JP2017504961A - ゼロ・ギャップ・インプリンティングのためのインプリント・リソグラフィ・テンプレート及び方法 - Google Patents

ゼロ・ギャップ・インプリンティングのためのインプリント・リソグラフィ・テンプレート及び方法 Download PDF

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Abstract

前縁境界部及び後縁境界部を有するインプリント・リソグラフィ・テンプレートが提供され、このインプリント・リソグラフィ・テンプレートは、完全な特性高さのフィーチャを備えた、隣接する区域間でのゼロ・ギャップ・インプリンティングを達成し、ここで該完全な特性高さのフィーチャは、そのような区域の間に位置するパターン排斥ゾーン(PEZ)に設けられる。前縁境界部はダミー・フィーチャを含み、該ダミー・フィーチャは、例えば、メサ縁部に平行となるように、指向性をもって方向付けられた、引き延ばされたフィーチャであり、その一方で、後縁境界部は、メサ縁部まで延びる凹部を含む。段階的繰り返し工程で使用される場合、後縁境界部は、テンプレートの前縁境界部によって以前にパターン形成された、隣接するインプリントされた区域の縁部分と重なり、これによって、そのような区域間のパターン排斥ゾーンの中に、完全な特性高さのフィーチャを産み出し、且つそのような区域間のギャップ又は空きエリアを回避する。そうでなければ、これらのギャップ又は空きエリアは、エッチング工程及びCMPのような下流工程の不均一性につながる。【選択図】 図7B

Description

[関連出願の相互参照]
本出願は、2013年12月10日に出願された特許文献1の、米国特許法第119条(e)(1)項の下における利益を主張し、特許文献1は、ここに参照によって、その全体が本明細書に組み込まれる。
ナノ加工は、100ナノメートル以下のオーダーのフィーチャを有する、非常に小さな構造物の加工を含む。ナノ加工がかなり大きなインパクトを有する1つの応用は、集積回路の加工におけるものである。半導体加工産業は、基板上に形成される、単位面積当たりの回路を増加させながら、より大きな生産歩留まりを得るための努力を続けており、それ故に、ナノ加工はますます重要になっている。ナノ加工は、より大変な工程制御を提供するが、その一方で、形成される構造物の最小特性寸法を継続して減少させることを可能にする。ナノ加工が利用されてきた開発の他の分野には、バイオテクノロジー、光学技術、機械システムなどが含まれる。
今日使用されている代表的なナノ加工技術は、一般にインプリント・リソグラフィと呼ばれる。インプリント・リソグラフィは、多様な応用において有用であり、多様な応用には、例えば、CMOS論理回路、マイクロプロセッサ、NANDフラッシュメモリ、NORフラッシュメモリ、DRAMメモリ、又はMRAM、三次元クロスポイントメモリ、Re−RAM、Fe−RAM、STT−RAMなどの他のメモリ装置のような、集積装置の層を加工することが含まれる。インプリント・リソグラフィはまた、ハードディスク用の薄膜ヘッドにおける層を加工することにおいても有用である。インプリント・リソグラフィはまた、ハードディスク・ドライブ用のパターンド・メディア、ディスプレイ用の偏光子のような光学デバイス、フォトニック結晶構造、光起電力装置用の光閉じ込め構造及びフィルタ、バッテリ電極用のナノ構造、増強されたフォトニック装置及び光起電力装置用の量子ドット構造、生体医学的装置、センサを加工するために使用され、且つ制御されたナノ粒子の加工においても使用され得る。制御されたナノ粒子は、結晶性の半導体材料を加工するために使用され、又は他の用途の中では、ポリマーをベースにした薬剤担体として加工するために使用され得る。代表的なインプリント・リソグラフィ工程は、特許文献2、特許文献3、及び特許文献4のような多数の刊行物において詳細に説明されるが、特許文献2から4の全ては、ここに参照によって、本明細書に組み込まれる。
前述の米国特許刊行物及び特許の各々において開示されるインプリント・リソグラフィ技術は、形成可能な(重合可能な)層におけるレリーフパターンを形成すること、及びレリーフパターンに対応するパターンを、下にある基板に転写することを含む。基板は、パターン形成工程を容易にするために、望ましい位置決めを得るための移動ステージに結合してもよい。パターン形成工程では、基板から間隔を空けて配置されるテンプレート、及びテンプレートと基板との間に塗布される形成可能な液体が使用される。形成可能な液体は固化され、パターンを有する剛体層を形成するが、ここでパターンは、形成可能な液体と接触するテンプレートの表面の形状に従う。固化の後、テンプレートは剛体層から分離され、その結果、テンプレートと基板は間隔を空けて配置される。基板及び固化層は、その後、固化層におけるパターンに対応するレリーフ像を基板に転写するための追加工程を受ける。
米国仮出願特許第61/913,961号 米国特許第8,349,241号 米国特許出願第2004/0065252号 米国特許第6,936,194号 米国特許第6,873,087号 米国特許第7,157,036号 米国特許出願第2005/0187339号 米国特許第6,932,934号 米国特許第7,077,992号 米国特許第7,179,396号 米国特許第7,396,475号
インプリント・リソグラフィ技術は、いわゆる「段階的繰り返し」工程を含むことが可能であり、この「段階的繰り返し」工程は、例えば、同じテンプレートを用いて、複数の区域を基板にわたってパターン形成するのに利用され得る。しかしながら、従来の段階的繰り返しのアプローチは、隣接するインプリントされた区域間の、望ましくないパターン排除ゾーン(PEZ)及び/又はギャップにつながる可能性があり、これらは、下流工程における不均一性につながる可能性がある。本発明は、とりわけ、隣接する区域間のパターン排除ゾーンにおいて、完全な特性高さのフィーチャを産み出すと共に、そのような区域間のギャップ又は空きエリアを回避するインプリント・リソグラフィ及び使用方法に対して準備するものである。
本発明の態様において、本体を有するインプリント・リソグラフィ・テンプレートが提供され、この本体は、本体から伸びると共に、自身の上にパターン形成表面を有するメサを備えた、第1側部及び第2側部を有する。パターン形成表面は、パターン形成されたエリアを含み、このパターン形成されたエリアは、パターン・フィーチャと、パターン形成されたエリアを囲む前縁境界部及び後縁境界部とを包含する。ある変形例において、メサ角部は面取りされる。前縁境界部は、第1の一対の隣接するメサ縁部に沿って形成され、且つ、パターン形成されたエリアのフィーチャと同様な高さのダミー充填フィーチャを包含する。ある変形例において、ダミー充填フィーチャは引き延ばされ、且つ、その結果、少なくとも引き延ばされたフィーチャの一部分は、隣接するメサ縁部と平行となるように方向付けられる。更なる変形例において、ダミー・フィーチャは、例えば、千鳥状バー又は格子の列を備えることが可能である。後縁境界部は、第2の一対の隣接するメサ縁部に沿って形成され(第1の一対の隣接するメサ縁部の反対にある)、且つパターン形成されたエリアから対応するメサ縁部まで延びる凹部から成る。この凹部は、パターン形成されたエリアのフィーチャ(そして更には、前縁境界部のダミー充填フィーチャ)の高さと同様である深さを有する。
提供されるテンプレートは、段階的繰り返し工程において使用され得るが、段階的繰り返し工程は、後縁境界部が、テンプレートの前縁境界部によって以前にパターン形成された、隣接するインプリントされた区域の縁領域と重なるような方法で行われる。より具体的には、第1区域のインプリントは、次のように実施され得る。即ち、基板上の第1区域に重合可能な材料を堆積させ、(ダミー充填フィーチャを含めて)テンプレート・フィーチャを充填するために、その材料をテンプレートに接触させ、且つその材料を固化して、隣接する第1及び第2の縁領域に沿って形成されたダミー・フィーチャを含む第1区域上に、第1のパターン形成された層を形成する。これらの形成されたダミー・フィーチャは、テンプレートの前縁境界部のダミー充填フィーチャに対応する。分離した後、第2区域のインプリントは、第2区域で実施され得るが、第2区域は、形成されたダミー・フィーチャを包含する縁領域に沿って、第1区域に隣接している。ここでテンプレートは、後縁境界部の対応する縁領域が、第1区域上の第1のパターン形成された層の、隣接する縁領域において形成されたダミー・フィーチャと重なるように位置決めされる。第2区域上の重合可能な材料は、テンプレートによって接触され、且つ固化されて、第2区域上に第2のパターン形成された層を形成する。工程は、その後、更に3回及び4回という具合に繰り返されるが、各場合において、テンプレートの後縁境界部は、テンプレートの前縁境界部によって以前にパターン形成された、隣接するインプリントされた区域の縁部分又は縁領域と重なり、そのような区域間のパターン排除ゾーン(PEZ)に、完全な特性高さのフィーチャ(即ち、前縁境界部によって産み出されるダミー・フィーチャ)を産み出し、且つ隣接する区域間のギャップ又は空きエリアを回避する。そのような工程に関する更なる変形例において、テンプレート上に面取りされた角部を設けることによって、4つの隣接する区域の交点における、重合可能な材料の望ましくない盛り上がりを回避する。即ち、面取りされた角部の側面は、そのような交点において、以前にインプリントされた領域の、単一の重なりだけが存在することを保証する。
本発明の特徴及び利点の詳細な理解が可能となるように、添付された図面で示された実施形態を参照することによって、本発明の実施形態のより具体的な説明がなされるであろう。しかしながら、注意するべきことであるが、添付された図面は、本発明の典型的な実施形態を示すだけであり、且つ、それ故に、本発明の範囲を制限するものと考えるべきではない。その理由は、本発明が、他の等価的に有効な実施形態を認めてもよいからである。
図1は、基板から間隔を空けて配置されたテンプレート及び押し型を有するリソグラフィ・システムの、簡略化した側面図を示す。 図2は、自身の上にパターン形成された層を有する、図1に示された基板の簡略化した図を示す。 図3は、パターン形成表面を有するインプリント・リソグラフィ・テンプレート・メサの簡略化した図を示す。 図4Aは、図3のテンプレートによって隣接する区域上にインプリントされた、パターン形成された層の簡略化した図を示す。 図4Bは、図3のテンプレートによって隣接する区域上にインプリントされた、パターン形成された層の簡略化した図を示す。 図5Aは、図3のテンプレートによって隣接する区域上にインプリントされた、パターン形成された層の、別の簡略化した図を示す。 図5Bは、図3のテンプレートによって隣接する区域上にインプリントされた、パターン形成された層の、別の簡略化した図を示す。 図6Aは、図3のテンプレートによって隣接する区域上にインプリントされた、パターン形成された層の、更に別の簡略化した図を示す。 図6Bは、図3のテンプレートによって隣接する区域上にインプリントされた、パターン形成された層の、更に別の簡略化した図を示す。 図7Aは、本発明の一実施形態による、前縁境界部及び後縁境界部を有するインプリント・リソグラフィ・テンプレートの、簡略化した見下ろし図を示す。 図7Bは、線7B−7Bによって指定される面に沿って取られた、図7Aのインプリント・リソグラフィ・テンプレートの断面図を示す。 図8Aは、本発明の別の実施形態による、インプリント・リソグラフィ・テンプレートの前縁境界部の、拡大された見下ろし図を示す。 図8Bは、本発明の別の実施形態による、インプリント・リソグラフィ・テンプレートの前縁境界部の、拡大された見下ろし図を示す。 図9Aは、図7Aのテンプレートを用いて、隣接する区域上にパターン形成された層をインプリントするための工程の簡略化した図を示す。 図9Bは、図7Aのテンプレートを用いて、隣接する区域上にパターン形成された層をインプリントするための工程の簡略化した図を示す。 図9Cは、図7Aのテンプレートを用いて、隣接する区域上にパターン形成された層をインプリントするための工程の簡略化した図を示す。 図9Dは、図7Aのテンプレートを用いて、隣接する区域上にパターン形成された層をインプリントするための工程の簡略化した図を示す。 図10は、本発明の別の実施形態による、面取りされた角部を備えた前縁境界部及び後縁境界部を有するインプリント・リソグラフィ・テンプレートを示す。 図11Aは、本発明の更なる実施形態による、面取りされた角部を備えた前縁境界部の、拡大された見下ろし図を示す。 図11Bは、本発明の更なる実施形態による、面取りされた角部を備えた前縁境界部の、拡大された見下ろし図を示す。 図11Cは、本発明の更なる実施形態による、面取りされた角部を備えた前縁境界部の、拡大された見下ろし図を示す。
図を参照すると、そして特に図1を参照すると、そこには、基板12上にレリーフパターンを形成するために使用されるリソグラフィ・システム10が示されている。基板12は、基板チャック14に結合してもよい。図に示すように、基板チャック14は真空チャックである。しかしながら、基板チャック14は、限定されるものではないが、真空式、ピンタイプ式、溝タイプ式、静電式、電磁式、及び/又は類似の方式を含む任意のチャックであってもよい。代表的なチャックは特許文献5(米国特許第6,873,087号)に説明され、この特許は、ここに参照によって、本明細書に組み込まれる。
基板12及び基板チャック14は、ステージ16によって更に支持してもよい。ステージ16は、x軸、y軸、及びz軸に沿う並進運動及び/又は回転運動を提供してもよい。ステージ16、基板12、及び基板チャック14はまた、基台(図示せず)上に位置決めしてもよい。
テンプレート18は、基板12から間隔を空けて配置される。テンプレート18は、第1側部及び第2側部を有する本体を含み、1つの側部は、自身から基板12に向かって延びるメサ20を有する。メサ20は、自身の上にパターン形成表面22を有する。更に、メサ20は、押し型20と呼んでもよい。代わりに、テンプレート18は、メサ20無しで形成してもよい。
テンプレート18及び/又は押し型20は、限定されるものではないが、溶融石英、水晶、シリコン、有機ポリマー、シロキサンポリマー、ホウケイ酸ガラス、フッ化炭素ポリマー、金属、強化サファイヤ、及び/又は類似の物質を含むような材料から形成してもよい。例示されるように、パターン形成表面22は、複数の間隔を空けて配置された凹部24及び/又は突出部26によって定義されるフィーチャを備えるが、しかし本発明の実施形態は、そのような構成に限定されない(例えば、平面状表面)。パターン形成表面22は、基板12上に形成されるべきパターンの基礎を形成する、任意の原型パターンを定義してもよい。
テンプレート18は、チャック28に結合してもよい。チャック28は、限定されるものではないが、真空式、ピンタイプ式、溝タイプ式、静電式、電磁式、及び/又は他の同様なチャックタイプ式として構成してもよい。代表的なチャックは、特許文献5(米国特許第6,873,087号)で更に説明されるが、この特許は、ここに参照によって、本明細書に組み込まれる。更に、チャック28は、チャック28及び/又はインプリント・ヘッド30が、テンプレート18の移動を容易にするべく構成されるように、インプリント・ヘッド30に結合してもよい。
システム10は、流体分配システム32を更に備えてもよい。流体分配システム32は、基板12上に形成可能な材料34(例えば、重合可能な材料)を堆積させるために、使用してもよい。形成可能な材料34は、落下分配、回転塗布、浸漬塗布、化学蒸着(CVD)、物理蒸着(PVD)、薄膜堆積、厚膜堆積、及び/又は類似の方法のような技術を用いて、基板12上に位置決めしてもよい。設計上の考慮事項に依存して、望ましい体積が押し型22と基板12との間に、画定される前及び/又は後に、形成可能な材料34を基板12上に配置してもよい。形成可能な材料34は、バイオ領域、太陽電池産業、バッテリ産業、及び/又は機能的ナノ粒子を必要とする他の産業の中での用途を有する、機能的ナノ粒子であってもよい。例えば、形成可能な材料34は、特許文献6(米国特許第7,157,036号)及び特許文献7(米国特許出願第2005/0187339号)に説明されるようなモノマー混合物を備えてもよく、これらの特許は両方とも、参照によって本明細書に組み込まれる。代わりに、形成可能な材料34は、限定されるものではないが、バイオ材料(例えば、PEG)、太陽電池材料(例えば、N型材料、P型材料)、及び/又は類似の材料を含んでもよい。
図1及び図2を参照すると、システム10は、経路42に沿ってエネルギー40に直接結合されたエネルギー源38を更に備えてもよい。インプリント・ヘッド30及びステージ16は、テンプレート18及び基板12を経路42に重ねて位置決めするように構成してもよい。システム10は、ステージ16、インプリント・ヘッド30、流体分配システム32、及び/又はエネルギー源38と連絡するプロセッサ54によって調整してもよく、且つメモリ56に格納されたコンピュータ可読なプログラム上で動作してもよい。
インプリント・ヘッド30、ステージ16のいずれか、又はその両方は、押し型20と基板12との間の距離を変化させて、形成可能な材料34によって押し型20と基板12との間に充填される、望ましい体積を画定する。例えば、インプリント・ヘッド30は、押し型20が形成可能な材料34と接触するように、テンプレート18に力を加えてもよい。望ましい体積が、形成可能な材料34で充填された後、エネルギー源38はエネルギー40(例えば、紫外光放射)を生成し、これによって、形成可能な材料34を固化させる、且つ/又は、架橋結合を基板12の表面44及びパターン形成表面22の形状に従わせることで、基板12上にパターン形成された層46を画定する。パターン形成された層46は、残余層48と、突出部50及び凹部52として示される複数のフィーチャとを備え、ここで突出部50は厚さt1を有し、残余層は厚さt2を有する。
上述のシステム及び工程は、特許文献8(米国特許第6,932,934号)、特許文献9(米国特許第7,077,992号)、特許文献10(米国特許第7,179,396号)、及び特許文献11(米国特許第7,396,475号)において参照されるインプリント・リソグラフィ工程及びシステムで更に利用してもよく、これらの特許の全ては、ここに参照によって、その全体が組み込まれる。
そのような工程は、いわゆる段階的繰り返し工程を更に含み、該工程は、例えば半導体ウェハのような、基板上で複数の区域をパターン形成する場合に利用され得る。典型的な段階的繰り返し工程は、例えば、特許文献9(米国特許第7,077,992号)で説明されるが、この特許は、その全体が参照によって本明細書に組み込まれる。重合可能な材料(本明細書では、レジスト又はレジスト材料とも呼ばれる)を、インプリントされる区域内に閉じ込めるために、インプリント・テンプレートは、レリーフ・フィーチャを包含しない境界部又は縁部を備えた状態でしばしば構成される。図3を参照すると、テンプレート68は、インプリント・テンプレートの代表的なものであり、且つ自身の上にパターン形成表面72を備えた、テンプレート本体(図示せず)から延びるメサ70を含む。パターン形成表面72は、パターン形成エリア73を含み、パターン形成エリア73は、高さ(又は深さ)hを有するレリーフ・フィーチャ75(例えば、突出部及び凹部)を包含する。パターン形成エリア73は、レリーフ・フィーチャを包含しない境界部79によって囲まれる。境界部79は、パターン形成エリア73の縁部からメサ縁部71又は77まで延びる。1つの区域をインプリントする場合、境界部79を設けることは、インプリントされる区域内にレジストを閉じ込め、且つその区域を超えてレジストが押し出されるのを防止することに役立つ。即ち、もしパターン形成されたエリアがメサ縁部まで完全に延びる場合、その時は、流体レジストは、メサ縁部を超えて自由に流れ得るが、その理由は、レジスト流体が、パターン形成されたエリアのフィーチャを充填するからである。パターン形成されたエリアを境界部79で囲むことによって、流体レジストは、パターン形成エリアに閉じ込められたままとなり、その結果、流体充填の間、レジストの薄い残余層だけが、境界部79とテンプレートの間のスペースを充填する。結果として、インプリントされた区域は、パターン形成されたフィーチャを囲む薄い残余層境界(又はRLB)を有する、パターン形成された層を包含するであろう。
図4A、図4Bを参照すると、テンプレート68を用いて、隣接するパターン形成された層83及び84は、基板12の隣接する区域81及び82上にそれぞれ形成される。図に示されるように、パターン形成された層83及び84は、(テンプレートのレリーフ・フィーチャ75に対応する)パターン形成されたフィーチャ85と、パターン形成されたフィーチャのエリアの縁部からそれぞれの区域縁部まで延びる残余層境界89とを含む。この例では、パターン形成された層83及び84自体は、ギャップ92によって更に分離される。そのようなギャップがしばしば設けられるが、その目的は、例えば、隣接するインプリントされた区域間の干渉を防止すること、テンプレート・メサのエッチングにおける公差ばらつきを収容すること、且つ/又は、そうでなければ、続いて起こる隣接する区域のインプリントを実施する際に、現存する以前にパターン形成されたフィーチャへの損傷に対して保護することである。典型的なギャップサイズは、150ミクロンまでの範囲であり得る。代わりに、インプリントは、図5A及び5Bに示すように、隣接する区域が境を接する状況において、又は図6A及び6Bに示すように、隣接する区域がわずかに重なる状況においてさえも、試みられてきた。このような状況の各々において、同じ残余層境界89が設けられるが、ここで残余層境界89は、メサのエッチング変動を同様に収容し、且つ干渉及びフィーチャ損傷を防止するのに十分な寸法のものである。これらの場合の各々において、その時、パターン排除ゾーン(又はPEZ)98が、隣接する区域81及び82の、パターン形成されたフィーチャのエリア85の間に確立される。
しかしながら、隣接する区域上のパターン形成されたフィーチャ間の大きなパターン排除ゾーン(PEZ)及び/又はギャップは、特に半導体産業において問題となるが、その理由は、これらが、別の方法で完全にパターン形成されたウェハを横切る「空きエリア」を形成するからである。ウェハ上のそのような空きエリアは、わずかに数ミクロンであったとしても、下流のウェハ加工での問題につながる。この訳は、パターン形成されたウェハがエッチング薬品に曝される場合、薄い残余層境界だけを有する(又は、ある場合には、ギャップは残余層を全く有さない)これらの空きエリアは、有害なことにも、下にある基板をエッチング薬品に曝し、このことは、後のウェハCMP及びエッチング工程における均一性の欠如につながる、という理由による。その場合、隣接する区域は、区域間でのギャップ又は空きエリアが無い状態で、インプリントされることが望ましい。
本明細書で提供される発明では、区域間にギャップ及び/又は空きスペースのない状態で、隣接する区域をインプリントすることが、物品、システム及び方法を準備することによって可能となり、ここで物品、システム及び方法は、パターン排斥ゾーン(PEZ)に設けられる完全な特性高さのフィーチャを有する、ゼロ・ギャップ・インプリンティングを準備する。図7A及び図7Bを参照すると、メサ120を有するテンプレート118が提供される。メサ120はパターン形成エリア123を含み、ここでパターン形成エリア123は、レリーフ・フィーチャ125を包含し、且つ前縁境界部162及び後縁境界部164によって囲まれる。前縁境界部162は、隣接するメサ縁部121、128に沿って延び、後縁境界部164は、反対側の隣接するメサ縁部127、129に沿って延びる。本明細書で更に詳細に述べられるように、前縁境界部162は、ダミー・フィーチャ166を含むようにパターン形成され、その一方で、後縁境界部164は、メサ縁部127、129まで延びる凹部168を含む。ダミー・フィーチャ166は、パターン・フィーチャ125と同じ高さhを有し、且つ凹部168は、この同じ高さhに対応する深さのものである。テンプレート118は、段階的繰り返し工程において使用され得る。即ち、後縁境界部164が、前縁境界部162によってパターン形成された、以前にインプリントされた区域の部分に重なるような方法で、ウェハにわたって「段階的に進められる」。ダミー・フィーチャ166は、好ましくは、任意の引き延ばされた、指向性を持って方向付けられたフィーチャであり、該フィーチャにおいては、少なくともフィーチャのサブセットが、メサ縁部に平行となるように方向付けられる。図8Aは、そのようなフィーチャの例を描いており、そこでは縁境界部162aは、メサ縁部に平行となるように方向付けられた格子171を含む。図8Bは別の例を描いており、そこでは縁境界部162bは、同様に、格子172を含む。格子172は、パターン形成エリア123の縁部に位置決めされ、且つメサ縁部に平行となるように方向付けられるが、該メサ縁部は、格子172と直交し、且つ格子172からメサ縁部まで延びる格子174と結合される。前縁ダミー・パターンの更なる例は、図11Aから図11Cに描かれており、且つ本明細書で更に説明される。
テンプレート118が段階的繰り返し工程で使用される場合、前縁境界部162の指向性を持って方向付けられたダミー・パターン166は、インプリントされた区域縁部において、対応するインプリントされたダミー・フィーチャを産み出し、このことは、区域境界部での完全な特性高さのパターンにつながるであろう。更に、後縁境界部164が、その後、隣接する区域において続いて起こるインプリントステップの間に、そのようなフィーチャにわたって重ねられる場合、インプリントされたダミー・フィーチャの少なくとも一部分は、流体の流れ又は拡散の方向と垂直になるように方向付けられるであろう。そのため、インプリントされたダミー・フィーチャは、メサ縁部127を通り過ぎる流体の押し出しに対して、障害を作り出すであろう。そしてまた、フィーチャ間にスペースを介在させることによって、押し出しに対して更に防護するべく、任意の余分な流体で充填すると共に、インプリントされた区域において、分配された流体体積の局所的な変動を収容することが可能である。従って、前縁境界部162及び後縁境界部164(これらは組み合わされて働く)は、インプリントされた区域の突き合わせ(即ち、区域間でギャップの無いインプリンティング)を可能にし、区域境界では完全な特性高さのダミー・パターンが形成されるが、その一方で、欠陥形成のリスクを与える、メサ縁部127を超える、望ましくないインプリント流体の押し出しをも防止する。
図9Aから図9Dの図に目を向けると、上で説明された工程は、より容易に理解され得る。図9Aにおいて、メサ120を有するテンプレート118は、インプリント区域181に位置決めされるが、ここでインプリント流体34は、パターン形成されたフィーチャのエリア123、及びダミー・フィーチャ166を包含する前縁境界部162を充填する。インプリント流体は、その後、固化され、区域181においてパターン形成された層183を形成し、そして、図9Bで示すように、テンプレート118が除去される。ここで、パターン形成された層183はパターン・フィーチャ185を包含し、且つダミー・フィーチャ186は、区域181の縁部に位置する。隣接する区域182は、その後、図9Cに示すように、テンプレート118を用いてインプリントされる。ここで、凹部168を包含する後縁境界部164は、区域181上のパターン形成された層183の、以前に形成されたダミー・フィーチャ186と重なるように位置決めされる。インプリント流体34は、パターン形成されたフィーチャのエリア123のパターン・フィーチャ125を充填し、且つ以前にパターン形成されたダミー・フィーチャ186が存在することによって、区域181の中に流れる、又は押し出されることを抑制される。インプリント流体は、その後、固化され、区域182においてパターン形成された層184を形成し、且つ、図9Dに示すように、テンプレート118は除去される。ここで、パターン形成された層184はパターン・フィーチャ185を包含し、且つ区域181のパターン形成された層183と境を接する。見て分かるように、結果として、境を接する区域間にギャップ又は空きスペースがなく、且つ、更に、ダミー・フィーチャ186は、パターン形成されたフィーチャ185と同様な高さの、又は同一の高さのものであり、従って、隣接するインプリント区域のパターン形成されたフィーチャのエリア間で、実質的に完全な高さのフィーチャを準備する。
図9Aから図9Dの上で説明した工程では、正しく認識できることであるが、テンプレート118を用いた段階的繰り返し工程は、典型的には右から左へ、底部から頂部へというふうに、基板(例えば、ウェハ)にわたって段階的なやり方で進行するであろう。このように、連続する各インプリントは、後縁境界部164を有するであろう。ここで後縁境界部164は、以前にインプリントされた隣接する区域上に、前縁境界部162によって以前にインプリントされたダミー・フィーチャ186を重ねるように利用することが可能である。最初の列がインプリントされる際には、その後縁境界部の重なりは、メサ縁部127に沿って起こり、そして、付加的な列がインプリントされる際には、結果として、そのような重なりは、メサ縁部129に沿って起こるであろう。後縁境界部162は、従って、以前にインプリントされたダミー・フィーチャ186上に、常に重ねられるであろう。正しく認識されることであろうが、部分的な区域は、テンプレート118によって同様にインプリントされることが可能であり、その結果として、任意の与えられた列における、最初の完全な区域のインプリントは、隣接する部分的な区域における、以前にインプリントされたダミー・フィーチャ186の重なりを可能にするであろう。
上記の重なりのアプローチにおいては、しかしながら、テンプレート118のような、90度の角部角度を備えた標準的な長方形メサを有するテンプレートは、共通の隣接する角部で、又は4つの隣接するインプリントされた区域の交点で、付加的な層の盛り上がりを必ず産み出すであろう。即ち、第2区域が、第1のインプリントされた区域に隣接してインプリントされる場合、これまで説明したように、最初の重なりが存在するが、その後、付加的なインプリントが実施される場合、付加的な重なりが、4つの隣接する区域の交点で起こる。この付加的な重なりは、そのような交点で付加的な局在化した層の盛り上がりを作り出し(即ち、第3及び第4のインプリントは、2重及び3重の重なり条件によって、そのような共通の隣接する角部又は交点で、付加的な層の盛り上がりを作り出す)、このことは、今度は、それらの場所での、潜在的に望ましくない厚さ変動につながる。
図10を参照すると、標準的な長方形メサに対して、代替的構成を有するメサ220が設けられる。見て分かるように、メサ220は、各角部で面取りされている。即ち、前縁部262は面取り部263を含み、そこでは隣接するメサ縁部221及び228が交わり、且つ後縁境界部264は、同様に面取り部265を含み、そこでは隣接するメサ縁部227及び229が交わる。加えて、前縁部262及び後縁部264が交わる角部は、同様に面取りされ、それらは、即ち、メサ縁部221及び229が合流する面取り部267と、メサ縁部227及び228が合流する面取り部269である。更に、同様に見られるように、これらの場所の各々では、前縁部262のダミー・パターン形成されたフィーチャのエリア、及び後縁部264の凹部フィーチャのエリアは、パターン形成されたエリア223の対応する角部から延び、且つ面取りされた角部267及び269を二等分する線に沿って交わる。面取りされた角部の角度自体は、メサ側部に対して、ほぼ45度である。使用においては、正しく認識できることであるが、この構成は、4つの隣接するインプリントされた区域の、共通の角部又は交点で、単一の重なりを産み出すだけであろう。例えば、メサ228を備えたテンプレートによってインプリントされた最初の区域を考えると、その場合、角部ダミー・フィーチャは、面取り部263に対応する区域の角部にプリントされ(インプリントされた区域に隣接して、直ぐ左、上方)、且つそのような区域の対角線には、後縁部264の凹部が重ねられるであろう。その結果、その角部の場所には、更なるダミー・フィーチャの付加的なインプリンティングは存在しない。従って、その角部の場所に結果としてインプリントされた層は、他の重ねられたエリアと同じ高さ及び条件を、基本的に有するであろう。
図11Aから図11Cは、面取りされた角部メサの更なる変更例を示し、そこでは、前縁部のダミー・パターン・フィーチャが変更されている。以前に注意したように、そのようなダミー・パターン・フィーチャは、引き延ばされた、指向性を持って方向付けけられたフィーチャであり、そこではフィーチャの少なくとも1つの部分は、メサ縁部に平行となるように方向付けられる。また詳細に述べたように、そのようなフィーチャの図柄は、完全な特性高さの境界を生み出す一方で、レジスト流体がメサ縁部を超えて押し出されるのを妨げ、それと同時に、そのようなフィーチャ内に付加的なレジスト流体を保持するべく機能する。この後者の機能において、これらのフィーチャは、それによって、余分なレジスト流体を収容できる「貯蔵所」として作用し、且つ、従って、インプリント区域に送達されるレジスト流体体積における変動を補償する。換言すれば、もしレジスト流体の体積が過剰供給される場合、ダミー・フィーチャは、本質において、そのような余分なレジストを「吸収する」ことが可能であり、更には区域縁部を超えた、又は区域縁部での、レジストの押し出し又は蓄積を防止することが可能である。そして、もしレジストの体積が不十分に供給される場合、その時は、ダミー・フィーチャは、望ましい完全な特性高さを、既に形成しているであろう。
図11Aに目を向けると、面取り部263aを有する前縁部262aを備えたメサが、設けられている。前縁部262aはダミー・フィーチャ・パターン272aを含み、ここでダミー・フィーチャ・パターン272aは、パターン形成エリア223の縁部に位置決めされ、且つメサ縁部221a、222aに平行となるように方向付けられた第1セットの格子を有し、第1セットの格子は、第1セットの格子に直交し、且つメサ縁部221a、222aに向かって延びる第2セットの格子と組み合わせられる。このことは、図8Bに関して示され、且つ説明されたものと同様である。これは櫛状図柄を産み出すが、ここでメサに平行な格子は、櫛の背骨に対応し、且つメサ縁部を超える流体の押し出しを防止するが、その一方で、メサ縁部に直交する格子は、櫛の歯に対応し、実質的に、余分な流体を境界領域に引き出すように作用して、境界領域をより均一に充填する。図11Bは、面取り部263bを有する前縁部262bを備えたメサを示す。ここで、ダミー・フィーチャ・パターン272bは、メサ側部221b及び222bにそれぞれ平行となるように方向付けられた、一連の千鳥状バー・フィーチャから成る。そのような千鳥状バー図柄は、重要な特性寸法を有するかもしれず、その特性寸法とは、近隣のデバイス特性サイズと同じ、又はその2倍である。図11Cは、面取り部263cを有する前縁部262cを備えたメサを示す。ダミー・フィーチャ・パターン272cは、メサ側部221c及び222cにそれぞれ平行となるように方向付けられた格子から成るが、このことは、図8Aに関して示され、且つ説明されたのと同様である。
様々な態様の、更なる変更例及び代替的実施形態は、この明細書を考慮すれば、当業者にとって明白であろう。それ故に、この明細書は、単に例証的であると解釈されるべきである。本明細書で示され、且つ説明された形態は、実施形態の例として受け取られるものであることを理解するべきである。本明細書で例示され、且つ説明されたものに対して、代わりの要素及び材料を用いてもよく、部分及び工程を逆にしてもよく、且つあるフィーチャは独立に利用してもよい。これら全てのことは、この明細書の恩恵を有した後では、当業者にとって明白であろう。

Claims (10)

  1. インプリント・リソグラフィ・テンプレートであって、
    第1側部及び第2側部を有する本体と、
    前記本体の第1側部から延びるメサであって、前記メサは、縁部を有し、且つパターン形成されたエリアを更に含み、前記パターン形成されたエリアは、高さを有するパターン・フィーチャを有し、前記パターン形成されたエリアは、前記パターン形成されたエリアから前記メサ縁部まで延びる前縁境界部及び後縁境界部によって更に囲まれる、メサと、
    を備え、
    前記前縁境界部は、第1の一対の隣接するメサ縁部に沿って形成され、且つ前記パターン形成されたエリアのフィーチャと同様な高さのダミー充填フィーチャを含み、
    前記後縁境界部は、前記第1の一対の隣接するメサ縁部と反対にある、第2の一対の隣接するメサ縁部に沿って形成され、且つ前記メサ縁部まで延びる凹部を含み、前記凹部は、前記パターン形成されたエリアのフィーチャの高さと同様である深さを有する、インプリント・リソグラフィ・テンプレート。
  2. 請求項1に記載のインプリント・リソグラフィ・テンプレートであって、
    前記メサの角部は面取りされる、インプリント・リソグラフィ・テンプレート。
  3. 請求項1又は2に記載のインプリント・リソグラフィ・テンプレートであって、
    前記ダミー充填フィーチャは引き延ばされ、且つそのようなフィーチャの少なくとも一部分は、前記隣接するメサ縁部に平行となるように方向付けられる、インプリント・リソグラフィ・テンプレート。
  4. 請求項3に記載のインプリント・リソグラフィ・テンプレートであって、
    前記ダミー充填フィーチャは、千鳥状バーの列を備える、インプリント・リソグラフィ・テンプレート。
  5. 請求項3に記載のインプリント・リソグラフィ・テンプレートであって、
    前記ダミー充填フィーチャは格子を備える、インプリント・リソグラフィ・テンプレート。
  6. 請求項5に記載のインプリント・リソグラフィ・テンプレートであって、
    前記メサ縁部に直交するように方向付けられた付加的格子を更に備える、インプリント・リソグラフィ・テンプレート。
  7. インプリント・リソグラフィ方法であって、
    基板上の第1区域上に、重合可能な材料の第1部分を堆積させるステップと、
    重合可能な材料の前記堆積された第1部分を、請求項1から6のいずれか一項の前記インプリント・リソグラフィ・テンプレートに接触させるステップと、
    前記基板の前記第1区域上に、第1のパターン形成された層を形成するために、重合可能な材料の前記第1部分を固化させるステップであって、前記第1のパターン形成された層は、前記第1のパターン形成された層の、隣接する第1及び第2の縁領域に沿ってダミー・フィーチャを形成しており、前記形成されたダミー・フィーチャは、前記テンプレートの前記前縁境界部のダミー・フィーチャに対応する、ステップと、
    前記形成された、第1のパターン形成された層から、前記テンプレートを分離するステップと、
    前記基板上の第2区域上に、重合可能な材料の第2部分を堆積させるステップであって、前記第2区域は、前記第1区域に隣接して位置決めされると共に、ダミー・フィーチャを形成した前記第1縁領域に沿って位置決めされる、ステップと、
    前記テンプレートを、前記第2区域上に堆積された重合可能な材料に重ねて位置決めするステップであって、その結果として、前記テンプレートの後縁境界部の対応する縁領域は、前記第1のパターン形成された層の前記第1縁領域の、前記形成されたダミー・フィーチャと重なる、ステップと、
    重合可能な材料の前記堆積された第2部分を、前記テンプレートに接触させるステップと、
    前記基板上の前記第2区域上に、第2のパターン形成された層を形成するために、重合可能な材料の前記第2部分を固化させるステップと、
    前記形成された、第2のパターン形成された層から、前記テンプレートを分離するステップと、
    を備える、インプリント・リソグラフィ方法。
  8. 請求項7に記載のインプリント・リソグラフィ方法であって、
    前記基板上の第3区域上に、重合可能な材料の第3部分を堆積させるステップであって、前記第3区域は、前記第1区域に隣接して位置決めされると共に、ダミー・フィーチャを形成した前記第2縁領域に沿って位置決めされる、ステップと、
    前記テンプレートを、前記第3区域上に前記堆積された重合可能な材料に重ねて位置決めするステップであって、その結果として、前記テンプレートの前記後縁境界部の対応する縁領域は、前記第1のパターン形成された層の、前記第2縁領域の前記形成されたダミー・フィーチャに重なる、ステップと、
    重合可能な材料の前記堆積された第3部分を、前記テンプレートに接触させるステップと、
    前記基板上の前記第3区域上に、第3のパターン形成された層を形成するために、重合可能な材料の前記第3部分を固化させるステップと、
    前記形成された、第3のパターン形成された層から、前記テンプレートを分離するステップと、
    を更に備える、インプリント・リソグラフィ方法。
  9. 請求項8に記載のインプリント・リソグラフィ方法であって、
    前記基板上の第4区域上に、重合可能な材料の第4部分を堆積するステップであって、前記第4区域は、前記第1区域に対して対角的に位置決めされると共に、前記第2区域及び第3区域に隣接して位置決めされる、ステップと、
    前記テンプレートを、前記第4区域上に前記堆積された重合可能な材料に重ねて位置決めするステップであって、その結果として、前記テンプレートの前記後縁境界部の対応する縁領域は、前記第2及び第3のパターン形成された層の縁領域に形成されたダミー・フィーチャと重なる、ステップと、
    重合可能な材料の前記堆積された第4部分を、前記テンプレートに接触させるステップと、
    前記基板上の前記第4区域上に、第4のパターン形成された層を形成するために、重合可能な材料の前記第4部分を固化させるステップと、
    前記形成された、第4のパターン形成された層から、前記テンプレートを分離するステップと、
    を備える、インプリント・リソグラフィ方法。
  10. 請求項9に記載のインプリント・リソグラフィ方法であって、
    前記第1、第2、第3及び第4区域の交点では、単一の重なりだけが存在する、インプリント・リソグラフィ方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019130903A (ja) * 2018-01-31 2019-08-08 キヤノン株式会社 毛管力低減による押し出し制御
US11762285B2 (en) 2020-03-18 2023-09-19 Kioxia Corporation Template, patterning method, and method for manufacturing semiconductor device

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI565094B (zh) * 2012-11-15 2017-01-01 財團法人工業技術研究院 氮化物半導體結構
JP2016225433A (ja) * 2015-05-29 2016-12-28 キヤノン株式会社 モールド、インプリント方法、インプリント装置および物品の製造方法
US11104057B2 (en) * 2015-12-11 2021-08-31 Canon Kabushiki Kaisha Imprint apparatus and method of imprinting a partial field
KR102636877B1 (ko) * 2016-07-19 2024-02-15 삼성디스플레이 주식회사 편광소자, 편광소자 제조방법 및 표시 장치
CA3034619C (en) * 2016-08-26 2024-04-09 Molecular Imprints, Inc. Edge sealant confinement and halo reduction for optical devices
US20190139789A1 (en) * 2017-11-06 2019-05-09 Canon Kabushiki Kaisha Apparatus for imprint lithography comprising a logic element configured to generate a fluid droplet pattern and a method of using such apparatus
US11513372B2 (en) 2018-06-12 2022-11-29 Magic Leap, Inc. Edge sealant application for optical devices
CN113165225B (zh) 2018-10-16 2022-10-04 奇跃公司 一种形成具有预定形状的波导部分的方法
CN109324446B (zh) * 2018-12-03 2020-12-18 惠科股份有限公司 一种显示面板、制作方法和显示装置
US11243466B2 (en) * 2019-01-31 2022-02-08 Canon Kabushiki Kaisha Template with mass velocity variation features, nanoimprint lithography apparatus that uses the template, and methods that use the template
WO2024035261A1 (en) * 2022-08-11 2024-02-15 Morphotonics Holding B.V. Stamp and method for imprinting

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008183732A (ja) * 2007-01-26 2008-08-14 Toshiba Corp パターン形成方法及びパターン形成用モールド
JP2009532908A (ja) * 2006-04-03 2009-09-10 モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド インプリント・リソグラフィ・システム
JP2010076219A (ja) * 2008-09-25 2010-04-08 Canon Inc ナノインプリントによる基板の加工方法
JP2011521438A (ja) * 2008-02-08 2011-07-21 モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド インプリント・リソグラフィにおけるはみ出し低減
JP2012006219A (ja) * 2010-06-24 2012-01-12 Dainippon Printing Co Ltd ナノインプリント用モールド
JP2013033878A (ja) * 2011-08-03 2013-02-14 Dainippon Printing Co Ltd 半導体インプリント用テンプレート
US20130241107A1 (en) * 2008-12-05 2013-09-19 Liquidia Technologies, Inc. Method for Producing Patterned Materials
JP2013222791A (ja) * 2012-04-16 2013-10-28 Fujifilm Corp ナノインプリント方法およびナノインプリント用基板並びにそれらを用いたパターン化基板の製造方法

Family Cites Families (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6873087B1 (en) 1999-10-29 2005-03-29 Board Of Regents, The University Of Texas System High precision orientation alignment and gap control stages for imprint lithography processes
US7077992B2 (en) 2002-07-11 2006-07-18 Molecular Imprints, Inc. Step and repeat imprint lithography processes
US6932934B2 (en) 2002-07-11 2005-08-23 Molecular Imprints, Inc. Formation of discontinuous films during an imprint lithography process
US6936194B2 (en) 2002-09-05 2005-08-30 Molecular Imprints, Inc. Functional patterning material for imprint lithography processes
US8349241B2 (en) 2002-10-04 2013-01-08 Molecular Imprints, Inc. Method to arrange features on a substrate to replicate features having minimal dimensional variability
US20040065252A1 (en) 2002-10-04 2004-04-08 Sreenivasan Sidlgata V. Method of forming a layer on a substrate to facilitate fabrication of metrology standards
US7179396B2 (en) 2003-03-25 2007-02-20 Molecular Imprints, Inc. Positive tone bi-layer imprint lithography method
WO2004086471A1 (en) * 2003-03-27 2004-10-07 Korea Institute Of Machinery & Materials Uv nanoimprint lithography process using elementwise embossed stamp and selectively additive pressurization
US7396475B2 (en) 2003-04-25 2008-07-08 Molecular Imprints, Inc. Method of forming stepped structures employing imprint lithography
US7157036B2 (en) 2003-06-17 2007-01-02 Molecular Imprints, Inc Method to reduce adhesion between a conformable region and a pattern of a mold
US20050098534A1 (en) * 2003-11-12 2005-05-12 Molecular Imprints, Inc. Formation of conductive templates employing indium tin oxide
US8076386B2 (en) 2004-02-23 2011-12-13 Molecular Imprints, Inc. Materials for imprint lithography
US7357876B2 (en) * 2004-12-01 2008-04-15 Molecular Imprints, Inc. Eliminating printability of sub-resolution defects in imprint lithography
WO2006084118A2 (en) * 2005-02-04 2006-08-10 Molecular Imprints, Inc. Imprint lithography template and method to facilitate control of liquid movement
US7523701B2 (en) * 2005-03-07 2009-04-28 Asml Netherlands B.V. Imprint lithography method and apparatus
US20060266916A1 (en) * 2005-05-25 2006-11-30 Molecular Imprints, Inc. Imprint lithography template having a coating to reflect and/or absorb actinic energy
US8011916B2 (en) * 2005-09-06 2011-09-06 Canon Kabushiki Kaisha Mold, imprint apparatus, and process for producing structure
US7690910B2 (en) * 2006-02-01 2010-04-06 Canon Kabushiki Kaisha Mold for imprint, process for producing minute structure using the mold, and process for producing the mold
US8012395B2 (en) * 2006-04-18 2011-09-06 Molecular Imprints, Inc. Template having alignment marks formed of contrast material
KR20080088238A (ko) * 2007-03-29 2008-10-02 삼성전자주식회사 패턴 형성용 몰드, 패턴 형성 장치 및 패턴 형성 방법
US20090148619A1 (en) * 2007-12-05 2009-06-11 Molecular Imprints, Inc. Controlling Thickness of Residual Layer
JP4799575B2 (ja) * 2008-03-06 2011-10-26 株式会社東芝 インプリント方法
US8877073B2 (en) * 2008-10-27 2014-11-04 Canon Nanotechnologies, Inc. Imprint lithography template
NL2004932A (en) * 2009-07-27 2011-01-31 Asml Netherlands Bv Imprint lithography template.
JP2011066238A (ja) * 2009-09-17 2011-03-31 Toshiba Corp パターン形成用テンプレートの作製方法
NL2005434A (en) * 2009-12-18 2011-06-21 Asml Netherlands Bv Imprint lithography.
JP5759195B2 (ja) * 2011-02-07 2015-08-05 キヤノン株式会社 型、インプリント方法及び物品製造方法
JP2014049658A (ja) * 2012-08-31 2014-03-17 Toshiba Corp パターン形成方法及びテンプレート
JP6494185B2 (ja) * 2013-06-26 2019-04-03 キヤノン株式会社 インプリント方法および装置
JP2015146412A (ja) * 2014-02-04 2015-08-13 株式会社東芝 インプリント用テンプレート及びその製造方法
JP6338938B2 (ja) * 2014-06-13 2018-06-06 東芝メモリ株式会社 テンプレートとその製造方法およびインプリント方法
US11131922B2 (en) * 2016-06-06 2021-09-28 Canon Kabushiki Kaisha Imprint lithography template, system, and method of imprinting

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009532908A (ja) * 2006-04-03 2009-09-10 モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド インプリント・リソグラフィ・システム
JP2008183732A (ja) * 2007-01-26 2008-08-14 Toshiba Corp パターン形成方法及びパターン形成用モールド
JP2011521438A (ja) * 2008-02-08 2011-07-21 モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド インプリント・リソグラフィにおけるはみ出し低減
JP2010076219A (ja) * 2008-09-25 2010-04-08 Canon Inc ナノインプリントによる基板の加工方法
US20130241107A1 (en) * 2008-12-05 2013-09-19 Liquidia Technologies, Inc. Method for Producing Patterned Materials
JP2012006219A (ja) * 2010-06-24 2012-01-12 Dainippon Printing Co Ltd ナノインプリント用モールド
JP2013033878A (ja) * 2011-08-03 2013-02-14 Dainippon Printing Co Ltd 半導体インプリント用テンプレート
JP2013222791A (ja) * 2012-04-16 2013-10-28 Fujifilm Corp ナノインプリント方法およびナノインプリント用基板並びにそれらを用いたパターン化基板の製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2019130903A (ja) * 2018-01-31 2019-08-08 キヤノン株式会社 毛管力低減による押し出し制御
US11762285B2 (en) 2020-03-18 2023-09-19 Kioxia Corporation Template, patterning method, and method for manufacturing semiconductor device

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