JP2018023484A - 遊技機用測定装置、遊技機用測定方法及び遊技機製造方法 - Google Patents

遊技機用測定装置、遊技機用測定方法及び遊技機製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】釘の傾きの測定精度を向上させる。【解決手段】複数の方向から障害釘２００の頭部に対して走査光（照射光）となる光を照射可能な複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４が、光源として配置されている。スキャナー部２１０を移動させる搬送制御を行い、遊技盤面２ａに設けられた障害釘２００等に照射した光の反射光を撮像する。こうして生成された読取情報となるスキャン画像データを用いて、障害釘２００の中心位置を取得し、基準データとなる比較データや設計データに示される基準位置と比較することで、障害釘２００の傾きとなる角度や方向等を測定する。【選択図】図３２

Description

本発明は、パチンコ遊技機等の遊技機に適用可能な遊技機用測定装置、遊技機用測定方法及び遊技機製造方法に関する。
パチンコ遊技機等の遊技機では、遊技盤面における遊技領域に多数の障害釘が打設されている。このような障害釘として、例えば真鍮製の釘等が使用され、遊技盤の製造時において釘打ち機等により遊技盤面に打設される。
遊技盤面に設けられた釘の良否を自動的に判別検査するために、ライン状に照明光を照射して撮像し、各釘の撮像頭部位置データに含まれる変位成分や距離成分を用いて、良否を判別することが提案されている（例えば特許文献１）。
特開２００９−１１６０６号公報
特許文献１に記載の技術では、不適切な照明光によって、釘の傾きを測定する精度が低下するおそれがあった。
この発明は、上記実状に鑑みてなされたものであり、釘の傾きの測定精度を向上させる遊技機用測定装置、遊技機用測定方法または遊技機製造方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、本願発明に係る遊技機用測定装置は、遊技盤面（例えば遊技盤２の遊技盤面２ａなど）に設けられ頭部が曲面形成された釘（例えば障害釘２００など）の傾きを測定可能な遊技機用測定装置（例えば出荷前釘測定装置２１など）であって、複数の方向から釘の頭部に対して光を照射可能に配置された光源（例えば発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４など）と、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報を用いて釘の傾きを測定する測定部（例えば撮像部２１３や管理コンピュータ５００のＣＰＵ５０２など）とを備える。
このような構成によれば、釘の傾きの測定精度を向上させることができる。
前記測定部は、反射光の組合せを含む読取情報としての特徴画像にもとづいて釘の中心位置を取得し（例えば図３４を参照）、該中心位置と、基準データに示される基準位置との比較により、釘の傾きを測定可能であってもよい（例えば図３７、図３８を参照）。
このような構成においては、釘の傾きの測定精度を向上させることができる。
あるいは、上記目的を達成するため、本願発明に係る遊技機用測定方法は、遊技盤面（例えば遊技盤２の遊技盤面２ａなど）に設けられ頭部が曲面形成された釘（例えば障害釘２００など）の傾きを測定するための遊技機用測定方法であって、複数の方向から釘の頭部に対して光を照射可能に配置された光源（例えば発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４など）からの光の反射光を読み取り、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報を用いて釘の傾きを測定する（例えば図３３〜図３８を参照）。
このような構成によれば、釘の傾きの測定精度を向上させることができる。
あるいは、上記目的を達成するため、本願発明に係る遊技機製造方法は、遊技盤面（例えば遊技盤２の遊技盤面２ａなど）に設けられ頭部が曲面形成された釘（例えば障害釘２００など）の傾きを測定する測定工程を有する遊技機製造方法であって、前記測定工程では、複数の方向から釘の頭部に対して光を照射可能に配置された光源（例えば発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４など）からの光の反射光を読み取り、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報を用いて釘の傾きを測定する（例えば図３３〜図３８を参照）。
このような構成によれば、釘の傾きの測定精度を向上させることができる。
反射光の組合せを含む読取情報としての特徴画像にもとづいて釘の中心位置を取得し（例えば図３４を参照）、該中心位置と、基準データに示される基準位置との比較により、釘の傾きを測定可能であってもよい（例えば図３７、図３８を参照）。
このような構成においては、釘の傾きの測定精度を向上させることができる。
特徴画像にもとづいて釘の中心位置を取得するための画像判定処理を実行する場合に、遊技盤面における釘の設置位置に応じて異なる閾値を設定可能であってもよい。
このような構成においては、釘の傾きの測定精度を向上させることができる。
基準データに示される基準位置における遊技盤面と直交する仮想線に対する釘の傾きを測定してもよい（例えば図３６、図３８を参照）。
このような構成においては、釘の傾きを適切に測定することができる。
釘の中心位置と、基準データに示される基準位置との比較結果に応じて、所定の処理（例えば図３３のステップＳ１１０〜Ｓ１１２）を行うようにしてもよい。
このような構成においては、測定結果に応じた適切な対処を行うことができる。
釘以外の構造物が適正範囲内に取り付けられているか否かを判定し、判定結果に応じて異なる整備を行うようにしてもよい。
このような構成においては、各種構造物を適切に整備することができる。
遊技盤が移動しないように保持する保持制御（例えば測定台２２０に対するクランプ制御）を行い、反射光を読み取る読取部の搬送制御（例えばスキャナー部２１０に対する搬送制御）を行うようにしてもよい。
このような構成においては、釘の傾きの測定精度を向上させることができる。
釘の初期位置を示す設計データを用いて、基準データを作成してもよい。
このような構成においては、基準データを作成するための処理負担を軽減することができる。
反射光の組合せを含む読取情報に、該読取情報とは異なる遊技盤固有情報を付加可能であってもよい。
このような構成においては、読取情報の偽装や改ざんを確実に防止することができる。
複数の釘に対して異なる種類の整備（例えば障害釘２００の種類が異なる整備や変形量が異なる整備など）を行うことが可能であり、第１種類の整備を行うときには、該第１種類の整備とは異なる第２種類の整備を行うときと異なる保持制御（例えば図１１を参照）を行うようにしてもよい。
このような構成においては、異なる種類の整備を適切に行うことができる。
パチンコ遊技機の正面図である。 遊技盤の正面図である。 普通入賞球装置の周辺の釘配列とＡ−Ａ断面を示す図である。 遊技盤の製造ラインの一部を示す平面図である。 遊技盤の製造システムの構成を示すブロック図である。 遊技機の製造工程の大まかな流れを示すフローチャートである。 障害釘整備装置を示す右側面図である。 障害釘整備装置を示す平面図である。 挟持部が釘の基端部側に配置された状態を示す右側面、釘整備を行った状態を示す縦断面図である。 クランプ制御パターンＡによる保持状態、クランプ制御パターンＢによる保持状態を示す図である。 整備内容とクランプ制御パターンとの関係を示す図である。 障害釘整備装置における整備に使用する工具の一例を示す図である。 指定釘の検査用工具を示す右側面図、検査用工具を示す正面図、検査用工具を示す底面図である。 検査用工具による指定釘の植設状態の検査を示す概要図である。 検査用工具の基点を検査開始位置に配置した状態を示す横断面図、第２当接辺が障害釘に当接した状態を示す横断面図、障害釘に当接する位置に検査用工具の基点を配置した状態を示す横断面図である。 図４における第１釘検査装置及び第２釘検査装置の内部構造を示す平面図とＢ−Ｂ断面を示す図である。 シールに印刷される二次元コードとその他の情報を示す図である。 記憶装置に記憶されている機種登録情報一覧を参照する時に表示されるインタフェースを示す図である。 記憶装置に機種登録情報を新規登録する際に表示されるインタフェースを示す図である。 特定の各障害釘の整備データを設定する際に表示されるインタフェースを示す図である。 ヘソ釘の整備データを設定する際に表示されるインタフェースを示す図である。 任意釘の整備データを設定する際に表示されるインタフェースを示す図である。 標準整備の位置と測定結果との関係並びに測定結果にもとづく補正データの一例を示す図である。 管理コンピュータに表示される釘整備方式設定画面を示す図である。 管理コンピュータにおける釘打ちデータテーブルの一例を示す図である。 管理コンピュータにおける第２画像検査テーブルの一例を示す図である。 管理コンピュータに接続されたプリンタから出力される釘間測定書の一例を示す図である。 整備用工具４００の一例の六面図である。 整備用工具４００の一例の六面図である。 整備用工具４００の一例の六面図である。 出荷前釘測定装置の構成例を示す右側面図である。 下面基準と上面基準の場合におけるクランプの設置例を示す正面図である。 スキャナー部の構成例を示す右側面図である。 出荷前釘測定処理の一例を示すフローチャートである。 画像使用例や位置検出例を示す図である。 光源と撮影機材に応じた撮影画像とエッジ検出結果の比較例、蛍光灯２本の場合における特徴画像エリアを示す図である。 障害釘の傾きについて角度と移動距離などの関係を示す図である。 比較データを用いた計算例を示す図である。 設計データを用いた計算例を示す図である。 反射光の発生例を示す図である。 エッジ写り込みエリア、エッジ端切れエリアを示す図である。 エッジを強調する改善例を示す図である。 光源となる発光部材の改善例を示す図である。 スキャン方向の変形例を示す図である。 遊技盤固有情報を付加する変形例を示す図である。 変形例におけるデータ設定を示す図である。 平面光源を有する変形例を示す図である。
本発明を実施するための形態を実施例にもとづいて以下に説明する。はじめに、遊技機の一例であるパチンコ遊技機１の全体の構成について説明する。図１は、パチンコ遊技機１を正面から見た正面図である。図２は、遊技盤を正面から見た正面図である。図３（Ａ）は普通入賞球装置の周辺の釘配列を示す図であり、図３（Ｂ）は図３（Ａ）に示されたＡ−Ａ断面図である。尚、以下において、図１の手前側をパチンコ遊技機１の前方（前面、正面）側、奥側を背面（後方）側とし、パチンコ遊技機１を前面側から見たときの上下左右方向を基準として説明する。尚、本実施例におけるパチンコ遊技機１の前面とは、該パチンコ遊技機１にて遊技を行う遊技者と対向する対向面である。
図１は、本実施例におけるパチンコ遊技機の正面図であり、主要部材の配置レイアウトを示す。パチンコ遊技機（以下、遊技機と略記する場合がある）１は、大別して、遊技盤面を構成する遊技盤２（ゲージ盤ともいう）と、遊技盤２を支持固定する遊技機用枠（台枠）３とから構成されている。遊技盤２には、ガイドレール２ｂによって囲まれた正面視略円形状の遊技領域１０が形成されている。この遊技領域１０には、遊技媒体としての遊技球が打球発射装置（図示略）から発射されて打ち込まれる。また、遊技機用枠３には、ガラス窓５０ａを有するガラス扉枠５０が左側辺を中心として回動可能に設けられ、該ガラス扉枠５０により遊技領域１０を開閉できるようになっており、ガラス扉枠５０を閉鎖したときにガラス窓５０ａを通して遊技領域１０を透視できるようになっている。
図１及び図２に示すように、遊技盤２は、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、メタクリル樹脂等の透明な合成樹脂板にて正面視略四角形状に形成され、前面である遊技盤面２ａに障害釘２００等が植設される盤面板２Ａと、該盤面板２Ａの背面側に一体的に取付けられるスペーサ部材２Ｂと、から構成されている。尚、本実施例では、遊技盤２は合成樹脂板から成る盤面板２Ａにて構成されていたが、ベニヤ板等の非透光性部材にて構成され、前面である遊技盤面２ａに複数の障害釘２００やガイドレール２ｂ等が設けられた盤面板にて構成されていてもよい。
図１に示すように、遊技盤２の所定位置（図１に示す例では、遊技領域１０の右側下部位置）には、第１特別図柄表示器４Ａと、第２特別図柄表示器４Ｂとが設けられている。第１特別図柄表示器４Ａと第２特別図柄表示器４Ｂはそれぞれ、変動表示ゲームの一例となる特図ゲームにおいて、各々を識別可能な複数種類の識別情報（特別識別情報）である特別図柄（「特図」ともいう）が、変動可能に表示（変動表示または可変表示ともいう）される。以下では、第１特別図柄表示器４Ａにおいて変動表示される特別図柄を「第１特図」ともいい、第２特別図柄表示器４Ｂにおいて変動表示される特別図柄を「第２特図」ともいう。
遊技盤２における遊技領域１０の中央付近には、演出表示装置５が設けられている。演出表示装置５は、例えばＬＣＤ（液晶表示装置）等から構成され、各種の演出画像を表示する表示領域を形成している。演出表示装置５の表示領域では、特図ゲームにおける第１特別図柄表示器４Ａによる第１特図の変動表示や第２特別図柄表示器４Ｂによる第２特図の変動表示のそれぞれに対応して、例えば３つといった複数の変動表示部となる演出図柄表示エリア５Ｌ，５Ｃ，５Ｒにて、各々を識別可能な複数種類の識別情報（装飾識別情報）である演出図柄が変動表示される。この演出図柄の変動表示も、変動表示ゲームに含まれる。
このように、演出表示装置５の表示領域では、第１特別図柄表示器４Ａにおける第１特図を用いた特図ゲーム、または、第２特別図柄表示器４Ｂにおける第２特図を用いた特図ゲームと同期して、各々が識別可能な複数種類の演出図柄の変動表示を行い、変動表示結果となる確定演出図柄（最終停止図柄）を導出表示する。
演出表示装置５は、遊技盤２よりも背面側に配設され、該遊技盤２に形成された開口２ｃを通して視認できるようになっている。尚、遊技盤２における開口２ｃには枠状のセンター飾り枠５１が設けられている。
演出表示装置５の表示領域の下部の左右２箇所には、第１保留記憶表示エリア５Ｄ、第２保留記憶表示エリア５Ｕが設定されている。第１保留記憶表示エリア５Ｄ、第２保留記憶表示エリア５Ｕでは、特図ゲームに対応した変動表示の保留記憶数（特図保留記憶数）を特定可能に表示する保留記憶表示が行われる。
ここで、特図ゲームに対応した変動表示の保留は、普通入賞球装置６Ａが形成する第１始動入賞口や、普通可変入賞球装置６Ｂが形成する第２始動入賞口を、遊技球が通過（進入）することによる始動入賞にもとづいて発生する。すなわち、特図ゲームや演出図柄の変動表示といった変動表示ゲームを実行するための始動条件（「実行条件」ともいう）は成立したが、先に成立した開始条件にもとづく変動表示ゲームが実行中であることやパチンコ遊技機１が大当り遊技状態に制御されていることなどにより、変動表示ゲームの開始を許容する開始条件が成立していないときに、成立した始動条件に対応する変動表示の保留が行われる。
第１特別図柄表示器４Ａ及び第２特別図柄表示器４Ｂの右方位置には、特図保留記憶数を特定可能に表示するための第１保留表示器２５Ａと第２保留表示器２５Ｂとが設けられている。第１保留表示器２５Ａは、第１特図保留記憶数を特定可能に表示し、第２保留表示器２５Ｂは、第２特図保留記憶数を特定可能に表示する。
演出表示装置５の下方には、普通入賞球装置６Ａと普通可変入賞球装置６Ｂとが設けられているとともに、下方及び右側方には一般入賞口６０が設けられている。普通入賞球装置６Ａは、例えば所定の球受部材によって常に一定の開放状態に保たれる始動領域（第１始動領域）としての第１始動入賞口を形成する。普通可変入賞球装置６Ｂは、ソレノイド（図示略）によって、垂直位置となる通常開放状態と傾動位置となる拡大開放状態とに変化する一対の可動翼片を有する電動チューリップ型役物（普通電動役物）を備え、始動領域（第２始動領域）としての第２始動入賞口を形成する。
第１始動入賞口を通過（進入）した遊技球が第１始動口スイッチ（図示略）によって遊技球が検出されたことにもとづき、所定個数（例えば３個）の遊技球が賞球として払い出され、第１特図保留記憶数が所定の上限値（例えば「４」）以下であれば、第１始動条件が成立する。また、第２始動入賞口を通過（進入）した遊技球が第２始動口スイッチ（図示略）によって遊技球が検出されたことにもとづき、所定個数（例えば３個）の遊技球が賞球として払い出され、第２特図保留記憶数が所定の上限値（例えば「４」）以下であれば、第２始動条件が成立する。
普通入賞球装置６Ａと普通可変入賞球装置６Ｂの下方位置には、特別可変入賞球装置７が設けられている。特別可変入賞球装置７は、ソレノイド（図示略）によって開閉駆動される大入賞口扉によって開放状態と閉鎖状態とに変化する特定領域としての大入賞口を形成する。このように、特定領域としての大入賞口は、遊技球が通過（進入）しやすく遊技者にとって有利な開放状態と、遊技球が通過（進入）できない（または通過（進入）しにくい）遊技者にとって不利な閉鎖状態とに変化する。
大入賞口を通過（進入）した遊技球がカウントスイッチ（図示略）によって検出されたことにもとづき、所定個数（例えば１５個）の遊技球が賞球として払い出される。従って、特別可変入賞球装置７において大入賞口が開放状態となれば、その大入賞口に遊技球が進入可能となり、遊技者にとって有利な第１状態となる。その一方で、特別可変入賞球装置７において大入賞口が閉鎖状態となれば、大入賞口に遊技球を通過（進入）させて賞球を得ることが不可能または困難になり、遊技者にとって不利な第２状態となる。
第２保留表示器２５Ｂの右方位置には、普通図柄表示器２０が設けられている。普通図柄表示器２０の右方には、普図保留表示器２５Ｃが設けられている。普図保留表示器２５Ｃは、例えば４個のＬＥＤを含んで構成され、通過ゲート４１を通過した有効通過球数としての普図保留記憶数を表示する。
遊技盤２の遊技盤面２ａにおける遊技領域１０には、遊技球の流下方向や速度を変化させる多数の障害釘２００や風車６１やセンター飾り枠５１等の装飾物が設けられている。例えば、図２及び図３（Ａ）に示すように、普通入賞球装置６Ａの左右側方には、複数の障害釘２００が互いに近接して並設されてなる誘導釘２０１Ｌ，２０１Ｒがそれぞれ設けられている。
誘導釘２０１Ｌ，２０１Ｒは、左右側方から中央の普通入賞球装置６Ａに向けてそれぞれ下方に傾斜するように並設され、普通入賞球装置６Ａの第１始動入賞口に向けて遊技球を誘導する。尚、これら誘導釘２０１Ｌ，２０１Ｒのそれぞれの所定箇所には、遊技球が落下可能な渡り２０３が設けられているが、渡り２０３は設けられなくてもよい。
また、遊技領域１０に設けられた複数の障害釘のうち、普通入賞球装置６Ａの第１始動入賞口の近傍上方位置に設けられる複数の障害釘２００は、第１始動入賞口に向けて遊技球を誘導する指定釘２０４を構成している。各一般入賞口６０の近傍上方位置に設けられる複数の障害釘２００は、各一般入賞口６０に向けて遊技球を誘導する指定釘２０５を構成している。通過ゲート４１の上方近傍位置に設けられる複数の障害釘２００は、通過ゲート４１に向けて遊技球を誘導する指定釘２０６を構成している。風車６１の上方近傍位置に設けられる複数の障害釘２００は、風車６１に向けて遊技球を誘導する指定釘２０７を構成している。ワープ通路６２の上方近傍位置に設けられる複数の障害釘２００は、ワープ通路６２に向けて遊技球を誘導する指定釘２０８を構成している。これら各指定釘２０４〜２０８は、後述するように、遊技盤面２ａに設けられる複数の障害釘２００のうちから予め指定される障害釘であり、これら指定釘以外の障害釘２００とは内容が異なる整備が必要な障害釘とされている。
これら障害釘２００は、例えば、真鍮材からなり、図３（Ｂ）に示すように、直径φ１が約１．８５ｍｍ（φ１＝約１．８５ｍｍ）の円柱状の胴部２００ａ（本体部あるいはシャフトともいう）と、該胴部２００ａの一端側に形成される傘外径Ｓφ２が約４．２ｍｍ（Ｓφ２＝約４．２ｍｍ）の球面状の頭部２００ｂ（釘笠ともいう）と、から構成される。障害釘２００は、遊技盤面２ａに予め形成される孔部２ｄに後述する釘打ち機１６により打設されることにより遊技盤面２ａに立設され、この立設された状態において、遊技盤面２ａから胴部２００ａ及び頭部２００ｂの末端（胴部２００ａと頭部２００ｂとの境界部分）までの長さＬ１が約１６．８ｍｍ（Ｌ１＝約１６．８ｍｍ）とされ、頭部２００ｂの末端（胴部２００ａとの境界部分）から先端（頭部２００ｂにおける釘傘の頂上部分）までの長さＬＨが約１．０ｍｍ（ＬＨ＝１．０ｍｍ）とされ、あわせた長さが約１７．８ｍｍとされている。また、胴部２００ａの他端側にはネジ溝２００ｃが形成されている。このネジ溝２００ｃによって、孔部２ｄ内に挿入された胴部２００ａと孔部２ｄの内周面との間に生じる摩擦力により障害釘２００が遊技盤２から抜け落ちることが防止されている。
また、障害釘２００を打設するための孔部２ｄは、図９（Ａ）に示すように、遊技盤面２ａと直交するＺ軸（垂線）に対し上方（１２時方向）に向けて所定角度θ１（θ１＝約４度）傾斜して形成される。よって、障害釘２００もＺ軸（垂線）に対して頭部２００ｂ側が上方（１２時方向）に向けて約４度傾斜して立設され、障害釘２００に衝突した遊技球Ｐが遊技盤２側に極力跳ね返るようにしている。このように、障害釘２００の中心軸は、一般的な設計通りであれば、基準面となる遊技盤面２ａの法線に対し、上方である１２時方向に約４度の角度を有して植設される。
図３（Ｂ）に示すように、例えば、指定釘２０４を構成する左右の障害釘２００の胴部２００ａにおける基部側の離間寸法Ｌ２は約１０．５ｍｍ（Ｌ２＝約１０．５ｍｍ）とされ、先端部側の離間寸法Ｌ３は約１２ｍｍ（Ｌ３＝約１２ｍｍ）とされているため、遊技盤面２ａから頭部２００ｂに向けて左右の胴部２００ａの離間寸法が漸次広くなっている。また、遊技球Ｐの直径Ｓφは約１１ｍｍとされており（例えば、Ｓφ＝約１１ｍｍ）、遊技球Ｐが遊技盤面２ａに接触した状態で左右の障害釘２００の胴部２００ａ間を通過することができるようになっている。
尚、本実施例では、離間寸法Ｌ２は約１０．５ｍｍ、離間寸法Ｌ３は、指定釘２０４の約１２ｍｍとした例を示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これらの寸法は遊技盤２のゲージ構成（所謂、釘配列）等に応じて種々に変更可能である。また、他の指定釘２０５〜２０８における離間寸法も、指定釘２０４とは異なる値（例えば、後述するように１１．５ｍｍ等）に、個別に設定できるようになっている。
図１に戻って、遊技領域１０の最下方には、いずれの入賞口にも進入しなかった遊技球が取り込まれるアウト口１１が設けられている。遊技機用枠３の左右上部位置には、効果音等を再生出力するためのスピーカ８Ｌ，８Ｒが設けられており、さらに遊技領域１０の周辺部には、演出用ＬＥＤ９が設けられている。遊技機用枠３の右下部位置には、遊技媒体としての遊技球を遊技領域１０に向けて発射するために遊技者等によって操作される打球操作ハンドル（操作ノブ）が設けられている。
遊技領域１０の下方における遊技機用枠３の所定位置には、賞球として払い出された遊技球や所定の球貸機により貸し出された遊技球を、発射装置（図示略）へと供給可能に保持（貯留）する上皿９０（打球供給皿）が設けられている。遊技機用枠３の下部には、上皿９０から溢れた余剰球などを、パチンコ遊技機１の外部へと排出可能に保持（貯留）する下皿９１が設けられている。下皿９１を形成する部材に取付けられたスティックコントローラ３１Ａの傾倒操作はコントローラセンサユニット（図示略）にて検出され、上皿９０を形成する部材に設けられたプッシュボタン３１Ｂに対してなされた押下動作はプッシュセンサ（図示略）にて検出される。
次に、パチンコ遊技機１の回路構成について説明する。パチンコ遊技機１の背面には、例えば図示しない主基板、演出制御基板、音声制御基板、ＬＥＤ制御基板、主基板と演出制御基板との間で伝送される各種の制御信号を中継するための中継基板、払出制御基板、情報端子基板、発射制御基板、インタフェース基板などといった、各種の基板が配置されている。
主基板（図示略）は、メイン側の制御基板であり、パチンコ遊技機１における遊技の進行を制御するための各種回路が搭載されている。主基板は、主として、特図ゲームにおいて用いる乱数の設定機能、所定位置に配設されたスイッチ等からの信号の入力を行う機能、演出制御基板（図示略）などからなるサブ側の制御基板に宛てて、指令情報の一例となる制御コマンドを制御信号として出力して送信する機能、ホールの管理コンピュータに対して各種情報を出力する機能などを備えている。また、主基板は、第１特別図柄表示器４Ａと第２特別図柄表示器４Ｂを構成する各ＬＥＤ（例えばセグメントＬＥＤ）などの点灯／消灯制御を行って第１特図や第２特図の変動表示を制御することや、普通図柄表示器２０の点灯／消灯／発色制御などを行って普通図柄表示器２０による普通図柄の変動表示を制御することといった、所定の表示図柄の変動表示を制御する機能も備えている。また、主基板には、例えば遊技制御用マイクロコンピュータ（図示略）や、スイッチ回路（図示略）、ソレノイド回路などの各種回路が搭載されている。
主基板には、通過ゲート４１を通過した遊技球を検出するゲートスイッチ、第１始動口スイッチ、第２始動口スイッチ、カウントスイッチからの検出信号を伝送する配線が接続されている。また、第１特別図柄表示器４Ａ、第２特別図柄表示器４Ｂ、普通図柄表示器２０、第１保留表示器２５Ａ、第２保留表示器２５Ｂ、普図保留表示器２５Ｃなどの表示制御を行うための指令信号を伝送する配線が接続されている。
主基板から中継基板を介して演出制御基板に対して伝送される制御コマンドは、例えば電気信号として送受信される演出制御コマンドである。演出制御コマンドには、例えば、演出図柄の変動時間及びリーチ演出の種類や擬似連の有無等の変動態様を示す変動パターンを示す変動パターン指定コマンド等が含まれている。
主基板に搭載された遊技制御用マイクロコンピュータは、例えば１チップのマイクロコンピュータであり、遊技制御用のプログラムや固定データ等を記憶するＲＯＭ（Read Only Memory）と、遊技制御用のワークエリアを提供するＲＡＭ（Random Access Memory）と、遊技制御用のプログラムを実行して制御動作を行うＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＣＰＵとは独立して乱数値を示す数値データの更新を行う乱数回路と、Ｉ／Ｏ（Input/Output port）と、を備えて構成される。一例として、遊技制御用マイクロコンピュータでは、ＣＰＵがＲＯＭから読み出したプログラムを実行することにより、パチンコ遊技機１における遊技の進行を制御するための処理が実行される。
演出制御基板（図示略）は、主基板とは独立したサブ側の制御基板であり、中継基板を介して主基板から伝送された制御信号を受信して、演出表示装置５、スピーカ８Ｌ，８Ｒ及び演出用ＬＥＤ９、その他の演出ユニット等に設けられる各種モータ、ソレノイド、センサ、発光ダイオード（ＬＥＤ）といった演出用の電気部品による演出動作を制御するための各種回路が搭載されている。
演出制御基板（図示略）には、プログラムに従って制御動作を行う演出制御用ＣＰＵと、演出制御用のプログラムや固定データ等を記憶するＲＯＭと、演出制御用ＣＰＵのワークエリアを提供するＲＡＭと、演出表示装置５における表示動作の制御内容を決定するための処理などを実行する表示制御部と、演出制御用ＣＰＵとは独立して乱数値を示す数値データの更新を行う乱数回路と、Ｉ／Ｏとが搭載されている。一例として、演出制御基板では、演出制御用ＣＰＵがＲＯＭから読み出した演出制御用のプログラムを実行することにより、演出用の電気部品による演出動作を制御するための処理が実行される。また、ＲＯＭには、演出制御用のプログラムの他にも、演出動作を制御するために用いられる各種のデータテーブルなどが格納されている。
次に、パチンコ遊技機１における遊技の進行を概略的に説明する。パチンコ遊技機１では、遊技領域１０に設けられた通過ゲート４１を遊技球が通過したことにもとづいて、普通図柄表示器２０による普図ゲームが開始される。普通図柄の変動を開始させた後、普図変動時間となる所定時間が経過し、普図当り図柄以外の普通図柄が停止表示されれば、普通図柄の変動表示結果が「普図はずれ」となる。特定の普通図柄（普図当り図柄）が停止表示されれば、普通図柄の変動表示結果が「普図当り」となり、普通可変入賞球装置６Ｂの拡大開放制御（傾動制御）が行われ、所定時間が経過すると垂直位置に戻る通常開放制御が行われる。
遊技球が第１始動入賞口に入賞したことなどにより第１始動条件が成立した後に、例えば前回の特図ゲームや大当り遊技状態が終了したことなどにより第１開始条件が成立したことにもとづいて、第１特別図柄表示器４Ａによる特図ゲームが開始される。また、遊技球が第２始動入賞口に入賞したことなどにより第２始動条件が成立した後に、例えば前回の特図ゲームや大当り遊技状態が終了したことなどにより第２開始条件が成立したことにもとづいて、第２特別図柄表示器４Ｂによる特図ゲームが開始される。
特図ゲームでは、特別図柄の変動表示を開始させた後、変動表示時間が経過すると確定特別図柄（特図表示結果）を導出表示する。このとき、特定の特別図柄（大当り図柄）が停止表示されれば、特定表示結果としての「大当り」となり、大当り図柄とは異なる特別図柄が停止表示されれば「はずれ」となる。特図ゲームでの変動表示結果が「大当り」になった後には、遊技者にとって有利なラウンド（「ラウンド遊技」ともいう）を所定回数実行する特定遊技状態としての大当り遊技状態に制御される。
大当り遊技状態においては、特別可変入賞球装置７の大入賞口扉が、所定の上限時間（例えば２９秒間や０．１秒間）が経過するまでの期間あるいは所定個数（例えば９個）の入賞球が発生するまでの期間にて、大入賞口を開放状態とする。これにより、特別可変入賞球装置７を遊技者にとって有利な第１状態（開放状態）とするラウンドが実行される。
ラウンドの実行中に大入賞口を開放状態とした大入賞口扉は、遊技盤２の表面を落下する遊技球を受け止め、その後に大入賞口を閉鎖状態とすることにより、特別可変入賞球装置７を遊技者にとって不利な第２状態（閉鎖状態）に変化させて、１回のラウンドを終了させる。大入賞口の開放サイクルであるラウンドは、その実行回数が所定の上限回数（例えば「１６」など）に達するまで、繰り返し実行可能となっている。
演出表示装置５の演出図柄表示エリア５Ｌ，５Ｃ，５Ｒでは、特図ゲームが開始されることに対応して、演出図柄の変動表示が開始される。そして、演出図柄の変動表示が開始されてから変動表示が終了するまでの期間では、演出図柄の変動表示状態が所定のリーチ状態となることがある。リーチ状態とは、演出表示装置５の表示領域にて停止表示された演出図柄が大当り組合せの一部を構成しているときに未だ停止表示されていない演出図柄については変動が継続している表示状態、あるいは、全部または一部の演出図柄が大当り組合せの全部または一部を構成しながら同期して変動している表示状態のことである。
特図ゲームにおける確定特別図柄として、複数種類の大当り組合せのうち、所定の通常大当り組合せ（「非確変大当り組合せ」ともいう）となる確定演出図柄が停止表示され、変動表示結果が「非確変大当り」となった場合は大当り状態に制御され、その終了後には、時間短縮制御（時短制御）が行われる。時短制御が行われることにより、特図ゲームにおける特別図柄の変動表示時間（特図変動時間）は、通常状態に比べて短縮される。尚、時短制御では、普通図柄の当選頻度が高められて、普通可変入賞球装置６Ｂへの入賞頻度が高められる、いわゆる電チューサポートが実施される。時短制御は、大当り遊技状態の終了後に所定回数（例えば１００回）の特図ゲームが実行されることと、変動表示結果が「大当り」となることのうち、いずれかの条件が先に成立したときに、終了すればよい。
特図ゲームにおける確定特別図柄として、複数種類の大当り組合せのうち、所定の確変大当り組合せ（「確変大当り組合せ」ともいう）となる確定演出図柄が停止表示され、変動表示結果が「確変大当り」となった場合は大当り状態に制御され、その終了後には、時短制御とともに確率変動制御（確変制御）が行われる。この確変制御が行われることにより、各回の特図ゲームにおいて変動表示結果が「大当り」となる確率は、通常状態に比べて高くなるように向上する。確変制御は、大当り遊技状態の終了後に変動表示結果が「大当り」となって再び大当り遊技状態に制御されるという条件が成立したとき、大当り遊技状態の終了後に所定回数（例えば時短回数と同じ１００回）の特図ゲームが実行されたとき、大当り遊技状態の終了後に特図ゲームが開始されるごとに実行される確変転落抽選にて確変制御を終了させる「確変転落あり」の決定がなされたとき、などに終了すればよい。
時短制御が行われるときには、普図ゲームにおける普通図柄の変動時間（普図変動時間）を通常状態のときよりも短くする制御や、各回の普図ゲームで普通図柄の変動表示結果が「普図当り」となる確率を通常状態のときよりも向上させる制御、変動表示結果が「普図当り」となったことにもとづく普通可変入賞球装置６Ｂにおける可動翼片の傾動制御を行う傾動制御時間を通常状態のときよりも長くする制御、その傾動回数を通常状態のときよりも増加させる制御といった、遊技球が第２始動入賞口を通過（進入）しやすくして第２始動条件が成立する可能性を高めることで遊技者にとって有利となる制御（電チューサポート制御、高開放制御）が行われる。これにより、第２特図を用いた特図ゲームを実行するための第２始動条件が成立しやすくなり、特図ゲームが頻繁に実行可能となることで、次に変動表示結果が「大当り」となるまでの時間が短縮される。
次に、本実施例におけるパチンコ遊技機１の動作（作用）を説明する。主基板（図示略）では、所定の電源基板からの電力供給が開始されると、遊技制御用マイクロコンピュータ（図示略）が起動し、ＣＰＵ（図示略）によって遊技制御メイン処理となる所定の処理が実行される。遊技制御メイン処理において遊技制御用タイマ割込み処理を開始すると、スイッチ処理、メイン側エラー処理、情報出力処理、遊技用乱数更新処理、特別図柄プロセス処理、普通図柄プロセス処理、コマンド制御処理を実行する。
特別図柄プロセス処理では、遊技制御フラグ設定部（図示略）に設けられた特図プロセスフラグの値をパチンコ遊技機１における遊技の進行状況に応じて更新し、第１特別図柄表示器４Ａや第２特別図柄表示器４Ｂにおける表示動作の制御や、特別可変入賞球装置７における大入賞口の開閉動作設定などを、所定の手順で行うために各種の処理が選択されて実行される。
特別図柄プロセス処理において、ＣＰＵは、まず、第１始動入賞や第２始動入賞があったか否かを判定し、入賞があった場合には、特図表示結果判定用、大当り種別判定用、変動パターン判定用などの乱数値をそれぞれ抽出して、第１特図保留記憶装置や第２特図保留記憶装置における空きエントリの最上位に格納（記憶）する始動入賞処理を実行する。
また、ＣＰＵは、第１特図保留記憶装置や第２特図保留記憶装置に記憶されている保留データの有無などにもとづいて特図ゲームを開始するか否かの判定や、特図表示結果判定用の乱数値を示す数値データにもとづき、特別図柄や演出図柄の変動表示結果を「大当り」とするか否かを、その変動表示結果が導出表示される前に決定（事前決定）する特別図柄通常処理を実行する。つまり、ＣＰＵは、特図ゲームの変動表示を開始するときに、始動入賞が発生したときに記憶した乱数値にもとづいて、当該変動表示の表示結果として大当り表示結果を導出表示するか否かを決定（抽選）する処理を実行する。
次いで、変動パターンを複数種類のいずれかに決定する変動パターン設定処理、特別図柄を変動させるための設定や特別図柄が変動を開始してからの経過時間を計測する処理を行う特別図柄変動処理、特別図柄の変動を停止させて確定特別図柄を停止表示（導出）させるための設定を行う特別図柄停止処理を行う。また、変動表示結果が「大当り」となった場合は、大当り遊技状態において大入賞口を開閉させる処理を行う大当り開放前処理、大当り開放中処理、大当り開放後処理、大当り終了処理を行う。
次に、演出制御基板（図示略）の動作を説明する。先ず、演出制御用ＣＰＵは、電源が投入されると、メイン処理の実行を開始する。メイン処理においてタイマ割込が発生すると、コマンド解析処理、演出制御プロセス処理、演出用乱数更新処理を実行する。
演出制御プロセス処理では、演出表示装置５の第１保留記憶表示エリア５Ｄ及び第２保留記憶表示エリア５Ｕでの保留記憶表示を、保留記憶バッファの記憶内容に応じた表示に更新する保留表示更新処理を実行する。次いで、演出制御プロセスフラグの値に応じて、遊技制御用マイクロコンピュータから変動パターン指定コマンドを受信しているか否か確認する変動パターン指定コマンド受信待ち処理、演出図柄の変動が開始されるように制御する演出図柄変動開始処理、演出図柄変動開始処理にてセットされたプロセスデータに応じて変動パターンを構成する各変動状態（変動速度）の切替タイミング等の制御や変動時間の終了を監視するとともに、演出表示装置５の表示制御、スピーカ８Ｌ，８Ｒからの音出力、演出用ＬＥＤ９の発光及び演出ユニット（図示略）の駆動制御等を行う演出図柄変動中処理、演出図柄の変動を停止し表示結果（停止図柄）を導出表示する制御を行う演出図柄変動停止処理を行う。
大当り表示処理においては、変動時間の終了後、演出表示装置５に大当りの発生を報知するための画面を表示する制御を行う。大当り遊技中処理においては、大当り遊技中の制御を行う。大当り終了演出処理においては、演出表示装置５において、大当り遊技状態が終了したことを遊技者に報知する表示制御を行う。
次に、各パチンコ遊技機１に装着される遊技盤２の製造方法について、図面にもとづいて説明する。図４は、遊技盤の製造ラインの一部を示す平面図である。図５は、遊技盤の製造システムの構成を示すブロック図である。尚、本実施例では、製造ライン１２にて製造可能な遊技盤２は、種別が異なる複数種類の遊技盤２を含む。遊技盤２の種別には、材質（ベニヤはたはアクリル板）、搭載するパチンコ遊技機１の機種、バージョン（例えば、大当り確率などのスペック等）のうち、一部または全部が含まれていればよい。
図４に示す製造ライン１２は、主に釘打ちと後述する釘整備の工程を行う部分であり、遊技盤２を投入する投入口として、ベニヤ板を投入するための投入口Ａ、合成樹脂板を投入するための投入口Ｂ、の２つの投入口が設けられている。
製造ライン１２の投入口Ａの上流側（図４中左側）には、ベニヤ板を切削や穴あけ加工を施して所定の形状とするための図示しないリュータ加工装置や、遊技盤２に下穴を加工する作業を行うための図示しない下穴加工装置等が配置されている。
また、投入口Ｂからは、遊技盤２の厚みがベニヤ板と同じとするためのスペーサ部材が背面に組付けられた合成樹脂板が投入される。
投入口Ａには、第１二次元コードマーキング装置１４ａが設けられており、後述する二次元コード１５ａが印刷されたシールが、投入されるベニヤ板に貼着される。
また、投入口Ｂにも、第２二次元コードマーキング装置１４ｂが設けられており、後述する二次元コード１５ａが印刷されたシールが、投入される合成樹脂板に貼着される。
尚、本実施例では、これら二次元コード１５ａが印刷されたシールを貼着する第１二次元コードマーキング装置１４ａや第２二次元コードマーキング装置１４ｂを設けた形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これらの二次元コード１５ａが印刷されたシールを、作業員が貼着するようにしてもよい。また、既に、管理用の二次元コード１５ａが印刷されたシールが貼着されたベニヤ板や合成樹脂板を使用する場合には、これら第１二次元コードマーキング装置１４ａや第２二次元コードマーキング装置１４ｂを省いた構成としてもよい。
尚、投入口Ｂには、や第２二次元コードマーキング装置１４ｂとともに、合成樹脂板の表面に貼着されている保護フィルムを剥離する際に生じる静電気を除去するためのイオナイザー装置１８が設けられている。
各製造ラインには、複数台の釘打ち機１６、釘供給機１９、第１釘検査装置１７Ａ、複数台の障害釘整備装置３００、第２釘検査装置１７Ｂが下流側に向けて順にそれぞれ配置されている。また、第２釘検査装置１７Ｂの下流には、ガイドレール２ｂや風車の取付けや、パチンコ遊技機１の遊技機用枠３への組付けを行う図示しない作業場と、出荷前釘測定装置２１とが配置されている。尚、各種装置には、後述する二次元コード１５ａを読み取る図示しない読み取り用カメラが設けられている。
第１二次元コードマーキング装置１４ａに搬送される遊技盤２は、第１二次元コードマーキング装置１４ａにて二次元コード１５ａが印刷されたシール１５が貼付される前に、図示しないセンサにより遊技盤２に所定以上の粉塵が付着しているか否かを判断される。所定以上の粉塵が付着していないと判断された遊技盤２は、そのまま第１二次元コードマーキング装置１４ａにてシール１５が貼付され、所定以上の粉塵が付着していると判断された遊技盤２は、図示しない粉塵除去装置によって粉塵が除去された後、第２二次元コードマーキング装置１４ｂにてシール１５が貼付される。
図５に示すように、製造ライン１２などを構成する上記各種装置は、製造ライン１２を制御する管理コンピュータ５００とデータ通信可能に接続されている。管理コンピュータ５００は、データバス５０１に、制御プログラムにもとづいて各種の処理を行うＣＰＵ（中央演算処理回路）５０２、ＲＡＭ５０３、時間情報等を出力可能なリアルタイムクロック（ＲＴＣ）５０４、各遊技盤２毎に付与されたシリアル番号に対応付けて各遊技盤２の種別（ベニア板、合成樹脂板）、障害釘整備装置３００により障害釘２００を整備するための整備データ、整備履歴情報（遊技盤２が関わった釘打ち機１６や障害釘整備装置３００を特定可能な情報や整備内容を示す情報など）、標準整備による補正データ（図２３参照）、出荷前釘測定装置２１により障害釘２００を測定した結果を示す測定データ等が記憶される記憶装置５０５、キーボードやマウス等の入力装置５０６、ディスプレイ等の表示装置５０７、図２７に示す釘間測定書等の各種印刷物を出力可能なプリンタ５０８、各種装置とのデータ通信を行うための通信部５０９と、が接続されたコンピュータであり、接続される各種装置の動作制御を行うとともに、各遊技盤２に対応する整備データを各種装置へ送信する処理や、各遊技盤２の整備関連情報として図２２に示す釘間測定書を出力可能とされている。
管理コンピュータ５００は、製造ラインに設置されている第１二次元コードマーキング装置１４ａ、第２二次元コードマーキング装置１４ｂ、各釘打ち機１６、各釘供給機１９、各第１釘検査装置１７Ａ、各障害釘整備装置３００、各第２釘検査装置１７Ｂ等の各種装置がデータ通信可能に有線接続されている。また、管理コンピュータ５００は、出荷前釘測定装置２１がデータ通信可能に有線接続されていればよい。
釘打ち機１６には、遊技盤２に実際に障害釘２００を打設する打設装置だけではなく、図５に示すように、搬送装置１３から遊技盤２を取り出すためのロボットアーム装置、二次元コード１５ａを読み取るための読み取り用カメラ、雰囲気の温湿度と遊技盤２の温度を測定可能な温湿度センサ、釘打ち機１６の動作を、管理コンピュータ５００からの指示（動作データ）によりコントロールする制御ユニット１６’等が設けられており、ロボットアーム装置にて搬送装置１３から取り出した遊技盤２に貼着されている二次元コード１５ａから読み取った読み取りデータを、当該装置を識別可能な装置識別情報である装置番号とともに管理コンピュータ５００に送信可能とされているとともに、打設時において温湿度センサにて測定した雰囲気の温湿度と遊技盤２の温度等のデータを、装置番号とともに管理コンピュータ５００に送信できる。
また、同様に、障害釘整備装置３００にも、遊技盤２に打設された障害釘２００を整備する釘矯正装置だけではなく、図５に示すように、搬送装置１３から遊技盤２を取り出すためのロボットアーム装置、二次元コード１５ａを読み取るための読み取り用カメラ、雰囲気の温湿度と遊技盤２の温度を測定可能な温湿度センサ、障害釘整備装置３００の動作を、管理コンピュータ５００からの指示（整備データ）によりコントロール（制御）する制御ユニット３００’等が設けられており、ロボットアーム装置にて搬送装置１３から取り出した遊技盤２に貼着されている二次元コード１５ａから読み取った読み取りデータを、当該装置の装置番号とともに管理コンピュータ５００に送信可能とされているとともに、整備時において温湿度センサにて測定した雰囲気の温湿度と遊技盤２の温度等のデータを、装置番号とともに管理コンピュータ５００に送信できるようになっている。
尚、図５には示していないが、ベニヤ板や合成樹脂板は、温度や湿度により伸縮するので、各第１釘検査装置１７Ａ並びに各第２釘検査装置１７Ｂ、あるいは出荷前釘測定装置２１にも、雰囲気の温湿度と遊技盤２の温度を測定可能な温湿度センサや二次元コード１５ａを読み取るための読み取り用カメラが設けられていて、測定対象の遊技盤２の二次元コード１５ａの読み取りデータや温湿度センサにて測定した検査時のデータを、装置番号とともに管理コンピュータ５００に送信できるようになっている。
次に、パチンコ遊技機１における遊技盤２の製造工程の大まかな流れについて説明する。図６は、パチンコ遊技機１の製造工程において、特に、遊技盤２の製造工程の大まかな流れを示すフローチャートである。尚、以下の製造工程において、所定の工程を終了した遊技盤２は、次の工程を行うための装置まで搬送装置１３にて搬送されるようになっている（図４参照）。
まず、遊技盤２を構成する所定の大きさの合成樹脂板（例えば、アクリル板等）やベニヤ板に、リュータ加工装置などにより切削や穴あけ加工を施して所定の形状とした後、遊技盤面２ａにセルシートを貼付する。次いで、釘や風車などの打ち込み作業時の位置ずれを減らすために、遊技盤２の種別に対応するゲージデータ（釘配列データ）に応じて成形された金属製のゲージ板（図示略）により、遊技盤面２ａに下穴を加工する作業を行う（工程Ｓ１）。尚、本実施例では、投入口Ｂから投入される合成樹脂板（例えば、アクリル板等）は、予め合成樹脂板のメーカー側において切削や穴あけ加工並びに下穴加工が施されたものとされている。
遊技盤面２ａに下穴が形成された遊技盤２は、第１二次元コードマーキング装置１４ａまたは第２二次元コードマーキング装置１４ｂにて、図１７に示すように、ゲージデータ（釘配列データ）や整備動作（後述する整備データ）等を特定可能なゲージ番号１５ｄ、遊技盤２の材質を示す材質コード、遊技盤２の機種を示す機種コード１５ｂ、同一機種のバリエーション等の機種補助情報を示すサブコード、遊技盤２の製造番号（固有のＩＤ）を示すシリアル番号１５ｃ、生産会社区分コード、従来から使用されているバーコードとのデータを利用可能とするためのバーコード情報１５ｆ、遊技盤２の背面に貼着されるセルシートの種別を特定可能なセル番号１５ｅ、後述するシール１５に印刷された日時を示す印刷日付コード等をシンボル化した個別の二次元コード１５ａを含む各種コードを印刷してシール１５を貼付する作業を行う（工程Ｓ２）。尚、本実施例では、二次元コード１５ａにシンボル化される情報に、該シール１５が貼付される遊技盤２に障害釘２００を打設する釘打ち機１６を示す釘打ち機コードを含めていないが、予め遊技盤２に障害釘２００をラインに投入する前に事前に決定する場合には、これら釘打ち機コードを含む二次元コード１５ａとしても良く、これら二次元コード１５ａにシンボル化される情報の種類は、適宜に決定すればよい。
尚、本実施例の製造ライン１２では、種別が異なる遊技盤２を製造できるようになっており、遊技盤２の種別によって釘配列や障害釘２００の整備内容が異なっている。よって、製造ライン１２に設けられた各種装置は、シール１５に印刷された二次元コード１５ａを読み取り用カメラ（図示略）により読み取り、この読み取ったシリアル番号と装置番号とを管理コンピュータ５００に送信する。シリアル番号を受信した管理コンピュータ５００では、該シリアル番号に対応する整備データ、つまり、シリアル番号から特定される遊技盤２に対応する整備データを記憶装置５０５から抽出し、受信した装置番号から特定される送信元の装置に対して該抽出した整備データを送信する。そして各種装置では、管理コンピュータ５００から受信した整備データにもとづいて釘打ちや整備が行なわれる。尚、製造ライン１２では、後述する釘打ち（工程Ｓ３）、第１整備（工程Ｓ５）、第２整備（工程Ｓ７）等において、釘打ち機１６による釘打ちや障害釘整備装置３００による整備に不良が生じることがある。
製造ライン１２では、供給側の搬送装置１３と、排出側の搬送装置１３とが並行して配置されており、各釘打ち機１６や各障害釘整備装置３００は、前述したロボットアーム装置によって供給側の搬送装置１３から遊技盤２を任意に取り出して打設または整備し、その後、打設または整備済みの遊技盤２を排出側の搬送装置１３に戻す仕様とされており、複数のうちいずれの装置で釘整備や釘打ちが行われるかを予め決定していないため、記憶装置５０５に各遊技盤２の整備履歴を記憶することで、各遊技盤２の製造に関わった装置を特定できるようにしている。この整備履歴情報が蓄積されていくと、各種装置のうちいずれで整備不備が多く発生しているかを特定することができるようになるため、製造ライン１２に設置された複数の装置のメンテナンス作業を簡便に行うことが可能とされている。
また、記憶装置５０５に各遊技盤２の整備履歴を記憶することで、製造工程の最終段階や納品後に障害釘の不具合が見つかった場合、当該遊技盤２の整備履歴を参照し、当該遊技盤２の製造に関わった装置、つまり、不具合の可能性がある装置を特定することができるため、この不具合の可能性がある装置により新たな遊技盤２の整備等が行われてしまうことがないように、装置の駆動を直ちに停止してメンテナンス作業を行うなど、早期のうちに対処することが可能となる。
また、工程Ｓ２では、二次元コード１５ａが印刷されたシール１５を盤面板２Ａの下部（例えば、パチンコ遊技機１に装着されたときに外部から露見しない位置。本実施例では、右側下部位置）に貼付する作業が行われる（図２参照）。また、シール１５には、製造ライン１２の所定位置（例えば、各釘打ち機１６、各障害釘整備装置３００、第１釘検査装置１７Ａ、第２釘検査装置１７Ｂ）に設けられた読み取り用カメラにより読み取られる二次元コード１５ａの他に、作業者が目視にて確認できるように、印刷日付１５ｇ、機種コード１５ｂ、シリアル番号１５ｃ、ゲージ番号１５ｄ、セル番号１５ｅ、バーコード情報１５ｆ等がアルファベットや数字、記号等にて表記されている（図１７参照）。
尚、本実施例では、工程Ｓ１を経て第１二次元コードマーキング装置１４ａへ遊技盤２を搬送する順序が、該搬送において変更されることがないため、第１二次元コードマーキング装置１４ａにおいて遊技盤２の種別を特定する必要がない形態としているが、本発明はこれに限定されるものではなく、予め、工程Ｓ１において、遊技盤２にシリアル番号を特定可能な１次元コード等を貼付しておき、第１二次元コードマーキング装置１４ａにて１次元コードから特定されるシリアル番号にもとづいて遊技盤２の種別を特定できるようにしてもよい。
また、本実施例では、二次元コード１５ａが印刷されたシール１５が盤面板２Ａに貼付され、二次元コード１５ａを読み取り用カメラ（読取装置）により読み取ることができるようになっているが、本発明はこれに限定されるものではなく、上記した各種情報が記憶されたＩＣチップを含むシールを貼付し、ＩＣチップに記憶された情報を所定の読取装置にて読取可能とてもよい。
盤面板２Ａに二次元コード１５ａのマーキング作業が終了したら、釘打ち機１６にて下穴に複数の障害釘２００を工程Ｓ１にて加工された各下穴に打ち込む作業を行う（工程Ｓ３）。尚、釘打ち機１６は、障害釘２００の打ち込み作業が終了したら、当該釘打ち機１６の装置番号とともに、読み取り用カメラにより読み取った二次元コード１５ａの読み取りデータと当該作業時の温湿度等の情報を釘打ち作業完了データとして管理コンピュータ５００に送信する。そして、第１釘検査装置１７Ａにて遊技盤面２ａに打ち込まれた障害釘２００を後述する複数のカメラ４４により撮影し（図１６参照）、該撮影した画像データにもとづいて、各障害釘２００が遊技盤面２ａに対し直交するＺ軸方向に対する傾き（頭部２００ｂの配置位置座標など）、障害釘２００の有無、釘曲り、錆、変色などを検査する釘画像検査を行う（工程Ｓ４）。第１釘検査装置１７Ａは、検査が終了したら、一次検査結果データを、第１釘検査装置１７Ａの装置番号と、該遊技盤２の二次元コード１５ａの読み取りデータとともに管理コンピュータ５００へ送信する。
一次検査結果データを受信した管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、受信した一次検査結果データにもとづいて、各障害釘２００が遊技盤面２ａに対し直交するＺ軸方向に対し上方（１２時方向）に約４度傾斜しているか否かを、遊技盤２に対応するゲージデータから特定される各障害釘２００の頭部２００ｂの設定位置に対するＸＹ軸方向への位置ずれ方向及び位置ずれ量から判定する。各障害釘２００の頭部２００ｂの設定位置（座標位置）は、障害釘２００が下穴に正確に打ち込まれたときに頭部２００ｂが配置される位置であり、遊技盤２の種別に応じたゲージデータとして管理コンピュータ５００の記憶装置５０５に記憶されている。
また、各設定位置に対しては、ＸＹ軸方向の誤差を考慮した許容範囲（精度）が設定されており、頭部２００ｂがこの許容範囲外に配置されている場合に異常（不良）と判定するとともに、設定位置からのずれ方向やずれ量が特定されるようになっている。尚、この許容範囲は、後述するように障害釘２００毎に所望の値に設定できるようになっている（図１８，図１９参照）。
一次検査結果データを受信した管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、工程Ｓ３にて打ち込まれた障害釘２００のうち、工程Ｓ４の検査により頭部２００ｂの設定位置に対するＸＹ軸方向へずれが許容範囲外にあると判定された障害釘２００を対象として、該障害釘２００の頭部２００ｂを設定位置の許容範囲内に配置するための第１整備データを作成し、該第１整備データを、受信した一次検査結果データに含まれる二次元コード１５ａの読み取りデータ中のシリアル番号１５ｃに対応付けて記憶する。尚、該第１整備データは、当該シリアル番号１５ｃの二次元コード１５ａのシールが貼着された遊技盤２を搬送装置１３から取り出した障害釘整備装置３００から、当該シリアル番号１５ｃを含む読み取りデータが送信されてきたときに、該障害釘整備装置３００へ送信（返信）されて、該第１整備データにもとづいた整備が指示される。
障害釘整備装置３００では、管理コンピュータ５００から受信した第１整備データにもとづき、工程Ｓ４で異常が検知された障害釘２００を対象とした第１整備を行う（工程Ｓ５）。該第１整備が完了したときには、該障害釘整備装置３００の装置番号とともに、二次元コード１５ａの読み取りデータと第１整備の実行時の温湿度情報等を含む第１整備完了データが管理コンピュータ５００に送信されることで、管理コンピュータ５００に第１整備が完了したこと、並びに該第１整備を実行した障害釘整備装置３００の装置番号や温湿度情報等の第１整備に関する情報が送信される。
そして、これら第１整備後の障害釘２００について、各障害釘２００が遊技盤面２ａに対し直交するＺ軸方向に対し上方（１２時方向）に約４度傾斜しているか否かを、頭部２００ｂの設定位置に対するＸＹ軸方向への位置ずれ方向及び位置ずれ量などにもとづいて判定する第１検査を行う（工程Ｓ６）。該第１検査の検査結果が、該障害釘整備装置３００の装置番号と、二次元コード１５ａの読み取りデータとともに第１検査完了データとして管理コンピュータ５００に送信される。尚、これら第１検査は、本実施例においては、後述する第２検査と同様に、検査用工具６００を用いて障害釘整備装置３００にて行われるが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら第１検査を第２釘検査装置１７Ｂにて行うようにしてもよい。
尚、本実施例では、第１整備完了データと第１検査完了データとを個別にて管理コンピュータ５００に送信しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これらを第１検査の完了時にまとめて送信するようにしてもよい。
この第１整備（工程Ｓ５）と第１検査（工程Ｓ６）とは、第１整備後の障害釘２００の頭部２００ｂが全て設定位置の許容範囲内に配置されるまで繰返し行われる（工程Ｓ６＋）。但し、再度の第１整備によって許容範囲内に配置された障害釘２００は、再度の第１整備の対象から除外されていくため、第１整備が繰返し実行されていくに従って、整備対象の障害釘２００の数は徐々に減少していくことになる。
これら繰返しの再整備の際には、第１検査の検査結果にもとづいて、再度、第１整備データが管理コンピュータ５００において作成され、該作成された第１整備データにもとづいて釘整備が実行される。尚、第１整備完了データも、第１整備が繰り返し行われる毎に管理コンピュータ５００に送信される。
尚、これら管理コンピュータ５００において作成される第１整備データによる整備内容は、第１検査において許容範囲内にないと判定された回数（検査ＮＧ回数）に応じて、順次異なる整備内容となるように設定されている。具体的には、図６に示すように、検査ＮＧ回数が１回目の場合には、原則として、検査ＮＧと判定された障害釘２００の整備量（変形量）を、該検査ＮＧと判定される前の第１整備における整備量（変形量）とは異なる整備量（変形量）に変更した整備内容とされる。また、検査ＮＧ回数が２回目の場合には、原則として、検査ＮＧと判定された障害釘２００の整備に使用した工具とは異なる工具に変更した整備内容とされる。また、検査ＮＧ回数が３回目の場合には、原則として、検査ＮＧと判定された障害釘２００の整備に使用した障害釘整備装置３００とは異なる障害釘整備装置３００に変更した整備内容とされる。つまり、検査ＮＧ回数が２回目に対応する工具を変更した第１整備が実行された場合には、該第１整備を実行した障害釘整備装置３００は、該第１整備を実行した障害釘２００を有する遊技盤２をロボットアーム装置にて搬送装置１３に投入し、該投入された遊技盤２をロボットアーム装置にて搬送装置１３にから取り出した他の障害釘整備装置３００によって第１整備が実行される。そして、このように他の障害釘整備装置３００によって第１整備が実行された後の第１検査において検査ＮＧと判定された場合には、該遊技盤２は製造ラインからの排出対象に設定される。具体的には、該検査ＮＧと判定した障害釘整備装置３００においてロボットアーム装置にて製造ライン外に排出される。
つまり、本実施例の管理コンピュータ５００は、第１検査で検査ＮＧの障害釘２００があった場合には、図６に示すように、１回目から３回目までの、最初の整備とは整備内容が異なる再整備を行うための第１整備データを送信する。
尚、本実施例では、第１整備においては、工程Ｓ４の釘画像検査において異常が検知された障害釘２００のみを対象として整備を行うようにしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、異常の有無に関係なく、全ての障害釘２００を対象として第１整備を行うようにしてもよい。
第１検査において検査ＮＧの障害釘２００が無い（工程Ｓ６＋でＮ）と判定された場合には、該遊技盤２は、ロボットアーム装置によって搬送装置１３に戻される。そして、搬送装置１３に戻された該遊技盤２は、他の障害釘整備装置３００のロボットアーム装置によって搬送装置１３から取り出され、複数の障害釘のうち遊技盤２の種別に応じて予め指定した障害釘２００（例えば、指定釘２０４〜２０８など）を対象として該障害釘２００の頭部２００ｂを指定位置の許容範囲内に配置するための第２整備が実施される。つまり、第１検査を終了した遊技盤２を搬送装置１３から取り出した障害釘整備装置３００に対して管理コンピュータ５００は、複数の障害釘のうち遊技盤２の種別に応じて予め指定した障害釘２００（例えば、指定釘２０４〜２０８など）を対象として、該障害釘２００の頭部２００ｂを指定位置の許容範囲内に配置するための第２整備データを送信して第２整備の実行を指示する。該第２整備データを受信した障害釘整備装置３００は、受信した第２整備データにもとづいて指定釘２０４〜２０８を対象とした第２整備を行う（工程Ｓ７）。
このように、本実施例では、第１整備を行った障害釘整備装置３００とは異なる障害釘整備装置３００において第２整備を行うことで、障害釘整備装置３００の違いよる整備精度の偏りを防ぐことができるようにしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら第１整備と第２整備とを同一の障害釘整備装置３００が行うようにしてもよい。
詳しくは、第２整備は、例えば、指定釘２０４〜２０８それぞれにおける一対の障害釘２００の間隔が所望の寸法となるように基部側から頭部２００ｂ側に向けて漸次広げ（図３（Ｂ）及び図９（Ｂ）参照）、頭部２００ｂを設定位置とは異なる指定位置に配置する整備とされている。また、その他、各障害釘２００の傾斜角度、傾斜方向、他の障害釘２００との配置態様などを変えるための整備等も含み、工程Ｓ５の第１整備にて整備されたか否かに関わらず行われる。
また、各指定位置に対しては、ＸＹ軸方向の誤差を考慮した許容範囲（精度）が設定されており、頭部２００ｂが許容範囲外に配置されている場合に異常と判定するとともに、指定位置からのずれ方向やずれ量が特定されるようになっている。尚、この許容範囲は、後述するように、各障害釘２００毎に所望の値に設定できるようになっている（図１８，図１９参照）。
これら指定釘２０４〜２０８は、遊技盤面２ａに打ち込まれる複数の障害釘２００のうち、特に、遊技価値の付与に関連する各入賞口や通過ゲート４１への遊技球の進入確率に関わるものであり、僅かな誤差やずれなどによってパチンコ遊技機１のベース値などにも影響を及ぼす可能性が高い障害釘である。また、遊技盤２の種別に応じて各障害釘２００の傾斜角度、傾斜方向、他の障害釘２００との配置態様が変わるものである。尚、この指定釘は、後述するように、各遊技盤２毎に所望の障害釘２００を指定できるようになっている（図２０参照）。
このように、第１整備は、工程Ｓ３において遊技盤面２ａに打ち込まれた複数の障害釘２００のうち、工程Ｓ４で異常が検知された障害釘２００を対象とし、該異常があった障害釘２００の頭部２００ｂを設定位置の許容範囲内に配置する作業を含むのに対し、第２整備は、予め定められた指定された障害釘（例えば、指定釘２０４〜２０８）を対象とし、該指定された障害釘２００の頭部２００ｂを指定位置の許容範囲内に配置する作業を含む。つまり、第２整備及び該第２整備を行う工程Ｓ７では、第１整備及び該第１整備を行う工程Ｓ５とは内容が異なる整備を行う。
また、第２整備は、釘打ち機１６による釘打ち工程において一様にはできないまたは困難な整備であって、第１整備よりも精度が高い繊細な作業を必要とするため、他の障害釘２００を対象とする第１整備とは別個に行うことで、障害釘２００の整備作業を効率よく行える。また、指定釘２０４〜２０８を対象とする第２整備が必要のない種類の遊技盤２にあっては、工程Ｓ７の第２整備を省略してもよい。
そして、これら指定釘２０４〜２０８の障害釘２００を対象とした第２整備を行った後に、後述する工程Ｓ９にて検査用工具６００を用いて、第２釘検査装置１７Ｂによる釘最終検査とは異なる方法で、指定釘２０４〜２０８の障害釘２００が指定位置の許容範囲内に配置されたか否かを判定する第２検査を行う（工程Ｓ８）。この第２検査と第２整備とは、第２整備後の障害釘２００の頭部２００ｂが指定位置の許容範囲内に配置されるまで繰返し行われる（工程Ｓ８＋）。但し、再度の第２整備によって許容範囲内に配置された障害釘２００は、再度の第２整備の対象から除外されていくため、第２整備が繰返し実行されていくに従って、整備対象の障害釘２００の数は徐々に減少していくことになる。
尚、これら第２検査は、本実施例においては、第１検査と同様に、検査用工具６００を用いて障害釘整備装置３００にて行われるが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら第２検査を第２釘検査装置１７Ｂにて行うようにしてもよい。
これら繰返しの整備の際には、第２検査の検査結果にもとづいて、再度、第２整備データが管理コンピュータ５００において作成され、該作成された第２整備データにもとづいて釘整備が実行される。尚、第２整備完了データも、第２整備が繰り返し行われる毎に管理コンピュータ５００に送信される。
尚、これら管理コンピュータ５００において作成される第２整備データによる整備内容は、第２検査において許容範囲内にないと判定された回数（検査ＮＧ回数）に応じて、順次異なる整備内容となるように設定されている。つまり、前述した第１整備と同様の規則に従って異なる内容の整備が実行される。具体的には、図６に示すように、検査ＮＧ回数が１回目の場合には、原則として、整備量（変形量）を変更した整備内容とされ、検査ＮＧ回数が２回目の場合には、原則として、異なる工具に変更した整備内容とされ、検査ＮＧ回数が３回目の場合には、原則として、異なる障害釘整備装置３００に変更した整備内容とされ、検査ＮＧ回数が４回目の場合には、排出対象に設定されて製造ライン外に排出される。
つまり、本実施例の管理コンピュータ５００は、第２検査で検査ＮＧの障害釘２００があった場合には、図６に示すように、１回目から３回目までの、最初の整備とは整備内容が異なる再整備を行うための第２整備データを送信する。
上記のように、指定釘２０４〜２０８を対象とした第２整備及び第２検査が完了した場合には、該第２整備を行った障害釘整備装置３００は、装置番号とともに、読み取り用カメラにて読み取った二次元コード１５ａの読み取りデータと第２整備及び第２検査の実行時の温湿度情報と第２検査の検査結果情報（第２検査結果情報）とを含む第２整備完了データを管理コンピュータ５００に送信することで、管理コンピュータ５００に第２整備及び第２検査が完了したこと、並びに該第２整備を実行した障害釘整備装置３００の装置番号や温湿度情報や第２検査の検査結果情報等の第２整備に関する情報を送信する。
第２検査において検査ＮＧの障害釘２００が無い（工程Ｓ８＋でＮ）と判定された場合には、該第２検査が行われた遊技盤２は、ロボットアーム装置によって、排出側の搬送装置１３に投入されて第２釘検査装置１７Ｂに搬送され、該第２釘検査装置１７Ｂにおいて全ての障害釘２００を対象として、各障害釘２００の頭部２００ｂが設定位置にあるか否かの釘最終検査を行う（工程Ｓ９）。尚、本実施例では、工程Ｓ９において、遊技盤２の全ての障害釘２００の位置を検査するようにしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、指定釘２０４〜２０８のみを検査するようにしてもよい。また、工程Ｓ９にて異常が検知された遊技盤２は、製造ライン１２から取り出され、製造ライン１２とは別の障害釘整備装置３００等により再度整備され、該再整備が完了した場合にも、該再整備を行った障害釘整備装置３００から第２整備完了データが管理コンピュータ５００に送信される。
第２釘検査装置１７Ｂにおける最終検査において異常がなければ、ガイドレール２ｂや風車６１を遊技盤面２ａに形成された下穴を利用して取付ける作業を行う（工程Ｓ１０）。そして、センター飾り枠５１、各種入賞装置など他の遊技用部材を取付けた後、パチンコ遊技機１の遊技機用枠３に組付けられる（工程Ｓ１１）。続いて、出荷前釘測定装置２１にて遊技盤面２ａに設けられた障害釘２００をスキャナー部２１０（図３１及び図３３を参照）により読み取り、読取情報として生成された画像データを用いて、各障害釘２００の傾きに応じた角度や方向等を測定する出荷前釘測定を行う（工程Ｓ１２）。最後に、完成したパチンコ遊技機１は梱包されて出荷される（工程Ｓ１３）。
次に、本実施例の障害釘整備装置３００について、図７〜図１５にもとづいて説明する。図７は、障害釘整備装置を示す右側面図である。図８は、障害釘整備装置を示す平面図である。図９（Ａ）は、挟持部が釘の基端部側に配置された状態を示す右側面であり、図９（Ｂ）は、図９（Ａ）の状態から釘整備を行った状態を示す縦断面図である。図１０は、遊技盤２を保持、固定する昇降クランプ３２０のクランプ制御パターンを示す図である。図１１は、整備内容とクランプパターンとの関係を示す図である。図１２は、整備に用いられる各種工具の一例を示す図である。図１３（Ａ）は指定釘の検査用工具を示す右側面図であり、図１３（Ｂ）は検査用工具を示す正面図、図１３（Ｃ）は検査用工具を示す底面図である。図１４は、検査用工具による指定釘の植設状態の検査を示す概要図である。図１５（Ａ）は検査用工具の基点を検査開始位置に配置した状態を示す横断面図であり、図１５（Ｂ）は第２当接辺が障害釘に当接した状態を示す横断面図であり、図１５（Ｃ）は障害釘に当接する位置に検査用工具の基点を配置した状態を示す横断面図である。
尚、以下においては、障害釘整備装置３００について、説明の便宜上、パチンコ遊技機１の上下左右方向を基準とせず、図７及び図８の上下左右方向を基準として説明する。また、遊技盤２は、パチンコ遊技機１に組付けた状態における上側を、図７及び図８において前側に向けた状態で水平に載置したものとする。
図７及び図８に示すように、本実施例における障害釘整備装置３００は、障害釘２００を整備する整備用アーム３０１と、整備の対象となる障害釘２００が打設された遊技盤２を水平に載置するテーブル３０２と、から主に構成される。尚、障害釘整備装置３００は、前述したように、搬送装置１３からの遊技盤２の取り出し及び投入を行うためのロボットアーム装置等を含むが、以下の説明においては、これらロボットアーム装置等を省いた釘矯正装置を障害釘整備装置３００として説明する。
整備用アーム３０１は、床面上に載置される基台３１０と、基台３１０に対し垂直方向を向く回動軸Ｔ１を中心として回動可能に設けられた回転台３１２と、回転台３１２に対し水平方向を向く回動軸Ｔ２を中心として回動可能に設けられた第１アーム３１３と、第１アーム３１３の先端に水平方向を向く回動軸Ｔ３を中心として回動可能に設けられた第２アーム３１４と、第２アーム３１４の前端に水平方向を向く回動軸Ｔ４を介して回動可能に設けられた第３アーム３１５と、第３アーム３１５の先端に水平方向を向く回動軸Ｔ５を中心として回動可能に設けられた第４アーム３１６と、第４アーム３１６の先端に設けられ後述する整備用工具４００を取付け可能なヘッド３１７と、ヘッド３１７に取付けられる整備用工具４００と、を主に有する。
このように、多関節アームにて構成される整備用アーム３０１は、前述した管理コンピュータ５００に接続され、該管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）からの指令にもとづいて、基台３１０及び各アームに内蔵されたモータ等の駆動源（図示略）が駆動することにより、整備用工具４００を遊技盤面２ａに沿う水平方向（前後左右方向、ＸＹ軸方向）や、遊技盤面２ａに対し直交する垂直方向（上下方向、Ｚ軸方向）に移動させたり、Ｚ軸に対し傾倒させたりすることができるようになっている。
尚、本実施例では、整備用工具４００を動作させる動作手段の一例である整備用アーム３０１は、多関節アームにて構成されるが、本発明はこれに限定されるものではなく、整備用工具４００をＸＹ軸方向やＺ軸方向へ移動させたり、Ｚ軸に対し傾倒させたりすることができるものであれば、多関節アーム以外のマニピュレータにて構成されていてもよい。
テーブル３０２の上面には、遊技盤２の所定箇所（本実施例では、遊技盤２の周囲の４カ所）に形成されている各ガイド孔に挿通可能なガイドピンが立設されており、該ガイド孔にガイドピンが挿通するように図示しないロボットアーム装置によって遊技盤２がテーブル３０２上に載置される。そして、テーブル３０２の一方の側方縁部には、テーブル３０２の左右方向に移動可能とされ、テーブル３０２に載置された遊技盤２を左方向に押すことが可能なスライドクランプ３３０が設けられており、図８に示すように、スライドクランプ３３０がテーブル３０２に載置された遊技盤２を左方向に押すことにより、ガイド孔に挿通されたガイドピンが、ガイド孔の右側の側面に当接するようになることで、ガイド孔とガイドピンとの間隙（あそび）による位置ずれの発生を抑えることができるようになっている。
また、テーブル３０２の上面には、図８に示すように、前方右隅部位置に、位置ズレ検出用の検出用ピンＧを装着する装着部が設けられている。該装着部に装着される検出用ピンＧは、中央にくびれ部を有しており、上部を前後左右に移動させると容易に折れる構造とされており、該検出用ピンＧよりも少し大径な挿通孔を有する位置ズレ確認工具４００’に整備用工具４００を交換して、整備用アーム３０１により検出用ピンＧが装着されている装着部の位置に合わせて位置ズレ確認工具４００’を垂直に降下させていくことにより、位置ズレが生じていない場合には、検出用ピンＧは折れないが、位置ズレが生じている場合には、検出用ピンＧが折れて、位置ずれが生じていることを容易に認識できるようになっている。尚、位置ずれが生じている場合には、所定の修正処理を行って位置ずれを修正する。
また、テーブル３０２の上部両側縁部には、図８に示すように、スライド機構３４０によって前後方向に移動可能に設けられた１対の昇降クランプ３２０が設けられており、テーブル３０２の上面において、障害釘２００が上方を向くように遊技盤面２ａを上向きにした状態で、障害釘２００の上方から遊技盤２を押さえることによりテーブル３０２との間に挟持して、テーブル３０２に遊技盤２を保持、固定できるようになっている。
尚、本実施例の昇降クランプ３２０は、図８に示すように、中央部に間隙が形成された略コ字状とされた透明樹脂板により形成されており、整備対象の障害釘２００が該間隙の直下に位置するように昇降クランプ３２０が逐次移動し、整備対象の障害釘２００に近い釘を昇降クランプ３２０にて押さえて遊技盤２を固定することで、整備における位置ずれが生じることを防ぐとともに、これら整備対象の障害釘２００の近くを押さえても、整備対象の障害釘２００の整備状況を、透明な昇降クランプ３２０を通して視認できるようになっている。
図７に示すように、整備用工具４００は、直径φ１０が約６ｍｍ（φ１０＝約６ｍｍ）の金属製の棒状部材からなる棒状部４０１と、該棒状部４０１の下端側に取付けられ金属材からなる挟持部４０３と、から主に構成され、棒状部４０１の上端をヘッド３１７に交換可能に取付けることができるようになっており、挟持部４０３の形状が異なる複数種類のものがあり（図１２参照）、図８に示すように、基台３１０の周囲に、所定数が交換可能に予め用意されている。
本実施例の障害釘整備装置３００において昇降クランプ３２０によって遊技盤２を保持、固定する形態としては、図１０（Ａ）に示すクランプ制御パターンＡと、図１０（Ｂ）に示すクランプ制御パターンＢとが設定されており、制御ユニット３００’が設定されたクランプ制御パターンにもとづいて昇降クランプ３２０の位置や押さえ圧力を制御する。
クランプ制御パターンＡは、図１０（Ａ）に示すように、整備する障害釘２００を、一方の昇降クランプ３２０の略コ字状の間隙に位置させるとともに、他方の昇降クランプ３２０の位置を、前後方向の中心位置に対して対称位置に配置し、遊技盤２を、クランプ制御パターンＢに比較して低い圧力（小さい力）にて押さえて保持、固定するように制御するクランプ制御パターンである。
クランプ制御パターンＢは、図１０（Ｂ）に示すように、双方の昇降クランプ３２０を前後方向の中心位置に配置した状態で、遊技盤２を、クランプ制御パターンＡに比較して高い圧力（大きい力）にて押さえて保持、固定するように制御するクランプ制御パターンである。尚、クランプ制御パターンＢにおいて、前後方向の中心位置に昇降クランプ３２０を配置したときに、整備対象の障害釘２００が、昇降クランプ３２０に覆われてしまう場合には、該整備対象の障害釘２００が昇降クランプ３２０に覆われてしまわない位置まで昇降クランプ３２０の位置を移動させて、遊技盤２を保持、固定する。
本実施例においては、これら各クランプ制御パターンは、図１１に示すように、整備内容に応じて選択されるようになっている。
具体的には、整備対象の障害釘２００が指定釘２０４〜２０８である場合には、クランプ制御パターンＢが選択され（図１０（Ｂ）参照）、整備対象の障害釘２００が指定釘２０４〜２０８以外の障害釘２００である場合には、クランプ制御パターンＡが選択される（図１０（Ａ）参照）。
また、整備において工具種別が、筒状形状で１本の障害釘２００のみを整備するために使用される工具種別Ａの整備用工具４００である場合には、クランプ制御パターンＡが選択され、複数の障害釘２００を同時に整備するために使用される工具種別Ｂ、Ｃの整備用工具４００である場合には、クランプ制御パターンＢが選択される。
また、整備における変動量（整備量）が予め設定された所定の閾値以上である場合には、クランプ制御パターンＢが選択され、変動量（整備量）が閾値未満である場合には、クランプ制御パターンＡが選択される。
尚、これら整備内容とクランプ制御パターンとの関係は、原則であり、クランプ制御パターンＢが優先される。つまり、整備内容に、クランプ制御パターンＢに該当する整備内容が含まれている場合、例えば、整備内容が、指定釘２０４〜２０８以外であって、工具種別Ａによる整備であっても、変動量（整備量）が閾値以上である場合には、クランプ制御パターンＢが選択される。
このように、本実施例では、整備内容である、整備対象の障害釘２００の種類の違いや、整備に使用する整備用工具４００の種類の違いや、整備における変動量（整備量）の違いに応じて異なるクランプ制御を行うので、遊技盤２を好適に保持することができるようになり、これら整備内容が異なる複数種類の整備を適切に行うことができる。
次に、障害釘整備装置３００における整備に使用される整備用工具４００について説明すると、図１２に示すように、整備用工具４００は、挟持部４０３の形状が異なる複数種類がある。
具体的には、整備用工具４００は、同時に整備する障害釘２００の数に応じて、３つの種別に大別される。工具種別Ａは、１本の障害釘２００のみを整備するために使用される整備用工具４００であり、工具種別Ｂは、２本の障害釘２００を同時に整備するために使用される整備用工具４００であり、工具種別Ｃは、３本の障害釘２００を同時に整備するために使用される整備用工具４００である。
更に、工具種別Ａの整備用工具４００には、図１２のＡ−１〜Ａ−４に例示するように、先端部の形状や開口の大きさ等により、複数種類のものがある。これら工具種別Ａは、主に、連釘と称される誘導釘２０１Ｌ，２０１Ｒの整備に使用される。
また、工具種別Ｂの整備用工具４００にも、図１２のＢ−１〜Ｂ−４に例示するように、挟持部４０３に形成された障害釘２００が挿通される溝の幅や形状、挟持部４０３の厚み等により複数種類のものがある。これら工具種別Ｂは、主に、指定釘２０４〜２０８等の命釘と称される入賞口に臨む障害釘２００等の整備に使用される。
工具種別Ｃの整備用工具４００は、主に、指定釘２０５の整備に使用される整備用工具４００である。尚、本実施例では、工具種別Ｃを２種類とした形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、該工具種別Ｃについても、挟持部４０３に形成された障害釘２００が挿通される溝の幅や形状、挟持部４０３の厚み等により、多種類のものを設けるようにしてもよい。
尚、本実施例に用いた各整備用工具４００のうち、代表的な整備用工具４００については、図２８〜図３０に詳細な形状を示す。図２８〜図３０は、整備用工具の六面図、断面図、参考斜視図、使用状態参考斜視図等を含む。
これらの整備用工具４００の一例について説明すると、例えば、工具種別Ｂ−１の整備用工具４００は、図９に示すように、胴部２００ａを挟持する挟持部４０３は、正面視略横長長方形状をなす直方体形状に形成され、正面左右側には、胴部２００ａの直径φ１（外径）より広い間隔である左右寸法を有する凹溝４１１Ｌ，４１１Ｒが、上下方向に向けて形成されている。挟持部４０３の上面左右方向の中央部には棒状部４０１が接続されており、挟持部４０３は棒状部４０１に対し略直交するように設けられている。
また、挟持部４０３における背面側の左右側辺角部、凹溝４１１Ｌ，４１１Ｒの上下開口における内側辺角部、凹溝４１１Ｌ，４１１Ｒの下開口における外側辺角部、及び挟持部４０３における下面の左右側辺角部は、それぞれ面取り加工が施されている。
このように、各辺の角部に面取り加工が施されることにより、胴部２００ａを挟持部４０３により挟持して整備作業を行う際に、障害釘２００や遊技盤面２ａに傷をつけたりすることが防止されている。
このように構成された障害釘整備装置３００は、前述した遊技盤２の製造工程における工程Ｓ５において、整備用工具４００を用いて遊技盤面２ａに打設された複数の障害釘２００のうち工程Ｓ４において異常が検知された障害釘２００を第１整備データにもとづいて整備する第１整備と、工程Ｓ７において予め指定した指定釘２０４〜２０８を第２整備データにもとづいて整備する第２整備とを行う。
次に、工程Ｓ７における障害釘整備装置３００が行う指定釘２０４〜２０８の第２整備の内容について、図９、図１３〜図１５にもとづいて説明する。尚、以下においては、指定釘２０４の第２整備内容を一例として説明し、他の指定釘２０５〜２０８の第２整備内容も同様のため、説明は省略するものとする。
図９に示すように、指定釘２０４である左右の障害釘２００は、釘打ち機１６により打設された状態において、左右の障害釘２００は、遊技盤面２ａに対し直交するＺ軸方向に対し上方（１２時方向）に約４度傾斜している。また、設定位置において、左右の障害釘２００それぞれの胴部２００ａにおける基端部側の離間寸法Ｌ２及び頭部２００ｂ側の離間寸法Ｌ３はそれぞれ同じ約１０．５ｍｍ（Ｌ２＝約１０．５ｍｍ、Ｌ３＝約１０．５ｍｍ）とされている。つまり、左右の障害釘２００は、互いの胴部２００ａは略平行をなすように打設されている。第２整備では、指定釘２０４の左右の障害釘２００の間隔を基部側から頭部２００ｂ側に向けて漸次広げ、頭部２００ｂを離間寸法Ｌ３が約１２ｍｍとなる指定位置へ配置する第２整備データにもとづいて行われる。
障害釘整備装置３００は、管理コンピュータ５００から受信した第２整備データにもとづいて、図示しない駆動源により整備用アーム３０１の挟持部４０３を動作させて指定釘２０４の整備を行う。
尚、第２整備データは、遊技盤２の指定釘２０４を整備する際に、管理コンピュータ５００が前述した湿度計・温度計から得られた湿度・温度のデータにもとづき、例えば、遊技盤２の材質がベニヤ板である場合であれば、ベニヤ板の含水率を算出し、該含水率にもとづいて整備用アーム３０１の挟持部４０３を動作させるベニヤ板用動作パターンデータ等を含む。このように、工場内の室内環境（湿度・温度）の変化に合わせてベニヤ板の遊技盤２の指定釘２０４を整備できるため、指定釘２０４の整備作業時におけるベニヤ板の破損を防ぐことができるとともに、整備精度が高まる。
また、整備用工具４００は、遊技盤２の種別や対象となる障害釘２００に応じた寸法や形状を有する複数種類の整備用工具４００が用意されており、整備の対象となる障害釘２００に応じて交換可能とされている。尚、このような整備用工具４００の選択及び交換動作は第２整備データに含まれており、整備対象となる障害釘２００に応じて整備用アーム３０１が自動で行うようにしているが、作業者が手作業で交換するようにしてもよい。
障害釘整備装置３００は、受信した第２整備データにもとづいて整備用アーム３０１を所定の動作パターンで駆動し、駆動初期位置から挟持部４０３を整備の対象となる指定釘２０４の配置位置まで、挟持部４０３が障害釘２００に接触しないように遊技盤２の上方にて移動させる。
次いで、図９（Ａ）に示すように、凹溝４１１Ｌ，４１１Ｒの開口が指定釘２０４側を向くように挟持部４０３を指定釘２０４の前側に下降させる。そして、図９（Ａ）中の白矢印方向で示すように挟持部４０３を後方に向けて移動させ、凹溝４１１Ｌ，４１１Ｒ内に左右の障害釘２００の各胴部２００ａがそれぞれ嵌合する第１位置に配置する。これにより、左右の障害釘２００の胴部２００ａが、凹溝４１１Ｌ，４１１Ｒにより挟持される。尚、挟持部４０３は、この所定位置において、図９（Ａ）に示すように、棒状部４０１がＺ軸（垂線）に対し上方（１２時方向）に向けて所定角度（約４度）傾く。
第１位置では、図９（Ａ）に示すように、挟持部４０３の下面が遊技盤面２ａから離間され、その離間寸法Ｌ４は約２．５ｍｍ（Ｌ１０＝２．５ｍｍ）とされる。つまり、挟持部４０３は、胴部２００ａにおける頭部２００ｂよりも遊技盤面２ａに近い基部側の位置に配置される。また、棒状部４０１は、障害釘２００の胴部２００ａと平行をなすように、Ｚ軸（垂線）に対し上方（１２時方向）に向けて所定角度θ１（θ１＝４度）傾けた状態で配置される。また、挟持部４０３の上下寸法Ｌ５は、障害釘２００における遊技盤面２ａから頭部２００ｂまでの長さＬ１よりも短寸とされ（Ｌ５＜Ｌ１）、挟持部４０３と各障害釘２００の頭部２００ｂとの間は離間しているため、挟持部４０３を頭部２００ｂ側に向けてスライド移動させることができるようになっている。
次に、図９（Ｂ）に示すように、挟持部４０３を、挟持部４０３の下面における左右方向の中央位置ＣＰを基準として、棒状部４０１を左右に所定角度振りながら複数回に分けて上方へ移動させる。
具体的には、挟持部４０３を、挟持部４０３の下面における左右方向の中央位置ＣＰを基準として、棒状部４０１を右側に向けて所定角度θ２（θ２＝約１３．１５度）傾け、傾けた状態で所定期間（例えば、約０．６秒間）動作を停止する。次いで、挟持部４０３を第１位置からＺ軸方向に対し上方（１２時方向）に約４度傾斜する方向に向けて第１移動量（例えば、約０．３５ｍｍ）移動させて第２位置に配置するとともに、図９（Ｂ）に示すように、挟持部４０３を、中央位置ＣＰを基準として棒状部４０１を左側に向けて所定角度θ２（θ２＝約１３．１５度）傾けてＺ軸まで戻した後、さらに左側に向けて所定角度θ３（θ３＝約１２．２５度）傾け、傾けた状態で所定期間（例えば、約０．６秒間）動作を停止する。
このように、挟持部４０３が中央位置ＣＰを基準として左右方向に傾くことで棒状部４０１を振る方向側の障害釘２００の方が他方側の障害釘２００に比べ折れ曲がり角度が大きくなり、これを複数回繰り返すことにより、指定釘２０４の障害釘２００の間隔が基部側から頭部２００ｂ側に向けて漸次広がるように整備される。このような第２整備により、指定釘２０４各々の頭部２００ｂが指定位置の許容範囲内に配置される。
次いで、障害釘整備装置３００は、第２整備が行われた指定釘２０４の頭部２００ｂが指定位置の許容範囲内に配置されているか否かを判定する第２検査を行う。この第２検査は、第２整備済みの障害釘２００の頭部２００ｂが指定位置の許容範囲内に配置されているか否かに加え、該障害釘２００の胴部２００ａの曲がり具合が正常であるか否かを判定する。
この第２検査において障害釘整備装置３００は、先ず、整備用工具４００を図１３に示す検査用工具６００に交換する。検査用工具６００は、直径φ１０が約６ｍｍ（φ１０＝約６ｍｍ）の金属製の棒状部材からなる棒状部６０１と、該棒状部６０１の下端側に取付けられ金属材からなる測定部６０２と、から主に構成されている。測定部６０２は、棒状部６０１の下端側に固定的に設置される基部６０２ａと、基部６０２ａに対して相対移動可能に設けられた移動部６０２ｂと、を有する。移動部６０２ｂは、図１５に示すように、棒状部６０１の下端から前方へ延設される板状片を有し、該板状片の先端には、第１接触辺６０２Ｌと、該第１接触辺６０２Ｌに対し交差するように配置される第２接触辺６０２Ｒと、を有する平面視略Ｖ字状の切欠部６０３が形成されている。
このように構成される測定部６０２は、基部６０２ａに対し移動部６０２ｂがＸＹＺ軸方向に移動することで、基部６０２ａに対するせん断力や該せん断力がかかる方向を計測可能であるいわゆる力覚センサ（ひずみゲージ式センサともいう）を構成している。尚、略Ｖ字状の切欠部６０３の谷部は基点ＲＰとなっている。
次に、図１４に示すように、検査用工具６００を用いて障害釘２００における胴部２００ａのＺ軸方向の複数箇所（本実施例では、検査点Ｐ１，Ｐ２の２箇所）におけるＸＹ軸方向の位置（座標）を計測する。そして、基部６０２ａに設けられた演算部（図示略）が位置データ（座標データ）にもとづき障害釘２００の曲がり具合を検出する。
詳しくは、図１５（Ａ）に示すように、検査点Ｐ１，Ｐ２それぞれに対応する検査開始位置に検査用工具６００の基点ＲＰを配置する。続いて、図１５（Ｂ）に示すように、検査用工具６００を、基点ＲＰが指定位置に配置されるようにＸＹ軸方向（水平方向）に移動させる。つまり、第２整備により指定釘２０４〜２０８が指定位置の許容範囲内に配置されていれば、第１接触辺６０２Ｌや第２接触辺６０２Ｒが胴部２００ａに接触せずに基点ＲＰを検査開始位置から指定位置へ移動させることができる。
しかし、障害釘２００が指定位置の許容範囲内に配置されていない場合に、第１接触辺６０２Ｌと第２接触辺６０２Ｒのうちいずれか一方（例えば、第２接触辺６０２Ｒ）に障害釘２００が当接すると、図１５（Ｂ）中の点線矢印方向に圧力が働き、これにより基部６０２ａに対し移動部６０２ｂが移動するため、基部６０２ａに対するせん断力や該せん断力がかかる方向が計測される。障害釘整備装置３００は、前記せん断力やその方向が減少する方向に（最小値となる方向）へ検査用工具６００を誘導する。上記のような動作を繰り返し、図１５（Ｃ）に示すように、障害釘２００に当接する位置に検査用工具６００の基点ＲＰを配置する。障害釘整備装置３００は、基点ＲＰが障害釘２００に当接する位置までに検査用工具６００の基点ＲＰが移動した移動量及び移動方向等を含む前述した第２検査結果情報を含む第２整備完了データを管理コンピュータ５００へ送信する。
第２検査結果情報（第２整備完了データ）を受信した管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、該第２検査結果情報にもとづいて、指定位置に対する検査点Ｐ１，Ｐ２それぞれの位置のＸＹ軸方向へのずれ量を特定する。つまり、管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、第１接触辺６０２Ｌと第２接触辺６０２Ｒとの基点ＲＰを指定位置に向けて移動する途中で第１接触辺６０２Ｌまたは第２接触辺６０２Ｒに接触したときにかかる負荷により、各検査点Ｐ１，Ｐ２における指定位置からのずれ量にもとづいて胴部２００ａの曲がり具合を特定する。
上記のように、管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、障害釘２００の頭部２００ｂの指定位置に対するＸＹ軸方向のずれ量を判定するだけでなく、Ｚ軸方向において頭部２００ｂとは異なる位置である各検査点Ｐ１，Ｐ２における胴部２００ａの指定位置に対するＸＹ軸方向のずれ量を判定することで、障害釘２００の胴部２００ａの曲がり具合を特定する。
また、各検査点Ｐ１，Ｐ２における胴部２００ａの指定位置に対するＸＹ軸方向のずれ量から障害釘２００の曲がり具合を特定することで、障害釘２００の頭部２００ｂの遊技盤面２ａからの長さ寸法を特定できる。つまり、頭部２００ｂは設定位置からＸＹ軸方向へずれていなくても、胴部２００ａが曲がっていたりする不具合を把握できるため、障害釘２００の植設状態を高精度で検査することができる。
尚、工程Ｓ７の第２整備の終了後に行う第２検査で異常が検知された障害釘２００については、管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）が第２整備データに対応する修正整備データ（再第２整備データ）を作成し、該修正整備データにもとづいて整備用アーム３０１の挟持部４０３を動作させる。この第２整備と第２検査とは、第２整備後の障害釘２００の頭部２００ｂが指定位置の許容範囲内に配置されるまでまたは第２整備の回数が所定回数となるまで繰返し行われ、これら第２整備と第２検査とが行われる毎に第２整備完了データが管理コンピュータ５００に送信される。
また、本実施例では、第２検査において、管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、第１接触辺６０２Ｌと第２接触辺６０２Ｒとの基点ＲＰを指定位置に向けて移動する途中で第１接触辺６０２Ｌまたは第２接触辺６０２Ｒに接触したときにかかる負荷により、各検査点Ｐ１，Ｐ２における指定位置からのずれ量にもとづいて胴部２００ａの曲がり具合を特定する形態を例示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、基点ＲＰが検査開始位置から障害釘２００に当接する位置までに移動した移動量及び移動方向（移動軌跡）にもとづいて各検査点Ｐ１，Ｐ２における指定位置からのずれ量を計測し、胴部２００ａの曲がり具合を特定するようにしてもよい。
また、本実施例では、検査用工具６００を用いて第２検査を行う形態を例示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、障害釘整備装置３００においてカメラによって第２検査を行うようにしてもよい。
次いで、工程Ｓ４及びＳ９における第１釘検査装置１７Ａ及び第２釘検査装置１７Ｂが行う障害釘２００の検査について図１６にもとづいて説明する。図１６（Ａ）は図４における第１釘検査装置１７Ａ及び第２釘検査装置１７Ｂの内部構造を示す平面図であり、図１６（Ｂ）は図１６（Ａ）に示されるＢ−Ｂ断面図である。尚、本実施例における第１釘検査装置１７Ａ及び第２釘検査装置１７Ｂは同一構成であるため、第１釘検査装置１７Ａの構成のみ説明し、第２釘検査装置１７Ｂの構成の説明を省略する。
図１６に示すように、第１釘検査装置１７Ａの内部には、立設する複数の脚部４２により所定の高さに配置される平面視矩形状のフレーム４３と、フレーム４３の中心下方側、すなわち、斜め下方側を向いた状態でフレーム４３に沿って複数固定されるカメラ４４（本実施例では６個）と、が配設されており、フレーム４３の下方を前述した搬送装置１３により遊技盤２が通過するようになっている。遊技盤２がフレーム４３の下方に搬送されると、第１釘検査装置１７Ａは搬送装置１３を停止させ、複数のカメラ４４により遊技盤２全体を撮影する。そして、複数のカメラ４４による画像データを、装置番号や二次元コード１５ａの読み取りデータ等とともに管理コンピュータ５００に送信する。
管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、受信した画像データを統合処理して各障害釘２００の頭部２００ｂの位置（座標）を特定するとともに、記憶装置５０５に記憶されている各障害釘２００の頭部２００ｂの設定位置（指定位置）と照合し、設定位置からのずれがないか否かを検査する。
このように、第１釘検査装置１７Ａでは、斜め下方側を向く複数のカメラ４４により遊技盤２の周囲からその全体を撮影し、その画像データを管理コンピュータ５００にて統合処理して各障害釘２００の位置を特定するため、各障害釘２００の前後左右方向の位置（Ｘ軸、Ｙ軸方向の位置）だけでなく、各障害釘２００の高さ方向の位置（Ｚ軸方向の位置）も把握することができ、各障害釘２００の植設状態を高い精度で検査することができる。
尚、本実施例では、各障害釘２００の位置を把握するものの一例として、複数のカメラ４４により各障害釘２００を撮影する態様について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、各障害釘２００の位置を把握できるものであれば、例えば、音波センサや光学センサ等であってもよい。
このように、ＣＰＵ５０２は、第１検査では、第２釘検査装置１７Ｂのカメラ４４により撮影した撮影画像にもとづいて、各障害釘２００の頭部２００ｂが設定位置の許容範囲内に配置されているか否かを判定するのに対し、第２検査では、検査用工具６００に設けられた測定部６０２（力覚センサ）により各障害釘２００の頭部２００ｂが指定位置の許容範囲内に配置されているか否かを判定することで、第１整備よりも障害釘２００の状態を詳細に判定できるため、精度が高い整備を行うことが可能となる。
次いで、管理コンピュータ５００の記憶装置５０５に記憶される種々のデータ及びデータの設定方法等について、図１７〜図２７を用いて説明する。図１７は、シールに印刷される二次元コード及びその他の情報を示す図である。図１８は、記憶装置に記憶されている機種登録情報一覧を参照するときに表示装置５０７に表示されるインタフェースを示す図である。図１９は、記憶装置に機種登録情報を新規登録する際に表示装置５０７に表示されるインタフェースを示す図である。図２０は、特定の各障害釘の整備データを設定する際に表示装置５０７に表示されるインタフェースを示す図である。図２１は、ヘソ釘の整備データを設定する際に表示装置５０７に表示されるインタフェースを示す図である。図２２は、任意釘の整備データを設定する際に表示装置５０７に表示されるインタフェースを示す図である。図２３は、標準整備の位置と測定結果との関係並びに測定結果にもとづく補正データの一例を示す図である。図２４は、表示装置５０７に表示される釘整備方式設定画面を示す図である。図２５は、本実施例の釘打ちデータテーブルを示す図である。図２６は、本実施例の第２画像検査テーブルを示す図である。図２７は、本実施例においてプリンタ５０８により出力される釘間測定書を示す図である。
図１８に示すように、記憶装置５０５には、複数の機種登録情報が予め記憶されている。この機種登録情報は、遊技盤２の種別である品目コード、材質（ベニヤ板か合成樹脂板か）、釘位置精度、釘高さ精度、風車釘位置精度、風車釘高さ精度、整備釘位置精度（指定釘位置精度）、整備釘高さ精度（指定釘高さ精度）、カメラ設定ファイル…等が登録されている。ここで言う、釘位置精度、釘高さ精度、風車釘位置精度、風車釘高さ精度、整備釘位置精度、整備釘高さ精度は、許容される誤差の範囲（許容範囲）である。また、遊技盤２の種別は、例えば遊技盤面２ａが平坦である、または起伏がある（３Ｄ仕様）等、多種多様であり、カメラ設定ファイルは、遊技盤２の機種に合わせて前述したカメラ４４の撮影角度を設定するためのデータである。
この各品目コードには、各遊技盤２に貼付された二次元コード１５ａに付与されたシリアル番号（固有のＩＤ）、整備データ、後述するゲージデータ等が関連付けて記憶されている。したがって、前述した読み取り用カメラにより二次元コード１５ａが読み取られると、管理コンピュータ５００は、読み取ったシリアル番号に対応する品目コードを抽出し、品目コードに関連付けて記憶された各種装置の動作パターンデータやゲージデータ等を抽出し、その情報にもとづいて各種装置が前述した工程Ｓ３〜Ｓ９の作業を行うようになっている。
また、機種登録情報一覧参照用のインタフェースには、記憶装置５０５に機種登録情報を新規登録する際の新規追加ボタンが設けられている。この新規追加ボタンを選択すると、図１９に示すような記憶装置５０５に機種登録情報を新規登録するためのインタフェースが表示装置５０７に表示される。記憶装置５０５に機種登録情報を新規登録する際には、該インタフェースにて、先ず、品目コードを図示しないキーボードで入力するか、自動入力ボタンを押して図示しない品目コード一覧から該当する品目コードから選択して入力する。次いで、遊技盤２の機種に応じて割り当てられる固有の釘配列であるゲージデータを入力する。このゲージデータは、参照ボタンを押して図示しないゲージデータ一覧から該当するゲージデータを選択して入力する。その後、前述したカメラ設定ファイル、各種釘精度を入力する。また、新規登録用のインタフェースには、各種の整備用工具４００（正確ドライバーともいう）による整備データと、任意釘の整備方向と角度と、を設定するボタンがある。
正確ドライバーの整備データの設定ボタンを選択すると、図２０に示すように、正確ドライバーの整備データを設定するためのインタフェースが出現する。このインタフェースには、整備箇所（指定釘の種類）、釘番号、中心位置Ｘ，Ｙ（頭部２００ｂの座標データ）、整備用工具４００の進入方向、整備データ（動作パターンデータ）…等の正確ドライバー一覧と、ゲージデータ画像（図２０の下段参照）と、が表示されている。このインタフェースに表示される整備箇所（指定釘の種類）に、前述した指定釘２０４〜２０８等を入力することで、指定釘を設定できるようになっている。
この正確ドライバー一覧における整備データの欄においては、プルダウン方式で複数の動作パターンデータの内から１つの動作パターンデータを選択できるようになっているとともに、釘番号、中心位置Ｘ，Ｙ（頭部２００ｂの座標データ）、整備用工具４００の進入方向、を設定できるようになっている。
また、正確ドライバー一覧の下段には、ヘソ設定、チャッカー設定、通過ゲート設定、三角設定等のボタンが配置されており、任意のボタンを選択することにより、該ボタンと関連付けられた整備箇所が正確ドライバー一覧にて選択される。この正確ドライバー一覧から任意の整備箇所を選択（本実施例では、ヘソ釘を選択）すると、ゲージデータ画像にて選択した障害釘２００の周囲が色づけされ、作業者がどの整備箇所を選択したか把握し易くなっている。尚、本実施例では、正確ドライバー一覧から任意の整備箇所を選択した際に、ゲージデータ画像にて選択した障害釘２００の周囲が色づけされたが、これに限られず、作業者がどの整備箇所を選択したか把握し易くなっていれば、ゲージデータ画像にて選択した障害釘２００の周囲または障害釘２００自体が点灯または点滅するようにしてもよい。
正確ドライバー一覧にて任意の整備箇所を選択した状態で例えばダブルクリック等の動作を行うと、図２１に示すように、任意の整備箇所（本実施例では、ヘソ釘）の整備データ設定用のインタフェースが出現する。このインタフェースでは、各整備データ（動作パターンデータ）毎に釘振り角度、釘振り移動量、Ｚ軸方向移動量、停止時間、釘振り速度をそれぞれ設定できるようになっている。このように、整備箇所（指定釘の種類）毎に、様々な整備データ（動作パターンデータ）の設定を行うことができるため、特定の障害釘２００を所望の植設状態にするための設定が簡便である。
また、前述した新規登録用のインタフェースにて、任意釘の整備方向と角度を設定するボタンを選択すると、図２２に示すように、任意釘の整備方向と角度を設定するためのインタフェースが出現する。このインタフェースには、釘番号、中心位置Ｘ，Ｙ（頭部２００ｂの座標データ）、高さ、方向、角度、ドライバーの種類（整備用工具の種類）…等の登録リスト一覧と、ゲージデータ画像（図２２の下段参照）と、が表示されている。このインタフェースにおけるゲージデータ画像には、特定の障害釘２００が色づけされており、且つ登録リスト一覧にて選択された釘番号の障害釘２００が区別され（本実施例では、丸で囲っている）、作業者が選択中の障害釘２００を把握し易くなっている。これによれば、特定の障害釘２００の種類に関わらず、１本の障害釘２００毎に整備できるようになるため、より細やかに特定の障害釘２００を所望の植設状態に整備することができるようになっている。
次に、記憶装置５０５に記憶されている本実施例の補正データについて、図２３を用いて説明する。補正データは、障害釘２００の整備精度を高めるためのものであり、実際に、障害釘整備装置３００において、同一の整備を行ったとしても、整備する位置が異なると、異なる整備結果となる場合があるとともに、例えば、回転台３１２に近い位置では障害釘２００の間隔が狭く、回転台３１２から遠い位置では障害釘２００の間隔が広くなるように、整備結果に偏りを生じる場合がある。更に、このような整備位置による整備結果の違いや偏りは、障害釘整備装置３００によって、その傾向等がそれぞれ異なり、いわゆる個体差がある。よって、これら整備位置や個体差による整備結果の不均一を、補正データ等によって解消することで障害釘２００の整備精度を高めることができる。
よって、補正データは、障害釘２００、特には、指定釘２０４〜２０８の障害釘２００の間隔を所望の寸法とするときに、当該所望の寸法を補正することで、実際の第２整備において所望の寸法に整備されるようにするためのデータであって、遊技盤２を載置するテーブル３０２の各位置における標準整備の測定値によって設定されるようになっている。
具体的には、本発明の整備可能位置である遊技盤２を載置するテーブル３０２上の領域は、図２３に示すように、前後方向に１０段、左右方向にＡ〜Ｅの５列から成る５０分割（１０×５）された領域が設定されており、該分割された各領域において、材質、工具、板温度、湿度等の各条件を変更して、障害釘２００の間隔を１２.００ミリに整備する標準整備を、当該障害釘整備装置３００において実行し、各領域の障害釘２００の間隔を実測して、その実測データから補正値を算出する。尚、補正値は、同一の整備条件（材質、工具、板温度、湿度等）において、複数回数（例えば１０）の標準整備を行い、その平均値から算出すればよい。
これら各領域において標準整備された障害釘２００の間隔は、例えば、図２３に示すように、１２.００ミリと同一の間隔の領域もあれば、１２.００ミリよりも狭い領域や、１２.００ミリよりも広い領域があり、これらの障害釘２００の実際の間隔と標準整備の設定値である１２.００ミリとから、補正データが算出される。
つまり、これらの補正データの一例としては、例えば、標準整備の設定値である１２.００ミリを、実際の測定値にて除した値を使用することができる。具体的には、測定値が１２.０５ミリであれば、該１２.０５ミリで１２.００ミリを除した値である０.９９５９が補正値データとなり、実際に整備したい間隔が１１．５０ミリであれば、該１１．５０ミリに補正データを乗算した値を整備において指示する間隔とすればよいことになる。
これら補正データは、上述したように、遊技盤２の材質、板温度、湿度等の各種の条件の組み合わせ毎に作成されて記憶装置５０５に記憶されている。
よって、管理コンピュータ５００は、第２整備を実行する際には、該補正データのうち、障害釘整備装置３００から送信される板温度や湿度等の条件に合致する補正データであって、整備対象の障害釘２００が打設されている位置が該当する領域の補正データを特定し、該特定した補正データにより指示する間隔を補正して第２整備データを作成する。
尚、本実施例においては、上述したような補正データを使用したが、本発明はこれに限定されるものではなく、実際の寸法との差がどの程度の割合（％）であるかを算出し、該割合（％）を補正値とする等のように、実際においては、作成する第２整備データの算出が容易となるような補正データを使用すればよい。
尚、本実施例では、管理コンピュータ５００においては、これら第２整備の整備方式を、上記した補正データを使用する整備方式と、補正データを使用しない整備方式とのいずれの整備方式にて整備するかを、所定の設定操作を実行することによって表示装置５０７に表示される釘整備方式設定画面において設定できるようになっている。
本実施例の釘整備方式設定画面には、図２４に示すように、釘整備方式である「１装置完結方式」と「複数装置分担方式」とに対応してチェックボックスが設けられており、該チェックボックスを排他選択できるようになっている。
「１装置完結方式」は、上記した補正データを用いて各障害釘整備装置３００において、１の遊技盤２の整備を全て実行する整備方式である。つまり、各障害釘整備装置３００では、図２３に例示するように、良好な整備ができる領域が異なっており、障害釘整備装置３００毎にクセが生じる。よって、これら良好な整備ができる領域以外の領域については、補正データを活用して、良好な整備となるように、指示する第２整備データを補正して１の障害釘整備装置３００にて全ての領域の障害釘２００について第２整備を完了する整備方式である。
一方、「複数装置分担方式」とは、複数の障害釘整備装置３００で、第２整備する範囲を分担して整備することで、個々の障害釘整備装置３００に整備のくせ（誤差）があっても、各遊技盤２の同一の範囲の障害釘２００に関しては、同一のくせ（誤差）によって整備されているため、遊技盤２毎の品質にバラツキを押さえることができる整備方式である。
よって、釘整備方式設定画面には、図２４に示すように、「複数装置分担方式」の項目内には、製造ライン１２に配置されている障害釘整備装置３００の装置番号と、当該装置番号の障害釘整備装置３００が第２整備する範囲を、６つの範囲Ｒ１〜Ｒ６から選択して設定できるようになっている。尚、範囲Ｒ１〜Ｒ６は、遊技盤２の範囲を６つに分割した範囲であり、該範囲を選択する場合には、対応する障害釘整備装置３００の標準整備の測定データ（図２３参照）において、測定した間隔が１２．００ミリから所定の基準値内、例えば、±０．０２ミリにある領域を選択するようにすることが好ましい。但し、これら範囲内に該当する領域全てが所定の基準値内であることを満たす必要はなく、領域全てが所定の基準値内である範囲がない場合にあっては、所定の基準値内であることを満たす領域が多い範囲を選択するようにしてもよい。尚、これらの選択は、操作者が操作によって入力するのではなく、管理コンピュータ５００が、自動的に選択するようにしてもよい。
また、基準値は、上記したものに限定されるものではなく、製品の性質や障害釘２００の種別等に応じて適宜に決定されればよい。
このように、釘整備方式設定画面において整備方式として「複数装置分担方式」が設定された場合には、管理コンピュータ５００からは、各障害釘整備装置３００に対して、該釘整備方式設定画面において各障害釘整備装置３００に設定された、範囲Ｒ１〜Ｒ６のいずれかの範囲、つまり、所定の基準値内であることを満たす領域を有する範囲の障害釘２００を第２整備し、他の範囲の障害釘２００については第２整備を行わないことを指示する第２整備データが送信されることで、各障害釘整備装置３００において、それぞれ別の範囲の第２整備が実行される。尚、これら「複数装置分担方式」における第２整備データは、「１装置完結方式」の第２整備データとは異なり、補正データにより補正しないので、管理コンピュータ５００において、これら第２整備データを作成する処理の処理負荷を低減することができ、迅速に第２整備データを障害釘整備装置３００に送信することができる。
尚、「複数装置分担方式」は、上記したように、整備にくせ（誤差）があったとしても、全ての遊技盤２が同様の誤差を含むようになり、遊技盤２の間ではバラツキを生じないことになるので、整備不良となる領域を含まない範囲であれば、所定の基準値内である領域が多い範囲ではない範囲を指定してもよい。
図２４に示す例では、製造ライン１２に設置された０１番の障害釘整備装置３００が範囲Ｒ１を第２整備し、０２番の障害釘整備装置３００が範囲Ｒ３を第２整備し、０３番の障害釘整備装置３００が範囲Ｒ４を第２整備し、０５番の障害釘整備装置３００が範囲Ｒ６を第２整備し、０６番の障害釘整備装置３００が範囲Ｒ５を第２整備する設定例が示されており、０１番〜０６番の６台の障害釘整備装置３００が分担して第２整備を行う形態が例示されている。
尚、これら障害釘整備装置３００による整備のくせ（誤差）は、通常において、整備を実行する回数等に応じて変化することが多く、これら整備のくせ（誤差）を再度測定して、分担する範囲の変更（ローテーション）を検討するタイミングを特定するためのローテーション検討整備カウンタ設定の項目が設けられており、該項目に次回、分担する範囲の変更（ローテーション）を検討するまでの整備数を入力する。ローテーション検討整備カウンタの値は、各障害釘整備装置３００にて第２整備を実行する毎に１減算されていく。第２整備を分担するいずれかの障害釘整備装置３００のローテーション検討整備カウンタが「０」になったときには、再度、標準整備を実行して、分担する範囲の再設定が行われる。つまり、標準整備による測定（検出）は、再測定（再検出）を実行する実行条件である、ローテーション検討整備カウンタが「０」になった毎に実行される。
尚、本実施例では、再測定（再検出）を実行する実行条件を、第２整備の実行回数とした形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら実行条件を、所定期間が経過する毎に一定周期にて実行するようにしてもよい。
次に、記憶装置５０５に記憶される本実施例の釘打ちデータテーブルについて説明する。本実施例の釘打ちデータテーブルには、図２５に示すように、各釘打ち機１６の装置番号に対応付けて、当該番号の釘打ち機１６において釘打ちが行われた遊技盤２のシリアル番号や釘打ち時の日付や温度や湿度等の情報（データ）が記憶、管理されている。
よって、管理コンピュータ５００は、遊技盤２のシリアル番号から、該遊技盤２の障害釘２００を打設した釘打ち機１６を、該釘打ちデータテーブルによって特定できるとともに、該釘打ち機１６において障害釘２００が打設された日付やそのときの温度や湿度等の製造条件も特定できるようになっている。
尚、これらのデータは、釘打ち機１６において障害釘２００の打設が完了したときに、装置番号や二次元コード１５ａの読み取りデータとともに送信される釘打ち作業完了データに含まれる温湿度データが格納されるが、本発明はこれに限定されるものではなく、釘打ち機１６において打設を開始するときに送信されるデータ送信要求時のデータに温湿度データを含めるようにし、該データ送信要求時のデータに含まれる温湿度データを格納するようにしてもよい。
また、図２５には示していないが、管理コンピュータ５００の記憶装置５０５には、釘打ちデータテーブルと同様に、各障害釘整備装置３００の装置番号に対応付けて、当該番号の障害釘整備装置３００において最終の第２整備が行われた遊技盤２のシリアル番号や整備時の日付や温度や湿度等の情報（データ）が記憶、管理されている障害釘整備データテーブルも記憶されており、遊技盤２のシリアル番号から、該遊技盤２の障害釘２００の第２整備した障害釘整備装置３００を、該障害釘整備データテーブルによって特定できるとともに、該障害釘整備装置３００において障害釘２００が第２整備された日付やそのときの温度や湿度等の製造条件も特定できるようになっている。
尚、これらのデータは、障害釘整備装置３００において前述した第２整備が完了したときに、装置番号や二次元コード１５ａの読み取りデータとともに送信される第２整備完了データに含まれる温湿度データ等が格納される。このように、本実施例では、第２整備を行った障害釘整備装置３００の装置番号である装置番号に対応付けて、二次元コード１５ａに含まれるシリアル番号や温湿度データ等が障害釘整備データテーブルに記憶されるようになっているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら第２整備についての障害釘整備データテーブルと同様に、第１整備を行った障害釘整備装置３００から、該第１整備が完了したときに、該障害釘整備装置３００の装置番号とともに送信される第１整備を行った遊技盤２の二次元コード１５ａの読み取りデータと温湿度データ等を含む第１整備完了データにもとづいて、第１整備を行った障害釘整備装置３００の装置番号に対応付けて、該完了時データに含まれるシリアル番号や温湿度データ等を、第１整備の障害釘整備データテーブルに記憶することで、第１整備に関する情報も第２整備と同様に特定して、後述する釘間測定書に印刷出力されるようにしてもよい。
また、本実施例では、繰り返し第２整備（第１整備）が実行された場合には、最終の第２整備（第１整備）についてのデータを障害釘整備データテーブルに記憶するようにしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら繰り返し第２整備（第１整備）が実行された場合には、各第２整備（第１整備）についてのデータも障害釘整備データテーブルに記憶するようにしてもよい。
また、障害釘整備データテーブルには、障害釘整備装置３００における整備方式を記憶するようにしてもよい。更には、第２整備の方式として補正データを使用した「１装置完結方式」が実行された場合には、該第２整備の対象とした障害釘２００について、該障害釘２００の整備に用いた補正データ（補正値）も記憶して、後に確認できるようにしてもよいし、「複数装置分担方式」が実行された場合には、各範囲Ｒ１〜Ｒ６の第２整備を行った障害釘整備装置３００の当該範囲の誤差（個体差）や補正データ（補正値）等の個体差情報も記憶して、後に確認できるようにしてもよい。さらには、これら整備方式や個体差情報を、図２７に示す釘間測定書に記載するようにしてもよい。このようにすることで、障害釘整備データテーブルにおいては、遊技盤２を個々に識別可能な識別情報となるシリアル番号に対応付けて、該遊技盤２の障害釘２００の第２整備についての本発明の個体差情報である補正データが記憶、管理されることになる。
また、本実施例の第２画像検査テーブルには、図２６に示すように、各第２釘検査装置１７Ｂの装置番号に対応付けて、当該番号の第２釘検査装置１７Ｂにおいて第１検査が行われた遊技盤２のシリアル番号や検査時の日付や該検査時の温度や湿度等の情報（データ）が記憶、管理されている。
よって、管理コンピュータ５００は、遊技盤２のシリアル番号から、該遊技盤２を第１検査した第２釘検査装置１７Ｂを、該第２画像検査テーブルによって特定できるとともに、該第２釘検査装置１７Ｂにおいて検査された日付や温度や湿度等の製造条件も特定できるようになっている。
尚、図２６には、第２画像検査テーブルを例示しているが、管理コンピュータ５００の記憶装置５０５には、第２画像検査テーブルと同様の第１画像検査テーブルも記憶されており、該第１画像検査テーブルには、各第１釘検査装置１７Ａの装置番号に対応付けて、当該番号の第１釘検査装置１７Ａにおいて検査が行われた遊技盤２のシリアル番号や検査時の日付や該検査時の温度や湿度等の情報（データ）が記憶、管理されていて、遊技盤２のシリアル番号から、該遊技盤２を１次検査した第１釘検査装置１７Ａを、該第１画像検査テーブルによって特定できるとともに、該第１釘検査装置１７Ａにおいて１次検査された日付や温度や湿度等の製造条件も特定できるようになっている。
これら管理コンピュータ５００の記憶装置５０５に記憶されている各種のデータにもとづいて、本実施例では、図２７に示す釘間測定書がプリンタ５０８により印刷出力され、遊技盤２の購入者であるパチンコ遊技機１の購入者に提供される。
本実施例の釘間測定書は、図２７に示すように、紙面左半分に、遊技盤２の正面図が印刷され、紙面左半分に、製造や整備を行った装置や条件、指定釘の釘間の情報や、予め定められた重要性の高い障害釘２００に関する情報が印刷されている。
具体的には、図２７に示すように、遊技盤２の正面図には、Ａ〜Ｆの記号が印字され、該Ａ〜Ｆが遊技盤２のどの部分を指しているかが解るように表記されているとともに、紙面下方には、Ａ〜Ｆの部分の入賞口の大きさの規定値が印刷されている。
また、遊技盤２の正面図には、遊技盤に打設される全ての障害釘２００が丸の表示で印刷されているとともに、該障害釘２００のうち、角度や方向等のデータが必要となる重要性の高い障害釘２００については、黒丸の表示とされ、近傍に番号［１］〜［２２］が印刷されている。
また、入賞口の大きさの規定値表示の右側には、障害釘２００におけるどの位置の間隔がいずれの名称であるのかを説明する説明図が印刷されている。
釘間測定書の上部には、「釘間測定書」の表題と印刷された日付、機種名が印刷されている。また、紙面右上部には、シリアルナンバー、開発番号、釘打ちデータ名の各項目データが印刷されている。
また、紙面右部には、図２７に示すように、「釘打ち日」、「釘打ち機番号」、「板厚」の釘打ちに関する情報が印刷されている。その下方には、「画像検査日」、「釘位置測定機」、「釘高さ精度 MAX」、「釘高さ精度 MIN」、「温度」、「湿度」、「板温度」の釘位置後の最初の画像検査に関する情報が印刷されている。
その更に下方には、「釘整備日」、「釘整備機」、「温度」、「湿度」、「板温度」の釘整備に関する情報が印刷され、その更に下方には、「画像検査日」、「釘位置確認機」、「温度」、「湿度」、「板温度」の最終確認の画像検査に関する情報が印刷されている。
また、更に下方には、紙面左の正面図において示されたＡ〜Ｆの入賞口の間隔に関する情報が印刷されている。
また、紙面右端には、紙面左の正面図において示された［１］〜［２２］の障害釘２００の「角度」、「方向」に関する情報が、各障害釘２００の番号に対応付けて印刷されている。
尚、「角度」は、遊技盤面２ａに垂直な角度が「０度」であり、遊技盤面２ａの上方に向けて障害釘２００の先端が傾斜している程、角度が大きくなるように表記されていることが図示されている。「方向」に関しては、障害釘２００の上面視において、時計の針が示す時刻が該当する方向によって示されていることが図示されている。
このように、本実施例の釘間測定書には、図２７に示すように、障害釘２００の整備に関する多くの情報が印刷されるようになっているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら印刷される整備に関する情報の種類や内容や表示の方法は、適宜に変更可能である。つまり、整備に関する情報としては、障害釘２００の整備に関する情報として、どの装置で釘打ちや整備がなされたかや、釘打ちや整備がなされたときの温度や湿度等の条件や、整備後の障害釘２００の角度や向きや各入賞口の間隔等の情報のいずれかのみであってもよい。
また、本実施例では、図２７に示すように、パチンコ遊技機１の購入者等の関係者が、直接読み取ることのできる釘間測定書を出力する形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、これら釘間測定書のページデータを、該釘間測定書が該当する遊技盤２のシリアル番号等のページ特定情報に対応付けて管理コンピュータ５００に記憶しておき、該ページ特定情報を符号化したバーコードやシンボル化した２次元コード等のように、関係者が、直接読み取ることのできない暗号化した情報のみを出力して、該暗号化した情報を、所定の端末で読み取ることにより、ページ特定情報を抽出して、該抽出したページ特定情報に対応付けて管理コンピュータ５００に記憶されている釘間測定書のページデータを入手して表示するようにしてもよい。また、管理コンピュータ５００ではなく、特定の管理サーバコンピュータに、これら釘間測定書のページデータを遊技盤２のシリアル番号等のページ特定情報に対応付けて記憶しておき、該特定の管理サーバコンピュータにアクセスして、ページ特定情報を専用ページにおいて入力することで、釘間測定書のページデータが配信されて、関係者の利用可能な端末（例えば、スマートホンやタブレット）等に表示されるようにしてもよい。このように、関係者が、直接読み取ることのできない暗号化した情報のみを出力するようにすることで、出力される整備に関する情報が改竄され難くなるので、整備に関する情報のセキュリティ性を高めることができる。
尚、これらページ特定情報を符号化したバーコードやシンボル化した２次元コードを出力する場合には、これらバーコードや２次元コードのみを出力するのではなく、図１７に示した二次元コード１５ａのように、該バーコードや２次元コードとともに、これらバーコードや２次元コードから特定される釘間測定書に記載されている整備に関する情報のうちの一部の情報、例えば、釘打ち日や釘整備日や入賞口等の測定値のデータを印刷出力することで、これらバーコードや２次元コードとともに印刷出力される整備に関する情報については、所定の端末等を使用しなくても、直接、読み取ることができるようにしてもよい。このようにすることで、所定の端末を使用できないときでも、整備に関する情報を確認できるようになる。
次に、本実施例の出荷前釘測定装置２１について、図３１〜図３３にもとづいて説明する。図３１は、出荷前釘測定装置２１の構成例を示す右側面図である。図３２は、出荷前釘測定装置２１における各種クランプの設置例を示す正面図である。図３３は、出荷前釘測定装置２１が備えるスキャナー部２１０の構成例を示す右側面図である。
図３１に示すように、本実施例における出荷前釘測定装置２１は、障害釘２００などが設けられた遊技盤面２ａに光（照射光）を照射して反射光を含む読取情報となる画像データを生成可能なスキャナー部２１０と、出荷前釘測定の対象となる障害釘２００などが設けられた遊技盤２を水平に載置するテーブル２２０と、から主に構成されている。尚、出荷前釘測定装置２１は、図４に示す製造ライン１２にて搬送装置１３からの遊技盤２の取り出し及び投入を行うためのロボットアーム装置等を含んでもよい。あるいは、出荷前釘測定装置２１は、搬送装置１３とは異なる搬送経路で搬送された遊技盤２を、テーブル２２０に載置するためのロボットアーム装置等を含んでもよいし、あるいは作業員の人手により遊技盤２をテーブル２２０に載置可能としてもよい。また、出荷前釘測定装置２１は、スキャナー部２１０とは別個に、二次元コード１５ａを読み取るための読取部（読取用カメラ）を備えてもよい。
テーブル２２０の上面には、図７に示した障害釘整備装置３００が備えるテーブル３０２の上面と同様に、ガイドピンなどが設けられていればよい。また、テーブル２２０の上部両側縁部には、図３２（Ａ）に示すような１対の昇降クランプ２５０が設けられてもよい。図３２（Ａ）に示す昇降クランプ２５０は、回動可能に構成されたアーム部２５０Ａと、該アーム部２５０Ａが軸着されて回動支点になるとともに昇降可能に構成されたベース部２５０Ｂとを有し、テーブル２２０の上面において、障害釘２００が上方を向くように遊技盤面２ａを上向きにした状態で、上方から遊技盤２を押さえることによりテーブル２２０との間に挟持し、テーブル２２０に遊技盤２を保持して固定できればよい。
尚、昇降クランプ２５０により上方から遊技盤２を押さえることによりテーブル２２０との間に挟持する場合には、遊技盤２の下面が基準（下面基準）となる。この場合には、位置が固定されたテーブル２２０の上面と遊技盤２の下面との間に隙間が生じることや、遊技盤２の盤面材料などにより厚み寸法に誤差が生じることで、遊技盤面２ａとスキャナー部２１０との距離が不均一になりやすい。そこで、例えば図３２（Ｂ）に示すような１対の上止めクランプ２６０が設けられてもよい。この場合、上止めクランプ２６０は、回動可能に構成されたアーム部２６０Ａと、該アーム部２６０Ａが軸着されて回動支点になるとともに昇降不可として出荷前釘測定装置２１の本体などに固着されたベース部２６０Ｂとを有していればよい。加えて、出荷前釘測定装置２１には、シリンダなどを用いた昇降機構２７０を設け、該昇降機構２７０によりテーブル２２０と該テーブル２２０に載置された遊技盤２とを下方から上止めクランプ２６０の保持面に押し当てる。このとき、上止めクランプ２６０の保持面は上下動しないので、遊技盤２の上面が基準（上面基準）となり、テーブル２２０に載置された遊技盤２を保持して固定できる。このように上面基準とすることで、遊技盤面２ａとスキャナー部２１０との距離が均一になりやすく、スキャナー部２１０における被写体の焦点位置を、遊技盤面２ａまでの距離を基準とした障害釘２００の高さ位置と整合させやすくなることにより、障害釘２００の頭部２００ｂにおける反射光などを撮像するときの誤差を低減して、鮮明な画像データを生成することができる。出荷前釘測定装置２１では、各障害釘２００に対する出荷前釘測定に適した位置に昇降クランプ２５０または上止めクランプ２６０などが配置され、予め用意されたクランプ制御パターンにより遊技盤２を保持して固定する制御（保持制御）が行われるようにすればよい。
図３３に示すように、スキャナー部２１０は、光源となる４つの発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４と、障害釘２００の頭部２００ｂでの反射光などを導くミラー部２１１と、ミラー部２１１から導かれた反射光などを集光するレンズ部２１２と、レンズ部２１２により集光された反射光などを撮像する撮像部２１３と、を主に有する。スキャナー部２１０は、テーブル２２０との間に所定の間隔をおいて平行に固定配置されるガイドレールに取り付けられ、モータの駆動力などにより、往復移動が可能であればよい。ミラー部２１１やレンズ部２１２及び撮像部２１３から構成される読取光学系は、遊技盤面２ａに設けられた障害釘２００の高さに対応するスキャナー基準面２１０ａが被写体の焦点位置となるように調整されていればよい。このように、撮像部２１３は、遊技盤面２ａに設けられた障害釘２００の頭部２００ｂに対応する被写体の焦点位置を有していればよい。
複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４は、被写体となる障害釘２００などが設けられた遊技盤面２ａに走査光（照射光）となる光を照射する複数の直管状光源であればよい。図３３に示す構成例においては、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４のうちで、第１発光ユニットを構成する発光部材ＬＳ１、ＬＳ２が反射光の光路を挟んだ一方側（図３３における紙面上の左側）に配置され、第２発光ユニットを構成する発光部材ＬＳ３、ＬＳ４が反射光の光路を挟んだ他方側（図３３における紙面上の右側）に配置されている。このような配置により、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４は、複数の方向から障害釘２００の頭部２００ｂに対して走査光（照射光）となる光を照射することができる。
撮像部２１３は、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）方式によるラインカメラを用いて構成されていればよい。尚、撮像部２１３は、ＣＩＳ（Contact Image Sensor）方式による密着イメージセンサを用いて構成されてもよい。ＣＩＳ方式による密着イメージセンサの場合には、ＣＣＤ方式によるラインカメラの場合と比べて、内部構造を簡素化でき、消費電力を低減することもできる。その一方で、ＣＩＳ方式による密着イメージセンサの場合には、ＣＣＤ方式によるラインカメラの場合と比べて、焦点深度が浅く、画像データの精度が低下しやすくなり、また、製造コストが増大するおそれもある。これに対し、ＣＣＤ方式によるラインカメラの場合には、焦点調整が容易になり、画像データの精度を向上させやすくなり、また、製造コストを抑制することもできる。その他、スキャナー部２１０における読取光学系は、複数の光源となる発光部材から障害釘２００の頭部２００ｂに照射された光の反射光を撮像可能な任意の構成を有していればよい。例えばスキャナー部２１０の配置や形状にあわせて、複数のミラー部２１１を有する構成としてもよい。遊技盤面２ａに対して直交する方向となる光路から反射光を導く構成に限定されず、遊技盤面２ａに対して、複数の光源となる発光部材からの照射光路とは異なる所定角度を有する斜め方向となる光路から反射光を導いて撮像可能な構成であってもよい。
スキャナー部２１０は、図３１に実線矢印で示すスキャン方向に搬送され、これに伴い発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４から遊技盤面２ａの障害釘２００等に照射した光の反射光を撮像した画像データを生成する。出荷前釘測定装置２１では、遊技盤２を保持して固定した状態で、スキャナー部２１０をスキャン方向に移動させる搬送制御が行われるようにすればよい。スキャナー部２１０は、図１６に示した第１釘検査装置１７Ａなどの場合とは異なり、複数のカメラ４４を設ける必要がなく、一体構成とされたスキャナー部２１０を図３１に示すスキャン方向に移動させる搬送制御を行うことで、遊技盤面２ａの全体を撮影する。このときには、遊技盤２を固定する保持制御が行われることにより、各障害釘２００の頭部２００ｂの位置を正確に測定することができる。このように、出荷前釘測定装置２１は、複数のカメラ４４を設ける必要がないので、装置構成を簡素化して、製造コストを抑制することができ、また、画像データの補正処理などによる処理負担を軽減することもできる。
尚、スキャナー部２１０を固定する保持制御を行い、遊技盤２を所定方向に移動させる搬送制御を行うようにしてもよい。ただし、搬送装置１３などにより遊技盤２を搬送させながら撮影を行う場合には、搬送中の振動などにより位置決めが困難になるおそれがある。これに対し、スキャナー部２１０をスキャン方向に移動させる搬送制御を行い、図３２（Ａ）に示すような昇降クランプ２５０、または図３２（Ｂ）に示すような上止めクランプ２６０などを用いて、遊技盤２を固定する保持制御を行うことで、出荷前釘測定装置２１は、正確に各障害釘２００の位置を測定することができる。図１６に示された第１釘検査装置１７Ａの場合のように、出荷前釘測定装置２１の設置位置を搬送装置１３により遊技盤２が通過する位置に設定し、この設置位置に遊技盤２が搬送されると、出荷前釘測定装置２１は搬送装置１３を停止させ、昇降クランプ２５０または上止めクランプ２６０などを用いて遊技盤２を固定する保持制御と、スキャナー部２１０の搬送制御とを行うようにしてもよい。
図３４は、出荷前釘測定処理の一例を示すフローチャートである。管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）と出荷前釘測定装置は、予め用意されたプログラムを実行して、指令や各種データの送受信を行うことで、出荷前釘測定処理の実行を開始すればよい。図３５（Ａ）〜（Ｆ）は、障害釘２００の頭部２００ｂについて、出荷前釘測定処理により中心位置を取得するまでの画像使用例を示している。図３５（Ｇ）は、遊技盤面２ａに設けられた複数の障害釘２００について、頭部２００ｂの位置データと位置検出例を示している。
出荷前釘測定装置２１では、管理コンピュータ５００からの指令にもとづいて、あるいは出荷前釘測定装置２１における操作に応じて、スキャナー部２１０により遊技盤面２ａの原画像を取得する（ステップＳ１０１）。その結果として、生成された読取情報となるスキャン画像データを、出荷前釘測定装置２１から管理コンピュータ５００へ送信する。スキャン画像データは、スキャナー部２１０により生成されたカラー画像を示すものであればよい。尚、スキャン画像データは、スキャナー部２１０により生成されたモノクロ画像を示すものであってもよい。
スキャン画像データを受信した管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、受信したスキャン画像データに示される原画像を、図３５（Ａ）に示すようなモノクロ画像に変換する（ステップＳ１０２）。尚、スキャン画像データがモノクロ画像を示す場合には、さらにモノクロ画像に変換する必要はない。原画像またはモノクロ画像において、障害釘２００の頭部２００ｂに対応するエッジ部分が不明確である場合には、エッジ強調やコントラスト強調等の画像処理が行われてもよい。
続いて、参照テンプレートを用いたパターンマッチングにより、図３５（Ｂ）に示すような特徴画像を抽出する（ステップＳ１０３）。このときには、障害釘２００の頭部２００ｂにおける反射光による明度の高い領域（図３５（Ａ）に示す白色部分）を、特徴画像として抽出する。特徴画像を抽出するために用いられる参照テンプレートは、障害釘２００の頭部２００ｂにおける適切な反射光の領域を示す基準画像として、予め用意されていればよい。図３５（Ｂ）では、特徴画像として抽出された反射光領域Ｒ１に、ハッチングを付して図示している。
次に、ステップＳ１０３による抽出領域の中心を特定する（ステップＳ１０４）。例えば図３５（Ｃ）に示すように、反射光領域Ｒ１と高さ及び幅が等しい長方形区画Ｓ１を設定し、縦方向（上下方向）と横方向（左右方向）でそれぞれ半分に分割（２分割）することで、ステップＳ１０３にて抽出された特徴画像の領域における中心点を特定すればよい。尚、長方形区画Ｓ１を縦方向と横方向でそれぞれ半分に分割（２分割）することで中心点を特定するものに限定されず、例えば長方形区画Ｓ１における対角線の交点を中心点として特定するものであってもよい。
その後、円探索範囲を設定する（ステップＳ１０５）。例えば図３５（Ｄ）に示すように、図３５（Ｃ）に示した長方形区画Ｓ１を縦方向（上下方向）と横方向（左右方向）でそれぞれ２倍拡大した長方形区画Ｓ２を指定し、該長方形区画Ｓ２を円探索範囲として設定すればよい。尚、円探索範囲は、長方形区画Ｓ１を縦方向と横方向にそれぞれ２倍拡大した長方形区画Ｓ２に限定されず、例えばステップＳ１０４により特定された抽出領域の中心に対し、障害釘２００の頭部２００ｂを縦方向（上下方向）と横方向（左右方向）にそれぞれ２つずつ並べた長さ（Ｓφ２×２＝約８．４ｍｍ）を一辺とする正方形区画を、円探索範囲として設定してもよい。その他、ステップＳ１０４により特定された抽出領域の中心に対し、所定距離の範囲内を円探索範囲に設定するものであればよい。このように円探索範囲を設定することにより、障害釘２００の頭部２００ｂを特定するための円探索に要する処理量の増大を防止できる。
円探索範囲を設定した後には、エッジ検出による円探索を行う（ステップＳ１０６）。エッジ検出では、例えばソーベルフィルタ、プレヴィットフィルタ、ラプラシアンフィルタのいずれかなど、任意のエッジ検出フィルタを用いて、エッジパターン画像が生成されるようにすればよい。このようなエッジパターン画像において、障害釘２００の頭部２００ｂにおける輪郭（形状）との類似度が所定範囲内となるエッジ部分を抽出することにより、図３５（Ｅ）に示すような円形部分ＳＣ１を特定すればよい。尚、エッジ検出における閾値や輪郭判定における閾値といった、画像判定処理により円形部分ＳＣ１を特定するために用いられる閾値の一部または全部は、複数の長方形区画Ｓ２に応じて、異なる値が設定されてもよい。遊技盤面２ａは、場所に応じた色変化があり、盤面全体で単一の閾値を用いた場合には、長方形区画Ｓ２の位置によりエッジ検出や輪郭判定が困難になり、円形部分ＳＣ１の特定が不可能になることがある。そこで、複数の長方形区画Ｓ２に対して、遊技盤面２ａの盤面上における各長方形区画Ｓ２の位置すなわち障害釘２００の設置位置などに応じて、異なる閾値を設定可能とすることで、円形部分ＳＣ１が特定されやすくしてもよい。障害釘２００の頭部２００ｂに対応する画像ヒストグラムと、長方形区画Ｓ２に応じた画像ヒストグラムとを用いて、異なる閾値を設定可能としてもよい。このような閾値の設定により、円形部分ＳＣ１の有無や位置を、より正確に特定して、障害釘２００の傾きの測定精度を向上させることができる。
続いて、図３５（Ｅ）に示すような円形部分ＳＣ１の中心位置として、図３５（Ｆ）に示すような中心位置ＳＣ２を取得する（ステップＳ１０７）。このときには、ステップＳ１０６により検出された円形部分ＳＣ１のうちで、互いに最も離れた２点を抽出する２点抽出を行い、抽出した２点の中点を、中心位置ＳＣ２として取得すればよい。尚、２点抽出に限定されず、３点抽出あるいはハフ変換などの任意の方法により、円形部分ＳＣ１の中心位置ＳＣ２を取得できればよい。遊技盤面２ａに設けられた各障害釘２００について中心位置ＳＣ２を取得することにより、例えば図３５（Ｇ）に示すように、読取情報としての特徴画像にもとづいて、各障害釘２００の検出位置ＫＤを取得することができる。図３５（Ｇ）では、各障害釘２００に対応して、それぞれの障害釘２００が適正に整備された場合に頭部２００ｂの理想的な配置となる参照位置ＫＣを、破線により図示している。
ステップＳ１０７にて取得した中心位置ＳＣ２により、障害釘２００の傾きを測定する（ステップＳ１０８）。障害釘２００の傾きには、障害釘２００が傾斜している方向（釘方向）と、傾斜角である角度とが、含まれていればよい。予め用意された比較データに示される頭部傘外径位置を基準位置とした場合に、ステップＳ１０７により取得した中心位置がずれている量（移動距離）が、含まれてもよい。頭部傘外径位置は、図３（Ｂ）に示された障害釘２００において遊技盤面２ａからの長さＬ１＝約１６．８ｍｍにおける中心位置であり、頭部２００ｂが形成する釘傘の外径が最大となる箇所の中心位置であればよい。障害釘２００が傾斜している方向は、遊技盤２の設計データに示される障害釘２００の設定位置（図３（Ｂ）に示される孔部２ｄの設計位置）を基準位置とした場合に、ステップＳ１０７により取得した中心位置がずれている方向であり、遊技盤面２ａと直交するＺ軸（垂線）に対し上方を０度の方向として時計回りに度数法で示してもよいし、０度の方向を１２時の方向として時間表記で示してもよい。尚、遊技盤面２ａと直交するＺ軸（垂線）に対して下方を０度や１２時の方向としてもよい。このように、設計データのような基準データに示される基準位置にて、遊技盤面２ａと直交する仮想線に対する障害釘２００の傾きを測定すればよい。
次に、ステップＳ１０８による測定結果を記憶する（ステップＳ１０９）。管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、出荷前釘測定の測定結果として、各障害釘２００の一部または全部について、釘方向、移動距離、角度の一部または全部を示す測定結果情報（出荷前測定データ）を作成する。管理コンピュータ５００の記憶装置５０５には、各出荷前釘測定装置２１の装置番号と対応付けて、当該番号の出荷前釘測定装置２１において出荷前釘測定が行われた遊技盤２のシリアル番号や出荷前釘測定の日付等の情報（データ）が記憶、管理され、これらのデータと関連付けて、出荷前測定データが格納されるようにすればよい。
管理コンピュータ５００の記憶装置５０５に格納される出荷前測定データを用いて、パチンコ遊技機１の試験機関に対する申請用書類の作成を可能にしてもよい。この申請用書類は、図２７に示された釘間測定書と同様に、指定釘の釘間の情報や、所定の障害釘２００に関する情報など、障害釘２００の測定結果を含む各種情報が印刷されたものであればよい。出荷前測定データに示される障害釘２００の測定結果と、障害釘２００の胴部２００ａ及び頭部２００ｂの寸法とを用いて、所定の障害釘２００（例えば指定釘２０４など）における離間寸法（釘間距離）を取得する演算処理が実行されてもよい。このとき、指定釘２０４における左右の障害釘２００の間隔は、障害釘２００の測定結果として特定された各障害釘２００の中心位置（頭部傘外径位置）を示す座標データ（中心座標）と、障害釘２００における胴部２００ｂの直径φ１が約１．８５ｍｍ（φ１＝約１．８５ｍｍ）であることから、演算により特定されてもよい。指定釘２０４における左右の障害釘２００について、頭部傘外径位置を示すＸＹ座標を用いて、左右の障害釘２００に対応する頭部傘外径位置の距離（中心距離）を求めることができる。障害釘２００の間隔は、中心距離から胴部２００ｂの半径を２箇所分だけ差し引いたものになるので、中心距離から胴部２００ｂの直径φ１として１．８５ｍｍを差し引けばよい。具体的な一例として、指定釘２０４における左右の障害釘２００について、頭部傘外径距離（中心距離）が１４．１２２ｍｍである場合には、１．８５ｍｍを差し引くことにより、障害釘２００における離間寸法（釘間距離）が１２．２７ｍｍであることを特定できる。
尚、申請用書類として印刷される測定結果に関する情報の種類や内容や表示の方法は、適宜に変更可能である。申請用書類のページデータを、遊技盤２のシリアル番号等のページ特定情報に対応付けて管理コンピュータ５００に記憶しておき、該ページ特定情報を符号化したバーコードやシンボル化した２次元コード等のように、直接には読み取ることができない暗号化した情報のみを出力して、該暗号化した情報を、所定の端末で読み取ることにより、ページ特定情報を抽出して、該抽出したページ特定情報に対応付けて管理コンピュータ５００に記憶されている申請用書類のページデータを入手して表示その他の出力をするようにしてもよい。
こうして、ステップＳ１０７により取得した障害釘２００の中心位置ＳＣ２と、基準データに示される基準位置との比較結果に応じて、異なる設定のための処理が行われる。すなわち、ステップＳ１０８による測定結果にもとづいて、障害釘２００の傾きが正常であるか否かを判定する（ステップＳ１１０）。正常であると判定された場合には（ステップＳ１１０；Ｙｅｓ）、出荷用設定を行う（ステップＳ１１１）。正常でないと判定された場合には（ステップＳ１１０；Ｎｏ）、再整備用設定を行う（ステップＳ１１２）。ステップＳ１１１では、例えば出荷前釘測定装置２１から取り出した遊技盤２を梱包部門へと搬送するための設定などを行う。ステップＳ１１２では、例えば出荷前測定装置２１から取り出した遊技盤２を、図６に示した第１整備が行われる工程Ｓ５、または図６に示した第２整備が行われる工程Ｓ７といった、前工程に戻すための設定などを行う。尚、ステップＳ１１０にて正常でないと判定された場合には、遊技盤２を製造ライン外に排出するための設定が行われることがあってもよい。例えば、障害釘２００の傾きを測定した結果により、第１整備や第２整備によっても遊技盤２の再整備を行うことが不可能であると判断された場合には、該遊技盤２が製造ライン外に排出されてもよい。
図３６（Ａ）〜（Ｄ）は、光源と撮影機材に応じた撮影画像とエッジ検出結果の比較例を示している。図３６（Ａ）は、通常の室内照明を光源とし、一眼カメラを撮影機材とした場合であり、図３６（Ｂ）は、蛍光灯１本を光源とし、スキャナーを撮影機材とした場合であり、図３６（Ｃ）は、蛍光灯２本を光源とし、スキャナーを撮影機材とした場合であり、図３６（Ｄ）は、ＬＥＤ照明を光源とし、スキャナーを撮影機材とした場合である。これらの場合には、撮影画像において、光源からの光による反射光の部分が白色の特徴画像となる。例えば図３６（Ｂ）に示すように、蛍光灯１本の場合には、障害釘２００の頭部２００ｂにおけるエッジ付近が暗くなりやすく、遊技盤面２ａの色彩や模様との同化が生じやすくなる。この場合には、たとえ特徴画像を適切に抽出できたとしても、円探索を行うときに、障害釘２００の頭部２００ｂに対応する円の検出率や検出精度が低下するおそれがある。尚、円の検出率は、図３５（Ｅ）に示すような円形部分ＳＣ１を特定できる割合であり、円の検出精度は、図３５（Ｆ）に示すような中心位置ＳＣ２を取得する場合の正確性（実際の頭部２００ｂの中心位置に対する位置ずれ量）である。
その一方で、図３６（Ｃ）に示すように、蛍光灯２本の場合には、他の場合と比較して、特徴画像の縦方向（上下方向）と横方向（左右方向）の対称性が高くなり、均一な反射光領域を含む撮影画像が得られる。また、障害釘２００の頭部２００ｂにおけるエッジ付近が明確になり、遊技盤面２ａの色彩や模様との同化が生じにくくなる。これにより、円探索を行うときに、障害釘２００の頭部２００ｂに対応する円の検出率や検出精度を向上させることができる。尚、ＬＥＤ照明として、拡散板などを用いた蛍光灯型の照明を使用することで、図３６（Ｃ）に示すような蛍光灯２本を光源とした場合と同様の撮影画像が得られるものとしてもよい。また、導光板などを用いた面発光型のＬＥＤ照明を使用することで、図３６（Ｄ）に示した場合とは異なる均一な反射光領域を含む撮影画像が得られるものとしてもよい。ＬＥＤ照明を用いた場合には、蛍光灯を用いた場合に比べて、装置の初期製造コストが増大するのに対し、照明の交換頻度を低減したり、消費電力を抑制したりすることができる。装置の製造コストや撮影画像の品質などを勘案して、どのような光源を採用するかの選定が行われるようにすればよい。
図３６（Ｅ）は、図３６（Ｃ）に示すような蛍光灯２本の場合に、特徴画像として抽出される特徴画像エリアを示している。図３６（Ｅ）に示す場合の特徴画像は、２本の蛍光灯のうちで、第１蛍光灯の方向から照射される光による反射光を撮像することで得られる第１特徴画像エリアＲＡ１と、第２蛍光灯の方向から照射される光による反射光を撮像することで得られる第２特徴画像エリアＲＡ２と、を含んでいる。このように、蛍光灯２本の場合における特徴画像エリアは、第１蛍光灯による第１特徴画像エリアＲＡ１及び第２蛍光灯による第２特徴画像エリアＲＡ２といった、反射光の組合せを含む読取情報を構成する。図３３に示すスキャナー部２１０が備える複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４のうちで、発光部材ＬＳ１、ＬＳ２は、図３６（Ｅ）に示す第１特徴画像エリアＲＡ１に対応する第１蛍光灯と等価の第１発光ユニットを構成し、発光部材ＬＳ３、ＬＳ４は、図３６（Ｅ）に示す第２特徴画像エリアＲＡ２に対応する第２蛍光灯と等価の第２発光ユニットを構成すればよい。これにより、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４から照射される光による反射光を撮像することで得られる特徴画像エリアは、第１発光ユニットによる第１特徴画像エリアＲＡ１及び第２発光ユニットによる第２特徴画像エリアＲＡ２といった、反射光の組合せを含む読取情報を構成する。
このように、反射光の組合せを含む読取情報としての特徴画像にもとづいて、前述した出荷前釘測定処理におけるステップＳ１０４〜Ｓ１０７により、障害釘２００の中心位置を取得し、ステップＳ１０８では、取得した中心位置と、基準データに示される基準位置との比較により、基準位置に対する障害釘２００の傾きを測定することができる。
図３７は、障害釘２００の傾きについて、角度と移動距離などの関係を示している。遊技盤面２ａに立設された障害釘２００は、図３（Ｂ）や図３７（Ａ）に示すように、遊技盤面２ａから頭部傘外径位置までの長さＬ１が約１６．８ｍｍ（Ｌ１＝約１６．８ｍｍ）である。また、図３７（Ａ）には、このような障害釘２００の頭部２００ｂがＺ軸（垂線）に対して傾斜したときの角度θＡ、この角度θＡだけ移動させるときに障害釘２００の頭部傘外径位置が描く円弧の円周長ＬＣ０、遊技盤面２ａと平行な頭部傘外径位置の移動量である移動距離ＬＡ１が示されている。これらの角度θＡ、円周長ＬＣ０、移動距離ＬＡ１の関係から、図３７（Ｂ）に示すように、移動距離ＬＡ１を測定することで、釘の傾斜角である角度θＡを計算により求めることができる。
より厳密には、円周長ＬＣ０を用いて、釘の傾斜角である角度θＡを求めることが考えられる。しかしながら、実際には、図３７（Ｃ）に示すように、実用的な角度θＡの範囲において、円周長ＬＣ０と移動距離ＬＡ１との誤差δＡは無視できるオーダーの範囲内となる。したがって、スキャナー部２１０を搬送することにより取得した画像データを用いて測定した移動距離ＬＡ１から、角度θＡを求めることにより、障害釘２００の傾きについて、十分な精度で角度θＡを特定することができる。尚、例えばθＡ＝９度の場合を限界点として設定しておき、これに対応する移動距離よりも測定結果の移動距離ＬＡ１が大きい場合には、曲がりや寝かせが発生しているとして、不適合の判定を行うようにしてもよい。
図３７（Ｃ）に示すように、たとえ移動距離ＬＡ１における１ｍｍ程度の相違であっても、角度θＡの計算結果では、有意な影響を及ぼすことになる。したがって、出荷前釘測定装置２１でテーブル２２０に載置された遊技盤２の位置決めや、遊技盤面２ａに設けられた障害釘２００の胴部２００ａ及び頭部２００ｂの形状（寸法）には、十分な精度を確保しておく必要がある。
図３８は、比較データを用いた計算例を示している。この例では、障害釘２００が適切に整備された場合における頭部傘外径位置（座標データ）を、基準データに示される基準位置として指定すればよい。一般的に、比較データに示される障害釘２００の頭部傘外径位置は、遊技盤２の設計データに示される障害釘２００の設定位置（図３（Ｂ）に示される孔部２ｄの設計位置）にて、Ｚ軸（垂線）に対して障害釘２００の頭部２００ｂ側が上方（１２時方向）に向けて約４度傾斜して立設された場合を想定して、設計データを用いた演算により予め特定したものであればよい。例外的に、例えば図３（Ａ）に示された指定釘２０４における左右の障害釘２００は、基部側から頭部２００ｂ側に向けて次第に間隔が広がり、上方（１２時方向）に対する時間表記とした場合に、右の障害釘２００では大凡時計短針角２時の方向に４度傾斜した状態となり、左の障害釘２００では大凡時計短針角１０時の方向に４度傾斜した状態となる。比較データでは、これらの指定釘２０４などにおける障害釘２００の頭部傘外径位置が、各障害釘２００の傾斜方向を考慮して設計データを用いた演算により予め特定されてもよいし、設計データを用いることなく予め適正位置として指定されてもよい。
図３７（Ｃ）に示すように、角度θＡ＝４度の場合には、移動距離ＬＡ１＝約１．１７１９ｍｍとなる。したがって、遊技盤２の設計データに示される障害釘２００の孔部２ｄに対応した設定位置から、上方（１２時方向）に移動距離ＬＡ１＝約１．１７１９ｍｍだけ移動させた位置を、参照可能な頭部傘外径位置である参照位置となるように、比較データを予め作成すればよい。このように、比較データは、設計データを用いた演算により作成されたものであればよい。尚、障害釘２００が適切に整備された遊技盤面２ａ（マスター台）を撮影して生成された画像データを用いて、各障害釘２００の頭部２００ｂについて適正な位置を示す比較データが作成されてもよい。比較データに示される障害釘２００の頭部位置（参照位置）に対し、実際の障害釘２００における頭部２００ｂの位置（検出位置）がずれている方向（釘方向）と、ずれている量（移動距離）とを、計算により特定する。
例えば図３８（Ａ）に示すように、比較データに示される障害釘２００の頭部位置である参照位置ＫＣ１と、画像データにより特定された障害釘２００の検出位置ＫＤ０とが、それぞれ配置されているとする。図３８（Ａ）に示す参照位置ＫＣ１に対して、検出位置ＫＤ０の移動量は、撮影画像において、横方向に１９画素（左方向をプラスで表す）、縦方向に−２８画素（下方向をマイナスで表す）であるとする。撮影画像における１画素が実際の遊技盤面２ａの上で３１μｍの距離に相当する場合、検出位置ＫＤ０の移動距離は、横方向に５８９μｍ（左方向に５８９μｍ）、縦方向に−８６８μｍ（下方向に８６８μｍ）となる。これにもとづいて、遊技盤面２ａと直交するＺ軸（垂線）に対して下方を０度とした場合の釘方向を示す角度θＢは、図３８（Ｂ）に示すような計算により、θＢ＝３４．１６度となる。また、移動距離ＡＢは、図３８（Ｃ）に示すような計算により、ＡＢ＝１０４８．９７μｍとなる。
図３９は、設計データを用いた計算例を示している。設計データは、ＣＡＤ（Computer Aided Design）ソフトウェアを用いて作成されたデータであればよい。この例では、遊技盤２の設計データに示される障害釘２００の設定位置（図３（Ｂ）に示される孔部２ｄの設計位置）を、基準データに示される基準位置として指定する。こうした設計データに示される障害釘２００の設定位置にて、遊技盤面２ａと直交するＺ軸方向の仮想線に対する障害釘２００の角度と方向を、障害釘２００の傾きとして測定する。
例えば図３９（Ａ）に示すように、設計データに示される障害釘２００の設定位置ＫＣ０と、比較データに示される障害釘２００の参照位置ＫＣ１と、画像データにより特定された障害釘２００の検出位置ＫＤ０とが、それぞれ配置されているとする。尚、参照位置ＫＣ１と検出位置ＫＤ０は、図３８（Ａ）に示した位置と同様である。参照位置ＫＣ１は、設定位置ＫＣ０に対して、障害釘２００がＺ軸（垂線）の上方（１２時方向）に向けて４度傾斜した場合に対応している。これは、図３７（Ｃ）において角度θＡ＝４度の場合に対応するので、参照位置ＫＣ１の設定位置ＫＣ０に対する移動距離Ｌ０＝１．１７１９ｍｍとなる。図３９（Ａ）に示す参照位置ＫＣ１に対して、検出位置ＫＤ０の移動距離は、図３８（Ａ）の場合と同様に、横方向に５８９μｍ（左方向に５８９μｍ）、縦方向に−８６８μｍ（下方向に８６８μｍ）である。これにもとづいて、遊技盤面２ａと直交するＺ軸（垂線）に対して上方を０度とした場合の釘方向を示す角度θＣは、図３９（Ｂ）に示すような計算により、θＣ＝６２．７度となる。これを時間表記とした場合には、大凡時計短針角９時５４分となる。また、設定位置ＫＣ０は、図３７（Ａ）に示された障害釘２００の頭部２００ｂがＺ軸（垂線）の上にある場合（傾斜角が０度の場合）と対応している。したがって、検出位置KD0に対応する障害釘２００の角度θＡは、図３９（Ｃ）に示すような計算により、θＡ＝２．２６度となる。
図４０は、障害釘２００の頭部２００ｂにおける反射光の発生例を示している。障害釘２００の頭部２００ｂは、表面が鏡面仕上げなどによる光沢面となっている。また、図３（Ｂ）にも示されているように、障害釘２００の頭部２００ｂは、傘外径Ｓφ２が約４．２ｍｍ（Ｓφ２＝約４．２ｍｍ）で曲率半径Ｒ２が約２．８ｍｍ（Ｒ２＝約２．８ｍｍ）の球面状となるように曲面形成されている。そのため、障害釘２００の頭部２００ｂでは、曲面形成された表面における法線（接平面の垂線）に対し、光の入射角と反射角の大きさが等しくなる。図４０に示す例において、障害釘２００の頭部２００ｂより上方（スキャナー部２１０側）から照射された光Ｌ１、Ｌ２は、それぞれ反射光Ｍ１、Ｍ２となる。また、障害釘２００の頭部２００ｂと同じ高さから照射された光Ｌ３は、反射光Ｍ３となる。さらに、障害釘２００の頭部２００ｂより下方（遊技盤面２ａ側）から照射された光Ｌ４は、反射光Ｍ４となる。これらの反射光Ｍ１〜Ｍ４は、いずれもスキャナー部２１０の読取光学系に導かれ、撮像部２１３の撮像により読み取られる。このように、スキャナー部２１０の読取光学系には、複数の光源となる発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４から直接に照射される光とは異なる光も導かれ、読取情報を構成する画像データの生成に影響を与えることになる。
図４１（Ａ）は、障害釘２００の頭部２００ｂを撮影した場合に、該頭部２００ｂの上下端側に生じるエッジ写り込みエリアＥＡ１、ＥＡ２を示している。図４１（Ｂ）は、遊技盤面２ａの横方向（左右方向）における端部に設けられた障害釘２００の頭部２００ｂを撮影した場合に、該頭部２００ｂの横端側（この例では左端側）に生じるエッジ端切れエリアＥＢ１を示している。図４１（Ａ）に示すエッジ写り込みエリアＥＡ１、ＥＡ２は、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４から直接に照射される光とは異なる光として、障害釘２００の横方向や遊技盤面２ａの方向（下方）からの光が写り込んだ部分である。図４１（Ｂ）に示すエッジ端切れエリアＥＢ１は、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４の長手方向において、各発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４の長さを超えた範囲の写り込みにより、反射光領域の端部が途切れてしまった部分である。こうしたエッジ写り込みエリアＥＡ１、ＥＡ２やエッジ端切れエリアＥＢ１により、反射光の組合せによる特徴画像に歪みが生じ、あるいは障害釘２００の頭部２００ｂにおけるエッジ付近が不明確になり、エッジ検出による円の検出率や検出精度が低下するおそれがある。
図４２は、図４１（Ａ）に示したエッジ写り込みエリアＥＡ１、ＥＡ２による不都合を解消するために、障害釘２００の頭部２００ｂについてエッジを強調する改善例を示している。この改善例では、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４といった、障害釘２００の頭部２００ｂに光を直接に照射可能な光源とともに、発光部材ＬＳ１０といった、障害釘２００の頭部２００ｂに光を間接的に照射可能な光源を設ける。この場合には、曲面鏡として形成された反射板ＭＬ１を設置して、発光部材ＬＳ１０からの光（照射光）を反射板ＭＬ１で反射させ、さらに遊技盤面２ａで反射させてから、障害釘２００の頭部２００ｂに照射（入射）させる。このように、障害釘２００の頭部２００ｂより下方から光を照射するための光源ＬＳ１０や反射板ＭＬ１を配置して、読取情報としての特徴画像に対応する画像データに示される反射光領域の増大を図り、障害釘２００の頭部２００ｂにおけるエッジを強調することができる。
図４３は、図４１（Ｂ）に示したエッジ端切れエリアＥＢ１による不都合を解消するために、光源となる発光部材の改善例を示している。図４３（Ａ）は、改善前の光源配置例であり、光源となる発光部材の長さは６００ｍｍであり、遊技盤面２ａから２００〜３００ｍｍの高さに光源となる発光部材が配置されている。この場合、遊技盤面２ａの横幅は大凡５００ｍｍなので、遊技盤面２ａの横方向（左右方向）における端部に設けられた障害釘２００の頭部２００ｂを撮影した場合には、エッジ端切れエリアＥＢ１が発生しやすくなる。
そこで、光源の高さ改善例として、図４３（Ｂ）に示すように、遊技盤面２ａから２０〜１００ｍｍの高さに光源となる発光部材を配置する。パチンコ遊技機１において、遊技盤２は、ガラス扉枠５０が有するガラス窓５０ａのガラス板との間が大凡１９ｍｍの距離となるように設置され、遊技領域が確保される。したがって、遊技盤面２ａから２０ｍｍ程度の高さまでであれば、光源となる発光部材を遊技盤面２ａに接近させても、スキャナー部２１０を移動させた場合に、障害釘２００や他の装飾部材に衝突することはない。こうして、可能な限り光源となる発光部材を遊技盤面２ａに接近させることにより、エッジ端切れエリアＥＢ１の減少を図ることができる。
また、光源の長さ改善例として、図４３（Ｃ）に示すように、光源となる発光部材の長さを８００ｍｍに変更する。こうして、光源となる発光部材の長手方向を延長することにより、エッジ端切れエリアＥＢ１の減少を図ることができる。光源の高さを改善（遊技盤面２ａに接近）するとともに、光源の長さを改善（長手方向に延長）することにより、エッジ端切れエリアＥＢ１を減少させる効果は、より高いものとなる。
以上説明したように、本実施例によれば、図３１及び図３２に示すように、出荷前釘測定装置２１のスキャナー部２１０において、光源となる複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４により、複数の方向から障害釘２００の頭部２００ｂに対して光を照射可能とし、均一で明確な反射光領域を有する特徴画像の抽出や、障害釘２００の頭部２００ｂにおけるエッジの強調にもとづいて、障害釘２００の頭部２００ｂに対応する円の検出率や検出精度を向上させ、障害釘２００の傾きの測定精度を向上させることができる。
また、本実施例によれば、図３５（Ｂ）に示す反射光領域Ｒ１や、図３６（Ｅ）に示す第１特徴画像エリアＲＡ１及び第２特徴画像エリアＲＡ２のように、反射光の組合せを含む読取情報としての特徴画像にもとづいて、障害釘２００の中心位置を取得し、その中心位置と、基準データに示される基準位置とを、図３８及び図３９に示すように比較して、障害釘２００の傾きとなる角度や方向等を測定することにより、障害釘２００の傾きの測定精度を向上させることができる。
また、本実施例によれば、図３９に示すような設計データによる障害釘２００の設定位置ＫＣ０を、基準データに示される基準位置として指定した場合に、その基準位置における遊技盤面２ａと直交する仮想線に対する障害釘２００の角度と方向を、障害釘２００の傾きとして測定することにより、障害釘２００の傾きを適切に測定することができる。
また、本実施例によれば、図３４に示す出荷前釘測定処理のステップＳ１０７にて取得した障害釘２００の中心位置ＳＣ２と、基準データに示される基準位置との比較結果に応じて、ステップＳ１１０にて障害釘２００の傾きが正常であるか否かを判定し、ステップＳ１１１では出荷用設定を行うのに対し、ステップＳ１１２では再整備用設定を行うので、測定結果に応じた適切な対処を行うことができる。
また、本実施例によれば、図３１に示すように、スキャナー部２１０をスキャン方向に移動させる搬送制御が行われ、遊技盤２を移動しないように固定する保持制御が行われるので、各障害釘２００の頭部２００ｂの位置を正確に測定して、障害釘２００の傾きの測定精度を向上させることができる。
また、本実施例によれば、図３８及び図３９に示すような比較データによる障害釘２００の参照位置ＫＣ１を、基準データに示される基準位置として指定する場合に、図３（Ｂ）に示される孔部２ｄの設定位置といった、遊技盤面２ａにおける障害釘２００の初期位置を示す設計データを用いた演算により、基準データを作成できるので、基準データを作成するための処理負担を軽減することができる。
尚、前記実施例では、障害釘２００の傾きを測定するための画像処理や計算処理などを、管理コンピュータ５００において実行する形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これらの処理を出荷前釘測定装置２１で実行する、つまり、障害釘２００の傾きを測定する装置側において実行するようにしてもよい。
本実施例における遊技機用測定方法は、パチンコ遊技機１の遊技盤面２ａに設けられ頭部２００ｂが曲面形成された障害釘２００の傾きを測定するための方法であって、複数の方向から障害釘２００の頭部２００ｂに対して光を照射可能に配置された光源となる複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４からの光の反射光を読み取り、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報を用いて、図３４に示すような出荷前釘測定処理を実行することなどにより、障害釘２００の傾きとなる角度や方向等を測定する。このようにすることで、均一で明確な反射光領域を有する特徴画像の抽出や、障害釘２００の頭部２００ｂにおけるエッジの強調にもとづいて、障害釘２００の頭部２００ｂに対応する円の検出率や検出精度を向上させ、障害釘２００の傾きの測定精度を向上させることができる。
また、図４に示すような搬送装置１３を有する製造ライン１２に対し、図３１に示すような出荷前釘測定装置２１を適用することにより、本実施例における遊技機製造方法は、パチンコ遊技機１の遊技盤面２ａに設けられ頭部２００ｂが曲面形成された障害釘２００の傾きを測定する測定工程を有する方法であって、測定工程では、複数の方向から障害釘２００の頭部２００ｂに対して光を照射可能に配置された光源となる複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４からの光の反射光を読み取り、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報を用いて、図３４に示すような出荷前釘測定処理を実行することなどにより、障害釘２００の傾きとなる角度や方向等を測定する。このようにすることで、均一で明確な反射光領域を有する特徴画像の抽出や、障害釘２００の頭部２００ｂにおけるエッジの強調にもとづいて、障害釘２００の頭部２００ｂに対応する円の検出率や検出精度を向上させ、障害釘２００の傾きの測定精度を向上させることができる。
また、本実施例によれば、図１１に示すように、障害釘整備装置３００において、第２整備の種類（釘種別、整備工具種別、整備変形量（整備動作））に応じて異なるクランプ制御パターンが決定されることにより、異なる保持制御が行われるため、遊技盤を好適に保持することができるので、異なる種類の整備を適切に行うことができる。尚、整備の種類は本実施例に例示したものに限らす、本実施例に例示した種類とは異なる種類であってもよい。具体的には、整備変形量（整備工具の移動量）ではなく、整備工具の移動速度が異なる整備や、整備工具の移動の経路や障害釘２００に当接する位置の違い等であってもよい。
また、本実施例によれば、障害釘整備装置３００のテーブル３０２において、遊技盤２は、遊技盤２に形成されたガイド孔に、該ガイド孔の内径よりも小径のガイドピンが挿通された状態で、該ガイドピンと交差する左右水平方向に付勢されているので、保持されている遊技盤の位置精度を高めることができる。
また、本実施例によれば、第１整備並びに第２整備において、最初の整備（一次整備）を実施した後に、整備した障害釘２００の状態を検出して、該検出した状態が所定の適正状態になっているか否かを判定し、所定の適正状態になっていない場合には、検出した状態にもとづいて、最初の整備とは異なる再整備、具体的には、図６に示すように、再整備１回目では、整備動作の一例である変形例（整備量）を変更した整備、再整備２回目では、使用する整備用工具４００を変更した整備、再整備３回目では、障害釘整備装置３００を変更した整備を行うため、整備不良の障害釘の発生を防ぐことができる。
尚、前記実施例では、検出した状態が所定の適正状態になっているか否かの判定を、管理コンピュータ５００において実施する形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これらの判定を各障害釘整備装置３００側において行ったり、或いは、整備後の障害釘２００の状態の検出を、第１釘検査装置１７Ａ及び第２釘検査装置１７Ｂ等において行う形態の場合においては、これらの判定を各第１釘検査装置１７Ａ及び第２釘検査装置１７Ｂで行う、つまり、障害釘２００の状態の検出を行う装置側において行うようにしてもよい。
また、本実施例によれば、再整備を所定回数（本実施例では３回）行っても、障害釘２００の状態が所定の適正状態になっていない場合には、第１整備や第２整備を終了して、製造ライン１２からの排出対象に設定されるので、必要以上に再整備（第２次整備）が繰り返し行われて、製造効率が低下してしまう等の不都合の発生を防ぐことができる。
また、本実施例によれば、図２３に示すように、遊技盤面２ａ上の異なる領域（位置）の各障害釘２００の間隔を標準状態である１２．００ミリとする標準整備を行って（標準整備工程）、該標準整備がなされた各障害釘２００の間隔と標準状態である１２．００ミリとの誤差である個体差を検出するために標準整備後の障害釘２００の間隔を検出し（釘状態検出工程）、該検出によって得られた個体差から領域毎の補正データが作成され、管理コンピュータ５００において、整備方式として「１装置完結方式」が設定されている場合には、整備対象の障害釘２００が設けられている領域（位置）に対応する補正データにより補正された第２整備データにもとづいて第２整備が行われるので、位置の違いによる整備不良の障害釘２００の発生を防ぐことができる。
また、本実施例によれば、上記したように、標準整備（標準整備工程）、該標準整備がなされた各障害釘２００の間隔と標準状態である１２．００ミリとの誤差である個体差を検出し（釘状態検出工程）、管理コンピュータ５００において、整備方式として「複数装置分担方式」が設定されている場合には、個体差が良好な整備を行うための予め定められた基準値内である領域（位置）が属する範囲（範囲Ｒ１〜Ｒ６のいずれか）について障害釘２００の第２整備を行い、該基準値内にない領域（位置）、つまり釘整備方式設定画面において当該障害釘整備装置３００に対して設定されていない範囲の障害釘２００の整備は行わない（良好部分整備工程）ことで、位置の違いによる整備不良の障害釘２００の発生を防ぐことができる。
尚、前記実施例では、管理コンピュータ５００において、整備方式を「１装置完結方式」と「複数装置分担方式」から選択して設定できる形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これらの一方の整備方式のみを行うものであってもよい。
また、本実施例によれば、障害釘整備装置３００において、検出用ピンＧと位置ズレ確認工具４００’とによる位置ズレ確認ができるので、位置ズレによる整備精度の低下を防ぐことができる。尚、前記実施例では、位置ズレ確認手段として、検出用ピンＧと位置ズレ確認工具４００’とを用いているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら検出用ピンＧと位置ズレ確認工具４００’を用いる方式以外の方式によって、位置ズレを確認するようにしてもよい。
また、本実施例によれば、標準整備による個体差の再測定（再検出）を実行する実行条件（再検出実行条件）が成立する毎に、標準整備による再測定（再検出）が実行されるので、整備によって誤差（個体差）が変化しても、該変化に対応した整備を行うことができる。
また、本実施例によれば、障害釘整備データテーブルにおいて遊技盤２のシリアル番号に対応付けて、該遊技盤２の障害釘２００の第２整備についての補正データ等の個体差情報が記憶、管理されるので、各遊技盤２について個体差情報を管理できる。
また、本実施例では、パチンコ遊技機１の遊技盤面２ａに設けられた複数の障害釘２００の整備を行うものであって、複数の障害釘２００のうち予め定められた設定位置からのずれが許容範囲外である障害釘２００に対して工程Ｓ５にて行う第１整備と、複数の障害釘２００のうち予め指定された障害釘（例えば、指定釘２０４〜２０８）に対して工程Ｓ７にて行う第２整備と、を実行可能であり、第２整備では、第１整備とは内容が異なる整備を行う。このようにすることで、第１整備では、複数の障害釘２００について設定位置からのずれを一様に整備することができるとともに、第２整備では、予め指定された障害釘についてずれの整備とは内容が異なる整備を行うことができるため、障害釘２００の釘配列（ゲージ）等に応じた細かい整備が可能となる。
本実施例における障害釘整備システムは、パチンコ遊技機１の遊技盤面２ａに複数の障害釘２００を打ち込むための釘打ち機１６と、複数の障害釘２００各々について予め定められた設定位置からのずれが許容範囲内にあるか否かを判定する第１釘検査装置１７Ａや第２釘検査装置１７Ｂと、複数の障害釘２００の整備を行う障害釘整備装置３００と、釘打ち機１６、第１釘検査装置１７Ａや第２釘検査装置１７Ｂ、障害釘整備装置３００の制御を行う管理コンピュータ５００と、からなり、管理コンピュータ５００は、遊技盤面２ａに設けられた複数の障害釘２００のうち特定の障害釘を指定する障害釘指定手段（例えば、正確ドライバーの整備データを設定するためのインタフェースに表示される整備箇所（指定釘の種類））と、障害釘整備装置３００に対し、第１釘検査装置１７Ａや第２釘検査装置１７Ｂにより設定位置からのずれが許容範囲外であると判定された障害釘に対する第１整備の実行を指示する第１整備指示手段（例えば、検査結果データを受信したＣＰＵ５０２が、工程Ｓ３にて打ち込まれた障害釘２００のうち、工程Ｓ４の検査により頭部２００ｂの設定位置に対するＸＹ軸方向へずれが許容範囲外にあると判定された障害釘２００を対象として、該障害釘２００の頭部２００ｂを設定位置の許容範囲内に配置するための第１整備データを作成し、該第１整備データを遊技盤２の搬送先の障害釘整備装置３００へ送信して第１整備の実行を指示する部分）と、障害釘整備装置３００に対し、前記障害釘指定手段にて指定した障害釘に対する第２整備の実行を指示する第２整備指示手段（例えば、ＣＰＵ５０２が、複数の障害釘のうち、遊技盤２の種別に応じて予め指定した障害釘２００（例えば、指定釘２０４〜２０８など）を対象として、該障害釘２００の頭部２００ｂを指定位置の許容範囲内に配置するための第２整備データを障害釘整備装置３００へ送信して第２整備の実行を指示する部分）と、を有し、第２整備では、第１整備とは内容が異なる整備を行う。このようにすることで、第１整備では、複数の障害釘２００について設定位置からのずれを一様に整備することができるとともに、第２整備では、予め指定された障害釘２００についてずれの整備とは内容が異なる整備を行うことができるため、障害釘２００の釘配列（ゲージ）等に応じた細かい整備が可能となる。
本実施例における管理装置は、パチンコ遊技機１の遊技盤面２ａに設けられた複数の障害釘２００の整備を行う障害釘整備装置３００の制御を行う管理コンピュータ５００であって、遊技盤面２ａに設けられた複数の障害釘２００のうち特定の障害釘を指定する障害釘指定手段（例えば、正確ドライバーの整備データを設定するためのインタフェースに表示される整備箇所（指定釘の種類））と、障害釘整備装置３００に対し、第１釘検査装置１７Ａや第２釘検査装置１７Ｂにより設定位置からのずれが許容範囲外であると判定された障害釘に対する第１整備の実行を指示する第１整備指示手段（例えば、検査結果データを受信したＣＰＵ５０２が、工程Ｓ３にて打ち込まれた障害釘２００のうち、工程Ｓ４の検査により頭部２００ｂの設定位置に対するＸＹ軸方向へずれが許容範囲外にあると判定された障害釘２００を対象として、該障害釘２００の頭部２００ｂを設定位置の許容範囲内に配置するための第１整備データを作成し、該第１整備データを遊技盤２の搬送先の障害釘整備装置３００へ送信して第１整備の実行を指示する部分）と、障害釘整備装置３００に対し、前記障害釘指定手段にて指定した障害釘に対する第２整備の実行を指示する第２整備指示手段（例えば、ＣＰＵ５０２が、複数の障害釘のうち、遊技盤２の種別に応じて予め指定した障害釘２００（例えば、指定釘２０４〜２０８など）を対象として、該障害釘２００の頭部２００ｂを指定位置の許容範囲内に配置するための第２整備データを障害釘整備装置３００へ送信して第２整備の実行を指示する部分）と、少なくとも前記障害釘整備装置３００から送信される前記整備に関する情報を含む障害釘に関する情報を、遊技機毎に出力可能な出力手段（例えば、図２７に示す釘間測定書を印刷出力するプリンタ５０８）と、を備え、前記第２整備では、前記第１整備とは内容が異なる整備を行う。このようにすることで、第１整備では、複数の障害釘２００について設定位置からのずれを一様に整備することができるとともに、第２整備では、予め指定された障害釘２００についてずれの整備とは内容が異なる整備を行うことができるため、障害釘２００の釘配列（ゲージ）等に応じた細かい整備が可能となる。
また、障害釘整備装置３００が複数である場合には、出力される釘間測定書には、複数の障害釘整備装置３００のうち、該釘間測定書に記載された整備を行った障害釘整備装置３００を特定可能な装置番号等の整備装置特定情報を含めることで、不良等が発生したときに、該不良のある整備を行った障害釘整備装置を容易に特定できる。
また、第１整備を行った後、第２整備を行うことで、第１整備でずれが整備された状態で第２整備を行うことができるため、第２整備を正確に行うことができる。
また、第１整備を行った障害釘２００について設定位置からのずれが許容範囲内にあるか否かを判定する第１判定手段（例えば、管理コンピュータ５００のＣＰＵ５０２は、第１整備を行った整備後の障害釘２００について、各障害釘２００が遊技盤面２ａに対し直交するＺ軸方向に対し上方（１２時方向）に約４度傾斜しているか否かを、遊技盤２に対応するゲージデータから特定される各障害釘２００の頭部２００ｂの設定位置に対するＸＹ軸方向への位置ずれ方向及び位置ずれ量などにもとづいて判定する部分）と、第２整備を行った障害釘２００について予め定められた指定位置からのずれが許容範囲内にあるか否かを判定する第２判定手段（例えば、管理コンピュータ５００のＣＰＵ５０２が、第２整備が行われた指定釘２０４の頭部２００ｂが指定位置の許容範囲内に配置されているか否かを判定する部分）と、を備え、第１判定手段による判定方法と第２判定手段による判定方法とは異なることで、整備内容に応じた方法で効率よく判定することができる。
また、第２判定手段は、力覚センサを用いた測定結果にもとづいて、指定位置からのずれが許容範囲内にあるか否かを判定するので、整備された障害釘２００の状態を詳細に把握することができる。
また、力覚センサは、第１接触辺６０２Ｌと、該第１接触辺６０２Ｌに対し交差するように配置される第２接触辺６０２Ｒと、を有し、第１接触辺６０２Ｌと第２接触辺６０２Ｒとの基点ＲＰを指定位置に向けて移動する途中で第１接触辺６０２Ｌまたは第２接触辺６０２Ｒに接触したときにかかる負荷により、前記予め定められた指定位置からのずれが許容範囲内にあるか否かを判定するので、整備された障害釘２００の状態を詳細に把握することができる。
また、管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、第１検査では、第２釘検査装置１７Ｂのカメラ４４により撮影した撮影画像にもとづいて、各障害釘２００の頭部２００ｂが設定位置の許容範囲内に配置されているか否かを判定し、カメラ４４は所定のフレーム４３に複数固定されているので、障害釘の状態を詳細に把握することができる。
また、外気の状態を測定可能な測定手段（例えば、湿度計や温度計）を有し、測定手段の測定結果にもとづいて第１整備と第２整備を行うことで、第１整備や第２整備の精度を高めることができる。
また、管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、第２検査では、検査用工具６００に設けられた測定部６０２（力覚センサ）により各障害釘２００の頭部２００ｂが指定位置の許容範囲内に配置されているか否かを判定し、各検査点Ｐ１，Ｐ２における胴部２００ａの指定位置に対するＸＹ軸方向のずれ量から障害釘２００の曲がり具合を特定することで、障害釘２００の頭部２００ｂの遊技盤面２ａからの長さ寸法を特定することができるため、障害釘２００の状態を詳細に把握することができる。
また、障害釘２００の胴部２００ａを挟むように配置可能な挟持部４０３と、挟持部４０３を動作させる動作手段（例えば、管理コンピュータ５００のＣＰＵ５０２、障害釘整備装置３００の整備用アーム３０１、整備用アーム３０１の駆動源など）と、を備え、動作手段により挟持部４０３を動作させることで該挟持部４０３により胴部２００ａが挟まれた障害釘を整備するものであって、動作手段は、挟持部４０３を遊技盤面２ａに沿う方向であるＸＹ軸方向と該遊技盤面２ａに対し直交する方向であるＺ軸方向とに移動させることが可能であり、挟持部４０３を移動させて胴部２００ａにおける第１位置に配置する第１ステップと、挟持部４０３を第１位置においてＸＹ軸方向の一方向に傾ける第２ステップと、挟持部４０３を第１位置からＺ軸方向へ移動させて該第１位置よりも遊技盤面２ａから離れた第２位置に配置するとともにＸＹ軸方向の他方向に傾ける第３ステップと、を実行可能である。このようにすることで、挟持部４０３をＸＹ軸方向の一方向に傾けるだけでなく他方向に戻す動作を行うことで、胴部２００ａに対しバランスよく力を与えることができる。また、第１位置に配置した挟持部４０３をＸＹ軸方向の一方向に傾けた後、他方向に戻すだけでなく第２位置へ移動させることで、胴部２００ａの一部のみに曲げ力が集中して作用することを回避できるので、胴部２００ａを途中で曲げることなく安定して整備することができる。
以上、本発明の実施例を図面により説明してきたが、具体的な構成はこれら実施例に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲における変更や追加があっても本発明に含まれる。特に、障害釘整備装置３００や管理コンピュータ５００を含む障害釘整備システム、これによる障害釘２００の整備方法、出荷前釘測定装置２１や管理コンピュータ５００などを用いた遊技機用測定装置、これによる遊技機用測定方法、さらに遊技機製造方法は、前記実施例として示した全ての技術的特徴を備えるものでなくてもよく、従来技術における少なくとも１つの課題を解決できるように、前記実施例で説明した一部の構成などを備えたものであってもよい。
例えば、前記実施例では、新規に製造される遊技盤２について例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、工場から一度出荷されて使用済みの遊技盤２や、工場から一度出荷されて未使用の遊技盤２であってもよい。尚、これら使用済みの遊技盤２の整備を行う場合にあっては、出荷時の遊技盤２の障害釘２００のデータ（例えば、釘間測定書のデータ）と、現状の障害釘２００のデータとを比較して、これら比較したデータを、遊技場への取り扱いに関するアドバイス、遊技盤２の改良や開発、障害釘２００の配置変更、劣化（変形）を見越した状態に整備内容を変更する等に活用するようにしてもよい。
また、使用済みの遊技盤２の遊技盤面２ａに設けられた障害釘２００などについて、図６に示された工程Ｓ１２の出荷前釘測定と同様に釘測定装置により傾きに応じた角度や方向等を測定してもよい。このような場合にあっても、出荷時の遊技盤２の障害釘２００のデータ（例えば、出荷前測定データ）と、現状の障害釘２００のデータとを比較して、これら比較したデータを、遊技場への取り扱いに関するアドバイス、遊技盤２の改良や開発、障害釘２００の配置変更、劣化（変形）を見越した状態に調整内容を変更する等に活用するようにしてもよい。中古品として回収された使用済みの遊技盤２に対する測定を行う場合には、設計データを用いた演算による比較データの作成が困難になる場合がある。そこで、障害釘２００などが適切に整備された遊技盤面２ａ（マスター台）を撮影して生成された画像データを用いて、各障害釘２００の頭部２００ｂ等について適正な位置を示す比較データが作成されてもよい。
また、前記実施例では、障害釘整備装置３００において、風車６１やセンター飾り枠５１等の装飾物が装着されていない遊技盤２の障害釘２００を整備する形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、釘打ち機１６と第１釘検査装置１７Ａとの間に、風車等搭載装置Ｆや枠等搭載装置Ｗを配置し、これら風車等搭載装置Ｆや枠等搭載装置Ｗによって風車６１やセンター飾り枠５１等の装飾物が装着された遊技盤２について障害釘整備装置３００において整備を行うようにしてもよい。この場合には、図７及び図８に示した場合と同様に、遊技盤２を水平にテーブル３０２に載置して整備すればよい。
また、これら風車等搭載装置Ｆや枠等搭載装置Ｗを配置する位置に、搬送装置１３に投入するための投入口を設けて、上記した使用済みの遊技盤２や工場から一度出荷されて未使用の遊技盤２等を搬送装置１３に投入して、第１釘検査装置１７Ａによる検査や障害釘整備装置３００による整備を行うようにしてもよく、このように使用済みの遊技盤２等を整備する場合にあっては、風車６１やセンター飾り枠５１等の装飾物が装着された遊技盤２の場合とは異なり、遊技盤２を水平にテーブル３０２に載置して整備することに代えて、遊技盤２を垂直に立てた状態でテーブル３０２に載置し、固定して整備するようにしてもよい。また、使用済みの遊技盤２等の装飾物が装着されている遊技盤２の場合には立てた状態で整備するのに対し、装飾物が装着されていない遊技盤２の場合には図７及び図８に示すような水平の状態で整備するように、遊技盤２の種類や状態に応じて遊技盤２を整備する態様（載置方法）を異なる態様とするようにしてもよい。尚、遊技盤２を垂直に立てた状態で整備する場合には、遊技盤２を遊技機用枠（台枠）３に取付けた状態で整備することもできる。
また、風車等搭載装置Ｆや枠等搭載装置Ｗによって風車６１やセンター飾り枠５１等の装飾物が装着された遊技盤２について、出荷前釘測定装置２１により、釘以外の装飾物等といった構造物の取付位置を測定するようにしてもよい。この場合には、釘以外の構造物が適正範囲内に取り付けられているか否かを判定し、判定結果に応じて、異なる設定のための処理が行われてもよい。例えば、構造物の取付位置が適正範囲内か否かを判定し、適正範囲内であると判定された場合には、出荷用設定を行い、一方、適正範囲内でないと判定された場合には、構造物の整備を行うための設定などを行う。尚、構造物の取付位置が適正範囲内でないと判定された場合には、遊技盤２を製造ライン外に排出するための設定が行われることがあってもよい。構造物の取付位置が予め定めた整備許容範囲外であると判定された場合には、遊技盤２の整備による構造物の調整が不可能であると判断して、該遊技盤２が製造ライン外に排出されてもよい。
また、前記実施例では、第１整備や第２整備の実行指示や実行内容、第１検査や第２検査により頭部２００ｂの設定位置や指定位置からのずれ方向やずれ量の判定を管理コンピュータ５００のＣＰＵ５０２が実行するようにしていたが、本発明はこれに限定されるものではなく、各障害釘整備装置３００にて第１整備や第２整備の実行指示や実行内容、第１検査や第２検査により頭部２００ｂの設定位置や指定位置からのずれ方向やずれ量の判定を実行するようにしてもよい。
また、前記実施例では、製造ライン１２では、釘打ちから最終検査までの工程（工程Ｓ３〜工程Ｓ９）において、各遊技盤２は各工程で空いている装置が任意に搬送装置１３から取り出していく形態を例示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、管理コンピュータ５００が、整備する障害釘整備装置３００に遊技盤２を振り分けるようにしてもよいし、各遊技盤２の整備履歴情報にもとづいて整備不備が多く発生している装置の装置番号を特定できるようにした場合、該整備不備が多く発生している装置を特定したときに、該装置には新たな整備データを送信しない、或いは、新たな遊技盤２を搬送しない、つまり、該装置を使用しないようにしてもよい。このようにすることで、整備不備の頻発を防ぐことができる。
また、前記実施例では、製造ライン１２では、釘打ちから最終検査までの工程（工程Ｓ３〜工程Ｓ９）において、各遊技盤２は各工程で空いている装置に振り分けられていく仕様とされ、複数のうちいずれの装置で釘整備や釘打ちが行われるかが予め決定されていない形態を例示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、釘打ちから最終検査までの工程（工程Ｓ３〜工程Ｓ９）において、各遊技盤２がいずれの装置により整備されるかを予め決定していてもよい。
また、前記実施例では、遊技機の一例としてパチンコ遊技機１を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、予め定められた球数の遊技球が遊技機内部に循環可能に内封され、遊技者による貸出要求に応じて貸し出された貸出球や、入賞に応じて付与された賞球数が加算される一方、遊技に使用された遊技球数が減算されて記憶される、所謂、封入式遊技機にも本発明を適用可能である。
また、前記実施例では、遊技媒体の一例として、球状の遊技球（パチンコ球）が適用されていたが、球状の遊技媒体に限定されるものではなく、例えば、メダル等の非球状の遊技媒体であってもよい。
また、前記実施例では、整備に関する情報である釘間測定書を印刷にて出力する形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これらの出力形態としては、釘間測定書を表示にて出力するものであってもよいし、釘間測定書のデータや釘間測定書に含まれるデータを、記録媒体に記録して出力する形態や、データとして外部に出力（送信）する出力形態としてもよい。
また、前記実施例では、図２７に示す釘間測定書に、第２整備を行った指定釘２０４〜２０８等の番号が付された障害釘２００のデータ全てを、直接読み取り可能に表記するようにしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、第１整備に関する情報については直接読み取り可能に表記するが、第２整備に関する情報については、直接読み取り不能に表記（例えば、符号化したデータにて表記）する等のように、第１整備と第２整備のいずれか一方に関する情報を直接読み取り可能に表記し、他方に関する情報を直接読み取り不能に表記するようにしてもよい。
また、釘間測定書には、第１整備と第２整備のいずれか一方に関する情報のみを表記するようにしてもよい。
また、前記実施例においては、第２整備を行った指定釘２０４〜２０８等の番号が付された障害釘２００のそれぞれについて、角度や方向等の、他の障害釘２００よりも詳細な情報を表記することで、重要性が高い障害釘２００の詳細な情報を釘間測定書において確認できるようにしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら指定釘２０４〜２０８等の番号が付された障害釘２００についての情報を、他の障害釘２００と同じ情報のみとしてもよいし、逆に、これら指定釘２０４〜２０８等についての詳細な情報を、指定釘２０４〜２０８以外の障害釘２００の情報として表記するようにしてもよい。
また、前記実施例においては、釘間測定書に記載していないが、例えば、第１整備や第２整備において、再整備の有無や再整備を行った回数等のデータを記載するようにしてもよいし、これら第１整備や第２整備や再整備に使用された整備用工具４００の種別等の情報を記載するようにしてもよい。
また、前記実施例においては、第１整備と第２整備とで、再整備を３回実行した場合に、製造ライン１２から排出するようにして、再整備を行わない形態を例示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら再整備の上限回数は、３以外の回数であってもよいとともに、第１整備の上限回数と第２整備の上限回数とを異なる回数としてもよい。
また、前記実施例においては、補正データ（補正値）を、５０に分割した各領域において標準整備を実施し、該標準整備後の障害釘２００の間隔を測定して、設定値との誤差を特定し、該誤差により補正データ（補正値）を作成する形態を例示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、その他の方法によって補正データ（補正値）を作成するようにしてもよい。
また、前記実施例では、遊技盤の種別（ベニアか樹脂か）や、整備用工具、板温度、湿度毎に補正データを作成し、第２整備を行う際の整備条件に合致する補正データを読み出して、該補正データのうち、整備する障害釘２００の位置に該当する補正値を使用して第２整備データを補正する形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、これら整備条件の項目（要素）等については、これらの項目（要素）が多いと、補正データの容量が膨大となって、補正に要する時間が長くなることから、これらの項目（要素）については、十分な整備精度が得られる範囲で、できるだけ少ない数とするようにすればよい。
また、前記実施例では、整備用工具４００を検査用工具６００に交換し、該交換した検査用工具６００を用いて障害釘２００の位置等の検出（検査）を行う形態を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、検査用工具６００に交換することなく、整備用工具４００を用いて障害釘２００の位置等の検出（検査）を行うようにしてもよい。
また、前記実施例では、図２３に示すように、予め定められた標準整備を整備可能範囲の各領域において予め実施し、該標準整備後の整備結果である障害釘２００の実際の間隔と設定間隔との差に基づいて、障害釘２００の整備方式として複数装置分担方式を設定した場合における、各障害釘整備装置３００が整備を行う分担領域を決定する形態を例示したが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、各障害釘整備装置３００が行った整備によって管理コンピュータ５００が蓄積している整備データを解析する等によって、各障害釘整備装置３００が整備を行う分担領域を決定するようにしてもよい。
また、前記実施例では、第１釘検査装置１７Ａあるいは障害釘整備装置３００や第２釘検査装置１７Ｂにて、図６に示された工程Ｓ６の第１検査や工程Ｓ８の第２検査、あるいは工程Ｓ９の釘最終検査が行われるようにしていたが、本発明はこれに限定されず、これらの工程のうち少なくとも一部の工程では、出荷前釘測定装置２１を用いた工程Ｓ１２の出荷前釘測定と同様に、各障害釘２００の傾きに応じた角度や方向等を測定するようにしてもよい。
また、前記実施例では、図３１に実線矢印で示されたスキャン方向が、テーブル２２０の上面において、障害釘２００が上方を向くように遊技盤面２ａを上向きにした状態で、テーブル２２０に遊技盤２を保持して固定した場合に、遊技盤２の通常設置時（ホール設置時）における上側（図３１の左側）から下側（図３１の右側）へと向かう方向に設定されている。これに対し、遊技盤２の固定姿勢やスキャナー部２１０のスキャン方向は、出荷前釘測定装置２１による測定工程が行われる場所に応じて、任意に設定されたものであればよい。例えば、スキャナー部２１０の上方において、障害釘２００が下方を向くように遊技盤面２ａを下向きにした状態で、遊技盤２を保持して固定できるようにしてもよい。あるいは、障害釘２００が横向きとなるように遊技盤面２ａが垂直になる状態で、遊技盤２を保持して固定できるようにしてもよい。遊技盤面２ａを上向きにした状態で固定した場合や、遊技盤面２ａを下向きにした状態で固定した場合には、スキャナー部２１０を横方向（水平方向）に移動させる搬送制御を行い、遊技盤２の通常設置時における上側から下側へと向かう方向に、あるいは遊技盤２の通常設置時における下側から上側へと向かう方向に、遊技盤面２ａの撮影が行われるようにすればよい。遊技盤面２ａが垂直になる状態で固定した場合には、スキャナー部２１０を縦方向（垂直方向）に移動させる搬送制御を行い、遊技盤２の通常設置時における上側から下側へと向かう方向に、あるいは遊技盤２の通常設置時における下側から上側へと向かう方向に、遊技盤面２ａの撮影が行われるようにすればよい。
また、前記実施例では、図３２（Ａ）に示された昇降クランプ２５０の設置位置にて上方から遊技盤２を押さえることによりテーブル２２０との間に挟持することにより、あるいは図３２（Ｂ）に示された上止めクランプ２６０の設置位置にてテーブル２２０に載置された遊技盤２を下方から上止めクランプ２６０の保持面に押し当てることにより、遊技盤２の保持制御が行われるようにしていたが、本発明はこれに限定されず、昇降クランプ２５０や上止めクランプ２６０の設置位置は、遊技盤２の固定姿勢に応じて、任意に定められたものであればよい。すなわち、スキャナー部２１０のスキャン方向に対し、障害釘２００の胴部２００ｂにおける中心軸が略直交または直交して遊技盤面２ａが平行になる状態で、遊技盤２を押さえることにより、遊技盤２を保持して固定できればよい。
図４４は、遊技盤面２ａが垂直になる状態で、遊技盤２を保持して固定した場合に、スキャン方向を垂直方向とした変形例を示している。この変形例において、搬送装置１３Ｈは、遊技盤２を遊技盤面２ａが垂直になる状態で、矢印Ｂ１１で示される方向に搬送する。出荷前釘測定装置２１は、搬送装置１３Ｈにより遊技盤２が通過する搬送経路の所定位置に設置され、この位置に遊技盤２が搬送されると、搬送装置１３Ｈを停止させ、昇降クランプ２５０または上止めクランプ２６０の設置位置を変更した構成において、遊技盤２を押さえることにより、遊技盤２を保持して固定できればよい。図４４に示す出荷前釘測定装置２１では、スキャナー部２１０を矢印Ａ１１で示されるスキャン方向に移動させる搬送制御が行われるようにすればよい。このように、スキャナー部２１０を垂直方向に移動させる搬送制御を行い、遊技盤２の通常設置時における上側から下側へと向かう方向に、遊技盤面２ａの撮影が行われるようにすればよい。尚、遊技盤２の通常設置時における下側から上側へと向かう方向に、遊技盤面２ａの撮影が行われるようにしてもよい。搬送装置１３Ｈの所定位置には、判定用ランプ２１Ａが設けられてもよい。判定用ランプ２１Ａは、出荷前釘測定装置２１により障害釘２００の傾きを測定した結果にもとづいて、図３４に示された出荷前釘測定処理のステップＳ１１０による判定結果を、認識可能に報知するものであればよい。
スキャナー部２１０のスキャン方向を、遊技盤２の通常設置時における下側から上側へと向かう方向とした場合には、遊技盤２の通常設置時における上側から下側へと向かう方向とは逆方向に、スキャナー部２１０を移動させる搬送制御が行われる。この場合には、生成された画像データに示される撮影画像を上下反転させることにより、遊技盤２の通常設置時における上側から下側へと向かう方向をスキャン方向とした場合と同様の撮影画像が得られるようにすればよい。図３４に示された出荷前釘測定処理のステップＳ１０１にて取得した原画像や、それを上下反転した撮影画像は、ステップＳ１０９にて障害釘２００の傾きを測定した結果とともに、管理コンピュータ５００の記憶装置５０５、あるいは記憶装置５０５とは異なるデータベースに、遊技盤２のシリアル番号や出荷前釘測定の日付等の情報（データ）と関連付けて格納することで保存されてもよい。原画像などの撮影画像を保存しておくことにより、出荷前における遊技盤面２ａの状態を画像データとして保存可能となり、出荷前における障害釘２００などの検査状況を確実な証拠として残存させ、出荷後に疑義が生じた場合でも、容易に利用して確認することができる。原画像などの撮影画像を保存する場合には、画像データが生成されたときに、画像データとは別個に作成された遊技盤固有情報を、該画像データに付加してもよい。
図４５は、原画像を示す画像データに遊技盤固有情報を付加する変形例を示している。図４５（Ａ）に示す原画像ＧＧ１を示す画像データが生成された場合に、原画像ＧＧ１に対応する遊技盤２のシリアル番号や出荷前釘測定の日付等の情報（データ）を、図４５（Ｂ）に示す遊技盤固有情報ＢＤ１として取得する。遊技盤固有情報ＢＤ１は、二次元コードやテキストデータを画像データとして生成あるいは変換したものであればよい。原画像ＧＧ１を示す画像データに、遊技盤固有情報ＢＤ１を付加することにより、図４５（Ｃ）に示すような保存用画像ＧＧ２を示す画像データが作成される。保存用画像ＧＧ２では、原画像ＧＧ１の右下における余白部分（遊技盤面２ａの範囲外）に、遊技盤固有情報ＢＤ１が付加されている。このように、原画像ＧＧ１を示す画像データそのものに、原画像ＧＧ１とは異なる画像データとして作成された遊技盤固有情報ＢＤ１を付加することにより、保存用画像ＧＧ２を示す画像データを生成し、管理コンピュータ５００の記憶装置５０５、あるいは記憶装置５０５とは異なるデータベースに、格納することで保存されてもよい。これにより、大量の画像データが生成された場合でも、容易に管理可能として、遊技盤２に対応する画像データを取得しやすくなる。
尚、遊技盤固有情報ＢＤ１を付加することに代えて、あるいは遊技盤固有情報ＢＤ１を付加することに加えて、原画像ＧＧ１の余白部分における画像データを用いて、遊技盤固有情報ＢＤ１と同様の情報を埋め込むようにしてもよい。例えば、遊技盤面２ａのサイズが一辺を５５０ｍｍとする正方形であり、１画素が３１μｍの距離に相当する場合、遊技盤面２ａの全体を撮影した画像データにおける横１列に対応するピクセルサイズは、５５００００μｍ／３１μｍ＝１７７４１ドットとなる。１画素を構成する赤、緑、青の画像データのうちで赤色の色データを用いて、画像データにおける余白部分の横１列に遊技盤固有情報ＢＤ１と同様の情報を埋め込む場合には、アスキーコードで１７７４１文字を埋め込むことができる。
図４６は、図４５（Ｂ）に示された遊技盤固有情報ＢＤ１と同様の情報を画像データに埋め込む変形例におけるデータ設定を示している。この場合、画像データでは、左上部分のＸＹ座標を（Ｘ，Ｙ）＝（０，０）とし、原画像ＧＧ１の右下における余白部分となるＸＹ座標が（Ｘ，Ｙ）＝（１４５４９，１７３２２）から（Ｘ，Ｙ）＝（１４６０８，１７３２２）までの箇所に、遊技盤固有情報ＢＤ１と同様の情報を埋め込むものとしている。このように、余白部分の色データを用いて情報を埋め込むことにより、遊技盤面２ａの撮影部分に影響を与えることなく、通常は読取困難な態様で各種情報を付加することができる。また、図４５（Ｂ）や図４５（Ｃ）に示された遊技盤固有情報ＢＤ１のような画像データに示される文字などが改ざんされた場合でも、余白部分の色データから取得した情報と照合することにより、改ざんを容易に検知することができる。尚、埋め込む情報に暗号化を施してもよく、埋め込む位置を任意に変更してもよい。これにより、埋め込まれた情報は、さらに読取困難となり、偽装や改ざんを確実に防止することができる。
また、上記実施例では、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４を複数の直管状光源であるものとしていたが、本発明はこれに限定されず、例えば、平面光源、ライン型光源であってもよい。図４７は、スキャナー部２１０が、２つの平面光源となる発光部材ＬＴ１、ＬＴ２を有する変形例を示している。図４７に示す２つの発光部材ＬＴ１、ＬＴ２は、被写体となる障害釘２００などが設けられた遊技盤面２ａに走査光（照射光）となる光を照射する。２つの発光部材ＬＴ１、ＬＴ２のうちで、第１の発光部材ＬＴ１が反射光の光路を挟んだ一方側（図４７における紙面上の左側）に配置され、第２の発光部材ＬＴ２が反射光の光路を挟んだ他方側（図４７における紙面上の右側）に配置されている。このような配置により、２つの発光部材ＬＴ１、ＬＴ２は、複数の方向から障害釘２００の頭部２００ｂに対して走査光（照射光）となる光を照射することができればよい。
２ 遊技盤
２ａ 遊技盤面
２１ 出荷前釘測定装置
２００ 障害釘
２００ａ 胴部
２００ｂ 頭部
２１０ スキャナー部
３００ 障害釘整備装置
３０１ 整備用アーム
４００ 整備用工具
５００ 管理コンピュータ
５０２ ＣＰＵ
５０５ 記憶装置
６００ 検査用工具
ＬＳ１〜ＬＳ４、ＬＴ１、ＬＴ２ 発光部材

Claims (4)

  1. 遊技盤面に設けられ頭部が曲面形成された釘の傾きを測定可能な遊技機用測定装置であって、
    複数の方向から釘の頭部に対して光を照射可能に配置された光源と、
    各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報を用いて釘の傾きを測定する測定部と
    を備えることを特徴とする遊技機用測定装置。
  2. 前記測定部は、
    反射光の組合せを含む読取情報としての特徴画像にもとづいて釘の中心位置を取得し、
    該中心位置と、基準データに示される基準位置との比較により、釘の傾きを測定可能である
    ことを特徴とする請求項１に記載の遊技機用測定装置。
  3. 遊技盤面に設けられ頭部が曲面形成された釘の傾きを測定するための遊技機用測定方法であって、
    複数の方向から釘の頭部に対して光を照射可能に配置された光源からの光の反射光を読み取り、
    各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報を用いて釘の傾きを測定する
    ことを特徴とする遊技機用測定方法。
  4. 遊技盤面に設けられ頭部が曲面形成された釘の傾きを測定する測定工程を有する遊技機製造方法であって、
    前記測定工程では、
    複数の方向から釘の頭部に対して光を照射可能に配置された光源からの光の反射光を読み取り、
    各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報を用いて釘の傾きを測定する
    ことを特徴とする遊技機製造方法。
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