JP2018504752A - 試料トランスファ装置 - Google Patents
試料トランスファ装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018504752A JP2018504752A JP2017538436A JP2017538436A JP2018504752A JP 2018504752 A JP2018504752 A JP 2018504752A JP 2017538436 A JP2017538436 A JP 2017538436A JP 2017538436 A JP2017538436 A JP 2017538436A JP 2018504752 A JP2018504752 A JP 2018504752A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- transfer device
- sample transfer
- measuring device
- measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012546 transfer Methods 0.000 title claims abstract description 169
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 53
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims abstract description 41
- 238000003032 molecular docking Methods 0.000 claims description 44
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 21
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 181
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 3
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 3
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000001493 electron microscopy Methods 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000012520 frozen sample Substances 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000011068 loading method Methods 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 102000004190 Enzymes Human genes 0.000 description 1
- 108090000790 Enzymes Proteins 0.000 description 1
- 241000700605 Viruses Species 0.000 description 1
- 230000031018 biological processes and functions Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000009530 blood pressure measurement Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000011143 downstream manufacturing Methods 0.000 description 1
- 150000002632 lipids Chemical class 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000001073 sample cooling Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N1/00—Sampling; Preparing specimens for investigation
- G01N1/28—Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
- G01N1/42—Low-temperature sample treatment, e.g. cryofixation
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/18—Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
- H01J37/185—Means for transferring objects between different enclosures of different pressure or atmosphere
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/20—Means for supporting or positioning the objects or the material; Means for adjusting diaphragms or lenses associated with the support
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K13/00—Thermometers specially adapted for specific purposes
- G01K13/006—Thermometers specially adapted for specific purposes for cryogenic purposes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L19/00—Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2002—Controlling environment of sample
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/2002—Controlling environment of sample
- H01J2237/2003—Environmental cells
- H01J2237/2004—Biological samples
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/20—Positioning, supporting, modifying or maintaining the physical state of objects being observed or treated
- H01J2237/204—Means for introducing and/or outputting objects
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Abstract
Description
この種の試料トランスファ装置は、特に電子顕微鏡法で使用される。解析すべき試料、例えば細胞、酵素、ウイルスまたは脂質層を含んだ試料は、クライオ固定される。すなわち、水を含んだ試料は、極めて急速に、氷晶の形成を回避しつつ−150℃を下回る温度に凍結される。凍結時、生物学的構造は、自然(nativ)状態に維持できる。例えば生物学的プロセスは、あらゆる任意の時点でクライオ固定により停止され、例えばクライオ電子顕微鏡および/または相応の試料冷却を行う光学顕微鏡内で解析され得る。本来の解析前に、クライオ固定された試料は、それ自体は公知の形式で別のプレパレーション工程、例えば凍結割断、凍結エッチングおよび/またはコーティング技術による加工にかけられることができる。
この課題を解決するために、請求項1記載の本発明に係る試料トランスファ装置を提案する。有利な構成は、従属請求項および以下の説明から看取可能である。
2 スライド弁
3 圧力測定装置
4 トランスファロッド
5 試料ステージ
6 結合要素
7 貯蔵容器
8 温度測定装置
9 制御電子ユニット
10 試料トランスファ装置
11a コンタクト
11b コンタクト
12 機械式の位置決め部、ストッパ
100 ドッキングステーション
200 加工ユニット
300 制御ユニット
400 ディスプレイ、表示部
Claims (18)
- 試料を収容する試料トランスファ装置(10)であって、
トランスファロッド(4)を備え、
前記トランスファロッド(4)は、試料ホルダを収容するように構成されており、前記試料ホルダは、前記試料を加工ユニットまたは分析ユニット(200)に移送する目的で、前記試料トランスファ装置(10)のチャンバ(1)内に配置可能である、
試料トランスファ装置(10)において、
物理量を測定する少なくとも1つの測定装置(3,8)が、前記試料トランスファ装置(10)内に配置されている、
ことを特徴とする、試料トランスファ装置。 - 前記少なくとも1つの測定装置は、前記チャンバ(1)内を支配する圧力を測定する測定装置(3)を含むことを特徴とする、請求項1記載の試料トランスファ装置。
- 前記少なくとも1つの測定装置は、前記チャンバ(1)内を支配する温度を測定する測定装置(8)を含むことを特徴とする、請求項1または2記載の試料トランスファ装置。
- 前記試料ホルダを収容するように構成された試料ステージ(5)を備え、
前記温度を測定する測定装置(8)は、前記試料ステージ(5)に配置されている、
ことを特徴とする、請求項3記載の試料トランスファ装置。 - 前記少なくとも1つの測定装置は、時間測定装置を含むことを特徴とする、請求項1から4までのいずれか1項記載の試料トランスファ装置。
- 前記少なくとも1つの測定装置(3,8)の電流供給用に、蓄電池が、前記試料トランスファ装置(10)の内または外に配置されていることを特徴とする、請求項1から5までのいずれか1項記載の試料トランスファ装置。
- 制御電子ユニット(9)を備え、
前記制御電子ユニット(9)は、前記少なくとも1つの測定装置(3,8)と、
前記測定装置(3,8)による測定が開始され得る、かつ/または
前記測定装置(3,8)の測定値が前記制御電子ユニット(9)により受信され得る、
ように作用接続していることを特徴とする、請求項1から6までのいずれか1項記載の試料トランスファ装置。 - 前記制御電子ユニット(9)は、前記試料トランスファ装置(10)内に配置されていることを特徴とする、請求項7記載の試料トランスファ装置。
- 前記試料トランスファ装置(10)は、加工ユニットまたは分析ユニット(200)のドッキングステーション(100)に対するインタフェースを備えることを特徴とする、請求項1から8までのいずれか1項記載の試料トランスファ装置。
- 前記インタフェースは、前記少なくとも1つの測定装置(3,8)の測定値が、前記加工ユニットまたは分析ユニット(200)および/または対応する前記ドッキングステーション(100)に伝送され得るように構成されていることを特徴とする、請求項9記載の試料トランスファ装置。
- 前記インタフェースは、前記インタフェースを介して前記少なくとも1つの測定装置(3,8)および/または請求項7記載の前記制御電子ユニット(9)に電流が供給されるように構成されていることを特徴とする、請求項9または10記載の試料トランスファ装置。
- 前記インタフェースは、前記インタフェースを介して前記蓄電池が、外部の電流源により充電可能であるように構成されていることを特徴とする、請求項6を引用する請求項9から11までのいずれか1項記載の試料トランスファ装置。
- 前記試料トランスファ装置(10)は、前記トランスファロッド(4)に取り付けられた試料ホルダの位置および/または向きを変えるトランスファロッド(4)を備えることを特徴とする、請求項1から12までのいずれか1項記載の試料トランスファ装置。
- 前記試料ホルダの位置および/もしくは向きならびに/または前記トランスファロッド(4)の対応する動きを検出する別の測定装置を備えることを特徴とする、請求項13記載の試料トランスファ装置。
- 前記制御電子ユニット(9)は、前記少なくとも1つの測定装置(3,8)の測定値が、予め決められた限界値を上回るか、下回るかすると、警告信号を発することを特徴とする、請求項7を引用する請求項1から14までのいずれか1項記載の試料トランスファ装置。
- 請求項9を引用する請求項1から15までのいずれか1項記載の試料トランスファ装置(10)と、加工ユニットまたは分析ユニット(200)用のドッキングステーション(100)とを備えるシステム。
- 前記試料トランスファ装置(10)の前記インタフェースは、コンタクト(11a)を有し、かつ前記ドッキングステーション(100)は、対応するコンタクト(11b)を有し、両前記コンタクト(11a,11b)は、前記試料トランスファ装置(10)と前記ドッキングステーション(100)とを結合したときに、前記コンタクト(11a,11b)が互いに作用接続するように配置され、かつ構成されている、請求項16記載のシステム。
- 前記作用接続は、前記試料トランスファ装置(10)と前記ドッキングステーション(100)とを結合した後、前記試料トランスファ装置(10)および前記ドッキングステーション(100)の前記コンタクト(11a,11b)を介して、前記試料トランスファ装置(10)の前記少なくとも1つの測定装置(3,8)の測定値が、前記ドッキングステーション(100)および/または対応する前記加工ユニットまたは分析ユニット(200)に伝送され、かつ/または前記少なくとも1つの測定装置(3,8)および/または請求項7記載の前記制御電子ユニット(9)に電流が供給されるように構成されている、請求項17記載のシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102015100727.4 | 2015-01-20 | ||
DE102015100727.4A DE102015100727A1 (de) | 2015-01-20 | 2015-01-20 | Probentransfereinrichtung |
PCT/EP2016/050606 WO2016116341A1 (de) | 2015-01-20 | 2016-01-14 | Probentransfereinrichtung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018504752A true JP2018504752A (ja) | 2018-02-15 |
JP6636030B2 JP6636030B2 (ja) | 2020-01-29 |
Family
ID=55135234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017538436A Active JP6636030B2 (ja) | 2015-01-20 | 2016-01-14 | 試料トランスファ装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10551285B2 (ja) |
EP (2) | EP3247987B2 (ja) |
JP (1) | JP6636030B2 (ja) |
CN (1) | CN107250757B (ja) |
DE (1) | DE102015100727A1 (ja) |
WO (1) | WO2016116341A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL2019247B1 (en) | 2017-07-14 | 2019-01-28 | Hennyz B V | Cryotransfer system |
JP6698134B2 (ja) * | 2017-10-30 | 2020-05-27 | ガタン インコーポレイテッドGatan,Inc. | クライオトランスファーホルダ及びワークステーション |
CN111989558A (zh) | 2018-03-16 | 2020-11-24 | 因为傲可值有限公司 | 用于自动处理组织学样品的样品处理系统和方法 |
DE102019102438B3 (de) * | 2019-01-31 | 2020-07-09 | Leica Mikrosysteme Gmbh | Verfahren zur mikroskopischen Bilderzeugung und System hierfür sowie Verwendung |
EP4047407B1 (en) * | 2021-08-03 | 2023-10-04 | Leica Mikrosysteme GmbH | Sample transfer device |
US20230132874A1 (en) * | 2021-10-29 | 2023-05-04 | Fei Company | Methods and systems for sample transfer |
EP4250329A1 (en) * | 2022-03-21 | 2023-09-27 | FEI Company | System and method for handling samples for study in a charged particle apparatus, such as a transmission electron microscope |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55153755U (ja) * | 1979-04-20 | 1980-11-06 | ||
US20090078060A1 (en) * | 2006-09-25 | 2009-03-26 | Moore Thomas M | Method and apparatus for transfer of samples in a controlled environment |
JP2013257148A (ja) * | 2012-06-11 | 2013-12-26 | Hitachi High-Technologies Corp | コーティング装置、及びコーティング装置の前処理装置 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3430471C1 (de) | 1984-08-18 | 1986-01-30 | C. Reichert Optische Werke Ag, Wien | Vorrichtung zur Entnahme von fluessigem Stickstoff aus einer Einrichtung zur Kryofixation und/oder Kryopraeparation zum Zwecke des Kryotransfers gefrorener Proben |
JPS63204726A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-24 | Anelva Corp | 真空処理装置 |
US4833330A (en) | 1987-11-03 | 1989-05-23 | Gatan Inc. | Anticontaminator for transmission electron microscopes |
US4950901A (en) | 1989-11-06 | 1990-08-21 | Gatan, Incorporated | Specimen cooling holder for side entry transmission electron microscopes |
DE4114427C2 (de) * | 1991-05-03 | 1995-01-26 | Forschungszentrum Juelich Gmbh | Probentransfermechanismus |
US6410925B1 (en) | 2000-07-31 | 2002-06-25 | Gatan, Inc. | Single tilt rotation cryotransfer holder for electron microscopes |
CA2489176C (en) * | 2002-06-11 | 2013-10-15 | Chempaq A/S | Lysing reagent, cartridge and automatic electronic cell counter for simultaneous enumeration of different types of white blood cells |
US7319336B2 (en) * | 2004-02-23 | 2008-01-15 | Zyvex Instruments, Llc | Charged particle beam device probe operation |
EP1852888A1 (en) | 2006-05-01 | 2007-11-07 | FEI Company | Particle-optical apparatus with temperature switch |
WO2008112653A1 (en) * | 2007-03-09 | 2008-09-18 | Dxtech, Llc | Electrochemical detection system |
WO2009116696A1 (en) | 2008-03-21 | 2009-09-24 | Korea Basic Science Institute | An apparatus for measuring the temperature of cyro em-holder specimen cradle and a method using it |
US7659510B2 (en) | 2008-03-28 | 2010-02-09 | Chih-Yu Chao | Cryo-charging specimen holder for electron microscope |
WO2009145377A1 (en) | 2008-05-30 | 2009-12-03 | Korea Basic Science Institute | Workstation for cryo transmission electron microscope |
AT508018B1 (de) | 2009-07-29 | 2010-10-15 | Leica Mikrosysteme Gmbh | Kryopräparationskammer zum manipulieren einer probe für die elektronenmikroskopie |
US8336405B2 (en) | 2010-07-28 | 2012-12-25 | E.A. Fischione Instruments, Inc. | Cryogenic specimen holder |
JP5706771B2 (ja) † | 2010-07-30 | 2015-04-22 | キヤノン株式会社 | 動画像の予測符号化装置及びその制御方法、コンピュータプログラム |
CN201981200U (zh) * | 2010-12-13 | 2011-09-21 | 中国人民解放军疾病预防控制所 | 样本转移箱 |
CN103620805B (zh) * | 2011-07-15 | 2016-03-30 | 株式会社日本有机雷特显示器 | 有机发光元件 |
US8440982B1 (en) | 2011-12-19 | 2013-05-14 | Korea Basic Science Institute | Cryo transfer holder for transmission electron microscope |
JP5732006B2 (ja) | 2012-06-28 | 2015-06-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 試料冷却ホルダー及び冷却源容器 |
US9638452B2 (en) * | 2012-09-12 | 2017-05-02 | Celltronix | Method and scalable devices for hyper-fast cooling and warming |
CN105307772B (zh) * | 2013-01-30 | 2018-11-02 | 万迪克斯控股有限公司 | 用于电化学检测系统的多功能传感器 |
CN103932354A (zh) * | 2014-04-10 | 2014-07-23 | 江苏洽爱纳机械有限公司 | 一种连续式真空急速冷却及冷冻的食品保鲜系统 |
DE102014110722B4 (de) | 2014-07-29 | 2016-06-09 | Leica Mikrosysteme Gmbh | Ladestation zum Umladen von gefrorenen Proben bei tiefen Temperaturen |
-
2015
- 2015-01-20 DE DE102015100727.4A patent/DE102015100727A1/de not_active Ceased
-
2016
- 2016-01-14 JP JP2017538436A patent/JP6636030B2/ja active Active
- 2016-01-14 EP EP16700591.7A patent/EP3247987B2/de active Active
- 2016-01-14 EP EP20193728.1A patent/EP3761002B1/de active Active
- 2016-01-14 US US15/543,326 patent/US10551285B2/en active Active
- 2016-01-14 CN CN201680006571.3A patent/CN107250757B/zh active Active
- 2016-01-14 WO PCT/EP2016/050606 patent/WO2016116341A1/de active Application Filing
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55153755U (ja) * | 1979-04-20 | 1980-11-06 | ||
US20090078060A1 (en) * | 2006-09-25 | 2009-03-26 | Moore Thomas M | Method and apparatus for transfer of samples in a controlled environment |
JP2013257148A (ja) * | 2012-06-11 | 2013-12-26 | Hitachi High-Technologies Corp | コーティング装置、及びコーティング装置の前処理装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102015100727A1 (de) | 2016-07-21 |
EP3761002B1 (de) | 2023-07-26 |
EP3247987B1 (de) | 2020-09-02 |
JP6636030B2 (ja) | 2020-01-29 |
CN107250757A (zh) | 2017-10-13 |
EP3761002A1 (de) | 2021-01-06 |
US10551285B2 (en) | 2020-02-04 |
EP3247987A1 (de) | 2017-11-29 |
CN107250757B (zh) | 2021-07-30 |
US20170370814A1 (en) | 2017-12-28 |
EP3247987B2 (de) | 2023-10-25 |
WO2016116341A1 (de) | 2016-07-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6636030B2 (ja) | 試料トランスファ装置 | |
US11566946B2 (en) | Thermometer | |
US9244100B2 (en) | Current clamp with jaw closure detection | |
CA3044692C (en) | Method for the in-situ calibration of a thermometer | |
ES2599710T3 (es) | Cámara y procedimiento de mediciones eléctricas de muestras en polvo y líquidas altamente reactivas | |
US20180224338A1 (en) | Apparatus for determining and/or monitoring temperature of a medium | |
EP3895196B1 (en) | Cryogenic ultra-high vacuum suitcase | |
CN108140507B (zh) | 用于测试温度补偿的、压力梯度控制的压力开关的方法及设备 | |
US20170074731A1 (en) | Methods and devices for electrochemical system analysis | |
US10249473B2 (en) | Transporting apparatus and method of transporting using the same | |
KR101992478B1 (ko) | 저온 초정밀 열수송 측정용 프로브 시스템 및 이를 포함하는 측정장치 | |
Knobloch et al. | Novel thin temperature and expansion sensors for li-ion battery monitoring | |
US20220307915A1 (en) | Temperature-Measuring Device | |
KR20230014954A (ko) | 유전율 측정용 챔버 시스템 및 이를 이용한 유전율 측정 방법 | |
CN110297010B (zh) | 热电材料性能参数测试装置、系统及方法 | |
CN112970101B (zh) | 具有温度传感器的销举升装置 | |
CN203455299U (zh) | 热流型差示扫描量热仪 | |
CN109100043A (zh) | 一种用于热-电-力耦合测试系统中的试件温度测量方法 | |
JP6528017B2 (ja) | 磁気力測定装置 | |
JP2014167394A (ja) | 四端子抵抗測定装置および四端子測定用プローブ | |
Bakunov et al. | A modern solution to problems of eddy-current structuroscopy | |
US20230115102A1 (en) | Inline contactless metrology chamber and associated method | |
EP4246109A1 (en) | Test system for at least one battery cell | |
CN102478444A (zh) | 真空管路真空度检测方法 | |
KR101923614B1 (ko) | 다수 채널 구조의 정밀 온도 탐지 모듈 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170920 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180806 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20181105 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20181212 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190206 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20190603 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191002 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20191009 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191118 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191217 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6636030 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |