JP2018058160A - Dressing method of grinding grindstone - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To efficiently execute dressing of a grinding grindstone without using manpower.SOLUTION: A height difference ΔH between a reference surface 500 of a reference table 50 and a holding surface 200 of a holding table 2, is determined by a height gage, and a height position Z2 of a grinding surface when the grinding surface 340a of a grinding grindstone 340 for changing a height position by abrasion and replacement, contacts with the holding surface 200, is grasped as a relative position with the reference surface 500 as a reference. A thickness T of a dressing grindstone 8 is added to the height position of the grinding surface 340a, and dressing is executed by grinding-feeding from the height position Z3 by determining the height position Z3 where the grinding surface 340a starts contact with the dressing grindstone 8.SELECTED DRAWING: Figure 5

Description

本発明は、研削砥石をドレッシングする方法に関する。   The present invention relates to a method for dressing a grinding wheel.

半導体ウエーハ等の板状ワークを研削する研削装置は、板状ワークを保持する保持テーブルと、環状に研削砥石が配設された研削ホイールを備えた研削手段とを備え、回転する研削砥石を保持テーブルに保持された板状ワークに接触させて押圧することにより板状ワークを研削する。   A grinding apparatus for grinding a plate-like workpiece such as a semiconductor wafer has a holding table for holding the plate-like workpiece and a grinding means having a grinding wheel in which a grinding wheel is arranged in an annular shape, and holds a rotating grinding wheel. The plate-like workpiece is ground by contacting and pressing the plate-like workpiece held on the table.

研削砥石を用いてサファイアやSiCなどの難削材を研削すると、研削砥石の研削面に目つぶれが生じやすいため、研削砥石のドレッシングを頻繁に行う必要がある。研削砥石のドレッシングは、例えば、保持テーブルにおいてドレッシング砥石を保持し、ドレッシング砥石に回転する研削砥石を接触させることにより行う(例えば、特許文献1参照)。   When a difficult-to-cut material such as sapphire or SiC is ground using a grinding wheel, the ground surface of the grinding wheel is likely to be crushed, and therefore it is necessary to frequently dress the grinding wheel. The dressing of the grinding wheel is performed, for example, by holding the dressing wheel on a holding table and bringing the rotating grinding wheel into contact with the dressing wheel (see, for example, Patent Document 1).

また、難削材を研削すると、研削砥石が摩耗しやすい。さらに、磨耗の度合いが高くなると、研削ホイールを交換する必要がある。したがって、難削材の研削では、研削ホイールの交換頻度が高くなる。   Further, when a difficult-to-cut material is ground, the grinding wheel is likely to be worn. Furthermore, if the degree of wear increases, it is necessary to replace the grinding wheel. Therefore, in grinding difficult-to-cut materials, the frequency of exchanging the grinding wheel increases.

ドレッシングを行った後、研削砥石が磨耗した後、及び研削ホイールを交換した後は、研削砥石の研削面の高さ位置が変わるため、板状ワークを所定の厚さに仕上げるために、研削面の原点出し(セットアップ)を行う必要がある。かかるセットアップは、研削手段を徐々に降下させていき、研削砥石の研削面と保持テーブルの保持面とが接触した時の研削手段のZ軸方向の位置を認識することにより行われる(例えば、特許文献2参照)。また、研削砥石の磨耗量は、セットアップ時において研削砥石の研削面と保持テーブルの保持面とが接触した時の研削手段の高さを基準として、研削終了時の研削手段の位置とワークの仕上がり厚さとに基づき算出しているため、研削砥石の磨耗量を算出するためにも、セットアップは必須となる。   After dressing, after the grinding wheel is worn out, and after changing the grinding wheel, the height of the grinding surface of the grinding wheel changes. It is necessary to perform the origin search (setup). Such setup is performed by gradually lowering the grinding means and recognizing the position of the grinding means in the Z-axis direction when the grinding surface of the grinding wheel and the holding surface of the holding table come into contact (for example, patents). Reference 2). The amount of wear of the grinding wheel is determined based on the height of the grinding means when the grinding surface of the grinding wheel and the holding surface of the holding table come into contact during setup. Since the calculation is based on the thickness, setup is essential for calculating the wear amount of the grinding wheel.

特開2015−178149号公報JP2015-178149A 特開2014−024145号公報JP 2014-024145 A

しかし、セットアップでは、上記のように、研削砥石の研削面と保持テーブルの保持面とを接触させる必要があるため、ドレッシング砥石が保持テーブルに保持されている状態では、セットアップはできない。保持テーブルからドレッシング砥石を取り外せばセットアップを行うことは可能であるが、ドレッシング砥石を離脱させる作業は、オペレータが行う必要があり、生産性が低下する要因となっている。   However, in the setup, since it is necessary to bring the grinding surface of the grinding wheel and the holding surface of the holding table into contact as described above, the setup cannot be performed in a state where the dressing wheel is held by the holding table. Although the setup can be performed by removing the dressing grindstone from the holding table, the operator needs to perform the work of detaching the dressing grindstone, which causes a reduction in productivity.

本発明は、このような問題にかんがみなされたもので、人手を介さずに、効率よくセットアップ及び研削砥石のドレッシングができるようにすることを課題とする。   The present invention has been considered in view of such a problem, and an object thereof is to enable efficient setup and dressing of a grinding wheel without manual intervention.

本発明は、ウエーハを保持する保持面を有する保持テーブルと、研削砥石が環状に配設され回転可能な研削ホイールを用いて該保持テーブルの該保持面に保持されたウエーハを研削する研削手段と、該研削手段を該保持面に対して垂直方向に研削送りする研削送り手段と、該保持テーブルの該保持面の高さを測定するハイトゲージと、該保持テーブルに併設され上面に基準面を備え上下動可能な基準テーブルと、該基準テーブルが一定距離下降したことを検出する検出部と、演算機能を有する算出手段と、該算出手段が用いる値又は該算出手段により算出された値を記憶する記憶手段とを備える研削装置を用いた研削砥石のドレッシング方法であって、該保持テーブルの該保持面に板状のドレッシング砥石を保持させるドレッシング砥石保持工程と、該ハイトゲージが測定した該基準面の高さと該ハイトゲージが測定した該保持面の高さとの差(ΔH)を算出するテーブル高さ差算出工程と、該研削送り手段が該研削手段を研削送りし該研削砥石の研削面が該基準テーブルを押し下げることにより該基準テーブルが一定距離下降したことを該検出部が検出した時の該研削送り手段が認識する該研削手段の高さ位置(Z1)を記憶する第1の研削手段高さ記憶工程と、 該第1の研削手段高さ記憶工程で記憶した該研削手段の高さ位置(Z1)と、該テーブル高さ差算出工程で算出した該ハイトゲージが測定した該保持面の高さと該ハイトゲージが測定した該基準面の高さとの差(ΔH)と、該基準テーブルが上限位置から一定距離下降したことを該検出部が検出した時の該一定距離(ΔZ)とを用いて、該研削面が該保持面に接触した時に該研削送り手段が認識する該研削手段の高さ位置Z2を
Z2=Z1−(ΔH−ΔZ)
の式により算出して記憶する第2の研削手段高さ記憶工程と、該第2の研削手段高さ記憶工程で記憶した該研削手段の高さ位置にあらかじめ記憶した該ドレッシング砥石の厚みを加算して該ドレッシング砥石の上面に該研削面が接触する時の該研削送り手段が認識する該研削手段の高さ位置を算出するドレッシング開始高さ算出工程と、該ドレッシング開始高さ算出工程で算出した該研削送り手段が認識する該研削手段の高さから研削送りして該保持手段が保持する該ドレッシング砥石によって該研削面のドレッシングを行うドレッシング工程と、を備え、該保持テーブルが保持した該ドレッシング砥石で該研削砥石の研削面をドレッシングする。
The present invention relates to a holding table having a holding surface for holding a wafer, and a grinding means for grinding the wafer held on the holding surface of the holding table using a grinding wheel in which a grinding wheel is annularly arranged and rotatable. A grinding feed means for grinding and feeding the grinding means in a direction perpendicular to the holding surface; a height gauge for measuring the height of the holding surface of the holding table; and a reference surface provided on the upper surface of the holding table. A reference table that can be moved up and down, a detection unit that detects that the reference table has been lowered by a certain distance, a calculation unit having a calculation function, and a value used by the calculation unit or a value calculated by the calculation unit is stored. A method for dressing a grinding wheel using a grinding device comprising a storage means, wherein the dressing stone is held by holding the plate-shaped dressing wheel on the holding surface of the holding table A table height difference calculating step for calculating a difference (ΔH) between the height of the reference surface measured by the height gauge and the height of the holding surface measured by the height gauge, and the grinding feed means The height position of the grinding means recognized by the grinding feed means when the detection unit detects that the reference table has been lowered by a certain distance by the grinding feed and the grinding surface of the grinding wheel pushing down the reference table ( Z1) is stored in the first grinding means height storage step, the grinding means height position (Z1) stored in the first grinding means height storage step, and the table height difference calculation step is calculated. When the detection unit detects that the difference between the height of the holding surface measured by the height gauge and the height of the reference surface measured by the height gauge (ΔH) and that the reference table has been lowered a certain distance from the upper limit position. The constant distance (ΔZ ) To determine the height position Z2 of the grinding means recognized by the grinding feed means when the grinding surface comes into contact with the holding surface. Z2 = Z1− (ΔH−ΔZ)
The second grinding means height storing step calculated and stored according to the formula, and the dressing stone thickness stored in advance in the height position of the grinding means stored in the second grinding means height storing step are added. The dressing start height calculating step for calculating the height position of the grinding means recognized by the grinding feed means when the grinding surface contacts the upper surface of the dressing grindstone, and the dressing start height calculating step Dressing step of dressing the ground surface with the dressing grindstone held by the holding means after being fed from the height of the grinding means recognized by the grinding feed means, and held by the holding table Dressing the grinding surface of the grinding wheel with a dressing wheel.

上記研削砥石のドレッシング方法において、前記研削装置が、前記保持テーブルをi個備え、該i個の保持テーブルは、回転可能なターンテーブルによって自転可能に支持されるとともに該ターンテーブルの回転軸を中心として公転可能である場合は、前記テーブル高さ差算出工程では、該i個の保持テーブルのぞれぞれの保持面の高さと前記ハイトゲージが測定した前記基準面の高さとの差(ΔHi)をそれぞれ算出し、前記第2の研削手段高さ記憶工程では、前記研削面が該i個の保持テーブルのそれぞれに接触した時に該研削送り手段が認識する該研削手段のそれぞれの高さ位置(Z2i)を
Z2i=Z1−(ΔHi−ΔZ)
の式により算出する。ここで、iは、1からiまでの値をとる。
In the above grinding wheel dressing method, the grinding apparatus includes i holding tables, and the i holding tables are rotatably supported by a rotatable turntable and centered on a rotation axis of the turntable. In the table height difference calculating step, the difference (ΔHi) between the height of the holding surface of each of the i holding tables and the height of the reference surface measured by the height gauge. In the second grinding means height storing step, each height position of the grinding means recognized by the grinding feed means when the grinding surface comes into contact with each of the i holding tables ( Z2i) Z2i = Z1− (ΔHi−ΔZ)
It is calculated by the following formula. Here, i takes a value from 1 to i.

本発明では、基準テーブルの基準面と保持テーブルの保持面との高低差をハイトゲージによって求めておき、磨耗や交換により高さ位置が変化する研削砥石の研削面が保持面と接触する時の研削面の高さ位置は、基準面を基準とする相対位置として把握する。そして、その研削面の高さ位置にドレッシング砥石の厚さを加算して、研削面がドレッシング砥石との接触を開始する高さ位置を求め、その高さ位置から研削送りしてドレッシングを行う。研削砥石が保持面に接触する時の研削面の高さ位置を、基準テーブルの基準面との相対関係によって認識するため、保持テーブルにドレッシング砥石が保持されていても、ドレッシング砥石を保持テーブルから離脱させずに、研削砥石が保持面に接触する時の研削面の高さ位置を求めることができる。したがって、人手を介さずに、セットアップ及び研削砥石のドレッシングを行うことができる。
また、保持テーブルが複数ある場合は、各保持テーブルの保持面の高さ位置が異なる場合であっても、基準テーブルの高さとの相対関係から、研削砥石が各保持面に接触する高さをそれぞれ求めることができる。
In the present invention, the height difference between the reference surface of the reference table and the holding surface of the holding table is obtained by a height gauge, and grinding is performed when the grinding surface of the grinding wheel whose height position changes due to wear or replacement contacts the holding surface. The height position of the surface is grasped as a relative position with respect to the reference surface. Then, the thickness of the dressing grindstone is added to the height position of the grinding surface to obtain a height position at which the grinding surface starts to contact the dressing grindstone, and dressing is performed by feeding from the height position. Since the height position of the grinding surface when the grinding wheel contacts the holding surface is recognized by the relative relationship with the reference surface of the reference table, the dressing wheel is removed from the holding table even if the dressing wheel is held on the holding table. Without separating, the height position of the grinding surface when the grinding wheel contacts the holding surface can be obtained. Therefore, setup and dressing of the grinding wheel can be performed without human intervention.
In addition, when there are multiple holding tables, the height at which the grinding wheel contacts each holding surface is determined from the relative relationship with the height of the reference table even if the holding surface height position of each holding table is different. Each can be requested.

研削装置の第1実施形態を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a first embodiment of a grinding apparatus. ドレッシング砥石保持工程を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows a dressing grindstone holding process typically. 保持面高さ測定工程を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows a holding surface height measurement process typically. 基準面高さ測定工程を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows a reference surface height measurement process typically. 第1の研削手段高さ記憶工程及び第2の研削手段高さ記憶工程を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the 1st grinding means height memory | storage process and the 2nd grinding means height memory | storage process. ドレッシング工程におけるドレッシング開始時の状態を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the state at the time of the dressing start in a dressing process. 第3の研削手段高さ記憶工程及び第4の研削手段高さ記憶工程を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the 3rd grinding means height memory | storage process and the 4th grinding means height memory | storage process. 研削工程における研削開始時の状態を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the state at the time of the grinding start in a grinding process. 研削装置の第2実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows 2nd Embodiment of a grinding device. 研削面が複数の保持面に接触した時に研削送り手段が認識するそれぞれの研削手段の高さ位置を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the height position of each grinding means which a grinding feed means recognizes when a grinding surface contacts a some holding surface.

1 第1実施形態
図1に示す研削装置1は、保持テーブル2に保持されたウエーハを研削手段3によって研削する装置である。保持テーブル2は、図示しない送り手段によって駆動されて基台10上を前後方向(Y軸方向)に移動可能であるとともに、回転可能である。保持テーブル2は、多孔質部材によって形成された吸着部20と、吸着部20を支持する枠体21とを備えている。吸着部20は、図示しない吸引源に連通している。吸着部20の上面と枠体21の上面とは面一に形成されており、その面が保持面200を構成している。保持テーブル20の周囲は、カバー22によって覆われている。
1 First Embodiment A grinding apparatus 1 shown in FIG. 1 is an apparatus for grinding a wafer held on a holding table 2 by a grinding means 3. The holding table 2 is driven by feeding means (not shown) and can move on the base 10 in the front-rear direction (Y-axis direction) and is rotatable. The holding table 2 includes an adsorption portion 20 formed of a porous member and a frame body 21 that supports the adsorption portion 20. The suction unit 20 communicates with a suction source (not shown). The upper surface of the suction part 20 and the upper surface of the frame body 21 are formed flush with each other, and the surface constitutes the holding surface 200. The periphery of the holding table 20 is covered with a cover 22.

研削手段3は、軸方向が略鉛直方向(Z軸方向)である回転軸30と、回転軸30を回転可能に支持するハウジング31と、回転軸30を回転駆動するモータ32と、回転軸30の下端に接続された円環状のマウント33と、マウント33の下面に着脱可能に連結された研削ホイール34とを備える。研削ホイール34は、ホイール基台341と、ホイール基台341の底面に環状に配設された略直方体形状の複数の研削砥石340とを備える。研削砥石340は、例えば、レジンボンドやメタルボンド等でダイヤモンド砥粒等が固着されて成形されており、その下面が、ウエーハを研削する研削面340aとなっている。なお、研削砥石340は、環状に連なって一体に形成されているものでもよい。   The grinding means 3 includes a rotating shaft 30 whose axial direction is a substantially vertical direction (Z-axis direction), a housing 31 that rotatably supports the rotating shaft 30, a motor 32 that rotationally drives the rotating shaft 30, and a rotating shaft 30. An annular mount 33 connected to the lower end of the mount 33 and a grinding wheel 34 removably coupled to the lower surface of the mount 33 are provided. The grinding wheel 34 includes a wheel base 341 and a plurality of grinding wheels 340 having a substantially rectangular parallelepiped shape arranged annularly on the bottom surface of the wheel base 341. The grinding wheel 340 is formed by, for example, a diamond bond or the like being fixed by a resin bond, a metal bond, or the like, and its lower surface is a grinding surface 340a for grinding the wafer. Note that the grinding wheel 340 may be formed integrally in a ring.

研削手段3は、研削送り手段4によって駆動されて、保持面200に対して垂直な方向に研削送りされる。研削送り手段4は、略鉛直方向(Z軸方向)の軸心を有するボールネジ40と、ボールネジ40と平行に配設された一対のガイドレール41と、ボールネジ40の上端に連結されボールネジ40を回動させるモータ42と、内部のナットがボールネジ40に螺合し側部がガイドレール41に摺接する昇降板43と、昇降板43に連結され研削手段4を保持するホルダ44とを備えており、モータ42がボールネジ40を回動させると、これに伴い昇降板43がガイドレール41にガイドされてZ軸方向に往復移動し、ホルダ44に保持された研削手段3がZ軸方向に研削送りされる。モータ42は、制御手段7によって制御される。   The grinding means 3 is driven by the grinding feed means 4 and is ground and fed in a direction perpendicular to the holding surface 200. The grinding feed means 4 is connected to a ball screw 40 having a substantially vertical (Z-axis direction) axis center, a pair of guide rails 41 arranged in parallel to the ball screw 40, and an upper end of the ball screw 40, and rotates the ball screw 40. A motor 42 to be moved, an elevating plate 43 whose inner nut is screwed into the ball screw 40 and whose side portion is in sliding contact with the guide rail 41, and a holder 44 that is connected to the elevating plate 43 and holds the grinding means 4. When the motor 42 rotates the ball screw 40, the lifting plate 43 is guided by the guide rail 41 and reciprocated in the Z-axis direction, and the grinding means 3 held by the holder 44 is ground and fed in the Z-axis direction. The The motor 42 is controlled by the control means 7.

昇降板43には、研削手段3のZ軸方向の高さ位置を測定する高さ測定部45を備えている。また、ガイドレール41には、高さ測定部45によって読み取られるスケール46を備えており、高さ測定部45がスケール46を読み取った読み取り値が研削手段3のZ軸方向の高さ位置として制御手段7において認識される。なお、モータ42にエンコーダ47を備え、エンコーダ47の出力によって研削手段3のZ軸方向の高さ位置を制御手段7が認識するようにしてもよい。   The lift plate 43 is provided with a height measuring unit 45 that measures the height position of the grinding means 3 in the Z-axis direction. The guide rail 41 is provided with a scale 46 that is read by the height measuring unit 45, and the reading value obtained by the height measuring unit 45 reading the scale 46 is controlled as the height position of the grinding means 3 in the Z-axis direction. Recognized by means 7. The motor 42 may be provided with an encoder 47, and the control means 7 may recognize the height position of the grinding means 3 in the Z-axis direction based on the output of the encoder 47.

保持テーブル2のカバー22には、研削手段3のZ軸方向の高さ位置を測定する際の基準として機能する相対高さ基準部5が併設されている。相対高さ基準部5は、シリンダ51と、下部がシリンダ51内に収容され上部がシリンダ51から上方に突出した基準テーブル50と、シリンダ51の内部に配設され基準テーブル50が一定距離下降したことを検出する検出部52とを備えている。基準テーブル50は、その上面に、平坦に形成された基準面500を備えている。基準テーブル50は、シリンダ51によって+Z方向に付勢されており、上方から押圧力が加えられていない状態では、上限位置に位置している。   The cover 22 of the holding table 2 is provided with a relative height reference portion 5 that functions as a reference when measuring the height position of the grinding means 3 in the Z-axis direction. The relative height reference part 5 includes a cylinder 51, a reference table 50 whose lower part is accommodated in the cylinder 51 and whose upper part protrudes upward from the cylinder 51, and a reference table 50 disposed inside the cylinder 51 and lowered by a certain distance. And a detecting unit 52 for detecting this. The reference table 50 includes a reference surface 500 formed flat on the upper surface thereof. The reference table 50 is biased in the + Z direction by the cylinder 51, and is located at the upper limit position when no pressing force is applied from above.

基台10上には、保持テーブル2の保持面200のZ軸方向の高さ位置及び基準テーブル50の基準面500のZ軸方向の高さ位置を測定する面高さ測定部6を備えている。面高さ測定部6は、上下動可能な2本のハイトゲージ60を備えており、ハイトゲージ60のZ軸方向の位置によって保持面200又は基準面500のZ軸方向の高さ位置を測定することができる。   On the base 10, a surface height measuring unit 6 that measures the height position of the holding surface 200 of the holding table 2 in the Z-axis direction and the height position of the reference surface 500 of the reference table 50 in the Z-axis direction is provided. Yes. The surface height measurement unit 6 includes two height gauges 60 that can move up and down, and measures the height position of the holding surface 200 or the reference surface 500 in the Z-axis direction based on the position of the height gauge 60 in the Z-axis direction. Can do.

高さ測定部45は、記憶手段70に接続されており、高さ測定部45が測定した値は、記憶手段70において記憶される。また、記憶手段70は、演算機能を有する算出手段71に接続されている。算出手段71は、CPU及び記憶素子を備え、記憶手段70に記憶された値を使用して研削手段3が位置すべきZ軸方向の位置を算出するとともに、算出結果を記憶手段70に記憶する。   The height measuring unit 45 is connected to the storage unit 70, and the value measured by the height measuring unit 45 is stored in the storage unit 70. The storage unit 70 is connected to a calculation unit 71 having a calculation function. The calculation unit 71 includes a CPU and a storage element, calculates a position in the Z-axis direction where the grinding unit 3 should be located using a value stored in the storage unit 70, and stores the calculation result in the storage unit 70. .

次に、上記研削装置1において、保持テーブル2において図1に示すドレッシング砥石8を保持し、ドレッシング砥石8を用いて研削砥石340をドレッシングする方法について説明する。   Next, a method of dressing the grinding wheel 340 using the dressing wheel 8 by holding the dressing wheel 8 shown in FIG. 1 on the holding table 2 in the grinding apparatus 1 will be described.

(1)ドレッシング砥石保持工程
図1に示すように、ドレッシング砥石8は、接着剤等によって支持プレート80に固定される。支持プレート80は、保持テーブル2の吸着部20と同径か、または吸着部20よりも若干大径に形成されている。一方、ドレッシング砥石8は、支持プレート80よりも小径に形成されている。
(1) Dressing whetstone holding process As shown in FIG. 1, the dressing whetstone 8 is fixed to the support plate 80 with an adhesive agent or the like. The support plate 80 is formed to have the same diameter as the suction part 20 of the holding table 2 or a slightly larger diameter than the suction part 20. On the other hand, the dressing grindstone 8 has a smaller diameter than the support plate 80.

本工程では、図2に示すように、ドレッシング砥石8が固定された支持プレート80を保持テーブル2の保持面200において吸引保持し、ドレッシング砥石80の上面800を上方に露出させた状態とする。このとき、基準テーブル50は上限位置に位置している。また、研削手段3は、研削砥石340の研削面340aが基準テーブル50の基準面500及びドレッシング砥石80の上面800に接触しない位置に退避している。   In this step, as shown in FIG. 2, the support plate 80 to which the dressing grindstone 8 is fixed is sucked and held on the holding surface 200 of the holding table 2 so that the upper surface 800 of the dressing grindstone 80 is exposed upward. At this time, the reference table 50 is located at the upper limit position. Further, the grinding means 3 is retracted to a position where the grinding surface 340 a of the grinding wheel 340 does not contact the reference surface 500 of the reference table 50 and the upper surface 800 of the dressing wheel 80.

(2)保持面高さ測定工程
図3に示すように、ハイトゲージ60の先端を保持面200に接触させ、ハイトゲージ60が認識する保持面200のZ軸方向の高さ位置を測定する。ここで、ハイトゲージ60から見た略鉛直方向の軸をZg軸とし、Zg軸上における保持面200の高さ位置をZg1とする。Zg1の値は、図2に示した記憶手段70に記憶される。この測定では、ハイトゲージ60の先端を保持面200のうち枠体21の上面に接触させればよいため、ドレッシング砥石80が保持テーブル2に保持された状態においても測定可能である。
(2) Holding surface height measurement step As shown in FIG. 3, the tip of the height gauge 60 is brought into contact with the holding surface 200, and the height position in the Z-axis direction of the holding surface 200 recognized by the height gauge 60 is measured. Here, a substantially vertical axis viewed from the height gauge 60 is defined as a Zg axis, and a height position of the holding surface 200 on the Zg axis is defined as Zg1. The value of Zg1 is stored in the storage means 70 shown in FIG. In this measurement, since the tip of the height gauge 60 may be brought into contact with the upper surface of the frame body 21 in the holding surface 200, the measurement can be performed even when the dressing grindstone 80 is held on the holding table 2.

(3)基準面高さ測定工程
次に、図4に示すように、基準テーブル50が上限位置に位置する状態において、ハイトゲージ60の先端を基準テーブル50の基準面500に接触させ、ハイトゲージ60が認識する基準面500のZ軸方向の高さ位置、すなわちZg軸上における基準面500の高さ位置Zg2を測定する。Zg2の値は、図1に示した記憶手段70に記憶される。本工程も、ドレッシング砥石8が保持テーブル2に保持された状態において測定可能である。
(3) Reference Surface Height Measurement Step Next, as shown in FIG. 4, with the reference table 50 positioned at the upper limit position, the tip of the height gauge 60 is brought into contact with the reference surface 500 of the reference table 50, and the height gauge 60 is The height position in the Z-axis direction of the reference surface 500 to be recognized, that is, the height position Zg2 of the reference surface 500 on the Zg axis is measured. The value of Zg2 is stored in the storage means 70 shown in FIG. This step can also be measured in a state where the dressing grindstone 8 is held on the holding table 2.

(4)テーブル高さ差算出工程
次に、算出手段71は、記憶手段70に記憶されているZg軸上における保持面200の高さ位置Zg1の値とZg軸上における基準面500の高さ位置Zg2の値とを読み出し、図5に示すZg2とZg1との差(ΔH)を算出する。この差は、(Zg2−Zg1)の式により算出する。ここで、基準面500は保持面200よりも高い位置にあるため、ΔH=Zg2−Zg1の算出結果は、正の値となる。
(4) Table Height Difference Calculation Step Next, the calculation unit 71 stores the value of the height position Zg1 of the holding surface 200 on the Zg axis and the height of the reference surface 500 on the Zg axis stored in the storage unit 70. The value of the position Zg2 is read and the difference (ΔH) between Zg2 and Zg1 shown in FIG. 5 is calculated. This difference is calculated by the equation (Zg2-Zg1). Here, since the reference surface 500 is located higher than the holding surface 200, the calculation result of ΔH = Zg2−Zg1 is a positive value.

(5)第1の研削手段高さ記憶工程
次に、基準テーブル50を研削砥石340の下方に位置付け、研削ホイール34を回転させずに、研削送り手段4が研削手段3を研削送りして下降させていき、図5に示すように、研削砥石340によって基準テーブル50を下方に押圧することにより、研削面340aが基準テーブル50を押し下げて下降させていく。そして、基準テーブル50が一定距離(ΔZ)だけ下降し、相対高さ基準部5を構成する検出部52が基準テーブル50の下端を検出すると、基準テーブル50が一定距離下降した旨の信号が検出部52から制御手段7に通知される。この通知を受けた制御手段7は、研削送り手段4を構成する図1に示したモータ42に対して駆動の停止を指示する信号を送出する。そうすると、研削手段3の下降が停止する。研削送り手段4においては、研削手段3の下降が停止した瞬間に高さ測定部45が読み取ったスケール46の値(Z1)を認識し、その値を記憶手段70に通知し、記憶手段70に記憶させる。この時のZ1の値は、研削送り手段4が認識する研削手段3の高さ位置、すなわち、研削送り手段4から見た略鉛直方向の軸をZ軸とした場合の高さ位置の値であり、このZ軸は、ハイトゲージ60から見たZ1軸とは異なる座標系である。
(5) First grinding means height storing step Next, the reference table 50 is positioned below the grinding wheel 340, and the grinding feed means 4 feeds the grinding means 3 and lowers without rotating the grinding wheel 34. Then, as shown in FIG. 5, when the reference table 50 is pressed downward by the grinding wheel 340, the grinding surface 340 a pushes down the reference table 50 and descends. When the reference table 50 is lowered by a certain distance (ΔZ) and the detection unit 52 constituting the relative height reference unit 5 detects the lower end of the reference table 50, a signal indicating that the reference table 50 has been lowered by a certain distance is detected. The control unit 7 is notified from the unit 52. Upon receiving this notification, the control means 7 sends a signal instructing to stop driving to the motor 42 shown in FIG. Then, the descent of the grinding means 3 stops. The grinding feed unit 4 recognizes the value (Z1) of the scale 46 read by the height measuring unit 45 at the moment when the descent of the grinding unit 3 stops, notifies the storage unit 70 of the value, and stores the value in the storage unit 70. Remember me. The value of Z1 at this time is the height position of the grinding means 3 recognized by the grinding feed means 4, that is, the height position value when the substantially vertical axis viewed from the grinding feed means 4 is the Z axis. The Z axis is a coordinate system different from the Z1 axis as viewed from the height gauge 60.

なお、検出部52が基準テーブル50を検出するまでの基準テーブル50の下降量(ΔZ)は、一定となるようにあらかじめ調整されており、このΔZの値は、あらかじめ記憶手段70に記憶されている。また、検出部52が基準テーブル50を検出した時の基準面500は、ドレッシング砥石8の上面800よりも上方に位置しているため、検出部52が基準テーブル50を検出するまでの間に研削砥石34の研削面340がドレッシング砥石8の上面800に接触することはない。   Note that the descent amount (ΔZ) of the reference table 50 until the detection unit 52 detects the reference table 50 is adjusted in advance so as to be constant, and the value of ΔZ is stored in the storage unit 70 in advance. Yes. In addition, since the reference surface 500 when the detection unit 52 detects the reference table 50 is located above the upper surface 800 of the dressing grindstone 8, grinding is performed until the detection unit 52 detects the reference table 50. The grinding surface 340 of the grindstone 34 does not contact the upper surface 800 of the dressing grindstone 8.

(6)第2の研削手段高さ記憶工程
次に、算出手段71は、図5に示した第1の研削手段高さ記憶工程で記憶手段70に記憶した研削手段3の高さ位置(Z1)と、図4に示したテーブル高さ差算出工程で算出したハイトゲージ60が測定した保持面200の高さZg1とハイトゲージ60が測定した基準面の高さZg2との差(ΔH)と、基準テーブル50が上限位置から一定距離下降したことを検出部が検出した時の当該一定距離(ΔZ)とを用いて、研削面340aが200保持面に接触する時に研削送り手段4が認識する研削手段3の高さ位置を、Z軸上における第2の研削手段高さZ2として以下の(式1)により求める。
Z2=Z1−(ΔH−(ΔZ))・・・(式1)
上記(式1)では、Zg軸上の高さ位置の値は使用せず、Zg軸上における2つの位置の間の距離を用いるだけであるため、Z軸とZg軸との関係を意識する必要はなく、基準面500及び保持面200のZ軸上の位置を直接測定しなくても、当該Z軸上の位置を求めることができる。
(6) Second grinding means height storage step Next, the calculation means 71 calculates the height position (Z1) of the grinding means 3 stored in the storage means 70 in the first grinding means height storage step shown in FIG. ) And the difference (ΔH) between the height Zg1 of the holding surface 200 measured by the height gauge 60 and the height Zg2 of the reference surface measured by the height gauge 60 calculated in the table height difference calculating step shown in FIG. Grinding means that the grinding feed means 4 recognizes when the grinding surface 340a contacts the 200 holding surface by using the constant distance (ΔZ) when the detection unit detects that the table 50 is lowered by a certain distance from the upper limit position. 3 is obtained by the following (Equation 1) as the second grinding means height Z2 on the Z-axis.
Z2 = Z1− (ΔH− (ΔZ)) (Formula 1)
In the above (Equation 1), the value of the height position on the Zg axis is not used, but only the distance between the two positions on the Zg axis is used, so the relationship between the Z axis and the Zg axis is conscious. The position on the Z axis can be obtained without directly measuring the positions on the Z axis of the reference surface 500 and the holding surface 200.

本工程は、研削送り手段4から見た研削手段3のZ軸方向の高さ位置の原点出しを行ういわゆるセットアップ工程に相当するものであり、求めたZ2の値は、研削砥石340の研削面340aをドレッシング砥石8によってドレッシングするにあたり、研削送り手段4が研削手段3の高さ位置を制御する際に用いられる。また、保持テーブル2に保持されたウエーハを研削する際においても、このZ2が基準となる。   This process corresponds to a so-called setup process in which the origin of the height position in the Z-axis direction of the grinding means 3 as viewed from the grinding feed means 4 is found, and the obtained value of Z2 is the grinding surface of the grinding wheel 340. When dressing 340 a with the dressing grindstone 8, the grinding feed means 4 is used when the height position of the grinding means 3 is controlled. Also, when grinding the wafer held on the holding table 2, this Z2 becomes a reference.

(7)ドレッシング開始高さ算出工程
次に、算出手段71は、第2の研削手段高さ記憶工程で記憶した研削手段3の高さ位置Z2と、あらかじめ記憶手段70に記憶したドレッシング砥石8の厚みと支持プレート80の厚みとを合算した厚みTとを加算し、以下の(式2)によって、ドレッシング砥石8の上面800に研削面340aが接触する時の研削送り手段4が認識する図6に示す研削手段3の高さ位置Z3を算出する。
Z3=Z2+T・・・(式2)
(7) Dressing start height calculating step Next, the calculating unit 71 calculates the height position Z2 of the grinding unit 3 stored in the second grinding unit height storing step and the dressing grindstone 8 stored in the storage unit 70 in advance. The thickness T obtained by adding the thickness and the thickness of the support plate 80 is added, and the grinding feed unit 4 recognizes when the grinding surface 340a contacts the upper surface 800 of the dressing grindstone 8 according to the following (Equation 2). The height position Z3 of the grinding means 3 shown in FIG.
Z3 = Z2 + T (Formula 2)

(8)ドレッシング工程
図1に示したモータ32が研削ホイール34を回転させるとともに、研削送り手段4が研削手段3をZ軸方向下方に向けて研削送りし、図6に示すように、研削砥石340の研削面340aをドレッシング砥石8の上面800に接触させ、研削面340aをドレッシングする。研削送り手段4が研削手段3を研削送りするにあたっては、研削手段3の高さ位置が上記Z3に近づくまでは高速に下降させていき、研削手段3の高さ位置がZ3に到達する直前に研削送り速度を低速に切り換える。そして、ドレッシング開始高さ算出工程で算出した研削手段3の高さにおいて研削面340aをドレッシング砥石8の上面800に接触させ、そこからさらに研削送り手段4が研削手段3を研削送りし、研削面340aのドレッシングを行う。なお、ドレッシング中は、基準テーブル50を下降させることにより、基準テーブル50の基準面500がドレッシング砥石8の上面800よりも低い位置に位置するようにしておく。
(8) Dressing process The motor 32 shown in FIG. 1 rotates the grinding wheel 34, and the grinding feed means 4 feeds the grinding means 3 downward in the Z-axis direction. As shown in FIG. The grinding surface 340a of 340 is brought into contact with the upper surface 800 of the dressing grindstone 8, and the grinding surface 340a is dressed. When the grinding feed means 4 feeds the grinding means 3, it is lowered at a high speed until the height position of the grinding means 3 approaches Z3 and immediately before the height position of the grinding means 3 reaches Z3. Change the grinding feed speed to low speed. Then, the grinding surface 340a is brought into contact with the upper surface 800 of the dressing grindstone 8 at the height of the grinding means 3 calculated in the dressing start height calculating step, and the grinding feed means 4 further feeds the grinding means 3 from there. Perform dressing 340a. During dressing, the reference table 50 is lowered so that the reference surface 500 of the reference table 50 is positioned lower than the upper surface 800 of the dressing grindstone 8.

(9)第3の研削手段高さ記憶工程
上記のようにしてドレッシングを行うと、研削砥石340に含まれる砥粒が脱落するため、図7に示すように、ドレッシング後の研削面340bは、ドレッシング前の研削面340aよりも上方に位置することとなる。したがって、研削によってウエーハを所定の厚みに仕上げるために、ドレッシング後は、いわゆるセットアップを行う必要がある。そこで、まず、上記第1の研削手段高さ記憶工程と同様に、基準テーブル50を研削砥石340の下方に位置付け、研削ホイール34を回転させずに、研削送り手段4が研削手段3を下降させていき、図7に示すように、研削砥石340によって基準テーブル50を下方に押圧することにより、基準テーブル50を下降させていく。そして、基準テーブル50が一定距離(ΔZ)だけ下降し、相対高さ基準部5を構成する検出部52が基準テーブル50の下端を検出すると、基準テーブル50を検出した旨の信号が検出部52から制御手段7に通知される。この通知を受けた制御手段7は、研削送り手段4を構成する図1に示したモータ42に対して駆動の停止を指示する信号を送出する。そうすると、研削手段3の下降が停止する。研削送り手段4においては、研削手段3の下降が停止した瞬間に高さ測定部45が読み取ったスケール46の値(Z4)を認識し、その値を記憶手段70に通知し、記憶手段70に記憶させる。この時のZ4の値は、研削送り手段4が認識する研削手段3の高さ位置である。なお、検出部52が基準テーブル50を検出するまでの基準テーブル50の下降量(ΔZ)は一定であり、このΔZの値は、あらかじめ記憶手段70に記憶されている。また、検出部52が基準テーブル50を検出した時の基準面500は、ドレッシング砥石8の上面800よりも上方に位置しているため、検出部52が基準テーブル50を検出するまでの間に研削砥石34の研削面340がドレッシング砥石8の上面800に接触することはない。
(9) Third grinding means height storage step When dressing is performed as described above, since the abrasive grains contained in the grinding wheel 340 fall off, as shown in FIG. It will be located above the ground surface 340a before dressing. Therefore, in order to finish the wafer to a predetermined thickness by grinding, it is necessary to perform so-called setup after dressing. Therefore, first, as in the first grinding means height storing step, the reference table 50 is positioned below the grinding wheel 340, and the grinding feed means 4 lowers the grinding means 3 without rotating the grinding wheel 34. Then, as shown in FIG. 7, the reference table 50 is lowered by pressing the reference table 50 downward with the grinding wheel 340. When the reference table 50 is lowered by a certain distance (ΔZ) and the detection unit 52 constituting the relative height reference unit 5 detects the lower end of the reference table 50, a signal indicating that the reference table 50 has been detected is detected. Is notified to the control means 7. Upon receiving this notification, the control means 7 sends a signal instructing to stop driving to the motor 42 shown in FIG. Then, the descent of the grinding means 3 stops. The grinding feed unit 4 recognizes the value (Z4) of the scale 46 read by the height measuring unit 45 at the moment when the lowering of the grinding unit 3 stops, notifies the storage unit 70 of the value, and stores the value in the storage unit 70. Remember. The value of Z4 at this time is the height position of the grinding means 3 recognized by the grinding feed means 4. The descending amount (ΔZ) of the reference table 50 until the detection unit 52 detects the reference table 50 is constant, and the value of ΔZ is stored in the storage unit 70 in advance. In addition, since the reference surface 500 when the detection unit 52 detects the reference table 50 is located above the upper surface 800 of the dressing grindstone 8, grinding is performed until the detection unit 52 detects the reference table 50. The grinding surface 340 of the grindstone 34 does not contact the upper surface 800 of the dressing grindstone 8.

(10)第4の研削手段高さ記憶工程
次に、算出手段71は、図7に示した第3の研削手段高さ記憶工程で記憶手段70に記憶した研削手段3の高さ位置(Z4)と、図4に示したテーブル高さ差算出工程で算出したハイトゲージ60が測定した保持面200の高さZg1とハイトゲージ60が測定した基準面の高さZg2との差(ΔH)と、基準テーブル50が上限位置から一定距離下降したことを検出部が検出した時の当該一定距離(ΔZ)とを用いて、研削面340bが保持面200に接触する時に研削送り手段4が認識する研削手段3の高さ位置、すなわちZ軸上の高さ位置を、第4の研削手段高さZ5として以下の(式3)により求める。
Z5=Z4−(ΔH−(ΔZ))・・・(式3)
(10) Fourth grinding means height storage step Next, the calculation means 71 calculates the height position (Z4) of the grinding means 3 stored in the storage means 70 in the third grinding means height storage step shown in FIG. ) And the difference (ΔH) between the height Zg1 of the holding surface 200 measured by the height gauge 60 and the height Zg2 of the reference surface measured by the height gauge 60 calculated in the table height difference calculating step shown in FIG. Grinding means recognized by the grinding feed means 4 when the grinding surface 340b contacts the holding surface 200 using the constant distance (ΔZ) when the detection unit detects that the table 50 has been lowered by a certain distance from the upper limit position. The height position of 3, ie, the height position on the Z-axis, is obtained as the fourth grinding means height Z5 by the following (Equation 3).
Z5 = Z4− (ΔH− (ΔZ)) (Formula 3)

本工程は、いわゆるセットアップを行う工程であり、求めたZ5の値は、研削砥石340の研削面340aを保持テーブル2に保持されたウエーハに接触させて研削を行う際の基準となる高さである。   This process is a so-called setup process, and the obtained value of Z5 is a height that serves as a reference when the grinding surface 340a of the grinding wheel 340 is brought into contact with the wafer held on the holding table 2 for grinding. is there.

(11)研削開始高さ算出工程
次に、保持テーブル2からドレッシング砥石8及び支持プレート80を離脱させ、図8に示すように、表面Waに保護部材Pが貼着されたウエーハWの保護部材P側を保持面200に載置し、吸着部20に吸引力を作用させて吸着保持する。そして、ウエーハWの裏面Wbを研削するにあたり、第4の研削手段高さ記憶工程で記憶した研削手段3の高さ位置Z5と、あらかじめ記憶手段70に記憶したウエーハWの厚みと保護部材Pの厚みとを合算した厚みT1とを加算し、以下の(式4)によって、ウエーハWの裏面Wbに研削砥石340の研削面340bが接触する時の研削送り手段4が認識する図8に示す研削手段3の高さ位置Z6を算出する。
Z6=Z5+T1・・・(式4)
なお、保持テーブル2からドレッシング砥石8及び支持プレート80を離脱させ、表面Waに保護部材Pが貼着されたウエーハWの保護部材P側を保持面200に載置し吸着部20に吸引力を作用させて吸着保持する作業は、上記Z6を求めた後に行ってもよい。
(11) Grinding start height calculation step Next, the dressing grindstone 8 and the support plate 80 are detached from the holding table 2, and the protective member for the wafer W in which the protective member P is adhered to the surface Wa as shown in FIG. The P side is placed on the holding surface 200, and suction force is applied to the suction unit 20 to hold it by suction. In grinding the back surface Wb of the wafer W, the height position Z5 of the grinding means 3 stored in the fourth grinding means height storing step, the thickness of the wafer W stored in the storage means 70 in advance, and the protective member P Grinding shown in FIG. 8 is recognized by the grinding feed means 4 when the grinding surface 340b of the grinding wheel 340 is in contact with the back surface Wb of the wafer W according to the following (Equation 4). The height position Z6 of the means 3 is calculated.
Z6 = Z5 + T1 (Formula 4)
The dressing grindstone 8 and the support plate 80 are detached from the holding table 2, and the protective member P side of the wafer W having the protective member P attached to the surface Wa is placed on the holding surface 200, and suction force is applied to the suction unit 20. You may perform the operation | work which makes it act and adsorb | suck-hold after calculating | requiring said Z6.

(12)研削工程
次に、図1に示したモータ32が研削ホイール34を回転させるとともに、研削送り手段4が研削手段3を下方に研削送りしていく。研削送り手段4が研削手段3を研削送りするにあたっては、研削手段3の高さ位置が上記Z6に近づくまでは高速に下降させていき、研削手段3の高さ位置がZ6に到達する直前に研削送り速度を低速に切り換える。そして、回転する研削砥石340の研削面340bがウエーハWの裏面Wbに接触し、裏面Wbの研削が開始される。研削中は、図1に示したハイトゲージ60が裏面Wbに接触するとともに、もう1本のハイトゲージ60が枠体21の上面に接触し、2本のハイトゲージ60の高低差によって、ウエーハWの研削中の厚みと保護部材Pの厚みとが合算された値が算出され、この算出した値が所定の値に達すると、研削送り手段4が研削手段3を上昇させることにより、研削を終了する。なお、ウエーハWの研削中は、基準テーブル50を下降させることにより、基準テーブル50の基準面500が研削後のウエーハWの裏面Wbよりも低い位置に位置するようにしておく。
(12) Grinding Step Next, the motor 32 shown in FIG. 1 rotates the grinding wheel 34, and the grinding feed means 4 feeds the grinding means 3 downward. When the grinding means 4 feeds the grinding means 3, it is lowered at high speed until the height position of the grinding means 3 approaches Z6, and immediately before the height position of the grinding means 3 reaches Z6. Change the grinding feed speed to low speed. Then, the grinding surface 340b of the rotating grinding wheel 340 comes into contact with the back surface Wb of the wafer W, and grinding of the back surface Wb is started. During grinding, the height gauge 60 shown in FIG. 1 is in contact with the back surface Wb, and another height gauge 60 is in contact with the upper surface of the frame body 21, and the wafer W is being ground due to the height difference between the two height gauges 60. The sum of the thickness of the protective member P and the thickness of the protective member P is calculated. When the calculated value reaches a predetermined value, the grinding feed means 4 raises the grinding means 3 to finish grinding. During grinding of the wafer W, the reference table 50 is lowered so that the reference surface 500 of the reference table 50 is positioned at a position lower than the back surface Wb of the wafer W after grinding.

このようにして研削砥石340を用いてウエーハを研削すると、研削砥石340が磨耗する。そして、磨耗の程度によっては研削ホイール34を交換する必要性が生じる。研削ホイール34を交換すると、研削砥石340の研削面340aの位置が変わるため、上記と同様にセットアップを行う必要がある。このような場合は、第2の研削手段高さ記憶工程と同様の方法により、研削面340aが保持面200に接触する時の研削送り手段4が認識する研削手段3の高さ位置の値を求める。このセットアップを行う際は、保持テーブル2においてウエーハを保持しているが、基準テーブル50を利用した算出を行うことにより、ウエーハを取り外すことなくセットアップを行うことができる。   When the wafer is ground using the grinding wheel 340 in this way, the grinding wheel 340 is worn. Depending on the degree of wear, the grinding wheel 34 needs to be replaced. When the grinding wheel 34 is replaced, the position of the grinding surface 340a of the grinding wheel 340 changes, so that it is necessary to perform setup in the same manner as described above. In such a case, the height position value of the grinding means 3 recognized by the grinding feed means 4 when the grinding surface 340a contacts the holding surface 200 is determined by the same method as in the second grinding means height storing step. Ask. When performing this setup, the wafer is held in the holding table 2, but by performing a calculation using the reference table 50, the setup can be performed without removing the wafer.

2 第2実施形態
図9に示す研削装置1Aは、3つの保持テーブル2a、2b、2cを備え、これらの保持テーブル2a、2b、2cに保持された被加工物に対して研削手段3a、3bが研削加工を施す装置である。なお、以下では、第1実施形態の研削装置1と同様に構成される部位については、研削装置1と同一の符号を付し、その説明は省略する。
2 Second Embodiment A grinding apparatus 1A shown in FIG. 9 includes three holding tables 2a, 2b, and 2c, and grinding means 3a and 3b with respect to a workpiece held on these holding tables 2a, 2b, and 2c. Is a device for grinding. In addition, below, about the site | part comprised similarly to the grinding apparatus 1 of 1st Embodiment, the code | symbol same as the grinding apparatus 1 is attached | subjected and the description is abbreviate | omitted.

これらの保持テーブル2a、2b、2cは、回転可能なターンテーブル81によって自転可能に支持されるとともにターンテーブル81の回転軸を中心として公転可能となっている。各保持テーブル2a、2b、2cは、第1実施形態の研削装置1を構成する保持テーブル2と同様に、吸着部20が枠体21によって支持されて構成されている。   These holding tables 2a, 2b, and 2c are rotatably supported by a turntable 81 that can rotate, and can revolve around a rotation axis of the turntable 81. Each holding table 2a, 2b, 2c is configured such that the suction portion 20 is supported by a frame body 21 in the same manner as the holding table 2 constituting the grinding apparatus 1 of the first embodiment.

ターンテーブル81には、少なくとも1つの相対高さ基準部5が配設されている。相対高さ基準部5の構成は、第1実施形態の研削装置1と同様である。   At least one relative height reference portion 5 is disposed on the turntable 81. The configuration of the relative height reference portion 5 is the same as that of the grinding device 1 of the first embodiment.

基台10aには、保持テーブル2a、2b、2cの保持面200のZ軸方向の高さ位置及び基準テーブル50の基準面500のZ軸方向の高さ位置を測定する面高さ測定部6a、6bを備えている。面高さ測定部6a、6bは、研削装置1と同様に構成されており、ハイトゲージ60のZ軸方向の位置によって保持面200又は基準面500のZ軸方向の高さ位置を測定することができる。   The base 10a includes a surface height measurement unit 6a that measures the height position of the holding surface 200 of the holding tables 2a, 2b, and 2c in the Z-axis direction and the height position of the reference surface 500 of the reference table 50 in the Z-axis direction. , 6b. The surface height measuring units 6a and 6b are configured in the same manner as the grinding device 1, and can measure the height position of the holding surface 200 or the reference surface 500 in the Z-axis direction based on the position of the height gauge 60 in the Z-axis direction. it can.

基台10a上のY軸方向前部は、保持テーブル30に対してウエーハの搬入出が行われる領域である搬入出領域101となっており、基台10a上のY軸方向後方は、研削手段3a、3bによって保持テーブル2a、2b、2c上に保持されたウエーハの研削加工が行われる領域である加工領域102となっている。   The front portion in the Y-axis direction on the base 10a is a carry-in / out region 101, which is a region in which the wafer is carried into and out of the holding table 30, and the rear in the Y-axis direction on the base 10a is a grinding means. A processing region 102 is a region where the wafers held on the holding tables 2a, 2b, and 2c are ground by 3a and 3b.

基台10aの正面側には、第1のカセット載置部82a及び第2のカセット載置部82bが設けられており、第1のカセット載置部82aには加工前のウエーハが収容される第1のカセット820aが載置され、第2のカセット載置部82bには加工後の板状ワークWを収容する第2のカセット820bが載置される。   A first cassette mounting portion 82a and a second cassette mounting portion 82b are provided on the front side of the base 10a, and a wafer before processing is accommodated in the first cassette mounting portion 82a. The first cassette 820a is placed, and the second cassette 820b that houses the processed plate-like workpiece W is placed on the second cassette placement portion 82b.

第1のカセット820a及び第2のカセット820aの後方には、第1のカセット820aから加工前の板状ワークWを搬出するとともに加工後の板状ワークWを第2のカセット820bに搬入するロボット83が配設されている。ロボット83に隣接する位置には、仮置き領域84が設けられており、仮置き領域84には位置合わせ手段840が配設されている。位置合わせ手段840は、第1のカセット820aから搬出され仮置き領域84に載置されたウエーハを所定の位置に位置合わせする。   Behind the first cassette 820a and the second cassette 820a, a robot that unloads the plate-shaped workpiece W before processing from the first cassette 820a and loads the plate-shaped workpiece W after processing into the second cassette 820b. 83 is arranged. A temporary placement area 84 is provided at a position adjacent to the robot 83, and positioning means 840 is disposed in the temporary placement area 84. The alignment means 840 aligns the wafer carried out from the first cassette 820a and placed in the temporary placement area 84 at a predetermined position.

仮置き領域84に隣接する位置には、板状ワークWを保持した状態で旋回する第1搬送手段85aが配置されている。第1搬送手段85aは、位置合わせ手段840において位置合わせされたウエーハを保持し、搬入出領域101に位置付けられたいずれかの保持テーブルへウエーハを搬送する。   At a position adjacent to the temporary placement region 84, a first transport unit 85a that turns while holding the plate-like workpiece W is disposed. The first transport unit 85 a holds the wafer aligned by the alignment unit 840 and transports the wafer to any holding table positioned in the carry-in / out area 101.

第1搬送手段85aの隣には、加工後の板状ワークWを保持した状態で旋回する第2搬送手段85bが設けられている。第2搬送手段85bに近接する位置には、第2搬送手段85bにより搬送された加工後の板状ワークを洗浄するスピンナー洗浄手段86が配置されている。スピンナー洗浄手段86により洗浄されたウエーハは、ロボット83により第2のカセット820bに搬入される。   Next to the first transport unit 85a, a second transport unit 85b that rotates while holding the processed plate-like workpiece W is provided. A spinner cleaning means 86 for cleaning the processed plate-shaped workpiece conveyed by the second conveyance means 85b is disposed at a position close to the second conveyance means 85b. The wafer cleaned by the spinner cleaning means 86 is carried into the second cassette 820b by the robot 83.

研削手段3a、3bは、それぞれが研削送り手段4a、4bによって駆動されて、保持面200に対して垂直な方向に研削送りされる。研削送り手段4a、4bを構成するモータ42は、制御手段7によって制御される。また、制御手段7は、モータ42に備えたエンコーダ47の出力によって、研削手段3a、3bのZ軸方向の高さ位置を認識する。   The grinding means 3a and 3b are driven by the grinding feed means 4a and 4b, respectively, and are ground and fed in a direction perpendicular to the holding surface 200. The motor 42 constituting the grinding feed means 4a, 4b is controlled by the control means 7. Further, the control means 7 recognizes the height position of the grinding means 3a, 3b in the Z-axis direction based on the output of the encoder 47 provided in the motor 42.

研削手段3a及び研削手段3bは、研削砥石以外については同様に構成される。研削手段3aに備える研削砥石342は、粗研削用の砥石であり、粒径が比較的大きい砥粒を有している。一方、研削手段3bに備える研削砥石343は、仕上げ研削用の砥石であり、粗研削用の研削砥石342よりも粒径が小さい砥粒を有している。   The grinding means 3a and the grinding means 3b are configured similarly except for the grinding wheel. The grinding wheel 342 provided in the grinding means 3a is a rough grinding wheel and has abrasive grains having a relatively large particle size. On the other hand, the grinding wheel 343 provided in the grinding means 3b is a grinding wheel for finish grinding, and has abrasive grains having a smaller particle diameter than the grinding wheel 342 for rough grinding.

以上のように構成される研削装置1Aにおいては、それぞれの研削手段3a、3bについて、それぞれ第1実施形態と同様の工程を実施する。   In the grinding apparatus 1A configured as described above, the same processes as those of the first embodiment are performed for the respective grinding means 3a and 3b.

(1)ドレッシング砥石保持工程
本工程においては、保持テーブル2a、2b、2cのいずれかにおいて、図1に示したドレッシング砥石8を保持する。
(1) Dressing whetstone holding process In this process, the dressing whetstone 8 shown in FIG. 1 is hold | maintained in either of holding table 2a, 2b, 2c.

(2)保持面高さ測定工程
本工程においては、第1実施形態と同様に、基準テーブル50の基準面500に面高さ測定部6a、6bのいずれかのハイトゲージ60を接触させ、ハイトゲージ60が認識する基準面500の高さを測定する。また、3つの保持テーブル2a、2b、2cのすべてについて、それぞれの保持面200に面高さ測定部6a、6bのいずれかのハイトゲージ60を接触させ、ハイトゲージ60が認識するそれぞれの保持面200の高さを測定する。本工程における測定は、ドレッシング砥石8を保持している保持テーブルにおいても行うことができる。
(2) Holding surface height measuring step In this step, as in the first embodiment, the height gauge 60 of any of the surface height measuring units 6a and 6b is brought into contact with the reference surface 500 of the reference table 50, and the height gauge 60 Measure the height of the reference plane 500 recognized by. Further, for all of the three holding tables 2a, 2b, and 2c, the height gauge 60 of any of the surface height measuring units 6a and 6b is brought into contact with the respective holding surfaces 200, and the respective holding surfaces 200 recognized by the height gauge 60 are detected. Measure height. Measurement in this step can also be performed on a holding table holding the dressing grindstone 8.

なお、基準面500の高さ位置の測定及び保持テーブル2a、2b、2cの保持面200の高さ位置の測定には、同じ面高さ測定部を用いる。例えば、基準面500の高さ位置の測定に面高さ測定部6aを使用した場合は、保持テーブル2a、2b、2cの保持面200の高さ位置の測定にも面高さ測定部6aを使用する。   The same surface height measurement unit is used for measuring the height position of the reference surface 500 and for measuring the height position of the holding surface 200 of the holding tables 2a, 2b, and 2c. For example, when the surface height measuring unit 6a is used for measuring the height position of the reference surface 500, the surface height measuring unit 6a is also used for measuring the height position of the holding surface 200 of the holding tables 2a, 2b, and 2c. use.

(3)基準面高さ測定工程
次に、第1実施形態と同様に、基準テーブル50が上限位置に位置する状態において、ハイトゲージ60の先端を基準テーブル50の基準面500に接触させ、ハイトゲージ60が認識する基準面500のZ軸方向の高さ位置を測定し、記憶手段70に記憶する。本工程も、ドレッシング砥石80が保持テーブル2に保持された状態において測定可能である。
(3) Reference surface height measurement step Next, as in the first embodiment, in the state where the reference table 50 is located at the upper limit position, the tip of the height gauge 60 is brought into contact with the reference surface 500 of the reference table 50, and the height gauge 60 The height position in the Z-axis direction of the reference surface 500 recognized by is measured and stored in the storage means 70. This step can also be measured in a state where the dressing grindstone 80 is held on the holding table 2.

(4)テーブル高さ差算出工程
次に、第1実施形態と同様に、算出手段71は、記憶手段70に記憶されている複数の保持面200の高さ位置の値と基準面500の高さ位置の値とを読み出し、図10に示す基準面500の高さ位置の値からそれぞれの保持面200の高さ位置の値を引いた差(ΔH1、ΔH2、ΔH3)を算出する。ここで、基準面500は保持面200よりも高い位置にあるため、ΔH1、ΔH2及びΔH3は、すべて正の値となる。
(4) Table Height Difference Calculation Step Next, as in the first embodiment, the calculation unit 71 calculates the height position values of the plurality of holding surfaces 200 and the height of the reference surface 500 stored in the storage unit 70. The height value is read out, and the difference (ΔH1, ΔH2, ΔH3) obtained by subtracting the height position value of each holding surface 200 from the height position value of the reference surface 500 shown in FIG. 10 is calculated. Here, since the reference surface 500 is located higher than the holding surface 200, ΔH1, ΔH2, and ΔH3 are all positive values.

(5)第1の研削手段高さ記憶工程
次に、図10に示すように、基準テーブル50を研削砥石342の下方に位置付け、研削ホイール34を回転させずに、研削送り手段4aが研削手段3aを下降させていき、研削砥石342によって基準テーブル50を下方に押圧することにより、基準テーブル50を下降させていく。そして、基準テーブル50が一定距離(ΔZ)だけ下降し、相対高さ基準部5を構成する検出部52が基準テーブル50の下端を検出すると、基準テーブル50を検出した旨の信号が検出部52から制御手段7に通知される。この通知を受けた制御手段7は、研削送り手段4aを構成する図9に示したモータ42に対して駆動の停止を指示する信号を送出する。そうすると、研削手段3aの下降が停止する。研削送り手段4aにおいては、研削手段3aの下降が停止した瞬間に図9に示したエンコーダ47の情報に基づき研削送り手段4aが認識する研削手段3aの高さ位置Z1の値を記憶手段70に通知し、記憶手段70に記憶させる。この時のZ1の値は、研削送り手段4aが認識する研削手段3aの高さ位置の値である。
(5) First grinding means height storing step Next, as shown in FIG. 10, the reference table 50 is positioned below the grinding wheel 342, and the grinding feed means 4a is operated by the grinding means without rotating the grinding wheel 34. 3a is lowered, and the reference table 50 is lowered by pressing the reference table 50 downward by the grinding wheel 342. When the reference table 50 is lowered by a certain distance (ΔZ) and the detection unit 52 constituting the relative height reference unit 5 detects the lower end of the reference table 50, a signal indicating that the reference table 50 has been detected is detected. Is notified to the control means 7. Upon receiving this notification, the control means 7 sends a signal instructing to stop driving to the motor 42 shown in FIG. 9 constituting the grinding feed means 4a. Then, the descent of the grinding means 3a stops. In the grinding feed means 4a, the value of the height position Z1 of the grinding means 3a recognized by the grinding feed means 4a based on the information of the encoder 47 shown in FIG. 9 at the moment when the lowering of the grinding means 3a stops is stored in the storage means 70. Notification is made and stored in the storage means 70. The value of Z1 at this time is the value of the height position of the grinding means 3a recognized by the grinding feed means 4a.

(6)第2の研削手段高さ記憶工程
次に、算出手段71は、第1の研削手段高さ記憶工程で記憶手段70に記憶した研削手段3aの高さ位置(Z1)と、テーブル高さ差算出工程で算出したハイトゲージ60が測定した保持面200の高さとハイトゲージ60が測定した基準面の高さとの差(ΔH1、ΔH2、ΔH3)と、基準テーブル50が上限位置から一定距離下降したことを検出部が検出した時の当該一定距離(ΔZ)とを用いて、研削砥石342の研削面342aが保持テーブル2a、2b、2cの各保持面200に接触する時に研削送り手段4aが認識する研削手段3aの高さ位置を、第2の研削手段高さZ21、Z22、Z23として以下の(式5)により求める。
Z2i=Z1−(ΔHi−ΔZ)・・・(式5)
ここで、iは、1から3(保持テーブルの数)までの値をとる。
(6) Second grinding means height storage step Next, the calculation means 71 calculates the height position (Z1) of the grinding means 3a stored in the storage means 70 in the first grinding means height storage step, and the table height. The difference (ΔH1, ΔH2, ΔH3) between the height of the holding surface 200 measured by the height gauge 60 calculated in the height difference calculating step and the height of the reference surface measured by the height gauge 60, and the reference table 50 is lowered by a certain distance from the upper limit position. The grinding feed means 4a recognizes when the grinding surface 342a of the grinding wheel 342 contacts each holding surface 200 of the holding tables 2a, 2b, 2c using the fixed distance (ΔZ) when the detection unit detects this. The height position of the grinding means 3a to be obtained is obtained as the second grinding means height Z21, Z22, Z23 by the following (Equation 5).
Z2i = Z1− (ΔHi−ΔZ) (Formula 5)
Here, i takes a value from 1 to 3 (the number of holding tables).

本工程は、研削送り手段4aから見た研削手段3aのZ軸方向の高さ位置の原点出しを行ういわゆるセットアップ工程に相当するものであり、求めたZ21、Z22、Z23の値は、研削砥石342の研削面342aをドレッシング砥石8によってドレッシングしたり、研削面342aをウエーハに接触させて研削したりするにあたり、研削送り手段4aが研削手段3aの高さ位置を制御する際に用いられる。
また、本工程では、研削手段3bを構成する研削砥石343の研削面343aが保持テーブル2a、2b、2cの各保持面200に接触する時に研削送り手段4bが認識する研削手段3bの高さ位置についても、同様の方法によって求める。
This process corresponds to a so-called setup process in which the origin of the height position of the grinding means 3a in the Z-axis direction as viewed from the grinding feed means 4a is found, and the obtained values of Z21, Z22, and Z23 are the grinding wheels. When the grinding surface 342a of 342 is dressed by the dressing grindstone 8 or when the grinding surface 342a is brought into contact with the wafer for grinding, the grinding feed means 4a is used when controlling the height position of the grinding means 3a.
Further, in this step, the height position of the grinding means 3b recognized by the grinding feed means 4b when the grinding surface 343a of the grinding wheel 343 constituting the grinding means 3b contacts each holding surface 200 of the holding tables 2a, 2b, 2c. Is obtained by the same method.

(7)ドレッシング開始高さ算出工程
次に、算出手段71は、第2の研削手段高さ記憶工程で記憶した研削手段3aの高さ位置Z2と、あらかじめ記憶手段70に記憶したドレッシング砥石8の厚みと支持プレート80の厚みとを合算した厚みTとを加算し、以下の(式6)によって、ドレッシング砥石8の上面800に研削面342aが接触する時の研削送り手段4aが認識する研削手段3aの高さ位置Z3を算出する。
Z3=Z2j+T・・・(式6)
ここで、jは、1−3のいずれかの値であり、例えば保持テーブル2aにおいてドレッシング砥石8を保持している場合は、Z21とTとの和が研削手段3aの高さ位置となるため、j=1となる。
また、上記算出は、ドレッシング砥石8の上面800に研削手段3bを構成する研削砥石343の研削面343aが接触する時の研削送り手段4bが認識する研削手段3bの高さ位置についても、同様の手法によって行う。
(7) Dressing start height calculating step Next, the calculating unit 71 calculates the height position Z2 of the grinding unit 3a stored in the second grinding unit height storing step and the dressing grindstone 8 stored in the storage unit 70 in advance. Grinding means that the grinding feed means 4a recognizes when the grinding surface 342a comes into contact with the upper surface 800 of the dressing grindstone 8 by the following (Equation 6) by adding the thickness T and the total thickness T of the support plate 80 The height position Z3 of 3a is calculated.
Z3 = Z2j + T (Formula 6)
Here, j is any value of 1-3. For example, when the dressing grindstone 8 is held in the holding table 2a, the sum of Z21 and T is the height position of the grinding means 3a. , J = 1.
The above calculation also applies to the height position of the grinding means 3b recognized by the grinding feed means 4b when the grinding surface 343a of the grinding wheel 343 constituting the grinding means 3b contacts the upper surface 800 of the dressing grindstone 8. It is done by the method.

(8)ドレッシング工程
図9に示したモータ32が研削ホイール34を回転させるとともに、研削送り手段4aが研削手段3aをZ軸方向下方に向けて研削送りし、研削砥石342の研削面342aをドレッシング砥石8の上面800に接触させ、研削面342aをドレッシングする。研削手段3bを構成する研削砥石343の研削面343aをドレッシングする場合も、同様である。
(8) Dressing Step The motor 32 shown in FIG. 9 rotates the grinding wheel 34, and the grinding feed means 4a feeds the grinding means 3a downward in the Z-axis direction to dress the grinding surface 342a of the grinding wheel 342. The grinding surface 342a is dressed by making contact with the upper surface 800 of the grindstone 8. The same applies when dressing the grinding surface 343a of the grinding wheel 343 constituting the grinding means 3b.

(9)第3の研削手段高さ記憶工程
上記のようにしてドレッシングを行うと、研削砥石342に含まれる砥粒が脱落するため、ドレッシング後の研削砥石342の研削面342は、ドレッシング前の研削面342aとは異なる高さ位置に位置することになる。したがって、研削によってウエーハを所定の厚みに仕上げるために、ドレッシング後は、いわゆるセットアップを行う必要がある。セットアップの手法は、第1実施形態と同様であり、本工程では、上記第1の研削手段高さ記憶工程と同様に、基準テーブル50を研削砥石342の下方に位置付け、研削ホイール34を回転させずに、研削送り手段4aが研削手段3aを下降させていき、研削砥石342によって基準テーブル50を下方に押圧することにより、基準テーブル50を下降させていく。そして、基準テーブル50が一定距離(ΔZ)だけ下降し、相対高さ基準部5を構成する検出部52が基準テーブル50の下端を検出すると、基準テーブル50を検出した旨の信号が検出部52から制御手段7に通知され、この通知を受けた制御手段7は、研削手段3aの下降を停止させたうえで、エンコーダ47からの情報に基づき、研削送り手段4aが認識する研削手段3aの高さ位置の値を記憶手段70に記憶させる。研削手段3bを構成する研削砥石343をドレッシングした場合は、研削砥石343の研削面343aについても、同様にセットアップを行う。
(9) Third grinding means height storage step When dressing is performed as described above, the abrasive grains contained in the grinding wheel 342 fall off, so that the grinding surface 342 of the grinding wheel 342 after dressing is It is located at a different height from the grinding surface 342a. Therefore, in order to finish the wafer to a predetermined thickness by grinding, it is necessary to perform so-called setup after dressing. The setup method is the same as in the first embodiment, and in this step, the reference table 50 is positioned below the grinding wheel 342 and the grinding wheel 34 is rotated, as in the first grinding means height storage step. Instead, the grinding feed means 4a lowers the grinding means 3a and presses the reference table 50 downward by the grinding wheel 342, thereby lowering the reference table 50. When the reference table 50 is lowered by a certain distance (ΔZ) and the detection unit 52 constituting the relative height reference unit 5 detects the lower end of the reference table 50, a signal indicating that the reference table 50 has been detected is detected. The control means 7 that has received this notice stops the descent of the grinding means 3a and then determines the height of the grinding means 3a recognized by the grinding feed means 4a based on the information from the encoder 47. The position value is stored in the storage means 70. When the grinding wheel 343 constituting the grinding means 3b is dressed, the setup is similarly performed for the grinding surface 343a of the grinding wheel 343.

(10)第4の研削手段高さ記憶工程
次に、算出手段71は、第3の研削手段高さ記憶工程で記憶手段70に記憶した研削手段3の高さ位置の値と、テーブル高さ差算出工程で算出したハイトゲージ60が測定した保持面200の高さとハイトゲージ60が測定した基準面の高さとの差(ΔH1、ΔH2、ΔH3)と、基準テーブル50が上限位置から一定距離下降したことを検出部が検出した時の当該一定距離(ΔZ)とを用いて、研削砥石342のドレッシング後の研削面が保持テーブル2a、2b、2cの各保持面200に接触する時の研削送り手段4aが認識する研削手段3aの高さ位置、すなわちZ軸上の高さ位置を、第4の研削手段高さとしてそれぞれ求める。ここで求めた値は、それぞれの保持テーブルに保持されたウエーハに研削砥石342のドレッシング後の研削面を接触させて研削を行う際の基準となる高さとなる。求めた値は、記憶手段70に記憶させる。研削手段3bを構成する研削砥石343をドレッシングした場合も、同様の手法により、研削砥石343の研削面343aについて、ドレッシング後の研削面が保持テーブル2a、2b、2cの各保持面200に接触する時の研削送り手段4bが認識する研削手段3bの高さ位置、すなわちZ軸上の高さ位置を、第4の研削手段の高さとしてそれぞれ求める。
(10) Fourth grinding means height storage step Next, the calculation means 71 calculates the height position value of the grinding means 3 stored in the storage means 70 in the third grinding means height storage step and the table height. The difference (ΔH1, ΔH2, ΔH3) between the height of the holding surface 200 measured by the height gauge 60 calculated in the difference calculating step and the height of the reference surface measured by the height gauge 60, and that the reference table 50 is lowered by a certain distance from the upper limit position. And the fixed distance (ΔZ) when the detection unit detects the grinding feed means 4a when the ground surface after dressing of the grinding stone 342 contacts each holding surface 200 of the holding tables 2a, 2b, 2c. The height position of the grinding means 3a recognized by the above, that is, the height position on the Z axis is obtained as the fourth grinding means height. The value obtained here becomes a reference height when grinding is performed by bringing the ground surface after dressing of the grinding wheel 342 into contact with the wafer held on each holding table. The obtained value is stored in the storage means 70. Even when dressing the grinding wheel 343 constituting the grinding means 3b, the ground surface after dressing comes into contact with the holding surfaces 200 of the holding tables 2a, 2b, and 2c with respect to the grinding surface 343a of the grinding wheel 343 by the same method. The height position of the grinding means 3b recognized by the grinding feed means 4b at the time, that is, the height position on the Z-axis is obtained as the height of the fourth grinding means.

(11)研削開始高さ算出工程
次に、ロボット83が第1のカセット820aから加工前のウエーハを搬出し、仮置き領域84による位置合わせを経て、第1搬送手段85aによって、搬入出領域101に位置するいずれかの保持テーブル、具体的にはドレッシング砥石8が保持されていない保持テーブルにそのウエーハを搬送し、吸着部20に吸引力を作用させてウエーハを保持する。そして、第1実施形態と同様に、第4の研削手段高さ記憶工程において求めた研削手段3aの高さの値に、あらかじめ記憶手段70に記憶したウエーハの厚みと保護部材の厚みとを合算した厚みとを加算し、ウエーハの裏面に研削砥石342のドレッシング後の研削面が接触する時の研削送り手段4から見た研削手段3aの高さ位置を算出する。また、研削手段3bについても、同様の算出を行う。
(11) Grinding start height calculation step Next, the robot 83 unloads the unprocessed wafer from the first cassette 820a, and after alignment by the temporary placement region 84, the first transfer means 85a causes the load / unload region 101 to move. The wafer is transported to any one of the holding tables, specifically the holding table on which the dressing grindstone 8 is not held, and a suction force is applied to the suction portion 20 to hold the wafer. Then, as in the first embodiment, the wafer thickness and the protective member thickness previously stored in the storage means 70 are added to the height value of the grinding means 3a obtained in the fourth grinding means height storage step. The height of the grinding means 3a as viewed from the grinding feed means 4 when the ground surface after dressing of the grinding wheel 342 contacts the back surface of the wafer is calculated. The same calculation is performed for the grinding means 3b.

(12)研削工程
次に、研削送り手段4aが研削開始高さ算出工程で求めた高さ位置に研削手段3aを研削送りしていく。そして、回転する研削砥石342のドレッシング後の研削面がウエーハの裏面に接触し、裏面が粗研削される。また、ターンテーブル81を所要角度回転させた後、研削送り手段4bが研削開始高さ算出工程で求めた高さ位置に研削手段3bを研削送りして、ウエーハの粗研削された裏面を仕上げ研削する。
(12) Grinding process Next, the grinding means 3a feeds the grinding means 3a to the height position obtained in the grinding start height calculation step. The ground surface after dressing of the rotating grinding wheel 342 contacts the back surface of the wafer, and the back surface is roughly ground. In addition, after the turntable 81 is rotated by a required angle, the grinding feed means 4b feeds the grinding means 3b to the height position obtained in the grinding start height calculation step, and finish-grinds the rough ground back surface of the wafer. To do.

仕上げ研削されたウエーハは、第2搬送手段85bによってスピンナー洗浄手段に搬送され、ここでウエーハが回転するとともにウエーハの裏面に対して高圧水が噴射されて研削された裏面が洗浄される。また、洗浄後は、ウエーハが回転して洗浄水が除去される。   The finish ground wafer is transported to the spinner cleaning means by the second transport means 85b, where the wafer rotates and high pressure water is sprayed onto the back surface of the wafer to clean the ground back surface. Further, after the cleaning, the wafer is rotated and the cleaning water is removed.

洗浄及び乾燥されたウエーハは、ロボット83によって第2のカセット820bに収容される。   The cleaned and dried wafer is accommodated in the second cassette 820b by the robot 83.

図9に示した例においては、相対高さ基準部5を、保持テーブル2aと保持テーブル2bとの間に配設したが、研削手段3a、3bを構成する研削砥石342、343の下方に移動しうる位置であれば、他の位置、例えば、保持テーブル2bと保持テーブル2cとの間や、保持テーブル2aと保持テーブル2cとの間に、相対高さ基準部5を配設してもよい。また、相対高さ基準部5は、ターンテーブル81上に配設せず、独自に研削砥石342、343の下方に移動する構成としてもよい。   In the example shown in FIG. 9, the relative height reference portion 5 is disposed between the holding table 2a and the holding table 2b, but moves below the grinding wheels 342 and 343 constituting the grinding means 3a and 3b. The relative height reference part 5 may be disposed at other positions, for example, between the holding table 2b and the holding table 2c, or between the holding table 2a and the holding table 2c. . Moreover, the relative height reference | standard part 5 is good also as a structure which is not arrange | positioned on the turntable 81 and moves below the grinding stones 342 and 343 independently.

さらに、保持テーブルの数は、2個又は4個以上であってもよいし、相対高さ基準部が2つ以上配設されていてもよい。例えば、保持テーブルが4個配設され、相対高さ基準部が2つ配設されている場合においては、2つの保持テーブルの保持面と研削砥石の研削面との接触時に研削送り手段が認識する研削手段の高さ位置については一方の相対高さ基準部を用いて算出し、他の2つの保持テーブルの保持面と研削砥石の研削面との接触時に研削送り手段が認識する研削手段の高さ位置については他方の相対高さ基準部を用いて算出するといった使い分けをすることもできる。また、研削手段の数と相対高さ基準部の数とを同数とし、各研削手段が専用の相対高さ基準部を使用して、研削面が個々の保持テーブルの保持面に接触する時の高さ位置を求められるようにしてもよい。さらに、保持テーブルの数と相対高さ基準部の数とを同数とし、1つの保持テーブルと1つの相対高さ基準部とを1対1に対応させてもよい。   Further, the number of holding tables may be two or four or more, and two or more relative height reference portions may be provided. For example, when four holding tables are arranged and two relative height reference parts are arranged, the grinding feed means recognizes when the holding surfaces of the two holding tables and the grinding surface of the grinding wheel come into contact with each other. The height position of the grinding means to be calculated is calculated using one of the relative height reference portions, and the grinding means that the grinding feed means recognizes when the holding surface of the other two holding tables and the grinding surface of the grinding wheel come into contact with each other. The height position can be properly used by calculating using the other relative height reference portion. Also, when the number of grinding means and the number of relative height reference parts are the same, and each grinding means uses a dedicated relative height reference part, the grinding surface comes into contact with the holding surface of each holding table. The height position may be obtained. Furthermore, the number of holding tables and the number of relative height reference parts may be the same, and one holding table and one relative height reference part may be made to correspond one-to-one.

1,1A:研削装置
2,2a,2b,2c:保持テーブル
20:吸着部 21:枠体 200:保持面 22:カバー
3,3a,3b:研削手段
30:回転軸 31:ハウジング 32:モータ 33:マウント
34:研削ホイール 341:ホイール基台
340,342,343:研削砥石 340a,340b、342a,343a:研削面
4,4a,4b:研削送り手段
40:ボールネジ 41:ガイドレール 42:モータ 43:昇降板 44:ホルダ
45:高さ測定部 46:スケール 47:エンコーダ
5:相対高さ基準部 50:基準テーブル 500:基準面
51:シリンダ 52:検出部
6:面高さ測定部 60:ハイトゲージ
7:制御手段 70:記憶手段 71:算出手段
8:ドレッシング砥石 80:支持プレート 800:上面
81:ターンテーブル
82a:第1のカセット載置部 82b:第2のカセット載置部
820a:第1のカセット 820b:第2のカセット
83:ロボット 84:仮置き領域 840:位置合わせ手段
85a:第1搬送手段 85b:第2搬送手段 86:スピンナー洗浄手段
101:搬入出領域 102:加工領域
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1A: Grinding device 2, 2a, 2b, 2c: Holding table 20: Adsorption part 21: Frame body 200: Holding surface 22: Cover 3, 3a, 3b: Grinding means 30: Rotating shaft 31: Housing 32: Motor 33 : Mount 34: grinding wheel 341: wheel base 340, 342, 343: grinding wheel 340a, 340b, 342a, 343a: grinding surface 4, 4a, 4b: grinding feed means 40: ball screw 41: guide rail 42: motor 43: Lift plate 44: Holder 45: Height measurement unit 46: Scale 47: Encoder 5: Relative height reference unit 50: Reference table 500: Reference surface 51: Cylinder 52: Detection unit 6: Surface height measurement unit 60: Height gauge 7 : Control means 70: storage means 71: calculation means 8: dressing grindstone 80: support plate 800: upper surface 81: turn tape Table 82a: First cassette placement unit 82b: Second cassette placement unit 820a: First cassette 820b: Second cassette 83: Robot 84: Temporary placement area 840: Positioning means 85a: First transport means 85b: Second transfer means 86: Spinner cleaning means 101: Loading / unloading area 102: Processing area

Claims (2)

ウエーハを保持する保持面を有する保持テーブルと、研削砥石が環状に配設され回転可能な研削ホイールを用いて該保持テーブルの該保持面に保持されたウエーハを研削する研削手段と、該研削手段を該保持面に対して垂直方向に研削送りする研削送り手段と、該保持テーブルの該保持面の高さを測定するハイトゲージと、該保持テーブルに併設され上面に基準面を備え上下動可能な基準テーブルと、該基準テーブルが一定距離下降したことを検出する検出部と、演算機能を有する算出手段と、該算出手段が用いる値又は該算出手段により算出された値を記憶する記憶手段とを備える研削装置を用いた研削砥石のドレッシング方法であって、
該保持テーブルの該保持面に板状のドレッシング砥石を保持させるドレッシング砥石保持工程と、
該ハイトゲージが測定した該基準面の高さと該ハイトゲージが測定した該保持面の高さとの差(ΔH)を算出するテーブル高さ差算出工程と、
該研削送り手段が該研削手段を研削送りし該研削砥石の研削面が該基準テーブルを押し下げることにより該基準テーブルが一定距離下降したことを該検出部が検出した時の該研削送り手段が認識する該研削手段の高さ位置(Z1)を該記憶手段に記憶する第1の研削手段高さ記憶工程と、
該第1の研削手段高さ記憶工程で記憶した該研削手段の高さ位置(Z1)と、該テーブル高さ差算出工程で算出した該ハイトゲージが測定した該保持面の高さと該ハイトゲージが測定した該基準面の高さとの差(ΔH)と、該基準テーブルが上限位置から一定距離下降したことを該検出部が検出した時の該一定距離(ΔZ)とを用いて、該研削面が該保持面に接触した時に該研削送り手段が認識する該研削手段の高さ位置Z2を
Z2=Z1−(ΔH−ΔZ)
の式により算出して記憶する第2の研削手段高さ記憶工程と、
該第2の研削手段高さ記憶工程で記憶した該研削手段の高さ位置にあらかじめ記憶した該ドレッシング砥石の厚みを加算して該ドレッシング砥石の上面に該研削面が接触する時の該研削送り手段が認識する該研削手段の高さ位置を算出するドレッシング開始高さ算出工程と、
該ドレッシング開始高さ算出工程で算出した該研削送り手段が認識する該研削手段の高さから研削送りして該保持手段が保持する該ドレッシング砥石によって該研削面のドレッシングを行うドレッシング工程と、
を備え、
該保持テーブルが保持した該ドレッシング砥石で該研削砥石の研削面をドレッシングする研削砥石のドレッシング方法。
A holding table having a holding surface for holding a wafer, a grinding means for grinding a wafer held on the holding surface of the holding table using a rotatable grinding wheel in which a grinding wheel is annularly arranged, and the grinding means Grinding feed means for grinding and feeding in a direction perpendicular to the holding surface, a height gauge for measuring the height of the holding surface of the holding table, and a reference surface on the upper surface provided on the holding table and capable of moving up and down A reference table, a detection unit for detecting that the reference table has been lowered by a certain distance, a calculation unit having a calculation function, and a storage unit for storing a value used by the calculation unit or a value calculated by the calculation unit A grinding wheel dressing method using a grinding apparatus comprising:
A dressing grindstone holding step for holding a plate-shaped dressing grindstone on the holding surface of the holding table;
A table height difference calculating step for calculating a difference (ΔH) between the height of the reference surface measured by the height gauge and the height of the holding surface measured by the height gauge;
The grinding feed means recognizes when the detection unit detects that the reference table is lowered by a certain distance by the grinding feed means grinding and feeding the grinding means, and the grinding surface of the grinding wheel pushes down the reference table. A first grinding means height storing step for storing the height position (Z1) of the grinding means in the storage means;
The height position (Z1) of the grinding means stored in the first grinding means height storing step, the height of the holding surface measured by the height gauge calculated in the table height difference calculating step, and the height gauge are measured. Using the difference (ΔH) between the height of the reference surface and the constant distance (ΔZ) when the detection unit detects that the reference table has been lowered by a certain distance from the upper limit position, The height position Z2 of the grinding means recognized by the grinding feed means when contacting the holding surface is expressed as Z2 = Z1− (ΔH−ΔZ).
A second grinding means height storing step which is calculated and stored according to the formula:
The grinding feed when the grinding surface comes into contact with the upper surface of the dressing wheel by adding the thickness of the dressing wheel stored in advance to the height position of the grinding device stored in the second grinding device height storing step Dressing start height calculating step for calculating the height position of the grinding means recognized by the means;
A dressing step of dressing the ground surface with the dressing grindstone that is ground and fed from the height of the grinding means recognized by the grinding feed means calculated in the dressing start height calculating step;
With
A grinding wheel dressing method for dressing a grinding surface of the grinding wheel with the dressing wheel held by the holding table.
前記研削装置は、前記保持テーブルを複数備え、該複数の保持テーブルは、回転可能なターンテーブルによって自転可能に支持されるとともに該ターンテーブルの回転軸を中心として公転可能であり、
前記テーブル高さ差算出工程では、該複数の保持テーブルのぞれぞれの保持面の高さと前記ハイトゲージが測定した前記基準面の高さとの差ΔHiをそれぞれ算出し、
前記第2の研削手段高さ記憶工程では、前記研削面が該i個の保持テーブルのそれぞれに接触した時に該研削送り手段が認識する該研削手段のそれぞれの高さ位置Z2iを
Z2i=Z1−(ΔHi−ΔZ)
の式により算出する
請求項1に記載の研削砥石のドレッシング方法。
The grinding device includes a plurality of the holding tables, and the plurality of holding tables are rotatably supported by a rotatable turntable and can revolve around a rotation axis of the turntable,
In the table height difference calculating step, a difference ΔHi between the height of each holding surface of the plurality of holding tables and the height of the reference surface measured by the height gauge is calculated,
In the second grinding means height storing step, the height position Z2i of the grinding means recognized by the grinding feed means when the grinding surface comes into contact with each of the i holding tables is determined as Z2i = Z1−. (ΔHi−ΔZ)
The grinding wheel dressing method according to claim 1, which is calculated by the following formula.
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