JP2019534575A - 電子デバイス製造用のロードポートの機器、システム、及び方法 - Google Patents

電子デバイス製造用のロードポートの機器、システム、及び方法 Download PDF

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Abstract

電子デバイス製造システムは、ロードポートを有するファクトリインターフェースを含む。ロードポートは、内部に開口部を有するパネル、及びドアが閉じたときに開口部を密封するキャリアドアオープナーを含み得る。キャリアドアオープナーは、ドアの外側部分に沿った溝を有し得る。溝は、三角プリズム錐台の断面形状を有し得る。中空のOリングが、溝内に嵌め込まれていてよく、キャリアドアオープナーがパネルに対して閉じたときに、パネルと係合するように構成されている。他の態様と同じように、電子機器製造システム用のファクトリインターフェースを組み立てる方法が提供される。【選択図】図4B

Description

関連出願の相互参照
本出願は、2016年11月10日に出願された、「ELECTRONIC DEVICE MANUFACTURING LOAD PORT APPARATUS, SYSTEMS, AND METHODS」と題する米国特許通常出願第15/348,947号(代理人整理番号24538-02/米国)に対する優先権を主張する。当該通常出願は、すべての目的のために、その全体が参照により本明細書に援用される。
本開示は、電子デバイス製造に関し、具体的には、ファクトリインターフェースとロードポートに関する。
半導体電子デバイスの製造における基板の処理は、概して複数の処理ツール内で実施されるが、この際、基板は、例えば前部開口一体型ポッド即ちFOUPといった基板キャリアの中で、処理ツール間を移動する。例えばイクイップメントフロントエンドモジュール即ちEFEMといったファクトリインターフェースのロードポートに対して、基板キャリアがドッキングされてよい。ファクトリインターフェースは、基板キャリアと処理ツールとの間で基板を移送するように操作可能な、ロボット基板ハンドラーを含み得る。基板キャリアとファクトリインターフェースの中に及びこれらの間に、並びにファクトリインターフェースと処理ツールの中に及びこれらの間に、環境制御された大気が供給されてよい。湿度、温度、酸素、及び/または汚染物質/粒子のレベルといった、様々な環境要因の不十分な制御は、基板特性および基板処理に悪影響を及ぼし得る。したがって、現存する電子デバイス製造システムは、ファクトリインターフェースにおける環境制御の改良によって、恩恵を受け得る。
したがって、改良された電子デバイス製造用のロードポートの機器、システム、及び方法が望まれている。
第1の態様によれば、電子デバイス製造システムのファクトリインターフェースが提供される。ファクトリインターフェースは、基板キャリアとのインターフェースとなるように構成されたロードポートを備える。ロードポートは、パネル開口部を有するパネル、及びキャリアドアオープナーを備える。キャリアドアオープナーは、キャリアドアオープナーが閉じたときにパネル開口部を密封し、ロードポートに位置付けられた基板キャリアのドアに接触してドアを開き、キャリアドアオープナーの外側部分に沿った溝を備える。ロードポートは、溝内に嵌め込まれている中空のOリングも備える。中空のOリングは、キャリアドアオープナーがパネルに対して閉じたときに、パネルと係合するように構成されている。
第2の態様によれば、電子デバイス製造システムが提供される。電子デバイス製造システムは、基板処理ツール及びファクトリインターフェースを備える。ファクトリインターフェースは、前側及び後ろ側を有するハウジングを備える。前側は前側開口部を有し、後ろ側は基板処理ツールに連結されている。ファクトリインターフェースは、基板キャリアとのインターフェースとなるように構成されたロードポートも備える。ロードポートは、前側開口部で前側に連結され且つパネル開口部を有するパネルを備える。ロードポートは、キャリアドアオープナーが閉じたときにパネル開口部を密封し、ロードポートに位置付けられた基板キャリアのドアに接触してドアを開き、キャリアドアオープナーの外側部分に沿った溝を備える、キャリアドアオープナーも備える。ロードポートは、溝内に嵌め込まれている中空のOリングを更に備える。中空のOリングは、キャリアドアオープナーがパネルに対して閉じたときに、パネルと係合するように構成されている。
第3の態様によれば、電子デバイス製造システム用のファクトリインターフェースを組み立てる方法が提供される。該方法は、基板キャリアとのインターフェースとなるように構成されたロードポートを設けることを含む。ロードポートは、パネル開口部を有するパネルを備える。該方法は、キャリアドアオープナーが閉じたときにパネル開口部を密封し、ロードポートに位置付けられた基板キャリアのドアに接触してドアを開き、キャリアドアオープナーの外側部分に沿った溝を備える、キャリアドアオープナーを設けることも含む。該方法は、中空のOリングを溝内に嵌め込むことを更に含む。中空のOリングは、キャリアドアオープナーがパネルに対して閉じたときに、パネルと係合するように構成されている。
本開示のこれらの及び他の実施形態による、さらなる他の態様、特徴、及び利点は、以下の詳細な説明、添付の特許請求の範囲、及び添付の図面から、容易に明らかであり得る。したがって、本明細書の図面及び説明は、本質的に例示的であると見なされるべきであり、限定的であるとは見なすべきではない。
以下に記載される図面は、例示のためだけのものであり、必ずしも縮尺どおりには描かれていない。これらの図面は、いかなる形においても、本開示の範囲を限定することは意図されていない。
本開示の実施形態による、電子デバイス製造システムの概略側面図を示す。 本開示の実施形態による、ロードポートの前面斜視図を示す。 本開示の実施形態による、ロードポートの簡略化した後面立面図を示す。 本開示の実施形態による、キャリアドアオープナーの前面立面図を示す。 本開示の実施形態による、図4Aの4B‐4B線に沿って切り取られたキャリアドアオープナーの部分断面図を示す。 本開示の実施形態による、電子デバイス製造システム用のファクトリインターフェースを組み立てる方法を示す。
ここで、添付の図面に示されている、本開示の例示的な実施形態を詳細に参照する。図面全体を通じて、可能な限り、同一または同様の部分について言及するのに同一の参照番号が使用される。
電子デバイスの製造は、基板特性及び/または基板処理に悪影響を及ぼし得る、望ましくない湿度、温度、酸素、及び/または汚染物質/粒子のレベルを低減するために、例えば基板キャリア、ロードポート、ファクトリインターフェース、及び処理ツールといった様々な構成要素の間で、制御された環境を維持する、及び/または設けることを含み得る。各構成要素間のインターフェースは、様々なシールを含み得る。これらのインターフェースは、基板が1つの構成要素から別の構成要素へ移動することを可能にするために、様々なドア、ドアオープナー、又は類似の機構が動く際に、繰り返し開閉(密封解除及び密封)を経験する。ある密封機構の繰り返し開閉は、構成要素のインターフェースを密封するために使用される材料の摩耗による望ましくない粒子の生成をもたらし得る。生成された粒子は、(例えば、処理されている基板を汚染することによって、基板上で実行されているプロセスに影響を与えるなど)基板の処理に悪影響を与えることがある。
一態様では、本開示の1以上の実施形態による電子デバイス製造システムが、改善されたロードポートのシールを含む。ある実施形態における改善されたロードポートのシールは、キャリアドアオープナーの外側部分に沿って延在している特定の形状及び寸法の溝内に嵌め込まれている、中空のOリングを採用し得る。中空のOリングと溝構成の組み合わせは、基板がファクトリインターフェースのロードポートを介して基板キャリアと処理ツールとの間で移動する際に繰り返されるキャリアドアオープナーの開閉にもかかわらず、粒子の生成を低減させ又は消去することができる。中空のOリングと溝構成の組み合わせは、例えば、キャリアドアオープナーを閉じるためにより少ない力を必要とすること、キャリアドアオープナーと関連する駆動構成要素及び他の部品とのよりロバストでない設計を必要とすること、及び/またはより大きい密封面積を有することを含む、他の利点を有し得る。
電子デバイス製造システム用のファクトリインターフェースを組み立てる方法を含む、改善されたロードポートのシールを図示し且つ説明する例示的な実施形態、及び他の態様のさらなる詳細が、図1から図5に関連して、以下でより詳細に説明されることとなる。
図1は、1以上の実施形態による、電子デバイス製造システム100の概略側面図を示している。電子デバイス製造システム100は、基板キャリア102、ロードポート104、ファクトリインターフェース106、及び基板処理ツール108を含み得る。ロードポート104は、ファクトリインターフェース106に連結されていてよく、ファクトリインターフェース106は、基板処理ツール108に連結されていてよい。ある実施形態では、電子デバイス製造システム100内にあるか、またはこのシステムに連結された機器(例えば、ガス供給ライン、真空ポンプなど、図示せず)は、それらのインターフェースにおける機構(例えば、ドア、ドアオープナー、ゲートバルブ、またはスリットバルブなど)の開閉状態に応じて、基板キャリア102、ロードポート104、ファクトリインターフェース106、及び基板処理ツール108のうちの1以上を、環境制御された雰囲気内(例えば、非反応性ガス及び/または不活性ガスの環境内、真空下など)に置き得る。
基板キャリア102は、1以上の基板を担持するように構成されていてよい。基板は、シリコン含有ディスクまたはウエハ、パターン済ウエハ、ガラスプレートといった、電子デバイスまたは回路構成要素の作製に用いられる任意の適切な物品であり得る。基板キャリア102は、ある実施形態では、例えば、前面開口式一体型ポッド即ちFOUPであってよく、キャリアドア110を含んでいてよい。ある実施形態では、キャリアドア110が、FOUPドアであってよい。
ロードポート104は、上に基板キャリア102を受容するように構成されていてよい。ロードポート104は、内部にキャリアドア110を受容するように構成されたパネル開口部114を有するパネル112を有していてよい。ロードポート104は、キャリアドアオープナー116であって、キャリアドア110に接触して(即ち、例えば、キャリアドア110を係止するか、キャリアドア110に別様に付着して)、キャリアドア110を開放し、基板キャリア102の中への及び基板キャリア102から外への基板の移動を可能にするように構成された、キャリアドアオープナー116も有していてよい。ある実施形態では、キャリアドアオープナー116は、キャリアドア110に接触し、パネル112をクリアにするのに十分なほどキャリアドア110を内側に(即ち、図1では右へ)動かし、次いでキャリアドア110を下方に動かして、基板キャリア102の中へのアクセスを提供することができる。
ファクトリインターフェース106は、前側118、後ろ側(rear side)120、頂部122、底部124、及び2つの側壁(個別には図示せず)を有するハウジング117を有する、任意の適切な筐体であってよい。前側118は、各ロードポート104を受容し各ロードポート104と連結するように構成された1以上の前側開口部126を有し得る。ファクトリインターフェース106は、基板キャリア102からファクトリインターフェース106を通して基板処理ツール108まで基板を移動させるように構成された、ロボット基板ハンドラー(図示せず)を含み得る。
基板処理ツール108は、1以上の基板に対して、例えば、物理的気相堆積(PVD)、化学気相堆積(CVD)、エッチング、アニール処理、予洗浄、金属または金属酸化物の除去などといった、1以上の処理を実施し得る。その中の基板に対して、他の処理が実施されてもよい。基板処理ツール108は、1以上のロードロックチャンバ、移送チャンバ、及び1以上の処理チャンバ(いずれも図示せず)を含み得る。1以上のロードロックチャンバは、ファクトリインターフェース106に連結されていてよく、その一方で、移送チャンバは、その1以上のロードロックチャンバ及び1以上の処理チャンバに連結されていてよい。ファクトリインターフェース106のロボット基板ハンドラーは、1以上のロードロックチャンバの中に、または1以上のロードロックチャンバから外に基板を移動させ得る。基板処理ツール108は、少なくとも部分的に移送チャンバ内に収容された移送ロボット(図示せず)を含み得る。移送ロボットは、1以上のロードロックチャンバと1以上の処理チャンバとの間で基板を移動させるように構成されていてよい。
図2は、1以上の実施形態による、ロードポート204の前面斜視図を示している。ある実施形態では、ロードポート204は、ロードポート104と同一または同様であってよい。ロードポート204は、パネル開口部214を有するパネル212を含んでいてよい。ロードポート204は、キャリアドアオープナー216であって、パネル212に対して閉じているときに、パネル開口部214を密封する、キャリアドアオープナー216も含み得る。キャリアドアオープナー216は、基板キャリア102のキャリアドア110と接触しキャリアドア110に付着するように構成された1以上のコネクタ228を有し得る。コネクタ228は、例えば、負圧タイプのデバイス、真空デバイスなどであり得る。キャリアドア110に付着することができる他の適切な種類のコネクタデバイスも使用され得る。パネル212から外向きに延びる、マウント用テーブル230が設けられてよい。マウント用テーブル230は、上に基板キャリア102を受容するように構成されていてよい。基板キャリア102をマウント用テーブル230上の適切な位置にロックするために、マウント用テーブル230上に、及び/またはマウント用テーブル230の周囲に、様々な機構(図示せず)が含まれていてよい。ロードポート204は、ある実施形態では、キャリアドアオープナー216をキャリアドア110に付着させ図1に関連して上述したようにキャリアドア110を開放し得るキャリアドアオープナー216に連結された開閉機構(図2では図示せず)を収容し得る下側部分232をさらに含み得る。
図3は、1以上の実施形態による、ロードポート304の後面図を示している。ある実施形態では、ロードポート304が、ロードポート104及び/または204と同一または同様であってよい。ロードポート304は、パネル312、並びにパネル312の外側部分及び/または周縁部の周りで延在するシール334を含み得る。ロードポート304とファクトリインターフェース106などのファクトリインターフェースが共に連結されているときに、ロードポート304と、ファクトリインターフェース106などのファクトリインターフェースとの間のインターフェースを、シール334が密封していてよい。ロードポート304は、キャリアドアオープナー316も含み得る。キャリアドアオープナー316は、キャリアドアオープナー316がパネル312に対して閉じているときに、パネル開口部(図3では図示せず)を密封する。ロードポート304は、図1及び/または図2に関連して上述したようにキャリアドアオープナー316を開閉し得る開閉機構336(図3で部分的に示す)をさらに含んでいてよい。キャリアドアオープナー316が、(図1の基板キャリア102の基板キャリアドア110などの)基板キャリアドアに付着しているときに、開閉機構336は、パネル開口部から離れるように後退し、基板キャリアドア110をパネル開口部の下方に下げて、基板キャリア内の基板へのアクセスを可能にする。昇降機構(図示せず)は、キャリアドアオープナー316及びキャリアドアオープナー316によって支持された任意の基板キャリアドアを、パネル開口部(図2のパネル開口部214)に対して下げたり上げたりすることができる。キャリアドアオープナー316は、パネル開口部よりもわずかに大きくてよい。それによって、キャリアドアオープナー316は、以下でより詳細に説明されるように、パネル312の後面338と係合することによってパネル開口部を密封することができる。
図4A及び図4Bは、1以上の実施形態による、キャリアドアオープナー416を示している。ある実施形態では、キャリアドアオープナー416が、キャリアドアオープナー116、216、及び/または316と同一または同様であってよい。図4Aは、キャリアドアオープナー416の前面440を示している。ある実施形態では、キャリアドアオープナー416が、FOUPドアに付着するように構成された2以上の係止キー448を有していてよい。FOUPドアは、図1から図3との関連で上述された基板キャリア102のキャリアドア110と同一または同様であってよい。キャリアドアオープナー416は、ある実施形態では矩形状を有する外周442を有し得る。他の適切な形状が可能である。キャリアドアオープナー416は、溝444であって、キャリアドアオープナー416の外側部分に沿って延在し、ある実施形態では、外周442の全体に沿って延在するする溝444を有し得る。キャリアドアオープナー416は、溝444内に嵌め込まれた中空のOリング446であって、キャリアドアオープナー416がパネルに対して閉じたときに、(図1から図3のそれぞれのロードポート104、204、及び/または304のパネル112、212、及び/または312などの)ロードポートのパネルの後面438(図4B)または後面338(図3)と係合するように構成された、中空のOリング446も有し得る。図4Bで示されているように、キャリアドアオープナー416は、パネル開口部414の周縁よりもわずかに大きくなり得る。それによって、キャリアドアオープナー416は、閉じたときに後面438と係合することによってパネル開口部414を密封することができる。
図4Bで示されているように、溝444は、三角プリズム錐台の形状に類似した断面形状を有し得る。すなわち、溝444の断面形状は、上部が底部に平行な平面で切り取られた三角プリズムの底部に似ていてよい。示されている実施形態では、三角プリズムの側部と底部との間のインターフェースが滑らかにされ又は丸められている。より険しい側部/底部インターフェース及び/またはインターフェース構成が使用され得る。ある実施形態では、溝444が、約5から6mmまでの範囲内の頂幅TW、約8.5から9.5mmまでの範囲内の底幅BW、及び約4から5mmまでの範囲内の深さDを有し得る。1以上の実施形態では、深さDがOリング446の直径未満であり得る。ある実施形態では、溝444の底幅BWに対する頂幅TWの比が、約0.58から約0.65まであり得る。他の適切な溝の幅及び/または深さが用いられてもよい。
ある実施形態では、中空のOリング446が、約0.762から1.016mmまでの範囲内の壁厚を有し得る。ある実施形態では、中空のOリング446が、約0.22から0.27インチ(約5.6から6.85mm)までの外径を有し得る。ある実施形態では、中空のOリング446が、約60から75までの範囲内のジュロメーター硬さ(durometer hardness)を有し得る。他の適切な壁厚、直径、及び/または硬さが用いられてもよい。ある実施形態では、中空のOリング446が、スラリ仕上げ面を有し得る。1以上の実施形態では、後面438が、約14.5から17.5μm以下の表面粗さRaを有し得る。溝444の深さDに対するOリング446の直径の比は、例えば、約1.35から1.45までであり得る。他の適切な表面仕上げ、後面の粗さ、及び/または直径と深さの比が採用されてもよい。中空のOリング446は、後面438に対して中空のOリング446を圧縮及び密封するために、より少ない力が必要とされ得るという点で、中実Oリングよりも有利であり得る。例えば、25%の圧縮で中空のOリング446を密封するために使用とされる力は、約52インチ(約132.1cm)の長さに対して、約84から216N(ニュートン)までの範囲内にあり得る。更に、ある実施形態では、キャリアドアオープナー416/溝444/後面438の設計が、次のようになっていてよい。すなわち、中空のOリング446は、+/-0.5mmの非平行または非平坦状態などの、これらの構成要素間の非平行または非平坦状態に適応することができ、それでもなお効果的な密封を提供することができる。他の非平行又は非平坦状態に適応することもできる。
ある実施形態では、基板キャリアが、基板キャリアドアを基板キャリアに固定するロック機構または係止機構を有し得る。1以上の実施形態では、キャリアドアオープナー416が、(例えば、時計回りまたは反時計回りの回転を介して)基板キャリアドアとのインターフェースとなり、それを係止し、係止解除し、ロックし、またはロック解除する、1以上のキーまたは係止機構448(図4A)を含み得る。
図5は、1以上の実施形態による、電子デバイス製造システム用のファクトリインターフェースを組み立てる方法500を示している。方法500は、プロセスブロック502で、基板キャリアとのインターフェースとなるように構成され、パネル開口部を有するパネルを備えた、ロードポートを設けることを含み得る。例えば、図1及び図2を参照すると、基板キャリア102とのインターフェースとなるように構成され、パネル開口部114または214を有するパネル112または212を備え得る、ロードポート104または204が設けられ得る。
プロセスブロック504では、キャリアドアオープナーが閉じたときにパネル開口部を密封し、ロードポートに位置付けられた基板キャリアのドアに接触してドアを開き、キャリアドアオープナーの外側部分に沿って延在する溝を備える、キャリアドアオープナーが設けられ得る。図1、図4A、及び図4Bで示されているように、例えば、キャリアドアオープナー416が閉じたときにパネル開口部414を密封し、ロードポート104に位置付けられた基板キャリア102のキャリアドア110に接触してキャリアドア110を開き、キャリアドアオープナー416の外側部分に沿った溝444を有し得る、キャリアドアオープナー416が設けられ得る。
方法500は、プロセスブロック506において、中空のOリングを溝の中に嵌め込むことを含み得る。中空のOリングは、キャリアドアオープナーがパネルに対して閉じたときにパネルと係合する。例えば、図4Bで示されているように、中空のOリング446は、溝444の中に嵌め込まれてもよい。キャリアドアオープナー416が閉じたときに、中空のOリング446は、ロードポートのパネルの後面438と係合し得る。
方法500の上述のプロセスブロックは、図示され説明された順序及びシーケンスには限定されない順序またはシーケンスで実施又は実行され得る。例えば、ある実施形態では、プロセスブロック504が、プロセスブロック502と同時に、或いは、プロセスブロック502の後で実行されてもよい。
前述の説明は、本開示の例示的な実施形態を開示しているにすぎない。上記で開示されている機器、システム、及び方法に対する変更形態は、本開示の範囲内に含まれる。したがって、本開示の例示的な実施形態が開示されてきたが、以下の特許請求の範囲によって規定されるように、他の実施形態も本開示の範囲内に含まれ得るということは、理解されるべきである。

Claims (15)

  1. 基板キャリアとのインターフェースとなるように構成されたロードポートのためのキャリアドアオープナーであって、
    前記キャリアドアオープナーの外側部分に沿った溝、及び
    前記溝内に嵌め込まれている中空のOリングであって、前記キャリアドアオープナーが前記ロードポートのパネルに対して閉じたときに前記パネルと係合するように構成された中空のOリングを備え、
    前記キャリアドアオープナーは、前記キャリアドアオープナーが閉じたときに前記ロードポートのパネル開口部を密封し、前記ロードポートに位置付けられた基板キャリアのドアに接触して前記ドアを開くように構成されている、キャリアドアオープナー。
  2. 電子デバイス製造システムのファクトリインターフェースであって、
    基板キャリアとのインターフェースとなるように構成されたロードポートを備え、前記ロードポートが、
    パネル開口部を有するパネル、及び
    請求項1に記載のキャリアドアオープナーを備える、ファクトリインターフェース。
  3. 前記キャリアドアオープナーの前記溝が、前記キャリアドアオープナーの外周に沿って延在しているか、或いは、三角プリズム錐台の断面形状を有している、請求項2に記載のファクトリインターフェース。
  4. 前記溝の深さに対する前記Oリングの直径の比が、約1.35から1.45までであるか、或いは、前記Oリングが、約0.762mmから約1.016mmまでの壁厚を有している、請求項2に記載のファクトリインターフェース。
  5. 前記Oリングが、スラリ仕上げ面を有する、請求項2に記載のファクトリインターフェース。
  6. 前記溝が、約0.58から約0.65までの底幅に対する頂幅の比を有しているか、或いは、前記溝が、前記Oリングの直径未満の深さを有している、請求項2に記載のファクトリインターフェース。
  7. 基板処理ツール、並びに
    ファクトリインターフェースを備え、前記ファクトリインターフェースが、
    前側と後ろ側を有するハウジングであって、前記前側が前側開口部を有し、前記後ろ側が前記基板処理ツールに連結されている、ハウジング、及び
    基板キャリアとのインターフェースとなるように構成されたロードポートを備え、前記ロードポートが、
    前記前側開口部で前記前側に連結され且つパネル開口部を有するパネル、
    キャリアドアオープナーであって、前記キャリアドアオープナーが閉じたときに前記パネル開口部を密封し、前記ロードポートに位置付けられた基板キャリアのドアに接触して前記ドアを開き、前記キャリアドアオープナーの外側部分に沿った溝を備えるキャリアドアオープナー、及び
    前記溝内に嵌め込まれている中空のOリングであって、前記キャリアドアオープナーが前記パネルに対して閉じたときに前記パネルと係合するように構成された中空のOリングを備える、電子デバイス製造システム。
  8. 前記キャリアドアオープナーの前記溝が、前記キャリアドアオープナーの外周に沿って延在している、請求項7に記載の電子デバイス製造システム。
  9. 前記溝が、約0.58から約0.65までの底幅に対する頂幅の比を有しているか、或いは、三角プリズム錐台の断面形状を有している、請求項7に記載の電子デバイス製造システム。
  10. 前記溝が、前記Oリングの直径未満の深さを有する、請求項7に記載の電子デバイス製造システム。
  11. 前記溝の深さに対する前記Oリングの直径の比が、約1.35から約1.45までである、請求項7に記載の電子デバイス製造システム。
  12. 電子デバイス製造システム用のファクトリインターフェースを組み立てる方法であって、
    基板キャリアとのインターフェースとなるように構成され、パネル開口部を有するパネルを備えた、ロードポートを設けること、
    キャリアドアオープナーであって、前記キャリアドアオープナーが閉じたときに前記パネル開口部を密封し、前記ロードポートに位置付けられた基板キャリアのドアに接触して前記ドアを開き、前記キャリアドアオープナーの外側部分に沿った溝を備えるキャリアドアオープナーを設けること、及び
    前記キャリアドアオープナーが前記パネルに対して閉じたときに前記パネルと係合するように構成された中空のOリングを、前記溝の中に嵌め込むことを含む、方法。
  13. 前記キャリアドアオープナーを設けることが、溝であって、三角プリズム錐台の断面形状を有しているか、或いは、約0.58から約0.65までの底幅に対する頂幅の比を有している溝を備えた、前記キャリアドアオープナーを設けることを含む、請求項12に記載の方法。
  14. 前記中空のOリングを嵌め込むことが、前記溝の深さに対する前記Oリングの直径の比が約1.35から約1.45までである前記中空のOリングを、前記溝の中に嵌め込むことを含む、請求項12に記載の方法。
  15. 前記ロードポートに連結されるように構成された前側を有するファクトリインターフェースハウジングであって、前記前側が前記ロードポートを受容するように構成された前側開口部を有する、ファクトリインターフェースハウジングを設けることを更に含む、請求項12に記載の方法。
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10541165B2 (en) 2016-11-10 2020-01-21 Applied Materials, Inc. Systems, apparatus, and methods for an improved load port backplane
US10262884B2 (en) 2016-11-10 2019-04-16 Applied Materials, Inc. Systems, apparatus, and methods for an improved load port
US10453727B2 (en) 2016-11-10 2019-10-22 Applied Materials, Inc. Electronic device manufacturing load port apparatus, systems, and methods
US10446428B2 (en) 2017-03-14 2019-10-15 Applied Materials, Inc. Load port operation in electronic device manufacturing apparatus, systems, and methods
KR102423761B1 (ko) 2017-06-23 2022-07-20 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 인덱서블 측면 저장 포드 장치, 가열식 측면 저장 포드 장치, 시스템들, 및 방법들
US10388547B2 (en) 2017-06-23 2019-08-20 Applied Materials, Inc. Side storage pods, equipment front end modules, and methods for processing substrates
US10763134B2 (en) 2018-02-27 2020-09-01 Applied Materials, Inc. Substrate processing apparatus and methods with factory interface chamber filter purge
KR20230120307A (ko) * 2022-02-09 2023-08-17 주식회사 저스템 Efem의 버퍼 챔버 장치 및 이를 구비한 반도체 공정장치

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002184831A (ja) * 2000-12-11 2002-06-28 Hirata Corp Foupオープナ
JP2002357271A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Sony Corp 密閉部材及び半導体収納容器
JP2006086308A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置
JP2014112631A (ja) * 2012-10-31 2014-06-19 Tdk Corp ロードポートユニット及びefemシステム
JP2015146347A (ja) * 2014-01-31 2015-08-13 シンフォニアテクノロジー株式会社 ロードポート及びefem
JP2016178133A (ja) * 2015-03-19 2016-10-06 シンフォニアテクノロジー株式会社 ドア開閉装置、搬送装置、ソータ装置、収納容器のドッキング方法

Family Cites Families (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63178958A (ja) * 1986-12-27 1988-07-23 キヤノン株式会社 防塵容器
JP2525284B2 (ja) * 1990-10-22 1996-08-14 ティーディーケイ株式会社 クリ―ン搬送方法及び装置
JPH07183354A (ja) * 1993-12-24 1995-07-21 Tokyo Electron Ltd 基板の搬送システム及び基板の搬送方法
JPH08195426A (ja) * 1995-01-18 1996-07-30 Hitachi Ltd 真空搬送用インターフェイス装置
JPH11101356A (ja) * 1997-09-26 1999-04-13 Kokusai Electric Co Ltd Oリングを有する密閉構造
US6168364B1 (en) * 1999-04-19 2001-01-02 Tdk Corporation Vacuum clean box, clean transfer method and apparatus therefor
WO2002003431A2 (en) 2000-06-30 2002-01-10 Ajs Automation, Inc. Apparatus and methods for semiconductor wafer processing equipment
US6939206B2 (en) * 2001-03-12 2005-09-06 Asm Nutool, Inc. Method and apparatus of sealing wafer backside for full-face electrochemical plating
JP5051948B2 (ja) * 2001-05-30 2012-10-17 株式会社ダイヘン カセット搬送方法及びカセット搬送システム
JP2005520321A (ja) * 2001-07-16 2005-07-07 アシスト テクノロジーズ インコーポレイテッド ツールのフロントエンド加工物処理のための統合システム
JP3880343B2 (ja) 2001-08-01 2007-02-14 株式会社ルネサステクノロジ ロードポート、基板処理装置および雰囲気置換方法
US7204669B2 (en) 2002-07-17 2007-04-17 Applied Materials, Inc. Semiconductor substrate damage protection system
US8648977B2 (en) * 2004-06-02 2014-02-11 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for providing a floating seal having an isolated sealing surface for chamber doors
JP2006216913A (ja) * 2005-02-07 2006-08-17 Seiko Epson Corp 基板収納容器、基板搬送装置、基板搬送方法及び半導体製造装置
JP4847032B2 (ja) * 2005-03-18 2011-12-28 株式会社日立国際電気 基板処理装置および基板検出方法
US20060285944A1 (en) * 2005-06-21 2006-12-21 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. FOUP loading load lock
WO2007078406A2 (en) * 2005-12-16 2007-07-12 Applied Materials, Inc. Methods and apparatus for opening and closing substrate carriers
JP2008166505A (ja) 2006-12-28 2008-07-17 Hitachi High-Tech Control Systems Corp 半導体製造装置用ロードポート取り付け調整装置
US8870512B2 (en) 2007-10-27 2014-10-28 Applied Materials, Inc. Sealed substrate carriers and systems and methods for transporting substrates
WO2012089732A1 (en) * 2010-12-29 2012-07-05 Oc Oerlikon Balzers Ag Vacuum treatment apparatus and a method for manufacturing
US9476202B2 (en) 2011-03-28 2016-10-25 Owens Corning Intellectual Capital Llc Foam board with pre-applied sealing material
FR2987515B1 (fr) * 2012-02-29 2015-01-23 Valeo Sys Controle Moteur Sas Dispositif de detection d'un courant de fuite comprenant une composante continue, embarque dans un vehicule, et applications dudit dispositif
CN105453246A (zh) 2013-08-12 2016-03-30 应用材料公司 具有工厂接口环境控制的基板处理系统、装置和方法
US20150311100A1 (en) * 2014-04-23 2015-10-29 Tdk Corporation Load port unit and efem system
KR101619160B1 (ko) * 2014-07-14 2016-05-18 (주)에스엔텍 기판 캐리어
CN107004624B (zh) 2014-11-25 2020-06-16 应用材料公司 具有基板载体和净化腔室环境控制的基板处理系统、设备和方法
US10159169B2 (en) 2016-10-27 2018-12-18 Applied Materials, Inc. Flexible equipment front end module interfaces, environmentally-controlled equipment front end modules, and assembly methods
US10541165B2 (en) 2016-11-10 2020-01-21 Applied Materials, Inc. Systems, apparatus, and methods for an improved load port backplane
US10453727B2 (en) 2016-11-10 2019-10-22 Applied Materials, Inc. Electronic device manufacturing load port apparatus, systems, and methods
US10262884B2 (en) 2016-11-10 2019-04-16 Applied Materials, Inc. Systems, apparatus, and methods for an improved load port

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002184831A (ja) * 2000-12-11 2002-06-28 Hirata Corp Foupオープナ
JP2002357271A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Sony Corp 密閉部材及び半導体収納容器
JP2006086308A (ja) * 2004-09-15 2006-03-30 Hitachi Kokusai Electric Inc 半導体製造装置
JP2014112631A (ja) * 2012-10-31 2014-06-19 Tdk Corp ロードポートユニット及びefemシステム
JP2015146347A (ja) * 2014-01-31 2015-08-13 シンフォニアテクノロジー株式会社 ロードポート及びefem
JP2016178133A (ja) * 2015-03-19 2016-10-06 シンフォニアテクノロジー株式会社 ドア開閉装置、搬送装置、ソータ装置、収納容器のドッキング方法

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