CN110530881A - 高精度屏幕视觉检测系统 - Google Patents

高精度屏幕视觉检测系统 Download PDF

Info

Publication number
CN110530881A
CN110530881A CN201910898668.5A CN201910898668A CN110530881A CN 110530881 A CN110530881 A CN 110530881A CN 201910898668 A CN201910898668 A CN 201910898668A CN 110530881 A CN110530881 A CN 110530881A
Authority
CN
China
Prior art keywords
light
detection system
threshold value
light beam
vision detection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201910898668.5A
Other languages
English (en)
Inventor
汪炉生
钱曙光
柳洪哲
罗时帅
柳云鸿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Clooney Automation Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Clooney Automation Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Clooney Automation Co Ltd filed Critical Suzhou Clooney Automation Co Ltd
Priority to CN201910898668.5A priority Critical patent/CN110530881A/zh
Publication of CN110530881A publication Critical patent/CN110530881A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N2021/0106—General arrangement of respective parts
    • G01N2021/0112—Apparatus in one mechanical, optical or electronic block
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
    • G01N2021/8874—Taking dimensions of defect into account
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9511—Optical elements other than lenses, e.g. mirrors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

本发明公开了一种高精度屏幕视觉检测系统，应用在屏幕的检测技术领域，解决了现有的屏幕检测精度不高的技术问题，其技术方案要点是一种高精度屏幕视觉检测系统，包括供待检测产品放置的检测台，还包括：光束产生机构，所述光束产生机构处于检测台上方，所述光束产生机构包括光源输出组件、隔断光源输出组件所输出的光束形成若干平行光的格栅组件；信息处理机构，所述信息处理机构包括处于检测台上方的摄像终端、连接所述摄像终端的显示终端，所述显示终端显示摄像终端所拍摄的图像数据；具有的技术效果是采用光束产生机构产生检测信息，采用信息处理机构采集该检测信息，检测精度高。

Description

高精度屏幕视觉检测系统
技术领域
本发明涉及屏幕的检测技术领域，尤其是涉及一种高精度屏幕视觉检测系统。
背景技术
现有的公告号为CN206160965U的中国专利公开了一种手机屏幕玻璃的平面度检测设备，包括机架，机架包括载物板，平面度检测设备还包括检测机构、控制装置以及执行机构，检测机构包括阵列设置的若干压力传感器，若干压力传感器分别嵌设在载物板中且若干压力传感器的各压力感应面均与载物板的上表面齐平，以检测载物板受到的手机屏幕玻璃的不同位置的压力，控制装置的输入端与若干压力传感器连接，以发出控制指令，执行机构的输入端与控制装置连接，以执行控制指令。通过检测到的若干检测压力值，与标准手机屏幕玻璃的若干标准压力值进行对比，如果二者的差值在设定阈值内且多个检测压力值之间的差值在标准范围内，则该手机屏幕玻璃的平面度符合要求，反之则不符合要求。
上述中的现有技术方案存在以下缺陷：该检测方案基于产品的接触反馈压力，通过压力值判断该产品的表面平整度，相当于多点检测，而非完整的平面检测，实际检测面的覆盖率不高，检测精度亟需提高。
发明内容
本发明的目的是提供一种高精度屏幕视觉检测系统，其优点是以光学检测的方式，借助光的反射效果体现产品的表面平整度，检测精度较高。
本发明的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种高精度屏幕视觉检测系统，包括供待检测产品放置的检测台，还包括：
光束产生机构，所述光束产生机构处于检测台上方，所述光束产生机构包括光源输出组件、隔断光源输出组件所输出的光束形成若干平行光的格栅组件；
信息处理机构，所述信息处理机构包括处于检测台上方的摄像终端、连接所述摄像终端的显示终端，所述显示终端显示摄像终端所拍摄的图像数据。
通过上述技术方案，选取待检测产品，例如取样产品选取为手机屏幕，手机屏幕放置在检测台上，并保持手机屏幕平置状态；光束产生机构实际作用在于产生信息，信息处理机构实际作用在于采集和处理信息；具体的，光束产生机构包括光源输出组件、格栅组件，其中，光源输出组件的作用在于产生光束，光束整体还需要进一步分隔，一整个光束由格栅组件分隔形成更加窄长的多个光束，多个窄长的光束照射在手机屏幕上，形成了多条呈条纹型的条纹光，若手机屏幕平整，则所有条纹光均为平行状态，若手机屏幕不平整，则在不平整的缺陷点处多个条纹光呈非平行状态，或弯曲状态；该检测结果通过摄像终端采集图像数据集，并在显示终端显示该图像数据，通过显示终端的图像数据非常容易判断手机屏幕是否平整，检测精度较高，且对于手机屏幕的检测耗损较小。
本发明进一步设置为：所述光源输出组件包括光源箱，所述光源箱的其中一侧内壁密布有若干灯珠，所述光源箱内置有将光束向格栅组件反射的半透半反射镜；
所述格栅组件包括与光源箱连接的格栅板，格栅板上设有若干个平行、等距的格栅槽。
通过上述技术方案，光源箱一方面用于安装所有的灯珠，另外一方面，光源箱可连接格栅板，通过光源箱采用黑色箱体，避免强光向外照射，大量灯珠照射至半透半反射镜上，反射至格栅板上，通过格栅板上的格栅槽输出平行的条纹光；而光源箱上方的摄像终端可直接透过半透半反射镜采集信息，采集信息的路径和光束路径在同一直线上，使得待检测产品的成像更加清晰可靠，结构集成化程度较高，检测效果较好。
本发明进一步设置为：所述光源箱靠近于所述灯珠的一侧内壁上设有若干散热风机。
通过上述技术方案，由于灯珠密集，且亮度较大，因此产热较多，通过若干个散热风机可将该部分热量散去，减少整体结构的温升情况。
本发明进一步设置为：所述光源箱侧壁与格栅板的两侧之间连接有调节板，所述调节板上设有水平调节槽和高度调节槽，所述调节板上设有用于连接光源箱侧壁的连接螺栓，连接螺栓分别穿过水平调节槽、高度调节槽连接至光源箱侧壁。
通过上述技术方案，格栅板的两侧连接调节板，两个调节板上均设置水平调节槽、高度调节槽，通过水平调节槽和高度调节槽可对调节板的整体倾斜度进行调节，可将格栅板调节至相对水平，输出的光束将均匀、平行。
本发明进一步设置为：所述信息处理机构还包括波纹检测系统，所述波纹检测系统包括：
预设模块，用于设定NG阈值、原始对比值；
图像采集模块，用于获取拍摄的图像数据；
图像信息对比模块，用于将图像数据与已设定的原始对比值进行对比，获得的比对结果为误差度；
将所述误差度与设定的NG阈值对比，误差度大于或等于预设的NG阈值时，反馈显示终端显示不合格；若误差度小于预设的NG阈值时，反馈显示终端显示合格。
通过上述技术方案，本方案中，为了提高检测精度和效率，采用了波纹检测系统，具体的，包括预设模块，预设模块用于设定NG阈值和原始对比值，NG阈值即为错误值的下限，原始对比值为最初定义的合格产品的图像所拍摄记录的数值；图像采集模块用于将图像数据采集，然后与已设定的原始对比值进行对比，获得的比对结果为误差度，例如误差度可能为10%，那么此时的NG阈值设定为12%时，则反馈至显示终端显示合格，若误差度为14%，则反馈至显示终端显示不合格。
本发明进一步设置为：还包括检测参数修改模块，所述检测参数修改模块用于NG阈值的修改和原始对比值的修改。
通过上述技术方案，为了适用于不同产品的检测，本方案的系统中还包括检测参数修改模块，该检测参数修改模块可对NG阈值进行修改，以及对于原始对比值也可进行修改。
本发明进一步设置为：所述NG阈值的修改项包括缺陷宽度阈值、缺陷面积阈值、曲线数阈值、曲线弯曲距离阈值。
通过上述技术方案，NG阈值的具体修改项包括缺陷宽度阈值、缺陷面积阈值、曲线数阈值、曲线弯曲距离阈值，光栅组件输出的多条条形光束的宽度为1mm，如出现异常宽度1.2mm，缺陷宽度阈值可定义为1.1mm，则该异常宽度超过了缺陷宽度阈值，可定义为存在缺陷的不合格品；同理，缺陷面积也属于检测内容之一，在缺陷点处出现亮点或暗点，面积大于缺陷面积阈值则定义为存在缺陷的不合格品；曲线数的统计主要是针对于整体条形波纹中出现的曲线数，如超过五个则可定义为存在缺陷的不合格品；曲线弯曲距离，统计的是曲线偏离于原先位置的宽度方向的偏移量，如果超过设定的曲线弯曲距离阈值，则可判定为存在缺陷的不合格品。
本发明进一步设置为：还包括型号选择模块，所述型号选择模块具有多个标签，每个标签具有独立可修改的NG阈值。
通过上述技术方案，对于不同产品，可保留不同的检测方案，通过标签快速切换检测方式，无需反复修改NG阈值，使用更为方便。
本发明进一步设置为：所述检测台上滑动连接检测工装，所述检测工装上设有容置待检测产品的容置槽，所述容置槽内设有若干支撑柱和吸盘，吸盘高度低于支撑柱，所述吸盘连接至抽真空泵。
通过上述技术方案，检测工装上的容置槽可容置待检测产品，待检测产品可放置手机屏幕，通过支撑柱以及吸盘，使得手机屏幕放置得平稳可靠，检测准确度更高。
本发明进一步设置为：所述检测工装滑动连接于检测台的上台面，所述支撑柱与检测工装可拆卸连接，且检测工装沿其滑动方向设置有折叠百叶。
通过上述技术方案，检测工装可放置待检测产品，同时在检测工装的底侧可调节支撑柱的高度，通过对应的支撑柱的高度调节，保证该检测工装内支撑柱高度一致，提升待检测产品的放置平整度。
综上所述，本发明的有益技术效果为：
1.采用光束产生机构产生检测信息，采用信息处理机构采集该检测信息，检测精度高；
2.光源检测后采用波纹检测系统进行检测信息的分析。
附图说明
图1是本实施例的整体结构示意图；
图2是图1中A处放大图；
图3是本实施例的光源箱和格栅板的结构示意图；
图4是本实施例的光源箱的内部结构示意图；
图5是图4中B处放大图。
附图说明，1、检测台；11、检测工装；111、容置槽；112、支撑柱；113、吸盘；12、折叠百叶；2、光束产生机构；3、光源输出组件；31、光源箱；311、灯珠；312、半透半反射镜；313、散热风机；4、格栅组件；41、格栅板；411、格栅槽；42、调节板；421、水平调节槽；422、高度调节槽；5、信息处理机构；51、摄像终端；52、显示终端；6、抽真空泵。
具体实施方式
以下结合附图对本发明作进一步详细说明。
实施例：参照图1，为本发明公开的一种高精度屏幕视觉检测系统，包括检测台1、光束产生机构2和信息处理机构5。检测台1用于放置待检测产品，光束产生机构2用于在待检测产品上表面产生信息，信息处理机构5用于收集待检测产品的信息，并对信息进行分析处理，以此判断待检测产品的质量。本方案中，具体实施的待检测产品为手机屏幕。
结合图1和图2，检测台1上设有检测工装11，该检测工装11上设置有容置槽111，容置槽111可供待检测产品放置。容置槽111内设置有若干支撑柱112和吸盘113，其中吸盘113高度略低于支撑柱112的高度，吸盘113通过气管连接至抽真空泵6（参考图4）。将手机屏幕放置在放置槽内，此时抽真空泵6工作，使得手机屏幕定位于该容置槽111内。
继续参考图2和图4，检测工装11与检测台1的上台面滑动连接，检测工装11沿其滑动方向设置有折叠百叶12，折叠百叶12用于遮挡检测台1的内腔。支撑柱112与检测工装11螺纹连接，可在使用时调节各个支撑柱112的高度，以使得手机屏幕摆放平整。
参考图3和图4，关于光束产生机构2，光束产生机构2包括光源输出组件3和格栅组件4，光源输出组件3用于输出光束，格栅组件4用于将光束分隔成若干条形的平行光束。具体的，光源输出组件3包括光源箱31，参考图4和图5，光源箱31的其中一侧内壁密布有若干灯珠311，光源箱31内设置有斜置的半透半反射镜312，该半透半反射镜312可将光向下反射；格栅组件4包括格栅板41，格栅板41上设置有若干个平行、等距的格栅槽411，整体的光束穿过格栅槽411后被分隔为密集的多条条形光，多条条形光照射在手机屏幕上。当手机屏幕出现缺陷点时，条纹光的形状就会产生弯曲变形等情况，以此为信息判断手机屏幕好坏与否。
大量灯珠311同时工作将产生大量的热量，为了提高光源箱31的散热能力，参考图1，光源箱31靠近灯珠311的一侧内壁上设置有若干散热风机313，以此解决大量光源箱31的散热问题。
参考图1，光源箱31侧壁与格栅板41的两侧之间连接有调节板42，调节板42呈L型，调节板42上设置有水平调节槽421和高度调节槽422，连接螺栓穿过水平调节槽421和高度调节槽422连接至光源箱31侧壁。当格栅板41需要调节水平度时，旋松连接螺栓，调整至合适水平度后再旋紧连接螺栓。
参考图1，信息处理机构5包括摄像终端51、连接摄像终端51的显示终端52，摄像终端51用于拍摄图像产生图像数据，摄像终端51的焦距在手机屏幕上，手机屏幕上的光透过半透半反射镜312输出至摄像终端51，显示终端52用于显示摄像终端51所拍摄的图像数据。信息处理机构5还包括波纹检测系统，该波纹检测系统包括：
预设模块，用于设定NG阈值、原始对比值；原始对比值为最初定义的合格产品的图像所拍摄记录的数值，NG阈值的修改项包括缺陷宽度阈值、缺陷面积阈值、曲线数阈值、曲线弯曲距离阈值；光栅组件输出的多条条形光束的宽度为1mm，如出现异常宽度1.2mm，缺陷宽度阈值可定义为1.1mm，则该异常宽度超过了缺陷宽度阈值，可定义为存在缺陷的不合格品，或者记为误差度，此处的误差度为误差绝对值除以缺陷宽度阈值；同理，缺陷面积也属于检测内容之一，在缺陷点处出现亮点或暗点，面积大于缺陷面积阈值则定义为存在缺陷的不合格品；曲线数的统计主要是针对于整体条形波纹中出现的曲线数，如超过五个则可定义为存在缺陷的不合格品；曲线弯曲距离，统计的是曲线偏离于原先位置的宽度方向的偏移量，如果超过设定的曲线弯曲距离阈值，则可判定为存在缺陷的不合格品；
检测参数修改模块，检测参数修改模块用于NG阈值的修改和原始对比值的修改；该检测参数修改模块可对NG阈值进行修改，以及对于原始对比值也可进行修改，从而适用于不同型号产品的检测；
图像采集模块，用于获取拍摄的图像数据；
图像信息对比模块，用于将图像数据与已设定的原始对比值进行对比，获得的比对结果为误差度；例如误差度可能为10%，那么此时的NG阈值设定为12%时，则反馈至显示终端52显示合格，若误差度为14%，则反馈至显示终端52显示不合格；该误差度基于前述的NG阈值的一个或多个修改项来设定。
为了适用于多种类型的产品，提高切换效率，波纹检测系统还包括型号选择模块，型号选择模块具有多个标签，每个标签具有独立可修改的NG阈值。
本实施例的实施原理为：将待检测产品，例如手机屏幕放置至检测工装11上，调定至指定位置，光束产生机构2产生密集的条形光束，信息处理机构5采集手机屏幕的成像信息，波纹检测系统反馈检测信息结果。
本具体实施方式的实施例均为本发明的较佳实施例，并非依此限制本发明的保护范围，故：凡依本发明的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种高精度屏幕视觉检测系统，包括供待检测产品放置的检测台(1)，其特征在于，还包括：
光束产生机构(2)，所述光束产生机构(2)处于检测台(1)上方，所述光束产生机构(2)包括光源输出组件(3)、隔断光源输出组件(3)所输出的光束形成若干平行光的格栅组件(4)；
信息处理机构(5)，所述信息处理机构(5)包括处于检测台(1)上方的摄像终端(51)、连接所述摄像终端(51)的显示终端(52)，所述显示终端(52)显示摄像终端(51)所拍摄的图像数据。
2.根据权利要求1所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，所述光源输出组件(3)包括光源箱(31)，所述光源箱(31)的其中一侧内壁密布有若干灯珠(311)，所述光源箱(31)内置有将光束向格栅组件(4)反射的半透半反射镜(312)；
所述格栅组件(4)包括与光源箱(31)连接的格栅板(41)，格栅板(41)上设有若干个平行、等距的格栅槽(411)。
3.根据权利要求2所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，所述光源箱(31)靠近于所述灯珠(311)的一侧内壁上设有若干散热风机(313)。
4.根据权利要求2所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，所述光源箱(31)侧壁与格栅板(41)的两侧之间连接有调节板(42)，所述调节板(42)上设有水平调节槽(421)和高度调节槽(422)，所述调节板(42)上设有用于连接光源箱(31)侧壁的连接螺栓，连接螺栓分别穿过水平调节槽(421)、高度调节槽(422)连接至光源箱(31)侧壁。
5.根据权利要求1所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，所述信息处理机构(5)还包括波纹检测系统，所述波纹检测系统包括：
预设模块，用于设定NG阈值、原始对比值；
图像采集模块，用于获取拍摄的图像数据；
图像信息对比模块，用于将图像数据与已设定的原始对比值进行对比，获得的比对结果为误差度；
将所述误差度与设定的NG阈值对比，误差度大于或等于预设的NG阈值时，反馈显示终端(52)显示不合格；若误差度小于预设的NG阈值时，反馈显示终端(52)显示合格。
6.根据权利要求5所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，还包括检测参数修改模块，所述检测参数修改模块用于NG阈值的修改和原始对比值的修改。
7.根据权利要求6所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，所述NG阈值的修改项包括缺陷宽度阈值、缺陷面积阈值、曲线数阈值、曲线弯曲距离阈值。
8.根据权利要求7所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，还包括型号选择模块，所述型号选择模块具有多个标签，每个标签具有独立可修改的NG阈值。
9.根据权利要求1所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，所述检测台(1)上滑动连接检测工装(11)，所述检测工装(11)上设有容置待检测产品的容置槽(111)，所述容置槽(111)内设有若干支撑柱(112)和吸盘(113)，吸盘(113)高度低于支撑柱(112)，所述吸盘(113)连接至抽真空泵(6)。
10.根据权利要求9所述的高精度屏幕视觉检测系统，其特征在于，所述检测工装(11)滑动连接于检测台(1)的上台面，所述支撑柱(112)与检测工装(11)可拆卸连接，且检测工装(11)沿其滑动方向设置有折叠百叶(12)。
CN201910898668.5A 2019-09-23 2019-09-23 高精度屏幕视觉检测系统 Pending CN110530881A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910898668.5A CN110530881A (zh) 2019-09-23 2019-09-23 高精度屏幕视觉检测系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910898668.5A CN110530881A (zh) 2019-09-23 2019-09-23 高精度屏幕视觉检测系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN110530881A true CN110530881A (zh) 2019-12-03

Family

ID=68669656

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910898668.5A Pending CN110530881A (zh) 2019-09-23 2019-09-23 高精度屏幕视觉检测系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110530881A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112945977A (zh) * 2021-02-09 2021-06-11 苏州天准科技股份有限公司 用于屏幕表面缺陷的检测设备
CN114777693A (zh) * 2022-05-05 2022-07-22 杭州耕德电子有限公司 一种使用光来检测产品平面度的检测装置及检测方法
CN115165920A (zh) * 2022-09-06 2022-10-11 南昌昂坤半导体设备有限公司 一种三维缺陷检测方法及检测设备

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000111490A (ja) * 1998-10-05 2000-04-21 Toyota Motor Corp 塗装面の検出装置
JP2004028785A (ja) * 2002-06-25 2004-01-29 Fuji Photo Film Co Ltd 平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置
JP2004309439A (ja) * 2003-04-10 2004-11-04 Toyota Motor Corp 表面検査装置および方法
JP2010071694A (ja) * 2008-09-16 2010-04-02 Ricoh Co Ltd 表面検査装置、それを用いた欠陥検出方法、プログラム及び記録媒体
JP2013083571A (ja) * 2011-10-11 2013-05-09 Daiwa Can Co Ltd 表面欠損検査装置およびその方法
TW201435335A (zh) * 2013-03-04 2014-09-16 Advanced Semiconductor Eng 檢測裝置及方法
CN106996933A (zh) * 2016-01-25 2017-08-01 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种产品缺陷检测系统及其检测方法
CN107490580A (zh) * 2016-06-09 2017-12-19 本田技研工业株式会社 缺陷检查方法及其设备
CN107490579A (zh) * 2016-06-09 2017-12-19 本田技研工业株式会社 缺陷检查方法及其设备
CN208688987U (zh) * 2019-02-26 2019-04-02 征图新视（江苏）科技有限公司 基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置
CN110108710A (zh) * 2019-01-22 2019-08-09 镇江苏仪德科技有限公司 一种用于纽扣电池正极凹点检测装置及方法
CN110243831A (zh) * 2019-06-06 2019-09-17 锐捷网络股份有限公司 表面缺陷采集系统、表面缺陷检测方法、装置及存储介质
CN110261390A (zh) * 2019-06-13 2019-09-20 深圳市智能机器人研究院 一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000111490A (ja) * 1998-10-05 2000-04-21 Toyota Motor Corp 塗装面の検出装置
JP2004028785A (ja) * 2002-06-25 2004-01-29 Fuji Photo Film Co Ltd 平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置
JP2004309439A (ja) * 2003-04-10 2004-11-04 Toyota Motor Corp 表面検査装置および方法
JP2010071694A (ja) * 2008-09-16 2010-04-02 Ricoh Co Ltd 表面検査装置、それを用いた欠陥検出方法、プログラム及び記録媒体
JP2013083571A (ja) * 2011-10-11 2013-05-09 Daiwa Can Co Ltd 表面欠損検査装置およびその方法
TW201435335A (zh) * 2013-03-04 2014-09-16 Advanced Semiconductor Eng 檢測裝置及方法
CN106996933A (zh) * 2016-01-25 2017-08-01 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种产品缺陷检测系统及其检测方法
CN107490580A (zh) * 2016-06-09 2017-12-19 本田技研工业株式会社 缺陷检查方法及其设备
CN107490579A (zh) * 2016-06-09 2017-12-19 本田技研工业株式会社 缺陷检查方法及其设备
CN110108710A (zh) * 2019-01-22 2019-08-09 镇江苏仪德科技有限公司 一种用于纽扣电池正极凹点检测装置及方法
CN208688987U (zh) * 2019-02-26 2019-04-02 征图新视（江苏）科技有限公司 基于光栅成像的偏光片缺陷检测装置
CN110243831A (zh) * 2019-06-06 2019-09-17 锐捷网络股份有限公司 表面缺陷采集系统、表面缺陷检测方法、装置及存储介质
CN110261390A (zh) * 2019-06-13 2019-09-20 深圳市智能机器人研究院 一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112945977A (zh) * 2021-02-09 2021-06-11 苏州天准科技股份有限公司 用于屏幕表面缺陷的检测设备
CN114777693A (zh) * 2022-05-05 2022-07-22 杭州耕德电子有限公司 一种使用光来检测产品平面度的检测装置及检测方法
CN114777693B (zh) * 2022-05-05 2024-03-22 杭州耕德电子有限公司 一种使用光来检测产品平面度的检测装置及检测方法
CN115165920A (zh) * 2022-09-06 2022-10-11 南昌昂坤半导体设备有限公司 一种三维缺陷检测方法及检测设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110530881A (zh) 高精度屏幕视觉检测系统
US11321824B2 (en) Modular optical inspection station
CN106091926B (zh) 多点光源异步曝光的小型工件内槽尺寸的检测装置与方法
CN208398802U (zh) 一种后壳尺寸测量设备
CN214747771U (zh) 零部件自动检测设备
CN107024475B (zh) 基于自动光学检测程序的触摸面板自动检测设备
CN106645169A (zh) 一种用于液晶屏边沿线路检测的图像采集系统
CN110160445B (zh) 一种基于远心光学技术的视觉测量仪
CN211830951U (zh) 影像采集装置
CN109655236A (zh) 传感器像平面与镜头接口端面平行度检测方法及装置
CN111999309A (zh) 定位柱缺陷工业视觉检测设备及检测方法
CN110031470A (zh) 光学检测设备
CN212514319U (zh) 定位柱缺陷工业视觉检测设备
CN105261319A (zh) 屏幕检测装置及其检测方法
CN208766120U (zh) 一种键帽检测装置
CN218723934U (zh) 一种用于大幅面Mini LED面板的自动化检测装备
CN109490807B (zh) 基于图像处理技术的显示仪表自动识别系统及校验方法
CN218723862U (zh) 光学检测装置及激光加工设备
CN111562272A (zh) 金属管视觉检测装置
CN109887454A (zh) 一种阻抗检测设备
CN103486966A (zh) 光学测量机器及方法
CN114674834A (zh) 一种曲面屏缺陷检测设备
CN107727664B (zh) 钣金视觉检测采集终端及方法
CN113115030A (zh) 用于摄像头模组的多工位测试设备
CN108076340B (zh) Ccd/cmos参数检测系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20191203