JP7451975B2 - 電磁波測定装置、及び電磁波測定方法 - Google Patents

電磁波測定装置、及び電磁波測定方法 Download PDF

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Description

本発明は、電磁波測定装置、及び電磁波測定方法に関する。
電子機器から放射される電磁波の測定において反射箱を用いる方法についての研究、開発が行われている。
これに関し、筐体と、電磁攪拌器と、筐体内の所定の有効空間外に配置された送信アンテナと、有効空間内に配置された受信アンテナとを備える反射箱を用いる電磁波測定方法であって、有効空間内に配置された電子機器から放射される電磁波に関する測定を行う電磁波測定方法が知られている（非特許文献１参照）。なお、有効空間は、電磁攪拌器による電磁波の攪拌によって電界強度が均一になる空間のことである。また、当該電磁波に関する測定は、例えば、当該電子機器の放射電力の測定、当該電磁波の強度の測定等のことである。
Nico van Dijk, New concepts for EMC standards applicable to multimedia products, The Kingdom of the Netherlands, "Technische Universiteit Eindhoven", DOI: 10.6100/IR628317, 01/01/2007.
ここで、非特許文献１に記載された電磁波測定方法では、有効空間内の体積のうち受信アンテナにより占有される体積が小さいほど、より大きな電子機器を有効空間内に配置することができる。より大きな電子機器を有効空間内に配置することができることは、電磁波に関する測定を行う対象となる電子機器の種類を増やすことができるため、当該電磁波測定方法において望ましいことである。しかしながら、電子機器から放射される電磁波の強度は、送信アンテナから放射される電磁波の強度と比べて微弱であることが多い。当該電磁波測定方法では、電子機器から放射される電磁波の強度が微弱であるほど、受信アンテナの感度を高くする必要がある。その結果、当該電磁波測定方法では、受信アンテナの大きさを大きくしなければならない場合があった。すなわち、当該電磁波測定方法では、有効空間内の体積のうち受信アンテナにより占有される体積を小さくすることが困難な場合があった。
本発明は、このような事情を考慮してなされたもので、有効空間内の体積のうちアンテナにより占有される体積を小さくすることができる電磁波測定装置、及び電磁波測定方法を提供することを課題とする。
本発明の一態様は、筐体と、取得した電気信号に応じた電磁波を放射する第１アンテナと、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第２アンテナと、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第３アンテナと、前記筐体内の電磁波を攪拌する電磁攪拌器と、を備え、前記第１アンテナ及び前記第３アンテナは、前記筐体内において、前記筐体内における所定の有効空間外に設置されており、前記第２アンテナは、前記筐体内において、前記有効空間内に設置されている、電磁波測定装置である。
本発明によれば、有効空間内の体積のうちアンテナにより占有される体積を小さくすることができる。
実施形態に係る電磁波測定装置１の構成の一例を示す図である。 電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐの放射電力の測定を行う方法の流れの一例を示す図である。 基準状態の有効空間ＷＶ内に電界プローブＰＢが配置された場合の電磁波測定装置１の一例を示す図である。 基準状態の有効空間ＷＶ内に電子機器Ｐが配置された場合の電磁波測定装置１の一例を示す図である。 電磁波測定系Ｘの等価回路の一例を示す図である。 筐体１１内における空間の電波伝搬の特性がチャンバーゲインＧｃによって表される場合における電磁波測定系Ｘの等価回路の一例を示す図である。 筐体１１内における空間の電波伝搬の特性がチャンバーゲインＧｃによって表される場合における電磁波測定系Ｘの等価回路の他の例を示す図である。 図４に示した電磁波測定系の等価回路の一例を示す図である。 実施形態の変形例に係る電磁波測定装置１の構成の一例を示す図である。
＜実施形態＞
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。なお、以下では、説明の便宜上、ある電界ＥＦ１の電界強度を検出することを、電界ＥＦ１を検出すると称して説明する。また、以下では、説明の便宜上、検出した当該電界強度のことを、検出した電界ＥＦ１と称して説明する。また、以下では、ある物理量の測定は、当該物理量の検出、又は、当該物理量の算出のことを意味する。
＜反射箱の構成＞
まず、図１を参照し、実施形態に係る電磁波測定装置１の構成について説明する。図１は、実施形態に係る電磁波測定装置１の構成の一例を示す図である。
電磁波測定装置１は、例えば、電磁波測定装置１の筐体１１と、電磁攪拌器１２と、第１アンテナＡ１と、第２アンテナＡ２を備える。なお、電磁波測定装置１は、筐体１１と電磁攪拌器１２と第１アンテナＡ１と第２アンテナＡ２とに加えて、他の装置、他の部材等を備える構成であってもよい。
電磁波測定装置１は、例えば、反射箱である。電磁波測定装置１は、筐体１１内に配置した電磁波源から放射される電磁波に関する測定に用いられる装置である。当該測定の一例としては、例えば、筐体１１内に電磁波源として配置した電子機器の放射電力の測定、当該電子機器により放射される放射妨害波の強度の測定等が挙げられる。以下では、一例として、筐体１１内に配置される電磁波源が、電子機器Ｐである場合について説明する。なお、電子機器Ｐは、図１において図示されておらず、図４において図示されている。筐体１１内に配置される電磁波源（例えば、電子機器Ｐ）は、被測定物の一例である。
筐体１１は、電磁波測定装置１が備える各部材を収容する容器である。また、筐体１１内には、電子機器Ｐも配置される。
電磁攪拌器１２は、筐体１１内の電磁波を攪拌する。これにより、電磁攪拌器１２は、筐体内１１における所定の有効空間ＷＶ内の電界の電界強度を均一にする。ここで、有効空間ＷＶは、筐体１１内の空間のうちの一部の空間である。また、有効空間ＷＶは、電磁攪拌器１２による電磁波の攪拌によって電界の電界強度が均一になる空間のことである。換言すると、有効空間ＷＶは、電磁攪拌器１２による電磁波の攪拌によって電界の電界強度のばらつきを示す量が所定量未満となる空間のことである。有効空間ＷＶ内の電界の電界強度を均一にするための電磁攪拌器１２による電磁波の攪拌方法については、既知の方法であってもよく、これから開発される方法であってもよい。また、電磁攪拌器１２の形状は、有効空間ＷＶ内の電磁波を攪拌し、有効空間ＷＶ内の電界の電界強度を均一にすることが可能な形状であれば、如何なる形状であってもよい。
第１アンテナＡ１は、入力された電気信号に応じた電磁波を放射するアンテナである。また、第１アンテナＡ１は、可逆性を有するアンテナである。このため、第１アンテナＡ１は、電界を検出し、検出した電界に応じた電圧を出力するアンテナとしても用いることができる。そこで、実施形態では、第１アンテナＡ１は、電界を検出し、検出した電界に応じた電圧を出力するアンテナとしても用いられる。すなわち、実施形態では、第１アンテナＡ１は、可逆性を有し、電磁波の放射と電界の検出との両方に用いられるアンテナである。なお、第１アンテナＡ１は、電磁波の放射にのみ用いられるアンテナであってもよい。この場合、電磁波測定装置１は更に、第３アンテナを備える。第３アンテナは、電界の検出にのみ用いられるアンテナのことである。電磁波測定装置１が第３アンテナを備える場合についての詳細は、実施形態の変形例において説明する。
第１アンテナＡ１は、筐体１１内において、有効空間ＷＶ外に設置される。ここで、図１に示した例では、第１アンテナＡ１は、情報処理装置２と接続されている。このため、当該例では、第１アンテナＡ１は、情報処理装置２から電気信号を取得し、取得した電気信号に応じた電磁波を放射する。また、当該例では、第１アンテナＡ１は、電界を検出する。そして、当該例では、第１アンテナＡ１は、検出した電界に応じた電圧を示す電気信号を情報処理装置２に出力する。なお、第１アンテナＡ１は、情報処理装置２と別体の他の装置を介して情報処理装置２と接続される構成であってもよい。当該他の装置は、情報処理装置２からの要求に応じて第１アンテナＡ１に電磁波の放射を行わせる送信機、情報処理装置２からの要求に応じて第１アンテナＡ１から取得した電圧を情報処理装置２に出力する受信機等である。図１に示した例では、情報処理装置２は、当該他の装置と一体に構成されている。
情報処理装置２は、例えば、デスクトップＰＣ（Personal Computer）である。なお、情報処理装置２は、ノートＰＣ、タブレットＰＣ、多機能携帯電話端末（スマートフォン）、携帯電話端末、ＰＤＡ（Personal Digital Assistant）等の他の情報処理装置であってもよい。
情報処理装置２は、ユーザから受け付けた操作に応じて、第１アンテナＡ１からユーザが所望する波長帯の電磁波が放射されるように、第１アンテナＡ１に対して電気信号を出力する。また、情報処理装置２は、ユーザから受け付けた操作に応じて、第１アンテナＡ１が検出した電界に応じた電圧を示す電気信号を、第１アンテナＡ１から取得する。なお、実施形態では、電磁波測定装置１は、情報処理装置２を備えない構成であるが、これに代えて、情報処理装置２を備える構成であってもよい。
第２アンテナＡ２は、電界を検出し、検出した電界に応じた電圧を出力するアンテナである。第２アンテナＡ２は、筐体１１内において、有効空間ＷＶ内に設置される。ここで、図１に示した例では、第２アンテナＡ２は、受信装置３と接続されている。このため、当該例では、第２アンテナＡ２は、検出した電界に応じた電圧を示す電気信号を受信装置３に出力する。
受信装置３は、有線又は無線によって情報処理装置２と通信可能に接続されている。受信装置３は、第２アンテナＡ２から出力された電気信号を、第２アンテナＡ２から取得する。受信装置３は、取得した電気信号を情報処理装置２に出力する。このため、情報処理装置２は、受信装置３から電気信号を取得する。なお、受信装置３は、情報処理装置２と一体に構成されてもよい。また、実施形態では、電磁波測定装置１は、受信装置３を備えない構成であるが、これに代えて、受信装置３を備える構成であってもよい。
以上のような構成の電磁波測定装置１は、前述した通り、筐体１１内に配置した電子機器Ｐにより放射される電磁波に関する測定に用いられる。
＜電磁波測定装置を用いて電子機器により放射される電磁波に関する測定を行う方法＞
以下、電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐにより放射される電磁波に関する測定を行う方法について説明する。なお、以下では、一例として、当該測定が、有効空間ＷＶ内に配置した電子機器Ｐの放射電力の測定である場合について説明する。また、以下では、説明の便宜上、電磁波測定装置１のユーザを、単にユーザと称して説明する。
図２は、電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐの放射電力の測定を行う方法の流れの一例を示す図である。
ここで、ユーザは、図２に示したステップＳ１１０及びステップＳ１２０の手順により、検出された電界を電圧に変換する変換係数を測定する。すなわち、ステップＳ１１０及びステップＳ１２０の手順は、変換係数測定手順である。このため、ユーザは、他の装置、他の方法等によって変換係数を測定済みである場合、電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐにより放射される電磁波の測定を行う方法において、ステップＳ１１０及びステップＳ１２０の手順を省略してもよい。
また、ユーザは、図２に示したステップＳ１３０～ステップＳ１５０の手順により、補正係数を測定する。この補正係数は、有効空間ＷＶ内における電子機器Ｐの有無によって変化してしまうことがある変換係数を補正する係数である。補正係数についての詳細は、後述する。すなわち、ステップＳ１３０～ステップＳ１５０の手順は、補正係数測定手順である。このため、ユーザは、他の装置、他の方法等によって補正係数を測定済である場合、電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐにより放射される電磁波の測定を行う方法において、ステップＳ１３０～ステップＳ１５０の手順を省略してもよい。
なお、ユーザは、図２に示したステップＳ１６０及びステップＳ１７０の手順により、ステップＳ１１０～ステップＳ１５０の手順によって測定された変換係数及び補正係数を用いて、電子機器Ｐの放射電力を測定する。このため、他の装置、他の方法等によって変換係数及び補正係数を測定済みである場合、ユーザは、電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐの放射電力の測定を行う方法において、ステップＳ１６０及びステップＳ１７０の処理のみを行ってもよい。
また、以下では、説明の便宜上、有効空間ＷＶ内の状態のうち基準となる状態を、基準状態と称して説明する。基準状態は、例えば、有効空間ＷＶ内の状態のうち、図１に示したように、第２アンテナＡ２と受信装置３とを接続するケーブル、及び第２アンテナＡ２のみが有効空間ＷＶ内に配置されている状態のことである。なお、基準状態は、有効空間ＷＶ内の状態として実現可能な状態であれば、如何なる状態であってもよい。
ユーザは、検出手順Ｄ１を行う（ステップＳ１１０）。ここで、検出手順Ｄ１について説明する。
検出手順Ｄ１は、有効空間ＷＶ内が基準状態である場合において、有効空間外の第１アンテナＡ１に電磁波を放射させ、有効空間ＷＶ内の電界を、有効空間ＷＶ内の電界プローブＰＢにより検出する手順である。ここで、検出手順Ｄ１における有効空間ＷＶ内の電界は、有効空間外の第１アンテナＡ１から放射された電磁波に応じた電界である。このため、検出手順Ｄ１では、ユーザは、図３に示すように、基準状態の有効空間ＷＶ内に電界プローブＰＢを配置する。なお、ユーザは、有効空間ＷＶ内の状態が基準状態となっていない場合、例えば、有効空間ＷＶ内の状態を基準状態にしてから、有効空間ＷＶ内に電界プローブＰＢを配置する。図３は、基準状態の有効空間ＷＶ内に電界プローブＰＢが配置された場合の電磁波測定装置１の一例を示す図である。
電界プローブＰＢは、情報処理装置２と接続されてもよく、受信装置３と接続されてもよい。以下では、一例として、電界プローブＰＢが情報処理装置２と接続されている場合について説明する。ただし、図３では、図が煩雑になるのを防ぐため、電界プローブＰＢと情報処理装置２とを接続するケーブルについては、省略されている。
基準状態の有効空間ＷＶ内に電界プローブＰＢを配置した後、検出手順Ｄ１では、ユーザは、情報処理装置２を操作し、第１アンテナＡ１に所定の波長帯の電磁波を放射させる。これにより、有効空間ＷＶ内では、電磁攪拌器１２による電磁波の攪拌によって、第１アンテナＡ１から放射された電磁波に応じた電界の電界強度が均一になる。電界プローブＰＢは、このようにして有効空間ＷＶ内において均一になった電界強度に応じた電圧を示す電気信号を出力する。従って、情報処理装置２は、電界プローブＰＢから当該電気信号を取得する。情報処理装置２は、取得した当該電気信号に基づいて、当該電界強度に応じた電圧を示す情報を、第２検出情報として情報処理装置２が備える図示しない記憶部に記憶させる。ユーザは、以上のような検出手順Ｄ１を、ステップＳ１１０において行う。なお、以下では、説明の便宜上、当該所定の波長帯の電磁波を、放射電磁波と称して説明する。
ステップＳ１１０において検出手順Ｄ１が行われた後、ユーザは、算出手順Ｃ１を行う（ステップＳ１２０）。ここで、算出手順Ｃ１について説明する。
算出手順Ｃ１は、ステップＳ１１０における検出手順Ｄ１により検出された電圧に基づいて、前述の変換係数を算出する手順である。なお、ステップＳ１１０における検出手順Ｄ１により検出された電圧に基づいて変換係数を算出する方法は、既知の方法であってもよく、これから開発される方法であってもよい。例えば、算出手順Ｃ１において、ユーザは、情報処理装置２を操作し、情報処理装置２に記憶された第２検出情報が示す電圧に基づいた変換係数の算出を、情報処理装置２に行わせる。すなわち、算出手順Ｃ１では、情報処理装置２は、ユーザから受け付けた操作に応じて、記憶部に記憶された第２検出情報を読み出し、読み出した第２検出情報が示す電圧と、放射電磁波に応じた電界の電界強度とに基づいて、変換係数を算出する。そして、算出手順Ｃ１では、情報処理装置２は、算出した変換係数を示す変換係数情報を、記憶部に記憶させる。なお、放射電磁波に応じた電界の電界強度は、例えば、事前に算出又は検出される。
ステップＳ１２０において算出手順Ｃ１が行われた後、ユーザは、検出手順Ｄ２を行う（ステップＳ１３０）。ここで、検出手順Ｄ２について説明する。
検出手順Ｄ２は、有効空間ＷＶ内が基準状態である場合において、有効空間外の第１アンテナＡ１に放射電磁波を放射させ、有効空間ＷＶ内の電界の電界強度に応じた電圧を、有効空間ＷＶ内の第２アンテナＡ２により検出する手順である。ここで、検出手順Ｄ２における有効空間ＷＶ内の電界は、有効空間外の第１アンテナＡ１から放射された放射電磁波に応じた電界である。このため、検出手順Ｄ２では、ユーザは、有効空間ＷＶ内の状態を基準状態にする。そして、検出手順Ｄ２では、ユーザは、情報処理装置２を操作し、第１アンテナＡ１に放射電磁波を放射させる。これにより、有効空間ＷＶ内では、電磁攪拌器１２による放射電磁波の攪拌によって、第１アンテナＡ１から放射された放射電磁波に応じた電界の電界強度が均一になる。第２アンテナＡ２は、このようにして有効空間ＷＶ内において均一になった電界強度に応じた電圧を示す電気信号を出力する。従って、受信装置３は、第２アンテナＡ２から当該電気信号を取得する。受信装置３は、取得した当該電気信号を、情報処理装置２に出力する。情報処理装置２は、受信装置３から当該電気信号を取得する。情報処理装置２は、取得した当該電気信号に基づいて、当該電界強度に応じた電圧を示す情報を、第３検出情報として情報処理装置２の記憶部に記憶させる。ユーザは、以上のような検出手順Ｄ２を、ステップＳ１３０において行う。
ステップＳ１３０において検出手順Ｄ２が行われた後、ユーザは、検出手順Ｄ３を行う（ステップＳ１４０）。ここで、検出手順Ｄ３について説明する。
検出手順Ｄ３は、基準状態の有効空間ＷＶ内に電子機器Ｐを配置し、有効空間外の第１アンテナＡ１に放射電磁波を放射させ、有効空間ＷＶ内の電界の電界強度に応じた電圧を、有効空間ＷＶ内の第２アンテナＡ２により検出する手順である。ここで、検出手順Ｄ３における有効空間ＷＶ内の電界は、有効空間外の第１アンテナＡ１から放射された放射電磁波に応じた電界である。このため、検出手順Ｄ３では、ユーザは、検出手順Ｄ２において基準状態にされたままの有効空間ＷＶ内に電子機器Ｐを配置する。なお、ユーザは、振動、作業中のユーザの動き等によって有効空間ＷＶ内の状態が基準状態と異なる状態となっている場合、例えば、有効空間ＷＶ内の状態を基準状態にしてから、有効空間ＷＶ内に電子機器Ｐを配置する。図４は、基準状態の有効空間ＷＶ内に電子機器Ｐが配置された場合の電磁波測定装置１の一例を示す図である。
基準状態の有効空間ＷＶ内に電子機器Ｐを配置した後、検出手順Ｄ３では、ユーザは、情報処理装置２を操作し、第１アンテナＡ１に放射電磁波を放射させる。これにより、有効空間ＷＶ内では、電磁攪拌器１２による電磁波の攪拌によって、第１アンテナＡ１から放射された放射電磁波に応じた電界の電界強度が均一になる。第２アンテナＡ２は、このようにして有効空間ＷＶ内において均一になった電界強度に応じた電圧を示す電気信号を出力する。従って、受信装置３は、第２アンテナＡ２から当該電気信号を取得する。受信装置３は、取得した当該電気信号を、情報処理装置２に出力する。情報処理装置２は、受信装置３から当該電気信号を取得する。情報処理装置２は、取得した当該電気信号に基づいて、当該電界強度に応じた電圧を示す情報を、第４検出情報として情報処理装置２の記憶部に記憶させる。ユーザは、以上のような検出手順Ｄ３を、ステップＳ１３０において行う。
ステップＳ１４０において検出手順Ｄ３が行われた後、ユーザは、算出手順Ｃ２を行う（ステップＳ１５０）。ここで、算出手順Ｃ２について説明する。
算出手順Ｃ２は、ステップＳ１３０における検出手順Ｄ２により検出された電圧と、ステップＳ１４０における検出手順Ｄ３により検出された電圧とに基づいて、前述の補正係数を算出する手順である。なお、当該第３検出電界と当該第４検出電界とに基づいて補正係数を算出する方法は、既知の方法であってもよく、これから開発される方法であってもよい。例えば、算出手順Ｃ２では、ユーザは、情報処理装置２を操作し、情報処理装置２に記憶された第３検出情報及び第４検出情報のそれぞれが示す電圧に基づいた補正係数の算出を、情報処理装置２に行わせる。すなわち、算出手順Ｃ２では、情報処理装置２は、ユーザから受け付けた操作に応じて、記憶部に記憶された第３検出情報及び第４検出情報を読み出し、読み出した第３検出情報及び第４検出情報のそれぞれが示す電圧と、放射電磁波に応じた電界の電界強度とに基づいて、補正係数を算出する。そして、算出手順Ｃ２では、情報処理装置２は、算出した補正係数を示す補正係数情報を、記憶部に記憶させる。
ステップＳ１５０において算出手順Ｃ２が行われた後、ユーザは、検出手順Ｄ４を行う（ステップＳ１６０）。ここで、検出手順Ｄ４について説明する。
検出手順Ｄ４は、基準状態の有効空間ＷＶ内に電子機器Ｐを配置し、電子機器Ｐを稼働させ、筐体１１内の電界の電界強度に応じた電圧を、有効空間ＷＶ外の第１アンテナＡ１により検出する手順である。ここで、検出手順Ｄ４における有効空間ＷＶ内の電界は、有効空間ＷＶ内の電子機器Ｐから放射される電磁波に応じた電界である。このため、検出手順Ｄ４では、ユーザは、有効空間ＷＶ内の状態を基準状態にする。その後、検出手順Ｄ４では、ユーザは、電子機器Ｐを操作し、電子機器Ｐを稼働させる。これにより、有効空間ＷＶ内では、電磁攪拌器１２による当該電磁波の攪拌によって、当該電磁波に応じた電界の電界強度が均一になる。そして、有効空間ＷＶ外の第１アンテナＡ１は、有効空間ＷＶ外の電界の電界強度に応じた電圧を示す電気信号を出力する。従って、情報処理装置２は、第１アンテナＡ１から当該電気信号を取得する。情報処理装置２は、取得した当該電気信号に基づいて、当該電界強度に応じた電圧を示す情報を、第１検出情報として記憶部に記憶させる。ユーザは、以上のような検出手順Ｄ４を、ステップＳ１６０において行う。
ステップＳ１６０において検出手順Ｄ４が行われた後、ユーザは、算出手順Ｃ３を行う（ステップＳ１７０）。ここで、算出手順Ｃ３について説明する。
算出手順Ｃ３は、ステップＳ１６０において検出手順Ｄ４により検出された電圧と、ステップＳ１２０において算出手順Ｃ１により算出された変換係数と、ステップＳ１５０において算出手順Ｃ２により算出された補正係数と基づいて、電子機器Ｐの放射電力を算出する手順である。なお、当該変換係数と、当該補正係数と、当該第１検出電界とに基づいて当該放射電力を算出する方法は、既知の方法であってもよく、これから開発される方法であってもよい。例えば、ユーザは、情報処理装置２を操作し、情報処理装置２に記憶された第１検出情報、変換係数情報、補正係数情報のそれぞれに基づいた当該放射電力の算出を、情報処理装置２に行わせる。すなわち、第２算出手段では、情報処理装置２は、ユーザから受け付けた操作に応じて、記憶部に記憶された第１検出情報、変換係数情報、補正係数情報のそれぞれを読み出し、読み出した第１検出情報が示す電圧と、読み出した変換係数情報が示す変換係数と、読み出した補正係数情報が示す補正係数とに基づいて、当該放射電力を算出する。そして、算出手順Ｃ３では、情報処理装置２は、算出した当該放射電力を示す放射電力情報を記憶部に記憶させる。
ステップＳ１７０において算出手順Ｃ３が行われた後、ユーザは、電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐの放射電力の測定を終了する。
なお、図２に示したフローチャートにおいて、検出手段Ｄ１は、検出手段Ｄ２と並列に行われる構成であってもよい。この場合、検出手段Ｄ２において、有効空間ＷＶ内の状態は、検出手段Ｄ１における有効空間ＷＶ内の状態と同じ状態であってもよい。すなわち、当該場合、検出手段Ｄ２において、有効空間ＷＶ内の状態は、電界プローブＰＢが配置されたままの状態であってもよい。これは、有効空間ＷＶ内における電界プローブＰＢの存在が、有効空間ＷＶ内において送受信される電磁波の波長に対して小さいため、有効空間ＷＶ内の電磁界を乱さないと考えられているからである。このような事情から、検出手順Ｄ３及び検出手順Ｄ４においても、有効空間ＷＶ内の状態は、電界プローブＰＢはが配置されたままの状態であってもよい。また、検出手順Ｄ１～検出手順Ｄ４のすべてにおいて、有効空間ＷＶ内に電界プローブＰＢが配置されるならば、上記において説明した基準状態を、電界プローブＰＢが配置された状態として規定してもよい。
以上のように、ユーザは、図２に示したフローチャートに含まれる各手順を行うことにより、電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐの放射電力の測定を行う。ここで、上記において説明したステップＳ１６０では、電界を検出するアンテナとして第１アンテナＡ１が用いられている。より具体的には、当該フローチャートでは、ステップＳ１３０及びステップＳ１４０において電磁波を放射するアンテナとして用いられる第１アンテナＡ１が、ステップＳ１６０において電界を検出するアンテナとして用いられている。これは、図５に示した電磁波測定系を表す等価回路において、送信側の回路の役割と受信側の回路の役割とを入れ替えたことと等価である。第１アンテナＡ１が可逆性を有する場合、このような役割の入れ替えが可能である。そこで、以下では、第１アンテナＡ１が可逆性を有する場合において、このような役割の入れ替えが可能となる原理について説明する。また、以下では、説明の便宜上、当該原理を、入替可能原理と称して説明する。
＜入替可能原理＞
以下、入替可能原理について説明する。入替可能原理を説明するため、電磁波を放射するあるアンテナＸ１が筐体１１内において有効空間ＷＶ外に設置されている場合であり、且つ、電界を検出するあるアンテナＸ２が筐体１１内において有効空間ＷＶ内に設置されている場合を考える。この場合、筐体１１内において、アンテナＸ１は、入力された電気信号に応じた電磁波を放射する。また、筐体１１内において、アンテナＸ２は、筐体１１内における電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する。このため、当該場合、アンテナＸ１とアンテナＸ２とによって構成される電磁波測定系Ｘの等価回路は、図５に示したような回路となる。図５は、電磁波測定系Ｘの等価回路の一例を示す図である。
ここで、図５に示した等価回路は、２端子対回路である。以下では、説明の便宜上、当該等価回路に含まれる回路のうち点線ＴＣによって囲まれた回路を、送信側回路と称して説明する。送信側回路は、アンテナＸ１に対応する回路である。また、以下では、説明の便宜上、当該等価回路に含まれる回路のうち点線ＲＣによって囲まれた回路を、受信側回路と称して説明する。受信側回路は、アンテナＸ２に対応する回路である。
図５に示したＲ０は、送信側回路の特性インピーダンスを示す。また、図５に示したＶ０は、送信側回路に交流電力を供給する電力源を示す。また、図５に示したＲｒは、受信側回路の特性インピーダンスを示す。また、図５に示した行列の各成分（すなわち、Ｚ１１、Ｚ１２、Ｚ２１、Ｚ２２）は、電磁波測定系ＸのＺパラメータである。電磁波測定系ＸのＳパラメータ（すなわち、Ｓ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２）は、当該Ｚパラメータを用いて算出することができる。そして、当該ＳパラメータのうちのＳ１２は、以下の式（１）のように算出される。なお、当該Ｚパラメータ及び当該Ｓパラメータの各成分が如何なる量であるかについての説明は、既知であるため、説明を省略する。
Figure 0007451975000001
上記の式（１）に含まれるＺ１２は、アンテナＸ２の実効長ｌｒに比例し、反射箱の性質からアンテナＸ２の指向性利得Ｇｄに反比例すると考えられる。このため、実効長ｌｒ及び指向性利得Ｇｄの寄与をＺ１２から除外した場合に残る成分をＺ１２’とすると、Ｚ１２は、以下の式（２）のように表すことができる。
Figure 0007451975000002
ここで、アンテナＸ１とアンテナＸ２との結合が十分に小さいと仮定すると、以下の式（３）が成り立つ。
Figure 0007451975000003
そして、上記の式（２）及び式（３）から、以下の式（４）を導出することができる。
Figure 0007451975000004
一方、アンテナＸ２のアンテナファクタＡＦｒは、以下の式（５）によって定義される。
Figure 0007451975000005
上記の式（５）を式（４）に代入することにより、以下の式（６）を導出することができる。
Figure 0007451975000006
ここで、図５に示した等価回路は、アンテナＸ１を第１アンテナＡ１に対応付け、且つ、アンテナＸ２を電界プローブＰＢに対応付けることができる。この場合、当該等価回路は、図３に示した電磁波測定装置１において第１アンテナＡ１と電界プローブＰＢとによって構成される電磁波測定系の等価回路として考えることができる。この場合、前述の指向性利得Ｇｄは、ダイポールアンテナの指向性利得である。また、ステップＳ１１０において使われる電界プローブＰＢとしては、アンテナファクタＡＦｒの校正が済んでいる電界プローブＰＢが用いられる。すなわち、ステップＳ１１０において使われる電界プローブＰＢのアンテナファクタＡＦｒは、既知の量である。そこで、当該場合、アンテナファクタＡＦｒが１に校正されているとすると、式（６）からアンテナファクタＡＦｒを消すことができる。このようにアンテナファクタＡＦｒを式（６）から消した後に残った量が、チャンバーゲインＧｃとして、以下の式（７）のように定義される量である。
Figure 0007451975000007
このようにして定義されるチャンバーゲインＧｃが、前述の変換係数である。すなわち、ユーザは、ステップＳ１２０において、第２検出情報が示す電圧に基づくチャンバーゲインＧｃを、変換係数として算出する。上記の式（７）の左辺のチャンバーゲインＧｃを測定することにより、ユーザは、上記の式（７）に基づいて、Ｚ２１’を算出することができる。
このチャンバーゲインＧｃは、電磁波測定装置１の特性として得られた量である。換言すると、このチャンバーゲインＧｃは、筐体１１内における空間の電波伝搬の特性を表す量である。すなわち、アンテナＸ１とアンテナＸ２との間における電磁波の伝搬の仕方は、チャンバーゲインＧｃによって特徴付けられる。そして、筐体１１内は、電磁攪拌器１２によって電磁波が攪拌されている。このため、アンテナＸ１が可逆性を有していると、アンテナＸ２を電界プローブＰＢから他のアンテナに換えた場合であっても、アンテナＸ１とアンテナＸ２との間における電磁波の伝搬の仕方は、チャンバーゲインＧｃによって特徴付けられる。これは、当該場合において、アンテナＸ１が検出した電界と、アンテナＸ２が検出した電界との間には、可逆性が成り立つことを意味している。なお、電子機器Ｐを反射箱に入れた場合、チャンバーゲインＧｃは、低下する場合がある。このチャンバーゲインＧｃの低下、すなわち、変換係数の低下を補正する係数が、前述の補正係数である。
ここで、筐体１１内における空間の電波伝搬の特性がチャンバーゲインＧｃによって表される場合、図５に示した等価回路は、図６に示した等価回路のように書き換わる。図６は、筐体１１内における空間の電波伝搬の特性がチャンバーゲインＧｃによって表される場合における電磁波測定系Ｘの等価回路の一例を示す図である。なお、図６では、受信側回路の特性インピーダンスＲｒが１［Ω］として表されている。また、アンテナＸ１が検出した電界と、アンテナＸ２が検出した電界との間に可逆性が成り立つ場合、図６に示した行列が有する２つの非対角成分は、互いに等しい。このことから、図６に示した等価回路において受信回路の特性インピーダンスの両端電圧Ｖｒ１は、以下の式（８）のように算出される。
Figure 0007451975000008
一方、前述の電力源Ｖ０を送信側回路から受信側回路へと移した場合、図６に示した等価回路は、図７に示した等価回路のように書き換わる。図７は、筐体１１内における空間の電波伝搬の特性がチャンバーゲインＧｃによって表される場合における電磁波測定系Ｘの等価回路の他の例を示す図である。図７に示した等価回路において受信回路の特性インピーダンスの両端電圧Ｖｒ２は、以下の式（９）のように算出される。
Figure 0007451975000009
上記の式（８）と式（９）とを比較することにより、筐体１１内における空間の電波伝搬の特性がチャンバーゲインＧｃによって表される場合、アンテナＸ１によって検出された電界強度と、アンテナＸ２によって検出された電界強度との間には、可逆性が成り立つことが分かる。すなわち、ユーザは、このような入替可能原理により、図２に示したフローチャートにおいて、ステップＳ１３０及びステップＳ１４０においての第１アンテナＡ１の役割と、ステップＳ１６０においての第１アンテナＡ１の役割とを逆にすることができる。
＜電子機器の放射電力の算出方法の一例＞
以下、図２に示したステップＳ１７０における電子機器Ｐの放射電力の算出方法の一例について説明する。当該放射電力の算出は、前述した通り、ステップＳ１６０において第１アンテナＡ１が検出した電界を示す電圧に基づいて行われる。そして、当該電界の検出は、図４に示した電磁波測定系において行われる。図８は、図４に示した電磁波測定系の等価回路の一例を示す図である。
図８に示したＲ０’は、第１アンテナＡ１の特性インピーダンスを示す。また、図８に示したＶｓは、電子機器Ｐの出力電圧を示す。また、図８に示したＺｓは、電子機器Ｐの特性インピーダンスを示す。また、図８に示した行列の各成分は、図４に示した電磁波測定系のＺパラメータである。ここで、図８に示したｌｓは、電子機器Ｐの実効長を示す。また、図８に示したＧｓは、電子機器Ｐの指向性利得を示す。
図８に示した等価回路において、電子機器Ｐの特性インピーダンスＺｓの両端電圧Ｖｒは、以下の式（１０）のように算出される。
Figure 0007451975000010
なお、電子機器Ｐの特性インピーダンスＺｓの両端電圧Ｖｒは、図４に示した電磁波測定系において開放端電圧である。しかしながら、当該両端電圧Ｖｒは、スペクトラムアナライザ等の高周波で測定される場合、一般的に終端電圧となる。このため、当該場合、当該両端電圧Ｖｒは、以下の式（１１）のように表される。
Figure 0007451975000011
ここで、置換法であることを考慮すると、以下の式（１２）が成り立つ。
Figure 0007451975000012
そして、上記の式（１１）及び式（１２）から、以下の式（１３）が導出される。
Figure 0007451975000013
また、図８に示した等価回路においても、筐体１１内における空間の電波伝搬の特性は、チャンバーゲインＧｃによって表される。このため、図８に示した行列の非対角成分は、互いに等しい。そして、電子機器Ｐの特性インピーダンスＺｓに流れる電流Ｉｓは、Ｉｓ＝Ｖｓ／Ｚｓであるため、上記の式（１３）は、以下の式（１４）のように表される。
Figure 0007451975000014
上記の式（１４）は、をまとめ直すと以下の式（１５）のように表すこともできる。
Figure 0007451975000015
ここで、実効長ｌｓは、以下の式（１６）のように定義される。
Figure 0007451975000016
ここで、上記の式（１６）に示したＲは、放射抵抗を示す。また、式（１６）に示したＧａは、絶対利得を示す。そして、式（１６）の両辺にＩｓを乗じることにより、以下の式（１７）が得られる。
Figure 0007451975000017
上記の式（１７）におけるＷは、Ｗ＝Ｒ×Ｉｓ ２によって算出される電力であり、すなわち、電子機器Ｐの放射電力を示す。そして、このＷに絶対利得Ｇａを乗じたＧａＷは、実効放射電力を示す。この実効放射電力ＧａＷが、図２に示したステップＳ１７０において算出される電子機器Ｐの放射電力である。
上記の式（１７）は、まとめ直すと以下の式（１８）のように表すことができる。
Figure 0007451975000018
ここで、上記の式（１８）の右辺は、電子機器Ｐの指向性利得Ｇｓを除いてすべて既知の量である。すなわち、ユーザは、電子機器Ｐの指向性利得Ｇｓを何らかの方法によって推定することができれば、式（１８）を用いて、電子機器Ｐの実効放射電力を算出することができる。なお、例えば、電子機器Ｐから放射される電磁波の波長が電子機器Ｐの大きさに対して十分に小さい場合、電子機器Ｐの指向性利得Ｇｓは、電界プローブＰＢの指向性利得Ｇｄと等しくなる。このような性質を利用し、ユーザは、式（１８）を用いて、電子機器Ｐの実効放射電力を算出することができる。
なお、ユーザは、以下の式（１９）を用いて、電子機器Ｐにより放射される電磁波に応じた電界の電界強度のうち、電子機器Ｐから距離ｒ離れた位置における電界強度を推定することができる。
Figure 0007451975000019
このようにして推定される電界を、ユーザは、例えば、電子機器Ｐの放射妨害波の強度の測定に応用することもできる。
なお、上記において説明した実施形態では、第２アンテナＡ２のアンテナファクタは、第１アンテナＡ１のアンテナファクタ以上であってもよい（すなわち、第２アンテナＡ２の感度は、第１アンテナＡ１の感度以下であってもよい）。これは、検出手段Ｄ２及び検出手段Ｄ３では、情報処理装置２の設定によって第１アンテナＡ１に放射させる電磁波の強度を強くすることができるため、第２アンテナＡ２の感度が低くても、第２アンテナＡ２が電界の検出を行うことができるためである。そして、これは、検出手段Ｄ４において、電子機器Ｐから放射される強度の弱い電磁波（更に、強度を強くすることもできない電磁波）に応じた電界を、第１アンテナＡ１によって検出し、第２アンテナＡ２によって検出する必要がないためでもある。以上のことから、電磁波測定装置１は、有効空間内の体積のうち第２アンテナにより占有される体積を小さくすることができる。同様の理由により、当該実施形態では、第１アンテナＡ１及び第２アンテナＡ２がエレメントを有するアンテナである場合、第２アンテナＡ２のエレメントの最大長さは、第１アンテナＡ１のエレメントの最大長さ以下であってもよい。また、同様の理由により、当該実施形態では、第１アンテナＡ１及び第２アンテナＡ２が開口面を有するアンテナである場合、第２アンテナＡ２の開口面の最大長さは、第１アンテナＡ１の開口面の最大長さ以下であってもよい。
また、上記において説明した実施形態では、ステップＳ１６０において電子機器Ｐから放射される電磁波に応じた電界を検出するアンテナが、第２アンテナＡ２ではなく第１アンテナＡ１である。このため、第２アンテナＡ２と接続している受信装置３は、当該電磁波に応じた電界を検出するわけではない。このことから、受信装置３のノイズフロアは、如何なる値であってもよく、例えば、電子機器Ｐに対する放射電力値の許容値の１００分の１以上であってもよい。なお、受信装置３が情報処理装置２と一体に構成される場合、情報処理装置２のノイズフロアは、電子機器Ｐに対する放射電力値の許容値の１００分の１以上であってもよい。
＜実施形態の変形例＞
以下、図９を参照し、実施形態の変形例について説明する。図９は、実施形態の変形例に係る電磁波測定装置１の構成の一例を示す図である。なお、実施形態の変形例では、実施形態と同様な構成部に対して同じ符号を付して説明を省略する。
実施形態の変形例では、第１アンテナＡ１は、入力された電気信号に応じた電磁波を放射するアンテナである。そして、実施形態の変形例では、第１アンテナＡ１は、電磁波の放射にのみ用いられるアンテナである。このため、実施形態の変形例に係る電磁波測定装置１は、実施形態において第１アンテナＡ１が担っていた役割、すなわち、電界の検出を行う第３アンテナＡ３を備える。
実施形態の変形例に係る電磁波測定装置１は、例えば、電磁波測定装置１の筐体１１と、電磁攪拌器１２と、第１アンテナＡ１と、第２アンテナＡ２と、第３アンテナＡ３を備える。なお、電磁波測定装置１は、筐体１１と電磁攪拌器１２と第１アンテナＡ１と第２アンテナＡ２と第３アンテナＡ３に加えて、他の装置、他の部材等を備える構成であってもよい。
第３アンテナＡ３は、電界を検出し、検出した電界に応じた電圧を出力するアンテナである。第３アンテナＡ３は、筐体１１内において、有効空間ＷＶ内に設置される。ここで、図１に示した例では、第３アンテナＡ３は、情報処理装置２と接続されている。このため、当該例では、第３アンテナＡ３は、検出した電界に応じた電圧を示す電気信号を情報処理装置２に出力する。
ここで、ユーザは、図２に示したフローチャートに含まれる各手順を行うことにより、実施形態の変形例に係る電磁波測定装置１を用いて電子機器Ｐの放射電力の測定を行う場合、ステップＳ１６０において、第１アンテナＡ１に代えて、第３アンテナＡ３により電界を検出する。これにより、実施形態の変形例に係る電磁波測定装置１は、当該場合であっても、実施形態に係る電磁波測定装置１と同様の効果を得ることができる。
なお、上記において説明した実施形態の変形例では、第２アンテナＡ２のアンテナファクタは、第３アンテナＡ３のアンテナファクタ以上であってもよい（すなわち、第２アンテナＡ２の感度は、第３アンテナＡ３の感度以下であってもよい）。これは、ステップＳ１６０において電子機器Ｐから放射される電磁波に応じた電界を検出するアンテナが、第２アンテナＡ２ではなく第３アンテナＡ３であるためである。このため、電磁波測定装置１は、有効空間内の体積のうち第２アンテナにより占有される体積を小さくすることができる。同様の理由により、当該実施形態の変形例では、第２アンテナＡ２及び第３アンテナＡ３がエレメントを有するアンテナである場合、第２アンテナＡ２のエレメントの最大長さは、第３アンテナＡ３のエレメントの最大長さ以下であってもよい。また、同様の理由により、当該実施形態の変形例では、第２アンテナＡ２及び第３アンテナＡ３が開口面を有するアンテナである場合、第２アンテナＡ２の開口面の最大長さは、第３アンテナＡ３の開口面の最大長さ以下であってもよい。
また、上記において説明した実施形態の変形例では、ステップＳ１６０において電子機器Ｐから放射される電磁波に応じた電界を検出するアンテナが、第２アンテナＡ２ではなく第３アンテナＡ３である。このため、第２アンテナＡ２と接続している受信装置３は、当該電磁波に応じた電界を検出するわけではない。このことから、受信装置３のノイズフロアは、如何なる値であってもよく、例えば、電子機器Ｐに対する放射電力値の許容値の１００分の１以上であってもよい。なお、受信装置３が情報処理装置２と一体に構成される場合、情報処理装置２のノイズフロアは、電子機器Ｐに対する放射電力値の許容値の１００分の１以上であってもよい。
以上のように、実施形態に係る電磁波測定装置は、筐体と、取得した電気信号に応じた電磁波（上記において説明した例では、放射電磁波）を放射する第１アンテナ（上記において説明した例では、第１アンテナＡ１）と、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第２アンテナ（上記において説明した例では、第２アンテナＡ２）と、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第３アンテナ（上記において説明した例では、第１アンテナＡ１、又は、第３アンテナＡ３）と、筐体内の電磁波を攪拌する電磁攪拌器（上記において説明した例では、電磁攪拌器１２）と、を備え、第１アンテナ及び第３アンテナは、筐体内において、筐体内における所定の有効空間（上記において説明した例では、有効空間ＷＶ）外に設置されており、第２アンテナは、筐体内において、有効空間内に設置されている。これにより、電磁波測定装置は、有効空間内の体積のうちアンテナ（すなわち、第２アンテナ）により占有される体積を小さくすることができる。
また、電磁波測定装置では、第３アンテナは、第１アンテナと一体に構成されている、構成が用いられてもよい。
また、電磁波測定装置では、第２アンテナのアンテナファクタは、第３アンテナのアンテナファクタ以上である、構成が用いられてもよい。
また、電磁波測定装置では、第２アンテナ及び第３アンテナは、エレメントを有しており、第２アンテナのエレメントの最大長さは、第３アンテナのエレメントの最大長さ以下である、構成が用いられてもよい。
また、電磁波測定装置では、第２アンテナ及び第３アンテナは、開口面を有しており、第２アンテナの開口面の最大長さは、第３アンテナの開口面の最大長さ以下である、構成が用いられてもよい。
また、電磁波測定装置は、第２アンテナに接続される受信装置を備え、受信装置のノイズフロアが、電磁波を放射する被測定物に対する放射電力値の許容値の１００分の１以上である、構成が用いられてもよい。
また、電磁波測定方法では、有効空間は、前記筐体内の空間のうち、前記電磁攪拌器による電磁波の攪拌によって電界の電界強度が均一になる空間のことである、構成が用いられてもよい。
また、実施形態に係る電磁波測定方法は、筐体と、入力された電気信号に応じた電磁波を放射する第１アンテナと、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第２アンテナと、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第３アンテナと、筐体内の電磁波を攪拌する電磁攪拌器とを備えた電磁波測定装置において、第１アンテナ及び第３アンテナは、筐体内において、筐体内における所定の有効空間外に設置されており、第２アンテナは、筐体内において、有効空間内に設置されており、所定の基準状態の有効空間内に被測定物を配置し、被測定物を稼働させ、第３アンテナから出力される電圧を検出する第１検出手順（上記において説明した例では、検出手順Ｄ４）を有する。これにより、電磁波測定方法は、有効空間内の体積のうち第２アンテナにより占有される体積を小さくすることができる。
また、電磁波測定方法は、基準状態の有効空間内に電界プローブ（上記において説明した例では、電界プローブＰＢ）を配置し、第１アンテナから電磁波を放射させ、電界プローブから出力される電圧を検出する第２検出手順（上記において説明した例では、検出手順Ｄ１）と、第１アンテナに放射させた電磁波に応じた電界の電界強度と、第２検出手順により検出された電圧とに基づいて、電界強度を電圧に変換する変換係数を算出する第１算出手順（上記において説明した例では、算出手順Ｃ１）と、第１検出手順により検出された電圧と、第１算出手順により算出された変換係数とに基づいて、被測定物の放射電力を算出する第２算出手順（上記において説明した例では、算出手順Ｃ３）と、を更に有する、構成が用いられてもよい。
また、電磁波測定方法は、有効空間内が基準状態である場合において、第１アンテナから電磁波を放射させ、第２アンテナから出力される電圧を検出する第３検出手順（上記において説明した例では、検出手順Ｄ２）と、基準状態の有効空間内に被測定物を配置し、第１アンテナから電磁波を放射させ、第２アンテナから出力される電圧を検出する第４検出手順（上記において説明した例では、検出手順Ｄ３）と、第１アンテナに放射させた電磁波に応じた電界の電界強度と、第３検出手順により検出された電圧と、第４検出手順により検出された電圧とに基づいて、変換係数を補正する補正係数を算出する第３算出手順（上記において説明した例では、算出手順Ｃ２）と、を更に有し、第２算出手順は、第１検出手順により検出された電圧と、第１算出手順により算出された変換係数と、第３算出手順により算出された補正係数と基づいて、被測定物の放射電力を算出する手順である、構成が用いられてもよい。
また、電磁波測定方法では、第３アンテナは、第１アンテナと一体に構成されている、構成が用いられてもよい。
以上、この発明の実施形態を、図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない限り、変更、置換、削除等されてもよい。
１…電磁波測定装置、２…情報処理装置、３…受信装置、１１…筐体、１２…電磁攪拌器、Ａ１…第１アンテナ、Ａ２…第２アンテナ、Ａ３…第３アンテナ、Ｃ１、Ｃ２、Ｃ３…算出手順、Ｄ１、Ｄ２、Ｄ３、Ｄ４…検出手順、Ｐ…電子機器、ＰＢ…電界プローブ、ＷＶ…有効空間

Claims (10)

  1. 筐体と、
    取得した電気信号に応じた電磁波を放射する第１アンテナと、
    電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第２アンテナと、
    電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第３アンテナと、
    前記筐体内の電磁波を攪拌する電磁攪拌器と、
    を備え、
    前記第１アンテナ及び前記第３アンテナは、前記筐体内において、前記筐体内における所定の有効空間外に設置されており、
    前記第２アンテナは、前記筐体内において、前記有効空間内に設置されており、
    前記有効空間は、前記電磁攪拌器による電磁波の攪拌によって電界の電界強度のばらつきを示す量が所定量未満となる空間である、
    電磁波測定装置。
  2. 前記第３アンテナは、前記第１アンテナと一体に構成されている、
    請求項１に記載の電磁波測定装置。
  3. 前記第２アンテナのアンテナファクタは、前記第３アンテナのアンテナファクタ以上である、
    請求項１又は２に記載の電磁波測定装置。
  4. 前記第２アンテナ及び前記第３アンテナは、エレメントを有しており、
    前記第２アンテナのエレメントの最大長さは、前記第３アンテナのエレメントの最大長さ以下である、
    請求項１から３のうちいずれか一項に記載の電磁波測定装置。
  5. 前記第２アンテナ及び前記第３アンテナは、開口面を有しており、
    前記第２アンテナの開口面の最大長さは、前記第３アンテナの開口面の最大長さ以下である、
    請求項１から３のうちいずれか一項に記載の電磁波測定装置。
  6. 前記第２アンテナに接続される受信装置を備え、
    前記受信装置のノイズフロアが、電磁波を放射する被測定物に対する放射電力値の許容値の１００分の１以上である、
    請求項１から５のうちいずれか一項に記載の電磁波測定装置。
  7. 筐体と、入力された電気信号に応じた電磁波を放射する第１アンテナと、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第２アンテナと、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第３アンテナと、前記筐体内の電磁波を攪拌する電磁攪拌器とを備えた電磁波測定装置において、
    前記第１アンテナ及び前記第３アンテナは、前記筐体内において、前記筐体内における所定の有効空間外に設置されており、
    前記第２アンテナは、前記筐体内において、前記有効空間内に設置されており、
    前記有効空間は、前記電磁攪拌器による電磁波の攪拌によって電界の電界強度のばらつきを示す量が所定量未満となる空間であり、
    所定の基準状態の前記有効空間内に被測定物を配置し、前記被測定物を稼働させ、前記第３アンテナから出力される電圧を検出する第１検出手順を有する、
    電磁波測定方法。
  8. 筐体と、入力された電気信号に応じた電磁波を放射する第１アンテナと、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第２アンテナと、電界の電界強度を検出し、検出した電界強度に応じた電圧を出力する第３アンテナと、前記筐体内の電磁波を攪拌する電磁攪拌器とを備えた電磁波測定装置において、
    前記第１アンテナ及び前記第３アンテナは、前記筐体内において、前記筐体内における所定の有効空間外に設置されており、
    前記第２アンテナは、前記筐体内において、前記有効空間内に設置されており、
    所定の基準状態の前記有効空間内に被測定物を配置し、前記被測定物を稼働させ、前記第３アンテナから出力される電圧を検出する第１検出手順と、
    前記基準状態の前記有効空間内に電界プローブを配置し、前記第１アンテナから電磁波を放射させ、前記電界プローブから出力される電圧を検出する第２検出手順と、
    前記第１アンテナに放射させた電磁波に応じた電界の電界強度と、前記第２検出手順により検出された電圧とに基づいて、電界強度を電圧に変換する変換係数を算出する第１算出手順と、
    前記第１検出手順により検出された電圧と、前記第１算出手順により算出された前記変換係数とに基づいて、前記被測定物の放射電力を算出する第２算出手順と、
    を有する、
    電磁波測定方法。
  9. 前記有効空間内が前記基準状態である場合において、前記第１アンテナから電磁波を放射させ、前記第２アンテナから出力される電圧を検出する第３検出手順と、
    前記基準状態の前記有効空間内に前記被測定物を配置し、前記第１アンテナから電磁波を放射させ、前記第２アンテナから出力される電圧を検出する第４検出手順と、
    前記第１アンテナに放射させた電磁波に応じた電界の電界強度と、前記第３検出手順により検出された電圧と、前記第４検出手順により検出された電圧とに基づいて、前記変換係数を補正する補正係数を算出する第３算出手順と、
    を更に有し、
    前記第２算出手順は、前記第１検出手順により検出された電圧と、前記第１算出手順により算出された前記変換係数と、前記第３算出手順により算出された前記補正係数と基づいて、前記被測定物の放射電力を算出する手順である、
    請求項８に記載の電磁波測定方法。
  10. 前記第３アンテナは、前記第１アンテナと一体に構成されている、
    請求項７から９のうちいずれか一項に記載の電磁波測定方法。
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