JP2018189537A - 評価装置 - Google Patents

Abstract

【課題】検査方向毎にレーダ装置を配置し直すこと無く、レーダ装置の性能を評価できるようにする技術を提供する。
【解決手段】評価装置は、Ｓ２０では、レーダ波が送信されたと判断された場合に、レーダ装置が載置される台であって、物体から所定距離離れて配置され、予め定められた回転軸を中心にレーダ装置と一体に回転する回転台、の回転方向の角度を表す回転角度を取得する。Ｓ２５では、送信されたレーダ波に基づいてレーダ装置によって検出された物体の方位角であって回転台の回転方向における測定方位角、を取得する。Ｓ３０では、回転角度に基づいて特定される方位角であってレーダ装置に対する物体の真の方位角に対応する対応方位角と、測定方位角とを対応付けてメモリに記憶させる。
【選択図】図３

Description

本開示は、レーダ装置の性能を評価する技術に関する。

特許文献１では、方位角、距離等が精度よく検出されているか否かに基づいて、レーダ装置の性能を評価する技術が開示されている。レーダ装置は、例えばミリ波帯等の電波やレーザ光等といったレーダ波を送信して物体からの反射波を受信することによって、少なくとも物体が位置する方向（以下、方位角）を検出する。

特開２００６−３３０７４８号公報

特許文献１には、位置が固定されている物体に対する方位角が予め規定された検査方向となるようにレーダ装置を正確に配置し、配置後のレーダ装置によって検出される方位角と検査方向との差に基づいて該レーダ装置の方位角についての性能を評価する、という技術が提案されている。

しかしながら、特許文献１に記載の技術では、検査方向が複数規定されている場合には、検査方向毎にレーダ装置を正確に配置し直す必要があるため、レーダ装置の性能を評価するための作業に手間がかかるという問題があった。

本開示の一局面は、レーダ装置の性能を評価する評価装置において、検査方向毎にレーダ装置を配置し直すこと無く、レーダ装置の性能を評価できるようにする技術を提供する。

本開示の一局面は、送信判断部（Ｓ１５）と、回転角度部（Ｓ２０）と、測定取得部（Ｓ２５）と、記憶指示部（Ｓ３０）と、を備える評価装置（５０）である。送信判断部は、レーダ波を送信することによってレーダ波を反射する物体について少なくとも方位角を検出可能なレーダ装置、からレーダ波が送信されたか否かを判断する。回転角度部は、レーダ波が送信されたと判断された場合に、レーダ装置が載置される台であって、物体から所定距離離れて配置され、予め定められた回転軸を中心にレーダ装置と一体に回転する回転台、の回転方向の角度を表す回転角度を取得する。測定取得部は、レーダ波に基づいてレーダ装置によって検出された物体の方位角であって回転台の回転方向における測定方位角、を取得する。記憶指示部は、回転角度に基づいて特定される方位角であってレーダ装置に対する物体の真の方位角に対応する対応方位角と、測定方位角とを対応付けて記憶装置（５２）に記憶させる。

このような構成によれば、レーダ装置は回転台と一体に回転するので、レーダ装置を配置し直すこと無く、任意の方向にレーダ波が照射される。そして、回転台の回転角度に基づく対応方位角と測定方位角とが対応付けて記憶される。対応方位角と測定方位角とが得られれば、対応方位角に対する測定方位角の評価が可能となる。従って、特許文献１に記載の技術のようにレーダ装置を繰り返し配置し直すことを必要とせず、レーダ装置の性能を評価することができる。

評価システムの構成を示すブロック図。 検出範囲を説明する説明図。 評価処理のフローチャート。 回転角度が取得されるタイミングを説明する説明図。 近似式の生成を説明する説明図。

以下、図面を参照しながら、本開示の実施形態を説明する。
［１．構成］
図１に示す評価システム１は、レーダ装置１０の性能を評価するためのシステムである。評価システム１は、評価装置５０を備える。評価システム１は、ローテータ２０、角度計３０、電波検出装置としての電波検出器４０、を備えていてもよい。また、評価システム１は、レーダ装置１０、ターゲット９０を備えていてもよい。

レーダ装置１０は、レーダ波を送受信することによって、少なくとも、検出範囲Ｋ内に存在する物体の位置を検出する。レーダ波としては、ミリ波が用いられる。但し、これに限定されるものではなく、レーダ波には、ミリ波以外の波長の電磁波や、レーザ光が含まれ得る。

検出範囲Ｋとは、レーダ装置１０が物体を検出可能な範囲として予め定められた角度範囲をいう。ここでは、レーダ装置１０は、レーダ装置１０が水平な面に設置された際に、検出範囲Ｋの中心軸（以下、中心軸）Ｃが水平方向となるように構成されている。

またレーダ装置１０は、中心軸Ｃを含む水平面における所定の角度範囲を検出範囲Ｋとするように構成されている。ここでは、図２に示すように、中心軸Ｃ±α°の角度範囲が検出範囲Ｋとして設定されている。

物体の位置は、レーダ装置１０と物体との距離、及び、レーダ装置１０から見た物体の方位（以下、測定方位角）によって表される。ここでは、測定方位角は、水平面における方位角によって表される。水平面とは、水平方向を含む面であって鉛直方向に垂直な面である。方位角とは、レーダ装置１０に対する物体の方位を角度で表したものである。方位角は、基準とすべき予め定められた方位（以下、基準方位）に対する角度として表される。

ここでは、図２に示すように、レーダ装置１０は、検出範囲Ｋの端部であってレーダ装置１０から物体を見たときの横方向右側の端部が表す方位を基準方位とする。つまり、レーダ装置１０は、該基準方位を方位角０°として検出し、基準方位に対する中心軸Ｃの方位（以下、中心軸方位）を方位角α°として検出し、検出範囲Ｋの端部であってレーダ装置１０から物体を見たときの横方向左側の端部が表す基準方位に対する方位を方位角２α°として検出する。ここでいう横方向とは、中心軸Ｃ垂直な方向であって、水平面に含まれる方向をいう。

ただし、これに限定されるものではなく、任意の方位が基準方位として設定され得る。レーダ装置１０は、該基準方位に基づいて検出範囲Ｋ内の方位を角度で表すように構成され得る。なお、ここでいう物体とは、例えば、車両や建物等といった有体物を表す。

レーダ装置１０は、図示しないアンテナ部、送受信回路部、信号処理部等を備える。アンテナ部はレーダ波を送受信する。送受信回路は、アンテナ部を介してレーダ波を送受信する。信号処理部は、得られた受信信号を処理してレーダ波を反射した物体の位置を算出する。また、信号処理部は、レーダ装置１０の内部で生成されるクロック信号に基づいて、予め定められた周期（以下、レーダ測定周期）で、送受信部及びアンテナ部を介して、レーダ波を送信する。すなわち、物体の位置は、レーダ測定周期で算出される。

レーダ装置１０は、物体の位置が算出される毎に、該物体の位置を、レーダ装置１０外部の装置であって通信線によってレーダ装置１０と接続された評価装置５０、に出力可能に構成されている。レーダ装置１０は、任意の通信方式に従って、物体の位置を評価装置５０に出力する。ここでいう任意の通信方式には、ＣＡＮが含まれ得る。ＣＡＮは、Controller Area Networkの略であり、登録商標である。

ローテータ２０は、レーダ装置１０が載置される台である。ローテータ２０は、載置部２１を備える。載置部２１には、レーダ装置１０が載置される。ここでは、載置部２１は垂直可動部２２を備えており、垂直可動部２２は載置部２１に固定されている。レーダ装置１０は垂直可動部２２上に載置されている。垂直可動部２２は、レーダ装置１０を鉛直方向に対して評価装置５０からの指示（垂直角度指示）に従って所定角度傾けるための装置である。載置部２１は、垂直可動部２２を備えない構成で有り得る。なお、以下では、垂直可動部２２によってレーダ装置１０が鉛直方向に対して傾いていない例を説明する。

載置部２１は、評価装置５０からの指示（以下、水平回転指示）に従って、予め定められた回転軸１１０を中心に、所定の回転速度で、レーダ装置１０と一体に回転する。ここでは、ローテータ２０は、鉛直方向を回転軸１１０として、反時計方向に回転する。但し、これに限定されるものでは無く、ローテータ２０は、時計方向に回転するように構成され得る。

回転速度は、予め定められた回転速度で有り得る。または、回転速度は、水平回転指示によって指示される速度で有り得る。
ローテータ２０は、図示しないモータを有し、モータによって、載置部２１の回転角度を単位時間当たり所定の回転角度（単位角度）ずつ変化させ、載置部２１を断続的に回転させる。ここでは、１秒間を単位時間として、単位角度は、例えば、数十分の一°〜十分の一°等といった大きさ、に設定されている。但し、これに限定されるものではなく、単位角度は任意の大きさに設定され得る。このように、ローテータ２０は、レーダ装置１０を所定の回転速度で回転させるためのものである。

角度計３０は、ローテータ２０の回転方向における回転角度を測定する。ここでは、角度計３０は、ローテータ２０の回転速度と同期して、ローテータ２０が単位角度回転する毎に、回転角度を検出する。角度計３０は、通信線によって角度計３０と接続された評価装置５０に、回転角度を該回転角度が検出される毎に出力する。

電波検出装置は、レーダ装置１０外部の装置であって、送信時信号を検出する装置である。送信時信号とは、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたか否かに応じて、大きさが変化する信号を表す。ここでは、電波検出器４０を電波検出装置として用いる。

電波検出器４０は、レーダ装置１０の近傍に設置される。電波検出器４０は、レーダ波を受信可能なアンテナを有し、レーダ装置１０から送信されたレーダ波の受信強度を表すアナログ信号を送信時信号として検出する。

レーダ装置１０によって物体の位置が検出される際は、レーダ装置１０によるレーダ波の送信が必ず行われ、送信時信号の大きさが変化する。つまり、電波検出器４０は、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたタイミングを検出するための装置である。電波検出器４０は、送信時信号を、通信線によって電波検出器４０と接続された評価装置５０に出力する。

ターゲット９０は、レーダ波を反射する物体である。
評価装置５０は、ＣＰＵ５１、ＲＯＭ、ＲＡＭなどを含むメモリ５２を有する周知のマイクロコンピュータを備える。評価装置５０は、図示しないディスプレイ、入出力装置等を備えていてもよく、周知のコンピュータとして構成され得る。ＣＰＵ５１は、非遷移的実体的記憶媒体であるＲＯＭに格納されたプログラムを実行する。当該プログラムが実行されることで、当該プログラムに対応する方法が実行される。

評価装置５０は、ローテータ２０の回転速度に関する指示を含む水平回転指示を生成し、水平回転指示をローテータ２０に出力する処理を行う。評価装置５０は、垂直角度指示をローテータ２０に出力する処理を行ってもよい。

評価装置５０は、角度計３０から回転角度が出力される毎に該回転角度を取得する処理を行う。
評価装置５０は、後述する評価処理を実行することによって、レーダ装置１０によって検出された方位角であってレーダ波を反射した物体の測定方位角と、該レーダ波を反射した物体の真の方位角と、を対応づけてメモリ５２に記憶する。真の方位角とは、レーダ装置１０に対する物体の真の方位角をいう。真の方位角は、レーダ装置１０による方位角の検出性能に誤差が含まれない場合の方位角に相当する。

評価システム１は、レーダ装置１０によって検出されたターゲット９０の測定方位角と、レーダ装置１０に対するターゲット９０の真の方位角とを比較することによって、レーダ装置１０によるターゲット９０の検出性能を評価するためのシステムである。レーダ装置１０は、測定方位角と真の方位角との誤差が小さいほど、検出性能が高いと評価される。ここで、評価システム１における各構成の配置について説明する。

評価システム１では、レーダ装置１０による検出性能を評価するために、はじめに、レーダ装置１０、ローテータ２０、ターゲット９０は、図１に示すように、位置決めされ、配置される。すなわち、ターゲット９０は、ローテータ２０に載置されたレーダ装置１０の検出範囲Ｋ内の位置であって、レーダ装置１０から所定距離ｄ離れた位置、に設置されている。ここでは、ターゲット９０は、レーダ装置１０の中心軸Ｃの延長上に設置されている。

また、角度計３０は、ターゲット９０がレーダ装置１０の中心軸Ｃの延長上に設置されているときの載置部２１の回転角度を、予め定められた初期角度として検出するように設定されている。ここでは、上述の中心軸方位を表す方位角であるα°が初期角度として設定されている。つまり、角度計３０によって検出される回転角度は、レーダ装置１０に対するターゲット９０の真の方位角を表している。

［２．処理］
次に、評価装置５０が実行する評価処理について、図３のフローチャートを用いて説明する。

評価処理は、評価装置５０に電源が供給されている間、予め定められた周期を表す評価周期で、繰り返し実行される。評価周期は、レーダ測定周期よりも短い期間に設定され得る。

評価装置５０は、はじめにＳ１０では、電波検出器４０から送信時信号を取得する。
評価装置５０は、Ｓ１５では、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたか否かを判断する。図４に示すように、レーダ装置１０からレーダ波が送信されると、送信時信号の大きさが大きくなる。ここで、評価装置５０は、送信時信号の大きさが、予め定められた強度閾値未満から強度閾値以上に変化した場合に、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたと判断する。

強度閾値は、レーダ装置１０から送信されたレーダ波が電波検出器４０にて受信される際の最大値よりも小さい値であって、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたことを判断できる程度の値、に設定されている。強度閾値は、メモリ５２に予め記憶されている。

評価装置５０は、レーダ波が送信されたと判断された場合に処理をＳ２０へ移行させ、レーダ波が送信されたと判断されなかった場合に処理をＳ３５へ移行させる。
評価装置５０は、Ｓ２０では、角度計３０から、ローテータ２０の回転角度を取得する。つまり、評価装置５０は、図４に示すように、送信時信号が強度閾値以上となったときの、つまり、レーダ波が送信されたときの回転角度、を取得する。ここでは、上述のように、回転角度はレーダ装置１０に対するターゲット９０の真の方位角を表している。

評価装置５０は、Ｓ２５では、測定方位角を取得する。ここでいう測定方位角は、送信されたレーダ波に基づいて検出されたターゲット９０の測定方位角を表す。
評価装置５０は、Ｓ３０では、対応方位角と、測定方位角とを対応付けて、メモリ５２に記憶させる。対応方位角とは、回転角度に基づいて特定される方位角であってレーダ装置１０に対する物体の真の方位角を表す。ここでは、回転角度がレーダ装置１０に対するターゲット９０の真の方位角を表しているため、回転角度が対応方位角として用いられる。つまり、評価装置５０は、Ｓ３０では、対応方位角としての回転角度と、測定方位角と、を対応付けてメモリ５２に記憶させる。

評価装置５０は、Ｓ３５では、ローテータ２０が１回転したか否かを判断する。１回転とは、３６０度回転することをいう。評価装置５０は、ローテータ２０が１回転したと判断された場合に処理をＳ４０へ移行させ、ローテータ２０が１回転したと判断されなかった場合に処理をＳ１０へ移行させる。つまり、前述のように、レーダ装置１０は、レーダ測定周期で、レーダ波を繰り返し送信し、物体の位置を検出するように構成されている。評価装置５０は、ローテータ２０が１回転するまでの間、レーダ波が送信される毎に、対応方位角としての回転角度と測定方位角とを対応付けて、メモリ５２に記憶させる。

このようにして、メモリ５２には、対応方位角としてのターゲット９０の真の方位角と、ターゲット９０の測定方位角とが互いに対応付けられて記憶される。その結果、真の方位角に対する測定方位角のずれに基づいて、レーダ装置１０の検出性能を評価することが可能となる。

続いて、評価装置５０は、Ｓ４０では、メモリ５２に記憶されている対応方位角と測定方位角とに基づいて、対応方位角を入力とし測定方位角を出力する近似式、を生成する。メモリ５２には、複数の、対応方位角と測定方位角との組合せが記憶されているので、評価装置５０は、これらの複数の組合せに基づいて近似式を生成する。

ここでは、評価装置５０は、図５に示すように、近似式を、二次方程式によって表すように生成する。ただし、これに限定されるものではなく、評価装置５０は、様々な文献等において公知である他の手法に基づいて、近似式を生成するように構成され得る。

ところで、レーダ装置１０の検出性能の評価は、予め規定された任意の真の方位角と該真の方位角に対応する測定方位角とに基づいて行われること、が望まれることが有り得る。つまり、予め規定された対応方位角と該対応方位角に対応する測定方位角との組合せがメモリ５２に記憶されることが望まれ得る。上述のように、対応方位角は、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたときのターゲット９０の真の方位角を表しているが、レーダ波はレーダ装置１０における所定のタイミングで送信される。つまり、レーダ波の送信タイミングは、評価装置５０によってレーダ装置１０に対して指定されるものではないため、予め規定された対応方位角が、レーダ波が送信されたことによって検出される対応方位角と一致しない場合が生じ得る。

そこで、本実施形態では、上述のように対応方位角を入力とし測定方位角を出力とする近似式を生成することによって、近似式に基づいて、予め規定された対応方位角に対する測定方位角が算出されるように、評価装置５０が構成されている。以下でいう検査方位角とは、予め規定された対応方位角をいう。検査方位角は、レーダ装置１０に対するターゲット９０の方位角であって予め定められた方位角である。

すなわち、評価装置５０は、Ｓ４５では、検査方位角を取得する。ここでは、検査方位角は、０°、２°、４°、６°・・・といったように、２°ずつ増加するように設定されている。ただし、これに限定されるものではなく、複数の任意の方位角が検査方位角として設定され得る。メモリ５２には複数の検査方位角が予め記憶されている。評価装置５０は、Ｓ４５では、メモリ５２に記憶されている複数の検査方位角の中から１つの検査方位角を、値の小さい順に、取得する。

評価装置５０は、Ｓ５０では、推定測定角を算出する。推定測定角とは、近似式に基づいて算出される出力であって、Ｓ４５にて取得された検査方位角を入力としたときの出力、を表す。

評価装置５０は、Ｓ６０では、検査方位角と、該検査方位角を入力としたときの推定測定角との差を表す測定誤差を算出し、検査方位角と測定誤差とを対応づけてメモリ５２に記憶させる。

評価装置５０は、Ｓ６５では、全ての検査方位角について測定誤差が記憶されたか否かを判断する。評価装置５０は、全ての検査方位角について測定誤差が記憶されたと判断された場合に本評価処理を終了し、全ての検査方位角について測定誤差が記憶されていないと判断された場合に処理をＳ４５に移行させる。これにより、全ての検査方位角について測定誤差がメモリ５２に記憶されるまで、Ｓ４５〜Ｓ６５の処理が繰り返し実行される。

［３．効果］
以上詳述した実施形態によれば、以下の効果を奏する。
（１ａ）評価装置５０は、Ｓ１５では、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたか否かを判断する。評価装置５０は、Ｓ２０では、レーダ波が送信されたと判断された場合に、ローテータ２０の回転方向の角度を表す回転角度を取得する。評価装置５０は、Ｓ２５では、送信されたレーダ波に基づいてレーダ装置１０によって検出されたターゲット９０の方位角であってローテータ２０の回転方向における測定方位角、を取得する。評価装置５０は、Ｓ３０では、対応方位角と、測定方位角とを対応付けてメモリ５２に記憶させる。対応方位角は、ローテータ２０の回転角度そのものであって、レーダ装置１０に対する物体の真の方位角に対応している。

その結果、レーダ装置１０はローテータ２０と一体に回転するので、レーダ装置１０を配置し直すこと無く、任意の方向にレーダ波が照射される。そして、ローテータ２０の回転角度であって物体の真の方位角を表す対応方位角と測定方位角とが対応付けてメモリ５２に記憶される。対応方位角と測定方位角とが得られれば、対応方位角に対する測定方位角の評価を行うことができる。

本実施形態では、レーダ装置１０を繰り返し高精度に位置決めし配置し直して、レーダ装置１０とターゲット９０との相対的な角度である方位角を既知の状態にした後にレーダ装置１０による測定値を取得する、という面倒な作業を必要としない。本実施形態では、レーダ装置１０を回転させながらレーダ装置１０の性能を簡易に評価することができる。また、これにより、本実施形態では、レーダ装置１０の性能評価に要する時間を短縮することもできる。

（１ｂ）対応方位角は、回転角度に基づいて特定される方位角であってレーダ装置１０に対するターゲット９０の真の方位角を表す。本実施形態では、回転角度が真の方位角を表しており、対応方位角であって真の方位角である回転角度と、測定方位角と、がメモリ５２に記憶される。その結果、真の方角を表す回転角度と測定方位角とを直接比較して、レーダ装置１０の検出性能を評価できる。つまり、対応方位角を真の方位角に変換する必要が無いので、レーダ装置の性能を簡易に評価することができる。

（１ｃ）レーダ装置１０はレーダ波を繰り返し送信するように構成されている。評価装置５０は、Ｓ３０では、レーダ波が送信される毎に、対応方位角と測定方位角とを対応付けてメモリ５２に記憶させる。評価装置５０は、Ｓ４０では、メモリ５２に記憶された対応方位角と測定方位角とに基づいて、対応方位角を入力とし測定方位角を出力する近似式を生成する。評価装置５０は、Ｓ４５では、検査方位角を取得する。評価装置５０は、Ｓ５０では、近似式に基づいて、検査方位角を入力とし、検査方位角に対応する推定測定角を算出する。

推定測定角は、対応方位角の大きさが検査方位角であると仮定したときの測定方位角として、近似式に基づいて、推定される値である。その結果、本実施形態では、近似式に基づいて、任意の対応方位角と該対応方位角における測定方位角とを得ることができる。

前述のように、ローテータ２０を回転させて測定方位角を検出する場合、得られる検出結果は、そのときにレーダ波が送信されたときの対応方位角に対する検出結果である。本実施形態では、予め規定された任意の検査方位角での測定結果を近似式に基づいて推定測定角として得ることができるので、例えば、より細かい精度で、レーダ装置１０を評価することができる。

また、近年では、レーダ装置１０の検出範囲が広範囲となっているが、本実施形態によれば、近似式に基づいて推定測定角を得ることができるので、測定方位角を検出するために要する時間を低減することができる。

（１ｄ）評価装置５０は、Ｓ６０では、検査方位角と、検査方位角を入力としたときの推定測定角との差を表す測定誤差を算出し、検査方位角と測定誤差とを対応づけてメモリ５２に記憶させる。その結果、測定誤差の大きさに基づいて、検査方位角毎に、レーダ装置１０の性能を容易に評価することができる。

（１ｅ）評価装置５０は、Ｓ１５では、電波検出器４０から送信時信号を取得し、送信時信号が予め定められた強度閾値以上に変化した場合に、レーダ装置からレーダ波が送信されたと判断する。その結果、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたタイミングを検出することができるので、レーダ波が送信された瞬間のローテータ２０の回転角度を取得することができる。つまり、レーダ装置１０を位置決めすることなく、ローテータ２０を用いてレーダ装置１０を回転させながら、レーダ波が送信された瞬間のローテータ２０の回転角度に基づいて、レーダ装置１０の検出性能を評価することができる。

なお、上記実施形態では、評価装置５０が、送信判断部、回転角度部、測定取得部、記憶指示部、近似式部、検査方位角部、推定部、誤差記憶部に相当する。ローテータ２０、載置部２１が回転台に相当する。電波検出装置、電波検出器４０が外部検出装置に相当し、ターゲット９０がレーダ波を反射する物体に相当する。また、Ｓ１５が送信判断部としての処理に相当し、Ｓ２０が回転角度部としての処理に相当し、Ｓ２５が測定取得部としての処理に相当し、Ｓ３０が記憶指示部としての処理に相当する。Ｓ４０が近似式部としての処理に相当し、Ｓ４５が検査方位角部としての処理に相当し、Ｓ５０が推定部としての処理に相当し、Ｓ６０が誤差記憶部としての処理に相当する。

［４．他の実施形態］
以上、本開示の実施形態について説明したが、本開示は上述の実施形態に限定されることなく、種々変形して実施することができる。

（４ａ）上記実施形態では、レーダ装置１０は、ミリ波帯の電波をレーダ波として用いるミリ波レーダ装置であったが、これに限定されるものではない。レーダ装置１０は、例えば、レーザ光をレーダ波として用いるレーザレーダ装置であってもよい。また、ミリ波以外の波長の電波をレーダ波としても用いるレーダ装置であってもよい。

（４ｂ）上記実施形態では、対応方位角は、レーダ装置１０に対するターゲット９０の真の方位角を表しており、回転角度は対応方位角に一致していた。但し、これに限定されるものではない。対応方位角は、レーダ装置１０に対するターゲット９０の真の方位角から、予め定められた角度分ずれた大きさを表すものであり得る。この場合、上述の中心軸方位を表す方位角であるα°から予め定められた角度分ずれた大きさの角度が初期角度として設定され得る。また、対応方位角から初期角度分ずれた方位角が真の方位角として検出される。つまり、この場合の対応方位角は、回転角度に基づいて特定される方位角であってレーダ装置１０に対するターゲット９０の真の方位角に対応する方位角を表す。

（４ｃ）上記実施形態では、ローテータ２０は、その回転方向が水平面に含まれるように構成されていたが、これに限定されるものではない。ローテータ２０は、その回転方向が任意の平面に含まれるように構成され得る。例えば、回転方向は、水平面に対して所定角度傾いた任意の平面に含まれるように設定され得る。

また例えば、ローテータ２０は、その回転方向が鉛直面に含まれるように構成され得る。つまり、ローテータ２０は、水平方向を回転軸として回転する様にも構成され得る。これにより、レーダ装置１０を、その回転方向が鉛直面に含まれるように回転させることができる。例えば、ローテータ２０は、垂直可動部２２を用いて、所定の角度範囲内において、レーダ装置１０を回転させてもよい。

その結果、上記実施形態と同様に、鉛直面を回転方向が含まれる面として、対応方位角と測定方位角とが対応づけられて、メモリ５２に記憶される。また、これらに基づいて近似式が生成され、検査方位角と推定測定角とが対応づけられて、メモリ５２に記憶される。従って、水平方向のみならず鉛直方向においても、レーダ装置１０の検出性能を評価することができる。

（４ｄ）上記実施形態では、電波検出器４０を電波検出装置として用いたが、これに限定されるものではない。電波検出装置は、レーダ装置１０外部の装置であって、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたタイミングを検出するための装置、であれば、どのように構成された装置であってもよい。例えば、レーダ装置１０からレーダ波が送信される際、レーダ装置１０における消費電流が増加することが知られている。そこで、レーダ装置１０における電源ラインの消費電流を表すアナログ信号をモニタし、モニタ結果を評価装置５０へ出力する装置（以下、電流検出装置）が電波検出装置として用いられてもよい、該装置では、消費電流を表すアナログ信号が所定の電流閾値以上となった場合に、レーダ装置１０からレーダ波が送信されたと判断してもよい。なお、この場合、消費電流の大きさを表すアナログ信号が送信時信号に相当し、電流検出装置が外部検出装置に相当する。

（４ｅ）上記実施形態では、評価装置５０は、載置部２１が１回転する間、レーダ波が送信される毎に測定方位角を取得するように構成されていたが、これに限定されるものではない。評価装置５０は、載置部２１が、複数回、回転する間、レーダ波が送信される毎に測定方位角を取得するように構成され得る。

（４ｆ）上記実施形態における１つの構成要素が有する複数の機能を、複数の構成要素によって実現したり、１つの構成要素が有する１つの機能を、複数の構成要素によって実現したりしてもよい。また、複数の構成要素が有する複数の機能を、１つの構成要素によって実現したり、複数の構成要素によって実現される１つの機能を、１つの構成要素によって実現したりしてもよい。また、上記実施形態の構成の一部を省略してもよい。また、上記実施形態の構成の少なくとも一部を、他の上記実施形態の構成に対して付加又は置換してもよい。なお、特許請求の範囲に記載した文言から特定される技術思想に含まれるあらゆる態様が本開示の実施形態である。

（４ｇ）上述した評価装置５０、評価システム１の他、評価装置５０を機能させるためのプログラム、このプログラムを記憶した半導体メモリ等の非遷移的実態的記憶媒体、評価方法など、種々の形態で本開示を実現することもできる。

１０ レーダ装置、２０ ローテータ、５０ 評価装置、５２ メモリ、９０ ターゲット。

Claims (5)

1. レーダ波を送信することによってレーダ波を反射する物体について少なくとも方位角を検出可能なレーダ装置、からレーダ波が送信されたか否かを判断する送信判断部（Ｓ１５）と、
   レーダ波が送信されたと判断された場合に、前記レーダ装置が載置される台であって、前記物体から所定距離離れて配置され、予め定められた回転軸を中心に前記レーダ装置と一体に回転する回転台、の回転方向の角度を表す回転角度を取得する回転角度部（Ｓ２０）と、
   レーダ波に基づいて前記レーダ装置によって検出された前記物体の方位角であって前記回転台の回転方向における測定方位角、を取得する測定取得部（Ｓ２５）と、
   前記回転角度に基づいて特定される方位角であって前記レーダ装置に対する前記物体の真の方位角に対応する対応方位角と、前記測定方位角とを対応付けて記憶装置に記憶させる記憶指示部（Ｓ３０）と、
   を備える評価装置（５０）。
2. 請求項１に記載の評価装置であって、
   前記対応方位角は、前記回転角度に基づいて特定される方位角であって前記レーダ装置に対する前記物体の真の方位角を表す
   評価装置。
3. 請求項１または請求項２に記載の評価装置であって、
   前記レーダ装置はレーダ波を繰り返し送信するように構成されており、
   前記記憶指示部は、レーダ波が送信される毎に、前記対応方位角と前記測定方位角とを対応付けて前記記憶装置に記憶させ、
   前記記憶装置に記憶された前記対応方位角と前記測定方位角とに基づいて、前記対応方位角を入力とし前記測定方位角を出力する近似式を生成する近似式部（Ｓ４０）と、
   前記レーダ装置に対する前記物体の方位角であって予め定められた方位角を表す検査方位角を取得する検査方位角部（Ｓ４５）と、
   前記近似式に基づいて、前記検査方位角を入力としたときの出力を表す推定測定角を算出する推定部（Ｓ５０）と、
   を更に備える評価装置。
4. 請求項３に記載の評価装置であって、
   前記検査方位角と、前記検査方位角を入力としたときの前記推定測定角との差を表す測定誤差を算出し、前記検査方位角と前記測定誤差とを対応づけて前記記憶装置に記憶させる誤差記憶部（Ｓ６０）
   を更に備える評価装置。
5. 請求項１から請求項４のいずれか一項に記載の評価装置であって、
   前記送信判断部は、前記レーダ装置の外部の装置であって前記レーダ装置からレーダ波が送信されたか否かに応じて大きさが変化する信号を表す送信時信号を検出する外部検出装置、から前記送信時信号を取得し、前記送信時信号が予め定められた強度閾値以上に変化した場合に、前記レーダ装置からレーダ波が送信されたと判断する
   評価装置。

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