JP2019505824A5

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Publication number: JP2019505824A5
Application number: JP2018524323A
Authority: JP
Filing date: 2016-12-22
Publication date: 2020-01-30
Anticipated expiration: 2036-12-22

Claims

蛍光顕微鏡に関する較正スライドであって、
基板と、
前記基板の表面に配置される複数の離間された金属ナノ構造体を含む画素レイアウト、及び前記較正スライドの前記表面に提供される少なくとも１つの他のレイアウトであって、着色マイクロビーズの単層と、解像度及び歪み試験ターゲットと、無機蛍光体の層とを含む群から選択される少なくとも１つの他のレイアウトとを有し、
前記金属ナノ構造体が、蛍光画像を生成する光ルミネセンス及び／又は蛍光を生成するため、励起波長の光を吸収することを可能にするプラズモン共鳴を生成し、
前記蛍光画像は、蛍光顕微鏡の較正のために提供される複数の画素強度値を有する、較正スライド。
前記基板が光学的に透明である、請求項１に記載の較正スライド。
前記金属ナノ構造体が、互いに結合するよう構成される、請求項１又は２に記載の較正スライド。
前記画素レイアウトが、少なくとも２つの画素サブレイアウトを有し、前記少なくとも２つの画素サブレイアウトは、明るい照明下で異なる色を生成する、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の較正スライド。
前記金属ナノ構造体が、金、銀、銅、及びアルミニウムを含む群から選択される金属を有する、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の較正スライド。
各金属ナノ構造体が、３０ｎｍから７００ｎｍの範囲の断面寸法を持ち、
各金属ナノ構造体は、１０ｎｍから１μｍの範囲の厚さを持ち、及び／又は
隣接する金属ナノ構造体間の距離が、１００ｎｍから１μｍの範囲にある可視光波長に匹敵する、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の較正スライド。
較正システムであって、
蛍光顕微鏡と、
請求項１乃至６のいずれか一項に記載の較正スライドとを有し、
前記蛍光顕微鏡が、
光源と、
光検出器とを含み、
前記光源と前記光検出器とが光路に配置され、
較正において、前記光源は、光ルミネセンス及び／又は蛍光を生成するため、励起波長において前記光路に配置された前記較正スライドの前記金属ナノ構造体により吸収される光を提供し、
前記光検出器は、較正目的のための較正試験データとして蛍光画像データを取得するため、前記生成された光ルミネセンス及び／又は蛍光を検出する、較正システム。
前記較正システムが、較正デバイスを更に有し、前記較正デバイスは、
記憶ユニットと、
処理ユニットとを含み、
前記記憶ユニットが、少なくとも１つの蛍光チャネルの所定の標準較正データを記憶し、
前記処理ユニットは、前記少なくとも１つの蛍光チャネルの強度補正プロファイルを生成するため、前記取得された較正試験データと前記記憶された所定の標準較正データとを比較し、
前記強度補正プロファイルが、前記少なくとも１つの蛍光チャネルに関して前記蛍光顕微鏡で得られた蛍光病理学的サンプルの蛍光画像データを補正するために提供される、請求項７に記載のシステム。
前記画素レイアウトに加えて、着色マイクロビーズの単層並びに解像度及び歪み試験ターゲットを含む群から選択される少なくとも１つのレイアウトが、前記較正スライドの前記表面に提供され、
前記光検出器は、前記少なくとも１つのレイアウトの画像データを更なる較正試験データとして取得し、
前記記憶ユニットが、前記少なくとも１つのレイアウトの更なる所定の標準較正データを記憶し、
前記処理ユニットは、前記蛍光顕微鏡のパラメータを較正するため、前記取得された更なる較正試験データと前記記憶された更なる所定の標準較正データとを比較し、
前記パラメータは、
蛍光顕微鏡の焦点品質；並びに
解像度及びステッチングアーチファクトを含む群から選択される、請求項７又は８に記載のシステム。
前記蛍光顕微鏡が、エピ蛍光顕微鏡である、請求項７乃至９のいずれか一項に記載のシステム。
前記較正スライドが、前記蛍光顕微鏡に恒久的に取り付けられる、請求項７乃至１０のいずれか一項に記載のシステム。
光路に配置された光源及び光検出器を含む蛍光顕微鏡の較正方法において、
ａ）前記光源から前記光検出器に向かう光で前記光路に配置された較正スライドを照らすステップであって、
前記較正スライドが、基板と、前記基板の表面に配置され、プラズモン共鳴を生成するよう構成される複数の離間した金属ナノ構造体を含む画素レイアウトとを備え、
前記較正スライドを照らす光は、プラズモン共鳴を生成し、これは、励起波長の光を吸収して、蛍光顕微鏡を較正するために提供される複数の画素強度値を含む蛍光画像を生成するため、光ルミネセンス及び／又は蛍光を生成することを可能にする、ステップと、
ｂ）前記蛍光画像の蛍光画像データを較正試験データとして取得するステップと、
ｃ）前記蛍光顕微鏡の較正目的のため、較正試験データを使用するステップとを有する、方法。
前記ステップｃ）が、
ｃ１）所定の標準較正データを提供するステップと、
ｃ２）前記取得された較正試験データと前記所定の標準較正データとを比較し、強度補正プロファイルを生成するステップと、
ｃ３）前記強度補正プロファイルを用いて、前記蛍光顕微鏡を用いて得られた蛍光病理サンプルの蛍光画像データを較正するステップとを有する、請求項１２に記載の方法。
前記画素レイアウトに加えて、着色マイクロビーズの単層並びに解像度及び歪み試験ターゲットを含む群から選択される少なくとも１つのレイアウトが、前記較正スライドの表面に提供され、前記方法が、
ｄ）前記少なくとも１つのレイアウトの画像データを更なる較正試験データとして取得するステップと、
ｅ）前記少なくとも１つのレイアウトの更なる所定の標準較正データを提供するステップと、
ｆ）前記蛍光顕微鏡のパラメータを較正するため、前記取得された更なる較正試験データと前記記憶された更なる所定の標準較正データとを比較するステップとを更に有し、
前記パラメータは、
蛍光顕微鏡の焦点品質；並びに
解像度及びステッチングアーチファクトを含む群から選択される、請求項１２又は１３に記載の方法。
複数のレイアウトを備える較正スライドを製造する方法において、前記レイアウトが、基板の表面に配置された複数の離間した金属ナノ構造体を備える画素レイアウト、着色マイクロビーズの単層、並びに解像度及び歪み試験ターゲットを含み、前記方法は、
ａａ）顕微鏡スライドを形成する基板に着色マイクロビーズの単層を堆積させるステップと、
ｂｂ）２つのカバースリップを形成する２つの異なる基板に画素レイアウト並びに解像度及び歪み試験ターゲットを堆積させるステップと、
ｃｃ）前記顕微鏡スライドに２つのカバースリップを組み立てて、較正スライドを形成するステップとを有する、方法。