JP2019141528A - 遊技機用検査装置、遊技機用検査方法及び遊技機製造方法 - Google Patents
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Abstract
Description
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する遊技機用検査装置(例えば、管理コンピュータ500及び出荷前釘検査用装置21)であって、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報(例えば、画像データ)を取得する取得手段(例えば、ステップS102を実行する管理コンピュータ500)と、
前記取得手段により取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報(例えば、設計データ)に基づいて予め設定された対象範囲(例えば、マッチング領域)内にて釘の状態を検査する検査手段(例えば、ステップS103〜S109を実行する管理コンピュータ500)と、
を備える。
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する遊技機用検査方法であって、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報(例えば、画像データ)を取得する取得ステップ(例えば、ステップS102)と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報(例えば、設計データ)に基づいて予め設定された対象範囲(例えば、マッチング領域)内にて釘の状態を検査する検査ステップ(例えば、ステップS103〜S109)と、
を備える。
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する工程を有する遊技機製造方法であって、
前記工程は、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ(例えば、ステップS102)と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報(例えば、設計データ)に基づいて予め設定された対象範囲(例えば、マッチング領域)内にて釘の状態を検査する検査ステップ(例えば、ステップS103〜S109)と、
を備える。
前記釘穴位置情報により特定される釘穴位置に基づいて前記対象範囲を設定する設定手段(又は設定ステップ)(例えば、図10の処理を行う管理コンピュータ500)をさらに備える
ようにしてもよい。
前記対象範囲は、1つの釘の頭全部を含むが、他の釘の頭全部を含まない範囲である(例えば、図12参照)、
ようにしてもよい。
前記検査手段(又は検査ステップ)は、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報(例えば、図18(C)、(E)参照)を用いて釘の状態を検査する、
ようにしてもよい。
前記検査手段(又は検査ステップ)が前記対象範囲内にて釘を検出できなかったときに異常を報知する報知手段(又は報知ステップ)をさらに備える(例えば、ステップS103でのエラー報知)、
ようにしてもよい。
前記パターンマッチングで使用されるテンプレート画像を、予め用意されたマスター(例えば、マスター盤のパチンコ遊技機1)の遊技盤面を読み取った読取情報から取得する取得手段(又は取得ステップ)(例えば、マスターデータ登録処理)をさらに備える、
ようにしてもよい。
はじめに、遊技機の一例であるパチンコ遊技機1の全体の構成について説明する。図1は、パチンコ遊技機1を正面から見た正面図である。図2は、遊技盤を正面から見た正面図である。尚、以下において、図1の手前側をパチンコ遊技機1の前方(前面、正面)側、奥側を後方(背面)側とし、パチンコ遊技機1を前面側から見たときの上下左右方向を基準として説明する。尚、本実施例におけるパチンコ遊技機1の前面とは、該パチンコ遊技機1にて遊技を行う遊技者と対向する対向面である。
以下、パチンコ遊技機1の製造について説明する。なお、当該製造については、例えば、特開2017−18519に開示された技術を利用できる。
パチンコ遊技機1の製造は、管理コンピュータ500により制御される。管理コンピュータ500は、図5に示すように、データバス501と、制御プログラムにもとづいて各種の処理を行うCPU(中央演算処理回路)502と、RAM503と、時間情報等を出力可能なリアルタイムクロック(RTC)504と、前記制御プログラムや、パチンコ遊技機1の製造に使用されるデータが記憶される記憶装置505と、キーボードやマウス等の入力装置506と、ディスプレイ等の表示装置507と、各種印刷物を出力可能なプリンタ508と、後述の出荷前釘検査用装置等のパチンコ遊技機1の製造ラインで使用される各種装置とのデータ通信を行うための通信部509と、を備える。CPU502等は、データバス501に接続されている。
図6は、パチンコ遊技機1の製造工程における遊技盤2の製造工程の大まかな流れを示すフローチャートである。なお、下記で使用される装置は、適宜、管理コンピュータ500により制御される。
次に、本実施例の出荷前釘検査(ステップS12)で使用される出荷前釘検査用装置21について、図7〜図9にもとづいて説明する。図7は、出荷前釘検査用装置21の構成例を示す右側面図である。図8は、出荷前釘検査用装置21における各種クランプの設置例を示す正面図である。図9は、出荷前釘検査用装置21が備えるスキャナー部210の構成例を示す右側面図である。
図6の出荷前釘検査(ステップS12)では、管理コンピュータ500(CPU502)が予め用意されたプログラム(記憶装置505に記憶されている。)を実行することにより、出荷前釘検査用装置21を制御する。出荷前釘検査用装置21は、管理コンピュータ500の制御のもとで動作する。具体的に、スキャナー部210は、図7に示すスキャン方向に移動しながら撮像動作(発光部材LS1〜LS4から、障害釘200が設けられた遊技盤面2aに照射した光の反射光の受光)を順次行い、これにより、遊技盤面2aを線状の領域ごとに撮像した撮像画像の画像データを順次生成して管理コンピュータ500に供給する(このような動作を、遊技盤面2a(障害釘200等を含む)を「スキャンする」ともいう。)。管理コンピュータ500は、順次供給される画像データを組み合わせ、遊技盤面2a全体の画像データを生成する。管理コンピュータ500は、当該画像データに基づいて、画像処理により各障害釘200の状態を検査する。当該検査では、各障害釘200の頭部200bをパターンマッチングにより検出し、当該検出した各頭部200bの位置と、予め用意された各障害釘200の頭部200bの設定位置と、の比較により、各障害釘200の傾斜が適切かを判定する。前記のパターンマッチングのため、障害釘200の頭部200bそれぞれについて、パターンマッチングに使用されるテンプレート画像(図21等)が登録され、また、各障害釘200の頭部200bそれぞれについて、パターンマッチングを行うマッチング領域(図12等)が設定されている。そこで、出荷前釘検査の詳細を説明する前に、マッチング領域を設定するための処理(マッチング領域設定処理)と、テンプレート画像を登録するための処理(マスターデータ登録処理)とを説明する。これら処理は、適宜のタイミングで実行される。
管理コンピュータ500(CPU502)は、予め用意されたプログラム(記憶装置505に記憶されている。)を実行することにより、例えば、図10に示すマッチング領域設定処理を実行する。
図13にマスターデータ登録処理のフローを示す。管理コンピュータ500(CPU502)は、予め用意されたプログラム(記憶装置505に記憶されている。)を実行することにより、下記の動作を行う。また、出荷前釘検査用装置21は、管理コンピュータ500による制御又は出荷前釘検査用装置21への操作に基づいて下記の動作を行う。
図18(A)〜(D)は、光源と撮影機材に応じた撮影画像とエッジ検出結果の比較例を示している。図18(A)は、通常の室内照明を光源とし、一眼カメラを撮影機材とした場合であり、図18(B)は、蛍光灯1本を光源とし、スキャナー(ラインセンサカメラ)を撮影機材とした場合であり、図18(C)は、蛍光灯2本を光源とし、スキャナーを撮影機材とした場合であり、図18(D)は、LED照明を光源とし、スキャナーを撮影機材とした場合である。図18(C)に示すように、蛍光灯2本の場合には、他の場合と比較して、障害釘200の頭部200bの明領域(図14(C)に示す、白色部分R1。以下、特徴画像という。)の縦方向(上下方向)と横方向(左右方向)の対称性が高くなっており、均一な明領域を含む撮影画像が得られる。また、障害釘200の頭部200bにおけるエッジ付近が明確になり、遊技盤面2aの色彩や模様との同化が生じにくくなる。これにより、円探索を行うときに、障害釘200の頭部200bに対応する円の検出率や検出精度を向上させることができる。尚、LED照明として、拡散板などを用いた蛍光灯型の照明を使用することで、図18(C)に示すような蛍光灯2本を光源とした場合と同様の撮影画像が得られるものとしてもよい。また、導光板などを用いた面発光型のLED照明を使用することで、図18(D)に示した場合とは異なる均一な反射光領域を含む撮影画像が得られるものとしてもよい。LED照明を用いた場合には、蛍光灯を用いた場合に比べて、装置の初期製造コストが増大するのに対し、寿命による輝度低下を抑制でき安定した測定が可能になる。また寿命が長いこともあり照明の交換頻度を低減する事が出来る。さらに、LED照明の場合には、消費電力を抑制したりすることができる。装置の製造コストや撮影画像の品質などを勘案して、どのような光源を採用するかの選定が行われるようにすればよい。
図19に出荷前釘検査のフローを示す。管理コンピュータ500(CPU502)は、予め用意されたプログラム(記憶装置505に記憶されている。)を実行することにより、下記の動作を行う。また、出荷前釘検査用装置21は、管理コンピュータ500による制御又は出荷前釘検査用装置21への操作に基づいて下記の動作を行う。
本実施例では、障害釘200の頭部200bを検出する際にパターンマッチングを用いるが、1つの頭部200bに対して当該パターンマッチング(障害釘200の検査)を行う領域をマッチング領域に限定しているため、各頭部200bの検出速度が速く、処理負担が軽減されている。従って、各障害釘200の検査時間が短い。マッチング領域を、頭部200bが形成する釘傘の最大外径の2倍の長さを有する正方形領域程度の大きさにすることで、マッチング領域の合計面積を、出荷前釘検査で得られる全体画像の面積よりも格段に小さくすることができ、その結果、全体画像の全体に対してパターンマッチングを行うよりも、頭部200bの検出時間や障害釘200の検査時間を飛躍的に短くできる(結果的にパチンコ遊技機1の製造時間も短くなる)。例えば、全体画像(遊技盤2が写っていない余白領域を含む)のサイズを、490×570mmとし、画像解像度を400DPIとし、1Pixel=0.0635mmとすると、全体画像のサイズ(画素数)は、7716×8976=約69258816Pixelとなる。また、マッチング領域のサイズとして、一辺が概ね8.4mm(頭部200bの直径4.2mmの2倍)となる129×129Pixelを採用し、検査対象の障害釘200を400本と仮定すると、マッチング領域の合計サイズ(画素数)は、129×129×400=約6656400Pixelとなる。そうすると、全体画像のサイズ(画素数)に対する、マッチング領域の合計サイズが占める割合は、6656400÷69258816×100=約9.6%となり、パターンマッチングを行う対象の画素数は、全体画像全体に対して行う場合に比べ飛躍的に減る。上記全体画像のサイズ及びマッチング領域のサイズについて、本発明者が実際に試行してみたところ、全体画像の全体に対してパターンマッチングを行い、各障害釘200の頭部200bの検出を行わせた場合、処理時間に1時間以上要したが、マッチング領域の使用により、処理時間は1秒以内に短縮した。このように、処理時間が劇的に減った。
以上、本発明の実施例を図面により説明してきたが、具体的な構成はこれら実施例に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲における変更や追加があっても本発明に含まれる。特に、前記実施例として示した全ての技術的特徴を備えるものでなくてもよく、上記実施例として示した技術的特徴の一部はどのようなものであっても削除できる。具体的に、上記課題を解決するための構成も削除できる。この場合、当該構成の削除により別発明が成立しうる。下記の変形例の少なくとも一部同士を組み合わせてもよい。
上記出荷前釘検査における障害釘200の検査の手法を、ステップS4、S5、S7、S9の検査に適用してもよい。なお、遊技盤面2aの歪みは、役物等の取り付け後に発生することが多いので、上記エリアごとの補正(ステップS107)は、出荷前釘検査等(役物等の他の部品を遊技盤2に取り付けたあと)において特に有効となる。
前記の実施例では、新規に製造される遊技盤2を対象にしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、中古(未使用のものを含む)のパチンコ遊技機1や遊技盤2を対象としてもよい(特に、出荷前釘検査と同様の方法で釘を検査できる)。また、例えば、中古で同型のパチンコ遊技機1が複数台ある場合、そのうちの良好なもの(1台又は複数台のパチンコ遊技機1)をマスターとして、マスターデータの登録等を行ってもよい(頭部200bの設定位置は、マスターデータ登録時のテンプレート画像の位置を採用し、マッチング領域は、当該テンプレート画像の位置を中心に設定する)。また、スキャナー部210によるスキャンを実行し、障害釘200の釘の頭部200bの位置を検出して(画像処理により検出してもよいし、手動で検出してもよい)、上記設計データと同フォーマットの障害釘20に関するデータを生成し、マッチング領域等を設定してもよい(このとき、複数台をスキャンして、頭部200bの位置は、その平均としてもよい)。
ステップS105、S107で、ずれ量の平均値をとる場合、加算対象のずれ量のうち、最大値、第1閾値よりも大きな値、最小値、第2閾値よりも小さな値等を加算対象から除外してもよい。最大値や第1閾値よりも大きな値は、補正を行っても、傾斜が異常の障害釘である可能性が高いので、頭部200bの位置を補正する必要がない。また、最小値、第2閾値よりも小さな値は、補正を行わなくても、傾斜は正常である可能性が高いので、頭部200bの位置を補正する必要がない。また、エリアAからDのうちの少なくとも2つのエリア同士の一部は重複してもよい。当該重複した領域に位置する障害釘200は、各エリアに関する補正の対象としてもよいし、補正量(ずれ量の平均値)の大きい方による補正の対象としてもよい(当該障害釘200のずれ量は、各エリアのずれ量の平均値の計算に使用してよい)。
マッチング領域の大きさは、障害釘の場所、障害釘の種類(一般釘であるか、指定釘であるかなど)等に応じて異ならせてもよい(これにより、頭部200bの位置を検出するための適切な大きさのマッチング領域を設定できる)。また、マッチング領域の大きさも、頭部200bが形成する釘傘の最大外径の3倍等でもよい。ただし、他の障害釘200の頭部200bがすべて入ってしまうような大きさにマッチング領域を設定すると、頭部200bの誤検出(位置の誤検出を含む)が生じるおそれがある。マッチング領域は、障害釘の傾斜として想定される最大の傾斜で傾斜したときの障害釘の頭部200bを含む範囲としてもよい(これによっても処理時間等を削減できる)。
マスターデータに含まれる許容距離は、障害釘200の種類(指定釘であるか一般釘であるかなど)や位置によらず、一定であってもよいし、障害釘200の種類や位置などに応じて異ならせてもよい。特に、第1始動入賞口に向けて遊技球を誘導する指定釘204等の各種入賞口に対応付けて設けられ、遊技の進行(各種入賞)を含む遊技機の性能に大きく影響する指定釘(ペア釘を含む)については、その傾斜(傾斜角度及び傾斜方向)及び/又は釘間距離(指定釘同士の距離。ペア釘の場合は、当該ペア釘を構成する指定釘間の距離)が特に重要である。このため、指定釘についての上記許容距離は、他の釘(一般釘等)よりも短くするとよい。許容距離を複数段階設け、ステップS108で計算した距離と、許容距離との比較(ステップS109)において、計算した距離が第1の許容距離以下であれば、比較結果(検査結果)をOKとし、計算した距離が第1の許容距離よりも長く第2の許容距離以下であれば、当該障害釘200の再整備とし、計算した距離が第2の許容距離よりも長ければ、当該パチンコ遊技機1を不良品としてもよい。
ペア釘の間の距離を計算してもよい。例えば、釘番号により、ペア釘を特定可能としておき(マスターデータの「傾斜」からも特定できる)、ステップS108などにおいて、ペア釘の各位置(例えば、ステップS107で補正された後の頭部200bの位置)の座標から当該ペア釘を構成する2つの障害釘200間の釘間距離を計算してもよい。なお、釘間距離は、例えば、頭部200bが形成する釘傘の外径が最大となる箇所の中心位置(胴部200aの先端の中心位置)間の距離である。さらに、一般的に、パチンコ遊技機1において遊技盤面2aから障害釘200の先端部(頭部200bの頂点)までの距離は約17.8mmであり、釘の形状は規格化されて予め定められた形状の釘が遊技盤面2aに用いられる(つまり、釘の形状等から、頭部200bの位置(胴部200aの先端側の中心位置)等、釘の特定箇所の位置は決まってくる)。これにより、画像における座標から三角関数を用いて、ペア釘を構成する各指定釘の傘下位置(例えば、盤面から14.3mm)における釘間距離(例えば、胴部200aの中心軸間の距離、又は、胴部200aの直径等を考慮して計算される胴部200a間の距離(中心軸間ではなく、外周面間の距離)等、距離について同じ)、ゲージ棒位置(盤面から5.5mm(遊技球の半径に相当する位置))における釘間距離、又は、盤面からの任意の高さ位置における釘間距離を算出して特定することができる。この特定した釘間距離(間隔寸法)を後述の変形例8の遊技盤固有情報に対応付けて登録することができる。また、ステップS108にて計算した距離に基づいて、三角関数等を使用することにより、障害釘200の傾斜(傾斜角度及び傾斜方向)を計算してもよい。前記のようにして、釘間距離や傾斜を求めることは、検出(測定)した障害釘200の位置(頭部200bの位置)に基づいて行われるものであり、釘間距離や傾斜(傾斜角度及び傾斜方向)の測定に当たる。つまり、出荷前釘検査用装置21及び管理コンピュータ500(管理コンピュータ500の処理を実行可能な出荷前釘検査用装置21としてもよい)は、管理コンピュータ500の処理を行う出荷前釘検査用装置21は、釘間距離や傾斜の測定装置として機能してもよい。
上記距離の計算等の、計算(又は算出)の代わりに、テーブル等を参照して、前記距離や傾斜を取得してもよい。当該テーブル等の参照も、計算(又は算出)という(テーブル作成時に値を計算していたり、テーブルの参照時に所定の計算が行われていたりするため)。なお、計算、算出、テーブルの参照等を総称して、「取得」と捉えてもよい。
図27は、原画像(全体画像)を示す画像データに遊技盤固有情報を付加する変形例を示している。図27(A)に示す原画像GG1を示す画像データが生成された場合に、管理コンピュータ500は、原画像GG1に対応する遊技盤2のシリアル番号や出荷前釘測定の日付等の情報(データ)を、図27(B)に示す遊技盤固有情報BD1として取得する(例えば、遊技盤2に貼付されたシール15の二次元コード15aを読み取って取得する)。遊技盤固有情報BD1は、二次元コードやテキストデータを画像データとして生成あるいは変換したものであればよい。原画像GG1を示す画像データに、遊技盤固有情報BD1を付加することにより、図27(C)に示すような保存用画像GG2を示す画像データが作成される。保存用画像GG2では、原画像GG1の右下における余白部分(遊技盤面2aの範囲外)に、遊技盤固有情報BD1が付加されている。このように、原画像GG1を示す画像データそのものに、原画像GG1とは異なる画像データとして作成された遊技盤固有情報BD1を付加することにより、保存用画像GG2を示す画像データを生成し、管理コンピュータ500の記憶装置505、あるいは記憶装置505とは異なるデータベースに、格納することで保存されてもよい。これにより、大量の画像データが生成された場合でも、容易に管理可能として、遊技盤2に対応する画像データを取得しやすくなる。なお、保存用画像GG2を示す画像データに対応付けて、出荷前釘検査の検査結果、変形例6のペア釘間の距離や障害釘200の傾き等の情報を付加してもよい。保存用画像GG2やこれら情報は、釘間測定書の情報に含ませてもよい。保存用画像GG2を保存しておくことで、遊技盤2を出荷したあとに、当該遊技盤2の出荷時の釘の状態を事後的に確認できる(釘に対する不正があった場合に、その不正が出荷後に行われたのか、そうでないのかが分かる)。
ステップS106〜S107に関連し、複数のエリアのうち、一部のエリアのみ、頭部200bの位置を補正し(ステップS106〜S107)、他のエリアについては補正を行わなくてもよい。
上記実施例では、パチンコ遊技機1の1個体ごとに、エリアごとのずれ量の平均値を計算しているが、パチンコ遊技機1の機種ごとに、エリアごとのずれ量の平均値を計算してもよい。この場合、例えば、1番目のパチンコ遊技機1の出荷前釘検査のステップS107で計算した、ずれ量の平均値を記憶しておき、2番目以降のパチンコ遊技機1の出荷前釘検査のステップS107では、前記で記憶した平均値により頭部200bの位置を補正するとよい。
管理コンピュータ500が行う処理の少なくとも一部を出荷前釘検査用装置21が実行するようにしてもよい。特に、出荷前釘検査に係る処理を出荷前釘検査用装置21がすべて行うようにしてもよい(この場合、出荷前釘検査用装置21は、釘検査装置になる)。
また、前記実施例では、遊技機の一例としてパチンコ遊技機1を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、予め定められた球数の遊技球が遊技機内部に循環可能に内封され、遊技者による貸出要求に応じて貸し出された貸出球や、入賞に応じて付与された賞球数が加算される一方、遊技に使用された遊技球数が減算されて記憶される、所謂、封入式遊技機にも本発明を適用可能である。
また、前記実施例では、遊技媒体の一例として、球状の遊技球(パチンコ球)が適用されていたが、球状の遊技媒体に限定されるものではなく、例えば、メダル等の非球状の遊技媒体であってもよい。
図26は、遊技盤面2aが垂直になる状態で、遊技盤2を保持して固定した場合に、スキャン方向を垂直方向とした変形例を示している。この変形例において、搬送装置13Hは、遊技盤面2aが垂直になる状態で、矢印B11で示される方向に搬送する。出荷前釘検査用装置21は、搬送装置13Hにより遊技盤2が通過する搬送経路の所定位置に設置され、この位置に遊技盤2が搬送されると、搬送装置13Hを停止させ、昇降クランプ250または上止めクランプ260の設置位置を変更した構成において、パチンコ遊技機1を押さえることにより、遊技盤2を保持して固定できればよい。当該出荷前釘検査用装置21では、スキャナー部210を矢印A11で示されるスキャン方向に移動させる搬送制御が行われるようにすればよい。このように、スキャナー部210を垂直方向に移動させる搬送制御を行い、パチンコ遊技機1の通常設置時における上側から下側へと向かう方向に、遊技盤面2aの撮影が行われるようにすればよい。尚、パチンコ遊技機1の通常設置時における下側から上側へと向かう方向に、遊技盤面2aの撮影が行われるようにしてもよい。搬送装置13Hの所定位置には、判定用ランプ21Aが設けられてもよい。判定用ランプ21Aは、出荷前釘検査用装置21により障害釘200の傾きを測定した結果にもとづいて、出荷前釘検査処理の釘の検査結果(ステップS109の比較結果)を、認識可能に報知するものであればよい。
また、上記実施例では、複数の発光部材LS1〜LS4を複数の直管状光源であるものとしていたが、本発明はこれに限定されず、例えば、平面光源、ライン型光源であってもよい。
上記で説明した遊技機又は遊技盤の製造方法は、図6の釘打ち(ステップS3)等の遊技機を形成するための行程(ステップS1、S10、S11等を含んでもよい。)及び出荷前釘検査(ステップS12)があればよく、第1整備(ステップS5)、第1検査(ステップS6)、第2整備(ステップS7)、第2検査(ステップS8)等の行程は、適宜省略してもよい。
上記実施例や変形例から把握できる構成を以下に列挙する。
特開2009−11606号公報には、遊技盤面に設けられた釘の状態を検査するために、ライン状に照明光を照射して撮像し、各釘の撮像頭部位置データに含まれる変位成分や距離成分を用いて、釘の状態の良否を判別することが提案されている。当該技術では、画像処理により釘の状態を検査するが、画像処理の対象が遊技盤面全面となっているため、釘の状態の検査時間が長いという問題がある。
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する遊技機用検査装置(例えば、管理コンピュータ500及び出荷前釘検査用装置21)であって、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報(例えば、画像データ)を取得する取得手段(例えば、ステップS102を実行する管理コンピュータ500)と、
前記取得手段により取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報(例えば、設計データ)に基づいて予め設定された対象範囲(例えば、マッチング領域)内にて釘の状態を検査する検査手段(例えば、ステップS103〜S109を実行する管理コンピュータ500)と、
を備える。
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する遊技機用検査方法であって、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報(例えば、画像データ)を取得する取得ステップ(例えば、ステップS102)と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報(例えば、設計データ)に基づいて予め設定された対象範囲(例えば、マッチング領域)内にて釘の状態を検査する検査ステップ(例えば、ステップS103〜S109)と、
を備える。
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する工程を有する遊技機製造方法であって、
前記工程は、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ(例えば、ステップS102)と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報(例えば、設計データ)に基づいて予め設定された対象範囲(例えば、マッチング領域)内にて釘の状態を検査する検査ステップ(例えば、ステップS103〜S109)と、
を備える。
前記釘穴位置情報により特定される釘穴位置に基づいて前記対象範囲を設定する設定手段(又は設定ステップ)(例えば、図10の処理を行う管理コンピュータ500)をさらに備える
ようにしてもよい。
前記対象範囲は、1つの釘の頭全部を含むが、他の釘の頭全部を含まない範囲である(例えば、図12参照)、
ようにしてもよい。
前記検査手段(又は検査ステップ)は、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報(例えば、図18(C)、(E)参照)を用いて釘の状態を検査する、
ようにしてもよい。
前記検査手段(又は検査ステップ)が前記対象範囲内にて釘を検出できなかったときに異常を報知する報知手段(又は報知ステップ)をさらに備える(例えば、ステップS103でのエラー報知)、
ようにしてもよい。
前記パターンマッチングで使用されるテンプレート画像を、予め用意されたマスター(例えば、マスター盤のパチンコ遊技機1)の遊技盤面を読み取った読取情報から取得する取得手段(又は取得ステップ)(例えば、マスターデータ登録処理)をさらに備える、
ようにしてもよい。
特開2009−11606号公報には、遊技盤面に設けられた釘の状態を検査するために、ライン状に照明光を照射して撮像し、各釘の撮像頭部位置データに含まれる変位成分や距離成分を用いて、釘の状態の良否を判別することが提案されている。当該技術では、画像処理により釘の状態を検査するが、遊技盤面の歪み等が考慮されておらず、釘の状態の検査の精度が良くない場合がある。
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する遊技機用検査装置(例えば、管理コンピュータ500及び出荷前釘検査用装置21)であって、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得手段(例えば、ステップS102を実行する管理コンピュータ500)と、
前記取得手段により取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置(例えば、障害釘200の頭部200bの位置)を検出する検出手段(例えば、ステップS103を実行する管理コンピュータ500)と、
前記検出手段が検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置(例えば、頭部200bの設定位置)との比較により釘の状態を検査する検査手段(例えば、ステップS109を実行する管理コンピュータ500)と、を備え、
前記検査手段は、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域(例えば、エリアA〜D)のうちの特定の領域内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り(例えば、ずれ量)を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する(例えば、ステップS106〜S107)。
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する遊技機用検査方法であって、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ(例えば、ステップS102)と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置(例えば、障害釘200の頭部200bの位置)を検出する検出ステップ(例えば、ステップS103)と、
前記検出ステップが検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置(例えば、頭部200bの設定位置)との比較により釘の状態を検査する検査ステップ(例えば、ステップS109)と、を備え、
前記検査ステップでは、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域(例えば、エリアA〜D)内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り(例えば、ずれ量)を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する(例えば、ステップS106〜S107)。
遊技盤面(例えば、遊技盤面2a)に設けられた釘(例えば、障害釘200)の状態を検査する工程を有する遊技機製造方法であって、
前記工程は、
前記遊技盤面(例えば、障害釘200が設けられた遊技盤面2a)を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ(例えば、ステップS102)と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置(例えば、障害釘200の頭部200bの位置)を検出する検出ステップ(例えば、ステップS103)と、
前記検出ステップが検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置(例えば、頭部200bの設定位置)との比較により釘の状態を検査する検査ステップ(例えば、ステップS109)と、を備え、
前記検査ステップでは、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域(例えば、エリアA〜D)内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り(例えば、ずれ量)を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する(例えば、ステップS106〜S107)。
ようにしてもよい。
ようにしてもよい。
ようにしてもよい。
前記検査手段(又は検査ステップ)は、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報(例えば、図18(C)、(E)参照)を用いて釘の状態を検査する、
ようにしてもよい。
前記パターンマッチングで使用されるテンプレート画像を、予め用意されたマスター(例えば、マスター盤のパチンコ遊技機1)の遊技盤面を読み取った読取情報から取得する取得手段(又は取得ステップ)(例えば、マスターデータ登録処理)をさらに備える、
ようにしてもよい。
2a 遊技盤面
21 出荷前釘検査用装置
200 障害釘
200a 胴部
200b 頭部
210 スキャナー部
500 管理コンピュータ
502 CPU
505 記憶装置
LS1〜LS4 発光部材
Claims (3)
- 遊技盤面に設けられた釘の状態を検査する遊技機用検査装置であって、
前記遊技盤面を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報に基づいて予め設定された対象範囲内にて釘の状態を検査する検査手段と、
を備える遊技機用検査装置。 - 遊技盤面に設けられた釘の状態を検査する遊技機用検査方法であって、
前記遊技盤面を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップと、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報に基づいて予め設定された対象範囲内にて釘の状態を検査する検査ステップと、
を備える遊技機用検査方法。 - 遊技盤面に設けられた釘の状態を検査する工程を有する遊技機製造方法であって、
前記工程は、
前記遊技盤面を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップと、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報に基づいて予め設定された対象範囲内にて釘の状態を検査する検査ステップと、
を備える遊技機製造方法。
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JP2002272931A (ja) * | 2001-03-19 | 2002-09-24 | Heiwa Corp | 釘調整支援装置およびこれを動作させるための動作プログラム |
JP2013022385A (ja) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | Sankyo Co Ltd | 携帯端末,携帯端末用プログラム,遊技用システム,及び遊技用管理装置 |
JP2017192515A (ja) * | 2016-04-19 | 2017-10-26 | 株式会社平和 | 携帯端末装置およびサーバ |
JP2018023484A (ja) * | 2016-08-09 | 2018-02-15 | 株式会社三共 | 遊技機用測定装置、遊技機用測定方法及び遊技機製造方法 |
-
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002272931A (ja) * | 2001-03-19 | 2002-09-24 | Heiwa Corp | 釘調整支援装置およびこれを動作させるための動作プログラム |
JP2013022385A (ja) * | 2011-07-25 | 2013-02-04 | Sankyo Co Ltd | 携帯端末,携帯端末用プログラム,遊技用システム,及び遊技用管理装置 |
JP2017192515A (ja) * | 2016-04-19 | 2017-10-26 | 株式会社平和 | 携帯端末装置およびサーバ |
JP2018023484A (ja) * | 2016-08-09 | 2018-02-15 | 株式会社三共 | 遊技機用測定装置、遊技機用測定方法及び遊技機製造方法 |
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