JP2017223509A - 半田印刷検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】スルーホールに充填されたクリーム半田の状態をより確実にかつより容易に検査可能な半田印刷検査装置を提供する。
【解決手段】半田印刷検査装置P13は、プリント基板1の搬送や位置決め等を行う搬送機構2と、プリント基板1の下面側の検査を行うための下面検査ユニット4とを備えている。下面検査ユニット4は、プリント基板1の下面の所定の検査範囲に対し斜め下方から三次元計測用の所定の光を照射する第1下面検査照明4A及び第2下面検査照明4Bと、プリント基板1の下面の所定の検査範囲を真下から撮像する下面検査カメラ4Cとを備えている。そして、下面検査カメラ4Cによって撮像されたプリント基板1の下面の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲におけるクリーム半田に係る検査を実行する。
【選択図】 図1
【解決手段】半田印刷検査装置P13は、プリント基板1の搬送や位置決め等を行う搬送機構2と、プリント基板1の下面側の検査を行うための下面検査ユニット4とを備えている。下面検査ユニット4は、プリント基板1の下面の所定の検査範囲に対し斜め下方から三次元計測用の所定の光を照射する第1下面検査照明4A及び第2下面検査照明4Bと、プリント基板1の下面の所定の検査範囲を真下から撮像する下面検査カメラ4Cとを備えている。そして、下面検査カメラ4Cによって撮像されたプリント基板1の下面の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲におけるクリーム半田に係る検査を実行する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、プリント基板に印刷されたクリーム半田、特にスルーホールに充填されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置に関するものである。
プリント基板に実装される電子部品には、大きく分けて表面実装部品と挿入部品の2種類の部品が存在する。そのため、従来では、表面実装部品に係る半田付け工程と、挿入部品に係る半田付け工程とがそれぞれ別工程で行われていた。
より詳しく説明すると、プリント基板に対し表面実装部品と挿入部品の2種類の電子部品を実装する従来の製造ラインにおいては、まず半田印刷機によりプリント基板に対しクリーム半田を印刷する(半田印刷工程)。続いて、かかるプリント基板に対し表面実装部品を載置する(表面実装工程)。その後、かかるプリント基板をリフロー炉へ導き、表面実装部品に係る半田付けを行う(リフロー工程)。次に、プリント基板のスルーホールに対し挿入部品のリード端子を挿入する(挿入実装工程)。その後、かかるプリント基板を半田漕(噴流漕又はディップ漕)へ導き、挿入部品に係る半田付けを行う(フロー工程)。
これに対し、近年では、スルーホールを有したプリント基板に対しクリーム半田を印刷した後、かかるスルーホールに対し挿入部品のリード端子を挿入し、リフロー方式により挿入部品に係る半田付けを行う技術も提案されている。これにより、表面実装部品と挿入部品の2種類の電子部品を実装する上記製造ラインにおいては、挿入部品に係る従来のフロー工程を省略でき、生産工程の簡素化及び生産性の向上を図ることができる。
また、従来の製造ラインにおいては、通常、プリント基板に印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査するための半田印刷検査装置が設けられている。かかる半田印刷検査装置としては、例えばクリーム半田を印刷したプリント基板の印刷面側を三次元計測し、これに基づきクリーム半田の印刷状態の良否判定を行うものが従来より知られている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、上記特許文献1のような従来技術は、表面実装を前提とした半田印刷に対応したものであり、クリーム半田を印刷したプリント基板の印刷面側から検査を行っているため、スルーホールに対し適切にクリーム半田が充填されているか否かを判別することができなかった。
スルーホールに十分なクリーム半田が充填されていない場合には、挿入部品の半田付け不良や接合強度の低下など種々の不具合が発生するおそれがある。
これに対し、近年では、クリーム半田の印刷の前後にプリント基板の重量計測を行い、その重量差である半田重量を求めることで、クリーム半田の印刷状態の良否判定を行う技術(例えば、特許文献2参照)や、X線を照射してスルーホール内における挿入部品の半田付け状態を検査する技術(例えば、特許文献3参照)などが提案されている。
しかしながら、上記特許文献2の構成では、プリント基板全体の重量で総合的に判断しているため、個々のスルーホールに対し適切にクリーム半田が充填されているか否かを判別することができない。
一方、引用文献3のようなX線検査装置を用いる場合には、検査速度が著しく低下すると共に、半田印刷検査装置として十分な解像度を得ることが困難となるおそれがある。さらに、X線検査装置を用いる場合には、作業者による取り扱いや周辺環境への配慮なども大変となる。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、その目的は、スルーホールに充填されたクリーム半田の状態をより確実にかつより容易に検査可能な半田印刷検査装置を提供することにある。
以下、上記課題を解決するのに適した各手段につき項分けして説明する。なお、必要に応じて対応する手段に特有の作用効果を付記する。
手段1.挿入部品のリード端子が挿入されるスルーホールを有した基板に対し印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置であって、
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側(例えば表面側)とは反対側にあたる非印刷面側(例えば裏面側)の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側(例えば表面側)とは反対側にあたる非印刷面側(例えば裏面側)の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。
上記手段1によれば、基板の表裏両面のうち半田印刷機によりクリーム半田を印刷した印刷面側とは反対側にあたる非印刷面側から検査を行うことにより、印刷されたクリーム半田が非印刷面側に達しているか否かなど、個々のスルーホールに対し適切にクリーム半田が充填されているか否かを個別に判別することができる。
結果として、スルーホールに充填されたクリーム半田の検査をより確実にかつより容易に行うことができる。ひいては検査精度の向上及び検査速度の向上を図ることができる。
手段2.挿入部品のリード端子が挿入されるスルーホールを有した基板に対し印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置であって、
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側(例えば表面側)とは反対側にあたる非印刷面側(例えば裏面側)の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能、かつ、前記印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側(例えば表面側)とは反対側にあたる非印刷面側(例えば裏面側)の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能、かつ、前記印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。
上記手段2によれば、上記手段1と同様の作用効果が奏される。加えて、上記手段2によれば、基板の印刷面側からも検査を行うため、両面検査に基づいた総合的な判断を行うことができ、さらなる検査精度の向上を図ることができる。
例えば半田印刷機においてスキージの圧力が強い場合や、スキージのアタック角度が大きい場合には、スキージの先端がスクリーンマスクの開口部内に入り込み、充填されたクリーム半田を抉ってしまうため、基板の印刷面側のランド上に載るクリーム半田の量が不足するおそれがある。かかる場合、本手段によれば、基板の非印刷面側からの検査により良品判定された場合であっても、基板の印刷面側からの検査により不良品判定でき、総合的に不良品として取り扱うことができる場合がある。
逆にスキージの圧力が弱い場合や、スキージのアタック角度が小さい場合には、クリーム半田をスクリーンマスクの開口部に押し込む力が不足するため、スルーホール内に充填されるクリーム半田の量が不足し、十分に基板の非印刷面側まで達しないおそれがあるが、その不足分を補うクリーム半田が印刷面側に存在している場合がある。かかる場合、本手段によれば、基板の非印刷面側からの検査により不良品判定された場合であっても、基板の印刷面側からの検査により良品判定でき、総合的に良品として取り扱うことができる場合がある。
また、上記「背景技術」で例示したように、挿入部品のみならず、表面実装部品を実装する基板の製造ラインにおいては、本手段に係る半田印刷検査装置を用いることにより、表面実装部品に係る半田印刷部分についても同時に検査を行うことができる。そのため、表面実装部品用の半田印刷検査装置を別途設ける必要もない。さらに、表面実装部品に係る半田付け工程と、挿入部品に係る半田付け工程をリフロー工程により同時に行うことができる。結果として、生産工程の簡素化及び生産性の向上に寄与する。
手段3.前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光(例えば縞状の光強度分布を有するパターン光)を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備えていることを特徴とする手段1又は2に記載の半田印刷検査装置。
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備えていることを特徴とする手段1又は2に記載の半田印刷検査装置。
上記手段3によれば、三次元計測を行うことにより、スルーホールに対し適切にクリーム半田が充填されているか否かを、二次元計測で検査を行う場合よりも精度良く判別することができる。結果として、検査精度の向上を図ることができる。
二次元計測で検査を行った場合には、例えば基板の非印刷面側の平面視でスルーホールの開口部の大きさ(面積)よりも該スルーホールに係るクリーム半田の大きさ(面積)が小さい場合には不良品判定されることとなる。しかし、かかる場合であっても、例えばスルーホールからのクリーム半田の突出長(高さ)が所定長以上ある場合や、スルーホールから突出している部分のクリーム半田の量(体積)が所定量以上ある場合には、適切な半田付けを行うのに必要な十分な量を有しているとみなすことができ、三次元計測により、これを良品判定することができる。
尚、三次元計測方法としては、例えば位相の異なる複数通りのパターン光の下で撮像された複数通りの画像データを基に三次元計測を行う位相シフト法が一例に挙げられる。
手段4.前記基板を、前記非印刷面が下側となるように配置可能に構成され、
前記非印刷面側照射手段は、前記基板に対し下側から前記所定の光を照射可能に配置され、
前記非印刷面側撮像手段は、前記基板の下側から撮像可能に配置されていることを特徴とする手段1乃至3のいずれかに記載の半田印刷検査装置。
前記非印刷面側照射手段は、前記基板に対し下側から前記所定の光を照射可能に配置され、
前記非印刷面側撮像手段は、前記基板の下側から撮像可能に配置されていることを特徴とする手段1乃至3のいずれかに記載の半田印刷検査装置。
仮に検査装置において、非印刷面側が上側となるように基板が配置されてしまうと、検査過程において、スルーホールに充填されたクリーム半田が自重により印刷面側へ移動しやすくなるため、不良品発生率が高まるおそれがある。これに対し、上記手段4によれば、このような不具合の発生を低減することができる。
〔第1実施形態〕
以下、半田印刷検査装置の一実施形態について説明する。まず半田印刷検査装置の検査対象となるプリント基板の構成について図4〜図6を参照して説明する。但し、本実施形態において検査対象となるプリント基板1は、挿入部品のみを実装するタイプのものである。
以下、半田印刷検査装置の一実施形態について説明する。まず半田印刷検査装置の検査対象となるプリント基板の構成について図4〜図6を参照して説明する。但し、本実施形態において検査対象となるプリント基板1は、挿入部品のみを実装するタイプのものである。
図4は半田印刷前のプリント基板1を示す部分拡大断面図であり、図5は半田印刷中のプリント基板1を示す部分拡大断面図であり、図6は半田印刷後のプリント基板1を示す部分拡大断面図である。
プリント基板1は、ガラスエポキシ樹脂等からなる平板状のベース基板52の表裏両面に、銅箔からなるパターン(図示略)やランド53が形成されてなる。ベース基板52の表裏両面には、ランド53を除く部分にレジスト膜54がコーティングされている。
また、プリント基板1の所定位置には、表裏のランド53を貫通するようにスルーホール55が形成されている。スルーホール55は、挿入部品60のリード端子60aを挿入するためのものである(図8参照)。そして、図5,6に示すように、ランド53上及びスルーホール55内には、計測対象となるクリーム半田57が印刷(載置及び充填)される。
次にプリント基板1を製造する製造ラインについて図2を参照して説明する。図2は、プリント基板1の製造ラインP10の構成を示すブロック図である。本実施形態における製造ラインP10では、その正面側から見て左から右へプリント基板1が搬送されるように設定されている。
製造ラインP10には、その上流側(図2左側)から順に、半田印刷機P12、半田印刷検査装置P13、部品実装機P14及びリフロー装置P15が設置されている。
半田印刷機P12は、プリント基板1のランド53上及びスルーホール55内に対しクリーム半田57を印刷(載置及び充填)するためのものである。例えば図5に示すように、半田印刷機P12は、平板状のスクリーンマスク90と、該スクリーンマスク90の上面に沿って摺動するスキージ92とを備えている。スクリーンマスク90には、プリント基板1の表面側の各ランド53に対応して複数の開口部90aが形成されている。
そして、半田印刷を行う場合には、まずプリント基板1の表面側にスクリーンマスク90を重ねて配置する。次にスクリーンマスク90の上面にクリーム半田57を供給する。続いて、スキージ92をスクリーンマスク90の上面に沿って所定方向へ摺動させる。
このようにして、スクリーンマスク90の開口部90a内にクリーム半田57が充填された結果、ランド53上及びスルーホール55内にクリーム半田57が印刷(載置及び充填)されることとなる。最後に、スクリーンマスク90とプリント基板1とを離間させ、クリーム半田57を開口部90aから抜くことにより、半田印刷が完了する。
半田印刷検査装置P13は、上記のように印刷されたクリーム半田57の状態を検査するためのものである。半田印刷検査装置P13の詳細については後述する。
部品実装機P14は、クリーム半田57が充填されたスルーホール55内に挿入部品60のリード端子60aを挿入するためのものである。
リフロー装置P15は、クリーム半田57を加熱溶融させて、ランド53と、挿入部品60のリード端子60aとを半田接合(半田付け)するためのものである(図8参照)。図8はリフロー後のプリント基板1を示す部分拡大断面図である。
尚、製造ラインP10には、半田印刷機P12と半田印刷検査装置P13との間など、上記各装置間において、プリント基板1を移送するためのコンベアP16等が設けられている(図2参照)。また、図示は省略するが、半田印刷検査装置P13と部品実装機P14との間には分岐装置が設けられている。そして、半田印刷検査装置P13にて良品判定されたプリント基板1は、その下流側の部品実装機P14へ案内される一方、不良品判定されたプリント基板1は分岐装置により不良品貯留部へと排出される。
次に、半田印刷検査装置P13の構成について図1を参照して詳しく説明する。図1は、半田印刷検査装置P13を模式的に示す概略構成図である。
半田印刷検査装置P13は、プリント基板1の搬送や位置決め等を行う搬送機構2と、プリント基板1の下面(裏面)側の検査を行うための下面検査ユニット4と、搬送機構2や下面検査ユニット4の駆動制御など半田印刷検査装置P13内における各種制御や画像処理、演算処理を実施するための制御装置6(図3参照)とを備えている。制御装置6が本実施形態における検査手段を構成する。
搬送機構2は、プリント基板1の搬送方向に沿って配置された一対の搬送レール2aと、各搬送レール2aに対し回転可能に配設された無端のコンベアベルト2bと、該コンベアベルト2bを駆動するモータ等の駆動手段(図示略)と、プリント基板1を所定位置に位置決めするためのチャック機構(図示略)と備え、制御装置6により駆動制御される。
上記構成の下、半田印刷検査装置P13へ搬入されたプリント基板1は、搬送方向と直交する幅方向の両側縁部がそれぞれ搬送レール2aに挿し込まれると共に、コンベアベルト2b上に載置される。続いて、コンベアベルト2bが動作を開始し、プリント基板1が所定の検査位置まで搬送される。プリント基板1が検査位置に達すると、コンベアベルト2bが停止すると共に、チャック機構が作動する。このチャック機構の動作により、コンベアベルト2bが押し上げられ、コンベアベルト2bと搬送レール2aの上辺部によってプリント基板1の両側縁部が挟持された状態となる。これにより、プリント基板1が検査位置に位置決め固定される。検査が終了すると、チャック機構による固定が解除されると共に、コンベアベルト2bが動作を開始する。これにより、プリント基板1は、半田印刷検査装置P13から搬出される。勿論、搬送機構2の構成は、上記形態に限定されるものではなく、他の構成を採用してもよい。
下面検査ユニット4は、搬送レール2a(プリント基板1の搬送路)の下方に配設されている。下面検査ユニット4は、プリント基板1の下面の所定の検査範囲に対し斜め下方から三次元計測用の所定の光(縞状の光強度分布を有するパターン光)を照射する非印刷面側照射手段としての第1下面検査照明4A及び第2下面検査照明4Bと、プリント基板1の下面の所定の検査範囲を真下から撮像する非印刷面側撮像手段としての下面検査カメラ4Cと、X軸方向への移動を可能とするX軸移動機構4D(図3参照)と、Y軸方向への移動を可能とするY軸移動機構4E(図3参照)とを備え、制御装置6により駆動制御される。
尚、プリント基板1下面の「検査範囲」は、下面検査カメラ4Cの撮像視野(撮像範囲)の大きさを1単位としてプリント基板1の下面に予め設定された複数のエリアのうちの1つのエリアである。
制御装置6は、X軸移動機構4D及びY軸移動機構4Eを駆動制御することにより、下面検査ユニット4を、検査位置に位置決め固定されたプリント基板1の下面の任意の検査範囲の下方位置へ移動することができる。そして、プリント基板1の下面に設定された複数の検査範囲に下面検査ユニット4を順次移動させつつ、該検査範囲に係る検査を実行していくことで、プリント基板1の下面全域の検査を実行する構成となっている。
第1下面検査照明4Aは、所定の光を発する第1光源4Aaや、該第1光源4Aaからの光を縞状の光強度分布を有する第1パターン光に変換する第1格子を形成する第1液晶シャッタ4Abを備え、制御装置6により駆動制御される。
第2下面検査照明4Bは、所定の光を発する第2光源4Baや、該第2光源4Baからの光を縞状の光強度分布を有する第2パターン光に変換する第2格子を形成する第2液晶シャッタ4Bbを備え、制御装置6により駆動制御される。
上記構成の下、各光源4Aa,4Baから発せられた光はそれぞれ集光レンズ(図示略)に導かれ、そこで平行光にされた後、液晶シャッタ4Ab,4Bbを介して投影レンズ(図示略)に導かれ、プリント基板1に対しパターン光として投影されることとなる。また、本実施形態では、各パターン光の位相がそれぞれ4分の1ピッチずつシフトするように、液晶シャッタ4Ab,4Bbの切替制御が行われる。
尚、格子として液晶シャッタ4Ab,4Bbを使用することにより、理想的な正弦波に近いパターン光を照射することができる。これにより、三次元計測の計測分解能が向上する。また、パターン光の位相シフト制御を電気的に行うことができ、装置のコンパクト化を図ることができる。
下面検査カメラ4Cは、レンズや撮像素子等を備えてなる。本実施形態では、撮像素子としてCCDセンサを採用している。勿論、撮像素子はこれに限定されるものではなく、例えばCMOSセンサなど、他の撮像素子を採用してもよい。
下面検査カメラ4Cは、制御装置6により駆動制御される。より詳しくは、制御装置6は、両下面検査照明4A,4Bによる照射処理と同期をとりながら、下面検査カメラ4Cによる撮像処理を実行する。
下面検査カメラ4Cによって撮像された画像データは、該下面検査カメラ4C内部においてデジタル信号に変換された上で、デジタル信号の形で制御装置6に転送され、後述する画像データ記憶装置24に記憶される。そして、制御装置6は、該画像データを基に、後述するような画像処理や演算処理等を実施する。
次に、制御装置6の電気的構成について説明する。図3に示すように、制御装置6は、半田印刷検査装置P13全体の制御を司るCPU及び入出力インターフェース21(以下、「CPU等21」という)、キーボードやマウス、タッチパネル等で構成される「入力手段」としての入力装置22、CRTや液晶などの表示画面を有する「表示手段」としての表示装置23、下面検査カメラ4Cにより撮像された画像データなどを記憶するための画像データ記憶装置24、各種演算結果を記憶するための演算結果記憶装置25、ガーバデータなどの各種情報を予め記憶しておくための設定データ記憶装置26などを備えている。尚、これら各装置22〜26は、CPU等21に対し電気的に接続されている。
次に半田印刷検査装置P13により行われるプリント基板1の検査ルーチンについて詳しく説明する。かかる検査ルーチンは、制御装置6(CPU等21)により実行されるものである。
本実施形態では、プリント基板1の下面側の各検査範囲に係る検査において、第1下面検査照明4Aから照射される第1パターン光の位相を変化させつつ、位相の異なる第1パターン光の下で4回の撮像処理を行った後、第2下面検査照明4Bから照射される第2パターン光の位相を変化させつつ、位相の異なる第2パターン光の下で4回の撮像処理を行い、計8通りの画像データを取得する画像取得処理を実行する。以下、詳しく説明する。
上述したように、半田印刷検査装置P13へ搬入されたプリント基板1が所定の検査位置に位置決め固定されると、制御装置6は、まずX軸移動機構4D及びY軸移動機構4Eを駆動制御して下面検査ユニット4を移動させ、下面検査カメラ4Cの撮像視野(撮像範囲)をプリント基板1の下面の所定の検査範囲に合わせる。
併せて、制御装置6は、両下面検査照明4A,4Bの液晶シャッタ4Ab,4Bbを切替制御し、該両液晶シャッタ4Ab,4Bbに形成される第1格子及び第2格子の位置を所定の基準位置に設定する。
第1格子及び第2格子の切替設定が完了すると、制御装置6は、第1下面検査照明4Aの第1光源4Aaを発光させ、第1パターン光を照射すると共に、下面検査カメラ4Cを駆動制御して、該第1パターン光の下での1回目の撮像処理を実行する。
その後、制御装置6は、第1パターン光の下での1回目の撮像処理の終了と同時に、第1下面検査照明4Aの第1光源4Aaを消灯すると共に、第1液晶シャッタ4Abの切替処理を実行する。具体的には、第1液晶シャッタ4Abに形成される第1格子の位置を前記基準位置から、第1パターン光の位相が4分の1ピッチ(90°)ずれる第2の位置へ切替設定する。
第1格子の切替設定が完了すると、制御装置6は、第1下面検査照明4Aの光源4Aaを発光させ、第1パターン光を照射すると共に、下面検査カメラ4Cを駆動制御して、該第1パターン光の下での2回目の撮像処理を実行する。以後、同様の処理を繰り返し行うことで、90°ずつ位相の異なる第1パターン光の下での4通りの画像データを取得する。
続いて、制御装置6は、第2下面検査照明4Bの第2光源4Baを発光させ、第2パターン光を照射すると共に、下面検査カメラ4Cを駆動制御して、該第2パターン光の下での1回目の撮像処理を実行する。
その後、制御装置6は、第2パターン光の下での1回目の撮像処理の終了と同時に、第2下面検査照明4Bの第2光源4Baを消灯すると共に、第2液晶シャッタ4Bbの切替処理を実行する。具体的には、第2液晶シャッタ4Bbに形成される第2格子の位置を前記基準位置から、第2パターン光の位相が4分の1ピッチ(90°)ずれる第2の位置へ切替設定する。
第2格子の切替設定が完了すると、制御装置6は、第2下面検査照明4Bの光源4Baを発光させ、第2パターン光を照射すると共に、下面検査カメラ4Cを駆動制御して、該第2パターン光の下での2回目の撮像処理を実行する。以後、同様の処理を繰り返し行うことで、90°ずつ位相の異なる第2パターン光の下での4通りの画像データを取得する。
そして、制御装置6は、各パターン光の下でそれぞれ撮像した4通りの画像データを基に公知の位相シフト法によりクリーム半田57の三次元計測(高さ計測)を行い、かかる計測結果を演算結果記憶装置25に記憶する。かかる処理を行う機能により本実施形態における三次元演算手段が構成される。尚、本実施形態では、2方向からパターン光を照射して三次元計測を行っているため、パターン光が照射されない影の部分が生じることを防止することができる。
次に、制御装置6は、三次元計測結果に基づき、各スルーホール55に充填されたクリーム半田57の良否判定処理を行う。かかる処理を行う機能により本実施形態における判定手段が構成される。
例えば本実施形態では、まず制御装置6は、上記計測結果に基づいて、基準面(例えばプリント基板1の裏面のランド53)より突出したクリーム半田57の印刷範囲を検出し、この範囲内での各部位の高さを積分することにより、基準面より突出したクリーム半田57の体積を算出する。
続いて、制御装置6は、このようにして求めたクリーム半田57の体積データを、予め設定データ記憶装置26に記憶されている基準データと比較判定し、この比較結果が許容範囲内にあるか否かによって、各スルーホール55に充填されたクリーム半田57の状態の良否を判定する。
ここで、例えば図6に示すように、クリーム半田57がスルーホール55から突出し、プリント基板1の裏面のランド53に接触しているような場合には「良品判定」され、図7に示すように、クリーム半田57がスルーホール55から突出せず、プリント基板1の裏面のランド53に接触していないような場合には「不良品判定」されることとなる。
かかる処理が行われている間に、制御装置6は、下面検査ユニット4を次の検査範囲へと移動させる。以降、上記一連の処理が、プリント基板1の下面の全ての検査範囲で繰り返し行われることで、プリント基板1の下面全体の検査が終了する。
制御装置6は、各スルーホール55毎に「良品判定」又は「不良品判定」を行う。そして、プリント基板1の下面の全てのスルーホール55におけるクリーム半田57の状態について良品判定された場合には、該プリント基板1に対し「良品判定」を行う。一方、1つでも「不良品判定」がなされた場合には、該プリント基板1に対し全体として「不良品判定」を行う。
上述したように、良品判定されたプリント基板1は、その下流側の部品実装機P14へ案内され、不良品判定されたプリント基板1は不良品貯留部へと排出される。
以上詳述したように、本実施形態では、プリント基板1の表裏両面のうち半田印刷機P12によりクリーム半田57を印刷した印刷面側とは反対側にあたる非印刷面側から検査を行うことにより、印刷されたクリーム半田57が非印刷面側に達しているか否かなど、個々のスルーホール55に対し適切にクリーム半田57が充填されているか否かを個別に判別することができる。
結果として、スルーホール55に充填されたクリーム半田57の検査をより確実にかつより容易に行うことができる。ひいては検査精度の向上及び検査速度の向上を図ることができる。
また、本実施形態によれば、三次元計測を行うことにより、スルーホール55に対し適切にクリーム半田57が充填されているか否かを、二次元計測で検査を行う場合よりも精度良く判別することができる。結果として、さらなる検査精度の向上を図ることができる。
二次元計測で検査を行った場合には、例えばプリント基板1の裏面側の平面視でスルーホール55の開口部の大きさ(面積)よりも該スルーホール55に係るクリーム半田57の大きさ(面積)が小さい場合には不良品判定されることとなる。しかし、かかる場合であっても、例えばスルーホール55からのクリーム半田57の突出長(高さ)が所定長以上ある場合や、スルーホール55から突出している部分のクリーム半田57の量(体積)が所定量以上ある場合には、適切な半田付けを行うのに必要な十分な量を有しているとみなすことができ、三次元計測により、これを良品判定することができる。
〔第2実施形態〕
以下、第2実施形態について図9,図10を参照しつつ説明する。但し、第1実施形態と同一構成部分については、同一符号を付し、その詳細な説明を省略する。図9は第2実施形態に係る半田印刷検査装置P13を模式的に示す概略構成図であり、図10は第2実施形態に係る半田印刷検査装置P13の電気的構成を示すブロック図である。
以下、第2実施形態について図9,図10を参照しつつ説明する。但し、第1実施形態と同一構成部分については、同一符号を付し、その詳細な説明を省略する。図9は第2実施形態に係る半田印刷検査装置P13を模式的に示す概略構成図であり、図10は第2実施形態に係る半田印刷検査装置P13の電気的構成を示すブロック図である。
尚、本実施形態において検査対象となるプリント基板1は、表面実装部品(図示略)と挿入部品60の2種類の電子部品を実装するタイプのものである。
本実施形態の製造ラインP10には、上記第1実施形態と同様、半田印刷機P12、半田印刷検査装置P13、部品実装機P14及びリフロー装置P15が設置されている。
但し、本実施形態における半田印刷検査装置P13は、プリント基板1の表裏両面(上下両面)からクリーム半田57の印刷状態を検査する構成となっている。半田印刷検査装置P13の詳細については後述する。
また、部品実装機P14は、ランド53上に印刷されたクリーム半田57上に表面実装部品を載置する機構(マウンタ)と、クリーム半田57が充填されたスルーホール55内に挿入部品60のリード端子60aを挿入する機構(インサータ)を備えている。
リフロー装置P15は、クリーム半田57を加熱溶融させて、ランド53と表面実装部品の半田付け、並びに、ランド53と挿入部品60の半田付けを行う。
次に、本実施形態に係る半田印刷検査装置P13の構成について詳しく説明する。図9に示すように、半田印刷検査装置P13は、プリント基板1の搬送や位置決め等を行う搬送機構2と、プリント基板1の上面(表面)側の検査を行うための上面検査ユニット3と、プリント基板1の下面(裏面)側の検査を行うための下面検査ユニット4と、搬送機構2や両検査ユニット3,4の駆動制御など半田印刷検査装置P13内における各種制御や画像処理、演算処理を実施するための制御装置6(図10参照)とを備えている。
上面検査ユニット3は、搬送レール2a(プリント基板1の搬送路)の上方に配設され、下面検査ユニット4は、搬送レール2a(プリント基板1の搬送路)の下方に配設されている。
上面検査ユニット3は、プリント基板1の上面の所定の検査範囲に対し斜め上方から三次元計測用の所定の光(縞状の光強度分布を有するパターン光)を照射する印刷面側照射手段としての第1上面検査照明3A及び第2上面検査照明3Bと、プリント基板1の上面の所定の検査範囲を真上から撮像する印刷面側撮像手段としての上面検査カメラ3Cと、X軸方向への移動を可能とするX軸移動機構3D(図10参照)と、Y軸方向への移動を可能とするY軸移動機構3E(図10参照)とを備え、制御装置6により駆動制御される。
制御装置6は、X軸移動機構3D及びY軸移動機構3Eを駆動制御することにより、上面検査ユニット3を、検査位置に位置決め固定されたプリント基板1の上面の任意の検査範囲の上方位置へ移動することができる。そして、プリント基板1の上面に設定された複数の検査範囲に上面検査ユニット3を順次移動させつつ、該検査範囲に係る検査を実行していくことで、プリント基板1の上面全域の検査を実行する構成となっている。
第1上面検査照明3Aは、所定の光を発する第1光源3Aaや、該第1光源3Aaからの光を縞状の光強度分布を有する第1パターン光に変換する第1格子を形成する第1液晶シャッタ3Abを備え、制御装置6により駆動制御される。
第2上面検査照明3Bは、所定の光を発する第2光源3Baや、該第2光源3Baからの光を縞状の光強度分布を有する第2パターン光に変換する第2格子を形成する第2液晶シャッタ3Bbを備え、制御装置6により駆動制御される。
上面検査カメラ3Cは、レンズや撮像素子等を備えてなり、制御装置6により駆動制御される。上面検査カメラ3Cによって撮像された画像データは、制御装置6の画像データ記憶装置24に記憶される。プリント基板1上面の「検査範囲」は、上面検査カメラ3Cの撮像視野(撮像範囲)の大きさを1単位としてプリント基板1の上面に予め設定された複数のエリアのうちの1つのエリアである。
下面検査ユニット4は、プリント基板1の下面の所定の検査範囲に対し斜め下方から三次元計測用の所定の光(縞状の光強度分布を有するパターン光)を照射する非印刷面側照射手段としての第1下面検査照明4A及び第2下面検査照明4Bと、プリント基板1の下面の所定の検査範囲を真下から撮像する非印刷面側撮像手段としての下面検査カメラ4Cと、X軸方向への移動を可能とするX軸移動機構4D(図10参照)と、Y軸方向への移動を可能とするY軸移動機構4E(図10参照)とを備え、制御装置6により駆動制御される。
制御装置6は、X軸移動機構4D及びY軸移動機構4Eを駆動制御することにより、下面検査ユニット4を、検査位置に位置決め固定されたプリント基板1の下面の任意の検査範囲の下方位置へ移動することができる。そして、プリント基板1の下面に設定された複数の検査範囲に下面検査ユニット4を順次移動させつつ、該検査範囲に係る検査を実行していくことで、プリント基板1の下面全域の検査を実行する構成となっている。
第1下面検査照明4Aは、所定の光を発する第1光源4Aaや、該第1光源4Aaからの光を縞状の光強度分布を有する第1パターン光に変換する第1格子を形成する第1液晶シャッタ4Abを備え、制御装置6により駆動制御される。
第2下面検査照明4Bは、所定の光を発する第2光源4Baや、該第2光源4Baからの光を縞状の光強度分布を有する第2パターン光に変換する第2格子を形成する第2液晶シャッタ4Bbを備え、制御装置6により駆動制御される。
下面検査カメラ4Cは、レンズや撮像素子等を備えてなり、制御装置6により駆動制御される。下面検査カメラ4Cによって撮像された画像データは、制御装置6の画像データ記憶装置24に記憶される。プリント基板1下面の「検査範囲」は、下面検査カメラ4Cの撮像視野(撮像範囲)の大きさを1単位としてプリント基板1の下面に予め設定された複数のエリアのうちの1つのエリアである。
次に本実施形態の半田印刷検査装置P13により行われるプリント基板1の検査ルーチンについて説明する。
本実施形態では、プリント基板1の上面側の各検査範囲に係る検査において、第1上面検査照明3Aから照射される第1パターン光の位相を変化させつつ、位相の異なる第1パターン光の下で4回の撮像処理を行った後、第2上面検査照明3Bから照射される第2パターン光の位相を変化させつつ、位相の異なる第2パターン光の下で4回の撮像処理を行い、計8通りの画像データを取得する画像取得処理を実行する。
同様に、プリント基板1の下面側の各検査範囲に係る検査において、第1下面検査照明4Aから照射される第1パターン光の位相を変化させつつ、位相の異なる第1パターン光の下で4回の撮像処理を行った後、第2下面検査照明4Bから照射される第2パターン光の位相を変化させつつ、位相の異なる第2パターン光の下で4回の撮像処理を行い、計8通りの画像データを取得する画像取得処理を実行する。
尚、本実施形態におけるプリント基板1の上面側及び下面側の各検査範囲に係る画像取得処理(8通りの画像データを取得する画像取得処理)の流れは、それぞれ上記第1実施形態におけるプリント基板1の下面側の各検査範囲に係る画像取得処理の流れと同様であるため、詳細な説明は省略する。
そして、制御装置6は、プリント基板1の上面側及び下面側において各パターン光の下でそれぞれ撮像した4通りの画像データを基に公知の位相シフト法によりクリーム半田57の三次元計測(高さ計測)を行い、かかる計測結果を演算結果記憶装置25に記憶する。
次に、制御装置6は、三次元計測結果に基づき、プリント基板1の上面側について各ランド53上に印刷されたクリーム半田57の良否判定処理を行い、プリント基板1の下面側において各スルーホール55に充填されたクリーム半田57の良否判定処理を行う。
そして、プリント基板1の上面及び下面の全てのランド53及びスルーホール55におけるクリーム半田57の状態について良品判定された場合には、該プリント基板1に対し「良品判定」を行う。一方、1つでも「不良品判定」がなされた場合には、該プリント基板1に対し全体として「不良品判定」を行う。
以上詳述したように、本実施形態によれば、上記第1実施形態と同様の作用効果が奏される。加えて、本実施形態によれば、プリント基板1の表面側からも検査を行うため、両面検査に基づいた総合的な判断を行うことができ、さらなる検査精度の向上を図ることができる。
例えば半田印刷機P12においてスキージ92の圧力が強い場合や、スキージ92のアタック角度が大きい場合には、スキージ92の先端がスクリーンマスク90の開口部90a内に入り込み、充填されたクリーム半田57を抉ってしまうため、プリント基板1の表面側のランド53上に載るクリーム半田57の量が不足するおそれがある。かかる場合、本実施形態によれば、プリント基板1の裏面側からの検査により良品判定された場合であっても、プリント基板1の表面側からの検査により不良品判定でき、総合的に不良品として取り扱うことができる場合がある。
逆にスキージ92の圧力が弱い場合や、スキージ92のアタック角度が小さい場合には、クリーム半田57をスクリーンマスク90の開口部90aに押し込む力が不足するため、スルーホール55内に充填されるクリーム半田57の量が不足し、十分にプリント基板1の裏面側まで達しないおそれがあるが、その不足分を補うクリーム半田57が表面側に存在している場合がある。かかる場合、本実施形態によれば、プリント基板1の裏面側からの検査により不良品判定された場合であっても、プリント基板1の表面側からの検査により良品判定でき、総合的に良品として取り扱うことができる場合がある。
また、本実施形態のように、表面実装部品と挿入部品60の2種類の電子部品を実装するプリント基板1の製造ラインP10においては、本実施形態に係る半田印刷検査装置P13を用いることにより、表面実装部品に係る半田印刷部分についても同時に検査を行うことができる。そのため、表面実装部品用の半田印刷検査装置を別途設ける必要もない。さらに、表面実装部品に係る半田付け工程と、挿入部品に係る半田付け工程をリフロー工程(リフロー装置P15)により同時に行うことができる。結果として、生産工程の簡素化及び生産性の向上に寄与する。
尚、上記実施形態の記載内容に限定されず、例えば次のように実施してもよい。勿論、以下において例示しない他の応用例、変更例も当然可能である。
(a)上記第1実施形態では、挿入部品60のみを実装するプリント基板1の製造ラインP10において、該プリント基板1を下面側(非印刷面側)からのみ検査する半田印刷検査装置(片面検査装置)P13を採用している。
これに限らず、挿入部品60のみを実装するプリント基板1の製造ラインP10において、上記第2実施形態のような半田印刷検査装置(両面検査装置)P13を設け、クリーム半田57の印刷状態をプリント基板1の表裏両面から検査する構成としてもよい。
(b)上記第2実施形態では、表面実装部品と挿入部品60の2種類の電子部品を実装するプリント基板1の製造ラインP10において、該プリント基板1の表裏両面から検査する半田印刷検査装置(両面検査装置)P13を採用している。
これに限らず、表面実装部品と挿入部品60の2種類の電子部品を実装するプリント基板1の製造ラインP10において、例えば表面実装用(表面側用)の従来の半田印刷検査装置と、挿入実装用(裏面側用)の上記第1実施形態に係る半田印刷検査装置P13を別々に設けた構成としてもよい。
(c)上記各実施形態では、各スルーホール55において、プリント基板1の表裏両面のランド53が電気的に接続されていない構成となっているが、これに限らず、例えばスルーホール55内にメッキ加工等を施すことにより、プリント基板1の表裏両面のランド53が電気的に接続された構成としてもよい。
(d)上記各実施形態では、位相シフト法による三次元計測を行う上で、各パターン光の位相が90°ずつ異なる4通りの画像データを取得する構成となっているが、位相シフト回数及び位相シフト量は、これらに限定されるものではない。位相シフト法により三次元計測可能な他の位相シフト回数及び位相シフト量を採用してもよい。
例えば位相が120°(又は90°)ずつ異なる3通りの画像データを取得して三次元計測を行う構成としてもよいし、位相が180°(又は90°)ずつ異なる2通りの画像データを取得して三次元計測を行う構成としてもよい。
(e)上記各実施形態では、位相シフト法により三次元計測を行う構成となっているが、これに限らず、例えば光切断法や空間コード法など、他の三次元計測法を採用することとしてもよい。
(f)上記各実施形態では、クリーム半田57の良否判定を行うにあたり、基準面より突出したクリーム半田57の体積を求め、該体積データと基準データと比較判定し、この比較結果が許容範囲内にあるか否かを判定する構成となっているが、クリーム半田57の良否判定処理はこれに限定されるものではない。
例えばスルーホール55からのクリーム半田57の突出長(ピーク高さ又は平均高さ)が所定長以上あるか否かを判定することよって、クリーム半田57の状態の良否判定を行う構成としてもよい。
(g)上記各実施形態では、プリント基板1の検査を行うに際し、パターン光を照射して三次元計測を行う構成となっているが、これに代えて又は加えて、二次元計測を行う構成としてもよい。
例えば下面検査ユニット4において、第1下面検査照明4A及び第2下面検査照明4B並びに下面検査カメラ4Cに加えて、二次元検査用の照明装置を備えた構成としてもよい。また、第1下面検査照明4A及び第2下面検査照明4Bを省略し、三次元計測を行わず、二次元計測のみ実施する構成としてもよい。尚、第2実施形態においては、上面検査ユニット3についても同様の構成とすることができる。
二次元計測で検査を行う場合、例えばプリント基板1の下面(非印刷面)側の平面視でスルーホール55の開口部の大きさ(面積)よりも該スルーホール55に係るクリーム半田57の大きさ(面積)が小さい場合には不良品判定とすることができる。
(h)上記各実施形態では、プリント基板1の下面に設定された複数の検査範囲に下面検査ユニット4を順次移動させつつ、該検査範囲に係る検査を実行していくことで、プリント基板1の下面全域の検査を実行する構成となっているが、これに限らず、下面検査ユニット4が固定された構成の下、プリント基板1を連続搬送しつつ、プリント基板1を検査する構成としてもよい(第2実施形態の上面検査ユニット3についても同様)。
(i)上記各実施形態では、プリント基板1の裏面(非印刷面)側が下側を向くように配置し、スルーホール55に係るクリーム半田57の印刷状態を下側から検査する構成となっているが、これに限らず、プリント基板1の裏面(非印刷面)側が上側を向くように配置し、スルーホール55に係るクリーム半田57の印刷状態を上側から検査する構成としてもよい。
1…プリント基板、2…搬送機構、4…下面検査ユニット、4A…第1下面検査照明、4B…第2下面検査照明、4C…下面検査カメラ、6…制御装置、53…ランド、55…スルーホール、57…クリーム半田、60…挿入部品、60a…リード端子、P13…半田印刷検査装置。
手段1.挿入部品のリード端子が挿入されるスルーホールを有した基板に対し印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置であって、
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側(例えば表面側)とは反対側にあたる非印刷面側(例えば裏面側)の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備え、
前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備えていることを特徴とする半田印刷検査装置。
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側(例えば表面側)とは反対側にあたる非印刷面側(例えば裏面側)の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備え、
前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備えていることを特徴とする半田印刷検査装置。
結果として、スルーホールに充填されたクリーム半田の検査をより確実にかつより容易に行うことができる。ひいては検査精度の向上及び検査速度の向上を図ることができる。
また、上記手段1によれば、三次元計測を行うことにより、スルーホールに対し適切にクリーム半田が充填されているか否かを、二次元計測で検査を行う場合よりも精度良く判別することができる。結果として、検査精度の向上を図ることができる。
二次元計測で検査を行った場合には、例えば基板の非印刷面側の平面視でスルーホールの開口部の大きさ(面積)よりも該スルーホールに係るクリーム半田の大きさ(面積)が小さい場合には不良品判定されることとなる。しかし、かかる場合であっても、例えばスルーホールからのクリーム半田の突出長(高さ)が所定長以上ある場合や、スルーホールから突出している部分のクリーム半田の量(体積)が所定量以上ある場合には、適切な半田付けを行うのに必要な十分な量を有しているとみなすことができ、三次元計測により、これを良品判定することができる。
尚、三次元計測方法としては、例えば位相の異なる複数通りのパターン光の下で撮像された複数通りの画像データを基に三次元計測を行う位相シフト法が一例に挙げられる。
また、上記手段1によれば、三次元計測を行うことにより、スルーホールに対し適切にクリーム半田が充填されているか否かを、二次元計測で検査を行う場合よりも精度良く判別することができる。結果として、検査精度の向上を図ることができる。
二次元計測で検査を行った場合には、例えば基板の非印刷面側の平面視でスルーホールの開口部の大きさ(面積)よりも該スルーホールに係るクリーム半田の大きさ(面積)が小さい場合には不良品判定されることとなる。しかし、かかる場合であっても、例えばスルーホールからのクリーム半田の突出長(高さ)が所定長以上ある場合や、スルーホールから突出している部分のクリーム半田の量(体積)が所定量以上ある場合には、適切な半田付けを行うのに必要な十分な量を有しているとみなすことができ、三次元計測により、これを良品判定することができる。
尚、三次元計測方法としては、例えば位相の異なる複数通りのパターン光の下で撮像された複数通りの画像データを基に三次元計測を行う位相シフト法が一例に挙げられる。
手段2.挿入部品のリード端子が挿入されるスルーホールを有した基板に対し印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置であって、
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側(例えば表面側)とは反対側にあたる非印刷面側(例えば裏面側)の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能、かつ、前記印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備え、
前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備えていることを特徴とする半田印刷検査装置。
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側(例えば表面側)とは反対側にあたる非印刷面側(例えば裏面側)の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能、かつ、前記印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備え、
前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備えていることを特徴とする半田印刷検査装置。
手段3.前記基板を、前記非印刷面が下側となるように配置可能に構成され、
前記非印刷面側照射手段は、前記基板に対し下側から前記所定の光を照射可能に配置され、
前記非印刷面側撮像手段は、前記基板の下側から撮像可能に配置されていることを特徴とする手段1又は2に記載の半田印刷検査装置。
前記非印刷面側照射手段は、前記基板に対し下側から前記所定の光を照射可能に配置され、
前記非印刷面側撮像手段は、前記基板の下側から撮像可能に配置されていることを特徴とする手段1又は2に記載の半田印刷検査装置。
仮に検査装置において、非印刷面側が上側となるように基板が配置されてしまうと、検査過程において、スルーホールに充填されたクリーム半田が自重により印刷面側へ移動しやすくなるため、不良品発生率が高まるおそれがある。これに対し、上記手段3によれば、このような不具合の発生を低減することができる。
手段1. 挿入部品のリード端子が挿入されるスルーホールを有した基板に対し印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置であって、
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側とは反対側にあたる非印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備え、
前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備え、
該判定手段は、前記スルーホールから突出している部分のクリーム半田が所定量以上ある場合には、良と判定することを特徴とする半田印刷検査装置。
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側とは反対側にあたる非印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備え、
前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備え、
該判定手段は、前記スルーホールから突出している部分のクリーム半田が所定量以上ある場合には、良と判定することを特徴とする半田印刷検査装置。
手段2.挿入部品のリード端子が挿入されるスルーホールを有した基板に対し印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置であって、
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側とは反対側にあたる非印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能、かつ、前記印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備え、
前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備え、
該判定手段は、前記スルーホールから突出している部分のクリーム半田が所定量以上ある場合には、良と判定することを特徴とする半田印刷検査装置。
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側とは反対側にあたる非印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能、かつ、前記印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備え、
前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備え、
該判定手段は、前記スルーホールから突出している部分のクリーム半田が所定量以上ある場合には、良と判定することを特徴とする半田印刷検査装置。
Claims (4)
- 挿入部品のリード端子が挿入されるスルーホールを有した基板に対し印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置であって、
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側とは反対側にあたる非印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。 - 挿入部品のリード端子が挿入されるスルーホールを有した基板に対し印刷されたクリーム半田の印刷状態を検査する半田印刷検査装置であって、
前記基板の表裏両面のうち前記クリーム半田が印刷された印刷面側とは反対側にあたる非印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの非印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な非印刷面側撮像手段と、
前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に対し所定の光を照射可能な少なくとも1つの印刷面側照射手段と、
前記所定の光が照射された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲を撮像可能な印刷面側撮像手段と、
前記非印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の非印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能、かつ、前記印刷面側撮像手段によって撮像された前記基板の印刷面側の所定の検査範囲に係る画像データを基に、該検査範囲における前記クリーム半田に係る検査を実行可能な検査手段とを備えたことを特徴とする半田印刷検査装置。 - 前記非印刷面側照射手段は、前記所定の光として三次元計測用の光を照射可能に構成され、
前記検査手段は、
前記三次元計測用の光を照射して前記非印刷面側撮像手段によって撮像された画像データを基に前記クリーム半田の三次元計測を行う三次元演算手段と、
前記三次元演算手段による計測値に基づき、前記クリーム半田の良否判定を行う判定手段とを備えていることを特徴とする請求項1又は2に記載の半田印刷検査装置。 - 前記基板を、前記非印刷面が下側となるように配置可能に構成され、
前記非印刷面側照射手段は、前記基板に対し下側から前記所定の光を照射可能に配置され、
前記非印刷面側撮像手段は、前記基板の下側から撮像可能に配置されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の半田印刷検査装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016118142A JP6225222B1 (ja) | 2016-06-14 | 2016-06-14 | 半田印刷検査装置 |
MX2018013966A MX2018013966A (es) | 2016-06-14 | 2017-02-08 | Dispositivo de inspeccion de estampado con soldadura. |
CN201780032901.0A CN109564087B (zh) | 2016-06-14 | 2017-02-08 | 焊料印刷检查装置 |
PCT/JP2017/004569 WO2017217006A1 (ja) | 2016-06-14 | 2017-02-08 | 半田印刷検査装置 |
US16/211,920 US10679332B2 (en) | 2016-06-14 | 2018-12-06 | Solder printing inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016118142A JP6225222B1 (ja) | 2016-06-14 | 2016-06-14 | 半田印刷検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6225222B1 JP6225222B1 (ja) | 2017-11-01 |
JP2017223509A true JP2017223509A (ja) | 2017-12-21 |
Family
ID=60206006
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016118142A Active JP6225222B1 (ja) | 2016-06-14 | 2016-06-14 | 半田印刷検査装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10679332B2 (ja) |
JP (1) | JP6225222B1 (ja) |
CN (1) | CN109564087B (ja) |
MX (1) | MX2018013966A (ja) |
WO (1) | WO2017217006A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP7185842B2 (ja) * | 2018-11-06 | 2022-12-08 | 大日本印刷株式会社 | 検査装置および検査方法 |
CN112974301B (zh) * | 2019-12-02 | 2022-07-26 | 捷普电子(广州)有限公司 | 自动化判定以分拣托盘的方法及托盘分拣系统 |
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JP4372719B2 (ja) | 2005-05-09 | 2009-11-25 | シーケーディ株式会社 | 部品搭載システム |
JP2007227624A (ja) | 2006-02-23 | 2007-09-06 | Toshiba Corp | 半田品質検査システム、及び半田品質検査方法 |
JP4417400B2 (ja) * | 2007-04-16 | 2010-02-17 | アンリツ株式会社 | はんだ検査ライン集中管理システム、及びそれに用いられる管理装置 |
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JP2011169791A (ja) | 2010-02-19 | 2011-09-01 | Mitsubishi Electric Corp | X線検査方法及びx線検査装置 |
JP5820424B2 (ja) * | 2013-04-16 | 2015-11-24 | Ckd株式会社 | 半田印刷検査装置 |
-
2016
- 2016-06-14 JP JP2016118142A patent/JP6225222B1/ja active Active
-
2017
- 2017-02-08 CN CN201780032901.0A patent/CN109564087B/zh active Active
- 2017-02-08 MX MX2018013966A patent/MX2018013966A/es active IP Right Grant
- 2017-02-08 WO PCT/JP2017/004569 patent/WO2017217006A1/ja active Application Filing
-
2018
- 2018-12-06 US US16/211,920 patent/US10679332B2/en active Active
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JP2013055296A (ja) * | 2011-09-06 | 2013-03-21 | Toyota Motor Corp | はんだ印刷機及びはんだ付け方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN109564087B (zh) | 2020-10-09 |
MX2018013966A (es) | 2019-01-24 |
US10679332B2 (en) | 2020-06-09 |
WO2017217006A1 (ja) | 2017-12-21 |
CN109564087A (zh) | 2019-04-02 |
US20190114764A1 (en) | 2019-04-18 |
JP6225222B1 (ja) | 2017-11-01 |
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Legal Events
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