JP2018044925A

JP2018044925A - 自動分析装置

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Publication number: JP2018044925A
Application number: JP2016181812A
Authority: JP
Inventors: 山崎　健司; Kenji Yamazaki; 健司山崎; 正明齋藤; Masaaki Saito; 博子高山; Hiroko Takayama; 尚人佐藤; Naohito Sato; 達也村田; Tatsuya Murata
Original assignee: Canon Medical Systems Corp
Current assignee: Canon Medical Systems Corp
Priority date: 2016-09-16
Filing date: 2016-09-16
Publication date: 2018-03-22
Anticipated expiration: 2036-09-16
Also published as: JP6791690B2

Abstract

【課題】サンプル分注プローブによるダミー用試料吸引が、検査項目に係る試料の測定結果に影響を及ぼすことを抑えることが可能な自動分析装置を提供することにある。【解決手段】実施形態によれば、自動分析装置は、分注プローブ及び分注制御部を有する。分注プローブは、試料容器内に収容されている試料を、前記試料に対して設定される検査項目毎に吸引し、当該検査項目毎に対応する反応容器に吐出する。分注制御部は、前記試料容器へ前記分注プローブを移動させ、前記試料容器からダミー用試料を吸引し、前記ダミー用試料を保持したままで、所定位置まで前記分注プローブを移動させる。【選択図】図１

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。

自動分析装置は、試料に含まれる成分を測定する。測定する成分は、生化学検査や免疫検査等の各種検査項目に係わるものである。試料に含まれる成分は、所定の試薬と試料との反応状態に基づいて測定される。測定のために、試料と反応させる試薬は、測定する成分、検査項目等によって決まる。

一般的な自動分析装置では、複数の異なった試料に係る各測定を並行して行う。また、各試料に依頼された、複数の異なった検査項目に係る測定を並行して行う。このような自動分析装置で測定する試料は、一般的には、試料容器に収容されている。一本の試料容器に収容されている試料は、一人の被検者から採取された検体に由来するものである。一般的には、一本の試料容器に収容されている試料で、複数の異なった検査項目の測定を行う。

以上のような測定を行うために、一般的な自動分析装置は、サンプル分注プローブ、試薬分注プローブ、及び反応管等を備える。

サンプル分注プローブは、試料容器に収容されている試料を反応管に分注する。通常、一本の試料容器に収容されている試料は、当該試料で測定する検査項目の数と同じ本数の反応管に分注される。すなわち、一般的な自動分析装置では、或る試料で何らかの一つの検査項目に係る測定を行う際には、その測定に一本の反応管が供される。なお、或る一本の試料容器に収容されている試料で、何らかの一つの検査項目に係る測定を行う際に供される反応管を、便宜上、「検査項目の測定に係る反応管」と称する。

そして、一般的な自動分析装置が備えるサンプル分注プローブは、或る一本の試料容器から検査項目の測定に係る反応管に試料分注する動作を、当該試料で測定を行う検査項目の項目数と同じ回数続けて繰り返し行う。すなわち、一般的な自動分析装置が備えるサンプル分注プローブは、検査項目の測定に係る反応管に対する試料分注動作を試料容器単位で行う。

サンプル分注プローブによって、検査項目の測定に係る反応管それぞれに分注された試料は、当該反応管での測定を割り当てられた一つの検査項目の測定に供される。なお、一つの検査項目の測定に供される反応管に吐出される試料、又は一つの検査項目の測定に供される試料を、便宜上、「検査項目に係る試料」、又は「検査項目試料」と称する。

検査項目の測定に係る反応管に吐出される試料の量は、当該反応管での測定が割り当てられた検査項目によって決まる。したがって、サンプル分注プローブが、試料容器から吸引し、検査項目の測定に係る反応管に分注する試料の量も、各試料容器に収容されている試料で測定を行う検査項目によって決まる。

以上のように、一般的な自動分析装置が備えるサンプル分注プローブは、一本の試料容器から検査項目の測定に係る反応管への分注を、当該試料容器に収容されている試料で測定する各検査項目に行う。

また、一般的な自動分析装置が備える試薬分注プローブは、各試料に係る各検査項目の測定に用いる試薬を試薬容器から吸引し、吸引した試薬を対応する検査項目の測定に割り当てられた反応管へ吐出する。そして、一般的な自動分析装置では、各反応管に分注された試料と試薬との混合液の反応によって生ずる色調及び／又は濁りの変化を、測光部により光学的に測定する。

また、一般的な自動分析装置が備える各分注プローブの一端は、シリンジポンプ等に接続されている。シリンジポンプは、極微量の液体を、脈流無く、高い精度で流入出させることができる。このようなシリンジポンプと分注プローブの一端とは、一般的には、弾力性を有する軟質性部材から成り、内部が空洞の細長い管（チューブ）で連絡されている。チューブの内部は、液体の流路の役割を果たし、そこには精製水が充填されている。また、精製水は、シリンジポンプの筒内、及び分注プローブ内の流路にも充填されている。

このようにシリンジポンプの筒内、チューブ内、及び分注プローブ内の流路に充填されている精製水は、シリンジポンプの筒内の圧力をチューブ内、分注プローブ内の流路に伝達させる媒体の役割を果たしている。そのため、シリンジポンプがその筒内の精製水をチューブ内の流路に流入出させるだけで、分注プローブは、試料や試薬を高い精度で分注することができる。

しかしながら、サンプル分注プローブによって吸引された試料は、サンプル分注プローブ内の流路に充填されている精製水の流路内移動に追随して当該流路内を移動することになるので、精製水と接触する機会や頻度が多くなる。このようにサンプル分注プローブ内に吸引された試料と精製水との接触が多くなると、サンプル分注プローブに吸引された試料は、プローブ外に吐出される前に、精製水によって希釈されてしまう恐れが高まる。

サンプル分注プローブ内での精製水による試料の希釈は、例えば、精製水の流路内移動に追随して試料が流路内を移動する際に、流路を移動する試料が流路の壁面に取り残された精製水を取り込んでしまったり、お互いの液面同士が接触し、精製水に試料が溶け込んで拡散してしまったりする等して起こる。このような試料の希釈は、測定の精度を低下させる原因となる。

特に、近年では、一つの検査項目の測定に供される試料の微量化が進展し、サンプル分注プローブ内で試料を希釈させないことが求められている。

そこで、検査項目の測定に供されない試料、いわゆる「ダミー試料」を、検査項目の測定に供される試料と精製水との間に保持させることが提案されている。例えば、各試料容器に収容されている試料を、検査項目の測定に供される試料のダミー用試料として、サンプル分注プローブに吸引させるものである。

このような場合、サンプル分注プローブは、各試料容器から試料を最初に吸引する際に、当該試料容器に収容されている試料での測定を依頼された検査項目に係る試薬と反応させない試料（当該試料での検査項目に供される反応管に吐出させない試料、当該試料での検査項目の測定に供されない試料、当該試料での検査項目に係わらない試料、ダミー用試料）を吸引する。

そして、サンプル分注プローブは、ダミー用試料を保持したまま、当該試料容器に収容されている試料での測定を依頼された検査項目に係る試薬と反応させる試料（当該試料での検査項目に供される反応管に吐出させる試料、当該試料での検査項目の測定に供される試料、当該試料での検査項目に係る試料、検査項目測定用試料）を吸引する。

通常、ダミー用試料の次に吸引される検査項目測定用試料は、例え当該試料で複数の検査項目を測定する場合であっても、一つの検査項目の測定に供される分だけである。すなわち、ダミー用試料の次に当該試料容器からの初めての検査項目測定用試料として吸引される試料の検査項目は、通常、当該試料容器に収容されている試料が初めて吐出される反応管に割り当てられている一つの検査項目（以下、「先頭の検査項目」と称する）である。なお、各試料容器から初めて検査項目の測定に係る一本の反応管に吐出され、当該反応管に割り当てられている一つの検査項目の測定に供される試料を、便宜上、「先頭の検査項目の測定に供される試料」又は「先頭の検査項目に係る試料」と称する。

先頭の検査項目に係る試料の吸引に先立って、サンプル分注プローブに吸引されたダミー用試料は、先頭の検査項目に係る試料が検査項目の測定に係る一本の反応管に吐出される時にも、サンプル分注プローブから吐出されないで、そのままサンプル分注プローブ内に留まる。そのため、先頭の検査項目に係る試料を検査項目の測定に係る一本の反応管に吐出させた後に、先頭の検査項目の次の検査項目に係る試料を吸引するサンプル分注プローブは、当該検査項目に係る試料の吸引に際して、ダミー用試料を別途改めて吸引する必要が無い。なお、先頭の検査項目の次の検査項目は、試料容器から最初に試料が分注された反応管の次に、試料が分注された反応管で測定が行われる検査項目である。

したがって、ダミー用試料を吸引した試料容器から、先頭の検査項目より後の検査項目に係る試料を吸引するサンプル分注プローブは、各検査項目に係る試料の吸引に際して、ダミー用試料を別途改めて吸引する必要が無い。

ダミー用試料を吸引したサンプル分注プローブは、ダミー用試料を吸引した試料容器に収容されている試料で測定される全ての検査項目に係る試料を検査項目の測定に係る所定の反応管全てに分注し終えるまで、ダミー用試料を保持し続ける。そして、ダミー用試料を吸引した試料容器に収容されている試料で測定される全ての検査項目に係る試料を検査項目の測定に係る所定の反応管全てに分注し終えると、ダミー用試料を吐出する。なお、ダミー用試料の吐出先は、反応管ではなく、通常、サンプル分注プローブの洗浄を行う洗浄槽である。

しかしながら、このようなダミー用試料を吸引したサンプル分注プローブが検査項目測定用試料を吸引すると、例え同じ検査項目を測定したとしても、その検査項目に係る試料の吸引が、ダミー用試料の吸引に続けて行われたときと、他の検査項目に係る試料の分注後に行われたときとでは、その測定結果が異なることがある。

特開２００９−５７７６７号公報特開２０１２−０８３３６９号公報

目的は、サンプル分注プローブによるダミー用試料吸引が、検査項目に係る試料の測定結果に影響を及ぼすことを抑えることが可能な自動分析装置を提供することにある。

実施形態によれば、自動分析装置は、分注プローブ及び分注制御部を有する。分注プローブは、試料容器内に収容されている試料を、前記試料に対して設定される検査項目毎に吸引し、当該検査項目毎に対応する反応容器に吐出する。分注制御部は、前記試料容器へ前記分注プローブを移動させ、前記試料容器からダミー用試料を吸引し、前記ダミー用試料を保持したままで、所定位置まで前記分注プローブを移動させる。

図１は、実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図である。図２は、図１に示される分析機構の構成を示す図である。図３は、図１に示される分析機構の構成を示す図である。図４は、図２に示されるサンプル分注ユニットの構成を示すブロック図である。図５は、実施形態又は変形例に係る自動分析装置の測定対象となる試料について、１サイクルタイム内に実行される試料分注についての一連の動作を表すフローチャートの例である。図６は、実施形態又は変形例に係る自動分析装置において、先頭の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図７は、実施形態に係る自動分析装置において、２番目の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図８は、実施形態に係る自動分析装置において、最後の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図９は、変形例に係る自動分析装置において、２番目の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図１０は、変形例に係る自動分析装置において、最後の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図１１は、他の実施形態に係る自動分析装置において、最初の１サイクルタイム内にダミー用試料の吸引に係る動作のみを実行する場合の、各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。

以下、実施の形態について、図面を参照して説明する。

図１は、本実施形態に係る自動分析装置１の機能構成を示すブロック図である。図１に示される自動分析装置１は、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、出力インタフェース回路６、記憶回路７、及び制御回路８を具備する。

分析機構２は、標準試料又は被検試料等の試料と、この試料に設定された各検査項目で用いられる試薬とを混合する。分析機構２は、試料と試薬との混合液を測定し、例えば吸光度で表される標準データ、及び被検データを生成する。

解析回路３は、分析機構２により生成された標準データ及び被検データに基づいて検量データ及び分析データ等を解析するプロセッサである。解析回路３は、記憶回路７から動作プログラムを読み出し、動作プログラムに従って検量データ及び分析データ等を生成する。例えば、解析回路３は、標準データと、標準試料に予め設定された標準値との関係を示す検量データを生成する。また、解析回路３は、被検データと、この被検データに対応する検査項目の検量データとに基づいて、濃度値及び酵素の活性値として表される分析データを生成する。解析回路３は生成した検量データ及び分析データ等を記憶回路７及び制御回路８へ出力する。

駆動機構４は、ギア、ステッピングモータ、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。駆動機構４は、制御回路８の制御に従い、分析機構２を駆動させる。

入力インタフェース回路５は、例えば、マウス、キーボード、及び、操作面へ触れることで指示が入力されるタッチパッド等により実現される。入力インタフェース回路５は、例えば、操作者から検査を行う検査対象の試料を識別する試料ＩＤ、この試料ＩＤに対する検査項目、及び各検査項目の分析パラメータ等を受け付ける。入力インタフェース回路５は、制御回路８に接続され、操作者から入力される操作指示を電気信号へ変換し、電気信号を制御回路８へ出力する。なお、本明細書において入力インタフェース回路５はマウス及びキーボード等の物理的な操作部品を備えるものだけに限られない。例えば、自動分析装置１とは別体に設けられた外部の入力機器から入力される操作指示に対応する電気信号を受け取り、この電気信号を制御回路８へ出力する電気信号の処理回路も入力インタフェース回路５の例に含まれる。

出力インタフェース回路６は、例えばＣＲＴディスプレイ、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイ、及びプラズマディスプレイ等の表示回路を含む。出力インタフェース回路６が備える表示回路は、例えば制御回路８から供給される検量データ及び分析データを表示する。

記憶回路７は、磁気的若しくは光学的記録媒体又は半導体メモリ等の、プロセッサにより読み取り可能な記録媒体等を含む。記憶回路７は、解析回路３で実行される動作プログラム、及び制御回路８で実行される動作プログラムを記憶する。記憶回路７は、解析回路３により生成される検量データを検査項目毎に記憶する。記憶回路７は、解析回路３により生成される分析データを被検試料毎に記憶する。記憶回路７は、オーダ情報を予め記憶する。オーダ情報には、試料ＩＤ、測定対象となる試料について必要とされる検査項目、及びその測定順序が含まれている。記憶回路７は、自動分析装置１の各ユニットの一連の動作を１サイクルタイム内で実行させるための各種設定値を記憶する。

制御回路８は、自動分析装置１の中枢として機能するプロセッサである。制御回路８は、記憶回路７に記憶されている動作プログラムを実行することで、この動作プログラムに対応する機能を実現する。

図２及び図３は、図１に示される分析機構２の構成の一例を示す模式図である。図２及び図３に示される分析機構２は、反応ディスク２０１及び試薬庫２０２を備える。

反応ディスク２０１は、環状に配列された複数の反応管２０１１を保持する。反応ディスク２０１は、駆動機構４によって回動と停止とが交互に繰り返される。反応管２０１１は、例えば、ガラスにより形成される。

試薬庫２０２は、試薬を収容する試薬容器を複数保持する試薬庫の一例であり、反応ディスク２０１と隣接して配置される。試薬庫２０２は、試薬容器ラックにより、円周状に複数の試薬容器を保持する。図２及び図３に示される試薬庫２０２内の外円２０２１は、試薬庫２０２内で円周状に配列される試薬容器のうち、外側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。試薬庫２０２内の内円２０２２は、試薬庫２０２内で円周状に配列される試薬容器のうち、内側の円周に配列される試薬容器の開口部の位置を表す。試薬庫２０２に保持されている試薬容器は、反応管２０１１に分注される試薬を収容している。開口部が外円２０２１に沿って配置される試薬容器は、第１試薬を収容している。開口部が内円２０２２に沿って配置される試薬容器は、第２試薬を収容している。第１及び第２試薬は、検査項目毎に使われるものが決められている。試薬容器ラックは、駆動機構４によって試薬庫２０２の中心を回転中心として回動される。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、ラック投入レーン２２０、及びラック移動ユニット２３０を備える。ラック投入レーン２２０は、複数の試料容器１００を保持するサンプルラック１０２が投入される。サンプルラック１０２は、ラック移動ユニット２３０に設けられる搬送アーム２３１によりピックアップ可能な形状を有する。試料容器１００には、標準試料及び被検試料等の試料が収容される。試料容器１００には、試料容器１００に収容される試料の識別情報等が記載される光学式マークが設けられる。ここで、試料の識別情報には、例えば、試料ＩＤ等が含まれる。光学式マークは、試料容器１００に収容される試料の識別情報等を符号化したマーク、例えば、バーコード、１次元コード、及び２次元コード等である。

ラック移動ユニット２３０は、搬送アーム２３１、搬送レール２３２、サンプリングレーン２３３、及びリーダ２３４を備える。

搬送アーム２３１は、駆動機構４によって駆動され、サンプルラック１０２を搬送する。例えば、搬送アーム２３１は、ラック投入レーン２２０における所定の投入位置に載置されているサンプルラック１０２を、搬送レール２３２に沿ってラック投入レーン２２０からサンプリングレーン２３３へ搬送する。

サンプリングレーン２３３は、駆動機構４により、搬入されたサンプルラック１０２を移動させる。例えば、サンプリングレーン２３３は、サンプルラック１０２に保持される試料容器１００各々の開口を、試料を吸引するための所定の位置へ移動させる。サンプリングレーン２３３におけるサンプルラック１０２の移動は、例えば、ベルトコンベア、及びリードスクリュー等により実現される。

リーダ２３４は、例えばサンプリングレーン２３３を移動する試料容器１００に付される光学式マークを読み取り可能な位置に設けられる。リーダ２３４は、試料容器１００に付される光学式マークを読み取る。リーダ２３４は、読み取った光学式マークに基づく試料の識別情報を制御回路８へ出力する。なお、リーダ２３４は、ＲＦＩＤ（Radio Frequency IDentification）等を利用した他のセンサで代替してもよい。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、サンプル分注アーム２０３、サンプル分注プローブ２０４、サンプル分注ユニット２０５、液面検知器２０５１、第１試薬分注アーム２０６、第１試薬分注プローブ２０７、第２試薬分注アーム２０８、第２試薬分注プローブ２０９、及び撹拌ユニット２１０を備える。

サンプル分注アーム２０３は、一端に上下動可能にサンプル分注プローブ２０４を支持する。サンプル分注アーム２０３は、駆動機構４により回動される。サンプル分注アーム２０３が回動されることにより、サンプル分注プローブ２０４は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１、サンプル吸引位置Ｐ２、及びサンプル吐出位置Ｐ３が予め設定されている。サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１は、サンプル分注プローブ２０４を洗浄するための所定の洗浄液が貯留された洗浄プールが設けられている位置であり、例えばサンプル分注アーム２０３によるサンプル分注プローブ２０４の回動時のホームポジションとして設定される。なお、ホームポジションは、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１とは異なる任意の位置であってよい。サンプル吸引位置Ｐ２は、試料を吸引する位置であり、サンプリングレーン２３３上に位置するように設定される。サンプル吐出位置Ｐ３は、サンプル吸引位置Ｐ２において吸引した試料を吐出するための位置であり、反応ディスク２０１に保持される反応管２０１１の回動軌道上に位置するように設定される。

サンプル分注ユニット２０５は、制御回路８の制御に従い、サンプル分注プローブ２０４により、サンプル吸引位置Ｐ２で、試料容器１００に収容される試料を吸引する。また、サンプル分注ユニット２０５は、制御回路８の制御に従い、サンプル分注プローブ２０４により吸引した試料を、サンプル吐出位置Ｐ３に位置する反応管２０１１へ吐出する。また、サンプル分注ユニット２０５は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１にてサンプル分注プローブ２０４へ洗浄液を供給し、サンプル分注プローブ２０４の内壁を洗浄する。

図４は、サンプル分注ユニット２０５の構成例を示す模式図である。図４に示されるサンプル分注ユニット２０５は、一端がサンプル分注プローブ２０４に接続される弾性体であるチューブ２０５３、チューブ２０５３の他端部に接続されるシリンジ２０５４、及びシリンジ２０５４の下端部に設けられる開口に勘合するプランジャ２０５５を備える。また、サンプル分注ユニット２０５は、第１Ａサンプル分注プローブ２０４、チューブ２０５３、及びシリンジ２０５４の各内部に充填される圧力伝達媒体を貯留するタンク２０５６を備える。

また、サンプル分注ユニット２０５は、タンク２０５６に貯留された圧力伝達媒体を吸引し、吸引した圧力伝達媒体を洗浄液としてシリンジ２０５４、及びチューブ２０５３を経由してサンプル分注プローブ２０４内に供給する洗浄ポンプ２０５７を備える。また、サンプル分注ユニット２０５は、シリンジ２０５４と洗浄ポンプ２０５７との間を連通する流路を開閉する開閉弁２０５８を備える。開閉弁２０５８は、例えば電磁弁である。

試料を分注する際、シリンジ２０５４と洗浄ポンプ２０５７との間の流路は、制御回路８により制御される開閉弁２０５８により閉鎖される。駆動機構４がプランジャ２０５５を矢印Ｌ１方向へ吸引駆動することにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吸引位置Ｐ２で試料容器１００内の試料を吸引する。また、駆動機構４がプランジャ２０５５を矢印Ｌ２方向へ吐出駆動することにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吐出位置Ｐ３に位置する反応管２０１１内へ試料を吐出する。

同一試料の分注が終了したとき、又は試料の分注が異常であると判定されたとき、シリンジ２０５４と洗浄ポンプ２０５７との間の流路は、制御回路８により制御される開閉弁２０５８により開放される。洗浄ポンプ２０５７は、駆動機構４により駆動され、サンプル分注プローブ２０４内へ洗浄液を供給する。

液面検知器２０５１は、一端が電気的にサンプル分注プローブ２０４に接続される。液面検知器２０５１は、発振回路、ブリッジ回路、差動アンプ、同期検波回路、積分回路、及び増幅回路等を備える。液面検知器２０５１は、例えばサンプル分注プローブ２０４が試料容器１００内の試料に接触したときの例えば静電容量の変化により、試料へのサンプル分注プローブ２０４の接触を検出する。液面検知器２０５１は、サンプル分注プローブ２０４の接触に関する検出信号を制御回路８へ出力する。

第１試薬分注アーム２０６は、一端に上下動可能に第１試薬分注プローブ２０７を支持する。第１試薬分注アーム２０６は、駆動機構４によって回動される。第１試薬分注アーム２０６が回動されることにより、第１試薬分注プローブ２０７は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、試薬庫２０２の外円２０２１における試薬容器から第１試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した試薬を吐出する第１試薬吐出位置Ｔ１とが設定されている。第１試薬分注プローブ２０７は、制御回路８の制御に従い、試薬庫２０２の外円２０２１における試薬吸引位置に位置する試薬容器から試薬を吸引する。また、第１試薬分注プローブ２０７は、制御回路８の制御に従い、吸引した試薬を、反応ディスク２０１における第１試薬吐出位置Ｔ１に位置する反応管２０１１へ吐出する。

第２試薬分注アーム２０８は、一端に上下動可能に第２試薬分注プローブ２０９を支持する。第２試薬分注アーム２０８は、駆動機構４によって回動される。第２試薬分注アーム２０８が回動されることにより、第２試薬分注プローブ２０９は、円弧状の回動軌道に沿って回動される。この回動軌道上には、試薬庫２０２の内円２０２２における試薬容器から試薬を吸引する試薬吸引位置と、吸引した試薬を吐出する第２試薬吐出位置Ｔ２とが設定されている。第２試薬分注プローブ２０９は、制御回路８の制御に従い、試薬庫２０２の内円２０２２における試薬吸引位置に位置する試薬容器から試薬を吸引する。また、第２試薬分注プローブ２０９は、制御回路８の制御に従い、吸引した試薬を、反応ディスク２０１における第２試薬吐出位置Ｔ２に位置する反応管２０１１へ吐出する。

撹拌ユニット２１０は、撹拌アーム、及び撹拌子を有する。撹拌アームは、先端近傍に、回動可能、かつ、上下動可能に撹拌子を支持する。撹拌ユニット２１０は、制御回路８の制御に従い、反応ディスク２０１における撹拌位置に位置する反応管２０１１へ撹拌子を移動させ、撹拌子により反応管２０１１内で試料及び第１試薬の混合液、又は、試料、第１試薬、及び第２試薬の混合液を撹拌する。

また、図２及び図３に示される分析機構２は、測光ユニット２１１、洗浄ユニット２１２、及び電解質測定ユニット２１３を備える。
測光ユニット２１１は、光源、及び光検出器を有する。測光ユニット２１１は、制御回路８の制御に従い、光源から反応管２０１１へ光を照射する。光検出器は、反応管２０１１内の標準試料と試薬との混合液、又は被検試料と試薬との混合液を通過した光を検出する。光検出器は、検出した光の強度に基づいて例えば吸光度で表される標準データ又は被検データを生成する。測光ユニット２１１は、生成した標準データ及び被検データを、解析回路３へ出力する。

洗浄ユニット２１２は、廃液ノズル、洗浄ノズル、及び乾燥ノズルを備える。洗浄ユニット２１２は、廃液ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管２０１１内の混合液を廃液として吸引する。洗浄ユニット２１２は、洗浄ノズルにより、反応管洗浄位置に位置する反応管２０１１へ純水を吐出し、反応管２０１１を洗浄する。洗浄ユニット２１８は、乾燥ノズルにより、反応管２０１１へ乾燥空気を供給することで、純水により洗浄された反応管２０１１を乾燥させる。

電解質測定ユニット２１３は、反応管２０１１内の混合液中に存在する特定電解質の測定を行う。電解質測定ユニット２１３は、例えば特定電解質から発生するイオン濃度を測定する。

本実施形態に係る制御回路８は、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、図１に示される各種機能を実現する。すなわち、制御回路８は、システム制御機能８１、及び分注制御機能８２を備える。なお、本実施形態では、単一のプロセッサによってシステム制御機能８１、及び分注制御機能８２が実現される場合を説明するが、これに限定されない。例えば、複数の独立したプロセッサを組み合わせて制御回路を構成し、各プロセッサが動作プログラムを実行することによりシステム制御機能８１、及び分注制御機能８２を実現しても構わない。

システム制御機能８１は、入力インタフェース回路５から入力される入力情報に基づき、自動分析装置１における各部を統括して制御する機能である。

分注制御機能８２は、所定のサイクルタイム内に、測定対象となる試料の試料分注に係る一連の動作を制御する機能である。サイクルタイムは、例えば自動分析装置１の各ユニットにおける試料分注、試薬分注、撹拌、測光、及び洗浄等に係る一連の動作に要する時間のうち、最も長い時間に基づいて設定される。分注制御機能８２が実行されると、制御回路８は、記憶回路７に記憶された各種設定値を読み込む。制御回路８は、読み込んだ各種設定値に基づき、駆動機構４を制御し、１サイクルタイム内で、サンプル吸引位置Ｐ２に位置する試料容器１００から試料を吸引し、吸引した試料をサンプル吐出位置Ｐ３に位置する反応管２０１１へ吐出する。

次に、以上のように構成された自動分析装置１の測定対象となる試料を分注する際の動作について説明する。図５は、本実施形態に係る自動分析装置１の測定対象となる試料について、１サイクルタイム内に実行される試料分注についての一連の動作を表すフローチャートの例である。図５に示されるように、自動分析装置１は、試料容器１００に収容されている試料に対して依頼されている検査項目の数が２以上の場合、先頭の検査項目及び２番目以降の検査項目に係る試料の試料分注について、ステップＳ７からステップＳ１５までの共通の動作を行う。先頭の検査項目に係る試料は、例えば各試料容器１００から初めて検査項目の測定に係る一本の反応管２０１１に吐出され、当該試料容器１００に収容されている試料での測定を依頼された検査項目に係る試薬と反応させる試料（当該反応管２０１１に割り当てられている一つの検査項目の測定に供される試料）である。２番目以降の検査項目に係る試料は、例えば複数の検査項目が依頼されている試料において、他の検査項目に係る試料の分注後、当該他の検査項目に係る試料が収容されていた試料容器１００から吸引され、当該他の検査項目の次の検査項目の測定に係る一本の反応管２０１１に吐出され、当該他の検査項目の次の検査項目に係る試薬と反応させる試料（当該他の検査項目の次の検査項目の測定に供される試料）である。以下、図５についての説明では、説明を簡単にするため、試料容器１００に収容されている試料に対して依頼されている検査項目の数が３つである場合を例に説明する。なお、試料に対して依頼されている検査項目の数が２つである場合、及び４つ以上である場合であってもよい。また、測定が開始される前には、例えば入力インタフェース回路５を介してオーダ情報が入力され、記憶回路７に記憶されている。

所定の試料容器１００がサンプル吸引位置Ｐ２に到達すると、図５に示される試料分注についての一連の動作が開始される。

制御回路８は、リーダ２３４により読取られた試料ＩＤに対応するオーダ情報を取得する（ステップＳ１）。制御回路８は、取得したオーダ情報に含まれる先頭の検査項目について、図６に示されるタイミングチャートに従い、試料を分注する。

図６は、本実施形態に係る自動分析装置１において、先頭の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図６に示されるタイミングチャートでは、横軸を時点ｔとし、サイクルタイムの開始時点は０、終了時点はＴで表される。また、図６に示されるタイミングチャートは、ダミー吸引フェーズ及び試料分注フェーズを有する。ダミー吸引フェーズは、ダミー用試料の吸引のみが実行されるフェーズであり、ｔ＝０からτまでの間に設定されている。ダミー用試料は、例えば各試料容器１００から試料を最初に吸引する際に、当該試料容器１００に収容されている試料での測定を依頼された検査項目に係る試薬と反応させない試料（当該試料での検査項目の測定に供されない試料、当該試料での検査項目に係わらない試料）である。ダミー用試料は、最初に吸引された後、当該試料での検査項目に供される反応管２０１１には吐出されない。ダミー用試料は、測定に使用される検査項目に係る試料を、サンプル分注プローブ２０４内に充填される圧力伝達媒体から隔離し、当該検査項目に係る試料における圧力伝達媒体の混入又は圧力伝達媒体への拡散による当該試料の希釈を低減する。時点τは、例えばダミー用試料の吸引に係る動作に要する時間に基づいて決定されている。また、時点τは、例えば検査項目に係る試料の分注に係る動作に要する時間に基づいて決定されてもよい。試料分注フェーズは、検査項目に係る試料の吸引及び吐出が実行されるフェーズであり、ｔ＝τからＴまでの間に設定される。図６に示されるタイミングチャートは、反応ディスク、サンプル分注アームの回動、サンプル分注アームの上下動、及びサンプル分注プローブに関する各動作の開始時点及び終了時点を表す。具体的には、図６において、矩形の立ち上がりは、動作の開始を表し、立ち下がりは、動作の終了を表す。

制御回路８は、図６に示される時点ｔ_１になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から試料吸引位置Ｐ２に移動される（ステップＳ２）。

制御回路８は、図６に示される時点ｔ_２になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、試料吸引位置Ｐ２において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。このとき、制御回路８は、移動の速度が所定の速度Ｖ１となるように、駆動機構４へ駆動パルスを供給する。また、制御回路８は、試料吸引位置Ｐ２に位置する試料容器１００に収容される試料の液面検知を行う。液面検知は、以下のように行われる。すなわち、制御回路８は、液面検知器２０５１からサンプル分注プローブ２０４の接触に関する検出信号が出力されると、サンプル分注プローブ２０４の下降の間に供給した駆動パルス数に基づいて、試料の液面の位置情報を取得する。試料の液面の位置情報は、例えば上死点に位置するサンプル分注プローブ２０４の先端から試料の液面までの距離を表す情報である。取得された位置情報は、例えば記憶回路７に記憶される。なお、記憶回路７に記憶された位置情報は、例えば次の検査項目の分注時に取得される位置情報で上書きされる。

制御回路８は、液面検知の後、サンプル分注プローブ２０４を予め設定された移動量だけ下降させ、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、図６に示される時点ｔ_２から下方向への移動が開始され、上下動のホームポジションである上死点からから試料を吸引可能な停止位置まで下降される（ステップＳ３）。

制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４が試料を吸引可能な停止位置に到達した後、図６に示される時点ｔ_３になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、図４に示されるプランジャ２０５５に対する矢印Ｌ１方向への吸引駆動を開始する。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吸引位置Ｐ２で試料容器１００に収容されたダミー用試料に対応する所定量の試料を吸引する（ステップＳ４）。

制御回路８は、ダミー用試料を吸引した後、図６に示される時点ｔ_４になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、試料吸引位置Ｐ２において、サンプル分注アーム２０３の上方向への移動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料を吸引可能な停止位置から上死点まで上昇される（ステップＳ５）。

制御回路８は、図６に示される時点ｔ_５になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料吸引位置Ｐ２からサンプルプローブ洗浄位置Ｐ１に移動される（ステップＳ６）。

制御回路８は、ステップＳ６の後、図６に示される時点ｔ_６になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から試料吸引位置Ｐ２に移動される（ステップＳ７）。

制御回路８は、図６に示される時点ｔ_７になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、試料吸引位置Ｐ２において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。記憶回路７に記憶された位置情報を読み出す。制御回路８は、サンプル分注アーム２０３を、読み出した位置情報に基づき、上死点から試料の液面の上方近傍、例えば試料の液面の上方へ数パルス分の距離だけ離れた位置まで移動させる。このとき、制御回路８は、移動の速度が速度Ｖ１よりも速い所定の速度Ｖ２となるように、駆動機構４へ駆動パルスを供給する。また、制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料吸引位置Ｐ２に位置する試料容器１００に収容される試料の液面の上方近傍に達すると、移動の速度がＶ１になるように、駆動パルスの供給間隔を変更する。制御回路８は、液面検出器２０５２からサンプル分注プローブ２０４の接触に関する検出信号が出力されると、サンプル分注プローブ２０４の下降の間に供給した駆動パルス数に基づいて、試料の液面の位置情報を取得する。取得された位置情報は、例えば記憶回路７に記憶される。制御回路８は、移動の速度がＶ１に変更された後、サンプル分注プローブ２０４を予め設定された移動量だけ下降させ、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、図６に示される時点ｔ_７から下方向への移動が開始され、上死点からから試料を吸引可能な停止位置まで下降される（ステップＳ８）。

制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料を吸引可能な停止位置に到達した後、図６に示される時点ｔ_８になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、図４に示されるプランジャ２０５５に対する矢印Ｌ１方向への吸引駆動を開始する。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吸引位置Ｐ２で試料容器１００に収容された検査項目に係る試料に対応する所定量の試料を吸引する（ステップＳ９）。

制御回路８は、検査項目に係る試料を吸引した後、図６に示される時点ｔ_９になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、試料吸引位置Ｐ２において、サンプル分注アーム２０３の上方向への移動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料を吸引可能な停止位置から上死点まで上昇される（ステップＳ１０）。

制御回路８は、図６に示される時点ｔ_１０になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料吸引位置Ｐ２からサンプル吐出位置Ｐ３に移動される（ステップＳ１１）。

制御回路８は、図６に示される時点ｔ_１１になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル吐出位置Ｐ３において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、上死点から試料の吐出が可能な停止位置まで下降される（ステップＳ１２）。

制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料の吐出が可能な位置に到達した後、図６に示される時点ｔ_１２になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、図４に示されるプランジャ２０５５に対する矢印Ｌ２方向への吐出駆動を開始する。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吐出位置Ｐ３で反応管２０１１に対し、検査項目に係る試料に対応する所定量の試料を吐出する（ステップＳ１３）。このとき、図６に示されるように、反応ディスク２０１は、サンプル吐出位置Ｐ３にて吐出される試料を、反応管２０１１により収容するために停止している。なお、反応ディスク２０１は、吐出された試料が反応管２０１１に収容された後、所定のタイミングで、次の検査項目に係る試料を収容するための反応管２０１１がサンプル吐出位置Ｐ３に到達するまで駆動機構４により回動される。

制御回路８は、ステップＳ１３において、検査項目に係る試料を吐出した後、図６に示される時点ｔ_１３になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル吐出位置Ｐ３において、サンプル分注アーム２０３の上方向への移動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料を吸引可能な停止位置から上死点まで上昇される（ステップＳ１４）。

制御回路８は、図６に示される時点ｔ_１４になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吐出位置Ｐ３からサンプルプローブ洗浄位置Ｐ１に移動される（ステップＳ１５）。

制御回路８は、ステップＳ１において取得したオーダ情報に含まれる測定対象となる試料に係る検査項目の測定順序を参照し、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目であるか否か判定する（ステップＳ１６）。

制御回路８は、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目でないと判定し（ステップＳ１６のＮｏ）、次の検査項目である２番目の検査項目について、図７に示されるタイミングチャートに従い、ステップＳ７から検査項目に係る試料の試料分注についての動作を開始する。

図７は、本実施形態に係る自動分析装置１において、２番目の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図７に示されるタイミングチャートでは、横軸を時点ｔとし、サイクルタイムの開始時点は０、終了時点はＴで表される。また、図７に示されるタイミングチャートは、試料分注フェーズを有する。試料分注フェーズは、検査項目に係る試料の吸引及び吐出が実行されるフェーズであり、ｔ＝τからＴまでの間に設定される。図７に示されるタイミングチャートは、反応ディスク、サンプル分注アームの回動、サンプル分注アームの上下動、及びサンプル分注プローブに関する各動作の開始時点及び終了時点を表す。

また、図５において、先頭の検査項目についてのステップＳ２乃至ステップＳ１５に係る動作が終了すると、２番目の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る動作が、１サイクルタイム内で実行される。２番目の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る各動作の開始時点は、先頭の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る各動作の開始時点とは異なる。

制御回路８は、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目でないと判定し（ステップＳ１６のＮｏ）、図７に示される時点ｔ₆’になると、駆動機構４を制御し、駆動パルスの供給を開始することで、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から試料吸引位置Ｐ２に移動される（ステップＳ７）。

制御回路８は、図６に示される時点ｔ_７’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、試料吸引位置Ｐ２において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。記憶回路７に記憶された位置情報を読み出す。制御回路８は、サンプル分注アーム２０３を、読み出した位置情報に基づき、上死点から試料の液面の上方近傍、例えば試料の液面の上方へ数パルス分の距離だけ離れた位置まで移動させる。このとき、制御回路８は、移動の速度が速度Ｖ１よりも速い所定の速度Ｖ２となるように、駆動機構４へ駆動パルスを供給する。また、制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料吸引位置Ｐ２に位置する試料容器１００に収容される試料の液面の上方近傍に達すると、移動の速度がＶ１になるように、駆動パルスの供給間隔を変更する。制御回路８は、液面検出器２０５２からサンプル分注プローブ２０４の接触に関する検出信号が出力されると、サンプル分注プローブ２０４の下降の間に供給した駆動パルス数に基づいて、試料の液面の位置情報を取得する。取得された位置情報は、例えば記憶回路７に記憶される。制御回路８は、移動の速度がＶ１に変更された後、サンプル分注プローブ２０４を予め設定された移動量だけ下降させ、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、図６に示される時点ｔ_７’から下方向への移動が開始され、上死点からから試料を吸引可能な停止位置まで下降される（ステップＳ８）。

制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料を吸引可能な停止位置に到達した後、図７に示される時点ｔ_８’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、図４に示されるプランジャ２０５５に対する矢印Ｌ１方向への吸引駆動を開始する。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吸引位置Ｐ２で試料容器１００に収容された検査項目に係る試料に対応する所定量の試料を吸引する（ステップＳ９）。

制御回路８は、検査項目に係る試料を吸引した後、図７に示される時点ｔ_９’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、試料吸引位置Ｐ２において、サンプル分注アーム２０３の上方向への移動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料を吸引可能な停止位置から上死点まで上昇される（ステップＳ１０）。

制御回路８は、図７に示される時点ｔ_１０’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料吸引位置Ｐ２からサンプル吐出位置Ｐ３に移動される（ステップＳ１１）。

制御回路８は、図７に示される時点ｔ_１１’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル吐出位置Ｐ３において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、上死点から試料の吐出が可能な停止位置まで下降される（ステップＳ１２）。

制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料の吐出が可能な位置に到達した後、図７に示される時点ｔ_１２’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、図４に示されるプランジャ２０５５に対する矢印Ｌ２方向への吐出駆動を開始する。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吐出位置Ｐ３で反応管２０１１に対し、検査項目に係る試料に対応する所定量の試料を吐出する（ステップＳ１３）。このとき、図７に示されるように、反応ディスク２０１は、サンプル吐出位置Ｐ３にて吐出される試料を、反応管２０１１により収容するために停止している。

制御回路８は、ステップＳ１３において、検査項目に係る試料を吐出した後、図７に示される時点ｔ_１３’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル吐出位置Ｐ３において、サンプル分注アーム２０３の上方向への移動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料を吸引可能な停止位置から上死点まで上昇される（ステップＳ１４）。

制御回路８は、図７に示される時点ｔ_１４’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吐出位置Ｐ３からサンプルプローブ洗浄位置Ｐ１に移動される（ステップＳ１５）。

制御回路８は、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目でないと判定し（ステップＳ１６のＮｏ）、次の検査項目である最後（３番目）の検査項目について、図８に示されるタイミングチャートに従い、ステップＳ７から検査項目に係る試料の試料分注についての動作を開始する。

図８は、本実施形態に係る自動分析装置１において、最後の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図８に示されるタイミングチャートでは、横軸を時点ｔとし、サイクルタイムの開始時点は０、終了時点はＴで表される。また、図８に示されるタイミングチャートは、試料分注フェーズを有する。試料分注フェーズは、検査項目に係る試料の吸引及び吐出が実行されるフェーズであり、ｔ＝τからＴまでの間に設定される。図８に示されるタイミングチャートは、反応ディスク、サンプル分注アームの回動、サンプル分注アームの上下動、及びサンプル分注プローブに関する各動作の開始時点及び終了時点を表す。

図８に示されるように、最後の検査項目では、２番目の検査項目において実行されるステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る動作に図５に示されるステップＳ１７のプローブ洗浄に係る動作を加えた動作が、１サイクルタイム内で実行される。最後の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る各動作の開始時点は、２番目の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る各動作の開始時点と同一である。

制御回路８は、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目でないと判定し（ステップＳ１６のＮｏ）、図８に示される時点ｔ₆’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から試料吸引位置Ｐ２に移動される（ステップＳ７）。

ステップＳ８乃至ステップＳ１５に係る動作の内容、開始時点及び終了時点については、本実施形態における２番目の検査項目についてのステップＳ８乃至ステップＳ１５に係る動作の内容、開始時点及び終了時点と同様である。

制御回路８は、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目であると判定し（ステップＳ１６のＹｅｓ）、図８に示される時点ｔ_１５’になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。制御回路８は、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、上死点からサンプル分注プローブ２０４の外壁が洗浄可能な停止位置まで下降される。そして、サンプル分注プローブ２０４の外壁は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１に設けられる洗浄プール内に貯留された洗浄液により洗浄される。また、制御回路８は、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、シリンジ２０５４と洗浄ポンプ２０５７との間の流路を開閉弁２０５８により開放する。制御回路８は、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注プローブ２０４内へ、タンク２０５６に貯留された圧力伝達媒体を洗浄液として供給する。これにより、サンプル分注プローブ２０４の内壁は洗浄される（ステップＳ１７）。

以上のように、本実施形態では、自動分析装置１に設けられる制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４を試料容器１００まで移動させる。制御回路８は、サンプル分注プローブ２０４により所定量のダミー用試料を吸引する。制御回路８は、ダミー用試料を吸引した後、ダミー用試料に対応する量の試料をサンプル分注プローブ２０４に保持したままで、サンプル分注プローブ２０４をサンプルプローブ洗浄位o置Ｐ１へ移動させる。これにより、自動分析装置１は、先頭の検査項目に係る試料を、ダミー用試料の吸引とは独立して吸引することになる。そのため、自動分析装置１は、測定が依頼された試料の各検査項目について、最初の吸引と２番目以降の吸引とでサンプル分注プローブの動作条件が同じになる。

したがって、サンプル分注プローブによるダミー用試料吸引が、検査項目に係る試料の測定結果に影響を及ぼすことを抑えることが可能となる。

また、本実施形態では、制御回路８は、先頭の検査項目及び２番目以降の検査項目についての検査項目に係る試料の試料分注において、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１を試料分注の動作開始位置として検査項目に係る試料の試料分注を開始する。サンプル分注アーム２０３が回動することにより、図４に示されるチューブ２０５３には、その軸方向に力のモーメントを有する偶力が働く。この偶力により、チューブ２０５３にはねじれが発生する。チューブ２０５３にねじれが発生すると、シリンジ２０５４から供給される吸引圧力が変化し、測定結果の精度に影響を与える。本実施形態では、ダミー用試料を吸引した後の先頭の検査項目に係るサンプル分注アーム２０３の回動においても、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から先頭の検査項目に係るサンプル分注アーム２０３の回動を開始するため、チューブのねじれの度合いを、先頭の検査項目に係るサンプル分注アーム２０３の回動と２番目以降の検査項目に係るサンプル分注アーム２０３の回動との間で揃えることができる。

また、サンプル吸引位置Ｐ２における上死点と試料を吸引可能な停止位置との間におけるサンプル分注アーム２０３の上下動により、図４に示されるチューブ２０５３には、その軸方向に垂直な方向への変形、すなわち、たわみが発生する。チューブ２０５３にたわみが発生すると、シリンジ２０５４から供給される吸引圧力が変化し、測定結果の精度に影響を与える。本実施形態では、ダミー用試料を吸引した後の、先頭の検査項目に係るサンプル分注アーム２０３の上下動においても、サンプル吸引位置Ｐ２における上死点から先頭の検査項目に係るサンプル分注アーム２０３の下降を開始するため、先頭の検査項目に係るサンプル分注アーム２０３の上下動によるチューブ２０５３のたわみの度合いと、２番目以降の検査項目に係るサンプル分注アーム２０３の上下動によるチューブ２０５３のたわみの度合いとを揃えることができる。これにより、測定が依頼された試料の各検査項目について、最初の吸引と２番目以降の吸引とでサンプル分注プローブの動作条件を合わせることができる。

また、本実施形態では、制御回路８は、ダミー用試料の吸引時に、サンプル分注プローブ２０４を、上死点から試料の液面まで所定の速度Ｖ１で下降させる。制御回路８は、先頭の検査項目及び２番目以降の検査項目に係る試料の吸引時に、サンプル分注プローブ２０４を、速度Ｖ１よりも速い所定の速度Ｖ２で下降させる。これにより、測定が依頼された試料の各検査項目について、サンプル分注プローブ２０４のサンプル吸引位置Ｐ２に位置する試料容器１００内に収容された試料への突入条件を、最初の吸引と２番目以降の吸引とで揃えることが可能となる。

［変形例］
上記実施形態では、２番目以降の検査項目に係る試料の分注の開始時点は、先頭の検査項目に係る試料の分注の開始時点とは異なるものであった。変形例では、２番目以降の検査項目に係る試料の試料分注の開始時点が、先頭の検査項目に係る試料の試料分注の開始時点と同一である場合について説明する。

変形例に係る自動分析装置１Ａは、分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、出力インタフェース回路６、記憶回路７、及び制御回路８Ａを具備する。

分析機構２、解析回路３、駆動機構４、入力インタフェース回路５、出力インタフェース回路６、及び記憶回路７の構成及び機能については上記実施形態と同様である。

変形例に係る制御回路８Ａは、記憶回路７から読み出した動作プログラムを実行することで、システム制御機能８１、及び分注制御機能８２Ａを備える。システム制御機能８１については上記実施形態と同様である。

分注制御機能８２Ａは、前記分注制御機能８２と同じ機能である。分注制御機能８２Ａが実行されると、制御回路８Ａは、記憶回路７に記憶された各種設定値を読み込む。制御回路８Ａは、読み込んだ各種設定値に基づき、駆動機構４を制御し、１サイクルタイム内で、サンプル吸引位置Ｐ２に位置する試料容器１００から試料を吸引し、吸引した試料をサンプル吐出位置Ｐ３に位置する反応管２０１１へ吐出する。さらに、制御回路８Ａは、サンプル分注プローブ２０４のサンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から試料を吸引可能な停止位置までの移動を、検査項目毎に、１サイクルタイム内における同一の開始時点から開始する。

次に、以上のように構成された変形例に係る自動分析装置１Ａの測定対象となる試料を分注する際の動作について説明する。変形例に係る自動分析装置１の測定対象となる試料について、１サイクルタイム内に実行される試料分注についての一連の動作は、上記実施形態と同様であり、図５に示される。以下、図５についての説明では、説明を簡単にするため、試料容器１００に収容されている試料に対して依頼されている検査項目の数が３つである場合を例に説明する。また、測定が開始される前には、例えば入力インタフェース回路５を介してオーダ情報が入力され、記憶回路７に記憶されている。

制御回路８Ａは、リーダ２３４により読取られた試料ＩＤに対応するオーダ情報を取得する（ステップＳ１）。制御回路８は、取得したオーダ情報に含まれる先頭の検査項目について、上記実施形態と同様、図６に示されるタイミングチャートに従い、試料を分注する。

先頭の検査項目についての試料分注に係る図５に示されるステップＳ２以降の動作の内容、開始時点及び終了時点については、上記実施形態と同様である。

次に、制御回路８Ａは、取得したオーダ情報に含まれる２番目の検査項目について、図９に示されるタイミングチャートに従い、試料を分注する。

図９は、変形例に係る自動分析装置１Ａにおいて、２番目の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図９に示されるタイミングチャートでは、横軸を時点ｔとし、サイクルタイムの開始時点は０、終了時点はＴで表される。また、図９に示されるタイミングチャートは、試料分注フェーズを有する。試料分注フェーズは、検査項目に係る試料の吸引及び吐出が実行されるフェーズであり、ｔ＝τからＴまでの間に設定される。図９に示されるタイミングチャートは、反応ディスク、サンプル分注アームの回動、サンプル分注アームの上下動、及びサンプル分注プローブに関する各動作の開始時点及び終了時点を表す。

また、図５において、先頭の検査項目についてのステップＳ２乃至ステップＳ１５に係る動作が終了すると、２番目の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る動作が、１サイクルタイム内で実行される。２番目の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る各動作の開始時点は、先頭の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る各動作の開始時点と同一である。

制御回路８Ａは、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目でないと判定し（ステップＳ１６のＮｏ）、図９に示される時点ｔ₆になると、駆動機構４を制御し、駆動パルスの供給を開始することで、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から試料吸引位置Ｐ２に移動される（ステップＳ７）。

制御回路８Ａは、図９に示される時点ｔ_７になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、試料吸引位置Ｐ２において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。記憶回路７に記憶された位置情報を読み出す。制御回路８Ａは、サンプル分注アーム２０３を、読み出した位置情報に基づき、上死点から試料の液面の上方近傍、例えば試料の液面の上方へ数パルス分の距離だけ離れた位置まで移動させる。このとき、制御回路８Ａは、移動の速度が速度Ｖ１よりも速い所定の速度Ｖ２となるように、駆動機構４へ駆動パルスを供給する。また、制御回路８Ａは、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料吸引位置Ｐ２に位置する試料容器１００に収容される試料の液面の上方近傍に達すると、移動の速度がＶ１になるように、駆動パルスの供給間隔を変更する。制御回路８Ａは、液面検出器２０５２からサンプル分注プローブ２０４の接触に関する検出信号が出力されると、サンプル分注プローブ２０４の下降の間に供給した駆動パルス数に基づいて、試料の液面の位置情報を取得する。取得された位置情報は、例えば記憶回路７に記憶される。制御回路８Ａは、移動の速度がＶ１に変更された後、サンプル分注プローブ２０４を予め設定された移動量だけ下降させ、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、図９に示される時点ｔ_７から下方向への移動が開始され、上死点からから試料を吸引可能な停止位置まで下降される（ステップＳ８）。

制御回路８Ａは、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料を吸引可能な停止位置に到達した後、図９に示される時点ｔ_８になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、図４に示されるプランジャ２０５５に対する矢印Ｌ１方向への吸引駆動を開始する。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吸引位置Ｐ２で試料容器１００に収容された検査項目に係る試料に対応する所定量の試料を吸引する（ステップＳ９）。

制御回路８Ａは、検査項目に係る試料を吸引した後、図９に示される時点ｔ_９になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、試料吸引位置Ｐ２において、サンプル分注アーム２０３の上方向への移動を開始させる。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料を吸引可能な停止位置から上死点まで上昇される（ステップＳ１０）。

制御回路８Ａは、図９に示される時点ｔ_１０になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料吸引位置Ｐ２からサンプル吐出位置Ｐ３に移動される（ステップＳ１１）。

制御回路８Ａは、図９に示される時点ｔ_１１になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル吐出位置Ｐ３において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、上死点から試料の吐出が可能な停止位置まで下降される（ステップＳ１２）。

制御回路８Ａは、サンプル分注プローブ２０４の先端が試料の吐出が可能な位置に到達した後、図９に示される時点ｔ_１２になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、図４に示されるプランジャ２０５５に対する矢印Ｌ２方向への吐出駆動を開始する。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吐出位置Ｐ３で反応管２０１１に対し、検査項目に係る試料に対応する所定量の試料を吐出する（ステップＳ１３）。このとき、図９に示されるように、反応ディスク２０１は、サンプル吐出位置Ｐ３にて吐出される試料を、反応管２０１１により収容するために停止している。

制御回路８Ａは、ステップＳ１３において、検査項目に係る試料を吐出した後、図９に示される時点ｔ_１３になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル吐出位置Ｐ３において、サンプル分注アーム２０３の上方向への移動を開始させる。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、試料を吸引可能な停止位置から上死点まで上昇される（ステップＳ１４）。

制御回路８Ａは、図９に示される時点ｔ_１４になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプル吐出位置Ｐ３からサンプルプローブ洗浄位置Ｐ１に移動される（ステップＳ１５）。

制御回路８Ａは、ステップＳ１において取得したオーダ情報に含まれる測定対象となる試料に係る検査項目の測定順序を参照し、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目であるか否か判定する（ステップＳ１６）。

制御回路８Ａは、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目でないと判定し（ステップＳ１６のＮｏ）、次の検査項目である最後（３番目）の検査項目について、図１０に示されるタイミングチャートに従い、ステップＳ７から検査項目に係る試料の試料分注についての動作を開始する。

図１０は、変形例に係る自動分析装置１Ａにおいて、最後の検査項目について１サイクルタイム内に実行される試料分注に係る各動作の開始及び終了を表すタイミングチャートである。図１０に示されるタイミングチャートでは、横軸を時点ｔとし、サイクルタイムの開始時点は０、終了時点はＴで表される。また、図１０に示されるタイミングチャートは、試料分注フェーズを有する。試料分注フェーズは、検査項目に係る試料の吸引及び吐出が実行されるフェーズであり、ｔ＝τからＴまでの間に設定される。図１０に示されるタイミングチャートは、反応ディスク、サンプル分注アームの回動、サンプル分注アームの上下動、及びサンプル分注プローブに関する各動作の開始時点及び終了時点を表す。

図１０に示されるように、最後の検査項目では、２番目の検査項目において実行されるステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る動作に図５に示されるステップＳ１７のプローブ洗浄に係る動作を加えた一連の動作が、１サイクルタイム内で実行される。最後の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る各動作の開始時点は、２番目の検査項目についてのステップＳ７乃至ステップＳ１５に係る各動作の開始時点と同一である。

制御回路８Ａは、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目でないと判定し（ステップＳ１６のＮｏ）、図１０に示される時点ｔ₆になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注アーム２０３の回動を開始させる。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から試料吸引位置Ｐ２に移動される（ステップＳ７）。

制御回路８Ａは、測定対象となる試料に係る検査項目が最後の検査項目であると判定し（ステップＳ１６のＹｅｓ）、図１０に示される時点ｔ_１５になると、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１において、サンプル分注アーム２０３の下方向への移動を開始させる。制御回路８Ａは、所定回数の駆動パルスを供給した後、駆動パルスの供給を停止する。これにより、サンプル分注プローブ２０４は、上死点からサンプル分注プローブ２０４の外壁が洗浄可能な停止位置まで下降される。そして、サンプル分注プローブ２０４の外壁は、サンプルプローブ洗浄位置Ｐ１に設けられる洗浄プール内に貯留された洗浄液により洗浄される。また、制御回路８Ａは、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、シリンジ２０５４と洗浄ポンプ２０５７との間の流路を開閉弁２０５８により開放する。制御回路８Ａは、駆動パルスの供給を開始することで、駆動機構４を制御し、サンプル分注プローブ２０４内へ、タンク２０５６に貯留された圧力伝達媒体を洗浄液として供給する。これにより、サンプル分注プローブ２０４の内壁は洗浄される（ステップＳ１７）。

変形例では、自動分析装置１Ａに設けられる制御回路８Ａは、サンプル分注プローブ２０４のサンプルプローブ洗浄位置Ｐ１から試料を吸引可能な停止位置までの移動を、検査項目毎に、１サイクルタイム内における同一の開始時点から開始する。これにより、各検査項目に係る試料の吸引及び吐出に係る一連の動作の開始時点を揃うことになる。したがって、測定が依頼された試料の各検査項目について、最初の吸引と２番目以降の吸引とでサンプル分注プローブの動作条件が同じになる。

［他の実施形態］
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態では、制御回路８は、１サイクルタイム内にダミー用試料の吸引、及び、先頭の検査項目に係る試料の試料分注を実行するようにしていたがこれに限定されない。例えば、設定可能なサイクルタイムの値がダミー用試料の吸引に係る動作及び先頭の検査項目に係る試料の試料分注に係る動作を行う時間としては十分でない場合、制御回路８は、図１１に示されるように、最初の１サイクルタイム内にダミー用試料の吸引に係る動作のみを開始時点ｔ_１’、ｔ_２’、ｔ_３’、ｔ_４’、及びｔ_５’からそれぞれ実行するようにし、次の１サイクルタイム内に、先頭の検査項目に係る試料の試料分注に係る動作を実行するようにしてもよい。

また、上記実施形態では、制御回路８は、１サイクルタイムの中で、先頭の検査項目と２番目以降の検査項目との間で、検査項目に係る試料の試料分注についての一連の動作を揃えるように制御していたがこれに限定されない。例えば、制御回路８は、検査項目に係る試料の試料分注と同様に、先頭の検査項目と２番目以降の検査項目との間で、試薬の試薬分注についての一連の動作を揃えるように制御してもよい。

また、上記実施形態に係る自動分析装置では、サンプルラック１０２に保持された試料容器１００から試料を吸引するようにしていたがこれに限定されない。例えば、自動分析装置は、サンプルラック１０２の代わりにサンプルディスクを用いて試料容器１００を保持するようにしてもよい。このとき、サンプルディスクに保持された試料容器１００から試料がサンプル分注プローブ２０４により吸引される。

また、上記実施形態に係る自動分析装置では、試料分注に必要な構成を１系統備え、１サイクルタイム内に、試料分注に係る一連の動作を実行するようにしていたがこれに限定されない。例えば、自動分析装置は、試料分注に必要な構成を複数系統備え、１サイクルタイム内に、試料分注に係る一連の動作を実行するようにしてもよい。

上記説明において用いた「プロセッサ」という文言は、例えば、ＣＰＵ（central processing unit）、ＧＰＵ(Graphics Processing Unit)、或いは、特定用途向け集積回路（Application Specific Integrated Circuit：ＡＳＩＣ））、プログラマブル論理デバイス（例えば、単純プログラマブル論理デバイス（Simple Programmable Logic Device：ＳＰＬＤ）、複合プログラマブル論理デバイス（Complex Programmable Logic Device：ＣＰＬＤ）、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ（Field Programmable Gate Array：ＦＰＧＡ））等の回路を意味する。プロセッサは記憶回路に保存されたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサ毎に単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて１つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図１における複数の構成要素を１つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

１、１Ａ…自動分析装置、２…分析機構、３…解析回路、４…駆動機構、５…入力インタフェース回路、６…出力インタフェース回路、７…記憶回路、８、８Ａ…制御回路、１３…第１試薬ラック、１６…第２試薬ラック、２３…第１試薬分注プローブ、８１…システム制御機能、８２、８２Ａ…分注制御機能、１００…試料容器、１０２…サンプルラック、２０１…反応ディスク、２０２…試薬庫、２０３…サンプル分注アーム、２０４…サンプル分注プローブ、２０５…サンプル分注ユニット、２０６…第１試薬分注アーム、２０７…第１試薬分注プローブ、２０８…第２試薬分注アーム、２０９…第２試薬分注プローブ、２１０…撹拌ユニット、２１１…測光ユニット、２１２…洗浄ユニット、２１３…電解質測定ユニット、２１８…洗浄ユニット、２２０…ラック投入レーン、２３０…ラック移動ユニット、２３１…搬送アーム、２３２…搬送レール、２３３…サンプリングレーン、２３４…リーダ、２４４…サンプリングレーン、２０１１…反応管、２０２１…外円、２０２２…内円、２０５１…液面検知器、２０５３…チューブ、２０５４…シリンジ、２０５５…プランジャ、２０５６…タンク、２０５７…洗浄ポンプ、２０５８…開閉弁。

Claims

試料容器内に収容されている試料を、前記試料に対して設定される検査項目毎に吸引し、当該検査項目毎に対応する反応容器に吐出する分注プローブと、
前記試料容器へ前記分注プローブを移動させ、前記試料容器からダミー用試料を吸引し、前記ダミー用試料を保持したままで、所定位置まで前記分注プローブを移動させる分注制御部と
を具備する自動分析装置。
前記所定位置は、前記分注プローブの回動軌道上の任意の位置である請求項１に記載の自動分析装置。
前記所定位置は、前記試料の液面に向けて下降を開始する下降開始位置である請求項１に記載の自動分析装置。
前記分注制御部は、検査項目に係る試料を吸引する際に前記所定位置から前記分注プローブの移動を開始する請求項１乃至３のうちいずれかに記載の自動分析装置。
前記分注制御部は、前記分注プローブの前記所定位置から前記試料容器への移動を、前記検査項目毎に、予め設定されるサイクルタイム内における同一の開始時点から開始する請求項４記載の自動分析装置。
前記分注制御部は、前記ダミー用試料の吸引、及び先頭の検査項目に係る試料の吸引を、同一のサイクルタイム内で前記分注プローブに行わせる請求項５記載の自動分析装置。
前記分注制御部は、前記ダミー用試料の吸引、及び先頭の検査項目に係る試料の吸引を、異なるサイクルタイム内で前記分注プローブに行わせる請求項５記載の自動分析装置。
前記分注制御部は、前記ダミー用試料を吸引する際には、前記分注プローブを前記下降開始位置から前記試料の液面に向かって所定の下降速度で下降させ、先頭及び２番目以降の検査項目に係る試料を吸引する際には、前記下降速度よりも速い下降速度で前記分注プローブを液面へ下降させる請求項３に記載の自動分析装置。