CN103532646B - 一种适用于lte系统的基站射频测试系统的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种适用于LTE系统的基站射频测试系统的测试方法，其中，所述系统连接待测基站，用于测试待测基站的射频数据，所述系统包括：频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计、主控计算机及射频箱；其中，所述主控计算机连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及射频箱；所述射频箱连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及所述待测基站；所述功率计连接所述宽带信号生成器；其中，所述射频箱包括：开关、负载、单向器、耦合器、衰减器、合路器、多频合路器及射频接口。

Description

一种适用于LTE系统的基站射频测试系统的测试方法

技术领域

本发明涉及移动通信领域，尤指一种适用于LTE系统的基站射频测试系统及测试方法。

背景技术

LTE是第四代移动通信的主流技术之一。支持FDD(频分双工)和TDD(时分双工)两种模式。TD-LTE是时分双工的LTE系统，LTE-FDD是频分双工的LTE系统。目前，LTE系统的商用化受到了全球运营商和设备商最为广泛的关注。因此，基站设备作为通信网络中重要的网元，其性能决定了整个系统的优劣。

在现有技术中，LTE系统的基站射频测试的系统搭建复杂，人工手动搭建测试系统易引入人为的不必要的错误，降低了系统的可靠性。射频开关是射频测试系统中的重要器件，常见的射频开关分为两种类型：具备反馈机制及不具备反馈机制；这两种类型的开关都将引入大功率设备射频自动测试系统的安全性问题，降低了测试系统的鲁棒性。常见的自动测试系统中，仪表控制指令仅仅适用于某一种型号的仪表，测试系统的灵活性不高。

发明内容

本发明针对以上问题，从射频发射与接收的角度对基站进行测试，覆盖LTE系统的基站的大部分测试项，保证了通信系统的整体性能，实现一种自动化程度高，测量结果准确、实现简单的LTE系统的基站射频测试系统。

为达到上述目的，本发明提出了一种适用于LTE系统的基站射频测试系统，连接待测基站，用于测试所述待测基站的射频数据，其特征在于，所述系统包括：频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计、主控计算机及射频箱；其中，所述主控计算机连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及射频箱；所述射频箱连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及所述待测基站；所述功率计连接所述宽带信号生成器；其中，所述信道模拟器，用于模拟移动通信的多径衰落信道；所述有用信号生成器，用于产生有用信号；所述干扰信号生成器，用于产生干扰信号；所述宽带信号生成器，用于生成宽带信号；所述功率计，用于测试所述宽带信号的功率；所述射频箱包括：开关、负载、单向器、耦合器、衰减器、合路器、多频合路器及射频接口；其中，所述开关连接所述负载、单向器、耦合器衰减器、合路器、多频合路器及射频接口，用于切换测试通路；所述射频接口用于连接所述待测基站、频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计；所述频谱分析仪，用于测试所述待测基站的射频数据；所述主控计算机，用于控制所述射频箱的开关、频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器及功率计，并用于控制测试流程及显示测试结果。

为达到上述目的，本发明还提出了一种利用LTE系统的基站射频测试系统的测试方法，在进行发射机常规测试时，利用所述频谱分析仪、有用信号生成器、宽带信号生成器、功率计、常规测试射频箱、主控计算机；其中，所述方法包括：测试路径校准，将所述宽带信号生成器及频谱分析仪连接常规测试射频箱；所述宽带信号生成器发出信号，利用所述主控计算机控制开关，记录功率计读数及频谱分析仪读数，获取测试通路的插损值；测试路径确认，将所述待测基站、有用信号生成器及频谱分析仪连接常规测试射频箱；根据所述待测基站的额定输出功率，利用所述有用信号生成器发送一选定频点的信号，频谱分析仪读取选定频点的信号，判断测试路径是否正确；发射机性能测试，调用所述频谱分析仪的LTE插件，进行所述待测基站的发射功率、占用带宽、总功率动态范围、频率误差、误差向量幅度、相邻频道泄漏比、总功率动态范围、下行参考信号功率的测试。

为达到上述目的，本发明还提出了另一种利用LTE系统的基站射频测试系统的测试方法，在进行特殊频段杂散的发射机测试时，利用所述频谱分析仪、有用信号生成器、宽带信号生成器、功率计、常规测试射频箱、杂散测试射频箱、主控计算机；其中，所述方法包括：特殊频段杂散的发射机测试路径校准，将所述有用信号生成器及杂散测试射频箱连接至常规测试射频箱，将频谱分析仪连接至杂散测试射频箱；所述有用信号生成器发出信号，利用所述主控计算机控制开关，记录功率计读数及频谱分析仪读数，获取测试通路的插损值；特殊频段杂散的发射机测试路径的确认，将所述待测基站连接至常规测试射频箱，将所述常规测试射频箱、频谱分析仪、宽带信号生成器以及功率计连接至杂散测试射频箱；所述待测基站发出规定格式的信号，利用主控计算机控制开关，记录功率计读数及频谱分析仪读数，判断特殊频段杂散的发射机测试路径是否正确；测试发射机杂散数据，设置频谱分析仪频率范围及参数，进行杂散值的测试。

本发明提供了一种适用于LTE系统的基站射频测试系统及测试方法，该测试系统搭建简单，应用方便，可以适用多种主流频谱分析仪，并且实现了在测试时先对测试系统中开关位置的确认，有效保护了测试链路及测试仪器，提高了测试系统的鲁棒性。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明的限定。在附图中：

图1为本发明一实施例的适用于LTE系统的基站射频测试系统的结构示意图。

图2为本发明一实施例的常规测试射频箱的结构示意图。

图3为本发明一实施例的杂散测试射频箱的结构示意图。

图4为本发明一具体实施例进行发射机常规测试时的测试系统的结构示意图。

图5为本发明一具体实施例进行特殊频段杂散的发射机测试的测试系统结构示意图。

图6为图5所述实施例的射频箱连接及开关初始位置的示意图。

具体实施方式

以下配合图式及本发明的较佳实施例，进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段。

图1为本发明一实施例的适用于LTE系统的基站射频测试系统的结构示意图。所述测试系统用于测试待测基站的射频数据，如图1所示，测试系统连接待测基站9，测试系统包括：射频箱1、信道模拟器2、频谱分析仪3、有用信号生成器4、干扰信号生成器5、宽带信号生成器6、功率计7、主控计算机8。其中，

主控计算机8连接射频箱1、信道模拟器2、频谱分析仪3、有用信号生成器4、干扰信号生成器5、宽带信号生成器6、功率计7；射频箱1连接信道模拟器2、频谱分析仪3、有用信号生成器4、干扰信号生成器5、宽带信号生成器6、功率计7及待测基站9；功率计7连接宽带信号生成器6。其中，

信道模拟器2，用于模拟移动通信的多径衰落信道。

有用信号生成器4，用于产生有用信号，可作为有用信号源。

干扰信号生成器5，用于产生干扰信号，可作为干扰信号源。

宽带信号生成器6，用于生成宽带信号，可作为宽带信号源。

功率计7，用于测试宽带信号的功率。

射频箱1包括：开关、负载、单向器、耦合器、衰减器、合路器、多频合路器及射频接口；其中，开关连接负载、单向器、耦合器衰减器、合路器、多频合路器及射频接口，用于切换测试通路；射频接口用于连接待测基站或者前述的测试设备，如信道模拟器2、频谱分析仪3、有用信号生成器4、干扰信号生成器5、宽带信号生成器6及功率计7。

频谱分析仪3，用于测试待测基站9的射频数据。

主控计算机8，用于控制所述射频箱的开关、频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器及功率计，并用于控制测试流程及显示测试结果。

本发明的测试系统，搭建简单，可测试的数据内容丰富，主要可用于测量最大输出功率、占用带宽、频率误差、误差向量幅度、相邻频道泄漏比、总功率动态范围、下行参考信号功率、接收机灵敏度电平、动态范围、接收机杂散数据、多径衰落传播条件下的PUSCH性能、上行链路定时调整的性能要求、PUSCH上HARQ-ACK复用的性能要求、PRACH虚警概率及漏检率等数据。

图2为本发明一实施例的常规测试射频箱的结构示意图。如图2所示，射频箱1包括常规测试射频箱；其中，常规测试射频箱包括：

第一射频接口101、6dB耦合器102、6dB衰减器103、第一开关104、40dB衰减器105、30dB衰减器106、20dB衰减器107、10dB衰减器108、第二开关109、第二射频接口110、第三射频接口111、第三开关112、两个负载113、第一单向器114、第二单向器115、第四开关116；其中，

第一射频接口101连接6dB耦合器102的输入端，6dB耦合器102的直通输出端连接6dB衰减器103的一端，6dB衰减器103的另一端连接第一开关104的动端，第一开关104及第二开关109分别至少包括5个不动端，第一开关104及第二开关109之间对应的每一对不动端分别连接40dB衰减器105、30dB衰减器106、20dB衰减器107、10dB衰减器108及跳线，第二开关109的动端连接第二射频接口110；

第三射频接口111连接第三开关112的动端，第三开关112及第四开关116分别包括4个不动端，第三开关114的第一不动端连接第一单向器114的输入端，第四开关116的第一不动端连接第一单向器114的输出端，第三开关112的第二不动端连接第二单向器115的输入端，第四开关116的第二不动端连接第二单向器115的输出端，第三开关112的第三不动端通过跳线连接第四开关116的第三不动端，第三开关112的第四不动端连接一负载113，第四开关116的第四不动端连接另一负载113，第四开关116的动端连接6dB耦合器102的耦合端。

在本实施例中，常规测试射频箱还包括：第四射频接口117、第五射频接口118、第六射频接口119、第七射频接口120、第三单向器121、第四单向器122、第五单向器123、第六单向器124、第五开关125、第六开关126、合路器127、第八射频接口128；其中，

第四射频接口117连接第三单向器121的输入端，第三单向器121的输出端连接第五开关125的一不动端，第五射频接口118连接第四单向器122的输入端，第四单向器122的输出端连接第五开关125的另一不动端，第六射频接口119连接第五单向器123的输入端，第五单向器123的输出端连接第六开关1266的一不动端，第七射频接口120连接第六单向器124的输入端，第六单向器124的输出端连接第六开关126的另一不动端，第五开关125的动端及第六开关126的动端连接合路器127的输入端，合路器127输出端连接第八射频接口128。

其中，第一单向器114、第三单向器121、第五单向器123为频段800-1000MHz的单向器；第二单向器115、第四单向器122、第六单向器124为频段1710-2700MHz的单向器；合路器127的频段为700M-2.7GHz。

图3为本发明一实施例的杂散测试射频箱的结构示意图。如图3所示，射频箱还包括：杂散测试射频箱；其中，杂散测试射频箱包括：

信号输入接口140a、信号输入接口140b、信号输入接口140c、第一耦合器141、第二耦合器142、杂散箱第一开关143、杂散箱第二开关144、杂散箱第三开关145、第一多频合路器146、第二多频合路器147、第三多频合路器148、杂散箱第四开关149、第一负载150、第二负载151、第四多频合路器152、扩展接口153、杂散箱第五开关154及信号输出接口155；其中，

第一耦合器141为一20dB耦合器，第二耦合器142为一10dB耦合器，两个耦合器的输出端相连接，信号输入接口140a连接第二耦合器142的耦合端；信号输入接口140b连接第一耦合器141的输入端，信号输入接口140c连接第一口喝起141的耦合端。

杂散箱第一开关143，连接第二耦合器142的输入端，并选择性地连接杂散箱第二开关144、杂散箱第三开关145以及第三多频合路器148的其中之一；

杂散箱第二开关144，选择性地连接第一多频合路器146、第二多频合路器147以及第三多频合路器148的其中之一；

杂散箱第三开关145，选择性地连接第一负载150、第四多频合路器152以及扩展接口153的其中之一；

杂散箱第四开关149，连接信号输出接口155，并选择性地连接第一多频合路器146、第二多频合路器147、第三多频合路器148、杂散箱第五开关154以及扩展接口153的其中之一；

杂散箱第五开关154，选择性地连接第二负载151以及第四多频合路器152的其中之一。

在本实施例中，第一多频合路器146包括四个频段：880-915MHz、825-835MHz、1710-1785MHz及1920-1980MHz。

第二多频合路器147包括：870-880MHz、921-960MHz、1805-1880MHz、2010-2030MHz及2110-2170MHz。

第三多频合路器148包括：700-820MHz、851-866MHz、1785-1805MHz、1880-1920MHz(F频段)及2170-2300MHz。

第四多频合路器152包括：2300-2400MHz(E频段)、2570-2620MHz(D频段)。

下述以一具体测试系统来说明本发明的测试方法及效果。图4为本发明一具体实施例进行发射机常规测试时的测试系统的结构示意图。如图所示，在进行发射机常规测试时，射频箱1为常规测试射频箱、并且还用到了频谱分析仪3、有用信号生成器4、宽带信号生成器6、功率计7、主控计算机8；其中，测试方法包括：

步骤S401，测试路径校准。首先，将宽带信号生成器6连接常规测试射频箱的第一射频接口101，将频谱分析仪3连接第二射频接口110，第四开关116连接负载；宽带信号生成器6发出信号，利用主控计算机8控制第一开关104及第二开关109分别设置到40dB衰减器105、30dB衰减器106、20dB衰减器107、10dB衰减器108处，分别记录功率计7读数及频谱分析仪3读数，获取测试通路的插损值；

步骤S402，测试路径确认。将待测基站9的天线口连接至常规测试射频箱的第一射频接口101，将频谱分析仪3连接第二射频接口110，将有用信号生成器4连接第三射频接口111，第三开关112及第四开关116调整为跳线连接；根据待测基站9的额定输出功率，利用有用信号生成器4发送一选定频点的信号，频谱分析仪3读取选定频点的信号，判断测试路径是否正确；

步骤S403，发射机性能测试。调用频谱分析仪3的LTE插件，进行待测基站9的发射功率、占用带宽、总功率动态范围、频率误差、误差向量幅度、相邻频道泄漏比、总功率动态范围、下行参考信号功率等数据的测试。

因为待测基站9属于大功率输出设备，而频谱分析仪3对于输入端信号的大小有要求(为了保护前端衰减器，需要对输入信号的大小做出限制。)为了防止开关位置误置对频谱分析仪3造成损害。需要在待测基站9加载功率之前，首先对开关位置进行确认(上述步骤S402)以确认第一开关104和第二开关109之间的衰减器设置在了预期的位置上。当确定开关位置无误之后，再将待测基站9的输出满功率加载，进行上述测试项目的测试。

通过以上具体实施方式，在实际测试中，该系统对于市场上主流厂家(Agilent公司和RS公司)的主流频谱分析仪(N9020A和FSQ26)都能纳入到本发明的体系中，实现了相同用户需求不同仪表的指令之间的映射，提高了测试系统的灵活性。

图5为本发明一具体实施例进行特殊频段杂散的发射机测试的测试系统结构示意图。图6为图5所述实施例的射频箱连接及开关初始位置的示意图。如图5及图6所示，以测试880MHz-915MHz的特殊频段的杂散为例，用到的射频箱1为常规测试射频箱以及杂散测试射频箱，并且还用到了频谱分析仪3、有用信号生成器4、宽带信号生成器6、功率计7及主控计算机8；其中，测试方法包括：

步骤S501，特殊频段杂散的发射机测试路径校准。首先，将常规测试射频箱的第一射频接口101连接有用信号生成器4，第二射频接口110连接杂散测试射频箱的信号输入接口140b，杂散测试射频箱的信号输出接口155连接频谱分析仪3，两个射频箱的其他接口接负载；利用主控计算机8将常规测试射频箱中的第一开关104及第二开关109调节为跳线连接，第四开关116调节为连接负载；将杂散箱第一开关143调节于连接杂散箱第二开关144，杂散箱第二开关144调节于连接第一多频合路器146的880-815MHz项，杂散箱第四开关149调节于连接第一多频合路器146。设置有用信号生成器4和频谱分析仪3的频段为880-915MHz，打开有用信号源，利用频谱分析仪3测量记录插损值。

在步骤S501中，通过调整杂散测试射频箱的开关，及有用信号生成器4和频谱分析仪3的频段，可以测量其他频段的插损值。

步骤S502，特殊频段杂散的发射机测试路径的确认。首先，将待测基站9的天线口连接至常规测试射频箱的第一射频接口101，第二射频接口110连接杂散测试射频箱的信号输入接口140b，信号输入接口140a连接宽带信号生成器6，信号输入接口140c连接功率计7，信号输出接口155连接频谱分析仪3，其他接口接负载；调节常规测试射频箱及杂散测试射频箱的开关，读取频谱分析仪3及功率计7数值判断特殊频段杂散的发射机测试路径是否正确。

步骤S503，测试发射机杂散数据。设置频谱分析仪3频率范围为880-915MHz，按照规范的要求设置RBW等参数，读取最高的杂散值，完成测试。

其中，在本实施例的步骤S502中，具体的测试路径确认步骤如下：

步骤S502a，设置射频箱的开关在如图6所示的初始位置(连接各自的第一个不动端)，提示被测厂家工程师设置待测基站9在所连接天线口按照测试规范的要求发射规定格式的信号。读取功率计7数值，检测是否在合适范围内，若在合理范围内则继续执行下一步，若超出范围则提示常规测试射频箱设置有误。

步骤502b，对于F频段设备，可以将杂散射频箱的杂散第一开关143、第二开关144、第三开关145、第四开关149、第五开关154的不动端依次调节在5、1、1、3、1位置；对于E频段设备，可以将杂散射频箱的开关依次调节在1、1、2、4、2位置；对于D频段设备，可以将杂散射频箱的开关依次调节在1、1、3、4、2位置；然后在频谱分析仪3执行测试模型验证，根据测试标准，验证步骤S502a中发出信号是否符合标准中规定。

步骤S502c，调节杂散测试射频箱的杂散箱第一开关143连接杂散箱第二开关144，其他开关均在初始位置(连接各自的第一个不动端)。利用宽带信号生成器6发送0dBm@900MHz信号，设置频谱分析仪3中心频率900MHz，带宽1MHz，RBW＝30KHz，检波方式RMS，读取功率P，然后关闭信源输出；判断P是否在合理范围之内，若在就继续执行下一步，若不在则提示杂散射频箱开关或连接存在异常。

步骤S502d，将常规测试射频箱的第一开关104及第二开关105调节为跳线连接，读取功率计7的数值，判断是否在合适范围内，若在则可以执行步骤S503进行杂散数据的测试，若超出范围则提示常规测试射频箱开关设置有误。

在本实施例中，当一个频段的杂散数据测试结束后，若需要测试其他频段的杂散时，需要重新执行步骤S502a至S502d，对路径重新进行确认。

通过以上方案，实现了对测试系统中的开关位置进行二次确认，防止由于基站设备的输出功率较大，如果系统中开关位置有误或置错，将有可能对测试链路及测试仪表造成损坏。本系统在开关位置确认后，再提示待测基站的输出功率打开，保护了测试链路及仪器。

本发明提供了一种适用于LTE系统的基站射频测试系统及测试方法，该测试系统搭建简单，应用方便，可以适用多种主流频谱分析仪，并且实现了在测试时先对测试系统中开关位置的确认，有效保护了测试链路及测试仪器，提高了测试系统的鲁棒性。

以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种适用于LTE系统的基站射频测试系统的测试方法，其特征在于，在进行发射机常规测试时，利用频谱分析仪、有用信号生成器、宽带信号生成器、功率计、常规测试射频箱、主控计算机；其中，所述方法包括：

测试路径校准，将所述宽带信号生成器及频谱分析仪连接常规测试射频箱；所述宽带信号生成器发出信号，利用所述主控计算机控制开关，记录功率计读数及频谱分析仪读数，获取测试通路的插损值；

测试路径确认，将待测基站、有用信号生成器及频谱分析仪连接常规测试射频箱；根据所述待测基站的额定输出功率，利用所述有用信号生成器发送一选定频点的信号，频谱分析仪读取选定频点的信号，判断测试路径是否正确；

发射机性能测试，调用所述频谱分析仪的LTE插件，进行所述待测基站的发射功率、占用带宽、总功率动态范围、频率误差、误差向量幅度、相邻频道泄漏比、总功率动态范围、下行参考信号功率的测试；

其中，所述适用于LTE系统的基站射频测试系统，连接待测基站，用于测试所述待测基站的射频数据，所述系统包括：频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计、主控计算机及射频箱；其中，

所述主控计算机连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及射频箱；所述射频箱连接所述频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器、功率计及所述待测基站；所述功率计连接所述宽带信号生成器；其中，

所述信道模拟器，用于模拟移动通信的多径衰落信道；

所述有用信号生成器，用于产生有用信号；

所述干扰信号生成器，用于产生干扰信号；

所述宽带信号生成器，用于生成宽带信号；

所述功率计，用于测试所述宽带信号的功率；

所述频谱分析仪，用于测试所述待测基站的射频数据；

所述主控计算机，用于控制所述射频箱的开关、频谱分析仪、信道模拟器、有用信号生成器、干扰信号生成器、宽带信号生成器及功率计，并用于控制测试流程及显示测试结果；

所述射频箱，用于根据所述频谱分析仪的输入端对输入信号的大小要求，将衰减后的信号输出至频谱分析仪的输入端，其中包括：常规测试射频箱，所述常规测试射频箱包括：

第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口、6dB耦合器、6dB衰减器、10dB衰减器、20dB衰减器、30dB衰减器、40dB衰减器、第一单向器、第二单向器、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、两个负载、第四射频接口、第五射频接口、第六射频接口、第七射频接口、第八射频接口、第三单向器、第四单向器、第五单向器、第六单向器、第五开关、第六开关及合路器；其中，

所述第一射频接口连接所述6dB耦合器的输入端，所述6dB耦合器的直通输出端连接所述6dB衰减器的一端，所述6dB衰减器的另一端连接所述第一开关的动端，所述第一开关及第二开关分别至少包括5个不动端，所述第一开关及第二开关之间对应的每一对不动端分别连接40dB衰减器、30dB衰减器、20dB衰减器、10dB衰减器及跳线，所述第二开关的动端连接所述第二射频接口；

所述第三射频接口连接所述第三开关的动端，所述第三开关及第四开关分别包括4个不动端，所述第三开关的第一不动端连接所述第一单向器的输入端，所述第四开关的第一不动端连接所述第一单向器的输出端，所述第三开关的第二不动端连接所述第二单向器的输入端，所述第四开关的第二不动端连接所述第二单向器的输出端，所述第三开关的第三不动端通过跳线连接所述第四开关的第三不动端，所述第三开关的第四不动端连接一负载，所述第四开关的第四不动端连接另一负载，所述第四开关的动端连接所述6dB耦合器的耦合端；

所述第四射频接口连接所述第三单向器的输入端，所述第三单向器的输出端连接所述第五开关的一不动端，所述第五射频接口连接所述第四单向器的输入端，所述第四单向器的输出端连接所述第五开关的另一不动端，所述第六射频接口连接所述第五单向器的输入端，所述第五单向器的输出端连接所述第六开关的一不动端，所述第七射频接口连接所述第六单向器的输入端，所述第六单向器的输出端连接所述第六开关的另一不动端，所述第五开关的动端及第六开关的动端连接所述合路器的输入端，所述合路器输出端连接所述第八射频接口；

所述第一单向器、第三单向器、第五单向器为频段800-1000MHz的单向器；

所述第二单向器、第四单向器、第六单向器为频段1710-2700MHz的单向器。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频数据包括：最大输出功率、占用带宽、频率误差、误差向量幅度、相邻频道泄漏比、总功率动态范围、下行参考信号功率、接收机灵敏度电平、动态范围、接收机杂散数据、多径衰落传播条件下的PUSCH性能、上行链路定时调整的性能要求、PUSCH上HARQ-ACK复用的性能要求、PRACH虚警概率及漏检率。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频箱还包括：杂散测试射频箱；其中，所述杂散测试射频箱包括：

杂散箱第一开关、杂散箱第二开关、杂散箱第三开关、杂散箱第四开关、杂散箱第五开关、第一多频合路器、第二多频合路器、第三多频合路器、第四多频合路器、第一耦合器、第二耦合器、第一负载、第二负载、扩展接口、信号输入接口及信号输出接口；其中，

所述信号输入接口连接所述第一耦合器及第二耦合器；

所述杂散箱第一开关，连接所述第二耦合器，并选择性地连接所述杂散箱第二开关、杂散箱第三开关以及第三多频合路器的其中之一；

所述杂散箱第二开关，选择性地连接所述第一多频合路器、第二多频合路器以及第三多频合路器的其中之一；

所述杂散箱第三开关，选择性地连接所述第一负载、第四多频合路器以及扩展接口的其中之一；

所述杂散箱第四开关，连接所述信号输出接口，并选择性地连接所述第一多频合路器、第二多频合路器、第三多频合路器、杂散箱第五开关以及扩展接口的其中之一；

所述杂散箱第五开关，选择性地连接所述第二负载以及第四多频合路器的其中之一。