JP2002214266A - 放射電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放射電波測定対象の電子装置の構成要素であ
る電子回路が発生する放射電波を正確に模擬できるよう
にして、電子回路を実際に集合させなくても集合させた
場合と同等の放射電波測定を行なえるようにする。 【解決手段】 電波放射装置２２と、電波受信装置２３
と、放射電波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置
２１ａ，２３ａ，３１，３２と、電波受信装置２３で受
信された放射電波を測定する測定装置３５と、所定の測
定条件下で予め測定された電子回路の放射電波の実測デ
ータ３７２とその測定時の測定条件データ３７１とに基
づいて上記の測定条件変更装置２１ａ，２３ａ，３１，
３２と電波放射装置２２とを制御して、上記の測定条件
と同じ測定条件下において電子回路の放射電波を模擬し
た電波を電波放射装置２２から放射させる制御装置３６
とをそなえるように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、放射電波測定シス
テム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プロ
グラムが記録された記録媒体に関し、特に、電子回路を
用いた装置が妨害電波として発する放射電波の測定に用
いて好適な、放射電波測定システム及び放射電波測定方
法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録
媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】周知のように、電子回路を用いた装置
（以下、電子装置という）は、その電子回路の発生する
電磁波（放射電波）が外部に漏れる。この電磁波は周辺
環境（周辺装置）にとっては誤動作や障害を招く一因で
ある妨害波となる。そのため、新規に作製される電子装
置に対しては、ＶＣＣＩ（情報処理装置等電波障害自主
規制協議会）で規定する妨害電磁波（ＥＭＩ：Electron
ic Magnetic Interference）の規格値を満足することが
義務付けられている。

【０００３】このため、装置メーカなどでは、一般に、
電子装置の試作機によってＥＭＩの測定を行ない、その
結果を踏まえて上記ＶＣＣＩのＥＭＩ規格値を満足する
よう改良設計を行なっている。なお、この場合の試作機
とは、電子装置の機能をつかさどる電子回路と、電子回
路を格納・保護する筐体（キャビネット）との両方を含
み、筐体内部の電子回路が妨害電磁波の発生源であり、
筐体がその妨害電磁波の外部への漏洩を防ぐ役割を果た
す。

【０００４】具体的に、その測定は例えば図８に示すよ
うなＥＭＩ測定システム１００を用いて行なわれる。即
ち、電波暗室１０１に設置された、水平面内において３
６０°回転自在なターンテーブル１１１上に試作機（被
測定装置）１１３を載置した状態で、測定アンテナ１１
２で観測（受信）される電磁波の周波数毎の電界強度を
測定室１０２に設置されたスペクトラムアナライザ１２
３で解析（測定）する。

【０００５】なお、被測定装置１１３と測定アンテナ１
１２との間の距離（測定距離）は規格で定められてお
り、一般に３ｍ（メートル）や１０ｍ程度である。ま
た、スペクトラムアナライザ１２３は、汎用インタフェ
ース（ＧＰＩＢ：General Purpose Interface Bus）な
どによって制御用のパーソナルコンピュータ（計算機；
以下、単に「制御パソコン」という）１２４と接続され
ており、その解析結果がＥＭＩの測定結果データとして
制御パソコン１２４へ送られて、制御パソコン１２４で
ハードディスクなどの記憶装置１２５に記録されるよう
になっている。

【０００６】ところで、被測定装置１１３はあらゆる方
向へ電磁波を放射するが、そのうち最も高い電界強度が
ＶＣＣＩのＥＭＩ規格値（以下、ＶＣＣＩ規格と略称す
る）を満足していればよい。このため、被測定装置１１
３の放射する電磁波の電界強度が最も高くなるポイント
を探し出す必要がある。そこで、ターンテーブル１１１
を回転させて被測定装置１１３の向きを水平面内におい
て変更するとともに、測定アンテナ１１２の高さを、例
えば１〜４ｍ程度の範囲内で変更しながら〔つまり、測
定環境（以下、測定条件ともいう）を変更しながら〕、
順次、その時々の測定環境での受信電界強度を測定して
ゆく。

【０００７】なお、このターンテーブル１１２の回転や
測定アンテナ１１２の高さ（以下、単に「アンテナ高
さ」という）の変更は、手動で行なっても良いが、測定
作業の効率化のため、例えば、測定室１０２に設置され
た制御パソコン１２４から、ＧＰＩＢなどで接続された
ターンテーブル制御装置１２１，アンテナ高さ制御装置
１２２を集中制御して、ターンテーブル回転モータ１１
１ａ及びアンテナ高さ制御モータ１１２ａを制御するこ
とによって自動で行なうのが一般的である。

【０００８】このようにして、従来は、ターンテーブル
１１１の回転およびアンテナ高さを適宜変更しながら測
定アンテナ１１２で受信される電磁波の電界強度を測定
してゆくことで、被測定装置１１３が放射する妨害電磁
波の電界強度をあらゆる方向について測定して、最も高
い電界強度値がＶＣＣＩ規格を満足しているかを判定す
る。

【０００９】さて、ここで、被測定装置１１３の発生す
る妨害電磁波量は、電子回路そのものが発生する電磁波
量は勿論のこと、その電子回路を収容する筐体の妨害電
磁波遮断（電磁シールド）性能にも大きく依存する。即
ち、筐体の電磁シールド性能が優れていれば、内部の電
子回路が多少大きな電磁波を発生しても規格を満足する
ことができる。例えば、ＶＣＣＩ規格を満足するのに電
子回路自体の電磁波発生量はそれ以上抑えられない場合
には、筐体の電磁シールド性能を強化することで対策が
施される。

【００１０】このように、電子装置がＶＣＣＩ規格を満
足するには、筐体単体の電磁シールド性能も非常に重要
な要素である。このため、筐体単体の電磁シールド性能
を評価（測定）するための測定システムも従来から提案
されている。その一例として、例えば特開平６−４３１
９７号公報により提案されている技術が挙げられる。即
ち、図９に示すような測定システム２００である。

【００１１】この図９に示す測定システム２００では、
概略して次のようにして測定が行なわれる。即ち、例え
ば、電波暗室などの試験サイト２０１において、妨害電
磁波を発生する電子回路に見立てた送信アンテナ（球状
ダイポールアンテナ）２１４を筐体２１３内に収容した
状態で、測定室２０２側で、発振器（シグナルジェネレ
ータ）２２１を駆動して電磁波発生用の電気信号を発生
させ、これを電気／光（Ｅ／Ｏ）変換器２２２で光信号
に変換した後、送信側の光ファイバケーブル２０３を通
じて送信アンテナ２１４に導入する。

【００１２】なお、球状ダイポールアンテナ２１４は、
勿論、筐体２１３内部に収まる大きさ（例えば、直径１
５ｃｍ程度）の球状導体でできており、その内部には図
示しない光／電気（Ｏ／Ｅ）変換器やバッテリなどもそ
なえられている。これにより、光ファイバケーブル２０
３を通じて導入された光信号は、球状ダイポールアンテ
ナ２１４に内蔵されている上記内蔵Ｏ／Ｅ変換器によっ
て電気信号に変換された後、電磁波として試験サイト２
０１の周囲空間へ一様に放射される。

【００１３】そして、筐体２１３から漏れ出した電磁波
は、測定アンテナ（受信側球状ダイポールアンテナ）２
１２で受信され、送信アンテナ２１４と同様にその内部
に設けられた図示しないＥ／Ｏ変換器で光信号に変換さ
れたのち、受信用の光ファイバケーブル２０４を通じて
測定室２０２側のＯ／Ｅ変換器２２３に入力され、電気
信号に再変換されてスペクトラムアナライザなどの受信
器２２４で受信される。

【００１４】これにより、筐体２１３からどの程度電磁
波が妨害電磁波として漏れ出しているかが分かり、筐体
２１３単体の電磁シールド性能を試験・評価することが
できる。なお、上記のように発振器２２１と送信アンテ
ナ２１４との間、および、測定アンテナ２１２と受信器
２２４との間の接続に、それぞれ、光ファイバケーブル
２０３，２０４を用いるのは、同軸ケーブルなどの電気
ケーブルを用いると電気ケーブルから漏洩する電磁波に
よって測定に誤差が生じる可能性があるため、これを防
止するためである。

【００１５】ところで、図８により上述した前者の測定
システム１００では、筐体（２１３）内に収容される電
子回路ブロックが複数ある場合、当然ながら、それらの
電子回路ブロックおよび筐体を含む全てを電波暗室２０
１に集合させて測定を行なわなければならない。しか
し、測定対象が交換装置などの大規模な電子装置の場合
は、実際の設置状況と同等の環境でターンテーブル１１
１上に載せて測定を行なうのは非常に困難である。

【００１６】そのため、従来は、電子装置を実際に設置
場所に設置してみてからＥＭＩ対策を施すことが多く、
ＥＭＩ対策を含めた電子装置の設置に膨大な時間を費や
していた。そこで、例えば特開平５−３３３０７２号公
報に記載されているように、図９により上述したような
「球状ダイポールアンテナ」を、電子装置の放射電波特
性を模擬する放射源として用い、電波暗室１０１などの
試験サイトと実際の設置場所での電波伝搬特性と、電子
装置の試験サイトでの放射電波とを測定し、これらの測
定結果から電子装置を上記設置場所に実際に設置したと
きの妨害電磁波の分布を推定することが提案されてい
る。

【００１７】これにより、装置設置前に設置場所の妨害
電磁波環境を予測することが可能になるので、事前に妨
害電磁波の対策指針を得ることができるのである。

【００１８】

【発明が解決しようとする課題】さて、ここで、ＥＭＩ
測定を含めた実際の電子装置の製造工程（製品開発プロ
セス）を想定してみる。例えば、交換装置などの大規模
な電子装置を製造する場合を考えてみると、この場合の
電子装置には多数の電子回路ブロックと複雑な筐体（キ
ャビネット）とが含まれるため、図１０に示すように、
それぞれが別々の場所・時間で独立したプロセスで開発
されることが多い。

【００１９】即ち、筐体の試作品は筐体設計プロセス３
００内（ステップＡ１，Ａ２）において製造され、電子
回路ブロックの試作品はそれぞれのプロセス４００内
（ステップＢ１，Ｂ２）において筐体設計プロセス３０
０とは独立して製造される。そして、例えば図８により
上述した測定システム１００によって試作機１１３によ
るＥＭＩを測定する際には、上記のようにプロセス３０
０，４００においてそれぞれ独立して製造された筐体の
試作品及び複数の電子回路ブロックの試作品をそれぞれ
電波暗室１０１に一時期に集合させ、試作機１１３を組
み立ててＥＭＩの全体測定を行なう（ステップＣ１，Ｃ
２）。

【００２０】その後、このＥＭＩ測定の結果に基づい
て、筐体又は電子回路ブロックもしくはその両方のそれ
ぞれについてＥＭＩの規格に対する対策がなされ、筐体
に関しては実際の製品設計段階に入り（ステップＡ
３）、電子回路ブロックに関しては試作品製造の本来の
目的であるハードウェアやソフトウェアのデバッグ作業
（ステップＢ３）が行なわれたのち、実際の製品設計段
階に入る（ステップＢ４）。

【００２１】そして、それぞれ製品が完成すると（ステ
ップＡ４，Ｂ５）、再度、ＥＭＩ測定のために製品版の
筐体および電子回路ブロックをそれぞれ電波暗室１０１
に集合させて製品を組み立てた上で（ステップＣ３）、
製品出荷前の装置全体の最終的なＥＭＩ測定を行なう
（ステップＣ４）。このように、従来の測定システム１
００では、ＥＭＩ測定の度に、筐体および電子回路ブロ
ックを全て一時期に測定室１０１に集合させなければな
らない。このため、特に、交換装置のように大規模な電
子装置を対象とした場合は、製品開発プロセス全体に対
する大きな負担となる。

【００２２】即ち、上述した電子回路ブロックの試作品
は、ＥＭＩ測定のためだけに製造されるわけでなく、本
来は上述したごとくハードウェアやソフトウェアのデバ
ッグを行なうことを主たる目的として製造されるもので
あるのだが、上述のごとくＥＭＩ測定期間中（図１０の
斜線部分参照）はその本来の目的であるデバッグ作業が
滞ることになる。

【００２３】また、上記のように電子装置に複数の電子
回路ブロックが含まれる場合、一度ＥＭＩ測定が終わっ
たとしても、その後に、一部の電子回路ブロックに仕様
等の変更が生じた場合には、それ以外の電子回路ブロッ
クも含めて、全ての電子回路ブロックを再び集合・組み
立てして再測定する必要にせまられる。この場合、何ら
変更されていない電子回路ブロックのデバッグ作業も中
断されることになる。

【００２４】特に、製造工程の分業のために製造工場が
各地に散在しているような場合、同じ電子装置を構成す
る複数の電子回路ブロックがそれぞれ異なる遠隔地で開
発設計されることも少なくなく、このような場合、上記
のようにＥＭＩ測定の度に、全ての電子回路ブロックを
各地から１箇所に集合させるのは非常に非効率的であ
る。

【００２５】このような非効率的な作業を回避するに
は、ＥＭＩ測定の際に電子回路ブロックと同等の妨害電
磁波を電波暗室１０１内で発生できればよい。そこで、
前述した特開平５−３３３０７２号公報や特開平６−４
３１９７号公報により提案されている技術、即ち、「球
状ダイポールアンテナ」により電子装置の放射電波特性
を模擬すれば、これを実現できそうである。

【００２６】しかしながら、これらの特開平５−３３３
０７２号公報および特開平６−４３１９７号公報には、
「電子装置の放射電波特性を模擬する」旨の記載はある
ものの、いずれも、「球状ダイポールアンテナ」を妨害
電磁波の発生源（電子回路）として見立てるという程度
の意味であり、実際に、電子装置（電子回路ブロック）
の発生する妨害電磁波をどのようにして正確に模擬する
かについての手法や手段については何ら開示されていな
い。

【００２７】このことは、前者の特開平５−３３３０７
２号公報の段落〔０００７〕において、「装置を完全に
は放射源で模擬できない…（以下、略）」との記載があ
り、また、上記の各公知技術がいずれも「装置の放射特
性を正確に模擬できるようにすること」を目的としてい
ないことから明らかである。このため、上記の公知技術
を例えば図８により前述した測定システム１００に単純
に適用したとしても、電子回路ブロックの発生する妨害
電磁波を正確に模擬して、電子回路ブロックを電波暗室
１０１に集合させずにＥＭＩ測定することは不可能であ
る。

【００２８】本発明は、このような課題に鑑み創案され
たもので、放射電波測定対象の電子装置の構成要素であ
る電子回路が発生する放射電波を正確に模擬できるよう
にして、電子回路を実際に集合させなくても集合させた
場合と同等の放射電波測定を行なえるようにした、放射
電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波
測定制御プログラムが記録された記録媒体を提供するこ
とを目的とする。

【００２９】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の放射電波測定システム（請求項１）は、
以下に示す装置をそなえたことを特徴としている。 （１）電波を放射する電波放射装置 （２）この電波放射装置の放射電波を受信する電波受信
装置 （３）上記放射電波の測定条件を変更しうる測定条件変
更装置 （４）上記の電波受信装置で受信された放射電波を測定
する測定装置 （５）所定の測定条件下で予め測定された電子回路の放
射電波の実測データとその測定時の測定条件データとに
基づいて上記の測定条件変更装置と電波放射装置とを制
御して、上記の測定条件と同じ測定条件下において前記
電子回路の放射電波を模擬した電波を上記電波放射装置
から放射させる制御装置 上述のごとく構成された本発明の放射電波測定システム
（以下、単に「測定システム」という）では、上記の実
測データと測定条件データとを取得すれば（データ取得
ステップ）、制御装置によって、それらの各データに基
づいて上記の測定条件変更装置と電波放射装置とを制御
して、同じ測定条件下において電子回路の放射電波を模
擬した電波を上記電波放射装置から放射させる（制御ス
テップ）ことで、上記の放射電波受信装置で受信される
電波放射装置からの放射電波を測定する（測定ステッ
プ）ことができる（請求項２）。

【００３０】その結果、電子回路の放射電波を正確に模
擬することが可能となり、その電子回路を構成要素とす
る電子装置全体の放射電波を測定するのに、その電子回
路が測定場所に実際に無くても、模擬した放射電波で代
用することで、電子装置全体の放射電波を再現して測定
することが可能になる。さらに、本発明の放射電波測定
制御プログラムが記録された記録媒体（請求項３）は、
上記のデータ取得ステップ及び制御ステップとを含む処
理を、コンピュータに実行させるための放射電波測定制
御プログラムが記録されたことを特徴としている。この
記録媒体に記録された放射電波測定制御プログラムをコ
ンピュータが読み取って動作することにより、上記の放
射電波測定システムを上述したごとく制御することが可
能となり、上述した測定方法を実現することができる。

【００３１】ここで、上記の放射電波測定制御プログラ
ムは、上記の制御ステップをコンピュータに実行させる
際に、次の各プロセスをさらにコンピュータに実行させ
るようにしてもよい（請求項４）。 （１）上記の測定条件データと実測データとに従って上
記の測定条件変更装置と電波放射装置の電波放射状態と
を制御して、上記電波受信装置で受信される放射電波の
測定装置での測定データが上記実測データに一致すると
きの電波放射装置の電波放射状態データを求めるデータ
校正プロセス （２）このデータ校正プロセスで求められた電波放射状
態データに従って上記電波放射装置の電波放射状態を制
御することによって上記電子回路の放射電波を模擬した
電波を該電波放射装置から放射させる電波放射状態制御
プロセス このようにすれば、電波放射装置から放射される電波
を、より実際の電子回路の放射電波に近づけることがで
きて、放射電波の模擬精度を上げることができる。

【００３２】なお、上記のデータ校正プロセスで求めら
れた電波放射状態データは記録装置に記録させるように
してもよい。このようにすれば、仮に電子回路の仕様等
に変更が生じた場合でも、変更の無い電子回路について
の電波放射状態データは再利用することができる。換言
すれば、１度模擬した電子回路の放射電波は、電子回路
の仕様等に変更が無く上記の測定条件データ及び実測デ
ータに変更が無い限り、実際の電子回路の放射電波とし
て代用することができる（請求項５）。

【００３３】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を説明する。 （Ａ）一実施形態の説明 図１は本発明の一実施形態としてのＥＭＩ測定システム
（放射電波測定システム）を示すブロック図で、この図
１に示すＥＭＩ測定システム１は、電磁波（以下、単に
「電波」ともいう）の反射を抑制した電波暗室２におい
て、ターンテーブル回転モータ２１ａ付きのターンテー
ブル２１，放射アンテナ２２，アンテナ制御モータ２３
ａ付きの測定アンテナ２３などが設置され、測定室３に
おいて、ターンテーブル制御装置３１，アンテナ制御装
置３２，信号発生器（シグナルジェネレータ）３３，電
気／光（Ｅ／Ｏ）変換器３４，スペクトラムアナライザ
３５，制御用のパーソナルコンピュータ（計算機；以
下、単に「制御パソコン」という）３６及び記憶装置３
７などが設置されて構成されている。なお、符号２４は
最終的なＥＭＩ測定対象の電子装置の筐体（キャビネッ
ト）を表す。

【００３４】そして、Ｅ／Ｏ変換器３４と放射アンテナ
２２との間は光ケーブル（例えば、シングルモード光フ
ァイバケーブル）４によって接続されており、ターンテ
ーブル制御装置３１とターンテーブル回転モータ２１
ａ、アンテナ制御装置３２とアンテナ制御モータ２３
ａ、スペクトラムアナライザ３５と測定アンテナ２３と
の間はそれぞれ外来雑音に強い同軸ケーブル５などによ
って接続されている。

【００３５】ここで、上記のターンテーブル２１は、Ｅ
ＭＩ測定対象の電子装置や筐体２４が載置される測定台
で、ターンテーブル制御装置３１からターンテーブル回
転モータ２１ａが制御されることによって水平面内にお
いて３６０°回転できるようになっており、これによ
り、ターンテーブル２１上に載置された被測定物の向き
を水平面内において自在に変更できるようになってい
る。

【００３６】また、放射アンテナ（電波放射装置）２２
は、ターンテーブル２１上に載置されるＥＭＩ測定対象
の電子装置の筐体２４内に収容されて、シグナルジェネ
レータ３３で生成された信号（発振波形）に応じた電磁
波を放射するためのもので、本実施形態においても、例
えば、直径１５ｃｍ程度の球状ダイポールアンテナが好
適である。

【００３７】本放射アンテナ２２も、図示しない光／電
気（Ｏ／Ｅ）変換器や電磁波発生用のバッテリ等を内蔵
しており、Ｅ／Ｏ変換器３４で光信号に変換されて光ケ
ーブル４を通じて入力される発振波形を内蔵Ｏ／Ｅ変換
器で電気信号に変換して球状導体に通電することによ
り、その球状導体からほぼ無指向性の電磁波が放射され
るようになっている。なお、上記のバッテリとしては、
リチウムイオンタイプのものが、エネルギー密度が高く
好適である。

【００３８】さらに、測定アンテナ（電波受信装置）２
３は、放射アンテナ２２から放射された電磁波を受信す
るためのもので、本実施形態では、アンテナ制御モータ
２３ａがアンテナ制御装置３２によって制御されること
により、鉛直方向に１〜４ｍ程度その高さを調整（昇
降）することができるとともに、その取り付け方向（水
平／垂直）を変更できるようになっている。

【００３９】なお、ターンテーブル２１上の被測定物と
測定アンテナ２３との（水平）距離は、３ｍや１０ｍ程
度がよく使用され好適である。また、測定アンテナ２３
のタイプとしては、３０〜２００ＭＨｚ（メガヘルツ）
帯域ではバイコニカル型、２００〜１０００ＭＨｚ帯域
ではログペリ型が好適である。さらに、測定アンテナ２
３の取り付け方向が変更できるようになっているのは、
電子回路ブロックが発生する電磁波の偏波方向にムラが
あるので、偏波方向によらない最大の電界強度を測定す
るためである。

【００４０】一方、測定室３において、ターンテーブル
制御装置３１は、制御パソコン３６からのターンテーブ
ル制御信号（回転角）に従ってターンテーブル回転モー
タ２１ａを制御して、ターンテーブル２１を指示に応じ
た回転角だけ回転させるためのものであり、アンテナ制
御装置３２は、同様に、制御パソコン３６からのアンテ
ナ制御信号に従ってアンテナ制御モータ２３ａを制御し
て、アンテナ高さやアンテナ取り付け方向（水平／垂
直）を指示に応じた高さや取り付け方向に制御するため
のものである。

【００４１】つまり、上記のターンテーブル制御装置３
１，ターンテーブル回転モータ２１ａ，アンテナ制御装
置３２，アンテナ制御モータ２３ａは、電波暗室２での
ＥＭＩの測定環境（測定条件）を変更しうる測定条件変
更装置としての機能を果たしていることになる。また、
シグナルジェネレータ３３は、制御パソコン３６からの
指示（発振波形データ）に応じた発振波形を有する信号
（電気信号）を発生するためのものであり、Ｅ／Ｏ変換
器３４は、このシグナルジェネレータ３３で発生した信
号を光信号に変換するもので、ここで得られた光信号は
光ケーブル４を通じて電波暗室２内の放射アンテナ２２
に導入されるようになっている。なお、これらのシグナ
ルジェネレータ３３とＥ／Ｏ変換器３４との間は同軸ケ
ーブルなどの伝送特性の良いケーブルを用いて接続す
る。

【００４２】さらに、スペクトラムアナライザ３５は、
測定アンテナ２３で受信（観測）された電磁波を同軸ケ
ーブル５経由で受けて、その電磁波のスペクトラムを解
析（測定）するためのものであり、その解析結果はＧＰ
ＩＢ等を通じて制御パソコン３６に転送されるようにな
っている。なお、このスペクトラムアナライザ３５に
は、「測定モード」として例えば「最大値保持モード」
と「全記録モード」とがあり、「最大値保持モード」で
は特定周波数帯の中で最も強い電界強度値のみが保持
（記録）され、「全記録モード」では全周波数の電界強
度値が全て記録されるようになっている。これらのモー
ド設定は制御パソコン３６によって遠隔制御できる。

【００４３】また、記憶装置３７は、最終的なＥＭＩ測
定対象の電子装置を構成する電子回路ブロック単体につ
いてのＥＭＩ測定データ（以下、単体測定データとい
う）３７ａや、上記のスペクトラムアナライザ３５によ
る解析結果に基づいて求められる測定結果データ３７ｂ
（測定アンテナ２３で観測された電界強度値）を記憶す
るためのものである。

【００４４】なお、この記憶装置３７は、図１では制御
パソコン３６に対して外付けになっているが、勿論、ハ
ードディスクなどとして制御パソコン３６に内蔵されて
いてもよい（図２参照）。また、上記の単体測定データ
３７ａは、図３により後述するように、電子回路ブロッ
ク単体が発生する放射電波の特定周波数毎の電界強度デ
ータ（実測データ）３７２と、その測定時の測定条件
〔ターンテーブル回転角，測定アンテナ高さ，アンテナ
取り付け方向（水平／垂直）など〕に関するデータ（測
定条件データ）３７１との組で記憶装置３７に記憶され
る。

【００４５】そして、制御パソコン（制御装置）３６
は、ターンテーブル制御装置３１やアンテナ制御装置３
２，シグナルジェネレータ３３，スペクトラムアナライ
ザ３５を、それぞれＧＰＩＢ等を介したデータ通信によ
り遠隔集中制御することで、本ＥＭＩ測定システム１に
よるＥＭＩ測定を集中制御するためのものである。この
ため、本制御パソコン３６は、その要部のハードウェア
構成に着目すると、例えば図２に示すように、ディスプ
レイ（表示装置）３８と本体３９とをそなえており、本
体３９には、上記の記憶装置３７をハードディスクとし
てそなえるほか、ＣＰＵ４０，主記憶部（メインメモ
リ）４１，フロッピーディスク（ＦＤ）やＣＤ−ＲＯ
Ｍ，ＭＯ（光磁気ディスク）などの記録媒体５０に適し
たドライブ４２などが設けられるとともに、上述したタ
ーンテーブル制御装置３１やアンテナ制御装置３２，シ
グナルジェネレータ３３，スペクトラムアナライザ３５
などの計測機器をそれぞれＧＰＩＢにより接続するため
のＧＰＩＢカード４３が拡張バススロットなどに実装さ
れており、これらのコンポーネントが内部バス４４によ
り相互に通信可能に接続されている。

【００４６】ここで、ＣＰＵ４０は、本制御パソコン３
６の動作を集中管理するもので、ユーザの指示に応じて
ハードディスク３７に記憶（インストール）された所望
のプログラムを主記憶部４１に読み出して実行すること
により、そのプログラムに従った動作を、制御パソコン
３６に実行させるものである。例えば、本実施形態で
は、ハードディスク３７にＥＭＩ測定制御プログラム５
１をインストールしてＣＰＵ４０に実行させることによ
って、制御パソコン３６をＥＭＩ測定用の制御装置とし
て機能させることができる。

【００４７】なお、このＥＭＩ測定制御プログラム５１
のインストールは、記録媒体５０に記録されているもの
をドライブ４２によって読み取ることで行なってもよい
し、インターネットやＷＡＮ（Wide Area Network），
ＬＡＮ（Local Area Network）などの通信網を介してｆ
ｔｐ（file transfer protocol）などを用いてダウンロ
ードしてきたものをハードディスク３７に展開すること
で行なってもよい。また、勿論、本制御パソコン３６上
でプログラミングしたものをハードディスク３７に展開
することで実施してもよい。

【００４８】具体的に、上記のＥＭＩ測定制御プログラ
ム（以下、単に「制御プログラム」という）５１をＣＰ
Ｕ４０に実行させると、本実施形態の制御パソコン３６
は、例えば図４及び図５により後述するアルゴリズム
（データ校正プロセス５２及び測定プロセス５３）を実
行することになる。換言すれば、本実施形態の制御プロ
グラム５１は、図４及び図５に示す各プロセス５２，５
３を制御パソコン３６に実行させるようプログラミング
されている。

【００４９】以下、上述のごとく構成された本実施形態
のＥＭＩ測定システム１の動作について詳述する。ま
ず、前段（事前）作業として、電子回路ブロック単体に
ついての単体測定データ３７ａを入手する必要がある。
これは、図８により前述した既存システム１００を用い
て測定することで得てもよいし、本ＥＭＩ測定システム
１を用いて測定することで得てもよい。

【００５０】例えば本ＥＭＩ測定システム１を用いる場
合には、制御パソコン３６に、ターンテーブル制御装置
３１，アンテナ制御装置３２，スペクトラムアナライザ
３５を自動制御するプログラム（上述した制御プログラ
ム５１とは別のもの）をインストールしておく。この場
合のプログラムは、測定器メーカ等が提供しているもの
でもよいし、ＣやＢＡＳＩＣといった一般的なプログラ
ミング言語を使用して作成してもよい。いずれにして
も、前述した既存システム１００で使用されるものでよ
い。

【００５１】そして、最終的なＥＭＩ測定対象の電子装
置を構成する電界回路ブロック単体を被測定装置として
ターンテーブル２１上に設置して、その電子回路ブロッ
クを起動（電源投入）する。かかる状態で、制御パソコ
ン３６に上記のプログラムを実行させることにより、制
御パソコン３６は、まず、ターンテーブル回転角とアン
テナ高さ及びアンテナ取り付け方向を初期値（例えば、
ターンテーブル回転角＝０°，アンテナ高さ＝１ｍ，ア
ンテナ取り付け方向＝水平）に設定し、スペクトラムア
ナライザ３５の「測定モード」を適切なモード（「全記
録モード」）に設定する。

【００５２】これにより、その測定条件下での各周波数
帯域の電界強度がスペクトラムアナライザ３５で解析さ
れ、その解析結果（電界強度の最大値）が制御パソコン
３６に転送される。制御パソコン３６は、そのときのタ
ーンテーブル回転角，アンテナ高さ，アンテナ取り付け
方向，周波数対電界強度という組み合わせを１セットの
単体測定データ３７ａとしてハードディスク３７に記録
する。例えば、「360,4.0, H, 1000.0, -100.0」といっ
た形式で保存する場合、これをテキスト形式で記録する
と、２４バイト程度のデータになる。

【００５３】その後、ターンテーブル回転角，アンテナ
高さ及びアンテナ取り付け方向を順次変更してゆき、全
ての測定条件の組み合わせについて周波数，電界強度を
測定してハードディスク３７に記録してゆく。このよう
にして得られた単体測定データ３７ａの一例を図３に示
す。つまり、この場合の測定は、通常の最大電界強度の
みを求める「最大値保持モード」ではなく、ターンテー
ブル回転角，アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向の全
ての組み合わせについて周波数対電界強度値を電界強度
データ３７２として全て記録する「全記録モード」によ
って行なわれるのである。

【００５４】なお、後述するように、この単体測定デー
タ３７ａを用いて電子回路ブロック単体の妨害電磁波を
高精度に模擬するためには、この図３に示すように、タ
ーンテーブル回転角の変更刻みは０〜３６０°の範囲で
５°程度、アンテナ高さの変更刻みは１〜４ｍの範囲で
０．５ｍ程度は少なくとも必要である。この場合の組み
合わせ数は「５０４」となり、アンテナ取り付け方向が
「水平／垂直」の２通りあるので、測定条件の総組み合
わせ数は「１００８」となる。

【００５５】また、スペクトラムアナライザ３５で分析
する周波数の刻みは概ね１％程度あれば十分である。即
ち、３０〜１００ＭＨｚの周波数帯で０．３ＭＨｚ、１
００〜３００ＭＨｚの周波数帯で１ＭＨｚ、３００〜１
０００ＭＨｚの周波数帯で３ＭＨｚもあれば良く、この
場合、記録される周波数種類は「６７０」程度となる。
なお、測定対象の周波数帯域は、各国の法規制などから
上記のように３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚ（１０００ＭＨｚ）
であることが多い。

【００５６】以上の条件での測定に要する時間は、ター
ンテーブル制御装置３１やアンテナ制御装置３２，スペ
クトラムアナライザ３５などの各測定機器の性能に左右
されるが、スペクトラムアナライザ３５での解析時間，
スペクトラムアナライザ３５から制御パソコン３６への
データ転送時間，ターンテーブル２１及び測定アンテナ
２３の高さ／取り付け方向の変更時間などを合わせて、
１回当たり１０秒程度で可能である。従って、この場合
の全測定時間は２時間５０分程度になる。

【００５７】そして、上記の手順により記録された単体
測定データ３７ａは、後に放射アンテナ２２によって電
子回路ブロックの妨害電磁波を模擬した上でのＥＭＩ測
定に使用される。なお、上記の単体測定データ３７ａを
既存システム１００で記録した場合は、その単体測定デ
ータ３７ａを制御パソコン３６に転送する必要がある。

【００５８】仮に、図３に示す単体測定データ３７ａを
テキスト形式で記録した場合、１セットの総データ量は
およそ１６Ｍ（メガ）バイト程度になるので、ＣＤ−Ｒ
ＯＭやＭＯなどの大容量記録媒体の使用、あるいは、イ
ンターネット等の通信網からのｆｔｐなどによるデータ
転送を考慮する必要がある。そして、上記の単体測定デ
ータ３７ａを使用して電子回路ブロック単体の妨害電磁
波を模擬して実際に電子装置全体のＥＭＩ測定を行なう
わけであるが、その前に、電子回路ブロック単体が発生
する妨害電磁波の電界強度と同じ強さの電磁波が放射ア
ンテナ２２から放射されるシグナルジェネレータ３３の
発振波形（振幅値）を求める必要がある。

【００５９】以下、この作業（データ校正プロセス５
２）について説明する。なお、この場合は、筐体２４の
無い状態で放射アンテナ２２のみを電波暗室２内のター
ンテーブル２１上に設置する。また、勿論、放射アンテ
ナ２２と測定アンテナ２３との間の距離は、電子回路ブ
ロック単体の測定時と同じ距離に設定しておく必要があ
る。

【００６０】まず、制御パソコン３６（ＣＰＵ４０）
は、制御プログラム５１を実行することによりデータ校
正プロセス（以下、単に「校正プロセス」という）５２
を開始して、上記の単体測定データ３７ａ〔測定条件デ
ータ３７１（アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向，タ
ーンテーブル回転角）及び電界強度データ３７２（周波
数−電界強度値）〕をハードディスク３７から読み取る
（単体測定データ読み取り；ステップＳ１）。つまり、
この場合、制御プログラム５１は、制御パソコン３６
（ＣＰＵ４０）を、単体測定データ３７ａを取得するデ
ータ取得手段６１として機能させていることになる。

【００６１】ここで、単体測定データの並びが乱雑であ
るとアンテナ高さやターンテーブル２１の回転の無駄が
生じてしまい、測定に余計な時間がかかる可能性がある
ため、測定作業の効率化・短縮化を目的として、制御パ
ソコン３６は、例えば図３に示したように、アンテナ高
さ：低→高，回転角：０→３６０°などのように、最も
効率の良い順序で測定を行なえる順序にデータを並べ替
える（単体測定データソート；ステップＳ２）。つま
り、この場合、制御プログラム５１は、制御パソコン３
６（ＣＰＵ４０）を、複数組の電界強度データ３７２及
び測定条件データ３７１を測定条件の変更順序に適した
順序にソートするデータソート手段６３として機能させ
ていることになる。

【００６２】また、この場合、電界強度データ３７２が
特定周波数対応のデータとして記録されている〔図６
（Ａ）参照〕ため、そのままでは放射アンテナ２２に信
号を与えることができない。そこで、本実施形態では、
逆高速フーリエ変換（逆ＦＦＴ）によって時間に対する
電界強度データ、即ち、時間領域の発振波形データ〔図
６（Ｂ）参照〕に変換する（逆ＦＦＴ・波形生成；ステ
ップＳ３）。

【００６３】つまり、この場合、制御プログラム５１
は、電界強度データ３７２が周波数領域のデータとして
得られている場合に、そのデータ３７２を逆ＦＦＴして
時間領域の発振波形データに変換する逆ＦＦＴ変換手段
６４と、この逆ＦＦＴ変換手段によって得られた発振波
形データに基づいて放射アンテナ２２の放射電波の発振
波形を生成する発振波形生成手段６５として、制御パソ
コン３６（ＣＰＵ４０）を機能させているのである。

【００６４】これにより、上記電界強度データ３７２の
周波数領域に含まれる複数周波数（例えば、３０〜１０
００ＭＨｚ）分の発振波形をシグナルジェネレータ３３
に１度に与えて電波放射状態制御を１度に実施すること
ができるので、測定作業の短縮化を図ることができる。
なお、上記の逆ＦＦＴは、このように制御パソコン３６
上でソフトウェアによって実行してもよいし、シンセサ
イザのようなハードウェアを使用して実現してもよい。
ただし、近年のパソコンの性能を考えると、専用のハー
ドウェアを設けるよりも、上記のようにソフトウェアに
よって処理した方が効率的である。

【００６５】次に、制御パソコン３６は、最初の（ｎ＝
１の）測定条件データ３７１に従ってターンテーブル制
御装置３１，アンテナ制御装置３２を制御して、そのデ
ータ３７１どおりにアンテナ高さ，アンテナ取り付け方
向，ターンテーブル回転角を合わせる（ステップＳ４，
Ｓ５）。かかる状態で、上述のごとく生成した発振波形
をシグナルジェネレータ３３に入力し、最初は適当な振
幅で発振させる（波形入力／発振開始；ステップＳ６，
Ｓ７）。

【００６６】これにより、放射アンテナ２２から入力発
振波形に応じた妨害電磁波が放射される。そして、その
妨害電磁波を測定アンテナ２３で観測し、観測した電磁
波をスペクトラムアナライザ３５で解析する。制御パソ
コン３６は、その解析結果をスペクトラムアナライザ３
５から受けることにより、その電界強度を求めてハード
ディスク３７（あるいは、メインメモリ４１でもよい）
に記録する（受信強度測定；ステップＳ８）。

【００６７】そして、制御パソコン３６は、測定（記
録）された電界強度を最初（ｎ＝１）の単体測定データ
３７ａの電界強度データ３７２と比較し、それよりも強
ければ振幅を減少させ、弱ければ振幅を増加する。これ
を繰り返すことによって、単体測定データ３７ａどおり
の強さで電界強度が測定アンテナ２３で観測（測定）さ
れる発振波形の振幅値を求めて（振幅決定；ステップＳ
９）、その振幅値を発振波形及びｎ番目の測定条件デー
タ３７１（現測定条件）とセットで（電波放射状態デー
タとして）ハードディスク３７に記録する（振幅値記
録；ステップＳ１０）。

【００６８】つまり、上記の制御プログラム５１は、上
記のステップＳ２〜Ｓ１２をＣＰＵ４０に実行させるこ
とによって、制御パソコン３６（ＣＰＵ４０）を、デー
タ取得手段６１によって取得した各データ３７１，３７
２に従って制御装置３１，３２と放射アンテナ２２の電
波放射状態とを制御して、測定アンテナ２３で受信され
る放射電波のスペクトラムアナライザ３５での測定デー
タが電界強度データ３７２に一致するときの放射アンテ
ナ２２の電波放射状態データを求めるデータ校正手段６
２として機能させるとともに、このデータ校正手段６２
で求められた電波放射状態データを記録装置３７に記録
する記録制御手段６６として機能させていることにな
る。

【００６９】なお、振幅と電界強度の関係が事前の測定
などによって予め分かっている場合には、１点のみの測
定で演算により上記の振幅値を求めることもできるが、
データ（振幅値）の信頼性を高めるためには、上述のご
とく実際に放射アンテナ２２から電磁波を放射させて確
認することが望ましい。以上の作業をアンテナ高さ，ア
ンテナ取り付け方向，ターンテーブル回転角の組み合わ
せ数だけ〔最後の組み合わせのデータ３７ａまで（ステ
ップＳ１１でＹＥＳと判定されるまで）〕、読み取りデ
ータを順次次のデータに変更して（ｎ＝ｎ＋１；ステッ
プＳ１２）繰り返すことにより、全方向に対しての振幅
値を求める（ステップＳ１１のＮＯルート）。

【００７０】つまり、この場合、制御プログラム５１
は、制御パソコン３６を上記のデータ校正手段として機
能させる際に、さらに、複数種類の測定条件に応じて複
数組の測定条件データ３７１及び電界強度データ３７２
が存在する場合に、所定の順序で測定条件の制御と電波
放射状態の制御とを繰り返し行なわせるようになってい
るのである。これにより、あらゆる方向の（複数種類の
測定条件下での）電子回路ブロック単体の妨害電磁波を
それぞれ正確に模擬することができるので、妨害電磁波
の模擬精度が大幅に向上する。

【００７１】そして、上述のごとく記録した上記の発振
波形をその測定条件下及び振幅値でシグナルジェネレー
タ３３から発生させれば、電子回路ブロック単体の妨害
電磁波を模擬した電磁波が放射アンテナ２２から放射さ
れることになる。なお、電子回路ブロックが複数存在す
る場合は、それぞれについて上記の処理を実施すること
により、それぞれに対応する発振波形及び振幅値を記録
しておく。

【００７２】さて、以上のようにして校正プロセス５２
が完了したら、次に図５に示すアルゴリズムに従って、
実際のＥＭＩ測定（測定プロセス５３；制御ステップ）
を実施する。この際には、図１に示すとおり、筐体（キ
ャビネット）２４内部に放射アンテナ２２を設置する。
なお、電子回路ブロックが複数存在する場合には、それ
に応じて複数の放射アンテナ２２を筐体２４内に設置す
る。

【００７３】まず、制御パソコン３６は、上記の校正プ
ロセス５２で得られた電波放射状態データ（測定条件，
発振波形及び振幅値）のうち、最初の（ｎ＝１）のデー
タに従って、ターンテーブル回転角，アンテナ高さ，ア
ンテナ取り付け方向を調整した上で（ステップＳ２１，
Ｓ２２）、対応する発振波形と振幅値をシグナルジェネ
レータ３３に入力して（ステップＳ２３）、放射アンテ
ナ２２から電子回路ブロックの妨害電磁波を模擬した電
磁波を放射（発振）させる（ステップＳ２４）。

【００７４】つまり、この場合、上記の制御プログラム
５１は、上記のステップＳ２３及びＳ２４を「電波放射
状態制御プロセス」としてＣＰＵ４０に実行させること
により、制御パソコン３６を、上記のデータ校正手段６
２で求められたデータに従って放射アンテナ２２の電波
放射状態を制御することによって電子回路ブロックの放
射電波を模擬した電波を放射アンテナから放射させる電
波放射状態制御手段６７として機能させていることにな
る。

【００７５】そして、制御パソコン３６は、測定アンテ
ナ２３で観測された電界強度をスペクトラムアナライザ
３５経由で読み取り、例えばハードディスク３７に記録
する（測定ステップ；ステップＳ２５）。以上の作業
を、アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向，ターンテー
ブル回転角の組み合わせ数だけ〔最後の組み合わせのデ
ータ３７ａまで（ステップＳ２６でＹＥＳと判定される
まで）〕、読み取りデータを、順次、次のデータに変更
して（ｎ＝ｎ＋１；ステップＳ２７）繰り返すことによ
り、全方向に対して筐体２４を含めた電子装置のＥＭＩ
を、電子回路ブロック単体の妨害電磁波を模擬した電磁
波によって求めて、順次、記録してゆく（ステップＳ２
６のＮＯルート）。ただし、この場合は、校正プロセス
５２のようにアンテナ高さ，アンテナ取り付け方向及び
ターンテーブル回転角毎にデータを全て記録する必要は
なく、各周波数帯域における最大電界強度のみを記録し
ておけばよい（「最大値保持モード」）。

【００７６】以上のように、本実施形態のＥＭＩ測定シ
ステム１によれば、予め測定された電子回路ブロック単
体の発する妨害電磁波の実測データ３７２とその測定時
の測定条件データ３７１とに基づいて現測定条件と放射
アンテナ２２の電波放射状態とを制御することにより、
電子回路ブロック単体の妨害電磁波を正確に模擬するこ
とができるので、その電子回路ブロック単体が電波暗室
２に実際に無くても、模擬した妨害電磁波で代用するこ
とで、電子装置全体の発する妨害電磁波を再現して測定
することが可能になる。

【００７７】つまり、電子装置を構成する全電子回路ブ
ロックを電波暗室２に一時期に集合させなくても、集合
させた場合と同じＥＭＩ測定を実施することができる。
これにより、独立した各電子回路ブロックの開発プロセ
スに応じて、或る電子回路ブロックの試作機単体でＥＭ
Ｉ測定を行なえばよいことになり、各電子回路ブロック
の開発プロセスの独立性を高めて、製品開発の効率性を
飛躍的に向上することができる。

【００７８】例えば製品出荷までの製品開発プロセスを
考えてみると、図７に示すように、筐体（キャビネッ
ト）２４の試作品は筐体設計プロセス７内（ステップＳ
３１，Ｓ３２）において製造され、電子回路ブロック単
体の試作品はそれぞれの回路設計プロセス６内（ステッ
プＳ４１，Ｓ４２）において筐体設計プロセスとは独立
して製造される。

【００７９】そして、それぞれの回路設計プロセス６に
おいて、電子回路ブロックの試作品のＥＭＩを単体で測
定して、上述した単体測定データ３７ａを求める（ステ
ップＳ４３）。そして、得られた単体測定データ３７ａ
は上述したごとく校正プロセス５２を経て筐体２４を含
んだＥＭＩ測定に使用される（ステップＳ４４，Ｓ３
３）。この間も、回路設計プロセス６では、試作品によ
るハードウェアやソフトウェアのデバッグ作業などを継
続して行なうことができ（ステップＳ４５）、製品設計
及び製品製造を滞りなく行なうことができる（ステップ
Ｓ４６，Ｓ４７）。

【００８０】一方、筐体２４の試作品は、上記ＥＭＩ測
定が終了し、規格値を満足して問題なければ、製品設計
及び製品製造段階に入る（ステップＳ３４，Ｓ３５）。
そして、それぞれ製品が完成すれば、ＥＭＩ測定のため
に製品版の筐体および電子回路ブロックをそれぞれ電波
暗室２に集合させて製品を組み立てた上で（ステップＳ
５１）、製品出荷前の装置全体の最終的なＥＭＩ測定を
行なう（ステップＳ５２）。

【００８１】このように、本実施形態のＥＭＩ測定シス
テム１を用いることで、試作品によるＥＭＩ測定の度
に、筐体２４および電子回路ブロックを全て一時期に測
定室２に集合させる必要がないので、交換装置のように
大規模な電子装置を対象とした場合でも、製品開発プロ
セス全体の大幅な効率化・短縮化が可能である。しか
も、本実施形態では、校正プロセス５２において、測定
アンテナ２３で実際に受信される電磁波の測定データが
予め測定された実測データ３７２に一致するよう校正し
た電波放射状態データ（発振波形，振幅値）に従って放
射アンテナ２２の電磁波放射状態を制御するので、放射
アンテナ２２から放射される電磁波を、より実際の電子
回路ブロックの妨害電磁波に近づけることができて、高
精度な電子回路ブロック単体の妨害電磁波の模擬が実現
されている。

【００８２】また、校正プロセス５２で求めた電波放射
状態データは、ハードディスク３７などに記録されるの
で、仮に電子回路ブロック単体の仕様等に変更が生じた
場合でも、変更の無い電子回路ブロック単体について既
に求められている電波放射状態データは再利用すること
ができる。換言すれば、１度校正プロセス５２によって
求めた電子回路ブロック単体の妨害電磁波（電波放射状
態データ）は、その電子回路ブロック単体の仕様等に変
更が無く上記の測定条件データ３７１及び実測データ３
７２に変更が無い限り、そのまま実際の電子回路ブロッ
ク単体の妨害電磁波として代用することができる。

【００８３】従って、変更のあった電子回路ブロック単
体との組でＥＭＩの再測定を行なわなければならなくて
も、変更の無い電子回路ブロック単体をわざわざ電波暗
室２に用意せずにＥＭＩ測定を実施することができ、電
子回路ブロック単体の開発プロセスの独立性をさらに高
めて、製品開発の効率化を図ることができる。 （Ｂ）その他 なお、図４により上述した校正プロセス５２におけるデ
ータソートステップＳ２は、予め得られている単体測定
データ３７ａの並びがもともと測定条件の変更順序に適
した並びになっている場合は、勿論、省略可能である。
また、測定（条件）項目は、勿論、必ずしも、図３に示
すような項目でなくてもよく、使用する測定アンテナ２
３の種類やターンテーブル２１の種類に応じて測定項目
は変更すればよい。

【００８４】また、上述した実施形態では、測定アンテ
ナ２３とスペクトラムアナライザ３５との間を同軸ケー
ブル５で接続しているが、例えば図９により前述した測
定システム２００と同様に、測定アンテナ２３に球状ダ
イポールアンテナを用い、スペクトラムアナライザ３５
との接続に光ケーブルを用いるようにしてもよい。そし
て、本発明は、上述した実施形態に限定されず、本発明
の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが
できる。

【００８５】（Ｃ）付記 〔付記１〕 電波を放射する電波放射装置と、該電波放
射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該放射電
波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置と、該電波
受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置と、
所定の測定条件下で予め測定された電子回路の放射電波
の実測データとその測定時の測定条件データとに基づい
て該測定条件変更装置と該電波放射装置とを制御して、
上記の測定条件と同じ測定条件下において該電子回路の
放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射させ
る制御装置とをそなえたことを特徴とする、放射電波測
定システム。

【００８６】〔付記２〕 該制御装置が、該測定条件デ
ータと該実測データとを取得するデータ取得手段と、該
データ取得手段によって取得した該測定条件データと該
実測データとに従って該測定条件変更装置と該電波放射
装置の電波放射状態とを制御して、該電波受信装置で受
信される放射電波の該測定装置での測定データが該実測
データに一致するときの該電波放射装置の電波放射状態
データを求めるデータ校正手段と、該データ校正手段に
よって求められた該電波放射状態データに従って該電波
放射装置の電波放射状態を制御することによって該電子
回路の放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放
射させる電波放射状態制御手段とをそなえていることを
特徴とする、付記１記載の放射電波測定システム。

【００８７】〔付記３〕 該制御装置が、該データ校正
手段によって求められた該電波放射状態データを記録装
置に記録する記録制御手段をさらにそなえていることを
特徴とする、付記２記載の放射電波測定システム。 〔付記４〕 該データ校正手段が、該実測データが周波
数領域のデータとして得られている場合に、当該実測デ
ータを逆フーリエ変換して時間領域の発振波形データに
変換する逆フーリエ変換手段と、該逆フーリエ変換手段
によって得られた該発振波形データに基づいて該電波放
射装置の放射電波の発振波形を生成する発振波形生成手
段とをそなえていることを特徴とする、付記２又は付記
３に記載の放射電波測定システム。

【００８８】〔付記５〕 該データ校正手段が、複数種
類の測定条件に応じて複数組の測定条件データ及び実測
データが存在する場合に、所定の順序で該測定条件の制
御と該電波放射状態の制御とを繰り返し行なうように構
成されたことを特徴とする、付記２〜４のいずれか１項
に記載の放射電波測定システム。

【００８９】〔付記６〕 該データ校正手段が、該複数
組の測定条件データ及び実測データを測定条件の変更順
序に適した順序にソートするデータソート手段をさらに
そなえていることを特徴とする、付記５記載の放射電波
測定システム。 〔付記７〕 電波を放射する電波放射装置と、該電波放
射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該放射電
波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置と、該電波
受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置とを
そなえた放射電波測定システムにおいて、所定の測定条
件下で予め測定された電子回路の放射電波の実測データ
とその測定時の測定条件データとを取得するデータ取得
ステップと、該測定条件データと該実測データとに基づ
いて該測定条件変更装置と該電波放射装置とを制御し
て、上記の測定条件と同じ測定条件下において該電子回
路の放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射
させる制御ステップと、該放射電波受信装置で受信され
る該電波放射装置からの放射電波を測定する測定ステッ
プとを実行することを特徴とする、放射電波測定方法。

【００９０】〔付記８〕 該制御ステップにおいて、該
測定条件データと該実測データとに従って該測定条件変
更装置と該電波放射装置の電波放射状態とを制御して、
該電波受信装置で受信される放射電波の該測定装置での
測定データが該実測データに一致するときの該電波放射
装置の電波放射状態データを求めるデータ校正プロセス
と、該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態
データに従って該電波放射装置の電波放射状態を制御す
ることによって該電子回路の放射電波を模擬した電波を
該電波放射装置から放射させる電波放射状態制御プロセ
スとを実行することを特徴とする、付記７記載の放射電
波測定方法。

【００９１】〔付記９〕 該制御ステップにおいて、該
データ校正プロセスで求められた該電波放射状態データ
を記録することを特徴とする、付記８記載の放射電波測
定方法。 〔付記１０〕 該データ校正プロセスが、該実測データ
が周波数領域のデータとして得られている場合に、当該
実測データを逆フーリエ変換して時間領域の発振波形デ
ータに変換する逆フーリエ変換ステップと、該逆フーリ
エ変換ステップで得られた該発振波形データに基づいて
該電波放射装置の放射電波の発振波形を生成する発振波
形生成ステップとを含むことを特徴とする、付記８又は
付記９に記載の放射電波測定方法。

【００９２】〔付記１１〕 該データ校正プロセスにお
いて、複数種類の測定条件に応じて複数組の測定条件デ
ータ及び実測データが存在する場合は、所定の順序で該
測定条件の制御と該電波放射状態の制御とを繰り返し行
なうことを特徴とする、付記８〜１０のいずれか１項に
記載の放射電波測定方法。

【００９３】〔付記１２〕 該データ校正プロセスが、
該複数組の測定条件データ及び実測データを測定条件の
変更順序に適した順序にソートするデータソートステッ
プを含むことを特徴とする、付記１１記載の放射電波測
定方法。 〔付記１３〕 電波を放射する電波放射装置と、該電波
放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該放射
電波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置と、該電
波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置と
をそなえた放射電波測定システムをコンピュータによっ
て制御するための放射電波測定制御プログラムが記録さ
れた記録媒体であって、所定の測定条件下で予め測定さ
れた電子回路の放射電波の実測データとその測定時の測
定条件データとを取得するデータ取得ステップと、該測
定条件データと該実測データとに基づいて該測定条件変
更装置と該電波放射装置とを制御して、上記の測定条件
と同じ測定条件下において該電子回路の放射電波を模擬
した電波を該電波放射装置から放射させる制御ステップ
とを含む処理を、該コンピュータに実行させるための放
射電波測定制御プログラムが記録されたことを特徴とす
る、放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒
体。

【００９４】〔付記１４〕 該放射電波測定制御プログ
ラムが、該制御ステップを該コンピュータに実行させる
際に、該測定条件データと該実測データとに従って該測
定条件変更装置と該電波放射装置の電波放射状態とを制
御して、該電波受信装置で受信される放射電波の該測定
装置での測定データが該実測データに一致するときの該
電波放射装置の電波放射状態データを求めるデータ校正
プロセスと、該データ校正プロセスで求められた該電波
放射状態データに従って該電波放射装置の電波放射状態
を制御することによって該電子回路の放射電波を模擬し
た電波を該電波放射装置から放射させる電波放射状態制
御プロセスとを、さらに該コンピュータに実行させるこ
とを特徴とする、付記１３記載の放射電波測定制御プロ
グラムが記録された記録媒体。

【００９５】〔付記１５〕 該放射電波測定制御プログ
ラムが、該制御ステップを該コンピュータに実行させる
際に、該データ校正プロセスで求められた該電波放射状
態データを記録装置に記録させるステップを、さらに該
コンピュータに実行させることを特徴とする、付記１４
記載の放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒
体。

【００９６】〔付記１６〕 該放射電波測定制御プログ
ラムが、該データ校正プロセスを該コンピュータに実行
させる際に、該実測データが周波数領域のデータとして
得られている場合に、当該実測データを逆フーリエ変換
して時間領域の発振波形データに変換する逆フーリエ変
換ステップと、該逆フーリエ変換ステップで得られた該
発振波形データに基づいて該電波放射装置の放射電波の
発振波形を生成する発振波形生成ステップとを含む処理
を、さらに該コンピュータに実行させることを特徴とす
る、付記１４又は付記１５に記載の放射電波測定制御プ
ログラムが記録された記録媒体。

【００９７】〔付記１７〕 該放射電波測定制御プログ
ラムが、該データ校正プロセスを該コンピュータに実行
させる際に、複数種類の測定条件に応じて複数組の測定
条件データ及び実測データが存在する場合は、所定の順
序で該測定条件の制御と該電波放射状態の制御とを繰り
返し該コンピュータに実行させることを特徴とする、付
記１４〜１６のいずれか１項に記載の放射電波測定制御
プログラムが記録された記録媒体。

【００９８】〔付記１８〕 該放射電波測定制御プログ
ラムが、該データ校正プロセスを該コンピュータに実行
させる際に、該複数組の測定条件データ及び実測データ
を測定条件の変更順序に適した順序にソートするデータ
ソートステップを、該コンピュータに実行させることを
特徴とする、付記１７記載の放射電波測定制御プログラ
ムが記録された記録媒体。

【００９９】

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
予め測定された電子回路の放射電波の実測データとその
測定時の測定条件データとに基づいて現測定条件と電波
放射装置の電波放射状態とを制御することにより、電子
回路の放射電波を正確に模擬することができるので、そ
の電子回路が測定場所に実際に無くても、模擬した放射
電波で代用することで、電子装置全体の放射電波を再現
して測定することが可能になる。従って、電子装置を構
成する全電子回路を実際に集合させなくても、集合させ
たときと同じ放射電波測定を行なうことができ、電子回
路の開発プロセスの独立性を高めて、製品開発の効率性
を飛躍的に向上することができる。

【０１００】ここで、上記の電波放射装置の電波放射状
態は、電波受信装置で実際に受信される放射電波の測定
データが上記の実測データに一致するよう校正した電波
放射状態データに従って制御することができるので、電
波放射装置から放射される電波を、より実際の電子回路
の放射電波に近づけることができて、高精度な電子回路
の放射電波の模擬が実現される。

【０１０１】なお、上記の電波放射状態データを記録装
置に記録しておけば、仮に電子回路の仕様等に変更が生
じた場合でも、変更の無い電子回路についての電波放射
状態データは再利用することができる。換言すれば、１
度校正プロセスで求めた電子回路の放射電波（電波放射
状態データ）は、電子回路の仕様等に変更が無く上記の
測定条件データ及び実測データに変更が無い限り、その
まま実際の電子回路の放射電波として代用することがで
きる。従って、変更のあった電子回路との組で再測定を
行なわなければならなくても、変更の無い電子回路をわ
ざわざ測定場所に用意せずに測定を実施することがで
き、電子回路の開発プロセスの独立性をさらに高めるこ
とができる。

【０１０２】また、上記の予め測定された実測データが
周波数領域のデータとして得られている場合には、その
実測データを逆フーリエ変換して時間領域の発振波形デ
ータに変換し、得られた発振波形データに従って電波放
射装置の放射電波の発振波形を制御するようにすれば、
上記実測データの周波数領域に含まれる複数周波数につ
いての電波放射状態制御を１度に実施することができる
ので、測定作業の効率化・短縮化を図ることができる。

【０１０３】さらに、複数種類の測定条件に応じて複数
組の測定条件データ及び実測データが存在する場合に
は、所定の順序で上記の測定条件の制御と電波放射状態
の制御とを繰り返し行なうようにすれば、複数種類の測
定条件下での電子回路の放射電波をそれぞれ正確に模擬
することができるので、放射電波の模擬精度をさらに向
上することができる。

【０１０４】また、このように複数組の測定条件データ
及び実測データが存在する場合には、これらの複数組の
測定条件データ及び実測データを測定条件の変更順序に
適した順序にソートするようにしてもよい。このように
すれば、測定に最も効率の良い順序で放射電波測定を実
施することができ、測定作業のさらなる効率化・短縮化
を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施形態としてのＥＭＩ測定システ
ム（放射電波測定システム）を示すブロック図である。

【図２】図１に示す制御パソコンのハードウェア構成例
を示すブロック図である。

【図３】図１に示すＥＭＩ測定システムで使用される単
体測定データの一例を示す図である。

【図４】図１に示す制御パソコンによる制御（ＥＭＩ測
定制御プログラム；校正プロセス）を説明するためのフ
ローチャート（アルゴリズム）である。

【図５】図１に示す制御パソコンによる制御（ＥＭＩ測
定制御プログラム；測定プロセス）を説明するためのフ
ローチャート（アルゴリズム）である。

【図６】（Ａ），（Ｂ）はそれぞれ図３に示す単体測定
データの逆ＦＦＴ処理を説明するための図で、（Ａ）は
逆ＦＦＴ前の周波数領域の単体測定データ例、（Ｂ）は
逆ＦＦＴ後の時間領域の発振波形データ例をそれぞれ示
す図である。

【図７】図１に示すＥＭＩ測定システムを適用した場合
の製品開発プロセスを説明するためのフローチャートで
ある。

【図８】従来のＥＭＩ測定システムの一例を示すブロッ
ク図である。

【図９】従来の電磁シールド性能測定システムの一例を
示すブロック図である。

【図１０】従来のＥＭＩ測定システムの課題を説明すべ
く従来の製品開発プロセスを示すフローチャートであ
る。

【符号の説明】

１ ＥＭＩ測定システム（放射電波測定システム） ２ 電波暗室 ３ 測定室 ４ 光ケーブル（シングルモード光ファイバケーブル） ５ 同軸ケーブル ６ 回路設計プロセス ７ 筐体（キャビネット）設計プロセス ２１ ターンテーブル ２１ａ ターンテーブル回転モータ（測定条件変更装
置） ２２ 放射アンテナ（球状ダイポールアンテナ；電波放
射装置） ２３ 測定アンテナ（電波受信装置） ２３ａ アンテナ制御モータ（測定条件変更装置） ２４ 筐体（キャビネット） ３１ ターンテーブル制御装置（測定条件変更装置） ３２ アンテナ制御装置（測定条件変更装置） ３３ シグナルジェネレータ（信号発生器） ３４ 電気／光（Ｅ／Ｏ）変換器 ３５ スペクトラムアナライザ（測定装置） ３６ 制御用のパーソナルコンピュータ（計算機；制御
装置） ３７ 記憶装置（ハードディスク） ３７ａ 単体測定データ ３７ｂ 測定結果データ ３８ ディスプレイ ３９ 本体 ４０ ＣＰＵ ４１ 主記憶部（メインメモリ） ４２ ドライブ ４３ ＧＰＩＢ（General Purpose Interface Bus）カ
ード ５１ ＥＭＩ測定制御プログラム（放射電波測定制御プ
ログラム） ５２ データ校正プロセス ５３ 測定プロセス ６１ データ取得手段 ６２ データ校正手段 ６３ データソート手段 ６４ 逆ＦＦＴ変換手段 ６５ 発振波形生成手段 ６６ 記録制御手段 ６７ 電波放射状態制御手段 ３７１ 測定条件データ ３７２ 電界強度データ（実測データ）

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松隈 豊 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 (72)発明者 廣瀬 徹 神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番 １号 富士通株式会社内 Ｆターム(参考） 5J021 CA06 DA02 DA04 DA05 DA06 DA07 EA04 FA14 FA15 FA16 FA17 FA20 FA29 FA30 GA02 HA05 JA10

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 電波を放射する電波放射装置と、 該電波放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、 該放射電波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置
   と、 該電波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装
   置と、 所定の測定条件下で予め測定された電子回路の放射電波
   の実測データとその測定時の測定条件データとに基づい
   て該測定条件変更装置と該電波放射装置とを制御して、
   上記の測定条件と同じ測定条件下において該電子回路の
   放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射させ
   る制御装置とをそなえたことを特徴とする、放射電波測
   定システム。
2. 【請求項２】 電波を放射する電波放射装置と、該電波
   放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該放射
   電波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置と、該電
   波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置と
   をそなえた放射電波測定システムにおいて、 所定の測定条件下で予め測定された電子回路の放射電波
   の実測データとその測定時の測定条件データとを取得す
   るデータ取得ステップと、 該測定条件データと該実測データとに基づいて該測定条
   件変更装置と該電波放射装置とを制御して、上記の測定
   条件と同じ測定条件下において該電子回路の放射電波を
   模擬した電波を該電波放射装置から放射させる制御ステ
   ップと、 該放射電波受信装置で受信される該電波放射装置からの
   放射電波を該測定装置にて測定する測定ステップとを実
   行することを特徴とする、放射電波測定方法。
3. 【請求項３】 電波を放射する電波放射装置と、該電波
   放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該放射
   電波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置と、該電
   波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置と
   をそなえた放射電波測定システムをコンピュータによっ
   て制御するための放射電波測定制御プログラムが記録さ
   れた記録媒体であって、 所定の測定条件下で予め測定された電子回路の放射電波
   の実測データとその測定時の測定条件データとを取得す
   るデータ取得ステップと、 該測定条件データと該実測データとに基づいて該測定条
   件変更装置と該電波放射装置とを制御して、上記の測定
   条件と同じ測定条件下において該電子回路の放射電波を
   模擬した電波を該電波放射装置から放射させる制御ステ
   ップとを含む処理を、該コンピュータに実行させるため
   の放射電波測定制御プログラムが記録されたことを特徴
   とする、放射電波測定制御プログラムが記録された記録
   媒体。
4. 【請求項４】 該放射電波測定制御プログラムが、 該制御ステップを該コンピュータに実行させる際に、 該測定条件データと該実測データとに従って該測定条件
   変更装置と該電波放射装置の電波放射状態とを制御し
   て、該電波受信装置で受信される放射電波の該測定装置
   での測定データが該実測データに一致するときの該電波
   放射装置の電波放射状態データを求めるデータ校正プロ
   セスと、 該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態デー
   タに従って該電波放射装置の電波放射状態を制御するこ
   とによって該電子回路の放射電波を模擬した電波を該電
   波放射装置から放射させる電波放射状態制御プロセスと
   を、さらに該コンピュータに実行させることを特徴とす
   る、請求項３記載の放射電波測定制御プログラムが記録
   された記録媒体。
5. 【請求項５】 該放射電波測定制御プログラムが、 該制御ステップを該コンピュータに実行させる際に、 該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態デー
   タを記録装置に記録させるステップを、さらに該コンピ
   ュータに実行させることを特徴とする、請求項４記載の
   放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体。