JP2019153740A - 電力半導体装置、電力半導体装置の製造方法、および回転電機 - Google Patents

電力半導体装置、電力半導体装置の製造方法、および回転電機 Download PDF

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Abstract

【課題】絶縁性能と放熱性能との両立を図った電力半導体装置を得る。【解決手段】電力半導体装置1は、電力半導体モジュール10と、電力半導体モジュールを固定する金属製のベース板20と、電力半導体モジュールをベース板に固定する接着剤30とを備えている。電力半導体モジュール10は、実装面および非実装面を有するリードフレーム11と、リードフレーム11の実装面に実装された電力半導体チップ12と、リードフレーム11の実装面側および非実装面側の両面に設けられたモールド樹脂15とを有している。リードフレーム11とベース板20とは、モールド樹脂15および接着剤30により絶縁されている。【選択図】図1

Description

この発明は、リードフレームを樹脂で封止するモールド封止型の電力半導体モジュールを備える電力半導体装置、電力半導体装置の製造方法、および回転電機に関するものである。
近年、車載機器に用いられる電力半導体装置では、自動車の燃費向上、電動化および高機能化にともない、電力半導体装置に入力される電力が増加し、高速スイッチング動作が行われている。これらの電力増加および高速スイッチング動作のため、電力半導体装置内の電力半導体チップの発熱は、増加する。電力半導体装置を効率よく動作させるためには、電力半導体チップでの発熱を効率よく逃がす必要がある。
従来の電力半導体装置は、内部に配線パターンが成形されたリードフレームと、スイッチング可能な電力半導体チップと、リードフレームおよび電力半導体チップを接続する接続部材と、これらを搭載する金属製のベース板と、リードフレームおよびベース板の間を絶縁する絶縁樹脂層とを備えている(例えば、特許文献1参照)。特許文献1に記載された従来の電力半導体装置では、リードフレーム、電力半導体チップ、接続部材、ベース板であるヒートシンク、および絶縁樹脂層が一体で樹脂封止されている。この従来の電力半導体装置では、電力半導体チップで生じた熱は、電力半導体チップからリードフレームおよび絶縁樹脂層を介して、ベース板に逃がされている。
特開平11−243166号公報
しかしながら、この特許文献1に記載された電力半導体装置には、以下のような課題がある。絶縁樹脂層には、金属物が混入する可能性がある。また、ベース板には、金属ばりが生じる可能性がある。これらのような場合、絶縁樹脂層に混入した金属物またはベース板に生じた金属ばりによって、絶縁樹脂層の絶縁性能は、低下する。また、混入した金属物または金属ばりによって、モールド樹脂に応力が作用する。そのため、モールド樹脂に割れまたはひびが発生し、モールド樹脂の絶縁性能が低下する。したがって、リードフレームとベース板との間のモールド樹脂または絶縁樹脂層に、絶縁不良が生じる。電力半導体装置製品が完成した後にモールド樹脂または絶縁樹脂層に上述したような不良が存在する場合には、製品の廃棄または検査工程の強化が必要となる。この結果、電力半導体装置の製造コストが増加する要因となる。また、絶縁不良を防止するために、モールド樹脂を厚くした場合、絶縁性能は上がるものの、電力半導体チップで生じた熱は、ベース板に逃がしにくくなり、放熱性能の低下を招く。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであって、絶縁性能と放熱性能との両立を実現する電力半導体装置、電力半導体装置の製造方法、および回転電機を得ることを目的とする。
この発明の電力半導体装置は、電力半導体モジュールと、電力半導体モジュールを固定する金属製のベース板と、電力半導体モジュールをベース板に固定する接着剤とを備えている。電力半導体モジュールは、実装面および非実装面を有するリードフレームと、リードフレームの実装面に実装された電力半導体チップと、リードフレームの実装面側および非実装面側の両面に設けられたモールド樹脂とを有している。この発明の電力半導体装置は、電力半導体チップ、リードフレーム、モールド樹脂、接着剤、ベース板の順に配置され、リードフレームとベース板とは、モールド樹脂および接着剤により絶縁されている。
この発明による電力半導体装置では、リードフレームとベース板とが、モールド樹脂および接着剤の積層構造を介して絶縁される構造を備えている。これにより、絶縁性能と放熱性能との両立を実現する電力半導体装置、電力半導体装置の製造方法、および回転電機を得ることができる。
この発明の実施の形態1による電力半導体装置を示す断面図である。 図1の電力半導体装置を製造するフローチャートである。 作製された電力半導体モジュール、およびベース板に接着剤が塗布された状態を示す断面図である。 電力半導体モジュールが、接着剤を介して、ベース板に搭載された状態を示す断面図である。 電力半導体モジュールが、接着剤によって、ベース板に固定された状態を示す断面図である。 図1の接着剤の詳細を模式的に示す断面図である。 この発明の実施の形態2による電力半導体装置を示す断面図である。 この発明の実施の形態3による電力半導体装置を示す断面図である。 この発明の実施の形態4による電力半導体装置を示す断面図である。 この発明の実施の形態5による電力半導体装置を示す断面図である。 この発明の実施の形態6による回転電機を示す断面図である。 図9の回転電機の回路構成を模式的に示す図である。
以下、この発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。なお、各図において、同一もしくは相当部分は、同一符号または同一名称で示し、重複する説明は省略する。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1による電力半導体装置を示す断面図である。本実施の形態1による電力半導体装置1は、電力半導体モジュール10と、ベース板20と、接着剤30とを備えている。電力半導体モジュール10は、リードフレーム11と、電力半導体チップ12と、配線部材13と、接続部材14と、モールド樹脂15とを有している。
リードフレーム11は、金属製の板状部品である。リードフレーム11には、例えば、銅またはアルミニウムを基材とした合金が用いられる。リードフレーム11は、基材の金属が露出しているものが用いられる。しかし、リードフレーム11の一部にめっき処理が施されているものが用いられてもよい。リードフレーム11には、板状の材料にエッチング加工またはプレス加工を施すことによって、電力半導体チップ12の各電極に対応する電極を含む配線パターンが成型されている。リードフレーム11は、一方の面に実装面11aを有し、他方の面に非実装面11bを有している。
電力半導体チップ12は、リードフレーム11の実装面11aに実装されている。電力半導体チップ12は、スイッチング可能な半導体素子である。電力半導体チップ12は、チップ下面電極12aとチップ上面電極12bとを有している。チップ下面電極12aは、実装面11aに実装される側に設けられている。チップ上面電極12bは、電力半導体チップ12において、実装面11aに実装される側と反対側に設けられている。電力半導体チップ12の動作時には、主電流は、電力半導体チップ12の厚さ方向に流れる。また、チップ上面電極12bには、はんだ付けができるように、例えば、Niめっき層が設けられている。
電力半導体チップ12は、例えば、Siを材料として用いたMOSFET(Metal−Oxide−Semiconductor Field Effect Transistor、金属−酸化物−半導体型電界効果トランジスタ)を用いることができる。電力半導体チップ12がMOSFETである場合、チップ下面電極12aは、ドレイン電極であり、チップ上面電極12bは、ソース電極である。この場合、電力半導体チップ12は、チップ上面電極12bと同じ側に、図示しないゲート電極を有している。
なお、電力半導体チップ12の材料は、SiC、GaN系、GaAs系、またはダイヤモンドであってもよい。また、電力半導体チップ12は、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor、絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ)であってもよい。電力半導体チップ12がIGBTである場合にも、電力半導体チップ12は、チップ上面電極12bと同じ側にゲート電極を有している。
配線部材13は、チップ上面電極12bとリードフレーム11に形成されている電極とを接続する。配線部材13は、金属製の板状部材である。配線部材13の断面積は、通電する電流の量によって決められている。配線部材13は、チップ上面電極12bに接続される部分より、電力半導体チップ12から離れる方向に変形されている。また、配線部材13は、リードフレーム11に接続される部分より、リードフレーム11から離れる方向に変形されている。なお、配線部材13は、金属製のボンディングワイヤを用いてもよい。電力半導体チップ12にゲート電極が設けられている場合には、ゲート電極は、ワイヤーボンディングによって、リードフレーム11の電極に接続されている。ゲート電極とリードフレーム11の電極との間は、配線部材13とは別の配線部材によって接続されてもよい。
接続部材14は、3つの接合箇所にそれぞれ設けられている。接続部材14の第1のものは、チップ下面電極12aとリードフレーム11との間に配置され、チップ下面電極12aとリードフレーム11に設けられた電極とを接続している。接続部材14の第2のものは、チップ上面電極12bと配線部材13との間に配置され、チップ上面電極12bと配線部材13とを接続している。また、接続部材14の第3のものは、配線部材13とリードフレーム11との間に配置され、配線部材13とリードフレーム11に設けられた電極とを接続している。接続部材14には、はんだを用いている。接続部材14には、微細な金属フィラーを含む導電性ペーストと樹脂との複合材を用いてもよい。
モールド樹脂15は、リードフレーム11、電力半導体チップ12、配線部材13、および接続部材14を包み込むように配置されている。すなわち、モールド樹脂15は、リードフレーム11の実装面11a側および非実装面11b側に設けられている。リードフレーム11は、両端に外部接続端子11cを有している。外部接続端子11cは、モールド樹脂15から延出している。モールド樹脂15は、絶縁性のフィラーを含んでいる。外部接続端子11cは、電力半導体モジュール10の外部と、リードフレーム11に接続された電力半導体チップ12を含む電子部品とを接続するための端子である。
ベース板20は、電力半導体モジュール10を固定する。ベース板20は、アルミニウムまたは銅を基材とした合金によって作られている。すなわち、ベース板20は、金属製である。ベース板20は、図示しない取り付け部を有し、電力半導体装置1が組み込まれる装置に取り付けられる。
接着剤30は、電力半導体モジュール10とベース板20との間に配置されている。この時、接着剤30は、リードフレーム11の非実装面11b側のモールド樹脂15とベース板20との間に配置されている。接着剤30は、電力半導体モジュール10をベース板20に固定している。
次に、電力半導体装置1の作用について、図1を用いて説明する。電力半導体装置1では、電力半導体チップ12、リードフレーム11、モールド樹脂15、接着剤30、ベース板20の順に配置されている。リードフレーム11とベース板20とは、モールド樹脂15および接着剤30により絶縁されている。これにより、電力半導体装置1は、絶縁性能を得ることができる。
モールド樹脂15および接着剤30は、電力半導体チップ12で生じた熱を、ベース板20に伝える伝熱経路となる。そのため、電力半導体チップ12で生じた熱は、モールド樹脂15および接着剤30を介して、ベース板20に逃がされる。これにより、電力半導体装置1は、放熱性能を得ることができる。
この場合、モールド樹脂15の厚さを薄くすることによって、電力半導体チップ12とベース板20との距離を短くすることができる。そのため、モールド樹脂15による熱抵抗を小さくすることができる。同様に、接着剤30の厚さを薄くすることによって、接着剤30による熱抵抗を小さくすることができる。
また、電力半導体モジュール10のリードフレーム11は、モールド樹脂15および接着剤30によって、ベース板20から絶縁されている。これにより、電力半導体モジュール10を、正常に動作させることができる。
次に、電力半導体装置1の製造方法について、図2〜図3Cを用いて説明する。図2は、図1の電力半導体装置を製造するフローチャートである。図2に示すように、電力半導体装置1の製造方法には、電力半導体モジュールを作製する電力半導体モジュール作製工程、ベース板に接着剤を塗布する塗布工程、接着剤が塗布されたベース板に電力半導体モジュールを搭載する搭載工程、および電力半導体モジュールを接着剤によってベース板に固定する固定工程を含まれている。
(電力半導体モジュール作製工程)
図3Aは、作製された電力半導体モジュール10、およびベース板20に接着剤30が塗布された状態を示す断面図である。電力半導体装置1を製造する際には、まず、電力半導体モジュール作製工程において、電力半導体モジュール10を作製する。電力半導体モジュール作製工程では、まず、実装面11aおよび非実装面11bを有するリードフレーム11を用意する。次に、リードフレーム11の実装面11aに接続部材14を介して、電力半導体チップ12を実装する。次に、接続部材14、配線部材13、および接続部材14を介して、チップ上面電極12bをリードフレーム11の電極に接続する。また、ワイヤーボンディングによって、図示しないゲート電極をリードフレーム11の電極と接続する。
次に、外部接続端子11cを除くリードフレーム11、電力半導体チップ12、配線部材13、および接続部材14を、トランスファー成形法により、モールド樹脂15で封止する。すなわち、実装面11a側および非実装面11b側の両面をモールド樹脂15により封止する。これにより、電力半導体モジュール10は、作製される。この場合、電力半導体モジュール10の検査を単品で行うことができる。そのため、電力半導体装置1に組み込む前に、不良品である電力半導体モジュールを排除することができる。これにより、電力半導体装置1の製造コストを下げることができる。なお、リードフレーム11の外部接続端子11cは、ベース板20がある側と反対側に折り曲げる。この場合、リードフレーム11の外部接続端子11cは、ベース板20と接触させない。
(塗布工程)
次に、塗布工程において、電力半導体モジュール10を固定するベース板20に接着剤30を塗布する。電力半導体モジュール10は、ベース板20の一方の面20aに固定される。そのため、ベース板20の面20aに、接着剤30を塗布する。この場合、接着剤30が塗布されたベース板20の表面状態を検査することができる。この検査によって、ベース板20において、接着剤30の厚さを超える大きさを有するばりの有無を調べることができる。また、接着剤30への導電性異物の混入の有無を調べることができる。そのため、電力半導体装置1の製造方法の初期において不良品の発生を抑制することができる。これにより、電力半導体装置の製造コストを下げることができる。
(搭載工程)
図3Bは、電力半導体モジュール10が、接着剤30を介して、ベース板20に搭載された状態を示す断面図である。次に、搭載工程において、電力半導体モジュール10をベース板20に搭載する。搭載工程では、まず、リードフレーム11の非実装面11b側に設けられたモールド樹脂15が、接着剤30が塗布されたベース板20の面20aと対向するように、電力半導体モジュール10をベース板20に配置する。次に、電力半導体モジュール10によって接着剤30を押し広げながら、電力半導体モジュール10をベース板20に搭載する。
(固定工程)
図3Cは、電力半導体モジュール10が、接着剤30によって、ベース板20に固定された状態を示す断面図である。次に、固定工程によって、電力半導体モジュール10をベース板20に固定する。固定工程では、接着剤30を硬化させる。接着剤30の硬化は、例えば、接着剤30を加熱することによって行うことができる、接着剤30を硬化させることによって、電力半導体モジュール10を、ベース板20に固定する。
次に、接着剤30の詳細について、図4を用いて説明する。図4は、図1の接着剤30の詳細を模式的に示す断面図である。
接着剤30は、接着剤本体31と、複数の絶縁部材32とを有している。複数の絶縁部材32は、接着剤本体31に内包されている。すなわち、接着剤30は、複数の絶縁部材32を内包している。各絶縁部材32の表面形状は、丸みを帯びた形状である。各絶縁部材32の硬度は、リードフレーム11の非実装面11b側に設けられたモールド樹脂15の硬度より高い。
この時、リードフレーム11の非実装面11b側に設けられたモールド樹脂15の厚さをH1、接着剤30の厚さをH2とする。また、複数の絶縁部材32の、接着剤30の厚さ方向における幅は、個別に異なっている場合がある。接着剤30の厚さ方向における複数の絶縁部材32の幅のうちの最大幅をD1とする。実施の形態1では、H1<D1≦H2を満たしている。
絶縁部材32の硬度が非実装面11b側に設けられたモールド樹脂15の硬度よりも高く、絶縁部材32の表面形状が丸みを帯びた形状であるため、図3Bに示した搭載工程において、電力半導体モジュール10をベース板20に押し付けた際に、絶縁部材32は、モールド樹脂15に刺さることがない。そのため、モールド樹脂15に割れまたはひびは発生しない。また、絶縁部材32が破砕しないため、リードフレーム11からベース板20までの距離を、絶縁部材32の最大幅D1以上に保つことができる。したがって、リードフレーム11からベース板20までの距離によって決められる絶縁耐量の最小値を規定することができる。
接着剤30の厚さ方向における最大幅D1を有する絶縁部材32を用いることにより、接着剤30の厚さH2の最小値を決定することができる。また、H1<D1を満たすことにより、リードフレーム11とベース板20との絶縁を確保しながら、電力半導体装置1の放熱性能を高めることができる。
また、電力半導体モジュール10とベース板20との距離が、接着剤30の厚さ方向における絶縁部材32の最大幅D1となるまで、電力半導体モジュール10をベース板20に押し付けることにより、絶縁耐量のばらつきを小さくすることができる。そのため、ばらつきを考慮して、モールド樹脂15の厚さに必要以上のマージンを取る必要がない。これにより、電力半導体装置1のコストアップを防止できる。
また、ベース板20の電力半導体モジュール10が固定される面には、ばりが発生する可能性がある。また、接着剤30には導電性異物が混入する可能性がある。さらに、電力半導体モジュール10が固定されるベース板20の面20aには、表面に粗さが生じている。ここで、ベース板20のばりの大きさをB1とする。接着剤30に含まれる導電性異物の、接着剤30の厚さ方向の大きさをB2とする。ベース板20の、電力半導体モジュール10が固定される面20aにおける表面粗さをB3とする。ばりの大きさB1、異物の大きさB2、およびベース板20の表面粗さB3のうちの最大値は、接着剤30の厚さ方向における幅の絶縁部材32の最大幅D1以下である。
ベース板20のばりおよび接着剤30に含まれる導電性異物は、絶縁部材32よりも柔らかい接着剤本体31に取り込まれる。そのため、非実装面11b側のモールド樹脂15への侵入、モールド樹脂15の割れまたはひびを防止することができる。また、ベース板20のばりの大きさB1、接着剤30に含まれる導電性異物の大きさB2、およびベース板20の表面粗さB3は、接着剤30の厚さH2以下となる。そのため、ベース板20のばり、接着剤30に含まれる導電性異物、およびベース板20の表面の荒れは、モールド樹脂15に到達しない。これにより、リードフレーム11とベース板20との絶縁を確保することができる。
この実施の形態1の電力半導体装置によれば、電力半導体モジュールは、リードフレームの非実装面側において、接着剤によって、ベース板に固定されている。すなわち、リードフレームとベース板とが、モールド樹脂および接着剤の積層構造を介して絶縁される構造を備えている。これにより、絶縁性能と放熱性能との両立を実現する電力半導体装置を供給することができる。
絶縁部材の硬度は、モールド樹脂の硬度よりも高いため、モールド樹脂に割れまたはひびは発生しない。これにより、リードフレームからベース板までの距離によって決められる絶縁耐量の最小値を規定することができる。
H1<D1≦H2を満たすことにより、リードフレームとベース板との絶縁を確保しながら、電力半導体装置の放熱性能を高めることができる。
ベース板のばりの大きさ、接着剤に含まれる導電性異物の接着剤の厚さ方向の大きさ、およびベース板の電力半導体モジュールが固定される面の表面粗さのうちの最大値は、接着剤の厚さ方向における絶縁部材の最大幅以下である。これにより、リードフレームとベース板との絶縁を確保することができる。
この実施の形態1の電力半導体装置の製造方法によれば、電力半導体装置の製造方法の初期において不良品の発生を抑制することができる。これにより、電力半導体装置の製造コストを下げることができる。
また、この実施の形態1の電力半導体装置によれば、電力半導体モジュールの構造が変更される度に、モールド金型およびリードフレーム金型を作り直す必要がない。そのため、モールド金型およびリードフレーム金型の製造費用および製造期間が生じない。これにより、電力半導体装置を安価に製造することができる。
なお、電力半導体チップ12に、電力半導体チップ12の温度を検知する検温ダイオードを取り付けてもよい。リードフレーム11には、検温ダイオードの電極に対応する電極が設けられる。この場合、検温ダイオードの電極と、リードフレーム11に設けられた電極との間は、例えば、ワイヤーボンディングによって接続される。
実施の形態2.
次に、実施の形態2による電力半導体装置について、図5を用いて説明する。実施の形態2では、ベース板の、電力半導体モジュールが固定される側の面に凸部が設けられている。図5は、この発明の実施の形態2による電力半導体装置を示す断面図である。
この発明の実施の形態2による電力半導体装置2は、電力半導体モジュール10と、ベース板21と、接着剤30とを備えている。ベース板21は、平板部21aと凸部21bとを有している。凸部21bは、電力半導体モジュール10が固定される側において、平板部21aから電力半導体モジュール10に向けて突出している。接着剤30は、電力半導体モジュール10と凸部21bとの間に配置されている。電力半導体モジュール10は、接着剤30によって、ベース板21に固定されている。
リードフレーム11の外部接続端子11cとベース板21との距離は、実施の形態1における外部接続端子11cとベース板20との距離より広がっている。そのため、外部接続端子11cとベース板21との絶縁性能を高めることができる。
また、電力半導体モジュール10をベース板21上に搭載する際に、接着剤30が押し出され、凸部21bの側面に流れることができる。そのため、接着剤30の厚さが絶縁部材32の最大幅D1となるまで、より容易に接着剤30を押しつぶすことができる。これにより、より容易に、電力半導体モジュール10の放熱性能を高めることができる。
この実施の形態2の電力半導体装置によれば、ベース板は、凸部を有している。その結果、外部接続端子とベース板との絶縁性能を高めることができる。また、電力半導体装置によれば、より容易に接着剤を押しつぶすことができる。その結果、より容易に、電力半導体モジュールの放熱性能を高めることができる。
実施の形態3.
次に、実施の形態3による電力半導体装置について、図6を用いて説明する。実施の形態3では、ベース板の凸部に嵌め合せることが可能な凹部がモールド樹脂に設けられている。図6は、この発明の実施の形態3による電力半導体装置を示す断面図である。
この発明の実施の形態3による電力半導体装置3は、電力半導体モジュール16と、ベース板22と、接着剤30とを備えている。ベース板22は、平板部22aと凸部22bとを有している。凸部22bは、電力半導体モジュール16が固定される側において、平板部22aから電力半導体モジュール16に向けて突出している。電力半導体モジュール16では、リードフレーム11の非実装面11b側に設けられたモールド樹脂15は、凸部22bに対向する凹部15aを有している。凹部15aは、凸部22bに嵌め合わされている。接着剤30は、凹部15aと凸部22bとの間に配置されている。電力半導体モジュール10は、接着剤30によって、ベース板22に固定されている。
リードフレーム11の非実装面11bにおいて、凹部15a以外の部分のモールド樹脂15の厚さを厚くすることができるため、電力半導体モジュール16の機械的強度は向上し、電力半導体モジュール16の反りを低減することができる。
また、モールド樹脂は、モールド樹脂の流動性または電力半導体モジュールの形状によって、リードフレームを覆うことが困難になる場合がある。リードフレーム11の非実装面11b側のモールド樹脂15に凹部15aを設けることにより、モールド樹脂が薄くなる部分の面積を小さくすることができる。これにより、モールド樹脂によりリードフレームの非実装面側を覆うことが、凹部を有しない場合と比べて容易に行える。
この実施の形態3の電力半導体装置は、電力半導体モジュールの非実装面側のモールド樹脂が有する凹部が、ベース板が有する凸部に嵌め合わされる構造を有している。その結果、電力半導体モジュールの強度を向上させ、電力半導体モジュールの反りを低減することができる。また、モールド樹脂によりリードフレームを覆うことが、モールド樹脂が凹部を有しない場合と比べて容易に行える。
実施の形態4.
次に、実施の形態4による電力半導体装置について、図7を用いて説明する。実施の形態4では、外部接続端子11cとベース板との間に絶縁性部材が設けられている。図7は、この発明の実施の形態4による電力半導体装置を示す断面図である。
この発明の実施の形態4による電力半導体装置4は、電力半導体モジュール10と、ベース板20と、接着剤30と、2つの絶縁性部材40とを備えている。リードフレーム11は、リードフレーム11の両端のモールド樹脂15から延出した部分に外部接続端子11cを有している。2つの絶縁性部材40のそれぞれは、リードフレーム11の両端に設けられたそれぞれの外部接続端子11cと、ベース板20との間に設けられている。各外部接続端子11cは、各絶縁性部材40によって、ベース板20にそれぞれ支持されている。各絶縁性部材40のそれぞれの形状は、直方体形状である。各絶縁性部材40は、絶縁性を有している。各絶縁性部材40は、例えば、樹脂によって形成されている。
外部接続端子11cとベース板20との間に絶縁性部材40を配置することによって、外部接続端子11cとベース板20との間の絶縁性を向上させることができる。また、ベース板20に凸部を設けることなく、外部接続端子11cとベース板20との間の絶縁性を向上できるため、電力半導体装置を薄くすることができる。
この実施の形態4の電力半導体装置は、外部接続端子とベース板との間に絶縁性部材が配置される構成を有している。その結果、外部接続端子とベース板との間の絶縁性を向上させることができる。また、この実施の形態4の電力半導体装置によれば、電力半導体装置を薄くすることができる。
実施の形態5.
次に、実施の形態5による電力半導体装置について、図8を用いて説明する。実施の形態5は、実施の形態3および実施の形態4の組み合わせである。図8は、この発明の実施の形態5による電力半導体装置を示す断面図である。
この発明の実施の形態5による電力半導体装置5は、電力半導体モジュール16と、ベース板22と、接着剤30と、2つの絶縁性部材40とを備えている。電力半導体モジュール16は、リードフレーム11の非実装面11b側のモールド樹脂15に、凸部22bに対向する凹部15aを有している。ベース板22は、凸部22bを有している。凹部15aは、凸部22bに嵌め合わされている。各外部接続端子11cは、各絶縁性部材40によって、ベース板22にそれぞれ支持されている。
リードフレーム11の非実装面11b側のモールド樹脂15に凹部15aとすることにより、モールド樹脂が薄くなる部分の面積が小さくすることができる。これにより、モールド樹脂によりリードフレームを覆うことが、凹部を有しない場合と比べて容易に行える。
また、外部接続端子11cとベース板22との間に絶縁性部材40を配置することによって、外部接続端子11cとベース板22との間の絶縁性を向上させることができる。
この実施の形態5の電力半導体装置は、モールド樹脂の凹部がベース板の凸部に嵌め合わされている構造を有している。その結果、電力半導体モジュールの強度を向上させ、電力半導体モジュールの反りを低減することができる。また、モールド樹脂によりリードフレームを覆うことが、モールド樹脂が凹部を有しない場合と比べて容易に行える。
また、この実施の形態5の電力半導体装置は、外部接続端子とベース板との間に絶縁性部材が配置される構成を有している。その結果、外部接続端子とベース板との間の絶縁性を向上させることができる。また、この実施の形態5の電力半導体装置によれば、電力半導体装置を薄くすることができる。
実施の形態6.
次に、実施の形態6による回転電機について図9および図10を用いて説明する。実施の形態6では、複数の電力半導体モジュールをベース板に配置した回転電機である。図9は、この発明の実施の形態6による回転電機を示す断面図である。図10は、図9の回転電機の回路構成を模式的に示す図である。この実施の形態6による回転電機100は、モータ駆動および発電が可能なモータージェネレータである。
この実施の形態6による回転電機100は、電力半導体装置6と、機械部50とを備えている。機械部50は、円柱形状のシャフト51と、円筒形状のロータ52と、円筒形状のステータ53と、ブラケット54と、2つのベアリング55と、プーリ56とを有している。シャフト51は、回転軸である。ロータ52は、シャフト51の径方向外側に取り付けられている。ステータ53は、ロータ52に対向して、シャフト51の径方向外側に設けられている。ブラケット54は、ロータ52およびステータ53を収納するケースである。ブラケット54の形状は、両側が塞がれた円筒形状である。ステータ53は、ブラケット54の内側に取り付けられている。ブラケット54は、非出力側ブラケット54aおよび出力側ブラケット54bを有している。シャフト51は、2つのベアリング55によって、非出力側ブラケット54aおよび出力側ブラケット54bに、それぞれ回転可能に支持されている。シャフト51の出力側ブラケット54b側の先端部には、機械部50の出力を回転電機100の外部に伝達するためのプーリ56が設けられている。
電力半導体装置6は、非出力側ブラケット54aの外側に取り付けられている。電力半導体装置6は、複数の電力半導体モジュール10と、共通のベース板23と、複数の接着剤30とを有している。各接着剤30は、各電力半導体モジュール10と共通のベース板23の間にそれぞれ配置されている。各電力半導体モジュール10は、各接着剤30によって、共通のベース板23に固定されている。すなわち、電力半導体装置6は、1つのベース板23上に、複数の電力半導体モジュール10を有している。ベース板23は、非出力側ブラケット54aに固定されている。すなわち、ベース板23は、プーリ56が設けられている側と反対側のブラケット54に固定されている。この例では、電力半導体装置6は、モータ駆動と発電が可能な3相または6相の電力変換回路を構成している。
複数の電力半導体モジュール10、ベース板23、および複数の接着剤30は、それぞれ別々の部材となっている。そのため、ベース板の構造、ベース板に搭載する電力半導体モジュールの個数、および電力半導体モジュールの回路構成は任意とすることができる。そのため、電力半導体装置6では、電力半導体モジュールの構造が変更される度に、モールド金型およびリードフレーム金型を作り直す必要がない。したがって、モールド金型およびリードフレーム金型の製造費用および製造期間が生じない。これにより、電力半導体装置を安価に製造することができる。
また、電力半導体モジュール10、ベース板23、および機械部50を別々に組み立てた後に、回転電機100として組み合わせることができる。そのため、製造ラインの構成の自由度が向上する。また、電力半導体モジュール10、ベース板23、および機械部50を、それぞれ別の製造ラインで生産し、それぞれの製造ラインで検査することができる。そのため、回転電機100として組み上げる前に、各部品の不良を発見することができる。これにより、回転電機の製造コストを低減することができる。
電力半導体装置6は、プーリ56と反対側のブラケット54にベース板23が固定されているため、回転電機100が動作する際の振動を直接受けることがない。そのため、回転電機100の振動により、電力半導体装置6が故障する可能性が抑制される。これにより、回転電機100の動作寿命を延ばすことができる。
この実施の形態6の電力半導体装置は、1つの共通のベース板上に、複数の電力半導体モジュールを有する構造を備えている。その結果、電力半導体装置を安価に製造することができる。
また、この実施の形態6の回転電機は、プーリと反対側のブラケットに電力半導体装置のベース板が固定されている構造を有している。その結果、回転電機の動作寿命を延ばすことができる。
1,2,3,4,5,6 電力半導体装置、10,16 電力半導体モジュール、11 リードフレーム、11a 実装面、11b 非実装面、11c 外部接続端子、12 電力半導体チップ、15 モールド樹脂、15a 凹部、20,21,22,23 ベース板、21a,22a 平板部、21b,22b 凸部、30 接着剤、32 絶縁部材、40 絶縁性部材、52 ロータ、53 ステータ、54 ブラケット、56 プーリ、100 回転電機。
この発明の電力半導体装置は、電力半導体モジュールと、電力半導体モジュールを固定する金属製のベース板と、電力半導体モジュールをベース板に固定する接着剤とを備えている。電力半導体モジュールは、実装面および非実装面を有するリードフレームと、リードフレームの実装面に実装された電力半導体チップと、リードフレームの実装面側および非実装面側の両面に設けられたモールド樹脂とを有している。この発明の電力半導体装置は、電力半導体チップ、リードフレーム、モールド樹脂、接着剤、ベース板の順に配置され、リードフレームとベース板とは、モールド樹脂および接着剤により絶縁されており、接着剤は、絶縁部材を内包し、絶縁部材の硬度は、モールド樹脂の硬度よりも高い

Claims (10)

  1. 電力半導体モジュールと、
    前記電力半導体モジュールを固定する金属製のベース板と、
    前記電力半導体モジュールを前記ベース板に固定する接着剤とを備え、
    前記電力半導体モジュールは、
    実装面および非実装面を有するリードフレームと、
    前記リードフレームの前記実装面に実装された電力半導体チップと、
    前記リードフレームの前記実装面側および前記非実装面側の両面に設けられたモールド樹脂とを有し、
    前記電力半導体チップ、前記リードフレーム、前記モールド樹脂、前記接着剤、前記ベース板の順に配置され、前記リードフレームと前記ベース板とは、前記モールド樹脂および前記接着剤により絶縁されている
    電力半導体装置。
  2. 前記接着剤は、絶縁部材を内包し、
    前記絶縁部材の硬度は、前記モールド樹脂の硬度よりも高い
    請求項1に記載の電力半導体装置。
  3. 前記リードフレームの前記非実装面側に設けられた前記モールド樹脂の厚さをH1、前記接着剤の厚さをH2、前記接着剤の厚さ方向における前記絶縁部材の最大幅をD1とした場合、
    H1<D1≦H2
    の関係を満たす
    請求項2に記載の電力半導体装置。
  4. 前記ベース板のばりの大きさ、前記接着剤に含まれる導電性異物の前記接着剤の厚さ方向の大きさ、および前記ベース板の前記電力半導体モジュールが固定される面の表面粗さのうちの最大値は、前記接着剤の厚さ方向における前記絶縁部材の最大幅以下である
    請求項2または3に記載の電力半導体装置。
  5. 前記ベース板は、平板部と凸部とを有し、
    前記凸部は、前記電力半導体モジュールが固定される側において、前記平板部から前記電力半導体モジュールに向けて突出している
    請求項1から4のいずれか1項に記載の電力半導体装置。
  6. 前記リードフレームの前記非実装面側に設けられた前記モールド樹脂は、凹部を有し、
    前記凹部は、前記凸部に嵌め合わされている
    請求項5に記載の電力半導体装置。
  7. 前記リードフレームは、前記モールド樹脂から延出した部分に外部接続端子を有し、
    前記外部接続端子は、絶縁性部材によって前記ベース板に支持されている
    請求項1から6のいずれか1項に記載の電力半導体装置。
  8. 1つの前記ベース板上に、複数の前記電力半導体モジュールを有する
    請求項1から7のいずれか1項に記載の電力半導体装置。
  9. 実装面および非実装面を有するリードフレームを有し、前記リードフレームの前記実装面に電力半導体チップを実装した後、前記実装面側および前記非実装面側の両面をモールド樹脂により封止することにより電力半導体モジュールを作製する電力半導体モジュール作製工程と、
    前記電力半導体モジュールを固定するベース板に接着剤を塗布する塗布工程と、
    前記非実装面側に設けられた前記モールド樹脂が前記ベース板と対向するように前記電力半導体モジュールを前記ベース板に配置し、前記電力半導体モジュールによって前記接着剤を押し広げながら、前記電力半導体モジュールを前記ベース板に搭載する搭載工程と、
    前記接着剤を硬化させることによって、前記電力半導体モジュールを、前記ベース板に固定する固定工程と
    を含む電力半導体装置の製造方法。
  10. ロータと、ステータと、プーリと、前記ロータおよび前記ステータを収納するブラケットを有し、
    請求項1から8のいずれか1項に記載の電力半導体装置を備える回転電機であって、
    前記プーリが設けられている側と反対側の前記ブラケットに、前記ベース板が固定されている
    回転電機。
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Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59123291A (ja) * 1982-12-28 1984-07-17 松下電器産業株式会社 電子機器用回路基板
JPS60170248A (ja) * 1984-02-15 1985-09-03 Toshiba Corp 半導体装置
JPH0319386A (ja) * 1989-06-16 1991-01-28 Hitachi Ltd 電子装置
JPH05144970A (ja) * 1991-11-25 1993-06-11 Toshiba Corp 半導体実装基板装置
JPH06260572A (ja) * 1993-03-05 1994-09-16 Hitachi Cable Ltd 半導体装置
JPH0710955U (ja) * 1993-07-19 1995-02-14 サンケン電気株式会社 半導体装置
JPH09153574A (ja) * 1995-11-30 1997-06-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置および半導体モジュール
JPH11243166A (ja) * 1998-02-24 1999-09-07 Fuji Electric Co Ltd 樹脂封止型半導体装置
JP2002110867A (ja) * 2000-10-02 2002-04-12 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2005136264A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置及び電力用半導体モジュール
WO2009041300A1 (ja) * 2007-09-26 2009-04-02 Mitsubishi Electric Corporation 熱伝導性シート及びパワーモジュール
JP2016072354A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 トヨタ自動車株式会社 パワーモジュール
JP2016197677A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 三菱電機株式会社 パワー半導体装置および車載用回転電機の駆動装置

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59123291A (ja) * 1982-12-28 1984-07-17 松下電器産業株式会社 電子機器用回路基板
JPS60170248A (ja) * 1984-02-15 1985-09-03 Toshiba Corp 半導体装置
JPH0319386A (ja) * 1989-06-16 1991-01-28 Hitachi Ltd 電子装置
JPH05144970A (ja) * 1991-11-25 1993-06-11 Toshiba Corp 半導体実装基板装置
JPH06260572A (ja) * 1993-03-05 1994-09-16 Hitachi Cable Ltd 半導体装置
JPH0710955U (ja) * 1993-07-19 1995-02-14 サンケン電気株式会社 半導体装置
JPH09153574A (ja) * 1995-11-30 1997-06-10 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置および半導体モジュール
JPH11243166A (ja) * 1998-02-24 1999-09-07 Fuji Electric Co Ltd 樹脂封止型半導体装置
JP2002110867A (ja) * 2000-10-02 2002-04-12 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2005136264A (ja) * 2003-10-31 2005-05-26 Mitsubishi Electric Corp 電力用半導体装置及び電力用半導体モジュール
WO2009041300A1 (ja) * 2007-09-26 2009-04-02 Mitsubishi Electric Corporation 熱伝導性シート及びパワーモジュール
JP2016072354A (ja) * 2014-09-29 2016-05-09 トヨタ自動車株式会社 パワーモジュール
JP2016197677A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 三菱電機株式会社 パワー半導体装置および車載用回転電機の駆動装置

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