CN108008279B - 一种电路射频噪声测试系统、方法及装置 - Google Patents

一种电路射频噪声测试系统、方法及装置 Download PDF

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Abstract

本发明适用电子产品技术领域,提供了一种电路射频噪声测试系统、方法及装置,该系统包括:屏蔽实验箱,用于屏蔽外部电磁波和吸收内部部件反射的电磁波,位于屏蔽实验箱内的机械手臂,固定连接在机械手臂上的接收探头和距离传感器,与机械手臂固定连接、且位于屏蔽实验箱内的伸缩器,位于屏蔽实验箱内的支撑平台,用于安置被测电路,与接收探头连接的频谱分析仪,与距离传感器、机械手臂以及伸缩器连接的控制服务器,与频谱分析仪、支撑平台以及控制服务器连接的测试服务器,通过该系统可在被测电路测试过程中,通过伸缩器以及机械手臂调整接收探头的位置,使得接收探头能覆盖被测电路的各个位置,提高了测试电路上各个电子元件射频噪音的精确度。

Description

一种电路射频噪声测试系统、方法及装置
技术领域
本发明属于电子产品技术领域,尤其涉及一种电路射频噪声测试系统、方法及装置。
背景技术
目前WiFi以便捷、稳定、快捷的优势渗透到各个日常生活的领域,但是WiFi的频段较窄,当WiFi发射器周围有其他电子元件发射出射频时,会与WiFi争抢传输信道,彼此形成竞争,从而相对于WiFi而言,其他电子元件发射出的射频就成了射频噪声了,导致WiFi网络不够顺畅,上网体验较差,因此工程师通过排查WiFi电路板上电子元件的射频噪声并减弱其射频噪声,即可提高WiFi的顺畅性。当前,工程师用相关设备测试电路上各个电子元件的射频噪声功率时,对电路上每一个电子元件都需手动测试、记录数据,最后再对比数据,过程繁琐,且会受到周围其他电子元件的射频干扰,而难以得到准确的测试结果。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电路射频噪声测试系统、方法及装置,旨在解决由于现有技术无法提供一种电路射频噪声测试系统,以对测试电路中的各个电子元件的射频噪声功率进行精确的测试。
一方面,本发明提供了一种电路射频噪声测试系统,所述系统包括:
屏蔽实验箱,用于屏蔽外部电磁波和吸收内部部件反射的电磁波;
位于所述屏蔽实验箱内的机械手臂;
固定连接在所述机械手臂上的接收探头和距离传感器;
与所述机械手臂固定连接、且位于所述屏蔽实验箱内的伸缩器;
位于所述屏蔽实验箱内的支撑平台,用于安置被测电路;
与所述接收探头连接的频谱分析仪;
与所述距离传感器、所述机械手臂以及所述伸缩器连接的控制服务器;以及
与所述频谱分析仪、所述支撑平台以及所述控制服务器连接的测试服务器。
另一方面,本发明提供了一种基于上述测试系统的电路射频噪声测试方法,所述方法包括以下步骤:
当接收到对屏蔽实验箱内被测电路的测试请求时,所述测试服务器控制所述被测电路进入运行状态;
所述测试服务器通过所述控制服务器调整所述接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给所述测试服务器;
所述测试服务器通过所述控制服务器控制所述接收探头探测所述被测电路发出的射频噪声;
所述测试服务器控制所述频谱分析仪获取所述接收探头探测到的射频噪声,对所述获取的射频噪声进行分析,并将分析结果反馈给所述测试服务器;
所述测试服务器根据所述反馈的位置信息和所述反馈的分析结果获取测试的目标位置以及所述目标位置对应的电子元件的射频噪声功率并输出。
另一方面,本发明还提供了一种电路射频噪声测试装置,所述装置包括:
运行控制单元,用于当接收到对屏蔽实验箱内被测电路的测试请求时,所述测试服务器控制所述被测电路进入运行状态;
调整反馈单元,用于所述测试服务器通过所述控制服务器调整所述接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给所述测试服务器;
探测控制单元,用于所述测试服务器通过所述控制服务器控制所述接收探头探测所述被测电路发出的射频噪声;
分析反馈单元,用于所述测试服务器控制所述频谱分析仪获取所述接收探头探测到的射频噪声,对所述获取的射频噪声进行分析,并将分析结果反馈给所述测试服务器;以及
测试输出单元,用于所述测试服务器根据所述反馈的位置信息和所述反馈的分析结果获取测试的目标位置以及所述目标位置对应的电子元件的射频噪声功率并输出。
本发明提供了一种电路射频噪声测试系统,该系统包括屏蔽实验箱、位于屏蔽实验箱内的机械手臂、固定连接在机械手臂上的接收探头和距离传感器、与机械手臂固定连接且位于屏蔽实验箱内的伸缩器、用于安置被测电路且位于屏蔽实验箱内的支撑平台、与接收探头连接的频谱分析仪、与距离传感器、机械手臂以及伸缩器连接的控制服务器、与频谱分析仪、支撑平台以及控制服务器连接的测试服务器,通过该系统可在被测电路测试过程中,通过伸缩器以及机械手臂调整接收探头的位置使得接收探头能覆盖被测电路的各个位置,提高了测试电路上各个电子元件射频噪音的精确度。
附图说明
图1是本发明实施例一提供的电路射频噪声测试系统的结构示意图;
图2是本发明实施例一提供的电路射频噪声测试系统的优选结构示意图;
图3本发明实施例二提供的电路射频噪声测试方法的实现流程图;以及
图4是本发明实施例三提供的电路射频噪声测试装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述:
实施例一:
图1示出了本发明实施例一提供的电路射频噪声测试系统的结构,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分。
本发明实施例提供了一种电路射频噪声测试系统,该系统包括屏蔽实验箱11、接收探头12、距离传感器13、伸缩器14、机械手臂15、支撑平台16、频谱分析仪17、控制服务器18以及测试服务器19,其中:
屏蔽实验箱11用于屏蔽外部电磁波和吸收内部部件反射的电磁波,以防止外部电磁波对测试构成影响,同时,也防止内部电子元件反射的电磁波被反射后再次被接收探头12接收到从而对测试构成影响。接收探头12位于屏蔽实验箱11内,并固定在机械手臂15上,用于接收被测电路在运行过程中电路电子元件发出的射频噪音。距离传感器13位于屏蔽实验箱11内,与接收探头12平行且紧靠固定在机械手臂15上,用于感应接收探头11到电子元件的距离。伸缩器14位于屏蔽实验箱11内,并与机械手臂15紧密固定连接,用于控制接收探头12的竖直方向上的位置移动。机械手臂15位于屏蔽实验箱11内,并与伸缩器14紧密固定连接,用于安置接收探头12以及距离传感器13,并控制接收探头12水平方向上的位置移动。支撑平台16位于屏蔽实验箱11内,且与测试服务器19连接,用于安置被测电路。频谱分析仪17与测试服务器19连接,以接收测试服务器19的控制请求,并与接收探头12连接,以获取探测探头12探测到的射频噪声,并在分析后,将结果反馈给测试服务器19。控制服务器18分别与距离传感器13、伸缩器14以及机械手臂15连接,用于接收距离传感器13感应到的接收探头12到电路上电子元件的距离,并根据接收到的距离来控制伸缩器14以及机械手臂15调整接收探头12的位置,并与测试服务器19连接,以接收和反馈测试服务器19的控制请求。测试服务器19与支撑平台16连接,以控制支撑平台16上的被测电路正常运行,并根据控制服务器18以及频谱分析仪17反馈的数据,输出被测电路上每个被测试电子元件的位置以及射频噪声功率。
优选地,频谱分析仪17通过GBIP(通用接口总线,General-Purpose InterfaceBus)端口与测试服务器19连接,通过RF(无线电射频,Radio Frequency)端口与接收探头12连接,控制服务器18通过COM1(串行通讯端口,cluster communicationport)端口与伸缩器14连接,通过COM2端口与机械手臂15连接,通过com3端口与距离传感器13连接,通过COM4与测试服务器连接,测试服务器19通过RJ(注册接口,Registered Jack)端口与支撑平台16连接。从而通过上述各个端口实现电路射频噪声测试系统中各设备的连接,简化了连接的设计过程。
进一步优选地,如图2所示,电路射频噪声测试系统中还包括与接收探头12、频谱分析仪17连接、且位于屏蔽实验箱11内的低噪声放大器10,低噪声放大器10与接收探头12以及频谱分析仪17通过射频电缆连接,用以放大接收探头12接收到的射频噪声,从而使得频谱分析仪17可测试的射频噪声功率覆盖范围更大,进一步增强了测试系统的实用性。
本发明实施例提供了一种电路射频噪声测试系统,该系统包括屏蔽实验箱、接收探头、距离传感器、伸缩器、机械手臂、支撑平台、频谱分析仪、控制服务器以及测试服务器,通过该系统可在被测电路测试过程中,通过伸缩器以及机械手臂调整接收探头的位置,使得接收探头能覆盖被测电路的各个位置,提高了测试电路上各个电子元件射频噪音的精确度。
实施例二:
图3示出了本发明实施例二提供的电路射频噪声测试方法的实现流程,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分。
本发明实施例适用于电路射频噪声测试系统,该系统包括屏蔽实验箱、接收探头、距离传感器、伸缩器、机械手臂、支撑平台、频谱分析仪、控制服务器以及、测试服务器,其中:
屏蔽实验箱用于屏蔽外部电磁波和吸收内部部件反射的电磁波,以防止外部电磁波对测试构成影响,同时,也防止内部电子元件反射的电磁波被反射后再次被接收探头接收到从而对测试构成影响。接收探头位于屏蔽实验箱内,并固定在机械手臂上,用于接收被测电路在运行过程中电路电子元件发出的射频噪音。距离传感器位于屏蔽实验箱内,与接收探头平行且紧靠固定在机械手臂上,用于感应接收探头到电子元件的距离。伸缩器位于屏蔽实验箱内,并与机械手臂紧密固定连接,用于控制接收探头的竖直方向上的位置移动。机械手臂位于屏蔽实验箱内,并与伸缩器紧密固定连接,用于安置接收探头以及距离传感器,并控制接收探头水平方向上的位置移动。支撑平台位于屏蔽实验箱内,且与测试服务器连接,用于安置被测电路。频谱分析仪与测试服务器连接,以接收测试服务器的控制请求,并与接收探头连接,以获取探测探头探测到的射频噪声,并在分析后,将结果反馈给测试服务器。控制服务器分别与距离传感器、伸缩器以及机械手臂连接,用于接收距离传感器感应到的接收探头到电路上电子元件的距离,并根据接收到的距离来控制伸缩器以及机械手臂调整接收探头的位置,并与测试服务器连接,以接收和反馈测试服务器的控制请求。测试服务器与支撑平台连接,以控制支撑平台上的被测电路正常运行,并根据控制服务器以及频谱分析仪反馈的数据,输出被测电路上每个被测试电子元件的位置以及射频噪声功率。
优选地,频谱分析仪通过GBIP端口与测试服务器连接,通过RF端口与接收探头连接,控制服务器通过COM1端口与伸缩器连接,通过COM2端口与机械手臂连接,通过com3端口与距离传感器连接,通过COM4与测试服务器连接,测试服务器通过RJ端口与支撑平台连接,从而通过上述各个端口实现电路射频噪声测试系统中各设备的连接,简化了连接的设计过程。
进一步优选地,电路射频噪声测试系统中还包括,与接收探头、频谱分析仪连接、且位于屏蔽实验箱内的低噪声放大器。可选地,低噪声放大器可通过射频电缆与接收探头以及频谱分析仪连接,用以放大接收探头接收到的射频噪声,从而使得频谱分析仪可测试的射频噪声功率覆盖范围更大,进一步增强了上述测试系统的实用性。
具体地,本发明实施例提供的电路射频噪声测试方法包括下述步骤:
在步骤S301中,当接收到对屏蔽实验箱内被测电路的测试请求时,测试服务器控制被测电路进入运行状态。
在本发明实施例中,测试服务器可通过RJ端口与被测电路连接,以控制被测电路进入运行状态。
在步骤S302中,测试服务器通过控制服务器调整接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给测试服务器。
优选地,在本发明实施例中,测试服务器可通过控制服务器控制伸缩器以及机械手臂调整接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给测试服务器,从而通过控制接收探头的位置,精准地测试出目标电子元件的射频噪声功率,增强了测试系统的灵活性、实用性。作为示例地,当距离传感器感应到接收探头离电子元件稍远时,控制服务器将控制伸缩器伸长,以使接收探头接近电子元件,从而增加了测试结果的准确性,当测试服务器接收到测试其他电子元件的请求时,可通过控制服务器控制机械手臂进行水平方向移动,再加上伸缩器竖直方向上的移动,以使接收探头测试其他位置的电子元件。
在步骤S303中,测试服务器通过控制服务器控制接收探头探测被测电路发出的射频噪声。
在步骤S304中,测试服务器控制频谱分析仪获取接收探头探测到的射频噪声,对获取的射频噪声进行分析,并将分析结果反馈给测试服务器。
在步骤S305中,测试服务器根据反馈的位置信息和反馈的分析结果获取测试的目标位置以及目标位置对应的电子元件的射频噪声功率并输出。
在本发明实施例中,输出的测试结果包括了位置信息以及射频噪声功率值。
优选地,在步骤S305之后,当测试服务器未接收到停止测试的请求时,跳转到步骤S302,以测试不同位置对应的电子元件的射频噪声功率。在实际操作过程中,可在测试服务器接收到停止测试的请求时,根据所有测试过的位置以及对应的分析结果生成测试报告并输出。具体地,测试服务器在单次测试电路上的电子元件后,通过预设的格式记录控制服务器反馈的位置数据以及频谱测试仪反馈的噪声数据,并在测试服务器接收到停止测试的请求时,输出所有测试位置对应的测试报告,实现测试报告的自动生成。
进一步优选地,测试服务器控制频谱分析仪获取接收探头探测到的射频噪声的步骤之前,通过低噪声放大器将接收探头探测到的射频噪声进行放大,从而使得频谱分析仪可测试的射频噪声功率覆盖范围更大,进一步增强了上述测试系统的实用性。
在本发明实施例中,当接收到对屏蔽实验箱内被测电路的测试请求时,测试服务器控制被测电路进入正常状态,再通过控制服务器调整接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给测试服务器,测试服务器通过控制服务器控制接收探头探测被测电路发出的射频噪声,再控制频谱分析仪获取接收探头探测到的射频噪声,并在分析后将分析结果反馈给测试服务器,测试服务器根据反馈的位置信息和反馈的分析结果输出测试位置及对应的射频噪声功率,从而在被测电路的测试过程中,通过对接收探头的位置调整,提高对被测电路上每个电子元件射频噪声的测试精确度。
实施例三:
图4示出了本发明实施例三提供的电路射频噪声测试装置的结构,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,其中包括:
运行控制单元41,用于当接收到对屏蔽实验箱内被测电路的测试请求时,测试服务器控制被测电路进入运行状态;
调整反馈单元42,用于测试服务器通过控制服务器调整接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给测试服务器;
探测控制单元43,用于测试服务器通过控制服务器控制接收探头探测被测电路发出的射频噪声声;
分析反馈单元44,用于测试服务器控制频谱分析仪获取接收探头探测到的射频噪声,对获取的射频噪声进行分析,并将分析结果反馈给测试服务器;以及
测试输出单元45,用于测试服务器根据反馈的位置信息和反馈的分析结果获取测试的目标位置以及目标位置对应的电子元件的射频噪声功率并输出。
在本发明实施例中,当接收到对屏蔽实验箱内被测电路的测试请求时,测试服务器控制被测电路进入正常状态,再通过控制服务器调整接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给测试服务器,测试服务器通过控制服务器控制接收探头探测被测电路发出的射频噪声,再控制频谱分析仪获取接收探头探测到的射频噪声,并在分析后将分析结果反馈给测试服务器,测试服务器根据反馈的位置信息和反馈的分析结果输出测试位置及对应的射频噪声功率,从而在被测电路的测试过程中,通过对接收探头的位置调整,提高对被测电路上每个电子元件射频噪声的测试精确度。
在本发明实施例中,电路射频噪声测试装置的各单元可由相应的硬件或软件单元实现,各单元可以为独立的软、硬件单元,也可以集成为一个软、硬件单元,在此不用以限制本发明。各单元的具体实施方式可参考实施例二的描述,在此不再赘述。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种电路射频噪声测试系统,其特征在于,所述系统包括:
屏蔽实验箱,用于屏蔽外部电磁波和吸收内部部件反射的电磁波;
位于所述屏蔽实验箱内的机械手臂;
固定连接在所述机械手臂上的接收探头和距离传感器;
与所述机械手臂固定连接、且位于所述屏蔽实验箱内的伸缩器;
位于所述屏蔽实验箱内的支撑平台,用于安置被测电路;
与所述接收探头连接的频谱分析仪;
与所述距离传感器、所述机械手臂以及所述伸缩器连接的控制服务器;
与所述频谱分析仪、所述支撑平台以及所述控制服务器连接的测试服务器;以及
与所述接收探头、所述频谱分析仪连接、且位于所述屏蔽实验箱内的低噪声放大器,所述低噪声放大器与所述接收探头以及所述频谱分析仪通过射频电缆连接,用以放大所述接收探头接收到的射频噪声;
所述测试服务器根据所述控制服务器反馈的位置信息和所述频谱分析仪反馈的分析结果获取测试的目标位置、以及所述目标位置对应的电子元件的射频噪声功率并输出,实现对被测电路中各个电子元件的射频噪声功率的测试。
2.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述机械手臂在水平方向上移动位置,所述伸缩器在竖直方向上伸缩,所述机械手臂与所述伸缩器用于调整所述接收探头的测试位置。
3.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述接收探头与所述距离传感器相互平行且紧靠。
4.如权利要求1所述的测试系统,其特征在于,所述频谱分析仪通过GBIP端口与所述测试服务器连接,通过RF端口与所述接收探头连接,所述控制服务器通过COM端口分别与所述伸缩器、所述机械手臂连接、所述距离传感器连接以及所述测试服务器连接,所述测试服务器通过RJ端口与所述支撑平台连接。
5.一种基于权利要求1-4任一所述测试系统的电路射频噪声测试方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
当接收到对屏蔽实验箱内被测电路的测试请求时,所述测试服务器控制所述被测电路进入运行状态;
所述测试服务器通过所述控制服务器调整所述接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给所述测试服务器;
所述测试服务器通过所述控制服务器控制所述接收探头探测所述被测电路发出的射频噪声;
所述测试服务器控制所述频谱分析仪获取所述接收探头探测到的射频噪声,对所述获取的射频噪声进行分析,并将分析结果反馈给所述测试服务器;
所述测试服务器根据所述反馈的位置信息和所述反馈的分析结果获取测试的目标位置以及所述目标位置对应的电子元件的射频噪声功率并输出。
6.如权利要求5所述的电路射频噪声测试方法,其特征在于,所述将调整后的位置信息反馈给所述测试服务器的步骤,还包括:
所述测试服务器通过所述控制服务器控制所述伸缩器以及所述机械手臂调整所述接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给所述测试服务器。
7.如权利要求5所述的电路射频噪声测试方法,其特征在于,所述测试服务器控制所述频谱分析仪获取所述接收探头探测到的射频噪声的步骤之前,所述方法还包括:
将所述接收探头探测到的射频噪声进行放大。
8.如权利要求5所述的电路射频噪声测试方法,其特征在于,所述测试服务器根据所述反馈的位置信息和所述反馈的分析结果获取测试的目标位置以及所述目标位置对应的电子元件的射频噪声功率的步骤之后,还包括:
当所述测试服务器未接收到停止测试的请求时,跳转到所述测试服务器通过所述控制服务器调整所述接收探头的位置的步骤,以测试不同位置对应的电子元件的射频噪声功率。
9.一种基于权利要求1-4任一所述测试系统的电路射频噪声测试装置,其特征在于,所述装置包括:
运行控制单元,用于当接收到对屏蔽实验箱内被测电路的测试请求时,所述测试服务器控制所述被测电路进入运行状态;
调整反馈单元,用于所述测试服务器通过所述控制服务器调整所述接收探头的位置,并将调整后的位置信息反馈给所述测试服务器;
探测控制单元,用于所述测试服务器通过所述控制服务器控制所述接收探头探测所述被测电路发出的射频噪声;
分析反馈单元,用于所述测试服务器控制所述频谱分析仪获取所述接收探头探测到的射频噪声,对所述获取的射频噪声进行分析,并将分析结果反馈给所述测试服务器;以及
测试输出单元,用于所述测试服务器根据所述反馈的位置信息和所述反馈的分析结果获取测试的目标位置以及所述目标位置对应的电子元件的射频噪声功率并输出。
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