JP2019045151A - 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 - Google Patents
電磁波測定装置及び電磁波測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019045151A JP2019045151A JP2017164616A JP2017164616A JP2019045151A JP 2019045151 A JP2019045151 A JP 2019045151A JP 2017164616 A JP2017164616 A JP 2017164616A JP 2017164616 A JP2017164616 A JP 2017164616A JP 2019045151 A JP2019045151 A JP 2019045151A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- antenna
- measurement
- electromagnetic wave
- state
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
【課題】放射エミッションの測定に要する時間を短縮し、かつ被測定体の放射ミッションを非測定点において精度よく取得することが可能な電磁波測定装置及び電磁波測定方法を提供する。【解決手段】電磁波測定装置は、被測定体を回転させる回転機構と、被測定体から放射された電磁波を受信するアンテナと、回転機構により被測定体を回転させる回転軸ＡＸに対して平行または略平行な方向にアンテナを移動させるアンテナ移動機構と、アンテナにより受信された電磁波に関する値を測定する測定器と、回転機構により被測定体が回転させられている状態においてアンテナ移動機構を制御することでアンテナを停止させる第１の状態、第１の状態の後に所定の速さ以下でアンテナを一方向に継続的に移動させる第２の状態、第２の状態の後にアンテナを停止させる第３の状態とする制御部とを備え、測定器は、一方向について半波長以下の間隔の位置で電磁波に関する値を測定する。【選択図】図１
Description
本発明は、電磁波測定装置及び電磁波測定方法に関する。
従来、放射エミッションの測定対象である被測定体を回転機構によって回転させつつ、かつ放射エミッションを受信するアンテナを所定の高さ毎に移動させて、被測定体の放射エミッションを測定する方法が知られている（特許文献１参照。）。
従来の技術では、放射エミッションを受信するアンテナの高さが所定の高さに位置する毎に、回転機構が被測定体を一周させるまでの間、当該アンテナの移動を停止させることが求められ、放射エミッションの測定に時間を要する場合があった。また、従来の技術では、測定装置は放射エミッションを所定の時間間隔で測定するため、測定装置が測定するタイミングと、当該タイミングにおける被測定体の向きによっては、所望の向きにおける被測定体の放射エミッションを取得することが困難な可能性があった。
本発明は、このような事情を考慮してなされたもので、放射エミッションの測定に要する時間を短縮し、かつ被測定体の放射エミッションを非測定点（測定点ではない位置の点）においても精度よく取得することが可能な電磁波測定装置及び電磁波測定方法を提供することを課題とする。
本発明の一態様は、被測定体を回転させる回転機構と、前記被測定体から放射された電磁波を受信するアンテナと、前記回転機構により前記被測定体を回転させる回転軸に対して平行または略平行な方向に前記アンテナを移動させるアンテナ移動機構と、前記アンテナにより受信された前記電磁波に関する値を測定する測定器と、前記回転機構により前記被測定体が回転させられている状態において、前記アンテナ移動機構を制御することで、前記アンテナを停止させる第１の状態、前記第１の状態の後に｛（前記測定器による測定について設定された波長の半波長）×（前記回転機構により前記被測定体が回転させられる回転速度）｝に相当する速さ以下で前記アンテナを一方向に継続的に移動させる第２の状態、前記第２の状態の後に前記アンテナを停止させる第３の状態とする制御部と、を備え、前記測定器は、前記一方向について、前記半波長以下の間隔の位置で前記電磁波に関する値を測定する、電磁波測定装置である。
本発明の一態様の電磁波測定装置において、前記測定器は、前記回転機構により前記被測定体を回転させる方向について、前記半波長以下の間隔の位置で前記電磁波に関する値を測定する。
本発明の一態様の電磁波測定装置において、前記制御部は、前記第１の状態において、前記回転機構により前記被測定体を回転させる１回転または略１回転に相当する時間、前記アンテナを停止させ、前記制御部は、前記第２の状態において、前記一方向における所定の距離に相当する時間、前記アンテナを前記一方向に継続的に移動させ、前記制御部は、前記第３の状態において、前記回転機構により前記被測定体を回転させる１回転または略１回転に相当する時間、前記アンテナを停止させる。
本発明の一態様の電磁波測定装置において、前記測定器は、｛（前記回転機構により前記被測定体を回転させる１回転に要する時間）／（所定の整数）｝に相当する時間毎に前記電磁波に関する値を測定し、前記制御部は、前記第１の状態において、前記電磁波に関する値の測定が開始された後、前記電磁波に関する値の測定が開始された位置に再び戻るよりも１つ前の測定位置で前記電磁波に関する値が測定された後であって、前記電磁波に関する値の測定が開始された位置に再び戻るよりも前に、前記第２の状態へ遷移する。
本発明の一態様は、回転機構により被測定体が回転させられている状態において、前記回転機構により前記被測定体を回転させる回転軸に対して平行または略平行な方向に前記被測定体から放射された電磁波を受信するアンテナを移動させるアンテナ移動機構により、前記アンテナを停止させる第１の状態、前記第１の状態の後に｛（前記アンテナにより受信された前記電磁波に関する値を測定する測定器による測定について設定された波長の半波長）×（前記回転機構により前記被測定体が回転させられる回転速度）｝に相当する速さ以下で前記アンテナを一方向に継続的に移動させる第２の状態、前記第２の状態の後に前記アンテナを停止させる第３の状態とし、前記測定器によって、前記一方向について、前記半波長以下の間隔の位置で前記電磁波に関する値を測定する、電磁波測定方法である。
本発明によれば、放射エミッションの測定に要する時間を短縮し、かつ被測定体の放射エミッションを非測定点においても精度よく取得することが可能な電磁波測定装置及び電磁波測定方法を提供することが可能である。
本発明を実施するための好適な形態につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。
以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、均等の範囲のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、均等の範囲のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成要素は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。
＜第１実施形態＞
図１は、第１実施形態の電磁波測定装置１の一例を示す図である。電磁波測定装置１は、機構制御部１０と、アンテナ移動機構２１と、回転機構２２と、アンテナ３０と、測定器４０とを備える。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１及び回転機構２２の駆動を制御する。
図１は、第１実施形態の電磁波測定装置１の一例を示す図である。電磁波測定装置１は、機構制御部１０と、アンテナ移動機構２１と、回転機構２２と、アンテナ３０と、測定器４０とを備える。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１及び回転機構２２の駆動を制御する。
アンテナ移動機構２１は、アンテナマストＭに取り付けられ、アンテナ３０を支持する。アンテナマストＭは、アンテナマストＭが設置される面に対して垂直方向に配置される支柱である。本実施形態では、アンテナマストＭが設置される面は、床面Ｆである。アンテナ移動機構２１は、機構制御部１０の制御に基づいて、アンテナマストＭに沿ってアンテナ３０を移動させる。アンテナ３０は、アンテナ移動機構２１の駆動によって、床面Ｆに対して垂直方向に移動する。つまり、アンテナ３０の移動方向は、床面Ｆに対して垂直方向である。なお、本実施形態では、アンテナ移動機構２１がアンテナ３０を移動させる垂直方向の範囲は、アンテナマストＭの垂直方向の長さと略同じである。
ここで、本実施形態では、床面Ｆが平面であるとし、当該床面Ｆに対して垂直な方向が重力の方向（上下の方向）に一致する場合を例とする。なお、アンテナマストＭが設置される面と、アンテナ３０の移動方向との位置関係として、他の位置関係が用いられてもよい。
ここで、本実施形態では、床面Ｆが平面であるとし、当該床面Ｆに対して垂直な方向が重力の方向（上下の方向）に一致する場合を例とする。なお、アンテナマストＭが設置される面と、アンテナ３０の移動方向との位置関係として、他の位置関係が用いられてもよい。
回転機構２２は、機構制御部１０の制御に基づいて、当該回転機構２２の上に配置される物体を回転させる。回転機構２２は、例えば、回転テーブルである。本実施形態では、回転機構２２の上には、台Ｂが配置される。台Ｂの上には、測定器４０により測定を行う対象（測定対象）である装置（以下、被測定体５０という。）が配置される。回転機構２２は、機構制御部１０による制御に基づいて、床面Ｆと直交する方向（垂直方向）の回転軸（以下、回転軸ＡＸという。）の周りに台Ｂ及び被測定体５０を回転させる。回転機構２２は、回転機構２２の回転軸ＡＸと、アンテナマストＭとが平行（又は略平行）となるように配置されることが好ましい。なお、被測定体５０は、台Ｂを介さずに、回転機構２２上に配置される構成であってもよい。
ここで、被測定体５０としては、任意のものが用いられてもよく、例えば、コンピュータや携帯機器などのＩＴ機器が用いられてもよい。
ここで、被測定体５０としては、任意のものが用いられてもよく、例えば、コンピュータや携帯機器などのＩＴ機器が用いられてもよい。
アンテナ３０は、被測定体５０が放射する電磁波を受信する。本実施形態では、アンテナ３０は、被測定体５０が放射する電磁波の水平偏波を受信する。測定器４０と、アンテナ３０は、接続されており、測定器４０は、アンテナ３０が受信した電磁波の強度を、被測定体５０の放射エミッションの電界強度として測定する。ここで、本実施形態では、被測定体５０が放射する電磁波のことを放射エミッションともいう。
測定器４０は、広帯域の電界強度を一括して測定することが可能な測定器である。測定器４０は、例えば、スペクトルアナライザである。以降の説明において、被測定体５０による放射エミッションの測定を、放射エミッション測定と記載する。本実施形態の測定器４０は、例えば、所定の時間間隔（以下、測定間隔という。）毎に放射エミッション測定により放射エミッションの電界強度を測定情報として取得することを行う。以降の説明において、被測定体５０の放射エミッション測定を行い、取得した放射エミッションの電界強度を示す測定情報を、測定値と記載する。なお、測定器４０は、スペクトルアナライザの他、タイムドメインスキャンによって電磁波の電界強度を取得する構成であってもよい。例えば、測定器４０は、時間軸で得られた情報（時間領域信号）をＦＦＴ（Fast Fourier Transform）などにより周波数軸の情報（周波数領域信号）へ変換してもよい。また、測定器４０は、例えば、単一の周波数の測定値を取得するものであってもよい。
測定器４０は、広帯域の電界強度を一括して測定することが可能な測定器である。測定器４０は、例えば、スペクトルアナライザである。以降の説明において、被測定体５０による放射エミッションの測定を、放射エミッション測定と記載する。本実施形態の測定器４０は、例えば、所定の時間間隔（以下、測定間隔という。）毎に放射エミッション測定により放射エミッションの電界強度を測定情報として取得することを行う。以降の説明において、被測定体５０の放射エミッション測定を行い、取得した放射エミッションの電界強度を示す測定情報を、測定値と記載する。なお、測定器４０は、スペクトルアナライザの他、タイムドメインスキャンによって電磁波の電界強度を取得する構成であってもよい。例えば、測定器４０は、時間軸で得られた情報（時間領域信号）をＦＦＴ（Fast Fourier Transform）などにより周波数軸の情報（周波数領域信号）へ変換してもよい。また、測定器４０は、例えば、単一の周波数の測定値を取得するものであってもよい。
＜機構制御部１０の構成＞
以下、機構制御部１０の構成の詳細について説明する。
図２は、第１実施形態の機構制御部１０の構成の一例を示す図である。
図２に示す通り、機構制御部１０は、主制御部１１０と、入力装置１２０と、出力装置１３０と、記憶部１４０と、内部バス１５０とを備える。機構制御部１０が備える各部（主制御部１１０、入力装置１２０、出力装置１３０、記憶部１４０）は、内部バス１５０によって情報の送受信が可能に接続される。主制御部１１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などのハードウェアプロセッサが記憶部１４０に記憶されるプログラム（ソフトウェア）を実行することにより実現される。また、これらの構成要素のうち一部または全部は、ＬＳＩ（Large Scale Integration）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）などのハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアとハードウェアの協働によって実現されてもよい。記憶部１４０は、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）、フラッシュメモリ、ＳＤ（Secure Digital）カード、ＲＡＭ（Random Access Memory）、レジスタ等によって実現される。
以下、機構制御部１０の構成の詳細について説明する。
図２は、第１実施形態の機構制御部１０の構成の一例を示す図である。
図２に示す通り、機構制御部１０は、主制御部１１０と、入力装置１２０と、出力装置１３０と、記憶部１４０と、内部バス１５０とを備える。機構制御部１０が備える各部（主制御部１１０、入力装置１２０、出力装置１３０、記憶部１４０）は、内部バス１５０によって情報の送受信が可能に接続される。主制御部１１０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）などのハードウェアプロセッサが記憶部１４０に記憶されるプログラム（ソフトウェア）を実行することにより実現される。また、これらの構成要素のうち一部または全部は、ＬＳＩ（Large Scale Integration）やＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）、ＧＰＵ（Graphics Processing Unit）などのハードウェアによって実現されてもよいし、ソフトウェアとハードウェアの協働によって実現されてもよい。記憶部１４０は、例えば、ＲＯＭ（Read Only Memory）、フラッシュメモリ、ＳＤ（Secure Digital）カード、ＲＡＭ（Random Access Memory）、レジスタ等によって実現される。
入力装置１２０は、放射エミッション測定に係る各種設定を入力する装置である。具体的には、入力装置１２０は、放射エミッション測定の動作に必要な情報の入力や、各部の動作の指示の入力に用いられる。入力装置１２０には、例えば、アンテナ移動機構２１の移動速度や移動方向を示す情報や、回転機構２２の回転速度や回転方向を示す情報が入力される。
出力装置１３０は、放射エミッション測定の動作に関連する各種情報を出力する。出力装置１３０は、例えば、表示装置に当該各種情報を出力する。表示装置は、出力装置１３０から出力された各種情報を表示する。また、出力装置１３０は、例えば、当該各種情報を収集する収集装置とネットワークを介して接続されており、収集装置に対して当該各種情報を出力する。
出力装置１３０は、放射エミッション測定の動作に関連する各種情報を出力する。出力装置１３０は、例えば、表示装置に当該各種情報を出力する。表示装置は、出力装置１３０から出力された各種情報を表示する。また、出力装置１３０は、例えば、当該各種情報を収集する収集装置とネットワークを介して接続されており、収集装置に対して当該各種情報を出力する。
＜駆動の概要＞
以下、図を参照し、回転機構２２の駆動の詳細について説明する。
図３は、第１実施形態の回転機構２２の駆動例を示す図である。
図３に示す測定方向Ｄは、回転機構２２の駆動に伴い、放射エミッション測定が行われる方向を示す。回転機構２２は、放射エミッション測定の間、機構制御部１０の制御に基づいて、被測定体５０を常時回転させる。本実施形態では、アンテナ３０が被測定体５０から放射される電磁波を測定する測定点（以下、測定点ＭＰという。）は、回転機構２２の回転軸ＡＸから当該回転軸ＡＸに対して垂直方向に距離ｒだけ離れた位置である。距離ｒは、例えば、回転機構２２の回転軸ＡＸからアンテナ３０までの距離である。ここで、被測定体５０は、回転機構２２の回転軸ＡＸに近接する位置又は回転軸ＡＸが被測定体５０を通る位置に配置される。したがって、距離ｒは、被測定体５０からアンテナ３０までの距離と同じ（又は略同じ）である。
回転機構２２が測定間隔の時間において回転する角度の値をθと示し、測定器４０が測定する電磁波の最大周波数の波長（つまり、最短波長）をλと示す場合、θ、ｒ及びλの関係を、式（１）によって示される条件で設定した。
以下、図を参照し、回転機構２２の駆動の詳細について説明する。
図３は、第１実施形態の回転機構２２の駆動例を示す図である。
図３に示す測定方向Ｄは、回転機構２２の駆動に伴い、放射エミッション測定が行われる方向を示す。回転機構２２は、放射エミッション測定の間、機構制御部１０の制御に基づいて、被測定体５０を常時回転させる。本実施形態では、アンテナ３０が被測定体５０から放射される電磁波を測定する測定点（以下、測定点ＭＰという。）は、回転機構２２の回転軸ＡＸから当該回転軸ＡＸに対して垂直方向に距離ｒだけ離れた位置である。距離ｒは、例えば、回転機構２２の回転軸ＡＸからアンテナ３０までの距離である。ここで、被測定体５０は、回転機構２２の回転軸ＡＸに近接する位置又は回転軸ＡＸが被測定体５０を通る位置に配置される。したがって、距離ｒは、被測定体５０からアンテナ３０までの距離と同じ（又は略同じ）である。
回転機構２２が測定間隔の時間において回転する角度の値をθと示し、測定器４０が測定する電磁波の最大周波数の波長（つまり、最短波長）をλと示す場合、θ、ｒ及びλの関係を、式（１）によって示される条件で設定した。
ｒθ≦λ／２…（１）
ここで、本実施形態では、ｒθ＝λ／２である場合について説明する。測定器４０が測定する電磁波の最大周波数は、アンテナ３０が受信可能な最大の周波数であってもよく、測定器４０が測定する測定対象の電磁波の最大周波数として設定される周波数であってもよく、被測定体５０が放射すると推定される電磁波の最大周波数であってもよい。測定器４０が測定する電磁波の範囲は、例えば、３０Ｍ［Ｈｚ］〜１［ＧＨｚ］である。測定器４０が測定する電磁波の最大周波数が１［ＧＨｚ］であって、かつ電磁波の伝搬速度が約３０万キロメートル毎秒である場合、λは、約３００［ｍｍ］である。
測定器４０は、例えば、回転機構２２が被測定体５０を回転させ始めてから所定の時間が経過した後、放射エミッション測定を開始する。また、測定器４０は、例えば、放射エミッション測定を開始したことを示す情報を機構制御部１０に供給する。機構制御部１０は、当該情報を取得したことに応じて、アンテナ移動機構２１及び回転機構２２を制御する。アンテナ移動機構２１は、機構制御部１０の制御に基づいて、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を下辺において停止させる。以降の説明において、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナマストＭの端部（下辺）において停止させる状態を、第１状態と記載する。
また、アンテナ移動機構２１は、第１状態の後、機構制御部１０による制御に基づいて、アンテナ３０を床面Ｆから離れる方向（上方）に移動させる。ここで、回転機構２２が被測定体５０を回転させる際の角速度をωと示し、アンテナ移動機構２１がアンテナ３０を上方に継続的に移動させる際の速度（以下、移動速度という。）をｖと示す場合、ω及びｖの関係を、式（２）によって示される条件で設定した。
また、アンテナ移動機構２１は、第１状態の後、機構制御部１０による制御に基づいて、アンテナ３０を床面Ｆから離れる方向（上方）に移動させる。ここで、回転機構２２が被測定体５０を回転させる際の角速度をωと示し、アンテナ移動機構２１がアンテナ３０を上方に継続的に移動させる際の速度（以下、移動速度という。）をｖと示す場合、ω及びｖの関係を、式（２）によって示される条件で設定した。
ｖ≦λω／４π…（２）
ここで、本実施形態では、ｖ＝λω／４πである場合について説明する。この場合、移動速度ｖは、測定器４０による測定について設定された波長の半波長（この一例では、λ／２）の値に、回転機構２２により被測定体５０が回転させられる回転速度（この一例では、ω／２π）の値を乗じた結果の値に相当する。
アンテナ移動機構２１は、下辺からアンテナマストＭの他の端部（上辺）まで式（２）によって示される移動速度ｖによってアンテナ３０を移動させる。以降の説明において、第１状態の後、アンテナ移動機構２１が移動速度ｖによってアンテナ３０を下辺から上辺まで上方に継続的に移動させる状態を、第２状態と記載する。
また、アンテナ移動機構２１は、第２状態の後、機構制御部１０の制御に基づいて、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる。以降の説明において、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０が上辺において停止させる状態を、第３状態と記載する。機構制御部１０は、例えば、アンテナ３０を上辺において停止させたことを示す情報を測定器４０に供給する。測定器４０は、機構制御部１０から当該情報を取得したことに応じて、放射エミッション測定を終了する。具体的には、測定器４０は、機構制御部１０から当該情報を取得した後、回転機構２２が被測定体５０を１回転させるまでの時間が経過した後、放射エミッション測定を終了する。以降の説明において、第１状態において測定器４０が放射エミッション測定を開始してから、第３状態において放射エミッション測定が終了されるまでの間に行われた放射エミッション測定を総称して全放射エミッション測定と記載する。
アンテナ移動機構２１は、下辺からアンテナマストＭの他の端部（上辺）まで式（２）によって示される移動速度ｖによってアンテナ３０を移動させる。以降の説明において、第１状態の後、アンテナ移動機構２１が移動速度ｖによってアンテナ３０を下辺から上辺まで上方に継続的に移動させる状態を、第２状態と記載する。
また、アンテナ移動機構２１は、第２状態の後、機構制御部１０の制御に基づいて、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる。以降の説明において、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０が上辺において停止させる状態を、第３状態と記載する。機構制御部１０は、例えば、アンテナ３０を上辺において停止させたことを示す情報を測定器４０に供給する。測定器４０は、機構制御部１０から当該情報を取得したことに応じて、放射エミッション測定を終了する。具体的には、測定器４０は、機構制御部１０から当該情報を取得した後、回転機構２２が被測定体５０を１回転させるまでの時間が経過した後、放射エミッション測定を終了する。以降の説明において、第１状態において測定器４０が放射エミッション測定を開始してから、第３状態において放射エミッション測定が終了されるまでの間に行われた放射エミッション測定を総称して全放射エミッション測定と記載する。
機構制御部１０が上述したようにアンテナ移動機構２１及び回転機構２２を制御することにより、測定点ＭＰの軌跡は、下辺で円を描き、らせん状に上方に移動し、上辺で円を描くように移動する。したがって、測定器４０は、アンテナ３０の垂直方向の移動範囲の下限高さと、上限高さとにおいて輪切り状に放射エミッション測定を行う。また、測定器４０は、下限高さと、上限高さとの間においては、らせん状に放射エミッション測定を行う。測定点ＭＰは、被測定体５０の周辺に存在する円柱形の側面に存在する。円柱形は、回転機構２２の回転軸ＡＸを中心として半径が距離ｒの円の断面を有し、アンテナ３０の移動範囲の高さ（下限高さから上限高さまでの高さ）を有する。以下、測定点ＭＰの詳細について図を参照して説明する。
図４は、第１実施形態の測定点ＭＰ及び測定方向Ｄの補間の一例を示す図である。図４は、測定点ＭＰが存在する円柱形の展開図である。本実施形態では、円柱形の下辺の面及び上辺の面の円の円周の長さが、λ／２×５である。したがって、第１状態において、測定器４０が測定する測定点ＭＰの数は、５つ（図示する測定点ＭＰ１〜測定点ＭＰ５）である。上述したように、アンテナ移動機構２１は、第１状態において下辺にアンテナ３０を配置し、停止させる。したがって、測定器４０は、第１状態の間、測定点ＭＰ１〜測定点ＭＰ６の放射エミッション測定を行う。また、上述したように、アンテナ移動機構２１は、第２状態においてアンテナ３０を上方に継続的に移動させる。したがって、測定器４０は、第２状態の間、測定点ＭＰ７〜測定点ＭＰ２０の放射エミッション測定を行う。また、上述したように、アンテナ移動機構２１は、第３状態において上辺にアンテナ３０を配置し、停止させる。したがって、測定器４０は、第３状態の間、測定点ＭＰ２１〜測定点ＭＰ２６の放射エミッション測定を行う。
測定器４０は、測定方向Ｄに隣接して存在する測定点ＭＰ間の位置（以下、補間位置ＣＰという。）において被測定体５０が放射した電磁波を取得（補間）する。測定器４０は、例えば、測定点ＭＰ間の補間位置ＣＰにおいて被測定体５０が放射した電磁波を、測定器４０の測定結果に基づいて、ゼロ内挿を行うことにより取得する。具体的には、測定器４０は、補間位置ＣＰ（図示する補間位置ＣＰ１）の測定方向Ｄの両端の測定点ＭＰ（図示する測定点ＭＰ４及び測定点ＭＰ５）における測定器４０の測定結果に基づいて、補間位置ＣＰ１における測定値を取得する。具体的には、測定器４０は、測定を行った測定点ＭＰ間の補間位置ＣＰにゼロ内挿（値がゼロのデータを追加すること）を行う。測定器４０は、ゼロ内挿した補間位置ＣＰにローパスフィルタを適用し補間を行う。以降の説明において、測定器４０が補間位置ＣＰにおける測定値を取得する処理を補間処理と記載する。測定器４０が行う補間処理は測定周波数毎の高さ方向の系列のデータ、角度方向の系列のデータに対して行う。測定器４０は、補間処理において、ローパスフィルタの遮断周波数を測定対象の電磁波の周波数帯域に応じた周波数に設定しフィルタリングを行う。この場合、当該遮断周波数を超える周波数を有する電磁波の情報が滑らかにされる。上述したように、測定点ＭＰ間の距離は、λ／２以下の長さの距離である。したがって、測定器４０は、最大周波数の半波長（λ／２）以下の間隔で放射エミッションを測定する。これにより、空間方向のサンプリング定理を満たす。このため、測定器４０は、測定点ＭＰにおいて測定した放射エミッションの測定値に基づいて、測定を行っていない補間位置ＣＰであって、測定方向Ｄに存在する測定点ＭＰ間の補間位置ＣＰにおける放射エミッションの値を、補間により算出することができる。
なお、ｒθがλ／２より小さい値である場合（例えば、λ／４等である場合）、補間位置ＣＰの補間結果の算出に用いられる複数の測定点ＭＰは、サンプリング定理の条件を満たせば、測定方向Ｄに存在する測定点ＭＰのうちで隣接していない測定点ＭＰであることもあり得る。
なお、ｒθがλ／２より小さい値である場合（例えば、λ／４等である場合）、補間位置ＣＰの補間結果の算出に用いられる複数の測定点ＭＰは、サンプリング定理の条件を満たせば、測定方向Ｄに存在する測定点ＭＰのうちで隣接していない測定点ＭＰであることもあり得る。
図５は、第１実施形態の測定点ＭＰ及びアンテナ３０の移動方向の補間の一例を示す図である。上述したように、アンテナ移動機構２１がアンテナ３０を移動させる速度は、移動速度ｖである。この場合、測定点ＭＰの上下方向の間隔は、λ／２以下の距離である。測定器４０は、アンテナ３０の移動方向に隣接して存在する測定点ＭＰ間の補間位置ＣＰにおける被測定体５０の放射エミッションの測定値を補間により取得する。つまり、測定点ＭＰにおける測定結果に基づいて、測定器４０は、アンテナ３０の移動方向に存在する測定点ＭＰ間の補間位置ＣＰについて、補間処理を行う。
図示する一例では、測定器４０は、補間位置ＣＰ（図示する補間位置ＣＰ２）のアンテナ３０の移動方向に隣接して存在する測定点ＭＰ間（図示する測定点ＭＰ１４及び測定点ＭＰ１９）における測定器４０の測定結果に基づいて、補間位置ＣＰ２における補間処理を行う。上述したように、測定点ＭＰ間の距離は、λ／２以下の長さの距離である。つまり、測定器４０は、最大周波数の半波長（λ／２）以下の間隔で放射エミッションを測定しており、空間方向のサンプリング定理を満たす。このため、測定器４０は、測定点ＭＰにおける測定値に基づいて、測定を行っていない補間位置ＣＰであって、アンテナ３０の移動方向に存在する測定点ＭＰ間の補間位置ＣＰにおける放射エミッションの値を、補間により算出することができる。以降の説明において、測定器４０が算出（取得）した補間位置ＣＰにおける放射エミッションの値を、補間値と記載する。
なお、移動速度ｖがλω／４πより小さい値である場合（例えば、λω／８π等である場合）、補間位置ＣＰの補間結果の算出に用いられる複数の測定点ＭＰは、サンプリング定理の条件を満たせば、アンテナ３０の移動方向に存在する測定点ＭＰのうちで隣接していない測定点ＭＰであることもあり得る。
図示する一例では、測定器４０は、補間位置ＣＰ（図示する補間位置ＣＰ２）のアンテナ３０の移動方向に隣接して存在する測定点ＭＰ間（図示する測定点ＭＰ１４及び測定点ＭＰ１９）における測定器４０の測定結果に基づいて、補間位置ＣＰ２における補間処理を行う。上述したように、測定点ＭＰ間の距離は、λ／２以下の長さの距離である。つまり、測定器４０は、最大周波数の半波長（λ／２）以下の間隔で放射エミッションを測定しており、空間方向のサンプリング定理を満たす。このため、測定器４０は、測定点ＭＰにおける測定値に基づいて、測定を行っていない補間位置ＣＰであって、アンテナ３０の移動方向に存在する測定点ＭＰ間の補間位置ＣＰにおける放射エミッションの値を、補間により算出することができる。以降の説明において、測定器４０が算出（取得）した補間位置ＣＰにおける放射エミッションの値を、補間値と記載する。
なお、移動速度ｖがλω／４πより小さい値である場合（例えば、λω／８π等である場合）、補間位置ＣＰの補間結果の算出に用いられる複数の測定点ＭＰは、サンプリング定理の条件を満たせば、アンテナ３０の移動方向に存在する測定点ＭＰのうちで隣接していない測定点ＭＰであることもあり得る。
また、測定器４０は、測定方向Ｄの測定点ＭＰ間以外の位置及びアンテナ３０の移動方向の測定点ＭＰ間以外の位置である補間位置ＣＰ（図示する補間位置ＣＰ３）について補間処理を行ってもよい。この場合、測定器４０は、補間位置ＣＰ３の周囲に存在する測定点ＭＰにおける測定値に基づいて、補間位置ＣＰ３の測定方向Ｄの両端及び補間位置ＣＰ３のアンテナ３０の移動方向の両端の補間位置ＣＰにおける補間値を取得し、補間位置ＣＰ３における補間処理を行う。
具体的には、測定器４０は、測定点ＭＰ５及び測定点ＭＰ１０における測定値に基づいて、補間位置ＣＰ４における補間処理を行い、補間値を取得する。また、測定器４０は、取得した補間位置ＣＰ４における補間値と、測定点ＭＰ９おける測定値とに基づいて、補間位置ＣＰ５における補間処理を行い、補間値を取得する。また、測定器４０は、補間位置ＣＰ１及び補間位置ＣＰ５において取得した補間値に基づいて、補間位置ＣＰ３における補間処理を行い、補間値を取得する。
具体的には、測定器４０は、測定点ＭＰ５及び測定点ＭＰ１０における測定値に基づいて、補間位置ＣＰ４における補間処理を行い、補間値を取得する。また、測定器４０は、取得した補間位置ＣＰ４における補間値と、測定点ＭＰ９おける測定値とに基づいて、補間位置ＣＰ５における補間処理を行い、補間値を取得する。また、測定器４０は、補間位置ＣＰ１及び補間位置ＣＰ５において取得した補間値に基づいて、補間位置ＣＰ３における補間処理を行い、補間値を取得する。
なお、補間位置ＣＰは、測定器４０が備える入力装置（不図示）によって指定される構成であってもよい。また、上述では測定器４０が補間処理を行う場合について説明したが、これに限られない。測定器４０は、例えば、測定点ＭＰにおける測定結果を出力し、外部機器が当該測定結果に基づいて、補間処理を行う構成であってもよい。ここで、外部機器は、例えば、ＰＣ（Personal Computer）である。
図６は、第１実施形態の測定器４０の測定方向（水平方向）の補間位置ＣＰの一例を示す図である。具体的には、図６は、測定方向Ｄにおける補間位置ＣＰであって、測定点ＭＰ１〜測定点ＭＰ５の間の補間位置ＣＰの一例を示す図である。測定器４０は、例えば、測定点ＭＰ間に２つずつ補間位置ＣＰを設け、当該補間位置ＣＰにおける補間処理を行う。図６の縦軸には、測定器４０（アンテナ３０）が測定する放射エミッションの測定値（電界強度）を示し、横軸には、測定点ＭＰが存在する円柱形の下辺における円周を示す。
図示する一例では、測定器４０は、測定点ＭＰ１及び測定点ＭＰ２において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ１１及び補間位置ＣＰ１２におけるゼロ内挿を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ２及び測定点ＭＰ３において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ１３及び補間位置ＣＰ１４におけるゼロ内挿を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ３及び測定点ＭＰ４において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ１５及び補間位置ＣＰ１６におけるゼロ内挿を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ４及び測定点ＭＰ５において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ１７及び補間位置ＣＰ１８におけるゼロ内挿を行う。
図７は、第１実施形態の測定方向の補間の一例を示す図である。具体的には、図７は、図６において測定点ＭＰ１〜測定点ＭＰ５の間に設けられた補間位置ＣＰであって、測定器４０が取得した補間位置ＣＰ１１〜補間位置ＣＰ１８の放射エミッションの補間値（電界強度）を示す図である。
図示する一例では、測定器４０は、測定点ＭＰ１及び測定点ＭＰ２において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ１１及び補間位置ＣＰ１２におけるゼロ内挿を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ２及び測定点ＭＰ３において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ１３及び補間位置ＣＰ１４におけるゼロ内挿を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ３及び測定点ＭＰ４において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ１５及び補間位置ＣＰ１６におけるゼロ内挿を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ４及び測定点ＭＰ５において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ１７及び補間位置ＣＰ１８におけるゼロ内挿を行う。
図７は、第１実施形態の測定方向の補間の一例を示す図である。具体的には、図７は、図６において測定点ＭＰ１〜測定点ＭＰ５の間に設けられた補間位置ＣＰであって、測定器４０が取得した補間位置ＣＰ１１〜補間位置ＣＰ１８の放射エミッションの補間値（電界強度）を示す図である。
図８は、第１実施形態の測定器４０のアンテナ３０の移動方向（垂直方向）の補間位置ＣＰの一例を示す図である。具体的には、図８は、垂直方向における補間位置ＣＰであって、測定点ＭＰ６、測定点ＭＰ１１、測定点ＭＰ１６及び測定点ＭＰ２１の間の補間位置ＣＰの一例を示す図である。図８の縦軸には、測定器４０（アンテナ３０）が測定する放射エミッションの測定値（電界強度）を示し、横軸には、測定点が側面に存在する円柱形の高さを示す。測定器４０は、例えば、アンテナ３０の移動方向に存在する測定点ＭＰ間に、２つずつ補間位置ＣＰを設け、当該補間位置ＣＰにおける補間処理を行う。
図示する一例では、測定器４０は、測定点ＭＰ６及び測定点ＭＰ１１において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ２１及び補間位置ＣＰ２２における補間処理を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ１１及び測定点ＭＰ１６において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ２３及び補間位置ＣＰ２４における補間処理を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ１６及び測定点ＭＰ２１において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ２５及び補間位置ＣＰ２６における補間処理を行う。
図９は、第１実施形態の測定器４０のアンテナ３０の移動方向の補間の一例を示す図である。具体的には、図９は、図８において測定点ＭＰ６、測定点ＭＰ１１、測定点ＭＰ１６及び測定点ＭＰ２１の間に設けられた補間位置ＣＰであって、測定器４０が取得した補間位置ＣＰ２１〜補間位置ＣＰ２６の補間値（電界強度）を示す図である。
図示する一例では、測定器４０は、測定点ＭＰ６及び測定点ＭＰ１１において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ２１及び補間位置ＣＰ２２における補間処理を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ１１及び測定点ＭＰ１６において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ２３及び補間位置ＣＰ２４における補間処理を行う。また、測定器４０は、測定点ＭＰ１６及び測定点ＭＰ２１において測定した値に基づいて、補間位置ＣＰ２５及び補間位置ＣＰ２６における補間処理を行う。
図９は、第１実施形態の測定器４０のアンテナ３０の移動方向の補間の一例を示す図である。具体的には、図９は、図８において測定点ＭＰ６、測定点ＭＰ１１、測定点ＭＰ１６及び測定点ＭＰ２１の間に設けられた補間位置ＣＰであって、測定器４０が取得した補間位置ＣＰ２１〜補間位置ＣＰ２６の補間値（電界強度）を示す図である。
図１０は、第１実施形態の電磁波測定装置１の動作の一例を示す流れ図である。
本測定が開始されると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を下辺において停止させる（第１状態）（ステップＳ１１０）。下辺における測定が終了すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、下辺から上辺まで、移動速度ｖによってアンテナ３０を上方に継続的に移動させる（第２状態）（ステップＳ１２０）。アンテナ３０が上辺に到達すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる（第３状態）（ステップＳ１３０）。
本測定が開始されると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を下辺において停止させる（第１状態）（ステップＳ１１０）。下辺における測定が終了すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、下辺から上辺まで、移動速度ｖによってアンテナ３０を上方に継続的に移動させる（第２状態）（ステップＳ１２０）。アンテナ３０が上辺に到達すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる（第３状態）（ステップＳ１３０）。
＜従来例との比較＞
以下、電磁波測定装置１による全放射エミッション測定と、従来技術による全放射エミッション測定に要する時間との差について説明する。まず、本実施形態の全放射エミッション測定について説明し、次に、従来例の全放射エミッション測定について説明する。
この一例において、測定器４０が測定する電磁波の範囲は、３０［ＭＨｚ］〜１［ＧＨｚ］である。したがって、最短波長は、約３００［ｍｍ］（最短波長の１／２は、１５０［ｍｍ］）である。
本実施形態の回転機構２２が被測定体５０を回転させる速度は、１０［ｒｐｍ］である。この場合、回転機構２２の角速度は、式（３）によって示される。
以下、電磁波測定装置１による全放射エミッション測定と、従来技術による全放射エミッション測定に要する時間との差について説明する。まず、本実施形態の全放射エミッション測定について説明し、次に、従来例の全放射エミッション測定について説明する。
この一例において、測定器４０が測定する電磁波の範囲は、３０［ＭＨｚ］〜１［ＧＨｚ］である。したがって、最短波長は、約３００［ｍｍ］（最短波長の１／２は、１５０［ｍｍ］）である。
本実施形態の回転機構２２が被測定体５０を回転させる速度は、１０［ｒｐｍ］である。この場合、回転機構２２の角速度は、式（３）によって示される。
ω＝（２π／６０）×１０＝π／３［ｒａｄ／ｓ］…（３）
つまり、回転機構２２は、測定間隔毎に被測定体５０を５度ずつ回転させた場合、測定器４０は、被測定体５０が１回転するまでの間に７１か所の測定点ＭＰにおいて放射エミッション測定を行う。
この場合、移動速度ｖは、式（４）によって示される。
この場合、移動速度ｖは、式（４）によって示される。
ｖ＝λω／４π＝０．３×（π／３）×（１／４π）＝２．５ ［ｃｍ／ｓ］…（４）
ここで、アンテナマストＭの下辺が床面Ｆから１［ｍ］の高さの位置であって、上辺が床面Ｆから４ｍの高さの位置である場合、アンテナ移動機構２１は、アンテナ３０を３ｍの距離だけ上方に継続的に移動させる。この場合、電磁波測定装置１が各部を制御し、第１状態に要する時間は６秒間であって、第２状態に要する時間は、１２０秒間であって、第３状態に要する時間は、６秒間である。したがって、電磁波測定装置１が各部を制御し、全放射エミッション測定に要する時間は、１３２秒間である。
次に、従来の技術について説明する。
本実施形態に対し、従来の技術では、アンテナ３０は、アンテナマストＭに沿って所定の距離（この一例では、λ／２（＝１５０［ｍｍ］）毎に移動され、停止される。アンテナ３０が１５ｃｍの距離を移動する場合に要する時間は、例えば、加速減速に要する時間も含めて３秒程度である。また、アンテナ３０は、アンテナマストＭの高さ１〜４［ｍ］のところで１５０［ｍｍ］毎に２０回移動する。この移動に要する時間は、６０秒である。上述したように、アンテナマストＭの各位置において、回転機構２２が被測定体５０を１回転させる際に要する時間は、６秒間である。また、測定器は、アンテナマストＭの２１か所の各位置にアンテナ３０が配置される度に放射エミッション測定を行う。したがって、測定に要する時間は、１２６秒である。つまり、従来の技術によって全放射エミッション測定に要する時間は、１８６秒である。
この一例において、本実施形態の電磁波測定装置１は、全放射エミッション測定に要する時間を、従来の技術よりも５４秒短縮することができる。
本実施形態に対し、従来の技術では、アンテナ３０は、アンテナマストＭに沿って所定の距離（この一例では、λ／２（＝１５０［ｍｍ］）毎に移動され、停止される。アンテナ３０が１５ｃｍの距離を移動する場合に要する時間は、例えば、加速減速に要する時間も含めて３秒程度である。また、アンテナ３０は、アンテナマストＭの高さ１〜４［ｍ］のところで１５０［ｍｍ］毎に２０回移動する。この移動に要する時間は、６０秒である。上述したように、アンテナマストＭの各位置において、回転機構２２が被測定体５０を１回転させる際に要する時間は、６秒間である。また、測定器は、アンテナマストＭの２１か所の各位置にアンテナ３０が配置される度に放射エミッション測定を行う。したがって、測定に要する時間は、１２６秒である。つまり、従来の技術によって全放射エミッション測定に要する時間は、１８６秒である。
この一例において、本実施形態の電磁波測定装置１は、全放射エミッション測定に要する時間を、従来の技術よりも５４秒短縮することができる。
＜第１実施形態のまとめ＞
以上説明したように、本実施形態の電磁波測定装置１は、機構制御部１０と、アンテナ移動機構２１と、回転機構２２と、アンテナ３０と、測定器４０とを備える。アンテナ移動機構２１は、機構制御部１０の制御に基づいて、アンテナマストＭに沿った方向にアンテナ３０を移動させる。回転機構２２は、機構制御部１０の制御に基づいて駆動し、被測定体５０を回転させる。アンテナマストＭに沿った方向は、回転機構２２により被測定体５０を回転させる回転軸ＡＸに対して平行（又は、略平行）な方向である。アンテナ３０は、被測定体５０から放射された電磁波を受信する。測定器４０は、アンテナ３０により受信された電磁波に関する値を測定する。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、アンテナ３０を第１状態、第２状態及び第３状態の位置に制御する。第１状態は、回転機構２２により被測定体５０が回転させられている状態において、アンテナ３０を（この一例では、下辺で）停止させる状態である。第２状態は、第１状態の後に移動速度ｖでアンテナ３０を一方向（この一例では、上方）に継続的に移動させる状態である。第３状態は、第２状態の後にアンテナ３０を（この一例では、上辺で）停止させる状態である。本実施形態の電磁波測定装置１は、第１状態、第２状態及び第３状態の順にアンテナ移動機構２１を移動させつつ、放射エミッション測定を行う。測定器４０は、一方向について、最短波長以下の間隔の位置で放射エミッション測定する。
以上説明したように、本実施形態の電磁波測定装置１は、機構制御部１０と、アンテナ移動機構２１と、回転機構２２と、アンテナ３０と、測定器４０とを備える。アンテナ移動機構２１は、機構制御部１０の制御に基づいて、アンテナマストＭに沿った方向にアンテナ３０を移動させる。回転機構２２は、機構制御部１０の制御に基づいて駆動し、被測定体５０を回転させる。アンテナマストＭに沿った方向は、回転機構２２により被測定体５０を回転させる回転軸ＡＸに対して平行（又は、略平行）な方向である。アンテナ３０は、被測定体５０から放射された電磁波を受信する。測定器４０は、アンテナ３０により受信された電磁波に関する値を測定する。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、アンテナ３０を第１状態、第２状態及び第３状態の位置に制御する。第１状態は、回転機構２２により被測定体５０が回転させられている状態において、アンテナ３０を（この一例では、下辺で）停止させる状態である。第２状態は、第１状態の後に移動速度ｖでアンテナ３０を一方向（この一例では、上方）に継続的に移動させる状態である。第３状態は、第２状態の後にアンテナ３０を（この一例では、上辺で）停止させる状態である。本実施形態の電磁波測定装置１は、第１状態、第２状態及び第３状態の順にアンテナ移動機構２１を移動させつつ、放射エミッション測定を行う。測定器４０は、一方向について、最短波長以下の間隔の位置で放射エミッション測定する。
本実施形態の電磁波測定装置１は、従来例のようにアンテナ３０の移動及び停止を繰り返さないため、アンテナ３０に与える振動が少ない。アンテナ３０の形状が大きい場合であって、かつアンテナ３０に与えられる振動が大きい場合、アンテナ３０の振動が止まるまで待機時間を設ける必要があった。この場合、待機時間の分だけ、全放射エミッション測定に要する時間は、長くなる場合がある。本実施形態の電磁波測定装置１は、アンテナ３０に与える振動が少ないため、待機時間を設ける必要がなく、全放射エミッション測定に要する時間を短くすることができる。
また、本実施形態の電磁波測定装置１は、第２状態においてアンテナ移動機構２１（アンテナ３０）を継続的に移動し続けるため、測定器４０による測定に際しアンテナマストＭの下辺から上辺までアンテナ３０が移動する時間を短くすることができる。
本実施形態の電磁波測定装置１は、従来例のように、アンテナ３０の移動中等、電界強度の実測を一時停止後、再度測定するということを繰り返す必要がない。このため、本実施形態の電磁波測定装置１は、従来例のように、アンテナ３０の移動後、被測定体５０が測定開始位置に移動するまでの間、待機時間を設ける必要がない。また、本実施形態の電磁波測定装置１は、測定開始から測定終了までの間、回転機構２２が被測定体５０を回転させるため、従来例のように、測定器の測定のタイミングと、回転機構の角度分解能との公差に伴う放射エミッションの測定値のゆらぎが生じない。したがって、本実施形態の電磁波測定装置１は、従来例と比較して精度高く放射エミッション測定を行うことができる。
また、本実施形態の電磁波測定装置１は、第２状態においてアンテナ移動機構２１（アンテナ３０）を継続的に移動し続けるため、測定器４０による測定に際しアンテナマストＭの下辺から上辺までアンテナ３０が移動する時間を短くすることができる。
本実施形態の電磁波測定装置１は、従来例のように、アンテナ３０の移動中等、電界強度の実測を一時停止後、再度測定するということを繰り返す必要がない。このため、本実施形態の電磁波測定装置１は、従来例のように、アンテナ３０の移動後、被測定体５０が測定開始位置に移動するまでの間、待機時間を設ける必要がない。また、本実施形態の電磁波測定装置１は、測定開始から測定終了までの間、回転機構２２が被測定体５０を回転させるため、従来例のように、測定器の測定のタイミングと、回転機構の角度分解能との公差に伴う放射エミッションの測定値のゆらぎが生じない。したがって、本実施形態の電磁波測定装置１は、従来例と比較して精度高く放射エミッション測定を行うことができる。
また、本実施形態の電磁波測定装置１は、アンテナ移動機構２１が移動速度ｖによってアンテナ３０を移動させる。これにより、被測定体５０が回転機構２２によって１回転させられる間にアンテナ３０が垂直方向に移動する距離は、λ／２である。したがって、本実施形態の電磁波測定装置１によれば、測定器４０は、測定点ＭＰにおいて取得した放射エミッションの電界強度に基づいて、アンテナ３０の移動方向に存在する測定点ＭＰ間の補間位置ＣＰにおける補間値（電界強度）を取得することができる。
また、本実施形態の電磁波測定装置１は、回転機構２２が被測定体５０を回転させる方向（この一例では、測定方向Ｄ）について、隣接する測定点ＭＰ間の距離が測定間隔においてλ／２以下となる位置まで移動させる。したがって、本実施形態の電磁波測定装置１によれば、測定器４０は、測定点ＭＰにおいて取得した放射エミッションの電界強度に基づいて、ある測定点ＭＰと測定方向Ｄにある他の測定点ＭＰとの間の補間位置ＣＰにおける補間値（電界強度）を取得することができる。
また、本実施形態の電磁波測定装置１の機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を第１状態、第２状態及び第３状態の順に制御する。第１状態は、回転機構２２により被測定体５０が回転させられている状態において、アンテナ３０を停止させる状態である。第２状態は、第１状態の後に移動速度ｖでアンテナ３０を一方向（この一例では、上方）に継続的に移動させる状態である。第３状態は、第２状態の後にアンテナ３０を停止させる状態である。本実施形態の電磁波測定装置１は、第１状態、第２状態及び第３状態の順にアンテナ移動機構２１を移動させつつ、放射エミッション測定を行う。これにより、本実施形態の電磁波測定装置１は、全放射エミッション測定に要する時間を短くすることができる。
＜変形例１：水平偏波及び垂直偏波の切替え＞
以下、図１１を参照して、変形例１の電磁波測定装置１ａの詳細について説明する。
図１１は、変形例１の電磁波測定装置１ａの一例を示す図である。
第１実施形態では、被測定体５０が放射する電磁波の水平偏波をアンテナ３０が受信する場合について説明した。この場合、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波をアンテナ３０が受信するように、アンテナ３０の設置方向を９０度変化させて、ステップＳ１１０〜ステップＳ１３０の処理を行う。
これに対し、変形例１の電磁波測定装置１ａは、アンテナ３０の設置方向を変化させるアンテナ回転機構６０を備える。アンテナ回転機構６０は、例えば、モータである。アンテナ回転機構６０と、アンテナ３０とは接続されており、アンテナ回転機構６０は、アンテナ３０を回転し、アンテナ３０の設置方向を９０度ずつ変化させる。アンテナ回転機構６０は、例えば、アンテナ３０が電磁波の水平偏波を受信する設置方向において機構制御部１０が第１状態、第２状態及び第３状態を制御し終えた後、アンテナ３０の設置方向をアンテナ３０が電磁波の垂直偏波を受信する方向に（９０度）変化させる。その後、機構制御部１０が、垂直方向について逆方向で、放射エミッション測定を実行する。このような一連の測定を、例えば、アンテナ回転機構６０及びアンテナ移動機構２１の動きを停止させずに継続的に行うと、全体の測定（水平偏波の測定及び垂直偏波の測定）に要する時間を短くすることができる。
以下、図１１を参照して、変形例１の電磁波測定装置１ａの詳細について説明する。
図１１は、変形例１の電磁波測定装置１ａの一例を示す図である。
第１実施形態では、被測定体５０が放射する電磁波の水平偏波をアンテナ３０が受信する場合について説明した。この場合、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波をアンテナ３０が受信するように、アンテナ３０の設置方向を９０度変化させて、ステップＳ１１０〜ステップＳ１３０の処理を行う。
これに対し、変形例１の電磁波測定装置１ａは、アンテナ３０の設置方向を変化させるアンテナ回転機構６０を備える。アンテナ回転機構６０は、例えば、モータである。アンテナ回転機構６０と、アンテナ３０とは接続されており、アンテナ回転機構６０は、アンテナ３０を回転し、アンテナ３０の設置方向を９０度ずつ変化させる。アンテナ回転機構６０は、例えば、アンテナ３０が電磁波の水平偏波を受信する設置方向において機構制御部１０が第１状態、第２状態及び第３状態を制御し終えた後、アンテナ３０の設置方向をアンテナ３０が電磁波の垂直偏波を受信する方向に（９０度）変化させる。その後、機構制御部１０が、垂直方向について逆方向で、放射エミッション測定を実行する。このような一連の測定を、例えば、アンテナ回転機構６０及びアンテナ移動機構２１の動きを停止させずに継続的に行うと、全体の測定（水平偏波の測定及び垂直偏波の測定）に要する時間を短くすることができる。
以下、図を参照して、変形例１の電磁波測定装置１ａの動作について説明する。
図１２は、変形例１の電磁波測定装置１ａの動作の一例を示す流れ図である。
電磁波測定装置１ａの機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を下辺において停止させる（第１状態）（ステップＳ２１０）。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、下辺から上辺まで、移動速度ｖによってアンテナ３０を上方に継続的に移動させる（第２状態）（ステップＳ２２０）。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる（第３状態）（ステップＳ２３０）。
図１２は、変形例１の電磁波測定装置１ａの動作の一例を示す流れ図である。
電磁波測定装置１ａの機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を下辺において停止させる（第１状態）（ステップＳ２１０）。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、下辺から上辺まで、移動速度ｖによってアンテナ３０を上方に継続的に移動させる（第２状態）（ステップＳ２２０）。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる（第３状態）（ステップＳ２３０）。
ここで、アンテナ回転機構６０は、第３状態において測定器４０が水平偏波の全放射エミッション測定を終えた後に、アンテナ３０の角度（設置方向）を９０度変化させる（ステップＳ２４０）。アンテナ回転機構６０は、例えば、測定器４０が第３状態において測定を終えたことを示す情報を取得したことに応じて、アンテナ３０の角度を変化させる。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる（第４状態）（ステップＳ２５０）。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、上辺から下辺まで、移動速度ｖによってアンテナ３０を下方に継続的に移動させる（第５状態）（ステップＳ２６０）。機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を下辺において停止させる（第６状態）（ステップＳ２７０）。
これにより、変形例１の電磁波測定装置１ｂは、被測定体５０の水平偏波及び垂直偏波の全体の測定（水平偏波の測定及び垂直偏波の測定）に要する時間をより短くすることができる。
これにより、変形例１の電磁波測定装置１ｂは、被測定体５０の水平偏波及び垂直偏波の全体の測定（水平偏波の測定及び垂直偏波の測定）に要する時間をより短くすることができる。
＜変形例２：水平偏波及び垂直偏波の測定＞
以下、図１３を参照して、変形例２の電磁波測定装置１ｂの詳細について説明する。
図１３は、変形例２の電磁波測定装置１ｂの一例を示す図である。
第１実施形態では、被測定体５０が放射する電磁波の水平偏波をアンテナ３０が受信する場合について説明した。この場合、電磁波測定装置１は、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波をアンテナ３０が受信するように、アンテナ３０の設置方向を９０度変化させて、ステップＳ１１０〜ステップＳ１３０の処理を行う。
これに対し、変形例２の電磁波測定装置１ｂは、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波を受信するアンテナ３０−１と、水平偏波を受信するアンテナ３０−２との２系統を備える。また、電磁波測定装置１ｂは、アンテナ３０−１を支持するアンテナマストＭ１と、アンテナ３０−２を支持するアンテナマストＭ２とを備える。また、電磁波測定装置１ｂは、アンテナ３０−１が受信する電磁波の垂直偏波の電界強度を測定する測定器４０−１と、アンテナ３０−２が受信する電磁波の水平偏波の電界強度を測定する測定器４０−２とを備える。例えば、アンテナ３０−１とアンテナ３０−２とは、アンテナ間相互結合が十分に小さくなる角度間隔に離されて設定される。また、電磁波測定装置１ｂは、機構制御部１０ｂの制御に基づいて、アンテナ３０−１を移動させるアンテナ移動機構２１−１と、アンテナ３０−２を移動させるアンテナ移動機構２１−２とを備える。なお、アンテナ移動機構２１−１がアンテナ３０−１を移動させる速度及びアンテナ移動機構２１−２がアンテナ３０−２を移動させる速度は、上述した移動速度ｖと同じである。これにより、変形例２の電磁波測定装置１ｂは、被測定体５０の水平偏波及び垂直偏波の放射エミッション測定を同時に行うことが可能であり、これらの全放射エミッション測定に要する時間をより短くすることができる。
以下、図１３を参照して、変形例２の電磁波測定装置１ｂの詳細について説明する。
図１３は、変形例２の電磁波測定装置１ｂの一例を示す図である。
第１実施形態では、被測定体５０が放射する電磁波の水平偏波をアンテナ３０が受信する場合について説明した。この場合、電磁波測定装置１は、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波をアンテナ３０が受信するように、アンテナ３０の設置方向を９０度変化させて、ステップＳ１１０〜ステップＳ１３０の処理を行う。
これに対し、変形例２の電磁波測定装置１ｂは、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波を受信するアンテナ３０−１と、水平偏波を受信するアンテナ３０−２との２系統を備える。また、電磁波測定装置１ｂは、アンテナ３０−１を支持するアンテナマストＭ１と、アンテナ３０−２を支持するアンテナマストＭ２とを備える。また、電磁波測定装置１ｂは、アンテナ３０−１が受信する電磁波の垂直偏波の電界強度を測定する測定器４０−１と、アンテナ３０−２が受信する電磁波の水平偏波の電界強度を測定する測定器４０−２とを備える。例えば、アンテナ３０−１とアンテナ３０−２とは、アンテナ間相互結合が十分に小さくなる角度間隔に離されて設定される。また、電磁波測定装置１ｂは、機構制御部１０ｂの制御に基づいて、アンテナ３０−１を移動させるアンテナ移動機構２１−１と、アンテナ３０−２を移動させるアンテナ移動機構２１−２とを備える。なお、アンテナ移動機構２１−１がアンテナ３０−１を移動させる速度及びアンテナ移動機構２１−２がアンテナ３０−２を移動させる速度は、上述した移動速度ｖと同じである。これにより、変形例２の電磁波測定装置１ｂは、被測定体５０の水平偏波及び垂直偏波の放射エミッション測定を同時に行うことが可能であり、これらの全放射エミッション測定に要する時間をより短くすることができる。
＜変形例３：水平偏波及び垂直偏波の測定＞
以下、図１４を参照して、変形例３の電磁波測定装置１ｃの詳細について説明する。
図１４は、変形例３の電磁波測定装置１ｃの一例を示す図である。
第１実施形態では、被測定体５０が放射する電磁波の水平偏波をアンテナ３０が受信する場合について説明した。この場合、電磁波測定装置１は、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波をアンテナ３０が受信するように、アンテナ３０の設置方向を９０度変化させて、ステップＳ１１０〜ステップＳ１３０の処理を行う。
これに対し、変形例３の電磁波測定装置１ｃは、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波と水平偏波とを同時に受信することが可能なアンテナ３０ｃを備える。また、電磁波測定装置１ｃは、アンテナ３０ｃが受信する電磁波の垂直偏波の電界強度を測定する測定器４０−１と、アンテナ３０ｃが受信する電磁波の水平偏波の電界強度を測定する測定器４０−２とを備える。これにより、変形例３の電磁波測定装置１ｃは、被測定体５０の水平偏波及び垂直偏波の放射エミッション測定を同時に行うことが可能であり、これらの放射エミッション測定に要する時間をより短くすることができる。
以下、図１４を参照して、変形例３の電磁波測定装置１ｃの詳細について説明する。
図１４は、変形例３の電磁波測定装置１ｃの一例を示す図である。
第１実施形態では、被測定体５０が放射する電磁波の水平偏波をアンテナ３０が受信する場合について説明した。この場合、電磁波測定装置１は、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波をアンテナ３０が受信するように、アンテナ３０の設置方向を９０度変化させて、ステップＳ１１０〜ステップＳ１３０の処理を行う。
これに対し、変形例３の電磁波測定装置１ｃは、被測定体５０が放射する電磁波の垂直偏波と水平偏波とを同時に受信することが可能なアンテナ３０ｃを備える。また、電磁波測定装置１ｃは、アンテナ３０ｃが受信する電磁波の垂直偏波の電界強度を測定する測定器４０−１と、アンテナ３０ｃが受信する電磁波の水平偏波の電界強度を測定する測定器４０−２とを備える。これにより、変形例３の電磁波測定装置１ｃは、被測定体５０の水平偏波及び垂直偏波の放射エミッション測定を同時に行うことが可能であり、これらの放射エミッション測定に要する時間をより短くすることができる。
＜アンテナ３０を上辺から下辺に移動させる場合＞
なお、図３〜図１０の例では、アンテナ移動機構２１がアンテナ３０をアンテナマストＭの下辺から上辺に移動させる場合について説明したが、これに限られない。アンテナ移動機構２１は、アンテナ３０をアンテナマストＭの上辺から下辺まで下方に移動させてもよい。
図１５は、回転機構２２の他の駆動例を示す図である。
図１５に示す通り、測定方向Ｄが上辺から下辺の方向であって、図３に示す一例とは逆の方向である。
なお、図３〜図１０の例では、アンテナ移動機構２１がアンテナ３０をアンテナマストＭの下辺から上辺に移動させる場合について説明したが、これに限られない。アンテナ移動機構２１は、アンテナ３０をアンテナマストＭの上辺から下辺まで下方に移動させてもよい。
図１５は、回転機構２２の他の駆動例を示す図である。
図１５に示す通り、測定方向Ｄが上辺から下辺の方向であって、図３に示す一例とは逆の方向である。
図１６は、電磁波測定装置１の動作の他の一例を示す流れ図である。
本測定が開始すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる（第１状態）（ステップＳ３１０）。上辺における測定が終了すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、上辺から下辺まで、移動速度ｖによってアンテナ３０を下方に継続的に移動させる（第２状態）（ステップＳ３２０）。アンテナ３０が下辺に到達すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を下辺において停止させる（第３状態）（ステップＳ３３０）。
本測定が開始すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる（第１状態）（ステップＳ３１０）。上辺における測定が終了すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、上辺から下辺まで、移動速度ｖによってアンテナ３０を下方に継続的に移動させる（第２状態）（ステップＳ３２０）。アンテナ３０が下辺に到達すると、機構制御部１０は、アンテナ移動機構２１を制御し、回転機構２２が被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を下辺において停止させる（第３状態）（ステップＳ３３０）。
なお、上述では、第１状態及び第３状態において、アンテナ移動機構２１は、回転機構２２が被測定体５０を１回転させるまでの間、アンテナ３０を停止させる場合について説明したが、これに限られない。アンテナ移動機構２１は、例えば、回転機構２２が被測定体５０を略１回転するまでの間、アンテナ３０を停止させる構成であってもよい。略１回転するまでの間とは、例えば、最初に測定した測定点ＭＰの位置に測定点が再び戻るよりも１つ前の測定点ＭＰにおいて放射エミッション測定を行ってから、最初に測定した測定点ＭＰの次の測定点ＭＰの位置に再び戻って放射エミッション測定を行う前までの間であってもよい。すなわち、上辺や下辺においては、例えば、略１回転分の測定点ＭＰで放射エミッション測定が行われればよいが、１回転する前の段階で十分な測定点ＭＰが存在する場合には１回転よりも前にアンテナ３０が上方又は下方へ移動させられてもよく、また、逆に、１回転を超えて回転した段階でアンテナ３０が上方又は下方へ移動させられてもよい。
＜被測定体５０が１回転される前に第２状態に遷移する場合＞
また、上述では、アンテナ移動機構２１は、第１状態において、回転機構２２によって被測定体５０が１回転されるまでの間停止する場合について説明したが、これに限られない。アンテナ移動機構２１は、第１状態において、回転機構２２によって被測定体５０が略１回転された場合、他の端部に向かってアンテナ３０を移動させてもよい。
図１７は、測定点ＭＰの他の一例を示す図である。
この一例では、測定が開始されると、回転機構２２が被測定体５０を略１回転させる、つまり、測定器４０の測定点ＭＰが最初の測定点ＭＰ（図示する測定点ＭＰ１）の位置に再び戻る前に、アンテナ移動機構２１は、他の端部（この一例では、上辺）に向かってアンテナ３０を上方に移動させる。図１７に示す一例では、アンテナ移動機構２１は、測定点ＭＰが最初の測定点ＭＰ（図示する測定点ＭＰ１）の位置に再び戻るよりも１つ前の測定点ＭＰ（図示する測定点ＭＰ５）において測定器４０が放射エミッション測定を行った後であって、最初の測定点ＭＰの位置に再び戻る前までの間の所定の位置まで、アンテナ３０を停止させる（第１状態）。また、アンテナ移動機構２１は、測定点ＭＰが測定点ＭＰ１の１つ前の測定点ＭＰ５において測定器４０が放射エミッション測定を行った後であって、測定点ＭＰ１の位置に再び戻る前までに（前記した所定の測定点で）アンテナ３０を上方に移動させ始めて、そのまま継続的に移動させる（第２状態）。機構制御部１０では、例えば、予め、被測定体５０、回転機構２２及びアンテナ３０の位置関係、ω及びｖを示す情報が入力されており、最初の測定点ＭＰの位置（または、タイミングなどでもよい。）を検出する機能を有する。
また、上述では、アンテナ移動機構２１は、第１状態において、回転機構２２によって被測定体５０が１回転されるまでの間停止する場合について説明したが、これに限られない。アンテナ移動機構２１は、第１状態において、回転機構２２によって被測定体５０が略１回転された場合、他の端部に向かってアンテナ３０を移動させてもよい。
図１７は、測定点ＭＰの他の一例を示す図である。
この一例では、測定が開始されると、回転機構２２が被測定体５０を略１回転させる、つまり、測定器４０の測定点ＭＰが最初の測定点ＭＰ（図示する測定点ＭＰ１）の位置に再び戻る前に、アンテナ移動機構２１は、他の端部（この一例では、上辺）に向かってアンテナ３０を上方に移動させる。図１７に示す一例では、アンテナ移動機構２１は、測定点ＭＰが最初の測定点ＭＰ（図示する測定点ＭＰ１）の位置に再び戻るよりも１つ前の測定点ＭＰ（図示する測定点ＭＰ５）において測定器４０が放射エミッション測定を行った後であって、最初の測定点ＭＰの位置に再び戻る前までの間の所定の位置まで、アンテナ３０を停止させる（第１状態）。また、アンテナ移動機構２１は、測定点ＭＰが測定点ＭＰ１の１つ前の測定点ＭＰ５において測定器４０が放射エミッション測定を行った後であって、測定点ＭＰ１の位置に再び戻る前までに（前記した所定の測定点で）アンテナ３０を上方に移動させ始めて、そのまま継続的に移動させる（第２状態）。機構制御部１０では、例えば、予め、被測定体５０、回転機構２２及びアンテナ３０の位置関係、ω及びｖを示す情報が入力されており、最初の測定点ＭＰの位置（または、タイミングなどでもよい。）を検出する機能を有する。
また、アンテナ３０が上辺に到達すると、アンテナ移動機構２１は、回転機構２２が上辺において被測定体５０を回転方向に１回転させるまでの間、アンテナ３０を上辺において停止させる（第３状態）。図１７の例では、上辺において、測定点ＭＰが上辺における最初の測定点ＭＰ２５に再び戻るよりも前に測定が停止させられており、これにより、上辺において同じ測定点ＭＰ（例えば、測定点ＭＰ２５）の測定が二重に行われることを回避して、測定時間を短くしている。
これにより、電磁波測定装置１は、全放射エミッション測定に要する時間をより短くすることができる。
なお、ここでは、アンテナ３０を下辺から上辺へ移動させる場合を示したが、これとは逆に、アンテナ３０を上辺から下辺へ移動させてもよい。
これにより、電磁波測定装置１は、全放射エミッション測定に要する時間をより短くすることができる。
なお、ここでは、アンテナ３０を下辺から上辺へ移動させる場合を示したが、これとは逆に、アンテナ３０を上辺から下辺へ移動させてもよい。
以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述したが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計変更等も含まれる。
１、１ａ、１ｂ…電磁波測定装置、１０…機構制御部、２０…駆動機構、２１、２１−１、２１−２…アンテナ移動機構、２２…回転機構、３０、３０−１、３０−２…アンテナ、４０、４０−１、４０−２…測定器、５０…被測定体、６０…アンテナ回転機構、Ｍ、Ｍ１、Ｍ２…アンテナマスト、１１０…主制御部、１２０…入力装置、１３０…出力装置、１４０…記憶部、ＣＰ、ＣＰ１、ＣＰ２、ＣＰ１１、ＣＰ１２、ＣＰ１３、ＣＰ１４、ＣＰ１５、ＣＰ１６、ＣＰ１７、ＣＰ１８、ＣＰ２１、ＣＰ２２、ＣＰ２３、ＣＰ２４、ＣＰ２５、ＣＰ２６…補間位置、ＭＰ、ＭＰ１、ＭＰ２、ＭＰ３、ＭＰ４、ＭＰ５、ＭＰ６、ＭＰ９、ＭＰ１０、ＭＰ１１、ＭＰ１４、ＭＰ１６、ＭＰ１９、ＭＰ２１、ＭＰ２６…測定点
Claims (5)
- 被測定体を回転させる回転機構と、
前記被測定体から放射された電磁波を受信するアンテナと、
前記回転機構により前記被測定体を回転させる回転軸に対して平行または略平行な方向に前記アンテナを移動させるアンテナ移動機構と、
前記アンテナにより受信された前記電磁波に関する値を測定する測定器と、
前記回転機構により前記被測定体が回転させられている状態において、前記アンテナ移動機構を制御することで、前記アンテナを停止させる第１の状態、前記第１の状態の後に｛（前記測定器による測定について設定された波長の半波長）×（前記回転機構により前記被測定体が回転させられる回転速度）｝に相当する速さ以下で前記アンテナを一方向に継続的に移動させる第２の状態、前記第２の状態の後に前記アンテナを停止させる第３の状態とする制御部と、を備え、
前記測定器は、前記一方向について、前記半波長以下の間隔の位置で前記電磁波に関する値を測定する、
電磁波測定装置。 - 前記測定器は、前記回転機構により前記被測定体を回転させる方向について、前記半波長以下の間隔の位置で前記電磁波に関する値を測定する、
請求項１に記載の電磁波測定装置。 - 前記制御部は、前記第１の状態において、前記回転機構により前記被測定体を回転させる１回転または略１回転に相当する時間、前記アンテナを停止させ、
前記制御部は、前記第２の状態において、前記一方向における所定の距離に相当する時間、前記アンテナを前記一方向に継続的に移動させ、
前記制御部は、前記第３の状態において、前記回転機構により前記被測定体を回転させる１回転または略１回転に相当する時間、前記アンテナを停止させる、
請求項１又は請求項２のいずれか一項に記載の電磁波測定装置。 - 前記測定器は、｛（前記回転機構により前記被測定体を回転させる１回転に要する時間）／（所定の整数）｝に相当する時間毎に前記電磁波に関する値を測定し、
前記制御部は、前記第１の状態において、前記電磁波に関する値の測定が開始された後、前記電磁波に関する値の測定が開始された位置に再び戻るよりも１つ前の測定位置で前記電磁波に関する値が測定された後であって、前記電磁波に関する値の測定が開始された位置に再び戻るよりも前に、前記第２の状態へ遷移する、
請求項１から請求項３のいずれか一項に記載の電磁波測定装置。 - 回転機構により被測定体が回転させられている状態において、前記回転機構により前記被測定体を回転させる回転軸に対して平行または略平行な方向に前記被測定体から放射された電磁波を受信するアンテナを移動させるアンテナ移動機構により、前記アンテナを停止させる第１の状態、前記第１の状態の後に｛（前記アンテナにより受信された前記電磁波に関する値を測定する測定器による測定について設定された波長の半波長）×（前記回転機構により前記被測定体が回転させられる回転速度）｝に相当する速さ以下で前記アンテナを一方向に継続的に移動させる第２の状態、前記第２の状態の後に前記アンテナを停止させる第３の状態とし、
前記測定器によって、前記一方向について、前記半波長以下の間隔の位置で前記電磁波に関する値を測定する、
電磁波測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017164616A JP6953905B2 (ja) | 2017-08-29 | 2017-08-29 | 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2017164616A JP6953905B2 (ja) | 2017-08-29 | 2017-08-29 | 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2019045151A true JP2019045151A (ja) | 2019-03-22 |
| JP6953905B2 JP6953905B2 (ja) | 2021-10-27 |
Family
ID=65816337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017164616A Active JP6953905B2 (ja) | 2017-08-29 | 2017-08-29 | 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6953905B2 (ja) |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH052076U (ja) * | 1991-06-24 | 1993-01-14 | 株式会社アドバンテスト | 妨害電波測定装置 |
| JPH05340981A (ja) * | 1992-06-12 | 1993-12-24 | Fuji Elelctrochem Co Ltd | 雑音測定装置 |
| JP2001324524A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-22 | Nec Corp | 不要輻射の自動測定方法および装置 |
| JP2001343409A (ja) * | 2000-06-01 | 2001-12-14 | Sony Corp | 電磁放射測定装置および電磁放射測定方法 |
| JP2005233691A (ja) * | 2004-02-17 | 2005-09-02 | Sony Corp | 電磁界測定システム及び電磁界測定プログラム |
| JP2006258756A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Sony Corp | 電磁界測定装置及び電磁界測定方法 |
| JP2007232600A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-09-13 | Fujitsu Ltd | Ｅｍｉ測定制御装置のｅｍｉ測定方法、ｅｍｉ測定制御装置及びプログラム |
| DE102010046903A1 (de) * | 2010-09-29 | 2012-03-29 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Messsystem und Messverfahren zur EMV-Messung |
-
2017
- 2017-08-29 JP JP2017164616A patent/JP6953905B2/ja active Active
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH052076U (ja) * | 1991-06-24 | 1993-01-14 | 株式会社アドバンテスト | 妨害電波測定装置 |
| JPH05340981A (ja) * | 1992-06-12 | 1993-12-24 | Fuji Elelctrochem Co Ltd | 雑音測定装置 |
| JP2001324524A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-22 | Nec Corp | 不要輻射の自動測定方法および装置 |
| JP2001343409A (ja) * | 2000-06-01 | 2001-12-14 | Sony Corp | 電磁放射測定装置および電磁放射測定方法 |
| JP2005233691A (ja) * | 2004-02-17 | 2005-09-02 | Sony Corp | 電磁界測定システム及び電磁界測定プログラム |
| JP2006258756A (ja) * | 2005-03-18 | 2006-09-28 | Sony Corp | 電磁界測定装置及び電磁界測定方法 |
| JP2007232600A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-09-13 | Fujitsu Ltd | Ｅｍｉ測定制御装置のｅｍｉ測定方法、ｅｍｉ測定制御装置及びプログラム |
| DE102010046903A1 (de) * | 2010-09-29 | 2012-03-29 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Messsystem und Messverfahren zur EMV-Messung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP6953905B2 (ja) | 2021-10-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2006297110A5 (ja) | ||
| US20150212181A1 (en) | Correction method and apparatus for magnetic resonance diffusion weighted imaging image | |
| CN103767725A (zh) | 一种用于平衡ct机架的方法和装置 | |
| JP6953905B2 (ja) | 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 | |
| CN104406542A (zh) | 旋转角度检测方法、装置及设备 | |
| JP5424588B2 (ja) | レーダ断面積の測定装置及び方法並びにレーダ断面積の測定プログラム | |
| EP3995853A1 (en) | Method for measuring deflection angle of galvanometer scanner, and laser radar using method | |
| JP6750767B1 (ja) | 測定装置及び測定方法 | |
| CN115371590B (zh) | 零件外形形状测量装置、方法及电子设备 | |
| KR101329107B1 (ko) | 파이프 진원도 측정장치 및 측정방법 | |
| CN111141952A (zh) | 测试天线阵列产生的涡旋波的纯度的方法和装置 | |
| JP7183907B2 (ja) | 電磁波測定点算出プログラム及び放射妨害波測定装置 | |
| CN111912428A (zh) | 一种检测陀螺仪的方法和系统 | |
| CN112345206B (zh) | 振镜测试装置、方法、设备及计算机可读存储介质 | |
| CN103698000A (zh) | 振动筒传感器振型测量方法及装置 | |
| JP3658226B2 (ja) | レーダ断面積測定方法およびレーダ断面積測定装置 | |
| JP2009300180A (ja) | 真直度測定装置 | |
| JP6973022B2 (ja) | 放射妨害波測定装置及び放射妨害波測定方法 | |
| JP3672239B2 (ja) | レーダ断面積の測定方法およびその測定装置およびその制御プログラムを記録した記憶媒体 | |
| JP2018189537A (ja) | 評価装置 | |
| JP2016137212A (ja) | 超音波診断装置 | |
| KR101168915B1 (ko) | 구조물의 폭을 측정하기 위한 캘리브레이션 시스템 및 방법 | |
| JP7081424B2 (ja) | 放射妨害波測定装置 | |
| JP7115301B2 (ja) | 放射妨害波測定装置 | |
| JP2022128875A (ja) | 音響パワー計測システム、及びその方法並びにプログラム |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200424 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210212 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210302 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210421 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210831 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210913 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6953905 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |