JPH0143913B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0143913B2 JPH0143913B2 JP57114635A JP11463582A JPH0143913B2 JP H0143913 B2 JPH0143913 B2 JP H0143913B2 JP 57114635 A JP57114635 A JP 57114635A JP 11463582 A JP11463582 A JP 11463582A JP H0143913 B2 JPH0143913 B2 JP H0143913B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interference noise
- band
- emi
- receiver
- intensity
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 2
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 22
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/316—Testing of analog circuits
- G01R31/3161—Marginal testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は電子機器から発生する干渉雑音（以
下「EMI」と呼ぶ）を計測する干渉雑音試験装
置に係り、詳しくは上記EMIに含まれる狭帯域
性（以下「NB」と呼ぶ）と広帯域性（以下
「BB」と呼ぶ）雑音を識別するEMI試験装置を
提供するものである。なお、上記EMIには放射
性と伝導性の２種類あるが、ここでは説明の便宜
上、放射性EMIについて述べる。
下「EMI」と呼ぶ）を計測する干渉雑音試験装
置に係り、詳しくは上記EMIに含まれる狭帯域
性（以下「NB」と呼ぶ）と広帯域性（以下
「BB」と呼ぶ）雑音を識別するEMI試験装置を
提供するものである。なお、上記EMIには放射
性と伝導性の２種類あるが、ここでは説明の便宜
上、放射性EMIについて述べる。
まず従来のこの種装置について図を用いて簡単
に説明する。
に説明する。
第１図は従来のEMI計測装置の構成を示すブ
ロツク図、第２図はEMIのNBとBBの分類の概
念を示す図である。
ロツク図、第２図はEMIのNBとBBの分類の概
念を示す図である。
図中１は供試体（例えば電子機器）、２は上記
供試体１が発生する放射性EMIを受信する受信
アンテナ、３は上記受信アンテナ２で受信された
上記放射性EMIを伝送する高周波伝送路（以下
RF伝送路と呼ぶ）、４は上記RF伝送路３で上記
受信アンテナ２に接続され、上記放射性EMIを
帯域波し、受信機５が飽和しないよう不要の上
記放射性EMIを阻止するプリセレクタ、５は上
記プリセレクタ４で帯域制限された上記放射性
EMIを受信し、そのレベルを計測し、この計測
値をインターフエースバスケーブル６経由CPu８
へ送出する受信機、６は入出力インタフエース７
と各構成要素５，１０，１１を接続しCPu８との
間でやりとりされるデイジタル信号を伝送するイ
ンタフエースバスケーブル、８は処理プログラム
に従つて各構成要素５，１０，１１を制御し、か
つ上記計測値の処理を行う中央処理装置（CPuと
呼ぶ）、９は上記処理プログラム、計測置及び試
験条件などを記憶し、上記CPU８との間で情報
の授受を行う記憶装置、１０は上記入出力インタ
フエース７に接続され上記計測値などを表示、出
力する出力表示装置（例えばCRT、プリンタな
ど）、１１は上記入出力インタフエース７に接続
され試験条件などの情報をCPu８に入力する入力
装置（例えばキーボードなど）である。
供試体１が発生する放射性EMIを受信する受信
アンテナ、３は上記受信アンテナ２で受信された
上記放射性EMIを伝送する高周波伝送路（以下
RF伝送路と呼ぶ）、４は上記RF伝送路３で上記
受信アンテナ２に接続され、上記放射性EMIを
帯域波し、受信機５が飽和しないよう不要の上
記放射性EMIを阻止するプリセレクタ、５は上
記プリセレクタ４で帯域制限された上記放射性
EMIを受信し、そのレベルを計測し、この計測
値をインターフエースバスケーブル６経由CPu８
へ送出する受信機、６は入出力インタフエース７
と各構成要素５，１０，１１を接続しCPu８との
間でやりとりされるデイジタル信号を伝送するイ
ンタフエースバスケーブル、８は処理プログラム
に従つて各構成要素５，１０，１１を制御し、か
つ上記計測値の処理を行う中央処理装置（CPuと
呼ぶ）、９は上記処理プログラム、計測置及び試
験条件などを記憶し、上記CPU８との間で情報
の授受を行う記憶装置、１０は上記入出力インタ
フエース７に接続され上記計測値などを表示、出
力する出力表示装置（例えばCRT、プリンタな
ど）、１１は上記入出力インタフエース７に接続
され試験条件などの情報をCPu８に入力する入力
装置（例えばキーボードなど）である。
次に第１図に示すEMI計測装置の動作を第２
図を用いて説明する。
図を用いて説明する。
さて、供試体１から発する放射性EMI，Ｐは
受信アンテナ２により受信されRF伝送路３を通
つてプリセレクタ４へ入力する。ここで所定の帯
域幅Ｗ１で上記放射性EMI，Ｐを帯域波し、
受信機５へ入力する。受信機５は所定の中間周波
帯域幅Ｗ２で上記放射性EMIの周波数スペクト
ラムＳを計測する。
受信アンテナ２により受信されRF伝送路３を通
つてプリセレクタ４へ入力する。ここで所定の帯
域幅Ｗ１で上記放射性EMI，Ｐを帯域波し、
受信機５へ入力する。受信機５は所定の中間周波
帯域幅Ｗ２で上記放射性EMIの周波数スペクト
ラムＳを計測する。
そして上記周波数スペクトラムＳの計測値はイ
ンタフエースバスケーブル６経由入出力インタフ
エース７へ送られ、CPu８にとりこまれる。
ンタフエースバスケーブル６経由入出力インタフ
エース７へ送られ、CPu８にとりこまれる。
ここで上記周波数スペクトラムＳについてNB
かBBかの分類処理を行う。
かBBかの分類処理を行う。
この分類処理は次のような基準を用いて行われ
る。まず第１に、上記中間周波数帯域幅Ｗ２の中
心周波数を1，2，3のように順次移動したと
き、1におけるS1のレベルと2におけるS2のレベ
ルの比較を行い、そのレベル差が３dB以内であ
ればNB，3dB以上であればBBとする。第２に、
上記放射性EMI，Ｐのパルス繰り返し周波数
（以下PRFと呼ぶ）と上記中間周波帯域幅Ｗ２と
の比較を行い、PRFがＷ２より大きいときは
NB、逆にPRFがＷ２より小さいときはBBと分
類する。
る。まず第１に、上記中間周波数帯域幅Ｗ２の中
心周波数を1，2，3のように順次移動したと
き、1におけるS1のレベルと2におけるS2のレベ
ルの比較を行い、そのレベル差が３dB以内であ
ればNB，3dB以上であればBBとする。第２に、
上記放射性EMI，Ｐのパルス繰り返し周波数
（以下PRFと呼ぶ）と上記中間周波帯域幅Ｗ２と
の比較を行い、PRFがＷ２より大きいときは
NB、逆にPRFがＷ２より小さいときはBBと分
類する。
このことは、PRFが、周波数スペクトラムＳ
の周波数間隔Δに等しいことから、一つのＷ２
内に落ちこむ周波数スペクトラムＳが複数のとき
BBとし、単一のときNBとする意味である。
の周波数間隔Δに等しいことから、一つのＷ２
内に落ちこむ周波数スペクトラムＳが複数のとき
BBとし、単一のときNBとする意味である。
上述のように２種の基準を用いてＳの分類を行
つた後に、その結果を記憶装置９に記憶させ、か
つ出力装置１０に出力表示する。
つた後に、その結果を記憶装置９に記憶させ、か
つ出力装置１０に出力表示する。
このような動作をするから供試体１から発せら
れる放射性EMI，ＰをNBとBBに分類して計測
することができる。この方法は広く用いられてい
るものである。
れる放射性EMI，ＰをNBとBBに分類して計測
することができる。この方法は広く用いられてい
るものである。
しかしながら、放射性EMI，Ｐは時間的にそ
のレベルが変化しやすい特質をもつているので、
例えば周波数スペクトラムS1を計測する時刻とS2
の計測時刻との間に、上記放射性EMI，Ｐが突
然大きくなつたとき本来はS1とS2の比較により
NBと分類されるべきところがBBと分類されて
しまうため、正しい分類が行われないという欠点
があつた。
のレベルが変化しやすい特質をもつているので、
例えば周波数スペクトラムS1を計測する時刻とS2
の計測時刻との間に、上記放射性EMI，Ｐが突
然大きくなつたとき本来はS1とS2の比較により
NBと分類されるべきところがBBと分類されて
しまうため、正しい分類が行われないという欠点
があつた。
このことは実際に大きな問題であり、これを解
決することが望まれていた。
決することが望まれていた。
この発明は上述の問題点の解決をはかるもので
以下図を用いて詳述する。
以下図を用いて詳述する。
第３図はこの発明の一実施例を示す構成ブロツ
ク図、第４図は処理の流れを示す流れ図、第５図
は干渉雑音の狭帯域性と広帯域姓の分類の概念を
示す図である。
ク図、第４図は処理の流れを示す流れ図、第５図
は干渉雑音の狭帯域性と広帯域姓の分類の概念を
示す図である。
図中１から１１は第１図と同じであり、１２は
プリレセクタ４を通過した放射性EMIを２分配
する分配器、１３は中間周波帯域幅Ｗ３を有し、
上記分配器１２で分配された上記放射性EMIの
一方を受信してそのレベルを計測する第１の受信
機、１４は中間周波帯域幅Ｗ４を有し、上記分配
器１２で分配された上記放射性EMIの他の一方
を受信してそのレベルを計測する第２の受信機で
ある。
プリレセクタ４を通過した放射性EMIを２分配
する分配器、１３は中間周波帯域幅Ｗ３を有し、
上記分配器１２で分配された上記放射性EMIの
一方を受信してそのレベルを計測する第１の受信
機、１４は中間周波帯域幅Ｗ４を有し、上記分配
器１２で分配された上記放射性EMIの他の一方
を受信してそのレベルを計測する第２の受信機で
ある。
次にこの発明の一実施例の動作を第４図を用い
て説明する。
て説明する。
第４図においてＡで供試体１を設置し、受信ア
ンテナ２を所定位置に設置する。
ンテナ２を所定位置に設置する。
Ｂで入力装置１１により、放射性EMI計測の
周波数範囲、第１の受信機１３及び第２の受信機
１４の中間周波帯域幅などを入力する。この入力
値は記憶装置９に記憶される。
周波数範囲、第１の受信機１３及び第２の受信機
１４の中間周波帯域幅などを入力する。この入力
値は記憶装置９に記憶される。
Ｃで第１の受信機１３及び第２の受信機１４の
初期設定をCPu８の命令で行ない、受信周波数や
中間周波帯域幅など、初期の値に設定する。
初期設定をCPu８の命令で行ない、受信周波数や
中間周波帯域幅など、初期の値に設定する。
Ｄで第１及び第２の受信機１３，１４を駆動
し、放射性EMI計測のため上記記憶装置９に記
憶された入力値に基づき設定する。
し、放射性EMI計測のため上記記憶装置９に記
憶された入力値に基づき設定する。
Ｅで放射性EMIの計測を行うのであるが、こ
れにつき第５図を用いて説明する。放射性EMI
にはNBとBBの両方の性質があり、これらは図
中NBとBBで示されている。このように両者が
混在し、しかも時間的にレベルが変動するのが通
常の放射性EMIの姿である。
れにつき第５図を用いて説明する。放射性EMI
にはNBとBBの両方の性質があり、これらは図
中NBとBBで示されている。このように両者が
混在し、しかも時間的にレベルが変動するのが通
常の放射性EMIの姿である。
ここで前述のように中間周波帯域幅Ｗ３を有す
る第１の受信機１３と中間周波帯域幅Ｗ４を有す
る第２の受信機１４とで、同時に上記NBとBB
を計測したとすると、Ｗ３がＷ４より大なるとき
第１の受信機１３の計測値がＸ、第２の受信機１
４の計測値が第５図ｂに示すＹのように得られ
る。
る第１の受信機１３と中間周波帯域幅Ｗ４を有す
る第２の受信機１４とで、同時に上記NBとBB
を計測したとすると、Ｗ３がＷ４より大なるとき
第１の受信機１３の計測値がＸ、第２の受信機１
４の計測値が第５図ｂに示すＹのように得られ
る。
ところで放射性EMIがBBであれば中間周波帯
域幅Ｗ３及びＷ４の大きさに計測値は比例する。
しかしNBであれば中間周波帯域幅Ｗ３，Ｗ４に
は無関係な計測値が得られる。したがつて、この
関係を利用してNBとBBの分類を行うことがで
き、図中Ｗの周波数範囲ではNBが支配的で、Ｚ
の範囲ではBBが支配的であることが識別され
る。
域幅Ｗ３及びＷ４の大きさに計測値は比例する。
しかしNBであれば中間周波帯域幅Ｗ３，Ｗ４に
は無関係な計測値が得られる。したがつて、この
関係を利用してNBとBBの分類を行うことがで
き、図中Ｗの周波数範囲ではNBが支配的で、Ｚ
の範囲ではBBが支配的であることが識別され
る。
このようにしてNBとBBを分類し、上記放射
性EMIをNBとBBのスペクトラムに分類識別し
て、これらを記憶装置９に記憶する。
性EMIをNBとBBのスペクトラムに分類識別し
て、これらを記憶装置９に記憶する。
第４図においてＦで全周波数範囲の計測が終了
したかどうかを判断し、終了していないときは次
の周波数区間へ進むため、上記中間周波数帯域幅
Ｗ３，Ｗ４の中心周波数を少し増加させ、上述の
Ｅをくりかえす。
したかどうかを判断し、終了していないときは次
の周波数区間へ進むため、上記中間周波数帯域幅
Ｗ３，Ｗ４の中心周波数を少し増加させ、上述の
Ｅをくりかえす。
計測が終了したらＧで計算を行う。
この計算とは受信アンテナ２の利得などをＥで
取得された計測値に対して補正して、真の放射性
EMIレベルを求めるものである。
取得された計測値に対して補正して、真の放射性
EMIレベルを求めるものである。
ＨでＧの結果を出力表示する。
以上説明したようにこの発明によれば放射性
EMIを２種の中間周波帯域幅で同時に計測する
ので、このNBとBBへの分類を時間的変動に起
因する誤りなく行うことができ、正確な計測を短
時間で行うことができる。
EMIを２種の中間周波帯域幅で同時に計測する
ので、このNBとBBへの分類を時間的変動に起
因する誤りなく行うことができ、正確な計測を短
時間で行うことができる。
次にこの発明の他の実施例としては第２図に示
されたNBとBBの識別法と、第５図に示された
識別法とを組み合わせ、前者の方法で得られた分
類結果に対して後者の方法で時間的変動による誤
差を取り除くことでさらに正確さを増すことがで
きる。
されたNBとBBの識別法と、第５図に示された
識別法とを組み合わせ、前者の方法で得られた分
類結果に対して後者の方法で時間的変動による誤
差を取り除くことでさらに正確さを増すことがで
きる。
なお、ここでは放射性EMIについて述べたが
伝導性EMIについても同様である。
伝導性EMIについても同様である。
さらに、上述の実施例では各構成要素を一つず
つ分離した形で示したが、いくつかの構成要素を
一つにまとめて前記した各構成要素の機能を持た
せることができるなど装置の構成についてはこの
発明の要旨とする点を逸脱しない範囲において各
種の変形がある。
つ分離した形で示したが、いくつかの構成要素を
一つにまとめて前記した各構成要素の機能を持た
せることができるなど装置の構成についてはこの
発明の要旨とする点を逸脱しない範囲において各
種の変形がある。
また、実施例では受信機を示したが、このかわ
りにスペクトラムアナライザを用いても良い。
りにスペクトラムアナライザを用いても良い。
第１図は従来の干渉雑音計測装置の構成を示す
ブロツク図、第２図は従来における干渉雑音の狭
帯域性と広帯域性の分類の概念を示す図、第３図
はこの発明の一実施例を示す構成ブロツク図、第
４図は処理の流れを示す流れ図、第５図はこの発
明における干渉雑音の狭帯域性と広帯域性の分類
の概念を示す図である。 図中１は供試体、２は受信アンテナ、３はRF
伝送路、４はプリセレクタ、５は受信機、６はイ
ンタフエースバスケーブル、７は入出力インタフ
エース、８はCPu、９は記憶装置、１０は出力装
置、１１は入力装置、１２は分配器、１３は第１
の受信機、１４は第２の受信機である。なお図中
同一あるいは相当部分は同一符号を付して示して
ある。
ブロツク図、第２図は従来における干渉雑音の狭
帯域性と広帯域性の分類の概念を示す図、第３図
はこの発明の一実施例を示す構成ブロツク図、第
４図は処理の流れを示す流れ図、第５図はこの発
明における干渉雑音の狭帯域性と広帯域性の分類
の概念を示す図である。 図中１は供試体、２は受信アンテナ、３はRF
伝送路、４はプリセレクタ、５は受信機、６はイ
ンタフエースバスケーブル、７は入出力インタフ
エース、８はCPu、９は記憶装置、１０は出力装
置、１１は入力装置、１２は分配器、１３は第１
の受信機、１４は第２の受信機である。なお図中
同一あるいは相当部分は同一符号を付して示して
ある。
Claims (1)
- １ 電子機器から発生する干渉雑音を検出する検
出手段と、上記検出手段によつて検出された上記
干渉雑音を制限する帯域制限手段と、上記帯域制
限手段により帯域制限された上記干渉雑音の強度
を所定の中間周波帯域幅で計測する手段とを備
え、上記干渉雑音の強度の周波数スペクトラムを
計測する干渉雑音試験装置において、上記帯域制
限手段で帯域制限された上記干渉雑音を少なくと
も２分配する分配器と、上記分配器で分配された
上記干渉雑音の強度の周波数スペクトラムを少な
くとも２種の所定の帯域幅で同時に計測する少な
くとも２つの受信機と、上記干渉雑音強度の周波
数スペクトラムを計測するに必要なプログラム、
試験条件及び上記受信機構で計測された計測値と
を記憶する記憶装置と、上記記憶装置との間で情
報の授受を行うと共に上記受信機を制御しかつこ
れから得られる上記計測値を収集し、これらの計
測値を基に所定の処理を行う中央処理装置と、試
験条件を入力する入力装置と、試験結果を出力表
示する出力表示装置とを備え、上記受信機である
所定の中間周波帯域幅で計測された上記干渉雑音
の１つの計測値と、他の所定の中間周波帯域幅で
計測された１つの計測値を比較し、所定の処理を
行つて上記干渉雑音強度を狭帯域性スペクトラム
と広帯域性スペクトラムに分類することを特徴と
する干渉雑音試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57114635A JPS595974A (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 干渉雑音試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57114635A JPS595974A (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 干渉雑音試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS595974A JPS595974A (ja) | 1984-01-12 |
| JPH0143913B2 true JPH0143913B2 (ja) | 1989-09-25 |
Family
ID=14642752
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57114635A Granted JPS595974A (ja) | 1982-07-01 | 1982-07-01 | 干渉雑音試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS595974A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60233570A (ja) * | 1984-05-07 | 1985-11-20 | Tohoku Metal Ind Ltd | 妨害波測定方法 |
| JPH077031B2 (ja) * | 1987-09-05 | 1995-01-30 | 東北金属工業株式会社 | 放射ノイズ測定装置 |
-
1982
- 1982-07-01 JP JP57114635A patent/JPS595974A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS595974A (ja) | 1984-01-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6298315B1 (en) | Method and apparatus for analyzing measurements | |
| US20080127756A1 (en) | Electromagnetic testing of an enclosure or cavity using a discrete frequency stir method | |
| US5068614A (en) | Swept frequency domain relectometry enhancement | |
| US9762335B2 (en) | Assessing aircraft interference path loss employing discrete frequency stirring | |
| JPH03500929A (ja) | マイクロ波・ミリメータ波回路評価装置の校正方法 | |
| JPH08248070A (ja) | 周波数スペクトル分析装置 | |
| US10958362B1 (en) | Method and system for determining group delay between periodic radio frequency (RF) signals | |
| US4920543A (en) | Characterization of digital radio signals | |
| CN111337746A (zh) | 一种射频信号检测定位方法 | |
| JPH03205571A (ja) | 広帯域及びインパルス性信号から狭帯域連続波信号を識別する方法及び装置 | |
| US4766600A (en) | Characterization of digital radio signals | |
| US5418826A (en) | Fluorescent X-ray qualitative analytical method | |
| JPH0143913B2 (ja) | ||
| US4344028A (en) | Testing device for low-frequency amplifiers | |
| US6335615B1 (en) | Mode selection methods for signal analyzers having alternative swept and fast fourier transform modes of operation | |
| JP3155954B2 (ja) | 電波伝搬損失特性推定方法 | |
| JP2662406B2 (ja) | 部分放電測定装置のデータ収集装置 | |
| US5025207A (en) | Method for the measurement of a steady level in a noise-infested signal and automatic measuring device for the application of this method | |
| US5384791A (en) | Measuring worst case susceptibility of digital microwave radios to multipath fading | |
| US3745266A (en) | Arrangement for measuring cross talk properties in transmission lines | |
| CN114499576B (zh) | 一种用于电子设备的精细化收发控制方法 | |
| US4658210A (en) | Noninterruptive noise measurement | |
| JPH0510996A (ja) | 放射電波の測定データ表示方法 | |
| Wang et al. | Parameter Configuration and Data Accuracy Analysis for Real-Time RFI Detection | |
| JP2937050B2 (ja) | 方位測定装置 |