JPH02227671A

JPH02227671A - Ｅｍｉ測定装置

Info

Publication number: JPH02227671A
Application number: JP4729389A
Authority: JP
Inventors: Aiichi Katayama; 片山　愛一; Masatoshi Osakabe; 長下部　正敏; Akira Yokota; 明横田
Original assignee: Anritsu Corp
Current assignee: Anritsu Corp
Priority date: 1989-02-28
Filing date: 1989-02-28
Publication date: 1990-09-10
Anticipated expiration: 2014-08-30
Also published as: JP2942569B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］本発明は供試機器から出力される妨害波のスペクトラム
を測定するＥＭＩ測定装置に係わり、特にオーブンフィ
ールド状態に配設された供試機器から出力される妨害波
を測定するＥ　Ｍ　Ｉ　ｉｆ？ｌ定装置に関する。

［従来の技術］一般の電子機器においては、デジタル回路等から高周波
数の電磁波が放出されている。この電磁波は通信用の電
波に悪影響を及ぼすので電磁妨害波と呼ばれ、国際無線
障害特別委員会規格（ＣＩＳＰＲ）で一定レベル以下に
抑制することが義務付けられている。このような電磁妨
害波を測定する装置としてＥ　Ｍ　Ｉ　　ＣＥＩｅＣｔ
ｌ”ｌＣＭａｇｎｅｔｌｃＩｎｔａｒｒａｒａｎｃ　）
測定装置が開発されている。

この各種機器から出力される電磁妨害波（以下妨害波と
略記する）をオーブンフィールドで測定する場合は、供
試機器から出力さる妨害波以外の外来波も同時に測定す
ることになるので、一般に第９図に示すシステムで測定
する。すなわち、供試機器１をモータ２にて回転駆動さ
れるターンテーブル３上に載置し、この供試機器１から
所定距離離れた位置にモータ４で上下移動可能なアンテ
ナ５を配設して、アンテナ５で受信した妨害波ａと外来
波すとを分析部６でスペクトラム測定を行なう。測定結
果はデータ処理部７で分析される。

また、各モータ２，４は駆動制御装置８にて回転駆動さ
れる。

また、分析部６は、第１０図に示すよに、ミキサ６ａ、
局部発振器６ｂ、測定制御部６ｃ。

ＢＰＦ　（バンドパスフィルタ）６ｄ、検出部６ｅ。

評価回路６ｆを有する。ここで、局部発振器６ｂは測定
制御部６ｃからの指令に応じて周波数掃引を行なう。測
定ルリ陣部６ｃは測定条件設定情報を受けて上記各部を
制御し一貫した動作を行なわせる。ＢＰＦ６ｄはその通
過帯域幅（ＲＢＶ　：Ｒｅ５ｏｌｕｔｉｏｎ　Ｂａｎｄ
　Ｗｉｄｔｈ分解能帯域幅）が可変できるように構成さ
れ、スペクトラム分析における分解能を決定するもので
ある。また、検出部６ｅはＢＰＦ６ｄを介してきたスペ
クトラムのレベルとその周波数を検出して出力する。一
般に、周波数を検出する際に周波数の検出誤差が生じる
が、上記分解能帯域幅ＲＢＶが適正に設定されていれば
、その誤差範囲は測定周波数範囲の数％になる。評価回
路６ｆは、この例では準尖頭値検波器からなり、スペク
トラムの準尖頭値を検出して出力する。

このようなＥＭＩ測定装置は以下に示すようなスペクト
ラム測定を行なった後、供試機器１からの妨害波を評価
測定する。

■　第１２図に示すように、所望の測定周波数範囲ＢＶ
Ｉを分析部６に設定して、供試機器１の電源を遮断し、
妨害波の発生を止めたときの外来波ＡＩ、Ａ２のみのス
ペクトラムの測定を行ない、そのときのレベルが所定し
きい値ＴＨ１以上になるスペクトラムの各周波数Ａ　ｒ
ｌ、　Ａ　ｒ２を求める。

■　供試機器１の電源を投入して、供試機器１からの妨
害波Ｂｌ、Ｂ２と供試機器１以外からの外来波Ａｔ、Ａ
２からなる混合波（Ｂｌ　＋Ｂ２　十Ａｔ　十Ａ２　）
のスペクトラム測定を行なう。この場合、前記所望の測
定周波数範囲ＢＷＩ全部のスペクトラム測定を行なって
、前記しきい値ＴＨ１以上のレベルを有するスペクトラ
ムの各周波数Ａ　ｒｌ。

Ａｒ２．　　Ｂｆｌ、　　Ｂｒ２を検出する。

■　■において測定した各周波数Ａ　Ｈ，Ａ　ｆ２゜Ｂ
ｒｔ、Ｂｒ２から■において測定した周波数Ａ　ｒｌ。

Ａｒ２を除いた周波数Ｂｆｌ、Ｂｒ２を検出する。

■　供試機器１の電源を投入して、前記妨害波の周波数
Ｂｒｌ、Ｂｒ２を中心とする測定周波数範囲ＢＶ２　　
（＜ＢＷＩ　：評価用帯域幅）およびこの評価用帯域幅
に対応する分解能帯域幅ＲＢＶ２を分析部６に設定して
スペクトラムｎ１定を行なう。そして、そのときめ評価
回路６ｆの出力を各周波数Ｂ　ｒｌ。

Ｂｒ２における評価測定結果（評価データ）として出力
する。

なお、上記評価用帯域幅とは、前記国際規格（ＣＩ　５
ＰＲ）等で推奨されている帯域幅である。

また、上記の所望の測定周波数範囲は広い場合が多い。

例えば３０ＭＨｚ〜ＩＧＭＺのような場合は複数の周波
数範囲に分割して測定している。

なお、ターンテーブル３およびアンテナ５の昇降装置は
供試機器１から放射される妨害波をアンテナ５を介して
最良の状態で受信するための装置である。

［発明が解決しようとする課ＷＪ］しかしながら、第９図および第１０図に示したＥＭＩ側
定装定装置いてもまだ解消すべき次の（ａ）〜（ｃ）に
示す問題があった。

（ａ）前述したようにｉｌＮ定周波数範囲が広いために
、複数の周波数範囲に分割してスペクトラム測定を実施
するが、分析部６における周波数測定確度（測定精度）
は、−度に掃引測定しようとする測定周波数範囲８Ｍ　
（スパン）及びその分解能帯域幅ＲＢＭに依存する。し
たがって、例えば得られた周波数Ｂ　ｆｌ、はスペクト
ラムＢｌの正しい中心周波数でない場合が多い。一方、
スペクトラムＢｌの最終評価を実施するための測定周波
数範囲Ｂ１１１は、先の測定周波数範囲に比較して１１
５００以下となる。その結果、誤った周波数Ｂｆｌを中
心として最終評価の測定周波数範囲を設定してスペクト
ラム測定を実行すると、該当するスペクトラムが測定範
囲から外れてしまい、スペクトラムＢｌの評価が実施で
きなくなる問題がある。

（ｂ）上記測定において、所定しきい値ＴＨ，以上のレ
ベルを有するスペクトラムの周波数のみを検出している
のは、第１１図に示すように測定系で生ずる雑音を到来
する外来波又は妨害波として捕捉することを防止するた
めのものである。しかし、低いレベルの妨害波まで感度
良く測定するためにしきい値ＴＨ１を雑音レベル近くま
で下げると、雑音を妨害波又は外来波として捕捉してし
まい誤った測定となる。すなわち、妨害波測定感度を上
昇させことができない欠点があった。

（ｃ’）また、供試機器１の電源を遮断した状態でスペ
クトラム測定を行なった時点（前記■の測定時点）では
生じていなかった外来波のスペクトラムが、供試機器１
の電源を投入し、た状態でスペクトラム測定を実施した
場合に突然生じる場合が考えられる。よって、供試機器
１の電源を投入した場合にのみ生じる上記外来波に起因
するスペクトラムを外来波のものと特定できない問題が
ある。すなわち、この外来波を誤って妨害波と認識して
しまう問題があった。

（ｄ）さらに、上述した突発的に発生する外来波による
スペクトラムは、最終評価測定を実行する過程（前記■
の測定）で発生する事態もある。したがって、この最終
評価段階で生じた外来波によるスペクトラムを除去する
有効な手段がまだ開発されていない。

以上、特に（ｃ）　（ｄ）に示したように各スペクトラ
ム測定段階において、外来波に起因するスペクトラムを
確実に識別して除去できる機能を備えていないので、ス
ペクトラム測定中に不審なスペクトラムが発生すると、
操作者がそのスペクトラム波形や信号レベルから経験に
よりスペクトラム種類を判断して、例えば再測定等を実
施して、不審なスペクトラムの所属を判定する必要があ
った。よって、各段階における測定結果を操作者が判断
して次の段階の測定へ移行する必要があったので、操作
者にとってマニアル操作が残り、非常に煩雑である。

本発明はこのような実情に鑑みてなされたちのであり、
測定周波数範囲と分解能帯域幅の適切な関係に基いて適
確にスペクトラムを捕捉でき、かつ測定したレベルを平
均処理することによってしきい値を下げて妨害波測定感
度を上げるとともに、突発的な外来波による測定誤差を
防止でき、さらに、妨害波測定の作業能率を大幅に向上
できるＥＭＩ測定装置を提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

上記課題を解消するために本発明は、第１図に示すよう
に、供試機器からの妨害波と供試機器以外からの外来波
とでなる混合波の各スペクトラムを所定の測定周波数範
囲で測定してそのレベル及び周波数を検出して出力し、
かつ妨害波を評価するための評価回路を有する分析部を
備え、妨害波を測定するＥＭＩ測定装置であって、各スペクトラムのレベルに対して平均化処理を行なって
平均値を出力する平均処理部と、外来波のみを受けたと
き平均処理部が出力する外来波平均値及びその外来波周
波数と混合波を受けたときの混合波平均値及びその混合
波周波数を基に前記妨害波の周波数を検出して出力する
妨害波検出手段と、始めの測定時に所定の測定周波数範
囲（ＢＶＩ　）を分析部に設定し、以下ｎ回（ｎ≧３）
測定まで順次、前回測定時に妨害波検出手段が出力した
妨害波の周波数を含み前回測定時より狭い測定周波数範
囲（ＢＶｋ　：　ＢＶＩ　＞ＢＭｋ−１＞Ｂｖｋ　＞Ｂ
ｗｎ　）を設定して各測定を行なわせしめる分析制御手
段と、ｎ回測定時に評価回路の出力信号を受け、妨害波
の評価結果を出力する評価手段とを備えたものである。

また、別の発明においては、妨害波検出手段として、外
来波平均値または混合波平均値と所定しきい値とを比較
するための比較手段と、この比較手段で所定しきい値を
越えた外来波平均値及び混合波平均値における外来波周
波数及び混合波周波数を記憶する記憶部と、混合波周波
数から外来波周波数を削除して妨害波の周波数として出
力する削除手段とを備を備えている。

さらに別の発明においては、評価手段として、ｎ回測定
時に分析部からのレベル及び周波数の所定時間内におけ
る各変動量を検出する変動量検出部と、その変動量とｎ
回測定時の妨害波の周波数とを基に妨害波であるかどう
かの判定をする判定手段と、この判定手段が妨害波であ
ると判定した後評価回路の出力信号を受けて記憶し、出
力可能にされた妨害波の評価メモリ（２１２ｃ）とを備
えている。

［作用］このように構成されたＥＭＩ測定装置によれば、始め（
初回）の測定時に所定の測定周波数範囲（ＢＶＩ）を分
析部に設定し、以下ｎ回（ｎ≧３）測定まで順次、前回
測定時に妨害波検出手段の出力した妨害波の周波数を含
み前回測定時より狭い測定周波数範囲（ＢＶｋ　：　Ｂ
ＶＩ　＞Ｂｖｋ−１＞Ｂｖｋ　＞Ｂｗｎ　）を設定して
各スペクトラム測定を行なうようにしている。よって、
ｎ値が大きくなるに従って、すなわち測定回数が進に従
って測定周波数範囲（スパン）　ＢＶが順次狭くなって
いくため、周波数測定分解能が増大して行く。

したがって、たとえ、初回（１回目）の測定にて得られ
た妨害波のスペクトラムの周波数が十分な測定分解能を
もっていなかったとしても、次の段階のスパンをいきな
り最終の評価用のスパン（ｎ回目）へ移行するのではな
く、順次狭い中間のスパンに移行させているので、中間
段階における測定時において、該当スペクトラムが測定
周波数範囲（スパン）から外れることが防止される。

また、平均処理は時々刻々変化するレベルの一定時間内
における平均化を行なうので、レベル変動が大きいと推
定できる外来波および雑音のスペクトラムレベルは、ピ
ーク検波処理に比較して、その出力レベルが大幅に低下
する。一方、供試機器から出力される妨害波のレベル変
動は少ないので、妨害波のスペクトラムは、ピーク検波
処理に比較して、その出力レベルが大幅に低下すること
はない。よって、この平均化処理を最初のｎ１定および
中間段階における測定に採用することにより、外来波お
よび雑音のスペクトラムと妨害波のスペクトラムとをよ
り明確に区別でき、かつ第５図（ａ）に示したしきい値
ＴＨ，を同図（ｂ）に示すしきい値ＴＨ１へ低下できる
ので、第１２図に示す従来しきいち値ＴＨＯ以下の妨害
波によるスペクトラムＢ３も確実に検出できる。

このように、最初の測定及び各中間段階における測定で
確実に妨害波のスペクトラムを指定できるので、最初の
測定から最終の評価測定に至るまでの処理過程を完全自
動化できる。

さらに、最終の評価測定中に外来波によるスペクトラム
が突然現われたとしても、一定時間内のレベル変動及び
周波数変動を測定することによって、この外来波による
スペクトラムを識別して除去できる。

〔実施例〕

以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。

第２図は実施例のＥ　Ｍ　Ｉ　ｍＩ定装置の概略構成を
示す模式図である。なお、第９図と同一部分には同一符
号が付しである。

供試機器１をモータ２にて回転駆動されるターンテーブ
ル３上に載置し、この供試機器１から所定距離離れた位
置にモータ４で上下移動可能なアンテナ５を配設して、
アンテナ５で受信した妨害波すと外来波ａとを分析部２
０でスペクトラム測定を行なう。分析部２０は第１０図
とほぼ同様の構成を有し、測定制御部６Ｃで制御される
。分析部２０で測定された測定結果は副制御部２１ａへ
送出される。副制御部２１ａに接続された制御部２１は
一種のパーソナルコンピュータで構成されており、分析
部２０から入力されたスペクトラム測定結果に対して各
種データ処理を実行するとともに、データ処理結果をプ
リンタ２２に印字出力したり、ＣＲＴ表示器２４に表示
する。また、制御部２１は、アンテナ制御回路２４を介
してモータ４を駆動してアンテナ５の上下位置を制御し
、ターンテーブル制御回路２５を介してモータ２を駆動
してターンテーブル３の回転角度位置θを制御する。さ
らに、制御部２１は電源制御回路２６を介して供試機器
１の電源を投入／遮断制御する。

また、供試機器１から出力される妨害波すを受信する場
合に最良の受信レベルを得るために制御すべきアンテナ
５の高さ（上下方向位置）は妨害波すの周波数との関係
において理論的に求められ、第６図に示す特性となる。

よって、測定周波数範囲を変更すると、アンテナ５の高
さをその都度理論値に設定する必要がある。なお、この
各周波数に対応するアンテナ高さの各理論値は制御部２
１内に予め記憶されている。

第１図は分析部２０および副制御部２１ａの概略構成を
示すブロック図である。なお、分析部２０は第１０図で
示した従来の分析部６と同一構成である。

副制御部２１ｇは、平均処理部２１０．妨害波検出手段
２１１．評価手段２１２８分析制御手段２１３、および
出力インタフェース２１４からなり、その構成はＣＰＵ
、ＲＯＭ、ＲＡＭ等で達成される。

このなかで、平均処理部２１０は、検出部６ｅから出力
されるスペクトラムの周波数及びレベルに関する測定デ
ータのうち、レベルを平均処理してその平均値を出力す
る。平均値としては、外来波のスペクトラムを測定した
ときの外来波平均値。

外来波と妨害波のスペクトラムを測定したときの混合波
平均値がある。

妨害波検出手段２１１においては、比較手段２１２ａで
平均処理手段２１０からの平均値のうち、所定しきい値
以上の平均値に該当するスペクトラムの周波数を出力す
る。第１のメモリ２１１ｂは所定しきい値以上の外来波
平均値とそれに該当するスペクトラムの周波数を記憶す
る。

また、第２のメモリ２１１Ｃは所定しきい値以上の混合
波平均値とそれに該当するスペクトラムの周波数を記憶
する。さらに、削除手段２１１ｄは第１．第２のメモリ
２１１ｂ、２１１ｃに記憶された周波数と平均値をもと
に、妨害波の周波数とレベルを算出して出力する。すな
わち、この削除手段２１１ｄは混合波における各スペク
トラムの各周波数から外来波のスペクトラムの周波数を
削除して、その残りの周波数を妨害波の周波数として出
力している。

評価手段２１２においては、変動量検出手段２１２ａで
検出部６ｃから出力される妨害波と思われるスペクトラ
ムの周波数とレベルを受け、その周波数とレベルの所定
時間内における変動量を検出して出力する。判別手段２
１２ｂはその変動量が先に妨害波検出手段２１１で検出
した妨害波の周波数とレベルを各々比較して、妨害波と
思われるスペクトラムの周波数とレベルの変動量が共に
所定範囲内であれば妨害波のものと確定して、その結果
を出力する。評価メモリ２１２ｃは前記確定後に検出部
６ｅから出力されてくる妨害波のスペクトラムの周波数
とレベルを記憶して次の出力インタフェース２１４へ出
力する。

°分析制御手段２１３は、初めの測定において、初期条
件情報（特に、測定周波数範囲Ｂ１１１１及び分解帯域
幅ＲＢＶＩ）を測定条件決定手段２１３ｂで受信し、そ
の情報に従って分析部、２０を制御して測定せしめる。

また、その情報を測定条件メモリ２１３Ｃへ記憶する。

２回目からＮ回目までの測定では、測定条件決定手段２
１３ｂが妨害波検出手段２１１から出力される妨害波の
周波数に基いて、測定条件メモリ２１３Ｃに記憶されて
いる前回測定した測定周波数範囲（ＢＶｋ−１）　、分
解能帯域幅（ＲＢＩｆｋ−１）　、にり狭いｎ１定周波
数範囲ＢＶｋ　　（＜ＢＶｋ−１）　、分解能帯域幅Ｒ
ＢＷｋ　（＜　ＲＢＩｆｋ−１）　テ前回１１１Ｊ定さ
れた妨害波を含む周波数範囲を分析部２０に設定して、
測定せしめる。このとき、Ｎ回目の測定時に測定条件決
定部２１３ｂが分析部２０のＢＰＦ６ｄに設定する分解
能帯域幅１１ＢＶｋは、この実施例においては、前述し
たＣｌ５ＰＲ規格で指定されている１２０ｋｌｌｚとし
ている。

なお、Ｎ回目の測定において、判定手段２１２ｂ及び変
動量検出手段２１２ａによる判定が不要な場合には、す
なわち後述するような突発的な外来波の入力が考えられ
ない場合は、評価メモリ２１２Ｃが評価回路６ｆからの
評価データを記憶し、出力する。この場合は、平均処理
手段２１０及び妨害波検出手段２１１は動作しなくとも
よい。一方、変動量検出手段２１２ａ及び判定手段２１
２ｂによる判定を行なう場合は、判定に要する測定がＮ
回目にあたり、判定結果が出た後に再度Ｎ回目と同一条
件で分析部２０が測定したときの評価回路６ｆから出力
される評価データを評価メモリ２１２Ｃに記憶する。

また、Ｉ＃Ｉ定条件決定手段２１３ｂは、妨害波選択情
報として、例えば［２］と設定されると妨害波の大きさ
順に２個の波を選択して、その周波数を次の測定におけ
る設定周波数として分析部２０に設定する。

出力インタフェース２１４は、上記各部からのデータを
記憶し、必要に応じて、ＣＲ７表示器２３、プリンタ２
２等に出力できるように構成されている。

一方、図示しないが、上記各部は制御部２１とパスライ
ンで接続され、−貫した動作がされるように制御される
。

このように構成されたＥＭＩ測定装置を用いて例えば第
４図に示すような３０ＭＨｚ〜ＩＧＨｚのような広い周
波数領域に亘って測定を実施する場合は、全ｎ１定周波
数範囲を複数の区分された測定周波数範囲（以下これを
スパンという）に分割して、各スパンに対して予備測定
を実施する。この予備測定で測定される各スパンは図示
するように例え（ｆ２０ＭＨｚ幅〜１５０ＭＨ２幅まで
の値とする。スパン１５０ＭＨｚにおける予備測定で妨
害波及び混合波のスペクトラムが特定°されると、その
各スペクトラムの周波数を中心に例えば６ＭＨｚの狭い
スパンで中間測定（外来波及び妨害波測定）を実行する
。なお、このスパンは例えば予備測定時のスパンの４％
と設定している。これは、局部発振器６ｂが周波数掃引
する際の掃引周波数の誤差が例えば±２％以下であるこ
とから、予＃１＃Ｊ定時のスパンの４％が中間測定のス
パンの下限値となるためである。さらに、この中間測定
で得られた妨害波のスペクトラムの周波数を中心に例え
ばスパン２４０ＫＨｚの最終の評価量測定を実行する。

そして、上記各スパンは測定条件設定部２１３ｂ内に予
め記憶されている。

なお、ここで１回の測定とは、測定周波数の全範囲（２
回目以降は先に測定した妨害波周波数を含む周波数範囲
）に亘って外来波と混合波のスペクトラム測定を行ない
、妨害波検出手段２１１が一連の妨害波の周波数を出力
するまでを言う。この実施例においては、上記測定回数
ｎを３回とし、以下ｎ−１，２，３の各測定を予備測定
、中間測定、最終評価測定と称する。

先ず、供試機器１から出力される妨害波のうち一方向の
妨害波を測定する場合の動作を説明する。

すなわち、第２図におけるアンテナ制御回路２４゜ター
ンテーブル制御回路２５による制御を所定のところで固
定した状態での動作例である。

この動作の流れ図を第３図に示し、そのときの検出部６
ｅから出力される測定データの表示例を第４図に示す。

この表示は出力インタフ土−ス２１４を介し、ＣＲＴ表
示′ａ２３に表示された例である。

すなわち、第３図の流れ図において、Ｐｌ乃至Ｐ２にて
予備測定が実施される。まず、Ｐｌにて供試機器１の電
源を遮断する。そして、第４図に示すようにスパンＢＶ
Ｉを８５０　ＭＨｚ〜ＩＧＨｚに設定し、かつ分解能帯
域幅ＲＢＷＩを８００ｋＨｚに設定して、分析部２０で
外来波に対するＤ１定を行なう。そして、測定データに
対して平均処理を実施したのち、しきい値ＴＨ以上の外
来波平均値およびその周波数Ａｒｔ、　Ａｒ２を第１の
メモリ２１１ｂへ記憶する。

次に、供試機器１の電源を投入して、外来波測定と同一
条件で混合波に対する各スペクトラムの測定を実行する
。そして、平均処理を行ない、しきい値以上の混合波平
均値及びその周波数を第２のメモリ２１１Ｃへ記憶する
。そして、混合波測定によって得られた各周波数値から
先の外来波測定によって得られた各周波数を削除して、
妨害波の各スペクトラムＢｌ、Ｂ２の周波数Ｂｆｌ、Ｂ
ｒ２を求めて出力する。最後にＰ２にて妨害波選択情報
にに基いて選択する周波数の数を設定する。なお、実施
例では２個の周波数Ｂｒ１．　　Ｂｒ２（Ａｒ２）を選
択する。なお、図示するように、Ａｒ２とＢｒ２とが明
確に区別できない場合には、いずれか一方の周波数を採
用する。以上で予備測定を終了する。

次にＰ３乃至Ｐ４にて中間測定を実行する。すなわち、
Ｐ３にて供試機器１の電源を遮断して、外来波スペクト
ラム測定を実行する。この場合、周波数Ｂｆｌに対する
スパンＶＢ２０は先に選択された周波数Ｂｆ’ｌを中心
に±３ＭＨｚとする。また分解能帯域幅ＲＢＶ２は予１
ｉｉ！測定より狭い３００ｋＨ２に設定する。また、周
波数Ｂｒ２に対するスパンＢＶ２１は周波数Ｂｆ２を中
心に±３ＭＨｚとする。また分解能帯域幅ＲＢＷ２は同
じである。そして、２回の測定で得られた測定データを
それぞれ平均処理し、しきい値以上の外来波平均値及び
その周波数Ａ゛「２を第１のメそり２１１ｂへ記憶する
。

次に供試機器１の電源を投入して、前述と同一条件で混
合波に対する２回の測定を実行する。そして、ａｌ定デ
ータを平均処理し、しきい値以上の混合波平均値及びそ
の周波数ａｌｌ、Ａ″１２゜Ｂ″ｒ２を第２のメモリ２
１１ｂへ格納する。なお、この中間測定においては分解
能帯域幅ＲＯＷ　２が狭いので、Ａ″ｒ２とＢ″ｆ２と
は正確に識別可能である。

Ｐ４にて、第２のメモリ２１１Ｃの混合波の各周波数か
ら第１のメモリ２１１ｂの各周波数を除去して、妨害波
の周波数Ｂ″ｒｌ、　　Ｂ″Ｆ２を出力する。

以上で中間測定を終了する。

次にＰ５乃至Ｐｌにて最終評価測定を実行する。

すなわち、Ｐ５にて各スパンＢＷ３１．　ＢＷ３２を中
間測定で得られた各周波数Ｂ″Ｉ’ｌ、　　Ｂ″ｒ２を
中心に±１２０ｋＨｚに設定し、分解能帯域幅ＲＢＷ３
を中間測定より狭い１２０ｋＨｚに設定する。そして、
妨害波に対するスペクトラム測定を実行して、変動量検
出手段２１２ａにて周波数及びレベルの所定時間内にお
ける変動量を測定する。Ｐ６にてＤ１定された変動量が
所定範囲内であるか否かを判定手段２１２ｂにて判定す
る。所定範囲内であれば、該当周波数のスペクトラムは
突発的な外来波によるものではないので、再度妨害波に
対するスペクトラム測定を同一条件で実行する。そして
、今度は評価回路６ｆから得られる評価データを評価メ
モリ２１２Ｃへ記憶するとともに出力インタフェース２
１４を介して出力する。そして、Ｐｌにて出力された評
価データをＣＲＴ表示器２３へ表示する。なお、Ｐ６に
て変動量が所定範囲を越える場合は、該当周波数のスペ
クトラムは突発的な外来波のスペクトラムであるので、
測定を中止して評価データの取込みを行なわない。以上
で最終評価測定を終了する。

このような手順で測定を実行する本発明のＥ　Ｍ　Ｉ　
７１１１定装置においては、次のような特徴を有する。

すなわち、第５図に示すように、従来装置においては、
しきい値ＴＨｏは雑音のレベル変動を避ける必要があっ
たが、この発明においては、平均処理により雑音のレベ
ル変動を圧縮しているので、第５図（ｂ）に示すように
、そのしきい値ＴＨ。

を下げることができ、スペクトラム検出精度を向上させ
ることができた。

また、スペクトラム測定を、予Ｂ　ＤＩ定、中間測定、
最終評価測定と少なくとも３段階以上に分割し、各測定
において前のｎ１定における周波数検出の誤差範囲に入
る周波数測定範囲（スパン）を次の測定に設定して測定
している。よって、一つ前の測定にて得られたスペクト
ラムを今回の測定によって見逃すことなく、確実に該当
スペクトラムのａｌｌ定が可能になる。

さらに、たとえ、最終評価測定に突発的な外来波が入っ
たとしても、この外来波のスペクトラムを妨害波のスペ
クトラムと誤認して評価測定を行なうことはない。

なお、この外来波の識別において、外来波は一般に放送
波等であることが多く、そのほとんどが変調波であるこ
と、また長距離伝搬の影響を受けていること等により、
そのレベル、周波数の変動が大きい性質があるのに対し
て、妨害波はほぼ安定したレベル、周波数である性質を
利用して両者を区別している。

次に、供試機器１をターンテーブル上で回転させ全方向
の妨害波を測定する場合における、制御部２１．副制御
部２１ａ、およびこの副制御部２１ａに含まれる分析制
御手段２１３の実際の測定処理動作を第７図および第８
図の流れ図を用いて説明する。

ＷＳ７図において測定開始されると、Ｓ（ステップ）１
にて制御部２１は電源制御回路２６を介して供試機器１
の電源を遮断する。つまり、外来波のみをアンテナ５で
受信する状態を作る。次に測定条件設定手段２１３ｂは
スパン数を計数するために、各スパンに付されるスパン
番号Ａｙを初期値１に設定する。そして、Ｓ２にて１１
−１定条件設定手段２１３ｂにて設定されたスパン番号
Ａｖのスパン（Ｗスパン）に対応するアンテナ高さの理
論値を前記第６図から求めてその理論高さに設定する。

しかして、分析部２０に指定されたＷスパンを設定して
、外来波スペクトラム測定を実行させる。そして、得ら
れたスペクトラムにおける予め設定したしきい値ＴＨ，
以上の外来波のスペクトラムの波形を記憶する。そして
、この外来波の各スペクトラムをＣＲＴ表示器２３に表
示する。一つのＷスパンのスペクトラム測定が終了する
と、スパン番号Ａｙに１を加算する。Ｓ３にて加算後の
スパン番号Ａｙが最終のスパン番号へ■を越えていなけ
れば、Ｓ２へ戻り、アンテナ高さを調整して次のＷスパ
ンに対するスペクトラム測定を実行する。

Ｓ３にてスパン番号Ａｙが最終のスパン番号ＡＩを越え
ると、全１１１１定周波数領域の外来波のみの全スペク
トラムの測定が終了したので、Ｓ４にて供試機器１の電
源を投入する。そして、前述したスパン番号Ａｙを初期
Ｍｌに設定して、８５゛にてアンテナ高さを該当Ｗスパ
ンの理論値に設定する。次にターンテーブル制御回路２
５を介してターンテーブル３の回転角度位置θを基準角
度位置に設定する（θ−０）。

Ｓ６にて回転角度位置θにおけるスパン番号Ａｙの指定
するスパンの混合波スペクトラム測定を実行する。そし
て、得られた妨害波および外来波の各スペクトラムを含
むしきい値ＴＨ１以上のデータのうち、先の供試機器１
の電源を投入しないで測定された外来波のみのデータを
削除して、残りのデータ、すなわち妨害波によるスペク
トラムのみを記憶する。なおこの場合、各スペクトラム
の周波数ｆＭを記憶する。そして、ターンテーブル３の
回転角度位置θを所定角度Δθだけ回転させて、Ｓ６に
て再度向−Ｗスパンのスペクトラム測定を実行する。そ
して、Ｓ７にて回転後の回転角度位置θが２π（１回転
）に達すると、得られた測定データをＣＲＴ表示器２３
に表示する。

次にスパン番号Ａｙに１を加算して、Ｓ５へ戻り、該当
Ｗスパンに対するスペクトラム測定を実行する。そして
、Ｓ８にて全Ｗスパンに対するスペクトラム測定が終了
すると、予備測定が終了したので、Ｓ９以降の中間測定
を実行する。

中間測定が開始されると、Ｓ９にて供試機器１の電源を
遮断して、予備測定で得られた妨害波の各スペクトラム
の各周波数ｆ、を決定する。そして、各周波数ｆ、に測
定ポイント番号を設定して、測定ポイント番号Ｐを初期
値１に設定する。そして、Ｓ１０にてＰ番目の測定ポイ
ントの測定周波数領域、すなわちスパンを（ｆＭ４：Ｗ
スパンの２％）のＮ（ナロー）スパンに設定する。した
がって、このＮスパンはＷスパンの４％となる。次に、
このＮスパンに対応する理論値にアンテナ高さを設定す
る。そして、Ｎスパンに対する外来波スペクトラム測定
を実施する。そして、測定結果にしきい値ＴＨ１以上の
スペクトラムが生じた場合は、そのスペクトラムは外来
波に起因するスペクトラムであるので、そのスペクトラ
ムの波形を記憶する。一つの測定ポイントのスペクトラ
ム測定が終了すると、ハ１定ポイント番号Ｐに１を加算
して、次の測定ポイントに対するスペクトラム測定を実
行する。

そして、Ｓ１１にて設定された全部の測定ポイントに対
する外来波に対するスペクトラム測定が終了すると、Ｓ
１２にて供試機器１の電源を投入する。そして、測定ポ
イント番号Ｐを初期値１に設定し、Ｓ１３にて設定され
た測定ポイントＰの指定する周波数ｆＭに対応する理論
高さにアンテナ５の上下位置を調整する。そして、ター
ンテーブル３の回転角度位置θを先の予備１ｆｌＪ定で
得られた測定値が最大値に対応する角度位置に設定する
。

次に、Ｎスパンを設定して、混合スペクトラム測定を実
行する。

そして、得られた妨害波のスペクトラムと外来波のスペ
クトラムを含むデータのうち、前記供試機器１の電源遮
断時の測定で得られたしきい値ＴＨ，以上のデータ、す
なわち外来波によるスペクトラムを削除して、残りのス
ペクトラムを評価測定用のスペクトラムとして各スペク
トラムの周波数ｆ、を記憶する。なお、この場合記憶す
る周波数ｆ、の敗は、確率的に充分であると考えられる
、レベルの大きい順に最大３個（Ｎ−３）に制限してい
る。すなわち、隣接して多数のスペクトラムが存在すれ
ばそれらを１個のスペクトラムと見なしている。そして
、Ｓ１４にて設定された各評価測定用のスペクトラムの
各周波数ｆ、に評価測定ポイント番号Ｅを導入しくＥ≦
３）、Ｅを初期値１に設定する。

Ｓ１５にてＥ番目の評価Δ１１定ポイントにおける最終
評価測定におけるスパンを（ｆＭ±１２０ＫＨｚ）に設
定しく評価用スパン−２４０Ｋ１１ｚ）、設定された評
価用スパンでスペクトラム測定を実行する。そして、得
られた各文ペクトラムのレベルおよび周波数の変動を予
め定められた一定時間測定する。そして、Ｓ１６にて測
定された変動値が所定範囲内であれば、該当スペクトラ
ムは妨害波のスペクトラムであると判断できる。なお、
変動値が所定範囲外であれば、該当スペクトラムは外来
波のスペクトラムであると判断できるので、最終評価測
定を行なわない。

該当スペクトラムが妨害波のスペクトラムと判断すると
、第８図の８１７にてアンテナ高さを移動させながら、
スペクトラムの測定レベルが最大値を示す高さに設定す
る。同様に、ターンテーブル３を回転させてスペクトラ
ムの測定レベルが最大値を示す回転角度位置に設定する
。

そして、Ｓ１８にて分析部２０において、該当スペクト
ラムに対する最終の評価測定を実施する。

そして、評価回路６ｆから出力される評価データを記憶
するとともに、ＣＲＴ表示器２３へ表示する。

一つのスペクトラムの最終評価測定が終了すると、評価
測定ポイント番号Ｅを１だけ増加してＳ１５へ戻り、次
の評価測定ポ、インドのスペクトラムに対する評価測定
処理を開始する。そして、Ｓ１９にて評価測定ポイント
番号Ｅが最大値ＥＮ（−３）を越えると、測定ポイント
番号Ｐに１を加算して、８１３へ戻り、次の測定ポイン
トのスペクトラムに対する供試機器電源投入時における
中間測定処理を開始する。

そして、Ｓ２０にて測定ポイント番号Ｐが予備測定終了
時点で得られた妨害波のスペクトラムの数で示される最
大Ｗｉ　Ｐ　ｓを越えると、供試機器１から出力される
妨害波に対する一連のスペクトラム評価測定を終了する
。

このように構成されたＥＭ夏測測定装置よれば、予備測
定、中間測定、最終評価測定における測定の周波数領域
を示すＷスパン、Ｎスパン、評価用スパンは、第４図に
示すような大小関係に設定されているので、広いスパン
で測定されたスペクトラムの周波数ｆ、を中心にして次
に狭いスパンを設定されたとしても、該当スペクトラム
が次に狭いスパンの測定領域を外れることはない。

ちなみに、分析部２０において、分解能帯域幅ＲＢｗ（
精度）を−度に測定できる周波数幅ＢＶの２％とし、Ｎ
スパンはＷスパンの４％であるとすると、Ｗスパンにお
ける分解能帯域幅は［Ｗスパンｘ　０．０２］　となる
。したがって、Ｗスパンを１５０ＭＨｚとすると、Ｗス
パン内における分解能帯域幅は±３ＭＨｚとなる。一方
、この場合のＮスパンは６ＭＨｚとなるので、Ｗスパン
で測定されたスペクトラムの周波数ｆ、において最大３
ＭＨｚの誤差が生じたとしても、Ｎスパンを外れること
はない。

次にＮスパンは６ＭＨｚであるので、Ｎスパン内におけ
る分解能帯域幅は６　Ｍ　Ｈｚ　Ｘ　０．０２−±１２
０ＫＨｚとなる。したがって、Ｎスパンで測定されたス
ペクトラムの周波数ｆＭにおいて最大１２０ＫＨｚの誤
差が生じたとしても、２４０ＫＨｚの評価用スパンを外
れることはない。

このように、広いスパンから狭いスパンへ移行する場合
に該当スペクトラムが測定範囲を外れる事はないので、
上記スパン移行を自動化することが可能となる。

さらに、予備測定時および中間測定時において書≠、分
析部２０をピーク処理から平均処理へ移行させているの
で、・前述したように、外来波のスペクトラムのレベル
を、ピーク処理した場合に比較して、大幅に低下できる
。よって、外来波のスペクトラムと妨害波のスペクトラ
ムとの区別がより明確になり、前述した供試機器１の電
源を投入／遮断して両スペクトラムを区別する場合の区
別がより明確になり、たとえその判断を自動化したとし
ても誤判断が発生する確率は非常に小さくなる。

また、しきい値ＴＨ，を従来の値ＴＨｏに比較して低い
値に設定できる。その結果、従来、しきい値近傍に埋も
れていた妨害波のスペクラムや外来波のスペクトラムに
埋もれていた妨害波のスベクラムが検出可能となる。

さらに、最終評価測定段階において測定すべき妨害波の
スペクトラムの他に突発的に外来波のスペクトラムが生
じたとしても、各スベクラムのレベル変動値及び周波数
の変動値を測定することによって、レベル変動値および
周波数変動値の少ないスペクトラムを妨害波のスペクト
ラムと時定でき、確実に妨害波のスペクトラムのみを抽
出できる。よって、最終評価測定段階においても、自動
的に目標とするスペクトラムを評価測定することが可能
になる。

以上のように各段階において、妨害波のスペクトラムを
外来波のスペクトラムに対して確実に区別できるので、
ヤ予備測定から最終評価！１−１定までを操作者の判断
を必要としない完全自動化測定とすることが可能となる
。

［発明の効果］以上説明したように本発明のＥＭＩ測定装置によれば、
１回目の測定と最終の評価測定との間に少なくとも一つ
以上の中間測定を挿入し、かつ最終の評価測定を除く各
段階におけるスペクトラム測定にピーク検波処理の代り
に平均処理を用いている。よって、ｉｆＮ定周波数範囲
を狭くする場合に該当スペクトラムが狭くしたΔ−１定
周波数範囲を外れることがなく、また、供試機器から出
力される妨害波のスペクトラムを外来波のスペクトラム
から確実に区別できる。その結果、高い測定精度を維持
したまま、１回目の測定から最終評価１１定までのｎ１
定動作を完全に自動化でき、妨害波の測定作業の能率を
大幅に向上でき、さらに操作者の負担を大幅に軽減でき
る。

また、最終評価測定段階でレベル及び周波数の麦動測定
を行なっているので、たとえ最終評価段階で外来波のス
ペクトラムが発生したとしても、そのスペクトラムを確
実に除去できる。したがって、上記測定精度をさらに向
上できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明を示す機能ブロック図、第２図乃至第８
図は本発明の一実施例に係わるＥ　Ｍ　Ｉ　１１！１１
定装置を示すものであり、第２図は全体を示す模式図、
第３図と第７図および第８図は動作を示す流れ図、第４
図は各段階における測定動作を示す模式図、第５図は効
果を説明するためのスペクトラム特性図、第６図は周波
数とアンテナ高さの関係を示す特性図であり、第９図は
従来のＥＭＩ測定装置を示す模式図、第１０図は一般的
な分析部を示すブロック図、第１１図は外来波と妨害波
と雑音との関係を示す特性図、第１２図は従来装置の動
作を説明するための特性図である。１・・・供試機器、３・−・ターンテーブル、５・・・
アンテナ、６Ｃ・・・測定制御部、６ｆ・・・評価回路
、２０・・・分析部、２１・・・制御部、２１ａ・・・
副制御部、２３・・・ＣＲＴ表示器、２６・・・電源制
御回路、２１０・・・平均処理手段、２１１・・・妨害
波検出手段、２１２・・・評価手段、２１３・・・分析
制御手段。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦第図第１０図周波数ｆ第１１図第１２図手続補正書平成元年４・月４日

Claims

【特許請求の範囲】

（１）供試機器からの妨害波と前記供試機器以外からの
外来波とでなる混合波の各スペクトラムを所定の測定周
波数範囲で測定してそのレベル及び周波数を検出して出
力し、かつ妨害波を評価するための評価回路を有する分
析部を備え、前記妨害波を測定するＥＭＩ測定装置であ
って、前記各スペクトラムのレベルに対して平均化処理を行な
って平均値を出力する平均処理部（２１０）と、前記外来波のみを受けたとき前記平均処理部が出力する
外来波平均値及びその外来波周波数と前記混合波を受け
たときの混合波平均値及びその混合波周波数を基に前記
妨害波の周波数を検出して出力する妨害波検出手段（２
１１）と、始めの測定時に所定の測定周波数範囲（ＢＷ１）を前記
分析部に設定し、以下ｎ回（ｎ≧３）測定まで順次、前
回測定時に妨害波検出手段が出力した妨害波の周波数を
含み前回測定時より狭い測定周波数範囲（ＢＷｋ：ＢＷ
１＞ＢＷｋ−１＞Ｂｗｋ＞ＢＷｎ）を設定して各測定を
行なわせしめる分析制御手段（２１３）と、ｎ回測定時に前記評価回路の出力信号を受け、前記妨害
波の評価結果を出力する評価手段（２１２）と、を備えたことを特徴とするＥＭＩ測定装置。
（２）前記妨害波検出手段は、外来波平均値または混合
波平均値と所定しきい値とを比較するための比較手段（
２１１ａ）と、この比較手段で前記所定しきい値を越え
た外来波平均値及び混合波平均値における外来波周波数
及び混合波周波数を記憶する記憶部（２１１ｂ、２１１
ｃ）と、前記混合波周波数から前記外来波周波数を削除
して前記妨害波の周波数として出力する削除手段（２１
１ｄ）とを備えたことを特徴とする請求項１記載のＥＭ
Ｉ測定装置。
（３）前記評価手段は、ｎ回測定時に前記分析部からの
レベル及び周波数の所定時間内における各変動量を検出
する変動量検出部（２１２ａ）と、その変動量とｎ回測
定時の妨害波の周波数とを基に妨害波であるかどうかの
判定をする判定手段（２１２ｂ）と、この判定手段が妨
害波であると判定した後前記評価回路の出力信号を受け
て記憶し、出力可能にされた前記妨害波の評価メモリ（
２１２ｃ）とを備えた請求項１又は請求項２記載のＥＭ
Ｉ測定装置。