JP6962863B2 - 荷電粒子線装置 - Google Patents

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Description

本発明は荷電粒子線装置に関し、特に、画像変換技術に関する。
荷電粒子線装置として、電子ビームを利用した観察装置、イオンビームを利用した観察装置、等が知られている。電子ビームを利用した観察装置として、走査型電子顕微鏡(SEM)、及び、透過型電子顕微鏡(TEM)が挙げられる。以下においては、走査型電子顕微鏡について説明する。
走査型電子顕微鏡において、対象物を観察して所望の画像を取得するためには、対象物、観察目的等に応じて、観察条件を適切に設定する必要がある。具体的には、加速電圧、照射電流、走査速度、検出方式等を適切に設定する必要がある。観察条件が異なれば、取得される画像も異なる。通常、希望する画像が得られるように、観察条件の調整が繰り返される。知識や経験の乏しい者が最適な観察条件を見出すのはかなり困難である。知識や経験が豊富な者においても最適な観察条件を迅速に設定するのは必ずしも容易ではない。観察条件の調整が長引く場合、対象物の損傷が無視できなくなることもある。観察条件の調整は、走査型電子顕微鏡以外の荷電粒子線装置においても行われる。
従来の走査型電子顕微鏡には、現在の観察条件を変更することなく、他の観察条件の下で得られると推定される画像を表示する機能は備わっていない。走査型電子顕微鏡以外の荷電粒子線装置においても同様である。なお、特許文献1には、画像分類器の機械学習で用いられる教師データを作成する装置が記載されている。
特開2014−142871号公報
本発明の目的は、観察条件を実際に変更することなく、観察条件を変更したならば得られるであろう画像を参照できるようにする。あるいは、本発明の目的は、観察条件の設定に際してユーザーの負担を軽減することにある。
実施形態に係る荷電粒子線装置は、対象物に対する荷電粒子線の照射により前記対象物を観察する観察機構と、現観察条件の下で前記観察機構により得られた現画像に基づいて、想定観察条件の下で前記観察機構により得られる画像を参照画像として推定する推定部と、前記参照画像を表示する表示器と、を含むことを特徴とする。
上記構成によれば、推定部により現画像に基づいて参照画像が生成され、その参照画像が表示器に表示される。参照画像は、想定観察条件の下で得られるであろうと予想される画像であり、すなわち、推定画像又は疑似画像である。参照画像の観察によって、想定観察条件の適否を判断できる。想定観察条件が妥当であると判断された場合、想定観察条件が実際の観察条件(つまり新たな現観察条件)として設定されてもよいし、その想定観察条件に対応する画像変換を適用しながら対象物の観察が継続されてもよい。荷電粒子線装置は、実施形態において、走査型電子顕微鏡であるが、上記構成が、例えば、透過型電子顕微鏡、イオンビーム装置、等に対して適用されてもよい。観察条件は、基本的に、荷電粒子線ビームの形成及び検出方法に関わる条件である。実施形態においては、対象物の観察を行いながら、参照画像がリアルタイムで表示される。記憶された画像に基づいて参照画像が生成及び表示されてもよい。
実施形態において、前記推定部は、前記現画像を前記参照画像に変換する機械学習型の画像変換部を含む。この構成によれば、機械学習という比較的に簡便な方法で、高精度の画像変換を実現することが可能となる。他の装置において機械学習過程を経て学習済みパラメータセットを生成し、その学習済みパラメータセットが画像変換部に与えられてもよい。関数演算、行列演算等によって参照画像が推定されてもよい。
実施形態において、前記画像変換部は、前記現画像を複数の想定観察条件に対応した複数の参照画像に変換し、前記表示器には前記複数の参照画像が表示される。この構成によれば、複数の参照画像の比較により、最適な観察条件又は最適な画像変換条件を絞り込むことが可能となる。複数の参照画像と共に現画像が表示されてもよい。
実施形態において、前記画像変換部は、複数の学習済みパラメータセットを格納した格納部と、前記複数の学習済みパラメータセットの中から選択された学習済みパラメータセットが組み込まれるエンジンと、を含み、前記複数の学習済みパラメータセット及び前記エンジンがそれら全体として複数の機械学習型の画像変換器として機能する。エンジンは、学習済みパラメータセットが組み込まれて機能する部分であり、例えば、CNNプラットフォーム又はCNNモデルを構成するものである。複数の学習済みパラメータセットの間でエンジンを共用すればコスト的に有利となる。
実施形態に係る荷電粒子線装置は、前記複数の参照画像の中から特定の参照画像をユーザーにより選択するための選択部を含む。この構成によれば、画像選択という簡易な方法で、観察条件又は画像変換条件を選択することが可能となる。
実施形態に係る荷電粒子線装置は、前記特定の参照画像に対応する特定の想定観察条件を前記現観察条件として前記観察機構に設定する制御部を含む。この構成によれば、観察条件の設定に際して、ユーザーの負担を大幅に軽減できる。
実施形態に係る荷電粒子線装置は、前記画像変換部に対して前記特定の参照画像に対応する特定の画像変換を指示する制御部を含む。この構成によれば、実際の観察条件を変更することなく、希望する画像又は希望する画像に近い画像を取得し続けることが可能となる。例えば、対象物の損傷その他の事情から、加速電圧を実際に上げることが困難な状況下において、つまり低加速電圧の下において、加速電圧を上げた場合に得られる画像又はそれに近い画像を観察することが可能となる。
実施形態に係る機械学習方法は、第1観察条件の下で得られた画像から第2観察条件の下で得られる画像を推定する画像変換器に機械学習を行わせる方法であって、教師データを構成する複数の画像ペアを取得する工程と、前記複数の画像ペアを前記画像変換器に与えて前記画像変換器内のパラメータセットを優良化する工程と、を含み、前記各画像ペアは、前記第1観察条件の下での対象物の観察により得られた第1画像と、前記第2観察条件の下での前記対象物の観察により得られた第2画像と、により構成され、前記パラメータセットの優良化に際して、前記第1画像を前記画像変換器に入力して得られる出力画像と前記第2画像としての正解画像とが比較される、ことを特徴とする。各画像ペアを構成する2つの画像は同一対象物における同一部位から取得される。対象物を変更することなく視野を変更して多数の画像ペアを取得するようにしてもよいし、対象物を変更しつつ多数の画像ペアを取得するようにしてもよい。
実施形態に係る電子ファイルは、第1観察条件の下で得られた画像から第2観察条件の下で得られる画像を推定する機械学習型の画像変換器に対して与えられる学習済みパラメータセットと、前記学習済みパラメータセットに関連付けられ、前記第2観察条件を荷電粒子線装置の観察機構に対して設定するための観察条件データと、を含む。上記電子ファイルにおいては、学習済みパラメータセットとそれに対応する観察条件データとが関連付けられており、つまり、その電子ファイルは特定の用途に向けられた特別なデータ構造を有するものである。電子ファイル内に更に第1観察条件を表す観察条件データが含まれてもよい。
本発明によれば、観察条件を実際に変更することなく、観察条件を変更したならば得られるであろう画像を参照できる。あるいは、本発明によれば、観察条件の設定に際してユーザーの負担を軽減できる。
実施形態に係る走査型電子顕微鏡の構成例を示すブロック図である。 各画像変換器の構成例を示すブロック図である。 観察条件テーブルの構成例を示す図である。 変換タイプ管理テーブルの構成例を示す図である。 実施形態に係る走査型電子顕微鏡の他の構成例を示すブロック図である。 ファイル集合を示す概念図である。 ずれ補正方法を示す概念図である。 実施形態に係る学習方法を示すフローチャートである。 実施形態に係る制御方法を示すフローチャートである。 表示例を示す図である。
以下、実施形態を図面に基づいて説明する。
図1には、実施形態に係る走査型電子顕微鏡の構成例が示されている。走査型電子顕微鏡は、荷電粒子線装置の一種である。他の荷電粒子線装置として、透過型電子顕微鏡、イオンビーム照射装置、等が挙げられる。図示の構成例において、走査型電子顕微鏡は、観察機構10及び情報処理部12を有している。
観察機構10は、観察部又は測定部であり、それは機械的構成及び電気的構成を有している。具体的には、観察機構10は、電子銃、偏向器(走査器)、対物レンズ、試料室、検出部、等を有している。試料室内にはステージ16が設けられ、そのステージにより観察対象物としての試料18が保持されている。試料18は、半導体基板、生物組織、等である。試料18に対する電子ビーム20の照射により試料18から二次電子22が放出される。その二次電子22が検出器24により検出される。試料18から放出される反射電子が検出されてもよい。検出器24を含む複数の検出器により検出部が構成される。通常、複数の検出器の中から、指定された検出方式に対応する検出器が使用される。ステージ16は可動体であり、ステージ16には図示されていない移動機構が連結されている。
実施形態において、情報処理部12は、ユーザーインターフェイスやメモリ等を除いて、CPU及びプログラムによって構成される。情報処理部12が複数のプロセッサによって構成されてもよい。情報処理部12が単一のPC又はネットワーク上の複数の情報処理デバイスによって構成されてもよい。
情報処理部12は、制御部14、画像形成部26、画像変換部28、表示処理部34等を有する。制御部14は、観察機構10に対して設定される動作条件すなわち試料18を観察するための観察条件を定める機能を有する。観察条件には、加速電圧、照射電流、真空度、作動距離等の各種の項目が含まれる。観察条件には、更に、検出方式(二次電子検出方式、反射電子検出方式、等)、電子ビーム走査速度が含まれ得る。
試料18に対する電子ビーム20の相対的な走査により、試料18における各座標から検出データが取得される。画像形成部26は、それらの検出データに基づいて、画像(SEM画像)を形成する。その画像を表すデータ(画像データ)が画像変換部28へ送られる。画像データは、必要に応じて、画像形成部26内のメモリ26Aに一時的に格納される。
画像変換部28は、推定部又は推定手段として機能するものであり、図示の構成例において、セレクタ30、及び、複数の画像変換器32−1,32−2,・・・、32−nを有する(以下、複数の画像変換器については必要に応じて符号の引用を省略する)。セレクタ30は、入力された画像データをいずれかの画像変換器へ送るものである。その送り先の中にはバイパス経路31も含まれる。各画像変換器は、機械学習型の変換器により構成され、画像フィルタとして機能する。具体的には、各画像変換器は、CNN(Convolutional Neural Network)によって構成される。後述するように、画像変換部28それ全体が単一のCNNで構成されてもよい。
個々の画像変換器は、第1観察条件(現観察条件)下で取得された画像に基づいて、第2観察条件(想定観察条件)下で取得されるであろう画像を参照画像として推定する機能を有する。参照画像は推定画像又は疑似画像である。2つの観察条件の組み合わせごとに、つまり、変換タイプごとに、画像変換器が設けられている。実際には、用意された複数の画像変換器の中で、現観察条件に適合する(現観察条件を変換前条件とする)1又は複数の画像変換器を選択することが可能である。画像変換の自由度を高めるために、多数の組み合わせ(変換タイプ)に対応する多数の画像変換器を用意しておくのが望ましい。もっとも、いずれか1つの画像変換器だけが設けられてもよい。
図示の構成例においては、現観察条件に適合する複数の画像変換器を並列的に動作させることが可能であり、入力された現画像が複数の参照画像に変換される。それらの複数の参照画像は表示処理部34へ送られる。上記のように、画像変換部28の内部にはバイパス経路31が設けられており、入力された現画像が表示処理部34へそのまま出力されている。
表示処理部34は、画像合成機能、表示画像生成機能、等を有する。表示器36に表示される表示画像が表示処理部34により生成される。実施形態において、表示器36には、複数の参照画像を含む画像リストが、試料観察と同時進行で、つまりリアルタイムに表示される。画像リストは、観察条件の選択又は画像変換条件の選択のために表示されるものである。これに関しては後に詳述する。表示器36は、LCD、有機EL表示デバイス等によって構成される。なお、画像形成部26、画像変換部28、及び、表示処理部34は、それぞれ、例えば、プロセッサにより構成され得る。それらが上記CPU及びプログラムによって構成されてもよい。
制御部14は、図1に示される各構成の動作を制御するものである。すなわち、制御部14によって、観察機構10の動作が制御され、また、画像変換部28の動作が制御される。観察機構10の実際の動作に先立って、制御部14は、観察機構10に対して、その動作条件としての観察条件を設定する。
入力器37は、キーボード、ポインティングデバイス等によって構成される。入力器37は、選択部又は選択手段として機能する。具体的には、入力器37を用いて、画像リストの中から、特定の参照画像がユーザーにより選択される。制御部14は、選択された参照画像に対応する観察条件を観察機構10に設定し、あるいは、選択された参照画像に対応する画像変換条件を画像変換部28に設定する。入力器37及び表示器36として、タッチパネル付き表示デバイスを採用してもよい。記憶部38には、実施形態において、後述する観察条件テーブル及び変換タイプ管理テーブルが格納される。後述する電子ファイル集合が記憶部38に格納されてもよい。
図2には、画像変換器の一般的な構成が例示されている。画像変換器は実施形態において画像推定器として機能する。図示された画像変換器32は、CNNで構成されており、それは多数の層からなる。多数の層には、入力層40、畳み込み層42、プーリング層44、出力層46が含まれる。多数の層は、CNNパラメータセット48を有している。CNNパラメータセット48は、多数の重み値及び多数のバイアス値からなるものである。画像変換器32は、CNNパラメータセット48についての機械学習過程において機能する更新部50を有している。更新部50は、評価関数としての誤差関数を有しており、誤差関数で定義される誤差がより小さくなるように、CNNパラメータセット48を徐々に優良化又は最適化する。
機械学習過程においては、画像変換器32に対して、訓練データ(教師データ)52として、複数の画像ペアが与えられる。個々の画像ペアは、同一試料における同一部位(視野)の観察により得られた第1画像54及び第2画像(正解画像)56からなる。第1画像は、第1観察条件下において得られた画像であり、第2画像56は、第1観察条件とは異なる第2観察条件下において得られた画像である。それは正解画像として利用される。第1画像54を画像変換器32に入力すると、画像変換器32から、変換後の画像として出力画像58が出力される。更新部50は、出力画像58を正解画像56と比較し、出力画像58が正解画像56に近付くように、CNNパラメータセット48を優良化する。そのような更新処理が繰り返し実行され、最終的に、CNNパラメータセット48が最適化される。機械学習過程を通じて、画像変換器32が特定の画像変換機能を獲得する。すなわち、第1観察条件の下で得られた第1画像60を画像変換器32に入力すると、画像変換器32から第2画像として変換後画像62が出力される。その変換後画像62は参照画像を構成するものである。
画像変換器32から学習済みCNNパラメータセット48を外部に取り出すことも可能である。取り出された機械学習済みCNNパラメータセット48は、必要に応じて、同一構成を有するCNNに組み込み可能である。あるいは、他の装置で生成されたCNNパラメータセットを画像変換器32に組み込むことも可能である。
図1に示した複数の画像変換器は、既に説明したように、複数の画像変換タイプに対応している。個々の画像変換器ごとに、上記のように、機械学習を行わせることが必要であり、あるいは、外部から学習済みCNNパラメータセットを組み込むことが必要である。複数の画像変換タイプに対応した複数の学習済みCNNパラメータセットを用意しておき、複数の画像変換器間においてCNNエンジン部分を共用することも可能である。これについては後に詳述する。
図3には、観察条件テーブルの構成例が示されている。観察条件テーブル70は、複数のレコード70aからなり、個々のレコード70aは1つの観察条件に対応している。具体的には、個々のレコード70aは、観察条件名(観察条件識別子)と、観察条件の内容と、からなる。観察条件の内容は、例えば、加速電圧、照射電流、真空度、作動距離、検出方式等の複数の項目値を含むものである。図1に示した制御部は、指定された観察条件名に対応する観察条件の内容を特定し、それに従って観察機構の動作条件を設定する。
図4には、変換タイプ管理テーブルの構成例が示されている。図示された変換タイプ管理テーブル72おいて、縦方向には第1観察条件として複数の観察条件名が列記されており、横方向には第2観察条件として複数の観察条件名が列記されている。第1観察条件は変換前観察条件であり、現観察条件に突き合わされるものである。第2観察条件は変換後観察条件である。図示されているように、複数の第1観察条件と複数の第2観察条件との間において複数の変換タイプが規定されており、すなわち、個々のセル72aには変換タイプが規定されている。変換タイプごとに画像変換器(あるいはCNNパラメータセット)が対応付けられている。典型的には、画像リスト表示がユーザーにより指示された場合、制御部は、変換タイプ管理テーブル72に従って、現観察条件に適合する複数の変換タイプを特定し、複数の変換タイプに対応する複数の画像変換器を並列的に動作させる。
但し、現観察条件に適合する変換タイプが1つしかない場合にはそれに対応する画像変換器だけが動作する。現観察条件に適合する変換タイプが用意されていない場合にはその旨のメッセージが表示される。変換タイプ管理テーブル72によれば、個々の変換タイプに対応する観察条件(第2観察条件)を直ちに特定することが可能となる。なお、第1観察条件及び第2観察条件の具体的な内容は、上記の観察条件テーブルを参照することにより特定される。
図5には、走査型電子顕微鏡の他の構成例が示されている。図1に示した構成と同一の構成には同一の符号を付し、その説明を省略する。図5に示す構成例において、画像変換部80は、単一の画像変換器82及び格納部84を有している。画像変換器82は、CNNエンジン90及びそれに組み込まれたCNNパラメータセット92により構成されている。格納部84は例えばメモリ等によって構成され、それにはCNNパラメータセット集合86が格納されている。CNNパラメータセット集合86は、複数の変換タイプに対応した学習済みの複数のCNNパラメータセット88−1,88−2,・・・,88−nからなるものである(以下、各CNNパラメータセットについては場合により符号の引用を省略する)。複数のCNNパラメータセットの中から選択された1つのCNNパラメータセットが上記のCNNエンジン90に組み込まれ、これにより画像変換器82が動作可能となる。典型的には、制御部14は、用意された複数の変換タイプの中から、現観察条件に対応する複数の変換タイプを特定し、それらに対応する複数のCNNパラメータセットをCNNエンジンに順番に組み込み、それを順次動作させる。これにより結果として、複数の参照画像を生成することが可能となる。図5に示した構成例によれば、変換タイプの追加、削除等も容易となる。
図5に示す構成例において、外部から、ネットワーク又は可搬型記憶媒体を介して、図6に示す電子ファイル集合100が走査型電子顕微鏡に与えられてもよい。電子ファイル集合100は、複数の変換タイプに対応した複数の電子ファイル102からなるものである。個々の電子ファイル102は、図示の例において、変換タイプ識別子104、第1観察条件データ106、第2観察条件データ108、学習済みCNNパラメータセット110等からなる。第1観察条件データ106及び第2観察条件データ108は、それぞれ観察条件の内容を示すデータである。電子ファイル集合100に基づいて、上記の観察条件テーブルが構成され、また、上記の変換タイプ管理テーブルが構成される。各テーブルの作成は上記の制御部により実行される。また、電子ファイル集合100に基づいて、画像形成部内の格納部にCNNパラメータセット集合が格納される。その制御も制御部により実行される。
各電子ファイル102においては、学習済みCNNパラメータセットに対して第1観察条件データ及び第2観察条件データが電子的に関連付けられているので、学習済みCNNパラメータセットを使用する場合に、それに適合する変換前画像を正しく判断することが可能であり、また、参照画像リストの中から特定の参照画像がユーザーにより選択された場合にその特定の参照画像に対応する観察条件を観察機構に正しく設定することが可能となる。なお、図1に示した構成例において、図6に示した電子ファイル集合100が与えられてもよい。
図7に基づいて、ずれ補正について説明する。上記のように、機械学習過程においては、複数の画像ペアが画像変換器に与えられる。個々の画像ペアは、同一の対象物における同一の部位(視野)の観察により得られた第1画像及び第2画像からなる。第1画像は第1観察条件下で取得された画像であり、第2画像は第2観察条件下で取得された画像である。第1画像に対応する実際の観察範囲及び第2画像に対応する実際の観察範囲の間に位置ずれがある場合、機械学習の品質が低下してしまうおそれがある。実施形態においては、機械学習過程において、必要に応じて、以下に説明するずれ補正が実行される。
図7において、第1画像120及び第2画像122の間には位置ずれが生じている。符号124は第1画像120及び第2画像122の間の重複範囲を示している。第1画像120における重複部分120Aの周囲に対して補填部分126が付加される。それらによって補正後の第1画像128が構成される。補填部分126は、重複部分120Aを利用して生成され、例えば、重複部分120Aの内の一部をコピー等することによって生成される。同様に、第2画像122における重複部分122Aの周囲に対して補填部分130が付加される。それらによって補正後の第2画像132が構成される。補填部分130は、上記同様に、重複部分122Aを利用して生成され、例えば、重複部分122Aの内の一部をコピー等することによって生成される。
補正後の第1画像128及び第2画像132は補正前の第1画像120及び第2画像122と同じサイズを有する。第1画像120及び第2画像122の内で、一方だけに対して部分画像を付加し、これにより位置ずれを補正するようにしてもよい。画像サイズの統一が求められない場合、第1画像120及び第2画像122の内で重複部分だけを学習用画像として利用するようにしてもよい。
図8には、実施形態に係る学習方法がフローチャートとして示されている。S10では、特定の第1観察条件の下で試料が観察され、また、特定の第2観察条件の下で同一試料が観察される。すなわち、観察条件を変更しつつ試料における特定範囲に対して電子ビーム走査による観察が2回実行される。これにより画像ペアを構成する第1画像及び第2画像が取得される。第1観察条件及び第2観察条件はユーザーにより任意に設定し得る。例えば、それらの観察条件として、特定の項目(例えば加速電圧)のみが異なる2つの観察条件が設定されてもよい。なお、S10の実行ごとに、視野つまり観察部位が変更され、また必要に応じて試料が変更される。
S12では、第1画像と第2画像との間で位置ずれの有無が判断される。例えば、相関演算、画像差分、その他の手法により位置ずれの有無又は程度が判断されてもよい。S12において、位置ずれありと判断された場合、S14において、ずれ補正が実行される。例えば、図7に示した方法により、位置ずれが補正される。S16では、画像ペアが保存される。なお、画像ペアの保存後に位置ずれの補正が実行されてもよい。
S18において、機械学習のために必要十分な画像ペアが取得されたか否かが判断され、画像ペアの取得を継続する場合にはS10以降の工程が繰り返し実行される。その場合、同じ試料における複数の部位が観察されてもよい。同じ種類の複数の試料が観察されてもよい。異なる種類の複数の試料が観察されてもよい。但し、第1観察条件及び第2観察条件の各内容は維持される。
S20では、以上のように取得された複数の画像ペアを用いて画像変換器の機械学習が実行される。S22では、他の変換タイプについて機械学習の要否が判断され、それが必要と判断された場合、S24において、第1観察条件の内容及び第2観察条件の内容の一方又は両方が変更される。その上で、S10以降の各工程が繰り返し実行される。
以上の機械学習方法の実行の結果、複数の変換タイプに対応する複数の画像変換器が構成され、あるいは、複数の変換タイプに対応する複数のCNNパラメータセットが構成される。
図9には、実施形態に係る制御方法(つまり制御部の動作)がフローチャートとして示されている。S30においては、動作モードが選択される。具体的には、観察条件選択モード及び変換タイプ選択モードの内のいずれかのモードが選択される。S30において、観察条件選択モードが選択された場合、S32において、現観察条件に適合する1又は複数の変換タイプが特定され、1又は複数の変換タイプに対応する1又は複数の画像変換が実行され、その結果として、1又は複数の参照画像を含む観察条件変更用の画像リストが生成され、それが表示される。なお、現観察条件に適合する変換タイプが用意されていない場合、その旨を示すメッセージが表示される。
S34では、画像リストの中からユーザーにより特定の参照画像が選択される。これによりその参照画像に対応する観察条件(第2観察条件)が観察機構に対して設定される。それ以降は、そのように設定された観察条件下において試料が観察される。
一方、S30において、変換タイプ選択モードが選択された場合、S36において、現観察条件に適合する1又は複数の変換タイプが特定され、1又は複数の変換タイプに対応する1又は複数の画像変換が実行され、その結果として、1又は複数の参照画像を含む変換タイプ変更用の画像リストが生成され、それが表示される。なお、上記同様に、現観察条件に適合する変換タイプが用意されていない場合、その旨を示すメッセージが表示される。
S38では、画像リストの中からユーザーにより特定の参照画像が選択される。これにより、その参照画像に対応する変換タイプが画像変換条件として指定される。それ以降は、そのように設定された変換タイプに対応する画像変換が継続的に適用される。例えば、第1加速電圧を維持しつつ、第1加速電圧よりも高い第2加速電圧の下で得られる画像を模擬した画像をリアルタイムで表示し続けることが可能となる。
図10には、画像リストの例が示されている。この画像リストは対象物の観察を行いながらリアルタイムで表示されるものである。図示された画像リスト134は、観察条件選択用又は変換タイプ選択用の画像リストである。図示の例では、第1観察条件つまり現観察条件がシンボルAで表現されており、第2観察条件がシンボルB,C,D,E,Fで表現されている。画像リスト134は、具体的には、複数の画像からなり、それらには複数の参照画像138〜146及び現画像136が含まれる。現画像136は無変換画像である。参照画像138〜146は、第1観察条件Aから第2観察条件B〜Fへの画像変換により生成された画像である。この画像リストの表示により、第2観察条件B〜Fを実際に設定することなく、第2観察条件B〜Fを実際に設定した場合に得られる画像に相当する画像を参照することが可能となる。
観察条件選択モードにおいて、画像リスト134の中から特定の参照画像138〜146を選択し、適用ボタン148を操作すると、選択された特定の参照画像に対応する第2観察条件が現観察条件として観察機構に設定される。すなわち、観察条件の内容を具体的に指定することなく、希望する観察条件の設定状態を生じさせることが可能である。現画像136を選択すると、現在の観察条件がそのまま維持される。一方、変換タイプ選択モードにおいて、画像リスト134の中から特定の参照画像138〜146を選択し、適用ボタン148を操作すると、選択された特定の参照画像に対応する変換タイプが固定的に選択される。つまり、その変換タイプに対応する画像変換が継続的に実行され続けることになる。その場合、観察条件の内容を実際に設定することなく、希望する観察条件下で得られるであろう画像に近い画像を表示し続けることが可能となる。現画像136を選択すると、上記同様に、現在の変換タイプ(無変換)が維持される。
画像リスト134によれば、複数の画像の相互対比が容易である。画像リスト134に基づく画像選択によれば、クリック操作等の非常に簡便な操作で、観察条件の変更を行うことができ、あるいは、変換タイプを選択することができる。ちなみに、画像が選択されると、その枠がハイライト表示される(符号156参照)。選択を取り消す際にはキャンセルボタン150が操作される。画像リスト134が複数のページにわたる場合、必要に応じて、次ページボタン152や前ページボタン154が操作される。
第1観察条件の下で、第2観察条件の下で得られるであろう画像を推定し、それを参照画像として表示するならば、従来においては得られない様々な利点を享受し得る。例えば、第1観察条件に含まれる電子ビーム走査速度を高速度とし且つ第2観察条件に含まれる電子ビーム走査速度を低速度とした場合(他の項目については2つの観察条件において同一とする。以下において同じ。)、高いフレームレートと高画質とを両立させることが可能となる。第1観察条件に含まれる加速電圧を低電圧とし且つ第2観察条件に含まれる加速電圧を高電圧とした場合、試料表面の観察と高分解能とを両立させることが可能となる。第1観察条件に含まれる照射電流を小電流とし且つ第2観察条件に含まれる照射電流を大電流とした場合、試料損傷の防止軽減と高コントラストとを両立させることが可能となる。第1観察条件に含まれる照射電流を大電流とし且つ第2観察条件に含まれる照射電流を小電流とした場合、高コントラストと高分解能とを両立させることが可能となる。第1観察条件に含まれる真空度を低レベルとし且つ第2観察条件に含まれる真空度を高レベルとした場合、チャージアップ発生可能性の低減と高画質とを両立させることが可能となる。第1観察条件に含まれる作動距離を長距離とし且つ第2観察条件に含まれる作動距離を短距離とした場合、試料の方向や形状の自由度の高さと高画質とを両立させることが可能となる。
変換タイプ選択モードの実行後において、特定の画像変換が継続的に実行されている状況下においては、画像変換後の画像に隣接して第2観察条件を特定する情報又はマークを表示するようにしてもよい。
以上のように、実施形態によれば、観察条件を実際に変更することなく、観察条件を変更したならば得られるであろう画像を参照することが可能となる。また、上記実施形態によれば、観察条件の設定又は変換条件の選択に際してユーザーの便宜を図れる。
機械学習型の推定器に代えて関数演算部や行列演算部によって画像変換を行うことも可能であるが、そのような場合には、一般に、目的とする関数や行列を得るために多大な労力が必要となる。上記実施形態によれば、一定の個数の画像ペアを画像変換器に与えるだけで画像変換器を構成できるので、画像変換器の製作が容易となる。また、画像変換精度も高められる。
なお、画像リストに含まれる2つの画像に基づいて差分画像が生成されてもよい。例えば、現画像と参照画像とに基づいて差分画像が生成されてもよい。そのような差分画像は、画像変換器の作用を表すものである。現画像と参照画像とが重み付け合成されてもよく、また、2つの参照画像が重み付け合成されてもよい。
10 観察機構、12 情報処理部、14 制御部、26 画像形成部、28 画像変換部、30 セレクタ、32−1〜32−n 画像変換器、34 表示処理部。

Claims (6)

  1. 対象物に対する荷電粒子線の照射により前記対象物を観察する観察機構と、
    前記観察機構に設定された現観察条件に突き合わされる少なくとも1つの第1観察条件と前記観察機構に設定され得る複数の想定観察条件としての複数の第2観察条件との間において規定される複数の変換タイプを管理するための変換タイプ管理テーブルを記憶した記憶部と、
    前記変換タイプ管理テーブルにおける前記複数の変換タイプの中から、前記現観察条件に適合する1又は複数の変換タイプを特定する制御部と、
    前記特定された1又は複数の変換タイプに対応する1又は複数の画像変換により、前記現観察条件の下で前記観察機構により得られた現画像に基づいて、1又は複数の想定観察条件の下で前記観察機構により得られるであろう1又は複数の画像を1又は複数の参照画像として推定する推定部と、
    前記1又は複数の参照画像を表示する表示器と、
    を含み、
    前記制御部は、前記1又は複数の参照画像の中から選択された特定の参照画像に対応する特定の想定観察条件を新たな現観察条件として前記観察機構に設定する、
    ことを特徴とする荷電粒子線装置。
  2. 請求項1記載の荷電粒子線装置において、
    前記推定部は、前記現画像を前記1又は複数の参照画像に変換する機械学習型の画像変換部を含む、
    ことを特徴とする荷電粒子線装置。
  3. 請求項2記載の荷電粒子線装置において、
    前記画像変換部は、前記現画像を前記複数の想定観察条件に対応した前記複数の参照画像に変換し、
    前記表示器には前記複数の参照画像が表示される、
    ことを特徴とする荷電粒子線装置。
  4. 請求項3記載の荷電粒子線装置において、
    前記画像変換部は、
    複数の学習済みパラメータセットを格納した格納部と、
    前記複数の学習済みパラメータセットの中から順次選択された学習済みパラメータセットが組み込まれるエンジンと、
    を含み、
    前記複数の学習済みパラメータセット及び前記エンジンがそれら全体として複数の機械学習型の画像変換器として機能する、
    ことを特徴とする荷電粒子線装置。
  5. 請求項3記載の荷電粒子線装置において、
    前記複数の参照画像の中から前記特定の参照画像をユーザーにより選択するための選択部を含む、
    ことを特徴とする荷電粒子線装置。
  6. 請求項1記載の荷電粒子線装置において、
    前記現観察条件には第1加速電圧が含まれ、
    前記複数の想定観察条件の内のいずれかには前記第1加速電圧よりも高い第2加速電圧が含まれる、
    ことを特徴とする荷電粒子線装置。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021026926A (ja) * 2019-08-07 2021-02-22 株式会社日立ハイテク 画像生成方法、非一時的コンピューター可読媒体、及びシステム
WO2021250879A1 (ja) 2020-06-12 2021-12-16 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線装置および試料観察方法
WO2023144970A1 (ja) * 2022-01-27 2023-08-03 株式会社日立ハイテク 荷電粒子線検査システム、荷電粒子線検査方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1167136A (ja) * 1997-08-26 1999-03-09 Hitachi Ltd 荷電粒子装置及び荷電粒子装置ネットワークシステム
JP3666267B2 (ja) * 1998-09-18 2005-06-29 株式会社日立製作所 荷電粒子ビーム走査式自動検査装置
JP2000314710A (ja) * 1999-04-28 2000-11-14 Hitachi Ltd 回路パターンの検査方法及び検査装置
US6664546B1 (en) * 2000-02-10 2003-12-16 Kla-Tencor In-situ probe for optimizing electron beam inspection and metrology based on surface potential
US7071969B1 (en) * 2001-09-27 2006-07-04 National Semiconductor Corporation Parameterized preview array for iterative image optimization in remote applications
JP5006520B2 (ja) * 2005-03-22 2012-08-22 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥観察装置及び欠陥観察装置を用いた欠陥観察方法
DE112010000687B4 (de) * 2009-01-22 2019-10-31 Hitachi High-Technologies Corp. Elektronenmikroskop
JP5506345B2 (ja) * 2009-11-26 2014-05-28 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線顕微鏡および当該荷電粒子顕微鏡の制御方法
CN103189896B (zh) * 2010-10-27 2018-03-09 皇家飞利浦电子股份有限公司 图像伪影的识别和减轻
JP6063756B2 (ja) 2013-01-25 2017-01-18 株式会社Screenホールディングス 教師データ作成支援装置、教師データ作成装置、画像分類装置、教師データ作成支援方法、教師データ作成方法および画像分類方法
US9466460B2 (en) * 2013-05-30 2016-10-11 Hitachi High-Technologies Corporation Charged particle-beam device and specimen observation method
WO2016016927A1 (ja) * 2014-07-28 2016-02-04 株式会社日立製作所 荷電粒子線装置、シミュレーション方法およびシミュレーション装置
KR102566134B1 (ko) * 2015-12-07 2023-08-10 삼성전자주식회사 반도체 소자의 3d 프로파일링 시스템 및 이의 동작 방법
US10043261B2 (en) * 2016-01-11 2018-08-07 Kla-Tencor Corp. Generating simulated output for a specimen
US10395356B2 (en) 2016-05-25 2019-08-27 Kla-Tencor Corp. Generating simulated images from input images for semiconductor applications
JP6826455B2 (ja) * 2017-02-14 2021-02-03 株式会社日立製作所 画像形成装置
JP6668278B2 (ja) * 2017-02-20 2020-03-18 株式会社日立ハイテク 試料観察装置および試料観察方法

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