JP2018531433A5 - - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 17
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims 16
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 9
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 5
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims 2
- 238000004621 scanning probe microscopy Methods 0.000 claims 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims 1
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE102015116435.3 | 2015-09-29 | ||
| DE102015116435.3A DE102015116435A1 (de) | 2015-09-29 | 2015-09-29 | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Spektralbereiche |
| PCT/EP2016/073194 WO2017055405A1 (de) | 2015-09-29 | 2016-09-29 | Hochauflösende scanning-mikroskopie mit der unterscheidung mindestens zweier spektralbereiche |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2018531433A JP2018531433A (ja) | 2018-10-25 |
| JP2018531433A6 JP2018531433A6 (ja) | 2018-12-13 |
| JP2018531433A5 true JP2018531433A5 (enExample) | 2019-10-17 |
| JP6753935B2 JP6753935B2 (ja) | 2020-09-09 |
Family
ID=57103991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2018535251A Active JP6753935B2 (ja) | 2015-09-29 | 2016-09-29 | 少なくとも2つのスペクトル幅を区別する高解像度走査顕微鏡法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10401607B2 (enExample) |
| JP (1) | JP6753935B2 (enExample) |
| CN (1) | CN108139578B (enExample) |
| DE (1) | DE102015116435A1 (enExample) |
| WO (1) | WO2017055405A1 (enExample) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102017113683A1 (de) | 2017-06-21 | 2018-12-27 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Wellenlängenbereiche |
| IT201800001891A1 (it) * | 2018-01-25 | 2019-07-25 | Fondazione St Italiano Tecnologia | Metodo di imaging risolto nel tempo ad alta risoluzione spaziale. |
| CN108897126B (zh) * | 2018-08-09 | 2020-11-03 | 中国科学院半导体研究所 | 一种荧光成像系统 |
| US10638061B2 (en) * | 2018-09-18 | 2020-04-28 | Analog Devices Global Unlimited Company | Active-pixel image sensor |
| DE102018124044B3 (de) | 2018-09-28 | 2020-02-06 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Betreiben eines Vielstrahl-Teilchenstrahlmikroskops und Vielstrahl-Teilchenstrahlsystem |
| DE102018127281A1 (de) * | 2018-10-31 | 2020-04-30 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Verfahren zur Mikroskopie |
| DE102018128590A1 (de) * | 2018-11-14 | 2020-05-14 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Fluktuationsbasierte Fluoreszenzmikroskopie |
| DE102019100184A1 (de) * | 2019-01-07 | 2020-07-09 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
| EP3938772B1 (en) * | 2019-03-15 | 2025-07-16 | Illumisonics Inc. | Single source photoacoustic remote sensing (ss-pars) |
| DE102019107267A1 (de) * | 2019-03-21 | 2020-09-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zur hochauflösenden Scanning-Mikroskopie |
| CN112444506B (zh) * | 2019-09-04 | 2022-03-18 | 复旦大学 | 显微成像的方法及装置 |
| DE102020202804A1 (de) | 2020-03-05 | 2021-09-09 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Bilderfassung |
| CN113313778B (zh) * | 2021-05-13 | 2023-02-17 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 磁共振图像的重建方法、计算机设备及存储介质 |
| CN114040069B (zh) * | 2021-11-05 | 2023-03-24 | 东方晶源微电子科技(北京)有限公司 | 基于探测器通道的自动对焦方法和装置、设备及存储介质 |
Family Cites Families (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3517980A (en) * | 1966-12-05 | 1970-06-30 | Ceskoslovenska Akademie Ved | Method and arrangement for improving the resolving power and contrast |
| JP2946466B2 (ja) | 1989-07-13 | 1999-09-06 | アンリツ株式会社 | 顕微方法及び装置 |
| DE4416558C2 (de) | 1994-02-01 | 1997-09-04 | Hell Stefan | Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
| EP0801759B1 (de) | 1994-02-01 | 2001-08-08 | Stefan Dr. Hell | Vorrichtung und verfahren zum optischen messen eines probenpunktes einer probe mit hoher ortsauflösung |
| US5866911A (en) | 1994-07-15 | 1999-02-02 | Baer; Stephen C. | Method and apparatus for improving resolution in scanned optical system |
| US5867604A (en) | 1995-08-03 | 1999-02-02 | Ben-Levy; Meir | Imaging measurement system |
| DE19908883A1 (de) | 1999-03-02 | 2000-09-07 | Rainer Heintzmann | Verfahren zur Erhöhung der Auflösung optischer Abbildung |
| JP2002062261A (ja) | 2000-08-21 | 2002-02-28 | Olympus Optical Co Ltd | 光学装置および顕微鏡 |
| US7064824B2 (en) | 2003-04-13 | 2006-06-20 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. | High spatial resoulution imaging and modification of structures |
| DE10325459A1 (de) | 2003-04-13 | 2004-11-18 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Räumlich hochaufgelöstes Erzeugen einer dauerhaften Struktur |
| CN1595227A (zh) * | 2004-06-30 | 2005-03-16 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 透射率连续变化的振幅型超分辨光瞳滤波器 |
| EP2453239B1 (en) | 2005-05-23 | 2017-04-26 | Harald F. Hess | Optical microscopy with transformable optical labels |
| DE102006021317B3 (de) | 2006-05-06 | 2007-10-11 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe |
| JP4899648B2 (ja) | 2006-06-05 | 2012-03-21 | 株式会社ニコン | スペクトル観察方法及びスペクトル観察システム |
| US7439565B2 (en) | 2006-06-08 | 2008-10-21 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Active devices array substrate and repairing method thereof |
| JP5852305B2 (ja) | 2009-10-28 | 2016-02-03 | カール ツァイス マイクロスコピー ゲーエムベーハーCarl Zeiss Microscopy Gmbh | 分解能の向上した顕微鏡法および顕微鏡 |
| DE102012204128B4 (de) * | 2012-03-15 | 2023-11-16 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
| DE102013019348A1 (de) | 2013-08-15 | 2015-02-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
| DE102013019347A1 (de) | 2013-08-15 | 2015-02-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
| DE102013017468B4 (de) | 2013-09-03 | 2018-07-19 | Georg-August-Universität Göttingen Stiftung Öffentlichen Rechts | Verfahren zum Erstellen eines Mikroskopbildes und Mikroskopievorrichtung |
| DE102013015931B4 (de) | 2013-09-19 | 2024-05-08 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Verfahren zur hochauflösenden Scanning-Mikroskope |
| DE102013015933A1 (de) | 2013-09-19 | 2015-03-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
| DE102013015932A1 (de) | 2013-09-19 | 2015-03-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
| DE102013019378A1 (de) | 2013-11-19 | 2014-07-24 | Daimler Ag | Verriegelungseinrichtung für ein Flügelelement, insbesondere einen Verdeckkastendeckel, eines Kraftwagens |
| DE102014111167A1 (de) | 2014-08-06 | 2016-02-11 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie mit der Unterscheidung mindestens zweier Wellenlängenbereiche |
| CN104597590B (zh) * | 2014-12-30 | 2018-02-02 | 深圳先进技术研究院 | 一种超分辨荧光光谱成像显微镜 |
| CN104677884B (zh) * | 2015-03-17 | 2017-07-11 | 北京理工大学 | 高空间分辨激光分光瞳差动共焦质谱显微成像方法与装置 |
-
2015
- 2015-09-29 DE DE102015116435.3A patent/DE102015116435A1/de active Pending
-
2016
- 2016-09-29 CN CN201680057202.7A patent/CN108139578B/zh active Active
- 2016-09-29 WO PCT/EP2016/073194 patent/WO2017055405A1/de not_active Ceased
- 2016-09-29 JP JP2018535251A patent/JP6753935B2/ja active Active
- 2016-09-29 US US15/764,238 patent/US10401607B2/en active Active
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