JP2018092168A - 二つの電極の間に位置する多数の絶縁膜を含むディスプレイ装置 - Google Patents

二つの電極の間に位置する多数の絶縁膜を含むディスプレイ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018092168A
JP2018092168A JP2017229779A JP2017229779A JP2018092168A JP 2018092168 A JP2018092168 A JP 2018092168A JP 2017229779 A JP2017229779 A JP 2017229779A JP 2017229779 A JP2017229779 A JP 2017229779A JP 2018092168 A JP2018092168 A JP 2018092168A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
layer
light emitting
drain electrode
display device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017229779A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6542864B2 (ja
Inventor
▲ジュン▼ 碩 李
Joon-Suk Lee
▲じゅん▼ 碩 李
世 ▲ジュン▼ 金
Se Jun Kim
世 ▲ジュン▼ 金
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LG Display Co Ltd
Original Assignee
LG Display Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LG Display Co Ltd filed Critical LG Display Co Ltd
Publication of JP2018092168A publication Critical patent/JP2018092168A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6542864B2 publication Critical patent/JP6542864B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/123Connection of the pixel electrodes to the thin film transistors [TFT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/122Pixel-defining structures or layers, e.g. banks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02002Preparing wafers
    • H01L21/02005Preparing bulk and homogeneous wafers
    • H01L21/02008Multistep processes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/76Making of isolation regions between components
    • H01L21/762Dielectric regions, e.g. EPIC dielectric isolation, LOCOS; Trench refilling techniques, SOI technology, use of channel stoppers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • H01L21/76877Filling of holes, grooves or trenches, e.g. vias, with conductive material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L27/12Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/1248Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having at least one potential-jump barrier or surface barrier; including integrated passive circuit elements with at least one potential-jump barrier or surface barrier the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition or shape of the interlayer dielectric specially adapted to the circuit arrangement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof  ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/40Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/41Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions
    • H01L29/417Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape, relative sizes or dispositions carrying the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/41725Source or drain electrodes for field effect devices
    • H01L29/41733Source or drain electrodes for field effect devices for thin film transistors with insulated gate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/82Cathodes
    • H10K50/824Cathodes combined with auxiliary electrodes
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/121Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
    • H10K59/1213Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/124Insulating layers formed between TFT elements and OLED elements
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10OLED displays
    • H10K59/12Active-matrix OLED [AMOLED] displays
    • H10K59/131Interconnections, e.g. wiring lines or terminals

Abstract

【課題】コンタクトホールが占める面積を減らす。【解決手段】本発明は下部電極と上部電極の間に絶縁膜が位置するディスプレイ装置に関するもので、コンタクトホールの形成なしに、下部電極に近くに位置する絶縁膜が前記下部電極の一部側面を露出させる。【選択図】 図1

Description

本発明は互いに異なる層に位置する二つの電極を電気的に連結するためのコンタクトホールが多数の絶縁膜を貫通するディスプレイ装置に関するものである。
一般に、モニター、TV、ノートブック型PC、デジタルカメラなどの電子器機は映像を具現するためのディスプレイ装置を含む。例えば、ディスプレイ装置は液晶表示装置及び有機発光表示装置を含むことができる。
ディスプレイ装置は多数の画素領域を含むことができる。各画素領域は互いに異なる色を具現できる。例えば、ディスプレイ装置は、青色を示す青色画素領域、赤色を示す赤色画素領域、緑色を示す緑色画素領域、及び白色を示す白色画素領域を含むことができる。
ディスプレイ装置は、各画素領域を独立に駆動するために、多様な信号配線及び薄膜トランジスタを含むことができる。ディスプレイ装置は、各画素領域の集積度を高めるために、薄膜トランジスタと信号配線を積層することができる。例えば、ディスプレイ装置は、互いに異なる層に位置する二つの電極を多数の絶縁膜を貫通するコンタクトホールを介して連結することができる。
しかし、ディスプレイ装置において、コンタクトホールは、工程マージンなどを考慮して、相対的に上側に位置する絶縁膜に、相対的に下側に位置する絶縁膜より大きい面積で形成されることができる。これにより、前記ディスプレイ装置では積層された絶縁膜を貫通するコンタクトホールの面積によって集積度が低下するという問題点がある。
特開2015−002177
本発明が解決しようとする課題は、集積度を低下させることなく薄膜トランジスタ及び信号配線を積層することができるディスプレイ装置を提供することである。
本発明が解決しようとする他の課題は、互いに異なる層に位置する電極を連結するためのコンタクトホールを小さくすることが可能なディスプレイ装置を提供することである。
本発明が解決しようとする課題は前述した課題に限定されない。ここで言及しない課題は下記の記載から通常の技術者に明らかに理解可能であろう。
これらの課題を達成するための本発明のディスプレイ装置は、下部基板上に位置する第1オーバーコート層を含む。第1オーバーコート層は第1コンタクトホールを含む。下部基板と第1オーバーコート層の間には薄膜トランジスタが位置する。薄膜トランジスタは第1オーバーコート層の第1コンタクトホールと重畳する端部を有するドレイン電極を含む。ドレイン電極の端部はアンダーカット領域を含む。薄膜トランジスタと第1オーバーコート層の間には下部保護膜が位置する。下部保護膜はドレイン電極の端部の側面を部分的に露出する。第1オーバーコート層上には発光構造物が位置する。発光構造物は第1オーバーコート層の第1コンタクトホールを介して薄膜トランジスタと電気的に連結される。
ドレイン電極のアンダーカット領域と重畳する下部保護膜はドレイン電極の端部の外側に位置する下部保護膜から離隔することができる。
ドレイン電極は第1ドレイン電極及び第2ドレイン電極を含むことができる。第2ドレイン電極は第1ドレイン電極と下部保護膜の間に位置することができる。第2ドレイン電極の側面は第1ドレイン電極の側面より第1オーバーコート層の第1コンタクトホールの内側に近くに位置することができる。
下部保護膜は第1ドレイン電極の側面を露出することができる。
第2ドレイン電極は第1ドレイン電極に対してエッチング選択比を有することができる。
第2ドレイン電極は第1ドレイン電極よりエッチング速度が遅い物質を含むことができる。
第1オーバーコート層と発光構造物の間には連結電極を配置することができる。連結電極は第1オーバーコート層の第1コンタクトホールの内側に延伸可能である。連結電極と発光構造物の間には第2オーバーコート層を配置することができる。第2オーバーコート層は連結電極と重畳する第2コンタクトホールを含むことができる。発光構造物は連結電極及び第2コンタクトホールを介して薄膜トランジスタと電気的に連結されることができる。
第1オーバーコート層と第2オーバーコート層の間には補助電極を配置できる。補助電極は連結電極から離隔できる。第2オーバーコート層は補助電極と重畳する貫通ホールを含むことができる。発光構造物は、第2コンタクトホールを介して連結電極と連結される下部発光電極、貫通ホールを介して補助電極と連結される上部発光電極、及び下部発光電極と上部発光電極の間に配置される有機発光層を含むことができる。
本発明が解決しようとする他の課題を達成するための本発明の技術的思想によるディスプレイ装置は、第1電極層及び第2電極層を有する第1電極を含む。第2電極層は第1電極層上に位置する。第2電極層は第1電極層の外側に位置するチップ(tip)領域を含む。第1電極上には上部絶縁膜が位置する。上部絶縁膜は第2電極層のチップ領域の側面と重畳するコンタクトホールを含む。上部絶縁膜上には第2電極が位置する。第2電極は上部絶縁膜のコンタクトホールを介して第1電極の第1電極層の側面と連結される。第1電極と上部絶縁膜の間には下部絶縁膜が位置する。下部絶縁膜は第1電極の第1電極層の側面を露出する。
第2電極上には発光層を配置することができる。発光層上には第3電極を配置することができる。
第2電極層の厚さは第1電極層の厚さより小さくてもよい。
第2電極層の側面は正テーパー状を有し得る。第1電極における第1電極層のチップ領域の端部は逆テーパー状を有し得る。
半導体パターンのチャネル領域と重畳するゲート電極をさらに含むことができる。半導体パターンとゲート電極の間にはゲート絶縁膜を配置することができる。第1電極と同一層にはソース電極を配置することができる。ソース電極は半導体パターンのソース領域と連結されることができる。第1電極は半導体パターンのドレイン領域と連結されることができる。
本発明の技術的思想によるディスプレイ装置は、相対的に下側に位置する電極の端部にアンダーカット領域を形成することで、前記電極の近くに位置する絶縁膜を部分的に切ることができる。これにより、本発明のディスプレイ装置では、二つの電極間に積層された絶縁膜のうち、相対的に下側に位置する電極の近くに配置される絶縁膜にコンタクトホールを形成する工程を省略することができる。すなわち、本発明の技術的思想によるディスプレイ装置では、二つの電極の間に積層された絶縁膜を貫通するコンタクトホールの面積を減らすことができる。よって、本発明のディスプレイ装置では集積度を向上させられる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置を概略的に示した図である。 図1のP領域を拡大した図である。 それぞれ本発明の他の実施例によるディスプレイ装置を示した図である。 それぞれ本発明の他の実施例によるディスプレイ装置を示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。 本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。
本発明の目的と技術的構成及びこれによる作用効果についての詳細な事項は本発明の実施例を示している図面に基づく以下の詳細な説明によってもっと明らかに理解可能であろう。ここで、本発明の実施例は当業者に本発明の技術的思想を充分に伝達するために提供するものなので、本発明は以下で説明する実施例に限定されず、他の形態に具体化することができる。
また、明細書全般にわたって同じ参照符号で示した部分は同一の構成要素を意味し、図面において層又は領域の長さと厚さは便宜上誇張して表現することもできる。また、第1構成要素が第2構成要素“上”にあると記載する場合、第1構成要素が第2構成要素と直接接触する上側に位置する場合だけではなく、第1構成要素と第2構成要素の間に第3構成要素が位置する場合も含む。
ここで、第1、第2などの用語は多様な構成要素を説明するためのもので、一つの構成要素を他の構成要素と区別する目的で使う。ただ、本発明の技術的思想を逸脱しない範疇内では第1構成要素と第2構成要素は当業者の便宜によって任意に名付けられることができる。
本発明の明細書で使用する用語はただ特定の実施例を説明するために使われるもので、本発明を限定しようとする意図ではない。例えば、単数で表現した構成要素は文脈上明白に単数のみを意味しない限り、複数の構成要素を含む。また、本発明の明細書で、“含む”又は“有する”などの用語は明細書上に記載した特徴、数字、段階、動作、構成要素、部分品又はこれらの組合せが存在することを指定しようとするものであり、一つ又はそれ以上の他の特徴、数字、段階、動作、構成要素、部品又はこれらの組合せの存在又は付加の可能性を前もって排除しないものと理解されなければならない。
さらに、特に他の定義がない限り、技術的又は科学的な用語を含めて、ここで使う全ての用語は本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者に一般的に理解されるものと同一の意味がある。一般的に使われる辞書に定義されているような用語は関連技術の文脈上有する意味と一致する意味があるものと解釈されなければならなく、本発明の明細書で他に定義しない限り、理想的又は過度に形式的な意味と解釈されない。
図1は本発明の実施例によるディスプレイ装置を概略的に示した図である。図2は図1のP領域を拡大した図である。
図1及び図2を参照すると、本発明の実施例によるディスプレイ装置は、下部基板100、薄膜トランジスタ200、下部保護膜120、下部オーバーコート層130、連結電極310、上部オーバーコート層140及び発光構造物500を含むことができる。例えば、本発明の実施例によるディスプレイ装置は自己発光型ディスプレイ装置であってもよい。
下部基板100は薄膜トランジスタ200及び発光構造物500を支持することができる。下部基板100は絶縁性物質を含むことができる。下部基板100は透明な物質を含むことができる。例えば、下部基板100はガラス又はプラスチックを含むことができる。
薄膜トランジスタ200は下部基板100上に配置することができる。例えば、薄膜トランジスタ200は、半導体パターン210、ゲート絶縁膜220、ゲート電極230、層間絶縁膜240、ソース電極250及びドレイン電極260を含むことができる。
半導体パターン210は下部基板100の近くに配置することができる。半導体パターン210は半導体物質を含むことができる。例えば、半導体パターン210は非晶質シリコン又は多結晶シリコンを含むことができる。半導体パターン210は酸化物半導体物質を含むことができる。例えば、半導体パターン210はIGZOを含むことができる。
半導体パターン210は、ソース領域、ドレイン領域及びチャネル領域を含むことができる。チャネル領域はソース領域とドレイン領域の間に配置され得る。チャネル領域の伝導率(conductivity)はソース領域の伝導率及びドレイン領域の伝導率より低くてもよい。例えば、ソース領域及びドレイン領域は導電型不純物を含むことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は下部基板100と薄膜トランジスタ200の半導体パターン210が直接接触するものとして説明される。
しかし、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置は、下部基板100と薄膜トランジスタ200の間に位置するバッファー絶縁膜をさらに含むことができる。バッファー絶縁膜は絶縁性物質を含むことができる。例えば、バッファー絶縁膜はシリコン酸化物を含むことができる。
ゲート絶縁膜220は半導体パターン210上に配置され得る。ゲート絶縁膜220は絶縁性物質を含むことができる。例えば、ゲート絶縁膜220はシリコン酸化物及び/又はシリコン窒化物を含むことができる。ゲート絶縁膜220はHigh−K物質を含むことができる。例えば、ゲート絶縁膜220はハフニウム酸化物(HfO)又はチタン酸化物(TiO)を含むことができる。ゲート絶縁膜220は多重層構造であり得る。
ゲート電極230はゲート絶縁膜220上に配置され得る。ゲート電極230は半導体パターン210のチャネル領域と重畳することができる。ゲート電極230はゲート絶縁膜220によって半導体パターン210から絶縁されることができる。例えば、ゲート絶縁膜220はゲート電極230と垂直に整列する側面を含むことができる。ゲート絶縁膜220の側面はゲート電極230の側面と連続することができる。
ゲート電極230は導電性物質を含むことができる。例えば、ゲート電極230は、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、タングステン(W)のような金属を含むことができる。ゲート電極230は多重層構造であり得る。
層間絶縁膜240は半導体パターン210及びゲート電極230上に位置することができる。層間絶縁膜240は半導体パターン210の外側に延伸可能である。半導体パターン210及びゲート電極230は層間絶縁膜240によって覆われることができる。
層間絶縁膜240は絶縁性物質を含むことができる。例えば、層間絶縁膜240はシリコン酸化物を含むことができる。
ソース電極250は層間絶縁膜240上に配置され得る。ソース電極250は半導体パターン210のソース領域と電気的に連結されることができる。例えば、層間絶縁膜240は半導体パターン210のソース領域を露出するコンタクトホールを含むことができる。
ソース電極250は多重層構造であり得る。例えば、ソース電極250は、順に積層された下部ソース電極251、中間ソース電極252及び上部ソース電極253を含むことができる。下部ソース電極251、中間ソース電極252及び上部ソース電極253は導電性物質を含むことができる。例えば、下部ソース電極251、中間ソース電極252及び上部ソース電極253は、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、銅(Cu)、タングステン(W)のような金属を含むことができる。中間ソース電極252は下部ソース電極251及び上部ソース電極253より高い伝導率を有することができる。上部ソース電極253は下部ソース電極251と同一の物質を含むことができる。
ドレイン電極260は層間絶縁膜240上に配置され得る。ドレイン電極260はソース電極250から離隔することができる。ドレイン電極260は半導体パターン210のドレイン領域と電気的に連結されることができる。例えば、前記層間絶縁膜240は半導体パターン210のドレイン領域を露出するコンタクトホールを含むことができる。
ドレイン電極260は多重層構造であり得る。ドレイン電極260の構造はソース電極250の構造と同一であり得る。例えば、ドレイン電極260は、順に積層された下部ドレイン電極261、中間ドレイン電極262及び上部ドレイン電極263を含むことができる。下部ドレイン電極261、中間ドレイン電極262及び上部ドレイン電極263は導電性物質を含むことができる。例えば、下部ドレイン電極261、中間ドレイン電極262及び上部ドレイン電極263は、アルミニウム(Al)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、銅(Cu)、タングステン(W)のような金属を含むことができる。中間ドレイン電極262は下部ドレイン電極261及び上部ドレイン電極263より高い伝導率を有することができる。上部ドレイン電極263は下部ドレイン電極261と同一の物質を含むことができる。
上部ドレイン電極263は中間ドレイン電極262から外側に伸びるチップ領域263tを含むことができる。ドレイン電極262の側面262sは、上部ドレイン電極263のチップ領域263tの側面263sより半導体パターン210のチャネル領域に近くに配置することができる。上部ドレイン電極263のチップ領域263tを含む端部はドレイン電極262と重畳しなくてもよい。上部ドレイン電極263の端部は中間ドレイン電極262及び上部ドレイン電極263のチップ領域263tによるアンダーカット領域UCを含むことができる。
上部ドレイン電極263は中間ドレイン電極262に対してエッチング選択比を有することができる。上部ドレイン電極263のエッチング速度は中間ドレイン電極262のエッチング速度とは異なる速度にする。例えば、上部ドレイン電極263は中間ドレイン電極262よりエッチング速度の遅い物質を含むことができる。中間ドレイン電極262の側面262sは正テーパー状を有し得る。上部ドレイン電極263のチップ領域263tの側面263sは逆テーパー状を有し得る。
下部ドレイン電極261のエッチング速度は中間ドレイン電極262のエッチング速度より遅くてもよい。例えば、下部ドレイン電極261のエッチング速度は上部ドレイン電極263のエッチング速度と同一であり得る。下部ドレイン電極261は上部ドレイン電極263のチップ領域263tと重畳する領域を含むことができる。下部ドレイン電極261の側面261sは中間ドレイン電極262の外側に位置することができる。例えば、下部ドレイン電極261の側面261sは正テーパー状を有し得る。
本発明の実施例によるディスプレイ装置はゲート電極230、ソース電極250及びドレイン電極260の間に層間絶縁膜240が位置する薄膜トランジスタ200を含むものとして説明される。しかし、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置は、ゲート電極230、ソース電極250及びドレイン電極260の間にゲート絶縁膜220及び半導体パターン210が配置され得る薄膜トランジスタ200を含むことができる。
下部保護膜120は薄膜トランジスタ200上に配置され得る。下部保護膜120はソース電極250及びドレイン電極260の外側方向に延伸可能である。例えば、下部保護膜120は薄膜トランジスタ200のソース電極250及びドレイン電極260の外側で層間絶縁膜240と直接接触することができる。
下部保護膜120は絶縁性物質を含むことができる。例えば、下部保護膜120はシリコン酸化物及び/又はシリコン窒化物を含むことができる。下部保護膜120は多重層構造であり得る。
下部保護膜120はドレイン電極260のチップ領域263tによって部分的に切れることができる。例えば、ドレイン電極260のアンダーカット領域UCと重畳する下部保護膜120はドレイン電極260のチップ領域263tを含む端部の外側に位置する下部保護膜120から離隔できる。下部ドレイン電極261の側面261s及び中間ドレイン電極262の側面262sは下部保護膜120によって露出できる。
下部オーバーコート層130は下部保護膜120上に配置され得る。下部オーバーコート層130は薄膜トランジスタ200による段差を除去できる。例えば、下部オーバーコート層130の上面は下部基板100の表面に平行であり得る。
下部オーバーコート層130は絶縁性物質を含むことができる。例えば、下部オーバーコート層130は有機絶縁物質を含むことができる。下部オーバーコート層130は硬化性物質を含むことができる。例えば、下部オーバーコート層130は熱硬化性樹脂を含むことができる。
下部オーバーコート層130は上部ドレイン電極263のチップ領域263tの側面263sと重畳する下部コンタクトホール130hを含むことができる。上部ドレイン電極263のチップ領域263tの側面263sは中間ドレイン電極262の側面262sより下部コンタクトホール130hの内側に近くに配置され得る。下部コンタクトホール130hはドレイン電極260のアンダーカット領域UCと連結されてもよい。例えば、下部コンタクトホール130hは下部保護膜120によって覆われなかった下部ドレイン電極261の側面261s及び中間ドレイン電極262の側面262sを露出できる。
連結電極310は下部オーバーコート層130上に配置され得る。連結電極310は下部コンタクトホール130hの内側に延伸可能である。連結電極310は下部コンタクトホール130hを介して薄膜トランジスタ200と連結されてもよい。例えば、連結電極310は下部保護膜120及び下部コンタクトホール130hによって露出した下部ドレイン電極261の側面261s及び中間ドレイン電極262の側面262sと直接接触することができる。
連結電極310は導電性物質を含むことができる。例えば、連結電極310は、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、アルミニウム(Al)、タングステン(W)などの金属を含むことができる。連結電極310は多重層構造であり得る。例えば、連結電極310は下部連結電極311及び下部連結電極311上に位置する上部連結電極312を含むことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は、薄膜トランジスタ200上に位置する下部保護膜120が薄膜トランジスタ200のドレイン電極260のアンダーカット領域UCによってドレイン電極260の側面261s、262s、263sを部分的に露出できる。これにより、本発明の実施例によるディスプレイ装置では、下部保護膜120及び下部オーバーコート層130によって離隔した薄膜トランジスタ200のドレイン電極260と連結電極310を連結するために、下部保護膜120を貫通するコンタクトホールが不要であり得る。すなわち、本発明の実施例によるディスプレイ装置では、連結電極310をドレイン電極260と連結するために、下部オーバーコート層130を貫通する下部コンタクトホール130hは、コンタクトホール間の整列のための工程マージンを考慮せずに形成できる。よって、本発明の実施例によるディスプレイ装置では、互いに異なる層に位置するドレイン電極260と連結電極310を連結するための下部コンタクトホール130hの大きさが減少することができる。
上部オーバーコート層140は下部オーバーコート層130及び連結電極310上に配置され得る。連結電極310は下部オーバーコート層130と上部オーバーコート層140の間に配置され得る。上部オーバーコート層140前記連結電極310による段差を除去できる。例えば、上部オーバーコート層140の上面は下部基板100の表面に平行であり得る。
上部オーバーコート層140は絶縁性物質を含むことができる。例えば、上部オーバーコート層140は有機絶縁物質を含むことができる。上部オーバーコート層140は硬化性物質を含むことができる。上部オーバーコート層140は下部オーバーコート層130とは違う物質を含むことができる。
上部オーバーコート層140は連結電極310と重畳する上部コンタクトホール141hを含むことができる。例えば、上部オーバーコート層140の上部コンタクトホール141hは連結電極310の上面上に配置され得る。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は連結電極310と上部オーバーコート層140の間に位置する連結クラッド層410をさらに含むことができる。連結クラッド層410は後続工程による連結電極310の損傷を防止できる。例えば、連結クラッド層410は連結電極310を覆うことができる。
連結クラッド層410は導電性物質を含むことができる。連結クラッド層410は反応性の低い物質を含むことができる。例えば、連結クラッド層410はITO及びIZOなどの透明導電性物質を含むことができる。
発光構造物500は特定の色を具現化可能である。例えば、発光構造物500は、順に積層された下部発光電極510、有機発光層520及び上部発光電極530を含むことができる。例えば、本発明の実施例によるディスプレイ装置は有機発光層520を含む有機発光表示装置であり得る。
発光構造物500は薄膜トランジスタ200によって制御可能である。例えば、発光構造物500の下部発光電極510は薄膜トランジスタ200のドレイン電極260と電気的に連結できる。発光構造物500は上部オーバーコート層140上に配置することができる。下部発光電極510は上部オーバーコート層140の上部コンタクトホール141hの内側に延伸可能である。下部発光電極510は上部コンタクトホール141h及び連結電極310を介してドレイン電極260と連結できる。
下部発光電極510は導電性物質を含むことができる。下部発光電極510は反射率の高い物質を含むことができる。例えば、下部発光電極510はアルミニウム(Al)及び銀(Ag)のような金属を含むことができる。下部発光電極510は多重層構造であり得る。例えば、下部発光電極510はITO及びIZOなどの透明導電性物質を含む透明電極の間に反射率の高い物質を含む反射電極を配置する構造であり得る。
有機発光層520は下部発光電極510と上部発光電極530間の電圧差に対応する輝度の光を生成することができる。例えば、有機発光層520は有機発光物質を含む発光物質層(Emitting Material Layer;EML)を含むことができる。有機発光層520は発光効率を高めることができる多重層構造であり得る。例えば、有機発光層520は、正孔注入層(Hole Injection Layer;HIL)、正孔輸送層(Hole Tranport Layer;HTL)、電子輸送層(Electron Transport Layer;ETL)及び電子注入層(Electron Injection Layer;EIL)の少なくとも一つをさらに含むことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は発光構造物500が有機発光物質の有機発光層520を含むものとして説明される。しかし、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置は発光構造物500が無機発光物質又はハイブリッド発光物質の発光層520を含むことができる。
上部発光電極530は導電性物質を含むことができる。上部発光電極530は下部発光電極510とは違う物質を含むことができる。例えば、上部発光電極530は透明電極であり得る。これにより、本発明の実施例によるディスプレイ装置は有機発光層520によって生成された光を上部発光電極530を介して放出できる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は隣接した画素領域の発光構造物500の間を絶縁するためのバンク絶縁膜150をさらに含むことができる。例えば、バンク絶縁膜150は各発光構造物500の下部発光電極510の縁部を覆うことができる。有機発光層520及び上部発光電極530はバンク絶縁膜150によって露出した前記下部発光電極510の表面上に積層されることができる。バンク絶縁膜150は絶縁性物質を含むことができる。例えば、バンク絶縁膜150はベンゾシクロブテン(BCB)、ポリイミド(polyimide)又はフォトアクリル(photo−acryl)などの有機絶縁物質を含むことができる。下部オーバーコート層130及び上部オーバーコート層140はバンク絶縁膜150とは違う物質を含むことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は上部発光電極530の電圧降下による輝度不均一を防止するための補助電極320をさらに含むことができる。例えば、補助電極320は下部オーバーコート層130と上部オーバーコート層140の間に配置され得る。上部オーバーコート層140は補助電極320と重畳する貫通ホール142hをさらに含むことができる。補助電極320は連結電極310から離隔できる。
補助電極320は導電性物質を含むことができる。例えば、補助電極320は、銅(Cu)、モリブデン(Mo)、チタン(Ti)、アルミニウム(Al)、タングステン(W)などの金属を含むことができる。補助電極320の構造は連結電極310の構造と同一であり得る。例えば、補助電極320は多重層構造であり得る。補助電極320は下部補助電極321及び下部補助電極321上に位置する上部補助電極322を含むことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は補助電極320と上部オーバーコート層140の間に位置する補助クラッド層420をさらに含むことができる。補助クラッド層420は補助電極320を覆うことができる。補助クラッド層420は導電性物質を含むことができる。例えば、補助クラッド層420は連結クラッド層410と同一の物質を含むことができる。補助クラッド層420はITO及びIZOのような透明導電性物質を含むことができる。
有機発光層520及び上部発光電極530はバンク絶縁膜150上に延伸可能である。本発明の実施例によるディスプレイ装置は、上部発光電極530が補助電極320と電気的に連結され得る空間を備える隔壁600をさらに含むことができる。例えば、有機発光層520の一部領域は隔壁600によって他の領域から分離されることができる。上部発光電極530は有機発光層520の隔壁600によって分離された領域間の空間を介して補助電極320と電気的に連結されることができる。隔壁600の垂直長はバンク絶縁膜150の垂直厚より大きくできる。例えば、隔壁600は下部隔壁610及び下部隔壁610上に位置する上部隔壁620を含むことができる。下部隔壁610及び上部隔壁620は絶縁性物質を含むことができる。例えば、下部隔壁610はバンク絶縁膜150と同一の物質を含むことができる。上部隔壁620は下部隔壁610とは違う物質を含むことができる。例えば、上部隔壁620はシリコン酸化物及び/又はシリコン窒化物を含むことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は、補助電極320とバンク絶縁膜150の間に配置される中間電極550をさらに含むことができる。例えば、中間電極550は上部オーバーコート層140の貫通ホール142hを介して補助電極320と連結されることができる。隔壁600は中間電極550と重畳され得る。例えば、有機発光層520は隔壁600によって中間電極550の一部領域を露出できる。バンク絶縁膜150は中間電極550の縁部を覆うことができる。隔壁600はバンク絶縁膜150の間に配置され得る。上部発光電極530は隔壁600によって有機発光層520が形成されない中間電極550の一部領域と接触することができる。上部発光電極530は中間電極550を介して補助電極320と電気的に連結され得る。中間電極550は導電性物質を含むことができる。例えば、中間電極550は下部発光電極510と同一の物質を含むことができる。中間電極550は多重層構造であり得る。例えば、中間電極550の構造は下部発光電極510の構造と同一であり得る。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は下部基板100と対向する上部基板700をさらに含むことができる。例えば、上部基板700は発光構造物500上に配置され得る。上部基板700は絶縁性物質を含むことができる。上部基板700は透明な物質を含むことができる。例えば、上部基板700はガラス又はプラスチックを含むことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は、各画素領域の発光構造物500が同じ色を具現化可能である。例えば、各画素領域の発光構造物500は白色有機発光層520を含むことができる。本発明の実施例によるディスプレイ装置は、上部基板700上に位置するブラックマトリックス710及びカラーフィルター720をさらに含むことができる。これにより、本発明の実施例によるディスプレイ装置は、同じ色を具現化する発光構造物500が配置される各画素領域が、互いに異なる色を示すことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は、下部基板100と上部基板700の間を満たす充填材800をさらに含むことができる。充填材800は外部衝撃による発光構造物500の損傷を防止できる。例えば、充填材800は発光構造物500、ブラックマトリックス710及びカラーフィルター720の間で延伸可能である。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は発光構造物500が充填材800と直接接触するものとして説明される。しかし、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置は、発光構造物500と充填材800の間に位置する上部保護膜をさらに含むことができる。上部保護膜は外部水分などが発光構造物500に浸透することを防止できる。上部保護膜は多重層構造であり得る。例えば、上部保護膜は無機物質を含む無機膜及び有機物質を含む有機膜が積層された構造であり得る。
結果として、本発明の実施例によるディスプレイ装置は、ドレイン電極260と連結電極310の間に位置する絶縁膜のうち、ドレイン電極260の近くに配置される下部保護膜120がコンタクトホールを含まないので、下部保護膜120と連結電極310の間に位置する下部オーバーコート層130を貫通する下部コンタクトホール130hの面積を減少することができる。したがって、本発明の実施例によるディスプレイ装置は集積度を向上できる。例えば、本発明の実施例によるディスプレイ装置が、各画素領域が発光領域と透過領域を含む透明ディスプレイ装置であれば、各画素領域において発光領域の面積を減らすとともに透過領域の面積を増やすことによって全体的な透明性を向上することができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は薄膜トランジスタ200のドレイン電極260が3重層構造であるものとして説明される。しかし、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置は、薄膜トランジスタ200のドレイン電極260がアンダーカット領域UCの形成のために多様な構造を有することができる。例えば、図3に示したように、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置は、薄膜トランジスタ200のドレイン電極260が第1ドレイン電極264、及び第1ドレイン電極264上に配置され、第1ドレイン電極264より外側方向に伸びる領域を有する第2ドレイン電極265を含むことができる。したがって、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置では、コンタクトホールの面積を効率的に減少することができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置は薄膜トランジスタ200が連結電極310を介して発光構造物500の下部発光電極510と電気的に連結されるものとして説明される。しかし、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置は、発光構造物500の下部発光電極510が多様な方式で薄膜トランジスタ200と電気的に連結することができる。例えば、図5に示したように、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置は、発光構造物500の下部発光電極510が下部オーバーコート層130の下部コンタクトホール130hを介して薄膜トランジスタ200のドレイン電極260と直接接触することができる。したがって、本発明の他の実施例によるディスプレイ装置では集積度を効果的に向上することができる。
図5a〜図5jは本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を順次示した図である。
図1、図2及び図5a〜図5jに基づいて本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法を説明する。まず、図5aに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、下部基板100上に半導体パターン210を形成する段階、半導体パターン210上にゲート絶縁膜220及びゲート電極230を形成する段階、半導体パターン210及びゲート電極230上に層間絶縁膜240を形成する段階、層間絶縁膜240に半導体パターン210の一部領域を露出するコンタクトホールを形成する段階、層間絶縁膜240上にコンタクトホールを介して半導体パターン210と連結される第1導電性物質層201を形成する段階、第1導電性物質層201上に第2導電性物質層202を形成する段階、及び第2導電性物質層202上に第3導電性物質層203を形成する段階を含むことができる。
第3導電性物質層203は、第2導電性物質層202に対してエッチング選択比を有する導電性物質で形成されることができる。例えば、第3導電性物質層203は第2導電性物質層202よりエッチング速度が遅い導電性物質で形成されることができる。1導電性物質層201は第2導電性物質層202に対してエッチング選択比を有する導電性物質で形成されることができる。例えば、第1導電性物質層201は第2導電性物質層202よりエッチング速度が遅い導電性物質で形成されることができる。第1導電性物質層201は第3導電性物質層203と同一の物質で形成されることができる。
図5bを参照すると、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、第3導電性物質層203上にハーフトーン領域HT、及びハーフトーン領域HTより厚いフルトーン領域FTを含むマスクパターン911、921を形成する段階を含むことができる。
マスクパターン911、921は、半導体パターン210の一側領域を露出するコンタクトホールと重畳する第1マスクパターン911、及び半導体パターン210の他側領域を露出するコンタクトホールと重畳する第2マスクパターン921を含むことができる。例えば、第1マスクパターン911によって覆われた半導体パターン210の一側領域は半導体パターン210のドレイン領域であり得る。例えば、第2マスクパターン921によって覆われた半導体パターン210の他側領域は半導体パターン210のソース領域であり得る。ゲート電極230は第1マスクパターン911と第2マスクパターン921の間に位置することができる。ゲート電極230と重畳する半導体パターン210の領域はチャネル領域であり得る。
第1マスクパターン911のハーフトーン領域HTは第2マスクパターン921に向かう端部に配置され得る。第2マスクパターン921のハーフトーン領域HTは第1マスクパターン911に向かう端部及び第1マスクパターン911と対向する端部に配置され得る。第1マスクパターン911の第2マスクパターン921と対向する端部は第1マスクパターン911のフルトーン領域FTであり得る。
マスクパターン911、921を形成する段階はハーフトーンマスクを用いることができる。例えば、マスクパターン911、921のハーフトーン領域HTはハーフトーンマスクによって部分的に露光される領域であり得る。
図5cに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置は、層間絶縁膜240上に予備ソース電極250p及び予備ドレイン電極260pを形成する段階を含むことができる。
予備ソース電極250p及び予備ドレイン電極260pを形成する段階は、マスクパターン911、921を用いて前記第3導電性物質層203、第2導電性物質層202及び第1導電性物質層201を順次エッチングする段階を含むことができる。例えば、予備ソース電極250pは、下部予備ソース電極251p、中間予備ソース電極252p及び上部予備ソース電極253pを含むことができる。例えば、予備ドレイン電極260pは、下部予備ドレイン電極261p、中間予備ドレイン電極262p及び上部予備ドレイン電極263pを含むことができる。
第2導電性物質層202は第1導電性物質層201及び第3導電性物質層203よりエッチング速度が速いので、中間予備ソース電極252pの側面及び中間予備ドレイン電極262pの側面は相対的に内側に位置することができる。例えば、上部予備ドレイン電極263pは、中間予備ドレイン電極262pの外側に伸びる第1予備ドレインチップ領域911t及び第2予備ドレインチップ領域912tを含むことができる。上部予備ドレイン電極263pの第1予備ドレインチップ領域911tは上部予備ソース電極253pに向かうことができる。上部予備ドレイン電極263pの第2予備ドレインチップ領域912tは上部予備ドレイン電極263pの第1予備ドレインチップ領域911tと対向することができる。例えば、上部予備ソース電極253pは、中間予備ソース電極252pの外側に伸びる第1予備ソースチップ領域921t及び第2予備ソースチップ領域922tを含むことができる。上部予備ソース電極253pの第1予備ソースチップ領域921tは上部予備ドレイン電極263pに向かうことができる。上部予備ソース電極253pの前記第2予備ソースチップ領域922tは上部予備ソース電極253pの第1予備ソースチップ領域921tと対向することができる。下部予備ソース電極251p及び下部予備ドレイン電極261pはそれぞれ中間予備ソース電極252p及び中間予備ドレイン電極262pの外側に位置する領域を含むことができる。
下部予備ソース電極251pの側面、中間予備ソース電極252pの側面、下部予備ドレイン電極261pの側面及び中間予備ドレイン電極262pの側面は正テーパー状を有することができる。中間予備ソース電極252p及び中間予備ドレイン電極262pが相対的に速く除去されることによって、上部予備ソース電極253p及び上部予備ドレイン電極263pは上面より速く下面をエッチングすることができる。第1予備ソースチップ領域921tの側面及び第2予備ソースチップ領域922tの側面は逆テーパー状を有することができる。第1予備ドレインチップ領域911tの側面及び第2予備ドレインチップ領域912tの側面は逆テーパー状を有することができる。
図5dに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、予備ドレイン電極260p上に位置する第3マスクパターン912及び予備ソース電極250p上に位置する第4マスクパターン922を形成する段階を含むことができる。
第3マスクパターン912及び第4マスクパターン922を形成する段階は、第1マスクパターン911のハーフトーン領域HT及び第2マスクパターン921のハーフトーン領域HTを除去する段階を含むことができる。例えば、第3マスクパターン912及び第4マスクパターン922を形成する段階は、マスクパターン911、921をアッシング(ashing)する段階を含むことができる。
第3マスクパターン912は上部予備ドレイン電極263pの第1予備ドレインチップ領域911tを露出できる。第3マスクパターン912は上部予備ドレイン電極263pの第2予備ドレインチップ領域912tを覆うことができる。上部予備ドレイン電極263pの第2予備ドレインチップ領域912tは第3マスクパターン912によって覆われ得る。第4マスクパターン922は上部予備ソース電極253pの第1予備ソースチップ領域921t及び第2予備ソースチップ領域922tを露出できる。
図5eに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、前記層間絶縁膜240上にソース電極250及びドレイン電極260を形成して薄膜トランジスタ200を完成する段階を含むことができる。
ソース電極250及びドレイン電極260を形成する段階は、第3マスクパターン912及び第4マスクパターン922によって露出したチップ領域911t、921t、922tを除去する工程を含むことができる。ソース電極250は、順に積層された下部ソース電極251、中間ソース電極252及び上部ソース電極253を含むことができる。ソース電極250は半導体パターン210のソース領域と連結され得る。ドレイン電極260は、順に積層された下部ドレイン電極261、中間ドレイン電極262及び上部ドレイン電極263を含むことができる。ドレイン電極260は半導体パターン210のドレイン領域と連結され得る。
第3マスクパターン912及び第4マスクパターン922によって露出したチップ領域911t、921t、922tを除去する工程によってチップ領域911t、921t、922tが配置された上部ソース電極253の側面及び上部ドレイン電極263の側面はそれぞれ中間ソース電極252の側面及び中間ドレイン電極262の側面と連続することができる。互いに向き合う上部ソース電極253の側面及び上部ドレイン電極263の側面は正テーパー状を有し得る。上部ドレイン電極263と対向する上部ソース電極253の側面は正テーパー状を有し得る。
第4マスクパターン922によって覆われた第2予備ドレインチップ領域912tは除去されなくてもよい。ドレイン電極260の上部ドレイン電極263はソース電極250と対向する端部に位置するチップ領域263tを含むことができる。ドレイン電極260のチップ領域263tの側面は逆テーパー状を有し得る。
図5fに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、第3マスクパターン912及び第4マスクパターン922を除去する段階を含むことができる。
図5gに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、ソース電極250及びドレイン電極260が形成された下部基板100上に下部保護膜120を形成する段階を含むことができる。
下部保護膜120はステップカバレッジ(step coverage)が相対的に良くない工程で形成されることができる。例えば、下部保護膜120を形成する段階は熱蒸着(thermal evaporation)工程を含むことができる。下部保護膜120はドレイン電極260のチップ領域263tによってドレイン電極260の側面を部分的に露出できる。例えば、下部保護膜120は上部ドレイン電極263のチップ領域263tと重畳する中間ドレイン電極262の側面及び下部ドレイン電極261の側面を露出できる。
図5hに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、下部保護膜120上に下部コンタクトホール130hを含む下部オーバーコート層130を形成する段階を含むことができる。
下部コンタクトホール130hを含む下部オーバーコート層130を形成する段階は、下部保護膜120上に下部オーバーコート層130を形成する段階、及び下部オーバーコート層130に上部ドレイン電極263のチップ領域263tの側面と重畳する下部コンタクトホール130hを形成する段階を含むことができる。下部保護膜120及び下部コンタクトホール130hは上部ドレイン電極263のチップ領域263tに近くに位置する中間ドレイン電極262の側面を露出できる。
図5iに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の製造方法は、前記下部オーバーコート層130上に連結電極310、補助電極320、連結クラッド層410及び補助クラッド層420を形成する段階を含むことができる。
補助電極320は連結電極310と同時に形成され得る。例えば、連結電極310及び補助電極320を形成する工程は、下部オーバーコート層130上に下部導電性物質層及び上部導電性物質層を順に形成する段階、及び積層された下部導電性物質層と上部導電性物質層をパターニングする段階を含むことができる。積層された下部導電性物質層と上部導電性物質層は下部オーバーコート層130の下部コンタクトホール130hを満たすことができる。連結電極310は下部オーバーコート層130の下部コンタクトホール130hを満たす下部導電性物質層及び上部導電性物質層を含むことができる。補助電極320は連結電極310から離隔することができる。
補助クラッド層420は連結クラッド層410と同時に形成することができる。例えば、連結クラッド層410及び補助クラッド層420を形成する段階は、連結電極310及び補助電極320上にクラッド物質層を形成する段階、及びクラッド物質層をパターニングする段階を含むことができる。連結クラッド層410は連結電極310を覆うことができる。補助クラッド層420は補助電極320を覆うことができる。補助クラッド層420は連結クラッド層410から離隔することができる。
図5jに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、連結クラッド層410及び補助クラッド層420上に上部コンタクトホール141h及び貫通ホール142hを含む上部オーバーコート層140を形成する段階、上部オーバーコート層140上に上部コンタクトホール141hを介して連結電極310と電気的に連結される下部発光電極510及び貫通ホール142hを介して補助電極320と電気的に連結される中間電極550を形成する段階、下部発光電極510の縁部及び中間電極550の縁部を覆うバンク絶縁膜150を形成する段階、及びバンク絶縁膜150によって露出した中間電極550の表面上に隔壁600を形成する段階を含むことができる。
隔壁600を形成する段階は、バンク絶縁膜150と同時に中間電極550の表面を部分的に露出する下部隔壁610を形成する段階、及び下部隔壁610上に上部隔壁620を形成する段階を含むことができる。
図1及び図2aに示したように、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、バンク絶縁膜150及び隔壁600が形成された下部基板100上に有機発光層520及び上部発光電極530を順次形成して発光構造物500を完成する段階を含むことができる。
有機発光層520は相対的にカバレッジが良くない工程で形成することができる。例えば、有機発光層520を形成する段階は熱蒸着(thermal evaporation)工程を含むことができる。有機発光層520は隔壁600によって中間電極550の一部領域を露出できる。
上部発光電極530は相対的にカバレッジが良い工程で形成することができる。例えば、上部発光電極530を形成する段階は、スパッタリング工程を含むことができる。上部発光電極530は有機発光層520によって露出した中間電極550と直接接触することができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、発光構造物500が形成された下部基板100をブラックマトリックス710及びカラーフィルター720が形成された上部基板700と合着する工程を含むことができる。
下部基板100と上部基板700を合着する工程は、発光構造物500、ブラックマトリックス710及びカラーフィルター720の間に充填材800を満たす段階を含むことができる。
本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、薄膜トランジスタ200上に下部保護膜120を形成する工程によって薄膜トランジスタ200のドレイン電極260の側面が部分的に露出するので、下部保護膜120にコンタクトホールを形成する工程を省略することができる。したがって、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、下部保護膜120上に形成される下部オーバーコート層130の下部コンタクトホール130hによって下部保護膜120が覆われなかったドレイン電極260の側面を露出することにより、下部保護膜120及び下部オーバーコート層130によって離隔したドレイン電極260と連結電極310を電気的に連結するコンタクトホールの形成工程を単純化することができる。また、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、下部オーバーコート層130の下部コンタクトホール130hをコンタクトホールの整列のための工程マージンを考慮せずに形成することができるので、下部コンタクトホール130hを相対的に小さなサイズに形成することができる。したがって、本発明の実施例によるディスプレイ装置の形成方法は、製造コスト及び時間を節減し、集積化することが可能となる。
110 下部基板
120 下部保護膜
131 下部オーバーコート層
132 上部オーバーコート層
200 薄膜トランジスタ
260 ドレイン電極
261 下部ドレイン電極
262 中間ドレイン電極
263 上部ドレイン電極
263t 上部チップ(upper tip)
300 連結電極
400 補助電極
500 発光構造物

Claims (13)

  1. 下部基板上に位置し、第1コンタクトホールを含む第1オーバーコート層、
    前記下部基板と前記第1オーバーコート層の間に位置し、前記第1コンタクトホールと重畳する端部を有するドレイン電極を含む薄膜トランジスタ、
    前記薄膜トランジスタと前記第1オーバーコート層の間に位置し、前記ドレイン電極の前記端部の側面を部分的に露出する下部保護膜、及び
    前記第1オーバーコート層上に位置し、前記第1コンタクトホールを介して前記薄膜トランジスタと電気的に連結される発光構造物を含み、
    前記ドレイン電極の前記端部はアンダーカット領域を含む、ディスプレイ装置。
  2. 前記ドレイン電極の前記アンダーカット領域と重畳する前記下部保護膜は前記ドレイン電極の前記端部の外側に位置する前記下部保護膜から離隔する、請求項1に記載のディスプレイ装置。
  3. 前記ドレイン電極は、第1ドレイン電極、及び前記第1ドレイン電極と前記下部保護膜の間に位置する第2ドレイン電極を含み、
    前記第2ドレイン電極の側面は前記第1ドレイン電極の側面より前記第1コンタクトホールの内側に近くに位置する、請求項1に記載のディスプレイ装置。
  4. 前記下部保護膜は前記第1ドレイン電極の側面を露出する、請求項3に記載のディスプレイ装置。
  5. 前記第2ドレイン電極は前記第1ドレイン電極に対してエッチング選択比を有する、請求項3に記載のディスプレイ装置。
  6. 前記第2ドレイン電極は前記第1ドレイン電極よりエッチング速度が遅い物質を含む、請求項5に記載のディスプレイ装置。
  7. 前記第1オーバーコート層と前記発光構造物の間に配置され、前記第1コンタクトホールの内側に延伸する連結電極、及び
    前記連結電極と前記発光構造物の間に配置され、前記連結電極と重畳する第2コンタクトホールを含む第2オーバーコート層をさらに含み、
    前記発光構造物は前記連結電極及び前記第2コンタクトホールを介して前記薄膜トランジスタと電気的に連結される、請求項1に記載のディスプレイ装置。
  8. 前記第1オーバーコート層と前記第2オーバーコート層の間に配置され、前記連結電極から離隔する補助電極をさらに含み、
    前記第2オーバーコート層は前記補助電極と重畳する貫通ホールをさらに含み、
    前記発光構造物は、前記第2コンタクトホールを介して前記連結電極と連結される下部発光電極、前記貫通ホールを介して前記補助電極と連結される上部発光電極、及び前記下部発光電極と前記上部発光電極の間に配置される有機発光層を含む、請求項7に記載のディスプレイ装置。
  9. 第1電極層及び前記第1電極層上に位置し、前記第1電極層の外側に位置するチップ(tip)領域を有する第2電極層を含む第1電極、
    前記第1電極上に位置し、前記第2電極層の前記チップ領域の側面と重畳するコンタクトホールを含む上部絶縁膜、
    前記上部絶縁膜上に位置し、前記コンタクトホールを介して前記第1電極層の側面と連結される第2電極、及び
    前記第1電極と前記上部絶縁膜の間に配置され、前記第1電極層の前記側面を露出する下部絶縁膜を含む、ディスプレイ装置。
  10. 前記第2電極上に位置する有機発光層、及び
    前記発光層上に位置する第3電極をさらに含む、請求項9に記載のディスプレイ装置。
  11. 前記第2電極層の厚さは前記第1電極層の厚さより小さい、請求項9に記載のディスプレイ装置。
  12. 前記第2電極層の側面は正テーパー状を有し、前記第1電極層の前記チップ領域の端部は逆テーパー状を有する、請求項9に記載のディスプレイ装置。
  13. 半導体パターンのチャネル領域と重畳するゲート電極、
    前記半導体パターンと前記ゲート電極の間に配置されるゲート絶縁膜、及び
    前記第1電極と同一層に配置され、前記半導体パターンのソース領域と連結されるソース電極をさらに含み、
    前記第1電極は前記半導体パターンのドレイン領域と連結される、請求項9に記載のディスプレイ装置。
JP2017229779A 2016-11-30 2017-11-30 二つの電極の間に位置する多数の絶縁膜を含むディスプレイ装置 Active JP6542864B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160161609A KR20180061903A (ko) 2016-11-30 2016-11-30 두 개의 전극들 사이에 위치하는 다수의 절연막들을 포함하는 디스플레이 장치
KR10-2016-0161609 2016-11-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018092168A true JP2018092168A (ja) 2018-06-14
JP6542864B2 JP6542864B2 (ja) 2019-07-10

Family

ID=60515189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017229779A Active JP6542864B2 (ja) 2016-11-30 2017-11-30 二つの電極の間に位置する多数の絶縁膜を含むディスプレイ装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10516011B2 (ja)
EP (1) EP3331016A1 (ja)
JP (1) JP6542864B2 (ja)
KR (1) KR20180061903A (ja)
CN (1) CN108122929B (ja)
TW (1) TWI662339B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020009645A (ja) * 2018-07-09 2020-01-16 株式会社Joled 有機el表示パネル及びその製造方法、並びに有機el表示装置、電子機器
US10879327B2 (en) 2018-07-09 2020-12-29 Joled Inc. Organic EL display panel and method of manufacturing the same, organic EL display device and electronic apparatus

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102494418B1 (ko) 2015-04-13 2023-01-31 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 패널, 데이터 처리 장치, 및 표시 패널의 제조방법
KR102405695B1 (ko) * 2015-08-31 2022-06-03 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
CN110476200B (zh) * 2017-03-29 2021-11-16 夏普株式会社 Tft基板、tft基板的制造方法、显示装置
CN108735761A (zh) * 2017-04-20 2018-11-02 京东方科技集团股份有限公司 导电图案结构及其制备方法、阵列基板和显示装置
KR101976832B1 (ko) * 2017-11-06 2019-05-10 엘지디스플레이 주식회사 표시장치
CN109166897A (zh) * 2018-09-03 2019-01-08 京东方科技集团股份有限公司 透明显示面板、其制备方法及显示装置
KR20200036451A (ko) * 2018-09-28 2020-04-07 엘지디스플레이 주식회사 표시장치
KR20200049336A (ko) * 2018-10-31 2020-05-08 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
KR102624516B1 (ko) * 2018-12-04 2024-01-16 삼성디스플레이 주식회사 표시장치 및 이의 제조 방법
US11818912B2 (en) * 2019-01-04 2023-11-14 Apple Inc. Organic light-emitting diode display panels with moisture blocking structures
CN109950283B (zh) * 2019-03-25 2021-11-19 昆山国显光电有限公司 一种显示驱动模组、显示面板及显示驱动模组的制备方法
CN110112205B (zh) * 2019-06-18 2021-04-09 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其制造方法、有机发光二极管显示装置
CN110911461B (zh) * 2019-11-26 2023-06-06 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 Oled显示面板及其制作方法
US11126221B2 (en) * 2019-11-28 2021-09-21 Innolux Corporation Transparent display device
CN111106261B (zh) 2019-12-06 2021-02-26 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及显示装置
KR20210101353A (ko) * 2020-02-07 2021-08-19 삼성디스플레이 주식회사 도전 패턴의 제조 방법, 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR20220042815A (ko) * 2020-09-28 2022-04-05 엘지디스플레이 주식회사 발광표시패널 및 이를 이용한 발광표시장치
CN112331801B (zh) * 2020-10-30 2023-11-28 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种显示面板及其制备方法和显示装置
KR20220073316A (ko) 2020-11-26 2022-06-03 엘지디스플레이 주식회사 표시장치

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11214326A (ja) * 1998-01-29 1999-08-06 Miyazaki Oki Electric Co Ltd 半導体装置の製造方法
JP2001516153A (ja) * 1997-09-05 2001-09-25 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド Cvdバリア層を有するボーダーレスバイア
JP2005141213A (ja) * 2000-01-25 2005-06-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置の作製方法
JP2006332209A (ja) * 2005-05-24 2006-12-07 Sharp Corp 薄膜トランジスタ基板及びその製造方法
US20120086881A1 (en) * 2010-10-12 2012-04-12 Jeong-Oh Kim Array substrate for liquid crystal display device and fabrication method thereof
US20140253850A1 (en) * 2013-03-07 2014-09-11 Innolux Corporation Liquid Crystal Display Panel and Liquid Crystal Display Device Containing the Same
US20140312323A1 (en) * 2013-04-23 2014-10-23 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting diode display device and method of fabricating the same
JP2015015475A (ja) * 2003-06-16 2015-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
US20160020422A1 (en) * 2014-07-16 2016-01-21 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting display device and method of manufacturing the same
US20160190225A1 (en) * 2014-12-29 2016-06-30 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting display device and method of manufacturing the same

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW334582B (en) * 1996-06-18 1998-06-21 Handotai Energy Kenkyusho Kk Semiconductor device and method of fabtricating same
KR100925458B1 (ko) * 2003-01-17 2009-11-06 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법
WO2011111529A1 (en) * 2010-03-12 2011-09-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
KR101318595B1 (ko) * 2010-08-03 2013-10-15 샤프 가부시키가이샤 박막 트랜지스터 기판

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001516153A (ja) * 1997-09-05 2001-09-25 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッド Cvdバリア層を有するボーダーレスバイア
JPH11214326A (ja) * 1998-01-29 1999-08-06 Miyazaki Oki Electric Co Ltd 半導体装置の製造方法
JP2005141213A (ja) * 2000-01-25 2005-06-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置の作製方法
JP2015015475A (ja) * 2003-06-16 2015-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置
JP2006332209A (ja) * 2005-05-24 2006-12-07 Sharp Corp 薄膜トランジスタ基板及びその製造方法
US20120086881A1 (en) * 2010-10-12 2012-04-12 Jeong-Oh Kim Array substrate for liquid crystal display device and fabrication method thereof
US20140253850A1 (en) * 2013-03-07 2014-09-11 Innolux Corporation Liquid Crystal Display Panel and Liquid Crystal Display Device Containing the Same
US20140312323A1 (en) * 2013-04-23 2014-10-23 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting diode display device and method of fabricating the same
US20160020422A1 (en) * 2014-07-16 2016-01-21 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting display device and method of manufacturing the same
US20160190225A1 (en) * 2014-12-29 2016-06-30 Lg Display Co., Ltd. Organic light emitting display device and method of manufacturing the same

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020009645A (ja) * 2018-07-09 2020-01-16 株式会社Joled 有機el表示パネル及びその製造方法、並びに有機el表示装置、電子機器
US10879327B2 (en) 2018-07-09 2020-12-29 Joled Inc. Organic EL display panel and method of manufacturing the same, organic EL display device and electronic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
TWI662339B (zh) 2019-06-11
US20180151647A1 (en) 2018-05-31
KR20180061903A (ko) 2018-06-08
EP3331016A1 (en) 2018-06-06
CN108122929A (zh) 2018-06-05
US10516011B2 (en) 2019-12-24
TW201821883A (zh) 2018-06-16
JP6542864B2 (ja) 2019-07-10
CN108122929B (zh) 2021-12-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6542864B2 (ja) 二つの電極の間に位置する多数の絶縁膜を含むディスプレイ装置
US10224383B2 (en) Organic light-emitting display apparatus including pixel defining layer having first and second inclination portions and method of manufacturing the same
JP6571750B2 (ja) 連結クラッド電極を含む有機発光表示装置
KR102443703B1 (ko) 표시 장치 및 이의 제조 방법
US10937838B2 (en) Organic light emitting display device
US10529790B2 (en) Organic light-emitting diode display and method of manufacturing the same with no cladding process
KR102447049B1 (ko) 대면적 미러 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR102392708B1 (ko) 보조 전극을 포함하는 디스플레이 장치
TW201826546A (zh) 具有發光結構的顯示裝置
KR20200042752A (ko) 발광 소자를 포함하는 디스플레이 장치
US11894506B2 (en) Display apparatus having a pad spaced away from an encapsulating element and a black matrix on the encapsulating element
US20230118675A1 (en) Display Apparatus Having a Connecting Electrode which Crosses a Bending Area
KR20180061902A (ko) 발광 영역 및 투과 영역을 포함하는 유기 발광 표시 장치
KR102511044B1 (ko) 블랙 매트릭스를 포함하는 디스플레이 장치
KR102567323B1 (ko) 차광 패턴을 포함하는 디스플레이 장치
KR102634180B1 (ko) 오버 코트층 상에 위치하는 발광 소자를 포함하는 디스플레이 장치 및 이의 제조 방법
KR20160039092A (ko) 평판 표시장치용 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법
US20170345879A1 (en) Organic light-emitting display device having bank insulating layer
US20230209919A1 (en) Display apparatus having a light-emitting device
KR102666206B1 (ko) 컬러 필터를 포함하는 디스플레이 장치
KR20210086472A (ko) 벤딩 영역을 가로지르는 연결 전극을 포함하는 디스플레이 장치
KR102537439B1 (ko) 유기 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법
KR101960390B1 (ko) 박막 트랜지스터를 포함하는 디스플레이 장치
KR20180062719A (ko) 적층된 도전층들 사이에 위치하는 절연막을 포함하는 디스플레이 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20181025

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20190125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190514

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190613

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6542864

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250