JP2018112530A - 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム - Google Patents

計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム Download PDF

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Abstract

【課題】ユーザの利便性の点で有利な計測システムを提供する。【解決手段】計測装置は、面の反射特性を計測する計測部と、前記計測部により前記反射特性が計測される前記面における計測領域を撮像して当該計測領域の画像を得る撮像部と、前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる制御部と、を含み、前記制御部は、前記複数の計測結果のうち選択された計測結果に対応する、前記撮像部により得られた前記画像を、前記複数の計測結果とともに前記表示部に表示させる。【選択図】図6

Description

本発明は、計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラムに関する。
印刷面や塗装面、製品外面などの面の評価には、JISやISOで規定される色や光沢、拡散、曇りなどの指標値が反射特性として用いられる。このような反射特性を計測する計測装置では、反射特性を計測する対象の領域(計測領域)に例えばキズなどの欠陥が生じている場合、その欠陥に起因して反射特性の指標値が変化しうる。そのため、計測装置では、計測領域の反射特性を計測するとともに当該計測領域を撮像し、それにより得られた計測領域の画像を反射特性の計測結果と対応付けて記憶しておくことが好ましい。特許文献1には、反射特性が計測された領域をカメラによって撮像し、それにより得られた画像を記憶する方法が提案されている。
特開2002−508076号公報
ユーザは、複数回にわたって反射特性を計測した後に、当該複数回の計測により得られた複数の計測結果(指標値)の中から特定の計測結果を見つけ出し、見つけ出した計測結果に対応付けて記憶された計測領域の画像を確認したい場合がありうる。また、当該複数の計測結果の中から、当該画像を参照することにより計測結果を特定(同定)したい場合もありうる。例えば、そのような場合に、当該複数の計測結果と当該画像とをユーザが容易に確認することができるようにすることが、ユーザにとって利便性の点で好ましい。
そこで、本発明は、計測結果を利用するのに利便性の点で有利な計測装置を提供することを例示的目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の一側面としての計測装置は、面の反射特性を計測する計測部と、前記計測部により前記反射特性が計測される前記面における計測領域を撮像して当該計測領域の画像を得る撮像部と、前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる制御部と、を含み、前記制御部は、前記複数の計測結果のうち選択された計測結果に対応する、前記撮像部により得られた前記画像を、前記複数の計測結果とともに前記表示部に表示させることを特徴とする。
本発明の更なる目的又はその他の側面は、以下、添付図面を参照して説明される好ましい実施形態によって明らかにされるであろう。
本発明によれば、例えば、計測結果を利用するのに利便性の点で有利な計測装置を提供することができる。
計測システムの外観図である。 計測装置の内部構成をY方向から見た図である。 計測装置の内部構成をX方向から見た図である。 第2部分領域の画像を示す図である。 被計測面の反射特性を計測する方法を示すフローチャートである。 一覧ウィンドウを示す図である。 詳細ウィンドウを示す図である。 一覧ウィンドウを示す図である。
以下、添付図面を参照して、本発明の好適な実施の形態について説明する。なお、各図において、同一の部材ないし要素については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
[計測システムの構成]
本発明に係る計測システム100(計測装置)の構成について、図1〜図3を参照しながら説明する。図1は、計測システム100の外観図であり、図2は、計測装置10の内部構成をY方向から見た図であり、図3は、計測装置10の内部構成をX方向から見た図である。計測システム100は、計測装置10と情報処理装置18(コンピュータ)とを含みうる。情報処理装置18は、例えば、CPU等を有する処理部18aと、メモリ等を有する記憶部18bと、計測装置10による計測結果を表示部18cに表示させる表示制御部18d(制御部)と、マウスやキーボード等を有する入力部18eとを含みうる。表示部18cは、LCD等を含みうる。情報処理装置18(処理部18a)は、無線やケーブルなどを介して計測装置10と接続され、制御部16で求められた反射特性(指標値)、および撮像部13で得られた被計測面20(第2部分領域22)の画像を計測装置10(制御部16)から取得しうる。
計測装置10は、例えば、筐体11、検出部12、撮像部13、表示部14a、表示制御部14(制御部)、操作部15(入力部)および制御部16を含みうる。そして、計測装置10は、筐体11により外光を遮断した状態で筐体11の開口部17を介して被計測面20の反射特性(指標値)を計測する。制御部16は、例えばCPU等を有する処理部16aと、メモリ等を有する記憶部16bとを含み、検出部12、撮像部13、表示制御部14および操作部15を制御する。また、反射特性は、鏡面光沢度、ヘイズ、DOI(Distinctness of Image)および写像性のうち少なくとも1つを指標値として含みうる。
筐体11は、例えば、開口部17が形成された第1面11aと、第1面11aの反対側の第2面11bと、側面11cとを有し、第1面11aが被計測面側になるように(第1面11aが被計測面に対向するように)被計測面上に載置される。筐体内には、検出部12、撮像部13、表示制御部14および制御部16が設けられ、筐体11の第2面11bには、表示部14a(ディスプレイ)および操作部15(ボタン群)が設けられる。表示部14と操作部15とは、筐体上(第2面11b)において互いに隣接して設けられていることが操作性の点で好ましい。また、筐体11の側面11cには、ユーザの指を引っ掛けて握り易くするための凹部11d(把持部)が形成されている。
検出部12は、筐体11の開口部17が位置する被計測面20の領域のうち第1部分領域21(後述する撮像部13により撮像される被計測面20の領域の一部)に光を照射して、第1部分領域21で反射された光を検出する。検出部12は、図2に示すように、例えば、第1部分領域21に光を照射する照射部と、第1部分領域21で反射された光を受光する受光部とを含みうる。照射部は、光源12aとレンズ12bとを含み、第1部分領域21に光を照射する。光源12aは、光源制御回路12cに接続されており、制御部16から光源制御回路12cに送られてきた信号に応じて発光強度が調整される。そして、光源12aから射出された光は、レンズ12bにより平行光に(コリメート)されて第1部分領域21に入射する。
また、受光部は、センサ12dとレンズ12eとを含み、第1部分領域21で反射された光を受光する(検出する)。センサ12dは、例えば、CCDやCMOSなどで構成された光電変換素子が2次元的に配列されたエリアセンサを含み、第1部分領域21で反射されてレンズ12eにより集光された光を受光して、第1部分領域21からの反射光の強度分布を検出する。これにより、制御部16(処理部16a)は、センサ12dから出力された反射光の強度分布データ(検出部12での検出結果)に基づいて、第1部分領域21の反射特性を求めることができる。つまり、計測装置10では、検出部12および制御部16(処理部16a)が、被計測面20の反射特性を計測する計測部を構成し、第1部分領域21が、計測部により反射特性が計測される計測領域となる。
制御部16により求められた第1部分領域21の反射特性を示す値(指標値)は、表示制御部14により、筐体11の第2面11bに設けられたLCDなどの表示部14aに表示(出力)される。また、計測装置10の動作条件などの各種設定は、ユーザが操作部15を操作することによって行われる。操作部15は、筐体11の第2面11bに設けられた複数のボタンを含む。例えば、制御部16は、ユーザによって操作部15の複数のボタンのうちボタン15aが押されたことで生成される信号(操作部15により入力された信号)を検知することにより、被計測面20の反射特性の計測を開始する。本実施形態の操作部15は、複数のボタンを有するが、それに限られず、例えば、表示部14aをタッチパネル式とし、当該表示部14aを操作部15として用いてもよい。
ここで、被計測面20の反射特性を計測する際に被計測面20に入射させる光の入射角θ(被計測面20で反射される光の反射角θ’)は、JISやISOなどに従って、反射特性の指標(規格)ごとに規定される。例えば、反射特性の指標として鏡面光沢度を計測する場合では、入射角θ(反射角θ’)は、20度、45度、60度、75度および85度のいずれかに規定される。また、反射特性の指標としてヘイズを計測する場合では、入射角θ(反射角θ’)は、20度および30度のいずれかに規定される。反射特性の指標として写像性を計測する場合では、入射角θ(反射角θ’)は、45度および60度のいずれかに規定される。反射特性の指標としてDOIを計測する場合では、入射角θ(反射角θ’)は、20度および30度のいずれかに規定される。
図2に示す計測装置10では、1つの検出部12が設けられており、1種類の入射角θ(反射角θ’)において被計測面20の反射特性を計測している。しかしながら、前述のように入射角θ(反射角θ’)は、反射特性の指標(規格)ごとに規定される。そのため、複数種類の入射角θ(反射角θ’)で被計測面20の反射特性を計測することができるように、入射角θ(反射角θ’)が互いに異なる複数の検出部12を計測装置10に設けてもよい。例えば、入射角θ(反射角θ’)が20度となる検出部12と、入射角θ(反射角θ’)が60度となる検出部12とを計測装置10に設けると、鏡面光沢度、ヘイズ、写像性およびDOIの全てを計測することが可能となる。また、複数の検出部12を設けることに限られず、1つの検出部12における入射角θ(反射角θ’)を変更することができるように当該検出部12を駆動する駆動部を計測装置10に設けてもよい。
撮像部13は、筐体11の開口部17を介して被計測面20を撮像する。撮像部13によって撮像される被計測面20の第2部分領域22は、検出部12によって反射光が検出される第1部分領域21を含み且つ第1部分領域21より大きい(面積が大きい)領域であるとよい。即ち、第1部分領域21は、第2部分領域22の一部であるとよい。
撮像部13は、図3に示すように、例えば、第2部分領域22に光を照射する光源13aと、光が照射された第2部分領域22を撮像するカメラ13bとを有する。本実施形態では、第2部分領域22に斜めから光を照射し、第2部分領域22を斜めから撮像するように光源13aおよびカメラ13bが配置されている。具体的には、光源13aからの光の主光線を第2部分領域22に入射させる角度(照明角α)が60度となるように光源13aが配置され、第2部分領域22を撮像する角度(撮像角β)が45度となるようにカメラ13bが配置される。つまり、照明角αより撮像角βの方が小さくなるように光源13aおよびカメラ13bが配置される。照明角αおよび撮像角βは任意に設定することができるが、このような光源13aおよびカメラ13bの配置は筐体内の空間が狭いときに有利である。筐体内の空間が広く、筐体11と干渉しないのであれば、第2部分領域22に上方から光を照射し、第2部分領域22を上方から撮像するように光源13aおよびカメラ13bを配置することもできる。
光源13aは、第2部分領域22に光を照射する(第2部分領域22を照明する)。光源13aは、光源制御回路13cに接続されており、制御部16から光源制御回路13cに送られてきた信号に応じて発光強度が調整されうる。光源13aとしては、カメラ13bの画角、および開口部17に対するカメラ13bの配置に応じて決定される第2部分領域22の全体に光が照射されるように、角度γ以上の指向特性を有する光源(例えばLEDなど)が用いられることが好ましい。本実施形態の光源13aは、検出部12が第1部分領域21に光を照射する方向(方位)に対して垂直な方向から第2部分領域22に光を照射するように構成されているが、第2部分領域22に光を照射する方向は任意に設定することができる。
また、カメラ13bは、例えばCCDカメラやCMOSカメラなどによって構成され、光源13aによって照明された第2部分領域22を撮像し、それにより得られた第2部分領域22の画像データ(映像データ)を出力する。そして、撮像部13で得られた第2部分領域22の画像(映像)は、表示制御部14によって表示部14aに表示される。ここで、表示部14aに表示される第2部分領域22の画像は、第2部分領域22における第1部分領域21の位置を示す情報(以下、第1部分領域21の位置情報と称する)を有する。これにより、ユーザは、反射特性を計測すべき計測領域(第1部分領域21)だけでなく、その周辺も表示部14で視認することができる。そのため、被計測面20における計測対象領域に当該計測領域が配置されているように筐体11(検出部12、撮像部13)を容易に且つ正確に位置決めすることができる。
第1部分領域21の位置情報を有する第2部分領域22の画像を生成する1つの方法としては、例えば、検出部12により第1部分領域21に光を照射しながら、撮像部13により第2部分領域22に光を照射して当該第2部分領域22を撮像する方法がある。この方法では、第2部分領域22における第1部分領域21以外の領域に撮像部13からの光のみが照射され、第1部分領域21に撮像部13からの光と検出部12からの光との双方が照射される。そのため、撮像部13で得られて表示部14aに表示される第2部分領域22の画像では、図4に示すように、第1部分領域21に対応する部分31の明度が、それ以外(周辺)の部分32の明度より大きくなる。つまり、第1部分領域21に対応する部分31とそれ以外の部分32との明度の差を、第1部分領域21の位置情報として生成することができる。また、第1部分領域21の位置情報を有する第2部分領域22の画像を生成する他の方法として、第1部分領域21を示すマーク等を、第1部分領域21の位置情報として、撮像部13により得られた第2部分領域22の画像に重ねて表示する方法もある。
図4は、表示部14aに表示された第2部分領域22の画像を示す図である。計測装置10では、撮像部13によって第2部分領域22を斜めから撮像しているため、撮像部13で得られた第2部分領域22の画像は台形形状となる。そのため、表示制御部14によって第2部分領域22の画像を表示部14aに表示する際には、撮像部13で得られた台形形状の画像に対して幾何学的な画像変換を行い、図4に示すような画像を得ている。
次に、計測装置10を用いて被計測面20の反射特性を計測する方法について、図5を参照しながら説明する。図5は、被計測面20の反射特性を計測する方法を示すフローチャートである。図5に示すフローチャートの各工程は、制御部16によって制御されうる。
S11では、制御部16は、検出部12からの光を第1部分領域21に照射し、且つ撮像部からの光を第2部分領域22に照射している状態で、第2部分領域22を撮像部13に撮像させる。そして、撮像部13により得られた第2部分領域22の画像(映像)を表示制御部14により表示部14aに表示する。S12では、制御部16は、ユーザからの信号を検知したか否かを判断する。制御部16がユーザからの信号を検知していない場合にはS11に戻り、ユーザからの信号を検知した場合にはS13に進む。
S11およびS12の工程では、ユーザが、表示部14aに表示された画像に基づいて、反射特性を計測すべき被計測面20の対象領域に計測装置10の計測領域(第1部分領域21)が配置されるように計測装置10の位置決めを行っている状態である。ユーザは、例えば、計測装置10の位置決めを終了すると、反射特性の計測を計測装置10に開始させるために操作部15のセンサを操作する(例えば、ボタン15aを押す)。このとき、計測装置10では、センサ(ボタン15a)からの出力が制御部16に送信され、制御部16は、当該出力をユーザからの信号(操作部15により入力された信号)として検知することができる。
S13では、制御部16は、撮像部13で撮像されて表示部14aに表示された第2部分領域22の画像を記憶部16bに記憶する。S14では、制御部16は、検出部12からの光以外の光が検出部12のセンサに入射することを防ぐため、撮像部13による第2部分領域22への光の照射を終了(中断)し、検出部12からの光のみを第1部分領域21に照射する。そして、制御部16は、第1部分領域21で反射された光を検出部12(センサ12d)に検出させる。ここで、計測装置10に複数の検出部12が設けられている場合には、制御部16は、第1部分領域21に光を照射して第1部分領域21で反射した光を検出する工程を、各検出部12に順番に行わせる。
S15では、制御部16は、検出部12での検出結果(センサ12dから出力された反射光の強度分布データ)に基づいて第1部分領域21の反射特性を求める。このとき、制御部16は、求めた反射特性を、S13において記憶部16bに記憶された第2部分領域22の画像と対応付けて(紐付けて)当該記憶部16bに記憶する。これにより、ユーザは、記憶部16bに記憶された反射特性が被計測面上のどこの領域の反射特性なのかを容易に把握することができる。S16では、制御部16は、S15で求めた反射特性を示す値を表示制御部14により表示部14aに表示する。このとき、制御部16は、S13において記憶部16aに記憶された第2部分領域22の画像と反射特性を示す値とを重ねて表示部14aに表示してもよいし、反射特性を示す値のみを表示部14aに表示してもよい。
上述の工程により1回の反射特性の計測が終了するが、制御部16は、所定の時間(例えば3秒間など)が経過した後、S11に戻り、撮像部13によって得られた第2部分領域22の画像(映像)を表示制御部14により表示部14aに表示する。これにより、ユーザは、被計測面20の反射特性の計測を引き続き行うことができる。
ユーザは、複数回にわたって反射特性を計測した後に、複数回の反射特性の計測により得られた複数の計測結果(反射特性の指標値)を確認したい場合がある。例えば、ユーザは、複数の計測結果の中から特定の計測結果(例えば、異常な計測結果)を見つけ出し、見つけ出した計測結果に対応付けて記憶された計測領域(第2部分領域22)の画像を確認したい場合がありうる。そのため、当該複数の計測結果と計測領域の画像とをユーザが容易に確認することができるように表示することが好ましい。そこで、計測システム100は、複数の計測結果のそれぞれに対応する、撮像部13により得られた複数の画像と、複数の計測結果とのうちの一方と、該一方のうちユーザにより選択された1つに対応する、他方のうちの1つとをともに表示部に表示させる。当該表示部とは、計測装置10の表示部14aおよび情報処理装置18の表示部18cの少なくとも一方を指す。
<第1実施形態>
本実施形態の計測システム100は、複数回の反射特性の計測により得られた複数の計測結果の一覧を表示する。そして、複数の計測結果の一覧のうちユーザにより選択された計測結果に対応付けて記憶された計測領域(第2部分領域22)の画像を、複数の計測結果の一覧ととともに表示する。以下では、情報処理装置の処理部18aが、表示制御部18d(制御部)によって複数の計測結果の一覧を、計測装置10(筐体11)の外部に設けられた情報処理装置18の表示部18cに表示する方法について説明する。しかしながら、それに限られず、計測装置10の制御部16(処理部16a)が、筐体11に設けられた表示部14aに表示制御部14によって複数の計測結果の一覧を表示する際にも同様の方法を適用することができる。また、処理部18aは、複数の計測結果の一覧を表示制御部18dによって表示部18cに表示する機能を有したソフトウェアを含みうる。
図6は、複数回(5回)にわたる反射特性の計測により得られた複数の計測結果の一覧が表示された表示部18cの画面(一覧ウィンドウ40)の一例を示す図である。処理部18aは、一覧ウィンドウ40のデータ受信ボタン41が入力部18eを介してユーザにより押下されると、複数回にわたる反射特性の計測により得られ且つ制御部16に記憶された複数のデータを、無線やケーブルを介して制御部16から取得する。各データは、計測部(検出部12および制御部16)で得られた反射特性の計測結果(指標値)と撮像部13で得られた計測領域の画像とを含みうる。また、各データは、計測結果および計測領域の画像に加えて、被計測面20の属性や、被計測面20上における計測位置、計測日時などの情報も含んでもよい。被計測面20の属性とは、例えば、被計測面20の種類や材質、サンプル番号などを含みうる。これらの情報は、例えば、反射特性を計測する際に、筐体11に設けられたボタン群15を介してユーザにより設定されうるが、処理部18aが制御部16から複数のデータを取得した際に、入力部18eを介してユーザにより設定されてもよい。
次に、処理部18aは、取得した複数のデータを記憶部18bに記憶するとともに、複数のデータに基づいて、複数の計測結果の一覧を一覧ウィンドウ40の領域42(第1領域)に表示制御部18dによって表示する。ここで、本実施形態の処理部18a(表示制御部18d)は、図6に示すように、1つの計測結果における反射特性の指標値として、鏡面光沢度、ヘイズ、DOIおよび写像性を表示しているが、それらのうちの少なくとも1つを表示するように設定されてもよい。また、処理部18aは、図6に示すように、領域42に計測日時を表示しているが、計測日時に加えて(または、計測日時に代えて)被計測面20の属性や被計測面20上における計測位置などの情報を表示してもよい。
このように反射特性の計測結果の一覧を一覧ウィンドウ40の領域42に表示することにより、ユーザは、複数回にわたる反射特性の計測により得られた複数の計測結果を容易に比較することができる。例えば、ユーザは、複数の計測結果の中から異常な計測結果を容易に見つけ出すことができる。
また、処理部18aは、複数の計測結果の一覧のうちユーザによって選択された指標値に対応付けて記憶された計測領域(第2部分領域22)の画像を、一覧ウィンドウ40の領域43(第2領域)にサムネイル表示する。例えば、図6に示すように、領域42に表示された複数の計測結果の一覧の中からユーザによって1つの計測結果が選択されると、処理部18aは、ユーザによって選択された計測結果(図6ではNo.1)を強調表示する(例えば、選択マーク44を表示する)。そして、処理部18aは、ユーザによって選択された計測結果(選択マーク44が表示された計測結果)に対応付けて記憶された計測領域の画像(サムネイル画像)を、複数の計測結果の一覧とともに、一覧ウィンドウ40の領域43に表示する。このようにユーザにより選択された計測結果に対応付けられた計測領域の画像を表示することで、ユーザは、選択した計測結果とそれに対応する計測領域の画像とを容易に確認することができる。本実施形態では、複数の計測結果の一覧が表示される領域42と計測領域の画像が表示される領域43とを同一のウィンドウ内に表示している例について説明したが、それに限られるものではなく、領域42と領域43とを別々のウィンドウで表示してもよい。
ここで、ユーザは、計測領域の画像を詳細に確認したい場合には、入力部18eを介して領域43を押下する、もしくは選択マーク44が表示された計測結果をさらに押下する。このとき、処理部18aは、表示タブを切り替え、図7に示すように、表示部18cの画面に計測領域の画像を拡大表示する。図7は、計測領域の画像が拡大表示された表示部18cの画面(詳細ウィンドウ50)を示す図である。詳細ウィンドウ50では、ユーザにより選択された計測結果に対応付けられた計測領域の画像が領域51に拡大表示され、当該計測結果(反射特性の指標値)や計測日時の情報が領域52に表示される。領域52には、計測結果や計測日時に加えて、被計測面20の属性や被計測面20上における計測位置などの情報を表示してもよい。また、詳細ウィンドウ50の戻るボタン53または進むボタン54がユーザにより入力部18eを介して押下されると、処理部18aは、詳細ウィンドウ50に表示したデータ(計測領域の画像および反射特性の指標値)を、別のデータに切り替えて表示する。さらに、ユーザによって画面上の一覧タブ55が押下されると、処理部18は、詳細ウィンドウ50から一覧ウィンドウ40に切り替えて表示する。
ここで、処理部18aは、複数の計測結果の各々における反射特性の指標値が許容範囲内にあるか否かを判定し、複数の計測結果の一覧とともに当該判定結果を表示部18cに表示制御部18dによって表示してもよい。例えば、反射特性の各指標値(鏡面光沢度、ヘイズ、DOIおよび写像性のそれぞれ)についての許容範囲が、入力部18eを介してユーザにより処理部18aに予め設定される。そして、処理部18aは、図6に示すように、複数の計測結果の一覧において、許容範囲内にない指標値と許容範囲内にある指標値とを識別可能に表示する。識別可能に表示する1つの方法としては、複数の計測結果の一覧において、許容範囲内にない指標値(または、許容範囲内にある指標値)を、ハイライト表示するなどの強調表示を行う。図6に示す例では、許容範囲内にない指標値がハイライト表示されている。即ち、複数の計測結果のそれぞれは、反射特性(指標値)が許容範囲内にないことを示す情報を含む。
更に、処理部18aは、ユーザによって予め設定された論理式に基づいて合否判定した結果を、図6に示すように、複数の計測結果の一覧とともに領域42に表示してもよい。論理式は、1つの計測結果における反射特性の各指標値が許容範囲内に収まっているか否かの判定結果を演算要素として、当該1つの計測結果についての被計測面20の反射特性を総合的に評価するための式であり、ユーザによって任意に設定されうる。例えば、1つの計測結果における反射特性において、指標値A(例えば鏡面光沢度)が許容範囲内にあり、指標値B(例えばヘイズ)および指標値C(例えばDOI)の少なくとも一方が許容範囲内にある場合に合格である(規定条件を満たしている)とする。このとき、論理式は、論理積の記号「*(AND)」や論理和の記号「+(OR)」を用いて、「A*(B+C)」と表わされる。処理部18aは、上述の論理式を用いて、各計測結果について合否判定を行う。
図6に示す例では、No.1の計測結果では、ヘイズ(指標値B)とDOI(指標値C)が共に許容範囲内にないため、上記の論理式に基づいた合否判定の結果は「不合格」であり、合否判定の欄に「NG」が表示される。一方、No.5の計測結果では、DOI(指標値C)が許容範囲内にないものの、鏡面光沢度(指標値A)とヘイズ(指標値B)が許容範囲内にあるため、上記の論理式に基づいた合否判定の結果は「合格」であり、合否判定の欄に「OK」が表示される。ここで、合否判定の欄に表示される記号は、「OK」や「NG」に限られるものではなく、例えば、「○」や「×」、「合格」や「不合格」など、合否判定の結果を識別可能な記号であればよい。このように合否判定の結果を表示することにより、ユーザは、複数の計測結果を容易に比較することができ、例えば、複数の計測結果の一覧の中から異常な計測結果をさらに容易に見つけ出すことができる。
上述したように、本実施形態の計測システム100は、複数回の反射特性の計測により得られた複数の計測結果の一覧を表示する。そして、複数の計測結果の一覧のうちユーザにより選択された計測結果に対応付けて記憶された計測領域(第2部分領域22)の画像を、当該複数の計測結果の一覧とともに表示する。これにより、ユーザは、複数の計測結果を容易に比較することができるとともに、選択された計測結果に対応付けられた計測領域の画像を容易に確認することができる。ここで、本実施形態では、データ受信ボタン41が押下されたことによって、制御部16に記憶された複数の計測結果を一覧表示する例について述べた。しかしながら、それに限られるものではなく、ファイル読込ボタン45が押下されたことによって、情報処理装置18(記憶部18b)に既に記憶された複数の計測結果を一覧表示してもよい。
<第2実施形態>
第1実施形態では、複数回の反射特性の計測によって得られた複数の計測結果の一覧を表示し、当該計測結果の一覧のうちユーザによって選択された計測結果に対応付けられた計測領域の画像を、当該計測結果の一覧とともに表示する例について説明した。第2実施形態では、複数回の反射特性の計測において撮像部13で得られた複数の計測領域の画像の一覧を表示する。そして、当該画像の一覧のうちユーザによって選択された画像に対応付けられた反射特性の計測結果(指標値)を当該画像の一覧とともに表示する。それ以外の構成は、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
図8は、複数回(5回)の反射特性の計測において撮像部13により得られた複数の画像(計測領域の画像)の一覧が表示された表示部18cの画面(一覧ウィンドウ60)の一例を示す図である。処理部18aは、一覧ウィンドウ60のデータ受信ボタン61が入力部18eを介してユーザによって押下されると、複数回にわたる反射特性の計測により得られ且つ制御部16に記憶された複数のデータを、無線やケーブルを介して制御部16から取得する。各データは、上述したように、計測部(検出部12および制御部16)で得られた反射特性の計測結果(指標値)と撮像部13で得られた計測領域の画像とを含みうる。そして、処理部18aは、取得した複数のデータを記憶部18bに記憶するとともに、複数のデータに基づいて、計測領域のサムネイル画像の一覧を一覧ウィンドウ60の領域62に表示制御部18dによって表示する。また、処理部18aは、計測領域のサムネイル画像の一覧のうちユーザによって選択された画像に対応付けて記憶された反射特性の計測結果(指標値)を、一覧ウィンドウ60の領域63に表示する。例えば、図8に示すように、領域62に表示された計測領域の画像の一覧のうちユーザによって1つの画像が選択されると、処理部18aは、ユーザによって選択された画像を強調表示する(例えば、選択マーク64を表示する)。そして、処理部18aは、ユーザによって選択された計測領域の画像(選択マーク64が表示された画像)に対応付けて記憶された反射特性の計測結果(指標値)を、複数の計測領域の画像の一覧とともに、一覧ウィンドウ60の領域63に表示する。
ここで、本実施形態では、図8に示すように、反射特性の指標値として、鏡面光沢度、ヘイズ、DOIおよび写像性を一覧ウィンドウ60の領域63に表示しているが、それらのうちの少なくとも1つを表示するように設定されてもよい。また、図8に示すように、領域63に計測日時を表示しているが、計測日時に加えて(または、計測日時に代えて)被計測面20の属性や被計測面20上における計測位置などの情報を表示してもよい。
ユーザは、計測領域の画像を詳細に確認したい場合には、入力部18eを介して領域63を押下する、もしくは選択マーク64が表示された画像をさらに押下する。このとき、処理部18aは、表示タブを切り替え、図6に示すように、選択された計測領域の画像を表示部18cに拡大表示する。選択された計測領域の画像が拡大表示される詳細ウィンドウについては、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
上述したように、本実施形態では、複数回の反射特性の計測において撮像部13により得られた複数の計測領域の画像の一覧をサムネイル表示する。そして、計測領域の画像の一覧のうちユーザにより選択された画像に対応付けられた反射特性の計測結果(指標値)を、計測領域の画像の一覧とともに表示する。これにより、ユーザは、当該複数回の反射特性の計測結果と計測領域の画像とを容易に確認することができる。
<その他の実施形態>
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されないことはいうまでもなく、その要旨の範囲内で種々の変形および変更が可能である。
10:計測装置、11:筐体、12:検出部、13:撮像部、14:表示部、15:操作部、16:制御部、18:情報処理装置、20:被計測面、100:計測システム

Claims (17)

  1. 計測装置であって、
    面の反射特性を計測する計測部と、
    前記計測部により前記反射特性が計測される前記面における計測領域を撮像して当該計測領域の画像を得る撮像部と、
    前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる制御部と、
    を含み、
    前記制御部は、前記複数の計測結果のうち選択された計測結果に対応する、前記撮像部により得られた前記画像を、前記複数の計測結果とともに前記表示部に表示させることを特徴とする計測装置。
  2. 前記複数の計測結果のそれぞれは、前記反射特性が許容範囲にないことを示す情報を含むことを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
  3. 前記制御部は、前記許容範囲内にない前記反射特性と前記許容範囲内にある前記反射特性とを識別可能に前記表示部に表示させることを特徴とする請求項2に記載の計測装置。
  4. 前記制御部は、前記反射特性が計測された前記面の属性を示す情報を、前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の計測装置。
  5. 前記撮像部は、前記計測部により前記反射特性が計測される計測領域を一部に含む領域を撮像して前記画像を得ることを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の計測装置。
  6. 前記制御部により前記表示部に表示される前記領域の画像は、前記計測領域を示す情報を含むことを特徴とする請求項5に記載の計測装置。
  7. 前記計測部と前記撮像部とが内部に設けられた筐体を更に有し、
    前記表示部は、前記筐体の外部に設けられていることを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の計測装置。
  8. 前記制御部は、前記複数の計測結果が表示される第1領域と前記面の画像が表示される第2領域とが同一のウィンドウ内に含まれるように、前記複数の計測結果と前記画像とを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の計測装置。
  9. 前記制御部は、前記複数の計測結果が表示される第1領域と前記面の画像が表示される第2領域とが別々のウィンドウに含まれるように、前記複数の計測結果と前記画像とを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の計測装置。
  10. 前記反射特性は、鏡面光沢度、ヘイズ、DOIおよび写像性のうち少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載の計測装置。
  11. 計測部により面の反射特性を計測して得られた計測結果と、前記計測部により前記反射特性が計測された前記面における計測領域を撮像部により撮像して得られた当該計測領域の画像とを処理する情報処理方法であって、
    前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる工程を含み、
    前記工程は、前記複数の計測結果のうち選択された計測結果に対応する、前記撮像部により得られた前記画像を、前記複数の計測結果とともに前記表示部に表示させることを特徴とする情報処理方法。
  12. 請求項11に記載の情報処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
  13. 計測装置であって、
    面の反射特性を計測する計測部と、
    前記計測部により前記反射特性が計測される前記面における計測領域を撮像して当該計測領域の画像を得る撮像部と、
    前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果に関してそれぞれ前記撮像部により得られた複数の前記画像を表示部に表示させる制御部と、
    を含み、
    前記制御部は、前記複数の前記画像のうち選択された画像に対応する、前記複数の計測結果のうちの計測結果を、前記複数の前記画像とともに前記表示部に表示させることを特徴とする計測装置。
  14. 計測装置であって、
    面の反射特性を計測する計測部と、
    前記計測部により前記反射特性が計測される前記面における計測領域を撮像して当該計測領域の画像を得る撮像部と、
    表示部と、
    前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果を前記表示部に表示させる制御部と、を含み、
    前記制御部は、前記複数の計測結果にそれぞれ対応する、前記撮像部により得られた複数の前記画像と、前記複数の計測結果とのうちの一方と、該一方のうちの選択された1つに対応する、他方のうちの1つとをともに前記表示部に表示させることを特徴とする計測装置。
  15. 面の反射特性に関する複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる情報処理装置であって、
    前記複数の計測結果にそれぞれ対応する、前記面における計測領域を撮像して得られた複数の画像と、前記複数の計測結果とのうちの一方と、該一方のうちの選択された1つに対応する、他方のうちの1つとをともに前記表示部に表示させる制御部を有することを特徴とする情報処理装置。
  16. 面の反射特性に関する複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる情報処理方法であって、
    前記複数の計測結果にそれぞれ対応する、前記面における計測領域を撮像して得られた複数の画像と、前記複数の計測結果とのうちの一方と、該一方のうちの選択された1つに対応する、他方のうちの2つとをともに前記表示部に表示させることを特徴とする情報処理方法。
  17. 請求項16に記載の情報処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020096516A (ja) * 2018-11-28 2020-06-18 住友電気工業株式会社 太陽光発電パネルの汚れ評価方法及び太陽光発電パネルの汚れ評価システム

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1085222A (ja) * 1996-08-30 1998-04-07 Esc Medical Syst Ltd スペクトルモニタ装置
JPH116795A (ja) * 1997-06-16 1999-01-12 Advantest Corp 金属表面の汚染度分析方法および分析装置
JP2001007173A (ja) * 1999-06-22 2001-01-12 Kobe Steel Ltd 少数キャリアのライフタイム測定装置
JP2004077332A (ja) * 2002-08-20 2004-03-11 Moritex Corp 皮脂量測定装置及び肌用観察装置
JP2010131238A (ja) * 2008-12-05 2010-06-17 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 医用画像表示装置及びプログラム
JP2014133029A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Panasonic Corp 歯垢検知システム及び歯垢検知方法
US20140242271A1 (en) * 2011-09-30 2014-08-28 Axalta Coating Systmes Ip Co., Llc Method for matching color and appearance of coatings containing effect pigments
JP2015029559A (ja) * 2013-07-31 2015-02-16 キヤノン株式会社 撮影装置及び撮影方法

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06295945A (ja) * 1993-04-08 1994-10-21 Shin Etsu Handotai Co Ltd 半導体製造プロセスの評価方法および装置
US5926262A (en) 1997-07-01 1999-07-20 Lj Laboratories, L.L.C. Apparatus and method for measuring optical characteristics of an object
IL213025A0 (en) * 2011-05-19 2011-07-31 May High Tech Solution Ltd Method and apparatus for optical inspection, detection and analysis of double sided and wafer edge macro defects
JP6620972B2 (ja) 2015-06-04 2019-12-18 大日本印刷株式会社 発熱板、乗り物及び建築物用窓

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1085222A (ja) * 1996-08-30 1998-04-07 Esc Medical Syst Ltd スペクトルモニタ装置
JPH116795A (ja) * 1997-06-16 1999-01-12 Advantest Corp 金属表面の汚染度分析方法および分析装置
JP2001007173A (ja) * 1999-06-22 2001-01-12 Kobe Steel Ltd 少数キャリアのライフタイム測定装置
JP2004077332A (ja) * 2002-08-20 2004-03-11 Moritex Corp 皮脂量測定装置及び肌用観察装置
JP2010131238A (ja) * 2008-12-05 2010-06-17 Konica Minolta Medical & Graphic Inc 医用画像表示装置及びプログラム
US20140242271A1 (en) * 2011-09-30 2014-08-28 Axalta Coating Systmes Ip Co., Llc Method for matching color and appearance of coatings containing effect pigments
JP2014133029A (ja) * 2013-01-11 2014-07-24 Panasonic Corp 歯垢検知システム及び歯垢検知方法
JP2015029559A (ja) * 2013-07-31 2015-02-16 キヤノン株式会社 撮影装置及び撮影方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020096516A (ja) * 2018-11-28 2020-06-18 住友電気工業株式会社 太陽光発電パネルの汚れ評価方法及び太陽光発電パネルの汚れ評価システム
JP7375481B2 (ja) 2018-11-28 2023-11-08 住友電気工業株式会社 太陽光発電パネルの汚れ評価方法及び太陽光発電パネルの汚れ評価システム

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