WO2020170368A1 - 発光デバイスの製造方法 - Google Patents

発光デバイスの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
WO2020170368A1
WO2020170368A1 PCT/JP2019/006368 JP2019006368W WO2020170368A1 WO 2020170368 A1 WO2020170368 A1 WO 2020170368A1 JP 2019006368 W JP2019006368 W JP 2019006368W WO 2020170368 A1 WO2020170368 A1 WO 2020170368A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light
light emitting
light irradiation
emitting device
manufacturing
Prior art date
Application number
PCT/JP2019/006368
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
久保 真澄
Original Assignee
シャープ株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by シャープ株式会社 filed Critical シャープ株式会社
Priority to US17/430,593 priority Critical patent/US11996499B2/en
Priority to PCT/JP2019/006368 priority patent/WO2020170368A1/ja
Publication of WO2020170368A1 publication Critical patent/WO2020170368A1/ja

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/405Reflective materials
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/10Apparatus or processes specially adapted to the manufacture of electroluminescent light sources
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B33/00Electroluminescent light sources
    • H05B33/12Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces
    • H05B33/14Light sources with substantially two-dimensional radiating surfaces characterised by the chemical or physical composition or the arrangement of the electroluminescent material, or by the simultaneous addition of the electroluminescent material in or onto the light source
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/10OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
    • H10K50/11OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
    • H10K50/115OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers comprising active inorganic nanostructures, e.g. luminescent quantum dots
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/30Devices specially adapted for multicolour light emission
    • H10K59/35Devices specially adapted for multicolour light emission comprising red-green-blue [RGB] subpixels
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0016Processes relating to electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2933/00Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
    • H01L2933/0008Processes
    • H01L2933/0033Processes relating to semiconductor body packages
    • H01L2933/0041Processes relating to semiconductor body packages relating to wavelength conversion elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/04Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction
    • H01L33/06Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a quantum effect structure or superlattice, e.g. tunnel junction within the light emitting region, e.g. quantum confinement structure or tunnel barrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/08Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a plurality of light emitting regions, e.g. laterally discontinuous light emitting layer or photoluminescent region integrated within the semiconductor body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/48Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor body packages
    • H01L33/50Wavelength conversion elements
    • H01L33/501Wavelength conversion elements characterised by the materials, e.g. binder
    • H01L33/502Wavelength conversion materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/10Deposition of organic active material
    • H10K71/16Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering
    • H10K71/166Deposition of organic active material using physical vapour deposition [PVD], e.g. vacuum deposition or sputtering using selective deposition, e.g. using a mask

Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing a light emitting device including a light emitting element including a quantum dot.
  • Patent Document 1 discloses a semiconductor nanoparticle (quantum dot) having a core/shell structure and a ligand coordinated to the semiconductor nanoparticle.
  • the inventor has found a method of further improving the luminous efficiency of the light emitting device as compared with a light emitting device including a quantum dot layer in which conventional quantum dots as disclosed in Patent Document 1 are simply laminated.
  • a method for manufacturing a light emitting device provides a substrate of a light emitting element including a first electrode, a second electrode, and a quantum dot layer between the first electrode and the second electrode. It is a manufacturing method of the light emitting device provided above, Comprising: The quantum dot layer forming process which forms the said quantum dot layer is provided, The said quantum dot layer forming process is provided with a core and the 1st shell which coats this core. A first coating step of coating a first solution containing a plurality of quantum dots, a ligand that forms a coordinate bond with each of the quantum dots, a first inorganic precursor, and a first solvent at a position overlapping the substrate.
  • the first light irradiation step the first light irradiation step
  • the second light irradiation is performed to increase the temperature of the quantum dots
  • the second light irradiation step is followed by the third light irradiation.
  • at least one pair of quantum dots adjacent to each other are connected to each other via the second shell.
  • the light emission efficiency can be further improved in the light emitting device including the quantum dots.
  • FIG. 1A and 1B are a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to Embodiment 1 of the present invention, and a schematic enlarged view around a light emitting layer of the light emitting device.
  • 3 is a flowchart illustrating a method for manufacturing the light emitting device according to the first embodiment of the invention.
  • 3 is a flowchart illustrating a method of forming a light emitting layer according to Embodiment 1 of the present invention.
  • 5 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 6 is a process cross-sectional view for explaining a process for forming a light emitting layer according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is another process cross-sectional view for explaining the process of forming the light emitting layer according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a process cross-sectional view for explaining light irradiation using a photomask in the process of forming the light emitting layer according to Embodiment 1 of the present invention.
  • FIG. 6 is another process cross-sectional view for explaining light irradiation using a photomask in the process of forming the light emitting layer according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to a second embodiment of the present invention, and a schematic enlarged view around a light emitting layer of the light emitting device.
  • FIG. 6 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to a third embodiment of the present invention, and a schematic enlarged view of the periphery of a light emitting layer of the light emitting device.
  • 9 is a flowchart illustrating a method of forming a light emitting layer according to a third embodiment of the present invention.
  • 7 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step according to Embodiment 3 of the present invention.
  • FIG. 6A to 6C are process cross-sectional views for explaining a process of forming a light emitting layer according to a third embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to Embodiment 4 of the present invention, and a schematic enlarged view of the periphery of a light emitting layer of the light emitting device.
  • 9 is a flowchart illustrating a method for manufacturing a light emitting device according to Embodiment 4 of the present invention. It is a graph for demonstrating the relationship between elapsed time and temperature in the formation process of the light emitting layer which concerns on Embodiment 4 of this invention.
  • FIG. 5 is a schematic top view and a schematic cross-sectional view of a light emitting device according to Embodiment 4 of the present invention, and a schematic enlarged view of the periphery of a light emitting layer of the light emitting device.
  • 9 is a flowchart
  • FIG. 9 is a process cross-sectional view for explaining a process for forming a light emitting layer according to Embodiment 4 of the present invention.
  • FIG. 9 is another process cross-sectional view for explaining the process of forming the light emitting layer according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is another process cross-sectional view for explaining the process of forming the light emitting layer according to the fourth embodiment of the present invention.
  • FIG. 1A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • 1B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 1C is an enlarged cross-sectional view in the region B in FIG. 1B, that is, an enlarged cross-sectional view around the second light emitting layer 8G described later.
  • the light emitting device 1 includes a light emitting surface DS from which emitted light is extracted and a frame area NA surrounding the light emitting surface DS.
  • a terminal T to which a signal for driving a light emitting element of the light emitting device 1 described later is input may be formed.
  • the light emitting device 1 includes a light emitting element layer 2 and an array substrate 3 at a position overlapping the light emitting surface DS in a plan view.
  • the light emitting device 1 has a structure in which each layer of the light emitting element layer 2 is laminated on an array substrate 3 on which a TFT (Thin Film Transistor) (not shown) is formed.
  • TFT Thin Film Transistor
  • the light emitting element layer 2 includes a first electrode 4, a first charge transport layer 6, a light emitting layer 8 which is a quantum dot layer, a second charge transport layer 10, and a second electrode 12, which are sequentially stacked from the lower layer. And prepare for it.
  • the first electrode 4 of the light emitting element layer 2 formed on the upper layer of the array substrate 3 is electrically connected to the TFT of the array substrate 3.
  • the first electrode 4 is an anode and the second electrode 12 is a cathode.
  • the light emitting element layer 2 includes a first light emitting element 2R, a second light emitting element 2G, and a third light emitting element 2B.
  • the first light emitting element 2R, the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B are QLED elements in which the light emitting layer 8 is provided with a semiconductor nanoparticle material, that is, a quantum dot material.
  • each of the first electrode 4, the first charge transport layer 6, and the light emitting layer 8 is separated by the edge cover 14.
  • the first electrode 4 is formed by the edge cover 14 so that the first electrode 4R for the first light emitting element 2R, the first electrode 4G for the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B.
  • the first charge transport layer 6 includes the edge cover 14 for the first charge transport layer 6R for the first light emitting element 2R, the first charge transport layer 6G for the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B.
  • the light emitting layer 8 is separated by the edge cover 14 into a first light emitting layer 8R, a second light emitting layer 8G, and a third light emitting layer 8B.
  • the edge cover 14 may be formed at a position that covers the side surface of the first electrode 4 and the vicinity of the peripheral edge of the upper surface.
  • the first light emitting element 2R includes the first electrode 4R, the first charge transport layer 6R, the first light emitting layer 8R, the second charge transport layer 10, and the second electrode 12.
  • the second light emitting element 2G includes a first electrode 4G, a first charge transport layer 6G, a second light emitting layer 8G, a second charge transport layer 10, and a second electrode 12.
  • the third light emitting element 2B includes a first electrode 4B, a first charge transport layer 6B, a third light emitting layer 8B, a second charge transport layer 10, and a second electrode 12.
  • the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B are the red light which is the light of the first color and the light of the second color, respectively. It emits green light and blue light which is the light of the third color. That is, the first light emitting element 2R, the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B are light emitting elements that emit red light, green light, and blue light, which are lights of different colors, respectively. is there.
  • the blue light is, for example, light having an emission center wavelength in a wavelength band of 400 nm or more and 500 nm or less.
  • the green light is, for example, light having an emission center wavelength in a wavelength band of more than 500 nm and 600 nm or less.
  • the red light is, for example, light having an emission center wavelength in a wavelength band of more than 600 nm and 780 nm or less.
  • the first electrode 4 and the second electrode 12 include a conductive material, and are electrically connected to the first charge transport layer 6 and the second charge transport layer 10, respectively.
  • the electrode near the light emitting surface DS is a transparent electrode.
  • the array substrate 3 is a transparent substrate and the first electrode 4 is a transparent electrode.
  • the second electrode 12 may be a reflective electrode. Therefore, the light from the light emitting layer 8 passes through the first charge transport layer 6, the first electrode 4, and the array substrate 3, and is emitted from the light emitting surface DS to the outside of the light emitting device 1. Therefore, the light emitting device 1 is configured as a bottom emission type light emitting device. Since both the light emitted from the light emitting layer 8 in the upward direction and the light emitted in the downward direction can be used as the light emitted from the light emitting device 1, the light emitting device 1 can emit light emitted from the light emitting layer 8. The utilization efficiency of can be improved.
  • the configuration of the first electrode 4 and the second electrode 12 described above is an example, and may be made of another material.
  • the first charge transport layer 6 is a layer that transports charges from the first electrode 4 to the light emitting layer 8.
  • the first charge transport layer 6 may have a function of inhibiting the transport of charges from the second electrode 12.
  • the first charge transport layer 6 may be a hole transport layer that transports holes from the first electrode 4, which is an anode, to the light emitting layer 8.
  • the second charge transport layer 10 is a layer that transports charges from the second electrode 12 to the light emitting layer 8.
  • the second charge transport layer 10 may have a function of inhibiting the transport of charges from the first electrode 4.
  • the second charge transport layer 10 may be an electron transport layer that transports electrons from the second electrode 12 that is the cathode to the light emitting layer 8.
  • FIG. 1C shows a schematic cross-sectional view in the region B of FIG. 1B, that is, around the second light emitting layer 8G of the second light emitting element 2G.
  • each member shown in FIG. 1C is regarded as having a common configuration in each light emitting element. Therefore, in the present embodiment, each member shown in FIG. 1C may have the same configuration in each light emitting element unless otherwise specified.
  • the light emitting layer 8 includes the quantum dot structure 16 and the ligand 18.
  • the quantum dot structure 16 includes a plurality of quantum dots 20.
  • the quantum dot 20 has a core/shell structure including a core 22 and a first shell 24 coating the periphery of the core 22.
  • the quantum dot structure 16 also includes a second shell 26. The second shell 26 coats the periphery of the first shell 24, which is the outer shell of each quantum dot 20.
  • the quantum dot 20 may have a multi-shell structure in which a plurality of shells are provided around the core 22.
  • the first shell 24 refers to the outermost shell of the plurality of shells.
  • the ligand 18 may coordinate-bond with the quantum dot structure 16 on the outer surface of the second shell 26 to fill the void of the quantum dot structure 16.
  • the ligand 18 may be, for example, TOPO (trioctylphosphine oxide).
  • the quantum dots 20 are connected via the second shell 26.
  • the first shell 24 and the second shell 26 have a crystal structure, and in particular, in the present embodiment, the second shell 26 has a crystal structure formed by epitaxial growth on the first shell 24. Prepare Therefore, the quantum dots 20 adjacent to each other described above are connected by the crystal structure of the second shell 26.
  • all the quantum dots 20 in the same light emitting element may be connected by the crystal structure of the second shell 26 to form an integral quantum dot structure 16.
  • the first shell 24 and the second shell 26 may be polycrystalline.
  • the core 22 and the first shell 24 of the quantum dot 20 may be provided with an inorganic material used for a quantum dot having a known core/shell structure. That is, the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B are provided with known quantum dot materials used for the light emitting layers of red, green, and blue QLED elements, respectively. Good.
  • the second shell 26 may be provided with an inorganic shell material used for a quantum dot having a known core/shell structure, like the first shell 24.
  • the first shell 24 and the second shell 26 may be made of the same material.
  • the specific resistance of the second shell 26 is preferably equal to or higher than the specific resistance of the first shell 24.
  • the size of the band gap of the second shell 26 is preferably equal to or larger than the size of the band gap of the first shell 24. With this configuration, the efficiency of charge injection from the second shell 26 to the first shell 24 is improved.
  • Specific materials for the core 22 include CdSe (bandgap 1.73 eV), CdTe (bandgap 1.44 eV), ZnTe (bandgap 2.25 eV), CdS (bandgap 2.42 eV), and the like.
  • II-VI group semiconductors can be mentioned.
  • a III-V group such as InP (bandgap 1.35 eV) or InGaP (bandgap 1.88 eV) can be cited.
  • the wavelength emitted by a quantum dot is determined by the particle size of the core. Therefore, a semiconductor material having an appropriate band gap is adopted as the material of the core 22 so that the light emitted by the core 22 can be controlled to any of red, green, and blue by controlling the particle size of the core 22. It is preferable.
  • the band gap of the material of the core 22 included in the first light emitting layer 8R is preferably 1.97 eV or less so that the first light emitting layer 8R which is the red light emitting layer emits red light having a wavelength of 630 nm. Further, since the second light emitting layer 8G which is a green light emitting layer emits green light having a wavelength of 532 nm, the band gap of the material of the core 22 included in the second light emitting layer 8G is preferably 2.33 eV or less.
  • the third light emitting layer 8B which is a blue light emitting layer, emits blue light having a wavelength of 630 nm
  • the band gap of the material of the core 22 included in the third light emitting layer 8B is preferably 2.66 eV or less.
  • the light emitting device 1 including the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B described above is preferable in that it satisfies the color space standard in the UHDTV international standard BT2020.
  • Specific materials for the first shell 24 and the second shell 26 include, for example, ZnSe (bandgap 2.7 eV), ZnS (bandgap 3.6 eV) or other II-VI group, or GaP (bandgap 2.26 eV) and other III-V groups.
  • the material of the core 22 has a lower specific resistance and a smaller band gap than the materials of the first shell 24 and the second shell 26. With this configuration, the efficiency of charge injection from the first shell 24 and the second shell 26 to the core 22 is improved.
  • the average film thickness of the first shell 24 from the outer surface of the core 22 is smaller than the minimum film thickness of the second shell 26.
  • the minimum thickness of the second shell 26 means the thickness of the second shell 26 between two quantum dots 20 connected to each other via the second shell 26, or the first shell 24 to the first The smallest film thickness among the film thicknesses up to the outer surface of the 2 shell 26 is indicated.
  • the shortest distance from the core 22 of one quantum dot 20 to the core 22 of another adjacent quantum dot 20 is set as d.
  • the average value of the distance d is preferably 3 nm or more.
  • the average value of the distance d is preferably 1 nm or more.
  • the quantum dot 20 absorbs light having a wavelength shorter than the wavelength of light emitted by the quantum dot 20.
  • the quantum dots 20 absorb ultraviolet light. Further, the quantum dots 20 generate heat when absorbing light.
  • FIG. 2 is a flowchart for explaining the method of manufacturing the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • an array substrate is formed (step S1).
  • the formation of the array substrate may be performed by forming a plurality of TFTs on the substrate in accordance with the positions of the sub pixels.
  • the first electrode 4 is formed (step S2).
  • the first electrode 4 may be formed for each sub-pixel by forming a conductive transparent electrode material such as ITO by sputtering and then patterning it according to the shape of the sub-pixel. Good.
  • the transparent electrode material may be vapor-deposited using a vapor deposition mask to form the first electrode for each sub-pixel.
  • the edge cover 14 is formed (step S3).
  • the edge cover 14 is applied on the array substrate 3 and the first electrode 4 and then patterned between the adjacent first electrodes 4 leaving a position covering the side surface and the peripheral end of the first electrode 4. It may be obtained by The patterning of the edge cover 14 may be performed by photolithography.
  • the first charge transport layer 6 is formed (step S4).
  • the first charge transport layer 6 may be formed for each sub-pixel by separate coating by an inkjet method, vapor deposition using a mask, or patterning using photolithography.
  • step S5 the light emitting layer 8 is formed.
  • the process of forming the light emitting layer 8 will be described in more detail with reference to FIGS. 3 to 6.
  • FIG. 3 is a flow chart for explaining the light emitting layer forming step, which is the quantum dot layer forming step in the present embodiment.
  • FIG. 4 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step.
  • the horizontal axis represents the elapsed time of the light emitting layer forming step and the vertical axis represents the temperature.
  • the solid line in FIG. 4 indicates the temperature of the quantum dots 20 on the array substrate 3, and the broken line indicates the temperature around the quantum dots 20.
  • FIG. 5 and 6 are process cross-sectional views for explaining the light emitting layer forming process.
  • the process sectional views in this specification including FIG. 5 and FIG. 6 show the region B of FIG. 1B, that is, the periphery of the second light emitting layer 8G of the second light emitting element 2G.
  • 9A to 9C are process cross-sectional views at a position corresponding to.
  • the method described with reference to the process cross-sectional views in this specification may be applied to the method for forming the light emitting layer 8 of another light emitting element unless otherwise specified.
  • a first applying step is performed in which the first solution 28 shown in FIG. 5B is applied to a position overlapping the array substrate 3 (step S10).
  • the first solution 28 is a solution in which a plurality of quantum dots 20 having the ligands 18 coordinated thereto and the first inorganic precursor 30 are dispersed in the first solvent 32. ..
  • the first solvent 32 may be, for example, hexane.
  • the first inorganic precursor 30 includes the same material as the second shell 26 described above.
  • the first inorganic precursor 30 may include, for example, zinc chloride and 1-dodecanethiol.
  • the first coating step is performed under the ambient temperature of temperature T0 shown in FIG. Since the application of the first solution 28 is performed under the ambient temperature of the temperature T0, the temperature of the quantum dots 20 and the ambient temperature of the quantum dots 20 in the applied first solution 28 are as shown in FIG. Also reaches the temperature T0.
  • the temperature T0 may be room temperature, for example.
  • the first solution 28 on the array substrate 3 is irradiated with light such as ultraviolet light, is irradiated with the first light, and heats the quantum dots 20 to perform the first light irradiation step (step S11).
  • the quantum dots 20 are heated until the quantum dots 20 reach the first temperature T1 or higher shown in FIG.
  • the first temperature T1 is the higher temperature of the melting point of the ligand 18 and the boiling point of the first solvent 32.
  • the temperature TA shown in FIG. 4 is the lower temperature of the melting point of the ligand 18 and the boiling point of the first solvent 32.
  • the first temperature T1 and the temperature TA are higher than the temperature T0.
  • the melting point of TOPO is 50 to 54 degrees Celsius
  • the boiling point of hexane is 68.5 to 69.1 degrees Celsius. Therefore, when the ligand 18 is TOPO and the first solvent is hexane, the temperature TA is the melting point of TOPO and the first temperature T1 is the boiling point of hexane.
  • the ambient temperature of the quantum dot 20 follows the rise of the temperature of the quantum dot 20 with a slight delay until the temperature of the quantum dot 20 changes from the temperature T0 to the temperature TA.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 rises to the temperature TA and one of the melting of the ligand 18 and the evaporation of the first solvent 32 starts, the ambient temperature of the quantum dots 20 maintains the temperature TA for a while.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 starts to rise again. Then, when the ambient temperature of the quantum dots 20 rises to the first temperature T1 and the other one of the melting of the ligand 18 and the evaporation of the first solvent 32 starts, the ambient temperature of the quantum dots 20 is kept at the first temperature T1 for a while. maintain.
  • the melting of the ligand 18 and the evaporation of the first solvent 32 are completed by the first light irradiation step.
  • the first temperature T1 is the boiling point of the first solvent 32
  • the first solvent 32 is vaporized after the ligand 18 is melted in the first light irradiation step.
  • the first temperature T1 is the melting point of the ligand 18
  • the ligand 18 melts after the first solvent 32 is vaporized in the first light irradiation step.
  • the first solvent 32 is preferably vaporized after the melting of the ligand 18.
  • the first solvent 32 is vaporized from above the array substrate 3 and the quantum dots 20 and the inorganic precursor 30 are contained in the melted ligand 18. Are dispersed.
  • a second light irradiation step is performed in which second light irradiation is performed on the position on the array substrate 3 where the first solution 28 is applied to heat the quantum dots 20 (step S12).
  • the second light irradiation step the second light irradiation is continued until the temperature of the quantum dots 20 reaches the second temperature T2 shown in FIG.
  • ultraviolet light may be irradiated similarly to the first light irradiation, or light having a larger energy amount per unit time than the light irradiated in the first light irradiation may be irradiated. May be.
  • the first light irradiation and the second light irradiation may be continuously performed.
  • the third light irradiation is performed, and the third light irradiation step of maintaining the temperature of the quantum dots 20 near the second temperature T2 is performed (step). S12).
  • ultraviolet light may be irradiated similarly to the first light irradiation and the second light irradiation, and the energy amount per unit time is larger than that of the light irradiated in the second light irradiation. You may irradiate a small light.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 after reaching the second temperature T2 is also maintained at the second temperature T2.
  • each light irradiation step in the present embodiment when the balance between the heat generation of the quantum dots 20 and the heat radiation of the array substrate 3 to the surrounding environment is balanced, the ambient temperature of the quantum dots 20 is substantially constant at a certain temperature. Becomes Here, the irradiation energy of each light irradiation may be adjusted so that the temperature at which the balance between the heat generation of the quantum dots 20 and the heat dissipation of the array substrate 3 to the surrounding environment is balanced is the second temperature T2. Further, in this way, the conditions of the intensity of the light irradiated in each of the first light irradiation, the second light irradiation, and the third light irradiation may be the same.
  • the second temperature T2 is higher than the first temperature T1 and is a temperature for the first inorganic precursor 30 to grow epitaxially around the first shell 24 by a thermochemical reaction. Therefore, while the ambient temperature of the quantum dots 20 is maintained at the second temperature T2, the first inorganic substance precursor 30 gradually grows epitaxially around the first shell 24. As a result, as shown in FIG. 6B, the second shell 26 is formed around the first shell 24 of each quantum dot 20.
  • the first inorganic material precursor 30 includes zinc chloride and 1-dodecanethiol described above, the second temperature T2 is about 200 degrees Celsius.
  • the second shell 26 is formed around each quantum dot 20 from the outer surface of the first shell 24 so that the film thickness gradually increases.
  • the two quantum dots 20 connect via the second shell 26.
  • the third light irradiation step is performed until at least one set of quantum dots 20 adjacent to each other are connected via the second shell 26.
  • the quantum dot structure 16 including the quantum dots 20 and the second shell 26 is formed. After that, the irradiation of light to the array substrate 3 is stopped and the array substrate 3 is cooled to solidify the melted ligand 18 again. As a result, the light emitting layer 8 including the quantum dot structure 16 and the ligand 18 shown in FIG. 6B is obtained.
  • the process of forming the light emitting layer 8 has been described with reference to the enlarged cross-sectional view around the second light emitting layer 8G.
  • the only difference in the method of forming each of the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B is the difference in the material contained in the first solution 28. That is, the first coating step, the first light irradiation step, the second light irradiation step, and the third light irradiation step may be realized by the same method regardless of the emission color of the formed light emitting layer 8.
  • the material in the first solution 28 may be changed for each emission color of the corresponding light emitting element, and the first solution 28 may be separately coated by the inkjet method. Specifically, the first solution 28 may be individually applied by an inkjet method to the position overlapping with each of the first electrodes 4 formed for each light emitting element.
  • the above-described first light irradiation step, second light irradiation step, and third light irradiation step may be performed. Accordingly, light emitting elements having different emission colors can be formed by continuous single irradiation of light.
  • the concentration of the first inorganic material precursor 30 in the first solution 28 applied in the first applying step may be different depending on the emission color of the corresponding light emitting element.
  • the concentration of the first inorganic precursor 30 in the first solution 28 applied to the position corresponding to the second light emitting element 2G is the same as that of the first solution 28 applied to the position corresponding to the first light emitting element 2R. It is preferably lower than the concentration of the first inorganic precursor 30.
  • the concentration of the first inorganic precursor 30 in the first solution 28 applied to the position corresponding to the second light emitting element 2G is the same as that of the first solution 28 applied to the position corresponding to the third light emitting element 2B. It is preferably higher than the concentration of the first inorganic precursor 30.
  • the amount of the first inorganic material precursor 30 increases. Further, generally, the longer the wavelength of the light emitted by the quantum dots 20, the larger the particle size of the core 22 and thus the particle size of the quantum dots 20.
  • first light irradiation, second light irradiation, and third light irradiation are performed.
  • partial exposure by laser irradiation may be performed.
  • a removing step of removing the first solution 28 may be performed from a position overlapping a position different from the position where the partial exposure is performed.
  • the light emitting layer 8 can be formed only at the position where the laser irradiation is partially performed.
  • first light irradiation, second light irradiation, and third light irradiation are performed.
  • partial exposure using a photomask may be performed. A method of forming the light emitting layer 8 by partial exposure using a photomask will be described in more detail with reference to FIGS. 7 and 8.
  • 7 and 8 are process cross-sectional views for explaining a method of forming the light emitting layer 8 by partial exposure using a photomask in the light emitting layer forming process. 7 and 8 show not only the position where the second light emitting layer 8G is formed, but also the position where the first light emitting layer 8R and the third light emitting layer 8B are formed.
  • the photomask M shown in FIG. 7B is installed between the first coating step and the first light irradiation step.
  • the photomask M has a function of blocking the light emitted in each light irradiation step.
  • the photomask M is formed so that when it is installed above the array substrate 3, the opening is formed only at a position overlapping the first electrode 4G. That is, as shown in FIG. 7B, when the photomask M is installed above the array substrate 3, the photomask M shields the upper part of the first solution 28 at a position not overlapping the first electrode 4G.
  • the photomask M After the photomask M is installed, by performing the first light irradiation step to the third light irradiation step, as shown in FIG. 7C, the first solution 28 in a position overlapping the first electrode 4G is formed. Only the light irradiation is carried out. Therefore, in the first light irradiation step to the third light irradiation step, the heating of the quantum dots 20 is performed only at the position overlapping the first electrode 4G. Therefore, as shown in FIG. 8A, the second light emitting layer 8G is formed only at the position overlapping with the first electrode 4G.
  • the above-described first coating step to removal step are performed by the corresponding light emitting element. It may be repeated depending on the color. For example, after the formation of the second light emitting layer 8G shown in FIG. 8B, the formation of the first light emitting layer 8R and the third light emitting layer 8B is performed by the remaining two steps from the first coating step to the removing step. It may be carried out three times in total.
  • the type of solution applied in the first application step is changed according to the type of the light emitting layer 8 to be formed, and the photomask M placed above the array substrate 3 is also changed. Specifically, in each light irradiation step, the position of the opening of the photomask M is adjusted according to the type of the light emitting layer 8 so that the light irradiation is performed only at the position overlapping the position of the light emitting layer 8 to be formed. To change.
  • the light emitting layer 8 including the first light emitting layer 8R, the second light emitting layer 8G, and the third light emitting layer 8B shown in (c) of FIG. 8 is formed.
  • the method of forming the light emitting layer 8 divided into the light emitting elements by the edge cover 14 has been described.
  • the laser irradiation or the partial exposure using the photomask is adopted for each light irradiation, it is possible to individually perform the light irradiation to the position overlapping each of the first electrodes 4. Therefore, even when the light emitting layer 8 is not divided by the edge cover 14, the light emitting layer 8 corresponding to each light emitting element can be individually formed. Therefore, when partial exposure is adopted in each light irradiation, the height of the edge cover 14 may be the height that covers the edge of the first electrode 4.
  • the light emitting layers 8 in each of the first light emitting element that emits red light, the second light emitting element that emits green light, and the third light emitting element that emits blue light The method of forming the has been described. However, the above-described light emitting layer forming step can be applied to the step of forming the light emitting layer 8 in the case where a part of the light emitting element is provided with a light emitting layer 8 of a type different from that of another light emitting element.
  • the time for performing the third light irradiation on the positions corresponding to the first light emitting element 2R, the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B varies depending on the light emission color of the light emitting element. May be.
  • the irradiation time of the third light irradiation on the position corresponding to the second light emitting element 2G is preferably shorter than the irradiation time of the third light irradiation on the position corresponding to the first light emitting element 2R.
  • the irradiation time of the third light irradiation to the position corresponding to the second light emitting element 2G is preferably longer than the irradiation time of the third light irradiation to the position corresponding to the third light emitting element 2B.
  • the first coating step when the first solution 28 is separately coated by the inkjet method and light irradiation is performed on the entire coating area, a photomask is placed above the array substrate 3 during the third light irradiation step, and light irradiation is performed. May be restarted. This makes it possible to change the irradiation time of the third light irradiation according to the emission color of the light emitting element.
  • the irradiation time of the third light irradiation may be different in each partial exposure.
  • the larger the particle size of the quantum dot 20 the slower the growth rate of the second shell 26. That is, when the second shell 26 having the same film thickness is formed around the quantum dots 20, the larger the particle size of the quantum dots 20, the longer the time required for the third light irradiation.
  • the second charge transport layer 10 is formed (step S6).
  • the second charge transport layer 10 may be applied and formed by spin coating or the like in common to all the sub-pixels.
  • the second electrode 12 is formed (step S7).
  • the second electrode 12 may be formed in common by all the sub-pixels by vapor deposition or the like. As described above, the light emitting element layer 2 is formed on the array substrate 3, and the light emitting device 1 shown in FIG. 1 is obtained.
  • the second shells 26 are epitaxially grown around the first shells 24 of the respective quantum dots 20. .. Therefore, the thickness of the shell in each quantum dot 20 can be increased as compared with the case where the quantum dots 20 having a core/shell structure are simply stacked.
  • a quantum dot having a core/shell structure it is conceivable to increase the thickness of the shell in order to reduce exudation of electrons injected into the core of the quantum dot.
  • quantum dots having a thick shell are stacked to form quantum dots, the filling rate of the quantum dots with respect to the volume of the light emitting layer is low. Therefore, it becomes difficult to realize a sufficient quantum dot density in the light emitting layer, which leads to a reduction in the light emitting efficiency of the light emitting element.
  • the quantum dots 20 having the thin first shells 24 are applied, and then the second shells 26 are formed on the respective quantum dots 20.
  • the thickness of the shell formed around the core 22 can be regarded as the total thickness of the first shell 24 and the second shell 26.
  • the density of the quantum dots 20 in the light emitting layer 8 can be improved as compared with the case where the quantum dots having the shells of the same film thickness are simply stacked. Therefore, the density of the quantum dots 20 in the light emitting layer 8 is improved while reducing the leakage of electrons from the quantum dots 20, which leads to the improvement of the luminous efficiency of the light emitting device 1.
  • At least one set of quantum dots 20 is connected via the second shell 26, so that in the one set of quantum dots 20, the area of the outer surface of the second shell 26 is , Becomes smaller than when not connected. That is, in the present embodiment, the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 can be reduced as compared with the case where the quantum dots are simply stacked.
  • the area of the outer surface can be reduced to reduce the amount of the ligand 18 that can be damaged by water penetration. Therefore, the damage to the second shell 26 due to the loss of the protection function of the second shell 26 by the ligand 18 due to the damage can be reduced.
  • the surface area of the second shell 26 that can be damaged when the light emitting device 1 is driven can be reduced. Therefore, with this configuration, damage to the second shell 26 due to the driving of the light emitting device 1 and eventually formation of defects in the second shell 26 due to the damage can be reduced. Therefore, by reducing the area of the outer surface of the quantum dot structure 16, a non-light emitting process occurs due to the recombination of electrons and holes in the defect, and thus the light emitting device 1 The decrease in luminous efficiency is reduced.
  • the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 is small, the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 that can be damaged is reduced, and the quantum dot 20 is damaged. Deactivation can be reduced.
  • the average value of the random close-packed filling ratio in filling the rigid spheres is approximately 63.66%. Therefore, in the present embodiment, the volume ratio of the quantum dot structures 16 in the light emitting layer 8 is preferably 63.7% or more.
  • the quantum dots 20 in the light emitting layer 8 can be compared with the case where the quantum dots provided with the shells having the thickness equal to the total thickness of the first shell 24 and the second shell 26 are randomly stacked. The density can be improved. Further, with the above configuration, the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 can be reduced more efficiently than in the case where the quantum dots are randomly stacked.
  • the average film thickness of the first shell 24 from the outer surface of the core 22 is smaller than the minimum film thickness of the second shell 26. Therefore, the quantum dots 20 are stacked more densely between the second light irradiation step and the third light irradiation step, and the second shell 26 having a relatively thick film thickness is formed in the subsequent third light irradiation step. can do.
  • the first shell 24 having a film thickness that can sufficiently reduce the exudation of electrons from the core 22 derived from the electron wave function, and
  • the second shell 26 can be formed. Therefore, with this configuration, it is possible to increase the density of the quantum dots 20 in the quantum dot structure 16 while sufficiently ensuring the film thicknesses of the first shell 24 and the second shell 26.
  • the light emitting layer 8 is formed after the array substrate 3, the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 are formed.
  • the heating for forming the light emitting layer 8 is realized by the heat generation of the quantum dots 20 by the light irradiation. Therefore, local heating of the light emitting layer 8 is realized. Therefore, the array substrate 3, the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 do not necessarily have to have high heat resistance against heating in the light irradiation step described above. Therefore, the array substrate 3, the first electrode 4, the edge cover 14, and the first charge transport layer 6 may include conventionally known materials.
  • the array substrate 3 may be, for example, a glass substrate containing alkali glass or the like. Further, the array substrate 3 may be an organic substrate containing an organic material such as polyimide. Further, the array substrate 3 may be provided with a flexible material such as PET, and the flexible light emitting device 1 may be realized.
  • the first electrode 4 is an anode
  • ITO is generally used for the first electrode 4.
  • the first charge transport layer 6 is a hole transport layer, it may contain an inorganic material such as NiO, MgNiO, Cr 2 O 3 , Cu 2 O, or LiNbO 3 .
  • edge cover 14 an organic material is generally used for the edge cover 14 in order to achieve a shape having a certain height and inclination.
  • the edge cover 14 may include polyimide or the like.
  • the second charge transport layer 10 may include a material used for a conventionally known electron transport layer
  • the second electrode 12 may include a material used for a conventionally known cathode. Good.
  • FIG. 9A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • 9B is a sectional view taken along the line AA in FIG. 9A.
  • 9C is an enlarged cross-sectional view of region B in FIG. 9B.
  • the light emitting device 1 according to this embodiment has the same configuration as the light emitting device 1 according to the previous embodiment, except that the stacking order of the layers of the light emitting element layer 2 is reversed. Good. That is, in the light emitting element layer 2 according to the present embodiment, the second charge transport layer 10, the light emitting layer 8, the first charge transport layer 6, and the first electrode 4 are formed on the second electrode 12 from the lower layer. Prepared by sequentially stacking.
  • each of the second electrode 12 and the second charge transport layer 10 is separated by the edge cover 14.
  • the second electrode 12 is formed by the edge cover 14 into the second electrode 12R for the first light emitting element 2R, the second electrode 12G for the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B.
  • the second charge transport layer 10 is provided by the edge cover 14 for the second charge transport layer 10R for the first light emitting element 2R, the second charge transport layer 10G for the second light emitting element 2G, and the third light emitting element 2B. Of the second charge transport layer 10B.
  • first charge transport layer 6 and the first electrode 4 are not separated by the edge cover 14 but are formed in common as compared with the light emitting element 1 according to the previous embodiment.
  • the first electrode 4 may be a transparent electrode and the second electrode 12 may be a reflective electrode. Therefore, the light from the light emitting layer 8 passes through the first charge transport layer 6 and the first electrode 4, and is emitted from the light emitting surface DS to the outside of the light emitting device 1. Therefore, the light emitting device 1 is configured as a top emission type light emitting device. Therefore, in this embodiment, the array substrate 3 does not necessarily have to be a transparent substrate.
  • the light emitting device 1 performs the steps shown in FIG. 2 in the same order as in the previous embodiment in the order of step S1, step S7, step S3, step S6, step S5, step S4, and step S2. Can be manufactured by. Therefore, in this embodiment, the light emitting layer 8 is formed after the array substrate 3, the second electrode 12, the edge cover 14, and the second charge transport layer 10 are formed.
  • the second electrode 12 has a function of reflecting the light emitted in each light irradiation described above. It is preferable.
  • the light irradiation step in the present embodiment can reduce the intensity of light irradiation necessary for irradiating the quantum dots 20 with sufficient light, as compared with the light irradiation step in the previous embodiment.
  • the second electrode 12 may include at least a reflective metal thin film on its surface.
  • the second electrode 12 may include a metal such as Al or Ag, or an intermetallic compound such as AgMg.
  • FIG. 10A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • 10B is a sectional view taken along the line AA in FIG. 10C is an enlarged cross-sectional view of the region B in FIG. 10B.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment may have the same configuration as the light emitting device 1 according to the first embodiment, except that the light emitting layer 8 does not include the ligand 18. As shown in FIG. 10C, the light emitting layer 8 may include voids 34 in the space not filled with the quantum dot structure 16.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment is manufactured by the same method as each of the steps shown in FIG. 2 except for step S5, that is, the light emitting layer forming step.
  • step S5 that is, the light emitting layer forming step.
  • the light emitting layer forming process of the light emitting device 1 according to the present embodiment will be described in more detail with reference to FIGS. 11 to 13.
  • FIG. 11 is a flowchart for explaining the light emitting layer forming step, which is the quantum dot layer forming step in the present embodiment.
  • FIG. 12 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step. Similar to FIG. 4, the solid line in FIG. 12 indicates the temperature of the quantum dots 20 on the array substrate 3, and the broken line indicates the temperature around the quantum dots 20.
  • FIG. 13 is a process cross-sectional view for explaining the light emitting layer forming process.
  • step S10 the same method as the method described in the first embodiment is executed from step S10 to step S13.
  • step S13 the same method as the method described in the first embodiment is executed from step S10 to step S13.
  • step S13 the quantum dot structure 16 and the ligand 18 are formed in the upper layer of the first charge transport layer 6.
  • step S12 fourth light irradiation is further performed, and the fourth light irradiation step of heating the quantum dots 20 so that the temperature of the quantum dots 20 becomes equal to or higher than the third temperature T3 is performed.
  • the fourth light irradiation ultraviolet light may be irradiated in the same manner as the first light irradiation, the second light irradiation, and the third light irradiation, and the unit of light may be larger than that of the light irradiated in the third light irradiation. Light having a large amount of energy per time may be irradiated.
  • the third temperature T3 is higher than the second temperature T2 and corresponds to the boiling point of the ligand 18. For example, when the ligand 18 is TOPO described above, the third temperature T3 is 411.2 degrees Celsius.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 reaches the third temperature T3 due to the heating of the quantum dots 20 in the fourth light irradiation step, the evaporation of the ligand 18 starts, and the ambient temperature of the quantum dots 20 maintains the third temperature T3 for a while. To do.
  • the ligand 18 is vaporized, and the light emitting layer 8 having no ligand 18 is obtained, as shown in FIG.
  • each light irradiation step performed prior to the fourth light irradiation step in this embodiment the laser irradiation or the partial exposure using the photomask described in the first embodiment is adopted for each light irradiation. Good.
  • the above-described fourth light irradiation is performed at the position where the first solution is coated in the first coating step. You may implement in the position which overlaps.
  • the number of times the fourth light irradiation is performed can be reduced as compared with the case where the fourth light irradiation is performed individually, which leads to a reduction in manufacturing cost.
  • the light emitting device 1 according to this embodiment does not include the ligand 18 in the light emitting layer 8.
  • the ligand coordinated to the quantum dot often contains an organic material. Therefore, the light emitting layer 8 in the present embodiment that does not include the ligand 18 has a low content rate of the organic material with respect to the inorganic material and is resistant to deterioration due to water permeation or the like. Therefore, the light emitting device 1 according to the present embodiment can further improve reliability.
  • the average value of the ratio of voids not occupied by the rigid spheres in the space where the rigid spheres are randomly closest packed is about 36.34 volume percent. Therefore, for example, in the light emitting layer 8, the volume ratio of the organic substance to the inorganic substance is preferably 36.3 volume percent or less. In this case, the ratio of organic substances in the light emitting layer 8 can be reduced as compared to a conventional light emitting layer in which quantum dots are packed in a random closest manner and voids between the quantum dots are filled with an organic ligand. Therefore, with the above configuration, it is possible to more efficiently improve the reliability of the light emitting layer 8.
  • the expression “having no ligand” means substantially not having a ligand.
  • residues of impurities or ligands may remain to such an extent that the reliability of the light emitting layer 8 is not significantly deteriorated.
  • the light emitting layer 8 in the present embodiment may include the above-mentioned impurity or ligand residue in an amount of about 3 volume% with respect to the entire volume of the light emitting layer 8.
  • the area of the outer surface of the quantum dot structure 16 can be reduced as in the above-described embodiments.
  • the surface area of the second shell 26 that can be damaged by light irradiation and heat generation of the quantum dots 20 due to the light irradiation can be reduced. Therefore, with the configuration, as described above, it is possible to reduce the formation of defects in the second shell 26 due to the damage to the second shell 26, and thus reduce the reduction in the luminous efficiency of the light emitting device 1 due to the defects.
  • FIG. 14A is a schematic top view of the light emitting device 1 according to this embodiment.
  • 14B is a cross-sectional view taken along the line AA in FIG. 14C is an enlarged cross-sectional view of the region B in FIG. 10B.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment is the same as the light emitting device 1 according to the previous embodiment, except that the light emitting layer 8 includes a quantum dot structure 36 instead of the quantum dot structure 16. May be provided.
  • the quantum dot structure 16 further includes a third shell 38 in addition to the quantum dots 20 and the second shell 26, as shown in FIG.
  • the quantum dot structure 36 may be formed by providing the third shell 38 in the void 34 which is not filled with the quantum dot structure 16 in the light emitting layer 8 in the previous embodiment.
  • the third shell 38 fills at least a part of the void around the second shell 26.
  • the third shell 38 may include the same material as the second shell 26, or may include an inorganic shell material used for a quantum dot having a known core/shell structure.
  • the light emitting device 1 according to the present embodiment is manufactured by the same method as each of the steps shown in FIG. 2 except for step S5, that is, the light emitting layer forming step.
  • step S5 that is, the light emitting layer forming step.
  • the light emitting layer forming process of the light emitting device 1 according to the present embodiment will be described in more detail with reference to FIGS. 15 to 19.
  • FIG. 15 is a flowchart for explaining the light emitting layer forming step, which is the quantum dot layer forming step in the present embodiment.
  • FIG. 16 is a graph for explaining the relationship between elapsed time and temperature in the light emitting layer forming step. Similar to FIG. 4, the solid line in FIG. 16 indicates the temperature of the quantum dots 20 on the array substrate 3, and the broken line indicates the temperature around the quantum dots 20. 17 to 19 are process cross-sectional views for explaining the light emitting layer forming process.
  • step S15 the same method as the method described in the previous embodiment is executed from step S10 to step S14.
  • step S14 the light irradiation is stopped, and a cooling step of lowering the temperature of the quantum dots 20 below the third temperature T3 is performed (step S15).
  • the cooling process is performed until the temperature of the quantum dots 20 reaches the temperature TB lower than the temperature TA.
  • the temperature TB may be higher than the temperature T0 or may be the same as the temperature T0.
  • the temperature around the quantum dots 20 also follows.
  • the quantum dot structure 16 is formed in the upper layer of the first charge transport layer 6.
  • the void 34 is formed between the second shells 26 of the quantum dot structure 16.
  • the second solution 40 is applied to the position overlapping the array substrate 3 and the second applying process is performed. Yes (step S16).
  • the second coating step as shown in FIG. 17B, at least a part of the voids 34 around the quantum dot structure 16 may be filled with the second solution 40.
  • the second solution 40 includes a second solvent 42, an organic material 44, and a second inorganic precursor 46.
  • the second solvent 42 may be the same as the first solvent 32 or hexane.
  • the organic material 44 may be an organic material used for a conventionally known quantum dot ligand, or may be the same as the material for the ligand 18.
  • the second inorganic precursor 46 includes the same material as the third shell 38 described above. When the material of the third shell 38 is the same as the material of the second shell 26, the second inorganic precursor 46 is the same as the first inorganic precursor 30.
  • the second solution 42 on the array substrate 3 is subjected to a fifth light irradiation step of irradiating with ultraviolet light, fifth light irradiation, and heating the quantum dots 20 again (step S17).
  • the quantum dots 20 are heated until the quantum dots 20 reach the fourth temperature T4 or higher shown in FIG.
  • the fourth temperature T4 is the higher temperature of the melting point of the organic material 44 and the boiling point of the second solvent 42.
  • the temperature TC shown in FIG. 4 is the lower temperature of the melting point of the organic material 44 and the boiling point of the second solvent 42.
  • the fourth temperature T4 and the temperature TC are higher than the temperature T0.
  • the fourth temperature T4 may be the same as the first temperature T1 and the temperature TC may be the same as the temperature TA.
  • the ambient temperature of the quantum dot 20 follows the rise of the temperature of the quantum dot 20 with a slight delay until the temperature of the quantum dot 20 changes from the temperature T0 to the temperature TC.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 rises to the temperature TC and one of the melting of the organic material 44 and the evaporation of the second solvent 42 starts, the ambient temperature of the quantum dots 20 maintains the temperature TC for a while.
  • the ambient temperature of the quantum dots 20 starts to rise again. Then, when the ambient temperature of the quantum dots 20 rises to the fourth temperature T4 and the other one of the melting of the organic material 44 and the evaporation of the second solvent 42 starts, the ambient temperature of the quantum dots 20 is kept at the fourth temperature T4 for a while. To maintain.
  • the melting of the organic material 44 and the evaporation of the second solvent 42 are completed by the fifth light irradiation step.
  • the second solvent 42 is vaporized from above the array substrate 3 and, in the melted organic material 44, the surrounding of the quantum dot structure 16 is removed.
  • the second inorganic precursor 46 is dispersed in the void 34.
  • the scale of the second inorganic precursor 46 is changed only in FIG. 18A for the sake of illustration, the actual shape of the second inorganic precursor 46 before and after the first light irradiation step is May be immutable.
  • the sixth light irradiation step is performed in which the position where the second solution 42 is applied on the array substrate 3 is irradiated with the sixth light to heat the quantum dots 20 (step S18).
  • the sixth light irradiation step the sixth light irradiation is continued until the temperature of the quantum dots 20 reaches the fifth temperature T5 shown in FIG.
  • ultraviolet light may be irradiated similarly to the fifth light irradiation, and the ultraviolet light having a larger energy amount per unit time than the ultraviolet light irradiated in the fifth light irradiation may be irradiated. It may be irradiated. Further, the fifth light irradiation and the sixth light irradiation may be continuously performed.
  • the seventh light irradiation is performed, and the seventh light irradiation step of maintaining the temperature of the quantum dots 20 near the fifth temperature T5 is performed (step. S19).
  • the seventh light irradiation ultraviolet light may be irradiated similarly to the fifth light irradiation and the sixth light irradiation, and the amount of energy per unit time may be larger than that of the ultraviolet light irradiated in the sixth light irradiation. You may irradiate ultraviolet light with a small.
  • the seventh light irradiation step since the temperature of the quantum dots 20 is maintained at the fifth temperature T5, the ambient temperature of the quantum dots 20 after reaching the fifth temperature T5 is also maintained at the fifth temperature T5. It
  • the fifth temperature T5 is higher than the fourth temperature T4, and is the temperature for the second inorganic precursor 46 to grow epitaxially around the second shell 26 by a thermochemical reaction. Therefore, while the ambient temperature of the quantum dots 20 is maintained at the fifth temperature T5, the second inorganic precursor 46 is gradually epitaxially grown around the second shell 26. As a result, as shown in FIG. 18B, the third shell 38 is formed around the second shell 26 of each quantum dot structure 16.
  • the quantum dot structure 36 including the quantum dots 20, the second shell 26, and the third shell 38 is formed.
  • the void 34 is filled with the third shell 38, the melted organic material 44 is pushed out to the upper layer, so that the organic material 44 remains in the upper layer of the quantum dot structure 36.
  • the eighth light irradiation step is performed by further performing the eighth light irradiation and heating the quantum dots 20 so that the temperature of the quantum dots 20 becomes equal to or higher than the sixth temperature T6 (step S20).
  • ultraviolet light may be irradiated in the same manner as the fifth light irradiation, the sixth light irradiation, and the seventh light irradiation, and the unit of irradiation may be more than that of the light irradiated in the seventh light irradiation.
  • Light having a large amount of energy per time may be irradiated.
  • the sixth temperature T6 is higher than the fifth temperature T5 and corresponds to the boiling point of the organic material 44.
  • the evaporation of the organic material 44 starts, and the ambient temperature of the quantum dots 20 remains at the sixth temperature T6 for a while. maintain.
  • the organic material 44 is vaporized, and the organic material 44 is removed from the upper layer of the quantum dot structure 36 as shown in FIG. With the above, the light emitting layer forming step in the present embodiment is completed.
  • the third shell 38 is formed around the second shell 26. Further, the third shell 38 is formed so as to fill the void 34 around the quantum dot structure 16.
  • the quantum dot structure 36 has a higher volume ratio with respect to the entire volume of the light emitting layer 8 than the quantum dot structure 16 in the previous embodiment. That is, in the light emitting layer 8 in the present embodiment, the filling rate of the shell formed around the core 22 of the quantum dot 20 in the light emitting layer 8 is further improved. In other words, after the seventh light irradiation step is performed, the density of the inorganic substance with respect to the entire volume of the light emitting layer 8 is higher than that before the seventh light irradiation step is performed. Therefore, with the above configuration, the light emitting device 1 according to the present embodiment can further improve the reliability of the light emitting layer 8.
  • the fourth light irradiation step may be omitted and the cooling step and the subsequent steps may be sequentially performed. That is, the vaporization of the ligand 18 and the vaporization of the organic material 44 may be collectively performed in the eighth light irradiation step. As a result, the number of light irradiation steps is reduced, which leads to a reduction in tact time and a reduction in manufacturing cost.
  • the fourth temperature T4 is the same as the first temperature T1
  • the fifth temperature T5 is the same as the second temperature T2
  • the sixth temperature T6 is the third temperature.
  • the light emitting layer forming process when the temperature is the same as T3 has been described.
  • the first solvent 32 and the second solvent 42 are the same
  • the material of the ligand 18 and the organic material 44 are the same
  • the first inorganic substance precursor 30 and the second inorganic substance precursor are the same. It can be easily realized by making 46 the same.
  • the temperatures serving as the heating reference in each light irradiation step can be made uniform between the first light irradiation step to the fourth light irradiation step and the fifth light irradiation step to the eighth light irradiation step. .. Therefore, the above configuration leads to simplification of the entire light emitting layer forming process.
  • the quantum dot layer including the quantum dots 20 is the light emitting layer 8
  • the present invention is not limited to this, and for example, the first charge transport layer 6 or the second charge transport layer 10 may be a quantum dot layer including the quantum dots 20.
  • the quantum dot 20 may be provided with a function of transporting carriers.
  • the stability of the quantum dots 20 in each charge transport layer is improved as compared with the conventional charge transport layer including quantum dots, so that the carrier transport efficiency of each charge transport layer is improved, and as a result, light emission is achieved. This leads to an improvement in the luminous efficiency of the device 1.
  • Each charge transport layer including the quantum dots 20 described above can also be formed by the same method as the quantum dot layer forming step in each embodiment.
  • the configuration of the light emitting device 1 is described by exemplifying a display device including a plurality of light emitting elements and having the display surface DS.
  • the light emitting device 1 according to each of the above-described embodiments is not limited to this, and may be a light emitting device including a single light emitting element.

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

発光デバイス(1)は、第1電極(4)と、第2電極(12)と、前記第1電極および前記第2電極の間の量子ドット層(8)とを含む発光素子(2R・2G・2B)を基板(3)上に備える。前記量子ドット層は、コア(22)および該コアを被膜する第1シェル(24)を備えた量子ドット(20)と、前記第1シェルを被膜する第2シェル(26)とを備えた量子ドット構造体(16)を備える。前記第1シェルと前記第2シェルとは結晶構造を有し、少なくとも一組の互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルの結晶構造により接続している。前記量子ドット層の形成工程は、リガンド(18)を溶融させ、かつ、第1溶媒を気化させる第1光照射工程と、前記第1光照射工程に次いで、前記量子ドットの温度を上昇させる第2光照射工程と、前記第2光照射工程に次いで、前記第1シェルの周囲に前記第2シェルを形成する第3光照射工程とを備える。

Description

発光デバイスの製造方法
 本発明は、量子ドットを含む発光素子を備えた発光デバイスの製造方法に関する。
 特許文献1は、コア/シェル構造を備えた半導体ナノ粒子(量子ドット)と、当該半導体ナノ粒子に配位する配位子とを開示している。
日本国公開特許公報「特開2017-25220号」
種村正美、"ランダム充填について(形の物理学,研究会報告)"、物性研究(1984),42(1):76-77
 発明者は、特許文献1に開示されているような従来の量子ドットを、単に積層した量子ドット層を備えた発光デバイスよりも、より当該発光デバイスの発光効率を改善する手法を見出した。
 上記課題を解決するために、本発明の発光デバイスの製造方法は、第1電極と、第2電極と、前記第1電極および前記第2電極の間の量子ドット層とを含む発光素子を基板上に備えた発光デバイスの製造方法であって、前記量子ドット層を形成する量子ドット層形成工程を備え、前記量子ドット層形成工程は、コアと、該コアを被膜する第1シェルとを備えた複数の量子ドットと、該量子ドットのそれぞれと配位結合するリガンドと、第1無機物前駆体と、第1溶媒とを含む第1溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第1塗布工程と、前記第1塗布工程に次いで、前記第1溶液が塗布された前記位置に、前記基板の上方から第1光照射を行い、前記リガンドを溶融させ、かつ、前記第1溶媒を気化させる第1光照射工程と、前記第1光照射工程に次いで、第2光照射を行い、前記量子ドットの温度を上昇させる第2光照射工程と、前記第2光照射工程に次いで、第3光照射を行い、前記第1無機物前駆体を、前記第1シェルの周囲にエピタキシャル成長させて、前記第1シェルを被膜する第2シェルを形成する第3光照射工程と、を備え、前記第3光照射工程において、少なくとも一組の互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルを介して接続する。
 上記構成により、量子ドットを備えた発光デバイスにおいて、より発光効率を改善できる。
本発明の実施形態1に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の実施形態1に係る発光デバイスの製造方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程を説明するための工程断面図である。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程を説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程における、フォトマスクを使用した光照射について説明するための工程断面図である。 本発明の実施形態1に係る発光層の形成工程における、フォトマスクを使用した光照射について説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態2に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の実施形態3に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の実施形態3に係る発光層の形成方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態3に係る発光層の形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。 本発明の実施形態3に係る発光層の形成工程を説明するための工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光デバイスの概略上面図および概略断面図、ならびに当該発光デバイスの発光層周辺の概略拡大図である。 本発明の実施形態4に係る発光デバイスの製造方法を説明するためのフローチャートである。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程を説明するための工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程を説明するための他の工程断面図である。 本発明の実施形態4に係る発光層の形成工程を説明するための他の工程断面図である。
 〔実施形態1〕
 図1の(a)は、本実施形態に係る発光デバイス1の概略上面図である。図1の(b)は、図1の(a)における、A-A線矢視断面図である。図1の(c)は、図1の(b)における、領域Bにおける拡大断面図、すなわち、後述する第2発光層8Gの周辺における拡大断面図である。
 図1の(a)に示すように、本実施形態に係る発光デバイス1は、発光が取り出される発光面DSと、当該発光面DSの周囲を囲う額縁領域NAとを備える。額縁領域NAにおいては、後に詳述する発光デバイス1の発光素子を駆動するための信号が入力される端子Tが形成されていてもよい。
 平面視において発光面DSと重畳する位置において、図1の(b)に示すように、本実施形態に係る発光デバイス1は、発光素子層2とアレイ基板3とを備える。発光デバイス1は、図示しないTFT(Thin Film Transistor)が形成されたアレイ基板3上に、発光素子層2の各層が積層された構造を備える。なお、本明細書においては、発光デバイス1の発光素子層2からアレイ基板3への方向を「下方向」、発光デバイス1の発光素子層2から発光面DSへの方向を「上方向」として記載する。
 発光素子層2は、第1電極4上に、第1電荷輸送層6と、量子ドット層である発光層8と、第2電荷輸送層10と、第2電極12とを、下層から順次積層して備える。アレイ基板3の上層に形成された発光素子層2の第1電極4は、アレイ基板3のTFTと電気的に接続されている。本実施形態において、例えば、第1電極4は陽極であり、第2電極12は陰極である。
 本実施形態において、発光素子層2は、第1発光素子2Rと、第2発光素子2Gと、第3発光素子2Bとを備える。第1発光素子2Rと、第2発光素子2Gと、第3発光素子2Bとは、発光層8に、半導体ナノ粒子材料、すなわち、量子ドット材料を備えた、QLED素子である。
 ここで、第1電極4、第1電荷輸送層6、および発光層8のそれぞれは、エッジカバー14によって分離されている。特に、本実施形態においては、第1電極4は、エッジカバー14によって、第1発光素子2R用の第1電極4R、第2発光素子2G用の第1電極4G、および第3発光素子2B用の第1電極4Bに分離されている。また、第1電荷輸送層6は、エッジカバー14によって、第1発光素子2R用の第1電荷輸送層6R、第2発光素子2G用の第1電荷輸送層6G、および第3発光素子2B用の第1電荷輸送層6Bに分離されている。さらに、発光層8は、エッジカバー14によって、第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bに分離されている。
 なお、第2電荷輸送層10と、第2電極12とは、エッジカバー14によって分離されず、共通して形成されている。エッジカバー14は、図1の(b)に示すように、第1電極4の側面と上面の周囲端部付近とを覆う位置に形成されていてもよい。
 本実施形態において、第1発光素子2Rは、第1電極4R、第1電荷輸送層6Rと、第1発光層8Rと、第2電荷輸送層10と、第2電極12とからなる。また、第2発光素子2Gは、第1電極4Gと、第1電荷輸送層6Gと、第2発光層8Gと、第2電荷輸送層10と、第2電極12とからなる。さらに、第3発光素子2Bは、第1電極4Bと、第1電荷輸送層6Bと、第3発光層8Bと、第2電荷輸送層10と、第2電極12とからなる。
 本実施形態においては、第1発光層8Rと、第2発光層8Gと、第3発光層8Bとは、それぞれ、第1の色の光である赤色光と、第2の色の光である緑色光と、第3の色の光である青色光とを発する。すなわち、第1発光素子2Rと、第2発光素子2Gと、第3発光素子2Bとは、それぞれ、互いに異なる色の光である、赤色光と、緑色光と、青色光とを発する発光素子である。
 ここで、青色光とは、例えば、400nm以上500nm以下の波長帯域に発光中心波長を有する光である。また、緑色光とは、例えば、500nm超600nm以下の波長帯域に発光中心波長を有する光のことである。また、赤色光とは、例えば、600nm超780nm以下の波長帯域に発光中心波長を有する光のことである。
 第1電極4および第2電極12は導電性材料を含み、それぞれ、第1電荷輸送層6および第2電荷輸送層10と電気的に接続されている。第1電極4と第2電極12とのうち、発光面DSに近い電極は透明電極である。
 特に、本実施形態において、アレイ基板3は透明基板であり、第1電極4は透明電極である。また、第2電極12は反射電極であってもよい。このため、発光層8からの光は、第1電荷輸送層6、第1電極4、およびアレイ基板3を透過して、発光面DSから発光デバイス1の外部に出射される。このため、発光デバイス1は、ボトムエミッション型の発光デバイスとして構成されている。発光層8から上方向に発せられた光、および下方向に発せられた光の両方を、発光デバイス1からの発光として利用可能であるため、発光デバイス1は、発光層8から発せられた光の利用効率を向上させることができる。
 なお、上述した第1電極4と第2電極12との構成は一例であり、別の材料によって構成されていてもよい。
 第1電荷輸送層6は、第1電極4からの電荷を発光層8へと輸送する層である。第1電荷輸送層6は、第2電極12からの電荷の輸送を阻害する機能を有していてもよい。本実施形態においては、第1電荷輸送層6は、陽極である第1電極4からの正孔を発光層8へと輸送する正孔輸送層であってもよい。
 第2電荷輸送層10は、第2電極12からの電荷を発光層8へと輸送する層である。第2電荷輸送層10は、第1電極4からの電荷の輸送を阻害する機能を有していてもよい。本実施形態においては、第2電荷輸送層10は、陰極である第2電極12からの電子を発光層8へと輸送する電子輸送層であってもよい。
 次に、発光層8の構成について、図1の(c)を参照して詳細に説明する。なお、図1の(c)は、図1の(b)の領域B、すなわち、第2発光素子2Gの第2発光層8Gの周囲における概略断面図を示す。しかしながら、本実施形態においては、特に断りのない限り、図1の(c)に示す各部材は、各発光素子において共通の構成であるとみなして示している。したがって、本実施形態においては、特に断りのない限り、図1の(c)に示す各部材は、各発光素子において同一の構成であってもよい。
 本実施形態において、発光層8は、量子ドット構造体16とリガンド18とを備える。量子ドット構造体16は、複数の量子ドット20を備える。量子ドット20は、コア22と該コア22の周囲を被膜する第1シェル24とを含む、コア/シェル構造を備えている。また、量子ドット構造体16は、第2シェル26を備える。第2シェル26は、量子ドット20のそれぞれの外殻である第1シェル24の周囲を被膜する。
 なお、量子ドット20は、コア22の周囲に複数のシェルを備えた、マルチシェル構造を備えていてもよい。この場合、第1シェル24は、上記複数のシェルのうち、最外層にあたるシェルを指す。
 リガンド18は、第2シェル26の外表面において、量子ドット構造体16と配位結合し、量子ドット構造体16の空隙を充填していてもよい。リガンド18は、例えば、TOPO(trioctylphosphine oxide)であってもよい。
 ここで、量子ドット20のうち、少なくとも一組の互いに隣接する量子ドット20同士は、第2シェル26を介して接続している。また、第1シェル24と第2シェル26とは、結晶構造を有し、特に、本実施形態においては、第2シェル26は、第1シェル24上にエピタキシャル成長することにより形成された結晶構造を備える。したがって、上述した互いに隣接する量子ドット20同士は、第2シェル26の結晶構造により接続している。なお、本実施形態においては、同一の発光素子内における全ての量子ドット20同士が、第2シェル26の結晶構造により接続し、一体の量子ドット構造体16を形成していてもよい。また、第1シェル24と第2シェル26とは、多結晶であってもよい。
 量子ドット20のコア22および第1シェル24は、公知のコア/シェル構造の量子ドットに用いられる無機の材料を備えていてもよい。すなわち、第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bは、それぞれ、赤色、緑色、および青色のQLED素子の発光層に使用される、公知の量子ドット材料を備えていてもよい。
 また、第2シェル26は、第1シェル24と同様に、公知のコア/シェル構造の量子ドットに用いられる、無機のシェル材料を備えていてもよい。また、第1シェル24と第2シェル26とは、同一材料からなっていてもよい。なお、第2シェル26の比抵抗は、第1シェル24の比抵抗以上であることが好ましい。また、第2シェル26のバンドギャップの大きさは、第1シェル24のバンドギャップの大きさ以上であることが好ましい。当該構成により、第2シェル26から第1シェル24への電荷注入の効率が向上する。
 コア22の具体的な材料としては、例えば、CdSe(バンドギャップ1.73eV)、CdTe(バンドギャップ1.44eV)、ZnTe(バンドギャップ2.25eV)、またはCdS(バンドギャップ2.42eV)等のII-VI族半導体が挙げられる。他に、コア22の具体的な材料としては、例えば、InP(バンドギャップ1.35eV)、またはInGaP(バンドギャップ1.88eV)などのIII-V族が挙げられる。
 一般に、量子ドットの発する波長はコアの粒径によって決定される。ゆえに、コア22の粒径の制御によって、コア22が発する光を、赤色、緑色、および青色の何れかに制御できるように、適切なバンドギャップを有する半導体材料を、コア22の材料として採用することが好ましい。
 赤色発光層である第1発光層8Rが630nmの波長の赤色光を発するために、第1発光層8Rが含むコア22の材料のバンドギャップは、1.97eV以下であることが好ましい。また、緑色発光層である第2発光層8Gが532nmの波長の緑色光を発するために、第2発光層8Gが含むコア22の材料のバンドギャップは、2.33eV以下であることが好ましい。さらに、青色発光層である第3発光層8Bが630nmの波長の青色光を発するために、第3発光層8Bが含むコア22の材料のバンドギャップは、2.66eV以下であることが好ましい。上述した第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bを備えた発光デバイス1は、UHDTVの国際規格BT2020における色空間の基準を満たす点において好ましい。
 第1シェル24および第2シェル26の具体的な材料としては、例えば、ZnSe(バンドギャップ2.7eV)、またはZnS(バンドギャップ3.6eV)等のII-VI族、あるいは、GaP(バンドギャップ2.26eV)等のIII-V族が挙げられる。
 コア22の材料は、第1シェル24および第2シェル26の材料と比較して、比抵抗が低く、バンドギャップが小さいことが好ましい。当該構成により、第1シェル24および第2シェル26からコア22への電荷注入の効率が向上する。
 なお、本実施形態において、第1シェル24の、コア22の外表面からの平均膜厚は、第2シェル26の最小膜厚よりも小さい。ここで、第2シェル26の最小膜厚とは、第2シェル26を介して互いに接続している2つの量子ドット20の間における第2シェル26の膜厚、あるいは、第1シェル24から第2シェル26の外表面までの膜厚のうち最も小さい膜厚を指す。
 ここで、図1の(c)に示すように、ある量子ドット20のコア22から、隣接する他の量子ドット20のコア22までの最短距離をdとおく。例えば、コア22がInP、第1シェル24および第2シェル26がZnSである場合、距離dの平均値は3nm以上であることが好ましい。また、例えば、コア22がCdSe、第1シェル24および第2シェル26がZnSである場合、距離dの平均値は1nm以上であることが好ましい。当該構成によれば、電子波動関数から導き出される、コア22からの電子の染み出しを、第1シェル24および第2シェル26によって効率的に低減できる。
 本実施形態において、量子ドット20は、自身が発する光の波長よりも短波長の光を吸収する。特に、量子ドット20は、紫外光を吸収する。さらに、量子ドット20は、光を吸収する際に発熱する。
 次に、本実施形態に係る発光デバイス1の製造方法について、図2を参照して説明する。図2は、本実施形態に係る発光デバイス1の製造方法について説明するためのフローチャートである。
 はじめに、アレイ基板を形成する(ステップS1)。アレイ基板の形成は、基板に対し、サブ画素の位置に合せて、複数のTFTを形成することにより実行されてもよい。
 次いで、第1電極4を形成する(ステップS2)。ステップS2において、例えば、ITO等の導電性を有する透明電極材料を、スパッタにより成膜した後、サブ画素の形状に合わせてパターニングすることにより、第1電極4をサブ画素ごとに形成してもよい。あるいは、透明電極材料を、蒸着マスクを使用し蒸着することにより、第1電極をサブ画素ごとに形成してもよい。
 次いで、エッジカバー14を形成する(ステップS3)。エッジカバー14は、アレイ基板3および第1電極4上に塗布された後、隣接する第1電極4同士の間において、当該第1電極4の側面および周囲端部を覆う位置を残してパターニングされることにより得られてもよい。エッジカバー14のパターニングは、フォトリソグラフィによって行われてもよい。
 次いで、第1電荷輸送層6を形成する(ステップS4)。第1電荷輸送層6は、インクジェット方式による塗り分け、マスクを使用した蒸着、またはフォトリソグラフィを使用したパターニングによって、サブ画素ごとに形成されてもよい。
 次いで、発光層8を形成する(ステップS5)。発光層8の形成工程について、図3から図6を参照して、より詳細に説明する。
 図3は、本実施形態における量子ドット層形成工程にあたる、発光層形成工程について説明するためのフローチャートである。
 図4は、当該発光層形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。図4において、横軸は、発光層形成工程の経過時間、縦軸は温度を表している。図4における実線は、アレイ基板3上の量子ドット20の温度を示し、破線は、当該量子ドット20の周囲の温度を示している。
 図5および図6は、当該発光層形成工程を説明するための工程断面図である。以降、図5および図6を含む、本明細書における工程断面図は、特に断りのない限り、図1の(b)の領域B、すなわち、第2発光素子2Gの第2発光層8Gの周囲に対応する位置における工程断面図を示す。しかしながら、本明細書における工程断面図を参照して説明する手法は、特に断りのない限り、他の発光素子の発光層8の形成方法に適用してもよい。
 発光層形成工程までにおいて、図5の(a)に示すように、第1電荷輸送層6までが、アレイ基板3上に形成されている。発光層形成工程において、はじめに、図5の(b)に示す第1溶液28をアレイ基板3と重畳する位置に塗布する、第1塗布工程を実施する(ステップS10)。
 第1溶液28は、図5の(b)に示すように、リガンド18が配位した複数の量子ドット20と、第1無機物前駆体30とが、第1溶媒32中に分散した溶液である。第1溶媒32は、例えば、ヘキサンであってもよい。第1無機物前駆体30は、前述した第2シェル26と同じ材料を含む。第1無機物前駆体30は、例えば、塩化亜鉛および1-ドデカンチオールを含んでいてもよい。
 第1塗布工程は、図4に示す、温度T0の雰囲気温度下において行う。第1溶液28の塗布が、温度T0の雰囲気温度下において実施されるために、図4に示すように、塗布される第1溶液28中の量子ドット20の温度および量子ドット20の周囲温度についても、温度T0となる。温度T0は、例えば、常温であってもよい。
 次いで、アレイ基板3上の第1溶液28に対し、紫外線等の光を照射する、第1光照射を行い、量子ドット20を加熱する、第1光照射工程を実施する(ステップS11)。第1光照射工程においては、量子ドット20を、量子ドット20が図4に示す第1温度T1以上となるまで加熱する。
 第1温度T1は、リガンド18の融点と、第1溶媒32の沸点とのうちの、高い温度である。なお、図4に示す温度TAは、リガンド18の融点と、第1溶媒32の沸点とのうちの、低い温度である。また、第1温度T1および温度TAは、温度T0より高い。
 ここで、TOPOの融点は摂氏50度から摂氏54度であり、ヘキサンの沸点は摂氏68.5度から摂氏69.1度である。したがって、リガンド18がTOPOであり、第1溶媒がヘキサンである場合、温度TAはTOPOの融点であり、第1温度T1はヘキサンの沸点である。
 量子ドット20の温度が、温度T0から温度TAになるまでは、図4に示すように、量子ドット20の周囲温度は、量子ドット20の温度の上昇にわずかに遅れて追従する。しかしながら、量子ドット20の周囲温度が温度TAまで上昇し、リガンド18の溶融または第1溶媒32の蒸発のうちの一方が開始すると、量子ドット20の周囲温度は、しばらく温度TAを維持する。
 さらに第1光照射を進めることにより、リガンド18の溶融または第1溶媒32の蒸発のうちの一方が終了し、再び量子ドット20の周囲温度が上昇し始める。次いで、量子ドット20の周囲温度が第1温度T1まで上昇し、リガンド18の溶融または第1溶媒32の蒸発のうちの他方が開始すると、量子ドット20の周囲温度は、しばらく第1温度T1を維持する。
 これにより、第1光照射工程によって、リガンド18の溶融および第1溶媒32の蒸発が完了する。第1温度T1が第1溶媒32の沸点である場合、第1光照射工程において、リガンド18が溶融した後に、第1溶媒32が気化する。一方、第1温度T1がリガンド18の融点である場合、第1光照射工程において、第1溶媒32が気化した後に、リガンド18が溶融する。
 ここで、リガンド18の溶融が第1溶媒32の気化よりも早い場合、第1溶媒32の気化の直後において、第1電荷輸送層6の上層においては、固体のリガンド18が周囲に付着した量子ドット20の集合体が形成される。当該集合体は膜として不安定であるため、無機物前駆体30の存在が困難となる場合がある。したがって、第1光照射工程において、量子ドット20と無機物前駆体30とを含む、安定した膜を形成する観点から、リガンド18の溶融の後に、第1溶媒32が気化することが好ましい。
 第1光照射工程の完了後、図6の(a)に示すように、アレイ基板3上から第1溶媒32が気化し、溶融したリガンド18中においては、量子ドット20と無機物前駆体30とが分散している。
 次いで、アレイ基板3上の第1溶液28を塗布した位置に対し、第2光照射を行い、量子ドット20を加熱する、第2光照射工程を実施する(ステップS12)。第2光照射工程においては、第2光照射を、量子ドット20の温度が、図4に示す第2温度T2になるまで継続する。第2光照射においては、第1光照射と同様に、紫外光を照射してもよく、また、第1光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を照射してもよい。さらに、第1光照射と第2光照射とは、連続して実施してもよい。
 次いで、量子ドット20の温度が第2温度T2に到達した時点から、第3光照射を行い、量子ドット20の温度を第2温度T2付近に維持する、第3光照射工程を実施する(ステップS12)。第3光照射においては、第1光照射および第2光照射と同様に、紫外光を照射してもよく、また、第2光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が小さい光を照射してもよい。第3光照射工程においては、量子ドット20の温度が第2温度T2に維持されているために、第2温度T2に到達後の量子ドット20の周囲温度についても、第2温度T2に維持される。
 なお、本実施形態における各光照射工程において、量子ドット20の発熱とアレイ基板3の周囲環境への放熱との収支が釣り合う場合には、量子ドット20の周囲の温度が、ある温度において略一定となる。ここで、量子ドット20の発熱とアレイ基板3の周囲環境への放熱との収支が釣り合う温度が第2温度T2となるように、各光照射の照射エネルギーを調節してもよい。またこれにより、第1光照射、第2光照射、および第3光照射のそれぞれにおいて照射される光の強度の条件を同一としてもよい。
 第2温度T2は、第1温度T1より高く、第1無機物前駆体30が、熱化学反応により、第1シェル24の周囲にエピタキシャル成長するための温度である。このため、量子ドット20の周囲温度が第2温度T2に維持されている間、第1シェル24の周囲に、第1無機物前駆体30が、次第にエピタキシャル成長する。これにより、図6の(b)に示すように、それぞれの量子ドット20の第1シェル24の周囲に、第2シェル26が形成される。第1無機物前駆体30が、前述した、塩化亜鉛および1-ドデカンチオールを含む場合、第2温度T2は約摂氏200度である。
 第2シェル26は、それぞれの量子ドット20の周囲に、第1シェル24の外表面から、次第に膜厚が大きくなるように形成される。ここで、互いに隣接する2つの量子ドット20において形成される第2シェル26の膜厚の合計が、当該量子ドット20の第1シェル24間の距離よりも大きくなった位置において、当該2つの量子ドット20が、第2シェル26を介して接続する。本実施形態においては、少なくとも一組の互いに隣接する量子ドット20同士が、第2シェル26を介して接続するまで、第3光照射工程が実施される。
 以上により、図6の(b)に示すように、量子ドット20と第2シェル26とを備えた量子ドット構造体16が形成される。この後、アレイ基板3に対する光照射を停止し、冷却させることにより、溶融したリガンド18が再び固化する。これにより、図6の(b)に示す、量子ドット構造体16とリガンド18とを備えた発光層8が得られる。
 なお、本実施形態においては、第2発光層8Gの周囲における拡大断面図を参照して、発光層8の形成工程を説明した。しかしながら、第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bのそれぞれの形成方法における差異は、第1溶液28に含まれる材料の差異のみである。すなわち、形成される発光層8の発光色に関わらず、第1塗布工程、第1光照射工程、第2光照射工程、および第3光照射工程は、同一の手法によって実現してもよい。
 ここで、第1塗布工程において、対応する発光素子の発光色ごとに、第1溶液28中の材料を変更し、インクジェット法によって第1溶液28を塗り分けてもよい。具体的には、発光素子ごとに形成された第1電極4のそれぞれと重畳する位置に、第1溶液28をインクジェット法により個別に塗布してもよい。次いで、上述した第1光照射工程、第2光照射工程、および第3光照射工程を実施してもよい。これにより、互いに異なる発光色の発光素子を、連続した一度の光照射によって形成することができる。
 なお、第1塗布工程において塗布される第1溶液28における、第1無機物前駆体30の濃度は、対応する発光素子の発光色に応じて異なっていてもよい。特に、第2発光素子2Gに対応する位置に塗布された第1溶液28における、第1無機物前駆体30の濃度は、第1発光素子2Rに対応する位置に塗布された第1溶液28における、第1無機物前駆体30の濃度よりも低いことが好ましい。さらに、第2発光素子2Gに対応する位置に塗布された第1溶液28における、第1無機物前駆体30の濃度は、第3発光素子2Bに対応する位置に塗布された第1溶液28における、第1無機物前駆体30の濃度よりも高いことが好ましい。
 量子ドット20の周囲に第2シェル26をエピタキシャル成長させる工程において、光照射量が同一である場合、量子ドット20の粒径が大きいほど、同じ膜厚の第2シェル26を形成するために必要な第1無機物前駆体30の量が多くなる。また、一般に、量子ドット20の発する光の波長が長いほど、コア22の粒径、ひいては量子ドット20の粒径は大きくなる。
 したがって、上記構成のように、対応する発光素子の発する光の波長が長いほど、第1溶液28における第1無機物前駆体30の濃度を高めることにより、各発光層の形成条件を近づけることができる。このため、互いに粒径が異なる量子ドット20間において、第2シェル26の膜厚のばらつきを抑制できる。
 また、発光層形成工程においては、第1塗布工程において、第1電極4と重畳する位置に第1溶液28を塗布した後、第1光照射と、第2光照射と、第3光照射とのそれぞれにおいて、レーザー照射による部分露光を行ってもよい。この後、部分露光を行った位置と異なる位置と重畳する位置から、第1溶液28を除去する除去工程を行ってもよい。これにより、レーザー照射により部分露光された位置のみに、発光層8を形成することができる。
 さらに、発光層形成工程においては、第1塗布工程において、第1電極4と重畳する位置に第1溶液28を塗布した後、第1光照射と、第2光照射と、第3光照射とのそれぞれにおいて、フォトマスクを使用した部分露光を行ってもよい。フォトマスクを使用した部分露光により、発光層8を形成する方法について、図7および図8を参照して、より詳細に説明する。
 図7および図8は、発光層形成工程において、フォトマスクを使用した部分露光により、発光層8を形成する手法を説明するための工程断面図である。なお、図7および図8は、第2発光層8Gが形成される位置のみならず、第1発光層8Rおよび第3発光層8Bが形成される位置においても図示している。
 図7の(a)に示すように、発光層形成工程の実施直前においては、アレイ基板3上に、エッジカバー14によって分断された、第1電極4および第1電荷輸送層6が形成されている。ここでは、第1塗布工程と第1光照射工程との間において、図7の(b)に示すフォトマスクMの設置を行う。
 フォトマスクMは、各光照射工程において照射される光を遮蔽する機能を備える。フォトマスクMは、アレイ基板3の上方に設置された際に、第1電極4Gと重畳する位置においてのみ、開口が形成されるように、当該開口が形成されている。すなわち、図7の(b)に示すように、アレイ基板3の上方にフォトマスクMを設置した場合、第1電極4Gと重畳しない位置における第1溶液28の上方が、フォトマスクMによって遮蔽される。
 フォトマスクMを設置した後に、第1光照射工程から第3光照射工程を実施することにより、図7の(c)に示すように、第1電極4Gと重畳する位置における第1溶液28にのみ、光照射が実施される。このため、第1光照射工程から第3光照射工程においては、第1電極4Gと重畳する位置においてのみ、量子ドット20の加熱が実施される。したがって、図8の(a)に示すように、第1電極4Gと重畳する位置のみに、第2発光層8Gが形成される。
 次いで、フォトマスクMをアレイ基板3の上方から除去した後、図8の(b)に示すように、光照射を行った位置とは異なる位置と重畳する位置における第1溶液28を除去する除去工程を実施する。これにより、第2発光層8Gの形成工程が完了する。
 なお、発光層形成工程において、上述したレーザー照射またはフォトマスクを使用した部分露光を、各光照射の手法として採用した場合、上述した第1塗布工程から除去工程までを、対応する発光素子の発光色に応じて繰り返し実施してもよい。例えば、図8の(b)に示す第2発光層8Gの形成後、第1発光層8Rおよび第3発光層8Bの形成のために、第1塗布工程から除去工程までを、残り2回ずつ、計3回実施してもよい。
 ここで、形成する発光層8の種類に応じて、第1塗布工程において塗布する溶液の種類を変更し、かつ、アレイ基板3の上方に設置するフォトマスクMについても変更を行う。具体的には、各光照射工程において、形成する発光層8の位置と重畳する位置においてのみ、光照射が実施されるように、発光層8の種類に応じて、フォトマスクMの開口の位置を変更する。
 以上により、図8の(c)に示す、第1発光層8R、第2発光層8G、および第3発光層8Bを備えた発光層8が形成される。
 なお、本実施形態においては、エッジカバー14によって発光素子ごとに分断された発光層8の形成を行う手法について説明した。しかしながら、レーザー照射またはフォトマスクを使用した部分露光を、各光照射に採用した場合、第1電極4のそれぞれに重畳する位置に対し、個別に光照射を実施することが可能である。このために、エッジカバー14によって発光層8を分断しない場合であっても、各発光素子に対応した発光層8を個別に形成することができる。したがって、各光照射において部分露光を採用する場合、エッジカバー14の高さは第1電極4のエッジを覆う高さまであればよい。
 なお、本実施形態においては、上記発光層形成工程において、赤色光を発する第1発光素子と、緑色光を発する第2発光素子と、青色光を発する第3発光素子とのそれぞれにおける発光層8を形成する方法を説明した。しかしながら、上記発光層形成工程においては、発光素子の一部が、他の発光素子の一部と異なる種類の発光層8を備えた場合における発光層8の形成工程に適用できる。
 本実施形態において、第1発光素子2Rと、第2発光素子2Gと、第3発光素子2Bとのそれぞれに対応する位置に対する、第3光照射を実施する時間は、発光素子の発光色によって異なっていてもよい。特に、第2発光素子2Gに対応する位置に対する第3光照射の照射時間は、第1発光素子2Rに対応する位置に対する第3光照射の照射時間よりも短いことが好ましい。さらに、第2発光素子2Gに対応する位置に対する第3光照射の照射時間は、第3発光素子2Bに対応する位置に対する第3光照射の照射時間よりも長いことが好ましい。
 第1塗布工程において、インクジェット法により第1溶液28を塗り分け、全塗布領域に光照射を行う場合、第3光照射工程の途中において、フォトマスクをアレイ基板3の上方に設置し、光照射を再開してもよい。これにより、第3光照射の照射時間を、発光素子の発光色に応じて異ならせることが可能である。また、上述した部分露光を行う場合には、各部分露光において、第3光照射の照射時間を異ならせてもよい。
 量子ドット20の周囲に第2シェル26をエピタキシャル成長させる工程において、量子ドット20の粒径が大きいほど、第2シェル26の成長速度は遅くなる。すなわち、量子ドット20の周囲に、同じ膜厚の第2シェル26を形成する場合、量子ドット20の粒径が大きいほど、必要な第3光照射の時間が長くなる。
 したがって、上記構成のように、対応する発光素子の発光色に応じて、光照射の時間を異ならせることにより、複数の発光素子の間において、各発光層の形成条件を近づけることができる。このため、互いに粒径が異なる量子ドット20間において、第2シェル26の膜厚のばらつきを抑制できる。
 発光層形成工程に次いで、第2電荷輸送層10を形成する(ステップS6)。第2電荷輸送層10は、全てのサブ画素に共通して、スピンコート等により塗布形成されてもよい。
 最後に第2電極12を形成する(ステップS7)。第2電極12は、全てのサブ画素に共通して、蒸着等により成膜されてもよい。以上により、発光素子層2がアレイ基板3上に形成され、図1に示す発光デバイス1が得られる。
 本実施形態における発光デバイス1の製造方法においては、コア/シェル構造を有する量子ドット20を塗布した後に、それぞれの量子ドット20の第1シェル24の周囲に、第2シェル26をエピタキシャル成長させている。このため、単にコア/シェル構造を有する量子ドット20を積層させた場合と比較して、それぞれの量子ドット20におけるシェルの膜厚を厚くすることができる。
 例えば、コア/シェル構造を備えた量子ドットにおいて、当該量子ドットのコアに注入された電子の染み出しを低減するためには、シェルの膜厚を厚くすることが考えられる。しかしながら、シェルの膜厚が厚い量子ドットを積層して量子ドットを形成した場合、発光層の体積に対する、量子ドットの充填率が低くなる。このため、発光層において十分な量子ドットの密度を実現することが困難となり、発光素子の発光効率の低減につながる。
 本実施形態における発光デバイス1の製造方法においては、薄い第1シェル24を備えた量子ドット20を塗布した後に、第2シェル26をそれぞれの量子ドット20に形成する。本実施形態における発光層8において、コア22の周囲に形成されるシェルの膜厚は、第1シェル24および第2シェル26の合計膜厚とみなすことができる。
 これにより、同じ膜厚のシェルを備えた量子ドットを単に積層する場合と比較して、発光層8における量子ドット20の密度を向上させることができる。このため、量子ドット20からの電子の染み出しを低減しつつ、発光層8における量子ドット20の密度を向上させるため、発光デバイス1の発光効率の改善につながる。
 また、本実施形態においては、少なくとも1組の量子ドット20が、第2シェル26を介して接続しているため、当該1組の量子ドット20においては、第2シェル26の外表面の面積が、接続していない場合と比較して小さくなる。すなわち、本実施形態においては、量子ドットを単に積層する場合と比較して、量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくできる。
 量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくすることにより、外部から水分が侵入し得る、第2シェル26の表面の面積を小さくできる。このため、当該構成により、水分侵入による第2シェル26へのダメージ、ひいては、当該ダメージによる第2シェル26の量子ドット20の表面保護機能の低下を低減できる。
 また、量子ドット構造体16の外表面にリガンド18が配位する場合、当該外表面の面積を小さくすることにより、水分侵入によりダメージを受け得るリガンド18を低減できる。したがって、当該ダメージにより、リガンド18による第2シェル26の保護機能が失われることによる、第2シェル26へのダメージを低減することができる。
 さらに、量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくすることにより、発光デバイス1の駆動時にダメージを受け得る第2シェル26の表面積を小さくできる。このため、当該構成により、発光デバイス1の駆動に伴う第2シェル26のダメージ、ひいては、当該ダメージによる、第2シェル26における欠陥の形成を低減できる。このため、量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくすることにより、当該欠陥において電子と正孔との再結合が発生することに起因する、非発光過程の発生、ひいては、発光デバイス1の発光効率の低下が低減される。
 以上のように、量子ドット構造体16の外表面の面積が小さいことにより、ダメージを受け得る量子ドット構造体16の外表面の面積を低減し、量子ドット構造体16のダメージによる量子ドット20の失活を低減できる。
 ここで、非特許文献1によれば、剛体の球の充填における、ランダム最密充填率の平均値は、おおよそ63.66パーセントである。したがって、本実施形態において、発光層8における量子ドット構造体16の体積の割合は、63.7パーセント以上であることが好ましい。上記構成であれば、第1シェル24と第2シェル26との合計膜厚と等しい膜厚のシェルを備えた量子ドットをランダムに積層した場合と比較して、発光層8における量子ドット20の密度を向上させることができる。また、上記構成であれば、量子ドットをランダムに積層した場合と比較して、より効率よく、量子ドット構造体16の外表面の面積を低減できる。
 本実施形態において、第1シェル24の、コア22の外表面からの平均膜厚は、第2シェル26の最小膜厚よりも小さい。このため、第2光照射工程と第3光照射工程との間において、量子ドット20をより密に積層し、その後の第3光照射工程において、膜厚が比較的厚い第2シェル26を形成することができる。
 したがって、当該光照射工程においては、量子ドット20を密に積層した状態において、電子波動関数から導き出される、コア22からの電子の染み出しを十分に低減できる膜厚を有する、第1シェル24および第2シェル26を形成することができる。ゆえに、当該構成により、第1シェル24および第2シェル26の膜厚を十分に確保しつつ、量子ドット構造体16における量子ドット20の密度を高めることができる。
 本実施形態においては、アレイ基板3、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6の形成後に、発光層8の形成を行う。しかしながら、発光層8の形成のための加熱は、光照射による量子ドット20の発熱により実現する。このため、発光層8の局所的な加熱が実現する。ゆえに、アレイ基板3、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6は、上述した光照射工程における加熱に対し、高い耐熱性を有する必要は必ずしもない。したがって、アレイ基板3、第1電極4、エッジカバー14、および第1電荷輸送層6は、従来公知の材料を含んでいてもよい。
 アレイ基板3は、例えば、アルカリガラス等を含むガラス基板であってもよい。また、アレイ基板3は、ポリイミド等の有機材料を含む有機基板であってもよい。さらに、アレイ基板3は、PET等の柔軟な材料を備えていてもよく、フレキシブルな発光デバイス1を実現してもよい。
 例えば、発光素子層2がボトムエミッション型の発光素子を形成し、第1電極4が陽極である場合、第1電極4にはITOが一般的に使用される。また、第1電荷輸送層6が正孔輸送層である場合には、NiO、MgNiO、Cr、CuO、またはLiNbO等の無機材料を含んでいてもよい。
 なお、ある程度の高さおよび傾斜を有する形状を実現するために、エッジカバー14には、一般的に、有機材料が用いられる。本実施形態においては、エッジカバー14は、ポリイミド等を含んでいてもよい。
 また、例えば、第2電荷輸送層10は、従来公知の電子輸送層に使用される材料を含んでいてもよく、第2電極12は、従来公知の陰極に使用される材料を含んでいてもよい。
 〔実施形態2〕
 図9の(a)は、本実施形態に係る発光デバイス1の概略上面図である。図9の(b)は、図9の(a)における、A-A線矢視断面図である。図9の(c)は、図9の(b)における、領域Bにおける拡大断面図である。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、前実施形態に係る発光デバイス1と比較して、発光素子層2の各層の積層順が逆転している点を除いて、同一の構成を備えていてもよい。すなわち、本実施形態に係る発光素子層2は、第2電極12上に、第2電荷輸送層10と、発光層8と、第1電荷輸送層6と、第1電極4とを、下層から順次積層して備える。
 ここで、前実施形態に係る発光素子1と比較して、第2電極12および第2電荷輸送層10のそれぞれは、エッジカバー14によって分離されている。特に、本実施形態においては、第2電極12は、エッジカバー14によって、第1発光素子2R用の第2電極12R、第2発光素子2G用の第2電極12G、および第3発光素子2B用の第2電極12Bに分離されている。また、第2電荷輸送層10は、エッジカバー14によって、第1発光素子2R用の第2電荷輸送層10R、第2発光素子2G用の第2電荷輸送層10G、および第3発光素子2B用の第2電荷輸送層10Bに分離されている。
 なお、前実施形態に係る発光素子1と比較して、第1電荷輸送層6と、第1電極4とは、エッジカバー14によって分離されず、共通して形成されている。
 本実施形態においては、第1電極4は透明電極であり、第2電極12は反射電極であってもよい。このため、発光層8からの光は、第1電荷輸送層6および第1電極4を透過して、発光面DSから発光デバイス1の外部に出射される。このため、発光デバイス1は、トップエミッション型の発光デバイスとして構成されている。このため、本実施形態において、アレイ基板3は、必ずしも透明基板である必要はない。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、図2に示す各工程を、ステップS1、ステップS7、ステップS3、ステップS6、ステップS5、ステップS4、ステップS2の順に、前実施形態と同様に実施することにより製造できる。このため、本実施形態においては、アレイ基板3、第2電極12、エッジカバー14、および第2電荷輸送層10の形成後に、発光層8の形成を行う。
 例えば、発光素子層2がトップエミッション型の発光素子を形成し、第2電極12が陰極である場合、第2電極12は、上述した各光照射において照射される光についても反射する機能を有することが好ましい。当該構成により、上述した各光照射において、直接量子ドット20に照射された光のみならず、一度第2電極12まで到達し、第2電極12において反射された光についても、各光照射における光として有効に使用できる。このため、本実施形態における光照射工程は、前実施形態における光照射工程と比較して、量子ドット20に十分な光を照射するために必要な光照射の強度を低減することができる。
 上述した光照射において照射される光の反射性を高める観点から、金属材料を含むことが好ましい。第2電極12は、少なくとも、表面に反射性の金属薄膜を含んでいればよい。例えば、第2電極12は、Al、またはAg等の金属、あるいは、AgMg等の金属間化合物を含んでいてもよい。
 〔実施形態3〕
 図10の(a)は、本実施形態に係る発光デバイス1の概略上面図である。図10の(b)は、図10の(a)における、A-A線矢視断面図である。図10の(c)は、図10の(b)における、領域Bにおける拡大断面図である。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、実施形態1に係る発光デバイス1と比較して、発光層8がリガンド18を含まない点を除いて、同一の構成を備えていてもよい。発光層8は、図10の(c)に示すように、量子ドット構造体16によって充填されない空間に、空隙34を備えていてもよい。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、図2に示す各工程のうち、ステップS5、すなわち、発光層形成工程を除いて、同一の方法によって製造される。ここで、本実施形態に係る発光デバイス1の発光層形成工程について、図11から図13を参照して、より詳細に説明する。
 図11は、本実施形態における量子ドット層形成工程にあたる、発光層形成工程について説明するためのフローチャートである。図12は、当該発光層形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。図4と同様に、図12における実線は、アレイ基板3上の量子ドット20の温度を示し、破線は、当該量子ドット20の周囲の温度を示している。図13は、当該発光層形成工程を説明するための工程断面図である。
 本実施形態に係る発光層形成工程において、ステップS10からステップS13までは、実施形態1において説明した方法と同一の方法を実行する。ステップS13の完了時点において、図13の(a)に示すように、第1電荷輸送層6の上層には、量子ドット構造体16とリガンド18とが形成されている。
 本実施形態においては、ステップS12に次いで、さらに第4光照射を行い、量子ドット20の温度が第3温度T3以上となるように、量子ドット20を加熱する、第4光照射工程を実施する(ステップS14)。第4光照射においては、第1光照射、第2光照射、および第3光照射と同様に、紫外光を照射してもよく、また、第3光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を照射してもよい。第3温度T3は、第2温度T2よりも高く、かつ、リガンド18の沸点に相当する。例えば、リガンド18が前述のTOPOである場合、第3温度T3は、摂氏411.2度である。
 第4光照射工程における量子ドット20の加熱により、量子ドット20の周囲温度が第3温度T3に到達すると、リガンド18の蒸発が開始し、量子ドット20の周囲温度がしばらく第3温度T3を維持する。これにより、第4光照射工程において、リガンド18が気化し、図13の(b)に示すように、リガンド18を備えていない発光層8が得られる。
 なお、本実施形態における第4光照射工程に先立って実施される各光照射工程においては、実施形態1において説明した、レーザー照射またはフォトマスクを使用した部分露光を、各光照射に採用してもよい。この場合、第1塗布工程から除去工程までを、対応する発光素子の発光色に応じて繰り返し実施した後、上述した第4光照射を、第1塗布工程において、第1溶液を塗布した位置と重畳する位置において実施してもよい。
 これにより、発光素子の発光色ごとに、リガンド18を有する発光層8を形成した後に、一度に発光層8におけるリガンド18を気化させることができる。このため、上記構成によれば、個別に第4光照射を実施するよりも、第4光照射を実施する回数を低減でき、製造コストの低減につながる。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、発光層8にリガンド18を備えていない。一般に、量子ドットに配位するリガンドは有機材料を含むことが多い。このため、リガンド18を備えていない本実施形態における発光層8は、無機材料に対する有機材料の含有率が低く、水分浸透等による劣化に強くなる。したがって、本実施形態に係る発光デバイス1は、より信頼性を改善することが可能である。
 ここで、上述した非特許文献1の記載から、剛体球がランダム最密充填した空間における、当該剛体球が占めない空隙の割合の平均値は、約36.34体積パーセントとなる。したがって、例えば、発光層8において、無機物に対する有機物の体積比率が、36.3体積パーセント以下であることが好ましい。この場合には、従来の量子ドットをランダム最密充填し、当該量子ドット間の空隙を有機リガンドによって充填した発光層と比較して、発光層8中の有機物の割合を低減できる。したがって、上記構成により、より効率的に発光層8の信頼性を向上させることが可能である。
 なお、本明細書において、「リガンドを備えていない」との表現は、実質的にリガンドを備えていないことを指す。例えば、本実施形態における発光層8は、不純物またはリガンドの残渣が、発光層8の信頼性を著しく低下させない程度に残留していてもよい。具体的には、本実施形態における発光層8は、上述した不純物またはリガンドの残渣を、発光層8の全体の体積に対し、3体積パーセント程度含んでいてもよい。
 また、本実施形態においても、前述までの実施形態と同様に、量子ドット構造体16の外表面の面積を小さくすることができる。これにより、本実施形態における第4光照射工程において、光照射および当該光照射に伴う量子ドット20の発熱によるダメージを受け得る第2シェル26の表面積を小さくできる。このため、当該構成により、上述のように、第2シェル26のダメージに伴う第2シェル26の欠陥の形成、ひいては、当該欠陥による発光デバイス1の発光効率の低下を低減できる。
 〔実施形態4〕
 図14の(a)は、本実施形態に係る発光デバイス1の概略上面図である。図14の(b)は、図14の(a)における、A-A線矢視断面図である。図14の(c)は、図10の(b)における、領域Bにおける拡大断面図である。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、前実施形態に係る発光デバイス1と比較して、発光層8が、量子ドット構造体16の代わりに、量子ドット構造体36を備える点を除いて、同一の構成を備えていてもよい。
 量子ドット構造体16は、図14の(c)に示すように、量子ドット20と、第2シェル26とに加えて、第3シェル38をさらに備える。量子ドット構造体36は、前実施形態における発光層8の、量子ドット構造体16によって充填されない空隙34に、第3シェル38を備えることにより、形成されていてもよい。
 第3シェル38は、第2シェル26の周囲の空隙の少なくとも一部を充填する。第3シェル38は、第2シェル26と同一の材料を含んでいてもよく、公知のコア/シェル構造の量子ドットに用いられる、無機のシェル材料を含んでいてもよい。
 本実施形態に係る発光デバイス1は、図2に示す各工程のうち、ステップS5、すなわち、発光層形成工程を除いて、同一の方法によって製造される。ここで、本実施形態に係る発光デバイス1の発光層形成工程について、図15から図19を参照して、より詳細に説明する。
 図15は、本実施形態における量子ドット層形成工程にあたる、発光層形成工程について説明するためのフローチャートである。図16は、当該発光層形成工程における、経過時間と温度との関係を説明するためのグラフである。図4と同様に、図16における実線は、アレイ基板3上の量子ドット20の温度を示し、破線は、当該量子ドット20の周囲の温度を示している。図17から図19は、当該発光層形成工程を説明するための工程断面図である。
 本実施形態に係る発光層形成工程において、ステップS10からステップS14までは、前実施形態において説明した方法と同一の方法を実行する。本実施形態においては、ステップS14に次いで、光照射を停止し、量子ドット20の温度を第3温度T3よりも低下させる冷却工程を実施する(ステップS15)。
 本実施形態においては、冷却工程により、量子ドット20の温度が温度TAよりも低い温度TBとなるまで冷却を実施する。温度TBは、温度T0よりも高くてもよく、あるいは、温度T0と同一であってもよい。量子ドット20の温度が低下する際、量子ドット20の周囲の温度も追従する。冷却工程の完了時点において、図17の(a)に示すように、第1電荷輸送層6の上層には、量子ドット構造体16が形成されている。なお、当該時点において、量子ドット構造体16の第2シェル26の間には、空隙34が形成されている。
 冷却工程により、量子ドット20の温度が温度TBに到達した後、図17の(b)に示すように、第2溶液40をアレイ基板3と重畳する位置に塗布する、第2塗布工程を実施する(ステップS16)。第2塗布工程により、図17の(b)に示すように、量子ドット構造体16の周囲の空隙34の少なくとも一部が、第2溶液40によって充填されてもよい。
 第2溶液40は、第2溶媒42と、有機材料44と、第2無機物前駆体46とを含む。第2溶媒42は、第1溶媒32と同一であってもよく、ヘキサンであってもよい。有機材料44は、従来公知の量子ドットのリガンドに使用される有機材料であってもよく、リガンド18の材料と同一であってもよい。第2無機物前駆体46は、前述した第3シェル38と同じ材料を含む。第3シェル38の材料が、第2シェル26の材料と同一である場合、第2無機物前駆体46は、第1無機物前駆体30と同一である。
 次いで、アレイ基板3上の第2溶液42に対し、紫外線を照射する、第5光照射を行い、量子ドット20を再び加熱する、第5光照射工程を実施する(ステップS17)。第5光照射工程においては、量子ドット20を、量子ドット20が図16に示す第4温度T4以上となるまで加熱する。
 第4温度T4は、有機材料44の融点と、第2溶媒42の沸点とのうちの、高い温度である。なお、図4に示す温度TCは、有機材料44の融点と、第2溶媒42の沸点とのうちの、低い温度である。また、第4温度T4および温度TCは、温度T0より高い。なお、第4温度T4は第1温度T1と同一であってもよく、温度TCは温度TAと同一であってもよい。
 量子ドット20の温度が、温度T0から温度TCになるまでは、図16に示すように、量子ドット20の周囲温度は、量子ドット20の温度の上昇にわずかに遅れて追従する。しかしながら、量子ドット20の周囲温度が温度TCまで上昇し、有機材料44の溶融または第2溶媒42の蒸発のうちの一方が開始すると、量子ドット20の周囲温度は、しばらく温度TCを維持する。
 さらに第5光照射を進めることにより、有機材料44の溶融または第2溶媒42の蒸発のうちの一方が終了し、再び量子ドット20の周囲温度が上昇し始める。次いで、量子ドット20の周囲温度が第4温度T4まで上昇し、有機材料44の溶融または第2溶媒42の蒸発のうちの他方が開始すると、量子ドット20の周囲温度は、しばらく第4温度T4を維持する。
 これにより、第5光照射工程によって、有機材料44の溶融および第2溶媒42の蒸発が完了する。第5光照射工程の完了後、図18の(a)に示すように、アレイ基板3上から第2溶媒42が気化し、溶融した有機材料44中においては、量子ドット構造体16の周囲の空隙34に、第2無機物前駆体46が分散している。なお、図示のために第2無機物前駆体46の縮尺を、図18の(a)においてのみ変更しているが、第1光照射工程の前後において、第2無機物前駆体46の実際の形状は不変であってよい。
 次いで、アレイ基板3上の第2溶液42を塗布した位置に対し、第6光照射を行い、量子ドット20を加熱する、第6光照射工程を実施する(ステップS18)。第6光照射工程においては、第6光照射を、量子ドット20の温度が、図4に示す第5温度T5になるまで継続する。第6光照射においては、第5光照射と同様に、紫外光を照射してもよく、また、第5光照射において照射される紫外光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい紫外光を照射してもよい。さらに、第5光照射と第6光照射とは、連続して実施してもよい。
 次いで、量子ドット20の温度が第5温度T5に到達した時点から、第7光照射を行い、量子ドット20の温度を第5温度T5付近に維持する、第7光照射工程を実施する(ステップS19)。第7光照射においては、第5光照射および第6光照射と同様に、紫外光を照射してもよく、また、第6光照射において照射される紫外光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が小さい紫外光を照射してもよい。第7光照射工程においては、量子ドット20の温度が第5温度T5に維持されているために、第5温度T5に到達後の量子ドット20の周囲温度についても、第5温度T5に維持される。
 第5温度T5は、第4温度T4より高く、第2無機物前駆体46が、熱化学反応により、第2シェル26の周囲にエピタキシャル成長するための温度である。このため、量子ドット20の周囲温度が第5温度T5に維持されている間、第2シェル26の周囲に、第2無機物前駆体46が、次第にエピタキシャル成長する。これにより、図18の(b)に示すように、それぞれの量子ドット構造体16の第2シェル26の周囲に、第3シェル38が形成される。
 以上により、図18の(b)に示すように、量子ドット20と第2シェル26と第3シェル38とを備えた量子ドット構造体36が形成される。なお、第2光照射工程において、空隙34が第3シェル38によって充填されることにより、溶融した有機材料44が上層へ押し出されるため、量子ドット構造体36の上層に有機材料44が残留する。
 次いで、さらに第8光照射を行い、量子ドット20の温度が第6温度T6以上となるように、量子ドット20を加熱する、第8光照射工程を実施する(ステップS20)。第8光照射においては、第5光照射、第6光照射、および第7光照射と同様に、紫外光を照射してもよく、また、第7光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を照射してもよい。第6温度T6は、第5温度T5よりも高く、かつ、有機材料44の沸点に相当する。
 第8光照射工程における量子ドット20の加熱により、量子ドット20の周囲温度が第6温度T6に到達すると、有機材料44の蒸発が開始し、量子ドット20の周囲温度がしばらく第6温度T6を維持する。これにより、第8光照射工程において、有機材料44が気化し、図19に示すように、有機材料44が量子ドット構造体36の上層から除去される。以上により、本実施形態における発光層形成工程が完了する。
 本実施形態に係る発光デバイス1においては、第2シェル26の周囲に第3シェル38が形成されている。また、第3シェル38は、量子ドット構造体16の周囲の空隙34を充填するように形成されている。
 このため、量子ドット構造体36は、前実施形態における量子ドット構造体16と比較して、発光層8の全体の体積に対する、体積の割合が高い。すなわち、本実施形態における発光層8は、量子ドット20のコア22の周囲に形成されるシェルの、発光層8における充填率が、より向上している。換言すれば、第7光照射工程の実施後においては、第7光照射工程の実施前と比較して、発光層8の全体の体積に対する無機物の密度が高くなっている。したがって、上記構成により、本実施形態に係る発光デバイス1は、発光層8の信頼性をより向上させることができる。
 なお、本実施形態においては、第3光照射工程の実施後、第4光照射工程を省略し、冷却工程以降を順次実施してもよい。すなわち、リガンド18の気化、および有機材料44の気化を、第8光照射工程においてまとめて実施してもよい。これにより、光照射工程の工程数が低減するため、タクトタイムの減少および製造コストの低減につながる。
 また、これに限られないが、本実施形態においては、第4温度T4が第1温度T1と同一であり、第5温度T5が第2温度T2と同一であり、第6温度T6が第3温度T3と同一である場合の、発光層形成工程について説明した。このような構成は、上述したように、第1溶媒32と第2溶媒42とを同一とし、リガンド18の材料と有機材料44とを同一とし、第1無機物前駆体30と第2無機物前駆体46とを同一とすることにより、簡便に実現できる。
 これにより、第1光照射工程から第4光照射工程までと、第5光照射工程から第8光照射工程までとの間において、各光照射工程における加熱の基準となる温度を揃えることができる。したがって、上記構成によれば、発光層形成工程全体の簡素化につながる。
 上述した各実施形態においては、量子ドット20を含む量子ドット層が、発光層8である場合について説明を行った。しかしながら、これに限られず、例えば、第1電荷輸送層6または第2電荷輸送層10が量子ドット20を含む量子ドット層であってもよい。このように、各電荷輸送層が量子ドット20を含む場合、当該量子ドット20は、キャリアを輸送する機能を付与されてもよい。この場合、従来の量子ドットを含む電荷輸送層と比較して、各電荷輸送層における量子ドット20の安定性が向上するため、当該各電荷輸送層のキャリア輸送の効率が改善し、ひいては、発光デバイス1の発光効率の改善につながる。上述した量子ドット20を含む各電荷輸送層についても、各実施形態における量子ドット層形成工程と同一の手法によって形成することができる。
 また、上述した各実施形態においては、複数の発光素子を備え、表示面DSを有する表示デバイスを例示して、発光デバイス1の構成を説明している。しかしながら、これに限られず、上述した各実施形態における発光デバイス1は、単一の発光素子を備えた発光デバイスであってもよい。
 本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。
1     発光デバイス
2     発光素子層
2R    第1発光素子
2G    第2発光素子
2B    第3発光素子
4     第1電極
6     第1電荷輸送層
8     発光層(量子ドット層)
10    第2電荷輸送層
12    第2電極
16、36 量子ドット構造体
18    リガンド
20    量子ドット
22    コア
24    第1シェル
26    第2シェル
28    第1溶液
30    第1無機物前駆体
32    第1溶媒
34    空隙
38    第3シェル
40    第2溶液
42    第2溶媒
44    有機材料
46    第2無機物前駆体
M     フォトマスク
T1~T6 第1~第6温度

Claims (34)

  1.  第1電極と、第2電極と、前記第1電極および前記第2電極の間の量子ドット層とを含む発光素子を基板上に備えた発光デバイスの製造方法であって、
     前記量子ドット層を形成する量子ドット層形成工程を備え、
     前記量子ドット層形成工程は、
      コアと、該コアを被膜する第1シェルとを備えた複数の量子ドットと、該量子ドットのそれぞれと配位結合するリガンドと、第1無機物前駆体と、第1溶媒とを含む第1溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第1塗布工程と、
      前記第1塗布工程に次いで、前記第1溶液が塗布された前記位置に、前記基板の上方から第1光照射を行い、前記リガンドを溶融させ、かつ、前記第1溶媒を気化させる第1光照射工程と、
      前記第1光照射工程に次いで、第2光照射を行い、前記量子ドットの温度を上昇させる第2光照射工程と、
      前記第2光照射工程に次いで、第3光照射を行い、前記第1無機物前駆体を、前記第1シェルの周囲にエピタキシャル成長させて、前記第1シェルを被膜する第2シェルを形成する第3光照射工程と、
     を備え、
     前記第3光照射工程において、少なくとも一組の互いに隣接する前記量子ドット同士が、前記第2シェルを介して接続する発光デバイスの製造方法。
  2.  前記第1光照射工程から前記第3光照射工程までのそれぞれの工程において、前記量子ドットが、照射された光を吸収し発熱する請求項1に記載の発光デバイスの製造方法。
  3.  前記第1溶媒の沸点が、前記リガンドの融点以上であり、前記第1光照射工程において、前記リガンドが溶融した後に、前記第1溶媒が気化する請求項1または2に記載の発光デバイスの製造方法。
  4.  前記第3光照射において、前記第2光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が小さい光を照射する請求項1から3の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  5.  前記第1光照射と前記第2光照射とを、連続して実施する請求項1から4の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  6.  前記量子ドット層形成工程に先立って、表面に反射性の金属薄膜を含む前記第1電極を形成する第1電極形成工程を備えた請求項1から5の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  7.  前記発光素子は複数であり、前記量子ドット層形成工程において、前記発光素子ごとに前記量子ドット層を形成し、かつ、前記発光素子の一部に、前記発光素子の他の一部と異なる種類の量子ドット層を形成する請求項1から6の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  8.  前記発光素子は、赤色光を発する第1発光素子と、緑色光を発する第2発光素子と、青色光を発する第3発光素子とを備えた請求項7に記載の発光デバイスの製造方法。
  9.  前記第1発光素子と、前記第2発光素子と、前記第3発光素子とのそれぞれに対応する位置に塗布された前記第1溶液における、前記第1無機物前駆体の濃度が、対応する前記発光素子の発光色によって異なる請求項8に記載の発光デバイスの製造方法。
  10.  前記第1塗布工程において、前記第2発光素子に対応する位置に塗布された前記第1溶液における、前記第1無機物前駆体の濃度は、前記第1発光素子に対応する位置に塗布された前記第1溶液における、前記第1無機物前駆体の濃度よりも低く、前記第3発光素子に対応する位置に塗布された前記第1溶液における、前記第1無機物前駆体の濃度よりも高い請求項9に記載の発光デバイスの製造方法。
  11.  前記第1発光素子と、前記第2発光素子と、前記第3発光素子とのそれぞれに対応する位置に対する前記第3光照射の照射時間が、対応する前記発光素子の発光色によって異なる請求項8から10の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  12.  前記第2発光素子に対応する位置に対する第3光照射の照射時間は、前記第1発光素子に対応する位置に対する第3光照射の照射時間よりも短く、前記第3発光素子に対応する位置に対する第3光照射の照射時間よりも長い請求項11に記載の発光デバイスの製造方法。
  13.  前記発光素子のそれぞれが前記第1電極を個別に備え、前記第1塗布工程において、前記第1溶液を、前記第1電極のそれぞれと重畳する位置に、インクジェット法により塗布する請求項7から12の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  14.  前記第1光照射と、前記第2光照射と、前記第3光照射とのそれぞれにおいて、レーザー照射による部分露光を行う請求項1から13の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  15.  前記第1光照射と、前記第2光照射と、前記第3光照射とのそれぞれにおいて、フォトマスクを使用した部分露光を行う請求項1から13の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  16.  前記部分露光において光照射が実施される位置は、前記第1電極と重畳する位置である請求項14または15に記載の発光デバイスの製造方法。
  17.  前記第3光照射工程に次いで、前記第1光照射と、前記第2光照射と、前記第3光照射とのそれぞれにおいて光照射を行った位置とは異なる位置と重畳する位置における前記第1溶液を除去する除去工程をさらに備えた請求項14から16の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  18.  前記第1塗布工程と、前記第1光照射工程と、前記第2光照射工程と、前記第3光照射工程と、前記除去工程とを、対応する前記発光素子の発光色に応じて、この順に繰り返し実施した後、第4光照射を行い、前記リガンドを気化させる第4光照射工程をさらに備えた請求項17に記載の発光デバイスの製造方法。
  19.  前記第4光照射において、前記第3光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を、前記第1塗布工程において、前記第1溶液を塗布した位置と重畳する位置に照射する請求項18に記載の発光デバイスの製造方法。
  20.  前記量子ドット層形成工程は、さらに、前記第3光照射工程に次いで、第4光照射を行い、前記リガンドを気化させる第4光照射工程をさらに備えた請求項1から13の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  21.  前記第4光照射において、前記第3光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を照射する請求項20に記載の発光デバイスの製造方法。
  22.  前記第4光照射工程において、前記量子ドットが照射された光を吸収し、発熱する請求項20または21に記載の発光デバイスの製造方法。
  23.  前記量子ドット層形成工程は、さらに、
      前記第3光照射工程に次いで、前記量子ドットの温度を前記リガンドの融点と前記第1溶媒の沸点のうちの低い温度以下に冷却する冷却工程と、
      前記冷却工程に次いで、第2溶媒と、有機材料と、第2無機物前駆体とを含む第2溶液を前記基板と重畳する位置に塗布する第2塗布工程と、
      前記第2塗布工程に次いで、前記第2溶液が塗布された前記位置に、前記基板の上方から第5光照射を行い、前記有機材料を溶融させ、かつ、前記第2溶媒を気化させる第5光照射工程と、
      前記第5光照射工程に次いで、第6光照射を行い、前記量子ドットの温度を上昇させる第6光照射工程と、
      前記第6光照射工程に次いで、第7光照射を行い、前記第2無機物前駆体を、前記第2シェルの周囲にエピタキシャル成長させて、前記第2シェルの周囲の空隙の少なくとも一部を充填する第3シェルを形成させる第7光照射工程と、
     を備えた請求項1から17の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  24.  前記第5光照射工程から前記第7光照射工程までのそれぞれの工程において、前記量子ドットが照射された光を吸収し、発熱する請求項23に記載の発光デバイスの製造方法。
  25.  前記第7光照射工程の実施後においては、前記第7光照射工程の実施前と比較して、前記量子ドット層の全体の体積に対する無機物の密度が高い請求項23または24に記載の発光デバイスの製造方法。
  26.  前記第7光照射において、前記第6光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が小さい光を照射する請求項23から25の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  27.  前記第5光照射と前記第6光照射とを、連続して実施する請求項23から26の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  28.  前記量子ドット層形成工程は、さらに、前記第7光照射工程に次いで、第8光照射を行い、前記有機材料を気化させる第8光照射工程を備えた請求項23から27の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  29.  前記第8光照射において、前記第7光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を照射する請求項28に記載の発光デバイスの製造方法。
  30.  前記第8光照射工程において、前記量子ドットが照射された光を吸収し、発熱する請求項28または29に記載の発光デバイスの製造方法。
  31.  前記有機材料が、前記リガンドの材料と同一である請求項23から30の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  32.  前記量子ドット層形成工程は、さらに、前記第3光照射工程と前記冷却工程との間に、第4光照射を行い、前記リガンドを気化させる第4光照射工程をさらに備えた請求項23から31の何れか1項に記載の発光デバイスの製造方法。
  33.  前記第4光照射において、前記第3光照射において照射される光よりも、単位時間当たりのエネルギー量が大きい光を照射する請求項32に記載の発光デバイスの製造方法。
  34.  前記第4光照射工程において、前記量子ドットが照射された光を吸収し、発熱する請求項32または33に記載の発光デバイスの製造方法。
PCT/JP2019/006368 2019-02-20 2019-02-20 発光デバイスの製造方法 WO2020170368A1 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US17/430,593 US11996499B2 (en) 2019-02-20 2019-02-20 Method for manufacturing light-emitting device
PCT/JP2019/006368 WO2020170368A1 (ja) 2019-02-20 2019-02-20 発光デバイスの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2019/006368 WO2020170368A1 (ja) 2019-02-20 2019-02-20 発光デバイスの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2020170368A1 true WO2020170368A1 (ja) 2020-08-27

Family

ID=72143356

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2019/006368 WO2020170368A1 (ja) 2019-02-20 2019-02-20 発光デバイスの製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US11996499B2 (ja)
WO (1) WO2020170368A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11996501B2 (en) * 2019-02-20 2024-05-28 Sharp Kabushiki Kaisha Method for manufacturing light-emitting device

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007142203A1 (ja) * 2006-06-05 2007-12-13 Hoya Corporation 量子ドット発光型無機el素子
US20090321692A1 (en) * 2005-01-05 2009-12-31 Locascio Michael Nanostructured material comprising semiconductor nanocrystal complexes
JP2010526420A (ja) * 2007-05-07 2010-07-29 イーストマン コダック カンパニー 電力の分配が改善されたエレクトロルミネッセンス・デバイス
JP2011502333A (ja) * 2007-10-30 2011-01-20 イーストマン コダック カンパニー ブリンキングのない量子ドットを含む装置
US20110175030A1 (en) * 2010-01-15 2011-07-21 Xiaofan Ren Preparing large-sized emitting colloidal nanocrystals
US20170271605A1 (en) * 2016-03-17 2017-09-21 Apple Inc. Quantum dot spacing for high efficiency quantum dot led displays

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017025220A (ja) 2015-07-23 2017-02-02 コニカミノルタ株式会社 酸化防止性配位子含有半導体ナノ粒子およびこれを含有する分散液、ならびに酸化防止性配位子含有半導体ナノ粒子の製造方法
WO2020170367A1 (ja) * 2019-02-20 2020-08-27 シャープ株式会社 発光デバイス、発光デバイスの製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20090321692A1 (en) * 2005-01-05 2009-12-31 Locascio Michael Nanostructured material comprising semiconductor nanocrystal complexes
WO2007142203A1 (ja) * 2006-06-05 2007-12-13 Hoya Corporation 量子ドット発光型無機el素子
JP2010526420A (ja) * 2007-05-07 2010-07-29 イーストマン コダック カンパニー 電力の分配が改善されたエレクトロルミネッセンス・デバイス
JP2011502333A (ja) * 2007-10-30 2011-01-20 イーストマン コダック カンパニー ブリンキングのない量子ドットを含む装置
US20110175030A1 (en) * 2010-01-15 2011-07-21 Xiaofan Ren Preparing large-sized emitting colloidal nanocrystals
US20170271605A1 (en) * 2016-03-17 2017-09-21 Apple Inc. Quantum dot spacing for high efficiency quantum dot led displays

Also Published As

Publication number Publication date
US20220131049A1 (en) 2022-04-28
US11996499B2 (en) 2024-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2020170370A1 (ja) 発光デバイスの製造方法
JP7320851B2 (ja) 補助電極を提供するための方法および補助電極を含むデバイス
WO2021100104A1 (ja) 発光素子、発光デバイス
WO2021044558A1 (ja) 発光素子、発光デバイス、発光素子の製造方法
KR101010023B1 (ko) 레이저 빔을 이용한 플렉서블 소자의 제조 방법
WO2020170371A1 (ja) 発光デバイスの製造方法
US20220392980A1 (en) Display substrate, display device, and manufacturing method
WO2020170367A1 (ja) 発光デバイス、発光デバイスの製造方法
WO2020170368A1 (ja) 発光デバイスの製造方法
WO2021033257A1 (ja) 発光素子および発光デバイス
WO2021157021A1 (ja) 発光デバイスの製造方法、及び発光デバイス
WO2021157018A1 (ja) 量子ドット層の製造方法、および、発光デバイスの製造方法
WO2021157019A1 (ja) 発光デバイス、発光デバイスの製造方法
WO2021157020A1 (ja) 発光デバイスの製造方法
US11957037B2 (en) Method for manufacturing light-emitting device
US20210050543A1 (en) Light-emitting device
US20230071128A1 (en) Display device
WO2021053787A1 (ja) 発光素子および表示デバイス
WO2021090450A1 (ja) 発光素子及び表示装置並びに発光素子の製造方法
US11653514B2 (en) Light-emitting device including mixtures of different quantum dots
WO2022064695A1 (ja) 発光素子、発光素子の製造方法
WO2024069881A1 (ja) 発光素子、表示装置、発光素子の製造方法
WO2021117210A1 (ja) 発光素子及びその製造方法
JP2005174737A (ja) 有機エレクトロルミネッセンス発光素子

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 19916324

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

122 Ep: pct application non-entry in european phase

Ref document number: 19916324

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: JP