JP2007232600A - Ｅｍｉ測定制御装置のｅｍｉ測定方法、ｅｍｉ測定制御装置及びプログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】幾つかの周波数において規格値を超え対策が必要となることが多く問題となった周波数毎に、電界強度が最大となるようなターンテーブルの角度、アンテナの高さ及び水平垂直、を探し出す必要があり、時間を要して装置開発の遅れにつながっていた。
【解決手段】ターンテーブル２ｃの回転開始角度、停止角度の初期値をセットし、ターンテーブル２ｃを初期値の回転開始角度に戻し、測定器４Ａの第１の表示部を最大値測定にセットし、測定器４Ａの第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、測定器４Ａに測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始し、ターンテーブル２ｃを測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取り、読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する。
【選択図】図１
【解決手段】ターンテーブル２ｃの回転開始角度、停止角度の初期値をセットし、ターンテーブル２ｃを初期値の回転開始角度に戻し、測定器４Ａの第１の表示部を最大値測定にセットし、測定器４Ａの第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、測定器４Ａに測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始し、ターンテーブル２ｃを測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取り、読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する。
【選択図】図１
Description
本発明は、ターンテーブル上に被測定装置を載せて回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を昇降可能に取り付けたアンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を測定器で測定することによりＥＭＩ（電磁波妨害）測定を行うＥＭＩ測定装置に対してＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法、ＥＭＩ測定装置及びプログラムに関する。
(1) ：従来例１
従来、ＩＴＥ（Information Technology Equipment: 情報処理装置）には、各国のＥＭＩ規制（Electro-Magnetic interference:妨害電波規制）が義務づけられており、装置開発においてはＥＭＩ測定が頻繁に行われている。国際規格ＣＩＳＰＲに基づき、３０ＭＨZ 〜１ＧＨZ の全周波数において、テストレシーバと呼ばれる電界強度測定器でＱＰ値（Quasi-Peak: 準尖頭値）を１０〜３０ポイント測定するものである。また、スペアナ（Spectrum Analyzer ）と呼ばれる測定器でＰＥＡＫ値（尖頭値）の測定を行うこともある。
従来、ＩＴＥ（Information Technology Equipment: 情報処理装置）には、各国のＥＭＩ規制（Electro-Magnetic interference:妨害電波規制）が義務づけられており、装置開発においてはＥＭＩ測定が頻繁に行われている。国際規格ＣＩＳＰＲに基づき、３０ＭＨZ 〜１ＧＨZ の全周波数において、テストレシーバと呼ばれる電界強度測定器でＱＰ値（Quasi-Peak: 準尖頭値）を１０〜３０ポイント測定するものである。また、スペアナ（Spectrum Analyzer ）と呼ばれる測定器でＰＥＡＫ値（尖頭値）の測定を行うこともある。
(2) ：従来例２
以下、特許文献１を従来例２として説明する。図６は従来例の説明図であり、従来例２には次のような内容が記載されている。
以下、特許文献１を従来例２として説明する。図６は従来例の説明図であり、従来例２には次のような内容が記載されている。
(a) ：本発明は、電波測定装置に係り、特に、情報処理装置等の被測定装置が放射する電磁界ノイズ等の電波を測定する電波測定装置に関する。情報処理装置等から放射される電磁界ノイズによって近傍に設置されたテレビ画面が乱れたりオーディオ機器にノイズが混入したりするのを防止するため、情報処理装置から放射する電磁界ノイズを規制する規格が各国に有り、この規格をクリアしないとその国で装置を販売できない。この規格はＥＭＩ規格（Electro Magnetic Interfemce:電磁妨害雑音）と呼ばれている。
(b) ：装置がＥＭＩ規格に適合しているかどうかを判断するためには装置が放射する電磁界ノイズを測定して測定値が規格値を下回っていることを確認する必要がある。これを以下に電波測定と呼ぶ。電波測定は通常３０ＭＨZ から１０００ＭＨZ の範囲で行われる。測定距離は通常３ｍ又は１０ｍである。
(c) ：電波測定は主に２通りの測定方法に分けられる。一つは、短時間に概略を見るために縦軸を電界強度、横軸を周波数とした広い周波数範囲のスペクトラム波形を紙にプロットする方法であり、もう一つは周波数毎に厳密に電界強度を測定する方法であって主に公式な測定値を得るために使用される。
(d) ：一般的な電波測定設備（Open field test site: 以下「サイト」と略す）は、図６に示すように、情報処理装置等の被測定装置９０が放射する電波を測定するに際し、当該被測定装置９０を回転させる回転手段９１と、当該被測定装置が放射する電波を受信する昇降可能アンテナ９２と、前記昇降可能アンテナ９２によって受信された電波のスペクトラムの解析とともに、その解析結果の表示を行うスペクトラム解析手段９３と、解析された前記スペクトラム波形、又は、他の項目について、その画像を記録する画像記録手段９４と、前記回転手段９１、前記昇降可能アンテナ９２、前記スペクトラム解析手段９３、及び前記画像記録手段９４について種々の制御を行う制御手段９５とを有し、当該制御手段９５には、測定結果画像記録後種々処理手段９６を設けたものである。
(3) ：従来例３
以下、特許文献２を従来例３として説明する。従来例３には次のような内容が記載されている。
以下、特許文献２を従来例３として説明する。従来例３には次のような内容が記載されている。
(a) ：最大放射周波数を高精度に自動特定し、電磁妨害波の測定時間を大幅に短縮する。電子機器を回転させると共に、その回転軸方向に予め規定された範囲で電子機器からの妨害電磁波を連続的に受信して電磁界を測定するために、ＥＭＩ関連工業規格に規定された周波数範囲にて妨害電磁波を受信したレベルを周波数別に記録して複数のスペクトラムデータを取得し、これら複数のスペクトラムデータから受信レベルの最大値曲線及び平均値曲線を算出し、この受信レベルの最大値曲線及び平均値曲線に基づいて最大放射周波数範囲を抽出し、ここに抽出された最大放射周波数範囲にて指定帯域スペクトラムデータを複数取得して受信レベルの平均値曲線を算出し、ここに算出された受信レベルの平均値曲線での最大値に対応する周波数を最大放射周波数として特定し、ここに特定された最大放射周波数における電磁界を測定する。
(4) ：従来例４
以下、特許文献３を従来例４として説明する。従来例４には次のような内容が記載されている。
以下、特許文献３を従来例４として説明する。従来例４には次のような内容が記載されている。
(a) ：本発明は、被測定装置から放射される妨害電磁波の最大放射方向が周波数別に速やかに、かつ高精度に特定されるようにした電磁界測定システム、更には、その電磁界測定システムの構成要素である制御・処理手段の機能を実現ならしめる電磁界測定プログラムに関する。
(b) ：多くの電子機器において、ＣＰＵ、バス及び外部メモリ等を駆動するためのクロック発振回路等から放射される妨害電磁波は、他の電子機器等の機能を妨害する不要輻射妨害電磁波（ＥＭＩ：Electro-magnetic interference ）の原因となり得ることから、米国連邦通信委員会（ＦＣＣ）及び国際無線障害特別委員会（ＣＩＳＰＲ）等の公的期間によりＥＭＩ関連工業規格が策定され、その放射レベルが規制されている。
特開平８−８６８２１号公報
特開２００５−１８９０４５号公報
特開２００５−２３３６９１号公報
従来のＥＭＩ測定では、自動測定プログラムを準備しておき、ＥＵＴ（Equipment Under Test: 被測定装置）をテーブルに載せて、パソコンを操作し、スペアナ（スペクトルアナライザ）の画面をＭＡＸ．ＨＯＬＤ（最大値測定）に設定して、最大値を測定していた。
そのため、多くの場合は、幾つかの周波数において規格値を超え、対策が必要となることが多く、問題となった周波数毎に、電界強度が最大となるようなターンテーブルの角度、アンテナの高さ及びアンテナの水平垂直、を探し出す必要があり、時間を要して装置開発の遅れにつながっていた。
また、特定の角度からしか放射しないような装置を測定する際にテーブルを３６０度回転させているため、無駄な時間を要していた。更に、所定のテーブル角度ごとに電界強度を測定することは従来から行われているが、これは従来の測定とは別に行うものであり、装置開発時間の遅れにつながっていた。
本発明は従来の課題を解決するためになされたものであり、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させながら所定角度毎に測定器（スペクトルアナライザ）の測定データを読み出して保存することにより、ＥＭＩ（電磁波妨害）測定終了後に問題となる周波数において電界強度が最大となるようにテーブル角度やアンテナ高さ、及びアンテナの水平垂直を容易に読み出して効果的に電磁波妨害対策が行えるようにすることを目的とする。
本発明は前記の目的を達成するため、次のように構成した。
(1) ：被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法において、ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を備えていることを特徴とする。
(2) ：前記(1) のＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法において、前記ＥＭＩ測定を行う際に、測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、前記セットした初期値より広い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より小さい帯域幅で測定する場合は、前記ターンテーブルの回転速度を初期値より低速に設定してＥＭＩ測定を行う第５の手順と、測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、前記測定器にセットした初期値より狭い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より大きい帯域幅で測定する場合は、前記ターンテーブルの回転速度を初期値より高速に設定してＥＭＩ測定を行う第６の手順を備えていることを特徴とする。
(3) ：被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、前記ターンテーブルを回転駆動するターンテーブル回転駆動手段と、前記被測定装置からの電波放射を受けるアンテナと、前記アンテナを取り付け、高さ方向に昇降可能なアンテナ昇降台と、前記アンテナ昇降台を駆動して前記アンテナの高さを可変するアンテナ昇降台駆動手段と、前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を前記アンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を前記測定器で測定する制御を行うＥＭＩ測定制御装置において、前記ターンテーブルを回転させながら、前記測定器の第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示部を常時書き込み状態にセットしてＥＭＩ測定を開始する第１の手段と、前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第２の手段と、前記測定器から読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第３の手段を備えていることを特徴とする。
(4) ：前記(3) のＥＭＩ測定制御装置において、前記ＥＭＩ測定制御装置は、前記ターンテーブル回転駆動手段の制御を行うターンテーブルコントローラと、前記アンテナ昇降台駆動手段の制御を行うアンテナ昇降台コントローラと、ＥＭＩ測定制御装置全体の制御を行うコントローラを備えると共に、前記コントローラには、該コントローラ内全体の制御を行う主制御部と、ＥＭＩ測定データを保存しておく記憶部と、測定時の各種制御を行う制御プログラムを備え、前記制御プログラムには、測定器からＥＭＩ測定データを読み取るデータ読取部と、測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットする最大値測定・常時書き込み設定部と、測定器に周波数の設定を行う周波数設定部と、測定器の第１の表示部を制御する表示部１制御部と、測定器の第２の表示部を制御する表示部２制御部と、測定器から読み出したデータを記憶部に保存するデータ保存部と、ターンテーブルの制御を行うターンテーブル制御部と、ターンテーブルの回転角度を読み出すテーブル角度読出部と、ターンテーブルの回転角度をカウントする角度カウンタと、アンテナの制御を行うアンテナ制御部と、アンテナの高さを検出するアンテナ高さ検出部と、オペレータの入力を制御するオペレータ入力制御部を備えていることを特徴とする。
（作用）
以下、図１を参照しながら前記構成に基づく本発明の作用を説明する。
以下、図１を参照しながら前記構成に基づく本発明の作用を説明する。
(a) ：前記(1) 、(3) 、(4) の作用
先ず、コントローラ１（制御プログラム２５も含む）は、ＥＭＩ（電磁波妨害）測定に必要なターンテーブル２ｃの回転開始角度、ターンテーブル２ｃの停止角度の初期値をセット（コントローラ１内）し、ターンテーブル２ｃを、セットした初期値の回転開始角度に戻し、測定器４Ａの第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセット（コントローラ１内にセット）し、測定器４Ａに測定周波数をセット（コントローラ１内にセット）してＥＭＩ測定を開始する。
先ず、コントローラ１（制御プログラム２５も含む）は、ＥＭＩ（電磁波妨害）測定に必要なターンテーブル２ｃの回転開始角度、ターンテーブル２ｃの停止角度の初期値をセット（コントローラ１内）し、ターンテーブル２ｃを、セットした初期値の回転開始角度に戻し、測定器４Ａの第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセット（コントローラ１内にセット）し、測定器４Ａに測定周波数をセット（コントローラ１内にセット）してＥＭＩ測定を開始する。
そして、コントローラ１（制御プログラム２５も含む）は、ターンテーブル２ｃを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル２ｃの速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に、測定器４ＡのＥＭＩ測定データを読み取る。また、読み取ったＥＭＩ測定データを記憶部（コントローラ１内）に保存する。この保存したデータは、ＥＭＩ対策時に読み出して使用する。
このようにすれば、最大値測定をしながら同時に放射指向性データを取得することができる。そのため、従来では測定終了後に改めて指向性を探し直していたことが不要になり、任意の周波数において、最大放射角度に容易に設定できるため、効率の良いＥＭＩ対策ができる。また、装置によっては特定の方向のみに放射する場合は、ターンテーブル２ｃの角度範囲を特定することによって無駄な回転時間を省いてＥＭＩ測定のための時間短縮が可能である。
また、ＥＭＩ測定終了後に問題となる周波数において、電界強度が最大となるようにターンテーブル２ｃのテーブル角度やアンテナ３２の高さ、及びアンテナ３２の水平垂直を容易に読み出して効果的に対策が行える。
(b) ：前記(2) の作用
前記(a) のＥＭＩ測定をする際、コントローラ１により測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、測定器４Ａにセットした初期値より広い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より小さい帯域幅で測定する場合は、ターンテーブル２ｃの回転速度を初期値より低速に設定してＥＭＩ測定を行う。
前記(a) のＥＭＩ測定をする際、コントローラ１により測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、測定器４Ａにセットした初期値より広い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より小さい帯域幅で測定する場合は、ターンテーブル２ｃの回転速度を初期値より低速に設定してＥＭＩ測定を行う。
また、コントローラ１により測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、コントローラ１にセットした初期値より狭い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より大きい帯域幅で測定する場合は、ターンテーブル２ｃの回転速度を初期値より高速に設定してＥＭＩ測定を行う。
このようにすれば、広い周波数範囲を測定する場合、及び小さい帯域幅（ＢＷ）で測定する場合、ターンテーブル２ｃの回転速度を低速に設定している。これは、周波数範囲が広いと測定器４Ａの掃引時間が長くなるため、取りこぼしを防止するためにターンテーブル２ｃをゆっくり回転させる必要があるためである。また、周波数範囲が狭くても帯域幅（ＢＷ）が小さい場合も同様に掃引時間が長くなるためである。
逆に、狭い周波数範囲を測定する場合、帯域幅（ＢＷ）が大きい場合は、測定器の掃引時間が短いためターンテーブル速度を高速にすることができる。これによってターンテーブル２ｃの回転時間を最低必要限度に抑えることができる。
また、この場合にも、ＥＭＩ測定終了後に問題となる周波数において、電界強度が最大となるようにターンテーブル２ｃのテーブル角度やアンテナ３２の高さ、及びアンテナ３２の水平垂直を容易に読み出して効果的に対策が行える。
本発明は前記の構成により次のような効果がある。
(a) ：請求項１、３、４、５の効果
最大値測定をしながら同時に放射指向性データを取得することができる。そのため、従来では測定終了後に改めて指向性を探し直していたことが不要になり、任意の周波数において、最大放射角度に容易に設定できるため、効率の良いＥＭＩ（電磁波妨害）対策ができる。また、装置によっては特定の方向のみに放射する場合は、ターンテーブル角度範囲を特定することによって無駄な回転時間を省いてＥＭＩ測定のための時間短縮が可能である。
最大値測定をしながら同時に放射指向性データを取得することができる。そのため、従来では測定終了後に改めて指向性を探し直していたことが不要になり、任意の周波数において、最大放射角度に容易に設定できるため、効率の良いＥＭＩ（電磁波妨害）対策ができる。また、装置によっては特定の方向のみに放射する場合は、ターンテーブル角度範囲を特定することによって無駄な回転時間を省いてＥＭＩ測定のための時間短縮が可能である。
また、ＥＭＩ測定終了後に問題となる周波数において、電界強度が最大となるようなターンテーブルのテーブル角度やアンテナ高さ、及びアンテナの水平垂直を容易に読み出して効果的に対策が行える。
(b) ：請求項２の効果
前記(2) では、広い周波数範囲を測定する場合、及び小さい帯域幅（ＢＷ）で測定する場合、ターンテーブルの回転速度を低速に設定している。これは、周波数範囲が広いと測定器の掃引時間が長くなるため、取りこぼしを防止するためにターンテーブルをゆっくり回転させる必要があるためである。また、周波数範囲が狭くても帯域幅（ＢＷ）が小さい場合も同様に掃引時間が長くなるためである。
前記(2) では、広い周波数範囲を測定する場合、及び小さい帯域幅（ＢＷ）で測定する場合、ターンテーブルの回転速度を低速に設定している。これは、周波数範囲が広いと測定器の掃引時間が長くなるため、取りこぼしを防止するためにターンテーブルをゆっくり回転させる必要があるためである。また、周波数範囲が狭くても帯域幅（ＢＷ）が小さい場合も同様に掃引時間が長くなるためである。
逆に、狭い周波数範囲を測定する場合、帯域幅（ＢＷ）が大きい場合は、測定器の掃引時間が短いためターンテーブル速度を高速にすることができる。これによってターンテーブル回転時間を最低必要限度に抑えることができる。
また、この場合にも、ＥＭＩ測定終了後に問題となる周波数において、電界強度が最大となるようなテーブル角度やアンテナ高さ、及びアンテナの水平垂直を容易に読み出して効果的に対策が行える。
§１：概要の説明
以下に説明する例では、被測定装置（ＥＵＴ）を載せたターンテーブルを回転させながら所定角度毎に測定器の測定データを読み出して保存しておくことにより、ＥＭＩ測定終了後に問題となる周波数において、電界強度が最大となるようにテーブル角度やアンテナ高さ、及びアンテナの水平垂直を容易に読み出して効果的にＥＭＩ対策が行えるようにした装置（ＥＭＩ測定装置、ＥＭＩ測定制御装置）の例である。
以下に説明する例では、被測定装置（ＥＵＴ）を載せたターンテーブルを回転させながら所定角度毎に測定器の測定データを読み出して保存しておくことにより、ＥＭＩ測定終了後に問題となる周波数において、電界強度が最大となるようにテーブル角度やアンテナ高さ、及びアンテナの水平垂直を容易に読み出して効果的にＥＭＩ対策が行えるようにした装置（ＥＭＩ測定装置、ＥＭＩ測定制御装置）の例である。
なお、以下の説明では、電磁波妨害を「ＥＭＩ」と記し、ＥＭＩ測定器の一種であるスペクトルアナライザを単に「スペアナ」と記す。なお、このスペアナは、図１に示した測定器４Ａに対応する。
§２：ＥＭＩ測定システムの構成の説明
図２はＥＭＩ測定システム構成図である。図２に示したように、電波暗室内には、モータ２ａにより回転駆動されるターンテーブル２ｃと、ターンテーブル２ｃの上に載せた木製机３０Ａと、ターンテーブル２ｃの回転角度を測定するためのセンサ２ｂが設けてあり、前記木製机３０Ａの上には、被測定対象物である被測定装置（ＥＵＴ）３１が載せてある。
図２はＥＭＩ測定システム構成図である。図２に示したように、電波暗室内には、モータ２ａにより回転駆動されるターンテーブル２ｃと、ターンテーブル２ｃの上に載せた木製机３０Ａと、ターンテーブル２ｃの回転角度を測定するためのセンサ２ｂが設けてあり、前記木製机３０Ａの上には、被測定対象物である被測定装置（ＥＵＴ）３１が載せてある。
また、ターンテーブル２ｃから少し離れた場所には、アンテナ昇降台３ｃがモータ３ａにより昇降可能な状態で設けてある。そして、アンテナ昇降台３ｃの一部にはアンテナ３２が取り付けられている。また、アンテナ昇降台３ｃには、アンテナ３２の昇降により変化したアンテナ高さを感知するためのセンサ３ｂが設けてある。
一方、電波暗室の外側には、コントローラ１と、ターンテーブルコントローラ２と、アンテナ昇降台コントローラ３と、スペアナ４が設けてある。この場合、コントローラ１と、ターンテーブルコントローラ２と、アンテナ昇降台コントローラ３と、スペアナ４は、ＧＰＩＢインタフェースを介して接続されている。また、コントローラ１と、ターンテーブルコントローラ２と、アンテナ昇降台コントローラ３を含めて、ＥＭＩ測定制御装置を構成している。
また、スペアナ４には、ノイズ測定部（４ａ）と、表示部１と、表示部２と、制御部（４ｄ）が設けてある。そして、ターンテーブルコントローラ２にはセンサ２ｂを接続し、アンテナ昇降台コントローラ３にはセンサ３ｂを接続し、スペアナ４とアンテナ３２との間は同軸ケーブルにより接続する。
§３：コントローラの詳細な構成の説明
図３はコントローラの構成図である。前記コントローラ１には、主制御部１１（例えば、ＣＰＵ）と、記憶部１２と、制御プログラム２５が設けてある。そして、制御プログラム２５には、スペアナデータ読取部１３と、Ｍａｘ．Ｈｏｌｄ・Ｗｒｉｔｅ設定部１４と、周波数設定部１５と、表示部１制御部１６と、表示部２制御部１７と、スペアナデータ保存部１８と、ターンテーブル制御部１９と、テーブル角度読出部２０と、角度カウンタＮ２１と、アンテナ制御部２２と、アンテナ高さ検出部２３と、オペレータ入力制御部２４が設けてあり、前記各部が主制御部１１と接続されており、主制御部１１の制御により動作する。
図３はコントローラの構成図である。前記コントローラ１には、主制御部１１（例えば、ＣＰＵ）と、記憶部１２と、制御プログラム２５が設けてある。そして、制御プログラム２５には、スペアナデータ読取部１３と、Ｍａｘ．Ｈｏｌｄ・Ｗｒｉｔｅ設定部１４と、周波数設定部１５と、表示部１制御部１６と、表示部２制御部１７と、スペアナデータ保存部１８と、ターンテーブル制御部１９と、テーブル角度読出部２０と、角度カウンタＮ２１と、アンテナ制御部２２と、アンテナ高さ検出部２３と、オペレータ入力制御部２４が設けてあり、前記各部が主制御部１１と接続されており、主制御部１１の制御により動作する。
すなわち、コントローラ１には、該コントローラ内全体の制御を行う主制御部１１と、ＥＭＩ測定データを保存しておく記憶部１２と、測定時の各種制御を行う制御プログラム２５を備え、前記制御プログラム２５には、測定器（スペアナ４）からＥＭＩ測定データを読み取るスペアナデータ読取部１３と、測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットするＭａｘ．Ｈｏｌｄ・Ｗｒｉｔｅ設定部１４（最大値測定・常時書き込み設定部）と、周波数の設定を行う周波数設定部１５と、第１の表示部を制御する表示部１制御部１６と、第２の表示部を制御する表示部２制御部１７と、測定器から読み出したデータを記憶部に保存するスペアナデータ保存部１８と、ターンテーブル２ｃの制御を行うターンテーブル制御部１９と、ターンテーブル２ｃの回転角度を読み出すテーブル角度読出部２０と、ターンテーブル２ｃの回転角度をカウントする角度カウンタＮ２１と、アンテナ３２の制御を行うアンテナ制御部２２と、アンテナ３２の高さを検出するアンテナ高さ検出部２３と、オペレータの入力を制御するオペレータ入力制御部２４を備えている。
§４：動作の説明
以下、図２〜図４に基づき、動作を説明する。
以下、図２〜図４に基づき、動作を説明する。
(a) ：先ず、コントローラ１の中のオペレータ入力制御部２４は、オペレータが予め設定したターンテーブル回転開始角度及び回転停止角度をそれぞれ記憶部１２に記憶する。次に、ターンテーブル制御部１９はターンテーブルコントローラ２に対して制御信号を送り、記憶部１２に記憶されている回転開始角度までモータ２ａを駆動させる。これにより、ターンテーブル２ｃの初期化が完了する。
(b) ：コントローラ１内の主制御部１１は、Ｍａｘ．Ｈｏｌｄ・Ｗｒｉｔｅ設定部１４を制御してスペアナ４の制御部４ｄに対して制御信号を送り、スペアナ４の表示部１をＭａｘ．Ｈｏｌｄに、スペアナ４の表示部２をＷｒｉｔｅに設定する。更に、周波数設定部１５からスペアナ４の制御部４ｄに対して制御信号を送り、測定すべき周波数（例えば、５０ＭＨZ 〜１０００ＭＨZ ）をスペアナ４のノイズ測定部４ａにセットする。
(c) ：アンテナ制御部２２からアンテナ昇降台コントローラ３に対して制御信号を送り、アンテナ昇降台３ｃを測定すべき高さにセットする。同様にアンテナ３２の水平／垂直（Ｈｏｒ又はＶｅｒ）をセットする。
(d) ：主制御部１１は、測定しようとしている周波数Ｓｐａｎ又はＢＷ（周波数範囲及び帯域幅）が一定値以上かどうかを判断する。一定以上の場合は、ターンテーブル制御部１９からターンテーブルコントローラ２に対して信号を送り、テーブル回転速度を初期値よりも低速にセットする。逆に、周波数Ｓｐａｎ又はＢＷ（周波数範囲及び帯域幅）が一定値未満の場合は、ターンテーブル制御部１９からターンテーブルコントローラ２に対して信号を送り、テーブル回転速度を初期値よりも高速にセットする。そして、ターンテーブル制御部１９からターンテーブルコントローラ２に対して回転開始信号を送り、ターンテーブル２ｃの回転を開始する。
(e) ：主制御部１１は、角度カウンタ２１をリセットし、Ｎ＝０とする。主制御部１１はテーブル角度読出部２０からターンテーブルコントローラ２を通してセンサ２ｂの値を読み取り、記憶部１２に記憶（保存）する。
そして、主制御部１１は、予め記憶部１２に記憶されている回転停止角度に達したかどうかを判断する。達していればターンテーブル制御部１９からターンテーブルコントローラ２に対して停止信号が送られ、ターンテーブル２ｃのモータ２ａは停止する。そして、スペアナデータ読取部１３からスペアナ４の制御部４ｄに対してデータ読み取り信号を送り、表示部１のデータを読み取って記憶部１２に保存する。
(f) ：主制御部１１は、回転停止角度に達していなければ、角度カウンタＮ２１をインクリメントして、テーブル角度が３０度のＮ倍の値に達したかどうかを判断する。この３０度という値は、放射指向性を３０度おきに探査する場合の例である。もし、テーブル角度が３０度のＮ倍の値に達していない場合は、この判断を続ける。
ターンテーブル２ｃは、回転し続けているため、この判断を繰り返しているうちにテーブル角度が３０度のＮ倍の値に達する。そのときは、スペアナデータ読取部１３からスペアナ４の制御部４ｄに対してデータ読み取り信号を送り、表示部２のデータを読み取って記憶部１２に保存し、テーブル角度読取部２０は、予め設定された回転停止角度に達したかどうかの判断に戻る。
(g) ：このような制御によって、Ｍａｘ．Ｈｏｌｄによる最大値測定を行いながらＷｒｉｔｅによる放射指向性を同時に取得できるため、測定完了後に、任意の周波数における最大放射角度を記憶部１２から読み出して、ターンテーブル制御部１９はその角度を設定することができるため、オペレータは容易にＥＭＩ対策を行うことができる。
(h) ：また、ターンテーブル回転開始角度と回転停止角度の範囲内のみを回転させるため、回転時間を短縮することができる。また、測定周波数が１ＧＨZ 以上の場合は、放射指向性が複雑でスペアナデータ読み取り時間に間に合わせるため、ターンテーブル速度を遅くする必要があり、同様にＢＷが小さい場合やＳｐａｎ幅が広い場合はスペアナのスイープタイムが遅くなるため、周波数、ＢＷ、Ｓｐａｎ幅の条件によってテーブル速度を調整することにより、従来の３０ＭＨZ 〜１ＧＨZ に加え、新規制の６ＧＨZ までも指向性測定が可能となる。
§５：コントローラの処理の説明
図４はコントローラの処理フローチャート（その１）、図５はコントローラの処理フローチャート（その２）である。以下、図４、図５に基づいて、コントローラの処理を説明する。なお、Ｓ１〜Ｓ２０は各処理ステップを示す。
図４はコントローラの処理フローチャート（その１）、図５はコントローラの処理フローチャート（その２）である。以下、図４、図５に基づいて、コントローラの処理を説明する。なお、Ｓ１〜Ｓ２０は各処理ステップを示す。
先ず、コントローラ１の中のオペレータ入力制御部２４は、オペレータが予め設定したターンテーブル回転開始角度及び回転停止角度をそれぞれ記憶部１２に記憶する（Ｓ１、Ｓ２）。次に、ターンテーブル制御部１９はターンテーブルコントローラ２に対して制御信号を送り、記憶部１２に記憶されている回転開始角度までモータ２ａを駆動させる。これにより、ターンテーブル２ｃの初期化が完了する（Ｓ３）。
次に、コントローラ１内の主制御部１１は、Ｍａｘ．Ｈｏｌｄ・Ｗｒｉｔｅ設定部１４を制御してスペアナ４の制御部４ｄに対して制御信号を送り、スペアナ４の表示部１をＭａｘ．Ｈｏｌｄに、スペアナ４の表示部２をＷｒｉｔｅに設定する（Ｓ４）。更に、周波数設定部１５からスペアナ４の制御部４ｄに対して制御信号を送り、測定すべき周波数（例えば、５０ＭＨZ 〜１０００ＭＨZ ）をスペアナ４のノイズ測定部４ａにセットする（Ｓ５）。
次に、アンテナ制御部２２からアンテナ昇降台コントローラ３に対して制御信号を送り、アンテナ昇降台３ｃを測定すべき高さにセットする。同様に水平（Ｈｏｒ）又は垂直（Ｖｅｒ）をセットする（Ｓ６）。
次に、主制御部１１は、測定しようとしている周波数Ｓｐａｎ又はＢＷ（測定する周波数範囲及び帯域幅）が一定値以上かどうかを判断する（Ｓ７）。一定値以上の場合は、ターンテーブル制御部１９からターンテーブルコントローラ２に対して信号を送り、テーブル回転速度を初期値よりも低速にセットする（Ｓ８）。逆に、周波数Ｓｐａｎ又はＢＷ（測定する周波数範囲及び帯域幅）が一定値未満の場合は、ターンテーブル制御部１９からターンテーブルコントローラ２に対して信号を送り、テーブル回転速度を初期値よりも高速にセットする（Ｓ９）。そして、ターンテーブル制御部１９からターンテーブルコントローラ２に対して回転開始信号を送り、ターンテーブル２ｃの回転を開始させる（Ｓ１０）。
次に、主制御部１１は角度カウンタＮ２１をリセットし、Ｎ＝０とする（Ｓ１１）。主制御部１１はテーブル角度読出部２０からターンテーブルコントローラ２を通してセンサ２ｂの値を読み取り、記憶部１２に記憶する。
そして、主制御部１１は、予め、記憶部１２に記憶されている回転停止角度に達したかどうかを判断する（Ｓ１２）。達していればターンテーブル制御部１９からターンテーブルコントローラ２に対して停止信号が送られ、ターンテーブル２ｃのモータ２ａは停止する（Ｓ１７）。そして、スペアナデータ読取部１３からスペアナ４の制御部４ｄに対してデータ読み取り信号を送り、表示部１のデータ（情報）を読み取って（Ｓ１８）記憶部１２に保存する（Ｓ１９）。次に、測定結果を印刷用紙に印刷して、この処理を終了する。
しかし、前記Ｓ１２の判断で、主制御部１１は、回転停止角度に達していなければ、角度カウンタＮをインクリメントして（Ｓ１３）、テーブル角度が３０度のＮ倍の値に達したかどうかを判断する（Ｓ１４）。この３０度という値は、放射指向性を３０度おきに探査する場合の例である。もし、テーブル角度が３０度のＮ倍の値に達していない場合は、この判断を続ける。
ターンテーブルは、回転し続けているため、この判断を繰り返しているうちにテーブル角度が３０度のＮ倍の値に達する。そのときは、スペアナデータ読取部１３からスペアナ４の制御部４ｄに対してデータ読み取り信号を送り、表示部２のデータを読み取って（Ｓ１５）記憶部１２に保存し（Ｓ１６）、テーブル角度読取部２０は、予め設定された回転停止角度に達したかどうかの判断（Ｓ１２）に戻る。
このような制御によって、Ｍａｘ．Ｈｏｌｄによる最大値測定を行いながらＷｒｉｔｅによる放射指向性を同時に取得できるため、測定完了後に、任意の周波数における最大放射角度を記憶部１２から読み出して、ターンテーブル制御部１９はその角度を設定することができるため、オペレータは容易にＥＭＩ対策を行うことができる。
また、ターンテーブル回転開始角度と回転停止角度の範囲内のみを回転させるため、回転時間を短縮することができる。また、測定周波数が１ＧＨZ 以上の場合は、放射指向性が複雑でスペアナデータ読み取り時間に間に合わせるため、ターンテーブル速度を遅くする必要があり、同様にＢＷが小さい場合やＳｐａｎ幅が広い場合はスペアナのスイープタイムが遅くなるため、周波数、ＢＷ、Ｓｐａｎ幅の条件によってテーブル速度を調整することにより、従来の３０ＭＨZ 〜１ＧＨZ に加え、新規制の６ＧＨZ までも指向性測定が可能となる。
以上のようにすれば、ターンテーブルを回転させながら所定角度ごとに測定器のデータを読み出して記憶部に保存しておくことにより、測定終了後に問題となる周波数において、電界強度が最大となるようなテーブル角度やアンテナ高さ、及びアンテナの水平垂直を容易に読み出して効果的に対策を行える。
（付記）
前記の説明に対し、次の構成を付記する。
前記の説明に対し、次の構成を付記する。
（付記１）
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法において、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を備えていることを特徴とするＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法。
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法において、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を備えていることを特徴とするＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法。
（付記２）
前記ＥＭＩ測定を行う際に、測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、前記セットした初期値より広い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より小さい帯域幅で測定する場合は、前記ターンテーブルの回転速度を初期値より低速に設定してＥＭＩ測定を行う第５の手順と、
測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、前記測定器にセットした初期値より狭い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より大きい帯域幅で測定する場合は、前記ターンテーブルの回転速度を初期値より高速に設定してＥＭＩ測定を行う第６の手順を備えていることを特徴とする付記１記載のＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法。
前記ＥＭＩ測定を行う際に、測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、前記セットした初期値より広い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より小さい帯域幅で測定する場合は、前記ターンテーブルの回転速度を初期値より低速に設定してＥＭＩ測定を行う第５の手順と、
測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、前記測定器にセットした初期値より狭い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より大きい帯域幅で測定する場合は、前記ターンテーブルの回転速度を初期値より高速に設定してＥＭＩ測定を行う第６の手順を備えていることを特徴とする付記１記載のＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法。
（付記３）
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転駆動するターンテーブル回転駆動手段と、
前記被測定装置からの電波放射を受けるアンテナと、
前記アンテナを取り付け、高さ方向に昇降可能なアンテナ昇降台と、
前記アンテナ昇降台を駆動して前記アンテナの高さを可変するアンテナ昇降台駆動手段と、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を前記アンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を前記測定器で測定する制御を行うＥＭＩ測定制御装置において、
前記ターンテーブルを回転させながら、前記測定器の第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示部を常時書き込み状態にセットしてＥＭＩ測定を開始する第１の手段と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第２の手段と、
前記測定器から読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第３の手段を備えていることを特徴とするＥＭＩ測定制御装置。
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転駆動するターンテーブル回転駆動手段と、
前記被測定装置からの電波放射を受けるアンテナと、
前記アンテナを取り付け、高さ方向に昇降可能なアンテナ昇降台と、
前記アンテナ昇降台を駆動して前記アンテナの高さを可変するアンテナ昇降台駆動手段と、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を前記アンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を前記測定器で測定する制御を行うＥＭＩ測定制御装置において、
前記ターンテーブルを回転させながら、前記測定器の第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示部を常時書き込み状態にセットしてＥＭＩ測定を開始する第１の手段と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第２の手段と、
前記測定器から読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第３の手段を備えていることを特徴とするＥＭＩ測定制御装置。
（付記４）
前記ＥＭＩ測定制御装置は、前記ターンテーブル回転駆動手段の制御を行うターンテーブルコントローラと、前記アンテナ昇降台駆動手段の制御を行うアンテナ昇降台コントローラと、ＥＭＩ測定制御装置全体の制御を行うコントローラを備えると共に、
前記コントローラには、該コントローラ内全体の制御を行う主制御部と、ＥＭＩ測定データを保存しておく記憶部と、測定時の各種制御を行う制御プログラムを備え、
前記制御プログラムには、測定器からＥＭＩ測定データを読み取るデータ読取部と、測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットする最大値測定・常時書き込み設定部と、測定器の周波数の設定を行う周波数設定部と、測定器の第１の表示部を制御する表示部１制御部と、測定器の第２の表示部を制御する表示部２制御部と、測定器から読み出したデータを記憶部に保存するデータ保存部と、ターンテーブルの制御を行うターンテーブル制御部と、ターンテーブルの回転角度を読み出すテーブル角度読出部と、ターンテーブルの回転角度をカウントする角度カウンタと、アンテナの制御を行うアンテナ制御部と、アンテナの高さを検出するアンテナ高さ検出部と、オペレータの入力を制御するオペレータ入力制御部を備えていることを特徴とする付記３記載のＥＭＩ測定制御装置。
前記ＥＭＩ測定制御装置は、前記ターンテーブル回転駆動手段の制御を行うターンテーブルコントローラと、前記アンテナ昇降台駆動手段の制御を行うアンテナ昇降台コントローラと、ＥＭＩ測定制御装置全体の制御を行うコントローラを備えると共に、
前記コントローラには、該コントローラ内全体の制御を行う主制御部と、ＥＭＩ測定データを保存しておく記憶部と、測定時の各種制御を行う制御プログラムを備え、
前記制御プログラムには、測定器からＥＭＩ測定データを読み取るデータ読取部と、測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットする最大値測定・常時書き込み設定部と、測定器の周波数の設定を行う周波数設定部と、測定器の第１の表示部を制御する表示部１制御部と、測定器の第２の表示部を制御する表示部２制御部と、測定器から読み出したデータを記憶部に保存するデータ保存部と、ターンテーブルの制御を行うターンテーブル制御部と、ターンテーブルの回転角度を読み出すテーブル角度読出部と、ターンテーブルの回転角度をカウントする角度カウンタと、アンテナの制御を行うアンテナ制御部と、アンテナの高さを検出するアンテナ高さ検出部と、オペレータの入力を制御するオペレータ入力制御部を備えていることを特徴とする付記３記載のＥＭＩ測定制御装置。
（付記５）
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置に、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を実行させるためのプログラム。
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置に、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を実行させるためのプログラム。
（付記６）
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置に、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置に、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
（付記７）
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転駆動するターンテーブル回転駆動手段と、
前記被測定装置からの電波放射を受けるアンテナと、
前記アンテナを取り付け、高さ方向に昇降可能なアンテナ昇降台と、
前記アンテナ昇降台を駆動して前記アンテナの高さを可変するアンテナ昇降台駆動手段と、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を前記アンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を前記測定器で測定する制御を行うＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法において、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を備えていることを特徴とするＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法。
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転駆動するターンテーブル回転駆動手段と、
前記被測定装置からの電波放射を受けるアンテナと、
前記アンテナを取り付け、高さ方向に昇降可能なアンテナ昇降台と、
前記アンテナ昇降台を駆動して前記アンテナの高さを可変するアンテナ昇降台駆動手段と、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を前記アンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を前記測定器で測定する制御を行うＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法において、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を備えていることを特徴とするＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法。
（付記８）
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転駆動するターンテーブル回転駆動手段と、
前記被測定装置からの電波放射を受けるアンテナと、
前記アンテナを取り付け、高さ方向に昇降可能なアンテナ昇降台と、
前記アンテナ昇降台を駆動して前記アンテナの高さを可変するアンテナ昇降台駆動手段と、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定の制御を行うＥＭＩ測定制御装置の制御により、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を前記アンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を前記測定器で測定する制御を行うことによりＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定制御装置に、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転駆動するターンテーブル回転駆動手段と、
前記被測定装置からの電波放射を受けるアンテナと、
前記アンテナを取り付け、高さ方向に昇降可能なアンテナ昇降台と、
前記アンテナ昇降台を駆動して前記アンテナの高さを可変するアンテナ昇降台駆動手段と、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定の制御を行うＥＭＩ測定制御装置の制御により、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を前記アンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を前記測定器で測定する制御を行うことによりＥＭＩ測定を行うＥＭＩ測定制御装置に、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
１ コントローラ
２ ターンテーブルコントローラ
２ａ モータ
２ｂ センサ
２ｃ ターンテーブル
３ アンテナ昇降台コントローラ
３ａ モータ
３ｂ センサ
３ｃ アンテナ昇降台
４ スペアナ（スペクトルアナライザ）
４ａ ノイズ測定部
４ｄ 制御部
４Ａ 測定器
１１ 主制御部
１２ 記憶部
１３ スペアナデータ読取部
１４ Ｍａｘ．Ｈｏｌｄ・Ｗｒｉｔｅ設定部
１５ 周波数設定部
１６ 表示部１制御部
１７ 表示部２制御部
１８ スペアナデータ保存部
１９ ターンテーブル制御部
２０ テーブル角度読取部
２１ 角度カウンタＮ
２２ アンテナ制御部
２３ アンテナ高さ検出部
２４ オペレータ入力制御部
２５ 制御プログラム
３０ 置台
３０Ａ 木製机
３１ 被測定装置（ＥＵＴ）
３２ アンテナ
２ ターンテーブルコントローラ
２ａ モータ
２ｂ センサ
２ｃ ターンテーブル
３ アンテナ昇降台コントローラ
３ａ モータ
３ｂ センサ
３ｃ アンテナ昇降台
４ スペアナ（スペクトルアナライザ）
４ａ ノイズ測定部
４ｄ 制御部
４Ａ 測定器
１１ 主制御部
１２ 記憶部
１３ スペアナデータ読取部
１４ Ｍａｘ．Ｈｏｌｄ・Ｗｒｉｔｅ設定部
１５ 周波数設定部
１６ 表示部１制御部
１７ 表示部２制御部
１８ スペアナデータ保存部
１９ ターンテーブル制御部
２０ テーブル角度読取部
２１ 角度カウンタＮ
２２ アンテナ制御部
２３ アンテナ高さ検出部
２４ オペレータ入力制御部
２５ 制御プログラム
３０ 置台
３０Ａ 木製机
３１ 被測定装置（ＥＵＴ）
３２ アンテナ
Claims (5)
- 被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法において、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を備えていることを特徴とするＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法。 - 前記ＥＭＩ測定を行う際に、測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、前記セットした初期値より広い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より小さい帯域幅で測定する場合は、前記ターンテーブルの回転速度を初期値より低速に設定してＥＭＩ測定を行う第５の手順と、
測定する周波数範囲及び帯域幅を判断し、前記測定器にセットした初期値より狭い周波数範囲を測定する場合、及び初期値より大きい帯域幅で測定する場合は、前記ターンテーブルの回転速度を初期値より高速に設定してＥＭＩ測定を行う第６の手順を備えていることを特徴とする請求項１記載のＥＭＩ測定制御装置のＥＭＩ測定方法。 - 被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記ターンテーブルを回転駆動するターンテーブル回転駆動手段と、
前記被測定装置からの電波放射を受けるアンテナと、
前記アンテナを取り付け、高さ方向に昇降可能なアンテナ昇降台と、
前記アンテナ昇降台を駆動して前記アンテナの高さを可変するアンテナ昇降台駆動手段と、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、被測定装置を載せたターンテーブルを回転させ、前記被測定装置から放射される電波放射を前記アンテナで受けとり、前記アンテナの出力信号を前記測定器で測定する制御を行うＥＭＩ測定制御装置において、
前記ターンテーブルを回転させながら、前記測定器の第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示部を常時書き込み状態にセットしてＥＭＩ測定を開始する第１の手段と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第２の手段と、
前記測定器から読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第３の手段を備えていることを特徴とするＥＭＩ測定制御装置。 - 前記ＥＭＩ測定制御装置は、前記ターンテーブル回転駆動手段の制御を行うターンテーブルコントローラと、前記アンテナ昇降台駆動手段の制御を行うアンテナ昇降台コントローラと、ＥＭＩ測定制御装置全体の制御を行うコントローラを備えると共に、
前記コントローラには、該コントローラ内全体の制御を行う主制御部と、ＥＭＩ測定データを保存しておく記憶部と、測定時の各種制御を行う制御プログラムを備え、
前記制御プログラムには、測定器からＥＭＩ測定データを読み取るデータ読取部と、測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットする最大値測定・常時書き込み設定部と、前記測定器に周波数の設定を行う周波数設定部と、前記測定器の第１の表示部を制御する表示部１制御部と、前記測定器の第２の表示部を制御する表示部２制御部と、前記測定器から読み出したデータを記憶部に保存するデータ保存部と、ターンテーブルの制御を行うターンテーブル制御部と、ターンテーブルの回転角度を読み出すテーブル角度読出部と、ターンテーブルの回転角度をカウントする角度カウンタと、アンテナの制御を行うアンテナ制御部と、アンテナの高さを検出するアンテナ高さ検出部と、オペレータの入力を制御するオペレータ入力制御部を備えていることを特徴とする請求項３記載のＥＭＩ測定制御装置。 - 被測定装置を載せて回転させるターンテーブルと、
前記被測定装置からの電波放射を受けると共に昇降可能に取り付けたアンテナと、
前記アンテナの出力信号を取り込んで解析することでＥＭＩ測定を行う測定器を備えたＥＭＩ測定装置に対し、ＥＭＩ測定時の制御を行うＥＭＩ測定制御装置に、
ＥＭＩ測定に必要なターンテーブル回転開始角度、ターンテーブル停止角度の初期値をセットする第１の手順と、
前記ターンテーブルを前記セットした初期値の回転開始角度に戻し、前記測定器の第１の表示情報を扱う第１の表示部を最大値測定にセットし、前記測定器の第２の表示情報を扱う第２の表示部を常時書き込み状態にセットし、前記測定器に測定周波数をセットしてＥＭＩ測定を開始する第２の手順と、
前記ターンテーブルを、測定する周波数範囲及び帯域幅によってターンテーブル速度を最適調節し、回転させながら、予め設定した回転角度毎に前記測定器のＥＭＩ測定データを読み取る第３の手順と、
前記読み取ったＥＭＩ測定データを記憶手段に保存する第４の手順を実行させるためのプログラム。
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| JP2006055689A JP2007232600A (ja) | 2006-03-02 | 2006-03-02 | Ｅｍｉ測定制御装置のｅｍｉ測定方法、ｅｍｉ測定制御装置及びプログラム |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019045151A (ja) * | 2017-08-29 | 2019-03-22 | Tdk株式会社 | 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 |
Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63181503A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-26 | Sony Corp | アンテナ駆動装置 |
| JPS63269070A (ja) * | 1987-04-25 | 1988-11-07 | Sony Corp | 不要電磁波の測定方法及び測定装置 |
| JPH02227671A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Anritsu Corp | Ｅｍｉ測定装置 |
| JPH0886821A (ja) * | 1994-09-16 | 1996-04-02 | Fujitsu Ltd | 電波測定装置 |
| JP2001324524A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-22 | Nec Corp | 不要輻射の自動測定方法および装置 |
| JP2001330636A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Tdk Corp | ノイズ測定システム、ノイズ測定方法およびノイズ測定用プログラムを記録した記録媒体 |
| JP2002214266A (ja) * | 2001-01-12 | 2002-07-31 | Fujitsu Ltd | 放射電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体 |
| JP2004301514A (ja) * | 2003-03-28 | 2004-10-28 | Fujitsu Ltd | アンテナ測定装置 |
| JP2005189045A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Sony Corp | 電磁界測定システム、電磁界測定方法及びその方法をコンピュータに実行させるためのプログラム |
| JP2005233691A (ja) * | 2004-02-17 | 2005-09-02 | Sony Corp | 電磁界測定システム及び電磁界測定プログラム |
| JP2005257285A (ja) * | 2004-03-09 | 2005-09-22 | Fujitsu Ltd | 妨害電波自動測定装置 |
-
2006
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Patent Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63181503A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-26 | Sony Corp | アンテナ駆動装置 |
| JPS63269070A (ja) * | 1987-04-25 | 1988-11-07 | Sony Corp | 不要電磁波の測定方法及び測定装置 |
| JPH02227671A (ja) * | 1989-02-28 | 1990-09-10 | Anritsu Corp | Ｅｍｉ測定装置 |
| JPH0886821A (ja) * | 1994-09-16 | 1996-04-02 | Fujitsu Ltd | 電波測定装置 |
| JP2001324524A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-22 | Nec Corp | 不要輻射の自動測定方法および装置 |
| JP2001330636A (ja) * | 2000-05-23 | 2001-11-30 | Tdk Corp | ノイズ測定システム、ノイズ測定方法およびノイズ測定用プログラムを記録した記録媒体 |
| JP2002214266A (ja) * | 2001-01-12 | 2002-07-31 | Fujitsu Ltd | 放射電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体 |
| JP2004301514A (ja) * | 2003-03-28 | 2004-10-28 | Fujitsu Ltd | アンテナ測定装置 |
| JP2005189045A (ja) * | 2003-12-25 | 2005-07-14 | Sony Corp | 電磁界測定システム、電磁界測定方法及びその方法をコンピュータに実行させるためのプログラム |
| JP2005233691A (ja) * | 2004-02-17 | 2005-09-02 | Sony Corp | 電磁界測定システム及び電磁界測定プログラム |
| JP2005257285A (ja) * | 2004-03-09 | 2005-09-22 | Fujitsu Ltd | 妨害電波自動測定装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019045151A (ja) * | 2017-08-29 | 2019-03-22 | Tdk株式会社 | 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 |
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