JP2017529361A - Si含有膜堆積用カルボシラン置換アミン前駆体及びその方法 - Google Patents
Si含有膜堆積用カルボシラン置換アミン前駆体及びその方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017529361A JP2017529361A JP2017515206A JP2017515206A JP2017529361A JP 2017529361 A JP2017529361 A JP 2017529361A JP 2017515206 A JP2017515206 A JP 2017515206A JP 2017515206 A JP2017515206 A JP 2017515206A JP 2017529361 A JP2017529361 A JP 2017529361A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sih
- precursor
- nme
- oet
- hexyl
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000002243 precursor Substances 0.000 title claims abstract description 608
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 69
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 title claims abstract description 47
- 230000008021 deposition Effects 0.000 title description 15
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 99
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 20
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 20
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims abstract description 20
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims abstract description 9
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 claims abstract description 9
- 125000004169 (C1-C6) alkyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 8
- 125000003545 alkoxy group Chemical group 0.000 claims abstract description 8
- 125000003282 alkyl amino group Chemical group 0.000 claims abstract description 8
- 125000006727 (C1-C6) alkenyl group Chemical group 0.000 claims abstract description 7
- 125000004051 hexyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 claims description 92
- FTZIQBGFCYJWKA-UHFFFAOYSA-N 3-(4,5-dimethylthiazol-2-yl)-2,5-diphenyltetrazolium Chemical compound S1C(C)=C(C)N=C1[N+]1=NC(C=2C=CC=CC=2)=NN1C1=CC=CC=C1 FTZIQBGFCYJWKA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 80
- 125000000740 n-pentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 claims description 68
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 56
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 claims description 26
- 239000000376 reactant Substances 0.000 claims description 26
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 22
- 125000003253 isopropoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(O*)C([H])([H])[H] 0.000 claims description 18
- 125000004213 tert-butoxy group Chemical group [H]C([H])([H])C(O*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 claims description 18
- 125000001147 pentyl group Chemical group C(CCCC)* 0.000 claims description 14
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 13
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 11
- 125000003707 hexyloxy group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])O* 0.000 claims description 6
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- 238000003618 dip coating Methods 0.000 claims description 4
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 claims description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 3
- 238000009740 moulding (composite fabrication) Methods 0.000 claims 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 abstract description 6
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 abstract description 4
- 239000010408 film Substances 0.000 description 107
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 55
- 125000000999 tert-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C(*)(C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 54
- RWRDLPDLKQPQOW-UHFFFAOYSA-N Pyrrolidine Chemical group C1CCNC1 RWRDLPDLKQPQOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 51
- 125000004123 n-propyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 51
- RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N imidazole Natural products C1=CNC=N1 RAXXELZNTBOGNW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 45
- KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N Pyrrole Chemical group C=1C=CNC=1 KAESVJOAVNADME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 34
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 34
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 34
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 31
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 29
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical compound C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 27
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 26
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 25
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 24
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N Pentane Chemical class CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 18
- 229910052752 metalloid Inorganic materials 0.000 description 17
- 150000002738 metalloids Chemical class 0.000 description 17
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N n-Hexane Chemical compound CCCCCC VLKZOEOYAKHREP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 15
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 description 14
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 13
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 12
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 12
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 11
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical group CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- -1 aromatic ring compound Chemical class 0.000 description 10
- 150000004820 halides Chemical group 0.000 description 10
- AFRJJFRNGGLMDW-UHFFFAOYSA-N lithium amide Chemical compound [Li+].[NH2-] AFRJJFRNGGLMDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000002411 thermogravimetry Methods 0.000 description 8
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 7
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical group CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical group O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- VEYJKODKHGEDMC-UHFFFAOYSA-N dichloro(trichlorosilyl)silicon Chemical compound Cl[Si](Cl)[Si](Cl)(Cl)Cl VEYJKODKHGEDMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 6
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 6
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000012454 non-polar solvent Substances 0.000 description 6
- UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N pyridine Natural products COC1=CC=CN=C1 UMJSCPRVCHMLSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 6
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 5
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 5
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052747 lanthanoid Inorganic materials 0.000 description 5
- 150000002602 lanthanoids Chemical class 0.000 description 5
- 125000004108 n-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 5
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 5
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 5
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 5
- LXEXBJXDGVGRAR-UHFFFAOYSA-N trichloro(trichlorosilyl)silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)Cl LXEXBJXDGVGRAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N Hydrazine Chemical compound NN OAKJQQAXSVQMHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910004541 SiN Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 4
- RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N anisole Chemical class COC1=CC=CC=C1 RDOXTESZEPMUJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 4
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 4
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 4
- 125000006165 cyclic alkyl group Chemical group 0.000 description 4
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 4
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 4
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000012071 phase Substances 0.000 description 4
- 150000003141 primary amines Chemical class 0.000 description 4
- 150000003335 secondary amines Chemical class 0.000 description 4
- HVXTXDKAKJVHLF-UHFFFAOYSA-N silylmethylsilane Chemical compound [SiH3]C[SiH3] HVXTXDKAKJVHLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 241000894007 species Species 0.000 description 4
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 4
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 4
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 4
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- 241001168730 Simo Species 0.000 description 3
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000001505 atmospheric-pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 3
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 3
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 238000004050 hot filament vapor deposition Methods 0.000 description 3
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 3
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 3
- 125000004433 nitrogen atom Chemical group N* 0.000 description 3
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 3
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 3
- 239000000047 product Substances 0.000 description 3
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 description 3
- 238000010992 reflux Methods 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 3
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 3
- XVMSFILGAMDHEY-UHFFFAOYSA-N 6-(4-aminophenyl)sulfonylpyridin-3-amine Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1S(=O)(=O)C1=CC=C(N)C=N1 XVMSFILGAMDHEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005046 Chlorosilane Substances 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LCGLNKUTAGEVQW-UHFFFAOYSA-N Dimethyl ether Chemical class COC LCGLNKUTAGEVQW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N Ethylbenzene Chemical compound CCC1=CC=CC=C1 YNQLUTRBYVCPMQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910015868 MSiO Inorganic materials 0.000 description 2
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LOMVENUNSWAXEN-UHFFFAOYSA-N Methyl oxalate Chemical compound COC(=O)C(=O)OC LOMVENUNSWAXEN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical group [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical group CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 2
- 150000001343 alkyl silanes Chemical class 0.000 description 2
- 125000002947 alkylene group Chemical group 0.000 description 2
- 125000003368 amide group Chemical group 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003957 anion exchange resin Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- BGECDVWSWDRFSP-UHFFFAOYSA-N borazine Chemical compound B1NBNBN1 BGECDVWSWDRFSP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 150000001721 carbon Chemical class 0.000 description 2
- 235000011089 carbon dioxide Nutrition 0.000 description 2
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- OPECQUXHKJLILW-UHFFFAOYSA-N chloro(silylmethyl)silane Chemical compound [SiH3]C[SiH2]Cl OPECQUXHKJLILW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KOPOQZFJUQMUML-UHFFFAOYSA-N chlorosilane Chemical compound Cl[SiH3] KOPOQZFJUQMUML-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N chlorosilicon Chemical compound Cl[Si] SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 229910021419 crystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 2
- 125000001511 cyclopentyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C1([H])[H] 0.000 description 2
- DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N decane Chemical compound CCCCCCCCCC DIOQZVSQGTUSAI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000004663 dialkyl amino group Chemical group 0.000 description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 2
- HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N diethylzinc Chemical compound CC[Zn]CC HQWPLXHWEZZGKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N dimethylselenoniopropionate Natural products CCC(O)=O XBDQKXXYIPTUBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AXAZMDOAUQTMOW-UHFFFAOYSA-N dimethylzinc Chemical compound C[Zn]C AXAZMDOAUQTMOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007323 disproportionation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004821 distillation Methods 0.000 description 2
- SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N dodecane Chemical compound CCCCCCCCCCCC SNRUBQQJIBEYMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 2
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 2
- AMWRITDGCCNYAT-UHFFFAOYSA-L hydroxy(oxo)manganese;manganese Chemical compound [Mn].O[Mn]=O.O[Mn]=O AMWRITDGCCNYAT-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 125000002883 imidazolyl group Chemical group 0.000 description 2
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 2
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N methanoic acid Natural products OC=O BDAGIHXWWSANSR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N methoxybenzene Chemical class CCCCOC=C UZKWTJUDCOPSNM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 229910003465 moissanite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000003002 pH adjusting agent Substances 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002798 polar solvent Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 2
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 125000002914 sec-butyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 2
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 2
- 239000004094 surface-active agent Substances 0.000 description 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- VYFXMIAQVGXIIN-UHFFFAOYSA-N trichloro(chlorosilyl)silane Chemical compound Cl[SiH2][Si](Cl)(Cl)Cl VYFXMIAQVGXIIN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VOITXYVAKOUIBA-UHFFFAOYSA-N triethylaluminium Chemical compound CC[Al](CC)CC VOITXYVAKOUIBA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LALRXNPLTWZJIJ-UHFFFAOYSA-N triethylborane Chemical compound CCB(CC)CC LALRXNPLTWZJIJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N trimethylaluminium Chemical compound C[Al](C)C JLTRXTDYQLMHGR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- WXRGABKACDFXMG-UHFFFAOYSA-N trimethylborane Chemical compound CB(C)C WXRGABKACDFXMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000004580 weight loss Effects 0.000 description 2
- 125000000008 (C1-C10) alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000006832 (C1-C10) alkylene group Chemical group 0.000 description 1
- ZUJOACIBNBMMDN-UHFFFAOYSA-N 1,2,3,4,5,6-hexachlorohexasilinane Chemical compound Cl[SiH]1[SiH]([SiH]([SiH]([SiH]([SiH]1Cl)Cl)Cl)Cl)Cl ZUJOACIBNBMMDN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 1,4-Dioxane Chemical compound C1COCCO1 RYHBNJHYFVUHQT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HRADVHZVMOMEPU-UHFFFAOYSA-N 3-iodopyrrolidine-2,5-dione Chemical compound IC1CC(=O)NC1=O HRADVHZVMOMEPU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 4-(3-methoxyphenyl)aniline Chemical compound COC1=CC=CC(C=2C=CC(N)=CC=2)=C1 OSWFIVFLDKOXQC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 102000004878 Gelsolin Human genes 0.000 description 1
- 108090001064 Gelsolin Proteins 0.000 description 1
- JRNVZBWKYDBUCA-UHFFFAOYSA-N N-chlorosuccinimide Chemical group ClN1C(=O)CCC1=O JRNVZBWKYDBUCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N O-Xylene Chemical compound CC1=CC=CC=C1C CTQNGGLPUBDAKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000144 PEDOT:PSS Polymers 0.000 description 1
- 229930040373 Paraformaldehyde Natural products 0.000 description 1
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 1
- YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N Protium Chemical compound [1H] YZCKVEUIGOORGS-IGMARMGPSA-N 0.000 description 1
- 229910007991 Si-N Inorganic materials 0.000 description 1
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical class [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006294 Si—N Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 1
- VOSJXMPCFODQAR-UHFFFAOYSA-N ac1l3fa4 Chemical compound [SiH3]N([SiH3])[SiH3] VOSJXMPCFODQAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000011054 acetic acid Nutrition 0.000 description 1
- 125000003342 alkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000304 alkynyl group Chemical group 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 125000000732 arylene group Chemical group 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001944 continuous distillation Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 150000001923 cyclic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000001995 cyclobutyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])(*)C1([H])[H] 0.000 description 1
- 125000001559 cyclopropyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C1([H])* 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- LOMVENUNSWAXEN-NUQCWPJISA-N dimethyl oxalate Chemical group CO[14C](=O)[14C](=O)OC LOMVENUNSWAXEN-NUQCWPJISA-N 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000001227 electron beam curing Methods 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 125000001033 ether group Chemical group 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000000706 filtrate Substances 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000009969 flowable effect Effects 0.000 description 1
- 235000019253 formic acid Nutrition 0.000 description 1
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- 238000004508 fractional distillation Methods 0.000 description 1
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005549 heteroarylene group Chemical group 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 238000002513 implantation Methods 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 125000001972 isopentyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N mesitylene Substances CC1=CC(C)=CC(C)=C1 AUHZEENZYGFFBQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001827 mesitylenyl group Chemical group [H]C1=C(C(*)=C(C([H])=C1C([H])([H])[H])C([H])([H])[H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910001510 metal chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- OFXSXYCSPVKZPF-UHFFFAOYSA-N methoxyperoxymethane Chemical class COOOC OFXSXYCSPVKZPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N octane Chemical compound CCCCCCCC TVMXDCGIABBOFY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002866 paraformaldehyde Polymers 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001467 poly(styrenesulfonates) Polymers 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 235000019260 propionic acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000013014 purified material Substances 0.000 description 1
- DNXIASIHZYFFRO-UHFFFAOYSA-N pyrazoline Chemical compound C1CN=NC1 DNXIASIHZYFFRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N quinbolone Chemical compound O([C@H]1CC[C@H]2[C@H]3[C@@H]([C@]4(C=CC(=O)C=C4CC3)C)CC[C@@]21C)C1=CCCC1 IUVKMZGDUIUOCP-BTNSXGMBSA-N 0.000 description 1
- 238000004151 rapid thermal annealing Methods 0.000 description 1
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 1
- 239000011819 refractory material Substances 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 229910021332 silicide Inorganic materials 0.000 description 1
- FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N silicide(4-) Chemical compound [Si-4] FVBUAEGBCNSCDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N tantalum nitride Chemical compound [Ta]#N MZLGASXMSKOWSE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003512 tertiary amines Chemical class 0.000 description 1
- 238000002230 thermal chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- PZKOFHKJGUNVTM-UHFFFAOYSA-N trichloro-[dichloro(trichlorosilyl)silyl]silane Chemical compound Cl[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)Cl PZKOFHKJGUNVTM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N trichlorosilane Chemical compound Cl[SiH](Cl)Cl ZDHXKXAHOVTTAH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005052 trichlorosilane Substances 0.000 description 1
- LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N tris Chemical compound OCC(N)(CO)CO LENZDBCJOHFCAS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000005292 vacuum distillation Methods 0.000 description 1
- 239000006200 vaporizer Substances 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F7/00—Compounds containing elements of Groups 4 or 14 of the Periodic Table
- C07F7/02—Silicon compounds
- C07F7/08—Compounds having one or more C—Si linkages
- C07F7/10—Compounds having one or more C—Si linkages containing nitrogen having a Si-N linkage
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/36—Carbonitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F7/00—Compounds containing elements of Groups 4 or 14 of the Periodic Table
- C07F7/02—Silicon compounds
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C07—ORGANIC CHEMISTRY
- C07F—ACYCLIC, CARBOCYCLIC OR HETEROCYCLIC COMPOUNDS CONTAINING ELEMENTS OTHER THAN CARBON, HYDROGEN, HALOGEN, OXYGEN, NITROGEN, SULFUR, SELENIUM OR TELLURIUM
- C07F7/00—Compounds containing elements of Groups 4 or 14 of the Periodic Table
- C07F7/02—Silicon compounds
- C07F7/08—Compounds having one or more C—Si linkages
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/24—Deposition of silicon only
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/32—Carbides
- C23C16/325—Silicon carbide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/34—Nitrides
- C23C16/345—Silicon nitride
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/401—Oxides containing silicon
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/30—Deposition of compounds, mixtures or solid solutions, e.g. borides, carbides, nitrides
- C23C16/40—Oxides
- C23C16/401—Oxides containing silicon
- C23C16/402—Silicon dioxide
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/455—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for introducing gases into reaction chamber or for modifying gas flows in reaction chamber
- C23C16/45523—Pulsed gas flow or change of composition over time
- C23C16/45525—Atomic layer deposition [ALD]
- C23C16/45553—Atomic layer deposition [ALD] characterized by the use of precursors specially adapted for ALD
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/02—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition
- C23C18/12—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material
- C23C18/1204—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by thermal decomposition characterised by the deposition of inorganic material other than metallic material inorganic material, e.g. non-oxide and non-metallic such as sulfides, nitrides based compounds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02109—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates
- H01L21/02112—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer
- H01L21/02123—Forming insulating materials on a substrate characterised by the type of layer, e.g. type of material, porous/non-porous, pre-cursors, mixtures or laminates characterised by the material of the layer the material containing silicon
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02107—Forming insulating materials on a substrate
- H01L21/02225—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer
- H01L21/0226—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process
- H01L21/02263—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase
- H01L21/02271—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase deposition by decomposition or reaction of gaseous or vapour phase compounds, i.e. chemical vapour deposition
- H01L21/0228—Forming insulating materials on a substrate characterised by the process for the formation of the insulating layer formation by a deposition process deposition from the gas or vapour phase deposition by decomposition or reaction of gaseous or vapour phase compounds, i.e. chemical vapour deposition deposition by cyclic CVD, e.g. ALD, ALE, pulsed CVD
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02524—Group 14 semiconducting materials
- H01L21/02532—Silicon, silicon germanium, germanium
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
Description
本出願は、2014年9月23日に出願された米国仮特許出願番号第62/054,198号の利益を主張するものであり、その全体は、あらゆる目的のために参照により本明細書に援用される。
以降の記述及び請求項全体を通じて、特定の略語、記号、及び用語が使用されており、それらには次のものが含まれる。
・式がN(−SiHR2−CH2−SiH2R3)3である;
・R2=H;
・式がN(−SiH2−CH2−SiH2R3)3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Br))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(I))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NEt2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NnPr2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiPr2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NBu2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiBu2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NtBu2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NAm2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NCyペンチル2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Nヘキシル2))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NnPrH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NBuH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiBuH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NtBuH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NAmH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OH))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OnPr))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OiPr))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OBu))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OiBu))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OtBu))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OAm))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Oヘキシル))3である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(I))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NEt2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NnPr2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiPr2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NBu2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiBu2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NtBu2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NHtBu))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NAm2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NHAm))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NCyペンチル2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Nヘキシル2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NCyHex2))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NnPrH))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OH))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2(SiH2−CH2SiH3)ある;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OnPr))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OiPr))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OBu))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OiBu))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OtBu))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OAm))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Oヘキシル))2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NEt2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NnPr2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiPr2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiBu2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NtBu2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NHtBu))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NAm2))(SiH2−CH2SiH3)2である
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NHAm))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NCyペンチル2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Nヘキシル2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NCyHex2))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NnPrH))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OH))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OnPr))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OiPr))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OBu))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OiBu))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(OAm))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(SiH2−CH2−SiH2(Oヘキシル))(SiH2−CH2SiH3)2である;
・R3=H;
・式がN(−SiHR2−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NEtMe)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NEt2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NnPr2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NiPr2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NBu2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NiBu2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NtBu2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NHtBu)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NAm2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NHAm)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(Nヘキシル2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NCyHex2)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NnPrH)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NBuH)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OH)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OnPr)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OiPr)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OBu)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OiBu)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OtBu)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(OAm)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(Oヘキシル)−CH2−SiH3)3である;
・前駆体がN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NEt2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NnPr2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NiPr2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NBu2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NiBu2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NtBu2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NHtBu)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NAm2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NHAm)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NCyペンチル2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(Nヘキシル2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NCyHex2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OnPr)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OiPr)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OBu)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OiBu)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OtBu)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(OAm)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(Oヘキシル)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NEt2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NnPr2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NBu2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NiBu2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NtBu2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NHtBu)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NAm2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NHAm)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NCyペンチル2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(Nヘキシル2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NCyHex2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NnPrH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(OH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(OnPr)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(OiPr)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(OBu)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(OtBu)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(OAm)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がN(Si(H)(Oヘキシル)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2である;
・式がR1N(−SiHR2−CH2−SiH2R3)2である;
・式がR1N(−SiH2−CH2−SiH2R3)2である;
・R1がHである;
・前駆体がHN(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・前駆体が(Cl)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(Br)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(I)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2;である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2;である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2である;
・前駆体が(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・前駆体が(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・前駆体が(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・前駆体が(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・前駆体が(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・前駆体が(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・前駆体が(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2である;
・式がR1N(−SiHR2−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Et)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Et)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Et)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Et)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Et)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Et)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Et)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がHN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Me)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Et)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(nPr)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iPr)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(Bu)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(iBu)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(tBu)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(アミル)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体が(ヘキシル)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2である;
・前駆体がMeN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がHN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がMeN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がEtN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体がiPrN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Cl)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(Br)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・前駆体が(I)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)である;
・Si含有膜形成用組成物が約93%w/w〜約100%w/wのカルボシラン置換アミン前駆体を含有する;
・Si含有膜形成用組成物が約99%w/w〜約100%w/wのカルボシラン置換アミン前駆体を含有する;
・Si含有膜形成用組成物が約0%w/w〜約5%w/wのヘキサン、置換ヘキサン、ペンタン、置換ペンタン、ジメチルエーテル、又はアニソールを含有する;
・Si含有膜形成用組成物が約0ppmw〜200ppmのClを含有する;
・溶媒を更に含有する;
・溶媒が、C1−C16の炭化水素、THF、DMO、エーテル、ピリジン、及びこれらの組み合わせからなる群から選択される;
・溶媒がC1−C16の炭化水素である;
・溶媒がテトラヒドロフラン(THF)である;
・溶媒がシュウ酸ジメチル(DMO)である;
・溶媒がエーテルである;
・溶媒がピリジンである;
・溶媒がエタノールである;又は
・溶媒がイソプロパノールである。
・第2の前駆体を含有する蒸気をリアクターの中へ導入する;
・第2の前駆体が、2族、13族、14族、遷移金属、ランタニド、及びこれらの組み合わせからなる群から選択される元素を含む;
・第2の前駆体の元素が、Mg、Ca、Sr、Ba、Zr、Hf、Ti、Nb、Ta、Al、Si、Ge、Y、又はランタニドからなる群から選択される;
・リアクターの中に共反応物を導入する;
・共反応物が、O2、O3、H2O、H2O2、NO、NO2、カルボン酸、これらのラジカル、及びこれらの組み合わせからなる群から選択される;
・共反応物がプラズマ処理された酸素である;
・共反応物がオゾンである;
・Si含有層が酸化ケイ素層である;
・共反応物がH2、NH3、(SiH3)3N、ヒドリドシラン(SiH4、Si2H6、Si3H8、Si4H10、Si5H10、Si6H12等)、クロロシラン及びクロロポリシラン(SiHCl3、SiH2Cl2、SiH3Cl、Si2Cl6、Si2HCl5、Si3Cl8等)、アルキルシラン(Me2SiH2、Et2SiH2、MeSiH3、EtSiH3等)、ヒドラジン(N2H4、MeHNNH2、MeHNNHMe等)、有機アミン(NMeH2、NEtH2、NMe2H、NEt2H、NMe3、NEt3、(SiMe3)2NH等)、ピラゾリン、ピリジン、B含有分子(B2H6、9−ボラビシクロ[3,3,1]ノン、トリメチルホウ素、トリエチルホウ素、ボラジン等)、アルキル金属(トリメチルアルミニウム、トリエチルアルミニウム、ジメチル亜鉛、ジエチル亜鉛等)、これらのラジカル種、及びこれらの混合物からなる群から選択される;
・共反応物がH2、NH3、SiH4、Si2H6、Si3H8、SiH2Me2、SiH2Et2、N(SiH3)3これらの水素ラジカル種、及びこれらの混合物からなる群から選択される;
・共反応物がHCDS又はPCDSである;
・蒸着法が化学蒸着法である;
・蒸着法が原子層堆積(ALD)法である;
・蒸着法が空間的ALD法である;
・蒸着法が化学蒸着法である;
・ケイ素含有層がSiである;
・ケイ素含有層がSiO2である;
・ケイ素含有層がSiCである;
・ケイ素含有層がSiNである;
・ケイ素含有層がSiONである;
・ケイ素含有層がSiCNである;及び
・ケイ素含有層がSiCOHである。
・Si含有膜形成用組成物がエタノールを含有する;
・Si含有膜形成用組成物がイソプロパノールを含有する;
・Si含有膜をスピンコーティング法により形成する;
・Si含有膜をスプレーコーティング法により形成する;
・Si含有膜をディップコーティング法により形成する;
・Si含有膜をスリットコーティング法により形成する;
・Si含有膜をアニーリングする;又は
・Si含有膜をレーザー処理する。
(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NEt2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPr2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPr2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NBu2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NiBu2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NtBu2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NHtBu))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NAm2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NHAm))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyペンチル2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(Nヘキシル2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyHex2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPrH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OnPr))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OiPr))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OBu))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OiBu))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OtBu))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OAm))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(Oヘキシル))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NEt2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPr2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPr2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NBu2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NiBu2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NtBu2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NHtBu))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NAm2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NHAm))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyペンチル2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(Nヘキシル2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyHex2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPrH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OnPr))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OiPr))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OBu))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OiBu))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OtBu))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OAm))(SiH2−CH2SiH3)2、及びN(SiH2−CH2−SiH2(Oヘキシル))(SiH2−CH2SiH3)2などの混合カルボシラン配位子も含んでいてもよい。本開示の混合配位子トリス(1,3−ジシラプロパン)アミン前駆体は、反応性と最小限の膜汚染の望ましい組み合わせを与え得る。
炭素を取り込ませるために望ましい場合がある。
、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(ピロリジン))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(イミダゾール))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、及び(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2が挙げられる。
))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、HN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、HN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、HN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、及び(I)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)などの混合カルボシラン配位子も含んでいてもよい。本開示の混合配位子ビス(1,3−ジシラプロパン)アミン前駆体は、反応性と最小限の膜汚染の望ましい組み合わせを与え得る。
ClSiH2−CH2−SiH3+iPrNH2+iPr2EtN→iPrN(−SiH2−CH2−SiH3)2
ClSiH2−CH2−SiH3+NH3→HN(−SiH2−CH2−SiH3)2
ClSiH2−CH2−SiH3(53.6g)の1.21M溶液を、トルエン中、−15℃で調製した。混合物を+5℃まで温め、混合物の中へNH3(11.5g)を約1.5時間かけてゆっくり吹き込んだ。反応混合物は自然に温まるようにした。添加後、混合物を室温(約23℃)で0.5時間撹拌し、その後GC用の試料採取をした。GCは、単一の生成物NHDSP2のみを示す。GCは、9.032分の保持時間の生成物だけでなく、溶媒と反応物のピークも示した。
ClSiH2−CH2−SiH3+NH3→N(−SiH2−CH2−SiH3)3
−78℃(ドライアイス/アセトン)のコンデンサーを備えた500mLの3口フラスコに乾燥ペンタン(100mL)及び1−クロロ−1,3−ジシラプロパン(15g、0.135mol)を入れ、0℃まで冷却した。気相のアンモニアをフラスコの中に凝縮させた(2.5g、0.147mol)。最初に少量の発煙が観察され、その後透明な液体中での多量の白色固体の生成が観察された。懸濁液を激しく撹拌しながらゆっくり室温に戻した。撹拌を室温で約60分継続した。反応混合物をミディアムフリットガラスフィルターを通して濾過し、固体を追加の乾燥ペンタン100mLで洗浄することで、透明な無色の液体を得た。溶媒と高揮発性成分は、大気圧下、32〜37℃でショートパスカラムを用いて除去される。最終生成物は、26℃〜36℃/40〜45mTorrでショートパスカラムを用いて無色液体として蒸留される。収量:4.3g(50%)。
Claims (14)
- 式(R1)aN(−SiHR2−CH2−SiH2R3)3−a(式中、a=0又は1であり;R1はH、C1〜C6のアルキル基、又はハロゲンであり;R2及びR3はそれぞれ独立にH、ハロゲン、式OR’のアルコキシ基(R’はアルキル基(C1〜C6))、又は式NR’’2のアルキルアミノ基(各R’’は独立にH、C1−C6のアルキル基、C1−C6のアルケニル基、又はC3−C10のアリール基若しくはヘテロ環基である)である)を有するカルボシラン置換アミン前駆体を含有する、Si含有膜形成用組成物。
- a=0であり、前記カルボシラン置換アミン前駆体が式N(−SiHR2−CH2−SiH2R3)3を有する、請求項1に記載のSi含有膜形成用組成物。
- 前記カルボシラン置換アミン前駆体が、N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))3、N(SiH2−CH2−SiH2(Br))3、N(SiH2−CH2−SiH2(I))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NEt2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPr2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPr2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NBu2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NiBu2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NtBu2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NAm2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyペンチル2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(Nヘキシル2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyHex2))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPrH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NBuH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NiBuH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NtBuH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(NAmH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OH))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OnPr))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OiPr))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OBu))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OiBu))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OtBu))3、N(SiH2−CH2−SiH2(OAm))3、N(SiH2−CH2−SiH2(Oヘキシル))3、N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(I))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NEt2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPr2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPr2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NBu2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NiBu2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NtBu2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NHtBu))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NAm2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NHAm))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyペンチル2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(Nヘキシル2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyHex2))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPrH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OH))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OnPr))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OiPr))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OBu))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OiBu))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OtBu))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(OAm))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(Oヘキシル))2(SiH2−CH2SiH3)、N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NEt2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPr2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPr2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NBu2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NiBu2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NtBu2))(SiH2−CH2SiH3
)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NHtBu))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NAm2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NHAm))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyペンチル2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(Nヘキシル2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NCyHex2))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NnPrH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OH))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OnPr))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OiPr))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OBu))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OiBu))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OtBu))(SiH2−CH2SiH3)2、N(SiH2−CH2−SiH2(OAm))(SiH2−CH2SiH3)2、及びN(SiH2−CH2−SiH2(Oヘキシル))(SiH2−CH2SiH3)2からなる群から選択される、請求項2に記載のSi含有膜形成用組成物。 - 前記カルボシラン置換アミン前駆体が、N(SiH2−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NEtMe)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NEt2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NnPr2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NiPr2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NBu2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NiBu2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NtBu2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NHtBu)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NAm2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NHAm)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NCyペンチル2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(Nヘキシル2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NCyHex2)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NnPrH)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NBuH)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OH)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OnPr)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OiPr)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OBu)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OiBu)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OtBu)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(OAm)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(Oヘキシル)−CH2−SiH3)3、N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NEt2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NnPr2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NiPr2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NBu2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NiBu2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NtBu2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NHtBu)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NAm2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NHAm)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NCyペンチル2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(Nヘキシル2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NCyHex2)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NnPrH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OH)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OnPr)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OiPr)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OBu)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OiBu)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OtBu)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(OAm)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(Oヘキシル)−CH2−SiH3)2(SiH2−CH2SiH3)、N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NEt2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NnPr2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NiPr2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NBu2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NiBu2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NtBu2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NHtBu)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NAm2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NHAm)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NCyペンチル2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2
、N(Si(H)(Nヘキシル2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NCyHex2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NnPrH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OH)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OnPr)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OiPr)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OBu)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OiBu)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OtBu)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、N(Si(H)(OAm)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2、及びN(Si(H)(Oヘキシル)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)2からなる群から選択される、請求項2に記載のSi含有膜形成用組成物。 - 前記カルボシラン置換アミン前駆体がN(−SiH2−CH2−SiH3)3である、請求項2に記載のSi含有膜形成用組成物。
- a=1であり、前記カルボシラン置換アミン前駆体が式R1N(−SiHR2−CH2−SiH2R3)2を有する、請求項1に記載のSi含有膜形成用組成物。
- 前記カルボシラン置換アミン前駆体が、HN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(I))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeH))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NMeEt))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NEtH))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(NiPrH))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))2、HN(SiH2−CH2
−SiH2(OEt))2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))2、HN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(Cl))(SiH2−CH2SiH3)、HN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(Br))(SiH2−CH2SiH3)、HN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(I))(SiH2−CH2SiH3)、HN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(NH2))(SiH2−CH2SiH3)、HN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(NMe2))(SiH2−CH2SiH3),HN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(SiH2−CH2−SiH2(OMe))(SiH2−CH2SiH3)、HN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、MeN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、EtN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)、及び(I)N(SiH2−CH2−SiH2(OEt))(SiH2−CH2SiH3)からなる群から選択される、請求項6に記載のSi含有膜形成用組成物。 - 前記カルボシラン置換アミン前駆体が、(Cl)N(SiH2−CH2SiH3)2、(Br)N(SiH2−CH2SiH3)2、(I)N(SiH2−CH2SiH3)2、(H)N(SiH2−CH2SiH3)2、(Me)N(SiH2−CH2SiH3)2、(Et)N(SiH2−CH2SiH3)2、(nPr)N(SiH2−CH2SiH3)2、(iPr)N(SiH2−CH2SiH3)2、(Bu)N(SiH2−CH2SiH3)2、(iBu)N(SiH2−CH2SiH3)2、(tBu)N(SiH2−CH2SiH3)2、(アミル)N(SiH2−CH2SiH3)2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2SiH3)2、(Me)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(NMeEt)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(NMeH)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(NEtH)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(NiPrH)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(アミル)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(NtBuH)−CH2−SiH3)2、(Me)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、(Et)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、(nPr)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、(iPr)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、(Bu)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、(iBu)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、(tBu)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、(アミ
ル)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)2、HN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、MeN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、EtN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(Si(H)(Cl)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、HN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、MeN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、EtN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(Si(H)(Br)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、HN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、MeN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、EtN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(Si(H)(I)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、HN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、MeN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、EtN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(Si(H)(NH2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、HN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、MeN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、EtN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(Si(H)(NMe2)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、HN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、MeN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、EtN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(I)N(Si(H)(OMe)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、HN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、MeN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、EtN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、iPrN(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Cl)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、(Br)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)、及び(I)N(Si(H)(OEt)−CH2−SiH3)(SiH2−CH2SiH3)からなる群から選択される、請求項6に記載のSi含有膜形成用組成物。 - 前記カルボシラン置換アミン前駆体が、HN(SiH2−CH2−SiH3)2、(Me)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(Et)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(nPr)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(iPr)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(Bu)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(iBu)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(tBu)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(アミル)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(ヘキシル)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(Br)N(SiH2−CH2−SiH3)2、(Cl)N(SiH2−CH2−SiH3)2、及び(I)N(SiH2−CH2−SiH3)2からなる群から選択される、請求項6に記載のSi含有膜形成用組成物。
- Si含有層を基板上に堆積させる方法であって、
中に基板が配置されているリアクターの中に請求項1〜9のいずれか1項に記載のSi含有膜形成用組成物の蒸気を導入することと、
前記カルボシラン置換アミン前駆体の少なくとも一部を、蒸着法を用いて基板上に堆積させることでSi含有層を形成することと、
を含む方法。 - 共反応物を前記リアクターの中に導入することを更に含む、請求項10に記載の方法。
- 前記蒸着法が化学蒸着法である、請求項10に記載の方法。
- 前記蒸着法が原子層堆積(ALD)法である、請求項10に記載の方法。
- 基板上へのSi含有膜の形成方法であって、請求項1〜9のいずれか1項に記載のSi含有膜形成用組成物を含有する溶液を形成することと、スピンコーティング、スプレーコーティング、ディップコーティング、又はスリットコーティング法によって前記溶液を前記基板と接触させることによりSi含有膜を形成することと、を含む方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201462054198P | 2014-09-23 | 2014-09-23 | |
US62/054,198 | 2014-09-23 | ||
PCT/US2015/051678 WO2016049154A1 (en) | 2014-09-23 | 2015-09-23 | Carbosilane substituted amine precursors for deposition of si-containing films and methods thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017529361A true JP2017529361A (ja) | 2017-10-05 |
JP6578353B2 JP6578353B2 (ja) | 2019-09-18 |
Family
ID=55581940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017515206A Active JP6578353B2 (ja) | 2014-09-23 | 2015-09-23 | Si含有膜堆積用カルボシラン置換アミン前駆体及びその方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9969756B2 (ja) |
JP (1) | JP6578353B2 (ja) |
KR (1) | KR102398827B1 (ja) |
CN (1) | CN107002236B (ja) |
WO (1) | WO2016049154A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023508367A (ja) * | 2019-12-31 | 2023-03-02 | レール・リキード-ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード | ポリカルボシラザンを使用してlow-k誘電体ケイ素含有膜を形成するための硬化性配合物 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10453675B2 (en) * | 2013-09-20 | 2019-10-22 | Versum Materials Us, Llc | Organoaminosilane precursors and methods for depositing films comprising same |
TWI706957B (zh) * | 2015-03-30 | 2020-10-11 | 法商液態空氣喬治斯克勞帝方法研究開發股份有限公司 | 碳矽烷與氨、胺類及脒類之觸媒去氫耦合 |
KR20180005221A (ko) * | 2015-05-22 | 2018-01-15 | 다우 코닝 코포레이션 | 펜타클로로실란 |
JP6803368B2 (ja) * | 2015-07-09 | 2020-12-23 | レール・リキード−ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード | アルキルアミノ置換ハロカルボシラン前駆体 |
TWI753794B (zh) * | 2016-03-23 | 2022-01-21 | 法商液態空氣喬治斯克勞帝方法研究開發股份有限公司 | 形成含矽膜之組成物及其製法與用途 |
US20180187303A1 (en) * | 2016-12-30 | 2018-07-05 | L'air Liquide, Societe Anonyme Pour L'etude Et L'exploitation Des Procedes Georges Claude | Lanthanide precursors and deposition of lanthanide-containing films using the same |
KR20180110612A (ko) | 2017-03-29 | 2018-10-10 | (주)디엔에프 | 비스(아미노실릴)알킬아민 화합물을 포함하는 실리콘 함유 박막증착용 조성물 및 이를 이용하는 실리콘 함유 박막의 제조방법 |
WO2018182309A1 (en) * | 2017-03-29 | 2018-10-04 | Dnf Co., Ltd. | Composition for depositing silicon-containing thin film containing bis(aminosilyl)alkylamine compound and method for manufacturing silicon-containing thin film using the same |
WO2018182318A1 (en) * | 2017-03-29 | 2018-10-04 | Dnf Co., Ltd. | Composition for depositing silicon-containing thin film and method for manufacturing silicon-containing thin film using the same |
KR102548405B1 (ko) * | 2017-04-20 | 2023-06-28 | (주)디엔에프 | 다이실릴아민 화합물을 포함하는 실리콘 함유 박막증착용 조성물 및 이를 이용하는 실리콘 함유 박막의 제조방법 |
KR102190532B1 (ko) * | 2017-11-22 | 2020-12-15 | (주)디엔에프 | 실리콘 함유 박막 증착용 조성물 및 이를 이용한 실리콘 함유 박막의 제조방법 |
US20220220132A1 (en) * | 2020-12-29 | 2022-07-14 | American Air Liquide, Inc. | Organosilane precursors for ald/cvd/sod of silicon-containing film applications |
WO2023211027A1 (ko) * | 2022-04-25 | 2023-11-02 | 엠케미칼 주식회사 | 실리콘 전구체 화합물 및 이의 제조방법, 실리콘 전구체 이용한 실리콘 함유 박막의 제조방법 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01100181A (ja) * | 1987-09-11 | 1989-04-18 | Dow Corning Corp | ポリアルコキシシリルアルキレンジシラザン及びその製法 |
JP2014132653A (ja) * | 2012-12-11 | 2014-07-17 | Air Products And Chemicals Inc | アルコキシシリルアミン化合物及びその応用 |
US20150087139A1 (en) * | 2013-09-20 | 2015-03-26 | Air Products And Chemicals, Inc. | Organoaminosilane precursors and methods for depositing films comprising same |
JP2015164917A (ja) * | 2014-02-28 | 2015-09-17 | エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッドAir Products And Chemicals Incorporated | 有機アミノシランおよびその製造方法 |
JP2018511585A (ja) * | 2015-03-30 | 2018-04-26 | レール・リキード−ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード | アンモニア、アミンおよびアミジンによるカルボシランの触媒的脱水素カップリング |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0764642B2 (ja) | 1986-06-13 | 1995-07-12 | 東燃株式会社 | 窒化物系セラミツクスの製法 |
US6841256B2 (en) | 1999-06-07 | 2005-01-11 | Honeywell International Inc. | Low dielectric constant polyorganosilicon materials generated from polycarbosilanes |
US6489030B1 (en) | 2000-04-14 | 2002-12-03 | Honeywell International, Inc. | Low dielectric constant films used as copper diffusion barrier |
JP4196246B2 (ja) | 2000-11-17 | 2008-12-17 | 株式会社トリケミカル研究所 | 膜形成材料、膜形成方法、及び素子 |
JP4358492B2 (ja) | 2002-09-25 | 2009-11-04 | レール・リキード−ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード | 熱化学気相成長法によるシリコン窒化物膜またはシリコンオキシ窒化物膜の製造方法 |
US6940173B2 (en) | 2003-01-29 | 2005-09-06 | International Business Machines Corporation | Interconnect structures incorporating low-k dielectric barrier films |
US7098150B2 (en) | 2004-03-05 | 2006-08-29 | Air Liquide America L.P. | Method for novel deposition of high-k MSiON dielectric films |
US20060012014A1 (en) | 2004-07-15 | 2006-01-19 | International Business Machines Corporation | Reliability of low-k dielectric devices with energy dissipative layer |
US7358317B2 (en) | 2004-09-22 | 2008-04-15 | Jsr Corporation | Polycarbosilane and method of producing the same |
JP4756128B2 (ja) | 2004-10-20 | 2011-08-24 | 日揮触媒化成株式会社 | 半導体加工用保護膜形成用塗布液、その調製方法およびこれより得られる半導体加工用保護膜 |
ES2265291B1 (es) * | 2005-07-22 | 2008-03-01 | Universidad De Alcala | Nuevos dendrimeros carbosilanos, su preparacion y sus usos. |
US20080124815A1 (en) | 2006-11-03 | 2008-05-29 | International Business Machines Corporation | Method for post cap ild/imd repair with uv irradiation |
US20090096106A1 (en) | 2007-10-12 | 2009-04-16 | Air Products And Chemicals, Inc. | Antireflective coatings |
US8765899B2 (en) * | 2007-11-06 | 2014-07-01 | Braggone Oy | Carbosilane polymer compositions for anti-reflective coatings |
JP5317089B2 (ja) | 2008-01-23 | 2013-10-16 | 独立行政法人物質・材料研究機構 | 成膜方法および絶縁膜 |
US8993072B2 (en) * | 2011-09-27 | 2015-03-31 | Air Products And Chemicals, Inc. | Halogenated organoaminosilane precursors and methods for depositing films comprising same |
US9978585B2 (en) * | 2012-06-01 | 2018-05-22 | Versum Materials Us, Llc | Organoaminodisilane precursors and methods for depositing films comprising same |
US9243324B2 (en) | 2012-07-30 | 2016-01-26 | Air Products And Chemicals, Inc. | Methods of forming non-oxygen containing silicon-based films |
KR101583232B1 (ko) | 2012-12-31 | 2016-01-07 | 제일모직 주식회사 | 중합체 제조 방법 및 실리카계 절연막 형성용 조성물 |
US9796739B2 (en) | 2013-06-26 | 2017-10-24 | Versum Materials Us, Llc | AZA-polysilane precursors and methods for depositing films comprising same |
US10023958B2 (en) * | 2013-11-22 | 2018-07-17 | Applied Materials, Inc. | Atomic layer deposition of films comprising silicon, carbon and nitrogen using halogenated silicon precursors |
CN103881101A (zh) | 2014-03-18 | 2014-06-25 | 天津大学 | 一种碳氮化硅陶瓷用聚碳硅氮烷前驱体及其制备方法 |
-
2015
- 2015-09-23 JP JP2017515206A patent/JP6578353B2/ja active Active
- 2015-09-23 US US15/512,968 patent/US9969756B2/en active Active
- 2015-09-23 KR KR1020177009337A patent/KR102398827B1/ko active IP Right Grant
- 2015-09-23 WO PCT/US2015/051678 patent/WO2016049154A1/en active Application Filing
- 2015-09-23 CN CN201580050013.2A patent/CN107002236B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01100181A (ja) * | 1987-09-11 | 1989-04-18 | Dow Corning Corp | ポリアルコキシシリルアルキレンジシラザン及びその製法 |
JP2014132653A (ja) * | 2012-12-11 | 2014-07-17 | Air Products And Chemicals Inc | アルコキシシリルアミン化合物及びその応用 |
US20150087139A1 (en) * | 2013-09-20 | 2015-03-26 | Air Products And Chemicals, Inc. | Organoaminosilane precursors and methods for depositing films comprising same |
JP2015096489A (ja) * | 2013-09-20 | 2015-05-21 | エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッドAir Products And Chemicals Incorporated | 有機アミノシラン前駆体およびこれを含む膜の堆積方法 |
JP2015164917A (ja) * | 2014-02-28 | 2015-09-17 | エア プロダクツ アンド ケミカルズ インコーポレイテッドAir Products And Chemicals Incorporated | 有機アミノシランおよびその製造方法 |
JP2018511585A (ja) * | 2015-03-30 | 2018-04-26 | レール・リキード−ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード | アンモニア、アミンおよびアミジンによるカルボシランの触媒的脱水素カップリング |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2023508367A (ja) * | 2019-12-31 | 2023-03-02 | レール・リキード-ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード | ポリカルボシラザンを使用してlow-k誘電体ケイ素含有膜を形成するための硬化性配合物 |
JP7470794B2 (ja) | 2019-12-31 | 2024-04-18 | レール・リキード-ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード | ポリカルボシラザンを使用してlow-k誘電体ケイ素含有膜を形成するための硬化性配合物 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN107002236B (zh) | 2019-04-05 |
KR102398827B1 (ko) | 2022-05-16 |
JP6578353B2 (ja) | 2019-09-18 |
WO2016049154A1 (en) | 2016-03-31 |
CN107002236A (zh) | 2017-08-01 |
KR20170058957A (ko) | 2017-05-29 |
US20170291915A1 (en) | 2017-10-12 |
US9969756B2 (en) | 2018-05-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6578353B2 (ja) | Si含有膜堆積用カルボシラン置換アミン前駆体及びその方法 | |
JP6242026B2 (ja) | Ald/cvdシリコン含有膜用のオルガノシラン前駆体 | |
US9822132B2 (en) | Hexacoordinate silicon-containing precursors for ALD/CVD silicon-containing film applications | |
JP6803368B2 (ja) | アルキルアミノ置換ハロカルボシラン前駆体 | |
US20200339610A1 (en) | Alkylamino-substituted carbosilane precursors | |
JP2018511585A (ja) | アンモニア、アミンおよびアミジンによるカルボシランの触媒的脱水素カップリング | |
US11407922B2 (en) | Si-containing film forming compositions and methods of making and using the same | |
US9382268B1 (en) | Sulfur containing organosilane precursors for ALD/CVD silicon-containing film applications | |
KR102461078B1 (ko) | Ald/cvd 규소-함유 필름 응용을 위한 오르가노디실란 전구체 | |
US20220220132A1 (en) | Organosilane precursors for ald/cvd/sod of silicon-containing film applications |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20170404 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20170405 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180910 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190807 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190820 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190826 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6578353 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |