JP2019157129A - 量子ドット及びこれを含む電界発光素子 - Google Patents

量子ドット及びこれを含む電界発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2019157129A
JP2019157129A JP2019043481A JP2019043481A JP2019157129A JP 2019157129 A JP2019157129 A JP 2019157129A JP 2019043481 A JP2019043481 A JP 2019043481A JP 2019043481 A JP2019043481 A JP 2019043481A JP 2019157129 A JP2019157129 A JP 2019157129A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
quantum dot
less
layer
semiconductor nanocrystal
selenium
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2019043481A
Other languages
English (en)
Other versions
JP7265892B2 (ja
Inventor
裕 鎬 元
Yuho Won
裕 鎬 元
星 祐 金
Sung Woo Kim
星 祐 金
ジン ア 金
Jin A Kim
ジン ア 金
晶 姫 李
Jeong-Hee Lee
晶 姫 李
泰 亨 金
Taikyo Kin
泰 亨 金
張 銀 珠
Ginshu Cho
銀 珠 張
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JP2019157129A publication Critical patent/JP2019157129A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7265892B2 publication Critical patent/JP7265892B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02365Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518Deposited layers
    • H01L21/02587Structure
    • H01L21/0259Microstructure
    • H01L21/02601Nanoparticles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/02Use of particular materials as binders, particle coatings or suspension media therefor
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09KMATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/88Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing selenium, tellurium or unspecified chalcogen elements
    • C09K11/881Chalcogenides
    • C09K11/883Chalcogenides with zinc or cadmium
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/0657Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions characterised by the shape of the body
    • H01L29/0665Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions characterised by the shape of the body the shape of the body defining a nanostructure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/12Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
    • H01L29/122Single quantum well structures
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/14Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of the electroluminescent material, or by the simultaneous addition of the electroluminescent material in or onto the light source
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • H10K50/115OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers comprising active inorganic nanostructures, e.g. luminescent quantum dots
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • H10K50/125OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers specially adapted for multicolour light emission, e.g. for emitting white light
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/14Carrier transporting layers
    • H10K50/15Hole transporting layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/14Carrier transporting layers
    • H10K50/16Electron transporting layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/17Carrier injection layers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/17Carrier injection layers
    • H10K50/171Electron injection layers
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Luminescent Compositions (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

【課題】青色光を放出する無カドミウム半導体ナノ結晶の量子ドット及びこれを含む電界発光素子を提供する。【解決手段】本発明の量子ドットは、亜鉛、セレニウム、及びテルリウムを含む第1半導体ナノ結晶を含むコア並びにコアの少なくとも一部の上に配置されて亜鉛、セレニウム、及び硫黄を含む半導体ナノ結晶シェルを含み、カドミウムを含まず、セレニウムに対する硫黄のモル比が2.4以下である。本発明の電界発光素子は、互いに向かい合う第1電極及び第2電極と、第1電極と第2電極との間に位置して複数の量子ドットを含む量子ドット発光層と、を有し、複数の量子ドットは、本発明の量子ドットを含む。【選択図】図1

Description

本発明は、量子ドット及びこれを含む電界発光素子に関する。
ナノ粒子は、バルク物質とは異なり、物質の固有特性として知られている物理的特性(エネルギーバンドギャップ、融点等)を粒子の大きさに応じて調節することができる。例えば、量子ドット(quantum dot)とも呼ばれる半導体ナノ結晶粒子は、数ナノの大きさの結晶性材料であり、大きさが非常に小さいため、単位体積当たりの表面積が広く、量子閉じ込め(quantum confinement)効果を現わすことから、同一組成のバルク物質の特性とは異なる物性を示す。量子ドットは、励起源(excitation source)から光を吸収してエネルギー励起状態になり、そのエネルギーバンドギャップに相応するエネルギーを放出する。
量子ドットの合成方法には、金属有機化学蒸着(MOCVD)、分子線エピタキシー(MBE)等の気相蒸着法、及び有機溶媒に前駆体物質を入れて結晶を成長させる化学的湿式法がある。化学的湿式法では、結晶成長時のリガンド/配位溶媒等の有機化合物がナノ結晶の表面を配位して結晶成長を調節する。
本発明は、上記従来技術に鑑みてなされたものであって、本発明の目的は、青色光を放出する無カドミウム半導体ナノ結晶の量子ドット及びこれを含む電界発光素子を提供することにある。
上記目的を達成するためになされた本発明の一態様による量子ドットは、亜鉛、セレニウム、及びテルリウムを含む第1半導体ナノ結晶を含むコア並びに前記コアの少なくとも一部上に配置されて亜鉛、セレニウム、及び硫黄を含む半導体ナノ結晶シェルを有し、前記量子ドットは、カドミウムを含まず、前記量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が2.4以下である。
前記量子ドットの光発光ピーク波長は、430nm以上480nm以下であり得る。
前記量子ドットは、10nm以上の粒子の大きさを有し得る。
前記量子ドットは、セレニウムに対するテルリウムのモル比が0.05以下であり得る。
前記量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が2.0以下であり得る。
前記量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が1.85以下であり得る。
前記量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が1.85未満であり得る。
前記量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が1.8以下であり得る。
前記コアの大きさは、2nm以上であり得る。
前記コアは、ZnTeSe1−x(ここで、xは0よりも大きく0.05以下である)を含み得る。
前記半導体ナノ結晶シェルは、前記コアから半径方向に変化する組成を有し得る。
前記半導体ナノ結晶シェルは、硫黄の含有量が前記量子ドットの表面に向かって増加し得る。
前記半導体ナノ結晶シェルは、前記コアの真上に配置された第1層及び前記第1層上に配置された第2層を含み得る。前記第1層は、第2半導体ナノ結晶を含み得る。前記第2層は、前記第2半導体ナノ結晶と異なる組成を有する第3半導体ナノ結晶を含み得る。
前記第2半導体ナノ結晶は、亜鉛、セレニウム、及び選択に応じて硫黄を含み得る。前記第3半導体ナノ結晶は、亜鉛及び硫黄を含み得る。
前記第2層は最外殻層であり、前記第3半導体ナノ結晶はセレニウムを含まなくてもよい。
前記量子ドットの光発光ピーク波長は、445nmよりも大きくあり得る。
前記量子ドットの光発光ピーク波長は、470nm以下であり得る。
前記量子ドットは、量子効率が70%以上であり得る。
前記量子ドットの光発光ピークの半値幅は、30nm以下であり得る。
前記量子ドットの粒子の大きさは、12nm以上であり得る。
上記目的を達成するためになされた本発明の一態様による電界発光素子は、互いに向かい合う第1電極及び第2電極と、前記第1電極と前記第2電極との間に位置して複数の量子ドットを含む量子ドット発光層と、を有し、前記複数の量子ドットは、上述の量子ドットを含み得る。
前記第1電極と前記量子ドット発光層との間、前記第2電極と前記量子ドット発光層との間、又は前記第1電極と前記量子ドット発光層との間及び前記第2電極と前記量子ドット発光層との間に電荷補助層を含み得る。
前記電荷補助層は、電荷輸送層、電荷注入層、又はこれらの組み合わせを含み得る。
前記電界発光素子は、最大外部量子効率(peak external quantum efficiency)が4%以上であり得る。
前記電界発光素子は、CIE色座標のx値が0.2以下の光を放出し得る。
他の実施例で、電子素子は、上述の半導体ナノ結晶の量子ドットを含む。
前記電子素子は、表示装置、発光ダイオード(LED)、量子ドット発光ダイオード(QLED)、有機発光ダイオード(OLED)、センサー(Sensor)、イメージセンサー、又は太陽電池電子素子であり得る。
本発明によれば、青色光を放出する無カドミウム量子ドットを提供することができる。本発明の量子ドットは、多様なディスプレイ素子及び生物学的ラベリング(バイオセンサー、バイオイメージング)、フォトディテクタ、太陽電池、ハイブリッドコンポジット等に応用することができる。本発明の量子ドットは、電界発光素子に適用時、向上した外部量子効率及び最大輝度を示すことができる。本発明の量子ドットは、減少した半値幅と増加した効率の両方を示すことができる。
一実施例による半導体ナノ結晶の模式的な断面図である。 一実施例によるQD LED素子の模式的な断面図である。 一実施例によるQD LED素子の模式的な断面図である。 一実施例によるQD LED素子の模式的な断面図である。
以下、本発明を実施するための形態の具体例を、図面を参照しながら詳細に説明する。
しかし、具現される形態は、以下に開示する具現例に限定されるものではない。他に定義がない限り、本明細書で使用される全ての用語(技術的及び科学的用語を含む)は、当該技術分野における通常の知識を有する者に共通して理解される意味で使われる。また、一般的に使われる辞典に定義されている用語は明白に特に定義しない限り、理想的に又は過度に解釈されない。明細書全体においてある部分がある構成要素を「含む」という場合、これは、特に反対の意味を示す記載がない限り、他の構成要素を除くものではなく他の構成要素を更に含み得ることを意味する。
また、単数形は文面で特記しない限り、複数形も含む。
図面で複数層及び領域を明確に表現するために厚さを拡大して示す。明細書全体において類似の部分に対しては同じ図面符号を付けた。
層、膜、領域、板等の部分が他の部分の「上に」あるという場合、これは他の部分の「真上に」ある場合だけでなく、その中間にまた他の部分がある場合も含む。逆にある部分が他の部分の「真上に」あるという場合には中間に他の部分がないことを意味する。
以下、特に定義がない限り、「置換」とは、化合物又は該当残基が、水素の代わりに、C1〜C30のアルキル基、C2〜C30のアルキニル基、C6〜C30のアリール基、C7〜C30のアルキルアリール基、C1〜C30のアルコキシ基、C1〜C30のヘテロアルキル基、C3〜C30のヘテロアルキルアリール基、C3〜C30のシクロアルキル基、C3〜C15のシクロアルケニル基、C6〜C30のシクロアルキニル基、C2〜C30のヘテロシクロアルキル基、ハロゲン(−F、−Cl,−Br又は−I)、ヒドロキシ基(−OH)、ニトロ基(−NO)、シアノ基(−CN)、アミノ基(−NRR’ここで、R及びR’はそれぞれ独立して水素又はC1〜C6のアルキル基である)、アジド基(−N)、アミジノ基(−C(=NH)NH))、ヒドラジノ基(−NHNH)、ヒドラゾノ基(=N(NH))、アルデヒド基(−C(=O)H)、カルバモイル基(carbamoyl group,−C(O)NH)、チオール基(−SH)、エステル基(−C(=O)OR、ここで、RはC1〜C6のアルキル基又はC6〜C12のアリール基である)、カルボキシル基(−COOH)又はその塩(−C(=O)OM、ここで、Mは有機又は無機陽イオンである)、スルホン酸基(−SOH)又はその塩(−SOM、ここで、Mは有機又は無機陽イオンである)、りん酸基(−PO)又はその塩(−POMH又は−PO、ここで、Mは有機又は無機陽イオンである)、及びこれらの組み合わせより選ばれる置換基に置換されることを意味する。
ここで炭化水素基とは、炭素及び水素を含む基(例えば、アルキル、アルケニル、アルキニル、又はアリール基等)をいう。炭化水素基は、アルカン、アルケン、アルキン、又はアレーンから1個以上の水素原子の除去によって形成される1価以上の基である。炭化水素基で、一つ以上のメチレンは、オキシド残基、カルボニル残基、エステル残基、−NH−、又はこれらの組み合わせに代替される。
ここでアルキルとは、線状又は側鎖状の飽和1価炭化水素基(メチル、エチルヘキシル等)である。
ここでアルケニルとは、1個以上の炭素−炭素二重結合を有する線状又は側鎖状の1価の炭化水素基をいう。
ここで、アルキニルとは、1個以上の炭素−炭素3重結合を有する線状又は側鎖状の1価の炭化水素基をいう。
ここで、アリールとは、芳香族基から一つ以上の水素が除去されることによって形成される基(例えば、フェニル又はナフチル基)をいう。
ここで、ヘテロとは、N、O、S、Si、P、又はこれらの組み合わせである1〜3個のヘテロ原子を含むものをいう。
ここで、族とは周期律表上の族(group)をいう。
量子ドットの発光物性の向上のためにコアシェル構造が提案されているが、好ましい物性を有するコアシェル量子ドットの大多数がカドミウム基盤の材料である。従って、所望する発光物性を示す無カドミウムの半導体ナノ結晶粒子の開発が求められている。
半導体ナノ結晶粒子(以下、量子ドットともいう)は、励起源から光を吸収してそのエネルギーバンドギャップに該当する光を放出する。量子ドットのエネルギーバンドギャップは、ナノ結晶の大きさ及び組成に応じて変化する。例えば、量子ドットは、大きさが増加するほど狭いエネルギーバンドギャップを有し、発光波長が増加する。半導体ナノ結晶は、ディスプレイ素子、エネルギー素子、又は生体発光素子等の多様な分野で発光素材として注目をあびている。
実際の応用可能な水準の発光物性を有する大多数の量子ドットはカドミウム(Cd)に基づく。カドミウムは、深刻な環境/保健問題を提起し、多数の国家の有害物質制限指針(RoHS)における規制対象の元素である。従って、向上した発光特性を有する無カドミウム量子ドットの開発が必要である。一方、QLED表示素子における応用のために比較的狭い半値幅を有し、且つ純粋な青色(例えば、PLピーク455nm程度)の発光が可能な量子ドットが必要である。例えば、次世代色標準であるBT2020を基準に(例えば、90%以上の)比較的高い色再現率を有する表示素子のためには青色発光材料が必要である。しかし、応用可能な水準の発光物性と上述したPLピークを示すことが可能な無カドミウム量子ドットはまだ報告されていない。
本実施例による量子ドットは、後述する通りの構造と組成を有し、所望する青色光を向上した効率及び減少した半値幅を有して放出するが、カドミウムを含まない。
量子ドットは、亜鉛、セレニウム、及びテルリウムを含む第1半導体ナノ結晶を含むコア並びにコア(例えば、コアの少なくとも一部)上に配置されて亜鉛、セレニウム、及び硫黄を含む(例えば、亜鉛、セレニウム、及び硫黄を含み、第1半導体ナノ結晶と異なる組成を有する第2半導体ナノ結晶を含む)半導体ナノ結晶シェルを含む。量子ドットはカドミウムを含まない。量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が2.4以下である。上述した量子ドットは、430nm以上480nm以下の範囲で光発光ピーク波長を有する青色光を放出する。
コアの第1半導体ナノ結晶物質は、制限された含有量のテルリウム(Te)を含む。コアはZnTeSe1−x(ここで、xは0よりも大きく0.05以下である)を含む。コアのセレニウム含有量に対するテルリウム含有量の比率を増加させることによって、半導体ナノ結晶粒子の最大光発光ピーク波長特性が向上する。コアのテルリウムの含有量は、セレニウム1モルに対して、0.001モル以上、例えば0.005モル以上、0.006モル以上、0.007モル以上、0.008モル以上、0.009モル以上、0.01モル以上、又は0.02モル以上であり、コアのテルリウムの含有量は、セレニウム1モルに対して、0.053モル以下、例えば0.05モル以下、0.049モル以下、0.048モル以下、0.047モル以下、0.046モル以下、0.045モル以下、0.044モル以下、0.043モル以下、0.042モル以下、0.041モル以下、又は0.04モル以下である。上記のコア又は量子ドットは、マンガン、銅、又はこれらの組み合わせを含まなくてもよい。
半導体ナノ結晶シェルは、亜鉛、セレニウム、及び硫黄を含む。シェルは、複数の層を含む多層シェルである。複数の層で隣接する層は組成が相違する半導体物質を含む。多層シェルは、コアの真上に配置された第1層及び第1層上に配置された第2層を含む。第1層は、第2半導体ナノ結晶を含む。第2層は、第2半導体ナノ結晶と異なる組成を有する第3半導体ナノ結晶を含む。第2層は、量子ドットの最外殻層である(参照:図1)。第2半導体ナノ結晶は、亜鉛、セレニウム、及び選択に応じて硫黄を含む。第3半導体ナノ結晶は、亜鉛及び硫黄を含む。第3半導体ナノ結晶は、セレニウムを含まない。図1で、量子ドットの断面は球形であるが、これに限定されるものではなく、量子ドットの断面は任意の形状を有し得る。
シェル又は多層シェルの各層は半径方向に変化する組成を有するグラジエントアロイである。一実施例で、半導体ナノ結晶シェル内の硫黄の含有量は、量子ドットの表面に向かって増加する。例えば、シェルの硫黄の含有量はコアから遠ざかるほど高まる濃度勾配を有する。
量子ドットは、(例えば、誘導結合プラズマ原子放出分光分析(ICP−AES)により測定される)セレニウムに対するテルリウムのモル含有量比が0.05以下、例えば0.04以下、0.03以下、0.02以下、0.015以下、0.01以下であり、セレニウムに対するテルリウムのモル含有量比が0.001以上、例えば0.0015以上、0.002以上、0.0025以上、0.003以上、0.0035以上、0.004以上、又は0.0045以上である。例えば、セレニウムに対するテルリウムのモル含有量比は、0.004〜0.01であり、セレニウムに対するテルリウムのモル含有量比は、0.001〜0.02であり、セレニウムに対するテルリウムのモル含有量比は、0.001〜0.03である。
量子ドットの(例えば、誘導結合プラズマ原子放出分光分析によって決定した場合)亜鉛に対するテルリウムのモル比は、0.02以下、例えば0.019以下、0.018以下、0.017以下、0.016以下、0.015以下、0.014以下、0.013以下、0.012以下、0.011以下、0.01以下、0.009以下、0.008以下、0.007以下、0.006以下、又は0.005以下であり、亜鉛に対するテルリウムのモル比は、0.001以上、例えば0.0015以上である。
量子ドットの亜鉛の含有量は、セレニウムの含有量よりも大きい。量子ドットのICP−AES分析によって確認した場合、亜鉛(Zn)の含有量は、セレニウム(Se)の含有量よりも大きく、セレニウムの含有量は、テルリウム含有量よりも大きい。
例えば、ICP−AES分析で、Znに対するSeのモル比は、1未満、例えば0.95以下、0.90以下、0.85以下、0.8以下、0.7以下、0.6以下、0.5以下、又は0.45以下であり、ICP−AES分析で、Znに対するSeのモル比は、0.1以上、例えば0.2以上、又は0.3以上である。
量子ドットのZnに対する硫黄のモル比は、0.1以上、例えば0.15以上、0.2以上、0.3以上、又は0.4以上であり、量子ドットのZnに対する硫黄のモル比は、0.9以下、例えば0.8以下、0.7以下、又は0.6以下である。
量子ドットの亜鉛に対するSe+Sのモル比は、0.3以上、例えば0.4以上、0.5以上、0.6以上、0.7以上、0.8以上、0.85以上、又は0.89以上であり、量子ドットの亜鉛に対するSe+Sのモル比は、1以下である。
量子ドットのセレニウムに対する硫黄のモル比は2.4以下である。量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が2以下、例えば1.95以下、1.9以下、1.85以下、1.80以下、1.40以下、1.25以下、1.19以下、0.95以下、又は0.80以下であり、量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が0.4以上、例えば0.5以上、0.6以上、0.7以上、0.95以上、1以上、1.1以上、1.95以上、1.23以上、1.25以上、1.3以上、1.4以上、又は1.95以上である。
上述した範囲の構成成分間の比率を有する一実施例の量子ドットは、向上した(例えば、70%以上、71%以上、72%以上、73%以上、74%以上、又は75%以上の)量子効率及び減少した(例えば、30nm未満、25nm以下、25nm未満、又は22nm以下)半値幅を有して青色光を放出する。量子ドットは、80%以上、例えば90%以上、95%以上、99%以上、又は100%の量子効率を示す。
量子ドットは任意の形状を有し得る。量子ドットの形状は、球形、多面体形、マルチポッド、又はこれらの組み合わせを含む。一実施例で、量子ドットはマルチポッド形状を含む。マルチポッドは、2個以上(例えば、3個以上又は4個以上の)ブランチ部及びこれらの間のバレー部を有する。
コアの平均の大きさは、2nm以上、例えば3nm以上、又は4nm以上であり、コアの平均の大きさは、6nm以下、例えば5nm以下である。量子ドットは、青色光を放出しながらも比較的大きい大きさを有する。従って、向上した安定性を有して取り扱いが容易である。例えば、量子ドットは、10nm以上、例えば11nm以上、又は更に12nm以上の大きさを有する。ここで量子ドットの大きさは、直径(又は球形でない場合、量子ドットの電子顕微鏡の2次元イメージから球形を仮定して計算する直径)をいう。半導体ナノ結晶の大きさは、50nm以下、例えば45nm以下、40nm以下、35nm以下、30nm以下、25nm以下、24nm以下、23nm以下、22nm以下、21nm以下、20nm以下、19nm以下、18nm以下、17nm以下、又は16nm以下である。
一実施例による量子ドットは、430nm以上(例えば、440nm以上、445nm以上、447nm以上、448nm以上、449nm以上、又は450nm以上)480nm以下(例えば、475以下、470nm以下、465nm以下、460nm以下、又は455nm以下)の波長で最大ピーク発光を有する青色光を放出する。青色光は、450nm〜460nmの最大光発光ピーク波長を有する。最大ピーク発光は、50nm以下、例えば49nm以下、48nm以下、47nm以下、46nm以下、45nm以下、44nm以下、43nm以下、42nm以下、41nm以下、40nm以下、39nm以下、38nm以下、37nm以下、36nm以下、35nm以下、34nm以下、33nm以下、32nm以下、31nm以下、30nm以下、29nm以下、又は28nm以下の半値幅を有する。
無カドミウム量子ドットは、所望する波長(例えば、430nm以上470nm以下の中心波長を有する)の青色光を向上した効率及び狭い半値幅で放出することが難しい。例えば、リン化インジウムの場合は効率が低く、ZnSe基盤の量子ドットは発光波長を430nm以上に調整することが難しい。しかし、本実施例の量子ドットは、青色光を向上した効率と狭い半値幅を有して放出する。また、本実施例の量子ドットは、電界発光素子で向上した最大外部量子効率(Max EQE)を示す。
他の実施例として、一実施例による量子ドットを製造する方法は、亜鉛、セレニウム、及びテルリウムを含む第1半導体ナノ結晶を含むコア(以下、コアともいう)を得る段階と、有機溶媒内で、コア及び有機リガンドの存在下で、亜鉛前駆体と、セレニウム前駆体及び硫黄前駆体から選ばれる1種以上の非金属前駆体とを複数の段階で反応させ、コアの表面に亜鉛、セレニウム、及び硫黄を含む上述した組成の半導体ナノ結晶シェルを形成する段階と、を有する。
半導体ナノ結晶シェルを形成する段階は、亜鉛前駆体とセレニウム前駆体とを反応させた後、亜鉛前駆体と硫黄前駆体とを反応させることを含む。
一実施例で、コアは、亜鉛前駆体及び有機リガンドを含む亜鉛前駆体溶液を準備し;セレニウム前駆体及びテルリウム前駆体を準備し;亜鉛前駆体溶液を第1反応温度で加熱し、セレニウム前駆体及びテルリウム前駆体を選択に応じて有機リガンドと共に付加して反応を行うことにより得られる。
亜鉛前駆体は、Zn金属粉末、ZnO、アルキル化Zn化合物(例えば、ジエチル亜鉛等C2〜C30のジアルキル亜鉛)、Znアルコキシド(例えば、亜鉛エトキシド)、Znカルボキシレート(例えば、酢酸亜鉛)、Znニトラート、Znパーコレート、Znスルファート、Znアセチルアセトナート、Znハロゲン化物(例えば、塩化亜鉛等)、Znシアン化物、Znヒドロキシド、又はこれらの組み合わせを含む。亜鉛前駆体の例は、ジメチル亜鉛(dimethyl zinc)、ジエチル亜鉛(diethyl zinc)、酢酸亜鉛(zinc acetate)、亜鉛アセチルアセトナート(zinc acetylacetonate)、ヨウ化亜鉛(zinc iodide)、臭化亜鉛(zinc bromide)、塩化亜鉛(zinc chloride)、フッ化亜鉛(zinc fluoride)、炭酸亜鉛(zinccarbonate)、シアン化亜鉛(zinc cyanide)、硝酸亜鉛(zinc nitrate)、酸化亜鉛(zinc oxide)、過酸化亜鉛(zinc peroxide)、過塩素酸亜鉛(zinc perchlorate)、硫酸亜鉛(zinc sulfate)、及びこれらの組み合わせを含む。
セレニウム前駆体は、セレン−トリオクチルホスフィン(Se−TOP)、セレン−トリブチルホスフィン(Se−TBP)、セレン−トリフェニルホスフィン(Se−TPP)、セレン−ジフェニルホスフィン(Se−DPP)、又はこれらの組み合わせを含むが、これらに制限されない。
テルリウム前駆体は、テルル−トリブチルホスフィン(Te−TBP)、テルル−トリフェニルホスフィン(Te−TPP)、テルル−ジフェニルホスフィン(Te−DPP)、又はこれらの組み合わせを含むが、これらに制限されない。
硫黄前駆体は、ヘキサンチオール、オクタンチオール、デカンチオール、ドデカンチオール、ヘキサデカンチオール、メルカプトプロピルシラン、スルファ−トリオクチルホスフィン(S−TOP)、スルファ−トリブチルホスフィン(S−TBP)、スルファ−トリフェニルホスフィン(S−TPP)、スルファ−トリオクチルアミン(S−TOA)、ビストリメチルシリルスルファ(bistrimethylsilyl sulfur)、硫化アンモニウム、硫化ナトリウム、又はこれらの組み合わせを含む。
有機溶媒は、ヘキサデシルアミン等のC6〜C22の1次アミン、ジオクチルアミン等のC6〜C22の2次アミン、トリオクチルアミン等のC6〜C40の3次アミン、ピリジン等の窒素含有ヘテロ環化合物、オクタデセン等のC6〜C40のオレフィン、ヘキサデカン、オクタデカン、スクアラン(squalane)等のC6〜C40の脂肪族炭化水素、フェニルドデカン、フェニルテトラデカン、フェニルヘキサデカン等C6〜C30のアルキル基に置換された芳香族炭化水素、少なくとも一つ(例えば、1個、2個、又は3個)のC6〜C22のアルキル基に置換された1次、2次、又は3次ホスフィン(例えば、トリオクチルアミン)、(例えば、1個、2個、又は3個)のC6〜C22のアルキル基に置換された1次、2次、又は3次ホスフィンオキシド(例えば、トリオクチルホスフィンオキシド)、フェニルエーテル、ベンジルエーテル等C12〜C22の芳香族エーテル、又はこれらの組み合わせを含む。
有機リガンドは、製造されたナノ結晶の表面を配位し、ナノ結晶が溶液相によく分散するようにするだけでなく、発光及び電気的特性に影響を与える。有機リガンドは、RCOOH、RNH、RNH、RN、RSH、RHPO、RHPO、RPO、RHP、RHP、RP、ROH、RCOOR’、RPO(OH)、RPOOH(ここで、R及びR’はそれぞれ独立してC1〜C24(又はC3〜C40)の置換又は非置換の脂肪族炭化水素、C6〜C20(又はC6〜C40)の置換又は非置換の芳香族炭化水素、又はこれらの組み合わせを含む)、又はこれらの組み合わせを含む。リガンドは、単独で又は2以上の化合物の混合物で使用される。
有機リガンド化合物の具体的な例としては、メタンチオール、エタンチオール、プロパンチオール、ブタンチオール、ペンタンチオール、ヘキサンチオール、オクタンチオール、ドデカンチオール、ヘキサデカンチオール、オクタデカンチオール、ベンジルチオール;メタンアミン、エタンアミン、プロパンアミン、ブタンアミン、ペンタンアミン、ヘキサンアミン、オクタンアミン、ドデカンアミン、ヘキサデシルアミン、オレイルアミン、オクタデシルアミン、ジメチルアミン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン;メタン酸、エタン酸、プロパン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン酸、オクタン酸、ドデカン酸、ヘキサデカン酸、オクタデカン酸、オレイン酸、安息香酸、パルミチン酸(palmitic acid)、ステアリン酸(stearic acid);メチルホスフィン、エチルホスフィン、プロピルホスフィン、ブチルホスフィン、ペンチルホスフィン、トリブチルホスフィン、トリオクチルホスフィン等のホスフィン;メチルホスフィンオキシド、エチルホスフィンオキシド、プロピルホスフィンオキシド、ブチルホスフィンオキシド、トリオクチルホスフィンオキシド等のホスフィン化合物又はそのオキシド化合物;ジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィン化合物又はそのオキシド化合物;ホスホン酸(phosphonic acid)等が挙げられるが、これらに制限されるものではない。有機リガンド化合物は、単独で又は2種以上の混合物で使用される。一実施例で、有機リガンド化合物は、RCOOHとアミン(例えば、RNH、RNH、及び/又はRN)との組み合わせである。
第1半導体ナノ結晶を含むコアのセレニウムに対するテルリウムのモル比は0.05以下である。このようなコアの形成のために、コア形成中のセレニウム前駆体の含有量は、テルリウム前駆体1モルに対して、20モル以上、例えば25モル以上、26モル以上、27モル以上、28モル以上、29モル以上、30モル以上、31モル以上、32モル以上、33モル以上、34モル以上、35モル以上、36モル以上、37モル以上、38モル以上、39モル以上、又は40モル以上であり、セレニウム前駆体の含有量は、テルリウム前駆体1モルに対して、60モル以下、例えば59モル以下、58モル以下、57モル以下、56モル以下、又は55モル以下である。このような含有量で上述した組成のコアが形成される。
第1反応温度は、280℃以上、例えば、290℃以上である。コア形成のための反応時間は、特に制限されず、適切に選択される。反応時間は、5分以上、例えば10分以上、15分以上、20分以上、25分以上、30分以上、35分以上、40分以上、45分以上、又は50分以上であるが、これに制限されない。例えば、反応時間は、2時間以下であるが、これに制限されない。反応時間を調節してコアの大きさを調節する。
シェル形成のための反応温度、時間等の反応条件は、所望するシェル組成を考慮して適切に選択される。一実施例として、真空下で溶媒及び選択に応じて有機リガンドを所定の温度(例えば、100℃以上)で加熱(又は真空処理)し、不活性気体の雰囲気に変えて再び所定の温度(例えば、100℃以上)で加熱する。次いで、コアを投入し、シェル前駆体を順次又は同時に投入し、所定の反応温度で加熱して反応を行う。シェル前駆体は相違する比率の混合物を反応時間の間順次投入し、所望する組成(例えば、グラジエントを有するか或いは多層)のシェルを形成する。一実施例で、亜鉛前駆体及びセレニウム前駆体を反応させて第1層を形成し、次いで亜鉛前駆体及び硫黄前駆体を反応させて第2層を形成する。シェル形成のための反応温度は、280℃以上、例えば290℃以上、又は300℃以上、及び330℃以下、例えば325℃以下である。
反応系内で各前駆体の含有量及び濃度は、所望するコア及びシェル組成と、前駆体間の反応性とを考慮して選択する。
反応終了後、反応生成物に非溶媒(nonsolvent)を付加すると、リガンド化合物が配位したナノ結晶粒子が分離する。非溶媒は、コア形成及び/又はシェル形成反応に使用される溶媒と混和されるが、製造されたナノ結晶を分散させることができない極性溶剤である。非溶媒は、反応に使用する溶媒に応じて決定され、例えばアセトン、エタノール、ブタノール、イソプロパノール、エタンジオール、水、テトラヒドロフラン(THF)、ジメチルスルホキシド(DMSO)、ジエチルエテール(diethylether)、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、エチレングリコール、上記列挙した溶媒に類似する溶解度パラメーター(solubility parameter)を有する溶媒、又はこれらの組み合わせを含む。分離は、遠心分離、沈殿、クロマトグラフィー、又は蒸留を用いる。分離されたナノ結晶は、必要に応じて洗浄溶媒に付けて洗浄される。洗浄溶媒は、特に制限されず、リガンドに類似する溶解度パラメーターを有する溶媒が使用され、その例としてはヘキサン、ヘプタン、オクタン、クロロホルム、トルエン、ベンゼン等が挙げられる。一実施例の量子ドットは、水、上述した非溶媒、又はこれらの組み合わせに対して非分散性又は非水溶性である。一実施例の量子ドットは、上述した有機溶媒内に分散される。一実施例において、上述した量子ドットは、C6〜C40の脂肪族炭化水素、C6〜C40の置換若しくは非置換の芳香族炭化水素、又はこれらの組み合わせに分散される。
他の実施例として、電子素子は、上述した半導体ナノ結晶粒子を含む。電子素子は、表示素子、発光ダイオード(LED)、有機発光ダイオード(OLED)、量子ドットLED、センサー(sensor)、太陽電池、イメージセンサー、又は液晶表示装置を含むが、これらに制限されない。
一実施例で、電子素子は、光発光素子(例えば、量子ドットシート、量子ドットレール(rail)等照明装置、液晶表示装置等)、又は電界発光素子(例えば、QD LED)である。
他の実施例で、電子素子は、量子ドットシートを含み、上述した半導体ナノ結晶粒子が量子ドットシート内に(例えば、半導体ナノ結晶−ポリマー複合体の形態で)含まれる。
一実施例として、電子素子は電界発光素子である。電子素子は、互いに向かい合うアノード1とカソード5及びアノードとカソードとの間に位置して複数の量子ドットを含む量子ドット発光層3を含み、複数の量子ドットは、上述した半導体ナノ結晶粒子を含む(参照:図2)。
カソードは、低い仕事関数を有する電子注入導体を含む。アノードは、比較的高い仕事関数を有する正孔注入導体を含む。電子/正孔注入導体は、(アルミニウム、マグネシウム、タングステン、ニッケル、コバルト、白金、パラジウム、カルシウム、LiF等の)金属基盤の材料(例えば、金属、金属化合物、合金、これらの組み合わせ)、ガリウムインジウム酸化物、インジウムスズ酸化物等の金属酸化物、ポリエチレンジオキシチオフェン等(例えば、比較的高い仕事関数)の導電性ポリマー等を含むが、これに制限されない。
カソード及びアノードのうちの少なくとも一つは、透光電極又は透明電極である。一実施例で、アノード及びカソードは、いずれも透光電極である。電極はパターン化される。
透光電極は、例えばインジウムスズ酸化物(indium tin oxide,ITO)又はインジウム亜鉛酸化物(indium zinc oxide,IZO)、ガリウムインジウムスズ酸化物、亜鉛インジウムスズ酸化物、チタニウム窒化物、ポリアニリン、LiF/Mg:Ag等のような透明導電体、又は薄い厚さの単一層若しくは複数層の金属薄膜で作られるが、これらに制限されない。カソード及びアノードの中の一つが不透光電極である場合、例えばアルミニウム(Al)、リチウムアルミニウム(Li:Al)合金、マグネシウム−銀合金(Mg;Ag)、フッ化リチウム−アルミニウム(LiF:Al)のような不透明導電体で作られる。
透光電極は(例えば、絶縁性の)透明基板上に配置される。基板は、硬いか又は柔軟なものである。基板は、プラスチック、ガラス、又は金属である。
アノード及びカソードの厚さは、特に限定されず、素子効率を考慮して適切に選択される。例えば、アノード(又はカソード)の厚さは、5nm以上、例えば50nm以上であるが、これに制限されない。例えば、アノード(又はカソード)の厚さは、100μm以下、例えば10μm以下、1μm以下、900nm以下、500nm以下、又は100nm以下であるが、これに制限されない。
量子ドット発光層は、複数の量子ドットを含む。複数の量子ドットは、上述した実施例による青色発光半導体ナノ結晶粒子を含む。量子ドット発光層は、青色発光半導体ナノ結晶粒子のモノレイヤーを含む。
発光層は、溶媒に分散された量子ドットを含む分散液を準備し、これをスピンコート、インクジェットコート、又は噴射コートを適用し、これを乾燥して形成する。発光層の厚さは、5nm以上、例えば10nm以上、15nm以上、20nm以上、25nm以上、及び100nm以下、例えば90nm以下、80nm以下、70nm以下、60nm以下、50nm以下、40nm以下、又は30nm以下である。
電子素子は、アノードとカソードとの間に電荷(正孔又は電子)補助層を含む。例えば、電子素子は、アノードと量子ドット発光層との間に、及び/又はカソードと量子ドット発光層との間に正孔補助層2又は電子補助層4を含む(図2を参照)。
一方、図2で、正孔/電子補助層を単一層で形成した構造の場合を示したが、これに限定されず、これらは2層以上が積層された複数層で形成され得る。
正孔補助層は、例えば正孔の注入を容易にする正孔注入層(HIL)、正孔の輸送を容易にする正孔輸送層(HTL)、電子の移動を阻止する電子遮断層(EBL)、又はこれらの組み合わせを含む。例えば、正孔輸送層とアノードとの間に正孔注入層が配置される。例えば、電子遮断層は、発光層と正孔輸送(注入)層との間に配置されるが、これに制限されない。各層の厚さは、適切に選択される。例えば、各層の厚さは、1nm以上500nm以下であるが、これに制限されない。正孔注入層は、PEDOT:PSSのように溶液工程(例えば、スピンコート等)により形成される有機層である。正孔輸送層も溶液工程(例えばスピンコート等)により形成される有機層である。
電子補助層は、例えば電子の注入を容易にする電子注入層(EIL)、電子の輸送を容易にする電子輸送層(ETL)、正孔の移動を阻止する正孔遮断層(HBL)、又はこれらの組み合わせを含む。例えば、電子輸送層とカソードとの間に電子注入層が配置される。例えば、正孔遮断層は、発光層と電子輸送(注入)層との間に配置されるが、これに制限されない。各層の厚さは、適切に選択される。例えば、各層の厚さは、1nm以上500nm以下であるが、これに制限されない。電子注入層は、蒸着によって形成される有機層である。電子輸送層は、無機酸化物ナノ粒子を含むか、或いは蒸着によって形成される有機層である。
量子ドット発光層は、正孔注入(又は輸送)層又は電子注入(輸送)層内に配置される。量子ドット発光層は、正孔補助層と電子補助層との間に別途の層として配置され得る。
電荷補助層、電子遮断層、及び正孔遮断層は、例えば有機物、無機物、又は有機無機物を含む。有機物は、正孔又は電子関連物性を有する有機化合物である。無機物は、例えばモリブデン酸化物、タングステン酸化物、亜鉛酸化物、ニッケル酸化物のような金属酸化物であるが、これに制限されない。
正孔注入/輸送層(HTL)は、例えばポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン):ポリ(スチレンスルホナート)(poly(3,4−ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate)、PEDOT:PSS)、ポリ(9,9−ジオクチル−フルオレン−コ−N−(4−ブチルフェニル)−ジフェニルアミン)(Poly(9,9−dioctyl−fluorene−co−N−(4−butylphenyl)−diphenylamine)、TFB)、ポリアリルアミン、ポリ(N−ビニルカルバゾール)(poly(N−vinylcarbazole)、ポリアニリン(polyaniline)、ポリピロール(polypyrrole)、N,N,N’,N’−テトラキス(4−メトキシフェニル)−ベンジジン(N,N,N’,N’−tetrakis(4−methoxyphenyl)−benzidine,TPD)、4−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル(4−bis[N−(1−naphthyl)−N−phenyl−amino]biphenyl,α−NPD)、m−MTDATA(4,4’,4”−Tris[phenyl(m−tolyl)amino]triphenylamine)、4,4’,4”−トリス(N−カルバゾリル)−トリフェニルアミン(4,4’,4”−tris(N−carbazolyl)−triphenylamine,TCTA)、1,1−ビス[(ジ−4−トイルアミノ)フェニルシクロヘキサン(TAPC)、p型金属酸化物(例えば、NiO、WO、MoO等)、グラフェンオキシド等炭素基盤の材料、及びこれらの組み合わせより選ばれる少なくとも一つを含むが、これらに限定されるものではない。
電子遮断層(EBL)は、例えばポリ(3,4−エチレンジオキシチオフェン):ポリ(スチレンスルホナート)(poly(3,4−ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate)、PEDOT:PSS)、ポリ(9,9−ジオクチル−フルオレン−コ−N−(4−ブチルフェニル)−ジフェニルアミン)(Poly(9,9−dioctyl−fluorene−co−N−(4−butylphenyl)−diphenylamine)、TFB)ポリアリルアミン、ポリ(N−ビニルカルバゾール)(poly(N−vinylcarbazole)、ポリアニリン(polyaniline)、ポリピロール(polypyrrole)、N,N,N’,N’−テトラキス(4−メトキシフェニル)−ベンジジン(N,N,N’,N’−tetrakis(4−methoxyphenyl)−benzidine,TPD)、4−ビス[N−(1−ナフチル)−N−フェニル−アミノ]ビフェニル(4−bis[N−(1−naphthyl)−N−phenyl−amino]biphenyl,α−NPD)、m−MTDATA、4,4’,4”−トリス(N−カルバゾリル)−トリフェニルアミン(4,4’,4”−tris(N−carbazolyl)−triphenylamine,TCTA)、及びこれらの組み合わせより選ばれる少なくとも一つを含むが、これらに限定されるものではない。
電子輸送層(ETL)及び/又は電子注入層は、例えば1,4,5,8−ナフタリン−テトラカルボン酸二無水物(1,4,5,8−naphthalene−tetracarboxylic dianhydride,NTCDA)、バソクプロイン(bathocuproine,BCP)、トリス[3−(3−ピリジル)−メシチル]ボラン(3TPYMB)、LiF、Alq、Gaq、Inq、Znq、Zn(BTZ)、BeBq、ET204(8−(4−(4,6−di(naphthalen−2−yl)−1,3,5−triazin−2−yl)phenyl)quinolone)、8−hydroxyquinolinato lithium(Liq)、2,2’,2”−(1,3,5−Benzinetriyl)−tris(1−phenyl−1−H−benzimidazole)(TPBi)、n型金属酸化物(例えば、亜鉛酸化物、HfO等)、8−4−(4,6−di(naphthalen−2−yl)−1,3,5−triazin−2−yl)phenyl)quinolone:8−hydroxyquinolinato lithium(ET204:Liq)、及びこれらの組み合わせより選ばれる少なくとも一つを含むが、これらに限定されるものではない。ここで、qは8−hydroxyquinoline、BTZは2−(2−hydroxyphenyl)benzothiazolate、Bqは10−hydroxybenzo[h]quinolineをいう。
正孔遮断層(HBL)は、例えば1,4,5,8−ナフタリン−テトラカルボン酸二無水物(1,4,5,8−naphthalene−tetracarboxylic dianhydride,NTCDA)、バソクプロイン(BCP)、トリス[3−(3−ピリジル)−メシチル]ボラン(3TPYMB)、LiF、Alq、Gaq、Inq、Znq、Zn(BTZ)、BeBq、及びこれらの組み合わせより選ばれる少なくとも一つを含むが、これらに限定されるものではない。
一実施例による素子で、透明基板100上に配置されたアノード10は金属酸化物基盤の透明電極(例えば、ITO電極)を含み、アノードに向かい合うカソード50は比較的低い仕事関数の金属(Mg、Al等)を含む。正孔補助層20、例えばTFB及び/又はPVKが正孔輸送層、及び/或いはPEDOT:PSS及び/又はp型金属酸化物等の正孔注入層が透明電極10と発光層30との間に配置される。量子ドット発光層30とカソード50との間には、電子注入層/輸送層等の電子補助層40が配置される(参照:図3)。
他の実施例として、電子素子は逆(Inverted)構造を有する。ここでは透明基板100上に配置されたカソード50が金属酸化物基盤の透明電極(例えば、ITO)を含み、カソードに向かい合うアノード10は比較的高い仕事関数の金属(Au、Ag等)を含む。例えば、n型金属酸化物(ZnO)等が電子補助層(例えば、電子輸送層)40として透明電極50と発光層30との間に配置される。金属アノード10と量子ドット発光層30との間にはMoO又は他のp型金属酸化物が正孔補助層(例えば、TFB及び/又はPVKを含む正孔輸送層、及び/或いはMoO又は他のp型金属酸化物を含む正孔注入層)20として配置される(参照:図4)。
以下では具体的な実施例を提示する。但し、下記に記載する実施例は、発明を具体的に例示するか又は説明するためのものに過ぎず、これにより発明の範囲は制限されない。
[実施例]
<分析方法>
[1]光発光(Photoluminescence)分析
Hitachi F−7000スペクトロメーターを用いて照射波長372nmで製造したナノ結晶の光発光(photoluminescence:PL)スペクトルを得る。
[2]UV分光分析
Hitachi U−3310スペクトロメーターを用いてUV分光分析を行い、UV−Visible吸収スペクトルを得る。
[3]ICP分析
Shimadzu ICPS−8100を用いて誘導結合プラズマ原子発光分光分析(ICP−AES)を行う。
[4]透過電子顕微鏡分析
UT F30 Tecnai electron microscopeを用いて製造したナノ結晶の透過電子顕微鏡写真を得る。
[5]電界発光分光分析
電圧を印加して電圧による電流をKeithley 2635B source meterで測定し、CS2000分光器を用いてEL発光輝度を測定する。
合成は、特記しない限り、不活性気体の雰囲気(窒素flowing条件下)で行う。下記の実施例等において特に反対の指示がない限り、前駆体間の(含有量)比はモル比をいう。
[ZnTeSeコア及びZnSe/ZnSシェルを有する量子ドットの合成]
<実施例1>
[1]セレニウム、硫黄、及びテルリウムをトリオクチルホスフィン(TOP)に分散させて2MのSe/TOP stock solution、2Mの硫黄/TOP stock solution、及び0.1MのTe/TOP stock solutionを得る。
300mLの反応フラスコ内で、酢酸亜鉛をパルミチン酸と共にトリオクチルアミン内に溶解させ、真空下の120℃で加熱する。1時間後に反応器内の雰囲気を不活性気体に切り替える。
300℃で加熱した後、上記で準備したSe/TOP stock solution及びTe/TOP stock solutionを所定のTe/Se割合で迅速に注入する。60分後、常温で速かに冷ました反応溶液にアセトンを入れて遠心分離して得られた沈殿をトルエンに分散させてZnSeTeコアを得る。
使用したZn前駆体及びSe前駆体の含有量比(Zn:Se)は2:1であり、Seに対するTe含有量比は0.03(Te/Se)である。
[2]300mLの反応フラスコ内にTOAを入れ、酢酸亜鉛とオレイン酸とを1:2のモル比で付加した後120℃で真空処理する。窒素(N)でフラスコ内を置換する。反応フラスコを300℃まで加熱しながら製造したZnSeTeコアのトルエン分散液を迅速に入れ、次いでSe/TOP stock solutionを付加し、120分間反応させてコア上にZnSe層を形成する。次いで、酢酸亜鉛と共にS/Top stock solutionを付加し、120分反応させてZnSe層上にZnS層を形成する。シェル形成時に使用されたZn前駆体、S前駆体、Se前駆体の含有量のモル比は、3.5:2.5:1である。
製造した量子ドットに対して誘導結合プラズマ原子発光分光分析(ICP−AES)を行い、その結果を表1に整理する。
製造した量子ドットに対して光発光特性分析を行い、その結果を表2に整理する。
<実施例2>
コア形成時に使用したZn前駆体及びSe前駆体の含有量比(Zn:Se)は2:1であり、Seに対するTe含有量比を0.03(Te/Se)にし、シェル形成時に使用されたZn前駆体、S前駆体、Se前駆体の含有量のモル比は、3.8:2.8:1にしたことを除いては、実施例1と同様の方法によりコアシェル量子ドットを製造する。
製造した量子ドットに対して誘導結合プラズマ原子発光分光分析(ICP−AES)を行い、その結果を表1に整理する。
製造した量子ドットに対して光発光特性分析を行い、その結果を表2に整理する。
製造した量子ドットに対して透過電子顕微鏡分析を行う。その結果、量子ドットの平均粒子の大きさは、12.3nmであることを確認する。
<実施例3>
コア形成時に使用したZn前駆体及びSe前駆体の含有量比(Zn:Se)は2:1であり、Seに対するTe含有量比を0.03(Te/Se)にし、シェル形成時に使用されたZn前駆体、S前駆体、Se前駆体の含有量のモル比は、4.6:3.6:1にしたことを除いては、実施例1と同様の方法によりコアシェル量子ドットを製造する。
製造した量子ドットに対して誘導結合プラズマ原子発光分光分析(ICP−AES)を行い、その結果を表1に整理する。
製造した量子ドットに対して光発光特性分析を行い、その結果を表2に整理する。
<実施例4>
コア形成時に使用したZn前駆体及びSe前駆体の含有量比(Zn:Se)は2:1であり、Seに対するTe含有量比を0.03(Te/Se)にし、シェル形成時に使用されたZn前駆体、S前駆体、Se前駆体の含有量のモル比は、3:2:1にしたことを除いては、実施例1と同様の方法によりコアシェル量子ドットを製造する。
製造した量子ドットに対して誘導結合プラズマ原子発光分光分析(ICP−AES)を行い、その結果を表1に整理する。
製造した量子ドットに対して光発光特性分析を行い、その結果を表2に整理する。
製造した量子ドットに対して透過電子顕微鏡分析を行う。その結果、量子ドットの平均粒子の大きさは、7.8nmであることを確認する。
<実施例5>
コア形成時に使用したZn前駆体及びSe前駆体の含有量比(Zn:Se)は2:1であり、Seに対するTe含有量比を0.03(Te/Se)にし、シェル形成時に使用されたZn前駆体、S前駆体、Se前駆体の含有量のモル比は、3.4:2.4:1にしたことを除いては、実施例1と同様の方法によりコアシェル量子ドットを製造する。
製造した量子ドットに対して誘導結合プラズマ原子発光分光分析(ICP−AES)を行い、その結果を表1に整理する。
製造した量子ドットに対して光発光特性分析を行い、その結果を表2に整理する。
Figure 2019157129
Figure 2019157129
表1及び表2の結果から、実施例の量子ドットは、向上した量子効率と減少した半値幅を有して青色光を放出することが確認される。
<実施例6>
前駆体含有量を調節してS/Se比率が0.78になるようにしたことを除いては、実施例1と同様の方法によりコアシェル量子ドットを製造する。
<比較例1>
前駆体含有量を調節してS/Se比率が2.67になるようにしたことを除いては、実施例1と同様の方法によりコアシェル量子ドットを製造する。
<実施例7>
実施例1の量子ドットを用いて、下記のような方式で電界発光素子を製作する:ITO電極(アノード)が蒸着されたガラス基板上にPEDOT:PSS及びPVK層をそれぞれ正孔注入層及び正孔輸送層としてスピンコート方法で形成する。形成されたPVK層上に量子ドットのオクタン分散液をスピンコートして量子ドット発光層を形成する。量子ドット発光層上に電子補助層として、2,2’,2”−(1,3,5−Benzinetriyl)−tris(1−phenyl−1−H−benzimidazole)(TPBi)層を形成し、その後にAl電極を蒸着により形成する。
製造した素子に対して電界発光物性を評価し、その結果を表3に整理する。
<実施例8>
実施例2の量子ドットを用いることを除いては、実施例7と同様の方法により電界発光素子を製造する。製造した素子に対して電界発光物性を評価し、その結果を表3に整理する。
<実施例9>
実施例6の量子ドットを用いることを除いては、実施例7と同様の方法により電界発光素子を製造する。製造した素子に対して電界発光物性を評価し、その結果を表3に整理する。
<比較例2>
比較例1の量子ドットを用いることを除いては、実施例7と同様の方法により電界発光素子を製造する。製造した素子に対して電界発光物性を評価し、その結果を表3に整理する。
Figure 2019157129
表3の結果から、実施例の量子ドットを含む素子は、向上した電界発光物性を示すことが確認される。
以上、本発明の実施形態について詳細に説明したが、本発明は、上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的範囲から逸脱しない範囲内で多様に変更実施することが可能である。
1、10 アノード(透明電極)
2、20 正孔補助層
3、30 (量子ドット)発光層
4、40 電子補助層
5、50 カソード
100 透明基板

Claims (22)

  1. 亜鉛、セレニウム、及びテルリウムを含む第1半導体ナノ結晶を含むコア並びに前記コア上に配置されて亜鉛、セレニウム、及び硫黄を含む半導体ナノ結晶シェルを有する量子ドットであって、
    前記量子ドットは、カドミウムを含まず、
    前記量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が2.4以下であることを特徴とする量子ドット。
  2. 前記量子ドットは、430nm以上480nm以下の範囲で最大光発光ピーク波長を有することを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  3. 前記量子ドットは、粒子の大きさが10nm以上であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  4. 前記量子ドットは、セレニウムに対するテルリウムのモル比が0.05以下であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  5. 前記量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が2.0以下であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  6. 前記量子ドットは、セレニウムに対する硫黄のモル比が1.85以下であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  7. 前記コアの大きさは、2nm以上であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  8. 前記コアは、ZnTeSe1−x(ここで、xは0よりも大きく0.05以下である)を含むことを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  9. 前記半導体ナノ結晶シェルは、前記コアから半径方向に変化する組成を有することを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  10. 前記半導体ナノ結晶シェルは、硫黄の含有量が前記量子ドットの表面に向かって増加することを特徴とする請求項9に記載の量子ドット。
  11. 前記半導体ナノ結晶シェルは、前記コアの真上に配置された第1層及び前記第1層上に配置された第2層を含み、
    前記第1層は、第2半導体ナノ結晶を含み、
    前記第2層は、前記第2半導体ナノ結晶と異なる組成を有する第3半導体ナノ結晶を含むことを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  12. 前記第2半導体ナノ結晶は、亜鉛、セレニウム、及び選択に応じて硫黄を含み、
    前記第3半導体ナノ結晶は、亜鉛及び硫黄を含むことを特徴とする請求項11に記載の量子ドット。
  13. 前記第2層は、最外殻層であり、
    前記第3半導体ナノ結晶は、セレニウムを含まないことを特徴とする請求項11に記載の量子ドット。
  14. 前記量子ドットの光発光ピーク波長は、445nmよりも大きく470nm以下であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  15. 量子効率は、70%以上であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  16. 前記量子ドットの最大光発光ピークの半値幅は、30nm以下であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  17. 前記量子ドットの粒子の大きさは、12nm以上であることを特徴とする請求項1に記載の量子ドット。
  18. 互いに向かい合う第1電極及び第2電極と、
    前記第1電極と前記第2電極との間に位置して複数の量子ドットを含む量子ドット発光層と、を有し、
    前記複数の量子ドットは、請求項1に記載の量子ドットを含むことを特徴とする電界発光素子。
  19. 前記第1電極と前記量子ドット発光層との間、前記第2電極と前記量子ドット発光層との間、又は前記第1電極と前記量子ドット発光層との間及び前記第2電極と前記量子ドット発光層との間に電荷補助層を含むことを特徴とする請求項18に記載の電界発光素子。
  20. 前記電荷補助層は、電荷輸送層、電荷注入層、又はこれらの組み合わせを含むことを特徴とする請求項19に記載の電界発光素子。
  21. 前記電界発光素子は、最大外部量子効率(peak external quantum efficiency)が4%以上であることを特徴とする請求項18に記載の電界発光素子。
  22. 前記電界発光素子は、CIE色座標のx値が0.2以下の光を放出することを特徴とする請求項18に記載の発光素子。
JP2019043481A 2018-03-09 2019-03-11 量子ドット及びこれを含む電界発光素子 Active JP7265892B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20180028321 2018-03-09
KR10-2018-0028321 2018-03-09

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019157129A true JP2019157129A (ja) 2019-09-19
JP7265892B2 JP7265892B2 (ja) 2023-04-27

Family

ID=65763393

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2019043481A Active JP7265892B2 (ja) 2018-03-09 2019-03-11 量子ドット及びこれを含む電界発光素子

Country Status (5)

Country Link
US (3) US10954440B2 (ja)
EP (1) EP3536762B1 (ja)
JP (1) JP7265892B2 (ja)
KR (1) KR20190106823A (ja)
CN (1) CN110240896B (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021064854A1 (ja) * 2019-10-01 2021-04-08 シャープ株式会社 発光素子、発光デバイスおよび表示装置
JPWO2021111777A1 (ja) * 2019-12-02 2021-06-10
WO2021157020A1 (ja) * 2020-02-06 2021-08-12 シャープ株式会社 発光デバイスの製造方法
WO2021157019A1 (ja) * 2020-02-06 2021-08-12 シャープ株式会社 発光デバイス、発光デバイスの製造方法
WO2021157021A1 (ja) * 2020-02-06 2021-08-12 シャープ株式会社 発光デバイスの製造方法、及び発光デバイス
JP2021525814A (ja) * 2018-05-30 2021-09-27 イッペン,クリスチャン 青色発光ZnSe1−xTex合金ナノ結晶の合成方法

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3613829A1 (en) * 2018-08-23 2020-02-26 Samsung Electronics Co., Ltd. Quantum dot device and quantum dots
US11740495B2 (en) 2018-11-29 2023-08-29 Samsung Electronics Co., Ltd. Quantum dots and devices including the same
TWI692882B (zh) * 2018-12-21 2020-05-01 奇美實業股份有限公司 量子點及其製造方法與應用
WO2020170371A1 (ja) * 2019-02-20 2020-08-27 シャープ株式会社 発光デバイスの製造方法
KR20200122717A (ko) 2019-04-18 2020-10-28 삼성전자주식회사 리튬 함유 무카드뮴 양자점, 그 제조 방법, 및 이를 포함하는 전자 소자
KR20200122719A (ko) * 2019-04-18 2020-10-28 삼성전자주식회사 코어쉘 양자점, 그 제조 방법, 및 이를 포함하는 전자 소자
KR102652436B1 (ko) 2019-04-18 2024-03-27 삼성전자주식회사 ZnTeSe 기반의 양자점
KR102181062B1 (ko) * 2019-05-16 2020-11-19 홍익대학교 산학협력단 Ⅱ-Ⅵ계 비 Cd 양자점, 그 제조 방법 및 이를 이용한 양자점-발광소자
KR20220044989A (ko) * 2019-08-12 2022-04-12 나노시스, 인크. 반치전폭이 낮은 청색 방출 ZnSe1-xTex 합금 나노결정의 합성
KR20210026614A (ko) 2019-08-30 2021-03-10 삼성전자주식회사 양자점, 양자점의 제조 방법, 및 양자점을 포함하는 소자
KR102277044B1 (ko) * 2019-09-18 2021-07-14 주식회사 한솔케미칼 양자점의 제조방법, 및 이에 의해 제조된 양자점
CN112680210A (zh) 2019-10-17 2021-04-20 三星电子株式会社 芯壳量子点、其制造方法、包括其的量子点复合物、量子点组合物、显示器件和电子器件
CN112680211A (zh) 2019-10-17 2021-04-20 三星电子株式会社 芯壳量子点、其制造方法、量子点群、量子点复合物、量子点组合物和显示器件
KR20210060706A (ko) * 2019-11-18 2021-05-27 삼성디스플레이 주식회사 양자점, 이를 포함하는 조성물 또는 복합체, 패턴화된 막, 및 이를 포함하는 표시 소자
KR20210076744A (ko) 2019-12-16 2021-06-24 삼성전자주식회사 발광소자와 그 제조방법
JP7294680B2 (ja) * 2020-04-24 2023-06-20 インダストリー-ユニバーシティー コオペレーション ファウンデーション ハンヤン ユニバーシティー グレーデッド-マルチシェル構造ベースの量子ドット及びその製造方法
KR20220004463A (ko) 2020-07-03 2022-01-11 삼성전자주식회사 양자점 및 이를 포함하는 소자
KR20220018328A (ko) * 2020-08-06 2022-02-15 삼성전자주식회사 양자점 및 이를 포함하는 소자
US11905447B2 (en) 2020-10-16 2024-02-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Quantum dot, production method thereof, and electronic device including the same
CN114388712A (zh) * 2020-10-16 2022-04-22 Tcl科技集团股份有限公司 电子传输材料、其制备方法和光电器件
CN112311323B (zh) * 2020-10-23 2021-10-22 宁波大学 一种多晶硅平板型荧光太阳集光器的制备方法及其应用
KR102573072B1 (ko) * 2020-11-18 2023-08-31 주식회사 한솔케미칼 양자점의 제조방법, 및 이에 의해 제조된 양자점
CN114106623B (zh) * 2020-12-15 2023-04-07 广东聚华印刷显示技术有限公司 量子点墨水、量子点薄膜、电致发光二极管及显示器件
KR20220093953A (ko) * 2020-12-28 2022-07-05 삼성전자주식회사 코어쉘 양자점 및 이를 포함하는 전자 소자
CN112736209B (zh) * 2020-12-30 2023-02-07 广东聚华印刷显示技术有限公司 量子点发光二极管及其制备方法、以及显示面板

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050214536A1 (en) * 2003-12-12 2005-09-29 Quantum Dot Corporation Preparation of stable, bright luminescent nanoparticles having compositionally engineered properties
JP2006005256A (ja) * 2004-06-18 2006-01-05 Advanced Telecommunication Research Institute International 半導体素子
JP2006508012A (ja) * 2002-08-13 2006-03-09 マサチューセッツ・インスティテュート・オブ・テクノロジー 半導体ナノクリスタルヘテロ構造体
JP2006291175A (ja) * 2005-03-17 2006-10-26 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 半導体ナノ粒子を分散した青色発光蛍光体
US20100044635A1 (en) * 2006-11-21 2010-02-25 Craig Breen Blue emitting semiconductor nanocrystals and compositions and devices including same
JP2010114079A (ja) * 2008-11-05 2010-05-20 Samsung Electronics Co Ltd 量子ドット発光素子およびその製造方法
US20140117292A1 (en) * 2012-10-26 2014-05-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor nanocrystal, and method of preparing the same
EP3401380A1 (en) * 2017-05-11 2018-11-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor nanocrystal particles and devices including the same
JP2021525814A (ja) * 2018-05-30 2021-09-27 イッペン,クリスチャン 青色発光ZnSe1−xTex合金ナノ結晶の合成方法

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5140385A (en) 1987-03-27 1992-08-18 Misawa Co., Ltd. Light emitting element and method of manufacture
KR100558080B1 (ko) 2002-10-09 2006-03-07 서울반도체 주식회사 형광체 및 그것을 이용한 발광 다이오드 및 그 제조방법
WO2006134599A1 (en) 2005-06-15 2006-12-21 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Iii-v semiconductor core-heteroshell nanocrystals
WO2007034877A1 (ja) 2005-09-22 2007-03-29 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology 半導体ナノ粒子分散ガラス微粒子及びその作製方法
WO2009002587A2 (en) 2007-04-13 2008-12-31 Rice University Synthesis of uniform nanoparticle shapes with high selectivity
US9957442B2 (en) * 2010-09-16 2018-05-01 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Ltd. Anistropic semiconductor nanoparticles
KR20120088273A (ko) 2011-01-31 2012-08-08 엘지이노텍 주식회사 백라이트 유닛 및 그 제조 방법
WO2012161065A1 (ja) 2011-05-23 2012-11-29 独立行政法人産業技術総合研究所 薄膜シリカガラスコート量子ドットからなる蛍光性微粒子及びその製造方法
EP3929965A1 (en) 2011-06-20 2021-12-29 Crystalplex Corporation Stabilized nanocrystals
DE102013206077A1 (de) 2013-04-05 2014-10-09 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Blau-emittierende Leuchtdioden auf Basis von Zinkselenid-Quantenpunkten
KR102164628B1 (ko) * 2013-08-05 2020-10-13 삼성전자주식회사 나노 결정 합성 방법
CN104416152B (zh) 2013-08-21 2018-04-06 安徽医科大学第一附属医院 一种用于活体细胞免疫荧光标记及光热治疗的金纳米花/量子点复合探针
KR101542343B1 (ko) 2013-09-27 2015-08-06 재단법인대구경북과학기술원 박막 태양전지 및 이의 제조방법
EP3058598A4 (en) 2013-10-17 2017-03-29 Nanophotonica, Inc. Quantum dot for emitting light and method for synthesizing same
KR102122962B1 (ko) * 2014-03-14 2020-06-15 삼성전자주식회사 나노입자 중합체
KR102334395B1 (ko) * 2014-12-05 2021-12-01 삼성전자주식회사 배리어 코팅 조성물, 그로부터 제조되는 복합체, 및 이를 포함하는 양자점-폴리머 복합체 물품
JP6606418B2 (ja) 2015-01-29 2019-11-13 スタンレー電気株式会社 量子ドット集合体の製造方法
US20160225958A1 (en) 2015-01-29 2016-08-04 Stanley Electric Co., Ltd. Quantum dot ensemble and manufacturing method thereof
US9890329B2 (en) 2015-05-14 2018-02-13 National Tsing Hua University Quantum dot nanocrystal structure
CN105399136B (zh) 2015-12-18 2017-05-10 济南大学 一种CdS花状自组装结构的制备方法及所得产品
KR101774775B1 (ko) 2015-12-30 2017-09-20 주식회사 상보 합금-다중 쉘 양자점, 그 제조 방법, 합금-다중 쉘 양자점 및 이를 포함하는 백라이트 유닛
US20170352779A1 (en) 2016-06-07 2017-12-07 Sharp Kabushiki Kaisha Nanoparticle phosphor element and light emitting element
CN106381146B (zh) 2016-09-05 2020-03-31 Tcl集团股份有限公司 一种量子点提纯方法
KR102443644B1 (ko) 2017-11-20 2022-09-14 삼성전자주식회사 양자점 소자와 표시 장치

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006508012A (ja) * 2002-08-13 2006-03-09 マサチューセッツ・インスティテュート・オブ・テクノロジー 半導体ナノクリスタルヘテロ構造体
US20050214536A1 (en) * 2003-12-12 2005-09-29 Quantum Dot Corporation Preparation of stable, bright luminescent nanoparticles having compositionally engineered properties
JP2006005256A (ja) * 2004-06-18 2006-01-05 Advanced Telecommunication Research Institute International 半導体素子
JP2006291175A (ja) * 2005-03-17 2006-10-26 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 半導体ナノ粒子を分散した青色発光蛍光体
US20100044635A1 (en) * 2006-11-21 2010-02-25 Craig Breen Blue emitting semiconductor nanocrystals and compositions and devices including same
JP2010114079A (ja) * 2008-11-05 2010-05-20 Samsung Electronics Co Ltd 量子ドット発光素子およびその製造方法
US20140117292A1 (en) * 2012-10-26 2014-05-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor nanocrystal, and method of preparing the same
EP3401380A1 (en) * 2017-05-11 2018-11-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor nanocrystal particles and devices including the same
JP2021525814A (ja) * 2018-05-30 2021-09-27 イッペン,クリスチャン 青色発光ZnSe1−xTex合金ナノ結晶の合成方法

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021525814A (ja) * 2018-05-30 2021-09-27 イッペン,クリスチャン 青色発光ZnSe1−xTex合金ナノ結晶の合成方法
US11753587B2 (en) 2018-05-30 2023-09-12 Nanosys, Inc. Method for synthesis of blue-emitting ZnSe1-xTEx alloy nanocrystals
JP7357185B2 (ja) 2018-05-30 2023-10-06 ナノシス・インク. 青色発光ZnSe1-xTex合金ナノ結晶の合成方法
WO2021064854A1 (ja) * 2019-10-01 2021-04-08 シャープ株式会社 発光素子、発光デバイスおよび表示装置
JPWO2021111777A1 (ja) * 2019-12-02 2021-06-10
JP7273992B2 (ja) 2019-12-02 2023-05-15 信越化学工業株式会社 量子ドット、波長変換材料、バックライトユニット、画像表示装置及び量子ドットの製造方法
WO2021157020A1 (ja) * 2020-02-06 2021-08-12 シャープ株式会社 発光デバイスの製造方法
WO2021157019A1 (ja) * 2020-02-06 2021-08-12 シャープ株式会社 発光デバイス、発光デバイスの製造方法
WO2021157021A1 (ja) * 2020-02-06 2021-08-12 シャープ株式会社 発光デバイスの製造方法、及び発光デバイス

Also Published As

Publication number Publication date
US20210207027A1 (en) 2021-07-08
US11981852B2 (en) 2024-05-14
US20190276737A1 (en) 2019-09-12
JP7265892B2 (ja) 2023-04-27
CN110240896B (zh) 2024-03-05
EP3536762A1 (en) 2019-09-11
EP3536762B1 (en) 2021-05-05
CN110240896A (zh) 2019-09-17
US10954440B2 (en) 2021-03-23
US20230212456A1 (en) 2023-07-06
KR20190106823A (ko) 2019-09-18
US11591518B2 (en) 2023-02-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7265892B2 (ja) 量子ドット及びこれを含む電界発光素子
JP7235530B2 (ja) 半導体ナノ結晶粒子とその製造方法、及びその集団、並びに電界発光素子
KR102395049B1 (ko) 반도체 나노결정 입자 및 그의 제조 방법과 이를 포함하는 소자
KR102649299B1 (ko) 전계발광 표시 장치
KR102424444B1 (ko) 반도체 나노결정 입자 및 이를 포함하는 소자
US11011720B2 (en) Semiconductor nanocrystal particles, production methods thereof, and devices including the same
KR20190057802A (ko) 반도체 나노결정 입자 및 이를 포함하는 소자
KR20200023243A (ko) 양자점 소자 및 양자점
US20220348824A1 (en) Core shell quantum dot and electronic device including the same
KR20190106826A (ko) 양자점
KR20210041374A (ko) 양자점, 및 이를 포함하는 전자 소자
US20220302402A1 (en) Electroluminescent display device
US20230096181A1 (en) Electroluminescent device and semiconductor nanoparticle
KR20220004463A (ko) 양자점 및 이를 포함하는 소자
KR20230031175A (ko) 전계발광소자 및 반도체 나노입자
KR20210045716A (ko) 양자점, 및 이를 포함하는 전자 소자

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20220225

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20221115

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20221122

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230328

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230417

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7265892

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150