KR20190115272A - 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법 - Google Patents

전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20190115272A
KR20190115272A KR1020180038102A KR20180038102A KR20190115272A KR 20190115272 A KR20190115272 A KR 20190115272A KR 1020180038102 A KR1020180038102 A KR 1020180038102A KR 20180038102 A KR20180038102 A KR 20180038102A KR 20190115272 A KR20190115272 A KR 20190115272A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electric field
reverberation chamber
antenna
input power
electromagnetic
Prior art date
Application number
KR1020180038102A
Other languages
English (en)
Inventor
곽상일
권종화
심동욱
황정환
Original Assignee
한국전자통신연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국전자통신연구원 filed Critical 한국전자통신연구원
Priority to KR1020180038102A priority Critical patent/KR20190115272A/ko
Publication of KR20190115272A publication Critical patent/KR20190115272A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0864Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
    • G01R29/0871Complete apparatus or systems; circuits, e.g. receivers or amplifiers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0807Measuring electromagnetic field characteristics characterised by the application
    • G01R29/0814Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning
    • G01R29/0835Testing shielding, e.g. for efficiency
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/08Measuring electromagnetic field characteristics
    • G01R29/0864Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
    • G01R29/0878Sensors; antennas; probes; detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법이 개시된다. 전기장 형성 방법은 상기 전자파잔향실 내부에 배치된 피시험기기에 대해 복사성 내성 평가를 위한 전기장을 형성하기 위하여 안테나의 입력 전력을 결정하는 단계; 상기 결정된 안테나의 입력 전력에 기초하여 상기 전자파잔향실 내부에 형성된 전기장의 실제 세기를 상기 피시험기기가 배치된 위치에서 측정하는 단계; 및 상기 피시험기기가 배치된 위치에서 측정된 전기장의 실제 세기와 상기 복사성 내성 평가를 위해 필요한 타겟 세기를 이용하여 상기 안테나의 입력 전력을 변경하는 단계를 포함할 수 있다.

Description

전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR FORMING ELECTRIC FIELD FOR EVALUATING RADIATED SUSCEPTIBILITY IN REVERBERATION CHAMBER}
본 발명은 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 시 피시험기기에 조사하는 전기장을 일정하게 만들어주는 장치 및 방법에 관한 것이다.
최근 소형의 휴대형 통신기기를 포함해 다양한 전기전자 기기들이 수많은 무선서비스를 제공하고 있으며, 이러한 전기전기 기기들은 제한된 공간에서 동시에 사용되고 있다. 이는 기존 전자파 측정 시설인 야외시험장(Open Area Site, OATS)이나 전자파반무반사실(Semi Anechoic Chamber, SAC)등의 측정 환경과는 다른 환경에서 사용되고 있는 실정이다.
전자파잔향실(Reverberation chamber)은 전자파차폐실을 기반으로 전자파의 다중 반사가 이루어지도록 만든 측정 시설이다. 전자파잔향실의 다중반사 특성으로 인해 다른 전자파 측정시설과 비교하여 최근의 전자파 환경과 더 유사한 시험 환경을 조성하여 전자파적합성(Electromagnetic Compatibility, EMC) 시험 등을 실행할 수 있다. 이중 복사성 내성(Radiated Susceptibility) 시험은 피시험기기가 규정된 전기장 세기에 노출된 경우에도 정상 동작하는지 여부를 평가하는 것이다. 복사성 내성 평가를 위해서는 피시험기기(EUT)가 놓이는 공간에서 일정한 전자파가 생성되도록 하는 것이 중요하다. 전자파잔향실에서는 국제표준문서인 IEC 61000-4-21의 전자파잔향실 성능의 지표인 시험 가능 체적(Working Volume)에서의 전기장 균일도 측정 데이터를 기반으로 IEC 61000-4-21의 Annex D에 제안된 방법으로 복사성 내성 평가를 수행한다.
전자파잔향실에서 피시험기기에 대한 내성 평가를 위해 IEC 61000-4-21에서 제시된 방법은 하기의 식 1과 같다. 구체적으로 IEC 61000-4-21의 방법에 의해 전자파잔향실 성능평가 시 측정된 챔버 부하 인자(chamber loading factor)와 시험 가능 체적 검증 시 측정되는 정규화 된 전기장 측정의 산술 평균 값인 <E> 24 or 9 를 사용한다. 내성 평가 시험을 위한 전기장 강도인 E test 가 정해지면, 식 1에 의해서 시험하고자 하는 주파수에 따라 안테나의 입력 전력인 P input 이 정해지고 이를 제어 프로그램과 신호 발생기 등을 통해 송신 안테나에 인가하여 시험을 수행한다.
<식 1>
Figure pat00001
이러한 복사성 내성 평가의 경우 피시험기기가 규정된(일정한) 전기장에 노출 시켜야 한다. 그러나 복사성 내성 평가를 위해 전자파잔향실의 모드 교반기를 동작시키면 피시험기기가 놓이는 위치에 발생하는 전기장의 세기가 모드 교반기의 동작에 따라 변하는 상황이 발생한다. 따라서, 종래의 복사성 내성 평가 방법은 이러한 상황에 의해 다양한 각도에서 입사되는 전기장을 이용할 수 있는 장점에도 불구하고, 전기장의 세기가 변하므로 정확한 복사성 내성 평가를 수행하는데 어려움이 있다.
본 발명은 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 시 피시험기기에 조사하는 전기장을 일정하게 만들어줌으로써 다양한 각도에서 입사되는 전기장을 이용하여 복사성 내성 평가를 수행할 수 있는 장치 및 방법을 제공한다.
본 발명의 일실시예에 따른 전자파잔향실(Reverberation chamber)에서의 복사성 내성(Radiated susceptibility) 평가를 위한 전기장 형성 방법은 상기 전자파잔향실에 배치된 피시험기기에 대해 복사성 내성 평가를 위한 전기장을 형성하기 위하여 안테나의 입력 전력을 결정하는 단계; 상기 결정된 안테나의 입력 전력에 기초하여 상기 전자파잔향실 내부에 형성된 전기장의 실제 세기를 상기 피시험기기가 배치된 위치에서 측정하는 단계; 및 상기 피시험기기가 배치된 위치에서 측정된 전기장의 실제 세기와 상기 복사성 내성 평가를 위해 필요한 타겟 세기를 이용하여 상기 안테나의 입력 전력을 변경하는 단계를 포함할 수 있다.
상기 측정하는 단계는 상기 전자파잔향실 내의 전계균일도를 위해 배치된 모드 교반기의 회전 각도에 따라 상기 피시험기기가 배치된 위치에서 전기장의 실제 세기를 측정할 수 있다.
상기 변경하는 단계는 상기 모드 교반기의 회전 각도에 따라 측정된 전기장의 실제 세기와 상기 타겟 세기 간의 차이를 이용하여 상기 모드 교반기의 회전 각도 마다 상기 안테나의 입력 전력을 변경할 수 있다.
상기 변경된 안테나의 입력 전력에 의해 상기 전자파잔향실 내에 형성된 균일한 전기장에 기초하여 상기 피시험기기에 대한 복사성 내성을 평가하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 전자파잔향실(Reverberation chamber)에서의 복사성 내성(Radiated susceptibility) 평가를 위한 전기장 형성 장치는 상기 전자파잔향실 내부에 전기장을 형성하기 위해 전자파를 방출하는 안테나; 상기 방출된 전자파를 통해 상기 전자파잔향실 내부에 형성된 전기장의 실제 세기를 피시험기기가 배치된 위치에서 측정하는 프로브; 및 상기 피시험기기가 배치된 위치에서 측정된 전기장의 실제 세기와 상기 복사성 내성 평가를 위해 필요한 타겟 세기를 이용하여 상기 안테나의 입력 전력을 변경하는 프로세서를 포함할 수 있다.
상기 프로브는 상기 전자파잔향실 내의 전계균일도를 위해 배치된 모드 교반기의 회전 각도에 따라 상기 피시험기기가 배치된 위치에서 발생하는 전기장의 실제 세기를 측정할 수 있다.
상기 프로세서는 상기 모드 교반기의 회전 각도에 따라 측정된 전기장의 실제 세기와 상기 타겟 세기 간의 차이를 이용하여 상기 모드 교반기의 회전 각도 마다 상기 안테나의 입력 전력을 변경할 수 있다.
상기 프로세서는 상기 변경된 안테나의 입력 전력에 의해 상기 전자파잔향실 내에 형성된 균일한 전기장에 기초하여 상기 피시험기기에 대한 복사성 내성을 평가할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 의하면, 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 시 피시험기기에 조사하는 전기장을 일정하게 만들어줌으로써 다양한 각도에서 입사되는 전기장을 이용하여 복사성 내성 평가를 수행할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 시스템을 도시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 방법을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 복사성 내성 평가 방법을 사용하여 발생한 모드 교반기의 각도 별 전기장 값을 도시한 도면이다.
이하에서, 첨부된 도면을 참조하여 실시예들을 상세하게 설명한다. 그러나, 실시예 들에는 다양한 변경이 가해질 수 있어서 특허출원의 권리 범위가 이러한 실시예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 실시예들에 대한 모든 변경, 균등물 내지 대체물이 권리 범위에 포함되는 것으로 이해되어야 한다.
실시예에서 사용한 용어는 단지 설명을 목적으로 사용된 것으로, 한정하려는 의도로 해석되어서는 안된다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 실시예가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일한 참조부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 실시예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 실시예의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 시스템을 도시한 도면이다.
도 1을 참고하면, 복사성 내성 평가 시스템(100)은 안테나(110), 프로브(120) 및 프로세서(130)로 구성될 수 있다. 본 발명은 전자파잔향실 내에 배치된 피시험기기의 복사성 내성 평가를 위해 형성되는 전기장을 균일하게 만들어 주기 위한 방법을 제공한다. 이를 위해 안테나(110)는 전자파잔향실 내부에 전기장을 형성하기 위한 전자파를 방출할 수 있고, 방출된 전자파로 인해 전자파잔향실 내부에는 전기장이 형성될 수 있다.
프로브(120)는 방출된 전자파를 통해 전자파잔향실 내부에 형성된 전기장의 실제 세기를 피시험기기(140)가 배치된 위치에서 측정할 수 있다. 이러한 피시험기기(140)는 시험 가능 체적(Working Volume)(150) 내에 배치될 수 있다. 이때, 프로브(120)를 통해 측정되는 전기장의 실제 세기는 전자파잔향실 내의 전계균일도를 위해 배치된 모드 교반기(160)의 회전 각도에 따라 다르게 측정될 수 있다. 이러한 전자파잔향실 내부에 형성되는 전기장의 세기가 변하는 현상은 피시험기기(140)에 대한 정확한 복사성 내성 평가를 수행하는데 어려움을 줄 수 있다.
이를 해결하기 위하여 프로세서(130)는 피시험기기(140)가 배치된 위치에서 측정된 전기장의 실제 세기와 복사성 내성 평가를 위해 필요한 타겟 세기를 이용하여 안테나(110)의 입력 전력을 변경함으로써 전자파잔향실 내부에 균일한 전기장이 형성되도록 할 수 있다. 이후 프로세서(130)는 변경된 안테나의 입력 전력에 의해 형성된 전자파잔향실 내부의 균일한 전기장에 기초하여 피시험기기(140)에 대한 복사성 내성을 평가할 수 있다. 보다 자세한 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 방법은 이후의 도 2를 통해 자세히 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 방법을 도시한 도면이다.
단계(210)에서, 프로세서(130)는 전자파잔향실 내부에 배치된 피시험기기(140)에 대해 복사성 내성 평가를 위한 전기장을 형성하기 위하여 안테나(110)의 입력 전력을 결정할 수 있다. 구체적으로 프로세서(130)는 복사성 내성 평가의 시험을 위한 전기장 강도인
Figure pat00002
가 정해지면, 하기의 식 1을 통해 시험하고자 하는 주파수에 따라 안테나(110)의 입력 전력인
Figure pat00003
을 결정할 수 있다.
<식 1>
Figure pat00004
이와 같이 결정된 입력 전력을 통해 안테나(110)는 전자파잔향실 내부에 상기 결정된 입력 전력에 대응하는 전자파를 방출할 수 있고, 방출된 전자파로 인해 전자파잔향실 내부에는 복사성 내성 평가를 위한 전기장이 형성될 수 있다.
단계(220)에서, 프로브(120)는 단계(210)에서 결정된 안테나(110)의 입력 전력에 기초하여 전자파잔향실 내부에 형성된 전기장의 실제 세기를 피시험기기(140)가 배치된 위치에서 측정할 수 있다. 예를 들어, 프로브(120)는 3축 전자파 프로브일 수 있으며, 전자파잔향실 내의 전계균일도를 위해 배치된 모드 교반기(160)의 회전 각도에 따라 피시험기기(140)가 배치된 위치에서 전기장의 실제 세기를 측정할 수 있다. 이때, 프로브(120)를 사용하여 측정된 전기장의 실제 세기는 모드 교반기(160)의 움직임에 따라 변하는 특징을 가진다. 이는 모드 교반기(160)가 움직이면서 전자기 경계 조건이 변화되기 때문이다. 복사성 내성 평가의 경우 피시험기기(140)에 균일한 전기장을 노출시켜야 하므로 모드 교반기(160)의 움직임에 따라 전기장의 실제 세기가 변하는 문제를 해결할 필요가 있다.
단계(230)에서, 프로세서(130)는 피시험기기(140)가 배치된 위치에서 측정된 전기장의 실제 세기와 복사성 내성 평가를 위해 필요한 타겟 세기를 이용하여 안테나(110)의 입력 전력을 변경할 수 있다. 구체적으로 프로세서(130)는 모드 교반기(160)의 회전 각도에 따라 측정된 전기장의 실제 세기와 타겟 세기 간의 차이에 기초하여 하기의 식 2를 통해 모드 교반기(160)의 회전 각도 마다 안테나(110)의 입력 전력을 변경할 수 있다.
<식 2>
Figure pat00005
즉, 프로세서(130)는 단계(220)에서 측정된 전기장의 실제 세기에 대해 복사성 내성 평가의 시험을 위한 전기장 강도인
Figure pat00006
를 구현하기 위하여 교정 값(
Figure pat00007
)를 반영함으로써 변경된 입사전력
Figure pat00008
을 구할 수 있다. 본 발명의 복사성 내성 평가 시스템(100)은 모드 교반기(160) 회전 각도에 따라 상기 교정 값을 반영하여 입사전력
Figure pat00009
을 구함으로써 전자파잔향실 내부에는 균일한 전기장을 형성될 수 있다. 도 3은 이와 같은 복사성 내성 평가 시스템(100)을 통해 전자파잔향실 내부에 형성된 모드 교반기(160)의 각도 별 전기장 세기를 보여준다. 도 3을 참고하면 다양한 주파수에 따라 형성된 전기장의 세기가 모드 교반기(160)의 각도에 상관없이 일정한 값을 유지하는 것을 확인할 수 있다.
이후 프로세서(130)는 이와 같이 변경된 안테나(110)의 입력 전력에 의해 전자파잔향실 내부에 형성된 균일한 전기장에 기초하여 피시험기기(140)에 대한 복사성 내성을 평가함으로써 전자파잔향실이 가지는 다양한 편파에서의 시험뿐만 아니라 실제 환경에 대응되는 조건에서 피시험기기(140)의 복사성 내성 평가를 수행할 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기를 기초로 다양한 기술적 수정 및 변형을 적용할 수 있다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 청구범위의 범위에 속한다.
100: 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가 시스템
110: 안테나
120: 프로브
130: 프로세서
140: 피시험기기
150: 시험 가능 체적
160: 모드 교반기

Claims (1)

  1. 전자파잔향실(Reverberation chamber)에서의 복사성 내성(Radiated susceptibility) 평가를 위한 전기장 형성 방법에 있어서,
    상기 전자파잔향실 내부에 배치된 피시험기기에 대해 복사성 내성 평가를 위한 전기장을 형성하기 위하여 안테나의 입력 전력을 결정하는 단계;
    상기 결정된 안테나의 입력 전력에 기초하여 상기 전자파잔향실 내부에 형성된 전기장의 실제 세기를 상기 피시험기기가 배치된 위치에서 측정하는 단계; 및
    상기 피시험기기가 배치된 위치에서 측정된 전기장의 실제 세기와 상기 복사성 내성 평가를 위해 필요한 타겟 세기를 이용하여 상기 안테나의 입력 전력을 변경하는 단계
    를 포함하는 전기장 형성 방법.

KR1020180038102A 2018-04-02 2018-04-02 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법 KR20190115272A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180038102A KR20190115272A (ko) 2018-04-02 2018-04-02 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020180038102A KR20190115272A (ko) 2018-04-02 2018-04-02 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20190115272A true KR20190115272A (ko) 2019-10-11

Family

ID=68210295

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020180038102A KR20190115272A (ko) 2018-04-02 2018-04-02 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20190115272A (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102207103B1 (ko) 2020-07-22 2021-01-22 김대진 전자파 내성 시험 장치
CN113295941A (zh) * 2021-04-25 2021-08-24 中国人民解放军陆军工程大学 一种基于干扰概率的混响室环境电磁辐射敏感度测试方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102207103B1 (ko) 2020-07-22 2021-01-22 김대진 전자파 내성 시험 장치
CN113295941A (zh) * 2021-04-25 2021-08-24 中国人民解放军陆军工程大学 一种基于干扰概率的混响室环境电磁辐射敏感度测试方法
CN113295941B (zh) * 2021-04-25 2022-10-25 中国人民解放军陆军工程大学 一种基于干扰概率的混响室环境电磁辐射敏感度测试方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101939757B1 (ko) 안테나 성능 측정 시스템
de Miguel‐Bilbao et al. Assessment of human body influence on exposure measurements of electric field in indoor enclosures
US10720965B2 (en) Measurement system and method for operating a measurement system
JP7016303B2 (ja) 放射電力推定方法
Liptai et al. Check measurements of magnetic flux density: Equipment design and the determination of the confidence interval for EFA 300 measuring devices
KR20190115272A (ko) 전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법
CN106164684B (zh) 电场强度算出装置及电场强度算出方法
JP5685069B2 (ja) アンテナ測定装置、遅延広がり制御方法
Tian et al. Efficient and accurate measurement of absorption cross section of a lossy object in reverberation chamber using two one-antenna methods
JP2002214266A (ja) 放射電波測定システム及び放射電波測定方法並びに放射電波測定制御プログラムが記録された記録媒体
KR101337343B1 (ko) 전자파 내성 시험을 위한 시험 장치의 필드 균일성 측정방법
RU2686880C1 (ru) Способ оценки эффективности устройств экранирования радиоэлектронных средств
JP2016217815A (ja) 均一電界範囲決定法
Senevirathna et al. A Review On Links Between Different EMC Test Environments in Medical Technologies
KR20190022960A (ko) 전자파 잔향실 기반의 복사성 방출 측정 방법 및 복사성 방출 측정 시스템
RU2705936C1 (ru) Способ определения коэффициента усиления сфокусированной антенной решетки
Mandaris High strength electromagnetic field generation for radiated EMI measurements
KR101766234B1 (ko) 전자파 내성 시험 방법 및 장치
Chen et al. A study of the low-frequency coaxial reflectometer measurement procedure for evaluation of RF absorbers' reflectivity
JP7451975B2 (ja) 電磁波測定装置、及び電磁波測定方法
RU2798753C1 (ru) Способ диагностики антенной решетки
Newell et al. Implementation of a technique for computing antenna system noise temperature using planar near-field data
RU2761478C1 (ru) Способ автоматизированного измерения уровней электромагнитных излучений в элементах конструкции экранированного сооружения в требуемой полосе частот
JP7115301B2 (ja) 放射妨害波測定装置
Alizada Characterization of vibrating intrinsic reverberation chamber and comparison with classical reverberation chamber for antenna efficiency measurements