JP2001343409A - 電磁放射測定装置および電磁放射測定方法 - Google Patents

電磁放射測定装置および電磁放射測定方法

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JP2001343409A JP2000164380A JP2000164380A JP2001343409A JP 2001343409 A JP2001343409 A JP 2001343409A JP 2000164380 A JP2000164380 A JP 2000164380A JP 2000164380 A JP2000164380 A JP 2000164380A JP 2001343409 A JP2001343409 A JP 2001343409A
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    • G01R29/0814Field measurements related to measuring influence on or from apparatus, components or humans, e.g. in ESD, EMI, EMC, EMP testing, measuring radiation leakage; detecting presence of micro- or radiowave emitters; dosimetry; testing shielding; measurements related to lightning

Abstract

(57)【要約】 【課題】 1GHz以上の電磁放射の測定を、測定スキ
ルのない者でも高精度かつ短時間で可能にする。 【解決手段】 電子機器2を回転駆動手段5によって所
定の角度ずつ回転駆動させ、回転停止時に検出手段3を
垂直駆動手段4によって垂直方向に所定の高さ範囲内で
移動させ。この移動中に連続的に検出された検出信号よ
り、電界強度測定手段6によって回転停止ごとの各周波
数の最大電界強度を記録した周波数スペクトルを算出さ
せ、この周波数スペクトルよりデータ解析手段7に、す
べての測定データに対する各周波数の最大電界強度、お
よび前記各周波数における電界強度の指向特性を解析さ
せ出力させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、主に電子機器等か
らの電磁放射の強度を測定する電磁放射測定装置および
電磁放射測定方法に関し、特に1GHz以上の電磁放射
測定に適した電磁放射測定装置および電磁放射測定方法
に関する。
【0002】
【従来の技術】各種の電子機器およびシステムの中で発
生する電磁ノイズは,空間に放射されて他の機器の機能
を妨害することがあるため、近年、このような電磁放射
(Radiated Emission)発生の抑制と妨害排除能力の向
上による電磁的両立性,すなわちEMC(Electro-Magn
etic Compatibility)に対する注目度が高まっている。
このような電磁放射の測定方法としては、ANSI(Am
erican National Standards Institute)による測定規
格に基づいた以下のようなものが知られている。
【0003】図11に従来の電磁放射の測定方法例を概
念的に示す。図11(a)はスパイラル状のサンプリン
グによる方法、(b)は輪切り状のサンプリングによる
方法を示している。
【0004】この測定方法は通常、電波暗室内で行わ
れ、測定対象である機器(以下EUT:Equipment Unde
r Testと称する)102はターンテーブル105上に載
置される。このターンテーブル105を5rpm以上の
速度で360deg回転させ、アンテナ103を高さ1
〜4mの範囲で垂直方向に移動しながら受信を行い、電
磁放射の電界強度の最大値を得ることによって測定す
る。この測定は、図11で概念的に示したように、ター
ンテーブル105を中心にした円筒面105aの表面を
アンテナ103によってスキャンしている状況とほぼ同
等と考えられる。例えば、ターンテーブル105を回転
させながらアンテナ103を垂直方向に移動した場合
は、図11(a)のようにスパイラル状に連続的にサン
プリングされ、アンテナ103の高さを一定間隔で保持
した場合は、図11(b)のように一定高さごとに輪切
り状にサンプリングされることになる。そして、このよ
うな測定による最大測定値が規定の値を超えている場
合、不適合の判定がされる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、1GHz以
上の電磁放射では、電波暗室の底面である金属製のグラ
ンドプレーンによる反射波等の影響で、電磁波が非常に
細かいハイトパターンを描く。図12に3GHzの水平
偏波によるハイトパターンの例を、また図13に5GH
zの水平偏波によるハイトパターンの例をそれぞれ示
す。
【0006】図12および図13のように、これらの電
磁放射では電界値のピークが垂直方向に対して細かく表
れるため、上述したようなターンテーブル105を5r
pm以上という高速で回転させて周波数ごとの最大放射
レベルを得る測定方法では、最大のピークポイントを見
逃して正確に測定されない可能性が高い。
【0007】この点をふまえ、ANSIでは1GHz以
上の測定について、以下のような測定方法を経験的な手
法として記し、その測定に注意を促している。例えば、
ホーンアンテナをEUT付近に近づけて強くノイズが放
射されている方向を見極めた後に、その範囲についてア
ンテナを規定の高さずつ変化させて測定する。
【0008】しかし、この測定方法では、ノイズ放射の
強い範囲の見極めや角度探しに非常に時間がかかってし
まう。例えば、この測定の熟練者で40分以上、EUT
102の設計者による測定では1時間以上を要すること
が一般的であり、時間短縮のためには複数の作業者を必
要とする。また、高さ方向はビーム特性が鋭く、測定ス
キルを持たない設計者にはピーク値を見逃し、正確に測
定されない可能性が高い。
【0009】本発明はこのような課題に鑑みてなされた
ものであり、1GHz以上の電磁放射を正確に、かつ短
時間で測定可能な電磁放射測定装置を提供することを目
的とする。
【0010】また、本発明の他の目的は、1GHz以上
の電磁放射を正確に、かつ短時間で測定可能な電磁放射
測定方法を提供することである。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明では上記課題を解
決するために、電子機器からの電磁放射を測定する電磁
放射測定装置において、前記電磁放射を検出する検出手
段と、前記検出手段を垂直方向に駆動する垂直駆動手段
と、前記電子機器を回転駆動する回転駆動手段と、前記
検出手段の検出信号より各周波数の電界強度を測定する
電界強度測定手段と、前記電界強度の測定データを解析
し、すべての測定データに対する各周波数の最大電界強
度、または前記各周波数における電界強度の指向特性を
出力するデータ解析手段と、前記回転駆動手段を所定の
角度ずつ回転させて停止させ、回転停止時に前記垂直駆
動手段によって前記検出手段を所定の高さ範囲内で移動
させ、前記電界強度測定手段に前記受信手段の移動中に
前記検出信号を連続的に受信させ、前記回転停止ごとの
各周波数の最大電界強度による周波数スペクトルを算出
させ、前記データ解析手段に前記周波数スペクトルを受
信させてこれを解析させるように制御する測定制御手段
と、を有する電磁放射測定装置が提供される。
【0012】このような電磁放射測定装置では、測定制
御手段の制御によって、電子機器が回転駆動手段により
所定の角度ずつ回転され、回転停止ごとに垂直駆動手段
によって検出手段が垂直方向に移動されて連続的に電磁
放射が検出されて、各周波数の最大値による周波数スペ
クトルが電界強度測定手段によって自動的に測定される
ので、電磁放射が最大となる場所を見逃すことがなく、
電磁放射測定を高精度かつ短時間で行うことができる。
【0013】また、本発明では、電子機器からの電磁放
射を測定する電磁放射測定方法において、前記電子機器
を所定の角度ずつ回転駆動し、回転停止時に垂直方向に
所定の高さ範囲内で連続的に前記電磁放射を検出し、検
出信号より前記回転停止ごとの各周波数の最大電界強度
を記録した周波数スペクトルを算出し、前記周波数スペ
クトルより、すべての測定データに対する各周波数の最
大電界強度、および前記各周波数における電界強度の指
向特性を解析し出力する、ことを特徴とする電磁放射測
定方法が提供される。
【0014】このような電磁放射測定方法では、電子機
器が所定の角度ずつ回転され、回転停止ごとに垂直方向
に所定の高さ範囲内で連続的に電磁放射が検出され、各
周波数の最大電界強度による周波数スペクトルが自動的
に測定されるので、電磁放射が最大となる場所を見逃す
ことがなく、電磁放射測定を高精度かつ短時間で行うこ
とができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。図1は本発明の電磁放射測定装置
の主な構成を示すブロック図である。
【0016】電磁放射測定装置1は、測定対象である電
子機器2を任意の角度ずつ回転させ、回転停止ごとの各
周波数についての最大放射レベルを測定し、この測定値
から電子機器2から放射される最大電界強度や、メイン
ローブの方向性を求める。電磁放射測定装置1は、電子
機器2からの電磁放射を検出する検出手段3と、検出手
段3を垂直方向に移動させる垂直駆動手段4と、載置さ
れた電子機器2を回転駆動する回転駆動手段5と、検出
手段3の検出信号により電磁放射の電界強度を測定する
電界強度測定手段6と、電界強度測定手段6からの出力
データを解析して所定の測定結果を出力するデータ解析
手段7と、垂直駆動手段4および回転駆動手段5の駆動
と、電界強度測定手段6の測定、データ出力およびデー
タ解析手段7の解析処理を制御する測定制御手段8と、
によって構成される。
【0017】電子機器2、検出手段3、垂直駆動手段4
および回転駆動手段5は通常、電波暗室内に設置され、
検出手段3はアンテナ等である。電界強度測定手段6は
検出手段3による検出信号を周波数成分ごとに解析して
周波数スペクトルを出力するスペクトラムアナライザ等
で構成され、電波暗室の床下スペース等に設置される。
また、データ解析手段7および測定制御手段8は、例え
ば電波暗室の外部に設置されたコンピュータの記憶装置
にプログラムとして格納され、このプログラムが実行さ
れることによって実現される。
【0018】この電磁放射測定装置1による測定では、
測定制御手段8による制御のもとに、回転駆動手段5に
よって電子機器2が所定の角度ずつ360degまで回
転され、各角度での回転停止状態において、検出手段3
が垂直駆動手段4によって所定の高さ範囲内を垂直駆動
され、検出手段3が駆動される間に連続的に検出を行う
ことで、電子機器2の周囲のほぼ全方向にわたって電磁
放射が自動的に検出される。電界強度測定手段6は、検
出手段3からの検出信号から電界強度の最大値を周波数
ごとに記録して、各角度での回転停止ごとにこの電界強
度の最大値による周波数スペクトルをデータ解析手段7
に送出する。データ解析手段7はこの周波数スペクトル
のデータを解析して、電子機器2の全周にわたる電界強
度の最大値を記録した周波数スペクトルや、電界強度の
水平方向の指向特性を表すレーダチャート等を出力す
る。
【0019】なお、回転駆動手段5の停止時から次の停
止時までの回転角度は、検出手段3の検出指向特性より
適切に設定される。また、電界強度測定手段6は、例え
ば検出手段3による検出信号のロスを最小限にするた
め、検出手段3との間に接続されるRF(Radio Freque
ncy)アンプとともに、電波暗室のグランドプレーン下
に設置され、電界強度測定手段6からデータ解析手段7
へのデータ送信は遅延のないように、同軸ケーブル、光
ファイバーおよび高速通信に対応した中継機器等を介し
て行われる。さらに、電界強度測定手段6で生成された
周波数スペクトルのデータがデータ解析手段7に送信さ
れている間に、回転駆動手段5によって電子機器2が回
転されるように測定制御手段8が制御することによっ
て、測定時間が短縮される。
【0020】次に、図2に本発明の電磁放射測定装置1
の機器配置例を示す。電磁放射測定装置1は、電波暗室
20を用いた一般的な自動測定システムをベースとして
実現することができる。図2のように、周囲に電波吸収
体26が設けられた電波暗室20の内部には、金属製の
グランドプレーン21上にターンテーブル25とアンテ
ナポジショナー24が設置され、電子機器等のEUT2
2はターンテーブル25の上に載置されて回転駆動され
る。また、EUT22の動作中の電磁放射はアンテナ2
3によって検出され、アンテナ23はアンテナポジショ
ナー24によって垂直方向に駆動され、移動可能となっ
ている。アンテナ23はRFアンプ31を介してスペク
トラムアナライザ32に接続されるが、このRFアンプ
31およびスペクトラムアナライザ32は、アンテナ2
3の検出信号の伝送ロスを最小限にするため、アンテナ
23の直下でグランドプレーン21の下に設けられたピ
ット30内に設置される。
【0021】アンテナポジショナー24およびターンテ
ーブル25の駆動は、電波暗室20の外部の測定室40
内に設置されたコンピュータ41の測定プログラムによ
って制御される。電磁放射の測定は、ターンテーブル2
5を所定の角度ごとに回転させて停止させ、この回転停
止時にアンテナポジショナー24によってアンテナ23
を垂直方向に所定の高さ範囲を移動させ、この移動中に
検出した検出信号がスペクトラムアナライザ32に送出
される。例えば、EUT22がグランドプレーン21か
ら80cmの位置に配置されるとき、アンテナ23は1
m〜4mの範囲を移動して検出を行う。
【0022】図3にアンテナ23の電磁放射の受信方法
ついて概念的に示す。アンテナ23による検出は、図3
のようにターンテーブル25を中心にした円筒面25a
の表面をアンテナ23によって垂直方向にスキャンして
いる状況とほぼ同等と考えられる。ターンテーブル25
を角度ステップ25bごとに矢印25cの方向に回転
し、回転停止時にアンテナ23を垂直方向に移動させる
ことによって、アンテナ23によって円筒面25aの表
面を矢印25dの部分がスキャンされる。ターンテーブ
ル25が360deg回転されることによって、円筒面
25aの全周にわたって測定が行われる。
【0023】ところで、この電磁放射の測定環境では、
水平面には金属であるグランドプレーン21が存在する
が、垂直面にはEUT22の電源コードやアンテナ23
に接続される同軸ケーブル、相互接続された機器類以外
に強い電波反射物がなく、電磁放射の水平偏波の指向性
は垂直偏波に比べて広くなる。このことから上記測定
で、円筒面25aの矢印25c方向(円周方向)につい
ては、必要とされる角度ごとのみでの測定を行うことと
している。この回転の角度ステップ25bは、測定周波
数の上限や、EUT22の構造、アンテナ23の指向特
性等に応じて設定される。
【0024】以上のように検出された電磁放射は、RF
アンプ31を介してスペクトラムアナライザ32に送出
される。スペクトラムアナライザ32では、検出信号か
ら電界強度の周波数スペクトルが算出される。この周波
数スペクトルは、コンピュータ41の測定プログラムに
よりターンテーブル25の回転停止ごとに算出され、こ
のとき各周波数の電界強度の最高値が記録されるように
なっている。この回転停止ごとに算出された周波数スペ
クトルは、測定プログラムの制御によってコンピュータ
41に送出され、所定のデータ解析が行われる。
【0025】ここで、図4に測定制御系統の装置構成例
を示す。電磁放射測定装置1の測定制御系統では、例え
ば測定機器接続の標準規格であるGPIB(General Pu
rpose Interface Bus)を使用し、測定室40に設置さ
れたコンピュータ41からの制御信号やデータの伝送路
は、GPIBボード41aを介する高速伝送系411
と、GPIBボード41bを介する低速伝送系412の
2系統を設けている。
【0026】コンピュータ41とスペクトラムアナライ
ザ32との間は高速伝送系411によって接続される。
これは、スペクトラムアナライザ32より送出されるデ
ータ量が大きいためで、スペクトラムアナライザ32と
コンピュータ41との距離に応じて、規定長さ以上の場
合はデータエラーを防ぐためにGPIBエクステンダ3
3および42によって中継させる。スペクトラムアナラ
イザ32とGPIBエクステンダ33および42とGP
IBボード41aとは、それぞれ同軸ケーブルによって
接続し、GPIBエクステンダ33および42の間は光
ファイバーによって接続して、高速通信に対応させると
ともに電波暗室20のシールド特性が悪化するのを防止
する。なお、スイッチマトリクス34はアンテナ23と
の接続を所定の周波数帯域ごとに行うもので、同軸ケー
ブルによって接続される。
【0027】一方、GPIBボード41bには、ターン
テーブル25の回転駆動角度を制御するターンテーブル
コントローラ43、アンテナポジショナー24の高さ制
御を行うアンテナポジションコントローラ44、測定前
に各機器に確認信号を送出して動作確認を行う信号発振
器45、および1GHz以下の電磁放射を測定するEM
Iレシーバ46が、通常のGPIBケーブルによって接
続され、これらは例えば測定室40に設置される。
【0028】次に、測定データの解析について説明す
る。図5にスペクトラムアナライザ32の測定結果の例
を示す。図5(a)はターンテーブル25の回転角度が
0degのとき、(b)は20degのとき、(c)は
40degのときを示す。また、図6に第1の解析結果
例である全体の電界強度測定結果の周波数スペクトルを
示す。さらに、図7に第2の解析結果例であるレーダチ
ャートを示す。
【0029】図5では、スペクトラムアナライザ32に
よる測定結果の例として、ターンテーブル25の回転が
0deg、20degおよび40degのとき、アンテ
ナ23を1〜4mの高さ範囲で移動させた場合の周波数
スペクトル51、52および53が示している。前述し
たように、これらの測定値は各回転角度での電界強度の
最大値が記録されている。この測定データはコンピュー
タ41に送出され、測定プログラムによって解析され
る。
【0030】第1の解析結果としては、図6に示すよう
にすべての回転角度における最大値を記録した周波数ス
ペクトル61が得られる。このデータにより、EUT2
2の発生する電磁放射の最大電界強度が周波数ごとに求
められ、EUT22の電磁放射特性の適正判断が行われ
る。また第2の解析結果としては、例えば図5の同周波
数である点51a、52aおよび53aの値より、図7
のように各回転角度における電界強度を周波数ごとに記
録したレーダチャート71が得られる。このレーダチャ
ート71より電磁放射の周波数ごとの指向特性か表さ
れ、矢印71aで示されたメインローブの方向が明確に
なり、電波シールドの効果が弱い部分を容易に特定する
ことができる。
【0031】次に、図8に電磁放射測定の処理の流れを
示す。コンピュータ41の記憶装置に格納された測定プ
ログラムが実行されると、まず、スペクトラムアナライ
ザ32に制御信号が送出され、分解能、リファレンスレ
ベル、周波数、スイープタイム等の基本設定が行われる
(S81)。次に、ターンテーブルコントローラ43お
よびアンテナポジションコントローラ44に制御信号が
送出され、ターンテーブル25の角度が0degに、ア
ンテナ23の位置がグランドプレーン21から1mにな
るように設定の初期化が行われる(S82)。
【0032】次にスペクトラムアナライザ32の測定モ
ードが、測定値の最大値を常に記録していく「Max
Hold」に設定され(S83)、アンテナポジション
コントローラ44に制御信号が送出されて、アンテナポ
ジショナー24によってアンテナ23が目標値の高さ4
mとなるまで高速に駆動され(S84)、検出信号がス
ペクトラムアナライザ32に送出される。アンテナポジ
ショナー24が目標の位置まで到達すると、アンテナポ
ジションコントローラ44よりコンピュータ41に実行
完了を示す制御信号が送出され、コンピュータ41はこ
れを受信すると(S85)、スペクトラムアナライザ3
2の測定モードを周波数スペクトルを出力する「Vie
w」モードに設定し(S86)、スペクトラムアナライ
ザ32で算出された周波数スペクトルのデータをコンピ
ュータ41内に取り込まれる(S87)。また、これと
並行して、ターンテーブルコントローラ43に制御信号
を送出し、ターンテーブル25は例えば10degのよ
うに設定された角度ステップ分だけ回転される(S8
8)。
【0033】コンピュータ41に取り込まれた周波数ス
ペクトルのデータは、測定プログラムにより解析され
て、電界強度や指向性を示すグラフがコンピュータ41
の表示装置により表示、あるいはプリンタによる印刷等
によって出力される(S89)。ここで、コンピュータ
41にターンテーブルコントローラ43より実行完了信
号が送出されると、ターンテーブル25が360deg
分回転していない場合は(S90)、スペクトラムアナ
ライザ32の測定モードを、測定済みデータをクリアー
する「Clear Write」にした後、再び「Ma
x Hold」に設定する(S91)。この後、アンテ
ナポジショナー24が駆動されて(S84)、アンテナ
23が高さ4mから1mの位置まで移動され、電磁放射
が検出される。以下、このようにターンテーブル25の
回転とアンテナ23の移動が繰り返され、ターンテーブ
ル25の回転が360deg分終了している場合は(S
90)測定が終了となる。
【0034】次に、このような測定に必要な時間を概算
する。一般に1GHz以上の電磁放射の測定はホーンア
ンテナによって行われ、上記の測定におけるアンテナ2
3としても使用することができる。図9および図10に
ホーンアンテナの指向特性の例を示す。図9は検出波が
1GHzの場合、図10は5GHzの場合である。
【0035】このホーンアンテナの例では、図9のよう
に検出波が1GHzの場合は3dBピークが40deg
程度であるのに対し、図10のように5GHzの場合は
10deg程度である。したがって上記の測定において
は。ターンテーブル25の回転する角度ステップ25b
がこの角度以下であれば、円筒面25aの全周にわたっ
て検出範囲をカバーすることが可能であり、例えば上限
周波数が5GHzのコンピュータ等の機器の測定は、回
転角度ステップを10deg程度として行うのが妥当で
ある。
【0036】以上を考慮して、ここでは回転角度ステッ
プを5degとした場合の測定時間を概算する。回転角
度ステップを5deg、アンテナ23の昇降範囲を1〜
4m、30cm/sの速度でアンテナ23の1角度ステ
ップあたりの昇降時間が15sec、スペクトラムアナ
ライザ32のデータ送信時間が2secで、測定周波数
を分割しない場合、トータルの測定時間は測定時間=
(2+15)*360/5=1224(sec)で、約
20分となる。従来の測定方法では測定の熟練者で約4
0分以上の時間が必要であったので、上記の測定によっ
て測定時間がほぼ半減され、しかも測定者のGHz帯の
電磁放射に対する知識や測定スキルに関わらず、このよ
うな短時間で信頼性の高い測定データを得ることが可能
となる。
【0037】また、上記の測定では測定装置の規格通り
の範囲で測定することを前提としていたが、現実の電磁
放射とアンテナ23の指向性を考慮すると、以下のよう
な方法で測定することができ、測定効率を高めることが
可能となる。まず、EUT22をグランドプレーン21
から80cmの高さのとき、アンテナ23を例えば4m
のような高い位置とすると、もしメインローブの方向が
合致していたとしても、このような高い位置ではアンテ
ナ23の感度が約10dB以上低下してしまって電磁放
射を良好にとらえることはできない。そこで、一般的に
測定高さ範囲を1〜2.5mの範囲とする。次に、回転
角度ステップをやや大きめにして、EUT22の周囲3
60degを大まかに測定し、その中で強い電磁放射が
測定された角度の範囲について、回転角度ステップを小
さくして詳細な測定を行う。
【0038】この測定に必要な時間を概算する。最初の
大まかな測定時の回転角度ステップが20deg、その
後の特定範囲の測定時の回転角度ステップが5deg、
アンテナ23の昇降範囲が1〜2.5m、1角度ステッ
プあたりの昇降時間が5sec、スペクトラムアナライ
ザ32のデータ送信時間が2secのとき、 測定時間=全体測定+特定範囲への移動時間(最大)+特定範囲測定 =(5+2)*360/20+8+(5+2)*20/5 =162(sec) で約3分となり、従来方法の約1/10以下の時間で効
率のよい測定が可能となる。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電磁放射
測定装置では、測定制御手段の制御によって、電子機器
が回転駆動手段により所定の角度ずつ回転され、回転停
止ごとに垂直駆動手段によって検出手段が垂直方向に移
動されて連続的に電磁放射が検出されて、各周波数の最
大値による周波数スペクトルが電界強度測定手段によっ
て自動的に測定されるので、電磁放射が最大となる場所
を見逃すことがなく、電磁放射測定を高精度かつ短時間
で行うことができる。
【0040】また、本発明の電磁放射測定方法では、電
子機器が所定の角度ずつ回転され、回転停止ごとに垂直
方向に所定の高さ範囲内で連続的に電磁放射が検出さ
れ、各周波数の最大電界強度による周波数スペクトルが
自動的に測定されるので、電磁放射が最大となる場所を
見逃すことがなく、電磁放射測定を高精度かつ短時間で
行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電磁放射測定装置の主な構成を示すブ
ロック図である。
【図2】本発明の電磁放射測定装置の機器配置例を示す
図である。
【図3】アンテナによる電磁放射の検出方法について概
念的に示す図である。
【図4】測定制御系統の装置構成例を示す図である。
【図5】スペクトラムアナライザによる測定結果の例を
示す図であり、(a)はターンテーブルの回転角度が0
degのとき、(b)は20degのとき、(c)は4
0degのときをそれぞれ示す。
【図6】第1の解析結果例である全体の電界強度測定結
果の周波数スペクトルを示す図である。
【図7】第2の解析結果例であるレーダチャートを示す
図である。
【図8】電磁放射測定の処理の流れを示す図である。
【図9】検出波が1GHzの場合のホーンアンテナの指
向特性例を示す図である。
【図10】検出波が5GHzの場合のホーンアンテナの
指向特性例を示す図である。
【図11】従来の電磁放射の測定方法例を概念的に示す
図であり、(a)はスパイラル状のサンプリングによる
方法、(b)は輪切り状のサンプリングによる方法を示
す。
【図12】3GHzの水平偏波によるハイトパターンの
例を示す図である。
【図13】5GHzの水平偏波によるハイトパターンの
例を示す図である。
【符号の説明】
1……電磁放射測定装置、2……電子機器、3……検出
手段、4……垂直駆動手段、5……回転駆動手段、6…
…電界強度測定手段、7……データ解析手段、8……測
定制御手段、20……電波暗室、21……グランドプレ
ーン、22……EUT、23……アンテナ、24……ア
ンテナポジショナー、25……ターンテーブル、26…
…電波吸収体、30……ピット、31……RFアンプ、
32……スペクトラムアナライザ、40……測定室、4
1……コンピュータ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子機器からの電磁放射を測定する電磁
    放射測定装置において、 前記電磁放射を検出する検出手段と、 前記検出手段を垂直方向に駆動する垂直駆動手段と、 前記電子機器を回転駆動する回転駆動手段と、 前記検出手段の検出信号より各周波数の電界強度を測定
    する電界強度測定手段と、 前記電界強度の測定データを解析し、すべての測定デー
    タに対する各周波数の最大電界強度、または前記各周波
    数における電界強度の指向特性を出力するデータ解析手
    段と、 前記回転駆動手段を所定の角度ずつ回転させて停止さ
    せ、回転停止時に前記垂直駆動手段によって前記検出手
    段を所定の高さ範囲内で移動させ、前記電界強度測定手
    段に前記受信手段の移動中に前記検出信号を連続的に受
    信させ、前記回転停止ごとの各周波数の最大電界強度に
    よる周波数スペクトルを算出させ、前記データ解析手段
    に前記周波数スペクトルを受信させてこれを解析させる
    ように制御する測定制御手段と、 を有する電磁放射測定装置。
  2. 【請求項2】 前記測定制御手段は、前記電界強度測定
    手段による前記周波数スペクトルのデータ送信中に前記
    所定の角度ずつ回転駆動するように前記回転駆動手段を
    制御することを特徴とする請求項1記載の電磁放射測定
    装置。
  3. 【請求項3】 前記電界強度測定手段は、前記検出手段
    の直下で、測定が行われる電波暗室の底面の下方に配置
    されることを特徴とする請求項1記載の電磁放射測定装
    置。
  4. 【請求項4】 前記電界強度測定手段と前記データ解析
    手段とは、同軸ケーブル、光ファイバー等を用いた高速
    伝送路によって接続されることを特徴とする請求項1記
    載の電磁放射測定装置。
  5. 【請求項5】 電子機器からの電磁放射を測定する電磁
    放射測定方法において、 前記電子機器を所定の角度ずつ回転駆動し、 回転停止時に垂直方向に所定の高さ範囲内で連続的に前
    記電磁放射を検出し、 検出信号より前記回転停止ごとの各周波数の最大電界強
    度を記録した周波数スペクトルを算出し、 前記周波数スペクトルより、すべての測定データに対す
    る各周波数の最大電界強度、および前記各周波数におけ
    る電界強度の指向特性を解析し出力する、ことを特徴と
    する電磁放射測定方法。
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