TW201328583A - 用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法 - Google Patents

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Abstract

一種用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，該測試方法包括：電腦回應操作員的操作設置雜訊帶寬門限值。電磁相容暗室中增加信號源，電腦及控制臺回應操作員的操作控制測試天線位於一預定高度，並將其極化方向調整為垂直方向，還控制轉臺位於一預定角度。測量電磁相容暗室的環境雜訊為第一測量結果，根據該第一測量結果確定第一雜訊帶寬值，並與門限值比較以確定電磁相容暗室的無線干擾強度。在本發明中，操作員利用測試系統調整暗室中測試天線的極化方向及高度，對暗室的無線干擾進行測試，提高測試的精度及效率。

Description

用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法
本發明涉及電磁相容（EMC）測試技術領域，特別涉及一種用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法。
EMC暗室是進行電子產品電磁相容設計以及測試的非常重要的測試產所，由於EMC暗室具有使用方便、經濟的特點，因此大多數電子產品在設計期間的電磁相容改進測試，以及最後的電磁相容達標測試都是在EMC暗室中進行的。
現有的EMC暗室採用雙天線測試，提高測試效率。但雙天線測試對場地準確性要求極高，以往的EMC暗室檢測方法是採用分別使用信號源對垂直及水準方向的天線量測系統進行驗證，不但耗時較長，並且在水準天線部分的檢測精確度較低。因此，很難保證在EMC暗室中的雙天線測試系統的精確度及效率。
有鑒於此，有必要提供一種用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，提高測試精度及效率。
本發明提供一種用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，該電磁相容暗室包括至少一測試天線及轉臺，與一電腦及一控制臺連接連接，該測試方法包括：
在該電腦回應操作員的操作設置雜訊帶寬門限值。
在該電磁相容暗室中增加一信號源，該電腦回應操作員的操作發送控制指令，該控制臺回應該控制指令使該測試天線位於一預定高度，同時將該測試天線的極化方向調整為垂直方向，該控制臺還回應該控制指令控制轉臺位於一預定角度。
對該電磁相容暗室的環境雜訊進行測量，並存儲該第一測量結果，該第一測量結果包括測試頻段範圍內的環境雜訊曲線。及
根據該第一測量結果確定第一雜訊帶寬值，並與該門限值進行比較以確定該電磁相容暗室的無線干擾強度。
相對於現有技術，本發明提供的用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，操作員利用測試系統調整暗室中的測試天線的極化方向及高度，對暗室的無線干擾進行測試，而不需要分別使用信號源對不同極化方向的測試天線進行測試，大大提高了測試的精度及效率。
下面將結合附圖，對本發明作進一步的詳細說明。
請參見圖1，是本發明一實施方式下用於EMC暗室測試系統的示意圖。該測試系統10包括位於操作間內的電腦20、控制臺30及測試儀器40，和位於暗室內的天線塔50以及轉臺60構成。天線塔50上裝有用於測試的測試天線51，轉臺60通常位於測試桌61上。操作間的電腦20、控制臺30以及測試儀器40通過轉換設備11與暗室中的轉臺60及天線塔50連接起來，並可移動和控制暗室中的轉臺60以及天線塔50的位置。操作間的電腦20可以通過測試軟體以及控制臺30對轉臺60、天線塔50進行控制，從而控制轉臺60的角度、測試天線51的高度以及極化方向。
請參見圖2，是本發明一實施方式下的測試系統實現干擾測試方法的流程圖。該方法包括：
步驟S20，電腦20提供一測試介面，操作員通過對該測試介面的操作設定一雜訊帶寬門限值。在本實施方式中，該雜訊帶寬門限值為6dB。
步驟S21，電腦20運行EMI測試軟體對暗室中的背景環境雜訊進行測量，並存儲該雜訊測量結果。其中，該雜訊測量結果包括測試頻段範圍內的環境雜訊的聲壓曲線。
步驟S22，根據測量結果確定環境雜訊帶寬值，並與門限值進行比較，當測量的環境雜訊帶寬值高於該門限值時，則確定暗室中的背景環境雜訊較大，從而結束本次測試，當測量的環境雜訊帶寬值低於門限值時，則進入步驟S23。
步驟S23，在暗室中增加一信號源，用於發送一定頻率的信號，並由測試天線51接收，電腦20回應操作員的操作發送控制指令，控制臺30回應該控制指令將天線塔50上安裝的測試天線51位於一預定高度，同時將測試天線51的極化方向調整為垂直方向，控制臺30還回應該控制指令控制轉臺60位於一預定角度。
在本實施方式中，該暗室中設置兩個分別安裝一測試天線51的天線塔50，該信號源放置在轉臺60上，與兩個天線塔50之間的距離可以根據測試需要進行調整。該預定高度為4米，該預定角度為0度。在其他實施方式中，該暗室中只設置一個安裝測試天線51的天線塔50。
步驟S24，電腦20再次運行EMI測試軟體對暗室進行測試。
步驟S25，根據本次測試結果確定雜訊帶寬值，並與門限值進行比較，當雜訊帶寬值低於門限值時，則判斷該暗室處於正常狀態，當雜訊帶寬值高於門限值時，則判斷該暗室處於異常狀態。
當確定該暗室處於正常狀態時，放入待測試產品即進行正常測試。
使用上述用於EMC暗室的測試方法，操作員利用測試系統調整暗室中的測試天線的極化方向及高度，對暗室的無線干擾進行測試，而不需要分別使用信號源對不同極化方向的測試天線進行測試，大大提高了測試的精度及效率。
可以理解的是，對於本領域的普通技術人員來說，可以根據本發明的技術構思做出其他各種相應的改變與變形，而所有這些改變與變形都應屬於本發明權利要求的保護範圍。
10．．．測試系統
11．．．轉換設備
20．．．電腦
30．．．控制臺
40．．．測試儀器
50．．．天線塔
51．．．測試天線
60．．．轉臺
61．．．測試桌
S20、S21、S22、S23、S24、S25．．．步驟
圖1為本發明一實施方式下的用於EMC暗室測試系統的硬體架構圖。
圖2為本發明實現電磁相容暗室的無線干擾測試方法的流程圖。
S20、S21、S22、S23、S24、S25．．．步驟

Claims (7)

  1. 一種用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，所述電磁相容暗室包括至少一測試天線及轉臺，與一電腦及一控制臺連接，其改進在於，所述測試方法包括：
    在所述電腦內回應操作員的操作設置雜訊帶寬門限值；
    在所述電磁相容暗室中設置一信號源，所述電腦回應操作員的操作發送控制指令，所述控制臺回應所述控制指令使所述測試天線位於一預定高度，同時將所述測試天線的極化方向調整為垂直方向，所述控制臺還回應所述控制指令控制轉臺位於一預定角度；
    對所述電磁相容暗室的環境雜訊進行測量，並存儲所述第一測量結果，所述第一測量結果包括測試頻段範圍內的環境雜訊曲線；及
    根據所述第一測量結果確定第一雜訊帶寬值，並與所述門限值進行比較以確定所述電磁相容暗室的無線干擾強度。
  2. 根據申請專利範圍第1項所述之用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，其中，當所述第一雜訊帶寬值低於所述門限值時，確定所述電磁相容暗室中的無線干擾較小，所述電磁相容暗室用於正常測試待測試產品。
  3. 根據申請專利範圍第1項所述之用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，其中，在“所述電腦設置所述雜訊帶寬門限值”步驟之後以及“在所述電磁相容暗室中設置一信號源”步驟之前，所述測試方法還包括：
    對所述電磁相容暗室的環境雜訊進行測量，並存儲所述第二測量結果，所述第二測量結果包括測試頻段範圍內的環境雜訊曲線；及
    根據所述第二測量結果確定第二雜訊帶寬值，並與所述門限值進行比較以確定所述電磁相容暗室的無線干擾強度，當所述第二雜訊帶寬值高於所述門限值時，確定電磁相容暗室中的無線干擾較大，結束本次測試，當所述第二雜訊帶寬值低於所述門限值時，則進行至“在所述電磁相容暗室中設置一信號源”步驟。
  4. 根據申請專利範圍第1項所述之用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，其中，所述雜訊帶寬門限值為6dB。
  5. 根據申請專利範圍第1項所述之用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，其中，所述預定高度為4米，所述預定角度為0度。
  6. 根據申請專利範圍第1項所述之用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，其中，所述測試天線為兩個。
  7. 根據申請專利範圍第1項所述之用於電磁相容暗室的無線干擾測試方法，其中，所述測試天線為一個。
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Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104422826A (zh) * 2013-08-19 2015-03-18 鸿富锦精密电子(天津)有限公司 电波暗室及其电波测试装置
CN104796907B (zh) * 2014-01-22 2020-01-17 汪荷蕾 电磁兼容条件下共址通信电台节点规模控制方法
DE102015102636B4 (de) * 2015-02-24 2016-12-29 Wolfgang Opitz Prüfkammer und Verfahren für die EMV-Meßprüfung
CN106199239B (zh) * 2016-06-24 2019-05-17 北京航空航天大学 一种基于x参数的射频放大器互调抑制电平的测量方法
CN107889049B (zh) * 2016-09-30 2020-09-08 中国移动通信有限公司研究院 一种干扰定位方法及定位装置
CA2974054C (en) 2017-07-21 2018-10-02 Mpb Technologies Inc. Stirred source and method of rfi testing
CN107707363B (zh) * 2017-08-15 2020-06-30 浙江工业大学 一种可旋转定向射频能量源的射频能发送方法
CN108535632B (zh) * 2018-04-04 2020-09-04 北京智芯微电子科技有限公司 用于电磁功耗采集的可调节平台
CN109709424A (zh) * 2018-12-29 2019-05-03 中电科仪器仪表有限公司 一种emc自动测试系统多测试项并行测试的实现方法
CN110542814A (zh) * 2019-09-05 2019-12-06 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种成像设备电磁敏感度测试系统、方法和装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4962358A (en) * 1989-04-27 1990-10-09 The Curran Company Integrity monitoring method and system for shielded enclosures having a fiber optic cable for bidirectional communications between a receiver and transmitter thereof
US6037782A (en) * 1998-02-20 2000-03-14 Hewlett-Packard Company Automatic adjustment of cables which aids in set-up of equipment under test for electromagnetic compatibility measurements
TW200605430A (en) * 2004-07-20 2006-02-01 Avision Inc Electrical magnetic interference inspecting system
US9319908B2 (en) * 2011-10-12 2016-04-19 Apple Inc. Methods for reducing path loss while testing wireless electronic devices with multiple antennas

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