KR102207103B1 - 전자파 내성 시험 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 전자파 내성 시험 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치는, 피시험체를 지지하는 고정 플레이트와, 고정 플레이트를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시키는 고정 플레이트 구동부를 포함하는 피시험체 지지부; 피시험체를 향해 피시험체에 대한 내성 시험에 필요한 제1 전계 강도에 대응하는 전자파를 방사하는 적어도 하나의 송신 안테나와, 적어도 하나의 송신 안테나 각각을 회전 구동시키는 적어도 하나의 송신 안테나 구동부를 포함하는 전자파 송신부; 피시험체와 인접한 위치에 설치되며, 적어도 하나의 송신 안테나로부터 전자파를 수신하는 복수의 수신 안테나를 포함하는 전자파 수신부; 및 피시험체 지지부, 전자파 송신부 및 전자파 수신부에 연결되며, 제1 전계 강도 및 복수의 수신 안테나 각각에서 수신된 복수의 제2 전계 강도 각각을 비교한 결과에 따라, 고정 플레이트 구동부, 적어도 하나의 송신 안테나 및 적어도 하나의 송신 안테나 구동부 중 적어도 하나를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

전자파 내성 시험 장치{Apparatus for testing Electromagnetic Susceptibility}
본 발명은 전자파 내성 시험 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 피시험체에 대한 전자파 내성 시험을 수행하는 동안 피시험체가 배치된 영역에 형성된 전계 강도를 균일하게 유지할 수 있는 전자파 내성 시험 장치에 관한 것이다.
일반적으로 전자파 적합성(Electromagnetic Compatibility, EMC)은 전자파 환경에서 시스템, 장비, 부품 등 전자 기기가 정상적으로 동작하는 상태를 의미하는 것으로, 전자 기기로부터 불요 전자파의 복사를 최소한으로 억제하고, 외부 전자파 환경으로부터 전자 기기가 방해를 받지 않고 정상적으로 동작하도록 전자파 내성을 가져야 한다는 것을 말한다.
최근에는 각종 전자 기기가 소형화됨에 따라 저전력 및 고속화 소자들이 다수 사용되고 있고, 이러한 소자들은 전자파로 인해 심각한 장애를 일으킬 염려가 있어 전자파 적합성에 대한 중요성이 점차 증대되고 있다. 이와 같은 실정을 반영하여, 반도체, 가정용 소형 전자 기기부터 자동차, 항공기, 의료용, 통신용, 군수용 장비에 이르기까지 다양한 분야에서 전자파 적합성 시험이 수행되고 있으며, 이를 위한 각종 표준과 규격이 마련되고 있다.
한편, 전자파 적합성을 평가하는 시험은 크게 전자파 간섭(Electromagnetic Interference, EMI) 시험과 전자파 내성(Electromagnetic Susceptibility, EMS) 시험으로 구분될 수 있다.
전자파 간섭(Electromagnetic Interference, EMI) 시험은 전자 기기로부터 외부로 방출되는 전자파(방해파)의 크기를 측정하는 시험으로, 전도선을 타고 이동하는 전자파를 측정하는 전도성 방출 시험(Conducted Emission, CE)과 공기 중에 이동하는 전자파를 측정하는 방사성 방출 시험(Radiated Emission, RE)으로 구분될 수 있다.
또한, 전자파 내성(Electromagnetic Susceptibility, EMS) 시험은 전자 기기가 높은 전계 강도 환경에 노출되었을 때 요구되는 성능을 발휘할 수 있는 내성을 측정하는 시험으로, 전도선을 타고 방출되는 전자파를 버텨내는 성능을 측정하는 전도 내성(Conducted Susceptibility, CS) 시험과 공기를 통해 이동하는 전자파를 버텨내는 성능을 측정하는 방사 내성(Radiated Susceptibility, RS) 시험으로 구분될 수 있다.
특히, 전자파 내성 시험은 전자파의 유입 및 유출을 차단하고 전자파의 반사가 없는 전자파 잔향실(Reverberation chamber)(또는 전자파 무반사실(Electromagnetic anechoic chamber))의 내부에서 피시험체인 시험 대상 장비(Equipment Under Test, EUT)에 전자파를 방사하고, 전자파에 의한 시험 대상 장비의 동작 상태를 모니터링하여 시험 대상 장비의 내성 성능을 평가한다.
이 때, 전자파 내성 시험 장치는 시험 대상 장비의 주변에 배치된 수신 안테나(또는, 프로브(Probe))가 시험 대상 장비가 배치되는 일정 영역에서의 전계 강도를 측정하는데, 전자파 내성 시험 결과의 유효성을 보장하기 위해서는 시험 대상 장비가 배치되는 영역에 균일한 전계 강도를 형성하는 것이 매우 중요하다.
예를 들어, 국내 공개특허공보 제10-2019-0115272호 (전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법) (2019년 10월 11일 공개)에는 전자파 내성 시험을 수행할 때에 전자파 잔향실에서 피시험기기에 조사되는 전기장을 일정하게 하기 위해 전자파 잔향실의 내부에 형성된 전기장의 실제 세기를 측정한 후, 실제 세기와 전자파 내성 시험을 위해 필요한 타겟 세기를 이용하여 안테나의 입력 전력을 변경하는 기술이 개시되어 있다.
그러나, 상기와 같은 전자파 내성 장치 및 방법은 피시험기기가 배치된 위치에서 측정된 실제 세기가 타겟 세기와 다를 경우 단순히 안테나의 입력 전력만을 변경하므로, 실제로 피시험기기의 주위에 형성된 전자파의 세기를 균일하게 유지하기에는 제한적이라는 문제점이 있었다.
따라서, 피시험체에 대한 전자파 내성 시험을 수행하는 동안 피시험체가 배치된 영역에 형성된 전계 강도를 균일하게 유지할 수 있는 전자파 내성 시험 장치가 요구된다.
국내 공개특허공보 제10-2019-0115272호 (전자파잔향실에서의 복사성 내성 평가를 위한 전기장 형성 장치 및 방법) (2019년 10월 11일 공개)
본 발명은 상기한 문제점을 개선하기 위해 발명된 것으로, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 피시험체에 대한 전자파 내성 시험을 수행하는 동안 송신 안테나로부터 방사되는 전자파의 전계 강도 및 피시험체와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나에서 실제 측정되는 전자파의 전계 강도를 비교하여 피시험체 및 송신 안테나의 위치를 조절함으로써, 피시험체에 대한 전자파 내성 시험을 수행하는 동안 피시험체가 배치된 영역에 형성된 전계 강도를 균일하게 유지할 수 있는 전자파 내성 시험 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 기술적 과제는 이상에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제는 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치는, 피시험체를 지지하는 고정 플레이트와, 상기 고정 플레이트를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시키는 고정 플레이트 구동부를 포함하는 피시험체 지지부; 상기 피시험체를 향해 상기 피시험체에 대한 내성 시험에 필요한 제1 전계 강도에 대응하는 전자파를 방사하는 적어도 하나의 송신 안테나와, 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각을 회전 구동시키는 적어도 하나의 송신 안테나 구동부를 포함하는 전자파 송신부; 상기 피시험체와 인접한 위치에 설치되며, 상기 적어도 하나의 송신 안테나로부터 상기 전자파를 수신하는 복수의 수신 안테나를 포함하는 전자파 수신부; 및 상기 피시험체 지지부, 상기 전자파 송신부 및 상기 전자파 수신부에 연결되며, 상기 제1 전계 강도 및 상기 복수의 수신 안테나 각각에서 수신된 복수의 제2 전계 강도 각각을 비교한 결과에 따라, 상기 고정 플레이트 구동부, 상기 적어도 하나의 송신 안테나 및 상기 적어도 하나의 송신 안테나 구동부 중 적어도 하나를 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이 때, 상기 제어부는, 상기 복수의 제2 전계 강도 각각과 상기 제1 전계 강도의 차이가 미리 설정된 기준 값보다 큰 경우, 상기 복수의 제2 전계 강도 각각과 상기 제1 전계 강도의 차이가 상기 기준 값보다 적어질 때까지 상기 피시험체의 위치를 조절하도록 상기 고정 플레이트 구동부를 제어하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 고정 플레이트 구동부는, 상기 고정 플레이트에 형성된 제1 고정홀에 결합되는 제1 수평 이동 안내부; 상기 제1 고정홀로부터 이격되도록 상기 고정 플레이트에 형성된 적어도 하나의 제2 고정홀에 결합되는 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부; 및 상기 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부 각각에 연결되며, 상기 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부 각각을 수평 방향으로 회전 또는 왕복 구동시키는 적어도 하나의 수평 구동부를 포함하며, 상기 제1 수평 이동 안내부 및 상기 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부는, 상기 고정 플레이트가 상기 적어도 하나의 수평 구동부에 의해 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동할 때에 상기 고정 플레이트의 이동을 안내하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1 수평 이동 안내부 및 상기 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부는 각각, 상기 제1 고정홀 또는 상기 적어도 하나의 제2 고정홀에 회전 가능하게 삽입되는 회전 이동 안내부; 상기 회전 이동 안내부에 결합되며, 상기 회전 이동 안내부가 회전할 때에 상기 회전 이동 안내부의 제1 방향의 왕복 이동을 안내하는 제1 왕복 이동 안내부; 상기 제1 왕복 이동 안내부에 결합되며, 상기 회전 이동 안내부와 상기 제1 왕복 이동 안내부가 이동할 때에 상기 제1 왕복 이동 안내부의 제2 방향의 왕복 이동을 안내하는 제2 왕복 이동 안내부; 및 상기 제2 왕복 이동 안내부에 결합되며, 상기 고정 플레이트로부터 이격된 베이스 플레이트에 고정되는 안내 고정부를 포함 하는 것을 특징으로 한다.
또는, 상기 제어부는, 상기 복수의 제2 전계 강도 각각과 상기 제1 전계 강도의 차이가 미리 설정된 기준 값보다 큰 경우, 상기 복수의 제2 전계 강도 각각과 상기 제1 전계 강도의 차이가 상기 기준 값보다 적어질 때까지 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각에 인가되는 전원을 제어하는 것을 특징으로 한다.
또는, 상기 제어부는, 상기 복수의 제2 전계 강도 각각과 상기 제1 전계 강도의 차이가 미리 설정된 기준 값보다 큰 경우, 상기 복수의 제2 전계 강도 각각과 상기 제1 전계 강도의 차이가 상기 기준 값보다 적어질 때까지 상기 적어도 하나의 송신 안테나의 방향을 조절하도록 상기 적어도 하나의 송신 안테나 구동부를 제어하는 것을 특징으로 한다.
이 때, 상기 적어도 하나의 송신 안테나 구동부는 각각, 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각에 연결되며, 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각을 제1 축을 중심으로 회전시키는 제1 회전 구동부; 및 상기 제1 회전 구동부에 연결되며, 상기 제1 회전 구동부를 상기 제1 축과 수직한 제2 축을 중심으로 회전시키는 제2 회전 구동부를 포함하며, 상기 제어부는, 상기 적어도 하나의 송신 안테나가 상기 피시험체를 향하도록 상기 제1 회전 구동부 및 상기 제2 회전 구동부를 제어하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제1 회전 구동부는, 내부에 수용 공간이 형성되고 상부가 개구된 하우징; 상단은 상기 하우징의 개구된 상부를 통해 노출되어 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각의 하부에 결합되고, 하단은 상기 제1 축을 중심으로 회전 가능하도록 상기 수용 공간에 삽입되는 제1 회전 블록; 및 상기 하우징의 일측을 통해 상기 제1 회전 블록에 연결되며, 상기 제1 회전 블록으로 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각을 회전 구동시키기 위한 회전 구동력을 제공하는 제1 구동력 제공부를 포함하고, 상기 제2 회전 구동부는, 상기 제1 회전 구동부의 하부가 결합되는 고정판과, 상기 고정판의 일측으로부터 하부 방향으로 돌출 연장되도록 형성된 회전 아암을 포함하고, 상기 제2 축을 중심으로 회전하여 상기 제1 회전 구동부를 회전시키는 제2 회전 블록; 상기 회전 아암에 형성된 제1 힌지 홀에 회전 가능하게 연결되고, 상기 제2 회전 블록이 상기 제2 축을 중심으로 회전할 때에 상기 제2 회전 블록의 회전을 지지하는 적어도 하나의 회전 지지부; 및 상기 회전 아암에 형성된 제2 힌지 홀에 회전 가능하게 연결되고, 상기 제2 회전 블록을 회전 구동시키기 위한 직선 구동력을 제공하는 제2 구동력 제공부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치에 따르면, 피시험체에 대한 전자파 내성 시험을 수행하는 동안 송신 안테나로부터 방사되는 전자파의 전계 강도 및 피시험체와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나에서 실제 측정되는 전자파의 전계 강도를 비교하여 송신 안테나에 인가되는 전원을 제어하거나 피시험체 및 송신 안테나의 위치를 조절함으로써, 피시험체에 대한 전자파 내성 시험을 수행하는 동안 피시험체가 배치된 영역에 형성된 전계 강도를 균일하게 유지할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치에 따르면, 송신 안테나로부터 방사되는 전자파의 전계 강도 및 피시험체와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나에서 실제 측정되는 전자파의 전계 강도에 따라 피시험체를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시켜 송신 안테나에 대한 피시험체의 상대적인 위치를 조절함으로써, 피시험체에 조사되는 전자파의 전계 강도가 균일하게 할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치에 따르면, 송신 안테나로부터 방사되는 전자파의 전계 강도 및 피시험체와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나에서 실제 측정되는 전자파의 전계 강도에 따라 송신 안테나를 2 축 중심으로 회전 구동시켜 피시험체에 대한 전자파의 방사 방향을 조절함으로써, 피시험체에 조사되는 전자파의 전계 강도가 균일하게 할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치에 따르면, 송신 안테나로부터 방사되는 전자파의 전계 강도 및 피시험체와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나에서 실제 측정되는 전자파의 전계 강도에 따라 피시험체와 송신 안테나의 상대적인 위치 및 방향을 서로 조절함으로써, 피시험체에 조사되는 전자파의 전계 강도가 균일하게 할 수 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 구조를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 피시험체 지지부의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 피시험체 지지부의 구조를 나타내는 분해 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 피시험체 지지부의 구조를 나타내는 평면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 피시험체 지지부를 구성하는 제1 수평 이동 안내부의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 피시험체 지지부를 구성하는 제2 수평 이동 안내부 및 수평 구동부의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 전자파 송신부의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 전자파 송신부의 구조를 나타내는 분해 사시도다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 송신 안테나 구동부를 구성하는 제1 회전 구동부의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 송신 안테나 구동부를 구성하는 제2 회전 구동부의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 11 및 도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 송신 안테나 구동부를 구성하는 제2 회전 구동부의 구조를 나타내는 분해 사시도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 전자파 송신부를 구성하는 송신 안테나 구동부의 다른 예를 나타내는 사시도이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 전자파 송신부를 구성하는 송신 안테나 구동부의 또 다른 예를 나타내는 사시도이다.
이하, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
실시예를 설명함에 있어서 본 발명이 속하는 기술 분야에 익히 알려져 있고 본 발명과 직접적으로 관련이 없는 기술 내용에 대해서는 설명을 생략한다. 이는 불필요한 설명을 생략함으로써 본 발명의 요지를 흐리지 않고 더욱 명확히 전달하기 위함이다.
마찬가지 이유로 첨부 도면에 있어서 일부 구성요소는 과장되거나 생략되거나 개략적으로 도시되었다. 또한, 각 구성요소의 크기는 실제 크기를 전적으로 반영하는 것이 아니다. 각 도면에서 동일한 또는 대응하는 구성요소에는 동일한 참조 번호를 부여하였다.
또한, 장치 또는 요소 방향(예를 들어 "전(front)", "후(back)", "위(up)", "아래(down)", "상(top)", "하(bottom)", "좌(left)", "우(right)", "횡(lateral)")등과 같은 용어들에 관하여 본원에 사용된 표현 및 술어는 단지 본 발명의 설명을 단순화하기 위해 사용되고, 관련된 장치 또는 요소가 단순히 특정 방향을 가져야 함을 나타내거나 의미하지 않는다는 것을 알 수 있을 것이다.
이하, 본 발명의 일 실시예에 의하여 전자파 내성 시험 장치를 설명하기 위한 도면들을 참고하여 본 발명에 대해 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 구조를 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)는 피시험체 지지부(100), 전자파 송신부(200), 전자파 수신부(300) 및 제어부(400)를 포함하여 구성될 수 있다.
피시험체 지지부(100)는 피시험체(E)를 지지하는 고정 플레이트(110)와, 고정 플레이트(110)를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시키는 고정 플레이트 구동부(120)를 포함할 수 있다. 피시험체 지지부(100)의 구체적인 구조에 대해서는 도 2 내지 도 6을 참조하여 자세히 후술하기로 한다.
전자파 송신부(200)는 피시험체(E)를 향해 피시험체(E)에 대한 내성 시험에 필요한 제1 전계 강도에 대응하는 전자파를 방사하는 적어도 하나의 송신 안테나(210)와, 적어도 하나의 송신 안테나(210) 각각을 회전 구동시키는 적어도 하나의 송신 안테나 구동부(220, 230)로 구성될 수 있다. 송신 안테나(210)는 피시험체(E)에 대한 내성 시험에 필요한 전계 강도가 설정된 후, 이에 해당하는 주파수의 전자파를 방사할 수 있도록 전원이 입력될 수 있다.
도 1에서는 1 개의 송신 안테나(210)가 전자파 잔향실(10)의 일측에 설치된 예를 도시하고 있으나, 이는 예시적인 것으로서, 송신 안테나(210)의 개수, 설치 위치 및 배치 형태 등은 당업자에 의해 얼마든지 변경 가능하다. 전자파 송신부(200)의 구체적인 구조에 대해서는 도 7 내지 도 13을 참조하여 자세히 후술하기로 한다.
전자파 수신부(300)는 피시험체(E)와 인접한 위치에 설치되며, 적어도 하나의 송신 안테나(210)로부터 전자파를 수신하는 복수의 수신 안테나(310)를 포함할 수 있다. 복수의 수신 안테나(310)는 각각 배치된 위치에서 송신 안테나(210)로부터 수신된 전자파에서 실제 측정되는 전계 강도인 제2 전계 강도를 측정할 수 있다.
바람직하게는, 복수의 수신 안테나(310)는 피시험체(E)를 지지하는 고정 플레이트(110)에 설치될 수 있다. 따라서, 복수의 수신 안테나(310)는 고정 플레이트 구동부(120)에 의해 회전 또는 왕복 이동되는 고정 플레이트(110) 및 피시험체(E)와 함께 이동하여 피시험체(E)의 이동에 따른 전계 강도의 변화량을 정확하게 측정할 수 있다.
도 1에서는 피시험체(E)를 감싸는 영역에 4 개의 수신 안테나(310)가 피시험체(E)를 중심으로 방사상으로 설치된 예를 도시하고 있으나, 이는 예시적인 것으로서, 수신 안테나(310)의 개수, 설치 위치 및 배치 형태 등은 당업자에 의해 얼마든지 변경 가능하다. 또한, 비록 도시되지는 않았으나, 전자파 수신부(300)는 복수의 수신 안테나(310) 각각을 이동 또는 회전 구동시키기 위한 수신 안테나 구동부(도시되지 않음)를 구비할 수도 있다.
제어부(400)는 피시험체 지지부(100), 전자파 송신부(200) 및 전자파 수신부(300)에 연결되며, 제1 전계 강도 및 복수의 수신 안테나(310) 각각에서 실제 측정된 복수의 제2 전계 강도 각각을 비교한 결과에 따라, 고정 플레이트 구동부(120), 적어도 하나의 송신 안테나(210) 및 적어도 하나의 송신 안테나 구동부(220, 230) 중 적어도 하나를 제어할 수 있다.
즉, 제어부(400)는 복수의 제2 전계 강도 각각과 제1 전계 강도의 차이가 미리 설정된 기준 값보다 큰 경우, 복수의 제2 전계 강도 각각과 제1 전계 강도의 차이가 기준 값보다 적어질 때까지 적어도 하나의 송신 안테나(210) 각각에 인가되는 전원을 제어하거나, 피시험체(E)의 위치를 조절하도록 고정 플레이트 구동부(120)를 제어하거나, 적어도 하나의 송신 안테나(210)의 방향을 조절하도록 적어도 하나의 송신 안테나 구동부(220, 230)를 제어할 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)는 피시험체(E)에 대한 전자파 내성 시험을 수행하는 동안 송신 안테나(210)로부터 방사되는 전자파의 제1 전계 강도 및 피시험체(E)와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나(310)에서 실제 측정되는 전자파의 제2 전계 강도를 비교하여 송신 안테나(210)에 인가되는 전원을 제어하거나 피시험체(E) 및 송신 안테나(210)의 위치를 조절함으로써, 피시험체(E)에 대한 전자파 내성 시험을 수행하는 동안 피시험체(E)가 배치된 영역에 형성된 전계 강도를 균일하게 유지할 수 있다.
한편, 비록 도시되지는 않았으나, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)는 피시험체(E)에 연결되며, 피시험체(E)에 동작 신호를 입력하는 신호 입력부 및 피시험체(E)로부터 출력되는 신호 또는 데이터를 수집하는 신호 수집부로 구성된 피시험체(E) 검사부를 포함할 수 있다. 즉, 피시험체(E) 검사부는 피시험체(E)에 전자파 내성 시험을 위한 전자파가 주사되는 동안 피시험체(E)의 동작을 확인하기 위한 동작 신호를 입력하고, 전자파에 의한 피시험체(E)의 동작 상태를 모니터링 하여 피시험체(E)의 내성 성능을 평가할 수 있다.
이하, 도 2 내지 도 6을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)를 구성하는 피시험체 지지부(100)의 구조에 대해 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 피시험체 지지부의 구조를 나타내는 사시도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 피시험체 지지부의 구조를 나타내는 분해 사시도이며, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 피시험체 지지부의 구조를 나타내는 평면도이다.
도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 피시험체 지지부(100)는 고정 플레이트(110), 고정 플레이트 구동부(120) 및 베이스 플레이트(130)를 포함하여 구성될 수 있다.
고정 플레이트(110)는 얇은 판상의 형상을 가지고 상부면에 피시험체(E)를 고정하여 지지할 수 있다. 비록 도시되지는 않았으나, 고정 플레이트(110)는 상부면에 피시험체(E)를 고정하기 위한 지그(JIG)가 구비될 수 있다.
또한, 고정 플레이트 구동부(120)는 고정 플레이트(110)의 하부에 연결되며, 고정 플레이트(110)를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시킬 수 있다. 또한, 베이스 플레이트(130)는 고정 플레이트(110)의 하부로부터 이격되어 고정 플레이트(110)와 평행하게 배치되며 상부면에 고정 플레이트 구동부(120)가 고정 결합될 수 있다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 고정 플레이트 구동부(120)는 제1 수평 이동 안내부(121), 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부(122) 및 적어도 하나의 수평 구동부(123)를 포함하여 구성될 수 있다.
제1 수평 이동 안내부(121)는 고정 플레이트(110)에 형성된 제1 고정홀(111)에 결합될 수 있다. 제1 고정홀(111)은 고정 플레이트(110)가 회전 또는 왕복 이동할 때에 기준 위치가 되며, 제1 고정홀(111)에 결합되는 제1 수평 이동 안내부(121)는 고정 플레이트(110)가 이동할 때에 제1 고정홀(111)의 위치 변화에 대응하여 고정 플레이트(110)의 이동을 안내할 수 있다.
제2 수평 이동 안내부(122)는 제1 고정홀(111)로부터 이격되도록 고정 플레이트(110)에 형성된 제2 고정홀(112)에 결합될 수 있다. 제2 고정홀(112)은 고정 플레이트(110)가 이동할 때에 이동 위치가 되며, 제2 고정홀(112)에 결합되는 제2 수평 이동 안내부(122)는 후술할 수평 구동부(123)에서 제공되는 구동력을 제2 고정홀(112)을 통해 고정 플레이트(110)에 전달하는 역할은 물론, 고정 플레이트(110)가 이동할 때에 제2 고정홀(112)의 위치 변화에 대응하여 고정 플레이트(110)의 이동을 안내할 수 있다.
수평 구동부(123)는 제2 수평 이동 안내부(122)에 연결되며, 제2 수평 이동 안내부(122)를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시키는 구동력을 제공할 수 있다. 제2 수평 이동 안내부(122)에 결합되는 수평 구동부(123)는 적어도 하나 이상이 구비될 수 있으나, 제2 수평 이동 안내부(122)의 개수와 동일한 개수만큼 구비되는 것이 바람직하다.
이와 같이, 제2 수평 이동 안내부(122)는 수평 구동부(123)로부터 제공된 구동력에 의해 고정 플레이트(110)를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시킬 수 있다. 또한, 제1 수평 이동 안내부(121)와 제2 수평 이동 안내부(122)는 고정 플레이트(110)가 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동할 때에 고정 플레이트(110)의 회전 또는 왕복 이동을 안내할 수 있다.
도 3 및 도 4에서는 1 개의 제1 수평 이동 안내부(121)와 3 개의 제2 수평 이동 안내부(122)가 베이스 플레이트(130)의 4 개의 모서리 부분에 설치된 예를 도시하고 있으나, 이는 예시적인 것으로서, 제2 수평 이동 안내부(122)의 개수, 설치 위치 및 배치 형태 등은 당업자에 의해 얼마든지 변경 가능하다.
한편, 제1 수평 이동 안내부(121)와 제2 수평 이동 안내부(122)는 실질적으로 동일한 구조를 가질 수 있다. 이하 도 5 및 도 6을 참조하여 제1 수평 이동 안내부(121), 제2 수평 이동 안내부(122) 및 수평 구동부(123)의 구조를 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 피시험체 지지부를 구성하는 제1 수평 이동 안내부의 구조를 나타내는 사시도이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 피시험체 지지부를 구성하는 제2 수평 이동 안내부 및 수평 구동부의 구조를 나타내는 사시도이다.
먼저, 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 수평 이동 안내부(121)는 회전 이동 안내부(121a), 제1 왕복 이동 안내부(121b), 제2 왕복 이동 안내부(121c) 및 안내 고정부(121d)를 포함하여 구성될 수 있다.
회전 이동 안내부(121a)는 고정 플레이트(110)에 형성된 제1 고정홀(111)에 회전 가능하게 삽입될 수 있다. 이러한 회전 이동 안내부(121a)는 제1 수평 이동 안내부(121)의 최상단에 위치하여 고정 플레이트(110)에 직접 결합될 수 있다. 회전 이동 안내부(121a)는 제1 고정홀(111)에 삽입되는 부분과 제1 왕복 이동 안내부(121b)와 결합되는 부분으로 이루어지며, 이 두 부분은 서로 동일한 축을 중심으로 따로 회전할 수 있다.
제1 왕복 이동 안내부(121b)는 회전 이동 안내부(121a)의 하단에 결합되며, 회전 이동 안내부(121a)가 회전할 때에 회전 이동 안내부(121a)의 제1 방향(예를 들어, 도 5에서는 +Y, -Y 방향)의 왕복 이동을 안내할 수 있다.
또한, 제2 왕복 이동 안내부(121c)는 제1 왕복 이동 안내부(121b)의 하단에 결합되며, 회전 이동 안내부(121a)와 제1 왕복 이동 안내부(121b)가 이동할 때에 제1 왕복 이동 안내부(121b)의 제2 방향(예를 들어, 도 5에서는 +X, -X 방향)의 왕복 이동을 안내할 수 있다.
이 때, 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 방향과 제2 방향은 서로 수직하는 것이 바람직하며, 제1 왕복 이동 안내부(121b)와 제2 왕복 이동 안내부(121c)는 직선 왕복 운동을 안내하기 위한 리니어 모션 가이드(Linear motion guide)를 사용할 수 있다.
마지막으로, 안내 고정부(121d)는 제2 왕복 이동 안내부(121c)의 하단에 결합되며, 제1 수평 이동 안내부(121)의 최하단에 위치하여 베이스 플레이트(130)에 직접 고정될 수 있다.
또한, 도 6에 도시된 바와 같이, 제2 수평 이동 안내부(122)는 회전 이동 안내부(122a), 제1 왕복 이동 안내부(122b), 제2 왕복 이동 안내부(122c) 및 안내 고정부(122d)를 포함하여 구성될 수 있다. 이러한 제2 수평 이동 안내부(122)의 구조는 제1 수평 이동 안내부(121)의 구조와 실질적으로 동일하게 구현될 수 있으므로 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
수평 구동부(123)는 제2 수평 이동 안내부(122)의 일 측에 연결되며, 제2 수평 이동 안내부(122)를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시키는 구동력을 제공할 수 있다.
도 6을 참조하면, 수평 구동부(123)는 회전 구동력을 구동력을 발생시키는 구동 모터(123a), 구동 모터(123a)에서 제공되는 회전 구동력을 직선 구동력으로 변환하는 볼 스크류(Ball screw)와 같은 동력 전달 부재(123b)를 포함하며, 이러한 수평 구동부(123)는 동력 전달 부재(123b)를 통해 제2 수평 이동 안내부(122)의 제2 왕복 이동 안내부(122c)에 연결될 수 있다.
예를 들어, 수평 구동부(123)의 구동 모터(123a)가 회전하여 동력 전달 부재(123b)가 +Y 방향으로 이동하면, 이에 연결된 제2 수평 이동 안내부(122)의 제2 왕복 이동 안내부(122c)도 +Y 방향으로 이동할 수 있다. 그러나, 고정 플레이트(110)의 제2 고정홀(112)에 삽입된 회전 이동 안내부(122a)는 제1 고정홀(111)과 다른 제2 고정홀(112)의 위치에 영향을 받아 동력 전달 부재(123b)의 이동과는 다르게 이동하며, 이는 회전 이동 안내부(122a)의 회전, 제1 왕복 이동 안내부(122b)의 이동(+X, -X 방향), 제2 왕복 이동 안내부(122c)의 이동(+Y, -Y 방향)의 조합에 의해 회전 이동 안내부(122a)의 이동을 안내할 수 있다.
한편, 도 5 및 도 6에 도시된 제1 수평 이동 안내부(121), 제2 수평 이동 안내부(122) 및 수평 구동부(123)의 구조는 예시적인 것으로서, 이에 한정되지 않으며, 당업자에 의해 얼마든지 변경 가능하다.
한편, 비록 도시되지는 않았으나, 피시험체 지지부(100)는 베이스 플레이트(130)에 연결되며, 베이스 플레이트(130)를 수평 또는 수직 방향으로 이동시키거나 회전 구동시키는 베이스 플레이트 구동부(도시되지 않음)를 더 포함할 수도 있다.
이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)에 따르면, 송신 안테나(210)로부터 방사되는 전자파의 제1 전계 강도 및 피시험체(E)와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나(310)에서 실제 측정되는 전자파의 제2 전계 강도에 따라 피시험체(E)를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시켜 송신 안테나(210)에 대한 피시험체(E)의 상대적인 위치를 조절함으로써, 피시험체(E)에 조사되는 전자파의 전계 강도가 균일하게 할 수 있다.
이하, 도 7 내지 도 13을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)를 구성하는 전자파 송신부(200)의 구조에 대해 설명하기로 한다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 전자파 송신부의 구조를 나타내는 사시도이고, 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치를 구성하는 전자파 송신부의 구조를 나타내는 분해 사시도다.
도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이, 전자파 송신부(200)는 송신 안테나(210)와, 송신 안테나(210) 각각을 회전 구동시키는 송신 안테나 구동부(220, 230)로 구성될 수 있다.
송신 안테나(210)는 피시험체(E)에 대한 내성 시험에 필요한 전계 강도가 설정된 후, 이에 해당하는 주파수의 전자파를 방사할 수 있도록 전원이 입력될 수 있다.
또한, 송신 안테나 구동부(220, 230)는 송신 안테나(210)에 연결되며, 송신 안테나(210)를 제1 축(A)을 중심으로 회전시키는 제1 회전 구동부(220)와, 제1 회전 구동부(220)를 제1 축(A)과 수직한 제2 축(B)을 중심으로 회전시키는 제2 회전 구동부(230)를 포함하여 구성될 수 있다. 즉, 송신 안테나 구동부(220, 230)는 제1 회전 구동부(220) 및 제2 회전 구동부(230)에 의해 송신 안테나(210)를 제1 축(A) 및 제2 축(B)을 중심으로 회전시켜 송신 안테나(210)의 전자파 방사 방향을 조절할 수 있다.
따라서, 제어부(400)는 복수의 제2 전계 강도 각각과 제1 전계 강도의 차이가 미리 설정된 기준 값보다 큰 경우, 복수의 제2 전계 강도 각각과 제1 전계 강도의 차이가 기준 값보다 적어질 때까지 제1 회전 구동부(220) 및 제2 회전 구동부(230)를 제어할 수 있다. 바람직하게는, 제어부(400)는 송신 안테나(210)가 피시험체(E)를 향하도록 제1 회전 구동부(220) 및 제2 회전 구동부(230)를 제어할 수 있다.
도 7에서는 제1 축(A)이 송신 안테나(210)의 전자파 방사 방향과 일치하고, 제2 축(B)이 송신 안테나(210)의 전자파 방사 방향과 수직한 경우를 도시하고 있으나, 이에 한정되지 않으며, 제1 축(A) 및 제2 축(B)은 당업자에 의해 얼마든지 변경 가능하다.
도 8에 도시된 바와 같이, 제1 회전 구동부(220)는 하우징(221), 제1 회전 블록(222) 및 제1 구동력 제공부(223)를 포함하고, 제2 회전 구동부(230)는 제2 회전 블록(231), 적어도 하나의 회전 지지부(232) 및 제2 구동력 제공부(233)를 포함하여 구성될 수 있다.
이하, 도 9 내지 도 12를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)의 송신 안테나 구동부(220, 230)를 구성하는 제1 회전 구동부(220) 및 제2 회전 구동부(230)의 구체적인 구조를 자세히 설명하기로 한다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 송신 안테나 구동부를 구성하는 제1 회전 구동부의 구조를 나타내는 사시도이다.
도 9에 도시된 바와 같이, 제1 회전 구동부(220)는 하우징(221), 제1 회전 블록(222) 및 제1 구동력 제공부(223)를 포함하여 구성될 수 있다.
하우징(221)은 내부에 수용 공간(221a)이 형성되고 상부가 개구되며, 제1 회전 블록(222)은 상단이 하우징(221)의 개구된 상부를 통해 노출되어 송신 안테나(210)의 하부에 결합되고, 하단은 제1 축(A)을 중심으로 회전 가능하도록 하우징(221)의 수용 공간(221a)에 삽입될 수 있다. 또한, 제1 구동력 제공부(223)는 하우징(221)의 일측을 통해 제1 회전 블록(222)에 연결되며, 제1 회전 블록(222)으로 송신 안테나(210)를 회전 구동시키기 위한 회전 구동력을 제공할 수 있다.
도 9에 도시된 바와 같이, 제1 회전 블록(222)은 대략 원통 형상을 가지고, 상단이 하우징(221)의 개구된 상부를 통해 노출되어 송신 안테나(210)의 하부에 결합되며, 하단이 제1 축(A)을 중심으로 회전 가능하도록 하우징(221)의 수용 공간(221a)에 삽입될 수 있다. 따라서, 제1 회전 블록(222)은 제1 구동력 제공부(223)로부터 회전 구동력을 제공 받아 송신 안테나(210)를 제1 축(A)을 중심으로 회전시킬 수 있다.
한편, 도 9에 도시된 바와 같이, 제1 구동력 제공부(223)는 제1 액츄에이터(223a)와 동력 전달 부재(223b)로 구성될 수 있다. 즉, 제1 액츄에이터(223a)는 하우징(221)의 일측에 설치되어 회전 구동력을 제공하고, 동력 전달 부재(223b)는 제1 액츄에이터(223a)로부터 제공되는 회전 구동력에 의해 제1 회전 블록(222)을 회전시킬 수 있다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 송신 안테나 구동부를 구성하는 제2 회전 구동부의 구조를 나타내는 사시도이고, 도 11 및 도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 송신 안테나 구동부를 구성하는 제2 회전 구동부의 구조를 나타내는 분해 사시도이다.
도 10 내지 도 12에 도시된 바와 같이, 제2 회전 구동부(230)는 제2 회전 블록(231), 적어도 하나의 회전 지지부(232) 및 제2 구동력 제공부(233)를 포함하여 구성될 수 있다.
제2 회전 블록(231)은 제1 회전 구동부(220)의 하부에 결합되며, 제1 축(A)과 수직한 제2 축(B)을 중심으로 회전하여 제1 회전 구동부(220)를 회전시킬 수 있다. 또한, 회전 지지부(232)는 제2 회전 블록(231)에 연결되고, 제2 회전 블록(231)이 제2 축(B)을 중심으로 회전할 때에 제2 회전 블록(231)의 회전을 지지할 수 있다.
도 11 및 도 12에 도시된 바와 같이, 제2 회전 블록(231)은 상단에 제1 회전 구동부(220)의 하부가 결합되는 판상 형태의 고정판(231a)과, 고정판(231a)의 일측으로부터 하부 방향으로 돌출 연장되는 회전 아암(231b)으로 구성되며, 제2 축(B)을 중심으로 회전하여 제1 회전 구동부(220)를 회전시킬 수 있다.
회전 아암(231b)의 중앙부에는 회전 지지부(232)가 제2 축(B)을 따라 회전 가능하게 연결되는 제1 힌지 홀(231c)이 형성될 수 있다. 또한, 회전 아암(231b)의 끝단에는 직선 구동력을 제공하는 제2 구동력 제공부(233)가 회전 가능하게 연결되는 제2 힌지 홀(231d)이 형성될 수 있다.
도 12에 도시된 바와 같이, 회전 지지부(232)는 회전 아암(231b)에 형성된 제1 힌지 홀(231c)에 회전 가능하게 연결되고, 제2 회전 블록(231)이 제2 축(B)을 중심으로 회전할 때에 제2 회전 블록(231)의 회전을 지지힐 수 있다.
회전 지지부(232)는 제2 회전 블록(231)의 회전 아암(231b)에 형성된 제1 힌지 홀(231c)에 삽입되는 샤프트(232a), 샤프트(232a)가 삽입되며 샤프트(232a)의 회전을 지지하는 베어링(232b) 및 제2 회전 블록(231)의 회전 아암(231b)에 인접하게 배치되고, 베어링(232b)가 삽입 고정되는 서포트 블록(232c)을 포함하여 구성될 수 있다. 도 11 및 도 12에서는 제2 회전 블록(231)의 양측에 2 개의 회전 지지부(232)가 배치된 예를 도시하고 있으나, 이에 한정되지 않으며, 제2 회전 블록(231)의 일측에 1 개의 회전 지지부(232)만 설치될 수도 있다.
한편, 제2 구동력 제공부(233)는 회전 아암(231b)에 형성된 제2 힌지 홀(231d)에 회전 가능하게 연결되고, 제2 회전 블록(231)을 회전 구동시키기 위한 직선 구동력을 제공할 수 있다.
도 11에 도시된 바와 같이, 제2 구동력 제공부(233)는, 제2 회전 블록(231)과 인접하게 배치되며, 회전 구동력을 제공하는 제2 액츄에이터(233a), 제2 액츄에이터(233a)의 구동 축에 연결되며, 제2 액츄에이터(233a)로부터 제공되는 회전 구동력을 직선 구동력으로 변환하여 전달하는 구동력 전달부(233b), 구동력 전달부(233b)로부터 제공되는 직선 구동력에 의해 제2 회전 블록(231)의 하부에서 왕복 이동하는 이동 블록(233c)을 포함하여 구성될 수 있다.
도 11에 도시된 바와 같이, 제2 액츄에이터(233a)는 스테핑 모터(Stepping Motor)를 사용할 수 있고, 구동력 전달부(233b)는 제2 액츄에이터(233a)의 구동 축에 연결되어 회전 구동력을 전달 받아 직선 구동력으로 변환하는 볼 스크류(Ball screw) 조립체를 사용할 수 있다.
도 11에 도시된 바와 같이, 이동 블록(233c)은 일측이 구동력 전달부(233b)에 연결되고, 타측이 제2 힌지 홀(231d)에 회전 가능하게 연결되며, 구동력 전달부(233b)로부터 제공되는 직선 구동력에 의해 제2 회전 블록(231)의 하부에서 왕복 이동할 때에 제2 회전 아암(231b)을 회전시킬 수 있다.
이러한 이동 블록(233c)은 제2 회전 블록(231)의 하부에서 볼 스크류 조립체(233b)에 결합되어 볼 스크류 조립체(233b)의 직선 구동력에 의해 볼 스크류 조립체(233b)의 회전 축 방향으로 왕복 이동할 수있다.
한편, 제2 구동력 제공부(233)는, 일단이 제2 힌지 홀(231d)에 회전 가능하게 연결되고, 타단이 이동 블록(233c)의 일측에 회전 가능하게 연결되며, 이동 블록(233c)의 왕복 이동에 따라 이동 블록(233c)의 이동 방향 및 이동 방향에 수직한 방향으로 왕복 이동하며 회전하는 회전 샤프트(233d)와, 제2 회전 블록(231)을 향하도록 이동 블록(233c)의 일측에 결합되며, 회전 샤프트(233d)가 이동 블록(233c)의 이동 방향에 수직한 방향으로 왕복 이동할 때에 회전 샤프트(233d)의 왕복 이동을 안내하는 리니어 가이드(Linear guide)(233e)를 더 포함할 수 있다.
도 12에 도시된 바와 같이, 회전 샤프트(233d)는 일단이 볼 베어링(233f)에 삽입된 상태로 회전 아암(231b)의 끝단에 형성된 제2 힌지 홀(231d)에 회전 가능하게 연결되고, 타단이 샤프트 고정 블록(233g)에 삽입된 상태로 리니어 가이드(233e)에 결합될 수 있다. 또한, 리니어 가이드(233e)는 이동 블록(233c)의 제2 회전 블록(231)을 향하는 일측에 결합될 수 있다. 도 12에서는 리니어 가이드(233e)가 가이드 고정 블록(233h)을 통해 이동 블록(233c)에 결합된 예를 도시하고 있으나, 필요에 따라, 리니어 가이드(233e)는 직접 이동 블록(233c)에 결합될 수도 있다.
한편, 도 13 및 도 14에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)의 전자파 송신부(200)를 구성하는 송신 안테나(210) 구조부의 변형 예를 나타내고 있다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 전자파 송신부를 구성하는 송신 안테나 구동부의 다른 예를 나타내는 사시도이고, 도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치의 전자파 송신부를 구성하는 송신 안테나 구동부의 또 다른 예를 나타내는 사시도이다.
설명의 편의상, 도 13 및 도 14에서는 제1 회전 구동부(220) 및 제2 회전 구동부(230)의 구체적인 구조는 생략하며, 송신 안테나(210)의 방향을 제어하기 위한 제1 축(A) 및 제2 축(B)을 중심으로 설명하기로 한다.
먼저, 도 13의 (a)에서는 송신 안테나 구동부(220, 230)의 제1 변형예에 따른 제1 회전 구동부(220) 및 제2 회전 구동부(230)의 구조를 나타내고, 도 13의 (b)에서는 도 13의 (a)에 도시된 전자파 송신부(200)에서 송신 안테나(210)의 방향을 조절하는 모습을 나타내고 있다. 도 13에 도시된 제1 변형예는, 도 7에 도시된 실시예와는 달리, 제1 축(A)과 제2 축(B)이 모두 송신 안테나(210)의 전자파 방사 방향과 수직한 경우를 도시하고 있다.
또한, 도 14의 (a)에서는 송신 안테나 구동부(220, 230)의 제2 변형예에 따른 제1 회전 구동부(220) 및 제2 회전 구동부(230)의 구조를 나타내고, 도 14의 (b)에서는 도 14의 (a)에 도시된 전자파 송신부(200)에서 송신 안테나(210)의 방향을 조절하는 모습을 나타내고 있다. 도 14에 도시된 제2 변형예는, 도 7에 도시된 실시예와는 달리, 제1 축(A)이 송신 안테나(210)의 전자파 방사 방향과 수직하고, 제2 축(B)이 송신 안테나(210)의 전자파 방사 방향과 일치하는 경우를 도시하고 있다.
이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)는 송신 안테나(210)로부터 방사되는 전자파의 제1 전계 강도 및 피시험체(E)와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나(310)에서 실제 측정된 전자파의 제2 전계 강도에 따라 송신 안테나(210)를 2 축 중심으로 회전 구동시켜 피시험체(E)에 대한 전자파의 방사 방향을 조절함으로써, 피시험체(E)에 조사되는 전자파의 전계 강도가 균일하게 할 수 있다.
또한, 필요에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 내성 시험 장치(1)는 송신 안테나(210)로부터 방사되는 전자파의 제1 전계 강도 및 피시험체(E)와 인접한 복수의 위치에 배치된 수신 안테나(310)에서 실제 측정된 전자파의 제2 전계 강도에 따라 피시험체(E)와 송신 안테나(210)의 상대적인 위치 및 방향을 서로 조절함으로써, 피시험체(E)에 조사되는 전자파의 전계 강도가 균일하게 할 수 있다.
한편, 본 명세서와 도면에는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 개시하였으며, 비록 특정 용어들이 사용되었으나, 이는 단지 본 발명의 기술 내용을 쉽게 설명하고 발명의 이해를 돕기 위한 일반적인 의미에서 사용된 것이지, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1: 전자파 내성 시험 장치
100: 피시험체 지지부 110: 고정 플레이트
120: 고정 플레이트 구동부 121: 제1 수평 이동 안내부
122: 제2 수평 이동 안내부 123: 수평 구동부
130: 베이스 플레이트 200: 전자파 송신부
210: 송신 안테나 220: 송신 안테나 구동부
221: 제1 회전 구동부 222: 제2 회전 구동부
300: 전자파 수신부 310: 수신 안테나
400: 제어부

Claims (8)

  1. 피시험체를 지지하는 고정 플레이트와, 상기 고정 플레이트를 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동시키는 고정 플레이트 구동부를 포함하는 피시험체 지지부;
    상기 피시험체를 향해 상기 피시험체에 대한 내성 시험에 필요한 제1 전계 강도에 대응하는 전자파를 방사하는 적어도 하나의 송신 안테나와, 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각을 회전 구동시키는 적어도 하나의 송신 안테나 구동부를 포함하는 전자파 송신부;
    상기 피시험체를 감싸는 영역에서 상기 피시험체를 중심으로 방사상으로 배치되도록 상기 고정 플레이트에 설치되며, 상기 적어도 하나의 송신 안테나로부터 수신된 전자파에서 실제 측정되는 전계 강도인 제2 전계 강도를 측정하는 복수의 수신 안테나를 포함하는 전자파 수신부; 및
    상기 피시험체 지지부, 상기 전자파 송신부 및 상기 전자파 수신부에 연결되며, 상기 제1 전계 강도 및 상기 복수의 수신 안테나 각각에서 실제 측정된 복수의 제2 전계 강도 각각을 비교한 결과에 따라, 상기 복수의 제2 전계 강도 각각과 상기 제1 전계 강도의 차이가 미리 설정된 기준 값보다 큰 경우, 상기 복수의 제2 전계 강도 각각과 상기 제1 전계 강도의 차이가 상기 기준 값보다 적어질 때까지 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각에 인가되는 전원을 제어하는 제1 제어, 상기 적어도 하나의 송신 안테나의 방향을 조절하도록 상기 적어도 하나의 송신 안테나 구동부를 제어하는 제2 제어, 상기 피시험체의 위치를 조절하도록 상기 고정 플레이트 구동부를 제어하는 제3 제어 중 적어도 하나를 수행하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 내성 시험 장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 고정 플레이트 구동부는,
    상기 고정 플레이트에 형성된 제1 고정홀에 결합되는 제1 수평 이동 안내부;
    상기 제1 고정홀로부터 이격되도록 상기 고정 플레이트에 형성된 적어도 하나의 제2 고정홀에 결합되는 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부; 및
    상기 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부 각각에 연결되며, 상기 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부 각각을 수평 방향으로 회전 또는 왕복 구동시키는 적어도 하나의 수평 구동부를 포함하며,
    상기 제1 수평 이동 안내부 및 상기 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부는, 상기 고정 플레이트가 상기 적어도 하나의 수평 구동부에 의해 수평 방향으로 회전 또는 왕복 이동할 때에 상기 고정 플레이트의 이동을 안내하는 것을 특징으로 하는 전자파 내성 시험 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제1 수평 이동 안내부 및 상기 적어도 하나의 제2 수평 이동 안내부는 각각,
    상기 제1 고정홀 또는 상기 적어도 하나의 제2 고정홀에 회전 가능하게 삽입되는 회전 이동 안내부;
    상기 회전 이동 안내부에 결합되며, 상기 회전 이동 안내부가 회전할 때에 상기 회전 이동 안내부의 제1 방향의 왕복 이동을 안내하는 제1 왕복 이동 안내부;
    상기 제1 왕복 이동 안내부에 결합되며, 상기 회전 이동 안내부와 상기 제1 왕복 이동 안내부가 이동할 때에 상기 제1 왕복 이동 안내부의 제2 방향의 왕복 이동을 안내하는 제2 왕복 이동 안내부; 및
    상기 제2 왕복 이동 안내부에 결합되며, 상기 고정 플레이트로부터 이격된 베이스 플레이트에 고정되는 안내 고정부를 포함 하는 것을 특징으로 하는 전자파 내성 시험 장치.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 송신 안테나 구동부는 각각,
    상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각에 연결되며, 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각을 제1 축을 중심으로 회전시키는 제1 회전 구동부; 및
    상기 제1 회전 구동부에 연결되며, 상기 제1 회전 구동부를 상기 제1 축과 수직한 제2 축을 중심으로 회전시키는 제2 회전 구동부를 포함하며,
    상기 제어부는,
    상기 적어도 하나의 송신 안테나가 상기 피시험체를 향하도록 상기 제1 회전 구동부 및 상기 제2 회전 구동부를 제어하는 것을 특징으로 하는 전자파 내성 시험 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 제1 회전 구동부는,
    내부에 수용 공간이 형성되고 상부가 개구된 하우징;
    상단은 상기 하우징의 개구된 상부를 통해 노출되어 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각의 하부에 결합되고, 하단은 상기 제1 축을 중심으로 회전 가능하도록 상기 수용 공간에 삽입되는 제1 회전 블록; 및
    상기 하우징의 일측을 통해 상기 제1 회전 블록에 연결되며, 상기 제1 회전 블록으로 상기 적어도 하나의 송신 안테나 각각을 회전 구동시키기 위한 회전 구동력을 제공하는 제1 구동력 제공부를 포함하고,
    상기 제2 회전 구동부는,
    상기 제1 회전 구동부의 하부가 결합되는 고정판과, 상기 고정판의 일측으로부터 하부 방향으로 돌출 연장되도록 형성된 회전 아암을 포함하고, 상기 제2 축을 중심으로 회전하여 상기 제1 회전 구동부를 회전시키는 제2 회전 블록;
    상기 회전 아암에 형성된 제1 힌지 홀에 회전 가능하게 연결되고, 상기 제2 회전 블록이 상기 제2 축을 중심으로 회전할 때에 상기 제2 회전 블록의 회전을 지지하는 적어도 하나의 회전 지지부; 및
    상기 회전 아암에 형성된 제2 힌지 홀에 회전 가능하게 연결되고, 상기 제2 회전 블록을 회전 구동시키기 위한 직선 구동력을 제공하는 제2 구동력 제공부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 내성 시험 장치.
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