WO2020170371A1 - 発光デバイスの製造方法 - Google Patents

発光デバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2020170371A1
WO2020170371A1 PCT/JP2019/006373 JP2019006373W WO2020170371A1 WO 2020170371 A1 WO2020170371 A1 WO 2020170371A1 JP 2019006373 W JP2019006373 W JP 2019006373W WO 2020170371 A1 WO2020170371 A1 WO 2020170371A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light emitting
light
emitting device
shell
light irradiation
Prior art date
Application number
PCT/JP2019/006373
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
久保 真澄
Original Assignee
シャープ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シャープ株式会社 filed Critical シャープ株式会社
Priority to PCT/JP2019/006373 priority Critical patent/WO2020170371A1/ja
Priority to US17/430,481 priority patent/US11996501B2/en
Publication of WO2020170371A1 publication Critical patent/WO2020170371A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/501Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
    • H01L33/502Wavelength conversion materials
    • H01L33/504Elements with two or more wavelength conversion materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/08Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a plurality of light emitting regions, e.g. laterally discontinuous light emitting layer or photoluminescent region integrated within the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/10Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/14Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of the electroluminescent material, or by the simultaneous addition of the electroluminescent material in or onto the light source
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • H10K50/115OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers comprising active inorganic nanostructures, e.g. luminescent quantum dots
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/40Thermal treatment, e.g. annealing in the presence of a solvent vapour
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0016Processes relating to electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/0041Processes relating to semiconductor body packages relating to wavelength conversion elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/405Reflective materials

Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing a light emitting device including a light emitting element including a quantum dot.
  • Patent Document 1 discloses a semiconductor nanoparticle (quantum dot) having a core/shell structure and a ligand coordinated to the semiconductor nanoparticle.
  • the inventor has found a method of further improving the luminous efficiency of the light emitting device as compared with a light emitting device including a quantum dot layer in which conventional quantum dots as disclosed in Patent Document 1 are simply laminated.
  • a method for manufacturing a light emitting device provides a substrate of a light emitting element including a first electrode, a second electrode, and a quantum dot layer between the first electrode and the second electrode.
  • a method for manufacturing a light emitting device provided above comprising: a quantum dot layer forming step of forming the quantum dot layer, wherein the quantum dot layer forming step comprises applying a first solution to a position overlapping the substrate. 1 coating step, a first heating step of heating the ambient temperature of the substrate to a first temperature or higher subsequent to the first coating step, and a heating temperature of the ligand of the ambient temperature after the first heating step.
  • the first solution includes a first solvent, a plurality of quantum dots, and a ligand that forms a coordinate bond with each of the quantum dots.
  • the quantum dot comprises a core and a first shell coating the core
  • the second solution contains a second solvent and a first inorganic precursor
  • the first temperature is It is a higher temperature of the melting point of the ligand and the boiling point of the first solvent
  • the second temperature is higher than the first temperature
  • the first inorganic precursor is around the first shell.
  • the temperature is a temperature at which the second shell that epitaxially grows and coats the first shell is formed.
  • at least one pair of mutually adjacent quantum dots are connected to each other through the second shell.
  • a method for manufacturing a light emitting device is a light emitting device including a first electrode, a second electrode, and a quantum dot layer between the first electrode and the second electrode. And a quantum dot layer forming step of forming the quantum dot layer, the quantum dot layer forming step comprising: a core; and a first shell coating the core.
  • a plurality of quantum dots each including a plurality of quantum dots, a ligand that forms a coordinate bond with each of the quantum dots, and a first solvent, and a first coating step of coating the first solution on a position overlapping with the substrate;
  • a first light irradiation step of performing first light irradiation from above the substrate to the position where the first solution is applied to melt the ligand and vaporize the first solvent,
  • a cooling step of cooling the temperature of the quantum dots to a temperature equal to or lower than the melting point of the ligand and the boiling point of the first solvent, and a second solvent after the cooling step.
  • the first inorganic precursor is epitaxially grown around the first shell to coat the first shell.
  • the light emission efficiency can be further improved in the light emitting device including the quantum dots.
  • FIG. 1A and 1B are a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to Embodiment 1 of the present invention, and a schematic enlarged view around a light emitting layer of the light emitting device.
  • 3 is a flowchart illustrating a method for manufacturing the light emitting device according to the first embodiment of the invention.
  • 3 is a flowchart illustrating a method of forming a light emitting layer according to Embodiment 1 of the present invention.
  • 5 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 6 is a process cross-sectional view for explaining a process for forming a light emitting layer according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is another process cross-sectional view for explaining the process of forming the light emitting layer according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is another process cross-sectional view for explaining the process of forming the light emitting layer according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to a second embodiment of the present invention, and a schematic enlarged view around a light emitting layer of the light emitting device.
  • FIG. 3 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to a second embodiment of the present invention, and a schematic enlarged view around a light emitting layer of the light emitting device.
  • 6 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to a third embodiment of the present invention, and a schematic enlarged view of the periphery of a light emitting layer of the light emitting device.
  • 9 is a flowchart illustrating a method of forming a light emitting layer according to a third embodiment of the present invention.
  • 7 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step according to Embodiment 3 of the present invention.
  • 6A to 6C are process cross-sectional views for explaining a process of forming a light emitting layer according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a flowchart illustrating a method for forming a light emitting layer according to Embodiment 4 of the present invention. It is a graph for demonstrating the relationship between elapsed time and temperature in the formation process of the light emitting layer which concerns on Embodiment 4 of this invention.
  • FIG. 9 is a process cross-sectional view for explaining a process for forming a light emitting layer according to Embodiment 4 of the present invention.
  • FIG. 9 is another process cross-sectional view for explaining the process of forming the light emitting layer according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is another process cross-sectional view for explaining the process of forming the light emitting layer according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is another process cross-sectional view for explaining the process of forming the light emitting layer according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a process cross-sectional view for explaining light irradiation using a photomask in a process of forming a light emitting layer according to Embodiment 4 of the present invention. It is another process sectional view for explaining light irradiation using a photomask in the formation process of the light emitting layer concerning Embodiment 4 of the present invention.
  • FIG. 9 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to a fifth embodiment of the present invention, and a schematic enlarged view around a light emitting layer of the light emitting device.
  • 9 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step according to Embodiment 5 of the present invention.
  • FIG. 1A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • 1B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1C is an enlarged cross-sectional view in the region B in FIG. 1B, that is, an enlarged cross-sectional view around the second light emitting layer 8G described later.
  • the light emitting device 1 includes a light emitting surface DS from which emitted light is extracted and a frame area NA surrounding the light emitting surface DS.
  • a terminal T to which a signal for driving a light emitting element of the light emitting device 1 described later is input may be formed.
  • the light emitting device 1 includes a light emitting element layer 2 and an array substrate 3 at a position overlapping the light emitting surface DS in a plan view.
  • the light emitting device 1 has a structure in which each layer of the light emitting element layer 2 is laminated on an array substrate 3 on which a TFT (Thin Film Transistor) (not shown) is formed.
  • TFT Thin Film Transistor
  • the light emitting element layer 2 includes a first electrode 4, a first charge transport layer 6, a light emitting layer 8 which is a quantum dot layer, a second charge transport layer 10, and a second electrode 12, which are sequentially stacked from the lower layer. And prepare for it.
  • the first electrode 4 of the light emitting element layer 2 formed on the upper layer of the array substrate 3 is electrically connected to the TFT of the array substrate 3.
  • the first electrode 4 is an anode and the second electrode 12 is a cathode.
  • the light emitting element layer 2 includes a first light emitting element 2R, a second light emitting element 2G, and a third light emitting element 2B.
  • the first light emitting element 2R, the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B are QLED elements in which the light emitting layer 8 is provided with a semiconductor nanoparticle material, that is, a quantum dot material.
  • each of the first electrode 4, the first charge transport layer 6, and the light emitting layer 8 is separated by the edge cover 14.
  • the first electrode 4 is formed by the edge cover 14 so that the first electrode 4R for the first light emitting element 2R, the first electrode 4G for the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B.
  • the first charge transport layer 6 includes the edge cover 14 for the first charge transport layer 6R for the first light emitting element 2R, the first charge transport layer 6G for the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B.
  • the light emitting layer 8 is separated by the edge cover 14 into a first light emitting layer 8R, a second light emitting layer 8G, and a third light emitting layer 8B.
  • the edge cover 14 may be formed at a position that covers the side surface of the first electrode 4 and the vicinity of the peripheral edge of the upper surface.
  • the first light emitting element 2R includes the first electrode 4R, the first charge transport layer 6R, the first light emitting layer 8R, the second charge transport layer 10, and the second electrode 12.
  • the second light emitting element 2G includes a first electrode 4G, a first charge transport layer 6G, a second light emitting layer 8G, a second charge transport layer 10, and a second electrode 12.
  • the third light emitting element 2B includes a first electrode 4B, a first charge transport layer 6B, a third light emitting layer 8B, a second charge transport layer 10, and a second electrode 12.
  • the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B are the red light which is the light of the first color and the light of the second color, respectively. It emits green light and blue light which is the light of the third color. That is, the first light emitting element 2R, the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B are light emitting elements that emit red light, green light, and blue light, which are lights of different colors, respectively. is there.
  • the blue light is, for example, light having an emission center wavelength in a wavelength band of 400 nm or more and 500 nm or less.
  • the green light is, for example, light having an emission center wavelength in a wavelength band of more than 500 nm and 600 nm or less.
  • the red light is, for example, light having an emission center wavelength in a wavelength band of more than 600 nm and 780 nm or less.
  • the first electrode 4 and the second electrode 12 include a conductive material, and are electrically connected to the first charge transport layer 6 and the second charge transport layer 10, respectively.
  • the electrode near the light emitting surface DS is a transparent electrode.
  • the array substrate 3 is a transparent substrate and the first electrode 4 is a transparent electrode.
  • the second electrode 12 may be a reflective electrode. Therefore, the light from the light emitting layer 8 passes through the first charge transport layer 6, the first electrode 4, and the array substrate 3, and is emitted from the light emitting surface DS to the outside of the light emitting device 1. Therefore, the light emitting device 1 is configured as a bottom emission type light emitting device. Since both the light emitted from the light emitting layer 8 in the upward direction and the light emitted in the downward direction can be used as the light emitted from the light emitting device 1, the light emitting device 1 can emit light emitted from the light emitting layer 8. The utilization efficiency of can be improved.
  • the configuration of the first electrode 4 and the second electrode 12 described above is an example, and may be made of another material.
  • the first charge transport layer 6 is a layer that transports charges from the first electrode 4 to the light emitting layer 8.
  • the first charge transport layer 6 may have a function of inhibiting the transport of charges from the second electrode 12.
  • the first charge transport layer 6 may be a hole transport layer that transports holes from the first electrode 4, which is an anode, to the light emitting layer 8.
  • the second charge transport layer 10 is a layer that transports charges from the second electrode 12 to the light emitting layer 8.
  • the second charge transport layer 10 may have a function of inhibiting the transport of charges from the first electrode 4.
  • the second charge transport layer 10 may be an electron transport layer that transports electrons from the second electrode 12 that is the cathode to the light emitting layer 8.
  • FIG. 1C shows a schematic cross-sectional view in the region B of FIG. 1B, that is, around the second light emitting layer 8G of the second light emitting element 2G.
  • each member shown in FIG. 1C is regarded as having a common configuration in each light emitting element. Therefore, in the present embodiment, each member shown in FIG. 1C may have the same configuration in each light emitting element unless otherwise specified.
  • the light emitting layer 8 includes the quantum dot structure 16 and the ligand 18.
  • the quantum dot structure 16 includes a plurality of quantum dots 20.
  • the quantum dot 20 has a core/shell structure including a core 22 and a first shell 24 coating the periphery of the core 22.
  • the quantum dot structure 16 also includes a second shell 26. The second shell 26 coats the periphery of the first shell 24, which is the outer shell of each quantum dot 20.
  • the quantum dot 20 may have a multi-shell structure in which a plurality of shells are provided around the core 22.
  • the first shell 24 refers to the outermost shell of the plurality of shells.
  • the ligand 18 may coordinate-bond with the quantum dot structure 16 on the outer surface of the second shell 26 to fill the void of the quantum dot structure 16.
  • the ligand 18 may be, for example, TOPO (trioctylphosphine oxide).
  • the quantum dots 20 are connected via the second shell 26.
  • the first shell 24 and the second shell 26 have a crystal structure, and in particular, in the present embodiment, the second shell 26 has a crystal structure formed by epitaxial growth on the first shell 24.
  • the quantum dots 20 adjacent to each other described above are connected by the crystal structure of the second shell 26.
  • all the quantum dots 20 in the same light emitting element may be connected by the crystal structure of the second shell 26 to form an integral quantum dot structure 16.
  • the first shell 24 and the second shell 26 may be polycrystalline.
  • the core 22 and the first shell 24 of the quantum dot 20 may be provided with an inorganic material used for a quantum dot having a known core/shell structure. That is, the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B are provided with known quantum dot materials used for the light emitting layers of red, green, and blue QLED elements, respectively. Good.
  • the second shell 26 may be provided with an inorganic shell material used for a quantum dot having a known core/shell structure, like the first shell 24.
  • the first shell 24 and the second shell 26 may be made of the same material.
  • the specific resistance of the second shell 26 is preferably equal to or higher than the specific resistance of the first shell 24.
  • the size of the band gap of the second shell 26 is preferably equal to or larger than the size of the band gap of the first shell 24. With this configuration, the efficiency of charge injection from the second shell 26 to the first shell 24 is improved.
  • Specific materials for the core 22 include CdSe (bandgap 1.73 eV), CdTe (bandgap 1.44 eV), ZnTe (bandgap 2.25 eV), CdS (bandgap 2.42 eV), and the like. II-VI group semiconductors can be mentioned. Other specific materials for the core 22 include III-V group semiconductors such as InP (bandgap 1.35 eV) or InGaP (bandgap 1.88 eV).
  • the wavelength emitted by a quantum dot is determined by the particle size of the core. Therefore, a semiconductor material having an appropriate band gap is adopted as the material of the core 22 so that the light emitted by the core 22 can be controlled to any of red, green, and blue by controlling the particle size of the core 22. It is preferable.
  • the band gap of the material of the core 22 included in the first light emitting layer 8R is preferably 1.97 eV or less so that the first light emitting layer 8R which is the red light emitting layer emits red light having a wavelength of 630 nm. Further, since the second light emitting layer 8G which is a green light emitting layer emits green light having a wavelength of 532 nm, the band gap of the material of the core 22 included in the second light emitting layer 8G is preferably 2.33 eV or less.
  • the third light emitting layer 8B which is a blue light emitting layer, emits blue light having a wavelength of 630 nm
  • the band gap of the material of the core 22 included in the third light emitting layer 8B is preferably 2.66 eV or less.
  • the light emitting device 1 including the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B described above is preferable in that it satisfies the color space standard in the UHDTV international standard BT2020.
  • first shell 24 and the second shell 26 include Group II-VI semiconductors such as ZnSe (bandgap 2.7 eV) or ZnS (bandgap 3.6 eV).
  • Other specific materials for the first shell 24 and the second shell 26 include III-V group semiconductors such as GaP (bandgap 2.26 eV).
  • the material of the core 22 has a lower specific resistance and a smaller band gap than the materials of the first shell 24 and the second shell 26. With this configuration, the efficiency of charge injection from the first shell 24 and the second shell 26 to the core 22 is improved.
  • the average film thickness of the first shell 24 from the outer surface of the core 22 is smaller than the minimum film thickness of the second shell 26.
  • the minimum thickness of the second shell 26 means the thickness of the second shell 26 between two quantum dots 20 connected to each other via the second shell 26, or the first shell 24 to the first The smallest film thickness among the film thicknesses up to the outer surface of the 2 shell 26 is indicated.
  • the shortest distance from the core 22 of one quantum dot 20 to the core 22 of another adjacent quantum dot 20 is set as d.
  • the average value of the distance d is preferably 3 nm or more.
  • the average value of the distance d is preferably 1 nm or more.
  • FIG. 2 is a flowchart for explaining the method of manufacturing the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • an array substrate is formed (step S1).
  • the formation of the array substrate may be performed by forming a plurality of TFTs on the substrate in accordance with the positions of the sub pixels.
  • the first electrode 4 is formed (step S2).
  • the first electrode 4 may be formed for each sub-pixel by forming a conductive transparent electrode material such as ITO by sputtering and then patterning it according to the shape of the sub-pixel. Good.
  • the transparent electrode material may be vapor-deposited using a vapor deposition mask to form the first electrode for each sub-pixel.
  • the edge cover 14 is formed (step S3).
  • the edge cover 14 is applied on the array substrate 3 and the first electrode 4 and then patterned between the adjacent first electrodes 4 leaving a position covering the side surface and the peripheral end of the first electrode 4. It may be obtained by The patterning of the edge cover 14 may be performed by photolithography.
  • the first charge transport layer 6 is formed (step S4).
  • the first charge transport layer 6 may be formed for each sub-pixel by separate coating by an inkjet method, vapor deposition using a mask, or patterning using photolithography.
  • step S5 the light emitting layer 8 is formed.
  • the process of forming the light emitting layer 8 will be described in more detail with reference to FIGS. 3 to 7.
  • FIG. 3 is a flow chart for explaining the light emitting layer forming step, which is the quantum dot layer forming step in the present embodiment.
  • FIG. 4 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step.
  • the horizontal axis represents the elapsed time of the light emitting layer forming step and the vertical axis represents the temperature.
  • the solid line in FIG. 4 indicates the temperature of the atmosphere around the array substrate 3, and the broken line indicates the temperature around the quantum dots 20 on the array substrate 3.
  • the “atmosphere” simply means the atmosphere around the array substrate 3.
  • FIGS. 5, 6, and 7 are process cross-sectional views for explaining the light emitting layer forming process.
  • the process cross-sectional views in this specification including FIG. 5 to FIG. 7 are processes in a region B of FIG. A sectional view is shown.
  • the method described with reference to the process cross-sectional views in this specification may be applied to the method for forming the light emitting layer 8 of another light emitting element unless otherwise specified.
  • a first applying step is performed in which the first solution 28 shown in FIG. 5B is applied to a position overlapping the array substrate 3 (step S10).
  • the first solution 28 is a solution in which a plurality of quantum dots 20 coordinated with the ligand 18 are dispersed in the first solvent 32.
  • the first solvent 32 may be, for example, hexane.
  • the first coating step is performed under the ambient temperature of temperature T0 shown in FIG. Since the application of the first solution 28 is performed under the ambient temperature of the temperature T0, the ambient temperature of the quantum dots 20 in the applied first solution 28 is also the temperature T0 as shown in FIG. ..
  • the temperature T0 may be room temperature, for example.
  • the array substrate 3 coated with the first solution 28 is put into a heating furnace or the like to start heating the atmosphere.
  • the first heating step is performed by heating the atmosphere until the atmosphere temperature becomes equal to or higher than the first temperature T1 shown in FIG. 4 (step S11).
  • the first temperature T1 is the higher temperature of the melting point of the ligand 18 and the boiling point of the first solvent 32.
  • the temperature TA shown in FIG. 4 is the lower temperature of the melting point of the ligand 18 and the boiling point of the first solvent 32.
  • the first temperature T1 and the temperature TA are higher than the temperature T0.
  • the melting point of TOPO is 50 to 54 degrees Celsius
  • the boiling point of hexane is 68.5 to 69.1 degrees Celsius. Therefore, when the ligand 18 is TOPO and the first solvent is hexane, the temperature TA is the melting point of TOPO and the first temperature T1 is the boiling point of hexane.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 follows the rise of the ambient temperature until the ambient temperature changes from the temperature T0 to the temperature TA. However, when the ambient temperature of the quantum dots 20 rises to the temperature TA and one of the melting of the ligand 18 and the evaporation of the first solvent 32 starts, the ambient temperature of the quantum dots 20 maintains the temperature TA for a while.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 starts to rise again. Then, when the ambient temperature of the quantum dots 20 rises to the first temperature T1 and the other one of the melting of the ligand 18 and the evaporation of the first solvent 32 starts, the ambient temperature of the quantum dots 20 is kept at the first temperature T1 for a while. maintain.
  • the melting of the ligand 18 and the evaporation of the first solvent 32 are completed by the first heating step.
  • the first temperature T1 is the boiling point of the first solvent 32
  • the first solvent 32 is vaporized after the ligand 18 is melted in the first heating step.
  • the first temperature T1 is the melting point of the ligand 18
  • the ligand 18 melts after the first solvent 32 is vaporized in the first heating step.
  • the first solvent 32 is preferably vaporized after the melting of the ligand 18 from the viewpoint of forming a stable film including the quantum dots 20.
  • the first solvent 32 is vaporized from the array substrate 3 and the quantum dots 20 are dispersed in the melted ligand 18.
  • a cooling process is performed to lower the ambient temperature below the first temperature T1 (step S12).
  • the cooling process is performed until the ambient temperature reaches the temperature TB lower than the temperature TA.
  • the temperature TB may be higher than the temperature T0 or may be the same as the temperature T0.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 continues to increase immediately after the ambient temperature starts to decrease, but when the ambient temperature of the quantum dots 20 reaches the ambient temperature, the ambient temperature follows the decrease of the ambient temperature. Since the ligand 18 is solidified at the completion of the cooling step, the quantum dots 20 are dispersed in the solid ligand 18 as shown in (a) of FIG.
  • the second solution 40 is applied to the position overlapping the array substrate 3 to perform the second applying process (step). S13).
  • the second solution 40 contains the second solvent 42, the organic material 44, and the first inorganic precursor 30.
  • the second solvent 42 may be the same as the first solvent 32 or hexane.
  • the organic material 44 may be an organic material used for a conventionally known quantum dot ligand. In the present embodiment, the case where the same material as the material of the ligand 18 is adopted as the organic material 44 will be described.
  • the first inorganic precursor 30 includes the same material as the second shell 26 described above.
  • the first inorganic precursor 30 may include, for example, zinc chloride and 1-dodecanethiol.
  • the fourth temperature T4 is the higher temperature of the melting point of the organic material 44 and the boiling point of the second solvent 42.
  • the temperature TC shown in FIG. 4 is the lower temperature of the melting point of the organic material 44 and the boiling point of the second solvent 42.
  • the fourth temperature T4 and the temperature TC are higher than the temperature T0.
  • the fourth temperature T4 may be the same as the first temperature T1 and the temperature TC may be the same as the temperature TA.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 follows the rise of the ambient temperature until the ambient temperature changes from the temperature TB to the temperature TC. However, when the ambient temperature of the quantum dots 20 rises to the temperature TC and one of the melting of the organic material 44 and the evaporation of the second solvent 42 starts, the ambient temperature of the quantum dots 20 maintains the temperature TC for a while.
  • one of the melting of the organic material 44 and the evaporation of the second solvent 42 ends, and the ambient temperature of the quantum dots 20 begins to rise again. Then, when the ambient temperature of the quantum dots 20 rises to the fourth temperature T4 and the other one of the melting of the organic material 44 and the evaporation of the second solvent 42 starts, the ambient temperature of the quantum dots 20 is kept at the fourth temperature T4 for a while. To maintain.
  • step S14 The above-mentioned reheating of the atmosphere is continued until the atmosphere temperature reaches the second temperature T2 shown in FIG.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 rises from the fourth temperature T4 and reaches the second temperature T2.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 after reaching the second temperature T2 is also maintained at the second temperature T2.
  • the second temperature T2 is higher than the first temperature T1 and the fourth temperature T4, and is a temperature for the first inorganic precursor 30 to grow epitaxially around the first shell 24 by a thermochemical reaction. Therefore, while the ambient temperature of the quantum dots 20 is maintained at the second temperature T2, the first inorganic substance precursor 30 gradually grows epitaxially around the first shell 24. As a result, as shown in FIG. 7B, the second shell 26 is formed around the first shell 24 of each quantum dot 20.
  • the first inorganic material precursor 30 includes zinc chloride and 1-dodecanethiol described above, the second temperature T2 is about 200 degrees Celsius.
  • the second shell 26 is formed around the respective quantum dots 20 so that the film thickness gradually increases from the outer surface of the first shell 24.
  • the second heating step is performed until at least one set of quantum dots 20 adjacent to each other are connected via the second shell 26.
  • the quantum dot structure 16 including the quantum dots 20 and the second shell 26 is formed.
  • the array substrate 3 is taken out from the heating furnace and cooled to solidify the melted ligand 18 again.
  • the light emitting layer 8 including the quantum dot structure 16 and the ligand 18 shown in FIG. 7B is obtained.
  • the process of forming the light emitting layer 8 has been described with reference to the enlarged cross-sectional view around the second light emitting layer 8G.
  • the only difference in the method of forming each of the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B is the difference in the material contained in the first solution 28. That is, the first coating step, the first heating step, the cooling step, the second coating step, and the second heating step may be realized by the same method regardless of the emission color of the formed light emitting layer 8.
  • the material in the first solution 28 is changed for each emission color of the corresponding light emitting element, the first solution 28 is applied by the inkjet method, and then the first heating step described above is performed. You may implement.
  • the material in the second solution 40 is changed for each emission color of the corresponding light emitting element, the second solution 40 is applied separately by an inkjet method, and then the second heating step described above is performed. You may implement. Accordingly, light emitting elements having different emission colors can be formed by continuous single heating.
  • the second charge transport layer 10 is formed (step S6).
  • the second charge transport layer 10 may be applied and formed by spin coating or the like in common to all the sub-pixels.
  • the second electrode 12 is formed (step S7).
  • the second electrode 12 may be formed in common by all the sub-pixels by vapor deposition or the like. As described above, the light emitting element layer 2 is formed on the array substrate 3, and the light emitting device 1 shown in FIG. 1 is obtained.
  • the first dots 24 are formed around the first shell 24 of each quantum dot 20.
  • the two shells 26 are epitaxially grown. Therefore, the thickness of the shell in each quantum dot 20 can be increased as compared with the case where the quantum dots 20 having a core/shell structure are simply stacked.
  • a quantum dot having a core/shell structure it is conceivable to increase the thickness of the shell in order to reduce exudation of electrons injected into the core of the quantum dot.
  • quantum dots having a thick shell are stacked to form quantum dots, the filling rate of the quantum dots with respect to the volume of the light emitting layer is low. Therefore, it becomes difficult to realize a sufficient quantum dot density in the light emitting layer, which leads to a reduction in the light emitting efficiency of the light emitting element.
  • the quantum dots 20 having the thin first shells 24 are applied and dispersed in the ligand 18, and then the second shells 26 are formed on the respective quantum dots 20. ..
  • the thickness of the shell formed around the core 22 can be regarded as the total thickness of the first shell 24 and the second shell 26.
  • the density of the quantum dots 20 in the light emitting layer 8 can be improved as compared with the case where the quantum dots having the shells of the same film thickness are simply stacked. Therefore, the density of the quantum dots 20 in the light emitting layer 8 is improved while reducing the leakage of electrons from the quantum dots 20, which leads to the improvement of the luminous efficiency of the light emitting device 1.
  • At least one set of quantum dots 20 is connected via the second shell 26, so that in the one set of quantum dots 20, the area of the outer surface of the second shell 26 is , Becomes smaller than when not connected. That is, in the present embodiment, the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 can be reduced as compared with the case where the quantum dots are simply stacked.
  • the area of the outer surface can be reduced to reduce the amount of the ligand 18 that can be damaged by water penetration. Therefore, the damage to the second shell 26 due to the loss of the protection function of the second shell 26 by the ligand 18 due to the damage can be reduced.
  • the surface area of the second shell 26 that can be damaged when the light emitting device 1 is driven can be reduced. Therefore, with this configuration, damage to the second shell 26 due to the driving of the light emitting device 1 and eventually formation of defects in the second shell 26 due to the damage can be reduced. Therefore, by reducing the area of the outer surface of the quantum dot structure 16, a non-light emitting process occurs due to the recombination of electrons and holes in the defect, and thus the light emitting device 1 The decrease in luminous efficiency is reduced.
  • the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 is small, the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 that can be damaged is reduced, and the quantum dot 20 is damaged. Deactivation can be reduced.
  • the average value of the random close-packed filling ratio in filling the rigid spheres is approximately 63.66%. Therefore, in the present embodiment, the volume ratio of the quantum dot structures 16 in the light emitting layer 8 is preferably 63.7% or more.
  • the quantum dots 20 in the light emitting layer 8 can be compared with the case where the quantum dots provided with the shells having the thickness equal to the total thickness of the first shell 24 and the second shell 26 are randomly stacked. The density can be improved. Further, with the above configuration, the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 can be reduced more efficiently than in the case where the quantum dots are randomly stacked.
  • the quantum dots 20 are arranged in m rows and n columns on a plane.
  • the number of sets of the quantum dots 20 connected to each other is the minimum.
  • all the adjacent pairs of quantum dots are connected between all the rows, and any one pair of the adjacent quantum dots are connected between all the columns.
  • the ratio of the positions at which the quantum dots 20 are actually connected to each other via the second shell 26 to the positions at which the quantum dots 20 can be connected via the second shell 26 is ( mn-1)/(2mn-mn).
  • the quantum dots 20 on the same plane are connected via the second shell 26, and of all sets of the quantum dots 20 adjacent to each other, the set connected via the second shell 26 is the minimum.
  • the group can be considered to be about 50% of all groups. Therefore, in a case where the group connected through the second shell 26 exceeds 50% among all the groups of the quantum dots 20 adjacent to each other, all the quantum dots 20 in each layer stacked are changed to the first group. It can be said that there is a high probability that the two shells 26 are connected.
  • the quantum dot structures 16 are such that the quantum dots 20 are in the second shell 26. It can be regarded as forming a crystal structure connected by. With this configuration, the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 can be reduced more efficiently. Therefore, in the quantum dot structure 16, the rate at which the quantum dots 20 adjacent to each other are connected by the crystal structure of the second shell 26 is higher than 50% and preferably 100% or less.
  • the average film thickness of the first shell 24 from the outer surface of the core 22 is smaller than the minimum film thickness of the second shell 26. Therefore, the quantum dots 20 may be stacked more densely between the first heating step and the second heating step, and the second shell 26 having a relatively thick film thickness may be formed in the subsequent second heating step. it can.
  • the first shell 24 and the first shell 24 and the first shell 24 having a film thickness that can sufficiently reduce the exudation of electrons from the core 22 derived from the electron wave function are provided.
  • a two-shell 26 can be formed. Therefore, with this configuration, it is possible to increase the density of the quantum dots 20 in the quantum dot structure 16 while sufficiently ensuring the film thicknesses of the first shell 24 and the second shell 26.
  • the light emitting layer 8 is formed after the array substrate 3, the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 are formed. Therefore, it is preferable that the array substrate 3, the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 include a material having heat resistance against heating in the heating step described above.
  • the array substrate 3 may be, for example, a glass substrate including alkali glass or the like having a sufficiently high strain point.
  • the array substrate 3 may be an organic substrate containing an organic material having a high glass transition temperature such as polyimide.
  • the first electrode 4 when the light emitting element layer 2 forms a bottom emission type light emitting element and the first electrode 4 is an anode, ITO is generally used for the first electrode 4.
  • the first electrode 4 preferably contains a material having high heat resistance such as a composite material of FTO and ITO.
  • the first charge transport layer 6 is a hole transport layer, it should contain an inorganic material having higher heat resistance than an organic material, such as NiO, MgNiO, Cr 2 O 3 , Cu 2 O, or LiNbO 3. Is preferred.
  • the edge cover 14 preferably contains an organic material having a high glass transition temperature, such as polyimide, from the viewpoint of reducing damage due to heating in the heating process described above.
  • the second charge transport layer 10 and the second electrode 12 are formed after the light emitting layer 8 is formed. Therefore, as the material of the second charge transport layer 10 and the second electrode 12, it is possible to employ a material that does not have heat resistance to the heating in the heating step described above.
  • the second charge transport layer 10 may include a material used for a conventionally known electron transport layer
  • the second electrode 12 may include a material used for a conventionally known cathode.
  • FIG. 8A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • 8B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 8A.
  • 8C is an enlarged cross-sectional view of the region B in FIG. 8B.
  • the light emitting device 1 according to this embodiment has the same configuration as the light emitting device 1 according to the previous embodiment, except that the stacking order of the layers of the light emitting element layer 2 is reversed. Good. That is, in the light emitting element layer 2 according to the present embodiment, the second charge transport layer 10, the light emitting layer 8, the first charge transport layer 6, and the first electrode 4 are formed on the second electrode 12 from the lower layer. Prepared by sequentially stacking.
  • each of the second electrode 12 and the second charge transport layer 10 is separated by the edge cover 14.
  • the second electrode 12 is formed by the edge cover 14 into the second electrode 12R for the first light emitting element 2R, the second electrode 12G for the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B.
  • the second charge transport layer 10 is provided by the edge cover 14 for the second charge transport layer 10R for the first light emitting element 2R, the second charge transport layer 10G for the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B. Of the second charge transport layer 10B.
  • first charge transport layer 6 and the first electrode 4 are not separated by the edge cover 14 but are formed in common as compared with the light emitting element 1 according to the previous embodiment.
  • the first electrode 4 may be a transparent electrode and the second electrode 12 may be a reflective electrode. Therefore, the light from the light emitting layer 8 passes through the first charge transport layer 6 and the first electrode 4, and is emitted from the light emitting surface DS to the outside of the light emitting device 1. Therefore, the light emitting device 1 is configured as a top emission type light emitting device. Therefore, in this embodiment, the array substrate 3 does not necessarily have to be a transparent substrate.
  • the light emitting device 1 performs the steps shown in FIG. 2 in the same order as in the previous embodiment in the order of step S1, step S7, step S3, step S6, step S5, step S4, and step S2. Can be manufactured by. Therefore, in this embodiment, the light emitting layer 8 is formed after the array substrate 3, the second electrode 12, the edge cover 14, and the second charge transport layer 10 are formed. Therefore, it is preferable that the array substrate 3, the second electrode 12, the edge cover 14, and the second charge transport layer 10 include a material having heat resistance against heating in the heating step described above.
  • the second electrode 12 when the light emitting element layer 2 forms a top emission type light emitting element and the second electrode 12 is a cathode, the second electrode 12 has a high melting point from the viewpoint of increasing the heat resistance against heating in the heating step described above. It is preferable to include a metallic material.
  • the second electrode 12 preferably contains a metal such as Al or Ag, or an intermetallic compound such as AgMg.
  • the second charge transport layer 10 is an electron transport layer, it preferably contains an inorganic material having higher heat resistance than an organic material such as MgO.
  • the above-mentioned materials are also materials generally used as a cathode material and an electron transport layer material.
  • the first charge transport layer 6 and the first electrode 4 are formed after the light emitting layer 8 is formed. Therefore, as the material of the first charge transport layer 6 and the first electrode 4, it is possible to employ a material that does not have heat resistance against heating in the heating step described above.
  • the first charge transport layer 6 may include a material used for a conventionally known hole transport layer
  • the first electrode 4 is a transparent conductive material used for a conventionally known anode such as ITO. It may also include a conductive material.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment is less required to change the material of each layer of the light emitting element layer 2 from the conventionally used material, as compared with the light emitting device 1 according to the previous embodiment. Therefore, the light emitting device 1 according to the present embodiment can improve the degree of freedom in material selection as compared with the light emitting device 1 according to the previous embodiment.
  • FIG. 9A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • 9B is a sectional view taken along the line AA in FIG. 9A.
  • 9C is an enlarged cross-sectional view of region B in FIG. 9B.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment may have the same configuration as the light emitting device 1 according to the first embodiment, except that the light emitting layer 8 does not include the ligand 18. As shown in FIG. 9C, the light emitting layer 8 may include voids 34 in the space not filled with the quantum dot structure 16.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment is manufactured by the same method as each of the steps shown in FIG. 2 except for step S5, that is, the light emitting layer forming step.
  • step S5 that is, the light emitting layer forming step.
  • the light emitting layer forming process of the light emitting device 1 according to the present embodiment will be described in more detail with reference to FIGS. 10 to 12.
  • FIG. 10 is a flow chart for explaining the light emitting layer forming step, which is the quantum dot layer forming step in the present embodiment.
  • FIG. 11 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step. Similar to FIG. 4, the solid line in FIG. 11 indicates the ambient temperature around the array substrate 3, and the broken line indicates the ambient temperature around the quantum dots 20 on the array substrate 3.
  • FIG. 12 is a process cross-sectional view for explaining the light emitting layer forming process.
  • step S10 the same method as the method described in the first embodiment is executed from step S10 to step S14.
  • step S14 the same method as the method described in the first embodiment is executed from step S10 to step S14.
  • step S14 the same method as the method described in the first embodiment is executed from step S10 to step S14.
  • step S14 the quantum dot structure 16 and the ligand 18 are formed in the upper layer of the first charge transport layer 6.
  • the third heating step is performed in which the atmosphere temperature is further raised and the atmosphere is heated so that the atmosphere temperature becomes the third temperature T3 or higher (step S15).
  • the third temperature T3 is higher than the second temperature T2 and corresponds to the boiling point of the ligand 18.
  • the third temperature T3 is 411.2 degrees Celsius.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 reaches the third temperature T3 due to the heating of the atmosphere in the third heating step, the evaporation of the ligand 18 starts, and the ambient temperature of the quantum dots 20 maintains the third temperature T3 for a while.
  • the ligand 18 is vaporized, and the light emitting layer 8 having no ligand 18 is obtained, as shown in FIG.
  • the light emitting device 1 according to this embodiment does not include the ligand 18 in the light emitting layer 8.
  • the ligand coordinated to the quantum dot often contains an organic material. Therefore, the light emitting layer 8 in the present embodiment that does not include the ligand 18 has a low content rate of the organic material with respect to the inorganic material and is resistant to deterioration due to water permeation or the like. Therefore, the light emitting device 1 according to the present embodiment can further improve reliability.
  • the average value of the ratio of voids not occupied by the rigid spheres in the space where the rigid spheres are randomly closest packed is about 36.34 volume percent. Therefore, for example, in the light emitting layer 8, the volume ratio of the organic substance to the inorganic substance is preferably 36.3 volume percent or less. In this case, the ratio of organic substances in the light emitting layer 8 can be reduced as compared to a conventional light emitting layer in which quantum dots are packed in a random closest manner and voids between the quantum dots are filled with an organic ligand. Therefore, with the above configuration, it is possible to more efficiently improve the reliability of the light emitting layer 8.
  • the expression “having no ligand” means substantially not having a ligand.
  • residues of impurities or ligands may remain to such an extent that the reliability of the light emitting layer 8 is not significantly deteriorated.
  • the light emitting layer 8 in the present embodiment may include the above-mentioned impurity or ligand residue in an amount of about 3 volume% with respect to the entire volume of the light emitting layer 8.
  • the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 can be reduced as in the above-described embodiments.
  • the surface area of the second shell 26 that can be damaged by heating can be reduced. Therefore, with the configuration, as described above, it is possible to reduce the formation of defects in the second shell 26 due to the damage to the second shell 26, and thus reduce the reduction in the luminous efficiency of the light emitting device 1 due to the defects.
  • FIG. 13A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to the modified example of the present embodiment.
  • 13B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 13C is an enlarged cross-sectional view of the region B in FIG. 13B.
  • the light emitting device 1 according to the present modification has the same configuration as that of the light emitting device 1 according to the present embodiment, except that the void 34 of the light emitting layer 8 is filled with the second shell 26. May be.
  • FIG. 14 is a process cross-sectional view for explaining the light emitting layer forming process in this modification.
  • the light emitting device 1 according to this modification is manufactured by the same method as the light emitting layer forming step in the present embodiment.
  • the concentration of the first inorganic material precursor 30 contained in the second solution 40 is higher. Therefore, the second shell 26 is formed thicker in the second heating step.
  • the voids 34 are filled with the second shell 26, so that the molten ligand 18 is extruded to the upper layer, and The ligand 18 remains on the upper layer of the dot structure 16.
  • the third heating step is performed, whereby the layer of the ligand 18 is removed, and the light emitting layer 8 shown in FIG. 13B in which the void 34 is filled with the second shell 26 is obtained.
  • the void 34 is filled with the second shell 26. Therefore, the quantum dot structure 16 according to the present modification has a higher volume ratio to the entire volume of the light emitting layer 8 than the quantum dot structure 16 according to the present embodiment. That is, in the light emitting layer 8 in the present modification, the filling rate of the shell formed around the core 22 of the quantum dot 20 in the light emitting layer 8 is further improved. Therefore, with the above configuration, the light emitting device 1 according to the present modification can further improve the reliability of the light emitting layer 8.
  • the method of removing the layer of the ligand 18 by the third heating step is mentioned, but the method is not limited to this.
  • the array substrate 3 may be cooled, and the layer of the ligand 18 may be removed using a conventional method of removing the organic layer that does not perform heating.
  • the ligand 18 can be removed by omitting a high temperature process such as the third heating step for the quantum dot structure 16, damage to the quantum dot structure 16 can be further reduced.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment may have the same configuration as the light emitting device 1 according to the previous embodiment. That is, the light emitting device 1 according to the present embodiment may have the configuration shown in FIG.
  • the quantum dots 20 absorb light having a shorter wavelength than the wavelength of light emitted by the quantum dots 20. In particular, the quantum dots 20 absorb ultraviolet light. Further, the quantum dots 20 generate heat when absorbing light.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment is manufactured by the same method as each of the steps shown in FIG. 2 except for step S5, that is, the light emitting layer forming step.
  • step S5 that is, the light emitting layer forming step.
  • the light emitting layer forming process of the light emitting device 1 according to the present embodiment will be described in more detail with reference to FIGS. 15 to 20.
  • FIG. 15 is a flowchart for explaining the light emitting layer forming step, which is the quantum dot layer forming step in the present embodiment.
  • FIG. 16 is a graph for explaining the relationship between the elapsed time and the temperature in the light emitting layer forming step.
  • Each temperature shown in FIG. 16 corresponds to each temperature shown in FIG.
  • the solid line in FIG. 16 indicates the temperature of the quantum dots 20 on the array substrate 3
  • the broken line indicates the temperature around the quantum dots 20.
  • 17, FIG. 18, FIG. 19, and FIG. 20 are process cross-sectional views for explaining the light emitting layer forming process.
  • the first applying step is performed as in the previous embodiment (step S10).
  • the first solution 28 applied in the first applying step may have the same configuration as the first solution 28 in the previous embodiment.
  • the first solution 28 on the array substrate 3 is irradiated with light such as ultraviolet light, is irradiated with the first light, and heats the quantum dots 20 to perform the first light irradiation step (step S21).
  • the quantum dots 20 are heated until the quantum dots 20 reach the first temperature T1 or higher shown in FIG.
  • the ambient temperature of the quantum dot 20 is the same as the temperature of the quantum dot 20 in the previous embodiment except that the ambient temperature of the quantum dot 20 follows the rise of the temperature of the quantum dot 20 with a slight delay, as shown in FIG. The same changes.
  • the melting of the ligand 18 and the evaporation of the first solvent 32 are completed by the first light irradiation step, and the quantum dots 20 are dispersed in the ligand 18, as shown in FIG.
  • a cooling process is performed in which the temperature of the quantum dots 20 is lowered below the first temperature T1 by stopping the first light irradiation (step S12). Also in this embodiment, as in the previous embodiment, the cooling process is performed until the temperature of the quantum dots 20 reaches the temperature TB.
  • the temperature around the quantum dot 20 continues to increase immediately after the temperature of the quantum dot 20 starts to decrease, but when the temperature around the quantum dot 20 reaches the temperature of the quantum dot 20, the temperature of the quantum dot 20 decreases as it is. To follow.
  • the second solution 40 is applied to a position overlapping the array substrate 3 and the second applying process is performed. Yes (step S13).
  • the second solution 40 applied in the second applying step may have the same configuration as the second solution 40 in the previous embodiment.
  • the quantum dots 20 on the array substrate 3 are irradiated with light such as ultraviolet rays, are irradiated with second light, and heat the quantum dots 20 again.
  • An irradiation process is implemented (step S24).
  • the temperature of the quantum dots 20 rises to the fourth temperature T4 or higher.
  • the ambient temperature of the quantum dot 20 changes similarly to the temperature of the quantum dot 20 in the previous embodiment, except that the ambient temperature of the quantum dot 20 follows the rise of the temperature of the quantum dot 20 with a slight delay.
  • the second light irradiation step completes the melting of the organic material 44 and the evaporation of the second solvent 42, and the quantum dots 20 and the first inorganic substance are present in the ligand 18, as shown in (b) of FIG.
  • the precursor 30 is dispersed.
  • the heating of the quantum dots 20 in the second light irradiation step is continued until the temperature of the quantum dots 20 reaches the second temperature T2 shown in FIG.
  • third light irradiation is performed to maintain the temperature of the quantum dots 20 near the second temperature T2.
  • the third light irradiation step is performed (step S25).
  • ultraviolet light may be irradiated similarly to the first light irradiation and the second light irradiation, and the energy amount per unit time may be larger than that of the ultraviolet light irradiated in the second light irradiation. You may irradiate ultraviolet light with a small.
  • the third light irradiation step since the temperature of the quantum dots 20 is maintained at the second temperature T2, the ambient temperature of the quantum dots 20 after reaching the second temperature T2 is also maintained at the second temperature T2. It Therefore, in the third light irradiation step, similarly to the second heating step in the previous embodiment, the quantum dot structure 16 including the quantum dots 20 and the second shell 26 shown in (a) of FIG. 20 is formed. To be done.
  • each light irradiation step in the present embodiment when the balance between the heat generation of the quantum dots 20 and the heat radiation of the array substrate 3 to the surrounding environment is balanced, the ambient temperature of the quantum dots 20 is substantially constant at a certain temperature. Becomes Here, the irradiation energy of each light irradiation may be adjusted so that the temperature at which the balance between the heat generation of the quantum dots 20 and the heat dissipation of the array substrate 3 to the surrounding environment is balanced is the second temperature T2. Further, in this way, the conditions of the intensity of the light irradiated in each of the first light irradiation, the second light irradiation, and the third light irradiation may be the same.
  • a fourth light irradiation step of further performing fourth light irradiation and heating the quantum dots 20 so that the temperature of the quantum dots 20 becomes the third temperature T3 or higher is performed.
  • step S26 ultraviolet light may be irradiated in the same manner as the first light irradiation, the second light irradiation, and the third light irradiation, and the unit of light may be larger than that of the light irradiated in the third light irradiation. Light having a large amount of energy per time may be irradiated.
  • the fourth light irradiation step as in the third heating step in the previous embodiment, the ligand 18 is vaporized, and the light emitting layer 8 having no ligand 18 shown in (b) of FIG. 20 is obtained.
  • each of the first coating step and the second coating step the material in each solution is changed for each emission color of the corresponding light emitting element, and each solution is separately coated by the inkjet method. Good. Accordingly, light emitting elements having different emission colors can be formed by continuous single irradiation of light.
  • the concentration of the first inorganic precursor 30 in the second solution 40 applied in the second applying step may be different depending on the emission color of the corresponding light emitting element.
  • the concentration of the first inorganic precursor 30 in the second solution 40 applied to the position corresponding to the second light emitting element 2G is the same as that of the second solution 40 applied to the position corresponding to the first light emitting element 2R. It is preferably lower than the concentration of the first inorganic precursor 30.
  • the concentration of the first inorganic precursor 30 in the second solution 40 applied to the position corresponding to the second light emitting element 2G is the concentration of the second solution 40 applied to the position corresponding to the third light emitting element 2B. It is preferably higher than the concentration of the first inorganic precursor 30.
  • the amount of the first inorganic material precursor 30 increases. Further, generally, the longer the wavelength of the light emitted by the quantum dots 20, the larger the particle size of the core 22 and thus the particle size of the quantum dots 20.
  • the light emitting layer forming step after the first solution 28 is applied to the position overlapping the first electrode 4 in the first applying step, partial exposure by laser irradiation may be performed in the first light irradiation. After that, a first removing step of removing the first solution 28 may be performed from a position overlapping a position different from the position where the partial exposure is performed.
  • the second application step after the second solution 40 is applied to the position overlapping the first electrode 4, partial exposure by laser irradiation is performed in each of the second light irradiation and the third light irradiation. Good.
  • a second removing step of removing the second solution 40 may be performed from a position overlapping a position different from the position where the partial exposure is performed.
  • the light emitting layer 8 can be formed only at the position where the laser irradiation is partially performed.
  • partial exposure may be performed using a photomask.
  • a method of forming the light emitting layer 8 by partial exposure using a photomask will be described in more detail with reference to FIGS. 21, 22, and 23.
  • 21, 22, and 23 are process cross-sectional views for explaining a method of forming the light emitting layer 8 by partial exposure using a photomask in the light emitting layer forming process.
  • 7 and 8 show not only the position where the second light emitting layer 8G is formed, but also the position where the first light emitting layer 8R and the third light emitting layer 8B are formed.
  • the photomask M shown in FIG. 21B is installed between the first coating step and the first light irradiation step.
  • the photomask M has a function of blocking the light emitted in each light irradiation step.
  • the photomask M is formed so that when it is installed above the array substrate 3, the opening is formed only at a position overlapping the first electrode 4G. That is, as shown in FIG. 21B, when the photomask M is installed above the array substrate 3, the photomask M shields the upper part of the first solution 28 at a position that does not overlap the first electrode 4G.
  • the first light irradiation step is performed, so that the light irradiation is performed only on the first solution 28 at the position overlapping the first electrode 4G, as shown in FIG. To be done. Therefore, in the first light irradiation step, the heating of the quantum dots 20 is performed only at the position overlapping with the first electrode 4G. Therefore, as shown in (d) of FIG. 21, melting of the ligand 18 and vaporization of the first solvent 32 occur only at a position overlapping with the first electrode 4G.
  • the first solution 28 is removed at a position overlapping with a position different from the position where light irradiation is performed. 1 Perform the removal step.
  • the cooling process and the second coating process are sequentially performed, so that the second solution 40 is coated at a position overlapping the array substrate 3 as shown in FIG.
  • the photomask M is installed again, and the second light irradiation process, the third light irradiation process, and the fourth light irradiation process are sequentially performed.
  • the second light irradiation process, the third light irradiation process, and the fourth light irradiation process are sequentially performed.
  • light irradiation is performed only on the second solution 40 at the position overlapping the first electrode 4G. Therefore, in the first light irradiation step, the heating of the quantum dots 20 is performed only at the position overlapping with the first electrode 4G. Therefore, as shown in (a) of FIG. 23, the second light emitting layer 8G is formed only at the position overlapping with the first electrode 4G.
  • the second solution 40 is removed at a position overlapping with a position different from the position where light irradiation is performed.
  • a 2nd removal process is implemented. This completes the process of forming the second light emitting layer 8G.
  • the above-described first coating step to second removing step correspond to the corresponding light emitting element. It may be repeated depending on the emission color of. For example, after forming the second light emitting layer 8G shown in FIG. 23(b), the first coating step to the second removing step are left for the formation of the first light emitting layer 8R and the third light emitting layer 8B. Each time, it may be carried out three times in total.
  • the type of each solution applied in the first coating step and the second coating step is changed according to the type of the light emitting layer 8 to be formed, and the photomask M installed above the array substrate 3 is also changed. I do. Specifically, in each light irradiation step, the position of the opening of the photomask M is adjusted according to the type of the light emitting layer 8 so that the light irradiation is performed only at the position overlapping the position of the light emitting layer 8 to be formed. To change.
  • the light emitting layer 8 including the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B shown in (c) of FIG. 23 is formed.
  • the method of forming the light emitting layer 8 divided into the light emitting elements by the edge cover 14 has been described.
  • the laser irradiation or the partial exposure using the photomask is adopted for each light irradiation, it is possible to individually perform the light irradiation to the position overlapping each of the first electrodes 4. Therefore, even when the light emitting layer 8 is not divided by the edge cover 14, the light emitting layer 8 corresponding to each light emitting element can be individually formed. Therefore, when partial exposure is adopted in each light irradiation, the height of the edge cover 14 may be the height that covers the edge of the first electrode 4.
  • the light emitting layers 8 in each of the first light emitting element that emits red light, the second light emitting element that emits green light, and the third light emitting element that emits blue light The method of forming the has been described. However, the above-described light emitting layer forming step can be applied to the step of forming the light emitting layer 8 in the case where a part of the light emitting element is provided with a light emitting layer 8 of a type different from that of another light emitting element.
  • the present invention is not limited to this.
  • the fourth light irradiation step is not performed, and after the quantum dot structure 16 is formed at the position corresponding to the light emitting element, it is superposed on the array substrate 3.
  • the fourth light irradiation may be performed on the position to be turned on. This makes it possible to collectively remove the ligands 18 at the positions corresponding to the light emitting elements.
  • the time for performing the third light irradiation on the positions corresponding to the first light emitting element 2R, the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B varies depending on the light emission color of the light emitting element. May be.
  • the irradiation time of the third light irradiation on the position corresponding to the second light emitting element 2G is preferably shorter than the irradiation time of the third light irradiation on the position corresponding to the first light emitting element 2R.
  • the irradiation time of the third light irradiation to the position corresponding to the second light emitting element 2G is preferably longer than the irradiation time of the third light irradiation to the position corresponding to the third light emitting element 2B.
  • the first coating step when the first solution 28 is separately coated by the inkjet method and light irradiation is performed on the entire coating area, a photomask is placed above the array substrate 3 during the third light irradiation step, and light irradiation is performed. May be restarted. This makes it possible to change the irradiation time of the third light irradiation according to the emission color of the light emitting element.
  • the irradiation time of the third light irradiation may be different in each partial exposure.
  • the larger the particle size of the quantum dot 20 the slower the growth rate of the second shell 26. That is, when the second shell 26 having the same film thickness is formed around the quantum dots 20, the larger the particle size of the quantum dots 20, the longer the time required for the third light irradiation.
  • the light emission efficiency of the light emitting device 1 can be improved, and the deactivation of the quantum dots 20 due to the damage of the quantum dot structure 16 can be reduced.
  • the light emitting layer 8 is formed after the array substrate 3, the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 are formed.
  • the heating for forming the light emitting layer 8 is realized by the heat generation of the quantum dots 20 by the light irradiation. Therefore, local heating of the light emitting layer 8 is realized. Therefore, the array substrate 3, the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 do not necessarily have to have high heat resistance against heating in the light irradiation step described above. Therefore, the array substrate 3, the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 may include conventionally known materials.
  • the array substrate 3 may include a flexible material such as PET in addition to the above-mentioned materials, and the flexible light emitting device 1 may be realized.
  • the light emitting element layer 2 forms a bottom emission type light emitting element and the first electrode 4 is an anode
  • ITO may be used for the first electrode 4.
  • the first charge transport layer 6 is a hole transport layer, it may contain an inorganic material such as NiO, MgNiO, Cr2O3, Cu2O, or LiNbO3.
  • the order of forming the light emitting element layers 2 may be reversed. That is, the light emitting element layer 2 may form a top emission type light emitting element, and the second electrode 12 may be a cathode. In this case, the light emitting layer 8 is formed after the array substrate 3, the second electrode 12, the edge cover 14, and the second charge transport layer 10 are formed.
  • the second electrode 12 may have a function of reflecting the light emitted in each light irradiation described above. preferable.
  • the light irradiation step in the present embodiment can reduce the intensity of light irradiation necessary for irradiating the quantum dots 20 with sufficient light, as compared with the light irradiation step in the previous embodiment.
  • the second electrode 12 may include at least a reflective metal thin film on its surface.
  • the second electrode 12 may include a metal such as Al or Ag, or an intermetallic compound such as AgMg.
  • FIG. 24A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to the present embodiment.
  • 24B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 24C is an enlarged cross-sectional view of the region B in FIG.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment is different from the light emitting device 1 according to the first embodiment in that the first electrode 4 includes the oxide semiconductor film 4A on the surface on the light emitting layer 8 side, and The difference is that the two shells 26 are unevenly distributed on the array substrate 3 side. Except for the above points, the light emitting device 1 according to the present embodiment may have the same configuration as the light emitting device 1 according to the first embodiment.
  • each first electrode 4 is provided with the oxide semiconductor film 4A on the surface.
  • the oxide semiconductor film 4A may include, for example, a transparent oxide semiconductor such as ITO.
  • the oxide semiconductor film 4A has a function of absorbing light and generating heat.
  • the first electrode 4 has a thin film of the oxide semiconductor film 4A on the surface is illustrated, but the present invention is not limited to this.
  • the entire first electrode 4 may be made of the same material as the oxide semiconductor film 4A.
  • the density of the second shells 26 in the light emitting layer 8 is higher on the array substrate 3 side than on the opposite side of the array substrate 3. Therefore, the ligand 18 segregates around the second shell 26 on the opposite side of the array substrate 3. Therefore, in the light emitting layer 8, the density of the inorganic substance on the array substrate 3 side is higher than the density of the inorganic substance on the side opposite to the array substrate 3.
  • the light emitting device 1 according to this embodiment is manufactured by the same method as the method for manufacturing the light emitting device 1 according to the previous embodiment.
  • the manufacturing method of the light emitting device 1 according to the present embodiment is different from the manufacturing method of the light emitting device 1 according to the previous embodiment only in the temperature transition of each member in the light emitting layer forming step.
  • FIG. 25 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step.
  • Each temperature shown in FIG. 25 corresponds to each temperature shown in FIG.
  • the solid line in FIG. 25 indicates the temperature of the lower layer of the light emitting layer 8, particularly the oxide semiconductor film 4A
  • the dotted line indicates the temperature of the quantum dots 20 on the array substrate 3.
  • the temperature around the quantum dot 20 on the lower layer side, that is, the oxide semiconductor film 4A side is indicated by a broken line on the upper layer side, that is, the oxide semiconductor film.
  • the temperature around the quantum dots 20 on the side opposite to 4A is indicated by a chain line.
  • the oxide semiconductor film 4A is heated by absorbing the light with which the oxide semiconductor film 4A is irradiated.
  • the temperature of the quantum dots 20 starts to rise after the temperature rise of the oxide semiconductor film 4A. This is because the quantum dots 20 slightly absorb the emitted light and generate heat.
  • the quantum dots 20 when light irradiation with the same intensity is performed, the light absorption amount of the quantum dots 20 is lower than the light absorption amount of the oxide semiconductor film 4A.
  • the quantum dots 20 convert part of the energy of the absorbed light into heat and also into light.
  • the oxide semiconductor film 4A converts most of the energy of the absorbed light into heat. Therefore, the temperature rise of the quantum dots 20 becomes slower than the temperature rise of the oxide semiconductor film 4A.
  • the heat from the heated oxide semiconductor film 4A gradually propagates to the upper layer of the first charge transport layer 6.
  • the heat from the heated oxide semiconductor film 4A is lower than the periphery of the quantum dots 20 on the upper layer side, that is, the side opposite to the oxide semiconductor film 4A, that is, the oxide semiconductor film 4A side.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 on the lower layer side reaches the second temperature T2 earlier than the ambient temperature of the quantum dots 20 on the upper layer side rises. That is, in the third light irradiation step, the temperature of the upper layer of the first charge transport layer 6 on the oxide semiconductor film 4A side is higher than the temperature on the side opposite to the oxide semiconductor film 4A. Since the second shell 26 epitaxially grows around the quantum dots 20 under the temperature condition, the second shell 26 is first formed around the lower-layer quantum dots 20 as compared with the surrounding of the upper-layer quantum dots 20. Formation preferentially progresses. Therefore, in the upper layer of the first charge transport layer 6, the density of the second shell 26 is higher on the oxide semiconductor film 4A side than on the opposite side of the oxide semiconductor film 4A.
  • the temperature around the quantum dots 20 is a certain temperature. Is almost constant at.
  • the irradiation energy of each light irradiation may be adjusted such that the temperature at which the balance between the heat generation of the oxide semiconductor film 4A and the heat radiation to the ambient environment of the array substrate 3 is balanced is the second temperature T2. Further, in this way, the conditions of the intensity of the light irradiated in each of the first light irradiation, the second light irradiation, and the third light irradiation may be the same.
  • the light emission efficiency of the light emitting device 1 can be improved, and the deactivation of the quantum dots 20 due to the damage of the quantum dot structure 16 can be reduced.
  • the light emitting layer 8 can be formed for each light emitting element by the above-described laser irradiation or partial exposure using a photomask.
  • the edge cover 14 and the first charge transport layer 6 are formed, and then the light emitting layer 8 is formed. Therefore, in the process of forming the light emitting layer 8, heat from the oxide semiconductor film 4A propagates to the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6. Therefore, it is preferable that the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 include a material having heat resistance against heating in the light irradiation step described above.
  • the first electrode 4 is an anode
  • ITO is generally used for the first electrode 4. ITO is preferable because it absorbs ultraviolet light and has a high transmittance for visible light. Further, in order to reduce the increase in the specific resistance due to the heating in the above heating step, the first electrode 4 preferably contains a material having high heat resistance such as a composite material of FTO and ITO.
  • the order of forming the light emitting element layers 2 may be reversed. That is, the light emitting element layer 2 may form a top emission type light emitting element, and the second electrode 12 may be a cathode.
  • the light emitting layer 8 is formed after the array substrate 3, the second electrode 12, the edge cover 14, and the second charge transport layer 10 are formed.
  • the second electrode 12, the edge cover 14, and the second charge transport layer 10 include a material having heat resistance against heating in the light irradiation step described above.
  • the quantum dot layer including the quantum dots 20 is the light emitting layer 8
  • the present invention is not limited to this, and for example, the first charge transport layer 6 or the second charge transport layer 10 may be a quantum dot layer including the quantum dots 20.
  • the quantum dot 20 may be provided with a function of transporting carriers.
  • the stability of the quantum dots 20 in each charge transport layer is improved as compared with the conventional charge transport layer including quantum dots, so that the carrier transport efficiency of each charge transport layer is improved, and as a result, light emission is achieved. This leads to an improvement in the luminous efficiency of the device 1.
  • Each charge transport layer including the quantum dots 20 described above can also be formed by the same method as the quantum dot layer forming step in each embodiment.
  • the configuration of the light emitting device 1 is described by exemplifying a display device including a plurality of light emitting elements and having the display surface DS.
  • the light emitting device 1 according to each of the above-described embodiments is not limited to this, and may be a light emitting device including a single light emitting element.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

発光デバイス(1)は、第1電極(4)と、第2電極(12)と、前記第1電極および前記第2電極の間の量子ドット層(8)とを含む発光素子(2R・2G・2B)を基板(3)上に備える。前記量子ドット層は、コア(22)および該コアを被膜する第1シェル(24)を備えた量子ドット(20)と、前記第1シェルを被膜する第2シェル(26)とを備えた量子ドット構造体(16)を備える。前記第1シェルと前記第2シェルとは結晶構造を有し、少なくとも一組の互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルの結晶構造により接続している。前記量子ドット層の形成工程において、リガンドが分散する溶液の溶媒を気化させる工程と、冷却工程と、前記第1シェルの周囲にエピタキシャル成長により前記第2シェルを形成する工程とを、この順に備える。

Description

発光デバイスの製造方法
 本発明は、量子ドットを含む発光素子を備えた発光デバイスの製造方法に関する。
 特許文献1は、コア/シェル構造を備えた半導体ナノ粒子(量子ドット)と、当該半導体ナノ粒子に配位する配位子とを開示している。
日本国公開特許公報「特開2017-25220号」
種村正美、"ランダム充填について(形の物理学,研究会報告)"、物性研究(1984),42(1):76-77
 発明者は、特許文献1に開示されているような従来の量子ドットを、単に積層した量子ドット層を備えた発光デバイスよりも、より当該発光デバイスの発光効率を改善する手法を見出した。
 上記課題を解決するために、本発明の発光デバイスの製造方法は、第1電極と、第2電極と、前記第1電極および前記第2電極の間の量子ドット層とを含む発光素子を基板上に備えた発光デバイスの製造方法であって、前記量子ドット層を形成する量子ドット層形成工程を備え、前記量子ドット層形成工程は、第1溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第1塗布工程と、前記第1塗布工程に次いで、前記基板の周囲の雰囲気温度を第1温度以上に加熱する第1加熱工程と、前記第1加熱工程に次いで、前記雰囲気温度を前記リガンドの融点と前記第1溶媒の沸点のうちの低い温度以下に冷却する冷却工程と、前記冷却工程に次いで、第2溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第2塗布工程と、前記第2塗布工程に次いで、前記雰囲気温度を第2温度まで加熱する第2加熱工程と、を備え、前記第1溶液は、第1溶媒と、複数の量子ドットと、該量子ドットのそれぞれと配位結合するリガンドとを含み、前記量子ドットは、コアと、該コアを被膜する第1シェルとを備え、前記第2溶液は、第2溶媒と、第1無機物前駆体とを含み、前記第1温度は、前記リガンドの融点と前記第1溶媒の沸点とのうちの高い温度であり、前記第2温度は、前記第1温度より高く、かつ、前記第1無機物前駆体が、前記第1シェルの周囲にエピタキシャル成長し、前記第1シェルを被膜する第2シェルを形成する温度であり、前記第2加熱工程において、少なくとも一組の互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルを介して接続する。
 また、上記課題を解決するために、本発明の発光デバイスの製造方法は、第1電極と、第2電極と、前記第1電極および前記第2電極の間の量子ドット層とを含む発光素子を基板上に備えた発光デバイスの製造方法であって、前記量子ドット層を形成する量子ドット層形成工程を備え、前記量子ドット層形成工程は、コアと、該コアを被膜する第1シェルとを備えた複数の量子ドットと、該量子ドットのそれぞれと配位結合するリガンドと、第1溶媒とを含む第1溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第1塗布工程と、前記第1塗布工程に次いで、前記第1溶液が塗布された前記位置に、前記基板の上方から第1光照射を行い、前記リガンドを溶融させ、かつ、前記第1溶媒を気化させる第1光照射工程と、前記第1光照射工程に次いで、前記量子ドットの温度を前記リガンドの融点と前記第1溶媒の沸点のうちの低い温度以下に冷却する冷却工程と、前記冷却工程に次いで、第2溶媒と、第1無機物前駆体とを含む第2溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第2塗布工程と、前記第2塗布工程に次いで、第2光照射を行い、前記量子ドットの温度を上昇させる第2光照射工程と、前記第2光照射工程に次いで、第3光照射を行い、前記第1無機物前駆体を、前記第1シェルの周囲にエピタキシャル成長させて、前記第1シェルを被膜する第2シェルを形成する第3光照射工程と、を備え、前記第3光照射工程において、少なくとも一組の互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルを介して接続する。
 上記構成により、量子ドットを備えた発光デバイスにおいて、より発光効率を改善できる。
本発明の実施形態1に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の実施形態1に係る発光デバイスの製造方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程を説明するための工程断面図である。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程を説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程を説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態2に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の実施形態3に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の実施形態3に係る発光層の形成方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態3に係る発光層の形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。 本発明の実施形態3に係る発光層の形成工程を説明するための工程断面図である。 本発明の変形例に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の変形例に係る発光層の形成工程を説明するための工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程を説明するための工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程を説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程を説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程を説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程における、フォトマスクを使用した光照射について説明するための工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程における、フォトマスクを使用した光照射について説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程における、フォトマスクを使用した光照射について説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態5に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の実施形態5に係る発光層の形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。
 〔実施形態1〕
 図1の(a)は、本実施形態に係る発光デバイス1の概略上面図である。図1の(b)は、図1の(a)における、A-A線矢視断面図である。図1の(c)は、図1の(b)における、領域Bにおける拡大断面図、すなわち、後述する第2発光層8Gの周辺における拡大断面図である。
 図1の(a)に示すように、本実施形態に係る発光デバイス1は、発光が取り出される発光面DSと、当該発光面DSの周囲を囲う額縁領域NAとを備える。額縁領域NAにおいては、後に詳述する発光デバイス1の発光素子を駆動するための信号が入力される端子Tが形成されていてもよい。
 平面視において発光面DSと重畳する位置において、図1の(b)に示すように、本実施形態に係る発光デバイス1は、発光素子層2とアレイ基板3とを備える。発光デバイス1は、図示しないTFT(Thin Film Transistor)が形成されたアレイ基板3上に、発光素子層2の各層が積層された構造を備える。なお、本明細書においては、発光デバイス1の発光素子層2からアレイ基板3への方向を「下方向」、発光デバイス1の発光素子層2から発光面DSへの方向を「上方向」として記載する。
 発光素子層2は、第1電極4上に、第1電荷輸送層6と、量子ドット層である発光層8と、第2電荷輸送層10と、第2電極12とを、下層から順次積層して備える。アレイ基板3の上層に形成された発光素子層2の第1電極4は、アレイ基板3のTFTと電気的に接続されている。本実施形態において、例えば、第1電極4は陽極であり、第2電極12は陰極である。
 本実施形態において、発光素子層2は、第1発光素子2Rと、第2発光素子2Gと、第3発光素子2Bとを備える。第1発光素子2Rと、第2発光素子2Gと、第3発光素子2Bとは、発光層8に、半導体ナノ粒子材料、すなわち、量子ドット材料を備えた、QLED素子である。
 ここで、第1電極4、第1電荷輸送層6、および発光層8のそれぞれは、エッジカバー14によって分離されている。特に、本実施形態においては、第1電極4は、エッジカバー14によって、第1発光素子2R用の第1電極4R、第2発光素子2G用の第1電極4G、および第3発光素子2B用の第1電極4Bに分離されている。また、第1電荷輸送層6は、エッジカバー14によって、第1発光素子2R用の第1電荷輸送層6R、第2発光素子2G用の第1電荷輸送層6G、および第3発光素子2B用の第1電荷輸送層6Bに分離されている。さらに、発光層8は、エッジカバー14によって、第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bに分離されている。
 なお、第2電荷輸送層10と、第2電極12とは、エッジカバー14によって分離されず、共通して形成されている。エッジカバー14は、図1の(b)に示すように、第1電極4の側面と上面の周囲端部付近とを覆う位置に形成されていてもよい。
 本実施形態において、第1発光素子2Rは、第1電極4R、第1電荷輸送層6Rと、第1発光層8Rと、第2電荷輸送層10と、第2電極12とからなる。また、第2発光素子2Gは、第1電極4Gと、第1電荷輸送層6Gと、第2発光層8Gと、第2電荷輸送層10と、第2電極12とからなる。さらに、第3発光素子2Bは、第1電極4Bと、第1電荷輸送層6Bと、第3発光層8Bと、第2電荷輸送層10と、第2電極12とからなる。
 本実施形態においては、第1発光層8Rと、第2発光層8Gと、第3発光層8Bとは、それぞれ、第1の色の光である赤色光と、第2の色の光である緑色光と、第3の色の光である青色光とを発する。すなわち、第1発光素子2Rと、第2発光素子2Gと、第3発光素子2Bとは、それぞれ、互いに異なる色の光である、赤色光と、緑色光と、青色光とを発する発光素子である。
 ここで、青色光とは、例えば、400nm以上500nm以下の波長帯域に発光中心波長を有する光である。また、緑色光とは、例えば、500nm超600nm以下の波長帯域に発光中心波長を有する光のことである。また、赤色光とは、例えば、600nm超780nm以下の波長帯域に発光中心波長を有する光のことである。
 第1電極4および第2電極12は導電性材料を含み、それぞれ、第1電荷輸送層6および第2電荷輸送層10と電気的に接続されている。第1電極4と第2電極12とのうち、発光面DSに近い電極は透明電極である。
 特に、本実施形態において、アレイ基板3は透明基板であり、第1電極4は透明電極である。また、第2電極12は反射電極であってもよい。このため、発光層8からの光は、第1電荷輸送層6、第1電極4、およびアレイ基板3を透過して、発光面DSから発光デバイス1の外部に出射される。このため、発光デバイス1は、ボトムエミッション型の発光デバイスとして構成されている。発光層8から上方向に発せられた光、および下方向に発せられた光の両方を、発光デバイス1からの発光として利用可能であるため、発光デバイス1は、発光層8から発せられた光の利用効率を向上させることができる。
 なお、上述した第1電極4と第2電極12との構成は一例であり、別の材料によって構成されていてもよい。
 第1電荷輸送層6は、第1電極4からの電荷を発光層8へと輸送する層である。第1電荷輸送層6は、第2電極12からの電荷の輸送を阻害する機能を有していてもよい。本実施形態においては、第1電荷輸送層6は、陽極である第1電極4からの正孔を発光層8へと輸送する正孔輸送層であってもよい。
 第2電荷輸送層10は、第2電極12からの電荷を発光層8へと輸送する層である。第2電荷輸送層10は、第1電極4からの電荷の輸送を阻害する機能を有していてもよい。本実施形態においては、第2電荷輸送層10は、陰極である第2電極12からの電子を発光層8へと輸送する電子輸送層であってもよい。
 次に、発光層8の構成について、図1の(c)を参照して詳細に説明する。なお、図1の(c)は、図1の(b)の領域B、すなわち、第2発光素子2Gの第2発光層8Gの周囲における概略断面図を示す。しかしながら、本実施形態においては、特に断りのない限り、図1の(c)に示す各部材は、各発光素子において共通の構成であるとみなして示している。したがって、本実施形態においては、特に断りのない限り、図1の(c)に示す各部材は、各発光素子において同一の構成であってもよい。
 本実施形態において、発光層8は、量子ドット構造体16とリガンド18とを備える。量子ドット構造体16は、複数の量子ドット20を備える。量子ドット20は、コア22と該コア22の周囲を被膜する第1シェル24とを含む、コア/シェル構造を備えている。また、量子ドット構造体16は、第2シェル26を備える。第2シェル26は、量子ドット20のそれぞれの外殻である第1シェル24の周囲を被膜する。
 なお、量子ドット20は、コア22の周囲に複数のシェルを備えた、マルチシェル構造を備えていてもよい。この場合、第1シェル24は、上記複数のシェルのうち、最外層にあたるシェルを指す。
 リガンド18は、第2シェル26の外表面において、量子ドット構造体16と配位結合し、量子ドット構造体16の空隙を充填していてもよい。リガンド18は、例えば、TOPO(trioctylphosphine oxide)であってもよい。
 ここで、量子ドット20のうち、少なくとも一組の互いに隣接する量子ドット20同士は、第2シェル26を介して接続している。また、第1シェル24と第2シェル26とは、結晶構造を有し、特に、本実施形態においては、第2シェル26は、第1シェル24上においてエピタキシャル成長することにより形成された結晶構造を備える。したがって、上述した互いに隣接する量子ドット20同士は、第2シェル26の結晶構造により接続している。なお、本実施形態においては、同一の発光素子内における全ての量子ドット20同士が、第2シェル26の結晶構造により接続し、一体の量子ドット構造体16を形成していてもよい。また、第1シェル24と第2シェル26とは、多結晶であってもよい。
 量子ドット20のコア22および第1シェル24は、公知のコア/シェル構造の量子ドットに用いられる無機の材料を備えていてもよい。すなわち、第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bは、それぞれ、赤色、緑色、および青色のQLED素子の発光層に使用される、公知の量子ドット材料を備えていてもよい。
 また、第2シェル26は、第1シェル24と同様に、公知のコア/シェル構造の量子ドットに用いられる、無機のシェル材料を備えていてもよい。また、第1シェル24と第2シェル26とは、同一材料からなっていてもよい。なお、第2シェル26の比抵抗は、第1シェル24の比抵抗以上であることが好ましい。また、第2シェル26のバンドギャップの大きさは、第1シェル24のバンドギャップの大きさ以上であることが好ましい。当該構成により、第2シェル26から第1シェル24への電荷注入の効率が向上する。
 コア22の具体的な材料としては、例えば、CdSe(バンドギャップ1.73eV)、CdTe(バンドギャップ1.44eV)、ZnTe(バンドギャップ2.25eV)、またはCdS(バンドギャップ2.42eV)等のII-VI族半導体が挙げられる。他に、コア22の具体的な材料としては、例えば、InP(バンドギャップ1.35eV)、またはInGaP(バンドギャップ1.88eV)などのIII-V族半導体が挙げられる。
 一般に、量子ドットの発する波長はコアの粒径によって決定される。ゆえに、コア22の粒径の制御によって、コア22が発する光を、赤色、緑色、および青色の何れかに制御できるように、適切なバンドギャップを有する半導体材料を、コア22の材料として採用することが好ましい。
 赤色発光層である第1発光層8Rが630nmの波長の赤色光を発するために、第1発光層8Rが含むコア22の材料のバンドギャップは、1.97eV以下であることが好ましい。また、緑色発光層である第2発光層8Gが532nmの波長の緑色光を発するために、第2発光層8Gが含むコア22の材料のバンドギャップは、2.33eV以下であることが好ましい。さらに、青色発光層である第3発光層8Bが630nmの波長の青色光を発するために、第3発光層8Bが含むコア22の材料のバンドギャップは、2.66eV以下であることが好ましい。上述した第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bを備えた発光デバイス1は、UHDTVの国際規格BT2020における色空間の基準を満たす点において好ましい。
 第1シェル24および第2シェル26の具体的な材料としては、例えば、ZnSe(バンドギャップ2.7eV)、またはZnS(バンドギャップ3.6eV)等のII-VI族半導体が挙げられる。他に、第1シェル24および第2シェル26の具体的な材料としては、GaP(バンドギャップ2.26eV)等のIII-V族半導体が挙げられる。
 コア22の材料は、第1シェル24および第2シェル26の材料と比較して、比抵抗が低く、バンドギャップが小さいことが好ましい。当該構成により、第1シェル24および第2シェル26からコア22への電荷注入の効率が向上する。
 なお、本実施形態において、第1シェル24の、コア22の外表面からの平均膜厚は、第2シェル26の最小膜厚よりも小さい。ここで、第2シェル26の最小膜厚とは、第2シェル26を介して互いに接続している2つの量子ドット20の間における第2シェル26の膜厚、あるいは、第1シェル24から第2シェル26の外表面までの膜厚のうち最も小さい膜厚を指す。
 ここで、図1の(c)に示すように、ある量子ドット20のコア22から、隣接する他の量子ドット20のコア22までの最短距離をdとおく。例えば、コア22がInP、第1シェル24および第2シェル26がZnSである場合、距離dの平均値は3nm以上であることが好ましい。また、例えば、コア22がCdSe、第1シェル24および第2シェル26がZnSである場合、距離dの平均値は1nm以上であることが好ましい。当該構成によれば、電子波動関数から導き出される、コア22からの電子の染み出しを、第1シェル24および第2シェル26によって効率的に低減できる。
 次に、本実施形態に係る発光デバイス1の製造方法について、図2を参照して説明する。図2は、本実施形態に係る発光デバイス1の製造方法について説明するためのフローチャートである。
 はじめに、アレイ基板を形成する(ステップS1)。アレイ基板の形成は、基板に対し、サブ画素の位置に合せて、複数のTFTを形成することにより実行されてもよい。
 次いで、第1電極4を形成する(ステップS2)。ステップS2において、例えば、ITO等の導電性を有する透明電極材料を、スパッタにより成膜した後、サブ画素の形状に合わせてパターニングすることにより、第1電極4をサブ画素ごとに形成してもよい。あるいは、透明電極材料を、蒸着マスクを使用し蒸着することにより、第1電極をサブ画素ごとに形成してもよい。
 次いで、エッジカバー14を形成する(ステップS3)。エッジカバー14は、アレイ基板3および第1電極4上に塗布された後、隣接する第1電極4同士の間において、当該第1電極4の側面および周囲端部を覆う位置を残してパターニングされることにより得られてもよい。エッジカバー14のパターニングは、フォトリソグラフィによって行われてもよい。
 次いで、第1電荷輸送層6を形成する(ステップS4)。第1電荷輸送層6は、インクジェット方式による塗り分け、マスクを使用した蒸着、またはフォトリソグラフィを使用したパターニングによって、サブ画素ごとに形成されてもよい。
 次いで、発光層8を形成する(ステップS5)。発光層8の形成工程について、図3から図7を参照して、より詳細に説明する。
 図3は、本実施形態における量子ドット層形成工程にあたる、発光層形成工程について説明するためのフローチャートである。
 図4は、当該発光層形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。図4において、横軸は、発光層形成工程の経過時間、縦軸は温度を表している。図4における実線は、アレイ基板3の周囲の雰囲気の温度を示し、破線は、アレイ基板3上の量子ドット20の周囲の温度を示している。以下、単に「雰囲気」とは、アレイ基板3の周囲の雰囲気を示す。
 図5、図6、および図7は、当該発光層形成工程を説明するための工程断面図である。以降、図5から図7を含む、本明細書における工程断面図は、図1の(b)の領域B、すなわち、第2発光素子2Gの第2発光層8Gの周囲に対応する位置における工程断面図を示す。しかしながら、本明細書における工程断面図を参照して説明する手法は、特に断りのない限り、他の発光素子の発光層8の形成方法に適用してもよい。
 発光層形成工程までにおいて、図5の(a)に示すように、第1電荷輸送層6までが、アレイ基板3上に形成されている。発光層形成工程において、はじめに、図5の(b)に示す第1溶液28をアレイ基板3と重畳する位置に塗布する、第1塗布工程を実施する(ステップS10)。
 第1溶液28は、図5の(b)に示すように、リガンド18が配位した複数の量子ドット20が、第1溶媒32中に分散した溶液である。第1溶媒32は、例えば、ヘキサンであってもよい。
 第1塗布工程は、図4に示す、温度T0の雰囲気温度下において行う。第1溶液28の塗布が、温度T0の雰囲気温度下において実施されるために、図4に示すように、塗布される第1溶液28中の量子ドット20の周囲温度についても、温度T0となる。温度T0は、例えば、常温であってもよい。
 次いで、第1溶液28が塗布されたアレイ基板3を、加熱炉等に投入し、雰囲気の加熱を開始する。ここで、雰囲気を、雰囲気温度が図4に示す第1温度T1以上となるまで加熱することにより、第1加熱工程を実施する(ステップS11)。
 第1温度T1は、リガンド18の融点と、第1溶媒32の沸点とのうちの、高い温度である。なお、図4に示す温度TAは、リガンド18の融点と、第1溶媒32の沸点とのうちの、低い温度である。また、第1温度T1および温度TAは、温度T0より高い。
 ここで、TOPOの融点は摂氏50度から摂氏54度であり、ヘキサンの沸点は摂氏68.5度から摂氏69.1度である。したがって、リガンド18がTOPOであり、第1溶媒がヘキサンである場合、温度TAはTOPOの融点であり、第1温度T1はヘキサンの沸点である。
 雰囲気温度が、温度T0から温度TAになるまでは、図4に示すように、量子ドット20の周囲温度は、雰囲気温度の上昇に追従する。しかしながら、量子ドット20の周囲温度が温度TAまで上昇し、リガンド18の溶融または第1溶媒32の蒸発のうちの一方が開始すると、量子ドット20の周囲温度は、しばらく温度TAを維持する。
 さらに雰囲気の加熱を進めることにより、リガンド18の溶融または第1溶媒32の蒸発のうちの一方が終了し、再び量子ドット20の周囲温度が上昇し始める。次いで、量子ドット20の周囲温度が第1温度T1まで上昇し、リガンド18の溶融または第1溶媒32の蒸発のうちの他方が開始すると、量子ドット20の周囲温度は、しばらく第1温度T1を維持する。
 これにより、第1加熱工程によって、リガンド18の溶融および第1溶媒32の蒸発が完了する。第1温度T1が第1溶媒32の沸点である場合、第1加熱工程において、リガンド18が溶融した後に、第1溶媒32が気化する。一方、第1温度T1がリガンド18の融点である場合、第1加熱工程において、第1溶媒32が気化した後に、リガンド18が溶融する。
 ここで、リガンド18の溶融が第1溶媒32の気化よりも早い場合、第1溶媒32の気化の直後において、第1電荷輸送層6の上層においては、固体のリガンド18が周囲に付着した量子ドット20の集合体が形成される。当該集合体は膜として不安定であるため、当該集合体の膜剥がれの遠因となる場合がある。したがって、第1加熱工程において、量子ドット20を含む、安定した膜を形成する観点から、リガンド18の溶融の後に、第1溶媒32が気化することが好ましい。
 第1加熱工程の完了後、図6の(a)に示すように、アレイ基板3上から第1溶媒32が気化し、溶融したリガンド18中においては、量子ドット20が分散している。
 次いで、雰囲気温度を第1温度T1よりも低下させる冷却工程を実施する(ステップS12)。本実施形態においては、冷却工程により、雰囲気温度が温度TAよりも低い温度TBとなるまで冷却を実施する。温度TBは、温度T0よりも高くてもよく、あるいは、温度T0と同一であってもよい。量子ドット20の周囲の温度は、雰囲気温度の低下開始直後は上昇を継続するものの、量子ドット20の周囲の温度が雰囲気温度に到達すると、そのまま雰囲気温度の低下に追従する。冷却工程の完了時点において、リガンド18が凝固しているため、図6の(a)に示すように、量子ドット20は、固体のリガンド18中に分散している。
 冷却工程により、雰囲気温度が温度TBに到達した後、図6の(b)に示すように、第2溶液40をアレイ基板3と重畳する位置に塗布する、第2塗布工程を実施する(ステップS13)。
 第2溶液40は、第2溶媒42と、有機材料44と、第1無機物前駆体30とを含む。第2溶媒42は、第1溶媒32と同一であってもよく、ヘキサンであってもよい。有機材料44は、従来公知の量子ドットのリガンドに使用される有機材料であってもよい。本実施形態においては、有機材料44として、リガンド18の材料と同一の材料を採用した場合を説明する。第1無機物前駆体30は、前述した第2シェル26と同じ材料を含む。第1無機物前駆体30は、例えば、塩化亜鉛および1-ドデカンチオールを含んでいてもよい。
 次いで、第2溶液40が塗布されたアレイ基板3の加熱を再開する。雰囲気の再加熱により、雰囲気温度は、第4温度T4以上に上昇する。第4温度T4は、有機材料44の融点と、第2溶媒42の沸点とのうちの、高い温度である。なお、図4に示す温度TCは、有機材料44の融点と、第2溶媒42の沸点とのうちの、低い温度である。また、第4温度T4および温度TCは、温度T0より高い。なお、第4温度T4は第1温度T1と同一であってもよく、温度TCは温度TAと同一であってもよい。
 雰囲気温度が、温度TBから温度TCになるまでは、図4に示すように、量子ドット20の周囲温度は、雰囲気温度の上昇に追従する。しかしながら、量子ドット20の周囲温度が温度TCまで上昇し、有機材料44の溶融または第2溶媒42の蒸発のうちの一方が開始すると、量子ドット20の周囲温度は、しばらく温度TCを維持する。
 さらに雰囲気の加熱を進めることにより、有機材料44の溶融または第2溶媒42の蒸発のうちの一方が終了し、再び量子ドット20の周囲温度が上昇し始める。次いで、量子ドット20の周囲温度が第4温度T4まで上昇し、有機材料44の溶融または第2溶媒42の蒸発のうちの他方が開始すると、量子ドット20の周囲温度は、しばらく第4温度T4を維持する。
 これにより、有機材料44の溶融および第2溶媒42の蒸発が完了する。有機材料44の溶融および第2溶媒42の蒸発の完了後、図7の(a)に示すように、リガンド18中には、量子ドット20と第1無機物前駆体30とが分散している。
 上述した雰囲気の再加熱は、雰囲気温度が、図4に示す、第2温度T2になるまで継続する。ここで、雰囲気温度が第2温度T2に到達した時点から、加熱条件を調節し、雰囲気温度を第2温度T2付近に維持する、第2加熱工程を実施する(ステップS14)。
 有機材料44の溶融および第2溶媒42の蒸発が完了した後、量子ドット20の周囲温度は、第4温度T4から上昇し、第2温度T2に到達する。ここで、雰囲気温度が第2温度T2に維持されているために、第2温度T2に到達後の量子ドット20の周囲温度についても、第2温度T2に維持される。
 第2温度T2は、第1温度T1および第4温度T4より高く、第1無機物前駆体30が、熱化学反応により、第1シェル24の周囲にエピタキシャル成長するための温度である。このため、量子ドット20の周囲温度が第2温度T2に維持されている間、第1シェル24の周囲に、第1無機物前駆体30が、次第にエピタキシャル成長する。これにより、図7の(b)に示すように、それぞれの量子ドット20の第1シェル24の周囲に、第2シェル26が形成される。第1無機物前駆体30が、前述した、塩化亜鉛および1-ドデカンチオールを含む場合、第2温度T2は約摂氏200度である。
 第2シェル26は、それぞれの量子ドット20の周囲において、第1シェル24の外表面から、次第に膜厚が大きくなるように形成される。ここで、互いに隣接する2つの量子ドット20において形成される第2シェル26の膜厚の合計が、当該量子ドット20の第1シェル24間の距離よりも大きくなった位置において、当該2つの量子ドット20が、第2シェル26を介して接続する。本実施形態においては、少なくとも一組の互いに隣接する量子ドット20同士が、第2シェル26を介して接続するまで、第2加熱工程が実施される。
 以上により、図7の(b)に示すように、量子ドット20と第2シェル26とを備えた量子ドット構造体16が形成される。この後、加熱炉からアレイ基板3を取り出し、冷却させることにより、溶融したリガンド18が再び固化する。これにより、図7の(b)に示す、量子ドット構造体16とリガンド18とを備えた発光層8が得られる。
 なお、本実施形態においては、第2発光層8Gの周囲における拡大断面図を参照して、発光層8の形成工程を説明した。しかしながら、第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bのそれぞれの形成方法における差異は、第1溶液28に含まれる材料の差異のみである。すなわち、形成される発光層8の発光色に関わらず、第1塗布工程、第1加熱工程、冷却工程、第2塗布工程、および第2加熱工程は、同一の手法によって実現してもよい。
 ここで、第1塗布工程において、対応する発光素子の発光色ごとに、第1溶液28中の材料を変更し、インクジェット法によって第1溶液28を塗り分け、次いで、上述した第1加熱工程を実施してもよい。同様に、第2塗布工程において、対応する発光素子の発光色ごとに、第2溶液40中の材料を変更し、インクジェット法によって第2溶液40を塗り分け、次いで、上述した第2加熱工程を実施してもよい。これにより、互いに異なる発光色の発光素子を、連続した一度の加熱によって形成することができる。
 次いで、第2電荷輸送層10を形成する(ステップS6)。第2電荷輸送層10は、全てのサブ画素に共通して、スピンコート等により塗布形成されてもよい。
 最後に第2電極12を形成する(ステップS7)。第2電極12は、全てのサブ画素に共通して、蒸着等により成膜されてもよい。以上により、発光素子層2がアレイ基板3上に形成され、図1に示す発光デバイス1が得られる。
 本実施形態における発光デバイス1の製造方法においては、コア/シェル構造を有する量子ドット20を塗布し、リガンド18中に分散させた後に、それぞれの量子ドット20の第1シェル24の周囲に、第2シェル26をエピタキシャル成長させている。このため、単にコア/シェル構造を有する量子ドット20を積層させた場合と比較して、それぞれの量子ドット20におけるシェルの膜厚を厚くすることができる。
 例えば、コア/シェル構造を備えた量子ドットにおいて、当該量子ドットのコアに注入された電子の染み出しを低減するためには、シェルの膜厚を厚くすることが考えられる。しかしながら、シェルの膜厚が厚い量子ドットを積層して量子ドットを形成した場合、発光層の体積に対する、量子ドットの充填率が低くなる。このため、発光層において十分な量子ドットの密度を実現することが困難となり、発光素子の発光効率の低減につながる。
 本実施形態における発光デバイス1の製造方法においては、薄い第1シェル24を備えた量子ドット20を塗布し、リガンド18中に分散させた後に、第2シェル26をそれぞれの量子ドット20に形成する。本実施形態における発光層8において、コア22の周囲に形成されるシェルの膜厚は、第1シェル24および第2シェル26の合計膜厚とみなすことができる。
 これにより、同じ膜厚のシェルを備えた量子ドットを単に積層する場合と比較して、発光層8における量子ドット20の密度を向上させることができる。このため、量子ドット20からの電子の染み出しを低減しつつ、発光層8における量子ドット20の密度を向上させるため、発光デバイス1の発光効率の改善につながる。
 また、本実施形態においては、少なくとも1組の量子ドット20が、第2シェル26を介して接続しているため、当該1組の量子ドット20においては、第2シェル26の外表面の面積が、接続していない場合と比較して小さくなる。すなわち、本実施形態においては、量子ドットを単に積層する場合と比較して、量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくできる。
 量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくすることにより、外部から水分が侵入し得る、第2シェル26の表面の面積を小さくできる。このため、当該構成により、水分侵入による第2シェル26へのダメージ、ひいては、当該ダメージによる第2シェル26の量子ドット20の表面保護機能の低下を低減できる。
 また、量子ドット構造体16の外表面にリガンド18が配位する場合、当該外表面の面積を小さくすることにより、水分侵入によりダメージを受け得るリガンド18を低減できる。したがって、当該ダメージにより、リガンド18による第2シェル26の保護機能が失われることによる、第2シェル26へのダメージを低減することができる。
 さらに、量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくすることにより、発光デバイス1の駆動時にダメージを受け得る第2シェル26の表面積を小さくできる。このため、当該構成により、発光デバイス1の駆動に伴う第2シェル26のダメージ、ひいては、当該ダメージによる、第2シェル26における欠陥の形成を低減できる。このため、量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくすることにより、当該欠陥において電子と正孔との再結合が発生することに起因する、非発光過程の発生、ひいては、発光デバイス1の発光効率の低下が低減される。
 以上のように、量子ドット構造体16の外表面の面積が小さいことにより、ダメージを受け得る量子ドット構造体16の外表面の面積を低減し、量子ドット構造体16のダメージによる量子ドット20の失活を低減できる。
 ここで、非特許文献1によれば、剛体の球の充填における、ランダム最密充填率の平均値は、おおよそ63.66パーセントである。したがって、本実施形態において、発光層8における量子ドット構造体16の体積の割合は、63.7パーセント以上であることが好ましい。上記構成であれば、第1シェル24と第2シェル26との合計膜厚と等しい膜厚のシェルを備えた量子ドットをランダムに積層した場合と比較して、発光層8における量子ドット20の密度を向上させることができる。また、上記構成であれば、量子ドットをランダムに積層した場合と比較して、より効率よく、量子ドット構造体16の外表面の面積を低減できる。
 ここで、量子ドット構造体16における全ての量子ドット20が、第2シェル26を介して接続するために必要な条件について説明する。
 量子ドット20が、平面上に、m行n列に配列していると仮定する。ここで、互いに隣接する量子ドット20が接続しうる位置、すなわち、m行n列に配列した格子点同士の間の個数は、m×(n-1)+n×(m-1)=2mn-m-nとなる。
 また、同一平面上の全ての量子ドット20が、第2シェル26を介して接続している場合に、互いに接続している量子ドット20の組数が最小であるとする。このような場合の1例として、全ての行間において、全ての互いに隣接する量子ドットの組が接続し、全ての列間のそれぞれにおいて、何れか1組の互いに隣接する量子ドット同士が接続している例が挙げられる。このような場合、互いに隣接する量子ドット20が接続している位置の個数は、m×(n-1)+1×(m-1)=mn-1となる。
 したがって、上述した条件の場合、全て量子ドット20が第2シェル26を介して接続しうる位置に対する、実際に量子ドット20同士が第2シェル26を介して接続している位置の割合は、(mn-1)/(2mn-m-n)となる。
 ここで、実際の発光デバイス1の発光層8に含まれる量子ドット20の個数は非常に膨大であるため、mおよびnは何れも十分に大きいとみなすことができる。このため、mおよびnを正に発散させると、上述した割合は、おおよそ0.5と導出できる。
 ゆえに、同一平面上の全ての量子ドット20が、第2シェル26を介して接続し、かつ、全ての互いに隣接する量子ドット20の組のうち、第2シェル26を介して接続する組が最小である場合、当該組は全ての組のうちの50パーセント程度であるとみなせる。したがって、全ての互いに隣接する量子ドット20の組のうち、第2シェル26を介して接続している組が50パーセントを超えた場合には、積層された各層における全ての量子ドット20が、第2シェル26を介して接続している蓋然性が高いといえる。
 全ての量子ドット20が、第2シェル26を介して接続している場合には、量子ドット20を1つの原子とみなした場合、量子ドット構造体16は、量子ドット20同士が第2シェル26によって接続された結晶構造を形成しているとみなせる。当該構成により、より効率よく、量子ドット構造体16の外表面の面積を低減できる。ゆえに、量子ドット構造体16において、互いに隣接する量子ドット20同士が、第2シェル26の結晶構造により接続している比率が、50パーセントよりも高く、100パーセント以下であることが好ましい。
 本実施形態において、第1シェル24の、コア22の外表面からの平均膜厚は、第2シェル26の最小膜厚よりも小さい。このため、第1加熱工程と第2加熱工程との間において、量子ドット20をより密に積層し、その後の第2加熱工程において、膜厚が比較的厚い第2シェル26を形成することができる。
 したがって、当該加熱工程においては、量子ドット20を密に積層した状態において、電子波動関数から導き出される、コア22からの電子の染み出しを十分に低減できる膜厚を有する、第1シェル24および第2シェル26を形成することができる。ゆえに、当該構成により、第1シェル24および第2シェル26の膜厚を十分に確保しつつ、量子ドット構造体16における量子ドット20の密度を高めることができる。
 本実施形態においては、アレイ基板3、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6の形成後に、発光層8の形成を行う。このため、アレイ基板3、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6は、上述した加熱工程における加熱に対する耐熱性を有した材料を含むことが好ましい。
 アレイ基板3は、例えば、十分に高い歪点を有する、アルカリガラス等を含むガラス基板であってもよい。また、アレイ基板3は、ポリイミド等、ガラス転移温度の高い有機材料を含む有機基板であってもよい。
 また、例えば、発光素子層2がボトムエミッション型の発光素子を形成し、第1電極4が陽極である場合、第1電極4にはITOが一般的に使用される。しかしながら、上述した加熱工程における加熱による比抵抗の上昇を低減するために、第1電極4は、FTOとITOとの複合材料等、耐熱性の高い材料を含むことが好ましい。また、第1電荷輸送層6が正孔輸送層である場合には、NiO、MgNiO、Cr、CuO、またはLiNbO等、有機材料よりも耐熱性の高い無機材料を含むことが好ましい。
 なお、ある程度の高さおよび傾斜を有する形状を実現するために、エッジカバー14には、一般的に、有機材料が用いられる。本実施形態においては、上述した加熱工程の加熱によるダメージを低減する観点から、エッジカバー14は、ポリイミド等、ガラス転移温度の高い有機材料を含むことが好ましい。
 また、第2電荷輸送層10および第2電極12は、発光層8の形成後に形成される。このため、第2電荷輸送層10および第2電極12の材料には、上述した加熱工程における加熱に対する耐熱性を有していない材料を採用することが可能である。例えば、第2電荷輸送層10は、従来公知の電子輸送層に使用される材料を含んでいてもよく、第2電極12は、従来公知の陰極に使用される材料を含んでいてもよい。
 〔実施形態2〕
 図8の(a)は、本実施形態に係る発光デバイス1の概略上面図である。図8の(b)は、図8の(a)における、A-A線矢視断面図である。図8の(c)は、図8の(b)における、領域Bにおける拡大断面図である。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、前実施形態に係る発光デバイス1と比較して、発光素子層2の各層の積層順が逆転している点を除いて、同一の構成を備えていてもよい。すなわち、本実施形態に係る発光素子層2は、第2電極12上に、第2電荷輸送層10と、発光層8と、第1電荷輸送層6と、第1電極4とを、下層から順次積層して備える。
 ここで、前実施形態に係る発光素子1と比較して、第2電極12および第2電荷輸送層10のそれぞれは、エッジカバー14によって分離されている。特に、本実施形態においては、第2電極12は、エッジカバー14によって、第1発光素子2R用の第2電極12R、第2発光素子2G用の第2電極12G、および第3発光素子2B用の第2電極12Bに分離されている。また、第2電荷輸送層10は、エッジカバー14によって、第1発光素子2R用の第2電荷輸送層10R、第2発光素子2G用の第2電荷輸送層10G、および第3発光素子2B用の第2電荷輸送層10Bに分離されている。
 なお、前実施形態に係る発光素子1と比較して、第1電荷輸送層6と、第1電極4とは、エッジカバー14によって分離されず、共通して形成されている。
 本実施形態においては、第1電極4は透明電極であり、第2電極12は反射電極であってもよい。このため、発光層8からの光は、第1電荷輸送層6および第1電極4を透過して、発光面DSから発光デバイス1の外部に出射される。このため、発光デバイス1は、トップエミッション型の発光デバイスとして構成されている。このため、本実施形態において、アレイ基板3は、必ずしも透明基板である必要はない。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、図2に示す各工程を、ステップS1、ステップS7、ステップS3、ステップS6、ステップS5、ステップS4、ステップS2の順に、前実施形態と同様に実施することにより製造できる。このため、本実施形態においては、アレイ基板3、第2電極12、エッジカバー14、および第2電荷輸送層10の形成後に、発光層8の形成を行う。このため、アレイ基板3、第2電極12、エッジカバー14、および第2電荷輸送層10は、上述した加熱工程における加熱に対する耐熱性を有した材料を含むことが好ましい。
 例えば、発光素子層2がトップエミッション型の発光素子を形成し、第2電極12が陰極である場合、第2電極12は、上述した加熱工程における加熱に対する耐熱性を高める観点から、融点の高い金属材料を含むことが好ましい。例えば、第2電極12は、Al、またはAg等の金属、あるいは、AgMg等の金属間化合物を含むことが好ましい。また、第2電荷輸送層10が電子輸送層である場合には、MgO等、有機材料よりも耐熱性の高い無機材料を含むことが好ましい。なお、上述した材料は、一般に、陰極材料および電子輸送層材料として使用される材料でもある。
 また、第1電荷輸送層6および第1電極4は、発光層8の形成後に形成される。このため、第1電荷輸送層6および第1電極4の材料には、上述した加熱工程における加熱に対する耐熱性を有していない材料を採用することが可能である。例えば、第1電荷輸送層6は、従来公知の正孔輸送層に使用される材料を含んでいてもよく、第1電極4は、ITO等、従来公知の陽極に使用される、透明の導電性材料を含んでいてもよい。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、前実施形態に係る発光デバイス1と比較して、発光素子層2の各層の材料を、従来使用される材料から変更する必要性が低い。このため、本実施形態に係る発光デバイス1は、前実施形態に係る発光デバイス1と比較して、材料選択の自由度を改善することができる。
 〔実施形態3〕
 図9の(a)は、本実施形態に係る発光デバイス1の概略上面図である。図9の(b)は、図9の(a)における、A-A線矢視断面図である。図9の(c)は、図9の(b)における、領域Bにおける拡大断面図である。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、実施形態1に係る発光デバイス1と比較して、発光層8がリガンド18を含まない点を除いて、同一の構成を備えていてもよい。発光層8は、図9の(c)に示すように、量子ドット構造体16によって充填されない空間に、空隙34を備えていてもよい。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、図2に示す各工程のうち、ステップS5、すなわち、発光層形成工程を除いて、同一の方法によって製造される。ここで、本実施形態に係る発光デバイス1の発光層形成工程について、図10から図12を参照して、より詳細に説明する。
 図10は、本実施形態における量子ドット層形成工程にあたる、発光層形成工程について説明するためのフローチャートである。図11は、当該発光層形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。図4と同様に、図11における実線は、アレイ基板3の周囲の雰囲気温度を示し、破線は、アレイ基板3上の量子ドット20の周囲の温度を示している。図12は、当該発光層形成工程を説明するための工程断面図である。
 本実施形態に係る発光層形成工程において、ステップS10からステップS14までは、実施形態1において説明した方法と同一の方法を実行する。ステップS14の完了時点において、図12の(a)に示すように、第1電荷輸送層6の上層には、量子ドット構造体16とリガンド18とが形成されている。
 本実施形態においては、ステップS14に次いで、さらに雰囲気温度を上昇させて、雰囲気温度が第3温度T3以上となるように、雰囲気を加熱する、第3加熱工程を実施する(ステップS15)。第3温度T3は、第2温度T2よりも高く、かつ、リガンド18の沸点に相当する。例えば、リガンド18が前述のTOPOである場合、第3温度T3は、摂氏411.2度である。
 第3加熱工程における雰囲気の加熱により、量子ドット20の周囲温度が第3温度T3に到達すると、リガンド18の蒸発が開始し、量子ドット20の周囲温度がしばらく第3温度T3を維持する。これにより、第3加熱工程において、リガンド18が気化し、図12の(b)に示すように、リガンド18を備えていない発光層8が得られる。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、発光層8にリガンド18を備えていない。一般に、量子ドットに配位するリガンドは有機材料を含むことが多い。このため、リガンド18を備えていない本実施形態における発光層8は、無機材料に対する有機材料の含有率が低く、水分浸透等による劣化に強くなる。したがって、本実施形態に係る発光デバイス1は、より信頼性を改善することが可能である。
 ここで、上述した非特許文献1の記載から、剛体球がランダム最密充填した空間における、当該剛体球が占めない空隙の割合の平均値は、約36.34体積パーセントとなる。したがって、例えば、発光層8において、無機物に対する有機物の体積比率が、36.3体積パーセント以下であることが好ましい。この場合には、従来の量子ドットをランダム最密充填し、当該量子ドット間の空隙を有機リガンドによって充填した発光層と比較して、発光層8中の有機物の割合を低減できる。したがって、上記構成により、より効率的に発光層8の信頼性を向上させることが可能である。
 なお、本明細書において、「リガンドを備えていない」との表現は、実質的にリガンドを備えていないことを指す。例えば、本実施形態における発光層8は、不純物またはリガンドの残渣が、発光層8の信頼性を著しく低下させない程度に残留していてもよい。具体的には、本実施形態における発光層8は、上述した不純物またはリガンドの残渣を、発光層8の全体の体積に対し、3体積パーセント程度含んでいてもよい。
 また、本実施形態においても、前述までの実施形態と同様に、量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくすることができる。これにより、本実施形態における第3加熱工程において、加熱によるダメージを受け得る第2シェル26の表面積を小さくできる。このため、当該構成により、上述のように、第2シェル26のダメージに伴う第2シェル26の欠陥の形成、ひいては、当該欠陥による発光デバイス1の発光効率の低下を低減できる。
 〔変形例〕
 図13の(a)は、本実施形態の変形例に係る発光デバイス1の概略上面図である。図13の(b)は、図13の(a)における、A-A線矢視断面図である。図13の(c)は、図13の(b)における、領域Bにおける拡大断面図である。
 本変形例に係る発光デバイス1は、本実施形態に係る発光デバイス1と比較して、発光層8の空隙34が、第2シェル26によって充填されている点を除いて、同一の構成を備えていてもよい。
 図14は、本変形例における発光層形成工程を説明するための工程断面図である。本変形例に係る発光デバイス1は、本実施形態における発光層形成工程と同一の方法によって製造される。ただし、本変形例においては、第2溶液40に含まれる第1無機物前駆体30の濃度がより高くなっている。このため、第2加熱工程において、第2シェル26がより厚く形成される。
 したがって、第2加熱工程が完了した時点においては、図14の(a)に示すように、空隙34が第2シェル26によって充填されることにより、溶融したリガンド18が上層へ押し出されるため、量子ドット構造体16の上層にリガンド18が残留する。この後、第3加熱工程を実施することにより、リガンド18の層が除去され、図13の(b)に示す、空隙34が第2シェル26によって充填された発光層8が得られる。
 本変形例に係る発光デバイス1においては、空隙34が第2シェル26によって充填されている。このため、本変形例に係る量子ドット構造体16は、本実施形態における量子ドット構造体16と比較して、発光層8の全体の体積に対する、体積の割合が高い。すなわち、本変形例における発光層8は、量子ドット20のコア22の周囲に形成されるシェルの、発光層8における充填率が、より向上している。したがって、上記構成により、本変形例に係る発光デバイス1は、発光層8の信頼性をより向上させることができる。
 なお、本変形例においては、リガンド18の層を、第3加熱工程によって除去する方法を挙げたが、これに限られない。例えば、第2加熱工程の実施後、アレイ基板3の冷却を行い、リガンド18の層を、加熱を行わない従来の有機物層の除去方法を用いて除去してもよい。この場合、量子ドット構造体16に対し、第3加熱工程のような高温プロセスを省略して、リガンド18を除去できるため、量子ドット構造体16に対するダメージをより低減することができる。
 〔実施形態4〕
 本実施形態に係る発光デバイス1は、前実施形態に係る発光デバイス1と比較して、同一の構成を備えていてもよい。すなわち、本実施形態に係る発光デバイス1は、図9に示す構成を備えていてもよい。ただし、本実施形態において、量子ドット20は、自身が発する光の波長よりも短波長の光を吸収する。特に、量子ドット20は、紫外光を吸収する。さらに、量子ドット20は、光を吸収する際に発熱する。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、図2に示す各工程のうち、ステップS5、すなわち、発光層形成工程を除いて、同一の方法によって製造される。ここで、本実施形態に係る発光デバイス1の発光層形成工程について、図15から図20を参照して、より詳細に説明する。
 図15は、本実施形態における量子ドット層形成工程にあたる、発光層形成工程について説明するためのフローチャートである。図16は、図4と同様に、当該発光層形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。図16に示す各温度は、図4に示す各温度と対応している。ただし、図4と比較して、図16における実線は、アレイ基板3上の量子ドット20の温度を示し、破線は、当該量子ドット20の周囲の温度を示している。図17、図18、図19、および図20は、当該発光層形成工程を説明するための工程断面図である。
 発光層形成工程までにおいて、図17の(a)に示すように、第1電荷輸送層6までが、アレイ基板3上に形成されている。発光層形成工程において、前実施形態と同様に、第1塗布工程を実施する(ステップS10)。第1塗布工程において塗布される第1溶液28は、前実施形態における第1溶液28と同一の構成を備えていてもよい。
 次いで、アレイ基板3上の第1溶液28に対し、紫外線等の光を照射する、第1光照射を行い、量子ドット20を加熱する、第1光照射工程を実施する(ステップS21)。第1光照射工程においては、量子ドット20を、量子ドット20が図16に示す第1温度T1以上となるまで加熱する。
 本実施形態においては、量子ドット20の周囲温度は、図16に示すように、量子ドット20の温度の上昇にわずかに遅れて追従する点を除いて、前実施形態における量子ドット20の温度と同様に推移する。これにより、第1光照射工程によって、リガンド18の溶融および第1溶媒32の蒸発が完了し、図18の(a)に示すように、量子ドット20が、リガンド18中に分散する。
 次いで、第1光照射を停止することにより、量子ドット20の温度を第1温度T1よりも低下させる冷却工程を実施する(ステップS12)。本実施形態においても、前実施形態と同様に、冷却工程により、量子ドット20の温度が温度TBとなるまで冷却を実施する。量子ドット20の周囲の温度は、量子ドット20の温度の低下開始直後は上昇を継続するものの、量子ドット20の周囲の温度が量子ドット20の温度に到達すると、そのまま量子ドット20の温度の低下に追従する。
 冷却工程により、量子ドット20の温度が温度TBに到達した後、図18の(b)に示すように、第2溶液40をアレイ基板3と重畳する位置に塗布する、第2塗布工程を実施する(ステップS13)。第2塗布工程において塗布される第2溶液40は、前実施形態における第2溶液40と同一の構成を備えていてもよい。
 次いで、図19の(a)に示すように、アレイ基板3上の量子ドット20に対し、紫外線等の光を照射する、第2光照射を行い、量子ドット20を再度加熱する、第2光照射工程を実施する(ステップS24)。第2光照射工程により、量子ドット20の温度は、第4温度T4以上に上昇する。
 図16に示すように、量子ドット20の周囲温度は、量子ドット20の温度の上昇にわずかに遅れて追従する点を除いて、前実施形態における量子ドット20の温度と同様に推移する。これにより、第2光照射工程によって、有機材料44の溶融および第2溶媒42の蒸発が完了し、図19の(b)に示すように、リガンド18中には、量子ドット20と第1無機物前駆体30とが分散する。
 第2光照射工程における量子ドット20の加熱は、量子ドット20の温度が、図16に示す、第2温度T2になるまで継続する。ここで、量子ドット20の温度が第2温度T2に到達した時点から、図19の(b)に示すように、第3光照射を行い、量子ドット20の温度を第2温度T2付近に維持する、第3光照射工程を実施する(ステップS25)。
 第3光照射においては、第1光照射および第2光照射と同様に、紫外光を照射してもよく、また、第2光照射において照射される紫外光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が小さい紫外光を照射してもよい。第3光照射工程においては、量子ドット20の温度が第2温度T2に維持されているために、第2温度T2に到達後の量子ドット20の周囲温度についても、第2温度T2に維持される。このため、第3光照射工程において、前実施形態における第2加熱工程と同様に、図20の(a)に示す、量子ドット20と第2シェル26とを備えた量子ドット構造体16が形成される。
 なお、本実施形態における各光照射工程において、量子ドット20の発熱とアレイ基板3の周囲環境への放熱との収支が釣り合う場合には、量子ドット20の周囲の温度が、ある温度において略一定となる。ここで、量子ドット20の発熱とアレイ基板3の周囲環境への放熱との収支が釣り合う温度が第2温度T2となるように、各光照射の照射エネルギーを調節してもよい。またこれにより、第1光照射、第2光照射、および第3光照射のそれぞれにおいて照射される光の強度の条件を同一としてもよい。
 次いで、図20の(a)に示すように、さらに第4光照射を行い、量子ドット20の温度が第3温度T3以上となるように、量子ドット20を加熱する、第4光照射工程を実施する(ステップS26)。第4光照射においては、第1光照射、第2光照射、および第3光照射と同様に、紫外光を照射してもよく、また、第3光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を照射してもよい。第4光照射工程により、前実施形態における第3加熱工程と同様に、リガンド18が気化し、図20の(b)に示す、リガンド18を備えていない発光層8が得られる。
 ここで、本実施形態においても、第1塗布工程および第2塗布工程のそれぞれにおいて、対応する発光素子の発光色ごとに、各溶液中の材料を変更し、インクジェット法によって各溶液を塗り分けてもよい。これにより、互いに異なる発光色の発光素子を、連続した一度の光照射によって形成することができる。
 なお、第2塗布工程において塗布される第2溶液40における、第1無機物前駆体30の濃度は、対応する発光素子の発光色に応じて異なっていてもよい。特に、第2発光素子2Gに対応する位置に塗布された第2溶液40における、第1無機物前駆体30の濃度は、第1発光素子2Rに対応する位置に塗布された第2溶液40における、第1無機物前駆体30の濃度よりも低いことが好ましい。さらに、第2発光素子2Gに対応する位置に塗布された第2溶液40における、第1無機物前駆体30の濃度は、第3発光素子2Bに対応する位置に塗布された第2溶液40における、第1無機物前駆体30の濃度よりも高いことが好ましい。
 量子ドット20の周囲に第2シェル26をエピタキシャル成長させる工程において、光照射量が同一である場合、量子ドット20の粒径が大きいほど、同じ膜厚の第2シェル26を形成するために必要な第1無機物前駆体30の量が多くなる。また、一般に、量子ドット20の発する光の波長が長いほど、コア22の粒径、ひいては量子ドット20の粒径は大きくなる。
 したがって、上記構成のように、対応する発光素子の発する光の波長が長いほど、第1溶液28における第1無機物前駆体30の濃度を高めることにより、各発光層の形成条件を近づけることができる。このため、互いに粒径が異なる量子ドット20間において、第2シェル26の膜厚のばらつきを抑制できる。
 また、発光層形成工程においては、第1塗布工程において、第1電極4と重畳する位置に第1溶液28を塗布した後、第1光照射において、レーザー照射による部分露光を行ってもよい。この後、部分露光を行った位置と異なる位置と重畳する位置から、第1溶液28を除去する第1除去工程を行ってもよい。同様に、第2塗布工程において、第1電極4と重畳する位置に第2溶液40を塗布した後、第2光照射と、第3光照射とのそれぞれにおいて、レーザー照射による部分露光を行ってもよい。この後、部分露光を行った位置と異なる位置と重畳する位置から、第2溶液40を除去する第2除去工程を行ってもよい。これにより、レーザー照射により部分露光された位置のみに、発光層8を形成することができる。
 さらに、上述した部分露光は、フォトマスクを使用して実施してもよい。フォトマスクを使用した部分露光により、発光層8を形成する方法について、図21、図22、および図23を参照して、より詳細に説明する。
 図21、図22、および図23は、発光層形成工程において、フォトマスクを使用した部分露光により、発光層8を形成する手法を説明するための工程断面図である。なお、図7および図8は、第2発光層8Gが形成される位置のみならず、第1発光層8Rおよび第3発光層8Bが形成される位置においても図示している。
 図21の(a)に示すように、発光層形成工程の実施直前においては、アレイ基板3上に、エッジカバー14によって分断された、第1電極4および第1電荷輸送層6が形成されている。ここでは、第1塗布工程と第1光照射工程との間において、図21の(b)に示すフォトマスクMの設置を行う。
 フォトマスクMは、各光照射工程において照射される光を遮蔽する機能を備える。フォトマスクMは、アレイ基板3の上方に設置された際に、第1電極4Gと重畳する位置においてのみ、開口が形成されるように、当該開口が形成されている。すなわち、図21の(b)に示すように、アレイ基板3の上方にフォトマスクMを設置した場合、第1電極4Gと重畳しない位置における第1溶液28の上方が、フォトマスクMによって遮蔽される。
 フォトマスクMを設置した後に、第1光照射工程を実施することにより、図21の(c)に示すように、第1電極4Gと重畳する位置における第1溶液28にのみ、光照射が実施される。このため、第1光照射工程においては、第1電極4Gと重畳する位置においてのみ、量子ドット20の加熱が実施される。したがって、図21の(d)に示すように、第1電極4Gと重畳する位置のみにおいて、リガンド18の溶融および第1溶媒32の気化が生じる。
 次いで、フォトマスクMをアレイ基板3の上方から除去した後、図22の(a)に示すように、光照射を行った位置とは異なる位置と重畳する位置における第1溶液28を除去する第1除去工程を実施する。次いで、冷却工程と第2塗布工程とを順に実施することにより、図22の(b)に示すように、アレイ基板3と重畳する位置に第2溶液40が塗布される。
 第2塗布工程に次いで、フォトマスクMを再度設置し、第2光照射工程、第3光照射工程、および第4光照射工程を順に実施する。これにより、図22の(c)に示すように、第1電極4Gと重畳する位置における第2溶液40にのみ、光照射が実施される。このため、第1光照射工程においては、第1電極4Gと重畳する位置においてのみ、量子ドット20の加熱が実施される。したがって、図23の(a)に示すように、第1電極4Gと重畳する位置のみにおいて、第2発光層8Gが形成される。
 次いで、フォトマスクMをアレイ基板3の上方から再度除去した後、図23の(b)に示すように、光照射を行った位置とは異なる位置と重畳する位置における第2溶液40を除去する第2除去工程を実施する。これにより、第2発光層8Gの形成工程が完了する。
 なお、発光層形成工程において、上述したレーザー照射またはフォトマスクを使用した部分露光を、各光照射の手法として採用した場合、上述した第1塗布工程から第2除去工程までを、対応する発光素子の発光色に応じて繰り返し実施してもよい。例えば、図23の(b)に示す第2発光層8Gの形成後、第1発光層8Rおよび第3発光層8Bの形成のために、第1塗布工程から第2除去工程までを、残り2回ずつ、計3回実施してもよい。
 ここで、形成する発光層8の種類に応じて、第1塗布工程および第2塗布工程において塗布する各溶液の種類を変更し、かつ、アレイ基板3の上方に設置するフォトマスクMについても変更を行う。具体的には、各光照射工程において、形成する発光層8の位置と重畳する位置においてのみ、光照射が実施されるように、発光層8の種類に応じて、フォトマスクMの開口の位置を変更する。
 以上により、図23の(c)に示す、第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bを備えた発光層8が形成される。
 なお、本実施形態においては、エッジカバー14によって発光素子ごとに分断された発光層8の形成を行う手法について説明した。しかしながら、レーザー照射またはフォトマスクを使用した部分露光を、各光照射に採用した場合、第1電極4のそれぞれに重畳する位置に対し、個別に光照射を実施することが可能である。このために、エッジカバー14によって発光層8を分断しない場合であっても、各発光素子に対応した発光層8を個別に形成することができる。したがって、各光照射において部分露光を採用する場合、エッジカバー14の高さは第1電極4のエッジを覆う高さまであればよい。
 なお、本実施形態においては、上記発光層形成工程において、赤色光を発する第1発光素子と、緑色光を発する第2発光素子と、青色光を発する第3発光素子とのそれぞれにおける発光層8を形成する方法を説明した。しかしながら、上記発光層形成工程においては、発光素子の一部が、他の発光素子の一部と異なる種類の発光層8を備えた場合における発光層8の形成工程に適用できる。
 さらに、本実施形態においては、第1塗布工程から第2除去工程までを繰り返し実施する度に、第4光照射工程を実施する例を挙げたが、これに限られない。例えば、第1塗布工程から第2除去工程までの繰り返しにおいては、第4光照射工程を実施せず、発光素子に対応する位置における量子ドット構造体16が形成された後に、アレイ基板3と重畳する位置に対し、第4光照射を実施してもよい。これにより、発光素子に対応する位置におけるリガンド18の除去を、まとめて実施することが可能である。
 本実施形態において、第1発光素子2Rと、第2発光素子2Gと、第3発光素子2Bとのそれぞれに対応する位置に対する、第3光照射を実施する時間は、発光素子の発光色によって異なっていてもよい。特に、第2発光素子2Gに対応する位置に対する第3光照射の照射時間は、第1発光素子2Rに対応する位置に対する第3光照射の照射時間よりも短いことが好ましい。さらに、第2発光素子2Gに対応する位置に対する第3光照射の照射時間は、第3発光素子2Bに対応する位置に対する第3光照射の照射時間よりも長いことが好ましい。
 第1塗布工程において、インクジェット法により第1溶液28を塗り分け、全塗布領域に光照射を行う場合、第3光照射工程の途中において、フォトマスクをアレイ基板3の上方に設置し、光照射を再開してもよい。これにより、第3光照射の照射時間を、発光素子の発光色に応じて異ならせることが可能である。また、上述した部分露光を行う場合には、各部分露光において、第3光照射の照射時間を異ならせてもよい。
 量子ドット20の周囲に第2シェル26をエピタキシャル成長させる工程において、量子ドット20の粒径が大きいほど、第2シェル26の成長速度は遅くなる。すなわち、量子ドット20の周囲に、同じ膜厚の第2シェル26を形成する場合、量子ドット20の粒径が大きいほど、必要な第3光照射の時間が長くなる。
 したがって、上記構成のように、対応する発光素子の発光色に応じて、光照射の時間を異ならせることにより、複数の発光素子の間において、各発光層の形成条件を近づけることができる。このため、互いに粒径が異なる量子ドット20間において、第2シェル26の膜厚のばらつきを抑制できる。
 本実施形態においても、前述までの実施形態と同様に理由から、発光デバイス1の発光効率を改善し、量子ドット構造体16のダメージによる量子ドット20の失活を低減できる。
 本実施形態においても、アレイ基板3、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6の形成後に、発光層8の形成を行う。しかしながら、発光層8の形成のための加熱は、光照射による量子ドット20の発熱により実現する。このため、発光層8の局所的な加熱が実現する。ゆえに、アレイ基板3、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6は、上述した光照射工程における加熱に対し、高い耐熱性を有する必要は必ずしもない。したがって、アレイ基板3、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6は、従来公知の材料を含んでいてもよい。
 例えば、アレイ基板3は、上述した材料の他に、PET等の柔軟な材料を備えていてもよく、フレキシブルな発光デバイス1を実現してもよい。他にも、発光素子層2がボトムエミッション型の発光素子を形成し、第1電極4が陽極である場合、第1電極4にはITOを使用してもよい。また、第1電荷輸送層6が正孔輸送層である場合には、NiO、MgNiO、Cr2O3、Cu2O、またはLiNbO3等の無機材料を含んでいてもよい。
 また、本実施形態においても、発光素子層2の形成順が逆順となっていてもよい。すなわち、発光素子層2がトップエミッション型の発光素子を形成し、第2電極12が陰極であってもよい。この場合においては、アレイ基板3、第2電極12、エッジカバー14、および第2電荷輸送層10の形成後に、発光層8の形成を行う。
 発光素子層2がトップエミッション型の発光素子を形成し、第2電極12が陰極である場合、第2電極12は、上述した各光照射において照射される光についても反射する機能を有することが好ましい。当該構成により、上述した各光照射において、直接量子ドット20に照射された光のみならず、一度第2電極12まで到達し、第2電極12において反射された光についても、各光照射における光として有効に使用できる。このため、本実施形態における光照射工程は、前実施形態における光照射工程と比較して、量子ドット20に十分な光を照射するために必要な光照射の強度を低減することができる。
 上述した光照射において照射される光の反射性を高める観点から、金属材料を含むことが好ましい。第2電極12は、少なくとも、表面に反射性の金属薄膜を含んでいればよい。例えば、第2電極12は、Al、またはAg等の金属、あるいは、AgMg等の金属間化合物を含んでいてもよい。
 〔実施形態5〕
 図24の(a)は、本実施形態に係る発光デバイス1の概略上面図である。図24の(b)は、図24の(a)における、A-A線矢視断面図である。図24の(c)は、図24の(b)における、領域Bにおける拡大断面図である。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、実施形態1に係る発光デバイス1と比較して、第1電極4が発光層8側の表面に酸化物半導体膜4Aを備える点、および発光層8の第2シェル26がアレイ基板3側に偏在している点について異なっている。上記点を除いて、本実施形態に係る発光デバイス1は、実施形態1に係る発光デバイス1と、同一の構成を備えていてもよい。
 本実施形態においては、各第1電極4は、表面に酸化物半導体膜4Aを備えている。酸化物半導体膜4Aは、例えば、ITO等の透明酸化物半導体を含んでいてもよい。本実施形態においては、酸化物半導体膜4Aは、光を吸収し発熱する機能を有する。特に、酸化物半導体膜4Aに、例えば、紫外光を照射することにより、酸化物半導体膜4Aが発熱することが好ましい。
 なお、本実施形態においては、第1電極4が、表面に酸化物半導体膜4Aの薄膜を備える場合を図示しているが、これに限られない。例えば、第1電極4は、全体が酸化物半導体膜4Aと同一の材料からなっていてもよい。
 また、本実施形態において、発光層8における第2シェル26の密度は、アレイ基板3の反対側と比較して、アレイ基板3側において高い。このため、リガンド18は、アレイ基板3の反対側の第2シェル26の周囲に偏析する。したがって、発光層8において、アレイ基板3側における無機物の密度が、アレイ基板3と反対側における無機物の密度よりも高い。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、前実施形態に係る発光デバイス1の製造方法と、同一の方法によって製造される。本実施形態に係る発光デバイス1の製造方法においては、前実施形態に係る発光デバイス1の製造方法と比較して、発光層形成工程における、各部材の温度推移のみが異なる。
 図25は、図4と同様に、当該発光層形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。図25に示す各温度は、図4に示す各温度と対応している。ただし、図4と比較して、図25における実線は、発光層8の下層、特に、酸化物半導体膜4Aの温度を示し、点線は、アレイ基板3上の量子ドット20の温度を示す。また、図25において、当該量子ドット20の周囲の温度のうち、下層側、すなわち、酸化物半導体膜4A側の量子ドット20の周囲の温度を破線にて、上層側、すなわち、酸化物半導体膜4Aとは反対側の量子ドット20の周囲の温度を一点鎖線にて示している。
 各光照射工程においては、酸化物半導体膜4Aが照射された光を吸収することにより、酸化物半導体膜4Aが加熱される。各光照射工程において、量子ドット20の温度は、酸化物半導体膜4Aの温度上昇に遅れて上昇し始める。これは、量子ドット20が、照射された光を若干吸収し、発熱するためである。しかしながら、本実施形態においては、同強度の光照射を実施した場合、量子ドット20の光の吸収量は、酸化物半導体膜4Aの光の吸収量と比較して低い。さらに、量子ドット20は、吸収した光のエネルギーの一部を、熱に変換するほか、光にも変換する。一方、酸化物半導体膜4Aは、吸収した光のエネルギーのほとんどを熱に変換する。このため、量子ドット20の温度上昇は、酸化物半導体膜4Aの温度上昇よりも遅くなる。
 加熱された酸化物半導体膜4Aからの熱は、次第に第1電荷輸送層6の上層まで伝搬する。ここで、加熱された酸化物半導体膜4Aからの熱は、上層側、すなわち、酸化物半導体膜4Aとは反対側における量子ドット20の周囲よりも、下層側、すなわち、酸化物半導体膜4A側における量子ドット20の周囲に早く伝搬する。したがって、下層側の量子ドット20の周囲温度の上昇は、上層側の量子ドット20の周囲温度の上昇よりも早く発生する。
 したがって、特に、第3光照射工程においては、下層側の量子ドット20の周囲温度は、上層側の量子ドット20の周囲温度の上昇よりも早く第2温度T2に到達する。すなわち、第3光照射工程において、第1電荷輸送層6の上層は、酸化物半導体膜4A側における温度が、酸化物半導体膜4Aと反対側における温度よりも高くなる。当該温度条件において、第2シェル26が量子ドット20の周囲にエピタキシャル成長するために、上層側の量子ドット20の周囲と比較して、下層側の量子ドット20の周囲において、先に第2シェル26の形成が優先的に進行する。したがって、第1電荷輸送層6の上層において、第2シェル26の密度は、酸化物半導体膜4Aの反対側よりも、酸化物半導体膜4A側において高くなる。
 なお、本実施形態における各光照射工程においても、酸化物半導体膜4Aの発熱とアレイ基板3の周囲環境への放熱との収支が釣り合う場合には、量子ドット20の周囲の温度が、ある温度において略一定となる。ここで、酸化物半導体膜4Aの発熱とアレイ基板3の周囲環境への放熱との収支が釣り合う温度が第2温度T2となるように、各光照射の照射エネルギーを調節してもよい。またこれにより、第1光照射、第2光照射、および第3光照射のそれぞれにおいて照射される光の強度の条件を同一としてもよい。
 本実施形態においても、前述までの実施形態と同様に理由から、発光デバイス1の発光効率を改善し、量子ドット構造体16のダメージによる量子ドット20の失活を低減できる。また、本実施形態においても、上述した、レーザー照射またはフォトマスクを使用した部分露光によって、発光層8を発光素子ごとに形成することができる。
 本実施形態においても、酸化物半導体膜4Aを含む第1電極4の形成後、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6を形成し、次いで、発光層8の形成を行う。このため、発光層8の形成工程において、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6には、酸化物半導体膜4Aからの熱が伝搬する。ゆえに、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6は、上述した光照射工程における加熱に対する耐熱性を有した材料を含むことが好ましい。
 特に、発光素子層2がボトムエミッション型の発光素子を形成し、第1電極4が陽極である場合、第1電極4にはITOが一般的に使用される。ITOは、紫外光を吸収し、さらに可視光に対する透過率が高いために好ましい。さらに、上述した加熱工程における加熱による比抵抗の上昇を低減するために、第1電極4は、FTOとITOとの複合材料等、耐熱性の高い材料を含むことが好ましい。
 また、本実施形態においても、発光素子層2の形成順が逆順となっていてもよい。すなわち、発光素子層2がトップエミッション型の発光素子を形成し、第2電極12が陰極であってもよい。この場合においては、アレイ基板3、第2電極12、エッジカバー14、および第2電荷輸送層10の形成後に、発光層8の形成を行う。この場合、第2電極12、エッジカバー14、および第2電荷輸送層10は、上述した光照射工程における加熱に対する耐熱性を有した材料を含むことが好ましい。
 上述した各実施形態においては、量子ドット20を含む量子ドット層が、発光層8である場合について説明を行った。しかしながら、これに限られず、例えば、第1電荷輸送層6または第2電荷輸送層10が量子ドット20を含む量子ドット層であってもよい。このように、各電荷輸送層が量子ドット20を含む場合、当該量子ドット20は、キャリアを輸送する機能を付与されてもよい。この場合、従来の量子ドットを含む電荷輸送層と比較して、各電荷輸送層における量子ドット20の安定性が向上するため、当該各電荷輸送層のキャリア輸送の効率が改善し、ひいては、発光デバイス1の発光効率の改善につながる。上述した量子ドット20を含む各電荷輸送層についても、各実施形態における量子ドット層形成工程と同一の手法によって形成することができる。
 また、上述した各実施形態においては、複数の発光素子を備え、表示面DSを有する表示デバイスを例示して、発光デバイス1の構成を説明している。しかしながら、これに限られず、上述した各実施形態における発光デバイス1は、単一の発光素子を備えた発光デバイスであってもよい。
 本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。
1     発光デバイス
2     発光素子層
2R    第1発光素子
2G    第2発光素子
2B    第3発光素子
4     第1電極
6     第1電荷輸送層
8     発光層(量子ドット層)
10    第2電荷輸送層
12    第2電極
16    量子ドット構造体
18    リガンド
20    量子ドット
22    コア
24    第1シェル
26    第2シェル
28    第1溶液
30    第1無機物前駆体
32    第1溶媒
34    空隙
40    第2溶液
42    第2溶媒
44    有機材料
T1~T4 第1~第4温度

Claims (39)

  1.  第1電極と、第2電極と、前記第1電極および前記第2電極の間の量子ドット層とを含む発光素子を基板上に備えた発光デバイスの製造方法であって、
     前記量子ドット層を形成する量子ドット層形成工程を備え、
     前記量子ドット層形成工程は、
      第1溶媒と、複数の量子ドットと、該量子ドットのそれぞれと配位結合するリガンドとを含む第1溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第1塗布工程と、
      前記第1塗布工程に次いで、前記基板の周囲の雰囲気温度を第1温度以上に加熱する第1加熱工程と、
      前記第1加熱工程に次いで、前記雰囲気温度を前記リガンドの融点と前記第1溶媒の沸点のうちの低い温度以下に冷却する冷却工程と、
      前記冷却工程に次いで、第2溶媒と、第1無機物前駆体とを含む第2溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第2塗布工程と、
      前記第2塗布工程に次いで、前記雰囲気温度を第2温度まで加熱する第2加熱工程と、
     を備え、
     前記量子ドットは、コアと、該コアを被膜する第1シェルとを備え、
     前記第1温度は、前記リガンドの融点と前記第1溶媒の沸点とのうちの高い温度であり、
     前記第2温度は、前記第1温度より高く、かつ、前記第1無機物前駆体が、前記第1シェルの周囲にエピタキシャル成長し、前記第1シェルを被膜する第2シェルを形成する温度であり、
     前記第2加熱工程において、少なくとも一組の互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルを介して接続する発光デバイスの製造方法。
  2.  前記第1温度が前記第1溶媒の沸点であって、前記第1加熱工程において、前記リガンドが溶融した後に、前記第1溶媒が気化する請求項1に記載の発光デバイスの製造方法。
  3.  前記第1温度が前記リガンドの融点であって、前記第1加熱工程において、前記第1溶媒が気化した後に、前記リガンドが溶融する請求項1に記載の発光デバイスの製造方法。
  4.  前記量子ドット層形成工程は、さらに、前記第2加熱工程に次いで、前記雰囲気温度を第3温度以上に加熱する第3加熱工程をさらに備え、
     前記第3温度は、前記第2温度より高く、かつ、前記リガンドの沸点であり、前記第3加熱工程において、前記リガンドが気化する請求項1から3の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  5.  前記第3加熱工程の実施後においては、前記第3加熱工程の実施前と比較して、前記量子ドット層の全体の体積に対する無機物の密度が高い請求項4に記載の発光デバイスの製造方法。
  6.  第1電極と、第2電極と、前記第1電極および前記第2電極の間の量子ドット層とを含む発光素子を基板上に備えた発光デバイスの製造方法であって、
     前記量子ドット層を形成する量子ドット層形成工程を備え、
     前記量子ドット層形成工程は、
      コアと、該コアを被膜する第1シェルとを備えた複数の量子ドットと、該量子ドットのそれぞれと配位結合するリガンドと、第1溶媒とを含む第1溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第1塗布工程と、
      前記第1塗布工程に次いで、前記第1溶液が塗布された前記位置に、前記基板の上方から第1光照射を行い、前記リガンドを溶融させ、かつ、前記第1溶媒を気化させる第1光照射工程と、
      前記第1光照射工程に次いで、前記量子ドットの温度を前記リガンドの融点と前記第1溶媒の沸点のうちの低い温度以下に冷却する冷却工程と、
      前記冷却工程に次いで、第2溶媒と、第1無機物前駆体とを含む第2溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第2塗布工程と、
      前記第2塗布工程に次いで、第2光照射を行い、前記量子ドットの温度を上昇させる第2光照射工程と、
      前記第2光照射工程に次いで、第3光照射を行い、前記第1無機物前駆体を、前記第1シェルの周囲にエピタキシャル成長させて、前記第1シェルを被膜する第2シェルを形成する第3光照射工程と、
     を備え、
     前記第3光照射工程において、少なくとも一組の互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルを介して接続する発光デバイスの製造方法。
  7.  前記第1光照射工程から前記第3光照射工程までのそれぞれの工程において、前記量子ドットが、照射された光を吸収し発熱する請求項6に記載の発光デバイスの製造方法。
  8.  前記量子ドット層形成工程に先立って、表面に反射性の金属薄膜を含む前記第1電極を形成する電極形成工程を備えた請求項7に記載の発光デバイスの製造方法。
  9.  前記量子ドット層形成工程に先立って、表面に酸化物半導体膜を含む前記第1電極を、前記基板上に形成する電極形成工程を備えた請求項6に記載の発光デバイスの製造方法。
  10.  前記第1光照射工程から前記第3光照射工程までのそれぞれの工程において、前記酸化物半導体膜が、照射された光を吸収し発熱する請求項9に記載の発光デバイスの製造方法。
  11.  前記第1光照射工程において、前記リガンドが溶融した後に、前記第1溶媒が気化する請求項6から10の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  12.  前記第1光照射工程において、前記第1溶媒が気化した後に、前記リガンドが溶融する請求項6から10の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  13.  前記第3光照射において、前記第2光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が小さい光を照射する請求項6から12の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  14.  前記第1光照射と前記第2光照射とを、連続して実施する請求項6から13の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  15.  前記発光素子は複数であり、前記量子ドット層形成工程において、前記発光素子ごとに前記量子ドット層を形成し、かつ、前記発光素子の一部に、前記発光素子の他の一部と異なる種類の量子ドット層を形成する請求項6から14の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  16.  前記発光素子は、赤色光を発する第1発光素子と、緑色光を発する第2発光素子と、青色光を発する第3発光素子とを備えた請求項15に記載の発光デバイスの製造方法。
  17.  前記第1発光素子と、前記第2発光素子と、前記第3発光素子とのそれぞれに対応する位置に塗布された前記第2溶液における、前記第1無機物前駆体の濃度が、対応する前記発光素子の発光色によって異なる請求項16に記載の発光デバイスの製造方法。
  18.  前記第2塗布工程において、前記第2発光素子に対応する位置に塗布された前記第2溶液における、前記第1無機物前駆体の濃度は、前記第1発光素子に対応する位置に塗布された前記第2溶液における、前記第1無機物前駆体の濃度よりも低く、前記第3発光素子に対応する位置に塗布された前記第2溶液における、前記第1無機物前駆体の濃度よりも高い請求項17に記載の発光デバイスの製造方法。
  19.  前記第1発光素子と、前記第2発光素子と、前記第3発光素子とのそれぞれに対応する位置に対する前記第3光照射の照射時間が、対応する前記発光素子の発光色によって異なる請求項16から18の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  20.  前記第2発光素子に対応する位置に対する第3光照射の照射時間は、前記第1発光素子に対応する位置に対する第3光照射の照射時間よりも短く、前記第3発光素子に対応する位置に対する第3光照射の照射時間よりも長い請求項19に記載の発光デバイスの製造方法。
  21.  前記発光素子のそれぞれが前記第1電極を個別に備え、前記第1塗布工程において、前記第1溶液を、前記第1電極のそれぞれと重畳する位置に、インクジェット法により塗布し、前記第2塗布工程において、前記第2溶液を、前記第1電極のそれぞれと重畳する位置に、インクジェット法により塗布する請求項15から20の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  22.  前記第1光照射と、前記第2光照射と、前記第3光照射とのそれぞれにおいて、レーザー照射による部分露光を行う請求項6から21の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  23.  前記第1光照射と、前記第2光照射と、前記第3光照射とのそれぞれにおいて、フォトマスクを使用した部分露光を行う請求項6から21の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  24.  前記部分露光において光照射が実施される位置は、前記第1電極と重畳する位置である請求項22または23に記載の発光デバイスの製造方法。
  25.  前記第1光照射工程と前記第2塗布工程の間に、前記第1光照射において光照射を行った位置とは異なる位置と重畳する位置における前記第1溶液を除去する第1除去工程と、前記第3光照射工程に次いで、前記第1光照射と、前記第2光照射と、前記第3光照射とのそれぞれにおいて光照射を行った位置とは異なる位置と重畳する位置における前記第2溶液を除去する第2除去工程とをさらに備えた請求項22から24の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  26.  前記第1塗布工程と、前記第1光照射工程と、前記第1除去工程と、前記第2光照射工程と、前記第3光照射工程と、前記第2除去工程とを、対応する前記発光素子の発光色に応じて、この順に繰り返し実施した後、第4光照射を行い、前記リガンドを気化させる第4光照射工程をさらに備えた請求項25に記載の発光デバイスの製造方法。
  27.  前記第4光照射において、前記第3光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を、前記第1塗布工程において、前記第1溶液を塗布した位置と重畳する位置に照射する請求項26に記載の発光デバイスの製造方法。
  28.  前記量子ドット層形成工程は、さらに、前記第3光照射工程に次いで、第4光照射を行い、前記リガンドを気化させる第4光照射工程をさらに備えた請求項6から21の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  29.  前記第4光照射において、前記第3光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を照射する請求項28に記載の発光デバイスの製造方法。
  30.  前記第2溶液が、さらに前記リガンドを含む請求項1から29の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  31.  前記量子ドット層形成工程の実施後においては、前記第1シェルの平均膜厚が、前記第2シェルの最小膜厚よりも小さい請求項1から30の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  32.  前記第1シェルと前記第2シェルとが、同一材料からなる請求項1から31の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  33.  前記量子ドット層形成工程において、前記第2シェルを、多結晶として形成する請求項1から32の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  34.  前記量子ドット層形成工程の実施後においては、前記量子ドットと前記第2シェルとを含む量子ドット構造体において、互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルの結晶構造により接続している比率が、50パーセントよりも高く、100パーセント未満である請求項1から33の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  35.  前記量子ドット層形成工程の実施後においては、前記量子ドット層全体の体積に対する、前記量子ドットと前記第2シェルとを含む量子ドット構造体の体積の割合が63.7パーセント以上である請求項1から34の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  36.  前記コアがInPであり、前記第1シェルおよび前記第2シェルがZnSである請求項1から35の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  37.  前記量子ドット層形成工程の実施後においては、ある前記量子ドットの前記コアから、隣接する他の前記量子ドットの前記コアまでの最短距離の平均値が、3nm以上である請求項36に記載の発光デバイスの製造方法。
  38.  前記コアがCdSeであり、前記第1シェルおよび前記第2シェルがZnSである請求項1から35の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  39.  前記量子ドット層形成工程の実施後においては、ある前記量子ドットの前記コアから、隣接する他の前記量子ドットの前記コアまでの最短距離の平均値が、1nm以上である請求項38に記載の発光デバイスの製造方法。
PCT/JP2019/006373 2019-02-20 2019-02-20 発光デバイスの製造方法 WO2020170371A1 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2019/006373 WO2020170371A1 (ja) 2019-02-20 2019-02-20 発光デバイスの製造方法
US17/430,481 US11996501B2 (en) 2019-02-20 2019-02-20 Method for manufacturing light-emitting device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2019/006373 WO2020170371A1 (ja) 2019-02-20 2019-02-20 発光デバイスの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020170371A1 true WO2020170371A1 (ja) 2020-08-27

Family

ID=72143630

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2019/006373 WO2020170371A1 (ja) 2019-02-20 2019-02-20 発光デバイスの製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11996501B2 (ja)
WO (1) WO2020170371A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022162841A1 (ja) * 2021-01-28 2022-08-04 シャープ株式会社 量子ドット、電界発光素子及びその製造方法、発光装置、表示装置及びその制御方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11683972B2 (en) * 2020-01-29 2023-06-20 Kyonggi University Industry & Academia Cooperation Foundation Emitting device manufacturing method using laser shaving and manufacturing equipment for the same

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090321692A1 (en) * 2005-01-05 2009-12-31 Locascio Michael Nanostructured material comprising semiconductor nanocrystal complexes
JP2010520603A (ja) * 2007-03-08 2010-06-10 イーストマン コダック カンパニー 量子ドット発光デバイス
JP2010526420A (ja) * 2007-05-07 2010-07-29 イーストマン コダック カンパニー 電力の分配が改善されたエレクトロルミネッセンス・デバイス
JP2011502333A (ja) * 2007-10-30 2011-01-20 イーストマン コダック カンパニー ブリンキングのない量子ドットを含む装置
JP2011076798A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Hoya Corp 電界発光素子およびその製造方法
US20140027713A1 (en) * 2011-04-02 2014-01-30 Qd Vision, Inc. Device including quantum dots

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20130007649A (ko) * 2005-02-16 2013-01-18 매사추세츠 인스티튜트 오브 테크놀로지 반도체 나노결정을 포함하는 발광 디바이스
US7615800B2 (en) * 2005-09-14 2009-11-10 Eastman Kodak Company Quantum dot light emitting layer
WO2007143197A2 (en) * 2006-06-02 2007-12-13 Qd Vision, Inc. Light-emitting devices and displays with improved performance
WO2008063657A2 (en) * 2006-11-21 2008-05-29 Qd Vision, Inc. Light emitting devices and displays with improved performance
US20080218068A1 (en) * 2007-03-05 2008-09-11 Cok Ronald S Patterned inorganic led device
JP2013539584A (ja) * 2010-07-26 2013-10-24 メルク パテント ゲーエムベーハー 量子ドットおよびホスト
CN103427049B (zh) * 2013-08-21 2014-12-03 京东方科技集团股份有限公司 量子点发光元件的制造方法及量子点显示设备
JP6233417B2 (ja) * 2013-10-17 2017-11-22 株式会社村田製作所 発光デバイス
JP2017025220A (ja) 2015-07-23 2017-02-02 コニカミノルタ株式会社 酸化防止性配位子含有半導体ナノ粒子およびこれを含有する分散液、ならびに酸化防止性配位子含有半導体ナノ粒子の製造方法
US10700236B2 (en) * 2016-03-17 2020-06-30 Apple Inc. Quantum dot spacing for high efficiency quantum dot LED displays
JP2019527252A (ja) * 2016-06-27 2019-09-26 ナノシス・インク. ナノ構造体の緩衝化被覆のための方法
KR20180076066A (ko) * 2016-12-27 2018-07-05 삼성전자주식회사 발광소자 패키지
KR102421729B1 (ko) * 2017-12-14 2022-07-15 삼성전자주식회사 발광소자 패키지 및 이를 이용한 디스플레이 장치
US11417851B2 (en) * 2018-02-13 2022-08-16 Sharp Kabushiki Kaisha Light-emitting element, light-emitting device, and device for producing light-emitting element
KR20190106823A (ko) * 2018-03-09 2019-09-18 삼성전자주식회사 양자점 및 이를 포함하는 소자
CN111902957B (zh) * 2018-03-29 2023-08-29 夏普株式会社 发光元件及发光器件
US20200044125A1 (en) * 2018-07-31 2020-02-06 Innolux Corporation Light-emitting device
WO2020170370A1 (ja) * 2019-02-20 2020-08-27 シャープ株式会社 発光デバイスの製造方法
US11996499B2 (en) * 2019-02-20 2024-05-28 Sharp Kabushiki Kaisha Method for manufacturing light-emitting device
WO2020170367A1 (ja) * 2019-02-20 2020-08-27 シャープ株式会社 発光デバイス、発光デバイスの製造方法
US20230090605A1 (en) * 2020-02-06 2023-03-23 Sharp Kabushiki Kaisha Method for producing light-emitting device, and light-emitting device
US20230058785A1 (en) * 2020-02-06 2023-02-23 Sharp Kabushiki Kaisha Method for producing quantum dot layer and method for producing light emitting device
US20230053170A1 (en) * 2020-02-06 2023-02-16 Sharp Kabushiki Kaisha Light-emitting device, and method for manufacturing light-emitting device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090321692A1 (en) * 2005-01-05 2009-12-31 Locascio Michael Nanostructured material comprising semiconductor nanocrystal complexes
JP2010520603A (ja) * 2007-03-08 2010-06-10 イーストマン コダック カンパニー 量子ドット発光デバイス
JP2010526420A (ja) * 2007-05-07 2010-07-29 イーストマン コダック カンパニー 電力の分配が改善されたエレクトロルミネッセンス・デバイス
JP2011502333A (ja) * 2007-10-30 2011-01-20 イーストマン コダック カンパニー ブリンキングのない量子ドットを含む装置
JP2011076798A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Hoya Corp 電界発光素子およびその製造方法
US20140027713A1 (en) * 2011-04-02 2014-01-30 Qd Vision, Inc. Device including quantum dots

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022162841A1 (ja) * 2021-01-28 2022-08-04 シャープ株式会社 量子ドット、電界発光素子及びその製造方法、発光装置、表示装置及びその制御方法

Also Published As

Publication number Publication date
US11996501B2 (en) 2024-05-28
US20220149249A1 (en) 2022-05-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2020170370A1 (ja) 発光デバイスの製造方法
JP7320851B2 (ja) 補助電極を提供するための方法および補助電極を含むデバイス
KR101010023B1 (ko) 레이저 빔을 이용한 플렉서블 소자의 제조 방법
WO2021100104A1 (ja) 発光素子、発光デバイス
WO2020170371A1 (ja) 発光デバイスの製造方法
JP6152775B2 (ja) 有機エレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法、およびそれに用いる有機エレクトロルミネッセンス表示装置形成用マスク基材
US20220392980A1 (en) Display substrate, display device, and manufacturing method
WO2020170367A1 (ja) 発光デバイス、発光デバイスの製造方法
WO2020170368A1 (ja) 発光デバイスの製造方法
WO2021157021A1 (ja) 発光デバイスの製造方法、及び発光デバイス
US8686633B2 (en) Organic light emitting display device and method for manufacturing the same
WO2021157018A1 (ja) 量子ドット層の製造方法、および、発光デバイスの製造方法
WO2021157019A1 (ja) 発光デバイス、発光デバイスの製造方法
CN108281569B (zh) 有机发光显示装置及其制备方法
WO2021157020A1 (ja) 発光デバイスの製造方法
US11957037B2 (en) Method for manufacturing light-emitting device
US20210050543A1 (en) Light-emitting device
JP2011065947A (ja) 有機el装置
WO2021090450A1 (ja) 発光素子及び表示装置並びに発光素子の製造方法
US20230354633A1 (en) Light emitting device including a capping layer and a method for manufacturing the same
WO2022064695A1 (ja) 発光素子、発光素子の製造方法
WO2021117210A1 (ja) 発光素子及びその製造方法
JP2005174737A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス発光素子
JP2009104954A (ja) エレクトロルミネッセンス素子の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 19915951

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 19915951

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP