CN113109634B - 天线测试方法、装置、终端设备、天线测试系统及介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了天线测试方法、装置、终端设备、天线测试系统及介质。所述方法包括：获取参数校准信息；根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。利用该方法，能够有效提高天线测试的效率。

Description

天线测试方法、装置、终端设备、天线测试系统及介质

技术领域

本发明实施例涉及测试技术领域，尤其涉及天线测试方法、装置、终端设备、天线测试系统及介质。

背景技术

在生产过程中为了保证产品的生产品质，往往要进行天线耦合测试。通过天线耦合测试，可以发现天线功能是否正常，天线匹配电路、电桥是否有电路虚焊，天线周边电子/结构件是否有问题，天线没有装配好，保护外壳或陶瓷介质损坏等问题。

目前，在进行天线耦合测试时，测试周期长，故如何提高天线测试效率是当前亟待解决的。

发明内容

本发明实施例提供了天线测试方法、装置、终端设备、天线测试系统及介质，有效的提高了天线测试的效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种天线测试方法，包括：

获取参数校准信息；

根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；

根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。

可选的，所述获取参数校准信息，包括：

获取参数配置信息，所述参数配置信息表征所述被测终端的射频指标；

校准所述参数配置信息；

将校准后的参数配置信息确定为参数校准信息。

可选的，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，所述根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制自动测试台的发射状态；

控制被测终端的接收状态；

确定所述被测终端在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度。

可选的，该方法，还包括：

在所述均方根的取值不在设定范围内，调整所述自动测试台的发射状态，并继续确定均方根，直至确定出天线耦合度或调整次数达到设定值。

可选的，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，所述根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制被测终端的发射状态；

控制自动测试台的接收状态；

确定所述自动测试台在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度。

可选的，该方法，还包括：

在控制所述自动测试台或所述被测终端的发射状态时，根据发射功率控制衰减量，所述自动测试台为基于增益表校准后的设备。

第二方面，本发明实施例还提供了一种天线测试装置，包括：

获取模块，用于获取参数校准信息；

本发明实施例提供了一种天线测试系统，包括本发明实施例提供的终端设备、自动测试台、被测终端和天线耦合板；

所述终端设备分别与所述自动测试台和所述被测终端有线连接，所述被测终端放置在天线耦合板上；

所述自动测试台和所述被测终端在所述终端设备的控制下，完成所述被测终端天线的测试；其中，所述被测终端包括低轨卫星终端。

第五方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本发明实施例提供的天线测试方法。

本发明实施例提供了天线测试方法、装置、终端设备、天线测试系统及介质，该方法获取参数校准信息；根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。利用上述技术方案，能够有效提高天线测试效率。

附图说明

图1为本发明实施例一提供的一种天线测试方法的流程示意图；

图2为本发明实施例提供的一种天线测试方法的流程示意图；

图3为本发明实施例提供的一种天线测试方法的流程示意图；

图4为本发明实施例二提供的一种天线测试装置的结构示意图；

图5为本发明实施例三提供的一种终端设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是，一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作(或步骤)描述成顺序的处理，但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外，各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止，但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。此外，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

本发明使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”信息示“至少一个实施例”。

需要注意，本发明中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对相应内容进行区分，并非用于限定顺序或者相互依存关系。

需要注意，本发明中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。

实施例一

图1为本发明实施例一提供的一种天线测试方法的流程示意图，该方法可适用于对天线进行测试的情况，该方法可以由天线测试装置来执行，其中该装置可由软件和/或硬件实现，并一般集成在终端设备上，在本实施例中终端设备包括但不限于：电脑。终端设备可以对自动测试台和被测终端的收发状态进行控制，从而实现对被测终端天线的测试。

如图1所示，本发明实施例一提供的一种天线测试方法，包括如下步骤：

S110、获取参数校准信息。

在本实施例中，参数校准信息可以认为是校准后的用于被测天线性能测试的信息。如参数校准信息是基于被测终端天线的射频指标进行校准后所形成的信息。本实施例不限定如何获取参数校准信息，示例性的，可以通过自动测试台对被测终端的射频指标校准得到。

本实施例不对参数校准信息所包括的内容进行限定，参数校准信息可以包括控制被测终端发射状态和/或接收状态的信息，如发射功率。参数校准信息中也可以包括控制被测台发射状态和/或接收状态的信息，如发射功率。

S120、根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数。

在获取到参数校准信息后，本步骤可以基于参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试。自动测试台可以认为是实现被测终端测试的设备，自动测试台可以取代信号源和频谱仪。被测终端可以认为是待进行天线测试的终端。性能参数可以理解为表征天线性能的参数，如天线耦合度、数据传输性能等。

本步骤在对被测终端进行测试时，可以通过控制自动测试台的收发状态和被测终端的收发状态，实现对被测终端天线性能的测试。

在一个示例中，本实施例可以通过参数校准信息控制自动测试台发射信号，然后控制被测终端接收信号，通过对被测终端所接收信号进行分析从而确定天线与发射相关的性能参数。

在一个示例中，本实施例可以通过参数校准信息控制被测终端发射信号，然后控制自动测试台接收信号，通过对自动测试台接收信号进行分析确定天线与接收相关的性能参数。

S130、根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。

在获取到性能参数后，本步骤可以对性能参数进行分析，不同的性能参数对应有不同的分析手段，此处不作限定，如可以将性能参数与对应的参数阈值比较，确定天线的测试结果。其中，测试结果可以为表征天线是否合格的结果。

本发明实施例一提供的一种天线测试方法，该方法获取参数校准信息；根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。利用上述方法，有效提高了天线测试效率。

在上述实施例的基础上，提出了上述实施例的变型实施例，在此需要说明的是，为了使描述简要，在变型实施例中仅描述与上述实施例的不同之处。

在一个实施例中，所述获取参数校准信息，包括：

获取参数配置信息，所述参数配置信息表征所述被测终端的射频指标；

校准所述参数配置信息；

将校准后的参数配置信息确定为参数校准信息。

参数配置信息可以为被测终端天线的射频指标的理论值。天线由于安装和环境等原因，在工作时，射频指标大多不能达到参数配置信息表征的数值。故在对天线进行测试时，本发明可以首先校准参数配置信息，得到参数校准信息。

示例性的，本实施例可以通过自动测试台对参数配置信息进行校准得到参数校准信息，此处不对校准的具体过程进行限定。如通过控制自动测试台和被测终端的发射状态和/或接收状态，实测出参数校准信息。

在一个实施例中，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，所述根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制自动测试台的发射状态；

控制被测终端的接收状态；

确定所述被测终端在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度。

在基于参数校准信息控制自动测试台的发射状态时，不限定控制发射状态的哪些参数，如控制发射功率、频点和信号类型等。

本实施例在控制自动测试台的发射状态，控制被测终端的接收状态时，可以控制自动测试台发射信号，然后控制被测终端接收信号。终端设备基于被测终端接收的信号计算均方根，以进一步对天线耦合度进行测试。

在被测终端接收信号时，接收增益固定，以保证一致性。

此处不对设定范围进行限定，可以基于需求设定，如设定范围为[21 25]。在均方根的取值在设定范围内时，可以基于自动测试台的发射功率和被测终端的接收功率的差值绝对值确定天线耦合度。

在一个实施例中，该方法，还包括：

在所述均方根的取值不在设定范围内，调整所述自动测试台的发射状态，并继续确定均方根，直至确定出天线耦合度或调整次数达到设定值。

本实施例在调整自动测试台的发射状态时，可以基于均方根和参数校准信息进行调整，此处不对调整的手段进行限定。如基于均方根偏离设定范围的程度，重新从参数校准信息中选取控制自动测试台发射状态的信息，以重新控制自动测试台的发射状态。

调整次数不作限定，若调整次数达到设定值均方根均不在设定范围内，可以直接确定该天线测试结果为不合格。

在一个实施例中，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，所述根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制被测终端的发射状态；

控制自动测试台的接收状态；

确定所述自动测试台在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度。

控制被测终端的发射状态和控制自动测试台的接收状态的具体手段不作限定，详细内容可以参见控制被测终端接收状态和控制自动测试台发射状态的过程，此处不作赘述。

在一个实施例中，该方法，还包括：

在控制所述自动测试台或所述被测终端的发射状态时，根据发射功率控制衰减量，所述自动测试台为基于增益表校准后的设备。

在控制自动测试台或被测终端的发射状态时，如果检测到连接了可调衰减器，则根据发射功率控制衰减量，然后基于确定出的衰减量控制自动测试台或被测终端的发射状态。

本实施例对被测终端进行测试的自动测试台为校准后的设备，如在对被测终端进行测试前，首先基于增益表对自动测试台进行校准，以保证自动测试台的收发能力正常。其中，增益表可以为表征传输增益的表格。

以下对本发明进行示例性描述，本发明提供的天线测试方法可以认为是一种低轨卫星终端天线耦合测试的方法，本发明中低轨卫星终端使用的可以是宽波束天线，且无同步信号。

通过天线耦合测试可以发现如下问题：

1.天线功能是否正常，天线匹配电路、电桥是否有电路虚焊；

2.天线周围电子/结构件有问题；

3.天线没有装配好，保护外壳或者陶瓷介质损坏；

4.天线自身设计有问题；

5.天线性能指标是否缺乏一致性。

现有进行天线耦合测试时存在如下缺陷：

1.工具软件相对复杂，在大批量生产时使用显得界面复杂、操作不便；

2.目前天线耦合测试采用的是空口开环测试，在空口中信号容易受到干扰，判定容易误判，或者二次判断的情况发生；

3.如果对天线性能测试周期较长不利于快速生产；

4.等效测试无保存记录，不利于生产管控和溯源。

本发明被测终端通过数据线和PC机，即终端设备联机，使得被测终端联机和联网成功。被测终端可以为低轨卫星终端，被测终端配合天线耦合板使用，实现被测终端的裸机天线耦合测试的改进，其中裸机天线可以认为被测终端中只存在天线测试程序。

本发明终端设备中的自动测试工具软件，界面简单、操作简便：只需被测终端开机、插上被测终端数据线自动联机测试、根据软件提示取下被测终端，最大限度减少人工操作。

针对天线耦合采用开环测试、空中信号易受干扰、在空口中信号容易受到干扰，判定容易误判，或者二次判断的情况发生，需要改进如下；

1.测试结束后软件有明显的测试合格与否的结果提示，即通过测试结果表征；

2.开发适合UHF频段，如400M频段的天线耦合板，被测终端放在天线耦合板上做开环测试，天线耦合板和被测终端在屏蔽环境进行天线耦合测试最大可能的降低开环测试干扰。其中，屏蔽环境可以是屏蔽室或者引入信号加衰减器，再利用屏蔽箱进行测试。

本发明中开环和闭环可以理解为有线和无线的概念，天线是开环，数据线是闭环，天线测试是开环测试。空口开环测试时利用无线进行测试。

本发明中终端设备连接自动测试台和被测终端，自动测试台可以为仪器或者模拟信号的射频设备，被测终端放置在天线耦合板上对天线的指标进行快速测量。

如果对天线性能测试周期较长不利于快速生产，改进需求分析如下：

1)开发基于自动测试的天线耦合软件，即本发明的天线测试方法，终端不需同步，因为是低轨卫星，过境时间较短，所以不需要同步信号，只需要触发信号即可，被测终端只需和电脑联机配合ATE(自动测试台)进行测试；

2)合格是否的判定给出明显提示；

3)不同产品需要单独的测试bin文件；同时终端设备控制自动测试台发出所需要信号；当卫星过境的时候会广播信号，如果终端收到广播信号即可判断为交互信道是可行的；

4)终端设备针对不同被测终端和天线耦合软件能联机读出校准信息并设置信号功率、终端接收信号功率、信噪比等测试判定标准，生产的时候需要输入判定标准，人工一次性输入，结合校准信息控制被测终端接收并返回被测终端接收的结果；校准信息可以是通过ATE设备对被测终端的射频指标进行校准来得出的信息，ATE设备可以是仪器或者等同于仪器的设备。校准信息可以保证被测终端的射频指标以及产品的一致性，比如要发送1W的信号，由于器件之间的误差，可能差1db，那么就需要进行校准。在基于校准信息控制被测终端接收时，可以根据射频指标修改射频器件的控制字，同时存储到flash中；

5)可以同时考虑根据校准信息控制被测终端发射，ATE接收并解调考察被测终端天线耦合后的上行功率和信噪比；

6)在无法读出终端校准信息的情况下需明确提出读校准信息失败，请做ATE校准；达到检查校准结果的目的。ATE需要按照指标达到校准值。

在上述改进的基础上考察被测终端在特定(扩频信号)收发功率情况下的收发信噪比(误码率)，可以间接考察终端的数据传输性能；如能做到，建议改进终端目前终端和实际基站同步后进行数据传输速率考察的生产普测方式，终端同步后的实际数据传输速率测试，改为生产抽测甚至研发验证测试合格即可，其余的结合ATE考察特定(扩频信号)收发功率情况下的收发信噪比即可。

耦合测试主要是天线指标，如幅度、信号频率。数据传输主要是通过ATE设备采集回来的数据进行分析，比如EVM，信号图形分析，APC，AGC。

针对目前工具软件在天线耦合工位没有相关测试记录，改进需求如下：

在被测终端和终端设备联机后自动读出被测终端SN号(被测终端可用该SN号做出厂SN号)并自动填入软件界面，测试结束后针对该SN号自动存储测试结果。

本发明能有效的改进生产环节中对天线的快速测试，不需要暗室的测试，在生产流程和成本上均进行了改进。本发明采用ATE(自动测试台)设备取代信号源和频谱仪，测试成本大大减少；天线耦合测试软件界面简单、操作简便，最大限度减少人工操作。

天线耦合度测试软件，即本发明的天线测试方法，将ATE(自动测试台)设备当作其信号源，信号通过自动测试台的天线发射出来，被测终端天线接收信号并计算信号强度、信噪比等；被测终端通过天线发射信号，ATE设备通过天线接收信号并计算信号强度和信噪比等。

一部被测终端的裸机天线耦合测试时间能缩短到几秒左右、结果准确、提示明确、操作简单、管控方便、能检查校准结果。

天线耦合测试采用ATE测试校准完成的发射/接收增益信息，终端采用固定的某功率状态接收(接收增益、增益状态、功放状态)，调整ATE的发射功率直至终端接收RMS满足要求，ATE的发射功率和终端接收功率的差值即为天线耦合测试度。

接收增益、增益状态、功放状态是人工根据设计指标来设定的，接收增益主要是灵敏度，增益状态主要是动态范围，功率状态指PA发射状态。ATE是设备，利用无线对接空口的功率计来进行测量，RMS主要是线性均方根，RMS所需满足的数值是生产人工按照设计要求设定的。

特定收发功率下的信噪比测试，在天线耦合度测试完成基础之上，采用ATE校准完成的发射/接收增益信息，将天线耦合度测试结果当成线损，测试过程与终端ATE校准过程相同。

图2为本发明实施例提供的一种天线测试方法的流程示意图，参见图2，终端设备在对被测终端进行测试前，首先获取配置文件，然后基于配置文件配置全局变量。其中，配置文件可以为生产指标的配置文件。如果产品定型，该产品的配置文件可以固定不变的。其中，产品可以为天线。本实施例被测终端是裸机，为了实现测试，可以将测试程序下载到被测终端，其中测试程序可以认为是支持实现本发明天线测试方法的被测终端侧的相关程序。如被测终端基于终端设备的控制，进行信号收发的程序。本实施例中测试程序版本号可以用于标识测试程序，用于问题回归和追溯。生产序号用于质量把控。本实施例中的增益表可以从配置文件中读取，也可以从校准表中读取。需要注意的是，本发明中的配置表可以认为是参数配置信息，校准表可以认为是参数校准信息。本实施例中可调衰减器可以是程控的，可以通过网线与终端设备连接，终端设备在控制自动测试台和被测终端时，可以首先确定是否连接有可调衰减器。若存在可调衰减器，则确定衰减量，即衰减值，以基于衰减值控制自动测试台和被测终端。在确定衰减量时，可以基于配置表确定衰减量。如基于配置表中配置的发射/接收状态和功率选取衰减量。配置表时预先配置的，配置表里配置的内容不作限定，示例性的，配置表可以配置被测终端功率不能超过100mW。

本实施例中天线耦合测试的具体过程参见图3，图3为本发明实施例提供的一种天线测试方法的流程示意图，终端设备在控制自动测试台和被测终端时，可以根据发射功率控制衰减值。不同的发射功率可以对应有不同的衰减值。在基于发射功率控制衰减量时，可以通过功率计读取发射信号，终端设备读取后比较，再控制发射信号。在确定是否需要调节ATE发射功率时，需要判断均方根，即RMS是否在设定范围内。其中，设定范围基于设定最小值和设定最大值确定。如设定范围为大于等于设定最小值且小于等于设定最大值。其中，设定最大值和设定最小值的具体数值此处不作限定。示例性的，设定最小值可以为21，设定最大值可以为25。

在进行天线测试时，每次测试的增益和功率可以相同，以保证测试的一致性。

实现天线测试的过程可以如下：终端设备发送指令到被测终端指示被测终端产生射频信号；自动测试台接收信号；终端设备分析被测终端发射的信号和自动测试台接收的信号，以实现对天线的测试。

实施例二

图4为本发明实施例二提供的一种天线测试装置的结构示意图，该装置可适用于对天线进行测试的情况，其中该装置可由软件和/或硬件实现，并一般集成在终端设备上。

如图4所示，该装置包括：

获取模块21，用于获取参数校准信息；

第一确定模块22，用于根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；

第二确定模块23，用于根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。

在本实施例中，该装置首先通过获取模块21获取参数校准信息；然后通过第一确定模块22根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；最后通过第二确定模块23根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。

本实施例提供了一种天线测试装置，能够有效提高天线测试效率。

在一个实施例中，获取模块21用于：

获取参数配置信息，所述参数配置信息表征所述被测终端的射频指标；

校准所述参数配置信息；

将校准后的参数配置信息确定为参数校准信息。

在一个实施例中，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，第一确定模块22根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制自动测试台的发射状态；

控制被测终端的接收状态；

确定所述被测终端在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度。

在一个实施例中，该装置，还包括第一调整模块，用于：

在所述均方根的取值不在设定范围内，调整所述自动测试台的发射状态，并继续确定均方根，直至确定出天线耦合度或调整次数达到设定值。

在一个实施例中，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，第一确定模块22根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制被测终端的发射状态；

控制自动测试台的接收状态；

确定所述自动测试台在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度。

在一个实施例中，该装置，还包括第二调整模块，用于：

在控制所述自动测试台或所述被测终端的发射状态时，根据发射功率控制衰减量，所述自动测试台为基于增益表校准后的设备。

上述天线测试装置可执行本发明任意实施例所提供的天线测试方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

实施例三

图5为本发明实施例三提供的一种终端设备的结构示意图。如图5所示，本发明实施例三提供的终端设备包括：一个或多个处理器41和存储装置42；该终端设备中的处理器41可以是一个或多个，图5中以一个处理器41为例；存储装置42用于存储一个或多个程序；所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器41执行，使得所述一个或多个处理器41实现如本发明实施例中任一项所述的天线测试方法。

所述终端设备还可以包括：输入装置43和输出装置44。

终端设备中的处理器41、存储装置42、输入装置43和输出装置44可以通过总线或其他方式连接，图5中以通过总线连接为例。

该终端设备中的存储装置42作为一种计算机可读存储介质，可用于存储一个或多个程序，所述程序可以是软件程序、计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例所提供天线测试方法对应的程序指令/模块(例如，附图4所示的天线测试装置中的模块，包括：获取模块21、第一确定模块22和第二确定模块23)。处理器41通过运行存储在存储装置42中的软件程序、指令以及模块，从而执行终端设备的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中天线测试方法。

存储装置42可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序；存储数据区可存储根据终端设备的使用所创建的数据等。此外，存储装置42可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中，存储装置42可进一步包括相对于处理器41远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至设备。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

输入装置43可用于接收输入的数字或字符信息，以及产生与终端设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置44可包括显示屏等显示设备。

并且，当上述终端设备所包括一个或者多个程序被所述一个或者多个处理器41执行时，程序进行如下操作：

获取参数校准信息；

根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；

根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。

本发明还提供了一种天线测试系统，该天线测试系统包括本发明所述的终端设备、自动测试台、被测终端和天线耦合板；

该终端设备执行本发明所述的天线测试方法，所述终端设备分别与所述自动测试台和所述被测终端有线连接，所述被测终端放置在天线耦合板上；

所述自动测试台和所述被测终端在所述终端设备的控制下，完成所述被测终端天线的测试；其中，所述被测终端包括低轨卫星终端。

自动测试台与被测终端可以分别与终端设备通过数据线连接，以避免干扰。

通过本发明所述的天线测试系统对被测终端进行测试时，能够提高被测终端天线测试的效率。

实施例四

本发明实施例四提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时用于执行天线测试方法，该方法包括：

获取参数校准信息；

根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；

根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果。

可选的，该程序被处理器执行时还可以用于执行本发明任意实施例所提供的天线测试方法。

本发明实施例的计算机存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是，但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列信息)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(Random AccessMemory，RAM)、只读存储器(Read Only Memory，ROM)、可擦式可编程只读存储器(ErasableProgrammable Read Only Memory，EPROM)、闪存、光纤、便携式CD-ROM、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于：电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、电线、光缆、无线电频率(Radio Frequency，RF)等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (8)

1.一种天线测试方法，其特征在于，包括：

获取参数校准信息；

根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；

根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果；

其中，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，所述根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制自动测试台的发射状态；

控制被测终端的接收状态；

确定所述被测终端在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度；

在控制所述自动测试台或所述被测终端的发射状态时，根据发射功率控制衰减量，所述自动测试台为基于增益表校准后的设备。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取参数校准信息，包括：

获取参数配置信息，所述参数配置信息表征所述被测终端的射频指标；

校准所述参数配置信息；

将校准后的参数配置信息确定为参数校准信息。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

在所述均方根的取值不在设定范围内，调整所述自动测试台的发射状态，并继续确定均方根，直至确定出天线耦合度或调整次数达到设定值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，所述根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制被测终端的发射状态；

控制自动测试台的接收状态；

确定所述自动测试台在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度。

5.一种天线测试装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取参数校准信息；

第一确定模块，用于根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数；

第二确定模块，用于根据所述性能参数，确定所述天线的测试结果；

其中，所述性能参数包括天线耦合度，相应的，第一确定模块根据所述参数校准信息控制自动测试台对被测终端的天线进行测试，确定所述天线的性能参数，包括：

根据参数校准信息控制自动测试台的发射状态；

控制被测终端的接收状态；

确定所述被测终端在接收状态下的均方根；

在所述均方根的取值在设定范围内时，确定天线耦合度；

其中，所述天线测试装置，还包括第二调整模块，用于：

在控制所述自动测试台或所述被测终端的发射状态时，根据发射功率控制衰减量，所述自动测试台为基于增益表校准后的设备。

6.一种终端设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-4中任一所述的天线测试方法。

7.一种天线测试系统，其特征在于，包括如权利要求6所述的终端设备、自动测试台、被测终端和天线耦合板；

所述终端设备分别与所述自动测试台和所述被测终端有线连接，所述被测终端放置在天线耦合板上；

所述自动测试台和所述被测终端在所述终端设备的控制下，完成所述被测终端天线的测试；其中，所述被测终端包括低轨卫星终端。

8.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-4中任一所述的天线测试方法。