JP2019141529A

JP2019141529A - 遊技機用検査装置、遊技機用検査方法及び遊技機製造方法

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Publication number: JP2019141529A
Application number: JP2018031274A
Authority: JP
Inventors: 小倉　敏男; Toshio Ogura; 敏男小倉; 博庄子; Hiroshi Shoji; 峻介原田; Shunsuke Harada
Original assignee: Sankyo Co Ltd
Current assignee: Sankyo Co Ltd
Priority date: 2018-02-23
Filing date: 2018-02-23
Publication date: 2019-08-29
Anticipated expiration: 2038-02-23
Also published as: JP7073138B2

Abstract

【課題】釘の状態の検査の精度が良い遊技機用検査装置、遊技機用検査方法及び遊技機製造方法を提供する。【解決手段】ステップＳ１０５で補正した頭部２００ｂの位置と、マスターデータに含まれる頭部２００ｂの設定位置とのずれ量を、釘番号ごとに、Ｘ座標、Ｙ座標別々に計算する（ステップＳ１０６）。その後、ずれ量を、遊技盤２のエリアごとに平均化し、当該エリアごとの平均値により、前記で補正した頭部２００ｂの各位置のＸＹ座標を補正（面積平均化）する（ステップＳ１０７）。前記のエリアとして、エリアＡからＤが設定されている。【選択図】図１９

Description

本発明は、遊技機用検査装置、遊技機用検査方法及び遊技機製造方法に関する。

パチンコ遊技機等の遊技機では、遊技盤面における遊技領域に多数の障害釘が打設されている。このような障害釘として、例えば真鍮製の釘等が使用され、遊技盤の製造時において釘打ち機等により遊技盤面に打設される。

遊技盤面に設けられた釘の状態を検査するために、ライン状に照明光を照射して撮像し、各釘の撮像頭部位置データに含まれる変位成分や距離成分を用いて、釘の状態の良否を判別することが提案されている（例えば特許文献１）。

特開２００９−１１６０６号公報

特許文献１に記載の技術では、画像処理により釘の状態を検査するが、遊技盤面の歪み等が考慮されておらず、釘の状態の検査の精度が良くない場合がある。

この発明は、釘の状態の検査の精度が良い遊技機用検査装置、遊技機用検査方法及び遊技機製造方法を提供することを目的とする。

（１）本発明に係る遊技機用検査装置は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する遊技機用検査装置（例えば、管理コンピュータ５００及び出荷前釘検査用装置２１）であって、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得手段（例えば、ステップＳ１０２を実行する管理コンピュータ５００）と、
前記取得手段により取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置（例えば、障害釘２００の頭部２００ｂの位置）を検出する検出手段（例えば、ステップＳ１０３を実行する管理コンピュータ５００）と、
前記検出手段が検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置（例えば、頭部２００ｂの設定位置）との比較により釘の状態を検査する検査手段（例えば、ステップＳ１０９を実行する管理コンピュータ５００）と、を備え、
前記検査手段は、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域（例えば、エリアＡ〜Ｄ）のうちの特定の領域内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り（例えば、ずれ量）を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する（例えば、ステップＳ１０６〜Ｓ１０７）。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（２）本発明に係る遊技機用検査方法は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する遊技機用検査方法であって、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ（例えば、ステップＳ１０２）と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置（例えば、障害釘２００の頭部２００ｂの位置）を検出する検出ステップ（例えば、ステップＳ１０３）と、
前記検出ステップが検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置（例えば、頭部２００ｂの設定位置）との比較により釘の状態を検査する検査ステップ（例えば、ステップＳ１０９）と、を備え、
前記検査ステップでは、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域（例えば、エリアＡ〜Ｄ）内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り（例えば、ずれ量）を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する（例えば、ステップＳ１０６〜Ｓ１０７）。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（３）本発明に係る遊技機製造方法は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する工程を有する遊技機製造方法であって、
前記工程は、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ（例えば、ステップＳ１０２）と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置（例えば、障害釘２００の頭部２００ｂの位置）を検出する検出ステップ（例えば、ステップＳ１０３）と、
前記検出ステップが検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置（例えば、頭部２００ｂの設定位置）との比較により釘の状態を検査する検査ステップ（例えば、ステップＳ１０９）と、を備え、
前記検査ステップでは、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域（例えば、エリアＡ〜Ｄ）内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り（例えば、ずれ量）を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する（例えば、ステップＳ１０６〜Ｓ１０７）。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（４）前記読取情報は、前記遊技盤面に対して所定距離離れた撮像部（例えば、撮像部２１３）により撮像された画像である、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、好適に読取情報を得ることができ、さらに、前記補正が効果的となる。

（５）前記検査手段は（又は検査ステップでは）、前記位置関係の補正を複数回実行する（例えば、変形例）、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（６）前記検査手段は（又は検査ステップでは）、前記遊技盤面のすべての釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏りを特定し、前記すべての釘の偏りの平均値に基づいて前記すべての釘それぞれの位置を補正する（例えば、ステップＳ１０５〜Ｓ１０６）、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（７）複数の方向から釘の頭部に対して光を照射可能に配置された光源（例えば、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４）をさらに備え、
前記検査手段（又は検査ステップ）は、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報（例えば、図１８（Ｃ）、（Ｅ）参照）を用いて釘の状態を検査する、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（８）前記検査手段（又は検査ステップ）は、前記遊技盤面のうち、釘位置情報（例えば、設計データ）に基づいて予め設定された対象範囲内にてパターンマッチングを実行することで釘を検出し（例えば、ステップＳ１０３）、
前記パターンマッチングで使用されるテンプレート画像を、予め用意されたマスター（例えば、マスター盤のパチンコ遊技機１）の遊技盤面を読み取った読取情報から取得する取得手段（又は取得ステップ）（例えば、マスターデータ登録処理）をさらに備える、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

パチンコ遊技機の正面図である。遊技盤の正面図である。障害釘の傾斜等を説明するための遊技盤の一部断面図（障害釘は断面でない）である。障害釘の傾斜方向を説明するための図である。管理コンピュータのブロック図である。遊技機の製造工程の大まかな流れを示すフローチャートである。出荷前釘検査用装置の構成例を示す右側面図である。後面基準と前面基準の場合におけるクランプの設置例を示す正面図である。スキャナー部の構成例を示す右側面図である。マッチング領域設定処理の一例を示すフローチャートである。マッチング領域データベースの構成例を示す図である。マッチング領域の例を示す図である。マスターデータ登録処理の一例を示すフローチャートである。マスターデータ登録処理における画像処理の様子を示す図である。マスターデータ登録処理にて表示される表示画面の一例の図である。マスターデータ登録処理にて切り出されたテンプレート画像の図である。マスターデータの構成例を示す図である。光源と撮影機材に応じた撮影画像とエッジ検出結果の比較例、蛍光灯２本の場合における特徴画像エリアを示す図である。出荷前釘測定処理の一例を示すフローチャートである。遊技盤に設定されたエリアを示す図である。エリア設定データの構成例を示す図である。遊技盤面の歪み等により障害釘の位置が変わったときの障害釘の頭部の撮像画像への写り方を説明するための図である。（Ａ）は、面積平均化を行わないときの、障害釘の頭部の設定位置に対するズレ量の分布を示すグラフである。（Ｂ）は、面積平均化を行ったときの、障害釘の頭部の設定位置に対するズレ量の分布を示すグラフである。比較結果の構成例を示す図である。遊技盤に設定されるエリアの他の例を示す図である。スキャン方向の変形例を示す図である。遊技盤固有情報を付加する変形例を示す図である。

本発明を実施するための形態を実施例にもとづいて以下に説明する。

（パチンコ遊技機１の構成）
はじめに、遊技機の一例であるパチンコ遊技機１の全体の構成について説明する。図１は、パチンコ遊技機１を正面から見た正面図である。図２は、遊技盤を正面から見た正面図である。尚、以下において、図１の手前側をパチンコ遊技機１の前方（前面、正面）側、奥側を後方（背面）側とし、パチンコ遊技機１を前面側から見たときの上下左右方向を基準として説明する。尚、本実施例におけるパチンコ遊技機１の前面とは、該パチンコ遊技機１にて遊技を行う遊技者と対向する対向面である。

図１は、本実施例におけるパチンコ遊技機の正面図であり、主要部材の配置レイアウトを示す。パチンコ遊技機（以下、遊技機と略記する場合がある）１は、大別して、遊技盤面を構成する遊技盤２（ゲージ盤ともいう）と、遊技盤２を支持固定する遊技機用枠（台枠）３とから構成されている。遊技盤２には、ガイドレール２ｂによって囲まれた正面視略円形状の遊技領域１０が形成されている。この遊技領域１０には、遊技媒体としての遊技球が打球発射装置（図示略）から発射されて打ち込まれる。また、遊技機用枠３には、ガラス窓５０ａを有するガラス扉枠５０が左側辺を中心として回動可能に設けられ、該ガラス扉枠５０により遊技領域１０を開閉できるようになっており、ガラス扉枠５０を閉鎖したときにガラス窓５０ａを通して遊技領域１０を透視できるようになっている。

図１及び図２に示すように、遊技盤２は、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、メタクリル樹脂等の透明な合成樹脂板にて正面視略四角形状に形成され、前面である遊技盤面２ａに障害釘２００等が植設される盤面板２Ａと、該盤面板２Ａの背面側に一体的に取付けられるスペーサ部材２Ｂと、から構成されている。尚、本実施例では、遊技盤２は合成樹脂板から成る盤面板２Ａにて構成されていたが、ベニヤ板等の非透光性部材にて構成され、前面である遊技盤面２ａに複数の障害釘２００やガイドレール２ｂ等が設けられた盤面板にて構成されていてもよい。

図１に示すように、遊技盤２の所定位置（図１に示す例では、遊技領域１０の右側下部位置）には、第１特別図柄表示器４Ａと、第２特別図柄表示器４Ｂとが設けられている。第１特別図柄表示器４Ａと第２特別図柄表示器４Ｂはそれぞれ、変動表示ゲームの一例となる特図ゲームにおいて、各々を識別可能な複数種類の識別情報（特別識別情報）である特別図柄（「特図」ともいう）が、変動可能に表示（変動表示または可変表示ともいう）される。以下では、第１特別図柄表示器４Ａにおいて変動表示される特別図柄を「第１特図」ともいい、第２特別図柄表示器４Ｂにおいて変動表示される特別図柄を「第２特図」ともいう。

遊技盤２における遊技領域１０の中央付近には、演出表示装置５が設けられている。演出表示装置５は、例えばＬＣＤ（液晶表示装置）等から構成され、各種の演出画像を表示する表示領域を形成している。演出表示装置５の表示領域では、特図ゲームにおける第１特別図柄表示器４Ａによる第１特図の変動表示や第２特別図柄表示器４Ｂによる第２特図の変動表示のそれぞれに対応して、例えば３つといった複数の変動表示部となる演出図柄表示エリア５Ｌ，５Ｃ，５Ｒにて、各々を識別可能な複数種類の識別情報（装飾識別情報）である演出図柄が変動表示される。この演出図柄の変動表示も、変動表示ゲームに含まれる。

このように、演出表示装置５の表示領域では、第１特別図柄表示器４Ａにおける第１特図を用いた特図ゲーム、または、第２特別図柄表示器４Ｂにおける第２特図を用いた特図ゲームと同期して、各々が識別可能な複数種類の演出図柄の変動表示を行い、変動表示結果となる確定演出図柄（最終停止図柄）を導出表示する。

演出表示装置５は、遊技盤２よりも背面側に配設され、該遊技盤２に形成された開口２Ｃを通して視認できるようになっている。尚、遊技盤２における開口２Ｃには枠状のセンター飾り枠５１が設けられている。

演出表示装置５の表示領域の下部の左右２箇所には、第１保留記憶表示エリア５Ｄ、第２保留記憶表示エリア５Ｕが設定されている。第１保留記憶表示エリア５Ｄ、第２保留記憶表示エリア５Ｕでは、特図ゲームに対応した変動表示の保留記憶数（特図保留記憶数）を特定可能に表示する保留記憶表示が行われる。

ここで、特図ゲームに対応した変動表示の保留は、普通入賞球装置６Ａが形成する第１始動入賞口や、普通可変入賞球装置６Ｂが形成する第２始動入賞口を、遊技球が通過（進入）することによる始動入賞にもとづいて発生する。すなわち、特図ゲームや演出図柄の変動表示といった変動表示ゲームを実行するための始動条件（「実行条件」ともいう）は成立したが、先に成立した開始条件にもとづく変動表示ゲームが実行中であることやパチンコ遊技機１が大当り遊技状態に制御されていることなどにより、変動表示ゲームの開始を許容する開始条件が成立していないときに、成立した始動条件に対応する変動表示の保留が行われる。

第１特別図柄表示器４Ａ及び第２特別図柄表示器４Ｂの右方位置には、特図保留記憶数を特定可能に表示するための第１保留表示器２５Ａと第２保留表示器２５Ｂとが設けられている。第１保留表示器２５Ａは、第１特図保留記憶数を特定可能に表示し、第２保留表示器２５Ｂは、第２特図保留記憶数を特定可能に表示する。

演出表示装置５の下方には、普通入賞球装置６Ａと普通可変入賞球装置６Ｂとが設けられているとともに、下方及び右側方には一般入賞口６０が設けられている。普通入賞球装置６Ａは、例えば所定の球受部材によって常に一定の開放状態に保たれる始動領域（第１始動領域）としての第１始動入賞口を形成する。普通可変入賞球装置６Ｂは、ソレノイド（図示略）によって、垂直位置となる通常開放状態と傾動位置となる拡大開放状態とに変化する一対の可動翼片を有する電動チューリップ型役物（普通電動役物）を備え、始動領域（第２始動領域）としての第２始動入賞口を形成する。

第１始動入賞口を通過（進入）した遊技球が第１始動口スイッチ（図示略）によって遊技球が検出されたことにもとづき、所定個数（例えば３個）の遊技球が賞球として払い出され、第１特図保留記憶数が所定の上限値（例えば「４」）以下であれば、第１始動条件が成立する。また、第２始動入賞口を通過（進入）した遊技球が第２始動口スイッチ（図示略）によって遊技球が検出されたことにもとづき、所定個数（例えば３個）の遊技球が賞球として払い出され、第２特図保留記憶数が所定の上限値（例えば「４」）以下であれば、第２始動条件が成立する。

普通入賞球装置６Ａと普通可変入賞球装置６Ｂの下方位置には、特別可変入賞球装置７が設けられている。特別可変入賞球装置７は、ソレノイド（図示略）によって開閉駆動される大入賞口扉によって開放状態と閉鎖状態とに変化する特定領域としての大入賞口を形成する。このように、特定領域としての大入賞口は、遊技球が通過（進入）しやすく遊技者にとって有利な開放状態と、遊技球が通過（進入）できない（または通過（進入）しにくい）遊技者にとって不利な閉鎖状態とに変化する。

大入賞口を通過（進入）した遊技球がカウントスイッチ（図示略）によって検出されたことにもとづき、所定個数（例えば１５個）の遊技球が賞球として払い出される。従って、特別可変入賞球装置７において大入賞口が開放状態となれば、その大入賞口に遊技球が進入可能となり、遊技者にとって有利な第１状態となる。その一方で、特別可変入賞球装置７において大入賞口が閉鎖状態となれば、大入賞口に遊技球を通過（進入）させて賞球を得ることが不可能または困難になり、遊技者にとって不利な第２状態となる。

第２保留表示器２５Ｂの右方位置には、普通図柄表示器２０が設けられている。普通図柄表示器２０の右方には、普図保留表示器２５Ｃが設けられている。普図保留表示器２５Ｃは、例えば４個のＬＥＤを含んで構成され、通過ゲート４１を通過した有効通過球数としての普図保留記憶数を表示する。

遊技盤２の遊技盤面２ａにおける遊技領域１０には、遊技球の流下方向や速度を変化させる多数の障害釘２００や風車６１やセンター飾り枠５１等の装飾物が設けられている。例えば、図２に示すように、普通入賞球装置６Ａの左右側方には、複数の障害釘２００が互いに近接して並設されてなる誘導釘２０１Ｌ，２０１Ｒがそれぞれ設けられている。

誘導釘２０１Ｌ，２０１Ｒは、左右側方から中央の普通入賞球装置６Ａに向けてそれぞれ下方に傾斜するように並設され、普通入賞球装置６Ａの第１始動入賞口に向けて遊技球を誘導する。尚、これら誘導釘２０１Ｌ，２０１Ｒのそれぞれの所定箇所には、遊技球が落下可能な渡り２０３が設けられているが、渡り２０３は設けられなくてもよい。

また、遊技領域１０に設けられた複数の障害釘のうち、普通入賞球装置６Ａの第１始動入賞口の近傍上方位置に設けられる障害釘２００は、第１始動入賞口に向けて遊技球を誘導する指定釘２０４を構成している。各一般入賞口６０の近傍上方位置に設けられる障害釘２００は、各一般入賞口６０に向けて遊技球を誘導する指定釘２０５を構成している。通過ゲート４１の上方近傍位置に設けられる障害釘２００は、通過ゲート４１に向けて遊技球を誘導する指定釘２０６を構成している。風車６１の上方近傍位置に設けられる障害釘２００は、風車６１に向けて遊技球を誘導する指定釘２０７を構成している。ワープ通路６２（図１）の上方近傍位置に設けられる障害釘２００は、ワープ通路６２に向けて遊技球を誘導する指定釘２０８を構成している。これら指定釘２０４〜２０８それぞれは、遊技盤面２ａに設けられる複数の障害釘２００のうちから予め指定される障害釘であり、これら指定釘以外の障害釘２００とは内容が異なる整備が必要な障害釘とされている。指定釘２０４〜２０８それぞれは、複数本ずつ設けられ、特に、指定釘２０４等の２本の指定釘２０４等は、ペア釘とも呼ばれる。

障害釘２００は、例えば、真鍮材からなり、図３に示すように、円柱状の胴部２００ａ（本体部あるいはシャフトともいう）と、該胴部２００ａの一端側に形成された球面状の頭部２００ｂ（釘笠ともいう）と、から構成される。本実施例では、胴部２００ａの直径が１．８５ｍｍであり、頭部２００ｂの傘外径が４．２ｍｍ（Ｓφ２＝４．２ｍｍ）である。障害釘２００は、遊技盤面２ａに予め形成される孔部２ｄに釘打ち機により打設されることにより遊技盤面２ａに立設される。障害釘２００が立設された状態において、遊技盤面２ａ（孔部２ｄの開口Ｈ）から頭部２００ｂの末端（胴部２００ａと頭部２００ｂとの境界部分）までの長さＬ１は、１６．８ｍｍ（Ｌ１＝１６．８ｍｍ）であり、頭部２００ｂの末端（胴部２００ａとの境界部分）から先端（頭部２００ｂにおける釘傘の頂上部分）までの長さＬＨは、１．０ｍｍ（ＬＨ＝１．０ｍｍ）である。あわせた長さが１７．８ｍｍとされている。また、胴部２００ａの後端側にはネジ溝２００ｃが形成されている。このネジ溝２００ｃによって、孔部２ｄ内に挿入された胴部２００ａと孔部２ｄの内周面との間に生じる摩擦力により障害釘２００が遊技盤２から抜け落ちることが防止されている。

また、障害釘２００を打設するための孔部２ｄは、図３に示すように、遊技盤面２ａと直交するＺ軸（垂線）に対し上方に向けて所定角度θ１（θ１＝４度）傾斜して形成される。よって、障害釘２００もＺ軸（垂線）に対して頭部２００ｂ側が上方に向けて４度傾斜して立設され、障害釘２００に衝突した遊技球が遊技盤２側に極力跳ね返るようにしている。このように、障害釘２００の中心軸は、一般的な設計通りであれば、基準面となる遊技盤面２ａの垂線に対し、上方に４度の角度を有して植設される。なお、指定釘２０４〜２０８は、上方に４度傾斜した状態の障害釘２００をさらに他の方向に曲げて形成される。つまり、指定釘２０４〜２０８（詳細には、遊技盤面２ａから突出した部分）は、他の障害釘２００（以下、一般釘ともいう。）とは異なる方向に傾斜している。

障害釘２００の傾斜方向（傾きの方向）は、図４に示すように、アナログ時計の時間により表される。１２時が上、３時が右、６時が下、９時が左を示す。障害釘２００のうち、一般釘（指定釘２０４〜２０８以外の障害釘２００）は、１２時方向に４度傾斜している。また、一般釘以外の障害釘２００である指定釘２０４〜２０８は、一般釘の傾斜方向とは異なる方向に傾斜している。例えば、ペア釘となる２本の指定釘２０４、２０６は、左右方向に並んだ２本の障害釘２００であるが、そのうち、左側の障害釘２００は１１時方向に４度、右側の障害釘２００は１時方向に４度、傾斜している。なお、指定釘を含む障害釘２００の傾斜方向は、任意であり、適宜の傾きが採用される。

図１に戻って、遊技領域１０の最下方には、いずれの入賞口にも進入しなかった遊技球が取り込まれるアウト口１１が設けられている。遊技機用枠３の左右上部位置には、効果音等を再生出力するためのスピーカ８Ｌ，８Ｒが設けられており、さらに遊技領域１０の周辺部には、演出用ＬＥＤ９が設けられている。遊技機用枠３の右下部位置には、遊技媒体としての遊技球を遊技領域１０に向けて発射するために遊技者等によって操作される打球操作ハンドル（操作ノブ）が設けられている。

遊技領域１０の下方における遊技機用枠３の所定位置には、賞球として払い出された遊技球や所定の球貸機により貸し出された遊技球を、発射装置（図示略）へと供給可能に保持（貯留）する上皿９０（打球供給皿）が設けられている。遊技機用枠３の下部には、上皿９０から溢れた余剰球などを、パチンコ遊技機１の外部へと排出可能に保持（貯留）する下皿９１が設けられている。下皿９１を形成する部材に取付けられたスティックコントローラ３１Ａの傾倒操作はコントローラセンサユニット（図示略）にて検出され、上皿９０を形成する部材に設けられたプッシュボタン３１Ｂに対してなされた押下動作はプッシュセンサ（図示略）にて検出される。

パチンコ遊技機１は、図示しない主基板、演出制御基板等も備える。主基板は、メイン側の制御基板であり、パチンコ遊技機１における遊技の進行（特図ゲームの実行、大当り遊技状態の制御、確変状態や時短状態の制御など）を制御する。演出制御基板は、主基板から伝送されてくる演出制御コマンド（遊技の進行に応じて伝送されるコマンド）に基づき、演出表示装置５、スピーカ８Ｌ，８Ｒ、演出用ＬＥＤ９などを制御して各種演出を実行する。

（パチンコ遊技機１の製造）
以下、パチンコ遊技機１の製造について説明する。なお、当該製造については、例えば、特開２０１７−１８５１９に開示された技術を利用できる。

（管理コンピュータ５００）
パチンコ遊技機１の製造は、管理コンピュータ５００により制御される。管理コンピュータ５００は、図５に示すように、データバス５０１と、制御プログラムにもとづいて各種の処理を行うＣＰＵ（中央演算処理回路）５０２と、ＲＡＭ５０３と、時間情報等を出力可能なリアルタイムクロック（ＲＴＣ）５０４と、前記制御プログラムや、パチンコ遊技機１の製造に使用されるデータが記憶される記憶装置５０５と、キーボードやマウス等の入力装置５０６と、ディスプレイ等の表示装置５０７と、各種印刷物を出力可能なプリンタ５０８と、後述の出荷前釘検査用装置等のパチンコ遊技機１の製造ラインで使用される各種装置とのデータ通信を行うための通信部５０９と、を備える。ＣＰＵ５０２等は、データバス５０１に接続されている。

（パチンコ遊技機１における遊技盤２の製造工程）
図６は、パチンコ遊技機１の製造工程における遊技盤２の製造工程の大まかな流れを示すフローチャートである。なお、下記で使用される装置は、適宜、管理コンピュータ５００により制御される。

まず、遊技盤２を構成する所定の大きさの合成樹脂板（例えば、アクリル板等）やベニヤ板に、リュータ加工装置などにより切削や穴あけ加工を施して所定の形状とした後、遊技盤面２ａにセルシートを貼付する。次いで、釘や風車などの打ち込み作業時の位置ずれを減らすために、遊技盤２の設計データ（釘穴位置を含むデータ。詳細は後述）に応じて成形された金属製のゲージ板（図示略）により、遊技盤面２ａに下穴を加工する作業を行う（ステップＳ１）。

その後、遊技盤面２ａに下穴が形成された遊技盤２に、当該遊技盤２に関する情報をコード化した二次元コード１５ａを含む各種コードを印刷したシール１５を貼付する（ステップＳ２）。遊技機２に関する情報には、遊技盤２の設計データ等を特定可能なゲージ番号、遊技盤２の材質を示す材質コード、遊技盤２の機種を示す機種コード、同一機種のバリエーション等の機種補助情報を示すサブコード、遊技盤２の製造番号（固有のＩＤ）を示すシリアル番号などが含まれる。当該シール１５の二次元コード１５ａは、遊技盤２の製造ライン等の適宜のタイミングで読み取られ、これにより、遊技盤２の製造が管理される。

その後、釘打ち機にて複数の障害釘２００を上記で加工された各下穴に打ち込む作業を行う（ステップＳ３）。その後、遊技盤面２ａに打ち込まれた各障害釘２００が１２時方向に４度傾斜しているか否かを画像により検査する（ステップＳ４）。例えば、所定の検査装置（例えば、後述の出荷前釘検査用装置とは別の装置により行われるが、出荷前釘検査用装置を利用してもよい。）により、遊技盤面２ａを撮影した画像に基づいて頭部２００ｂの位置を特定し、特定した位置と、設計データに基づいて特定される頭部２００ｂの設定位置との位置ずれが許容範囲内（傾斜が４度の許容範囲内）にあるかを判定する（許容範囲内にあれば、１２時方向に４度傾斜していると判定する）。ステップＳ４の検査の結果、１２時方向に４度傾斜していない障害釘２００がない場合には、後述のステップＳ５〜Ｓ６＋は、スキップする。

その後、ステップＳ３で打ち込んだ障害釘２００のうち、１２時方向に４度傾斜していないとステップＳ４で判定された障害釘２００を対象として、該障害釘２００を１２時方向に４度傾斜させるための第１整備を実行する（ステップＳ５）。第１整備は、公知の障害釘整備装置で行う。第１整備後、整備後の各障害釘２００が、１２時方向に４度傾斜しているか否かを検査する第１検査を行う（ステップＳ６）。第１検査は、検査用工具を用いて第１整備を行った障害釘整備装置（他の装置でもよい）にて行われる。その後、第１検査により検査した障害釘２００に、１２時方向に４度傾斜していない障害釘（以下、このような釘をＮＧ釘という。）が含まれるかを判定し（ステップＳ６＋）、ＮＧ釘が含まれる場合（検査ＮＧ：ステップＳ６＋；Ｙ）には、そのＮＧ釘を対象に第１整備及び第１検査を再度行う。

第１整備の内容は、ステップＳ６＋でＮＧ釘があると判定される回数に応じて異なる。検査ＮＧ回数が１回目の場合には、原則として、検査ＮＧと判定された障害釘２００の整備量（変形量等）を、その前の第１整備と異ならせる。検査ＮＧ回数が２回目の場合には、原則として、その前の第１整備に使用した工具とは異なる工具により第１整備を行う。検査ＮＧ回数が３回目の場合には、原則として、障害釘整備装置を変更する。検査ＮＧ回数が４回目の場合、当該遊技盤２は製造ラインから排出される。

ＮＧ釘が無い場合（ステップＳ６＋のＮ）、指定釘２０４〜２０８を対象として、該指定釘２０４〜２０８の傾斜（上記Ｚ軸に対する）を予め設定された傾斜（例えば、指定釘２０４、２０６については、１時方向に４度又は１１時方向に４度）に設定するための第２整備を実行する（ステップＳ７）。第２整備では、指定釘２０４〜２０８それぞれについて、指定釘同士の間隔が所望の寸法（遊技球が通過可能な寸法等）となるように基部側から頭部２００ｂ側に向けて漸次広げる。第２整備は、第１整備等で使用された障害釘整備装置とは異なる障害釘整備装置で行われてもよいし、同じ障害釘整備装置が使用されてもよい。

そして、これら指定釘２０４〜２０８を対象とした第２整備を行った後に、第２整備を行った障害釘整備装置（他の装置でもよい）により、検査用工具を用いて、指定釘２０４〜２０８の傾斜が予め設定されている傾斜となっているかを検査する第２検査を行う（ステップＳ８）。その後、第２検査により検査した障害釘２００に、予め設定されている傾斜になっていない障害釘（以下、このような釘をＮＧ釘という。）が含まれるかを判定し（ステップＳ８＋）、ＮＧ釘が含まれる場合（検査ＮＧ：ステップＳ８＋；Ｙ）には、そのＮＧ釘を対象に第２整備及び第２検査を再度行う。

第２整備の内容は、ステップＳ８＋でＮＧ釘があると判定される回数に応じて異なる。検査ＮＧ回数が１回目の場合には、原則として、検査ＮＧと判定された障害釘２００の整備量（変形量等）を、その前の第２整備と異ならせる。検査ＮＧ回数が２回目の場合には、原則として、その前の第２整備に使用した工具とは異なる工具により第２整備を行う。検査ＮＧ回数が３回目の場合には、原則として、障害釘整備装置を変更する。検査ＮＧ回数が４回目の場合、当該遊技盤２は製造ラインから排出される。

第２検査においてＮＧ釘が無い場合（ステップＳ８＋でＮ）、当該第２検査が行われた遊技盤２について、全ての障害釘２００を対象として、釘最終検査（傾斜が正常であるか等に検査を含む）を行う（ステップＳ９）。

釘最終検査において異常がなければ、ガイドレール２ｂや風車６１を遊技盤面２ａに形成された下穴を利用して遊技盤２に取付ける作業を行う（ステップＳ１０）。そして、センター飾り枠５１、各種入賞装置など他の遊技用部材も取付けられる（ステップＳ１１）。この組み付けにより、遊技盤２が完成する。その後、出荷前釘検査用装置２１（図７等）にて、完成した遊技盤２の遊技盤面２ａに設けられた障害釘２００をスキャナー部２１０により読み取り、読取情報として生成された画像データ（撮像画像）を用いて、各障害釘２００の状態を検査する出荷前釘検査を行う（ステップＳ１２、詳細は後述）。最後に、完成した遊技盤２は梱包され、別工程で製造され梱包された遊技機用枠３とともに出荷される（ステップＳ１３）。

（出荷前釘検査用装置）
次に、本実施例の出荷前釘検査（ステップＳ１２）で使用される出荷前釘検査用装置２１について、図７〜図９にもとづいて説明する。図７は、出荷前釘検査用装置２１の構成例を示す右側面図である。図８は、出荷前釘検査用装置２１における各種クランプの設置例を示す正面図である。図９は、出荷前釘検査用装置２１が備えるスキャナー部２１０の構成例を示す右側面図である。

図７に示すように、本実施例における出荷前釘検査用装置２１は、検査対象の遊技盤２の遊技盤面２ａ（障害釘２００や、ガイドレール２ｂ、風車６１、センター飾り枠５１、各種入賞装置等の他の遊技部材等が設けられている遊技盤面２ａ。盤面に障害釘２００等が設けられている場合、特に、遊技盤面２ａの読み取り（撮像）、撮像画像に対する画像処理等について、当該障害釘等を含めた全体を遊技盤面２ａということがある。）に光（照射光）を照射して反射光を含む読取情報となる画像データを生成可能なスキャナー部２１０と、検査対象の遊技盤２を水平に載置するテーブル２２０と、から主に構成されている。検査対象の遊技盤２は、ロボットアーム等によりテーブル２２０に載置可能としてもよいし、作業員によりテーブル２２０に載置可能としてもよい。また、出荷前釘検査用装置２１は、スキャナー部２１０とは別個に、二次元コード１５ａを読み取るための読取部（読取用カメラ）を備えてもよい。

テーブル２２０の上面には、遊技盤２を位置決めするためのガイドピン（図視せず）などが設けられている。また、テーブル２２０の上部両側縁部には、図８（Ａ）に示すような１対の昇降クランプ２５０が設けられてもよい。図８（Ａ）に示す昇降クランプ２５０は、回動可能に構成されたアーム部２５０Ａと、該アーム部２５０Ａが軸着されて回動支点になるとともに昇降可能に構成されたベース部２５０Ｂとを有し、テーブル２２０の上面において、障害釘２００が上方を向くように遊技盤２を上向きにした状態で、上方から遊技盤２を押さえることによりテーブル２２０との間に挟持し、テーブル２２０に遊技盤２を保持して固定できればよい。

尚、昇降クランプ２５０により上方から遊技盤２を押さえることによりテーブル２２０との間に挟持する場合には、遊技盤２の後面が基準（後面基準）となる。この場合には、位置が固定されたテーブル２２０の上面と遊技盤２の下面との間に隙間が生じることや、遊技盤２の寸法誤差が生じることで、遊技盤面２ａ（特に、障害釘２００）とスキャナー部２１０との距離が不均一になりやすい。そこで、例えば図８（Ｂ）に示すような１対の上止めクランプ２６０が設けられてもよい。この場合、上止めクランプ２６０は、回動可能に構成されたアーム部２６０Ａと、該アーム部２６０Ａが軸着されて回動支点になるとともに昇降不可として出荷前釘検査用装置２１の本体などに固着されたベース部２６０Ｂとを有していればよい。加えて、出荷前釘検査用装置２１には、シリンダなどを用いた昇降機構２７０を設け、該昇降機構２７０によりテーブル２２０と該テーブル２２０に載置された遊技盤２とを下方から上止めクランプ２６０の保持面に押し当てる。このとき、上止めクランプ２６０の保持面は上下動しないので、遊技盤２の前面が基準（前面基準）となり、テーブル２２０に載置された遊技盤２を保持して固定できる。このように前面基準とすることで、遊技盤面２ａ（特に、障害釘２００）とスキャナー部２１０との距離が均一になりやすく、スキャナー部２１０の焦点位置（詳細は後述）を設定しやすくすることで、障害釘２００の頭部２００ｂを撮像するときの誤差を低減して、鮮明な画像データを生成することができる。出荷前釘検査用装置２１では、各障害釘２００に対する出荷前釘測定に適した位置に昇降クランプ２５０または上止めクランプ２６０などが配置され、予め用意されたクランプ制御パターンにより遊技盤２を保持して固定する制御（保持制御）が行われるようにすればよい。

図９に示すように、スキャナー部２１０は、光源となる４つの発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４と、発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４からの光であって、遊技盤面２ａ（特に障害釘２００）により反射された反射光などを導くミラー部２１１と、ミラー部２１１から導かれた反射光などを集光するレンズ部２１２と、レンズ部２１２により集光された反射光などを受光することで、遊技盤面２ａを撮像する撮像部２１３と、を主に有する。スキャナー部２１０は、テーブル２２０との間に所定の間隔をおいて平行に固定配置されるガイドレールに取り付けられ、モータの駆動力などにより、往復移動が可能であればよい。ミラー部２１１やレンズ部２１２及び撮像部２１３から構成される読取光学系は、遊技盤面２ａに設けられた障害釘２００（ここでは、一般釘）の頭部２００ｂが形成する釘傘の外径が最大となる箇所の中心位置を通るスキャナー基準面２１０ａが焦点位置となるように調整されている。撮像部２１３が撮像して得られる撮像画像では、被写界深度により、各障害釘２００の頭部２００ｂ全体に、ピントがあっているように写る。なお、頭部２００ｂにピントが合えば、焦点位置は他の位置としてもよい。

複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４は、被写体となる障害釘２００などが設けられた遊技盤面２ａに走査光（照射光）となる光を照射する複数の直管状光源であればよい。図９に示す構成例においては、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４のうちで、第１発光ユニットを構成する発光部材ＬＳ１、ＬＳ２が反射光の光路を挟んだ一方側（図９における紙面上の左側）に配置され、第２発光ユニットを構成する発光部材ＬＳ３、ＬＳ４が反射光の光路を挟んだ他方側（図９における紙面上の右側）に配置されている。このような配置により、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４は、複数の方向から障害釘２００の頭部２００ｂに対して走査光（照射光）となる光を照射することができる。

撮像部２１３は、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）又はＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）を用いたラインカメラ（ラインセンサカメラ、ラインスキャナ等とも呼ばれる）を用いて構成されていればよい。尚、撮像部２１３は、ＣＩＳ（Contact Image Sensor）を用いた密着イメージセンサを用いて構成されてもよい。前記の密着イメージセンサの場合には、前記のラインカメラの場合と比べて、内部構造を簡素化でき、消費電力を低減することもできる。その一方で、前記の密着イメージセンサの場合には、前記のラインカメラの場合と比べて、焦点深度が浅く、画像データの精度が低下しやすくなり、また、製造コストが増大するおそれもある。これに対し、前記のラインカメラの場合には、焦点調整が容易になり、画像データの精度を向上させやすくなり、また、製造コストを抑制することもできる。ここでは、撮像部２１３として、ＣＣＤを用いたラインカメラを採用している。

上記のほか、スキャナー部２１０における読取光学系は、複数の光源となる発光部材から障害釘２００の頭部２００ｂ等に照射された光の反射光を受光可能な任意の構成を有していればよい。例えばスキャナー部２１０の配置や形状にあわせて、複数のミラー部２１１を有する構成としてもよい。遊技盤面２ａに対して直交する方向となる光路から反射光を導く構成に限定されず、遊技盤面２ａに対して、複数の光源となる発光部材からの照射光路とは異なる所定角度を有する斜め方向となる光路から反射光を導いて撮像可能な構成であってもよい。

スキャナー部２１０は、図７に実線矢印で示すスキャン方向に搬送され、これに伴い発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４から、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａに照射した光の反射光を撮像部２１３で受光する。撮像部２１３は、前記反射光を受光することで遊技盤面２ａ（特に、障害釘２００）を撮像する（画像データを生成する）。なお、スキャナー部２１０は、ラインカメラにより撮像を行うので、遊技盤面２ａを線状の領域に区切って複数回撮像する。出荷前釘検査用装置２１では、遊技盤２を保持して固定した状態で、スキャナー部２１０をスキャン方向に移動させる搬送制御が行われるようにすればよい。スキャナー部２１０を図７に示すスキャン方向に移動させながら撮像動作を行わせることで、スキャナー部２１０は、遊技盤面２ａの全体を撮像する。このときには、遊技盤２を固定する保持制御が行われることにより、各障害釘２００の頭部２００ｂの状態を精度良く検査できる（遊技盤２の位置ずれにより撮像画像が歪んでしまうことなどを防止できるため）。出荷前釘検査用装置２１は、複数のカメラを設ける必要がないので、装置構成を簡素化して、製造コストを抑制することができ、また、画像データの補正処理などによる処理負担を軽減することもできる。

尚、スキャナー部２１０を固定する保持制御を行い、遊技盤２を所定方向に移動させる搬送制御を行うようにしてもよい。ただし、搬送装置１３などにより遊技盤２を搬送させながら撮影を行う場合には、搬送中の振動などにより位置決めが困難になるおそれがある。これに対し、スキャナー部２１０をスキャン方向に移動させる搬送制御を行い、図８（Ａ）に示すような昇降クランプ２５０、または図８（Ｂ）に示すような上止めクランプ２６０などを用いて、遊技盤２を固定する保持制御を行うことで、出荷前釘検査用装置２１は、各障害釘２００を精度良く検査できる（遊技盤２の位置ずれにより撮像画像が歪んでしまうことなどを防止できるため）。出荷前釘検査用装置２１の設置位置を、搬送される遊技盤２が通過する位置に設定し、この設置位置に遊技盤２が搬送されると、遊技盤２の搬送を停止し、昇降クランプ２５０または上止めクランプ２６０などを用いて遊技盤２を固定し、スキャナー部２１０の搬送制御（出荷前釘検査）を行うようにしてもよい。

（出荷前釘検査の概略）
図６の出荷前釘検査（ステップＳ１２）では、管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）が予め用意されたプログラム（記憶装置５０５に記憶されている。）を実行することにより、出荷前釘検査用装置２１を制御する。出荷前釘検査用装置２１は、管理コンピュータ５００の制御のもとで動作する。具体的に、スキャナー部２１０は、図７に示すスキャン方向に移動しながら撮像動作（発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４から、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａに照射した光の反射光の受光）を順次行い、これにより、遊技盤面２ａを線状の領域ごとに撮像した撮像画像の画像データを順次生成して管理コンピュータ５００に供給する（このような動作を、遊技盤面２ａ（障害釘２００等を含む）を「スキャンする」ともいう。）。管理コンピュータ５００は、順次供給される画像データを組み合わせ、遊技盤面２ａ全体の画像データを生成する。管理コンピュータ５００は、当該画像データに基づいて、画像処理により各障害釘２００の状態を検査する。当該検査では、各障害釘２００の頭部２００ｂをパターンマッチングにより検出し、当該検出した各頭部２００ｂの位置と、予め用意された各障害釘２００の頭部２００ｂの設定位置と、の比較により、各障害釘２００の傾斜が適切かを判定する。前記のパターンマッチングのため、障害釘２００の頭部２００ｂそれぞれについて、パターンマッチングに使用されるテンプレート画像（図２１等）が登録され、また、各障害釘２００の頭部２００ｂそれぞれについて、パターンマッチングを行うマッチング領域（図１２等）が設定されている。そこで、出荷前釘検査の詳細を説明する前に、マッチング領域を設定するための処理（マッチング領域設定処理）と、テンプレート画像を登録するための処理（マスターデータ登録処理）とを説明する。これら処理は、適宜のタイミングで実行される。

（マッチング領域設定処理）
管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、予め用意されたプログラム（記憶装置５０５に記憶されている。）を実行することにより、例えば、図１０に示すマッチング領域設定処理を実行する。

なお、管理コンピュータ５００は、記憶装置５０５に、遊技盤２の設計データを記憶している。当該設計データは、遊技盤２の遊技盤面２ａに下穴を加工する作業を行うときなどに使用されるデータであり、障害釘２００を設ける釘穴位置（遊技盤面２ａに設けられる孔部２ｄの設計位置であって、当該孔部２ｄの開口Ｈ（図３参照）の中心位置）をＸＹ座標により特定するデータである。当該設計データは、例えば公知のフォーマットのデータであればよく、ＺＡＸデータ等と呼ばれるデータを採用することができる。前記のＸＹ座標は、遊技盤面２ａ（盤面）に沿った方向、つまり、上下左右方向に設定された座標系であって、左下を原点（中心座標（０，０））とし、上方向を＋Ｙ方向、右方向を＋Ｘ方向とする座標系とする。さらに、Ｘ座標の値、Ｙ座標の値は、実際のスケールの長さ（単位はｍｍ）と同じであるものとする（例えば、（１，１）の座標は、原点から＋Ｘ方向（右方向）に１ｍｍ、＋Ｙ方向（上方向）に１ｍｍずれた位置とする）。なお、左上を原点とし、下方向を＋Ｙ方向、右方向を＋Ｘ方向としてもよい。Ｘ座標の値、Ｙ座標の値は、実際のスケールの長さ（単位はｍｍ）と同じでなくてもよく、その場合は、以下の処理において、実際のスケールの長さを座標の値に適宜変換する（その逆変換も適宜行う）。

マッチング領域設定処理において、管理コンピュータ５００は、前記設計データから、当該設計データが特定する、障害釘２００それぞれの釘穴位置（ＸＹ座標）を抽出する（ステップＳ２１）。

その後、管理コンピュータ５００は、前記で抽出した各障害釘２００の釘穴位置と各障害釘２００の傾斜とに基づいて、各障害釘２００の頭部２００ｂの設定位置を特定する（ステップＳ２２）。設定位置は、障害釘２００の傾斜が適切のときの頭部２００ｂの位置として設定される位置であり、ＸＹ座標により表される。設定位置は、頭部２００ｂが形成する釘傘の外径が最大となる箇所の中心位置（胴部２００ａの先端の中心位置）である。設定位置は、障害釘２００が傾斜しているため、障害釘２００の釘穴位置に対してずれる。当該ずれは、障害釘２００の傾斜に依存する。例えば、Ｘ座標は、長さＬ１×ｓｉｎθ１×ｓｉｎθ２（式１）で求まる値Ｍだけずれる。また、Ｙ座標は、長さＬ１×ｓｉｎθ１×ｃｏｓθ２で求まる値Ｎだけずれる。ここで、Ｌ１は、遊技盤面２ａの孔部２ｄの開口Ｈから頭部２００ｂの末端（胴部２００ａと頭部２００ｂとの境界部分）までの長さである（図３参照）。θ１は、その障害釘２００の、遊技盤面２ａの垂線であるＺ軸に対する傾斜角（４度等）である（図３参照）。θ２は、その障害釘２００の傾斜方向の角度であり、１２時を０度、３時を９０度、６時を１８０度、９時を２７０度とした角度（１時間は３０度）である（図３参照）。各障害釘２００の傾斜（方向及び角度）は、設計データ又は他のデータにより指定されている。

ステップＳ２２において、管理コンピュータ５００は、障害釘２００それぞれについて、上記式１及び式２それぞれから値Ｍ及び値Ｎを計算し、釘穴位置のＸ座標に値Ｍを加算し、釘穴位置のＹ座標に値Ｎを加算し、頭部２００ｂのＸＹ座標を計算する（これにより、頭部２００ｂの設定位置が特定される）。なお、値Ｍ及び値Ｎは、前記の設計データにおいて指定されてもよい。また、障害釘２００の頭部２００ｂのＸＹ座標（設定位置）自体が、前記の設計データにおいて特定されていてもよい。この場合、ステップＳ２１は不要である。

その後、管理コンピュータ５００は、各障害釘２００について、上記で特定した頭部２００ｂの設定位置を中心とする所定の大きさの領域（例えば、一辺が、頭部２００ｂが形成する釘傘の最大外径の２倍の長さを有する正方形領域）をマッチング領域として特定し、当該マッチング領域を、釘穴位置、頭部２００ｂの設定位置とともに、障害釘２００ごとに記憶装置５０５に用意されたマッチング領域データベースに登録する（ステップＳ２３）。

図１１にマッチング領域データベースの内容例を示す。マッチング領域データベースには、障害釘２００それぞれに付した釘番号に対応付けられて、釘穴位置、頭部の設定位置、マッチング領域、傾斜（方向及び角度）の各情報が格納されている。釘番号は、頭部の設定位置に基づき、所定のアルゴリズムで自動で付されてもよいし（例えば、ＸＹ座標において左上から右下に向けて順次番号を振っていくなど）、作業者により入力装置５０６を介して手入力されてもよい。また、前記の設計データが釘番号も特定している場合には、その釘番号を使用してもよい。図１１中、釘番号１〜３の障害釘２００は、一般釘であり、１２時方向に４度傾斜しているため、頭部の設定位置は、釘穴位置からＹ方向（上下方向）にずれ、Ｘ方向にはずれない。釘番号Ｓ１〜Ｓ２の障害釘２００は、指定釘２０４又は２０６であり、１時又は１１時方向に４度傾斜しているため、頭部の設定位置は、釘穴位置からＹ方向及びＸ方向にずれる。マッチング領域は、Ｘ座標の値の範囲及びＹ座標の値の範囲により規定されている。

図１２に示すように、マッチング領域Ｐは、一般釘の頭部２００ｂを中心として配置され、マッチング領域Ｐの中心は、開口Ｈの中心からずれている。マッチング領域Ｐは、図１２に示すように、一つの頭部２００ｂ（検出対象の頭部２００ｂ）を含むが、他の頭部２００ｂ（特に、隣の障害釘２００の頭部２００ｂ）全てが入らない大きさに設定されているとよい。

（マスターデータ登録処理）
図１３にマスターデータ登録処理のフローを示す。管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、予め用意されたプログラム（記憶装置５０５に記憶されている。）を実行することにより、下記の動作を行う。また、出荷前釘検査用装置２１は、管理コンピュータ５００による制御又は出荷前釘検査用装置２１への操作に基づいて下記の動作を行う。

出荷前釘検査用装置２１は、マスター盤となる遊技盤２の遊技盤面２ａ（障害釘等が設けられた遊技盤面２ａ）をスキャン（スキャナー部２１０によるスキャン）する（ステップＳ４１）。マスター盤は、各障害釘２００が、遊技盤面２ａにおいて、すべて正しく傾斜している遊技盤２であり、パチンコ遊技機１の製造に関わる作業員等により選定される。管理コンピュータ５００は、前記のスキャン（読み取り）により出荷前釘検査用装置２１のスキャナー部２１０から順次供給される画像データ（障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａを線状領域に分けて撮像した撮像画像の画像データ）を組み合わせ、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ全体が写った全体画像の画像データを生成する（ステップＳ４２）。なお、画像データ（全体画像）には、上記マッチング領域データベース、設計データ等におけるＸＹ座標と同スケールのＸＹ座標が設定されているものとする（同スケールとするため、例えば、マッチング領域設定処理の前段階から設計データの座標を補正したり、全体画像の一部（遊技盤面２ａが写っていない領域）を削除、画像を拡大、又は縮小したりしてもよい。）。

その後、画像処理範囲を設定する（ステップＳ４３）。具体的には、マッチング領域データベースに格納されている各マッチング領域（Ｘ座標の値の範囲及びＹ座標の値の範囲）を読み出し、ステップＳ４２で生成した画像データが表す全体画像（以下、原画像ともいう。）における各マッチング領域の範囲を画像処理範囲として設定する。画像処理範囲は、障害釘２００毎に設定される。以下の画像処理は、当該画像処理範囲のみを対象として行われる（これにより、原画像全体を対象にして画像処理を行うよりも、処理負担が軽減される）。この一例として、原画像から各画像処理範囲を切り出し（但し、座標情報は保持したままとする。）、以下の画像処理を行うようにしてもよい。

管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、ステップＳ４３で設定した各画像処理範囲内の画像を、モノクロ画像に変換する（ステップＳ４４）。尚、前記画像データがモノクロ画像を示す場合には、さらにモノクロ画像に変換する必要はない。原画像又はモノクロ画像において、障害釘２００の頭部２００ｂに対応するエッジ部分が不明確である場合には、エッジ強調やコントラスト強調等の画像処理が行われてもよい。当該画像処理も、各画像処理範囲内にて行うとよい。

その後、各画像処理範囲内にてエッジ検出による円探索を行う（ステップＳ４７）。エッジ検出では、例えばソーベルフィルタ、プレヴィットフィルタ、ラプラシアンフィルタのいずれかなど、任意のエッジ検出フィルタを用いて、エッジパターン画像が生成されるようにすればよい。このようなエッジパターン画像において、障害釘２００の頭部２００ｂにおける輪郭（形状）との類似度が所定範囲内となるエッジ部分を抽出することにより、図１４（Ａ）に示すような円形部分ＳＣ１を特定すればよい（図１４の各画像は、画像が分かりやすいよう、グレースケールの画像となっている。図１４（Ｂ）〜（Ｄ）については、後述する。）。尚、エッジ検出における閾値や輪郭判定における閾値といった、画像判定処理により円形部分ＳＣ１を特定するために用いられる閾値の一部または全部は、画像処理範囲に応じて、異なる値が設定されてもよい。障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａは、場所に応じた色変化があり、盤面全体で単一の閾値を用いた場合には、画像処理範囲の位置によりエッジ検出や輪郭判定が困難になり、円形部分ＳＣ１の特定が不可能になることがある。そこで、複数の画像処理範囲に対して、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａの盤面上における各画像処理範囲の位置すなわち障害釘２００の設置位置などに応じて、異なる閾値を設定可能とすることで、円形部分ＳＣ１が特定されやすくしてもよい。障害釘２００の頭部２００ｂに対応する画像ヒストグラムと、画像処理範囲に応じた画像ヒストグラムとを用いて、異なる閾値を設定可能としてもよい。このような閾値の設定により、円形部分ＳＣ１の有無や位置を、より正確に特定して、障害釘２００の検査精度を向上させることができる。

その後、管理コンピュータ５００は、原画像を表示装置５０７に表示するとともに、当該原画像に、ステップＳ４７での円探索にて特定された各円形部分ＳＣ１の輪郭を示す輪郭円Ｃ１を重畳表示し（ステップＳ４８）、当該輪郭円Ｃ１の位置の補正操作を受け付ける（ステップＳ４９）。その表示画面を図１５に示す。図１５では、原画像が拡大表示され、輪郭円Ｃ１が重畳表示されている。また、「表示箇所移動」の欄にボタン画像ＳＢ１（上下左右を選択するボタンの画像）が表示され、その下に「拡大」のボタン画像ＳＢ２、「縮小」のボタン画像ＳＢ３、「登録」のボタン画像ＳＢ４、ポインタＰＴ等が表示されている。入力装置５０６のマウス等により、ポインタＰＴを動かし、ボタン画像ＳＢ１の上下左右のボタンのいずれかを選択（クリック等）すると、選択されたボタンに応じた方向に原画像の表示位置をスクロール等により移動させる（原画像とともに輪郭円Ｃ１も移動する）。また、ボタン画像ＳＢ２を選択すると、原画像及び輪郭円Ｃ１が拡大表示される。ボタン画像ＳＢ３を選択すると、原画像及び輪郭円Ｃ１が縮小表示される。作業者は、前記の操作を行いながら、目視により、輪郭円Ｃ１が障害釘２００の頭部２００ｂの輪郭と重なる位置に配置されているかを、各障害釘について確認し、輪郭円Ｃ１が正しい位置（頭部２００ｂの輪郭と重なる位置）からずれている場合、輪郭円Ｃ１をマウスによりドラッグして正しい位置に移動させる。すべての障害釘２００に関する輪郭円Ｃ１が正しい位置にある場合、作業者は、入力装置５０６のマウス等により、ポインタＰＴを動かしてボタン画像ＳＢ４を選択する。なお、作業者の操作により、輪郭円Ｃ１の大きさを変更可能なようにしてもよい。

ボタン画像ＳＢ４（登録）が選択された場合、各輪郭円Ｃ１（正しい位置に配置されている）の上端、下端、左端、右端それぞれを通る接線により囲まれた四角領域をパターンマッチングのテンプレート画像として原画像から切り出す（ステップＳ５０）。切り出された画像のうちの１つを図１６に示す。なお、当該画像の左上部分、右上部分、左下部分、右下部分（輪郭円Ｃ１の外側部分）を透明化してもよい（パターンマッチングの際の処理負担軽減のため）。また、ステップＳ５１では、原画像における各テンプレート画像の位置（輪郭円Ｃ１の中心位置（ＸＹ座標））も求めておく。当該位置は、輪郭円Ｃ１のうちで、互いに最も離れた２点を抽出する２点抽出を行い、抽出した２点の中点を、原画像におけるテンプレート画像の位置（輪郭円Ｃ１の中心位置）として取得する。尚、２点抽出に限定されず、３点抽出あるいはハフ変換などの任意の方法により、前記位置を取得してもよい。

その後、切り出したテンプレート画像を検査条件（マッチング領域、頭部２００ｂの設定位置、許容距離）などとともに、マスターデータとして、記憶装置５０５に格納する（ステップＳ５１）。

図１７にマスターデータの内容例を示す。マスターデータには、障害釘２００それぞれに付した釘番号に対応付けられて、テンプレート画像、検査条件、傾斜（方向及び角度）の各情報が格納されている。釘番号は、同じ位置の障害釘２００についてマッチング領域データベースの釘番号と同じ番号が振られるよう、各テンプレート画像の位置（頭部２００ｂの設定位置に対応）に基づきマッチング領域データベースと同様のアルゴリズムで自動で付されてもよいし（例えば、原画像において左上から右下に向けて順次番号を振っていくなど）、作業者により入力装置５０６を介して手入力されてもよい。また、上記画像処理範囲を設定する場合には、釘番号ごとに画像処理範囲を設定して、当該釘番号ごとにテンプレート画像等を格納していってもよい。検査条件は、マッチング領域、頭部２００ｂの設定位置、許容距離を含む。このうち、マッチング領域、頭部２００ｂの設定位置は、マッチング領域データベースの、同じ釘番号に対応するマッチング領域、頭部２００ｂの設定位置が割り当てられる。また、許容距離は、出荷前釘検査において検出した、検査対象の障害釘２００の頭部２００ｂの位置と、頭部２００ｂの設定位置との間の距離（正常な位置に対するズレ）として許容できる範囲の距離である。許容距離は、予め設定されているか、作業者により手入力される。なお、頭部２００ｂの設定位置は、原画像におけるテンプレート画像の位置に置き換えてもよい。傾斜（傾斜方向及び傾斜角度）は、設計データ等から取得される。

なお、ステップＳ４８等では、輪郭円Ｃ１を個々に切り替え表示していき、各輪郭円Ｃ１を正しい位置に移動させることができるようにしてもよい。また、ステップＳ４３〜Ｓ４８を省略し、原画像を表示装置５０７に表示し、すべての障害釘２００について手作業で輪郭円Ｃ１を設定してもよい。

なお、ステップＳ４３を実行せずに、ステップＳ４４を実行してもよい。この場合、ステップＳ４４では、原画像全体に対して画像処理を行い、モノクロ画像への変換を行う。その後、テンプレート画像（参照テンプレート）を用いたパターンマッチングにより、障害釘２００の頭部２００ｂにおける反射光による明度の高い領域、ここでは、図１４（Ｂ）の画像における唇形状の白色部分Ｒ１を、特徴画像として抽出する。特徴画像を抽出するために用いられる参照テンプレートは、障害釘２００の頭部２００ｂにおける適切な反射光の領域を示す基準画像として、予め用意されていればよい。特徴画像は、基本的には、すべての障害釘２００について抽出される。前記のパターンマッチングは、マッチング領域データベースで登録されたマッチング領域内にて行われてもよい。これにより、画像全体に対してパターンマッチングするよりも処理負担を軽減できる。

次に、特徴画像として抽出した白色部分Ｒ１の中心を特定する。例えば図１４（Ｃ）に示すように、白色部分Ｒ１と高さ及び幅が等しい長方形区画Ｓ１を設定し、縦方向（上下方向）と横方向（左右方向）でそれぞれ半分に分割（２分割）することで、白色部分Ｒ１における中心点を特定すればよい。尚、長方形区画Ｓ１を縦方向と横方向でそれぞれ半分に分割（２分割）することで中心点を特定するものに限定されず、例えば長方形区画Ｓ１における対角線の交点を中心点として特定するものであってもよい。

その後、ステップＳ４７のエッジ検出による円探索を行う円探索範囲を設定する（以下、ステップＳ４７以降の処理を行う）。例えば図１４（Ｄ）に示すように、図１４（Ｃ）に示した長方形区画Ｓ１を縦方向（上下方向）と横方向（左右方向）でそれぞれ２倍拡大した長方形区画Ｓ２（中心は、前記で特定した白色部分Ｒ１の中心）を指定し、該長方形区画Ｓ２を円探索範囲として設定すればよい。尚、円探索範囲は、長方形区画Ｓ１を縦方向と横方向にそれぞれ２倍拡大した長方形区画Ｓ２に限定されず、例えば前記で特定された抽出領域の中心に対し、障害釘２００の頭部２００ｂを縦方向（上下方向）と横方向（左右方向）にそれぞれ２つずつ並べた長さ（Ｓφ２×２＝８．４ｍｍ）を一辺とする正方形区画を、円探索範囲として設定してもよい。その他、前記で特定された抽出領域の中心に対し、所定距離の範囲内を円探索範囲に設定するものであればよい。

（光源について）
図１８（Ａ）〜（Ｄ）は、光源と撮影機材に応じた撮影画像とエッジ検出結果の比較例を示している。図１８（Ａ）は、通常の室内照明を光源とし、一眼カメラを撮影機材とした場合であり、図１８（Ｂ）は、蛍光灯１本を光源とし、スキャナー（ラインセンサカメラ）を撮影機材とした場合であり、図１８（Ｃ）は、蛍光灯２本を光源とし、スキャナーを撮影機材とした場合であり、図１８（Ｄ）は、ＬＥＤ照明を光源とし、スキャナーを撮影機材とした場合である。図１８（Ｃ）に示すように、蛍光灯２本の場合には、他の場合と比較して、障害釘２００の頭部２００ｂの明領域（図１４（Ｃ）に示す、白色部分Ｒ１。以下、特徴画像という。）の縦方向（上下方向）と横方向（左右方向）の対称性が高くなっており、均一な明領域を含む撮影画像が得られる。また、障害釘２００の頭部２００ｂにおけるエッジ付近が明確になり、遊技盤面２ａの色彩や模様との同化が生じにくくなる。これにより、円探索を行うときに、障害釘２００の頭部２００ｂに対応する円の検出率や検出精度を向上させることができる。尚、ＬＥＤ照明として、拡散板などを用いた蛍光灯型の照明を使用することで、図１８（Ｃ）に示すような蛍光灯２本を光源とした場合と同様の撮影画像が得られるものとしてもよい。また、導光板などを用いた面発光型のＬＥＤ照明を使用することで、図１８（Ｄ）に示した場合とは異なる均一な反射光領域を含む撮影画像が得られるものとしてもよい。ＬＥＤ照明を用いた場合には、蛍光灯を用いた場合に比べて、装置の初期製造コストが増大するのに対し、寿命による輝度低下を抑制でき安定した測定が可能になる。また寿命が長いこともあり照明の交換頻度を低減する事が出来る。さらに、ＬＥＤ照明の場合には、消費電力を抑制したりすることができる。装置の製造コストや撮影画像の品質などを勘案して、どのような光源を採用するかの選定が行われるようにすればよい。

図１８（Ｅ）は、図１８（Ｃ）に示すような蛍光灯２本の場合の特徴画像を示している。図１８（Ｅ）に示す場合の特徴画像は、２本の蛍光灯のうちで、第１蛍光灯の方向から照射される光による反射光を撮像することで得られる第１特徴画像エリアＲＡ１と、第２蛍光灯の方向から照射される光による反射光を撮像することで得られる第２特徴画像エリアＲＡ２と、を含んでいる。このように、蛍光灯２本の場合における特徴画像は、第１蛍光灯による第１特徴画像エリアＲＡ１及び第２蛍光灯による第２特徴画像エリアＲＡ２といった、反射光の組合せを含む画像を構成する。スキャナー部２１０が備える複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４のうちで、発光部材ＬＳ１、ＬＳ２は、図１８（Ｅ）に示す第１特徴画像エリアＲＡ１に対応する第１蛍光灯と等価の第１発光ユニットを構成し、発光部材ＬＳ３、ＬＳ４は、図１８（Ｅ）に示す第２特徴画像エリアＲＡ２に対応する第２蛍光灯と等価の第２発光ユニットを構成すればよい。これにより、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４から照射される光による反射光を受光することで得られる特徴画像は、第１発光ユニットによる第１特徴画像エリアＲＡ１及び第２発光ユニットによる第２特徴画像エリアＲＡ２といった、反射光の組合せを含む画像を構成する。

（出荷前釘検査）
図１９に出荷前釘検査のフローを示す。管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、予め用意されたプログラム（記憶装置５０５に記憶されている。）を実行することにより、下記の動作を行う。また、出荷前釘検査用装置２１は、管理コンピュータ５００による制御又は出荷前釘検査用装置２１への操作に基づいて下記の動作を行う。

出荷前釘検査用装置２１は、検査対象となる遊技盤２の遊技盤面２ａ（障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）をスキャン（スキャナー部２１０によるスキャン）する（ステップＳ１０１）。管理コンピュータ５００は、前記のスキャン（読み取り）により出荷前釘検査用装置２１のスキャナー部２１０から順次供給される画像データ（障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａを線状領域に分けて撮像した撮像画像の画像データ）を組み合わせ、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａが写った全体画像の画像データを生成する（ステップＳ１０２）。なお、画像データ（全体画像）には、上記マッチング領域データベース、マスターデータ、設計データ等におけるＸＹ座標と同スケールのＸＹ座標が設定されているものとする（同スケールとするため、例えば、マッチング領域設定処理の前段階から設計データの座標を補正したり、全体画像の一部（遊技盤面２ａが写っていない領域）を削除、画像を拡大、又は縮小したりしてもよい。）。

管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、マスターデータから、釘番号「１」に対応するテンプレート画像Ｐ１及びマッチング領域（Ｘ（Ｘ_１１〜Ｘ_１２）、Ｙ（Ｙ_１１〜Ｙ_１２））を読み出し、ステップＳ１０２で生成した画像データが表す全体画像における前記マッチング領域内で、前記テンプレート画像に基づくパターンマッチングを行い、釘番号「１」の障害釘２００の頭部２００ｂの位置（ＸＹ座標）を特定する。例えば、正規化相互相関によるパターンマッチングを行い、相関が最も高くなるテンプレート画像の位置（中心位置）を頭部２００ｂの位置（頭部２００ｂが形成する釘傘の外径が最大となる箇所の中心位置（胴部２００ａの先端の中心位置））として特定する（位置の特定により、頭部２００ｂが検出されたことにもなる）。管理コンピュータ５００（ＣＰＵ５０２）は、他の釘番号についても、マスターデータに含まれるテンプレート画像及びマッチング領域を用いてパターンマッチングを行い、頭部２００ｂの位置を特定する。このようにして、各釘番号（各障害釘２００）について、マスターデータに含まれるテンプレート画像及びマッチング領域を用いてパターンマッチングをすることで、各障害釘２００の頭部２００ｂの位置を検出する（ステップＳ１０３）。なお、パターンマッチングでは、テンプレート画像及び全体画像をモノクロ化してもよい。全体画像については、上記マッチング領域それぞれのみ、モノクロ化してもよい（処理時間を低減できる）（例えば、マスターデータの登録時と同様に、マッチング領域を全体画像から切り出して（座標は維持する）、モノクロ化、パターンマッチングを行ってもよい）。また、テンプレート画像については、マスターデータ登録時に、モノクロ化してもよい（マスターデータのデータ量を削減できる）。また、１つ以上のマッチング領域で、頭部２００ｂが検出されない場合（相関の最大値が所定の閾値を超えない場合など）、管理コンピュータ５００は、表示装置５０７にエラーの旨を表示するなどのエラー報知を行うようにしてもよい。

その後、前記で検出した頭部２００ｂの位置と、マスターデータに含まれる頭部２００ｂの設定位置とのずれ量を、釘番号ごとに、Ｘ座標、Ｙ座標別々に計算する（ステップＳ１０４）。Ｘ座標のずれ量は、設定位置のＸ座標値から頭部の位置のＸ座標値を減じて算出される。Ｙ座標のずれ量は、設定位置のＹ座標値から頭部の位置のＹ座標値を減じて算出される。

前記で検出した頭部２００ｂの各位置は、遊技盤２の位置ずれや回転により、各設定位置に対して全体的に所定方向にずれる場合（所定方向に偏る場合）がある。従って、各頭部２００ｂのずれ量は、頭部２００ｂの位置の偏りを含む場合がある。この実施例では、ずれ量を全体で平均化し、平均値により、前記で検出した頭部２００ｂの各位置のＸＹ座標を補正する（ステップＳ１０５）。具体的に、Ｘ座標について、ずれ量を合算し、合算した値を障害釘２００の総数で割り、得られた値（ずれ量の平均値）を、頭部２００ｂの各位置のＸ座標値から減じる補正を行う。Ｙ座標についても、ずれ量を合算し、合算した値を障害釘２００の数で割り、得られた値（ずれ量の平均値）を、頭部２００ｂの各位置のＹ座標値から減じる補正を行う。このような補正により、各頭部２００ｂの位置の全体的な偏りを無効化でき、障害釘２００の検査の精度を向上させることができる。

その後、前記で補正した頭部２００ｂの位置と、マスターデータに含まれる頭部２００ｂの設定位置とのずれ量を、釘番号ごとに、Ｘ座標、Ｙ座標別々に計算する（ステップＳ１０６）（詳細は、ステップＳ１０４と同様）。

その後、ずれ量を、遊技盤２のエリアごとに平均化し、当該エリアごとの平均値により、前記で補正した頭部２００ｂの各位置のＸＹ座標を補正（面積平均化）する（ステップＳ１０７）。この実施例では、前記のエリアとして、図２０に示すようなエリアＡからＤが設定されている。また、記憶部５０５には、図２１に示すようなエリア設定データが用意されている。エリア設定データは、各釘番号にエリアＡからＤのいずれかが割り当てられている。エリア設定データは、作業者等により予め登録される。エリア設定データはマスターデータに含まれてもよい。前記の補正は、ステップＳ１０６と同様にＸ座標及びＹ座標ごとに行う。Ｘ座標について、管理コンピュータ５００は、エリア設定データを参照し、同じエリアが割り当てられた各釘番号に対応するずれ量を合算し、合算した値を当該エリアが割り当てられた障害釘２００の数で割り、得られた値（ずれ量の平均値）を、頭部２００ｂの各位置のＸ座標値から減じる補正を行う。Ｙ座標についても同様に、管理コンピュータ５００は、エリア設定データを参照し、同じエリアが割り当てられた各釘番号に対応するずれ量（Ｙ座標）を合算し、合算した値を当該エリアが割り当てられた障害釘２００の数で割り、得られた値（ずれ量の平均値）を、頭部２００ｂの各位置のＹ座標値から減じる補正を行う。

遊技盤２は、１枚のベニヤ合板または、アクリル板等から形成されるが、役物等の設置、演出表示装置５のための開口２Ｃが広くなり障害釘２００を設ける部分が細くなってしまうなどの理由により遊技盤面２ａが歪み（組み付け反り、設置反り、たわみ）、障害釘２００のＺ軸方向における位置（スキャナー部２１０までの距離）が、遊技盤２の場所によって異なってしまうことがある（個々の遊技盤２同士でも異なることがある）。障害釘２００（特に、ラインセンサの画角の外寄りに位置する障害釘２００）のＺ軸方向における位置（撮像部２１３までの距離）が変化すると、全体画像における頭部２００ｂの位置も変化してしまう場合がある。例えば、図２２に示すように、障害釘２００が本来の位置（設計上の位置）よりも下方に長さｈだけ下がってしまっている場合、当該障害釘２００が遊技盤面２ａに対して設計通りに傾斜していたとしても、全体画像において、頭部２００ｂが本来写るべき位置よりも長さｐだけ内側に写ってしまう（ｐ＝ｔａｎθ×ｈ）。遊技盤面２ａの歪みによる障害釘２００の位置（スキャナー部２１０までの距離）の変化は、遊技盤面２ａの一部の領域ごとに発生することが考えられる。従って、一部の領域内の各障害釘２００の各頭部２００ｂの位置は、各頭部２００ｂの設定位置に対して全体的に所定方向にずれる場合がある（所定方向に偏る場合がある）。この実施例では、このような点に鑑みて、上記のように、エリアごとにずれ量（前記偏りを含む場合がある）を平均化し、平均化した平均値により、エリアごとに頭部２００ｂの位置を補正するので、前記の歪みより頭部２００ｂの設定位置に対する偏りを無効化でき、釘の検査の精度を向上させることができる。例えば、通常、あるエリアの障害釘２００の頭部２００ｂのずれ量は、正常な障害釘２００が多いため、０付近に集中するはずである。しかし、あるエリアの障害釘２００のＺ軸方向における位置（撮像部２１３までの距離）が、遊技盤面２ａの歪み等により、本来（歪み無しの設計データ）とは異なってしまっている場合、図２３（Ａ）のように、ずれ量が全体的に多めになってしまう。上記補正（面積平均化）により、前記歪等による位置ずれ（頭部２００ｄの位置の偏り）を無効化できるので、図２３（Ｂ）に示すように、ずれ量を全体的に減少させることができる。このため、釘の状態の検査の精度がよくなる。本実施例のような完成後の遊技盤２は、上記のように所定の部品が取り付けられたことなどによって歪み等が生じやすい。このような場合について、前記の面積平均化を実行することで、釘の状態の検査の精度がよくなる。

ステップＳ１０７で補正した後の頭部２００ｂの位置と、マスターデータに含まれ頭部２００ｂの設定位置との距離を、釘番号（障害釘２００）ごとに計算する（ステップＳ１０８）。その後、各釘番号ごとに、計算した距離と、マスターデータに含まれる許容距離と、を比較し、比較結果を釘番号ごとに記憶部５０５に格納する（ステップＳ１０９）。計算した距離が、許容距離以下であれば、その障害釘２００の傾斜は許容範囲内である、つまり正常であるので、当該障害釘２００の釘番号に対応付けて比較結果「ＯＫ」を記憶部５０５に格納する。計算した距離が、許容距離よりも長ければで、その障害釘２００の傾斜は許容できない、つまり異常であるので、当該障害釘２００の釘番号に対応付けて比較結果「ＮＧ」を記憶部５０５に格納する。こうして格納された比較結果の例を図２４に示す。なお、比較結果をマスターデータに含ませてもよい。

その後、比較結果に「ＮＧ」が含まれるかを判定し（ステップＳ１１０）、「ＮＧ」が含まれない場合（ステップＳ１１０；Ｎｏ）、その遊技盤２は、正常なので、管理コンピュータ５００は、その遊技盤２について、出荷用設定（ステップＳ１１１）を行う（例えば、出荷していい旨を表示する、障害釘２００の傾斜が正常なので釘間測定書を出力する等）。「ＮＧ」が含まれる場合（ステップＳ１１０；Ｙｅｓ）、管理コンピュータ５００は、その遊技盤２について、再整備用設定（ステップＳ１１２）を行う（例えば、再整備が必要な旨を表示する、ＮＧの釘（傾斜（傾斜方向及び又は傾斜角度）が許容範囲内にない釘）に対して第１整備（ＮＧの釘が一般釘の場合）や第２整備（ＮＧの釘が指定釘の場合）を行うよう指示する等）。このとき、管理コンピュータ５００は、ＮＧの釘番号ないし釘穴位置等を表示するようにしてもよい。

（本実施例による主な効果等）
本実施例では、障害釘２００の頭部２００ｂを検出する際にパターンマッチングを用いるが、１つの頭部２００ｂに対して当該パターンマッチング（障害釘２００の検査）を行う領域をマッチング領域に限定しているため、各頭部２００ｂの検出速度が速く、処理負担が軽減されている。従って、各障害釘２００の検査時間が短い。マッチング領域を、頭部２００ｂが形成する釘傘の最大外径の２倍の長さを有する正方形領域程度の大きさにすることで、マッチング領域の合計面積を、出荷前釘検査で得られる全体画像の面積よりも格段に小さくすることができ、その結果、全体画像の全体に対してパターンマッチングを行うよりも、頭部２００ｂの検出時間や障害釘２００の検査時間を飛躍的に短くできる（結果的にパチンコ遊技機１の製造時間も短くなる）。例えば、全体画像（遊技盤２が写っていない余白領域を含む）のサイズを、４９０×５７０ｍｍとし、画像解像度を４００ＤＰＩとし、１Ｐｉｘｅｌ＝０．０６３５ｍｍとすると、全体画像のサイズ（画素数）は、７７１６×８９７６＝約６９２５８８１６Ｐｉｘｅｌとなる。また、マッチング領域のサイズとして、一辺が概ね８．４ｍｍ（頭部２００ｂの直径４．２ｍｍの２倍）となる１２９×１２９Ｐｉｘｅｌを採用し、検査対象の障害釘２００を４００本と仮定すると、マッチング領域の合計サイズ（画素数）は、１２９×１２９×４００＝約６６５６４００Ｐｉｘｅｌとなる。そうすると、全体画像のサイズ（画素数）に対する、マッチング領域の合計サイズが占める割合は、６６５６４００÷６９２５８８１６×１００＝約９．６％となり、パターンマッチングを行う対象の画素数は、全体画像全体に対して行う場合に比べ飛躍的に減る。上記全体画像のサイズ及びマッチング領域のサイズについて、本発明者が実際に試行してみたところ、全体画像の全体に対してパターンマッチングを行い、各障害釘２００の頭部２００ｂの検出を行わせた場合、処理時間に１時間以上要したが、マッチング領域の使用により、処理時間は１秒以内に短縮した。このように、処理時間が劇的に減った。

また、上記パターンマッチング以外においても、全体画像の全体ではなく一部の領域に対して画像処理を行うこと（ステップＳ４３で設定した画像処理範囲に対してステップＳ４４やＳ４７の処理を行うこと、ステップＳ１０３で全体画像をモノクロ化する代わりにマッチング領域のみをモノクロ化する処理を行うこと）によっても、各処理の処理時間の削減が実現されている。

パターンマッチングの対象を全体画像の全体ではなく、マッチング領域等に限定することにより、例えば、意図しない領域において釘頭２００ｂを検出してしまうなどの、釘頭２００ｂの誤検出等も防止することができる。当該誤検出としては、例えば、遊技盤２に用いられているビス等の固定部材や、遊技盤面２ａに施されている意匠等を釘頭２００ｂとして検出してしまうことが挙げられる。

以上のように、パターンマッチング、及び、その他の画像処理の対象を、全体画像の一部の領域に限定することにより、出荷前検査工程における検査時間（さらには、マスターデータの登録処理に掛かる時間）を大幅に短縮でき、かつ、検査精度も高めることができ、遊技機の生産性を向上させることができる。

マッチング領域は、遊技盤２の設計データという、公知のデータから設定されるので、マッチング領域の設定が容易となっている。

マッチング領域は、１つの障害釘２００の頭部２００ａ全部を含むが、他の障害釘２００の頭部２００ａ全部を含まない範囲である（例えば、図１２参照）、ようにすることで、他の障害釘２００の頭部２００ａを誤検出することもなく、障害釘２００を精度よく検査できる。

また、ステップＳ１０３のパターンマッチングで頭部２００ｂを検出できない場合、そのパチンコ遊技機１は、必要な障害釘２００が足りないか、障害釘２００が大きく曲がっている可能性がある。この実施例では、頭部２００ｂを検出できない場合に、エラー報知を行うので、適切に異常を報知できる。

ここで、各障害釘２００の頭部２００ｂそれぞれを撮像しようとすると、各障害釘２００は傾いており、また、場所も異なるので、微妙に異なる写り方で撮像される（この実施例では、完成したパチンコ遊技機１を撮影して釘検査を行うので、障害釘２００の周囲も、前記の写り方に影響する）。このため、従来のように、共通のテンプレート画像によるパターンマッチングで各頭部２００ｂを検出しようとすると、誤検出が発生しやすい。本実施例では、パターンマッチングに使用するテンプレート画像を各障害釘２００すべてについて用意し、かつ、テンプレート画像を、マスター盤（不良品ではない良品のパチンコ遊技機１）を釘検査時と同条件で撮像して得た画像としている。これにより、障害釘２００の頭部２００ｂの検出の精度（障害釘の検査精度）が向上している。

本実施例によれば、出荷前釘検査用装置２１のスキャナー部２１０の光源となる複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４により、複数の方向から障害釘２００の頭部２００ｂに対して光を照射することで、均一で明確な反射光領域を有する特徴画像の抽出等が実現され、好適な照明が実現されている。

本実施例によれば、各頭部２００ｂの設定位置に対するずれ量をエリアごとに平均し、平均値で各頭部２００ｂの位置を補正しているので（面積平均化）、遊技盤面２ａの歪み等のよる頭部２００ｂの位置の偏りを無効化でき、釘の状態の検査（傾斜が適当であるかの検査）の精度がよくなっている。このような補正は、上記のように、撮像部２１３が、離れた位置から遊技盤面２ａを撮像する場合に有効である（このような場合に、遊技盤面２ａの歪み等により、頭部２００ｄの位置ずれが生じるため）。なお、エリアごとの補正を、複数回繰り返してもよい。この場合、１回目の補正と２回目の補正とでエリアを同じにしてもよいし、異なるエリアとしてもよい。異なるエリアとする場合、遊技盤面２ａの歪み等による頭部２００ｂの位置の偏りをより無効化できる。

上記面積平均化は、遊技盤２（盤面板２Ａ）が合成樹脂製の場合に特に有効である。このような場合、温度変化により、遊技盤２（盤面板２Ａ）が膨張又は収縮することがある。例えば、遊技盤２のサイズが横４６０ｍｍ×縦５００ｍｍとした場合、温度変化により、全体で最大で１ｍｍ程度のズレが生じる。例えば、各頭部２００ｂのうち左端の障害釘２００の位置を上記マスターデータにおける当該障害釘の位置に合わせても、検査時の温度によっては、右端の障害釘２００の位置が上記マスターデータにおける当該障害釘の位置と最大１ｍｍ程度ズレる場合がある。このようなズレの補正についても、上記面積平均化が有効である。

なお、面積平均化するエリアについて、全体画像に写った遊技盤面２ａにおける横方向における全領域を含むエリア（図２５（Ａ）のように、遊技盤２ａを横断するエリアＥ１〜Ｅ５）を設定したり、当該遊技盤面２ａにおける縦方向における全領域を含むエリア（図２５（Ｂ）のように、遊技盤２ａを縦断するエリアＥ１１〜Ｅ１５）を設定したりしてもよいが、これらよりも、図２０に示すように、全体画像に写った遊技盤面２ａの縦方向（Ｙ方向）における一部かつ横方向（Ｘ方向）における一部からなるエリア（エリアＡ〜Ｄ）を設定することが望ましい（例えば、上記温度変化による遊技盤２（盤面板２Ａ）の膨張又は収縮が、所定方向に沿って生じる場合があるためである）。当該エリアは、ある程度小さい方が好ましく、全体画像に写った遊技盤面２ａの縦方向の同じ位置において複数のエリア（例えば、横方向に複数のエリアを並べるなど）を設定し、かつ、当該遊技盤面２ａの横方向の同じ位置において複数のエリア（例えば、縦方向に複数のエリアを並べるなど）を設定するとよい。

本実施例によれば、各頭部２００ｂの設定位置に対するずれ量を全体的に平均し、平均値で各頭部２００ｂの位置を補正しているので、パチンコ遊技機１の位置ずれ等による頭部２００ｂの位置の偏りを無効化でき、釘の状態の検査（傾斜が適当であるかの検査）の精度がよくなっている。

本実施例のように、マッチング領域のみ等の画像の一部の領域でパターンマッチングを行ったり、面積平均化による補正等を行ったりすることは、特に、完成後の遊技盤（工場出荷直前の遊技盤、工場から出荷できる状態の遊技盤、工場出荷後の遊技盤など）、完成前の、ガイドレール２ｂ、風車６１、センター飾り枠５１、各種入賞装置、役物等の他の遊技部材（完成後の遊技盤を構成する部材の少なくとも一部）が組み付けられた状態の遊技盤などについて釘検査を行う場合に特に有効である。マッチング領域を用いることで、上記のようにビスや他の遊技部材、装飾意匠等を障害釘２００（特に、頭部２００ｂ）として誤検出してしまうことを回避できる。さらに、面積平均化による補正は、遊技盤２（遊技盤面２ａ）の歪み（盤面（ベニヤ板、アクリル板）そのものの歪みや、前記の遊技部材の組み付けによって生じる歪みなど）等による釘検査への悪影響（特に、障害釘２００（頭部２００ｂ）の位置を誤って検出してしまうなど）を軽減でき、釘検査の精度を上げることができる。

（変形例）
以上、本発明の実施例を図面により説明してきたが、具体的な構成はこれら実施例に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲における変更や追加があっても本発明に含まれる。特に、前記実施例として示した全ての技術的特徴を備えるものでなくてもよく、上記実施例として示した技術的特徴の一部はどのようなものであっても削除できる。具体的に、上記課題を解決するための構成も削除できる。この場合、当該構成の削除により別発明が成立しうる。下記の変形例の少なくとも一部同士を組み合わせてもよい。

（変形例１）
上記出荷前釘検査における障害釘２００の検査の手法を、ステップＳ４、Ｓ５、Ｓ７、Ｓ９の検査に適用してもよい。なお、遊技盤面２ａの歪みは、役物等の取り付け後に発生することが多いので、上記エリアごとの補正（ステップＳ１０７）は、出荷前釘検査等（役物等の他の部品を遊技盤２に取り付けたあと）において特に有効となる。

（変形例２）
前記の実施例では、新規に製造される遊技盤２を対象にしているが、本発明はこれに限定されるものではなく、中古（未使用のものを含む）のパチンコ遊技機１や遊技盤２を対象としてもよい（特に、出荷前釘検査と同様の方法で釘を検査できる）。また、例えば、中古で同型のパチンコ遊技機１が複数台ある場合、そのうちの良好なもの（１台又は複数台のパチンコ遊技機１）をマスターとして、マスターデータの登録等を行ってもよい（頭部２００ｂの設定位置は、マスターデータ登録時のテンプレート画像の位置を採用し、マッチング領域は、当該テンプレート画像の位置を中心に設定する）。また、スキャナー部２１０によるスキャンを実行し、障害釘２００の釘の頭部２００ｂの位置を検出して（画像処理により検出してもよいし、手動で検出してもよい）、上記設計データと同フォーマットの障害釘２０に関するデータを生成し、マッチング領域等を設定してもよい（このとき、複数台をスキャンして、頭部２００ｂの位置は、その平均としてもよい）。

（変形例３）
ステップＳ１０５、Ｓ１０７で、ずれ量の平均値をとる場合、加算対象のずれ量のうち、最大値、第１閾値よりも大きな値、最小値、第２閾値よりも小さな値等を加算対象から除外してもよい。最大値や第１閾値よりも大きな値は、補正を行っても、傾斜が異常の障害釘である可能性が高いので、頭部２００ｂの位置を補正する必要がない。また、最小値、第２閾値よりも小さな値は、補正を行わなくても、傾斜は正常である可能性が高いので、頭部２００ｂの位置を補正する必要がない。また、エリアＡからＤのうちの少なくとも２つのエリア同士の一部は重複してもよい。当該重複した領域に位置する障害釘２００は、各エリアに関する補正の対象としてもよいし、補正量（ずれ量の平均値）の大きい方による補正の対象としてもよい（当該障害釘２００のずれ量は、各エリアのずれ量の平均値の計算に使用してよい）。

（変形例４）
マッチング領域の大きさは、障害釘の場所、障害釘の種類（一般釘であるか、指定釘であるかなど）等に応じて異ならせてもよい（これにより、頭部２００ｂの位置を検出するための適切な大きさのマッチング領域を設定できる）。また、マッチング領域の大きさも、頭部２００ｂが形成する釘傘の最大外径の３倍等でもよい。ただし、他の障害釘２００の頭部２００ｂがすべて入ってしまうような大きさにマッチング領域を設定すると、頭部２００ｂの誤検出（位置の誤検出を含む）が生じるおそれがある。マッチング領域は、障害釘の傾斜として想定される最大の傾斜で傾斜したときの障害釘の頭部２００ｂを含む範囲としてもよい（これによっても処理時間等を削減できる）。

（変形例５）
マスターデータに含まれる許容距離は、障害釘２００の種類（指定釘であるか一般釘であるかなど）や位置によらず、一定であってもよいし、障害釘２００の種類や位置などに応じて異ならせてもよい。特に、第１始動入賞口に向けて遊技球を誘導する指定釘２０４等の各種入賞口に対応付けて設けられ、遊技の進行（各種入賞）を含む遊技機の性能に大きく影響する指定釘（ペア釘を含む）については、その傾斜（傾斜角度及び傾斜方向）及び／又は釘間距離（指定釘同士の距離。ペア釘の場合は、当該ペア釘を構成する指定釘間の距離）が特に重要である。このため、指定釘についての上記許容距離は、他の釘（一般釘等）よりも短くするとよい。許容距離を複数段階設け、ステップＳ１０８で計算した距離と、許容距離との比較（ステップＳ１０９）において、計算した距離が第１の許容距離以下であれば、比較結果（検査結果）をＯＫとし、計算した距離が第１の許容距離よりも長く第２の許容距離以下であれば、当該障害釘２００の再整備とし、計算した距離が第２の許容距離よりも長ければ、当該パチンコ遊技機１を不良品としてもよい。

（変形例６）
ペア釘の間の距離を計算してもよい。例えば、釘番号により、ペア釘を特定可能としておき（マスターデータの「傾斜」からも特定できる）、ステップＳ１０８などにおいて、ペア釘の各位置（例えば、ステップＳ１０７で補正された後の頭部２００ｂの位置）の座標から当該ペア釘を構成する２つの障害釘２００間の釘間距離を計算してもよい。なお、釘間距離は、例えば、頭部２００ｂが形成する釘傘の外径が最大となる箇所の中心位置（胴部２００ａの先端の中心位置）間の距離である。さらに、一般的に、パチンコ遊技機１において遊技盤面２ａから障害釘２００の先端部（頭部２００ｂの頂点）までの距離は約１７．８ｍｍであり、釘の形状は規格化されて予め定められた形状の釘が遊技盤面２ａに用いられる（つまり、釘の形状等から、頭部２００ｂの位置（胴部２００ａの先端側の中心位置）等、釘の特定箇所の位置は決まってくる）。これにより、画像における座標から三角関数を用いて、ペア釘を構成する各指定釘の傘下位置（例えば、盤面から１４．３ｍｍ）における釘間距離（例えば、胴部２００ａの中心軸間の距離、又は、胴部２００ａの直径等を考慮して計算される胴部２００ａ間の距離（中心軸間ではなく、外周面間の距離）等、距離について同じ）、ゲージ棒位置（盤面から５．５ｍｍ（遊技球の半径に相当する位置））における釘間距離、又は、盤面からの任意の高さ位置における釘間距離を算出して特定することができる。この特定した釘間距離（間隔寸法）を後述の変形例８の遊技盤固有情報に対応付けて登録することができる。また、ステップＳ１０８にて計算した距離に基づいて、三角関数等を使用することにより、障害釘２００の傾斜（傾斜角度及び傾斜方向）を計算してもよい。前記のようにして、釘間距離や傾斜を求めることは、検出（測定）した障害釘２００の位置（頭部２００ｂの位置）に基づいて行われるものであり、釘間距離や傾斜（傾斜角度及び傾斜方向）の測定に当たる。つまり、出荷前釘検査用装置２１及び管理コンピュータ５００（管理コンピュータ５００の処理を実行可能な出荷前釘検査用装置２１としてもよい）は、管理コンピュータ５００の処理を行う出荷前釘検査用装置２１は、釘間距離や傾斜の測定装置として機能してもよい。

（変形７）
上記距離の計算等の、計算（又は算出）の代わりに、テーブル等を参照して、前記距離や傾斜を取得してもよい。当該テーブル等の参照も、計算（又は算出）という（テーブル作成時に値を計算していたり、テーブルの参照時に所定の計算が行われていたりするため）。なお、計算、算出、テーブルの参照等を総称して、「取得」と捉えてもよい。

（変形例８）
図２７は、原画像（全体画像）を示す画像データに遊技盤固有情報を付加する変形例を示している。図２７（Ａ）に示す原画像ＧＧ１を示す画像データが生成された場合に、管理コンピュータ５００は、原画像ＧＧ１に対応する遊技盤２のシリアル番号や出荷前釘測定の日付等の情報（データ）を、図２７（Ｂ）に示す遊技盤固有情報ＢＤ１として取得する（例えば、遊技盤２に貼付されたシール１５の二次元コード１５ａを読み取って取得する）。遊技盤固有情報ＢＤ１は、二次元コードやテキストデータを画像データとして生成あるいは変換したものであればよい。原画像ＧＧ１を示す画像データに、遊技盤固有情報ＢＤ１を付加することにより、図２７（Ｃ）に示すような保存用画像ＧＧ２を示す画像データが作成される。保存用画像ＧＧ２では、原画像ＧＧ１の右下における余白部分（遊技盤面２ａの範囲外）に、遊技盤固有情報ＢＤ１が付加されている。このように、原画像ＧＧ１を示す画像データそのものに、原画像ＧＧ１とは異なる画像データとして作成された遊技盤固有情報ＢＤ１を付加することにより、保存用画像ＧＧ２を示す画像データを生成し、管理コンピュータ５００の記憶装置５０５、あるいは記憶装置５０５とは異なるデータベースに、格納することで保存されてもよい。これにより、大量の画像データが生成された場合でも、容易に管理可能として、遊技盤２に対応する画像データを取得しやすくなる。なお、保存用画像ＧＧ２を示す画像データに対応付けて、出荷前釘検査の検査結果、変形例６のペア釘間の距離や障害釘２００の傾き等の情報を付加してもよい。保存用画像ＧＧ２やこれら情報は、釘間測定書の情報に含ませてもよい。保存用画像ＧＧ２を保存しておくことで、遊技盤２を出荷したあとに、当該遊技盤２の出荷時の釘の状態を事後的に確認できる（釘に対する不正があった場合に、その不正が出荷後に行われたのか、そうでないのかが分かる）。

尚、遊技盤固有情報ＢＤ１を付加することに代えて、あるいは遊技盤固有情報ＢＤ１を付加することに加えて、原画像ＧＧ１の余白部分における画像データを用いて、遊技盤固有情報ＢＤ１と同様の情報を埋め込むようにしてもよい。例えば、遊技盤面２ａのサイズが一辺を５５０ｍｍとする正方形であり、１画素が３１μｍの距離に相当する場合、遊技盤面２ａの全体を撮影した画像データにおける横１列に対応するピクセルサイズは、５５００００μｍ／３１μｍ＝１７７４１ドットとなる。１画素を構成する赤、緑、青の画像データのうちで赤色の色データを用いて、画像データにおける余白部分の横１列に遊技盤固有情報ＢＤ１と同様の情報を埋め込む場合には、アスキーコードで１７７４１文字を埋め込むことができる。

（変形例９）
ステップＳ１０６〜Ｓ１０７に関連し、複数のエリアのうち、一部のエリアのみ、頭部２００ｂの位置を補正し（ステップＳ１０６〜Ｓ１０７）、他のエリアについては補正を行わなくてもよい。

（変形例１０）
上記実施例では、パチンコ遊技機１の１個体ごとに、エリアごとのずれ量の平均値を計算しているが、パチンコ遊技機１の機種ごとに、エリアごとのずれ量の平均値を計算してもよい。この場合、例えば、１番目のパチンコ遊技機１の出荷前釘検査のステップＳ１０７で計算した、ずれ量の平均値を記憶しておき、２番目以降のパチンコ遊技機１の出荷前釘検査のステップＳ１０７では、前記で記憶した平均値により頭部２００ｂの位置を補正するとよい。

（変形例１１）
管理コンピュータ５００が行う処理の少なくとも一部を出荷前釘検査用装置２１が実行するようにしてもよい。特に、出荷前釘検査に係る処理を出荷前釘検査用装置２１がすべて行うようにしてもよい（この場合、出荷前釘検査用装置２１は、釘検査装置になる）。

（変形例１２）
また、前記実施例では、遊技機の一例としてパチンコ遊技機１を例示しているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例えば、予め定められた球数の遊技球が遊技機内部に循環可能に内封され、遊技者による貸出要求に応じて貸し出された貸出球や、入賞に応じて付与された賞球数が加算される一方、遊技に使用された遊技球数が減算されて記憶される、所謂、封入式遊技機にも本発明を適用可能である。

（変形例１３）
また、前記実施例では、遊技媒体の一例として、球状の遊技球（パチンコ球）が適用されていたが、球状の遊技媒体に限定されるものではなく、例えば、メダル等の非球状の遊技媒体であってもよい。

（変形例１４）
図２６は、遊技盤面２ａが垂直になる状態で、遊技盤２を保持して固定した場合に、スキャン方向を垂直方向とした変形例を示している。この変形例において、搬送装置１３Ｈは、遊技盤面２ａが垂直になる状態で、矢印Ｂ１１で示される方向に搬送する。出荷前釘検査用装置２１は、搬送装置１３Ｈにより遊技盤２が通過する搬送経路の所定位置に設置され、この位置に遊技盤２が搬送されると、搬送装置１３Ｈを停止させ、昇降クランプ２５０または上止めクランプ２６０の設置位置を変更した構成において、パチンコ遊技機１を押さえることにより、遊技盤２を保持して固定できればよい。当該出荷前釘検査用装置２１では、スキャナー部２１０を矢印Ａ１１で示されるスキャン方向に移動させる搬送制御が行われるようにすればよい。このように、スキャナー部２１０を垂直方向に移動させる搬送制御を行い、パチンコ遊技機１の通常設置時における上側から下側へと向かう方向に、遊技盤面２ａの撮影が行われるようにすればよい。尚、パチンコ遊技機１の通常設置時における下側から上側へと向かう方向に、遊技盤面２ａの撮影が行われるようにしてもよい。搬送装置１３Ｈの所定位置には、判定用ランプ２１Ａが設けられてもよい。判定用ランプ２１Ａは、出荷前釘検査用装置２１により障害釘２００の傾きを測定した結果にもとづいて、出荷前釘検査処理の釘の検査結果（ステップＳ１０９の比較結果）を、認識可能に報知するものであればよい。

（変形例１５）
また、上記実施例では、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４を複数の直管状光源であるものとしていたが、本発明はこれに限定されず、例えば、平面光源、ライン型光源であってもよい。

（変形例１６）
上記で説明した遊技機又は遊技盤の製造方法は、図６の釘打ち（ステップＳ３）等の遊技機を形成するための行程（ステップＳ１、Ｓ１０、Ｓ１１等を含んでもよい。）及び出荷前釘検査（ステップＳ１２）があればよく、第１整備（ステップＳ５）、第１検査（ステップＳ６）、第２整備（ステップＳ７）、第２検査（ステップＳ８）等の行程は、適宜省略してもよい。

（本明細書が開示する構成）
上記実施例や変形例から把握できる構成を以下に列挙する。

（構成その１）
特開２００９−１１６０６号公報には、遊技盤面に設けられた釘の状態を検査するために、ライン状に照明光を照射して撮像し、各釘の撮像頭部位置データに含まれる変位成分や距離成分を用いて、釘の状態の良否を判別することが提案されている。当該技術では、画像処理により釘の状態を検査するが、画像処理の対象が遊技盤面全面となっているため、釘の状態の検査時間が長いという問題がある。

（１）前記問題を解決するため、遊技機用検査装置は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する遊技機用検査装置（例えば、管理コンピュータ５００及び出荷前釘検査用装置２１）であって、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報（例えば、画像データ）を取得する取得手段（例えば、ステップＳ１０２を実行する管理コンピュータ５００）と、
前記取得手段により取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報（例えば、設計データ）に基づいて予め設定された対象範囲（例えば、マッチング領域）内にて釘の状態を検査する検査手段（例えば、ステップＳ１０３〜Ｓ１０９を実行する管理コンピュータ５００）と、
を備える。

上記構成によれば、検査時間を短くすることができる。

（２）遊技機用検査方法は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する遊技機用検査方法であって、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報（例えば、画像データ）を取得する取得ステップ（例えば、ステップＳ１０２）と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報（例えば、設計データ）に基づいて予め設定された対象範囲（例えば、マッチング領域）内にて釘の状態を検査する検査ステップ（例えば、ステップＳ１０３〜Ｓ１０９）と、
を備える。

上記構成によれば、検査時間を短くすることができる。

（３）遊技機製造方法は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する工程を有する遊技機製造方法であって、
前記工程は、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ（例えば、ステップＳ１０２）と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報が表す前記遊技盤面のうち、釘位置情報（例えば、設計データ）に基づいて予め設定された対象範囲（例えば、マッチング領域）内にて釘の状態を検査する検査ステップ（例えば、ステップＳ１０３〜Ｓ１０９）と、
を備える。

上記構成によれば、検査時間及び遊技機の製造時間を短くすることができる。

（４）前記釘位置情報は、釘を前記遊技盤面に打設するときの釘穴位置を特定可能な釘穴位置情報（例えば、設計データ）であり、
前記釘穴位置情報により特定される釘穴位置に基づいて前記対象範囲を設定する設定手段（又は設定ステップ）（例えば、図１０の処理を行う管理コンピュータ５００）をさらに備える
ようにしてもよい。

上記構成によれば、従来から用いられているデータを用いて容易に対象範囲を設定できる。

（５）前記遊技盤面は、複数の釘を有し、
前記対象範囲は、１つの釘の頭全部を含むが、他の釘の頭全部を含まない範囲である（例えば、図１２参照）、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、適切な対象範囲を設定できる。

（６）複数の方向から釘の頭部に対して光を照射可能に配置された光源（例えば、複数の発光部材ＬＳ１〜ＬＳ４）をさらに備え、
前記検査手段（又は検査ステップ）は、各方向から照射される光による反射光の組合せを含む読取情報（例えば、図１８（Ｃ）、（Ｅ）参照）を用いて釘の状態を検査する、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（７）前記検査手段（又は検査ステップ）は、前記対象範囲内にて釘を検出し（例えば、ステップＳ１０３）、検出した釘の位置に基づいて当該釘の状態を検査し、
前記検査手段（又は検査ステップ）が前記対象範囲内にて釘を検出できなかったときに異常を報知する報知手段（又は報知ステップ）をさらに備える（例えば、ステップＳ１０３でのエラー報知）、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、異常を適切に報知できる。

（８）前記検査手段（又は検査ステップ）は、前記対象範囲内にてパターンマッチングを実行することで釘を検出し（例えば、ステップＳ１０３）、
前記パターンマッチングで使用されるテンプレート画像を、予め用意されたマスター（例えば、マスター盤のパチンコ遊技機１）の遊技盤面を読み取った読取情報から取得する取得手段（又は取得ステップ）（例えば、マスターデータ登録処理）をさらに備える、
ようにしてもよい。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（構成その２）
特開２００９−１１６０６号公報には、遊技盤面に設けられた釘の状態を検査するために、ライン状に照明光を照射して撮像し、各釘の撮像頭部位置データに含まれる変位成分や距離成分を用いて、釘の状態の良否を判別することが提案されている。当該技術では、画像処理により釘の状態を検査するが、遊技盤面の歪み等が考慮されておらず、釘の状態の検査の精度が良くない場合がある。

（１）前記問題を解決するため、遊技機用検査装置は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する遊技機用検査装置（例えば、管理コンピュータ５００及び出荷前釘検査用装置２１）であって、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得手段（例えば、ステップＳ１０２を実行する管理コンピュータ５００）と、
前記取得手段により取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置（例えば、障害釘２００の頭部２００ｂの位置）を検出する検出手段（例えば、ステップＳ１０３を実行する管理コンピュータ５００）と、
前記検出手段が検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置（例えば、頭部２００ｂの設定位置）との比較により釘の状態を検査する検査手段（例えば、ステップＳ１０９を実行する管理コンピュータ５００）と、を備え、
前記検査手段は、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域（例えば、エリアＡ〜Ｄ）のうちの特定の領域内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り（例えば、ずれ量）を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する（例えば、ステップＳ１０６〜Ｓ１０７）。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（２）遊技機用検査方法は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する遊技機用検査方法であって、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ（例えば、ステップＳ１０２）と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置（例えば、障害釘２００の頭部２００ｂの位置）を検出する検出ステップ（例えば、ステップＳ１０３）と、
前記検出ステップが検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置（例えば、頭部２００ｂの設定位置）との比較により釘の状態を検査する検査ステップ（例えば、ステップＳ１０９）と、を備え、
前記検査ステップでは、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域（例えば、エリアＡ〜Ｄ）内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り（例えば、ずれ量）を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する（例えば、ステップＳ１０６〜Ｓ１０７）。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

（３）遊技機製造方法は、
遊技盤面（例えば、遊技盤面２ａ）に設けられた釘（例えば、障害釘２００）の状態を検査する工程を有する遊技機製造方法であって、
前記工程は、
前記遊技盤面（例えば、障害釘２００が設けられた遊技盤面２ａ）を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップ（例えば、ステップＳ１０２）と、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置（例えば、障害釘２００の頭部２００ｂの位置）を検出する検出ステップ（例えば、ステップＳ１０３）と、
前記検出ステップが検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置（例えば、頭部２００ｂの設定位置）との比較により釘の状態を検査する検査ステップ（例えば、ステップＳ１０９）と、を備え、
前記検査ステップでは、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域（例えば、エリアＡ〜Ｄ）内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏り（例えば、ずれ量）を特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する（例えば、ステップＳ１０６〜Ｓ１０７）。

上記構成によれば、釘の状態の検査の精度が向上する。

２遊技盤
２ａ遊技盤面
２１出荷前釘検査用装置
２００障害釘
２００ａ胴部
２００ｂ頭部
２１０スキャナー部
５００管理コンピュータ
５０２ＣＰＵ
５０５記憶装置
ＬＳ１〜ＬＳ４発光部材

Claims

遊技盤面に設けられた釘の状態を検査する遊技機用検査装置であって、
前記遊技盤面を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得手段と、
前記取得手段により取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置を検出する検出手段と、
前記検出手段が検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置との比較により釘の状態を検査する検査手段と、を備え、
前記検査手段は、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏りを特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する、
遊技機用検査装置。
遊技盤面に設けられた釘の状態を検査する遊技機用検査方法であって、
前記遊技盤面を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップと、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置を検出する検出ステップと、
前記検出ステップが検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置との比較により釘の状態を検査する検査ステップと、を備え、
前記検査ステップでは、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏りを特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する、
遊技機用検査方法。
遊技盤面に設けられた釘の状態を検査する工程を有する遊技機製造方法であって、
前記工程は、
前記遊技盤面を読み取り、読み取った前記遊技盤面を表す読取情報を取得する取得ステップと、
前記取得ステップにより取得された前記読取情報に基づいて前記釘の位置を検出する検出ステップと、
前記検出ステップが検出した前記釘の位置と当該釘の基準位置との比較により釘の状態を検査する検査ステップと、を備え、
前記検査ステップでは、前記遊技盤面に割り当てられた複数の領域のうちの特定の領域内の複数の釘のそれぞれについての前記釘の位置の前記基準位置に対する偏りを特定し、前記特定の領域内の偏りの平均値に基づいて前記複数の釘それぞれの位置と前記基準位置それぞれとの位置関係を補正する、
遊技機製造方法。