JP2018124124A - 自動分析装置 - Google Patents

Abstract

【課題】洗浄液の無駄を軽減することが可能な自動分析装置を提供することにある。【解決手段】実施形態によれば、自動分析装置は、検量線生成部、検査数取得部、変更部、補正部、及び分析データ生成部を備える。検量線生成部は、検量線を生成する。検査数取得部は、測定が依頼された検査数を取得する。変更部は、前記検査数に応じて前記測定に関するサイクルタイムを変更する。補正部は、前記変更されたサイクルタイムに応じて前記検量線を補正する。分析データ生成部は、前記補正された前記検量線を用い、測定が依頼された検体に含まれる生化学物質の物理量に関する分析データを生成する。【選択図】 図１

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。

自動分析装置は、検体に含まれる、生化学検査項目、及び免疫検査項目等の検査項目に関する成分を測定するための装置である。

自動分析装置が備えるサンプル分注プローブは、患者や健診者等の検診者別に検体が収容されている試料容器毎に試料を吸引し、吸引した試料を当該試料の各検査項目の測定用に割り当てられた個々の反応管に所定量吐出する。また、自動分析装置が備える試薬分注プローブは、各検査項目に対応する試薬を所定の試薬容器から吸引し、吸引した試薬を当該検査項目に対応する反応管に吐出する。そして、自動分析装置は、各反応管の中の試料と試薬との混合液を用いて検査項目の測定を行う。各反応管での測定が終わると、各反応管から混合液が排液される。そして、各反応管は、排液された混合液に対応する洗浄液で洗浄される。洗浄された各反応管は、後続の検体の検査項目の測定に使われる。

自動分析装置では、予め設定されたサイクルタイムに応じて、自動分析装置が備える各ユニットの一連の動作が実行される。このため、自動分析装置では、サイクルタイムに応じた数の検査が実施されることになる。

ところで、サイクルタイムにより規定される検査数に対し、依頼される検査数が少ない場合、試料及び試薬が吐出されない反応管が存在する。自動分析装置では、一般的に、このような反応管が含まれていても、すべての反応管に対して洗浄動作が実行される。このため、洗浄する必要のない反応管を洗うこととなり、洗浄液が無駄に消費されてしまう。

特開２００６−０２９８７７号公報

実施形態の目的は、洗浄液の無駄を軽減することが可能な自動分析装置を提供することにある。

実施形態によれば、自動分析装置は、検量線生成部、検査数取得部、変更部、補正部、及び分析データ生成部を備える。検量線生成部は、検量線を生成する。検査数取得部は、測定が依頼された検査数を取得する。変更部は、前記検査数に応じて前記測定に関するサイクルタイムを変更する。補正部は、前記変更されたサイクルタイムに応じて前記検量線を補正する。分析データ生成部は、前記補正された前記検量線を用い、測定が依頼された検体に含まれる生化学物質の物理量に関する分析データを生成する。

図１は、実施形態に係る自動分析装置の構成を示す図である。 図２は、図１における分析機構の構成を示す斜視図である。 図３は、実施形態に係る自動分析装置が実施必要検査数に応じたサイクルタイムで測定する流れを示すフローチャートである。 図４は、実施形態に係る自動分析装置が実施必要検査数に応じた処理速度で測定する流れを示すフローチャートである。 図５は、実施形態に係る自動分析装置が生成する検量線を表す図である。 図６は、主観測区間において吸光度が単調増加するタイムコースを表す図である。 図７は、主観測区間において吸光度が単調減少するタイムコースを表す図である。 図８は、吸光度が最終的に一定の値に収束するタイムコースを表す図である。 図９は、変形例に係る自動分析装置の構成を示す図である。 図１０は、変形例に係る自動分析装置が実施必要検査数に応じてサイクルタイムの変更を促す旨を出力する流れを示すフローチャートである。 図１１は、変形例に係る自動分析装置が実施必要検査数に応じてサイクルタイムの変更を促す旨を出力する流れを示すフローチャートである。 図１２は、変形例に係る表示回路に表示される表示画面を表す図である。 図１３は、第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合が１時間毎に集計された統計データを表す図である。

以下、図面を参照しながら本実施形態に係わる自動分析装置を説明する。

図１は、本実施形態に係る自動分析装置１の構成を示す図である。自動分析装置１は、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、出力インタフェース回路６、記憶回路７、制御回路８、及び通信インタフェース回路９を備える。

分析機構２は、予め設定されたサイクルタイムに応じて、被検試料の測定に係る一連の動作を駆動機構４により実行する。サイクルタイムは、自動分析装置１が処理可能な最大検査数を決定するパラメータの１つである。最大検査数は、例えば所定期間で処理可能な検査数の最大値を表す。検査数は、例えば測定が依頼された各検体に係る検査項目の数の合計値である。

分析機構２は、所定の検査項目に用いられる標準試料と、当該標準試料に設定された検査項目で用いられる試薬とを混合する。標準試料は、例えば所定の検査項目に係る生化学物質の物質濃度が既知のキャリブレータである。分析機構２は、標準試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データを生成する。また、分析機構２は、所定の検査項目に用いられる被検試料と、当該被検試料に設定された検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構２は、被検試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される被検データを生成する。生成された標準データ及び被検データは解析回路３に出力される。

解析回路３は、分析機構２により生成された標準データ及び被検データに基づいて検量線及び分析データ等を解析するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、図１に示される各種機能を実現する。すなわち、解析回路３は、検量線生成機能３１、及び分析データ生成機能３２を備える。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによって検量線生成機能３１、及び分析データ生成機能３２が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて解析回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することにより検量線生成機能３１、及び分析データ生成機能３２を実現しても構わない。

検量線生成機能３１は、例えば検査項目毎に生成される標準データに基づいて検査項目毎の検量線を生成する機能である。検量線は、例えば所定の検査項目に係る生化学物質の物質濃度と吸光度との関係を表す関係線である。検量線生成機能３１は、例えば初期設定時、メンテナンス時、装置起動時、又は有効期限更新時等に随時実行される。検量線生成機能３１が実行されると、解析回路３は、分析機構２により検査項目毎に生成された標準データそれぞれに基づいて検査項目毎の検量線を生成する。解析回路３は、生成した検査項目毎の検量線を記憶回路７へ出力する。

分析データ生成機能３２は、被検データ及び検量線に基づいて分析データを生成する機能である。分析データ生成機能３２が実行されると、解析回路３は、被検データを、当該被検データに係る検査項目に対応する検量線に当てはめることによって、分析データを生成する。分析データは、生化学物質の物質濃度又は酵素の活性値等の物理量として表される。また、解析回路３は、被検データを、当該被検データに係る検査項目に対応する、後述する補正後の検量線に当てはめることによって、分析データを生成する。解析回路３は、生成した検査項目毎の分析データを記憶回路７へ出力する。

駆動機構４は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。駆動機構４は、制御回路８の制御に従い、分析機構２を駆動させる。

入力インタフェース回路５は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インタフェース回路５は、例えば、操作者から測定を依頼された試料に係る各検査項目の分析パラメータ等の設定を受け付ける。入力インタフェース回路５は、制御回路８に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路８へ出力する。なお、本明細書において入力インタフェース回路５はマウス及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路８へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース回路５の例に含まれる。

出力インタフェース回路６は、例えばＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等の表示回路６１、並びに、プリンタ等の印刷回路６２を含む。出力インタフェース回路６は、制御回路８に接続され、制御回路８から供給される信号を出力する。

表示回路６１は、例えば、制御回路８から供給される検量線及び分析データを表示する。

印刷回路６２は、制御回路８から供給される検量線及び分析データを、予め設定されたフォーマットに従ってプリンタ用紙等に印刷する。

記憶回路７は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。記憶回路７は、解析回路３で実行される動作プログラム、及び制御回路８で実行される動作プログラムを記憶する。記憶回路７は、解析回路３から出力される検量線を検査項目毎に記憶する。記憶回路７は、解析回路３から出力される分析データを被検試料毎に記憶する。

また、記憶回路７は、測定が依頼された検体に関するオーダ情報を記憶する。オーダ情報には、測定が依頼された検体、及び検体毎の依頼項目を示す情報が含まれる。また、記憶回路７は、検査履歴を記憶する。検査履歴には、オーダ情報に含まれる依頼項目毎に当該依頼項目に係る検査が実施されたか否かを示す情報が含まれる。

制御回路８は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。制御回路８は、記憶回路７に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。

通信インタフェース回路９は、例えば、変調・復調装置、及び通信デバイス等により実現される。通信インタフェース回路９は、例えば、ＬＡＮ等の病院内ネットワークを介し、検査室に設けられているシステムと接続する。検査室に設けられているシステムは、病院内に構築されている電子カルテシステムと接続している。通信インタフェース回路９は、検査室のシステムと通信することで、必要な情報を当該システムから取得する。

図２は、図１に示される分析機構２の構成の一例を示す斜視図である。図２に示される分析機構２は、反応ディスク２０１、サンプルディスク２０２、第１試薬庫２０３、試薬ラック２０３ａ、第２試薬庫２０４、及び試薬ラック２０４ａを備える。

反応ディスク２０１は、環状に配列された複数の反応管２０１１を保持する。反応ディスク２０１は、サイクルタイムに対応する既定の時間間隔で回動と停止とを交互に繰り返す。反応管２０１１は、例えば、ガラスにより形成されている。反応管２０１１は、１サイクルタイム毎に、駆動機構４により反応ディスク２０１が回動及び停止されることで、例えば所定の方向に、所定の角度移動される。

サンプルディスク２０２は、反応ディスク２０１の近傍に設けられている。サンプルディスク２０２は、回動することで、例えば血液等の検体が収容された試料容器１００を複数保持する。サンプルディスク２０２は、分注対象の検体が収容された試料容器１００を試料吸入位置に移動させる。

第１試薬庫２０３は、標準試料及び被検試料の各試料に含まれる所定の成分と反応する第１試薬を収容する試薬容器１０１を保冷する。第１試薬庫２０３内には、試薬ラック２０３ａが回転自在に設けられている。試薬ラック２０３ａは、複数の試薬容器１０１を保持する。

第２試薬庫２０４は、例えば、２試薬系の第１試薬と対をなす第２試薬を収容する試薬容器１０２を保冷する。第２試薬庫２０４内には、試薬ラック２０４ａが回転自在に設けられている。試薬ラック２０４ａは、複数の試薬容器１０２を保持する。

また、図２に示される分析機構２は、サンプル分注アーム２０５、サンプル分注プローブ２０６、洗浄槽２０６ａ、第１試薬分注アーム２０７、第１試薬分注プローブ２０８、洗浄槽２０８ａ、第２試薬分注アーム２０９、第２試薬分注プローブ２１０、洗浄槽２１０ａ、第１撹拌アーム２１１、第１撹拌子２１２、洗浄槽２１２ａ、第２撹拌アーム２１３、第２撹拌子２１４、及び洗浄槽２１４ａを備える。

サンプル分注アーム２０５は、反応ディスク２０１とサンプルディスク２０２との間に、鉛直方向には上下動自在に、水平方向には回動自在に設けられている。サンプル分注アーム２０５は、一端にサンプル分注プローブ２０６を保持する。サンプル分注アーム２０５は、駆動機構４によって回動される。サンプル分注アーム２０５の回動に伴って、サンプル分注プローブ２０６は、円弧状の回動軌道に沿って回動する。この回動軌道上には、サンプル分注プローブ２０６が試料容器１００から試料を吸引するサンプル吸引位置が設定されている。また、当該回動軌道上のサンプル吸引位置とは異なった位置には、サンプル分注プローブ２０６が吸引した試料を反応管２０１１へ吐出するサンプル吐出位置が設定されている。さらに、この回動軌道上のサンプル吸引位置、サンプル吐出位置とは異なった位置には、サンプル分注プローブ２０６が洗浄される洗浄位置が設定されている。洗浄位置には、サンプル分注プローブ２０６を洗浄する洗浄槽２０６ａが設けられている。サンプル分注プローブ２０６の回動軌跡は、サンプルディスク２０２に保持されている試料容器１００の移動軌跡、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、サンプル吸引位置、サンプル吐出位置である。

サンプル分注プローブ２０６は、駆動機構４によって駆動され、サンプル吸引位置、サンプル吐出位置、洗浄位置において上下方向に移動する。また、サンプル分注プローブ２０６は、制御回路８の制御に従い、サンプル吸引位置に位置する試料容器１００から試料を吸引する。また、サンプル分注プローブ２０６は、制御回路８の制御に従い、吸引した試料を、サンプル吐出位置に位置する反応管２０１１へ吐出する。

第１試薬分注アーム２０７は、反応ディスク２０１の外周近傍に、鉛直方向には上下動自在に、水平方向には回動自在に設けられている。第１試薬分注アーム２０７は、一端に第１試薬分注プローブ２０８を保持する。第１試薬分注アーム２０７は、駆動機構４によって回動される。第１試薬分注アーム２０７が回動されることにより、第１試薬分注プローブ２０８は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２０８が、第１試薬庫２０３に配置される試薬容器１０１から各検査項目に対応する第１試薬を吸引する第１試薬吸引位置と、吸引した第１試薬を反応管２０１１へ吐出する第１試薬吐出位置とが設定されている。第１試薬分注プローブ２０８の回動軌跡は、第１試薬庫２０３内の試薬ラック２０３ａに保持されている試薬容器１０１（の試薬吸引口）の移動軌跡、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、第１試薬吸引位置、第１試薬吐出位置である。

また、回動軌道上には、第１試薬分注プローブ２０８が洗浄される洗浄位置が設定されている。この洗浄位置には、第１試薬分注プローブ２０８を洗浄する洗浄槽２０８ａが設けられている。洗浄槽２０８ａは、第１試薬分注プローブ２０８を各検査項目に対応する第１試薬の分注終了毎に洗浄する。

第１試薬分注プローブ２０８は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の第１試薬吸引位置、及び第１試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第１試薬分注プローブ２０８は、制御回路８の制御に従い、第１試薬吸引位置に位置する試薬容器１０１から第１試薬を吸引する。第１試薬分注プローブ２０８は、制御回路８の制御に従い、吸引した第１試薬を、第１試薬吐出位置に位置する反応管２０１１へ吐出する。

第２試薬分注アーム２０９は、反応ディスク２０１と第２試薬庫２０４との間に、鉛直方向には上下動自在に、水平方向には回動自在に設けられている。第２試薬分注アーム２０９は、一端に第２試薬分注プローブ２１０を保持する。第２試薬分注アーム２０９は、駆動機構４によって回動される。第２試薬分注アーム２０９が回動されることにより、第２試薬分注プローブ２１０は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２１０が、第２試薬庫２０４内に配置される試薬ラック２０４ａに保持される試薬容器１０２から各検査項目に対応する第２試薬を吸引する第２試薬吸引位置と、吸引した第２試薬を反応管２０１１へ吐出する第２試薬吐出位置とが設定されている。第２試薬分注プローブ２１０の回動軌跡は、第２試薬庫２０４内の試薬ラック２０４ａに保持されている試薬容器１０１（の試薬吸引口）の移動軌跡、反応ディスク２０１に保持されている反応管２０１１の移動軌跡それぞれと交差している。それぞれの移動軌跡との交差点が、第２試薬吸引位置、第２試薬吐出位置である。

また、回動軌道上には、第２試薬分注プローブ２１０が洗浄される洗浄位置が設定されている。この洗浄位置には、第２試薬分注プローブ２１０を洗浄する洗浄槽２１０ａが設けられている。洗浄槽２１０ａは、第２試薬分注プローブ２１０を各検査項目に対応する第２試薬の分注終了毎に洗浄する。

第２試薬分注プローブ２１０は、駆動機構４によって駆動され、回動軌道上の第２試薬吸引位置、及び第２試薬吐出位置において上下方向に移動する。また、第２試薬分注プローブ２１０は、制御回路８の制御に従い、第２試薬吸引位置に位置する試薬容器１０２から第２試薬を吸引する。また、第２試薬分注プローブ２１０は、制御回路８の制御に従い、吸引した第２試薬を、第２試薬吐出位置に位置する反応管２０１１へ吐出する。

第１撹拌アーム２１１、及び第２撹拌アーム２１３は、反応ディスク２０１の外周近傍に設けられている。第１撹拌アーム２１１の先端には第１撹拌子２１２が設けられている。第１撹拌アーム２１１は、第１撹拌子２１２を保持し、鉛直方向に上下動自在である。また、第１撹拌アーム２１１は、水平方向に回動自在で、第１撹拌子２１２を円弧状の回動軌道に沿って移動させることが可能である。第１撹拌子２１２は、駆動機構４によって駆動され、反応ディスク２０１上の第１撹拌位置、及び反応ディスク２０１脇に設けられている洗浄位置において上下方向に移動する。第１撹拌子２１２は、反応ディスク２０１上の第１撹拌位置に配置された反応管２０１１内の試料と第１試薬との混合液を撹拌する。

洗浄位置は、第１撹拌子２１２の回転軌道上にあり、そこには、第１撹拌子２１２を洗浄する洗浄槽２１２ａが設けられている。洗浄槽２１２ａでは、試料と第１試薬との混合液を撹拌した第１撹拌子２１２が洗浄される。

第２撹拌アーム２１３の先端には第２撹拌子２１４が設けられている。第２撹拌アーム２１３は、第２撹拌子２１４を保持し、鉛直方に上下動自在である。また、第２撹拌アーム２１３は、水平方向に回動自在で、第２撹拌子２１４を円弧状の回動軌道に沿って移動させることが可能である。第２撹拌子２１４は、駆動機構４によって駆動され、反応ディスク２０１上の第２撹拌位置、及び反応ディスク２０１脇に設けられている洗浄位置において上下方向に移動する。第２撹拌子２１４は、反応ディスク２０１上の第２撹拌位置に配置された反応管２０１１内の試料と第１試薬と第２試薬との混合液を撹拌する。

洗浄位置は、第２撹拌子２１４の回転軌道上にあり、そこには、第２撹拌子２１４を洗浄する洗浄槽２１４ａが設けられている。洗浄槽２１４ａでは、試料と第１試薬と第２試薬との混合液を撹拌した第２撹拌子２１４が洗浄される。

また、図２に示される分析機構２は、測光ユニット２２０、及び洗浄ユニット２３０を備える。
測光ユニット２２０は、測光位置近傍に設けられる。測光位置は、反応ディスク２０１内に予め設定されている。測光ユニット２２０は、反応管２０１１に収容される混合液等の成分を光学的に測定する。測光ユニット２２０は、光源、及び光検出器を有する。光源及び光検出器は、測光位置に位置する反応管２０１１を挟んでお互いに対向する位置に設けられる。測光ユニット２２０は、制御回路８の制御に従い、光源から光を照射する。光検出器は、例えばサイクルタイムと同期したサンプリング周期で、光源から照射された光を検出する。これにより、反応管２０１１に吐出された混合液を透過した光を検出することになる。光検出器は、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される標準データ又は被検データを生成する。測光ユニット２２０は、生成した標準データ、及び被検データを解析回路３へ出力する。

洗浄ユニット２３０は、廃液ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを備える。洗浄ユニット２３０は、廃液ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管２０１１内の混合液を廃液として吸引する。洗浄ユニット２３０は、洗浄ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管２０１１へ洗浄液を吐出し、反応管２０１１を洗浄する。洗浄ユニット２２５は、乾燥ノズルにより、反応管２０１１へ乾燥空気を供給することで、洗浄液により洗浄された反応管２０１１を乾燥させる。なお、洗浄液には、純水、アルカリ性洗剤を純水で希釈した希釈液、及び酸性洗剤を純水で希釈した希釈液等が含まれる。

本実施形態に係る制御回路８は、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、図１に示される各種機能を実現する。すなわち、制御回路８は、システム制御機能８１、検査数取得機能８２、サイクルタイム変更機能８３、及び検量線補正機能８４を備える。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能８１、検査数取得機能８２、サイクルタイム変更機能８３、及び検量線補正機能８４が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能８１、検査数取得機能８２、サイクルタイム変更機能８３、及び検量線補正機能８４を実現しても構わない。

システム制御機能８１は、入力インタフェース回路５から入力される入力情報に基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する機能である。

検査数取得機能８２は、測定が依頼された検査数を取得する機能である。検査数取得機能８２が実行されると、制御回路８は、例えば測定が依頼された検体に関するオーダ情報及び検査履歴を記憶回路７から読み出す。制御回路８は、読み出したオーダ情報及び検査履歴に基づいて、測定が依頼されている検査のうち、未だ検査が実施されていない検査に係る検査数（以下、実施必要検査数と称する）を取得する。

なお、検査数取得機能８２が実行されると、制御回路８は、通信インタフェース回路９を制御し、検査室に設けられているシステムから必要な情報を取得するようにしてもよい。具体的には、制御回路８は、通信インタフェース回路９を介して検査室のシステムへ実施が必要な検査数を問い合わせる。制御回路８は、通信インタフェース回路９により、検査室のシステムから送信された検体数、及び検体毎の依頼項目数を取得する。これにより、制御回路８は、実施必要検査数を取得する。

サイクルタイム変更機能８３は、取得された実施必要検査数に応じて、予め設定されるサイクルタイムを変更する機能である。サイクルタイム変更機能８３が実行されると、制御回路８は、検査数取得機能８２の実行により取得された実施必要検査数に対応するサイクルタイムを記憶回路７から読み出す。制御回路８は、設定されているサイクルタイムを読み出したサイクルタイムに変更する。

検量線補正機能８４は、変更されたサイクルタイムに応じて、検量線を補正する機能である。検量線補正機能８４が実行されると、制御回路８は、検査項目毎に設定されている検量線を、変更されたサイクルタイムに応じて生成される補正値を用いてそれぞれ補正する。補正値は、例えば以下のように算出される。まず、測光ユニット２２０が備える光検出器により検出される光の強度に基づき、吸光度で表されるタイムコース（反応曲線）が検査項目毎に生成される。タイムコースは、例えば吸光度の時系列変化を示す関係線である。制御回路８は、サイクルタイムが変更されると、各測光点の時間間隔の伸縮を利用し、生成されている検査項目毎のタイムコースに基づいて、変更後のサイクルタイムに対応する検査項目毎のタイムコースを取得する。そして、制御回路８は、取得された検査項目毎のタイムコースにおける吸光度の時間的推移に基づいて、検査項目毎に設定されている検量線の補正値を算出する。補正値は、例えば検量線が比例して単調増加する場合、又は単調減少する場合には、切片及び傾きにより表される。

次に、本実施形態に係る自動分析装置１の動作について説明する。図３及び図４は、実施形態に係る自動分析装置が実施必要検査数に応じたサイクルタイムで測定する流れの例を示すフローチャートである。以下、説明を具体的にするため、初期設定されているサイクルタイムを、４．５秒（以下、第１のサイクルタイムと称する）とする。サイクルタイムが４．５秒に設定されている場合、自動分析装置１が処理可能な最大検査数は、例えば１時間当たり８００である。また、記憶回路７には、第１のサイクルタイム（４．５秒）に加えて、第２のサイクルタイム（９秒）が記憶されている。サイクルタイムが９秒に設定されている場合、自動分析装置１が処理可能な最大検査数は、例えば１時間当たり４００である。

自動分析装置１は、例えばサイクルタイム４．５秒における検量線を検査項目毎に予め生成する。具体的には、制御回路８は、測光ユニット２２０を制御し、例えば所定の検査項目に係る標準試料と試薬との混合液を測定して標準試料に係る標準データを生成する。また、制御回路８は、測光ユニット２２０を制御し、例えば当該検査項目に係る試薬を蒸留水（生理食塩水）等の反応を全くしないもので希釈した試薬ブランク液を測定して試薬ブランク液に係る標準データを生成する。解析回路３は、検量線生成機能３１を実行する。検量線生成機能３１の実行により解析回路３は、標準試料に係る標準データ、及び、試薬ブランク液に係る標準データを組み合わせて検量線を検査項目毎に繰り返し生成する。生成された検量線は、検査項目毎に記憶回路７に記憶される。図５は、本実施形態に係る自動分析装置が生成する検量線の例を表す図である。図５に示される検量線では、濃度と吸光度との関係が比例している。測定点（blk,Ablk）は、例えば試薬ブランク液を用いて測定した結果を表す。測定点(C-blk,Ac-Ablk)は、例えば濃度Cである標準試料を用いて測定した結果を表す。なお、図５に示される傾きＫ（以下、検量線定数Ｋと称する）は、以下の式で表される。

制御回路８は、例えば予め定められた時刻になると、検査数取得機能８２を実行する。検査数取得機能８２の実行により制御回路８は、例えばオーダ情報及び検査履歴を記憶回路７から読み出す。制御回路８は、読み出したオーダ情報及び検査履歴に基づいて、実施必要検査数を取得する。（ステップＳＡ１）。なお、制御回路８は、所定の基準時点からの経過時間に基づいて検査数取得機能８２を実行してもよい。また、例えば記憶回路７にオーダ情報が記憶されていない場合には、制御回路８は、通信インタフェース回路９により、検査室のシステムから測定の実施が必要な検体に係る検体数、及び検体毎の依頼項目数を取得することで、実施必要検査数を取得する。

制御回路８は、実施必要検査数を取得すると、サイクルタイム変更機能８３を実行する。サイクルタイム変更機能８３の実行により制御回路８は、初期設定値である第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合が５０％未満であるか否か判定する（ステップＳＡ２）。

制御回路８は、第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合が５０％未満であると判定した場合（ステップＳＡ２のＹｅｓ）、初期設定値であるサイクルタイムが設定されているか否か、すなわち第１のサイクルタイムが設定されているか否か判定する（ステップＳＡ３）。

制御回路８は、第１のサイクルタイムが設定されていると判定した場合（ステップＳＡ３のＹｅｓ）、第２のサイクルタイムを記憶回路７から読み出す。制御回路８は、設定されている第１のサイクルタイムを、読み出した第２のサイクルタイムに変更する（ステップＳＡ４）。

制御回路８は、サイクルタイムが変更されると（ステップＳＡ４）、検量線補正機能８４を実行する。検量線補正機能８４の実行により制御回路８は、変更後のサイクルタイム及び記憶回路７に記憶される検査項目毎のタイムコースに基づいて検査項目毎の補正値を算出する。制御回路８は、算出した検査項目毎の補正値を用い、検量線を検査項目毎に補正する（ステップＳＡ５）。制御回路８は、補正した検量線を、補正後の検量線として検査項目毎に記憶回路７に記憶する。以下、補正値の算出方法を、複数のパターンのタイムコースを用いて具体的に説明する。

まず、主観測区間において吸光度が単調増加するタイムコースに基づいて補正値が算出される場合について説明する。主観測区間とは、例えば標準データ及び被検データを生成する際に用いられる吸光度を測定するために設定される区間である。主観測区間は、例えば複数の測光点で表される。図６は、主観測区間において吸光度が単調増加するタイムコースを表す図である。図６に示されるタイムコースは、第１のサイクルタイムが設定されている場合に生成されたタイムコースを表す。図６に示されるタイムコースにおいて、横軸は測光点、縦軸は吸光度を表している。図６に示される開始点Ｓは、所定の検査項目に係る試料の測光の開始点を表す。図６に示される測光点Ｒ１は、例えば第１試薬が検査項目に係る標準試料に対して投入された時の測光点を表す。図６に示される測光点Ｒ２は、例えば第２試薬が、検査項目に係る標準試料と第１試薬との混合液に対して投入された時の測光点を表す。図６に示されるタイムコースは、所定の検査項目に対して測光ユニット２２０が備える光検出器により各測光点で検出された値を結ぶことにより得られる。測光点の数は、例えば３３である。図６に示されるタイムコースの測光点間の時間間隔は約１８秒であり、開始点Ｓから終了点までにかかる時間は約１０分となる。また、図６に示されるタイムコースは、第２試薬投入以後、単調増加する直線で近似される。

設定されている第１のサイクルタイム（４．５秒）を、読み出した第２のサイクルタイム（９秒）に変更した場合、図６に示されるタイムコースに基づいて取得される第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける測光点の時間間隔は、図６に示されるタイムコースにおける測光点間の時間間隔の２倍になる。また、取得された第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける開始点Ｓから予め設定された終点となる測光点までにかかる時間は、図６に示されるタイムコースにおける開始点Ｓから予め設定された終点となる測光点までにかかる時間の２倍になる。また、取得された第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける開始時Ｓから主観測区間に含まれる各測光点までにかかる時間は、図６に示されるタイムコースにおける開始時Ｓから主観測区間に含まれる各測光点までにかかる時間のそれぞれ２倍になる。主観測区間に含まれる測光点に至るまでの反応時間が長くなることにより、取得された第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける主観測区間に含まれる各測光点で測定された吸光度は、図６に示されるタイムコースにおける主観測区間に含まれる各測光点で測定された吸光度より大きくなる。特に、取得された第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける主観測区間で近似される直線の傾きは、図６に示されるタイムコースにおける主観測区間で近似される直線の傾きの２倍になる。このように、制御回路８は、設定されている第１のサイクルタイムに対応するタイムコースと、変更後の第２のサイクルタイムに対応するタイムコースとを比較した場合の変化に基づいて補正値を算出する。制御回路８は、例えば図５に示される検量線定数Ｋの値を大きくするような補正値を算出する。

次に、主観測区間において吸光度が単調減少するタイムコースについて説明する。図７は、主観測区間において吸光度が単調減少するタイムコースを表す図である。図７に示されるタイムコースは、第１のサイクルタイムに設定されている場合に生成されたタイムコースを表す。図７に示されるタイムコースは、第２試薬投入以後、単調減少する直線で近似される。

設定されている第１のサイクルタイム（４．５秒）を、読み出した第２のサイクルタイム（９秒）に変更した場合、図７に示されるタイムコースに基づいて取得される第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける測光点の時間間隔は、図７に示されるタイムコースにおける測光点間の時間間隔の２倍になる。また、取得された第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける開始点Ｓから予め設定された終点となる測光点までにかかる時間は、図７に示されるタイムコースにおける開始点Ｓから予め設定された終点となる測光点までにかかる時間の２倍になる。また、取得された第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける開始時Ｓから主観測区間に含まれる各測光点までにかかる時間は、図７に示されるタイムコースにおける開始時Ｓから主観測区間に含まれる各測光点までにかかる時間のそれぞれ２倍になる。主観測区間に含まれる測光点に至るまでの反応時間が長くなることにより、取得された第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける主観測区間に含まれる各測光点で測定された吸光度は、図７に示されるタイムコースにおける主観測区間に含まれる各測光点で測定された吸光度より大きくなる。特に、取得された第２のサイクルタイムに対応するタイムコースにおける主観測区間で近似される直線の傾きは、図７に示されるタイムコースにおける主観測区間で近似される直線の傾きの２倍になる。このように、制御回路８は、設定されている第１のサイクルタイムに対応するタイムコースと、変更後の第２のサイクルタイムに対応するタイムコースとを比較した場合の変化に基づいて補正値を算出する。制御回路８は、例えば図５に示される検量線定数Ｋの値を小さくするような補正値を算出する。

最後に、吸光度が最終的に一定の値に収束するタイムコースについて説明する。図８は、吸光度が最終的に一定の値に収束するタイムコースの例を表す図である。図８に示されるタイムコースは、第１のサイクルタイムに設定されている場合に生成されたタイムコースを表す。図８に示されるタイムコースは、第２試薬投入後、最終的に一定の値Ａに収束する。この場合、測光点の間隔に対応する時間、及び開始点Ｓから予め設定された終点となる測光点までにかかる時間の伸縮にかかわらず、主観測区間の測光点で測定される吸光度は一定である。よって、制御回路８は、例えば検量線定数Kの値が変化されない補正値を算出する。このとき、算出された補正値を用いて補正された検量線は、補正される前の検量線と一致する。

なお、制御回路８は、図６、図７、及び図８に示されるタイムコースに対し、測定吸光度範囲の上限、又は／及び下限を予め設定してもよい。主観測区間において測定される吸光度が測定吸光度範囲の上限に達した場合、又は、測定吸光度範囲の下限に達した場合、制御回路８は、例えば表示回路６１を制御し、警告メッセージを表示するようにしてもよい。

制御回路８は、検量線を補正すると（ステップＳＡ５）、第２のサイクルタイムに応じた検量線を用いて測定を実施する旨を解析回路３に通知する（ステップＳＡ６）。

制御回路８は、第２のサイクルタイムで、駆動機構４を制御し、分析機構２に被検試料の測定に係る一連の動作を実行させる。解析回路３は、分析機構２から被検データが出力されると、分析データ生成機能３２を実行する。分析データ生成機能３２の実行により解析回路３は、第２のサイクルタイムに応じた所定の検査項目に係る補正後の検量線を記憶回路７から読み出す。解析回路３は、分析機構２により生成された所定の検査項目に係る被検データを、読み出した検量線に当てはめることによって、分析データを生成する（ステップＳＡ７）。分析データは、検査項目毎に生成される。

制御回路８は、設定されているサイクルタイムが初期設定値でない、すなわち第２のサイクルタイムであると判定した場合（ステップＳＡ３のＮｏ）、第２のサイクルタイムに応じた検量線を用いて測定を実施する旨を解析回路３に通知する（ステップＳＡ８）。

制御回路８は、第２のサイクルタイムで、駆動機構４を制御し、分析機構２に被検試料の測定に係る一連の動作を実行させる。解析回路３は、分析機構２から被検データが出力されると、分析データ生成機能３２を実行する。分析データ生成機能３２の実行により解析回路３は、分析機構２により生成された所定の検査項目に係る被検データを、第２のサイクルタイムに対応する補正後の検量線に当てはめることによって、分析データを生成する（ステップＳＡ９）。

制御回路８は、第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合が５０％未満でないと判定した場合（ステップＳＡ２のＮｏ）、初期設定値であるサイクルタイムが設定されているか、すなわち第１のサイクルタイムが設定されているか否か判定する（ステップＳＡ１０）。

制御回路８は、第１のサイクルタイムが設定されていると判定した場合（ステップＳＡ１０のＹｅｓ）、第１のサイクルタイムに応じた検量線を用いて測定を実施する旨を解析回路３に通知する（ステップＳＡ１１）。

制御回路８は、第１のサイクルタイムで、駆動機構４を制御し、分析機構２に被検試料の測定に係る一連の動作を実行させる。解析回路３は、分析機構２から被検データが出力されると、分析データ生成機能３２を実行する。分析データ生成機能３２の実行により解析回路３は、分析機構２により生成された所定の検査項目に係る被検データを、検量線生成機能３１の実行により生成された当該検査項目に係る検量線に当てはめることによって、分析データを生成する（ステップＳＡ１２）。

制御回路８は、設定されているサイクルタイムが初期設定値でない、すなわち第１のサイクルタイムが設定されていないと判定した場合（ステップＳＡ１０のＮｏ）、第１のサイクルタイムを記憶回路７から読み出す。制御回路８は、設定されている第２のサイクルタイムを、読み出した第１のサイクルタイムに変更する（ステップＳＡ１３）。

制御回路８は、サイクルタイムが変更されると（ステップＳＡ１３）、第１のサイクルタイムに応じた検量線を用いて測定を実施する旨を解析回路３に通知する（ステップＳＡ１４）。

制御回路８は、第１のサイクルタイムで、駆動機構４を制御し、分析機構２に被検試料の測定に係る一連の動作を実行させる。解析回路３は、分析機構２から被検データが出力されると、分析データ生成機能３２を実行する。分析データ生成機能３２の実行により解析回路３は、第１のサイクルタイムに応じた所定の検査項目に係る検量線を記憶回路７から読み出す。解析回路３は、分析機構２により生成された所定の検査項目に係る被検データを、読み出した検量線に当てはめることによって、分析データを生成する（ステップＳＡ１５）。

上記実施形態によれば、解析回路３は、第１のサイクルタイムにおける検査項目毎の検量線を生成する。制御回路８は、実施必要検査数を取得する。制御回路８は、第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合に応じてサイクルタイムを変更する。制御回路８は、解析回路３により生成された検査項目毎の検量線を、変更されたサイクルタイムに応じて補正する。解析回路３は、補正後の所定の検査項目に係る検量線を用いて当該検査項目に係る試料の分析データを生成する。これにより、実施必要検査数の増減に応じて単位時間当たりの反応管２０１１の使用頻度を調整することが可能となる。すなわち、反応管２０１１の使用に伴い、サンプル分注プローブ２０６、第１試薬分注プローブ２０８、第２試薬分注プローブ２１０、第１撹拌子２１２、及び第２撹拌子２１４が単位時間当たりに洗浄される回数を調整することが可能となる。

特に、サイクルタイムを大きくする、すなわち最大検査数を小さくした場合には、一連の測定動作を大きくなったサイクルタイムにて行うため、サンプル分注プローブ２０６、第１試薬分注プローブ２０８、第２試薬分注プローブ２１０、第１撹拌子２１２、及び第２撹拌子２１４が単位時間当たりに洗浄される回数を実施必要検査数に応じて減少させることができる。また、反応管洗浄ユニットは、各種洗剤も使用するためその使用量を減少させることができる。

したがって、本実施形態に係る自動分析装置によれば、洗浄液の無駄を軽減することが可能となる。また、所定の検査項目において１つのサイクルタイムに係る検量線を生成しさえすれば、当該検量線を補正してサイクルタイムの変更に対応することが可能となる。すなわち、サイクルタイムの変更に伴って別途検量線を生成する必要がない。

また、第１の実施形態によれば、制御回路８は、設定されている第１のサイクルタイムに対応するタイムコースと、変更後の第２のサイクルタイムに対応するタイムコースとを比較した場合の変化に基づいて補正値を算出する。制御回路８は、算出した補正値を用い、検量線を補正する。これにより、測定が依頼された検体について所定の検査項目に係る試料と試薬との反応時間を考慮して容易に検量線を補正することが可能となる。

［変形例］
上記実施形態では、実施必要検査数に応じて、サイクルタイムが変更される場合について説明した。変形例では、実施必要検査数に応じて、サイクルタイムの変更を促す旨が操作者等に報知される場合について説明する。

図９は、本実施形態に係る自動分析装置１Ａの構成を示す図である。自動分析装置１Ａは、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、出力インタフェース回路６、記憶回路７、制御回路８Ａ、及び通信インタフェース回路９を備える。

本実施形態に係る制御回路８Ａは、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、図９に示される各種機能を実現する。すなわち、制御回路８Ａは、システム制御機能８１、検査数取得機能８２、サイクルタイム変更機能８３Ａ、及び検量線補正機能８４を備える。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能８１、検査数取得機能８２、サイクルタイム変更機能８３Ａ、及び検量線補正機能８４が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能８１、検査数取得機能８２、サイクルタイム変更機能８３Ａ、及び検量線補正機能８４を実現しても構わない。

サイクルタイム変更機能８３Ａは、検査数取得機能８２により取得された検査数に応じて、サイクルタイムを変更する機能である。サイクルタイム変更機能８３Ａが実行されると、制御回路８Ａは、検査数取得機能８２の実行により取得された検査数に対応するサイクルタイムを記憶回路７から読み出す。これによりサイクルタイムが取得される。制御回路８Ａは、取得したサイクルタイムが所定の要件を満たす場合、出力インタフェース回路６を制御し、読み出したサイクルタイムの値と共に、サイクルタイムの変更を促す旨を出力（報知）する。例えば、制御回路８Ａは、出力インタフェース回路６の表示回路６１を制御し、例えば読み出したサイクルタイムの値と共に、サイクルタイムの変更を促す表示画面を表示する。また、制御回路８Ａは、出力インタフェース回路６の印刷回路６２を制御し、読み出したサイクルタイムの値と共に、サイクルタイムの変更を促す書面を印刷する。

また、制御回路８Ａは、サイクルタイムの変更を促す旨を出力した後、例えば入力インタフェース回路５を介して、サイクルタイムの変更指示が入力されると、変更指示に応じてサイクルタイムの値を変更する。

次に、変形例に係る自動分析装置１Ａの動作について説明する。図１０及び図１１は、変形例に係る自動分析装置１Ａが検査数に応じてサイクルタイムの変更を促す旨を出力する流れを示すフローチャートである。以下、説明を具体的にするため、上記実施形態と同様に初期設定されているサイクルタイムを、４．５秒（第１のサイクルタイム）とする。また、記憶回路７には、第１のサイクルタイム（４．５秒）に加えて、第２のサイクルタイム（９秒）が記憶されている。

ステップＳＢ１からステップＳＢ３までの動作は、図３及び図４に示されるステップＳＡ１からステップＳＡ３までの動作と同様である。

制御回路８Ａは、第１のサイクルタイムが設定されていると判定した場合（ステップＳＢ３のＹｅｓ）、第２のサイクルタイムを記憶回路７から読み出す。制御回路８Ａは、例えば出力インタフェース回路６の表示回路６１を制御し、読み出した第２のサイクルタイムの値と共に、設定されている第１のサイクルタイムを、第２のサイクルタイムに変更することを促す表示画面を表示する（ステップＳＢ４）。図１２は、変形例に係る表示回路６１に表示される表示画面の例を表す図である。図１２に示される表示画面では、「はい」のボタンが押下されることにより、サイクルタイムの変更を承諾する変更指示を入力することが可能である。

制御回路８Ａは、例えば入力インタフェース回路５を介して、設定されている第１のサイクルタイムを、第２のサイクルタイムに変更することを承諾する変更指示が入力されるまで待機する（ステップＳＢ５）。

制御回路８Ａは、変更指示が入力された場合（ステップＳＢ５のＹｅｓ）、設定されている第１のサイクルタイムを、ステップＳＢ４において読み出した第２のサイクルタイムに変更する（ステップＳＢ６）。

ステップＳＢ７、ステップＳＢ８、及びステップＳＢ９の動作は、図３及び図４に示されるステップＳＡ５、ステップＳＡ６、及びステップＳＡ７の動作と同様である。
また、ステップＳＢ１、ステップＳＢ２、ステップＳＢ３、ステップＳＢ１０、及びステップＳＢ１１の一連の動作は、図３及び図４に示されるステップＳＡ１、ステップＳＡ２、ステップＳＡ１０、ステップＳＡ１１、及びステップＳＡ１２の一連の動作と同様である。

また、ステップＳＢ１、ステップＳＢ２、ステップＳＢ１２、ステップＳＢ１３、及びステップＳＢ１４の一連の動作は、図３及び図４に示されるステップＳＡ１、ステップＳＡ２、ステップＳＡ１０、ステップＳＡ１１、及びステップＳＡ１２の一連の動作と同様である。

制御回路８Ａは、第１のサイクルタイムが設定されていないと判定した場合（ステップＳＢ１２のＮｏ）、第１のサイクルタイムを記憶回路７から読み出す。制御回路８Ａは、例えば出力インタフェース回路６の表示回路６１を制御し、読み出した第１のサイクルタイムの値と共に、設定されている第２のサイクルタイムを、第１のサイクルタイムに変更することを促す表示画面を表示する（ステップＳＢ１５）。

制御回路８Ａは、例えば入力インタフェース回路５を介して、設定されている第２のサイクルタイムを、第１のサイクルタイムに変更することを承諾する変更指示が入力されるまで待機する（ステップＳＢ１６）。

制御回路８Ａは、変更指示が入力された場合（ステップＳＢ１６のＹｅｓ）、設定されている第２のサイクルタイムを、ステップＳＢ９において読み出した第１のサイクルタイムに変更する（ステップＳＢ１７）。

ステップＳＢ１８、及びステップＳＢ１９の動作は、図３及び図４に示されるステップＳＡ１４、及びステップＳＡ１５の動作と同様である。

変形例によれば、解析回路３は、初期設定のサイクルタイムにおける検査項目毎の検量線を生成する。制御回路８Ａは、実施必要検査数を取得する。制御回路８Ａは、初期設定値である第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合に応じてサイクルタイムを記憶回路７から読み出す。制御回路８Ａは、取得したサイクルタイムが所定の要件を満たす場合、例えば出力インタフェース回路６の表示回路６１を制御し、読み出したサイクルタイムの値と共に、当該サイクルタイムの変更を促す表示画面を表示する。制御回路８Ａは、サイクルタイムの変更を促す表示画面を表示した後、サイクルタイムの変更指示が入力されると、変更指示に応じてサイクルタイムの値を変更する。制御回路８Ａは、解析回路３により生成された検査項目毎の検量線を、変更されたサイクルタイムに応じて補正する。解析回路３は、補正後の所定の検査項目に係る検量線を用いて当該検査項目に係る試料の分析データを生成する。これにより、実施必要検査数に応じたサイクルタイムの変更を操作者に実行させることが可能となり、より実情に即して洗浄液の無駄を軽減することが可能となる。

［他の実施形態］
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、上記実施形態において、初期設定値である第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合に応じて、サイクルタイムを変更していたがこれに限定されない。制御回路８は、例えば予め記憶回路７に記憶される統計データに基づいて、サイクルタイムを変更してもよい。統計データは、例えば第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合が１時間毎に集計されたものである。統計データは、例えば随時、測定した実績により更新される。図１３は、第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合が１時間毎に集計された統計データの例を表す図である。図１３に示されるように、８時から１５時の１時間毎の時間帯では、第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合は５０％以上となっている。このとき、制御回路８は、設定されているサイクルタイムが第１のサイクルタイムではない場合、設定されているサイクルタイムを、第１のサイクルタイムに変更する。一方、図１３に示されるように、７時及び１６時から２０時までの１時間毎の時間帯では、第１のサイクルタイムが設定される際の最大検査数に対する実施必要検査数の割合は、５０％未満となっている。このとき、制御回路８は、設定されているサイクルタイムが第２のサイクルタイムではない場合、設定されているサイクルタイムを、第２のサイクルタイムに変更する。

また、上記実施形態において、制御回路８は、初期設定値である第１のサイクルタイムに対応する最大検査数に対する実施必要検査数の割合に対し、１つの閾値（５０％）のみ設定してサイクルタイムを変更するようにしていたがこれに限定されない。例えば、制御回路８は、複数の閾値を設定して、段階的にサイクルタイムを変更するようにしてもよい。

また、上記実施形態において、制御回路８は、閾値である５０％を超えた場合にサイクルタイムを変更するようにしていたがこれに限定されない。例えば、制御回路８は、初期設定値である第１のサイクルタイムに対応する最大検査数に対する実施必要検査数の割合に対し、閾値（１００％）を超えた場合にサイクルタイムを変更するようにしてもよい。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（central processing unit）、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ））、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１及び図９における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１…自動分析装置、１Ａ…自動分析装置、２…分析機構、３…解析回路、４…駆動機構、５…入力インタフェース回路、６…出力インタフェース回路、７…記憶回路、８…制御回路、８Ａ…制御回路、６１…表示回路、６２…印刷回路、８１…システム制御機能、８２…検査数取得機能、８３、８３Ａ…サイクルタイム変更機能、８４…検量線補正機能、１００…試料容器、１０１…試薬容器、１０２…試薬容器、２０１…反応ディスク、２０２…サンプルディスク、２０３…第１試薬庫、２０３ａ…試薬ラック、２０４…第２試薬庫、２０４ａ…試薬ラック、２０５…サンプル分注アーム、２０６…サンプル分注プローブ、２０６ａ…洗浄槽、２０７…第１試薬分注アーム、２０８…第１試薬分注プローブ、２０８ａ…洗浄槽、２０９…第２試薬分注アーム、２１０…第２試薬分注プローブ、２１０ａ…洗浄槽、２１１…第１撹拌アーム、２１２…第１撹拌子、２１２ａ…洗浄槽、２１３…第２撹拌アーム、２１４…第２撹拌子、２１４ａ…洗浄槽、２２０…測光ユニット、２３０…洗浄ユニット、２０１１…反応管。

Claims (7)

1. 検量線を生成する検量線生成部と、
   測定が依頼された検査数を取得する検査数取得部と、
   前記検査数に応じて前記測定に関するサイクルタイムを変更する変更部と、
   前記変更されたサイクルタイムに応じて前記検量線を補正する補正部と、
   前記補正された前記検量線を用い、測定が依頼された検体に含まれる生化学物質の物理量に関する分析データを生成する分析データ生成部と
   を具備する自動分析装置。
2. 前記検査数取得部は、所定のシステムから前記検査数を取得する請求項１に記載の自動分析装置。
3. 前記変更部は、所定の統計データに基づき、サイクルタイムを変更する請求項１に記載の自動分析装置。
4. 前記補正部は、前記変更される前のサイクルタイムで取得される、吸光度の時系列変化を示すタイムコースと、前記変更されたサイクルタイムで取得される前記タイムコースとを比較した場合の変化に基づいて前記検量線を補正する請求項１乃至３のうちいずれかに記載の自動分析装置。
5. 前記変化は、前記タイムコースにおいて表される直線の傾きの変化である請求項４に記載の自動分析装置。
6. 前記変化に基づいて補正された検量線は、前記補正される前の検量線と一致する請求項４又は５に記載の自動分析装置。
7. 前記サイクルタイムを変更する前に、操作者に前記サイクルタイムの変更を促すメッセージを報知する報知部をさらに具備する請求項１乃至６のうちいずれかに記載の自動分析装置。