JP2019081336A

JP2019081336A - 外観不良判定装置、フィルム状物の製造装置、及び樹脂フィルムの製造方法

Info

Publication number: JP2019081336A
Application number: JP2017211173A
Authority: JP
Inventors: 祐太川原▲崎▼; Yuta Kawarazaki
Original assignee: Kaneka Corp
Current assignee: Kaneka Corp
Priority date: 2017-10-31
Filing date: 2017-10-31
Publication date: 2019-05-30

Abstract

【課題】本発明は外観不良誘因部を精度よく検知できる外観不良判定装置、フィルム状物の製造装置、及び樹脂フィルムの製造方法を提供する。
【解決手段】測定手段及び成形装置と接続され、外観不良誘因部を判定する外観不良判定動作を実行可能な制御手段を有し、外観不良判定動作は、走査方向の各測定点でのフィルム状物の厚みと走査方向の厚みの平均値から各測定点の偏差を経時変化ごとに求める偏差算出工程と、幅方向の同一測定点の経時変化での偏差の平均値を偏差閾値と比較する偏差比較工程と、偏差の平均値が偏差閾値を超えた値をとる測定点を外観不良誘因部と判定する判定工程を有し、走査方向のフィルム状物の厚みの平均値は、判定対象の測定点を中心とする走査方向の所定の範囲に属する測定点の平均値であり、所定の範囲は、フィルム状物の幅よりも狭く、隣接する調整部材の間隔の３倍超過６倍未満である構成とする。
【選択図】図７

Description

本発明は、フィルム状物をロール状に巻き取られる際に巻こぶ等の外観不良を誘因する外観不良誘因部を防止する外観不良判定装置、フィルム状物の製造装置に関する。また、本発明は、当該フィルム状物の製造装置を使用した樹脂フィルムの製造方法に関する。

Ｔダイ法で樹脂フィルムを成形する場合、原料又は材料となる樹脂がＴダイ金型から押し出され、Ｔダイ金型から押し出された樹脂を冷却ロールでフィルム状に引き取り、樹脂フィルムの厚みを測定しながら、巻取ロールによって巻き取る。
このＴダイ法での成形方法では、幅方向の厚みも均一になるように調整ボルトによって吐出口の開口幅が制御されているものの、樹脂フィルムの目標厚みが薄い場合、樹脂フィルムの測定厚みが目標厚み範囲内に納まっていても、振動等により調整ボルトの緩み等が発生し、樹脂フィルムの幅方向において若干の厚み差が生じてしまう。
そのため、樹脂フィルムを巻取ロールで巻き取る際に、樹脂フィルムの幅方向の周囲に比べて厚い部位が、同一箇所で径方向に重なり続けると巻こぶ等の外観不良が生じ、幅方向において周囲に比べて薄い部位が、同一箇所で径方向に重なり続けると、巻取ロールで巻き取られた樹脂フィルムの表面に大きな凹み等の外観不良が生じる可能性があった。

そこで、特許文献１には、フィルム状物の巻こぶ等の外観不良を誘因する外観不良誘因部を特定する方策が提案されている。具体的には、特許文献１には、フィルム状物の一の測定点における厚みと幅方向全体の測定点平均値から偏差を算出し、当該偏差が所定の範囲外である場合（以下、偏差閾値ともいう）に外観不良候補箇所とし、その外観不良候補箇所が所定以上連続すると外観不良誘因部として検出する外観不良検知方法が開示されている。

特開２０１６−０３６９１８号公報

しかしながら、特許文献１では、外観不良候補箇所が所定の期間連続するかどうかで外観不良誘因部として検出するため、外観不良誘因部を判定するまでに時間差があり、異物が混入し、突然大きな凹凸ができた場合に、当該凹凸を外観不良誘因部として判定するまでフィルム状物の巻き取りを継続してしまうという可能性がある。

そこで、本発明者は、外観不良候補箇所を検出した段階で当該外観不良候補箇所が直接外観不良誘因部であることを判定するべく、特許文献１の外観不良検知方法において外観不良候補箇所と判定する偏差閾値を拡げて試行した。こうすることで、比較的大きな起伏のみを検出し、外観不良候補箇所が外観不良誘因部であることを判定することを試みた。

しかしながら、特許文献１の外観不良判定方法においてそのまま偏差閾値を拡げると、図１５のような測定点Ａでは、外観不良を構成する凹凸があるにもかかわらず、凹凸を検知できなかった。すなわち、特許文献１の外観不良判定方法では、幅方向全体の厚みで平均厚みを算出しているので、偏差閾値を拡げると外観不良誘因部の厚みが周囲の厚みによって平均厚みが均され、偏差Ｄａが小さくなって偏差閾値内に収まってしまってしまう。そのため、試行した方法では、測定点Ａのような厚みの測定点付近の変動が大きい場合であっても他の測定点によって基準となる平均値が均されてしまい、偏差Ｄａが０に近づき、測定点Ａを外観不良誘因部として検知できないおそれがあった。

一方、フィルム状物の幅方向において、フィルム状物が広範囲で肉厚となり、その肉厚部分の変化が穏やかに変化している場合（例えば、図１５の測定点Ｂ）、当該肉厚部分は、巻いても広範囲で厚いため巻こぶを形成しない。すなわち、測定点Ｂが属するこの肉厚部分は、他の部分に比べて肉厚であるが、実際には巻こぶ等の外観不良を誘因する外観不良誘因部ではない。
それにもかかわらず、特許文献１の外観不良判定方法では、単に幅方向全体の厚みで平均厚みを算出しているため、測定点Ｂにおいて周囲の厚みによって相対的に肉厚部分の偏差Ｄｂが大きくなって偏差閾値から外れてしまい、外観不良誘因部として過剰に検知してしまうおそれがある。

このように特許文献１の外観不良判定方法において、単に偏差閾値の範囲を拡げるだけでは、肉厚部分の幅が極端に狭かったり（例えば、図１５の測定点Ａ）、極端に広かったりすると（例えば、図１５の測定点Ｂ）、外観不良誘因部の検出もれや過剰検知が発生するおそれがあり、改良の余地があった。

そこで、本発明は、フィルム状物をロール状に巻き取った際に外観不良を誘因する外観不良誘因部を精度よく検知する外観不良判定装置を提供することを目的とする。また、外観不良誘因部による外観不良の発生を防止可能なフィルム状物の製造装置及び樹脂フィルムの製造方法を提供することを目的とする。

本発明者は、検知漏れや誤検知の原因の対策として偏差の算出方法について検討した。すなわち、試行した外観不良判定方法の場合、測定点の厚みから幅方向全体の平均値の差分を取ることで偏差を算出していたが、上記したように、局所的に測定点の変動が大きい場合であっても幅方向全体の平均値によって均されるため、測定点付近をより平均値に反映させる必要がある。そこで、本発明者は、測定点付近の変動をより平均値に反映できるように、基準とする平均値の範囲を狭くし、局所的な測定点の変動を反映することを検討した。
Ｔダイ成形法により成形する場合、フィルム状物の厚みのばらつきは、一般的に成形型の吐出口の間隔に依存する。すなわち、フィルム状物に形成される微視的な凸部の間隔又は凹部の間隔は、理論的には成形型の吐出口の間隔を調整する調整ボルトの間隔と概ね一致する。そのため、調整ボルトの間隔の２倍以上の範囲で測定点の平均値をとれば、小さな凸部又は凹部でも追従して検出できると考えられる。
その一方で、実際には、凸部が連続する場合、凸部同士が重なって山が合成され、大きな凸部となる場合がある。このような場合、上記したようにあまり広範囲の測定点での厚みを抽出して平均値を取ると、平均値が均され凸部を誤検出してしまう。

そこで、上記の考察を踏まえ、偏差に算出における最適範囲を検討した結果、導き出された請求項１に記載の発明は、ライン状の吐出口を構成する一対の成形型と、前記吐出口の延び方向に並設され前記吐出口の開口幅を調整する複数の調整部材と、前記吐出口から吐出されるフィルム状物の中間生成物を固化しフィルム状物を形成する固化手段とを備えた成形装置に接続されて使用される外観不良判定装置であって、送出手段と、巻取手段と、測定手段と、制御手段を有し、前記送出手段は、前記成形装置から前記フィルム状物を引き取って前記巻取手段側に送り出すものであり、前記巻取手段は、前記送出手段から送り出された前記フィルム状物を巻き取るものであり、前記測定手段は、前記送出手段と前記巻取手段の間に位置し、かつ、移動中の前記フィルム状物に対して前記フィルム状物の移動方向に対して交差する方向に走査して前記フィルム状物の厚みを測定するものであり、前記制御手段は、前記測定手段及び前記成形装置と直接又は他の部材を介して接続され、外観不良誘因部を判定する外観不良判定動作を実行可能であり、前記外観不良判定動作は、走査方向の各測定点での前記フィルム状物の厚みと前記走査方向の前記フィルム状物の厚みの平均値から各測定点の偏差を経時変化ごとに求める偏差算出工程と、各測定点において、前記フィルム状物の幅方向の同一測定点の経時変化での偏差の平均値を所定の偏差閾値と比較する偏差比較工程と、前記偏差の平均値が前記偏差閾値を超える測定点を外観不良誘因部と判定する判定工程を有し、前記偏差算出工程で使用する前記走査方向の前記フィルム状物の厚みの平均値は、判定対象の測定点を中心とする前記走査方向の所定の範囲に属する測定点の平均値であり、前記所定の範囲は、前記フィルム状物の幅よりも狭く、一の調整部材と、前記一の調整部材に隣接する調整部材の間隔の３倍超過６倍未満の範囲であることを特徴とする外観不良判定装置である。

ここでいう「フィルム状物の中間生成物」とは、フィルム状物を形成するための仕掛品をいい、フィルム状物を固化させる直前の流動性を帯びた状態のものをいう。例えば、「フィルム状物の仕掛品」のフィルム状物の原料やフィルム状物の材料、フィルム状物の原料やフィルム状物の材料の混合物、フィルム状物の前駆体などを含む。
ここでいう「判定対象の測定点」とは、現在の外観不良誘因部であるかどうかの判定の対象となっている測定点をいう。

請求項２に記載の発明は、前記偏差閾値は、上側閾値と下側閾値があり、前記下側閾値は、−１μｍ未満の値であり、前記上側閾値は、１μｍ超過の値であることを特徴とする請求項１に記載の外観不良判定装置である。

ここで、フィルム状物の幅方向の起伏について注目すると、局所的に肉厚部分ができる場合、起伏が大きく肉厚部分付近の変化の割合が大きく、逆に広範囲に肉厚部分ができる場合、起伏が小さく肉厚部分付近の変化の割合が小さい傾向がある。
そこで、発明者は、判断の指標として変化の割合という概念を導入することによって、測定点の偏差が大きい場合に、測定部分が局所的な肉厚部分であるか、広範囲な肉厚部分であるか検出できると考えた。

この考えのもと導き出された請求項３に記載の発明は、前記判定工程において、前記偏差の平均値が前記偏差閾値を超えた値を取り、さらに前記走査方向における変化の割合の絶対値が所定の閾値以上の値を取る測定点を外観不良誘因部と判定することを特徴とする請求項１又は２に記載の外観不良判定装置である。

ここでいう「変化の割合」とは、平均変化率をいい、測定点周囲の変化率だけではなく、一つの測定点での変化率である微分係数も含む。

請求項４に記載の発明は、前記偏差算出工程において、判定対象の測定点が属する測定群の現在の偏差データと過去の各測定群の偏差データとの中から、現在の偏差データを含む所定のデータ数の偏差データを測定時刻の間隔が一定となるように抽出し、抽出した偏差データを使用して、各測定点における偏差を求めるものであり、前記巻取手段で巻き取られたフィルム状物の表面の高低差を検出する高低差検出手段を有し、前記表面の高低差が高低差閾値範囲を超える場合に、前記偏差算出工程で抽出する偏差データの測定時刻の間隔を調整することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の外観不良判定装置である。

ここでいう「表面の高低差が高低差閾値範囲を超える」とは、表面の高低差が高低差閾値範囲から離れることをいう。

請求項５に記載の発明は、請求項１乃至４のいずれかに記載の外観不良判定装置と、前記成形装置を有し、前記成形装置は、前記外観不良誘因部と判定された測定点に対応する調整部材を調整し、前記偏差の平均値が偏差閾値を超えないように前記吐出口の開口幅を調整することを特徴とするフィルム状物の製造装置である。

請求項６に記載の発明は、前記巻取手段で巻き取られた前記フィルム状物の表面の高低差を検出する高低差検出手段を有し、前記表面の高低差が高低差閾値範囲を超える場合に、前記一対の成形型の間隔を調整して前記吐出口の開口幅を調整することを特徴とする請求項５に記載のフィルム状物の製造装置である。

請求項７に記載の発明は、請求項５又は６に記載のフィルム状物の製造装置を使用する樹脂フィルムの製造方法であって、樹脂原料又は樹脂材料を溶融、混練して樹脂混合物を形成し、当該樹脂混合物を一対の成形型まで押し出す押出工程と、前記吐出口から前記樹脂混合物をフィルム状に吐出する吐出工程と、前記固化手段で前記樹脂混合物を引き取る引取工程と、成形された樹脂フィルムの厚みを測定する厚み計測工程と、前記巻取手段によって前記樹脂フィルムをロール状に巻き取る巻取工程を有し、前記厚み計測工程中に前記外観不良判定動作を実施し、樹脂フィルムの外観不良誘因部の有無を判定することを特徴とする樹脂フィルムの製造方法である。

本発明の外観不良判定装置によれば、フィルム状物をロール状に巻き取った際の外観不良を誘因する外観不良誘因部を精度よく検知できる。
本発明のフィルム状物の製造装置及びフィルム状物の製造方法によれば、外観不良誘因部による外観不良の発生を防止できる。

本発明の第１実施形態の製造装置の基本構成を表す概念図である。図１の製造装置のブロック図である。図１の成形装置の説明図であり、（ａ）は断面斜視図であり、（ｂ）は断面図である。樹脂フィルムを軸部で巻き取る際に生じる外観不良の概念図であり、（ａ）は軸部で巻き取る前の外観不良誘因部が生じた樹脂フィルムの一部破断斜視図であり、（ｂ）は軸部で巻き取った後に外観不良が生じた樹脂フィルムの一部破断斜視図である。厚み測定手段による測定点の説明図である。図５の測定点を表す平面図である。本発明の第１実施形態の外観不良判定動作のフローチャートである。抽出する偏差データの説明図である。抽出した測定群における各測定点での偏差の平均を表す説明図である。本発明の第２実施形態の製造装置の基本構成を表す概念図である。図１０の吐出口、測定点、及び撮影装置の位置関係を示す平面図である。図１０の巻取ローラー周囲の斜視図である。本発明の第３実施形態の外観不良判定動作のフローチャートである。本発明の他の実施形態の偏差閾値の設定の説明図である。試行した外観不良検知方法の問題点の説明図である。

以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。

本発明の第１実施形態の製造装置１は、樹脂フィルム１００（フィルム状物）の製造装置であり、具体的には、いわゆるＴダイ成形法によって樹脂フィルム１００を成形するものである。製造装置１は、図４に示されるような巻こぶや窪み等の外観不良５０の発生を防止する外観不良判定動作を実施可能であることを特徴の一つとしている。

製造装置１は、図１のように、主要構成部材として、成形装置２（成形手段）と、外観不良判定装置３と、搬送装置５（送出手段）と、巻取ロール６（巻取手段）を有している。

成形装置２は、樹脂フィルム１００を成形する装置であり、供給装置１０（供給手段）と、押出装置１１と、一対の成形型１２ａ，１２ｂと、冷却ロール１５，１６（固化手段）と、厚み調整手段１７を有している。

供給装置１０（供給手段）は、樹脂フィルム１００の樹脂原料又は樹脂材料を押出装置１１に導入する装置である。
押出装置１１は、供給装置１０から供給された樹脂原料又は樹脂材料を溶融、混練して、流動性を有した樹脂混合物を形成し、当該樹脂混合物を成形型１２ａ，１２ｂに押し出す装置である。

成形型１２ａ，１２ｂは、樹脂混合物を所望の形状に整える成形型であり、具体的には、Ｔダイ成形型である。成形型１２ａ，１２ｂは、図３のように、形状を整えた樹脂混合物をロール１５，１６に吐出する吐出口２１を形成している。
吐出口２１は、開口形状がライン状であって、成形型１２ａ，１２ｂのキャビティと外部を連通させる開口である。

冷却ロール１５，１６は、成形型１２ａ，１２ｂから吐出した樹脂混合物を引き取りながら冷却し、固化させる冷却ロールである。本実施形態の冷却ロール１５，１６は、円柱状又は棒状であり、周方向に回転しながら成形型１２ａ，１２ｂの吐出口２１から吐出された樹脂混合物を引き取り可能となっている。

厚み調整手段１７は、樹脂フィルム１００の厚みを調整するものであり、成形型１２ａ，１２ｂで構成される吐出口２１の開口幅Ｄ２（図３参照）を調整し、吐出口２１からの単位時間当たりの樹脂混合物の吐出量を調整可能となっている。
厚み調整手段１７は、図３のように複数の調整ボルト２０（２０ａ〜２０ｆ）（調整部材）を備えており、調整ボルト２０ａ〜２０ｆを成形型１２ａに対して相対的に順方向又は逆方向に回すことで成形型１２ａ，１２ｂの吐出口２１の開口幅Ｄ２を自動又は手動で調整可能となっている。

調整ボルト２０ａ〜２０ｆは、吐出口２１の延び方向に所定の間隔Ｄ１を空けて並設されており、各調整ボルト２０ａ〜２０ｆは、成形型１２ａ，１２ｂの吐出口２１の開口幅Ｄ２を独立して調整可能となっている。
図３に示される吐出口２１の延び方向（樹脂フィルム１００の幅方向）に隣接する調整ボルト２０ａ，２０ｂの間隔Ｄ１は、冷却ロール１５，１６で成形した後の樹脂フィルム１００の幅の１／１８５以上１／３７以下であることが好ましく、１／１２３．３以上１／４６．３以下であることがより好ましい。
また隣接する調整ボルト２０ａ，２０ｂの間隔Ｄ１は、１０ｍｍ以上５０ｍｍ以下であることが好ましく、１５ｍｍ以上４０ｍｍ以下であることがより好ましい。
この範囲であれば、吐出口２１の開口幅Ｄ２を緻密に制御でき、幅方向ＴＤにおいて起伏の小さい樹脂フィルム１００を成形できる。
なお、調整ボルト２０の本数は、実際には多数存在するが、説明を容易にするために、図面には、調整ボルト２０ａ〜２０ｆの計６箇所のみ描写している。

外観不良判定装置３は、巻取ロール６で巻こぶや窪み等の外観不良５０を誘因する虞がある外観不良誘因部５１の判定を行う装置であり、本実施形態の特徴の一つである外観不良判定動作を実行可能な装置である。
外観不良判定装置３は、図２のように、主要構成部材として、厚み測定手段２２（測定手段）と、制御手段２３を有している。
厚み測定手段２２は、通過する樹脂フィルム１００の厚みを計測する機器であり、図５のように厚み計測部２６を有している。
厚み計測部２６は、樹脂フィルム１００の厚みを測定する厚みセンサーであり、樹脂フィルム１００の流れ方向ＭＤに対する直交方向（幅方向ＴＤ）において、所定の範囲を走査可能となっている。すなわち、厚み計測部２６は、移動中の樹脂フィルム１００に対して、樹脂フィルム１００の移動方向ＭＤに対して交差する方向（走査方向ＳＤ）に交互に走査しながら、樹脂フィルム１００の幅方向ＴＤの各位置における厚みを測定することが可能となっている。

制御手段２３は、成形装置２や厚み測定手段２２と直接又は他の部材を介して接続されており、成形装置２や厚み測定手段２２のそれぞれを制御可能となっている。制御手段２３は、図２のように、演算手段４０と、記憶手段４１と、通信手段４２を有している。

演算手段４０は、記憶手段４１に記憶された所定のプログラム等に基づいて演算処理を行う部位である。演算手段４０は、厚み測定手段２２で検知した走査方向ＳＤの各測定点３０（図５参照）での樹脂フィルム１００の厚みに基づいて、樹脂フィルム１００の外観不良判定を行うことが可能となっている。また、演算手段４０は、図１に示される巻取ロール６において回転数検知手段２８により検知された軸部２７の回転数や回転速度等から、巻取ロール６で巻き取られた樹脂フィルム１００の積層回数（軸部２７の径方向の積層数）を算出することが可能となっている。

記憶手段４１は、あらかじめ設定された所定のプログラムや、厚み測定手段２２で測定した樹脂フィルム１００の厚み情報、演算手段４０によって演算された情報を記憶する部位であり、具体的には、ハードディスク等の記憶媒体である。

通信手段４２は、通信用のインターフェイスであり、厚み調整手段１７や、厚み測定手段２２、巻取ロール６の回転数検知手段２８等と無線又は有線によって接続されている。

搬送装置５は、図１のように、成形装置２で成形された樹脂フィルム１００が厚み測定手段２２を通過するように搬送し、巻取ロール６まで送り出す装置である。
搬送装置５は、複数の搬送ローラー３１ａ〜３１ｇで構成されており、各搬送ローラー３１ａ〜３１ｇが回転することで樹脂フィルム１００を伸張した状態で測定点３０を通過させることが可能となっている。

巻取ロール６（巻取手段）は、厚み測定手段２２を通過した樹脂フィルム１００を巻き取って回収する部位であり、図１のように、軸部２７と、回転数検知手段２８（計測装置）を有している。
軸部２７は、図示しないモーター等の動力によって周方向に回転し、樹脂フィルム１００を外周に巻き取る部位である。すなわち、軸部２７は、図４（ｂ）のようにリール２９の外周に樹脂フィルム１００をロール状に巻き取ることが可能となっている。
回転数検知手段２８は、軸部２７に接続され、軸部２７の回転数を検知するセンサーであり、具体的には、ロータリーエンコーダーなどの回転数検知センサーである。

樹脂フィルム１００は、長尺状の延びたフィルムであり、引き延ばした状態において、所定の方向に帯状に延びるフィルムである。樹脂フィルム１００は、樹脂混合物を固化して形成されるものであり、具体的には、熱可塑性樹脂によって形成された樹脂である。
樹脂混合物は、樹脂原料又は樹脂材料を溶融させて混合したものである。
樹脂フィルム１００は、平均厚みが１０μｍ以上１００μｍ以下であることが好ましく、４０μｍ以上８０μｍ以下であることがより好ましい。
樹脂フィルム１００は、平均幅が２００ｍｍ以上２．５ｍ以下であることが好ましく、１．４ｍ以上２ｍ以下であることがより好ましい。
これらの範囲であれば、Ｔダイ成形によって容易に成形することができる。

続いて、第１実施形態の製造装置１の各部位の位置関係について説明する。

厚み測定手段２２は、図１のように、樹脂フィルム１００の流れ方向ＭＤにおいて冷却ロール１５，１６と巻取ロール６の間に配されている。すなわち、厚み測定手段２２の樹脂フィルム１００の流れ方向ＭＤの上流側に冷却ロール１５，１６が位置しており、下流側に巻取ロール６が位置している。また、冷却ロール１５，１６と巻取ロール６の間には、厚み測定手段２２を通過するように樹脂フィルム１００を導く搬送装置５が配されている。具体的には、冷却ロール１５，１６と厚み測定手段２２の間には、搬送ローラー３１ａ〜３１ｄが配されており、厚み測定手段２２と巻取ロール６の間には、搬送ローラー３１ｅ〜３１ｇが配されている。
搬送ローラー３１ａは、天地方向において、冷却ロール１５，１６の下端部よりも高い位置に配されている。また、搬送ローラー３１ａ，３１ｃ，３１ｅ，３１ｇは、樹脂フィルム１００が上側の外周面を通過し、搬送ローラー３１ｂ，３１ｄ，３１ｆは、樹脂フィルム１００が下側の外周面を通過する位置関係となっている。そのため、厚み測定手段２２は、一定の姿勢に維持され、一定の張力を持ったまま、樹脂フィルム１００を測定することが可能となっている。

続いて、厚み測定手段２２の樹脂フィルム１００の測定点３０について説明する。なお、測定点３０は、実際には多数存在するが、説明を容易にするために、図５等の図面には、測定点３０を測定点３０ａ〜３０ｋの計１１箇所のみ描写している。

厚み測定手段２２の厚み計測部２６は、図５のように、移動中の樹脂フィルム１００に対して幅方向ＴＤに一定の間隔で樹脂フィルム１００の厚みを測定していき、上記したように樹脂フィルム１００の移動方向ＭＤに対して交差する方向（走査方向ＳＤ）に往復移動する。そのため、移動する樹脂フィルム１００での測定点３０ａ〜３０ｋは、図６のように、ジグザグ状に測定され、各測定点３０ａ〜３０ｋは走査方向ＳＤに直線状に間隔を空けて並んでいる。

各測定点３０ａ〜３０ｋは、図５，図６に示されるように、往路側測定群３５と、復路側測定群３６を構成している。
往路側測定群３５は、一走査測定分の測定点３０ｋ〜３０ａが樹脂フィルム１００の移動方向ＭＤにおいて、幅方向ＴＤの一方側の端部（図６では右側端部）から他方側の端部（図６では左側端部）に向かって並んだものである。
復路側測定群３６は、一走査測定分の測定点３０ａ〜３０ｋが樹脂フィルム１００の移動方向ＭＤにおいて、幅方向ＴＤの他方側の端部（図６では左側端部）から一方側の端部（図６では右側端部）に向かって並んだものである。
往路側測定群３５の各測定点３０ｋ〜３０ａは、移動方向ＭＤに対して交差する方向（往路側走査方向ＳＤ１）に所定の間隔を空けて直線状に並んでいる。復路側測定群３６の各測定点３０ａ〜３０ｋは、移動方向ＭＤに対して交差する方向であって、往路側走査方向ＳＤ１と異なる方向ＳＤ２に所定の間隔を空けて並んでいる。
各往路側測定群３５の並列方向は、同一方向を向いており、互いに平行となっている。各復路側測定群３６の並列方向は、同一方向を向いており、互いに平行となっている。往路側測定群３５の並列方向（往路側走査方向ＳＤ１）と、復路側測定群３６の並列方向（復路側走査方向ＳＤ２）は、互いに交差する関係となっている。
各測定点３０ａ〜３０ｋの幅方向ＴＤの間隔は、厚み調整手段１７の調整ボルト２０ａ〜２０ｆの吐出口２１の延び方向における間隔Ｄ１よりも狭い。

続いて、本実施形態の製造装置１による樹脂フィルム１００の製造方法について説明する。

本実施形態の樹脂フィルム１００の製造方法では、まず、成形装置２において、樹脂フィルム１００を成形する成形工程を行う。
この成形工程では、供給装置１０から樹脂原料又は樹脂材料を押出装置１１に供給し（供給工程）、押出装置１１で樹脂原料又は樹脂材料を溶融、混練して、樹脂フィルム１００の中間生成物たる樹脂混合物を成形型１２ａ，１２ｂに押し出す（押出工程）。そして、成形型１２ａ，１２ｂの吐出口２１から樹脂混合物を冷却ロール１５，１６に向かってフィルム状に吐出する（吐出工程）。

このとき、樹脂混合物の幅方向ＴＤの吐出量の分布は、厚み調整手段１７によって調節されており、制御手段２３によって樹脂混合物の吐出量が一定となるように制御されている。

その後、吐出口２１からフィルム状に吐出された樹脂混合物は、冷却ロール１５，１６によって引き取られ（引取工程）、延伸されながら冷却されて固化し、樹脂フィルム１００が成形される。

その後、成形装置２で成形された樹脂フィルム１００は、搬送装置５によって、厚み測定手段２２を通過するように搬送され、厚み測定手段２２によって厚みを測定されながら（厚み計測工程）、巻取ロール６によってロール状に巻き取られる（巻取工程）。

このとき、各測定群３５，３６において、厚み測定手段２２によって測定された厚み測定値は、その測定時刻とともに外観不良判定装置３の記憶手段４１で記憶される。
またこのとき、計測工程を実施中に、樹脂フィルム１００に対して外観不良誘因部５１の有無を判定する不良判定工程が行われる。そして、この不良判定工程において、外観不良判定装置３が厚み測定値を用いて外観不良判定動作を行う。

具体的には、外観不良判定動作では、まず現在の判定対象の測定点３０と巻取ロール６の巻取開始点３２間の樹脂フィルム１００の長さであるフィルムパスライン長さを設定する。
そして、図６，図７のように、現在の判定対象の測定点３０（厚み測定手段２２で測定した点）が属する１走査分の測定群３６において、当該測定群３６内での各測定点３０ａ〜３０ｋでの実測値に基づく測定値と、１走査分の測定群３６での特定の測定点３０の測定値の平均値から偏差を算出した偏差データを算出する（偏差算出工程）（ステップ１）。すなわち、測定群３５，３６において、走査方向ＳＤに並んだ各測定点３０ａ〜３０ｋでの厚み（測定値）と、算出する測定点３０ａ〜３０ｋ近傍の測定点の測定値の平均値から、各測定点３０ａ〜３０ｋでの厚み偏差を演算する。
なお、本実施形態では、樹脂フィルム１００の幅方向ＴＤの中央に位置する測定点３０ｆでの測定時刻を基準として、測定群３５（測定群３６）の属する全ての測定点３０ａ〜３０ｋが同時刻に測定したと仮定して計算を行っている。例えば、一の測定群３５に属する測定点３０ａ〜３０ｋでの測定値は、一の測定群３５の中央に位置する測定点３０ｆで検知した時刻に測定したと近似して計算を行っている。
一の測定点３０の偏差を算出する際の平均値は、一の測定点３０を中心として所定の範囲（以下、平均算出範囲Ｒともいう）に属する全ての測定点の平均値とする。
平均算出範囲Ｒは、隣接する調整ボルト２０，２０の間隔Ｄ１の３倍超過６倍未満の範囲である。平均算出範囲Ｒは、隣接する調整ボルト２０，２０の間隔Ｄ１の３．５倍以上５．５倍以下の範囲であることが好ましく、３．９５倍以上５．０５倍以下の範囲であることがより好ましく、４倍以上５倍以下の範囲であることがさらに好ましい。
また、平均算出範囲Ｒは、７５ｍｍ超過１５０ｍｍ未満であることが好ましく、９０ｍｍ以上１４０ｍｍ以下であることがより好ましく、９８．７５ｍｍ以上１２６．２５ｍｍ以下であることがさらに好ましく、１００ｍｍ以上１２５ｍｍ以下であることが最も好ましい。
上記の算出において、例えば、一の測定点３０ｆの偏差を算出する場合には、一の測定点３０ｆを中心として幅方向ＴＤにおいて前後に２つずつ、計５つの測定点３０ｄ〜３０ｈが所定の範囲に属する場合には、一の測定点３０ｆでの厚みを計５つの測定点３０ｄ〜３０ｈでの厚みの平均値で割ることとなる。

続いて、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の巻取回数（積層数）を算出する（ステップ２）。

このとき、巻取回数は、まず、回転数検知手段２８によって検知される軸部２７の回転数と現在のフィルムパスライン長さをもとに、現在の判定対象の測定点３０が巻取ロール６で巻き取られたときの樹脂フィルム１００の巻取回数（軸部２７の径方向の積層数）を算出する。
その後、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の巻取回数（積層数）に合わせて、図８のように、現在の判定対象の測定点３０が属する測定群３６の現在の偏差データと、それよりも過去の各測定群３５，３６の偏差データ（母集団）の中から所定のデータ数Ｎの偏差データ（標本）を抽出する（ステップ３）。

ここで、抽出する偏差データのデータ数Ｎは、巻取ロール６の軸部２７でロール状に巻き取られた樹脂フィルム１００のロール外径によって調整する。
具体的には、現在の判定対象の測定点３０が巻取ロール６に巻き取られたときの軸部２７の径方向の積層数と、あらかじめ設定された樹脂フィルム１００の積層数の積層閾値と比較して算出される。すなわち、積層閾値に対する現在の判定対象の測定点３０の積層回数によって、今後において巻こぶ等の外観不良５０の発生しやすさからデータ数Ｎを判断する。そのため、抽出する偏差データのデータ数Ｎは、樹脂フィルム１００の材質や厚みなどによってそれぞれ異なる値をとる。
なお、本実施形態では、Ｎは固定値をとり、Ｎは５０である。すなわち、本実施形態では、多数の偏差データの中から現在の偏差データを含めた５０個の偏差データを抽出する。

また、本実施形態で標本として抽出する偏差データは、図８のように時系列において、一の測定群の偏差データの測定時刻と、それに隣接する測定群（前記一の測定群に近い時刻に検知した測定群）の偏差データの測定時刻の間隔Ｔは一定となっている。
すなわち、標本として抽出する偏差データにおいて、現在の偏差データから過去の時分において、抽出する偏差データの時刻と、それに隣接する偏差データ（近い時刻にある偏差データ）の時刻の間隔Ｔは、一定間隔となっている。

また、本実施形態の外観不良判定動作では、時系列における抽出する測定群３５，３６の偏差データの時間間隔も積層閾値に対する現在の判定対象の測定点３０の積層回数によって変更している。すなわち、抽出する測定群３５，３６は、その時系列において、現在の判定対象の測定点３０での積層回数によって、時系列において抽出する偏差データ間の間隔を変える。言い換えると、標本として抽出する偏差データにおいて、時系列における一の測定群の測定時刻と、それに隣接する測定群（近い時間にある測定群）の測定時刻との間隔Ｔを変更する。

この点についてさらに詳細に説明する。
一般に、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の積層回数が少ないときは、積層閾値に到達するまでの残りの積層回数が多く、またロール外径も小さい。
例えば、積層閾値が１００回であって、現在の樹脂フィルム１００の積層回数が１０回の場合、積層閾値（１００回）に到達するまでの残りの積層回数（９０回）が多い。また、１０回しか積層していないので、当然現在のロール外径も小さい。
そのため、図４（ａ）に示されるような外観不良誘因部５１が生じた場合に、図４（ｂ）に示されるように外観不良誘因部５１が軸部２７の径方向に重なりやすく、巻こぶ等の外観不良５０が発生しやすいと考えられる。
また、軸部２７での樹脂フィルム１００の積層回数が少ない場合には、軸部２７の径方向において、重なる部位間の間隔が狭くなる。そのため、本実施形態では、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の積層回数が少ないときは、時系列において、図８に示される標本として抽出する偏差データ間の間隔Ｔを狭める。
一方、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の積層回数が多いときは、積層閾値に到達するまでの残りの積層回数が少なく、ロール外径も大きくなっている。そのため、外観不良誘因部５１が生じた場合に外観不良誘因部５１が軸部２７の径方向に重なりにくく、巻こぶ等の外観不良５０が発生しにくいと考えられる。
また、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の積層回数が多い場合には、軸部２７の径方向において、重なる部位間の間隔が広くなる。そのため、本実施形態では、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の積層回数が多いときは、時系列において、図８に示される標本として抽出するデータ間の間隔Ｔを広げる。

図７のフローチャートの説明に戻ると、ステップ３の後、ステップ３にて抽出した偏差データ（標本）において、各測定点３０における時系列ごとの偏差データの値をそれぞれ積算していき、抽出した偏差データの数で割る。すなわち、抽出した偏差データの各測定点３０ａ〜３０ｋにおいて、経時変化ごとの同一測定点３０（例えば、測定点３０ｆ₁，３０ｆ₂，・・・，３０ｆ_N：Ｎはデータ数）間の平均値を各部位について算出する（偏差算出工程）（ステップ４）。
言い換えると、樹脂フィルム１００の幅方向ＴＤの同一測定点３０間の厚み偏差の積算値を抽出したデータ数Ｎで割ることで各測定点３０での厚み偏差の平均値を求めて偏差データを算出する。すなわち、本実施形態では、４０個の偏差データにおいて、樹脂フィルム１００の幅方向の同一測定点３０での厚み偏差の積算値を算出し、データ数４０で割って、厚み偏差の平均値を算出する。

そして、偏差算出工程で求めた経時変化ごとの各部位における平均値が、図９で示される、あらかじめ設定された所定の閾値（以下、偏差閾値Ｄ３ともいう）を超えるかどうかを判定し（偏差比較工程）（ステップ５）、偏差閾値Ｄ３を超える測定点３０がある場合には（ステップ５でＹＥＳ）、当該偏差閾値Ｄ３を超える測定点３０を外観不良誘因部５１として抽出する（ステップ６）。

このときの偏差閾値Ｄ３は、過去のデータから経験的に算出した値であり、あらかじめ設定した値である。偏差閾値Ｄ３は、凸部を判別する上側閾値と、凹部を識別する下側閾値がある。すなわち、測定点３０における平均値が上側閾値を上回るか、下側閾値を下回るかすると、巻こぶ等の外観不良５０を誘因する外観不良誘因部５１として抽出する。

上側閾値は、０．２μｍ以上の値であることが好ましく、０．５μｍ以上の値であることがより好ましく、１μｍ超過の値であることがさらに好ましい。
下側閾値は、−０．２μｍ以下の値であることが好ましく、−０．５μｍ以下の値であることがより好ましく、−１μｍ未満の値であることがさらに好ましい。
上記の範囲であれば、過剰検知を抑制できる。
また、上側閾値は、２μｍ以下の値であることが好ましく、１．８μｍ以下の値であることがより好ましい。
下側閾値は、−２μｍ以上の値であることが好ましく、−１．８μｍ以上の値であることがより好ましい。
本実施形態では、上側閾値と下側閾値の絶対値が同じ値をとっており、いずれも絶対値が１μｍ超過１．８μｍ以下の値である。
別の観点から視ると、本実施形態では、測定点３０における平均値の絶対値が上側閾値を超えると、巻こぶ等の外観不良５０を誘因する外観不良誘因部５１として抽出する。

一方、ステップ５にて、偏差閾値Ｄ３を超える測定点３０がない場合には（ステップ５でＮＯ）、外観不良誘因部５１がないと判定し（ステップ７）、ステップ１に戻る。
以上が外観不良判定動作の説明である。

上記した外観不良判定動作によって導き出された外観不良誘因部５１の幅と厚み偏差から、外観不良誘因部５１がなくなるように、すなわち、偏差の平均値が偏差閾値内に収まるように、厚み調整手段１７による調整箇所と厚みの調整量を算出する。その後、演算し、算出した調整箇所と調整量の情報を厚み調整手段１７に送信する。そして、厚み調整手段１７の各調整ボルト２０ａ〜２０ｆを調整することによって、自動的に吐出口２１の開口幅Ｄ２を調整して成形型１２ａ，１２ｂの吐出口２１からの吐出量を最適量に調整し、冷却ロール１５，１６で固化される樹脂フィルム１００の厚みを調整する。

本実施形態の外観不良判定装置３によれば、隣接する調整ボルト２０，２０の間隔の３倍超過の範囲の平均値に対する偏差を算出する。そのため、樹脂フィルム１００の幅方向ＴＤにおいて樹脂フィルム１００が局所的に肉厚となり当該肉厚部分の幅が狭い場合において、試行した方法では外観不良誘因部５１であるにもかかわらず抽出できなかった測定点３０であっても、当該測定点３０の周囲の平均値が小さくなって偏差が相対的に大きくなるので、当該測定点３０を外観不良誘因部５１として検出できる。
また、本実施形態の製造装置１によれば、樹脂フィルム１００の幅方向ＴＤにおいて樹脂フィルム１００が広範囲で肉厚となり、その肉厚部分の変化が穏やかに変化している場合において、試行した方法では外観不良誘因部５１でないにもかかわらず抽出されていた測定点３０であっても、測定点３０の周囲の平均値が大きくなって偏差が相対的に小さくなり、当該測定点３０が外観不良誘因部５１として検出されない。そのため、外観不良誘因部５１としての誤検出を防止できる。
このように、第１実施形態の製造装置１によれば、巻こぶ等の外観不良５０の発生を精度よく抑制することができる。

第１実施形態の外観不良判定装置３によれば、偏差の平均値と比較する下側閾値が−１μｍ未満の値であって上側閾値が１μｍ超過の値であるため、比較的より大きな起伏のみを検出でき、過剰検知を抑制できる。
第１実施形態の外観不良判定装置３によれば、偏差の平均値と比較する下側閾値が−１．８μｍ以上の値であって上側閾値が１．８μｍ以下の値であるため、検出漏れを抑制できる。

第１実施形態の製造装置１によれば、偏差の平均値が偏差閾値内となるように、外観不良誘因部５１と判定された測定点３０に対応する調整ボルト２０を調整して吐出口２１の開口幅Ｄ２を制御するため、巻こぶ等の外観不良５０の発生を精度よく抑制でき、高品質の樹脂フィルム１００を製造できる。

第１実施形態の製造装置１によれば、外観不良判定動作を実施し、外観不良誘因部５１の有無を判定しながら樹脂フィルム１００を製造するため、巻こぶ等の外観不良５０の発生を精度よく抑制でき、高品質の樹脂フィルム１００を製造できる。

続いて、本発明の第２実施形態の製造装置２００について説明する。なお、第１実施形態と同様の構成については同様の符号を振って説明を省略する。

本発明の第２実施形態の製造装置２００は、撮影装置２０１によっても巻こぶ等の外観不良５０を検知し、フィードバックするものである。
製造装置２００は、図１０のように、主要構成部材として、成形装置２と、外観不良判定装置３と、搬送装置５と、巻取ロール６と、撮影装置２０１を備えている。
撮影装置２０１は、巻取ロール６に巻き取られた樹脂フィルム１００の微細表面を撮影し、樹脂フィルム１００の表面のベースラインに対する高低差を検出する高低差検出装置である。
撮影装置２０１は、図１１，図１２のように複数台のＣＣＤカメラ２０２ａ〜２０２ｄ及び図示しない光源がそれぞれ幅方向ＴＤに並設されて構成されており、制御手段２３と接続されている。
ＣＣＤカメラ２０２ａ〜２０２ｄは、受光素子を内蔵し、当該受光素子は、図示しない光源に対して巻取方向にずれた位置にある。
そして、ＣＣＤカメラ２０２ａ〜２０２ｄは、図示しない光源から樹脂フィルム１００の表面に光が照射され、樹脂フィルム１００の表面での反射光を受光素子で受光することで樹脂フィルム１００の表面が反映された画像データ及びその付随データを取得し、制御手段２３に送信可能となっている。
本実施形態の制御手段２３は、撮影装置２０１から受信した画像データ及びその付随データを解析し、幅方向ＴＤ全体の微細な凹凸をマッピング可能となっており、さらに撮影装置２０１から受信したデータから樹脂フィルム１００の表面凹凸を定量化可能となっている。

制御手段２３が撮影装置２０１の撮影画像内に巻こぶ等のベースラインに対して凸状の外観不良５０があることを検知した場合には、外観不良判定動作における判定結果にかかわらず、外観不良５０を検知した部分に対応する吐出口２１の開口幅Ｄ２を狭くし、さらに外観不良判定動作における母集団から抽出する偏差データの間隔Ｔを狭める。すなわち、抽出する偏差データの測定時刻の間隔を狭める。
一方、制御手段２３が撮影装置２０１の撮影画像内に凹み等のベースラインに対して凹状の外観不良５０があることを検知した場合には、外観不良判定動作における判定結果にかかわらず、外観不良５０を検知した部分に対応する吐出口２１の開口幅Ｄ２を広くし、さらに外観不良判定動作における母集団から抽出する偏差データの間隔Ｔを狭める。
制御手段２３は、撮影装置２０１の撮影データから樹脂フィルム１００の算術平均粗さをベースラインとして高低差を算出してマッピングし、樹脂フィルム１００内に高低差閾値範囲Ｈを超える高低差がある部分を検出した場合に、外観不良５０を検知したと判定することが好ましい。
高低差閾値範囲Ｈには、上限として凸状の外観不良を判定する凸側閾値と、下限として凹状の外観不良を判定する凹側閾値がある。
凸側閾値は、５０μｍ以上であることが好ましく、２００μｍ以上であることが好ましい。
凹側閾値は、−５０μｍ以下であることが好ましく、−２００μｍ以下であることが好ましい。
この範囲であれば、外観不良５０の発生による歩留まりの低下を抑制できる。

第２実施形態の製造装置２００によれば、撮影装置２０１によって樹脂フィルム１００の表面の形状を監視し、樹脂フィルム１００の実際の高低差で外観不良５０の発生を検知できるので、回収され実際生じた外観不良５０の発生状況に合わせて、次のロットの樹脂フィルム１００の製造時の外観不良判定動作にフィードバックできる。そのため、外観不良５０の発生状況に合わせて偏差算出工程で抽出する標準データの測定時刻の間隔を調整することができ、次回以降の外観不良判定動作においてより精度よく外観不良５０を検知できる。

第２実施形態の製造装置２００によれば、撮影装置２０１によって樹脂フィルム１００の表面を撮影し、制御手段２３によって表面の高低差が高低差閾値範囲Ｈの上限たる凸側閾値を上回るであるかどうかを判定し、凸側閾値以上の場合に吐出口２１の開口幅Ｄ２を狭める。
また、第２実施形態の製造装置２００によれば、撮影装置２０１によって樹脂フィルム１００の表面を撮影し、制御手段２３によって表面の高低差が高低差閾値範囲Ｈの下限たる凹側閾値を下回るかどうかを判定し、凹側閾値以下の場合に吐出口２１の開口幅Ｄ２を広げる。
このようにすることで次回以降の外観不良判定動作においてより精度よく外観不良５０を検知できる。

続いて、本発明の第３実施形態の製造装置３００について説明する。なお、第１，２実施形態と同様の構成については同様の符号を振って説明を省略する。

本発明の第３実施形態の製造装置３００は、外観不良判定動作が第１実施形態と異なる。
以下、第３実施形態の外観不良判定動作の主な工程について、図１３のフローチャートに沿って説明する。

本実施形態の外観不良判定動作では、第１実施形態と同様、まず現在の判定対象の測定点３０と巻取ロール６の巻取開始点３２間の樹脂フィルム１００の長さであるフィルムパスライン長さを設定し、現在の判定対象の測定点３０が属する１走査分の測定群３６（測定群３５）において、当該測定群３６（測定群３５）内での各測定点３０ａ〜３０ｋでの実測値に基づく測定値と、１走査分の測定群３６（測定群３５）での各測定点３０の測定値の平均値から偏差を算出した偏差データを算出する（ステップ３１）。

続いて、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の巻取回数を算出し（ステップ３２）、巻取ロール６の軸部２７での樹脂フィルム１００の巻取回数に合わせて、現在の判定対象の測定点３０が属する測定群３６（測定群３５）の現在の偏差データと、それよりも過去の各測定群３５，３６の偏差データの中から所定のデータ数Ｎの偏差データを抽出する（ステップ３３）。

ステップ３３の後、ステップ３３にて抽出した偏差データにおいて、各測定点３０における時系列ごとの偏差データの値をそれぞれ積算していき、抽出した偏差データの数で割る（ステップ３４）。その後、ステップ３４で求めた各部位における平均値が、あらかじめ設定された偏差閾値Ｄ３を超えるかどうかを判定する（ステップ３５）。

そして、偏差閾値Ｄ３を超える測定点３０がある場合には（ステップ３５でＹＥＳ）、当該走査方向に偏差閾値Ｄ３を超える測定点３０における隣接する測定点との変化の割合を算出して、起伏の傾きを算出し、傾きが所定の閾値以上であるか判断する（ステップ３６）。
この変化の割合の閾値は、絶対値が１．０２以上１．７８以下であることが好ましく、１．２以上１．６以下であることがより好ましい。
この範囲であれば、樹脂フィルム１００の表面凹凸の勾配を判定できる。

変化の割合が所定の閾値以上の場合（ステップ３６でＹＥＳ）には、偏差閾値Ｄ３を超える測定点３０を外観不良誘因部５１として判定する（ステップ３７）。

一方、ステップ３５にて、偏差閾値Ｄ３を超える測定点３０がない場合には（ステップ３５でＮＯ）、外観不良誘因部５１がないと判定し（ステップ３８）、ステップ３１に戻る。
また、ステップ３６において、走査方向ＳＤに偏差閾値Ｄ３を超える測定点３０における隣接する測定点との変化の割合が所定の値未満の場合（ステップ３６でＮＯ）は、当該部分が外観不良誘因部５１ではないと判定し（ステップ３８）、ステップ３１に戻る。

第３実施形態の製造装置３００によれば、外観不良誘因部５１の判定に変化の割合の基準を設けているので、幅方向ＴＤにおける凸部又は凹部がシャープなのか、ブロードなのか判定できる。そのため、より正確に検知漏れや誤検知を防止できる。

上記した第２実施形態では、高低差検出手段として撮影装置２０１を使用し、撮影装置２０１で撮影した画像をマッピングすることによって高低差を算出していたが、本発明はこれに限定されるものではない。高低差検出手段は、三角測距式変位センサー等の非接触変位センサーであってもよい。

上記した第２実施形態では、撮影装置２０１によって凸状の外観不良５０を検知した場合に、外観不良５０に対応する吐出口２１の開口幅Ｄ２を狭くし、外観不良判定動作における抽出データの間隔を狭めていたが、本発明はこれに限定されるものではない。
撮影装置２０１によって凸状の外観不良５０を検知した場合に、外観不良５０に対応する吐出口２１の開口幅Ｄ２を狭くするだけでもよいし、外観不良判定動作における抽出データの間隔を狭めるだけでもよい。
同様に、第２実施形態では、撮影装置２０１によって凹状の外観不良５０を検知した場合に、外観不良５０に対応する吐出口２１の開口幅Ｄ２を広くし、外観不良判定動作における抽出データの間隔を広めていたが、本発明はこれに限定されるものではない。
撮影装置２０１によって凹状の外観不良５０を検知した場合に、外観不良５０に対応する吐出口２１の開口幅Ｄ２を広くするだけでもよいし、外観不良判定動作における抽出データの間隔を狭めるだけでもよい。

上記した第２実施形態では、撮影装置２０１によって外観不良５０を検知していたが、本発明はこれに限定されるものではない。撮影装置２０１が高分解能をもつ場合には、外観不良誘因部５１を直接検知してもよい。この場合、外観不良誘因部５１の発生位置等を外観不良判定動作にフィードバックすることが好ましい。

上記した第２実施形態では、高低差を算出するにあたって、樹脂フィルム１００の算術平均粗さをベースラインとしたが、本発明はこれに限定されるものではない。ベースラインは適宜設定できる。例えば、最も低い位置をベースラインとしてもよい。この場合、高低差閾値範囲Ｈの上限たる凸側閾値は、第２実施形態の凸側閾値の二倍となり、下限たる凹側閾値はベースライン、すなわち、０μｍとなる。

上記した第３実施形態では、測定点での偏差と偏差閾値Ｄ３を比較し、偏差閾値Ｄ３を超える測定点を検出してから測定点での変化の割合を算出し、変化の割合が閾値以上であるかを比較していたが、本発明はこれに限定されるものではない。各測定点での変化の割合が閾値以上であるか比較し、変化の割合が閾値以上である測定点を検出してから測定点での偏差と偏差閾値Ｄ３を比較してもよい。

上記した第３実施形態では、測定点及び測定点付近の傾きから樹脂フィルム１００の表面凹凸の起伏した範囲の程度を検出していたが、本発明はこれに限定されるものではない。測定点又は測定点付近の微分係数から樹脂フィルム１００の表面凹凸の起伏した範囲の程度を検出してもよい。

上記した実施形態では、模式的に測定点３０が１１点の場合について例示して説明したが、上記したように、実際には多数の測定点３０を取っている。
測定点３０の数は、樹脂フィルム１００の幅によって適宜設定されるが、例えば、１０００ｍｍの樹脂フィルム１００の場合には、測定点３０の数は、２５０点〜１０００点であることが好ましい。この範囲であれば、本発明の外観不良判定動作を行うにあたって十分なデータを抽出することができる。
また、測定点３０の間隔は、過去の実施結果から推測される樹脂フィルム１００の起伏のできやすさやその大きさ等によって適宜設定されるが、１ｍｍ〜３ｍｍであることが好ましい。この範囲であれば、測定点３０の間隔が詰まりすぎず、開きすぎないので、測定の無駄が少ない。

上記した実施形態では、複数の測定群３５，３６の偏差データの中から所定数の偏差データを抽出して、抽出した偏差データから外観不良誘因部５１を判定したが、本発明はこれに限定されるものではなく、全偏差データから外観不良誘因部５１を判定してもよい。

上記した実施形態では、巻取ロール６での樹脂フィルム１００の積層回数に基づいて、演算に用いる走査データを抽出し、抽出した走査データ間での偏差の平均を算出していたが、本発明はこれに限定されるものではなく、巻取ロール６での樹脂フィルム１００の積層回数にかかわらず、連続する走査データで偏差の平均値を求めてもよい。

上記した実施形態では、偏差閾値Ｄ３を一定の値にしていたが、本発明はこれに限定されるものではなく、偏差閾値Ｄ３を可変値にしてもよい。例えば、巻取ロール６での樹脂フィルム１００の積層回数に応じて、偏差閾値Ｄ３を変更してもよい。具体的には、巻き取りが最終段階で、巻取ロール６での樹脂フィルム１００の積層回数が多い場合には、後に大きな巻こぶになりにくいため、図１４のように偏差閾値Ｄ３の絶対値を高く設定してもよい。こうすることによって、余分な判定を減らすことができる。

上記した実施形態では、本発明のフィルム状物の一例として樹脂製の樹脂フィルム１００の場合について説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、本発明のフィルム状物は、金属製等の他の材質のフィルムであってもよい。

上記した実施形態では、外観不良判定動作によって、外観不良誘因部５１が検出されると自動的に厚みを調整する自動偏肉の成形装置２を備えていたが、本発明はこれに限定されるものではない。成形装置２は、作業者が手動で厚みを調整する手動偏肉の成形装置であってもよい。

上記した実施形態の外観不良判定装置３は、外観不良誘因部５１が測定点３０から巻取ロール６の巻取開始点３２に至る直前に、自動的に巻取ロール６での巻き取りを停止する構成であってもよい。こうすることによって、外観不良誘因部５１の直前まで樹脂フィルム１００を巻き取ることができる。

上記した実施形態では、各測定点３０における測定時刻を、樹脂フィルム１００の幅方向ＴＤの中央に対応する測定点３０ｆの測定時刻を基準としたが、本発明はこれに限定されるものではなく、他の測定点の測定時刻を基準としてもよい。

上記した実施形態では、２本の冷却ロール１５，１６によって樹脂混合物を冷却して樹脂フィルム１００にしていたが、本発明はこれに限定されるものではない。１本の冷却ロールによって樹脂混合物を冷却してもよいし、３本以上の冷却ロールによって樹脂混合物を冷却してもよい。

上記した実施形態では、自動又は手動により調整ボルト２０ａ〜２０ｆを回すことによって、吐出口２１の開口幅Ｄ２を調整していたが、本発明はこれに限定されるものではない。調整ボルト２０ａ〜２０ｆにヒーターを内蔵させ、ヒーター出力を制御することによって、調整ボルト２０ａ〜２０ｆを熱膨張・熱収縮させ、成形型１２ａ，１２ｂの吐出口２１の開口幅Ｄ２を調整してもよい。

上記した実施形態では、制御手段２３は、厚み測定手段２２及び成形装置２と直接接続されていたが、本発明はこれに限定されるものではない。制御手段２３は、厚み測定手段２２及び成形装置２と他の部材を介して接続されていてもよい。

上記した実施形態では、固化手段として２つの冷却ロール１５，１６を使用していたが、本発明はこれに限定されるものではなく、固化手段の数は、特に限定されない。例えば、固化手段として片方の冷却ロール１６のみを用いてもよいし、３つ以上の冷却ロールを用いてもよい。

上記した実施形態は、本発明の技術的範囲に含まれる限り、各実施形態間で各構成部材を自由に置換や付加することができる。

以下に、実施例をもって本発明をさらに具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。

（実施例１）
アクリル系樹脂の原料を溶融し、さらに調整ボルト２０（調整部）が２５ｍｍ間隔に並んだＴダイ成形型から押し出して、製品幅１４９０ｍｍ、目標厚み６０μｍ、全長１０００ｍのアクリル系樹脂製の樹脂フィルム１００を製膜した。そして、製膜した樹脂フィルム１００を巻取ロール６によってロール状に巻き取った。
製膜時は厚み計（厚み調整手段１７）で樹脂フィルム１００の幅方向に１８５０ｍｍを１走査２５秒で測定を行った。また、厚み計による幅方向の測定点の間隔は２ｍｍであり厚み偏差を演算する際に用いる平均値を測定点から調整ボルト２０の５本分の間隔である１００ｍｍの平均算出範囲Ｒに属する各測定点での厚みの平均値とし、平均化演算のデータサンプリング間隔Ｔを１０ｍ、サンプリングデータ数Ｎを５０、外観不良誘因部５１の判定時の各測定点３０における偏差閾値Ｄ３を±１．５μｍに設定して、１分毎に厚みを自動調整しながら１時間製膜した。
実施例１において樹脂フィルム１００の巻き取りを行った結果、ロール状の樹脂フィルム１００の表面に外観不良が発生しなかった。

（比較例１）
比較例１として外観不良判定動作を行わずに同様の条件で１時間製膜を行い、ロール状に樹脂フィルム１００を巻き取った。
比較例１において樹脂フィルム１００の巻き取りを行った結果、ロール状の樹脂フィルム１００の表面に幅方向において５箇所の外観不良が発生した。

続いて、幅方向に５箇所の外観不良が発生した比較例１の樹脂フィルムの測定結果を使用し、各パラメータにおける外観不良判定動作の精度を検討した。

（実験例１）
厚み偏差を演算する際に用いる平均値を調整ボルト２０の３本分の間隔である５０ｍｍの平均算出範囲Ｒに属する各測定点での厚みの平均値とし、その他は実施例１と同様の条件とし、これを実験例１とした。

（実験例２）
実験例１において、厚み偏差を演算する際に用いる平均値を調整ボルト２０の４本分の間隔である７５ｍｍの平均算出範囲Ｒに属する各測定点での厚みの平均値とし、これを実験例２とした。

（実験例３）
実験例１において、厚み偏差を演算する際に用いる平均値を調整ボルト２０の５本分の間隔である１００ｍｍの平均算出範囲Ｒに属する各測定点での厚みの平均値とし、これを実験例３とした。すなわち、実施例１と同様の条件で各パラメータにおける外観不良判定動作の精度を検討した。

（実験例４）
実験例１において、厚み偏差を演算する際に用いる平均値を調整ボルト２０の６本分の間隔である１２５ｍｍの平均算出範囲Ｒに属する各測定点での厚みの平均値とし、これを実験例４とした。

（実験例５）
実験例１において、厚み偏差を演算する際に用いる平均値を調整ボルト２０の７本分の間隔である１５０ｍｍの平均算出範囲Ｒに属する各測定点での厚みの平均値とし、これを実験例５とした。

以下の表１に実験結果を示す。

表１から読み取れるように、実施例１と同様の条件である実験例３では、後に５箇所の外観不良をもたらす外観不良誘因部を正確に判定でき、検出漏れや過剰検知が発生しなかった。
表１から読み取れるように、平均算出範囲Ｒが７５ｍｍ（調整ボルト２０の間隔の３倍相当）以下の場合には検出漏れが発生した。すなわち、後に５箇所の外観不良をもたらす外観不良誘因部を全て検出できなかった。
一方、平均算出範囲Ｒが１５０ｍｍ（調整ボルト２０の間隔の６倍相当）以上の場合には過剰検知が発生した。すなわち、後に５箇所の外観不良をもたらす外観不良誘因部以外の部分も外観不良誘因部として検出した。
このことから、調整ボルト２０の間隔の３倍超過６倍未満の範囲にすることで、検出漏れや過剰検知の発生を実質的に防止できることが分かった。

１，２００，３００製造装置
２成形装置
３外観不良判定装置
５搬送装置
６巻取ロール
１０供給装置
１１押出装置
１２ａ，１２ｂ成形型
１５，１６冷却ロール（固化手段）
１７厚み調整手段
２０，２０ａ〜２０ｆ調整ボルト（調整部材）
２１吐出口
２２厚み測定手段
２３制御手段
２６厚み計測部
３０，３０ａ〜３０ｋ，３０ｆ₁，３０ｆ₂，３０ｆ_N 測定点
３１ａ〜３１ｇ搬送ローラー
３２巻取開始点
３５往路側測定群
３６復路側測定群
５０外観不良
５１外観不良誘因部
１００樹脂フィルム
２０１撮影装置

Claims

ライン状の吐出口を構成する一対の成形型と、前記吐出口の延び方向に並設され前記吐出口の開口幅を調整する複数の調整部材と、前記吐出口から吐出されるフィルム状物の中間生成物を固化しフィルム状物を形成する固化手段とを備えた成形装置に接続されて使用される外観不良判定装置であって、
送出手段と、巻取手段と、測定手段と、制御手段を有し、
前記送出手段は、前記成形装置から前記フィルム状物を引き取って前記巻取手段側に送り出すものであり、
前記巻取手段は、前記送出手段から送り出された前記フィルム状物を巻き取るものであり、
前記測定手段は、前記送出手段と前記巻取手段の間に位置し、かつ、移動中の前記フィルム状物に対して前記フィルム状物の移動方向に対して交差する方向に走査して前記フィルム状物の厚みを測定するものであり、
前記制御手段は、前記測定手段及び前記成形装置と直接又は他の部材を介して接続され、外観不良誘因部を判定する外観不良判定動作を実行可能であり、
前記外観不良判定動作は、走査方向の各測定点での前記フィルム状物の厚みと前記走査方向の前記フィルム状物の厚みの平均値から各測定点の偏差を経時変化ごとに求める偏差算出工程と、
各測定点において、前記フィルム状物の幅方向の同一測定点の経時変化での偏差の平均値を所定の偏差閾値と比較する偏差比較工程と、
前記偏差の平均値が前記偏差閾値を超える測定点を外観不良誘因部と判定する判定工程を有し、
前記偏差算出工程で使用する前記走査方向の前記フィルム状物の厚みの平均値は、判定対象の測定点を中心とする前記走査方向の所定の範囲に属する測定点の平均値であり、
前記所定の範囲は、前記フィルム状物の幅よりも狭く、一の調整部材と、前記一の調整部材に隣接する調整部材の間隔の３倍超過６倍未満の範囲であることを特徴とする外観不良判定装置。
前記偏差閾値は、上側閾値と下側閾値があり、
前記下側閾値は、−１μｍ未満の値であり、
前記上側閾値は、１μｍ超過の値であることを特徴とする請求項１に記載の外観不良判定装置。
前記判定工程において、前記偏差の平均値が前記偏差閾値を超えた値を取り、さらに前記走査方向における変化の割合の絶対値が所定の閾値以上の値を取る測定点を外観不良誘因部と判定することを特徴とする請求項１又は２に記載の外観不良判定装置。
前記偏差算出工程において、判定対象の測定点が属する測定群の現在の偏差データと過去の各測定群の偏差データとの中から、現在の偏差データを含む所定のデータ数の偏差データを測定時刻の間隔が一定となるように抽出し、抽出した偏差データを使用して、各測定点における偏差を求めるものであり、
前記巻取手段で巻き取られたフィルム状物の表面の高低差を検出する高低差検出手段を有し、
前記表面の高低差が高低差閾値範囲を超える場合に、前記偏差算出工程で抽出する偏差データの測定時刻の間隔を調整することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の外観不良判定装置。
請求項１乃至４のいずれかに記載の外観不良判定装置と、前記成形装置を有し、
前記成形装置は、前記外観不良誘因部と判定された測定点に対応する調整部材を調整し、前記偏差の平均値が偏差閾値を超えないように前記吐出口の開口幅を調整することを特徴とするフィルム状物の製造装置。
前記巻取手段で巻き取られた前記フィルム状物の表面の高低差を検出する高低差検出手段を有し、
前記表面の高低差が高低差閾値範囲を超える場合に、前記一対の成形型の間隔を調整して前記吐出口の開口幅を調整することを特徴とする請求項５に記載のフィルム状物の製造装置。
請求項５又は６に記載のフィルム状物の製造装置を使用する樹脂フィルムの製造方法であって、
樹脂原料又は樹脂材料を溶融、混練して樹脂混合物を形成し、当該樹脂混合物を一対の成形型まで押し出す押出工程と、
前記吐出口から前記樹脂混合物をフィルム状に吐出する吐出工程と、
前記固化手段で前記樹脂混合物を引き取る引取工程と、
成形された樹脂フィルムの厚みを測定する厚み計測工程と、
前記巻取手段によって前記樹脂フィルムをロール状に巻き取る巻取工程を有し、
前記厚み計測工程中に前記外観不良判定動作を実施し、樹脂フィルムの外観不良誘因部の有無を判定することを特徴とする樹脂フィルムの製造方法。