JP2019522897A5 - - Google Patents

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  1. 入力画像からシミュレーション画像を生成するように構成されたシステムであって、
    標本にエネルギーを向け、前記標本からのエネルギーを前記標本自身及び撮像ハードウェアを用いて検出することで前記標本の画像を取得するように構成された1つ以上のコンピュータサブシステムと、
    前記1つ以上のコンピュータサブシステムによって実行される1つ以上の構成要素と
    を備え、前記1つ以上の構成要素は、
    ニューラルネットワークを備え、前記ニューラルネットワークは、
    前記標本のための画像の特徴部を決定するように構成され、前記画像は前記標本の低解像度画像である、2つ以上のエンコーダ層と、
    決定された前記特徴部から1つ以上のシミュレーション画像を生成するように構成された2つ以上のデコーダ層であって、前記1つ以上のシミュレーション画像は、前記標本の1つ以上の高解像度画像であり、前記ニューラルネットワークは、深層生成的モデルとして構成され、前記ニューラルネットワークが、全結合層を備えず、それにより前記2つ以上のエンコーダ層に入力される画像のサイズに対する制約を除去する、2つ以上のデコーダ層と、を備えるシステム。
  2. 請求項1に記載のシステムであって、前記ニューラルネットワークは、さらに、完全畳み込みモデルとして構成されているシステム。
  3. 請求項1に記載のシステムであって、前記ニューラルネットワークは、さらに、生成的敵対的モデルとして構成されているシステム。
  4. 請求項1に記載のシステムであって、前記ニューラルネットワークは、さらに、条件付き生成的敵対的ネットとして構成されているシステム。
  5. 請求項1に記載のシステムであって、前記ニューラルネットワークは、さらに、生成的敵対的ネットワークおよび変分オートエンコーダとして構成されているシステム。
  6. 請求項1に記載のシステムであって、前記ニューラルネットワークの一部分は、さらに、畳み込みニューラルネットワークとして構成されているシステム。
  7. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステム、前記1つ以上の構成要素、および前記ニューラルネットワークは、前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像をクロッピングしないシステム。
  8. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステム、前記1つ以上の構成要素、および前記ニューラルネットワークは、2つ以上のクロッピングされた画像から前記1つ以上のシミュレーション画像を再構築しないシステム。
  9. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステムは、さらに、前から存在するニューラルネットワーク内の全結合層を畳み込み層のグループで置き換え、それにより前記ニューラルネットワークを作成することによって、前記ニューラルネットワークを設定するように構成されているシステム。
  10. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステムは、境界効果を変更するためにfovy減衰重み付け損失関数を使用して前記ニューラルネットワークをトレーニングするように構成されているシステム。
  11. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステムは、各々が同じ任意サイズを有するトレーニング画像のバッチを使用して前記ニューラルネットワークをトレーニングするように構成されているシステム。
  12. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステムは、トレーニング画像のバッチを使用して前記ニューラルネットワークをトレーニングするように構成され、前記バッチ内の前記トレーニング画像のうちの2つ以上は、異なる任意サイズを有するシステム。
  13. 請求項1に記載のシステムであって、前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像は、前記標本のために生成された全体フレーム画像であるシステム。
  14. 請求項1に記載のシステムであって、前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像は、前記標本のための全体ダイ画像であるシステム。
  15. 請求項1に記載のシステムであって、前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像は、電子ビームベースの撮像システムによって生成されるシステム。
  16. 請求項1に記載のシステムであって、前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像は、光学ベースの撮像システムによって生成されるシステム。
  17. 請求項1に記載のシステムであって、前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像は、検査システムによって生成されるシステム。
  18. 請求項1に記載のシステムであって、前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像は、計測システムによって生成されるシステム。
  19. 請求項1に記載のシステムであって、前記標本がウェハであるシステム。
  20. 請求項1に記載のシステムであって、前記標本がレチクルであるシステム。
  21. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステムは、前記1つ以上のシミュレーション画像に基づいて前記標本上の欠陥を検出するように構成されているシステム。
  22. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステムは、前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像または前記1つ以上のシミュレーション画像内で検出された欠陥を分類するように構成されており、前記分類は、前記1つ以上のシミュレーション画像に基づいて実施されるシステム。
  23. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステムは、前記標本の1つ以上の特徴部、または前記1つ以上のシミュレーション画像に基づいて前記標本上で検出された欠陥を測定するように構成されているシステム。
  24. 請求項1に記載のシステムであって、前記1つ以上のコンピュータサブシステムは、前記1つ以上のシミュレーション画像を前記2つ以上のエンコーダ層に入力される前記画像と実質的に同じにレンダリングする前記特徴部の値を決定することによって、前記標本上の1つ以上の構造の表現を学習するように構成されているシステム。
  25. 入力画像からシミュレーション画像を生成するように構成されたシステムであって、
    標本にエネルギーを向け、前記標本からのエネルギーを前記標本自身及び撮像ハードウェアを用いて検出することで前記標本の画像を生成するように構成され、前記画像は前記標本の低解像度画像である、撮像サブシステムと、
    前記画像を取得するように構成された1つ以上のコンピュータサブシステムと、
    前記1つ以上のコンピュータサブシステムによって実行される1つ以上の構成要素と
    を備え、前記1つ以上の構成要素は、
    ニューラルネットワークを備え、前記ニューラルネットワークは、
    前記画像の特徴部を決定するように構成された2つ以上のエンコーダ層と、
    決定された前記特徴部から1つ以上のシミュレーション画像を生成するように構成された2つ以上のデコーダ層であって、前記1つ以上のシミュレーション画像は、前記標本の1つ以上の高解像度画像であり、前記ニューラルネットワークは、深層生成的モデルとして構成され、前記ニューラルネットワークが、全結合層を備えず、それにより前記2つ以上のエンコーダ層に入力される画像のサイズに対する制約を除去する、2つ以上のデコーダ層と、を備えるシステム。
  26. 入力画像からシミュレーション画像を生成するためのコンピュータ実装の方法を実施するための1つ以上のコンピュータシステムに対して実行可能なプログラム命令を格納する非一時的なコンピュータ可読媒体であって、前記コンピュータ実装の方法は、
    標本にエネルギーを向け、前記標本からのエネルギーを前記標本自身及び撮像ハードウェアを用いて検出することで前記標本のための画像を取得することと、
    前記画像をニューラルネットワークの2つ以上のエンコーダ層に入力することによって前記標本のための前記画像の特徴部を決定することであり、前記画像は前記標本の低解像度画像であり、前記ニューラルネットワークは、深層生成的モデルとして構成され、前記ニューラルネットワークが、全結合層を備えず、それにより前記2つ以上のエンコーダ層に入力される画像のサイズに対する制約を除去する、決定することと、
    決定された前記特徴部から1つ以上のシミュレーション画像を生成することであって、前記1つ以上のシミュレーション画像は、前記標本の1つ以上の高解像度画像であり、前記1つ以上のシミュレーション画像を生成することは、前記ニューラルネットワークの2つ以上のデコーダ層によって実施され、前記取得すること、前記決定すること、および前記生成することは、前記1つ以上のコンピュータシステムによって実施され、1つ以上の構成要素は、前記1つ以上のコンピュータシステムによって実行され、前記1つ以上の構成要素は、前記ニューラルネットワークを備える、生成することと、を含む非一時的なコンピュータ可読媒体。
  27. 入力画像からシミュレーション画像を生成するためのコンピュータ実装の方法であって、
    標本にエネルギーを向け、前記標本からのエネルギーを前記標本自身及び撮像ハードウェアを用いて検出することで前記標本のための画像を取得することと、
    前記画像をニューラルネットワークの2つ以上のエンコーダ層に入力することによって前記標本のための前記画像の特徴部を決定することであり、前記画像は前記標本の低解像度画像であり、前記ニューラルネットワークは、深層生成的モデルとして構成され、前記ニューラルネットワークが、全結合層を備えず、それにより前記2つ以上のエンコーダ層に入力される画像のサイズに対する制約を除去する、決定することと、
    決定された前記特徴部から1つ以上のシミュレーション画像を生成することであって、前記1つ以上のシミュレーション画像を生成することは、前記ニューラルネットワークの2つ以上のデコーダ層によって実施され、前記1つ以上のシミュレーション画像は、前記標本の1つ以上の高解像度画像であり、前記取得すること、前記決定すること、および前記生成することは、前記1つ以上のコンピュータシステムによって実施され、1つ以上の構成要素は、前記1つ以上のコンピュータシステムによって実行され、前記1つ以上の構成要素は、前記ニューラルネットワークを備える、生成することと、を含むコンピュータ実装の方法。
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Families Citing this family (87)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10373055B1 (en) 2016-05-20 2019-08-06 Deepmind Technologies Limited Training variational autoencoders to generate disentangled latent factors
US10083499B1 (en) * 2016-10-11 2018-09-25 Google Llc Methods and apparatus to reduce compression artifacts in images
US10395362B2 (en) 2017-04-07 2019-08-27 Kla-Tencor Corp. Contour based defect detection
US11237872B2 (en) 2017-05-23 2022-02-01 Kla-Tencor Corporation Semiconductor inspection and metrology systems for distributing job among the CPUs or GPUs based on logical image processing boundaries
US11049018B2 (en) 2017-06-23 2021-06-29 Nvidia Corporation Transforming convolutional neural networks for visual sequence learning
US10776903B2 (en) 2017-07-17 2020-09-15 Open Text Corporation Systems and methods for image modification and image based content capture and extraction in neural networks
US10902252B2 (en) 2017-07-17 2021-01-26 Open Text Corporation Systems and methods for image based content capture and extraction utilizing deep learning neural network and bounding box detection training techniques
US20190035113A1 (en) * 2017-07-27 2019-01-31 Nvidia Corporation Temporally stable data reconstruction with an external recurrent neural network
US10805519B2 (en) 2017-08-08 2020-10-13 Mediatek Inc. Perception-based image processing apparatus and associated method
US10699926B2 (en) 2017-08-30 2020-06-30 Kla-Tencor Corp. Identifying nuisances and defects of interest in defects detected on a wafer
US10713534B2 (en) 2017-09-01 2020-07-14 Kla-Tencor Corp. Training a learning based defect classifier
KR102563752B1 (ko) * 2017-09-29 2023-08-04 삼성전자주식회사 뉴럴 네트워크를 위한 트레이닝 방법, 뉴럴 네트워크를 이용한 인식 방법 및 그 장치들
US11250329B2 (en) 2017-10-26 2022-02-15 Nvidia Corporation Progressive modification of generative adversarial neural networks
US11263525B2 (en) 2017-10-26 2022-03-01 Nvidia Corporation Progressive modification of neural networks
TWI649659B (zh) 2017-10-27 2019-02-01 財團法人工業技術研究院 自動光學檢測影像分類方法、系統及含有該方法之電腦可讀取媒體
TWI653605B (zh) * 2017-12-25 2019-03-11 由田新技股份有限公司 利用深度學習的自動光學檢測方法、設備、電腦程式、電腦可讀取之記錄媒體及其深度學習系統
US11257207B2 (en) * 2017-12-28 2022-02-22 Kla-Tencor Corporation Inspection of reticles using machine learning
WO2019171415A1 (en) * 2018-03-05 2019-09-12 Nec Corporation Speech feature compensation apparatus, method, and program
CN108596871A (zh) * 2018-03-08 2018-09-28 中北大学 一种基于深度学习的bga气泡缺陷图像检测方法
US11170255B2 (en) 2018-03-21 2021-11-09 Kla-Tencor Corp. Training a machine learning model with synthetic images
JP7179472B2 (ja) * 2018-03-22 2022-11-29 キヤノン株式会社 処理装置、処理システム、撮像装置、処理方法、プログラム、および、記録媒体
US10670536B2 (en) 2018-03-28 2020-06-02 Kla-Tencor Corp. Mode selection for inspection
US10599951B2 (en) 2018-03-28 2020-03-24 Kla-Tencor Corp. Training a neural network for defect detection in low resolution images
US10762398B2 (en) * 2018-04-30 2020-09-01 Elekta Ab Modality-agnostic method for medical image representation
US10824909B2 (en) 2018-05-15 2020-11-03 Toyota Research Institute, Inc. Systems and methods for conditional image translation
DE102018207880A1 (de) 2018-05-18 2019-11-21 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Bewerten einer unbekannten Auswirkung von Defekten eines Elements eines Photolithographieprozesses
DE102018207882A1 (de) 2018-05-18 2019-11-21 Carl Zeiss Smt Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Analyse eines Elements eines Photolithographieprozesses mit Hilfe eines Transformationsmodells
JP6962863B2 (ja) 2018-05-25 2021-11-05 日本電子株式会社 荷電粒子線装置
US10713569B2 (en) 2018-05-31 2020-07-14 Toyota Research Institute, Inc. System and method for generating improved synthetic images
US11315231B2 (en) 2018-06-08 2022-04-26 Industrial Technology Research Institute Industrial image inspection method and system and computer readable recording medium
TWI683262B (zh) * 2018-06-08 2020-01-21 財團法人工業技術研究院 工業影像檢測方法、系統與電腦可讀取記錄媒體
CN108830209B (zh) * 2018-06-08 2021-12-17 西安电子科技大学 基于生成对抗网络的遥感图像道路提取方法
US10810460B2 (en) * 2018-06-13 2020-10-20 Cosmo Artificial Intelligence—AI Limited Systems and methods for training generative adversarial networks and use of trained generative adversarial networks
DE102018209562B3 (de) 2018-06-14 2019-12-12 Carl Zeiss Smt Gmbh Vorrichtungen und Verfahren zur Untersuchung und/oder Bearbeitung eines Elements für die Photolithographie
CN114997408A (zh) 2018-06-14 2022-09-02 诺威有限公司 半导体度量方法和半导体度量系统
DE102018211099B4 (de) 2018-07-05 2020-06-18 Carl Zeiss Smt Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Bewerten eines statistisch verteilten Messwertes beim Untersuchen eines Elements eines Photolithographieprozesses
EP3598474A1 (en) 2018-07-19 2020-01-22 FEI Company Adaptive specimen image acquisition using an artificial neural network
US10846845B2 (en) 2018-07-25 2020-11-24 Fei Company Training an artificial neural network using simulated specimen images
WO2020043525A1 (en) 2018-08-28 2020-03-05 Asml Netherlands B.V. Systems and methods of optimal metrology guidance
US10949964B2 (en) 2018-09-21 2021-03-16 Kla Corporation Super-resolution defect review image generation through generative adversarial networks
EP3637186A1 (en) * 2018-10-09 2020-04-15 ASML Netherlands B.V. Method of calibrating a plurality of metrology apparatuses, method of determining a parameter of interest, and metrology apparatus
CN109559358B (zh) * 2018-10-22 2023-07-04 天津大学 一种基于卷积自编码的图像样本升采样方法
US11538143B2 (en) * 2018-10-26 2022-12-27 Nec Corporation Fully convolutional transformer based generative adversarial networks
WO2020110224A1 (ja) 2018-11-28 2020-06-04 Eizo株式会社 情報処理方法及びコンピュータプログラム
CN109933682B (zh) * 2019-01-11 2022-01-04 上海交通大学 一种基于语义与内容信息结合的图像哈希检索方法及系统
US10922808B2 (en) 2019-02-14 2021-02-16 KLA—Tencor Corp. File selection for test image to design alignment
US11263496B2 (en) * 2019-02-25 2022-03-01 D2S, Inc. Methods and systems to classify features in electronic designs
US11182929B2 (en) 2019-02-25 2021-11-23 Center For Deep Learning In Electronics Manufacturing, Inc. Methods and systems for compressing shape data for electronic designs
US11061318B2 (en) * 2019-02-28 2021-07-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Lithography model calibration
US11436506B2 (en) * 2019-03-06 2022-09-06 Carl Zeiss Smt Gmbh Method and devices for determining metrology sites
US11900026B1 (en) 2019-04-24 2024-02-13 X Development Llc Learned fabrication constraints for optimizing physical devices
CN110146455A (zh) * 2019-05-27 2019-08-20 安徽大学 基于深度学习的激光光谱气体浓度测量方法
EP3955208A4 (en) * 2019-06-03 2023-05-24 Hamamatsu Photonics K.K. SEMICONDUCTOR INSPECTION DEVICE AND SEMICONDUCTOR INSPECTION PROCEDURE
JP7413376B2 (ja) * 2019-06-03 2024-01-15 浜松ホトニクス株式会社 半導体検査方法及び半導体検査装置
US11379633B2 (en) 2019-06-05 2022-07-05 X Development Llc Cascading models for optimization of fabrication and design of a physical device
JP7316867B2 (ja) * 2019-07-25 2023-07-28 キオクシア株式会社 半導体画像処理装置
US11126891B2 (en) 2019-09-11 2021-09-21 Toyota Research Institute, Inc. Systems and methods for simulating sensor data using a generative model
US11727169B2 (en) 2019-09-11 2023-08-15 Toyota Research Institute, Inc. Systems and methods for inferring simulated data
US11494695B2 (en) 2019-09-27 2022-11-08 Google Llc Training neural networks to generate structured embeddings
US11580650B2 (en) 2019-10-01 2023-02-14 KLA Corp. Multi-imaging mode image alignment
EP4049230A4 (en) * 2019-10-24 2023-11-22 Molecular Devices, LLC HIGH CONTENT IMAGING SYSTEM FOR GENERATING ENHANCED IMAGES AND METHOD OF OPERATION THEREFOR
US11087449B2 (en) 2019-10-24 2021-08-10 KLA Corp. Deep learning networks for nuisance filtering
EP3828632A1 (en) * 2019-11-29 2021-06-02 ASML Netherlands B.V. Method and system for predicting electric field images with a parameterized model
WO2021104718A1 (en) * 2019-11-29 2021-06-03 Asml Netherlands B.V. Method and system for predicting process information with a parameterized model
US11961219B2 (en) * 2020-02-27 2024-04-16 KLA Corp. Generative adversarial networks (GANs) for simulating specimen images
US12131103B2 (en) 2020-03-30 2024-10-29 Kla Corporation Semiconductor fabrication process parameter determination using a generative adversarial network
WO2021202163A1 (en) * 2020-03-31 2021-10-07 Battelle Memorial Institute Method of identifying vulnerable regions in an integrated circuit
EP3893057A1 (en) * 2020-04-10 2021-10-13 ASML Netherlands B.V. Aligning a distorted image
US11232550B2 (en) * 2020-06-29 2022-01-25 Applied Materials Israel Ltd. Generating a training set usable for examination of a semiconductor specimen
JP7492389B2 (ja) 2020-07-03 2024-05-29 株式会社ホロン 画像検査装置および画像検査方法
US11328410B2 (en) * 2020-08-03 2022-05-10 KLA Corp. Deep generative models for optical or other mode selection
US11776108B2 (en) 2020-08-05 2023-10-03 KLA Corp. Deep learning based defect detection
US11250199B1 (en) * 2020-09-16 2022-02-15 Center For Deep Learning In Electronics Manufacturing, Inc. Methods and systems for generating shape data for electronic designs
US12045996B2 (en) 2020-09-17 2024-07-23 Center for Deep Learning in Electronics Mfg., Inc. Methods and systems for registering images for electronic designs
US11556738B2 (en) * 2020-10-01 2023-01-17 Kla Corporation System and method for determining target feature focus in image-based overlay metrology
CN112288727A (zh) * 2020-10-30 2021-01-29 创新奇智(重庆)科技有限公司 磁环表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
AU2021401816A1 (en) * 2020-12-18 2023-06-22 Strong Force Vcn Portfolio 2019, Llc Robot fleet management and additive manufacturing for value chain networks
CN112598598B (zh) * 2020-12-25 2023-11-28 南京信息工程大学滨江学院 一种基于两级反射光消除网络的图像反射光去除方法
JPWO2022137841A1 (ja) * 2020-12-25 2022-06-30
KR102271995B1 (ko) * 2021-01-12 2021-07-05 국방과학연구소 인공 신경망을 이용한 지표면 화학 작용제 탐지 시스템
TWI748867B (zh) * 2021-02-05 2021-12-01 鴻海精密工業股份有限公司 圖像瑕疵檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質
US12020418B2 (en) * 2021-04-22 2024-06-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Image processing method and system, and non-transitory computer readable medium
US12013350B2 (en) 2021-05-05 2024-06-18 Onto Innovation Inc. Effective cell approximation model for logic structures
CN113469336A (zh) * 2021-06-29 2021-10-01 上海寒武纪信息科技有限公司 优化神经网络模型的编译方法、执行方法及相关产品
US20230043089A1 (en) * 2021-08-04 2023-02-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Super resolution sem image implementing device and method thereof
US11961221B2 (en) * 2021-10-07 2024-04-16 Applied Materials Israel Ltd. Defect examination on a semiconductor specimen
US20230377125A1 (en) * 2022-05-19 2023-11-23 Applied Materials Israel Ltd. Defect detection of a semiconductor specimen

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3476913B2 (ja) * 1994-07-08 2003-12-10 オリンパス株式会社 欠陥種別判定装置及びプロセス管理システム
US6622135B1 (en) * 1998-12-29 2003-09-16 International Business Machines Corporation Method for detecting and classifying anomalies using artificial neural networks
JP4159512B2 (ja) 2004-05-31 2008-10-01 日本電気株式会社 画像パターン補正方法、及びそれを適用した模擬画像生成方法、並びにパターン外観検査方法
US7788629B2 (en) 2004-07-21 2010-08-31 Kla-Tencor Technologies Corp. Systems configured to perform a non-contact method for determining a property of a specimen
US7570796B2 (en) 2005-11-18 2009-08-04 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for utilizing design data in combination with inspection data
US7676077B2 (en) 2005-11-18 2010-03-09 Kla-Tencor Technologies Corp. Methods and systems for utilizing design data in combination with inspection data
JP4933888B2 (ja) 2006-09-19 2012-05-16 株式会社リコー 画像形成装置および画像形成方法
US8698093B1 (en) 2007-01-19 2014-04-15 Kla-Tencor Corporation Objective lens with deflector plates immersed in electrostatic lens field
US7483809B2 (en) 2007-04-12 2009-01-27 Tokyo Electron Limited Optical metrology using support vector machine with profile parameter inputs
US8126255B2 (en) 2007-09-20 2012-02-28 Kla-Tencor Corp. Systems and methods for creating persistent data for a wafer and for using persistent data for inspection-related functions
US20090110062A1 (en) * 2007-10-30 2009-04-30 The Hong Kong University Of Science And Technology Optimal heegard-berger coding schemes
JP2010157118A (ja) * 2008-12-26 2010-07-15 Denso It Laboratory Inc パターン識別装置及びパターン識別装置の学習方法ならびにコンピュータプログラム
WO2011096136A1 (ja) 2010-02-02 2011-08-11 コニカミノルタホールディングス株式会社 疑似画像生成装置および疑似画像生成方法
US9405975B2 (en) * 2010-03-26 2016-08-02 Brain Corporation Apparatus and methods for pulse-code invariant object recognition
US8664594B1 (en) 2011-04-18 2014-03-04 Kla-Tencor Corporation Electron-optical system for high-speed and high-sensitivity inspections
US8692204B2 (en) 2011-04-26 2014-04-08 Kla-Tencor Corporation Apparatus and methods for electron beam detection
US8716662B1 (en) 2012-07-16 2014-05-06 Kla-Tencor Corporation Methods and apparatus to review defects using scanning electron microscope with multiple electron beam configurations
CN103679185B (zh) * 2012-08-31 2017-06-16 富士通株式会社 卷积神经网络分类器系统、其训练方法、分类方法和用途
US20140112589A1 (en) * 2012-10-22 2014-04-24 Gurulogic Microsystems Oy Encoder, decoder and method
US9222895B2 (en) 2013-02-25 2015-12-29 Kla-Tencor Corp. Generalized virtual inspector
KR102103984B1 (ko) * 2013-07-15 2020-04-23 삼성전자주식회사 깊이 영상 처리 방법 및 장치
JP2015129987A (ja) * 2014-01-06 2015-07-16 国立大学法人三重大学 医用高解像画像形成システムおよび方法。
US10181098B2 (en) * 2014-06-06 2019-01-15 Google Llc Generating representations of input sequences using neural networks
US9602728B2 (en) * 2014-06-09 2017-03-21 Qualcomm Incorporated Image capturing parameter adjustment in preview mode
CN104134062A (zh) * 2014-08-18 2014-11-05 朱毅 一种基于深度神经网络的静脉识别系统
US9667880B2 (en) * 2014-08-22 2017-05-30 Qualcomm Incorporated Activating flash for capturing images with text
US10417525B2 (en) * 2014-09-22 2019-09-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Object recognition with reduced neural network weight precision
US10267746B2 (en) 2014-10-22 2019-04-23 Kla-Tencor Corp. Automated pattern fidelity measurement plan generation
US10483081B2 (en) 2014-10-22 2019-11-19 Kla-Tencor Corp. Self directed metrology and pattern classification
CN106462802B (zh) * 2014-11-14 2019-08-06 谷歌有限责任公司 生成映像的自然语言描述
US10650508B2 (en) * 2014-12-03 2020-05-12 Kla-Tencor Corporation Automatic defect classification without sampling and feature selection
US10062543B2 (en) 2015-06-23 2018-08-28 Kla-Tencor Corp. Determining multi-patterning step overlay error
CN105303185A (zh) * 2015-11-27 2016-02-03 中国科学院深圳先进技术研究院 虹膜定位方法及装置
US11580398B2 (en) * 2016-10-14 2023-02-14 KLA-Tenor Corp. Diagnostic systems and methods for deep learning models configured for semiconductor applications

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