JP2019036470A - 三次元像構築方法 - Google Patents
三次元像構築方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2019036470A JP2019036470A JP2017157298A JP2017157298A JP2019036470A JP 2019036470 A JP2019036470 A JP 2019036470A JP 2017157298 A JP2017157298 A JP 2017157298A JP 2017157298 A JP2017157298 A JP 2017157298A JP 2019036470 A JP2019036470 A JP 2019036470A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cross
- sample
- lattice
- dimensional image
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000010276 construction Methods 0.000 title claims abstract description 14
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 38
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 21
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 6
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 64
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 64
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 101100149246 Caenorhabditis elegans sem-4 gene Proteins 0.000 description 8
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 6
- 238000000879 optical micrograph Methods 0.000 description 6
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 4
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 4
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 4
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 4
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 230000009191 jumping Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/26—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
- H01J37/28—Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T11/00—2D [Two Dimensional] image generation
- G06T11/003—Reconstruction from projections, e.g. tomography
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/10—Segmentation; Edge detection
- G06T7/11—Region-based segmentation
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/30—Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration
- G06T7/33—Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration using feature-based methods
- G06T7/337—Determination of transform parameters for the alignment of images, i.e. image registration using feature-based methods involving reference images or patches
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/286—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q involving mechanical work, e.g. chopping, disintegrating, compacting, homogenising
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10056—Microscopic image
- G06T2207/10061—Microscopic image from scanning electron microscope
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/22—Treatment of data
- H01J2237/226—Image reconstruction
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/30—Electron or ion beam tubes for processing objects
- H01J2237/317—Processing objects on a microscale
- H01J2237/3174—Etching microareas
- H01J2237/31745—Etching microareas for preparing specimen to be viewed in microscopes or analyzed in microanalysers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
まず、本発明の概要について説明する。図1は、本発明の概要を示す図である。まず、試料1の断面2が断面試料作製装置3によって作製される(断面作製工程)。次に、試料1の断面2がSEM4によって撮像され、断面2のSEM像5が得られる(断面像取得工程)。SEM像5が得られた後、試料1は断面試料作製装置3に戻され、再び前記断面作成工程が行われる。そして、新たな断面2が作製された試料1は再びSEM4に導入されて、新たな断面2のSEM像5が撮像される。
図2を用いて、ビーム径が大きいイオンビーム8を試料1に照射し、試料1の断面2を作製する断面試料作製装置3の構成について説明する。図2は、断面試料作製装置3の概略構成図であり、図2(a)は断面試料作製装置3の内部が大気圧下にされ、試料1の位置が調節され、断面2が作製される位置が決められる状態を示す図、図2(b)は図2(a)の工程の後に、断面試料作製装置3の内部が真空排気され、イオンビーム8によって断面2が作製される状態を示す図である。
図3を用いて、図2における格子状部材(格子状マーク部材)23の構成について説明する。後述する本発明の実施形態においては、格子状部材23の一例として透過型電子顕微鏡の試料支持に使用されるグリッドメッシュ23が用いられる。図3は、本発明の第1実施形態および第2実施形態に関するグリッドメッシュ23を示す図である。なお、各図において、見やすくするためにグリッドメッシュ23の格子の数を間引いて示している。
以下、図4を用いて、本発明の第1実施形態について説明する。図4は、本発明の第1実施形態に関する、試料1の三次元像構築方法の流れを示す図である。図4(a)〜図4(d)は断面作製工程を細分化して示した図、図4(e)〜図4(h)は断面像取得工程および三次元像構築工程を細分化して示した図である。
以下、図6を用いて、本発明の第2実施形態について説明する。図6は、本発明の第2実施形態に関する、試料1の三次元像構築方法の流れを示す図である。図6(a)〜図6(d)は断面作製工程を細分化して示した図、図6(e)〜図6(h)は断面像取得工程および三次元像構築工程を細分化して示した図である。
Claims (5)
- 試料の一部を覆うように配置される遮蔽材を備え、前記遮蔽材の直線状の端縁部から露出する試料部分と前記遮蔽材に覆われる試料部分との境目を加工位置とし、前記加工位置にイオンビームによって断面を作製する断面試料作製装置を用いて、前記断面を作製する断面作製工程と、撮像手段によって前記試料の断面像を取得する断面像取得工程を交互に繰り返し、画像処理装置によって、取得された複数の前記断面像を撮像された順に並べることで、前記試料の三次元像を構築する三次元像構築方法において、
前記断面作製工程は、矩形状の開口部が二次元的に配列された格子状マーク部材が、前記試料の表面に貼り付けられ、かつ前記遮蔽材の前記端縁部の伸びる方向に対して前記格子状マーク部材の前記矩形状の開口部を構成する辺が45度をなすように前記遮蔽材の下に配置される試料準備工程と、
前記格子状マーク部材を前記加工位置の指標として、前記遮蔽材と前記格子状マーク部材の相対位置を調節する加工位置決定工程と、
を含むことを特徴とする三次元像構築方法。 - 試料の一部を覆うように配置される遮蔽材を備え、前記遮蔽材の直線状の端縁部から露出する試料部分と前記遮蔽材に覆われる試料部分との境目を加工位置とし、前記加工位置にイオンビームによって断面を作製する断面試料作製装置を用いて、前記断面を作製する断面作製工程と、撮像手段によって前記試料の断面像を取得する断面像取得工程を交互に繰り返し、画像処理装置によって、取得された複数の前記断面像を撮像された順に並べることで、前記試料の三次元像を構築する三次元像構築方法において、
前記断面作製工程は、矩形状の開口部が二次元的に配列された格子状マーク部材が、前記試料の表面に貼り付けられ、かつ前記遮蔽材の前記端縁部の伸びる方向に対して前記格子状マーク部材の前記矩形状の開口部を構成する辺が90度をなすように前記遮蔽材の下に配置される試料準備工程と、
前記格子状マーク部材を前記加工位置の指標として、前記遮蔽材と前記格子状マーク部材の相対位置を調節する加工位置決定工程と、
を含むことを特徴とする三次元像構築方法。 - 請求項1または2のいずれかに記載の三次元像構築方法において、
前記加工位置決定工程は、前記格子状マーク部材の格子点の位置を前記加工位置とし、前記遮蔽材と前記格子状マーク部材の相対位置を調節することを特徴とする三次元像構築方法。 - 請求項2記載の三次元像構築方法において、
前記加工位置決定工程は、前記格子状マーク部材の格子点の位置以外の位置を前記加工位置とし、前記遮蔽材と前記格子状マーク部材の相対位置を調節することを特徴とする三次元像構築方法。 - 請求項1〜4のいずれかに記載の三次元像構築方法において、
前記複数の断面像を撮像された順に並べる工程の前に、複数の前記断面像から基準とする断面像を選び、前記基準の断面像以外の断面像上の前記格子状マーク部材の断面像の位置を、前記基準の断面像上の前記格子状マーク部材の断面像の位置に合わせることを特徴とする三次元像構築方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017157298A JP6876576B2 (ja) | 2017-08-17 | 2017-08-17 | 三次元像構築方法 |
EP18189380.1A EP3474309B1 (en) | 2017-08-17 | 2018-08-16 | Three dimensional image reconstruction method |
US16/104,308 US10748308B2 (en) | 2017-08-17 | 2018-08-17 | Three-dimensional image reconstruction method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017157298A JP6876576B2 (ja) | 2017-08-17 | 2017-08-17 | 三次元像構築方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019036470A true JP2019036470A (ja) | 2019-03-07 |
JP6876576B2 JP6876576B2 (ja) | 2021-05-26 |
Family
ID=63787655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017157298A Active JP6876576B2 (ja) | 2017-08-17 | 2017-08-17 | 三次元像構築方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10748308B2 (ja) |
EP (1) | EP3474309B1 (ja) |
JP (1) | JP6876576B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102021122769A1 (de) | 2021-09-02 | 2023-03-02 | Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft | Umrichter eines zumindest teilweise elektrisch angetriebenen Kraftfahrzeugs und Kraftfahrzeug |
CN115575364B (zh) * | 2022-09-30 | 2023-08-04 | 中国科学院生物物理研究所 | 基于光学显微成像的离子束加工方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007333682A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Jeol Ltd | イオンビームを用いた断面試料作製装置 |
JP2009097934A (ja) * | 2007-10-15 | 2009-05-07 | Sony Corp | 断面試料作成システム及び断面試料作成方法 |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08115699A (ja) | 1994-10-17 | 1996-05-07 | Hitachi Ltd | 三次元断面加工観察装置 |
JP3263920B2 (ja) | 1996-02-01 | 2002-03-11 | 日本電子株式会社 | 電子顕微鏡用試料作成装置および方法 |
US5774224A (en) * | 1997-01-24 | 1998-06-30 | International Business Machines Corporation | Linear-scanning, oblique-viewing optical apparatus |
US6373070B1 (en) * | 1999-10-12 | 2002-04-16 | Fei Company | Method apparatus for a coaxial optical microscope with focused ion beam |
FI107192B (fi) * | 1999-11-09 | 2001-06-15 | Outokumpu Oy | Menetelmä elektrodin pinnanlaadun tarkistamiseksi |
US7869057B2 (en) * | 2002-09-09 | 2011-01-11 | Zygo Corporation | Multiple-angle multiple-wavelength interferometer using high-NA imaging and spectral analysis |
US7339661B2 (en) * | 2002-09-30 | 2008-03-04 | Doron Korngut | Dark field inspection system |
US7298494B2 (en) * | 2003-09-15 | 2007-11-20 | Zygo Corporation | Methods and systems for interferometric analysis of surfaces and related applications |
US8254020B2 (en) * | 2006-04-20 | 2012-08-28 | Washington University | Objective-coupled selective plane illumination microscopy |
US7561279B2 (en) * | 2006-06-29 | 2009-07-14 | Engineering Synthesis Design, Inc. | Scanning simultaneous phase-shifting interferometer |
KR101519932B1 (ko) * | 2006-12-22 | 2015-05-13 | 지고 코포레이션 | 표면 특징물의 특성을 측정하기 위한 장치 및 방법 |
US8059336B2 (en) * | 2007-05-04 | 2011-11-15 | Aperio Technologies, Inc. | Rapid microscope scanner for volume image acquisition |
US8120781B2 (en) * | 2008-11-26 | 2012-02-21 | Zygo Corporation | Interferometric systems and methods featuring spectral analysis of unevenly sampled data |
US8269980B1 (en) * | 2009-05-11 | 2012-09-18 | Engineering Synthesis Design, Inc. | White light scanning interferometer with simultaneous phase-shifting module |
JP5331586B2 (ja) * | 2009-06-18 | 2013-10-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 欠陥検査装置および検査方法 |
EP2647746B1 (en) * | 2010-11-29 | 2016-08-10 | Toray Industries, Inc. | Polyamide yarn comprising ultrafine filaments, and melt-spinning method and device therefor |
US9633819B2 (en) * | 2011-05-13 | 2017-04-25 | Fibics Incorporated | Microscopy imaging method and system |
JP6336894B2 (ja) * | 2014-11-21 | 2018-06-06 | 日本電子株式会社 | 試料作製装置 |
EP3237949A4 (en) * | 2014-12-23 | 2018-08-01 | GE Healthcare Bio-Sciences Corp. | Selective plane illumination microscopy instruments |
US10801926B2 (en) * | 2017-07-17 | 2020-10-13 | Expresslo Llc | Probe with solid beveled tip and method for using same for specimen extraction |
-
2017
- 2017-08-17 JP JP2017157298A patent/JP6876576B2/ja active Active
-
2018
- 2018-08-16 EP EP18189380.1A patent/EP3474309B1/en active Active
- 2018-08-17 US US16/104,308 patent/US10748308B2/en active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007333682A (ja) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Jeol Ltd | イオンビームを用いた断面試料作製装置 |
US20080067443A1 (en) * | 2006-06-19 | 2008-03-20 | Jeol Ltd. | Apparatus for Preparing Cross-Sectional Specimen Using Ion Beam |
JP2009097934A (ja) * | 2007-10-15 | 2009-05-07 | Sony Corp | 断面試料作成システム及び断面試料作成方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10748308B2 (en) | 2020-08-18 |
US20190057522A1 (en) | 2019-02-21 |
JP6876576B2 (ja) | 2021-05-26 |
EP3474309A1 (en) | 2019-04-24 |
EP3474309B1 (en) | 2020-04-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN104067368B (zh) | 电子显微镜用试样支架 | |
JP5296413B2 (ja) | 複合荷電粒子ビーム装置を用いた断面画像取得方法および複合荷電粒子ビーム装置 | |
US6417512B1 (en) | Sample distortion removing method in thin piece forming | |
US9536704B2 (en) | Method for avoiding artefacts during serial block face imaging | |
JP4974737B2 (ja) | 荷電粒子システム | |
KR102590634B1 (ko) | 하전 입자 빔 장치, 시료 가공 방법 | |
US10784076B2 (en) | 3D defect characterization of crystalline samples in a scanning type electron microscope | |
KR20150047427A (ko) | 단면 가공 방법, 단면 가공 장치 | |
JP2019036470A (ja) | 三次元像構築方法 | |
JP2706703B2 (ja) | 標準試料及びこれを用いた位置補正方法並びに複合化測定装置 | |
CN109142399A (zh) | 一种成像系统及样品探测方法 | |
JP2012168027A (ja) | 電子顕微鏡用試料の作製方法 | |
JP4433092B2 (ja) | 三次元構造観察方法 | |
DE112016003308B4 (de) | Gerät mit einem Strahl geladener Partikel und Ausrichtungseinstellungsverfahren einer Probenplattform | |
EP2966668A1 (en) | Method of calibrating a scanning transmission charged-particle microscope | |
JP5858702B2 (ja) | 複合荷電粒子ビーム装置 | |
JP6876455B2 (ja) | 観察方法および試料作製方法 | |
EP3657528A1 (en) | Method of imaging a sample using an electron microscope | |
JP6851262B2 (ja) | 電子顕微鏡像の歪み測定方法および電子顕微鏡 | |
CN208420756U (zh) | 一种成像系统 | |
JP2013134978A (ja) | 透過電子顕微鏡用の試料支持体、透過電子顕微鏡および試料の3次元構造観察方法 | |
JP5822642B2 (ja) | 荷電粒子線装置及び試料加工・観察方法 | |
JP2008014899A (ja) | 試料作製方法 | |
JP2007018944A (ja) | 荷電粒子装置用試料台 | |
JP5161537B2 (ja) | 断面試料作製装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200319 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210315 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210420 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210426 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6876576 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |