JP5309414B2 - 放射電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体 - Google Patents

Description

本発明は、放射電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体に関し、特に、電子回路を用いた装置が妨害電波として発する放射電波の測定に用いて好適な、放射電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体に関する。

周知のように、電子回路を用いた装置（以下、電子装置という）は、その電子回路の発生する電磁波（放射電波）が外部に漏れる。この電磁波は周辺環境（周辺装置）にとっては誤動作や障害を招く一因である妨害波となる。そのため、新規に作製される電子装置に対しては、ＶＣＣＩ（情報処理装置等電波障害自主規制協議会）で規定する妨害電磁波（ＥＭＩ：Electronic Magnetic Interference）の規格値を満足することが義務付けられている。

このため、装置メーカなどでは、一般に、電子装置の試作機によってＥＭＩの測定を行ない、その結果を踏まえて上記ＶＣＣＩのＥＭＩ規格値を満足するよう改良設計を行なっている。なお、この場合の試作機とは、電子装置の機能をつかさどる電子回路と、電子回路を格納・保護する筐体（キャビネット）との両方を含み、筐体内部の電子回路が妨害電磁波の発生源であり、筐体がその妨害電磁波の外部への漏洩を防ぐ役割を果たす。

具体的に、その測定は例えば図８に示すようなＥＭＩ測定システム１００を用いて行なわれる。即ち、電波暗室１０１に設置された、水平面内において３６０°回転自在なターンテーブル１１１上に試作機（被測定装置）１１３を載置した状態で、測定アンテナ１１２で観測（受信）される電磁波の周波数毎の電界強度を測定室１０２に設置されたスペクトラムアナライザ１２３で解析（測定）する。

なお、被測定装置１１３と測定アンテナ１１２との間の距離（測定距離）は規格で定められており、一般に３ｍ（メートル）や１０ｍ程度である。また、スペクトラムアナライザ１２３は、汎用インタフェース（ＧＰＩＢ：General Purpose Interface Bus）などによって制御用のパーソナルコンピュータ（計算機；以下、単に「制御パソコン」という）１２４と接続されており、その解析結果がＥＭＩの測定結果データとして制御パソコン１２４へ送られて、制御パソコン１２４でハードディスクなどの記憶装置１２５に記録されるようになっている。

ところで、被測定装置１１３はあらゆる方向へ電磁波を放射するが、そのうち最も高い電界強度がＶＣＣＩのＥＭＩ規格値（以下、ＶＣＣＩ規格と略称する）を満足していればよい。このため、被測定装置１１３の放射する電磁波の電界強度が最も高くなるポイントを探し出す必要がある。そこで、ターンテーブル１１１を回転させて被測定装置１１３の向きを水平面内において変更するとともに、測定アンテナ１１２の高さを、例えば１〜４ｍ程度の範囲内で変更しながら〔つまり、測定環境（以下、測定条件ともいう）を変更しながら〕、順次、その時々の測定環境での受信電界強度を測定してゆく。

なお、このターンテーブル１１２の回転や測定アンテナ１１２の高さ（以下、単に「アンテナ高さ」という）の変更は、手動で行なっても良いが、測定作業の効率化のため、例えば、測定室１０２に設置された制御パソコン１２４から、ＧＰＩＢなどで接続されたターンテーブル制御装置１２１，アンテナ高さ制御装置１２２を集中制御して、ターンテーブル回転モータ１１１ａ及びアンテナ高さ制御モータ１１２ａを制御することによって自動で行なうのが一般的である。

このようにして、従来は、ターンテーブル１１１の回転およびアンテナ高さを適宜変更しながら測定アンテナ１１２で受信される電磁波の電界強度を測定してゆくことで、被測定装置１１３が放射する妨害電磁波の電界強度をあらゆる方向について測定して、最も高い電界強度値がＶＣＣＩ規格を満足しているかを判定する。

さて、ここで、被測定装置１１３の発生する妨害電磁波量は、電子回路そのものが発生する電磁波量は勿論のこと、その電子回路を収容する筐体の妨害電磁波遮断（電磁シールド）性能にも大きく依存する。即ち、筐体の電磁シールド性能が優れていれば、内部の電子回路が多少大きな電磁波を発生しても規格を満足することができる。例えば、ＶＣＣＩ規格を満足するのに電子回路自体の電磁波発生量はそれ以上抑えられない場合には、筐体の電磁シールド性能を強化することで対策が施される。

このように、電子装置がＶＣＣＩ規格を満足するには、筐体単体の電磁シールド性能も非常に重要な要素である。このため、筐体単体の電磁シールド性能を評価（測定）するための測定システムも従来から提案されている。その一例として、例えば特開平６−４３１９７号公報により提案されている技術が挙げられる。即ち、図９に示すような測定システム２００である。

この図９に示す測定システム２００では、概略して次のようにして測定が行なわれる。
即ち、例えば、電波暗室などの試験サイト２０１において、妨害電磁波を発生する電子回路に見立てた送信アンテナ（球状ダイポールアンテナ）２１４を筐体２１３内に収容した状態で、測定室２０２側で、発振器（シグナルジェネレータ）２２１を駆動して電磁波発生用の電気信号を発生させ、これを電気／光（Ｅ／Ｏ）変換器２２２で光信号に変換した後、送信側の光ファイバケーブル２０３を通じて送信アンテナ２１４に導入する。

なお、球状ダイポールアンテナ２１４は、勿論、筐体２１３内部に収まる大きさ（例えば、直径１５ｃｍ程度）の球状導体でできており、その内部には図示しない光／電気（Ｏ／Ｅ）変換器やバッテリなどもそなえられている。これにより、光ファイバケーブル２０３を通じて導入された光信号は、球状ダイポールアンテナ２１４に内蔵されている上記内蔵Ｏ／Ｅ変換器によって電気信号に変換された後、電磁波として試験サイト２０１の周囲空間へ一様に放射される。

そして、筐体２１３から漏れ出した電磁波は、測定アンテナ（受信側球状ダイポールアンテナ）２１２で受信され、送信アンテナ２１４と同様にその内部に設けられた図示しないＥ／Ｏ変換器で光信号に変換されたのち、受信用の光ファイバケーブル２０４を通じて測定室２０２側のＯ／Ｅ変換器２２３に入力され、電気信号に再変換されてスペクトラムアナライザなどの受信器２２４で受信される。

これにより、筐体２１３からどの程度電磁波が妨害電磁波として漏れ出しているかが分かり、筐体２１３単体の電磁シールド性能を試験・評価することができる。
なお、上記のように発振器２２１と送信アンテナ２１４との間、および、測定アンテナ２１２と受信器２２４との間の接続に、それぞれ、光ファイバケーブル２０３，２０４を用いるのは、同軸ケーブルなどの電気ケーブルを用いると電気ケーブルから漏洩する電磁波によって測定に誤差が生じる可能性があるため、これを防止するためである。

ところで、図８により上述した前者の測定システム１００では、筐体（２１３）内に収容される電子回路ブロックが複数ある場合、当然ながら、それらの電子回路ブロックおよび筐体を含む全てを電波暗室２０１に集合させて測定を行なわなければならない。しかし、測定対象が交換装置などの大規模な電子装置の場合は、実際の設置状況と同等の環境でターンテーブル１１１上に載せて測定を行なうのは非常に困難である。

そのため、従来は、電子装置を実際に設置場所に設置してみてからＥＭＩ対策を施すことが多く、ＥＭＩ対策を含めた電子装置の設置に膨大な時間を費やしていた。
そこで、例えば特開平５−３３３０７２号公報に記載されているように、図９により上述したような「球状ダイポールアンテナ」を、電子装置の放射電波特性を模擬する放射源として用い、電波暗室１０１などの試験サイトと実際の設置場所での電波伝搬特性と、電子装置の試験サイトでの放射電波とを測定し、これらの測定結果から電子装置を上記設置場所に実際に設置したときの妨害電磁波の分布を推定することが提案されている。

これにより、装置設置前に設置場所の妨害電磁波環境を予測することが可能になるので、事前に妨害電磁波の対策指針を得ることができるのである。

発明が解決しようとする課題

さて、ここで、ＥＭＩ測定を含めた実際の電子装置の製造工程（製品開発プロセス）を想定してみる。例えば、交換装置などの大規模な電子装置を製造する場合を考えてみると、この場合の電子装置には多数の電子回路ブロックと複雑な筺体（キャビネット）とが含まれるため、図１０に示すように、それぞれが別々の場所・時間で独立したプロセスで開発されることが多い。

即ち、筐体の試作品は筐体設計プロセス３００内（ステップＡ１，Ａ２）において製造され、電子回路ブロックの試作品はそれぞれのプロセス４００内（ステップＢ１，Ｂ２）において筐体設計プロセス３００とは独立して製造される。
そして、例えば図８により上述した測定システム１００によって試作機１１３によるＥＭＩを測定する際には、上記のようにプロセス３００，４００においてそれぞれ独立して製造された筐体の試作品及び複数の電子回路ブロックの試作品をそれぞれ電波暗室１０１に一時期に集合させ、試作機１１３を組み立ててＥＭＩの全体測定を行なう（ステップＣ１，Ｃ２）。

その後、このＥＭＩ測定の結果に基づいて、筐体又は電子回路ブロックもしくはその両方のそれぞれについてＥＭＩの規格に対する対策がなされ、筐体に関しては実際の製品設計段階に入り（ステップＡ３）、電子回路ブロックに関しては試作品製造の本来の目的であるハードウェアやソフトウェアのデバッグ作業（ステップＢ３）が行なわれたのち、実際の製品設計段階に入る（ステップＢ４）。

そして、それぞれ製品が完成すると（ステップＡ４，Ｂ５）、再度、ＥＭＩ測定のために製品版の筐体および電子回路ブロックをそれぞれ電波暗室１０１に集合させて製品を組み立てた上で（ステップＣ３）、製品出荷前の装置全体の最終的なＥＭＩ測定を行なう（ステップＣ４）。
このように、従来の測定システム１００では、ＥＭＩ測定の度に、筐体および電子回路ブロックを全て一時期に測定室１０１に集合させなければならない。このため、特に、交換装置のように大規模な電子装置を対象とした場合は、製品開発プロセス全体に対する大きな負担となる。

即ち、上述した電子回路ブロックの試作品は、ＥＭＩ測定のためだけに製造されるわけでなく、本来は上述したごとくハードウェアやソフトウェアのデバッグを行なうことを主たる目的として製造されるものであるのだが、上述のごとくＥＭＩ測定期間中（図１０の斜線部分参照）はその本来の目的であるデバッグ作業が滞ることになる。

また、上記のように電子装置に複数の電子回路ブロックが含まれる場合、一度ＥＭＩ測定が終わったとしても、その後に、一部の電子回路ブロックに仕様等の変更が生じた場合には、それ以外の電子回路ブロックも含めて、全ての電子回路ブロックを再び集合・組み立てして再測定する必要にせまられる。この場合、何ら変更されていない電子回路ブロックのデバッグ作業も中断されることになる。

特に、製造工程の分業のために製造工場が各地に散在しているような場合、同じ電子装置を構成する複数の電子回路ブロックがそれぞれ異なる遠隔地で開発設計されることも少なくなく、このような場合、上記のようにＥＭＩ測定の度に、全ての電子回路ブロックを各地から１箇所に集合させるのは非常に非効率的である。

このような非効率的な作業を回避するには、ＥＭＩ測定の際に電子回路ブロックと同等の妨害電磁波を電波暗室１０１内で発生できればよい。そこで、前述した特開平５−３３３０７２号公報や特開平６−４３１９７号公報により提案されている技術、即ち、「球状ダイポールアンテナ」により電子装置の放射電波特性を模擬すれば、これを実現できそうである。

しかしながら、これらの特開平５−３３３０７２号公報および特開平６−４３１９７号公報には、「電子装置の放射電波特性を模擬する」旨の記載はあるものの、いずれも、「球状ダイポールアンテナ」を妨害電磁波の発生源（電子回路）として見立てるという程度の意味であり、実際に、電子装置（電子回路ブロック）の発生する妨害電磁波をどのようにして正確に模擬するかについての手法や手段については何ら開示されていない。

このことは、前者の特開平５−３３３０７２号公報の段落〔０００７〕において、「装置を完全には放射源で模擬できない…（以下、略）」との記載があり、また、上記の各公知技術がいずれも「装置の放射特性を正確に模擬できるようにすること」を目的としていないことから明らかである。
このため、上記の公知技術を例えば図８により前述した測定システム１００に単純に適用したとしても、電子回路ブロックの発生する妨害電磁波を正確に模擬して、電子回路ブロックを電波暗室１０１に集合させずにＥＭＩ測定することは不可能である。

本発明は、このような課題に鑑み創案されたもので、放射電波測定対象の電子装置の構成要素である電子回路が発生する放射電波を正確に模擬できるようにして、電子回路を実際に集合させなくても集合させた場合と同等の放射電波測定を行なえるようにした、放射電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段

【課題を解決するための手段】
（１）第１の案として、例えば、電子回路を格納するための筐体から放射される電波を
測定する放射電波測定システムであって、該電子回路から放射される電波をアンテナで受
信した結果である実測データと、該電子回路と該アンテナとの位置関係と、を対応付けた
対応関係を格納する記憶装置と、該筐体に格納され、電波を放射する電波放射装置と、
該電波放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該筐体と該電波受信装置との位
置関係と、該記憶装置に記憶された対応関係において当該位置関係と対応付けられた前記
実測データとに基づいて、該電波放射装置の放射する電波を制御する制御装置と、該電波
受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置とをそなえる、放射電波測定システム
を用いることができる。
（２）また、第２の案として、例えば、電子回路を格納するための筐体から放射される
電波を測定する放射電波測定方法であって、該筐体に格納された、電波を放射する電波放
射装置の放射電波を電波受信装置により受信し、該電子回路から放射される電波をアンテ
ナで受信した結果である実測データと、該電子回路と該アンテナとの位置関係と、を対応
付けた対応関係において、該筐体と該電波受信装置との位置関係と対応付けられた前記実
測データ、及び、当該位置関係に基づいて、該電波放射装置の放射する電波を制御装置に
より制御し、該電波受信装置で受信される該電波放射装置からの放射電波を測定装置によ
り測定する、放射電波測定方法を用いることができる。

（３）さらに、第３の案として、例えば、電子回路を格納するための筐体に格納されて
電波を放射する電波放射装置と、該電波放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、
該電波放射装置の放射する電波を制御する制御装置と、該電波受信装置で受信された放射
電波を測定する測定装置とをそなえた放射電波測定システムをコンピュータによって制御
するための放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体であって、該筐体に格納さ
れた、該電波放射装置の放射電波を該電波受信装置により受信する受信ステップと、該電
子回路から放射される電波をアンテナで受信した結果である実測データと、該電子回路と
該アンテナとの位置関係と、を対応付けた対応関係において、該筐体と該電波受信装置と
の位置関係と対応付けられた前記実測データ、及び、当該位置関係に基づいて、該電波放
射装置の放射する電波を該制御装置により制御する制御ステップとを含む処理を、該コン
ピュータに実行させるための放射電波測定制御プログラムが記録された、記録媒体を用い
ることができる。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。
（Ａ）一実施形態の説明
図１は本発明の一実施形態としてのＥＭＩ測定システム（放射電波測定システム）を示すブロック図で、この図１に示すＥＭＩ測定システム１は、電磁波（以下、単に「電波」ともいう）の反射を抑制した電波暗室２において、ターンテーブル回転モータ２１ａ付きのターンテーブル２１，放射アンテナ２２，アンテナ制御モータ２３ａ付きの測定アンテナ２３などが設置され、測定室３において、ターンテーブル制御装置３１，アンテナ制御装置３２，信号発生器（シグナルジェネレータ）３３，電気／光（Ｅ／Ｏ）変換器３４，スペクトラムアナライザ３５，制御用のパーソナルコンピュータ（計算機；以下、単に「制御パソコン」という）３６及び記憶装置３７などが設置されて構成されている。なお、符号２４は最終的なＥＭＩ測定対象の電子装置の筐体（キャビネット）を表す。

そして、Ｅ／Ｏ変換器３４と放射アンテナ２２との間は光ケーブル（例えば、シングルモード光ファイバケーブル）４によって接続されており、ターンテーブル制御装置３１とターンテーブル回転モータ２１ａ、アンテナ制御装置３２とアンテナ制御モータ２３ａ、スペクトラムアナライザ３５と測定アンテナ２３との間はそれぞれ外来雑音に強い同軸ケーブル５などによって接続されている。

ここで、上記のターンテーブル２１は、ＥＭＩ測定対象の電子装置や筐体２４が載置される測定台で、ターンテーブル制御装置３１からターンテーブル回転モータ２１ａが制御されることによって水平面内において３６０°回転できるようになっており、これにより、ターンテーブル２１上に載置された被測定物の向きを水平面内において自在に変更できるようになっている。

また、放射アンテナ（電波放射装置）２２は、ターンテーブル２１上に載置されるＥＭＩ測定対象の電子装置の筐体２４内に収容されて、シグナルジェネレータ３３で生成された信号（発振波形）に応じた電磁波を放射するためのもので、本実施形態においても、例えば、直径１５ｃｍ程度の球状ダイポールアンテナが好適である。

本放射アンテナ２２も、図示しない光／電気（Ｏ／Ｅ）変換器や電磁波発生用のバッテリ等を内蔵しており、Ｅ／Ｏ変換器３４で光信号に変換されて光ケーブル４を通じて入力される発振波形を内蔵Ｏ／Ｅ変換器で電気信号に変換して球状導体に通電することにより、その球状導体からほぼ無指向性の電磁波が放射されるようになっている。なお、上記のバッテリとしては、リチウムイオンタイプのものが、エネルギー密度が高く好適である。

さらに、測定アンテナ（電波受信装置）２３は、放射アンテナ２２から放射された電磁波を受信するためのもので、本実施形態では、アンテナ制御モータ２３ａがアンテナ制御装置３２によって制御されることにより、鉛直方向に１〜４ｍ程度その高さを調整（昇降）することができるとともに、その取り付け方向（水平／垂直）を変更できるようになっている。

なお、ターンテーブル２１上の被測定物と測定アンテナ２３との（水平）距離は、３ｍや１０ｍ程度がよく使用され好適である。また、測定アンテナ２３のタイプとしては、３０〜２００ＭＨｚ（メガヘルツ）帯域ではバイコニカル型、２００〜１０００ＭＨｚ帯域ではログペリ型が好適である。さらに、測定アンテナ２３の取り付け方向が変更できるようになっているのは、電子回路ブロックが発生する電磁波の偏波方向にムラがあるので、偏波方向によらない最大の電界強度を測定するためである。

一方、測定室３において、ターンテーブル制御装置３１は、制御パソコン３６からのターンテーブル制御信号（回転角）に従ってターンテーブル回転モータ２１ａを制御して、ターンテーブル２１を指示に応じた回転角だけ回転させるためのものであり、アンテナ制御装置３２は、同様に、制御パソコン３６からのアンテナ制御信号に従ってアンテナ制御モータ２３ａを制御して、アンテナ高さやアンテナ取り付け方向（水平／垂直）を指示に応じた高さや取り付け方向に制御するためのものである。

つまり、上記のターンテーブル制御装置３１，ターンテーブル回転モータ２１ａ，アンテナ制御装置３２，アンテナ制御モータ２３ａは、電波暗室２でのＥＭＩの測定環境（測定条件）を変更しうる測定条件変更装置としての機能を果たしていることになる。
また、シグナルジェネレータ３３は、制御パソコン３６からの指示（発振波形データ）に応じた発振波形を有する信号（電気信号）を発生するためのものであり、Ｅ／Ｏ変換器３４は、このシグナルジェネレータ３３で発生した信号を光信号に変換するもので、ここで得られた光信号は光ケーブル４を通じて電波暗室２内の放射アンテナ２２に導入されるようになっている。なお、これらのシグナルジェネレータ３３とＥ／Ｏ変換器３４との間は同軸ケーブルなどの伝送特性の良いケーブルを用いて接続する。

さらに、スペクトラムアナライザ３５は、測定アンテナ２３で受信（観測）された電磁波を同軸ケーブル５経由で受けて、その電磁波のスペクトラムを解析（測定）するためのものであり、その解析結果はＧＰＩＢ等を通じて制御パソコン３６に転送されるようになっている。なお、このスペクトラムアナライザ３５には、「測定モード」として例えば「最大値保持モード」と「全記録モード」とがあり、「最大値保持モード」では特定周波数帯の中で最も強い電界強度値のみが保持（記録）され、「全記録モード」では全周波数の電界強度値が全て記録されるようになっている。これらのモード設定は制御パソコン３６によって遠隔制御できる。

また、記憶装置３７は、最終的なＥＭＩ測定対象の電子装置を構成する電子回路ブロック単体についてのＥＭＩ測定データ（以下、単体測定データという）３７ａや、上記のスペクトラムアナライザ３５による解析結果に基づいて求められる測定結果データ３７ｂ（測定アンテナ２３で観測された電界強度値）を記憶するためのものである。

なお、この記憶装置３７は、図１では制御パソコン３６に対して外付けになっているが、勿論、ハードディスクなどとして制御パソコン３６に内蔵されていてもよい（図２参照）。また、上記の単体測定データ３７ａは、図３により後述するように、電子回路ブロック単体が発生する放射電波の特定周波数毎の電界強度データ（実測データ）３７２と、その測定時の測定条件〔ターンテーブル回転角，測定アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向（水平／垂直）など〕に関するデータ（測定条件データ）３７１との組で記憶装置３７に記憶される。

そして、制御パソコン（制御装置）３６は、ターンテーブル制御装置３１やアンテナ制御装置３２，シグナルジェネレータ３３，スペクトラムアナライザ３５を、それぞれＧＰＩＢ等を介したデータ通信により遠隔集中制御することで、本ＥＭＩ測定システム１によるＥＭＩ測定を集中制御するためのものである。
このため、本制御パソコン３６は、その要部のハードウェア構成に着目すると、例えば図２に示すように、ディスプレイ（表示装置）３８と本体３９とをそなえており、本体３９には、上記の記憶装置３７をハードディスクとしてそなえるほか、ＣＰＵ４０，主記憶部（メインメモリ）４１，フロッピーディスク（ＦＤ）やＣＤ−ＲＯＭ，ＭＯ（光磁気ディスク）などの記録媒体５０に適したドライブ４２などが設けられるとともに、上述したターンテーブル制御装置３１やアンテナ制御装置３２，シグナルジェネレータ３３，スペクトラムアナライザ３５などの計測機器をそれぞれＧＰＩＢにより接続するためのＧＰＩＢカード４３が拡張バススロットなどに実装されており、これらのコンポーネントが内部バス４４により相互に通信可能に接続されている。

ここで、ＣＰＵ４０は、本制御パソコン３６の動作を集中管理するもので、ユーザの指示に応じてハードディスク３７に記憶（インストール）された所望のプログラムを主記憶部４１に読み出して実行するととにより、そのプログラムに従った動作を、制御パソコン３６に実行させるものである。例えば、本実施形態では、ハードディスク３７にＥＭＩ測定制御プログラム５１をインストールしてＣＰＵ４０に実行させることによって、制御パソコン３６をＥＭＩ測定用の制御装置として機能させることができる。

なお、このＥＭＩ測定制御プログラム５１のインストールは、記録媒体５０に記録されているものをドライブ４２によって読み取ることで行なってもよいし、インターネットやＷＡＮ（Wide Area Network），ＬＡＮ（Local Area Network）などの通信網を介してｆｔｐ（file transfer protocol）などを用いてダウンロードしてきたものをハードディスク３７に展開することで行なってもよい。また、勿論、本制御パソコン３６上でプログラミングしたものをハードディスク３７に展開することで実施してもよい。

具体的に、上記のＥＭＩ測定制御プログラム（以下、単に「制御プログラム」という）５１をＣＰＵ４０に実行させると、本実施形態の制御パソコン３６は、例えば図４及び図５により後述するアルゴリズム（データ校正プロセス５２及び測定プロセス５３）を実行することになる。換言すれば、本実施形態の制御プログラム５１は、図４及び図５に示す各プロセス５２，５３を制御パソコン３６に実行させるようプログラミングされている。

以下、上述のごとく構成された本実施形態のＥＭＩ測定システム１の動作について詳述する。
まず、前段（事前）作業として、電子回路ブロック単体についての単体測定データ３７ａを入手する必要がある。これは、図８により前述した既存システム１００を用いて測定することで得てもよいし、本ＥＭＩ測定システム１を用いて測定することで得てもよい。

例えば本ＥＭＩ測定システム１を用いる場合には、制御パソコン３６に、ターンテーブル制御装置３１，アンテナ制御装置３２，スペクトラムアナライザ３５を自動制御するプログラム（上述した制御プログラム５１とは別のもの）をインストールしておく。この場合のプログラムは、測定器メーカ等が提供しているものでもよいし、ＣやＢＡＳＩＣといった一般的なプログラミング言語を使用して作成してもよい。いずれにしても、前述した既存システム１００で使用されるものでよい。

そして、最終的なＥＭＩ測定対象の電子装置を構成する電界回路ブロック単体を被測定装置としてターンテーブル２１上に設置して、その電子回路ブロックを起動（電源投入）する。かかる状態で、制御パソコン３６に上記のプログラムを実行させることにより、制御パソコン３６は、まず、ターンテーブル回転角とアンテナ高さ及びアンテナ取り付け方向を初期値（例えば、ターンテーブル回転角＝０°，アンテナ高さ＝１ｍ，アンテナ取り付け方向＝水平）に設定し、スペクトラムアナライザ３５の「測定モード」を適切なモード（「全記録モード」）に設定する。

これにより、その測定条件下での各周波数帯域の電界強度がスペクトラムアナライザ３５で解析され、その解析結果（電界強度の最大値）が制御パソコン３６に転送される。制御パソコン３６は、そのときのターンテーブル回転角，アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向，周波数対電界強度という組み合わせを１セットの単体測定データ３７ａとしてハードディスク３７に記録する。例えば、「360, 4.0, H, 1000.0, -100.0」といった形式で保存する場合、これをテキスト形式で記録すると、２４バイト程度のデータになる。

その後、ターンテーブル回転角，アンテナ高さ及びアンテナ取り付け方向を順次変更してゆき、全ての測定条件の組み合わせについて周波数，電界強度を測定してハードディスク３７に記録してゆく。このようにして得られた単体測定データ３７ａの一例を図３に示す。つまり、この場合の測定は、通常の最大電界強度のみを求める「最大値保持モード」ではなく、ターンテーブル回転角，アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向の全ての組み合わせについて周波数対電界強度値を電界強度データ３７２として全て記録する「全記録モード」によって行なわれるのである。

なお、後述するように、この単体測定データ３７ａを用いて電子回路ブロック単体の妨害電磁波を高精度に模擬するためには、この図３に示すように、ターンテーブル回転角の変更刻みは０〜３６０°の範囲で５°程度、アンテナ高さの変更刻みは１〜４ｍの範囲で０．５ｍ程度は少なくとも必要である。この場合の組み合わせ数は「５０４」となり、アンテナ取り付け方向が「水平／垂直」の２通りあるので、測定条件の総組み合わせ数は「１００８」となる。

また、スペクトラムアナライザ３５で分析する周波数の刻みは概ね１％程度あれば十分である。即ち、３０〜１００ＭＨｚの周波数帯で０．３ＭＨｚ、１００〜３００ＭＨｚの周波数帯で１ＭＨｚ、３００〜１０００ＭＨｚの周波数帯で３ＭＨｚもあれば良く、この場合、記録される周波数種類は「６７０」程度となる。なお、測定対象の周波数帯域は、各国の法規制などから上記のように３０ＭＨｚ〜１ＧＨｚ（１０００ＭＨｚ）であることが多い。

以上の条件での測定に要する時間は、ターンテーブル制御装置３１やアンテナ制御装置３２，スペクトラムアナライザ３５などの各測定機器の性能に左右されるが、スペクトラムアナライザ３５での解析時間，スペクトラムアナライザ３５から制御パソコン３６へのデータ転送時間，ターンテーブル２１及び測定アンテナ２３の高さ／取り付け方向の変更時間などを合わせて、１回当たり１０秒程度で可能である。従って、この場合の全測定時間は２時間５０分程度になる。

そして、上記の手順により記録された単体測定データ３７ａは、後に放射アンテナ２２によって電子回路ブロックの妨害電磁波を模擬した上でのＥＭＩ測定に使用される。なお、上記の単体測定データ３７ａを既存システム１００で記録した場合は、その単体測定データ３７ａを制御パソコン３６に転送する必要がある。

仮に、図３に示す単体測定データ３７ａをテキスト形式で記録した場合、１セットの総データ量はおよそ１６Ｍ（メガ）バイト程度になるので、ＣＤ−ＲＯＭやＭＯなどの大容量記録媒体の使用、あるいは、インターネット等の通信網からのｆｔｐなどによるデータ転送を考慮する必要がある。
そして、上記の単体測定データ３７ａを使用して電子回路ブロック単体の妨害電磁波を模擬して実際に電子装置全体のＥＭＩ測定を行なうわけであるが、その前に、電子回路ブロック単体が発生する妨害電磁波の電界強度と同じ強さの電磁波が放射アンテナ２２から放射されるシグナルジェネレータ３３の発振波形（振幅値）を求める必要がある。

以下、この作業（データ校正プロセス５２）について説明する。なお、この場合は、筐体２４の無い状態で放射アンテナ２２のみを電波暗室２内のターンテーブル２１上に設置する。また、勿論、放射アンテナ２２と測定アンテナ２３との間の距離は、電子回路ブロック単体の測定時と同じ距離に設定しておく必要がある。

まず、制御パソコン３６（ＣＰＵ４０）は、制御プログラム５１を実行することによりデータ校正プロセス（以下、単に「校正プロセス」という）５２を開始して、上記の単体測定データ３７ａ〔測定条件データ３７１（アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向，ターンテーブル回転角）及び電界強度データ３７２（周波数−電界強度値）〕をハードディスク３７から読み取る（単体測定データ読み取り；ステップＳ１）。つまり、この場合、制御プログラム５１は、制御パソコン３６（ＣＰＵ４０）を、単体測定データ３７ａを取得するデータ取得手段６１として機能させていることになる。

ここで、単体測定データの並びが乱雑であるとアンテナ高さやターンテーブル２１の回転の無駄が生じてしまい、測定に余計な時間がかかる可能性があるため、測定作業の効率化・短縮化を目的として、制御パソコン３６は、例えば図３に示したように、アンテナ高さ：低→高，回転角：０→３６０°などのように、最も効率の良い順序で測定を行なえる順序にデータを並べ替える（単体測定データソート；ステップＳ２）。つまり、この場合、制御プログラム５１は、制御パソコン３６（ＣＰＵ４０）を、複数組の電界強度データ３７２及び測定条件データ３７１を測定条件の変更順序に適した順序にソートするデータソート手段６３として機能させていることになる。

また、この場合、電界強度データ３７２が特定周波数対応のデータとして記録されている〔図６（Ａ）参照〕ため、そのままでは放射アンテナ２２に信号を与えることができない。そこで、本実施形態では、逆高速フーリエ変換（逆ＦＦＴ）によって時間に対する電界強度データ、即ち、時間領域の発振波形データ〔図６（Ｂ）参照〕に変換する（逆ＦＦＴ・波形生成；ステップＳ３）。

つまり、この場合、制御プログラム５１は、電界強度データ３７２が周波数領域のデータとして得られている場合に、そのデータ３７２を逆ＦＦＴして時間領域の発振波形データに変換する逆ＦＦＴ変換手段６４と、この逆ＦＦＴ変換手段によって得られた発振波形データに基づいて放射アンテナ２２の放射電波の発振波形を生成する発振波形生成手段６５として、制御パソコン３６（ＣＰＵ４０）を機能させているのである。

これにより、上記電界強度データ３７２の周波数領域に含まれる複数周波数（例えば、３０〜１０００ＭＨｚ）分の発振波形をシグナルジェネレータ３３に１度に与えて電波放射状態制御を１度に実施することができるので、測定作業の短縮化を図ることができる。なお、上記の逆ＦＦＴは、このように制御パソコン３６上でソフトウェアによって実行してもよいし、シンセサイザのようなハードウェアを使用して実現してもよい。ただし、近年のパソコンの性能を考えると、専用のハードウェアを設けるよりも、上記のようにソフトウェアによって処理した方が効率的である。

次に、制御パソコン３６は、最初の（ｎ＝１の）測定条件データ３７１に従ってターンテーブル制御装置３１，アンテナ制御装置３２を制御して、そのデータ３７１どおりにアンテナ高さ，アンテナ取り付け方向，ターンテーブル回転角を合わせる（ステップＳ４，Ｓ５）。かかる状態で、上述のごとく生成した発振波形をシグナルジェネレータ３３に入力し、最初は適当な振幅で発振させる（波形入力／発振開始；ステップＳ６，Ｓ７）。

これにより、放射アンテナ２２から入力発振波形に応じた妨害電磁波が放射される。そして、その妨害電磁波を測定アンテナ２３で観測し、観測した電磁波をスペクトラムアナライザ３５で解析する。制御パソコン３６は、その解析結果をスペクトラムアナライザ３５から受けることにより、その電界強度を求めてハードディスク３７（あるいは、メインメモリ４１でもよい）に記録する（受信強度測定；ステップＳ８）。

そして、制御パソコン３６は、測定（記録）された電界強度を最初（ｎ＝１）の単体測定データ３７ａの電界強度データ３７２と比較し、それよりも強ければ振幅を減少させ、弱ければ振幅を増加する。これを繰り返すことによって、単体測定データ３７ａどおりの強さで電界強度が測定アンテナ２３で観測（測定）される発振波形の振幅値を求めて（振幅決定；ステップＳ９）、その振幅値を発振波形及びｎ番目の測定条件データ３７１（現測定条件）とセットで（電波放射状態データとして）ハードディスク３７に記録する（振幅値記録；ステップＳ１０）。

つまり、上記の制御プログラム５１は、上記のステップＳ２〜Ｓ１２をＣＰＵ４０に実行させることによって、制御パソコン３６（ＣＰＵ４０）を、データ取得手段６１によって取得した各データ３７１，３７２に従って制御装置３１，３２と放射アンテナ２２の電波放射状態とを制御して、測定アンテナ２３で受信される放射電波のスペクトラムアナライザ３５での測定データが電界強度データ３７２に一致するときの放射アンテナ２２の電波放射状態データを求めるデータ校正手段６２として機能させるとともに、このデータ校正手段６２で求められた電波放射状態データを記録装置３７に記録する記録制御手段６６として機能させていることになる。

なお、振幅と電界強度の関係が事前の測定などによって予め分かっている場合には、１点のみの測定で演算により上記の振幅値を求めることもできるが、データ（振幅値）の信頼性を高めるためには、上述のごとく実際に放射アンテナ２２から電磁波を放射させて確認することが望ましい。
以上の作業をアンテナ高さ，アンテナ取り付け方向，ターンテーブル回転角の組み合わせ数だけ〔最後の組み合わせのデータ３７ａまで（ステップＳ１１でＹＥＳと判定されるまで）〕、読み取りデータを順次次のデータに変更して（ｎ＝ｎ＋１；ステップＳ１２）繰り返すことにより、全方向に対しての振幅値を求める（ステップＳ１１のＮＯルート）。

つまり、この場合、制御プログラム５１は、制御パソコン３６を上記のデータ校正手段として機能させる際に、さらに、複数種類の測定条件に応じて複数組の測定条件データ３７１及び電界強度データ３７２が存在する場合に、所定の順序で測定条件の制御と電波放射状態の制御とを繰り返し行なわせるようになっているのである。これにより、あらゆる方向の（複数種類の測定条件下での）電子回路ブロック単体の妨害電磁波をそれぞれ正確に模擬することができるので、妨害電磁波の模擬精度が大幅に向上する。

そして、上述のごとく記録した上記の発振波形をその測定条件下及び振幅値でシグナルジェネレータ３３から発生させれば、電子回路ブロック単体の妨害電磁波を模擬した電磁波が放射アンテナ２２から放射されることになる。なお、電子回路ブロックが複数存在する場合は、それぞれについて上記の処理を実施することにより、それぞれに対応する発振波形及び振幅値を記録しておく。

さて、以上のようにして校正プロセス５２が完了したら、次に図５に示すアルゴリズムに従って、実際のＥＭＩ測定（測定プロセス５３；制御ステップ）を実施する。この際には、図１に示すとおり、筐体（キャビネット）２４内部に放射アンテナ２２を設置する。なお、電子回路ブロックが複数存在する場合には、それに応じて複数の放射アンテナ２２を筐体２４内に設置する。

まず、制御パソコン３６は、上記の校正プロセス５２で得られた電波放射状態データ（測定条件，発振波形及び振幅値）のうち、最初の（ｎ＝１）のデータに従って、ターンテーブル回転角，アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向を調整した上で（ステップＳ２１，Ｓ２２）、対応する発振波形と振幅値をシグナルジェネレータ３３に入力して（ステップＳ２３）、放射アンテナ２２から電子回路ブロックの妨害電磁波を模擬した電磁波を放射（発振）させる（ステップＳ２４）。

つまり、この場合、上記の制御プログラム５１は、上記のステップＳ２３及びＳ２４を「電波放射状態制御プロセス」としてＣＰＵ４０に実行させることにより、制御パソコン３６を、上記のデータ校正手段６２で求められたデータに従って放射アンテナ２２の電波放射状態を制御することによって電子回路ブロックの放射電波を模擬した電波を放射アンテナから放射させる電波放射状態制御手段６７として機能させていることになる。

そして、制御パソコン３６は、測定アンテナ２３で観測された電界強度をスペクトラムアナライザ３５経由で読み取り、例えばハードディスク３７に記録する（測定ステップ；ステップＳ２５）。
以上の作業を、アンテナ高さ，アンテナ取り付け方向，ターンテーブル回転角の組み合わせ数だけ〔最後の組み合わせのデータ３７ａまで（ステップＳ２６でＹＥＳと判定されるまで）〕、読み取りデータを、順次、次のデータに変更して（ｎ＝ｎ＋１；ステップＳ２７）繰り返すことにより、全方向に対して筐体２４を含めた電子装置のＥＭＩを、電子回路ブロック単体の妨害電磁波を模擬した電磁波によって求めて、順次、記録してゆく（ステップＳ２６のＮＯルート）。ただし、この場合は、校正プロセス５２のようにアンテナ高さ，アンテナ取り付け方向及びターンテーブル回転角毎にデータを全て記録する必要はなく、各周波数帯域における最大電界強度のみを記録しておけばよい（「最大値保持モード」）。

以上のように、本実施形態のＥＭＩ測定システム１によれば、予め測定された電子回路ブロック単体の発する妨害電磁波の実測データ３７２とその測定時の測定条件データ３７１とに基づいて現測定条件と放射アンテナ２２の電波放射状態とを制御することにより、電子回路ブロック単体の妨害電磁波を正確に模擬することができるので、その電子回路ブロック単体が電波暗室２に実際に無くても、模擬した妨害電磁波で代用することで、電子装置全体の発する妨害電磁波を再現して測定することが可能になる。

つまり、電子装置を構成する全電子回路ブロックを電波暗室２に一時期に集合させなくても、集合させた場合と同じＥＭＩ測定を実施することができる。これにより、独立した各電子回路ブロックの開発プロセスに応じて、或る電子回路ブロックの試作機単体でＥＭＩ測定を行なえばよいことになり、各電子回路ブロックの開発プロセスの独立性を高めて、製品開発の効率性を飛躍的に向上することができる。

例えば製品出荷までの製品開発プロセスを考えてみると、図７に示すように、筐体（キャビネット）２４の試作品は筐体設計プロセス７内（ステップＳ３１，Ｓ３２）において製造され、電子回路ブロック単体の試作品はそれぞれの回路設計プロセス６内（ステップＳ４１，Ｓ４２）において筐体設計プロセスとは独立して製造される。

そして、それぞれの回路設計プロセス６において、電子回路ブロックの試作品のＥＭＩを単体で測定して、上述した単体測定データ３７ａを求める（ステップＳ４３）。そして、得られた単体測定データ３７ａは上述したごとく校正プロセス５２を経て筐体２４を含んだＥＭＩ測定に使用される（ステップＳ４４，Ｓ３３）。この間も、回路設計プロセス６では、試作品によるハードウェアやソフトウェアのデバッグ作業などを継続して行なうことができ（ステップＳ４５）、製品設計及び製品製造を滞りなく行なうことができる（ステップＳ４６，Ｓ４７）。

一方、筐体２４の試作品は、上記ＥＭＩ測定が終了し、規格値を満足して問題なければ、製品設計及び製品製造段階に入る（ステップＳ３４，Ｓ３５）。そして、それぞれ製品が完成すれば、ＥＭＩ測定のために製品版の筐体および電子回路ブロックをそれぞれ電波暗室２に集合させて製品を組み立てた上で（ステップＳ５１）、製品出荷前の装置全体の最終的なＥＭＩ測定を行なう（ステップＳ５２）。

このように、本実施形態のＥＭＩ測定システム１を用いることで、試作品によるＥＭＩ測定の度に、筐体２４および電子回路ブロックを全て一時期に測定室２に集合させる必要がないので、交換装置のように大規模な電子装置を対象とした場合でも、製品開発プロセス全体の大幅な効率化・短縮化が可能である。
しかも、本実施形態では、校正プロセス５２において、測定アンテナ２３で実際に受信される電磁波の測定データが予め測定された実測データ３７２に一致するよう校正した電波放射状態データ（発振波形，振幅値）に従って放射アンテナ２２の電磁波放射状態を制御するので、放射アンテナ２２から放射される電磁波を、より実際の電子回路ブロックの妨害電磁波に近づけることができて、高精度な電子回路ブロック単体の妨害電磁波の模擬が実現されている。

また、校正プロセス５２で求めた電波放射状態データは、ハードディスク３７などに記録されるので、仮に電子回路ブロック単体の仕様等に変更が生じた場合でも、変更の無い電子回路ブロック単体について既に求められている電波放射状態データは再利用することができる。
換言すれば、１度校正プロセス５２によって求めた電子回路ブロック単体の妨害電磁波（電波放射状態データ）は、その電子回路ブロック単体の仕様等に変更が無く上記の測定条件データ３７１及び実測データ３７２に変更が無い限り、そのまま実際の電子回路ブロック単体の妨害電磁波として代用することができる。

従って、変更のあった電子回路ブロック単体との組でＥＭＩの再測定を行なわなければならなくても、変更の無い電子回路ブロック単体をわざわざ電波暗室２に用意せずにＥＭＩ測定を実施することができ、電子回路ブロック単体の開発プロセスの独立性をさらに高めて、製品開発の効率化を図ることができる。
（Ｂ）その他
なお、図４により上述した校正プロセス５２におけるデータソートステップＳ２は、予め得られている単体測定データ３７ａの並びがもともと測定条件の変更順序に適した並びになっている場合は、勿論、省略可能である。また、測定（条件）項目は、勿論、必ずしも、図３に示すような項目でなくてもよく、使用する測定アンテナ２３の種類やターンテーブル２１の種類に応じて測定項目は変更すればよい。

また、上述した実施形態では、測定アンテナ２３とスペクトラムアナライザ３５との間を同軸ケーブル５で接続しているが、例えば図９により前述した測定システム２００と同様に、測定アンテナ２３に球状ダイポールアンテナを用い、スペクトラムアナライザ３５との接続に光ケーブルを用いるようにしてもよい。
そして、本発明は、上述した実施形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。

（Ｃ）付記
〔付記１〕 電波を放射する電波放射装置と、
該電波放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、
該放射電波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置と、
該電波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置と、
所定の測定条件下で予め測定された電子回路の放射電波の実測データとその測定時の測定条件データとに基づいて該測定条件変更装置と該電波放射装置とを制御して、上記の測定条件と同じ測定条件下において該電子回路の放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射させる制御装置とをそなえたことを特徴とする、放射電波測定システム。

〔付記２〕 該制御装置が、
該測定条件データと該実測データとを取得するデータ取得手段と、
該データ取得手段によって取得した該測定条件データと該実測データとに従って該測定条件変更装置と該電波放射装置の電波放射状態とを制御して、該電波受信装置で受信される放射電波の該測定装置での測定データが該実測データに一致するときの該電波放射装置の電波放射状態データを求めるデータ校正手段と、
該データ校正手段によって求められた該電波放射状態データに従って該電波放射装置の電波放射状態を制御することによって該電子回路の放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射させる電波放射状態制御手段とをそなえていることを特徴とする、付記１記載の放射電波測定システム。

〔付記３〕 該制御装置が、
該データ校正手段によって求められた該電波放射状態データを記録装置に記録する記録制御手段をさらにそなえていることを特徴とする、付記２記載の放射電波測定システム。
〔付記４〕 該データ校正手段が、
該実測データが周波数領域のデータとして得られている場合に、当該実測データを逆フーリエ変換して時間領域の発振波形データに変換する逆フーリエ変換手段と、
該逆フーリエ変換手段によって得られた該発振波形データに基づいて該電波放射装置の放射電波の発振波形を生成する発振波形生成手段とをそなえていることを特徴とする、付記２又は付記３に記載の放射電波測定システム。

〔付記５〕 該データ校正手段が、
複数種類の測定条件に応じて複数組の測定条件データ及び実測データが存在する場合に、所定の順序で該測定条件の制御と該電波放射状態の制御とを繰り返し行なうように構成されたことを特徴とする、付記２〜４のいずれか１項に記載の放射電波測定システム。

〔付記６〕 該データ校正手段が、
該複数組の測定条件データ及び実測データを測定条件の変更順序に適した順序にソートするデータソート手段をさらにそなえていることを特徴とする、付記５記載の放射電波測定システム。
〔付記７〕 電波を放射する電波放射装置と、該電波放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該放射電波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置と、該電波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置とをそなえた放射電波測定システムにおいて、
所定の測定条件下で予め測定された電子回路の放射電波の実測データとその測定時の測定条件データとを取得するデータ取得ステップと、
該測定条件データと該実測データとに基づいて該測定条件変更装置と該電波放射装置とを制御して、上記の測定条件と同じ測定条件下において該電子回路の放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射させる制御ステップと、
該放射電波受信装置で受信される該電波放射装置からの放射電波を測定する測定ステップとを実行することを特徴とする、放射電波測定方法。

〔付記８〕 該制御ステップにおいて、
該測定条件データと該実測データとに従って該測定条件変更装置と該電波放射装置の電波放射状態とを制御して、該電波受信装置で受信される放射電波の該測定装置での測定データが該実測データに一致するときの該電波放射装置の電波放射状態データを求めるデータ校正プロセスと、
該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態データに従って該電波放射装置の電波放射状態を制御することによって該電子回路の放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射させる電波放射状態制御プロセスとを実行することを特徴とする、付記７記載の放射電波測定方法。

〔付記９〕 該制御ステップにおいて、
該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態データを記録することを特徴とする、付記８記載の放射電波測定方法。
〔付記１０〕 該データ校正プロセスが、
該実測データが周波数領域のデータとして得られている場合に、当該実測データを逆フーリエ変換して時間領域の発振波形データに変換する逆フーリエ変換ステップと、
該逆フーリエ変換ステップで得られた該発振波形データに基づいて該電波放射装置の放射電波の発振波形を生成する発振波形生成ステップとを含むことを特徴とする、付記８又は付記９に記載の放射電波測定方法。

〔付記１１〕 該データ校正プロセスにおいて、
複数種類の測定条件に応じて複数組の測定条件データ及び実測データが存在する場合は、所定の順序で該測定条件の制御と該電波放射状態の制御とを繰り返し行なうことを特徴とする、付記８〜１０のいずれか１項に記載の放射電波測定方法。

〔付記１２〕 該データ校正プロセスが、
該複数組の測定条件データ及び実測データを測定条件の変更順序に適した順序にソートするデータソートステップを含むことを特徴とする、付記１１記載の放射電波測定方法。
〔付記１３〕 電波を放射する電波放射装置と、該電波放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該放射電波の測定条件を変更しうる測定条件変更装置と、該電波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置とをそなえた放射電波測定システムをコンピュータによって制御するための放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体であって、
所定の測定条件下で予め測定された電子回路の放射電波の実測データとその測定時の測定条件データとを取得するデータ取得ステップと、
該測定条件データと該実測データとに基づいて該測定条件変更装置と該電波放射装置とを制御して、上記の測定条件と同じ測定条件下において該電子回路の放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射させる制御ステップとを含む処理を、該コンピュータに実行させるための放射電波測定制御プログラムが記録されたことを特徴とする、放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体。

〔付記１４〕 該放射電波測定制御プログラムが、
該制御ステップを該コンピュータに実行させる際に、
該測定条件データと該実測データとに従って該測定条件変更装置と該電波放射装置の電波放射状態とを制御して、該電波受信装置で受信される放射電波の該測定装置での測定データが該実測データに一致するときの該電波放射装置の電波放射状態データを求めるデータ校正プロセスと、
該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態データに従って該電波放射装置の電波放射状態を制御することによって該電子回路の放射電波を模擬した電波を該電波放射装置から放射させる電波放射状態制御プロセスとを、さらに該コンピュータに実行させることを特徴とする、付記１３記載の放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体。

〔付記１５〕 該放射電波測定制御プログラムが、
該制御ステップを該コンピュータに実行させる際に、
該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態データを記録装置に記録させるステップを、さらに該コンピュータに実行させることを特徴とする、付記１４記載の放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体。

〔付記１６〕 該放射電波測定制御プログラムが、
該データ校正プロセスを該コンピュータに実行させる際に、
該実測データが周波数領域のデータとして得られている場合に、当該実測データを逆フーリエ変換して時間領域の発振波形データに変換する逆フーリエ変換ステップと、
該逆フーリエ変換ステップで得られた該発振波形データに基づいて該電波放射装置の放射電波の発振波形を生成する発振波形生成ステップとを含む処理を、さらに該コンピュータに実行させることを特徴とする、付記１４又は付記１５に記載の放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体。

〔付記１７〕 該放射電波測定制御プログラムが、
該データ校正プロセスを該コンピュータに実行させる際に、
複数種類の測定条件に応じて複数組の測定条件データ及び実測データが存在する場合は、所定の順序で該測定条件の制御と該電波放射状態の制御とを繰り返し該コンピュータに実行させることを特徴とする、付記１４〜１６のいずれか１項に記載の放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体。

〔付記１８〕 該放射電波測定制御プログラムが、
該データ校正プロセスを該コンピュータに実行させる際に、
該複数組の測定条件データ及び実測データを測定条件の変更順序に適した順序にソートするデータソートステップを、該コンピュータに実行させることを特徴とする、付記１７記載の放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体。

発明の効果

以上詳述したように、本発明によれば、予め測定された電子回路の放射電波の実測データとその測定時の測定条件データとに基づいて現測定条件と電波放射装置の電波放射状態とを制御することにより、電子回路の放射電波を正確に模擬することができるので、その電子回路が測定場所に実際に無くても、模擬した放射電波で代用することで、電子装置全体の放射電波を再現して測定することが可能になる。従って、電子装置を構成する全電子回路を実際に集合させなくても、集合させたときと同じ放射電波測定を行なうことができ、電子回路の開発プロセスの独立性を高めて、製品開発の効率性を飛躍的に向上することができる。

ここで、上記の電波放射装置の電波放射状態は、電波受信装置で実際に受信される放射電波の測定データが上記の実測データに一致するよう校正した電波放射状態データに従って制御することができるので、電波放射装置から放射される電波を、より実際の電子回路の放射電波に近づけることができて、高精度な電子回路の放射電波の模擬が実現される。

なお、上記の電波放射状態データを記録装置に記録しておけば、仮に電子回路の仕様等に変更が生じた場合でも、変更の無い電子回路についての電波放射状態データは再利用することができる。換言すれば、１度校正プロセスで求めた電子回路の放射電波（電波放射状態データ）は、電子回路の仕様等に変更が無く上記の測定条件データ及び実測データに変更が無い限り、そのまま実際の電子回路の放射電波として代用することができる。従って、変更のあった電子回路との組で再測定を行なわなければならなくても、変更の無い電子回路をわざわざ測定場所に用意せずに測定を実施することができ、電子回路の開発プロセスの独立性をさらに高めることができる。

また、上記の予め測定された実測データが周波数領域のデータとして得られている場合には、その実測データを逆フーリエ変換して時間領域の発振波形データに変換し、得られた発振波形データに従って電波放射装置の放射電波の発振波形を制御するようにすれば、上記実測データの周波数領域に含まれる複数周波数についての電波放射状態制御を１度に実施することができるので、測定作業の効率化・短縮化を図ることができる。

さらに、複数種類の測定条件に応じて複数組の測定条件データ及び実測データが存在する場合には、所定の順序で上記の測定条件の制御と電波放射状態の制御とを繰り返し行なうようにすれば、複数種類の測定条件下での電子回路の放射電波をそれぞれ正確に模擬することができるので、放射電波の模擬精度をさらに向上することができる。

また、このように複数組の測定条件データ及び実測データが存在する場合には、これらの複数組の測定条件データ及び実測データを測定条件の変更順序に適した順序にソートするようにしてもよい。このようにすれば、測定に最も効率の良い順序で放射電波測定を実施することができ、測定作業のさらなる効率化・短縮化を図ることができる。

本発明の一実施形態としてのＥＭＩ測定システム（放射電波測定システム）を示すブロック図である。 図１に示す制御パソコンのハードウェア構成例を示すブロック図である。 図１に示すＥＭＩ測定システムで使用される単体測定データの一例を示す図である。 図１に示す制御パソコンによる制御（ＥＭＩ測定制御プログラム；校正プロセス）を説明するためのフローチャート（アルゴリズム）である。 図１に示す制御パソコンによる制御（ＥＭＩ測定制御プログラム；測定プロセス）を説明するためのフローチャート（アルゴリズム）である。 （Ａ），（Ｂ）はそれぞれ図３に示す単体測定データの逆ＦＦＴ処理を説明するための図で、（Ａ）は逆ＦＦＴ前の周波数領域の単体測定データ例、（Ｂ）は逆ＦＦＴ後の時間領域の発振波形データ例をそれぞれ示す図である。 図１に示すＥＭＩ測定システムを適用した場合の製品開発プロセスを説明するためのフローチャートである。 従来のＥＭＩ測定システムの一例を示すブロック図である。 従来の電磁シールド性能測定システムの一例を示すブロック図である。 従来のＥＭＩ測定システムの課題を説明すべく従来の製品開発プロセスを示すフローチャートである。

１ ＥＭＩ測定システム（放射電波測定システム）
２ 電波暗室
３ 測定室
４ 光ケーブル（シングルモード光ファイバケーブル）
５ 同軸ケーブル
６ 回路設計プロセス
７ 筐体（キャビネット）設計プロセス
２１ ターンテーブル
２１ａ ターンテーブル回転モータ（測定条件変更装置）
２２ 放射アンテナ（球状ダイポールアンテナ；電波放射装置）
２３ 測定アンテナ（電波受信装置）
２３ａ アンテナ制御モータ（測定条件変更装置）
２４ 筐体（キャビネット）
３１ ターンテーブル制御装置（測定条件変更装置）
３２ アンテナ制御装置（測定条件変更装置）
３３ シグナルジェネレータ（信号発生器）
３４ 電気／光（Ｅ／Ｏ）変換器
３５ スペクトラムアナライザ（測定装置）
３６ 制御用のパーソナルコンピュータ（計算機；制御装置）
３７ 記憶装置（ハードディスク）
３７ａ 単体測定データ
３７ｂ 測定結果データ
３８ ディスプレイ
３９ 本体
４０ ＣＰＵ
４１ 主記憶部（メインメモリ）
４２ ドライブ
４３ ＧＰＩＢ（General Purpose Interface Bus）カード
５１ ＥＭＩ測定制御プログラム（放射電波測定制御プログラム）
５２ データ校正プロセス
５３ 測定プロセス
６１ データ取得手段
６２ データ校正手段
６３ データソート手段
６４ 逆ＦＦＴ変換手段
６５ 発振波形生成手段
６６ 記録制御手段
６７ 電波放射状態制御手段
３７１ 測定条件データ
３７２ 電界強度データ（実測データ）

Claims (5)

1. 電子回路を格納するための筐体から放射される電波を測定する放射電波測定システムで
   あって、
   該電子回路から放射される電波をアンテナで受信した結果である実測データと、該電子
   回路と該アンテナとの位置関係と、を対応付けた対応関係を格納する記憶装置と、
   該筐体に格納され、電波を放射する電波放射装置と、
   該電波放射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、
   該筐体と該電波受信装置との位置関係と、該記憶装置に記憶された対応関係において当
   該位置関係と対応付けられた前記実測データとに基づいて、該電波放射装置の放射する電
   波を制御する制御装置と、
   該電波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置とをそなえる、ことを特徴と
   する、放射電波測定システム。
   
2. 電子回路を格納するための筐体から放射される電波を測定する放射電波測定方法であっ
   て、
   該筐体に格納された、電波を放射する電波放射装置の放射電波を電波受信装置により受
   信し、
   該電子回路から放射される電波をアンテナで受信した結果である実測データと、該電子
   回路と該アンテナとの位置関係と、を対応付けた対応関係において、該筐体と該電波受信
   装置との位置関係と対応付けられた前記実測データ、及び、当該位置関係に基づいて、該
   電波放射装置の放射する電波を制御装置により制御し、
   該電波受信装置で受信される該電波放射装置からの放射電波を測定装置により測定する
   、ことを特徴とする、放射電波測定方法。
   
3. 電子回路を格納するための筐体に格納されて電波を放射する電波放射装置と、該電波放
   射装置の放射電波を受信する電波受信装置と、該電波放射装置の放射する電波を制御する
   制御装置と、該電波受信装置で受信された放射電波を測定する測定装置とをそなえた放射
   電波測定システムをコンピュータによって制御するための放射電波測定制御プログラムが
   記録された記録媒体であって、
   該筐体に格納された、該電波放射装置の放射電波を該電波受信装置により受信する受信
   ステップと、
   該電子回路から放射される電波をアンテナで受信した結果である実測データと、該電子
   回路と該アンテナとの位置関係と、を対応付けた対応関係において、該筐体と該電波受信
   装置との位置関係と対応付けられた前記実測データ、及び、当該位置関係に基づいて、該
   電波放射装置の放射する電波を該制御装置により制御する制御ステップとを含む処理を、
   該コンピュータに実行させるための放射電波測定制御プログラムが記録された、ことを特
   徴とする、放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体。
   
4. 該放射電波測定制御プログラムが、
   該制御ステップを該コンピュータに実行させる際に、
   前記対応関係に従って、該筐体と該電波受信装置との位置関係と該電波放射装置の電波
   放射状態とを制御して、該電波受信装置で受信される放射電波の該測定装置での測定デー
   タが該実測データに一致するときの該電波放射装置の電波放射状態データを求めるデータ
   校正プロセスと、
   該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態データに従って、該電波放射装置の
   電波放射状態を制御することによって該電子回路の放射電波を模擬した電波を該電波放射
   装置から放射させる電波放射状態制御プロセスとを、さらに該コンピュータに実行させる
   、ことを特徴とする、請求項３記載の放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体
   。
   
5. 該放射電波測定制御プログラムが、
   該制御ステップを該コンピュータに実行させる際に、
   該データ校正プロセスで求められた該電波放射状態データを記録装置に記録させるステ
   ップを、さらに該コンピュータに実行させる、ことを特徴とする、請求項４記載の放射電
   波測定制御プログラムが記録された記録媒体。

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