメインサイズを含む、方法。
実施形態83
前記加熱中に存在する前記第2の耐火材料のすべてが、前記加熱中に融解されるわけではない、実施形態82記載の方法。
実施形態84
融解していない第2の耐火材料が、前記第2の結晶相がエピタキシャルドメイン成長するための核生成部位を提供する、実施形態82記載の方法。
実施形態85
前記加熱中に存在する前記第2の耐火材料の少なくとも10%が、前記加熱中に融解される、実施形態82記載の方法。
実施形態86
前記加熱中に存在する前記第2の耐火材料の少なくとも20%が、前記加熱中に融解される、実施形態82記載の方法。
実施形態87
前記加熱中に存在する前記第2の耐火材料の少なくとも50%が、前記加熱中に融解される、実施形態82記載の方法。
実施形態88
前記加熱中に存在する前記第2の耐火材料の少なくとも90%が、前記加熱中に融解される、実施形態82記載の方法。
実施形態89
前記加熱中に存在する前記第2の耐火材料のすべてが、前記加熱中に融解される、実施形態82記載の方法。
実施形態90
前記混合物は、1種以上の細孔形成材料をさらに含む、実施形態82記載の方法。
実施形態91
ある平均バルク気孔率が前記セラミック材料に付与されるように、前記加熱が前記物体からの前記1種以上の細孔形成材料の燃え尽きを生じさせる、実施形態90記載の方法。
実施形態92
前記平均バルク気孔率が、40%以上である、実施形態91記載の方法。
実施形態93
前記第1の結晶相が、第1の融解点を有し、前記第2の結晶相が、前記第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する、実施形態82記載の方法。
実施形態94
前記加熱中に前記物体が達する最高温度は、第1の融解点未満である、実施形態82記載の方法。
実施形態95
前記加熱中に前記混合物が達する最高温度は、1300℃から1450℃である、実施形態82記載の方法。
実施形態96
前記第1の結晶相が、チアライトを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態97
前記第1の結晶相が、主にチアライトを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態98
前記第1の結晶相が、互いに固溶した複数の耐火材料を含む、実施形態82記載の方法。
実施形態99
前記第1の結晶相が、チアライトと固溶したMgTi2O5を含む、実施形態82記載の方法。
実施形態100
前記複合セラミック材料が、第3の結晶相をさらに含む、実施形態82記載の方法。
実施形態101
前記第3の結晶相が、第3の耐火材料を含む、実施形態100記載の方法。
実施形態102
前記第3の結晶相が、ムライトを含む、実施形態100記載の方法。
実施形態103
前記第1の結晶相が、チアライトおよびMgTi2O5を含む、実施形態82記載の方法。
実施形態104
前記第1の結晶相が、互いに固溶したチアライト、MgTi2O5、およびムライトを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態105
前記第2の結晶相が、コーディエライトを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態106
前記第2の結晶相が、主にコーディエライトを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態107
前記第2の結晶相が、コーディエライトから実質的になる、実施形態82記載の方法。
実施形態108
前記第2の結晶相が、コーディエライトである、実施形態82記載の方法。
実施形態109
コーディエライト前駆体が、前記初期混合物中に存在する、実施形態82記載の方法。
実施形態110
前記初期混合物が、コーディエライトを実質的に含まない、実施形態109記載の方法。
実施形態111
前記第1の結晶相が、主たる擬ブルッカイト結晶構造を含む、実施形態82記載の方法。
実施形態112
前記第1の結晶相の少なくとも大部分が、分岐した固体のネットワークを提供し、前記第2の結晶相の少なくとも一部が、前記固体のネットワークの1つ以上の枝に直接隣接して配置される、実施形態82記載の方法。
実施形態113
前記冷却が、80℃/時以下の速度で前記物体を冷やすことを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態114
前記冷却が、50℃/時以下の速度で前記物体を冷やすことを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態115
前記冷却が、40℃/時以下の速度で前記物体を冷やすことを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態116
前記冷却が、20℃/時以下の速度で前記物体を冷やすことを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態117
前記冷却が、前記物体の少なくとも一部が1200℃より高い温度を有するとき、80℃/時以下の速度で前記物体を冷やすことを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態118
前記冷却が、前記物体の少なくとも一部が1100℃より高い温度を有するとき、80℃/時以下の速度で前記物体を冷やすことを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態119
前記冷却が、前記物体の少なくとも一部が1000℃より高い温度を有するとき、80℃/時以下の速度で前記物体を冷やすことを含む、実施形態82記載の方法。
実施形態120
チアライトからなる第1の結晶相であって、第1の融解点および選択した断面平面における第1の最大ドメインサイズを有する、第1の結晶相、
前記第1の融解点よりも低い第2の融解点を有するコーディエライトからなり、前記選択した断面平面における第2の最大ドメインサイズを有する第2の結晶相を含み、前記第1の最大ドメインサイズに対する前記第2の最大ドメインサイズの比は6.0以上である、複合セラミック材料。
実施形態121
前記第1の最大ドメインサイズに対する前記第2の最大ドメインサイズの比が、7.0以上である、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態122
前記第1の最大ドメインサイズに対する前記第2の最大ドメインサイズの比が、8.0以上である、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態123
前記第1の最大ドメインサイズに対する前記第2の最大ドメインサイズの比が、10.0以上である、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態124
前記第1の最大ドメインサイズに対する前記第2の最大ドメインサイズの比が、15以上である、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態125
前記第1の最大ドメインサイズに対する前記第2の最大ドメインサイズの比が、20以上である、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態126
前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、5,000μmより大きいドメインサイズを有する、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態127
前記第1の結晶相が、前記材料の少なくとも50体積%を構成する、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態128
前記第2の結晶相が、前記材料の50体積%未満を構成する、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態129
前記第1の結晶相が、主にチアライトを含む、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態130
前記第1の結晶相が、互いに固溶した複数の耐火材料を含む、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態131
前記第1の結晶相が、チアライトと固溶したMgTi2O5を含む、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態132
第3の結晶相をさらに含む、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態133
前記第3の結晶相が、ムライトを含む、実施形態132記載のセラミック材料。
実施形態134
前記第1の結晶相が、チアライトを含み、前記第2の結晶相が、コーディエライトを含み、第3の結晶相が、ムライトを含む、実施形態132記載のセラミック材料。
実施形態135
前記第1の結晶相が、チアライトおよびMgTi2O5を含む、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態136
前記第1の結晶相が、互いに固溶したチアライトおよびMgTi2O5を含む、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態137
前記第2の結晶相が、主にコーディエライトを含む、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態138
前記第2の結晶相が、コーディエライトから実質的になる、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態139
前記第2の結晶相が、コーディエライトである、実施形態120記載のセラミック材料。
実施形態140
前記第1の結晶相が、主たる擬ブルッカイト結晶構造を含む、実施形態120記載のセラミック材料。
101 セラミックバッチ混合物

Claims (8)

  1. セラミック材料であって、
    第1の耐火材料からなる第1の結晶相であって、該第1の結晶相は、第1の融解点を有し、前記第1の結晶相は、前記材料の少なくとも50体積%を構成する、第1の結晶相と、
    前記第1の融解点よりも低い第2の融解点を有する第2の耐火材料からなる第2の結晶相であって、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して5,000μmより大きいドメインサイズを含む、第2の結晶相と、
    第3の結晶相を含み、
    前記第1の結晶相は、チアライト(tialite)を含み、前記第2の結晶相は、コーディエライトを含み、前記第3の結晶相は、ムライトを含むか、または
    前記第1の結晶相は、ムライトを含み、前記第2の結晶相は、コーディエライトを含み、前記第3の結晶相は、チアライトを含む、セラミック材料。
  2. 前記チアライトが、MgTiと固溶した状態で存在する、請求項1記載のセラミック材料。
  3. 前記第2の結晶相が、コーディエライトから実質的になる、請求項1または2記載のセラミック材料。
  4. 前記第1の結晶相が、チアライトからなり、選択した断面平面における第1の最大ドメインサイズを有し、前記第2の結晶相が、前記選択した断面平面における第2の最大ドメインサイズを有し、前記第1の最大ドメインサイズに対する前記第2の最大ドメインサイズの比が、6.0以上である、請求項1から3記載のセラミック材料。
  5. 前記第1の結晶相が、前記材料の少なくとも55重量%を構成し、前記第2の結晶相が、前記材料の35重量%未満を構成する、請求項1から4記載のセラミック材料。
  6. 前記第2の結晶相が、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、3,000μmより大きい平均ドメインサイズを有する、請求項1から5記載のセラミック材料。
  7. 前記第1の結晶相の最大ドメインサイズに対する、前記第2の結晶相の最大ドメインサイズの比が、7.0以上である、請求項1から6記載のセラミック材料。
  8. 複合セラミック材料からなる物品を製造する方法であって、該方法は、
    第1の耐火材料もしくはその前駆体、またはそれらの両方、および第2の耐火材料もしくはその前駆体、またはそれらの両方を含む初期混合物からなる物体を加熱することであって、前記加熱は、第1の耐火材料前駆体が存在する場合、前記第1の耐火材料の前駆体の少なくとも一部から第1の耐火材料が反応的に形成されるのを引き起こすのに十分なものであり、第2の耐火材料前駆体が存在する場合、前記第2の耐火材料の前駆体の少なくとも一部から第2の耐火材料が反応的に形成されるのを引き起こすのに十分なものであり、前記加熱は、前記加熱中に前記第2の耐火材料を融解せずに、前記第1の耐火材料の少なくとも一部を融解し、前記第2の耐火材料の少なくとも一部に接触させるのに十分なものである、加熱することと、次いで、
    複合セラミック材料が形成されるように前記物体を冷却することと、を含み、前記複合セラミック材料は、前記第1の耐火材料からなる第1の結晶相、および前記第2の耐火材料からなる第2の結晶相を含み、該第2の結晶相は、電子後方散乱回折(EBSD)で測定して、5,000μmより大きいドメインサイズを含み、
    前記第1の結晶相は、チアライト、またはMgTiもしくはムライトと固溶したチアライトを含み、前記第2の結晶相は、コーディエライトを含む、方法。
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