JP4360226B2 - 電磁界測定システム及び電磁界測定プログラム - Google Patents
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Description
このため、一般に、米国FCCルール及びCISPR22規格等に規定された放射レベルの限界値(リミット)からマージンを差し引いた値をリミットマージンとして予め設定し、電子機器から放射される妨害電磁波が最大となる放射方向におけるQP値(Quasi-Peak:準尖頭値)検波モードによる測定値)がこのリミットマージンを満たすか否かを評価することによって、EMI関連工業規格適合評価を実施している。
・リミットマージンを満たすか否か疑わしい周波数の数:15
・1周波数における最大放射方向の特定に要される時間:10分
とすれば、最大放射方向の特定に要される時間は150分(=15×10分)となる。
・ターンテーブルを15度ステップで回転
・受信アンテナを5cmステップで上昇
・駆動系停止時での観測時間:15秒
に設定したとすれば、
・ターンテーブルを一回転させるのに必要なステップ数:24ステップ
・受信アンテナを100cm〜400cmの間で昇降させるのに必要なステップ数:61ステップ
となり、ステップサーチ手法による間欠性レベル変動スペクトラムデータの最大放射方向の特定に要される1周波数当りの測定時間は、366分(=24ステップ×61ステップ×15秒=21960秒)となる。
更に、本発明の目的は、EUTから放射される妨害電磁波の最大放射方向が周波数別に速やかに、かつ高精度に特定され得る電磁界測定システムの構成要素である制御・処理手段の機能を実現させ得る電磁界測定プログラムを提供することにある。
また、被測定装置から放射される妨害電磁波の最大放射方向を周波数別に速やかに、かつ高精度に特定され得る電磁界測定システムの構成要素である制御・処理手段での制御・処理手順をプログラムとして実現させ得る。
まず、本発明による電磁界測定システムにおける測定概念について、図2(A),(B)に基づいて説明する。
図2(A)に示すように、測定環境として電波暗室(床全体には金属板(リファレンスグランドプレーンと称す)21が敷き詰められている)が想定されており、その暗室内部において、EUT22は周辺機器23,24とともに、適当な介在物を介しターンテーブル(回転駆動系の一部を構成)25上に360度回転可能として載置される。また、そのターンテーブル25から一定距離、離れた位置には、昇降可能とされているアンテナマスト(昇降駆動系の一部を構成)26が立設された上、このアンテナマスト26に受信アンテナ27(検出手段)が固定的に取付けされている。
すなわち、まず受信アンテナ及びターンテーブルはサーチ開始位置に移動された後(ステップS31)、受信アンテナの昇降位置が取得される(ステップS32)。続いて、スイープ毎のスペクトラムデータ、または更新毎のQP値と関連付けられたターンテーブルの回転位置の取得が開始される(ステップS33)。その取得に際して、ターンテーブルは定速回転状態で指定回転位置範囲で回転する状態におかれる(ステップS34)が、そのような回転状態において、指定回転位置範囲を全てサーチしたか否かが判断される(ステップS35)。そして、その全てのサーチが終わった場合には、スイープ毎のスペクトラムデータ、または更新毎のQP値と関連付けられたターンテーブルの回転位置の取得は一旦、終了される(ステップS36)。
図4に示すように、まず受信アンテナ及びターンテーブルをサーチ開始位置に移動した後(ステップS41)、ターンテーブルの回転位置データを取得する(ステップS42)。そして、スイープ毎のスペクトラムデータ、または更新毎のQP値と関連付けられた受信アンテナの昇降位置データの取得を開始する(ステップS43)。これらデータ取得に際しては、受信アンテナは定速昇降状態で指定昇降位置範囲で昇降する状態におかれるが、そのような昇降状態にある間に、スイープ毎のスペクトラムデータ、または更新毎のQP値と関連付けられた受信アンテナの昇降位置データとが連続的に取得される(ステップS44)。
まず、受信アンテナ及びターンテーブルはサーチ開始位置に移動された後(ステップS51)、指定時間内に複数回に亘ってスペクトラムデータ、またはQP値が取得される(ステップS52)。続いて、駆動系の位置データ、すなわち、受信アンテナの昇降位置データ及びターンテーブルの回転位置データが取得される(ステップS53)。その後、指定回転位置範囲が全てサーチされたか否かが判断される(ステップS54)。判断ステップS54で、指定回転位置範囲が全てサーチされていない場合には、ターンテーブルの回転位置がA度(A:任意に設定)更新された後(ステップS55)、指定時間内に複数回に亘ってスペクトラムデータ、またはQP値が取得された上(ステップS52)、受信アンテナの昇降位置データ及びターンテーブルの回転位置データが関連付けされて取得される(ステップS53)。
・補正値A[度]:[{(360[度]×X)/60[s]}/1000[ms]]×T1
=(3X×T1)/500
・補正値H[cm]:(Y×T2)/1000
すなわち、所要時間のバラツキがt1=t2=10ms、ターンテーブルの回転速度:10[rpm](=60度/s)であると仮定した場合、
・図7の場合での位置データ誤差:6度(=10rpm×t1)
・図8の場合での位置データ誤差:6度(=10rpm×t1)
・図9の場合での位置データ誤差:12度(=10rpm×(t1+t2))
となる。よって、スパイラル連続サーチ手法による場合、図7や図8に示すようなデータロード順序が最適である。因みに、スパイラル連続サーチ手法以外の連続サーチ手法によりスペクトラムデータが取得される際には、何れか一方の駆動系はステップ更新されていることから、連続的に更新されている、他方の駆動系の位置データのみがスペクトラムデータと併せて取得されているが、双方の駆動系の位置データが併せて取得されるようにしてもよいことは明らかである。何れにしても、スペクトラムデータの取得に際し、連続的に更新されている駆動系の位置データが併せて取得されるに際しては、その位置データは補正される必要があるものである。
まずIをスイープ毎のスペクトラム取得回数として定義し(ステップS121)、また、m,nそれぞれの初期値を、m=1、n=m+1として定義する(ステップS122、S123)。続いて、スペクトラムデータLn,Lmが同一か否かが判断される(ステップS124)。次に、判断ステップS124で、スペクトラムデータLn,Lmが同一であると判断された場合は、スペクトラムデータLnを除去し(ステップS127)、これに対応する駆動系の位置データも除去した後(ステップS128)、nの値を+1更新する(ステップS129)。その後、n−1≦Iであるか否かが判断される(ステップS130)。判断ステップS130において、n−1≦Iではないと判断された場合は、同一レベルの一連のデータ除去処理は終了されるが、判断ステップS130において、n−1≦Iであると判断された場合は、再度、スペクトラムデータLn,Lmが同一か否かを判断するステップS124に戻される。
このインパルス性ノイズは最大放射方向を特定する際に妨げとなることから、周波数別に、しかも、何等かのサーチ手法により取得されたスペクトラムデータに対しては、インパルス性ノイズと関連付けされた駆動系の位置データを除去することによって、有効放射パターン解析用データを抽出するようにしている。図14は、ある周波数でのインパルス性ノイズを含むスペクトラムデータの例を示したものであり、図22は、ある周波数での間欠性スペクトラムデータの例を示したものである。図示のように、スペクトラムデータの取得上、時間的に隣接する2つのスペクトラムデータに比し、そのレベルが大きいスペクトラムデータ141,142が出現している。このように、時間的に一回以上、繰返し発生するものが、レベル変動スペクトラムデータとして定義されている。そして、本発明におけるインパルス性ノイズ及び間欠性レベル変動スペクトラムデータは、以下のように定義される。
例えば、
・スペクトラムアナライザのスイープ時間:100ms
・受信アンテナの昇降速度:10cm/s
・ターンテーブルの回転速度:10rpm(60度/s)
と仮定すると、駆動系の位置データは、以下の間隔で取得されることになる。
受信アンテナ:1cm(=(10cm/s)×100ms)
ターンテーブル:6度(=(10rpm)×100ms)
故に、不連続に取得された放射パターンデータを補完し、受信レベルが最大となる放射方向を特定する必要がある。
・GUI(Graphical User Interface)を利用した、手動入力による範囲
・任意に設定された範囲(偏波別(水平・垂直)に設定)
・受信アンテナの指向性を考慮した範囲(偏波別に設定)
・推定最大放射方向におけるレベルとの差がΔL以内(任意であるが、通常1dB)となる範囲
・周波数(波長)別に設けられた範囲(偏波別に設定)
・受信アンテナ:1cm/s以下
・ターンテーブル:2rpm以下
一方、同様な理由により、ステップサーチ手法でのステップ間隔は、例えば、以下のように設定される。
・受信アンテナ:1cmステップ以下
・ターンテーブル:1度ステップ以下
すなわち、図1には、そのフローが示されているが、これによる場合、まず、指定回転位置範囲が0度〜360度として、また、指定昇降位置範囲が、例えば100cm〜400cmとして、放射パターン解析用スペクトラムデータが、スペクトラムアナライザのClear/Write機能を用い、ターンテーブルの回転位置データ及び受信アンテナの昇降位置データと関連付けされた状態として、既述の連続サーチ手法やステップサーチ手法等によりスペクトラアナライザのスイープ毎に取得されるが、その際、それら回転位置データ及び昇降位置データは位置データ補正済みとして取得される(手順S11)。次に、そのように、スイープ毎に取得されたスペクトラムデータからは、各周波数における受信レベルの最大値が算出される(手順S12)。引き続き、算出された最大値はリミットマージンと比較判定される(手順S13)。この比較判定で、算出された最大値それぞれが全てリミットマージンを満たしていれば、一連の手順は終了されるが、そうでない場合は、リミットマージンを満たさない周波数が最大放射周波数として自動的に特定される(手順S14)。
測定時間の短縮化:すなわち、その効果としては、まず測定時間の短縮化が挙げられる。既述のように、従来は、スペクトラムアナライザのMax Hold機能を用いてスペクトラムデータが取得された後、リミットマージンを満たすか否か疑わしい周波数の全てにおいて、全ての放射方向から最大放射方向が特定されていたことから、測定には多くの時間が要されていた。しかしながら、本発明では、スイープ毎のスペクトラムデータと駆動系位置データが関連付けされた状態として、放射パターン解析用データが取得されている。したがって、測定周波数帯域全てにおける周波数別の放射パターンが表示可能となるばかりか、推定最大放射方向において駆動系が微調されることによって、最大放射方向が特定され得ることから、最大放射方向の特定時間が、その分、短縮されることになる。
・リミットマージン満たすか否か疑わしい周波数の数を15
・従来手法における1周波数当りの最大放射方向特定に要される時間を10分
・本発明における最大放射方向の微調時間を2分
と仮定すれば、
・従来手法の最大放射方向特定時間:150分(=15×10)
・本発明による最大放射方向特定時間:30分(=15×2)
となる。よって、本発明により、最大放射方向の特定に要される時間は80パーセント短縮可能とされる。
共通条件 ・放射パターン(最大放射方向)が変化している。
・スペクトラムアナライザによるスペクトラムデータ取得時間:30分
・リミットマージン満たすか否か疑わしい周波数の数:15個
・1周波数当りの最大放射方向抽出の数:2個
従来手法 ・1周波数当りの最大放射方向特定時間:10分
本発明 ・1周波数当りの最大放射方向特定時間:2分
従来手法における評価時間 :330分(=30分+15個×2個×10分)
本発明における評価時間 :90分(=30分+15個×2個×2分)
以上のように、本発明でのEMI対策効果評価時間と従来手法でのそれとを比較すれば、1周波数当りの最大放射方向特定時間に大きな差異があることから、80%以上の時間短縮が期待できることになる。
Claims (9)
- 被測定装置を回転させると共に、その回転軸方向に予め規定された範囲で当該被測定装置からの妨害電磁波を連続的に受信して電磁界を測定するシステムであって、
上記被測定装置を水平面内で回転可能とする回転駆動手段と、
上記被測定装置からの妨害電磁波を検出する検出手段と、
該検出手段を垂直方向に駆動する昇降駆動手段と、
上記検出手段の検出信号より各周波数の電界強度を測定する第1の電界強度測定手段と、
上記検出手段の検出信号を準尖頭値検波モードにより電界強度を測定する第2の電界強度測定手段と、
上記第1の電界強度測定手段により取得される周波数別の複数のスペクトラムデータと、上記被測定装置の回転位置データ及び上記検出手段の昇降位置データとを関連付けて取得する放射パターン解析データ取得手段と、
該放射パターン解析データ取得手段により取得された放射パターン解析用データから各周波数におけるスペクトラムデータの最大値の算出、該最大値のリミットマージンとの自動比較判定、該リミットマージンを満たさない周波数の自動特定、周波数別の推定最大放射方向の自動抽出、周波数別の最大放射方向微調範囲の自動抽出を行い、該最大放射方向微調範囲内での上記第1、または第2の電界強度測定手段を用いた詳細サーチによる最大放射方向の自動特定を、少なくとも、順次、行う制御・処理手段とを含み、
上記制御・処理手段では、上記放射パターン解析データ取得手段により取得された放射パターン解析用データを処理することによって、インパルス性ノイズを含む放射パターン、または同一受信レベルのスペクトラムデータ及びインパルス性ノイズとそれらに関連付けられた回転位置データ及び昇降位置データが除去済みの有効放射パターン解析用データに対する移動平均処理による放射パターンがそれぞれ周波数別に作成された上、該放射パターンが2次元、または3次元の画像として表示手段で可視表示される
ことを特徴とする電磁界測定システム。 - 被測定装置を回転させると共に、その回転軸方向に予め規定された範囲で当該被測定装置からの妨害電磁波を連続的に受信して電磁界を測定するシステムであって、
上記被測定装置を水平面内で回転可能とする回転駆動手段と、
上記被測定装置からの妨害電磁波を検出する検出手段と、
該検出手段を垂直方向に駆動する昇降駆動手段と、
上記検出手段の検出信号より各周波数の電界強度を測定する第1の電界強度測定手段と、
上記検出手段の検出信号を準尖頭値検波モードにより電界強度を測定する第2の電界強度測定手段と、
上記第1の電界強度測定手段により取得される周波数別の複数のスペクトラムデータと、上記被測定装置の回転位置データ及び上記検出手段の昇降位置データとを関連付けて取得する放射パターン解析データ取得手段と、
該放射パターン解析データ取得手段により取得された放射パターン解析用データから各周波数におけるスペクトラムデータの最大値の算出、該最大値のリミットマージンとの自動比較判定、該リミットマージンを満たさない周波数の自動特定、周波数別の推定最大放射方向の自動抽出、周波数別の最大放射方向微調範囲の自動抽出を行い、該最大放射方向微調範囲内での上記第1、または第2の電界強度測定手段を用いた詳細サーチによる最大放射方向の自動特定を、少なくとも、順次、行う制御・処理手段とを含み、
上記推定最大放射方向は、上記放射パターン解析データ取得手段により取得された放射パターン解析用データから、同一レベルのスペクトラムデータ及びインパルス性ノイズ除去後の有効放射パターン解析用データより作成される平均化放射パターンから自動抽出される
ことを特徴とする電磁界測定システム。 - 請求項2に記載の電磁界測定システムにおいて、
上記最大放射方向微調範囲内からの最大放射方向は、上記推定最大放射方向を基準として抽出された該最大放射方向微調範囲内で、上記被測定装置の回転位置及び上記検出手段の昇降位置が、上記放射パターン解析用データが取得される場合に比し、より小さく更新された状態としての詳細サーチにより取得される詳細放射パターンデータから自動特定される
ことを特徴とする電磁界測定システム。 - 請求項3に記載の電磁界測定システムにおいて、
上記詳細サーチによる最大放射方向の自動特定に際し、上記第1、あるいは第2の電界強度測定手段を用い、
非間欠性レベル変動スペクトラムデータについての最大放射方向は、上記検出手段の昇降位置がステップ更新される度に、上記被測定装置が定速回転されている状態で、または被測定装置の回転位置がステップ更新される度に、上記検出手段が定速昇降されている状態で、連続的に詳細放射パターンデータの取得を行う連続サーチ手法により自動特定され、
間欠性レベル変動スペクトラムデータについての最大放射方向は、上記検出手段の昇降位置がステップ更新される度に、上記被測定装置の回転位置がステップ更新されてから次ステップ更新が行われるまでの指定時間内で、または被測定装置がステップ回転される度に、上記検出手段の昇降位置がステップ更新されてから次ステップ更新が行われるまでの指定時間内で、詳細放射パターンデータの取得を複数回行うステップサーチ手法により自動特定される
ことを特徴とする電磁界測定システム。 - 請求項4に記載の電磁界測定システムにおいて、
上記放射パターン解析データ取得手段による放射パターン解析用データについて、実際にスペクトラムデータが検出された時点での回転位置データ、昇降位置データとして得られるべく、上記取得された上記回転位置データ、昇降位置データそれぞれに対して位置データの補正が行われる
ことを特徴とする電磁界測定システム。 - 被測定装置からの妨害電磁波の電界強度が最大となる放射方向を周波数別に特定するための電磁界測定システムの構成要素である制御・処理手段での制御・処理手順を実行させるための電磁界測定プログラムであって、
被測定装置からの妨害電磁波を検出する検出手段の検出信号より、各周波数の電界強度を測定する第1の電界強度測定手段により取得されるスペクトラムデータと、上記被測定装置の回転位置データ及び検出手段の昇降位置データとを関連付けて、放射パターン解析用データを取得する放射パターンデータ取得手順と、
該放射パターンデータ取得手順で取得された放射パターン解析用データから、各周波数における最大値を算出する最大値算出手順と、
該最大値算出手順で算出された最大値のリミットマージンとの比較判定を行う比較判定手順と、
上記リミットマージンを満たさない周波数を最大放射周波数として自動的に特定する周波数特定手順と、
特定された最大放射周波数別に推定最大放射方向を自動的に抽出する推定最大放射方向抽出手順と、
周波数別に、最大放射方向微調範囲を推定最大放射方向に対し自動的に抽出する最大放射方向微調範囲抽出手順と、
周波数別に上記最大放射方向微調範囲内での詳細サーチにより最大放射方向を自動的に特定する最大放射方向特定手順とを、少なくとも、順次、実行させる電磁界測定プログラムであり、
上記推定最大放射方向抽出手順で抽出される推定最大放射方向は、放射パターン解析用データから同一レベルのスペクトラムデータ及びインパルス性ノイズ除去後の有効放射パターン解析用データより作成される平均化放射パターンから自動抽出される
ことを特徴とする電磁界測定プログラム。 - 請求項6に記載の電磁界測定プログラムにおいて、
上記最大放射方向特定手順により特定される最大放射方向は、上記推定最大放射方向を基準として抽出された最大放射方向微調範囲内で、上記被測定装置の回転位置及び上記検出手段の昇降位置が、上記放射パターン解析用データが取得される場合に比し、より小さく更新された状態としての詳細サーチにより取得される詳細放射パターン解析データから自動特定される
ことを特徴とする電磁界測定プログラム。 - 請求項7に記載の電磁界測定プログラムにおいて、
上記詳細サーチによる最大放射方向の自動特定に際し、上記第1の電界強度測定手段、あるいは上記検出手段の検出信号を準尖頭値検波モードにより電界強度を測定する第2の電界強度測定手段を用い、
非間欠性レベル変動スペクトラムデータについての最大放射方向は、上記検出手段の昇降位置がステップ更新される度に、上記被測定装置が定速回転されている状態で、または被測定装置の回転位置がステップ更新される度に、上記検出手段が定速昇降されている状態で、連続的に詳細放射パターンデータの取得を行う連続サーチ手法により自動特定され、
間欠性レベル変動スペクトラムデータについての最大放射方向は、上記検出手段の昇降位置がステップ更新される度に、上記被測定装置の回転位置がステップ更新されてから次ステップ更新が行われるまでの指定時間内で、または被測定装置がステップ回転される度に、上記検出手段の昇降位置がステップ更新されてから次ステップ更新が行われるまでの指定時間内で、詳細放射パターンデータの取得を複数回行うステップサーチ手法により自動特定される
ことを特徴とする電磁界測定プログラム。 - 請求項8に記載の電磁界測定プログラムにおいて、
上記放射パターン解析データ取得手段による放射パターン解析用データについて、実際にスペクトラムデータが検出された時点での回転位置データ、昇降位置データとして得られるべく、上記取得された上記回転位置データ、昇降位置データそれぞれに対しては位置データの補正が行われる
ことを特徴とする電磁界測定プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004040466A JP4360226B2 (ja) | 2004-02-17 | 2004-02-17 | 電磁界測定システム及び電磁界測定プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004040466A JP4360226B2 (ja) | 2004-02-17 | 2004-02-17 | 電磁界測定システム及び電磁界測定プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005233691A JP2005233691A (ja) | 2005-09-02 |
JP4360226B2 true JP4360226B2 (ja) | 2009-11-11 |
Family
ID=35016821
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004040466A Expired - Fee Related JP4360226B2 (ja) | 2004-02-17 | 2004-02-17 | 電磁界測定システム及び電磁界測定プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4360226B2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007198965A (ja) * | 2006-01-27 | 2007-08-09 | Sony Corp | 妨害電磁波測定システム、妨害電磁波測定方法およびその方法をコンピュータに実行させるためのプログラム |
JP2007232600A (ja) * | 2006-03-02 | 2007-09-13 | Fujitsu Ltd | Emi測定制御装置のemi測定方法、emi測定制御装置及びプログラム |
JP2014174065A (ja) * | 2013-03-12 | 2014-09-22 | Kojima Press Industry Co Ltd | 電磁ノイズ測定装置及びその方法 |
JP6494551B2 (ja) * | 2016-03-28 | 2019-04-03 | アンリツ株式会社 | 電界強度分布測定装置及び電界強度分布測定方法 |
JP6686617B2 (ja) * | 2016-03-28 | 2020-04-22 | Tdk株式会社 | 放射妨害波測定装置 |
JP6790489B2 (ja) * | 2016-06-21 | 2020-11-25 | Tdk株式会社 | 供試体用机及び供試体支持装置 |
JP6784208B2 (ja) * | 2017-03-29 | 2020-11-11 | Tdk株式会社 | 放射妨害波測定装置、及びその判定方法 |
JP6953905B2 (ja) * | 2017-08-29 | 2021-10-27 | Tdk株式会社 | 電磁波測定装置及び電磁波測定方法 |
JP6973022B2 (ja) * | 2017-12-19 | 2021-11-24 | Tdk株式会社 | 放射妨害波測定装置及び放射妨害波測定方法 |
JP7081424B2 (ja) * | 2018-09-27 | 2022-06-07 | Tdk株式会社 | 放射妨害波測定装置 |
KR102083215B1 (ko) * | 2019-08-02 | 2020-03-02 | (주)디티앤씨 | 전자기파 적합성 시험장치와 이를 이용한 전자기파 적합성 시험 방법 |
CN115372741A (zh) * | 2019-11-23 | 2022-11-22 | 吴伟 | 导电平面的设置方法和装置 |
CN112054859B (zh) * | 2019-11-25 | 2023-12-29 | 陕西智航信科技有限公司 | 天线强度失配分析系统及方法 |
CN113702720B (zh) * | 2021-08-31 | 2023-10-31 | 深圳信息通信研究院 | 一种多检波方式辐射杂散测试方法及检测系统 |
CN117647694B (zh) * | 2024-01-29 | 2024-04-09 | 深圳市微克科技股份有限公司 | 一种适用于智能手表加工过程的质量检测方法 |
-
2004
- 2004-02-17 JP JP2004040466A patent/JP4360226B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005233691A (ja) | 2005-09-02 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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