CN109324234B - 一种检测装置、系统及方法 - Google Patents

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Abstract

本申请提供一种检测装置、系统及方法。该装置通过传输带将待测设备传输至检测模块的检测区域,并在待测设备满足检测条件时,由处理模块向检测模块发送检测命令,检测模块接收到检测命令后,将检测模块的干扰单元按预设速度靠近待测设备,以改变待测设备的电磁波能量,处理模块根据待测设备的电磁波能量确定待测设备是否合格,再检测完毕后,传输带将待测设备移出检测区域。该方案中,对满足检测条件的设备进行检测,有助于检测结果的正确性,并且该方案通过传输带传输待测设备,实现了对设备的批量检测。

Description

一种检测装置、系统及方法
技术领域
本申请涉及设备检测技术领域,尤其涉及一种检测装置、系统及方法。
背景技术
现有的电子设备,如手机、平板电脑、笔记本电脑等,在使用过程中,其产生的电磁波的能量随着其使用状态而不停的改变。而当其产生的电磁的能量大于一定值,就会对人体产生危害,这样的电子设备,在生产时,会被认定为不合格产品。
而现有技术中,还没有一种有效的方法实现批量检测电子设备。
发明内容
本申请提供一种检测装置、系统及方法,用以实现有效地批量检测电子设备。
第一方面,本申请提供一种检测装置,该装置包括:处理模块、检测模块、传输带。其中,传输带用于,将待测设备传输至检测模块的检测区域,并在完成对待测设备的检测后,将待测设备移出所述检测区域。检测模块用于,在接收到处理模块的检测命令后,控制检测模块的干扰单元按预设速度靠近待测设备,以改变待测设备产生的电磁波能量。处理模块用于,在待测设备满足检测条件时,向检测模块发送检测命令,并接收待测设备的电磁波能量,根据待测设备的电磁波能量判断待测设备是否合格。该方案中,对满足检测条件的设备进行检测,有助于检测结果的正确性,并且该方案通过传输带传输待测设备,实现了对设备的批量检测。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块具体用于,接收待测设备发送的第一信号,并在接收到第一信号后,向检测模块发送检测命令,其中,第一信号是由待测设备在确定待测设备满足检测条件时发送的。
在又一种可能的实现方式在中,上述处理模块具体用于,接收待测设备发送的第二信号,并在根据第二信号确定待测设备满足检测条件后,向检测模块发送检测命令。
上述两种处理模块的可能实现方式,实现了当待测设备满足检测条件时,才会对待测设备进行检测,具有以下有益效果:当待测设备未满足检测条件时,对其进行检测,由于检测条件不同,得到的检测结果与预设的标准不同,该检测结果不具有参考价值,用该检测结果判断该待测设备是否合格,会得到错误的结果,因此,上述两种处理模块的可能实现方式可以使检测结果更准确。
在一种可能的实现方式中,上述检测条件可以是指:待测设备与水平面的夹角在预设的角度范围内,和/或,待测设备周围的光照强度在预设的光照强度范围内。
在一种可能的实现方式中,上述检测模块可以用于,接收处理模块的检测命令,并在接收到检测命令后,延迟第一时长,然后控制检测模块的干扰单元按预设速度靠近待测设备。该方案中,延时一定时长后再开始对待测设备进行检测,避免了待测设备在传输带上运动时可能会产生的电磁波变化,从而减少了对检测结果产生的影响。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块可以用于,在待测设备满足检测条件时,延迟第二时长,然后向检测模块发送检测命令。该方案中,延时一定时长后再开始对待测设备进行检测,避免了待测设备在传输带上运动时可能会产生的电磁波变化,从而减少了对检测结果产生的影响。
在一种可能的实现方式中,上述传输带具体可以用于,接收来自处理模块的第一控制命令,并在接收到第一控制命令后,将待测设备传输至检测模块的检测区域。并且还可以用于,接收来自处理模块的第二控制命令,并在接收到第二控制命令后,将待测设备移出检测区域。该方案实现了传输带对待测设备的传输,将未检测的设备传输至检测区域,将完成检测的设备移出检测区域,有效的提高了对设备的检测效率。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块具体可以用于,在完成对待测设备的检测后,或者,在待测设备不满足检测条件时,向传输带发送第二控制命令。该方案中,将不满足检测条件的设备直接移出检测区域,以使得下一个待测设备可以进入检测区域进行检测,提高了对设备的检测效率。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块,具体可以用于,判断接收到的待测设备的电磁波能量中的最大值是否不大于能量阈值,若不大于能量阈值,则确定待测设备合格。
第二方面,本申请提供一种检测系统,包括待测设备和上述第一方面或者第一方面任一实施例中的检测装置。
在一种可能的实现方式中,上述待测设备可以用于,在确定待测设备满足检测条件后,向检测装置发送第一信号。
在一种可能的实现方式中,上述待测设备可以用于,向检测装置发送第二信号,其中,第二信号用于检测装置确定待测设备是否满足检测条件。
由待测设备自身去检测待测设备是否满足检测条件,或者,由待测设备自身去检测与检测条件相关的信息,可以更准确的确定待测设备是否满足检测条件。
第三方面,本申请提供一种检测方法,该方法应用于检测装置,该检测装置包括:处理模块、检测模块、传输带,该方法包括:传输带将待测设备传输至检测模块的检测区域。处理模块在待测设备满足检测条件时,向检测模块发送检测命令。检测模块在接收到检测命令后,控制检测模块的干扰单元按预设速度靠近待测设备,以改变待测设备的电磁波能量。处理模块接收待测设备的电磁波能量并根据待测设备的电磁波能量判断待测设备是否合格。然后传输带将待测设备移出检测区域。该方案中,对满足检测条件的设备进行检测,有助于检测结果的正确性,并且该方案通过传输带传输待测设备,实现了对设备的批量检测。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块在所述待测设备满足检测条件时,向所述检测模块发送检测命令,具体可以通过以下两种方式:
方式一、处理模块在接收到待测设备发送的第一信号后,向检测模块发送检测命令,其中,第一信号是由待测设备在确定待测设备满足检测条件时发送的。
方式二、处理模块接收待测设备发送的第二信号,并在根据第二信号确定待测设备满足检测条件后,向检测模块发送所述检测命令。
上述方案实现了当待测设备满足检测条件时,才会对待测设备进行检测,具有以下有益效果:当待测设备未满足检测条件时,对其进行检测,由于检测条件不同,得到的检测结果与预设的标准不同,该检测结果不具有参考价值,用该检测结果判断该待测设备是否合格,会得到错误的结果,因此,上述方案可以使检测结果更准确。
在一种可能的实现方式中,上述检测条件可以是:待测设备与水平面的夹角在预设的角度范围内,和/或,待测设备周围的光照强度在预设的光照强度范围内。
在一种可能的实现方式中,上述检测模块在接收到检测命令后,控制检测模块的干扰单元按预设速度靠近待测设备,具体可以包括:检测模块在接收到处理模块的检测命令后,延迟第一时长,然后控制检测模块的干扰单元按预设速度靠近待测设备。该方案中,延时一定时长后再开始对待测设备进行检测,避免了待测设备在传输带上运动时可能会产生的电磁波变化,从而减少了对检测结果产生的影响。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块在待测设备满足检测条件时,向检测模块发送检测命令,具体可以包括:处理模块在待测设备满足检测条件时,延迟第一时长,然后向检测模块发送检测命令。该方案中,延时一定时长后再开始对待测设备进行检测,避免了待测设备在传输带上运动时可能会产生的电磁波变化,从而减少了对检测结果产生的影响。
在一种可能的实现方式中,上述方法还可以包括:传输带分别接收来自处理模块的第一控制命令和第二命令,其中,第一控制命令用于指示传输带将待测设备传输至检测模块的检测区域,第二控制命令用于指示传输带将待测设备移出检测模块的检测区域。该方案实现了传输带对待测设备的传输,将未检测的设备传输至检测区域,将完成检测的设备移出检测区域,有效的提高了对设备的检测效率。
在一种可能的实现方式中,上述第二控制命令是在完成对待测设备的检测后发送的,或者,第二控制命令是在待测设备不满足检测条件时发送的。该方案中,将不满足检测条件的设备直接移出检测区域,以使得下一个待测设备可以进入检测区域进行检测,提高了对设备的检测效率。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块根据待测设备的电磁波能量判断待测设备是否合格,具体可以包括:判断接收到的待测设备的电磁波能量中的最大值是否不大于能量阈值,若不大于能量阈值,则确定待测设备合格。
附图说明
图1为本申请提供的一种检测装置示意图;
图2为本申请提供的一种可能的检测装置俯视图;
图3为本申请提供的一种检测方法流程示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请作进一步地详细描述。方法实施例中的具体操作方法也可以应用于装置实施例或系统实施例中。其中,在本申请的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
图1为本申请提供的一种检测装置示意图,该装置可以检测电子设备的电磁波能量,以确定被检测的电子设备是否合格,并且该装置可以实现对大量电子设备的流水化检测。其中,被检测的电子设备可以为手机、平板电脑、笔记本电脑等。如图1所示,该装置包括:处理模块101、检测模块102、传输带103。其中,检测模块102可以安装在传输带103上方,处理模块101可以控制检测模块102和传输带103。
传输带103用于,将待测设备传输至检测模块102的检测区域,并在完成对待测设备的检测后,将待测设备移出检测区域。在将一个待测设备移出检测区域之后,传输带103还会将下一个待测设备传输至检测模块102的检测区域。
检测模块102包括干扰单元,该干扰单元可以为金属片,如钢片、铁片等,该干扰单元相对于待测设备进行运动时,待测设备的电磁波能量会发生相应的变化。检测模块102用于,接收处理模块101的检测命令,并在到检测命令之后,控制干扰单元按预设速度靠近所述待测设备。其中,预设速度可以是匀速或者变速。
处理模块101用于,在待测设备满足检测条件时,向检测模块102发送检测命令。以及用于,接收待测设备的电磁波能量,并根据待测设备的电磁波能量判断待测设备是否合格。其中,根据待测设备的电磁波能量判断待测设备是否合格,可以通过以下方式实现:判断接收到的待测设备的电磁波能量中的最大值是否不大于能量阈值,若不大于能量阈值,则确定待测设备合格。
上述方案,对满足检测条件的设备进行检测,有助于检测结果的正确性,并且上述方案通过传输带传输待测设备,实现了对设备的批量检测。
上述处理模块101用于,在待测设备满足检测条件时,向检测模块102发送检测命令,具体可以通过以下两种方式实现:
方式一
处理模块101接收待测设备发送的第一信号,并在接收到第一信号后,向检测模块102发送检测命令,其中,第一信号是由待测设备在确定自身满足检测条件时发送的。
方式二
处理模块102接收待测设备发送的第二信号,并在根据第二信号确定待测设备满足检测条件后,向检测模块102发送检测命令。其中,第二信号可以是由待测设备对自身环境条件进行检测得到并生产的。第二信号包括检测条件所需要检测的信息。
上述方案实现了当待测设备满足检测条件时,才会对待测设备进行检测,具有以下有益效果:当待测设备未满足检测条件时,对其进行检测,由于检测条件不同,得到的检测结果与预设的标准不同,该检测结果不具有参考价值,用该检测结果判断该待测设备是否合格,会得到错误的结果,因此,上述方案可以使检测结果更准确。
在一种可能的实现方式中,上述检测条件可以是:待测设备与水平面的夹角在预设的角度范围内,和/或,待测设备周围的光照强度在预设的光照强度范围内。比如,检测条件为,待测设备的放置角度与水平面的夹角为45°,或者,待测设备周围的光照强度在10勒克斯度(lux)以下,或者同时满足放置角度为45°和光照强度在10lux以下。
其中,为了使待测设备与水平面呈一定角度,可以将传输带按一定角度安装,或者可以在通过在待测设备下方增加一个支架来实现待测设备与水平面具有角度。为了控制待测设备周围的光照强度,上述检测模块102在结构上可以为一个封闭暗箱,暗箱底部设置有开口,开口用无尘布进行遮挡,开口用于传输带103将待测设备移入暗箱内部,以及将待测设备移出暗箱。
在一种可能的实现方式中,上述传输带103将待测设备传输至检测模块102的检测区域,并在处理模块101确定待测设备满足检测条件后,会延迟一定时长再开始对待测设备的检测。延时一定时长后再开始对待测设备进行检测,避免了待测设备在传输带上运动时可能会产生的电磁波变化,从而减少了对检测结果产生的影响。
其中,延迟一定时长再开始对待测设备的检测具体可以通过以下三种方式的任意一种或者任意多种方式的组合实现:
方式A
由检测模块102实现,具体地,检测模块102可以用于,接收处理模块101的检测命令,并在接收到检测命令后,延迟第一时长,然后控制干扰单元按预设速度靠近待测设备。比如,当检测模块102接收到处理模块101发送的检测命令后,延迟1秒,然后检测模块102控制干扰单元按预设速度靠近待测设备。
方式B
由处理模块101实现,具体地,处理模块101可以用于,在待测设备满足检测条件时,延迟第二时长,然后向检测模块102发送检测命令。比如,当处理模块101通过上述方式一或者上述方式二的方法,确定待测设备满足检测条件,并在确定待测设备满足检测条件后,延迟1秒,然后向检测模块102发送检测命令。
方式C
由检测命令实现,具体地,处理模块101向检测模块102发送的检测命令本身包括了延时命令。比如,检测命令可以为:延迟1秒,然后控制干扰单元按预设速度运动。
当然,在确定待测设备满足检测条件后,如何实现延时检测并不限于上述三种方式或者三种方式之间的组合。
在一种可能的实现方式中,传输带103具体可以用于,接收来自处理模块101的第一控制命令,以及可以用于接收来自处理模块101的第二控制命令,其中,传输带103在接收到第一控制命令之后,将待测设备传输至检测模块102的检测区域,在接收到第二控制命令之后,将待测设备移出检测模块102的检测区域。该方案实现了传输带对待测设备的传输,将未检测的设备传输至检测区域,将完成检测的设备移出检测区域,有效的提高了对设备的检测效率。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块101具体可以用于,在完成对待测设备的检测后,或者,在待测设备不满足检测条件时,向传输带发送第二控制命令。其中,当处理单元101确定待测设备不满足检测条件时,针对该待测设备,处理单元101不会向检测模块102发送检测命令,而会向传输带发送第二控制命令,传输带103接收到第二控制命令后,将待测设备移出检测模块102的检测区域。该方案中,将不满足检测条件的设备直接移出检测区域,以使得下一个待测设备可以进入检测区域进行检测,提高了对设备的检测效率。
下面结合具体示例对上述检测装置进行具体说明,如图2所示,为本申请提供的一种可能的检测装置俯视图,该装置应用于对手机进行检测。其中,暗箱包括上述检测模块102,上述检测模块102的检测区域位于暗箱内部,钢片相当于检测模块102中的干扰单元(图2所示暗箱为透视效果,实际俯视图无法看到暗箱内部),暗箱内部光照强度为8lux,传输带安装角度为45°。手机和处理模块之间以无线进行通信,该装置预设的检测条件为,手机放置角度与水平面呈44°到46°同时手机周围光照强度低于10lux。
示例1
手机1为已经完成检测的手机,传输带接收控制命令将手机1移出暗箱的同时,将手机2移动到暗箱内部。手机2根据自身陀螺仪检测到手机与水平面的夹角为45°,同时手机2根据自身光感仪检测到周围光照强度为8lux,因此手机2满足上述检测条件。手机2向处理模块发送一个信号,该信号用于向处理模块指示手机2满足检测条件。处理模块接收到该信号,延时1s后,向暗箱发送检测命令,指示暗箱控制钢片按预设速度接近手机2。
在钢片接近手机2时,手机2产生受到干扰,其产生的电磁波能量发生改变,将检测得到的手机电磁波能量的值发送给处理模块,处理模块确定接收到的电磁波能量的值均不大于阈值,因此,确定该手机合格,并向传输带发送控制命令,传输带接收到控制命令后,将手机2移出暗箱,同时将手机3传输进暗箱。
手机3通过自身陀螺仪检测到自身与水平面的角度为43°(可能是手机自身出了问题,或者是手机底部有异物等原因导致),不满足检测条件,因此手机3向处理模块发送一个信号,该信号用于向处理模块指示手机3不满足检测条件。处理模块接收到该信号后,向传输带发送控制命令,传输带接收到控制命令后,将手机3移出暗箱。
示例2
在示例2中,手机1为已经完成检测的手机,传输带接收控制命令将手机1移出暗箱的同时,将手机2移动到暗箱内部。手机2根据自身陀螺仪检测到手机与水平面的夹角为45°,同时手机2根据自身光感仪检测到周围光照强度为8lux,然后手机2向处理模块发送一个信号,该信号包括了手机2检测得到的于水平面的夹角数值(45°)以及手机2周围光照强度(8lux),处理模块根据该信号,确定手机2满足检测条件,并在延时1s后,向暗箱发送检测命令,指示暗箱控制钢片按预设速度接近手机2。
后续过程与上述示例一类似,在此不再赘述。
上述方案,对满足检测条件的设备进行检测,有助于检测结果的正确性,并且上述方案通过传输带传输待测设备,实现了对设备的批量检测。
基于同样的构思,本申请还提供一种检测系统,该系统包括待测设备和上述任一实施例中的检测装置。
在一种可能的实现方式中,上述待测设备可以用于,在确定待测设备满足检测条件后,向检测装置发送第一信号。
在一种可能的实现方式中,上述待测设备可以用于,向检测装置发送第二信号,其中,第二信号用于检测装置确定待测设备是否满足检测条件。
由待测设备自身去检测待测设备是否满足检测条件,或者,由待测设备自身去检测与检测条件相关的信息,可以更准确的确定待测设备是否满足检测条件。
基于同样的构思,本申请还提供一种检测方法,该方法可以应用于检测装置,其中,检测装置包括:处理模块、检测模块、传输带。图3为本申请提供的一种检测方法流程示意图,如图3所示,该方法包括:
步骤301,传输带将待测设备传输至检测模块的检测区域。
传输带接收到处理模块发送的第一控制命令后,将待测设备传输至检测模块的检测区域。
步骤302,处理模块在所述待测设备满足检测条件时,向检测模块发送检测命令。
步骤303,检测模块接收到检测命令后,控制检测模块的干扰单元按预设速度靠近待测设备,以改变待测设备的电磁波能量。
步骤304,处理模块接收待测设备的电磁波能量并根据待测设备的电磁波能量判断待测设备是否合格。
步骤305,传输带将待测设备移出检测区域。
上述方案,对满足检测条件的设备进行检测,有助于检测结果的正确性,并且上述方案通过传输带传输待测设备,实现了对设备的批量检测。
在一种可能的实现方式中,上述步骤302可以通过以下两种方式实现:
方式一、处理模块在接收到待测设备发送的第一信号后,向检测模块发送检测命令,其中,第一信号是由待测设备在确定待测设备满足检测条件时发送的。
方式二、处理模块接收待测设备发送的第二信号,并在根据第二信号确定待测设备满足检测条件后,向检测模块发送所述检测命令。
上述方案实现了当待测设备满足检测条件时,才会对待测设备进行检测,具有以下有益效果:当待测设备未满足检测条件时,对其进行检测,由于检测条件不同,得到的检测结果与预设的标准不同,该检测结果不具有参考价值,用该检测结果判断该待测设备是否合格,会得到错误的结果,因此,上述方案可以使检测结果更准确。
在一种可能的实现方式中,上述步骤302还可以包括:处理模块在待测设备满足检测条件时,延迟第一时长,然后向检测模块发送检测命令。该方案中,延时一定时长后再开始对待测设备进行检测,避免了待测设备在传输带上运动时可能会产生的电磁波变化,从而减少了对检测结果产生的影响。
在一种可能的实现方式中,上述步骤303具体可以包括:检测模块在接收到处理模块的检测命令后,延迟第一时长,然后控制检测模块的干扰单元按预设速度靠近待测设备。该方案中,延时一定时长后再开始对待测设备进行检测,避免了待测设备在传输带上运动时可能会产生的电磁波变化,从而减少了对检测结果产生的影响。
在一种可能的实现方式中,上述方法还可以包括:传输带分别接收来自处理模块的第一控制命令和第二命令,其中,第一控制命令用于指示传输带将待测设备传输至检测模块的检测区域,第二控制命令用于指示传输带将待测设备移出检测模块的检测区域。该方案实现了传输带对待测设备的传输,将未检测的设备传输至检测区域,将完成检测的设备移出检测区域,有效的提高了对设备的检测效率。
在一种可能的实现方式中,上述第二控制命令是在完成对待测设备的检测后发送的,或者,第二控制命令是在待测设备不满足检测条件时发送的。该方案中,将不满足检测条件的设备直接移出检测区域,以使得下一个待测设备可以进入检测区域进行检测,提高了对设备的检测效率。
在一种可能的实现方式中,上述处理模块根据待测设备的电磁波能量判断待测设备是否合格,具体可以包括:判断接收到的待测设备的电磁波能量中的最大值是否不大于能量阈值,若不大于能量阈值,则确定待测设备合格。
图3所示的检测方法的具体实施过程和有益效果,与前述检测装置实施例中的实施过程和有益效果相同,可参考前述描述,这里不再赘述。
显然,本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样,倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内,则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (8)

1.一种检测装置,其特征在于,所述装置包括:处理模块、检测模块、传输带;
所述传输带用于,将待测设备传输至所述检测模块的检测区域,并在完成对所述待测设备的检测后,将所述待测设备移出所述检测区域;
所述检测模块用于,在接收到所述处理模块的检测命令后,控制所述检测模块的干扰单元按预设速度靠近所述待测设备,以改变所述待测设备的电磁波能量;
所述处理模块用于,在所述待测设备满足检测条件时,向所述检测模块发送所述检测命令;接收所述待测设备的电磁波能量;根据所述待测设备的电磁波能量判断所述待测设备是否合格;所述处理模块还用于控制所述传输带;
所述检测模块用于,在接收到所述处理模块的检测命令后,控制所述检测模块的干扰单元按预设速度靠近所述待测设备,包括:所述检测模块用于,在接收到所述处理模块的检测命令后,延迟第一时长后,控制所述检测模块的干扰单元按预设速度靠近所述待测设备;
所述处理模块用于,在所述待测设备满足检测条件时,向所述检测模块发送所述检测命令,包括:所述处理模块用于,在所述待测设备满足检测条件时,延迟第二时长后,向所述检测模块发送所述检测命令。
2.如权利要求1所述的装置,其特征在于,所述处理模块用于,在所述待测设备满足检测条件时,向所述检测模块发送所述检测命令,具体包括:
所述处理模块在接收到所述待测设备发送的第一信号后,向所述检测模块发送所述检测命令,所述第一信号是由所述待测设备在确定所述待测设备满足检测条件时发送的;或者,
所述处理模块接收所述待测设备发送的第二信号,并在根据所述第二信号确定所述待测设备满足检测条件后,向所述检测模块发送所述检测命令。
3.如权利要求2所述的装置,其特征在于,所述待测设备满足检测条件,是指:所述待测设备与水平面的夹角在预设的角度范围内,和/或,所述待测设备周围的光照强度在预设的光照强度范围内。
4.如权利要求1-3任一项所述的装置,其特征在于,所述传输带具体用于:
在接收到来自所述处理模块的第一控制命令后,将所述待测设备传输至所述检测模块的检测区域;
在接收到来自所述处理模块的第二控制命令后,将所述待测设备移出所述检测区域。
5.如权利要求4所述的装置,其特征在于,所述处理模块还用于,在完成对所述待测设备的检测后,向所述传输带发送所述第二控制命令;或者,
所述处理模块还用于,在所述待测设备不满足检测条件时,向所述传输带发送所述第二控制命令。
6.如权利要求1-3任一项所述的装置,其特征在于,所述处理模块,用于根据所述待测设备的电磁波能量判断所述待测设备是否合格,具体包括:
所述处理模块确定接收到的所述待测设备的电磁波能量中的最大值不大于能量阈值,则确定所述待测设备合格。
7.一种检测系统,其特征在于,包括,待测设备,和,如权利要求1至6中任一项所述的检测装置;
所述待测设备用于,在确定所述待测设备满足检测条件后,向所述检测装置发送第一信号;或者,所述待测设备用于,向所述检测装置发送第二信号,所述第二信号用于所述检测装置根据所述第二信号确定所述待测设备是否满足检测条件。
8.一种检测方法,其特征在于,所述方法应用于检测装置,该检测装置包括:处理模块、检测模块、传输带,所述方法包括:
所述传输带将待测设备传输至所述检测模块的检测区域;
所述处理模块在所述待测设备满足检测条件时,向所述检测模块发送检测命令;
所述检测模块在接收到所述检测命令后,控制所述检测模块的干扰单元按预设速度靠近所述待测设备,以改变所述待测设备的电磁波能量;
所述处理模块接收所述待测设备的电磁波能量;
所述处理模块根据所述待测设备的电磁波能量判断所述待测设备是否合格;
所述传输带将所述待测设备移出所述检测区域;
所述处理模块还用于控制所述传输带;
所述检测模块在接收到所述检测命令后,控制所述检测模块的干扰单元按预设速度靠近所述待测设备,包括:所述检测模块在接收到所述检测命令后,延迟第一时长后,控制所述检测模块的干扰单元按预设速度靠近所述待测设备;
所述处理模块在所述待测设备满足检测条件时,向所述检测模块发送检测命令,包括:所述处理模块在所述待测设备满足检测条件时,延迟第二时长后,向所述检测模块发送所述检测命令。
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Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1760693A (zh) * 2004-10-12 2006-04-19 华冠通讯股份有限公司 手机辐射测试装置
CN101535835A (zh) * 2006-08-28 2009-09-16 热费希尔科学公司 用于辐射检测装置的性能校验和稳定的方法和设备
TW201038952A (en) * 2009-04-17 2010-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Device and method for detecting electromagnetic wave
JP2011002281A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 National Institute Of Information & Communication Technology 検査装置、ならびに、検査方法
JP2011102709A (ja) * 2009-11-10 2011-05-26 National Institute Of Information & Communication Technology 放射電力測定装置、放射電力測定方法
CN102279331A (zh) * 2011-06-30 2011-12-14 重庆大学 汽车电源变换系统线束的辐射电磁干扰检测分析方法
CN103368595A (zh) * 2012-04-11 2013-10-23 中兴通讯股份有限公司 一种移动终端辐射的调节方法、装置及移动终端
CN205901875U (zh) * 2016-08-19 2017-01-18 西可通信技术设备(河源)有限公司 一种多功能手机性能测试机
CN107014414A (zh) * 2017-05-24 2017-08-04 贵州电网有限责任公司电力科学研究院 一种用于gis设备射线检测的柔性支撑装置
CN107290597A (zh) * 2017-06-13 2017-10-24 芜湖桑乐金电子科技有限公司 电磁波检测装置及方法
CN107505401A (zh) * 2017-08-09 2017-12-22 武汉理工大学 基于傅氏变换的频域检测系统
CN107677897A (zh) * 2017-08-14 2018-02-09 东莞市嘉龙海杰电子科技有限公司 一种高频变压器共模噪声及传导辐射测试方法
WO2018054066A1 (zh) * 2016-09-23 2018-03-29 中兴通讯股份有限公司 一种控制终端的方法、装置及终端
CN108646101A (zh) * 2018-06-13 2018-10-12 程凯 手机辐射监测方法及其装置
CN209117764U (zh) * 2018-11-16 2019-07-16 华勤通讯技术有限公司 一种检测装置、系统

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4586240B2 (ja) * 2000-06-01 2010-11-24 ソニー株式会社 電磁放射測定装置および電磁放射測定方法
WO2010132541A2 (en) * 2009-05-14 2010-11-18 University Of Delaware Electromagnetic detection apparatus and methods

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1760693A (zh) * 2004-10-12 2006-04-19 华冠通讯股份有限公司 手机辐射测试装置
CN101535835A (zh) * 2006-08-28 2009-09-16 热费希尔科学公司 用于辐射检测装置的性能校验和稳定的方法和设备
TW201038952A (en) * 2009-04-17 2010-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd Device and method for detecting electromagnetic wave
JP2011002281A (ja) * 2009-06-17 2011-01-06 National Institute Of Information & Communication Technology 検査装置、ならびに、検査方法
JP2011102709A (ja) * 2009-11-10 2011-05-26 National Institute Of Information & Communication Technology 放射電力測定装置、放射電力測定方法
CN102279331A (zh) * 2011-06-30 2011-12-14 重庆大学 汽车电源变换系统线束的辐射电磁干扰检测分析方法
CN103368595A (zh) * 2012-04-11 2013-10-23 中兴通讯股份有限公司 一种移动终端辐射的调节方法、装置及移动终端
CN205901875U (zh) * 2016-08-19 2017-01-18 西可通信技术设备(河源)有限公司 一种多功能手机性能测试机
WO2018054066A1 (zh) * 2016-09-23 2018-03-29 中兴通讯股份有限公司 一种控制终端的方法、装置及终端
CN107014414A (zh) * 2017-05-24 2017-08-04 贵州电网有限责任公司电力科学研究院 一种用于gis设备射线检测的柔性支撑装置
CN107290597A (zh) * 2017-06-13 2017-10-24 芜湖桑乐金电子科技有限公司 电磁波检测装置及方法
CN107505401A (zh) * 2017-08-09 2017-12-22 武汉理工大学 基于傅氏变换的频域检测系统
CN107677897A (zh) * 2017-08-14 2018-02-09 东莞市嘉龙海杰电子科技有限公司 一种高频变压器共模噪声及传导辐射测试方法
CN108646101A (zh) * 2018-06-13 2018-10-12 程凯 手机辐射监测方法及其装置
CN209117764U (zh) * 2018-11-16 2019-07-16 华勤通讯技术有限公司 一种检测装置、系统

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"现代化工实验室电磁辐射检测仪";李聪;《中国优秀硕士学位论文全文数据库》;全文 *

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