JP2018112530A - 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム - Google Patents
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Abstract
Description
本発明に係る計測システム100(計測装置)の構成について、図1〜図3を参照しながら説明する。図1は、計測システム100の外観図であり、図2は、計測装置10の内部構成をY方向から見た図であり、図3は、計測装置10の内部構成をX方向から見た図である。計測システム100は、計測装置10と情報処理装置18(コンピュータ)とを含みうる。情報処理装置18は、例えば、CPU等を有する処理部18aと、メモリ等を有する記憶部18bと、計測装置10による計測結果を表示部18cに表示させる表示制御部18d(制御部)と、マウスやキーボード等を有する入力部18eとを含みうる。表示部18cは、LCD等を含みうる。情報処理装置18(処理部18a)は、無線やケーブルなどを介して計測装置10と接続され、制御部16で求められた反射特性(指標値)、および撮像部13で得られた被計測面20(第2部分領域22)の画像を計測装置10(制御部16)から取得しうる。
本実施形態の計測システム100は、複数回の反射特性の計測により得られた複数の計測結果の一覧を表示する。そして、複数の計測結果の一覧のうちユーザにより選択された計測結果に対応付けて記憶された計測領域(第2部分領域22)の画像を、複数の計測結果の一覧ととともに表示する。以下では、情報処理装置の処理部18aが、表示制御部18d(制御部)によって複数の計測結果の一覧を、計測装置10(筐体11)の外部に設けられた情報処理装置18の表示部18cに表示する方法について説明する。しかしながら、それに限られず、計測装置10の制御部16(処理部16a)が、筐体11に設けられた表示部14aに表示制御部14によって複数の計測結果の一覧を表示する際にも同様の方法を適用することができる。また、処理部18aは、複数の計測結果の一覧を表示制御部18dによって表示部18cに表示する機能を有したソフトウェアを含みうる。
第1実施形態では、複数回の反射特性の計測によって得られた複数の計測結果の一覧を表示し、当該計測結果の一覧のうちユーザによって選択された計測結果に対応付けられた計測領域の画像を、当該計測結果の一覧とともに表示する例について説明した。第2実施形態では、複数回の反射特性の計測において撮像部13で得られた複数の計測領域の画像の一覧を表示する。そして、当該画像の一覧のうちユーザによって選択された画像に対応付けられた反射特性の計測結果(指標値)を当該画像の一覧とともに表示する。それ以外の構成は、第1実施形態と同様であるため、ここでは説明を省略する。
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
Claims (17)
- 計測装置であって、
面の反射特性を計測する計測部と、
前記計測部により前記反射特性が計測される前記面における計測領域を撮像して当該計測領域の画像を得る撮像部と、
前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる制御部と、
を含み、
前記制御部は、前記複数の計測結果のうち選択された計測結果に対応する、前記撮像部により得られた前記画像を、前記複数の計測結果とともに前記表示部に表示させることを特徴とする計測装置。 - 前記複数の計測結果のそれぞれは、前記反射特性が許容範囲にないことを示す情報を含むことを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- 前記制御部は、前記許容範囲内にない前記反射特性と前記許容範囲内にある前記反射特性とを識別可能に前記表示部に表示させることを特徴とする請求項2に記載の計測装置。
- 前記制御部は、前記反射特性が計測された前記面の属性を示す情報を、前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記撮像部は、前記計測部により前記反射特性が計測される計測領域を一部に含む領域を撮像して前記画像を得ることを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記制御部により前記表示部に表示される前記領域の画像は、前記計測領域を示す情報を含むことを特徴とする請求項5に記載の計測装置。
- 前記計測部と前記撮像部とが内部に設けられた筐体を更に有し、
前記表示部は、前記筐体の外部に設けられていることを特徴とする請求項1乃至6のうちいずれか1項に記載の計測装置。 - 前記制御部は、前記複数の計測結果が表示される第1領域と前記面の画像が表示される第2領域とが同一のウィンドウ内に含まれるように、前記複数の計測結果と前記画像とを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記制御部は、前記複数の計測結果が表示される第1領域と前記面の画像が表示される第2領域とが別々のウィンドウに含まれるように、前記複数の計測結果と前記画像とを前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記反射特性は、鏡面光沢度、ヘイズ、DOIおよび写像性のうち少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1乃至8のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 計測部により面の反射特性を計測して得られた計測結果と、前記計測部により前記反射特性が計測された前記面における計測領域を撮像部により撮像して得られた当該計測領域の画像とを処理する情報処理方法であって、
前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる工程を含み、
前記工程は、前記複数の計測結果のうち選択された計測結果に対応する、前記撮像部により得られた前記画像を、前記複数の計測結果とともに前記表示部に表示させることを特徴とする情報処理方法。 - 請求項11に記載の情報処理方法の各工程をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 計測装置であって、
面の反射特性を計測する計測部と、
前記計測部により前記反射特性が計測される前記面における計測領域を撮像して当該計測領域の画像を得る撮像部と、
前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果に関してそれぞれ前記撮像部により得られた複数の前記画像を表示部に表示させる制御部と、
を含み、
前記制御部は、前記複数の前記画像のうち選択された画像に対応する、前記複数の計測結果のうちの計測結果を、前記複数の前記画像とともに前記表示部に表示させることを特徴とする計測装置。 - 計測装置であって、
面の反射特性を計測する計測部と、
前記計測部により前記反射特性が計測される前記面における計測領域を撮像して当該計測領域の画像を得る撮像部と、
表示部と、
前記計測部による複数回の計測によって得られた複数の計測結果を前記表示部に表示させる制御部と、を含み、
前記制御部は、前記複数の計測結果にそれぞれ対応する、前記撮像部により得られた複数の前記画像と、前記複数の計測結果とのうちの一方と、該一方のうちの選択された1つに対応する、他方のうちの1つとをともに前記表示部に表示させることを特徴とする計測装置。 - 面の反射特性に関する複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる情報処理装置であって、
前記複数の計測結果にそれぞれ対応する、前記面における計測領域を撮像して得られた複数の画像と、前記複数の計測結果とのうちの一方と、該一方のうちの選択された1つに対応する、他方のうちの1つとをともに前記表示部に表示させる制御部を有することを特徴とする情報処理装置。 - 面の反射特性に関する複数回の計測によって得られた複数の計測結果を表示部に表示させる情報処理方法であって、
前記複数の計測結果にそれぞれ対応する、前記面における計測領域を撮像して得られた複数の画像と、前記複数の計測結果とのうちの一方と、該一方のうちの選択された1つに対応する、他方のうちの2つとをともに前記表示部に表示させることを特徴とする情報処理方法。 - 請求項16に記載の情報処理方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017004612A JP6827818B2 (ja) | 2017-01-13 | 2017-01-13 | 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
PCT/JP2018/000431 WO2018131634A1 (ja) | 2017-01-13 | 2018-01-11 | 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
EP18738689.1A EP3570011A4 (en) | 2017-01-13 | 2018-01-11 | MEASURING DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING PROCESS AND PROGRAM |
CN201880006252.1A CN110192100A (zh) | 2017-01-13 | 2018-01-11 | 测量装置、信息处理装置、信息处理方法和程序 |
US16/502,617 US20190323958A1 (en) | 2017-01-13 | 2019-07-03 | Measurement apparatus, information processing apparatus, information processing method, and storage medium |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017004612A JP6827818B2 (ja) | 2017-01-13 | 2017-01-13 | 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018112530A true JP2018112530A (ja) | 2018-07-19 |
JP6827818B2 JP6827818B2 (ja) | 2021-02-10 |
Family
ID=62839528
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017004612A Active JP6827818B2 (ja) | 2017-01-13 | 2017-01-13 | 計測装置、情報処理装置、情報処理方法、およびプログラム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20190323958A1 (ja) |
EP (1) | EP3570011A4 (ja) |
JP (1) | JP6827818B2 (ja) |
CN (1) | CN110192100A (ja) |
WO (1) | WO2018131634A1 (ja) |
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- 2017-01-13 JP JP2017004612A patent/JP6827818B2/ja active Active
-
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- 2018-01-11 WO PCT/JP2018/000431 patent/WO2018131634A1/ja unknown
- 2018-01-11 EP EP18738689.1A patent/EP3570011A4/en not_active Withdrawn
- 2018-01-11 CN CN201880006252.1A patent/CN110192100A/zh active Pending
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- 2019-07-03 US US16/502,617 patent/US20190323958A1/en not_active Abandoned
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20190323958A1 (en) | 2019-10-24 |
JP6827818B2 (ja) | 2021-02-10 |
WO2018131634A1 (ja) | 2018-07-19 |
CN110192100A (zh) | 2019-08-30 |
EP3570011A4 (en) | 2020-10-07 |
EP3570011A1 (en) | 2019-11-20 |
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