JP2018146580A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021117273A1 (ja) * 2019-12-10 2021-06-17 日東電工株式会社 長尺光学積層体の検査方法及び検査システム
JPWO2022107756A1 (enrdf_load_stackoverflow) * 2020-11-18 2022-05-27
JP7330253B2 (ja) * 2020-12-08 2023-08-21 住友化学株式会社 マーク付き光学積層体、及び、マーク付き光学積層体の製造方法
JP7594917B2 (ja) * 2021-01-08 2024-12-05 日東電工株式会社 光学積層フィルムの検査方法及びフィルム製品の製造方法
CN114604678A (zh) * 2022-03-11 2022-06-10 凌云光技术股份有限公司 一种消除缺陷定位误差的方法

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0830683B2 (ja) * 1987-01-22 1996-03-27 大和製罐株式会社 製缶用金属コイル薄板の欠陥部の表示方法
JP3660763B2 (ja) * 1996-06-26 2005-06-15 株式会社日立製作所 被検査パターンの検査方法及び製造プロセス診断方法並びに半導体基板の製造方法
JP3878340B2 (ja) * 1998-09-18 2007-02-07 株式会社ルネサステクノロジ パターンの欠陥検査方法およびその装置
JP2000051941A (ja) * 1998-08-06 2000-02-22 Nkk Corp 薄鋼板への欠陥マーキング方法
KR100568973B1 (ko) * 1999-03-18 2006-04-07 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 결함 마킹방법 및 장치
JP3890430B2 (ja) * 1999-08-24 2007-03-07 富士フイルム株式会社 表面検査方法及び装置
JP2001305070A (ja) 2000-04-19 2001-10-31 Sumitomo Chem Co Ltd シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP4343456B2 (ja) 2001-04-03 2009-10-14 大日本印刷株式会社 シート状製品の欠陥マーキング方法および装置
JP4049723B2 (ja) * 2003-09-04 2008-02-20 沖電気工業株式会社 窒化物半導体素子の製造方法及び窒化物半導体素子の製造装置
JP2006071560A (ja) * 2004-09-03 2006-03-16 Fuji Photo Film Co Ltd 光ファイバの欠陥検出装置
JP2007192660A (ja) * 2006-01-19 2007-08-02 Fujifilm Corp フイルムの表面欠陥検出方法及び検出機
JP2008020321A (ja) * 2006-07-13 2008-01-31 Purex:Kk 欠陥マーキング装置付き欠陥布片検出装置
CN101210889A (zh) * 2006-12-30 2008-07-02 大元科技股份有限公司 全像式自动光学检测系统及方法
JP2009244064A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Sumitomo Chemical Co Ltd 偏光フィルムの検査方法
JP5446232B2 (ja) * 2008-04-10 2014-03-19 凸版印刷株式会社 カラーフィルタ基板の欠陥検査装置および欠陥検査方法
KR101609007B1 (ko) * 2008-07-18 2016-04-04 아사히 가라스 가부시키가이샤 결함 검사를 위한 화상 데이터의 처리 장치 및 방법, 이것들을 사용한 결함 검사 장치 및 방법, 이것들을 사용한 판 형상체의 제조 방법, 및 기록 매체
JP2011065184A (ja) 2009-04-10 2011-03-31 Nitto Denko Corp 光学フィルムロール原反、およびそれを用いた画像表示装置の製造方法
JP2011012986A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Toppan Printing Co Ltd 印刷物検査装置
EP2545360B1 (en) * 2010-03-10 2020-02-12 3M Innovative Properties Company Application-specific repeat defect detection in web manufacturing processes
WO2012073558A1 (ja) * 2010-11-29 2012-06-07 大日本印刷株式会社 評価用基板、欠陥検査方法及び欠陥検出装置
JP5274622B2 (ja) * 2011-06-27 2013-08-28 富士フイルム株式会社 欠陥検査装置及び方法
JP6004797B2 (ja) 2012-07-09 2016-10-12 大倉工業株式会社 欠陥マーキング方法、光学フィルムの製造方法および欠陥マーキング装置
JP2014048206A (ja) * 2012-08-31 2014-03-17 Sharp Corp 欠陥分類装置、欠陥分類方法、制御プログラム、および記録媒体
JP6204697B2 (ja) * 2013-05-16 2017-09-27 住友化学株式会社 欠陥検査システム
JP6182806B2 (ja) * 2013-06-04 2017-08-23 住友化学株式会社 欠陥検査システム及びフィルムの製造装置
JP6177017B2 (ja) * 2013-06-12 2017-08-09 住友化学株式会社 欠陥検査システム
JP6268042B2 (ja) * 2014-06-06 2018-01-24 株式会社ニューフレアテクノロジー 検査方法
JP6641093B2 (ja) * 2015-03-20 2020-02-05 住友化学株式会社 光学フィルム及び積層光学フィルムの欠陥検査方法
WO2016163261A1 (ja) * 2015-04-09 2016-10-13 住友化学株式会社 積層光学フィルムの欠陥検査方法、光学フィルムの欠陥検査方法及び積層光学フィルムの製造方法

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