JP2007040894A - 電磁妨害波測定装置 - Google Patents

電磁妨害波測定装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007040894A
JP2007040894A JP2005226835A JP2005226835A JP2007040894A JP 2007040894 A JP2007040894 A JP 2007040894A JP 2005226835 A JP2005226835 A JP 2005226835A JP 2005226835 A JP2005226835 A JP 2005226835A JP 2007040894 A JP2007040894 A JP 2007040894A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
noise
antenna
noise signal
minute
electromagnetic interference
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005226835A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiyuki Ohara
寿幸 大原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Funai Electric Co Ltd
Original Assignee
Funai Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Funai Electric Co Ltd filed Critical Funai Electric Co Ltd
Priority to JP2005226835A priority Critical patent/JP2007040894A/ja
Publication of JP2007040894A publication Critical patent/JP2007040894A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】ノイズの測定およびノイズ源特定の作業の効率および精度が低かった。
【解決手段】カーブを楕円曲面とした反射鏡41の二つの焦点のうち、反射面41aから遠い焦点F1に被試験機を置き、近い側の焦点F2に複数の微小ループアンテナ43ijをマトリクス状に配列させたアンテナ回路42を固定し、被試験機における焦点F1を中心とした測定対象領域中の微小領域から輻射されるノイズを各微小領域に対応する微小ループアンテナ43ijがそれぞれ受信するとした。結果、アンテナ装置40または被試験機を移動させることなく、各切替スイッチを切替えて全微小ループアンテナ43ijを一通り選択するだけで、一つの測定対象領域について、微小領域毎にノイズ検出を行うことができ、ノイズ検出の作業効率が上がり、かつノイズ源の特定も被試験機を構成する極めて小さな部品単位あるいは部品の一部箇所まで落とし込んで正確に行うことができる。
【選択図】図1

Description

本発明は、各種電子部品や電気製品から輻射される電磁妨害波を測定する電磁妨害波測定装置に関する。
従来、電磁妨害波(ノイズ)の測定を行う場合、いわゆる近磁界プローブを被試験機に接近させてノイズを検知する手法が採られていた。この場合、被試験機としての各種電子部品や電気製品におけるノイズの測定対象とした部位に、近磁界プローブを一定の距離で接近させて被試験機から発せられる磁界を近磁界プローブに通過させ、近磁界プローブの出力に基づいてノイズの有無や大きさを測定していた。
また従来技術として、予め定められたピッチで配設されて一体的に構成されたマイクロストリップコイルのアレイの、各マイクロストリップコイルからの誘起電圧をスイッチ回路によって選択的に取り出す電磁雑音測定装置が知られている(特許文献1参照。)。
特開平10‐104294号公報
ここで、従来のように近磁界プローブを用いる場合には次のような課題があった。
一度の近磁界プローブの使用による被試験機におけるノイズ測定可能な範囲は、近磁界プローブの環の面積に依存する。そのため、ノイズ測定の効率を高めるには、近磁界プローブの環を大きくする必要がある。一方、近磁界プローブを大きくすれば、被試験機における微小な面積毎のノイズ測定ができないため、ノイズ源の正確な特定という観点からは不適切である。つまり、ノイズ測定において、作業の効率性と精密性とを両立することが困難であった。また、被試験機における測定対象部位を切替えるべく、近磁界プローブを順次移動させていく際に、近磁界プローブと各測定対象部位との距離を一定に保つことが困難であるため、かかる点からも厳密なノイズの測定およびノイズ源の特定は困難であった。
また、上記文献1は、マイクロストリップアレイを、被試験機としてのプリント基板やCPUなどに対して、直上約5mm(段落0033)といった非常に接近した位置に対抗させて測定をするものであり、また、各マイクロストリップは、かかる接近した被試験機から発せられた磁界を捕らえるために適したものとなっている(段落0020)。すなわち、同文献1は、被試験機からある程度距離が離れた位置から被試験機が発するノイズを測定する場合には適していなかった。
本発明は、上記課題に鑑みてなされたもので、被試験機が発するノイズの測定を、当該被試験機からある程度の距離を保ちながらも高効率かつ精密に行うことが可能な電磁妨害波測定装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために請求項2の発明は、被試験機から輻射されるノイズ信号を捕らえるアンテナを直交する2軸によって決定される各位置に存在させることにより構成したノイズ信号取得手段と、アンテナの位置を所定の順序にて切替えてアンテナが捕らえたノイズ信号を出力させるアンテナ位置切替手段と、当該出力されたノイズ信号に基づいて被試験機におけるノイズ信号の発生状況を所定の表示部に表示するノイズ解析表示手段とからなる電磁妨害波測定装置において、上記ノイズ信号取得手段は、被試験機から輻射されたノイズ信号を反射する反射面のカーブが楕円曲面を描く反射鏡であって、被試験機のうち上記楕円曲面の二つの焦点のうち反射面から遠い側の焦点位置に存在するノイズ測定対象領域から輻射されるノイズ信号を反射する上記反射鏡と、上記二つの焦点のうち反射面に近い側の焦点位置に設置されたアンテナ回路であって、上記反射によって収束したノイズ信号を上記2軸によって決定される各位置において受信する微小アンテナを備えた上記アンテナ回路とからなる構成としてある。
上記のように構成した請求項2においては、ノイズ信号取得手段は、被試験機から輻射されるノイズ信号を捕らえるアンテナを、直交する2軸によって決定される各位置に存在させる。アンテナ位置切替手段は、アンテナの位置を所定の順序にて切替え、対象とした位置におけるアンテナからそのアンテナが捕らえたノイズ信号を出力させ、ノイズ解析表示手段が、各位置における出力ノイズ信号に基づいて被試験機におけるノイズ信号の発生状況を所定の表示部に表示する。
そして、ノイズ信号取得手段においては、被試験機の領域であって反射鏡の反射面の二つの焦点のうち反射面から遠い側の焦点位置に存在するノイズ測定対象領域から輻射されるノイズ信号を、同反射面によって反射するとともに、この反射によって上記二つの焦点のうち反射面に近い側の焦点位置に設置したアンテナ回路の各位置にノイズ信号を収束させる。その結果、上記2軸によって決定される各位置において受信する微小アンテナは、それぞれの位置にてノイズ測定対象領域中の対応する部位から輻射されているノイズ信号を受信することができる。
このように本発明によれば、アンテナの位置を所定の順序にて一通り切替えるだけで、被試験機のノイズ測定を、ノイズ測定対象領域分の面積を一度にまとめてかつ微小アンテナの大きさ単位で精密に細かく測定することができる。
アンテナ回路の具体的構成としては、微小アンテナを始めから複数用意する場合と、一つの微小アンテナを順次移動させていく場合とが考えられる。
そこで、請求項3は、請求項2に記載の電磁妨害波測定装置において、上記アンテナ回路は、上記反射によって収束したノイズ信号をそれぞれの位置において受信する微小アンテナをマトリクス状に複数配列することにより構成される構成としてある。
かかる構成とすれば、被試験機のノイズ測定を、被試験機やノイズ信号取得手段の移動を伴う事無く、ノイズ測定対象領域分の面積を一度にまとめてかつ微小アンテナの大きさ単位で精密に細かく測定することができる。
一方、請求項4は、請求項2に記載の電磁妨害波測定装置において、上記アンテナ回路は、上記アンテナ位置切替手段による制御に基づいて、上記2軸によって決定される各位置のうちいずれかの位置に移動可能な一つの微小アンテナを備える構成としてある。
つまり、2軸で定義されるマトリクスの各位置に微小アンテナを順次移動させ、移動先の各位置においてノイズ信号を受信させるとしてもよい。
請求項5の発明は、請求項2〜請求項4のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置において、上記微小アンテナは、微小ループアンテナである構成としている。
また他の例として、請求項6の発明は、請求項2〜請求項4のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置において、上記微小アンテナは、ヘリカルアンテナである構成としてある。 つまり、被試験機のノイズ測定を微小な範囲毎に行うためのアンテナ回路の一例として、微小ループアンテナやヘリカルアンテナを2軸で定義されるマトリクスの各位置に存在させるとてもよい。
請求項7の発明は、請求項2〜請求項6のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置において、上記ノイズ解析表示手段は、各微小アンテナによって捕らえたノイズ信号から特定の周波数成分をそれぞれ抽出するとともに、この抽出した周波数成分に基づいて上記ノイズ測定対象領域から輻射されているノイズ信号の上記特定の周波数における電界強度分布を表示する構成としてある。
上記のように構成した請求項7においては、ノイズ解析表示手段は、各微小アンテナによって捕らえたノイズ信号から特定の周波数成分をそれぞれ抽出する。そして、全微小アンテナ分の抽出された周波数成分に基づいて、ノイズ測定対象領域から輻射されているノイズ信号であって上記特定の周波数におけるノイズの電界強度分布を所定の表示部に表示する。
その結果、ノイズ測定対象領域においてある特定周波数のノイズがどのような分布および強さで発生しているのかが一目で判明し、ノイズ源の特定も容易となる。
請求項8の発明は、請求項7に記載の電磁妨害波測定装置において、上記ノイズ解析表示手段は、上記電界強度分布を表示する際に、同分布を表す画像データに対してエッジ強調処理を行い、エッジが強調された電界強度分布を表示する構成としてある。
つまり、エッジ強調後の電界強度分布を表示することにより、ノイズレベルの高い部位と低い部位との差がはっきりと判明し、ノイズ源の特定がより容易となる。
さらなる画像処理の例として、請求項9の発明は、請求項7または請求項8のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置において、上記ノイズ解析表示手段は、上記電界強度分布を取得する処理を複数回実行するとともに、取得した異なる電界強度分布を比較し、当該比較結果を表示する構成としてある。
つまり、分布の様子の異なる電界強度分布を比較し、この比較結果を表示することで、時間や駆動状況など各種条件を変化させた被試験機においてノイズの輻射状況がどのように変化したかを容易に知ることができる。
上記の各構成を踏まえた上で、請求項1の発明は、被試験機から輻射されるノイズ信号を捕らえるアンテナをマトリクス状に複数配列して構成したノイズ信号取得手段と、対象とするアンテナを所定の順序にて切替えて各アンテナからそのアンテナが捕らえたノイズ信号を出力させるアンテナ位置切替手段と、当該出力されたノイズ信号に基づいて被試験機におけるノイズ信号の発生状況を所定の表示部に表示するノイズ解析表示手段とからなる電磁妨害波測定装置において、
上記ノイズ信号取得手段は、被試験機から輻射されたノイズ信号を反射する反射面のカーブが楕円曲面を描く反射鏡であって、被試験機のうち上記楕円曲面の二つの焦点のうち反射面から遠い側の焦点位置に存在するノイズ測定対象領域から輻射されるノイズ信号を反射する上記反射鏡と、上記二つの焦点のうち反射面に近い側の焦点位置に設置されたアンテナ回路であって、上記反射によって収束したノイズ信号をそれぞれの位置において受信する微小ループアンテナをマトリクス状に複数配列した上記アンテナ回路とからなり、上記ノイズ解析表示手段は、少なくとも、各微小ループアンテナによって捕らえたノイズ信号からそれぞれに特定の周波数成分を抽出するバンドパスフィルタと、当該バンドパスフィルタから抽出された周波数成分に基づいて上記ノイズ測定対象領域から輻射されているノイズ信号の上記特定の周波数における電界強度分布を表示する画像データを生成するとともに当該画像データに基づく表示を行うコンピュータとからなり、さらにコンピュータは、電界強度分布を表示する際に、上記画像データに対してエッジ強調処理を行いエッジが強調された後の電界強度分布を表示する構成としてある。
このような、より具体的な構成とした請求項1において、上記請求項2,3,5,7,8と同様の作用、効果を奏することは言うまでも無い。
以上説明したように、本発明によれば、楕円状の反射鏡の二つの焦点のうち遠い側の焦点位置というある程度離れた位置に存在する被試験機のノイズ測定対象領域から輻射されているノイズ信号を一旦反射面で受け止めるとともに、この反射面でノイズ信号を反射させ二つの焦点のうち近い側の焦点位置に配置しているアンテナ回路の各位置に対してノイズ信号を収束させることで各位置における微小アンテナがノイズ測定対象領域におけるそれぞれ対応した部位からのノイズ信号を受信できるようにしたため、被試験機が発するノイズを、少ない手間で効率よく、かつ精密に測定することが可能となる。
また、反射鏡が被試験機の各部位から輻射されたノイズ信号を微小アンテナが存在し得る各位置に収束させ、その結果微小アンテナが受信するノイズは、ゲインが増幅された状態となるので、被試験機とアンテナ回路との距離がかなり離れていても、確実にノイズ信号を測定することができる。
(1)電磁妨害波測定装置の構成
図1は、本発明の一実施形態にかかる電磁妨害波測定装置の概略構成を示している。
電磁妨害波測定装置10は、概略、アンテナ装置40と、アンテナ装置移動機構60と、コンピュータ70と、バンドパスフィルタ(BPF)80と、シンクロスコープ90とからなる。コンピュータ70では、中央演算装置としてのCPUが、ROMやRAMなど所定の記憶装置に記録されたプログラムに従って、電磁妨害波測定装置10全体を制御し、コンピュータ70は、上述のアンテナ装置40、アンテナ装置移動機構60、BPF80、シンクロスコープ90とそれぞれに電気的に接続している。
本実施形態においては、被試験機としてプラズマテレビジョン20を用意し、この被試験機の各部位から輻射される電磁妨害波(ノイズ)の測定を、上記電磁妨害波測定装置10を用いて実行する。
アンテナ装置40は、反射鏡41とアンテナ回路42とから構成される。反射鏡41は、被試験機と相対することにより被試験機から輻射されるノイズを受け止めるとともに、この受け止めたノイズを特定位置に反射させる反射面41aを一方の側面に形成した皿状の部材である。当該反射鏡41は、反射面41aを形成した側を内側にして全体が滑らかに屈曲している。同図では、反射鏡41については鉛直方向の断面図により示している。
上記反射面41aは、そのカーブが楕円曲線を描くように形成されている。すなわち、反射面41aは楕円曲面の一部を形成する。ここで、楕円とは、2つの定点からの距離の和が一定である点の軌跡であり、反射面41aのカーブを含む楕円の長手方向を向く同楕円の中心線(図中、1点鎖線にて表示)上には、上記2つの定点が存在する。かかる2つの定点が楕円の焦点であり、以下においては、反射面41aから遠い側の焦点をF1、反射面41aに近い側の焦点をF2と表現する。そして本実施形態では、2つの焦点のうち、焦点F1に被試験機(正確には、被試験機の測定対象領域21の中心)を位置させるとともに、焦点F2にアンテナ回路42(正確には、アンテナ回路42の中心)を固定する。なお、被試験機としてのプラズマテレビジョン20が、例えば42インチモデルである場合、焦点F1,F2間の距離が例えば3,0mとなるように、反射面41aのカーブを設計する。
反射鏡41は、設置面Aに置かれたアンテナ装置移動機構60から略鉛直に延出する支柱51によって支持されている。また、アンテナ回路42は、支柱51から枝分かれした支持部材52によって、焦点F2の位置に固定されている。従って、アンテナ回路42と反射鏡41との相対的な位置関係は常に一定である。
一方、被試験機は、必要に応じて設置面Aに置かれた台30の上に載置されている。そして、被試験機の一部領域であって上記焦点F1に位置する部位を中心とした所定領域が、測定対象領域21となる。
図2は、アンテナ回路42の上記反射面41aと相対している側の詳細な構造を示している。
本実施形態においては、アンテナ回路42は、それぞれが所定の巻数となった複数の微小ループアンテナ43ij(i=1〜n,j=1〜m)の集合体として構成されている。複数の微小ループアンテナ43ijは、X方向とY方向の二軸方向にそれぞれ決まった間隔にてマトリクス状に配置されている。かかるマトリクス状に配置された微小ループアンテナ43ijのうちで中心に存在する微小ループアンテナ43ijが、上記焦点F2に位置することになる。各微小ループアンテナのループの直径は、例えば、1cm程度と考えられる。
なお、X方向とは、図1の紙面に垂直な方向(左右方向とも言う)を言い、Y方向とは鉛直方向(上下方向とも言う)を言うものとする。
各微小ループアンテナ43ijは、コンピュータ70による切替スイッチの制御によって選択可能な構成となっている。具体的には、各微小ループアンテナ43ijは、その位置に応じて、1〜n行のうち対応する行を統一する導線に対して一端を、1〜m列のうち対応する列を統一する導線に対して他端を、それぞれに接続している。また、X方向切替スイッチ44aは、コンピュータ70から送信される切替制御信号に応じて、1〜m列のいずれかの導線を選択し、Y方向切替スイッチ44bは、コンピュータ70から送信される切替制御信号に応じて、1〜n行のいずれかの導線を選択することができる。そして、コンピュータ70は、例えば、(i,j)=(1,1)を始めの選択位置、(i,j)=(n,m)を最後の選択位置として、全微小ループアンテナ43ijを所定の順序にて選択させるための切替制御信号を、X方向、Y方向の各切替スイッチに送信する。
アンテナ装置移動機構60は、コンピュータ70による制御によってアンテナ装置40をX,Y,Z方向のそれぞれに任意の距離移動させることが可能な、電動モータや各種ギヤなどによって構成された動力機構である。Z方向とは、図1において、被試験機とアンテナ装置40とが相対し合っている方向を言い、前後方向とも言う。
(2)ノイズの測定処理および表示処理
次に、上記構成としたアンテナ回路42によるノイズの受信態様について説明する。
上述したように、焦点F1の位置には被試験機のある部位が存在しており、この部位を中心としてX方向とY方向とにある程度の広がりをもった領域が、上記測定対象領域21となる。測定対象領域21の面積は、全微小ループアンテナ43ijが上記の様にマトリクス状に配列した際に占める面積とほぼ等しい。従って、アンテナ回路42の側では、X方向切替スイッチ44aおよびY方向切替スイッチ44bによって各微小ループアンテナ43ijを順に選択していくことで、測定対象領域21から輻射されるノイズを微小な面積単位で満遍なく受信し、出力することができる。
つまり、測定対象領域21の中心部位(焦点F1の位置)から輻射されたノイズであれば、反射面41aによって受け止められた後、反射面41aによって反射して焦点F2の位置に収束する。その結果、上記中心部位から輻射されたノイズは、各微小ループアンテナ43ijのうち中心に存在する微小ループアンテナ43ijによって受信される。また、測定対象領域21のうち上記中心部位から外れた部位より輻射されたノイズであれば、反射面41aによって受け止められた後、反射面41aによって反射して焦点F2からは外れた位置に収束し、この収束位置に設置されている微小ループアンテナ43ijによって受信される。
すなわち、m×n個の各微小ループアンテナ43ijはその位置に応じて、測定対象領域21をm×n個の微小領域に分割した際の各微小領域とそれぞれ1対1で対応しており、対応する微小領域から輻射されるノイズを受信するようになっている。よって、X方向切替スイッチ44aおよびY方向切替スイッチ44bを順次切替えて各微小ループアンテナ43ijを一通り選択すれば、全微小ループアンテナ43ijにてそれぞれ受信されたノイズを取得することができる。
このように、アンテナ装置40と被試験機との固定された位置関係において、測定対象領域21から輻射されているノイズを満遍なく捕らえ、後述するような表示処理を実行したら、コンピュータ70は、アンテナ装置移動機構60を制御してアンテナ装置40を移動させ、被試験機における測定対象領域の場所を変更する。その結果、上記焦点F1に新たに位置することになった被試験機の所定範囲が、次の測定対象領域となる。
各微小ループアンテナ43ijにおいて受信されたノイズ信号は、上記切替の順序に従って、BPF80へ順次出力される。
BPF80は、一つの微小ループアンテナ43ijにて受信したノイズ信号に基づいて、所望の周波数成分を抽出することが可能である。微小ループアンテナ43ijにて受信した時点でのノイズ信号は、様々な周波数成分を含んでいる。そこで、BPF80においては、抽出する周波数を所定の周波数調整用ボリューム等によって調整し、同BPF80から目的周波数成分が抽出されるように設定しておく。ここでいう目的周波数成分(ノイズ成分)とは、被試験機におけるノイズの発生源を特定する際に注目すべき周波数成分、言い換えると対策を施すべき周波数成分であって、いわゆるEMI対策の観点から予め実験などによって定めておくことができる。
BPF80によって目的周波数成分として出力されたノイズ成分の信号は、シンクロスコープ90に入力する。シンクロスコープ90に入力されたBPF80からの信号は、シンクロスコープ90の表示部にその像が表示される。図3は、シンクロスコープ90の表示部91に表示されたノイズ成分の波形を示している。この波形の振幅は、ノイズ成分のレベルを示しており、そのとき選択している微小ループアンテナ43が対応する上記微小領域がノイズ源に近いほど、大きな値を示す。
BPF80から出力されたノイズ成分の信号は、さらにシンクロスコープ90を介してコンピュータ70に入力される。
コンピュータ70は、各切替スイッチ44a,44bおよびアンテナ装置移動機構60に対する制御に加え、その表示部71に一つの測定対象領域21におけるノイズの分布表示を行う。
かかる分布表示のためにコンピュータ70が実行する画像処理について説明する。
コンピュータ70は、微小ループアンテナ43ijで受信されたノイズ信号からの抽出成分である目的周波数成分を、全微小ループアンテナ分入力し、それぞれの目的周波数成分のレベルに応じた階調のデジタルデータを生成し、かかるデジタルデータによって一画面分の画像データを生成する。具体的には、微小ループアンテナ4311であれば画面の左上の領域、微小ループアンテナ4312であればその一つ右側の領域…、というように、マトリクス状に配列した各微小ループアンテナ43ijの位置を一画面における各位置にそのまま対応させた位置関係を決定する。
そして、各位置での目的周波数成分のレベル(電界強度)に応じて、一画面中の各位置における画像データの階調値を決定する。例えば、階調値を0〜255の256階調で表す場合、目的周波数成分の電界強度が取りうる最小値と最大値(最小値と最大値は予め設定しておく。)の間の変化過程を256段階に振り分け、対応する階調値を決定する。
そしてコンピュータ70は、上記のように画面中の各領域での階調値を決定した画像データに基づいて、ノイズの電界強度分布の表示を行う。
図4は、表示部71に表示されたノイズの電界強度分布の一例を示している。
ノイズの電界強度分布は、モノクロ画像によって表現されており、電界強度が高い位置ほど高階調値(高輝度)であるため白に近く、電界強度が低い位置ほど、低階調値(低輝度)であるため黒に近くなる。むろん、同図が示すノイズは、周波数は共通(目的周波数)である。同図においては、斜線の密度の濃さで画像の濃淡を表している。同図の例によれば、点Pの地点が最も白に近いことから、このときの測定対象領域における各微小領域のうち、点Pの位置に対応する微小領域にノイズ源が存在すると判断できる。
コンピュータ70は、上記電界強度分布を表示するに際して、画像データにエッジ強調処理を施してもよい。エッジ強調処理は種々の手法を採用できるが、一例として、ラプラシアンフィルタを用いたエッジ強調処理を採用できる。この場合、既述した、目的周波数成分の電界強度に応じて画面各位置の階調値を決定して生成した一画面分の画像データを原画像データとし、この原画像データの階調値から、同原画像データを2次微分した値(原画像データにラプラシアンフィルタをかけた値)を差し引く。そして、2次微分値を差し引いた後の画像データに基づいた電界強度分布の表示を行えば、鮮鋭化された画像となる。
上記のように電界強度分布の表示を鮮鋭化すれば、ノイズの電界強度の高い場所と低い場所との差がより強調されるため、測定対象領域に存在しうるノイズ源の特定がより容易になる。
(3)他の実施形態
さらに、本発明においては、以下に示す各種実施形態を採用可能である。
電磁妨害波測定装置10は、図1に示した構成に限られず、図5に示す構成としてもよい。図5においては、スペクトルアナライザ100を備える点で図1と相違する。
スペクトルアナライザ100には、各微小ループアンテナ43ijにおいて受信されたノイズ信号が上記切替の順序に従って順次入力されるようになっている。スペクトルアナライザ100は、一つの微小ループアンテナ43ijを介して入力したノイズ信号に対して周波数分析を行うことが可能であり、図示しないその表示部にはノイズ信号のスペクトル分布を表示する。この場合、横軸に周波数、縦軸に各周波数における電界強度が示されるため、微小ループアンテナ43ijを介して受信したノイズ信号においていずれの周波数成分が多く発生しているかが容易に判別できる。
また、コンピュータ70は、上記ノイズの電界強度分布表示を行うに際して、スペクトルアナライザ100による周波数分析の結果から求められたノイズ成分が高い周波数を参照し、この周波数における電界強度分布を表示するようにしてもよい。
さらに、コンピュータ70は、上記電界強度分布を表示する場合、一つの周波数における電界強度分布のみを示すのではなく、複数の周波数について、それぞれにノイズの電界強度分布を表示してもよい。これは、同じ測定対象領域であっても、周波数が異なれば発生しているノイズの分布の様子も異なる場合があるからである。
さらに、電磁妨害波測定装置10においては、図1,5のいずれかの構成にかかわらず、コンピュータ70は、異なる条件でそれぞれノイズ測定をして生成した電界強度分布のための画像データを互いに比較し、その比較結果を表示部71に表示するようにしてもよい。ここで、異なる条件でそれぞれノイズ測定を行う具体例としては、同一の測定対象領域について時期を異にしてノイズ測定した場合や、測定対象領域を構成する電子部品等をノイズ対策のために交換・修繕等した前と後とでその測定対象領域のノイズ測定を行った場合や、被試験機を駆動させている状態と駆動停止状態とで同一の測定対象領域のノイズ測定を行った場合や、異なる測定対象領域についてそれぞれノイズ測定を行った場合、等が考えられる。
つまり、コンピュータ70は、ある条件にてノイズ測定を行うことにより生成した、ノイズ成分(目的周波数成分)の電界強度分布の表示を行うための一画面分の画像データ(第一画像データ)を、所定の記憶領域に保存する。次に、異なる条件にてノイズ測定を行い、上記と同様に生成したノイズ成分の電界強度分布表示を行うための一画面分の画像データ(第二画像データ)を所定の記憶領域に保存する。そして、保存した第一画像データと第二画像データとの階調値を、画面中の共通する位置同士にて夫々比較し差分を取る(第二画像データの階調値−第一画像データの階調値)。そして、このようにして得られた一画面中の各位置における差分の値を用いて、さらなる一画面分の画像データ(第三画像データ)を生成する。
コンピュータ70は、上記のようにして生成した第三画像データに基づいて、表示部71に画像表示を行う。その結果、表示部71には、異なる条件で取得したノイズの電界強度分布の比較結果が表示される。かかる表示を行う場合、モノクロ画像であれば上記差分の大きさに応じて輝度を変化させたり、カラー画像であれば上記差分の大きさに応じて色を変化させて表示する。例えば、一画面中において、上記差分がプラスである領域については赤色で、上記差分がマイナスである領域については青色でカラー表示するとして、さらに、そのプラスの度合いが高い位置ほど高濃度の赤で表示し、マイナスの度合いが高い位置ほど高濃度の青で表示する。
この結果、ユーザは、ノイズ測定の条件を異ならせた前後においてノイズの電界強度分布がどのように変化したかを容易に把握することができる。
これまでの説明においては、反射鏡41と相対するアンテナ回路は、マトリクス状に配列させた複数の微小ループアンテナを備えるとした。しかし、アンテナ回路は一つの微小ループアンテナを持つとして、これを移動させてもよい。
図6は、アンテナ回路の上記反射面41aと相対している側の詳細な構造であって、図2とは異なる例を示している。
同図に示すように、アンテナ回路45は、一つの微小ループアンテナ46と、これの位置を移動させるためのX方向移動装置47a、Y方向移動装置47bとから構成されている。
X方向移動装置47aは、微小ループアンテナ46が移動し得る領域45aの左右方向(X方向)の距離とほぼ同じ長さをもってX方向に延伸したバー状の装置であり、反射面41aと相対する側の表面には微小ループアンテナ46が取り付けられている。また、X方向移動装置47aの同表面にはレール47a1が形成されており、X方向移動装置47aは、コンピュータ70の制御に基づいて図示しない動力機構を駆動させることにより、レール47a1に沿って微小ループアンテナ46を左右方向に移動させる。
一方、Y方向移動装置47bは、領域45aの上下方向(Y方向)の距離とほぼ同じ長さをもってY方向に延伸したバー状の装置であり、上記X方向移動装置47aの一端を支持している。そして、Y方向移動装置47bは、コンピュータ70の制御に基づいて図示しない動力機構を駆動させることにより、X方向移動装置47aを上下方向に移動させることが可能である。
より具体的には、X方向移動装置47aは、コンピュータ70から微小ループアンテナ46の位置を切替えることを指示する切替制御信号を受けた場合、同信号が指示する微小ループアンテナ46のX方向における位置を実現するために、微小ループアンテナ46をレール47a1に沿って必要な分だけ左右に移動させる。また、Y方向移動装置47bは、切替制御信号が指示する微小ループアンテナ46のY方向における位置を実現するために、X方向移動手段47bを上下に必要な分だけ移動させる。なお、領域45aの面積は上記測定対象領域21の面積とほぼ等しく、微小ループアンテナ46が上記のようにして移動する各位置は、図2に示したアンテナ回路42においてm×n個の微小ループアンテナ43ijがそれぞれ存在していた位置に対応する。
つまり図6の構成とすれば、アンテナ回路45は、X方向移動装置47aおよびY方向移動装置47bによって、一つの微小ループアンテナ46の位置を、コンピュータ70が指示する上記所定の順序に従って順次切替えることができる。そして、前述のように位置を切替えた微小ループアンテナ46は、各位置にて、測定対象領域21中の対応する微小領域から輻射されているノイズを受信する。従って、アンテナ回路45は、測定対象領域21から輻射されるノイズを微小な面積単位で満遍なく受信し、出力することができる。
なお、各位置毎において微小ループアンテナ46によって受信されたノイズ信号は、上記所定の順序に従って、微小ループアンテナ46に接続された図示しない導線を介して、BPF80(または、スペクトルアナライザ100)へ出力される。
また上記においては、アンテナ回路42,45が備えるアンテナは微小ループアンテナであるとしたが、他の例として、アンテナ回路42,45は、エレメントを螺旋状に巻いて構成した、いわゆるヘリカルアンテナ(微小ヘリカルアンテナ)を複数或いは一つ備えるとしてもよい。
(4)まとめ
このように本発明によれば、反射面41aのカーブを楕円曲面とした反射鏡41の二つの焦点のうち、反射面41aから遠い側の焦点F1に被試験機を置き、近い側の焦点F2に、複数の微小ループアンテナ43ijをマトリクス状に配列させたアンテナ回路42を固定することにより、被試験機における焦点F1を中心とした測定対象領域中の微小領域から輻射されるノイズを、各微小領域に対応する微小ループアンテナ43ijがそれぞれ受信するとした。そのため、アンテナ装置40または被試験機を移動させることなく、各切替スイッチを切替えて全微小ループアンテナ43ijを一通り選択するだけで、一つの測定対象領域について、微小ループアンテナ43ijという極めて微小な面積とほぼ同等の微小領域毎にノイズ検出を行うことができ、ノイズ検出の作業効率が上がり、かつ、ノイズ源の特定も被試験機を構成する極めて小さな部品単位あるいは部品の一部箇所まで落とし込んで正確に行うことができる。
また、反射鏡41は、被試験機から輻射されたノイズを各微小ループアンテナ43ijに収束させるため、微小ループアンテナ43ijが受信する際にはノイズは十分に増幅された状態となっている。そのため、被試験機からある程度離れた位置のアンテナ回路42によってもノイズを十分に拾い、検出することができる。
本発明の一実施形態にかかる電磁妨害波測定装置の概略構成図。 アンテナ回路の詳細な構造を示した図。 シンクロスコープの表示部に表示したノイズ成分の波形を示した図。 ノイズの電界強度分布の一例を示した図。 変形例にかかる電磁妨害波測定装置の概略構成図。 変形例にかかるアンテナ回路の詳細な構造を示した図。
符号の説明
10…電磁妨害波測定装置
20…プラズマテレビジョン
21…測定対象領域
40…アンテナ装置
41…反射鏡
41a…反射面
42,45…アンテナ回路
43ij,46…微小ループアンテナ
44a…X方向切替スイッチ
44b…Y方向切替スイッチ
47a…X方向移動装置
47b…Y方向移動装置
70…コンピュータ
71,91…表示部
80…BPF
90…シンクロスコープ
100…スペクトルアナライザ

Claims (9)

  1. 被試験機から輻射されるノイズ信号を捕らえるアンテナをマトリクス状に複数配列して構成したノイズ信号取得手段と、対象とするアンテナを所定の順序にて切替えて各アンテナからそのアンテナが捕らえたノイズ信号を出力させるアンテナ位置切替手段と、当該出力されたノイズ信号に基づいて被試験機におけるノイズ信号の発生状況を所定の表示部に表示するノイズ解析表示手段とからなる電磁妨害波測定装置において、
    上記ノイズ信号取得手段は、被試験機から輻射されたノイズ信号を反射する反射面のカーブが楕円曲面を描く反射鏡であって、被試験機のうち上記楕円曲面の二つの焦点のうち反射面から遠い側の焦点位置に存在するノイズ測定対象領域から輻射されるノイズ信号を反射する上記反射鏡と、上記二つの焦点のうち反射面に近い側の焦点位置に設置されたアンテナ回路であって、上記反射によって収束したノイズ信号をそれぞれの位置において受信する微小ループアンテナをマトリクス状に複数配列した上記アンテナ回路とからなり、
    上記ノイズ解析表示手段は、少なくとも、各微小ループアンテナによって捕らえたノイズ信号からそれぞれに特定の周波数成分を抽出するバンドパスフィルタと、当該バンドパスフィルタから抽出された周波数成分に基づいて上記ノイズ測定対象領域から輻射されているノイズ信号の上記特定の周波数における電界強度分布を表示する画像データを生成するとともに当該画像データに基づく表示を行うコンピュータとからなり、さらにコンピュータは、電界強度分布を表示する際に、上記画像データに対してエッジ強調処理を行いエッジが強調された後の電界強度分布を表示することを特徴とする電磁妨害波測定装置。
  2. 被試験機から輻射されるノイズ信号を捕らえるアンテナを直交する2軸によって決定される各位置に存在させることにより構成したノイズ信号取得手段と、アンテナの位置を所定の順序にて切替えてアンテナが捕らえたノイズ信号を出力させるアンテナ位置切替手段と、当該出力されたノイズ信号に基づいて被試験機におけるノイズ信号の発生状況を所定の表示部に表示するノイズ解析表示手段とからなる電磁妨害波測定装置において、
    上記ノイズ信号取得手段は、
    被試験機から輻射されたノイズ信号を反射する反射面のカーブが楕円曲面を描く反射鏡であって、被試験機のうち上記楕円曲面の二つの焦点のうち反射面から遠い側の焦点位置に存在するノイズ測定対象領域から輻射されるノイズ信号を反射する上記反射鏡と、
    上記二つの焦点のうち反射面に近い側の焦点位置に設置されたアンテナ回路であって、上記反射によって収束したノイズ信号を上記2軸によって決定される各位置において受信する微小アンテナを備えた上記アンテナ回路とからなることを特徴とする電磁妨害波測定装置。
  3. 上記アンテナ回路は、上記反射によって収束したノイズ信号をそれぞれの位置において受信する微小アンテナをマトリクス状に複数配列することにより構成されることを特徴とする請求項2に記載の電磁妨害波測定装置。
  4. 上記アンテナ回路は、上記アンテナ位置切替手段による制御に基づいて、上記2軸によって決定される各位置のうちいずれかの位置に移動可能な一つの微小アンテナを備えることを特徴とする請求項2に記載の電磁妨害波測定装置。
  5. 上記微小アンテナは、微小ループアンテナであることを特徴とする請求項2〜請求項4のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置。
  6. 上記微小アンテナは、ヘリカルアンテナであることを特徴とする請求項2〜請求項4のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置。
  7. 上記ノイズ解析表示手段は、各位置における微小アンテナによって捕らえたノイズ信号から特定の周波数成分をそれぞれ抽出するとともに、この抽出した周波数成分に基づいて上記ノイズ測定対象領域から輻射されているノイズ信号の上記特定の周波数における電界強度分布を表示することを特徴とする請求項2〜請求項6のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置。
  8. 上記ノイズ解析表示手段は、上記電界強度分布を表示する際に、同分布を表す画像データに対してエッジ強調処理を行い、エッジが強調された電界強度分布を表示することを特徴とする請求項7に記載の電磁妨害波測定装置。
  9. 上記ノイズ解析表示手段は、上記電界強度分布を取得する処理を複数回実行するとともに、取得した異なる電界強度分布を比較し、当該比較結果を表示することを特徴とする請求項7または請求項8のいずれかに記載の電磁妨害波測定装置。
JP2005226835A 2005-08-04 2005-08-04 電磁妨害波測定装置 Pending JP2007040894A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005226835A JP2007040894A (ja) 2005-08-04 2005-08-04 電磁妨害波測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005226835A JP2007040894A (ja) 2005-08-04 2005-08-04 電磁妨害波測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007040894A true JP2007040894A (ja) 2007-02-15

Family

ID=37799007

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005226835A Pending JP2007040894A (ja) 2005-08-04 2005-08-04 電磁妨害波測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007040894A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009041513A1 (ja) * 2007-09-28 2009-04-02 Anritsu Corporation 放射電力測定方法、放射電力測定用結合器及び放射電力測定装置
WO2010047149A1 (ja) * 2008-10-24 2010-04-29 株式会社日立製作所 ノイズ評価装置
JP2010190708A (ja) * 2009-02-18 2010-09-02 National Institute Of Information & Communication Technology 情報を含んだ漏洩電磁波評価システム、方法及びプログラム
US8570048B2 (en) 2008-08-08 2013-10-29 Samsung Display Co., Ltd. Inspection jig for display panel, inspection system using the same, and method for inspecting the display panel using the same
KR102083215B1 (ko) * 2019-08-02 2020-03-02 (주)디티앤씨 전자기파 적합성 시험장치와 이를 이용한 전자기파 적합성 시험 방법
CN111983497A (zh) * 2019-05-23 2020-11-24 索尼互动娱乐股份有限公司 电源单元的检查装置

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009041513A1 (ja) * 2007-09-28 2009-04-02 Anritsu Corporation 放射電力測定方法、放射電力測定用結合器及び放射電力測定装置
EP2194387A1 (en) * 2007-09-28 2010-06-09 Anritsu Corporation Radiated power measuring method, coupler for radiate power measurement, and radiated power measuring device
US8103470B2 (en) 2007-09-28 2012-01-24 Anritsu Corporation Method, coupler and apparatus for measuring radiated power
JP5427606B2 (ja) * 2007-09-28 2014-02-26 アンリツ株式会社 放射電力測定方法及び放射電力測定装置
EP2194387A4 (en) * 2007-09-28 2014-07-02 Anritsu Corp RADIATION POWER MEASUREMENT METHOD, RADIATOR POWER RADIATOR COUPLER AND RADIATION POWER METER
US8570048B2 (en) 2008-08-08 2013-10-29 Samsung Display Co., Ltd. Inspection jig for display panel, inspection system using the same, and method for inspecting the display panel using the same
WO2010047149A1 (ja) * 2008-10-24 2010-04-29 株式会社日立製作所 ノイズ評価装置
JP2010101760A (ja) * 2008-10-24 2010-05-06 Hitachi Ltd ノイズ評価装置
JP2010190708A (ja) * 2009-02-18 2010-09-02 National Institute Of Information & Communication Technology 情報を含んだ漏洩電磁波評価システム、方法及びプログラム
CN111983497A (zh) * 2019-05-23 2020-11-24 索尼互动娱乐股份有限公司 电源单元的检查装置
CN111983497B (zh) * 2019-05-23 2024-03-29 索尼互动娱乐股份有限公司 电源单元的检查装置
KR102083215B1 (ko) * 2019-08-02 2020-03-02 (주)디티앤씨 전자기파 적합성 시험장치와 이를 이용한 전자기파 적합성 시험 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102628669B (zh) 尺寸测量设备、尺寸测量方法及用于尺寸测量设备的程序
US8335397B2 (en) Charged particle beam apparatus
JP2007040894A (ja) 電磁妨害波測定装置
JP5249294B2 (ja) 電磁界分布測定装置並びにコンピュータ読み取り可能な記録媒体
US6037782A (en) Automatic adjustment of cables which aids in set-up of equipment under test for electromagnetic compatibility measurements
JP5263884B2 (ja) 情報を含んだ漏洩電磁波評価システム、方法及びプログラム
JP6288957B2 (ja) 電磁ノイズ検出装置
JP5351466B2 (ja) 電波源可視化装置
JP3760908B2 (ja) 狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置
JP5930850B2 (ja) 電磁ノイズ検出装置
JP2000019204A (ja) プリント基板のノイズ源探査装置
JP5826942B2 (ja) 走査電子顕微鏡及びこれを用いた1次電子の電流量測定方法
KR20160114636A (ko) 피시험 전자 장치에 의해 방출된 전자기장의 고-해상도 공간 스캐닝을 위한 스캐너 시스템 및 방법
JP2009002757A (ja) 電磁波測定装置及び電磁波測定方法
JP2018169200A (ja) 放射妨害波測定装置、及びその判定方法
JP2001208786A (ja) 近傍界測定システム
JP2007033197A (ja) 電磁波妨害信号の発生源特定方法及びプログラム
JP2006242672A (ja) 電磁波測定装置
JP2769472B2 (ja) ノイズファインダー装置
WO2019043874A1 (ja) 放射妨害波測定方法及び放射妨害波測定システム
JP4312094B2 (ja) 電磁界評価用複合プローブ装置
CN112136054A (zh) 频谱分析方法以及其装置
JP4657032B2 (ja) 電子機器の電磁波計測方法と装置
JP2018169201A (ja) 放射妨害波測定装置、及びその判定方法
JP2005257285A (ja) 妨害電波自動測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080124

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20080618

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080812

A131 Notification of reasons for refusal

Effective date: 20090212

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090617