JP2017219478A - 欠陥検査方法及びその装置 - Google Patents
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Abstract
Description
縞状照明照射手段から、前記被撮影物に縞状照明を照射する工程と、
撮影手段によって前記縞状照明が照射された前記被撮影物を撮影し、原画像を得る工程と、
前記原画像に対して最大値フィルタ処理又は最小値フィルタ処理のいずれかを行う第1フィルタ処理によって第1フィルタ処理画像を得る工程と、
前記第1フィルタ処理画像に対して最小値フィルタ処理又は最大値フィルタ処理の残余の一方を行う第2フィルタ処理によって第2フィルタ処理画像を得る工程と、
前記第2フィルタ処理画像を背景画像として前記原画像との差分を求めた差分画像を得る工程と、
前記差分画像に対して二値化処理を行い、撮影範囲内に欠陥が存在するか否かを判断するための二値化処理画像を得る工程と、
を有することを特徴とする。
前記被撮影物に縞状照明を照射する縞状照明照射手段と、
前記縞状照明が照射された前記被撮影物を撮影する撮影手段と、
前記撮影手段によって得られた原画像に対し、画像解析処理を行う画像解析処理手段と、
前記縞状照明照射手段及び前記撮影手段を変位させる変位手段と、
を備え、
前記画像解析処理手段は、前記原画像に対して最大値フィルタ処理又は最小値フィルタ処理のいずれかを行って第1フィルタ処理画像を得る第1フィルタ処理と、前記第1フィルタ処理画像に対して最小値フィルタ処理又は最大値フィルタ処理の残余の一方を行って第2フィルタ処理画像を得る第2フィルタ処理と、前記第2フィルタ処理画像を背景画像として前記原画像との差分を求めて差分画像を得る差分処理と、前記差分画像に対する二値化処理とを行うことを特徴とする。
14…スリット光源 20…自動車車体
24…白色発光ダイオード 26…透光カバー
26a…透光部 28…遮光ライン
30…貫通孔 40…カメラ
42…コンピュータ L…スリット光
P1…明暗パターン
Claims (6)
- 被撮影物に対して縞状照明を照射するとともに、前記被撮影物から得られた画像に基づいて該被撮影物に欠陥が存在するか否かを検査する欠陥検査方法であって、
縞状照明照射手段から、前記被撮影物に縞状照明を照射する工程と、
撮影手段によって前記縞状照明が照射された前記被撮影物を撮影し、原画像を得る工程と、
前記原画像に対して最大値フィルタ処理又は最小値フィルタ処理のいずれかを行う第1フィルタ処理によって第1フィルタ処理画像を得る工程と、
前記第1フィルタ処理画像に対して最小値フィルタ処理又は最大値フィルタ処理の残余の一方を行う第2フィルタ処理によって第2フィルタ処理画像を得る工程と、
前記第2フィルタ処理画像を背景画像として前記原画像との差分を求めた差分画像を得る工程と、
前記差分画像に対して二値化処理を行い、撮影範囲内に欠陥が存在するか否かを判断するための二値化処理画像を得る工程と、
を有することを特徴とする欠陥検査方法。 - 請求項1記載の検査方法において、前記第1フィルタ処理を複数回行った後、前記第2フィルタ処理を前記第1フィルタ処理と同一回行うことを特徴とする欠陥検査方法。
- 請求項2記載の検査方法において、前記第1フィルタ処理及び前記第2フィルタ処理を個別に2回以上行うことを特徴とする欠陥検査方法。
- 被撮影物に対して縞状照明を照射するとともに、前記被撮影物から得られた画像に基づいて該被撮影物に欠陥が存在するか否かを検査する欠陥検査装置であって、
前記被撮影物に縞状照明を照射する縞状照明照射手段と、
前記縞状照明が照射された前記被撮影物を撮影する撮影手段と、
前記撮影手段によって得られた原画像に対し、画像解析処理を行う画像解析処理手段と、
前記縞状照明照射手段及び前記撮影手段を変位させる変位手段と、
を備え、
前記画像解析処理手段は、前記原画像に対して最大値フィルタ処理又は最小値フィルタ処理のいずれかを行って第1フィルタ処理画像を得る第1フィルタ処理と、前記第1フィルタ処理画像に対して最小値フィルタ処理又は最大値フィルタ処理の残余の一方を行って第2フィルタ処理画像を得る第2フィルタ処理と、前記第2フィルタ処理画像を背景画像として前記原画像との差分を求めて差分画像を得る差分処理と、前記差分画像に対する二値化処理とを行うことを特徴とする欠陥検査装置。 - 請求項4記載の検査装置において、前記画像解析処理手段は、前記第1フィルタ処理を複数回行った後、前記第2フィルタ処理を前記第1フィルタ処理と同一回行うことを特徴とする欠陥検査装置。
- 請求項5記載の検査装置において、前記画像解析処理手段は、前記第1フィルタ処理及び前記第2フィルタ処理を個別に2回以上行うことを特徴とする欠陥検査装置。
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