JP2004028785A - 平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置 - Google Patents

平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004028785A
JP2004028785A JP2002185239A JP2002185239A JP2004028785A JP 2004028785 A JP2004028785 A JP 2004028785A JP 2002185239 A JP2002185239 A JP 2002185239A JP 2002185239 A JP2002185239 A JP 2002185239A JP 2004028785 A JP2004028785 A JP 2004028785A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
web
parallel light
parallel
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002185239A
Other languages
English (en)
Inventor
Takahiro Nakamura
中村 貴廣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP2002185239A priority Critical patent/JP2004028785A/ja
Publication of JP2004028785A publication Critical patent/JP2004028785A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】スジ状の欠陥の検出感度や精度の低下を抑える。
【解決手段】ランプボックス23とライトガイド27と角度調整機構28と凹面鏡24とから、平行光発生部11を構成する。平行光発生部11からの平行光をウェブ15に向けて照射する。ウェブ15を透過した平行光をラインセンサカメラ13により撮像する。この撮像信号に基づきウェブ15のスジ状の欠陥を判定する。凹面鏡24は、糸巻型の歪曲収差を有し、ウェブ15の幅方向に長いスリット状に光を投影する。ライトガイド27から凹面鏡24への光の向きを角度調整機構28により調整する。凹面鏡24の歪曲収差が大きい部分を使用してランプボックス23からの光をウェブ15に照射し、スリット状の投影部分におけるウェブ幅方向の光量分布をほぼ一定にする。光量分布変動に起因する検出感度の低下や検出精度の低下が抑制される。
【選択図】        図1

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、平行光発生装置及びこれを用いたウェブ欠陥検出装置に関し、特に透明または半透明のウェブ(帯状物体)に発生するスジなどの連続性欠陥を光学的に検出する際に用いて好適な平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
特開平2−307975号公報に開示されているように、連続的に搬送される透明に近いウェブに発生する視認困難なスジ状欠陥に対して、平行光を照射し、ウェブを透過した光をスクリーンなどに投影することによって、スクリーン上で濃淡画像を形成し、この像をラインセンサカメラなどによって受光処理することにより、スジ状欠陥か否かを判定する検査方法及び装置がある。このようなスジ状欠陥検査装置によれば、目視による判定が困難なスジ状欠陥であっても連続的にしかも自動的に欠陥を検出することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来の欠陥検査装置では、前記平行光によってウェブ上に投影される幅方向に長いスリット状の投影エリア内におけるウェブ幅方向での光量分布が均一ではなく、中央部が光量が高く、端に向かうにしたがい次第に光量が低くなる山形状の分布となっており、中央部に比べて両側部分で欠陥検出精度が低下するという問題があった。また、ハロゲンランプなどを交換すると、その取付位置やフィラメントの位置などの変動によって、同じように投影エリアにおける光量分布が変動してしまい、検出感度がランプ交換前と大きく異なってしまうことがあり、その調整に手間と時間がかかっていた。このため、ランプ交換などを行っても、調整などが不要で検出感度が異ならないようにした欠陥検出装置の出現が望まれていた。
【0004】
本発明は上記課題を解決するためのものであり、被照射物にスリット状に投影する平行光のスリット長手方向における光量分布を簡単な構成でほぼ均一にすることができ、しかもランプなどの光源の交換などを行っても、人手による調整が不要になるようにした平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明では、平行光発生光学系を有し、被照射物に向けて平行光を照射する平行光発生装置において、光源と、この光源からの光を前記平行光発生光学系へ導光する導光手段と、この導光手段から前記平行光発生光学系への光の向きを変更する調整手段とを有することを特徴とする。なお、前記導光手段は前記光源と前記平行光発生光学系との間に配置されるライトガイドであり、前記調整手段は前記ライトガイドの出射口を保持して変位する変位手段を有し、前記平行光発生光学系は、歪曲収差を有する凹面鏡またはレンズであって、前記被照射物の幅方向に長いスリット状に光を投影するものを用い、前記変位手段により平行光発生光学系への射出角度または射出位置を変えて、前記歪曲収差が大きい部分を使用して前記スリット状の投影部分における被照射物幅方向の光量分布をほぼ一定にすることが好ましい。また、このように構成した平行光発生装置をウェブ欠陥検出装置に用いることが好ましい。ウェブ欠陥検出装置では、前記平行光発生装置からの平行光をウェブに向けて照射し、前記ウェブを透過した平行光を撮像手段により撮像し、この撮像手段からのビデオ信号に基づき前記ウェブの欠陥を検出することが好ましい。
【0006】
【作用】
光源と、この光源からの光を平行光発生光学系へ導光する導光手段と、この導光手段から前記平行光発生光学系への光の向きを変更する出射角度調整手段とから、平行光発生装置を構成することにより、光源を平行光発生光学系に近接した位置で配置する必要がなく、交換が容易な位置に設定することができる。しかも、光源としてランプを用いる際に、ランプを直接に平行光発生光学系に取り付ける場合に発生するランプ取付位置やフィラメント位置の変動の発生が抑えられ、常に一定した位置から平行光発生光学系へ光を導くことができる。したがって、ランプ交換に際して発光点の位置調整などが不要になる。
【0007】
また、導光手段から平行光発生光学系への光の向きを変更する調整手段を備えることにより、光の向きの変更によって、被照射物としての例えばウェブ上に投影するエリアにおけるウェブ幅方向の光量分布をほぼ一定にする位置に簡単に出射角度や出射位置を調整することができる。したがって、光量分布変動に起因する検出感度の低下や検出精度の低下が抑制される。
【0008】
【発明の実施の形態】
図1は本発明のウェブ欠陥検出装置を示す概略図である。このウェブ欠陥検出装置10は、平行光発生部11と、スクリーン12と、撮像手段としてのCCDラインセンサカメラ13と、信号処理部14とから構成されており、連続走行する被検査体としてのウェブ15に対して平行光発生部11から平行光を照射し、ウェブ15を透過した光をスクリーン12に投影し、この投影光をラインセンサカメラ13で撮像し、この撮像データに基づき信号処理部14で欠陥出力を発生する。
【0009】
平行光発生部11は、ハロゲンランプ20、リフレクタ21、及びレンズ22を内蔵したランプボックス23と、凹面鏡24をハウジング25内に有する平行光発生器26と、導光手段としてのライトガイド27と、ライトガイド27の光出端部27aを保持してその投影角度を変更する角度調整機構28とを備えている。ライトガイド27は、一端(光出端部)27aが角度調整機構28に他端27bがランプボックス23に取り付けられている。角度調整機構28はハウジング25に取り付けられている。
【0010】
図2に示すように、角度調整機構28は、光出端部27aとこの光出端部27aの保持プレート31と角度調整用支軸32と角度調整固定ねじ33とベース34とから構成されている。光出端部27aは保持プレート31に固定されている。この保持プレート31は角度調整用支軸32を介してベース34に固定ねじ33で固定される。この固定の際に、角度調整用支軸32を中心にして保持プレート31の取り付け角度が変更される。なお、角度調整機構28は上記機構に限られず、光出端部27aを鉛直方向で僅かに角度変位させる機構であればよい。また、角度変位に変えて、ほぼ鉛直方向で光出端部27aをシフトさせてもよく、この場合にも、後に説明するように、平行光のウェブ幅方向における光量分布をほぼ一定にすることができる。
【0011】
図3は、平行光発生器26の概略を示す平面図である。ライトガイド27の光出端部27aから射出されたハロゲンランプ20(図1参照)からの光は拡散して凹面鏡24に入射し、ここで反射することにより平行光とされる。そして、図4に示すように、平行光がウェブ15の幅方向で水平方向に長くスリット状の投影エリア29としてウェブ15に投影される。
【0012】
図5はスジなどの欠陥を検出する原理を示している。同図(A)に示すように、ウェブ15が透明な支持体15aと透明な塗布層15bとからなるとき、塗布層15bにスジなどの欠陥部39a,39bがあるときには、その欠陥部39a,39bの盛り上がりによる界面での屈折で、欠陥部39a,39bに対応したスクリーン12上では光量が増える。同図(B)はこのときのスクリーン12上におけるウェブ幅方向での輝度を示しており、欠陥39a,39bに対応する位置で輝度変化が生じていることが判る。塗布層15bに不純物の混入がある場合には、スクリーン12上で欠陥部に対応する個所の光量が低下する。また、ピンホールによる欠陥部が存在する場合には、その個所では塗布層15bによる吸収が全くないから、スクリーン12上での明るさは、正常な部分に対して明るくなる。スクリーン12上における輝度変化を検出することにより、これらの欠陥の有無や位置を知ることができる。
【0013】
図1に示すように、スクリーン12に投影されたウェブ透過光は、ラインセンサカメラ13により撮像される。この撮像データは信号処理部14に送られる。信号処理部14は、微分回路35、二値化回路36を備えている。微分回路35は、ラインセンサ13からの信号を微分化してエッジを強調する。二値化回路36は、微分回路35からの信号を予め定められた設定値と比較して、設定値を超えた場合に欠陥信号を出力する。
【0014】
ラインセンサカメラ13は、スキャン方向に受光素子が一列に並べられており、ウェブ検査範囲の像をカメラレンズにより受光素子上に結像させる。そして、各受光素子でスキャンレーン毎に一定時間積分しビデオ信号を得る。このビデオ信号において例えば暗欠陥があればビデオ信号の対応部分が低くなる。検査範囲とビデオ信号の各受光素子の位置は対応しているので、ウェブ幅方向での欠陥の位置が特定される。
【0015】
ところで、従来のハロゲンランプ内蔵タイプの平行光発生部の場合には、スクリーン12の材質、スクリーン12への入射角、ラインセンサカメラ13の受光角の設定によって、図6に示すようにラインセンサカメラ13で受光した時のビデオ信号が山形となる。このため、本発明では、図7に示すように、あえて光軸をずらせて凹面鏡24で生じる糸巻型の歪曲収差が大きい部分(例えばB−B線位置)を使用し、(B)に示すように、ウェブ幅方向における中央部の光量を減じて、全体がフラットに近くなるようにして、ほぼ光量を均一にしている。なお、(A)はA−A線におけるビデオ信号の一例であり、(B)はB−B線におけるビデオ信号の一例であり、(C)はC−C線におけるビデオ信号の一例である。
【0016】
すなわち、図7に示すように、中央部のA−A線から例えば上方のB−B線の位置となるように光源からの光を凹面鏡24によって反射させることで、中央部分の光量を減じて全体としてフラットに近くなるようにし、光量を均一にする。実際には、斜めから凹面鏡24へ光源の光が入射しているので、コマ収差などの影響もかなり大きいが、ここでは模式的に示している。
【0017】
このように、平行光の投影エリアにおけるウェブ幅方向の光量分布をほぼ均一にすることにより、図6(A)に示すように、ラインセンサカメラ13で受光したときのビデオ信号がフラットになり、ラインセンサカメラ13の視野位置が変わっても、検出感度をほぼ一定にすることができる。したがって、検出精度が低下することもなく、欠陥を確実に検出することができる。
【0018】
前記光量分布を均一にするための角度調整の際には、パソコンオシロなどの波形観測が可能な機器を接続して、ラインセンサカメラ13からのビデオ信号の波形を観測しながら、角度調整機構28を操作して光出射角度を変更する。そして、ビデオ信号の出力が山形からフラットになる位置を探し、この位置で角度調整機構28の操作を止めて、光出端部の位置を固定する。なお、固定ねじ33を人手により調整して角度調整を行う他に、ビデオ信号の波形に基づき各受光素子の信号レベルがほぼ同じになるように、自動的に角度調整機構を制御するように構成してもよい。
【0019】
従来の光源内蔵方式では、光源としてハロゲンランプを使用したときに、フィラメントの位置がものによってはかなりずれている場合もあり、このようなランプと交換してしまうと、調整することが困難になる。さらには、光源内蔵方式では、ランプ交換に手間を要する他に、交換の際に、位置調整済みの平行光発生部の位置がずれることもあり、この場合には再度位置を調整する必要がある。
【0020】
本発明では、ランプ20をランプボックス23に収納して平行光発生器26の外側に別個に配置し、さらにランプボックス23と平行光発生器26との間にライトガイド27を設け、ランプ20の光を平行光発生器26に導いているので、ランプボックス23の取り付け位置を任意に設定することができ、これによりランプ20の交換が容易な位置とすることにより、簡単にランプ交換が行える。しかも、ライトガイド27の光出端部27aはランプ交換では位置が変動することもなく、再度の位置調整などが不要になる。
【0021】
図8は、幅広のウェブ40に対して同様の検査を行うときの構成を示している。この場合には、複数の平行光発生器41〜44を、ウェブ40の幅方向で互いに部分的に重畳するように配置し、非検査領域が生じないように投影エリア41a〜44aを設定しておく。ウェブ40の背後には、上記同様にスクリーン45が配置され、各々の投影像は、平行光発生器41〜44の個々に対応して配置された4台のラインセンサカメラ(図示せず)で撮像される。これによれば、ウェブ40の幅方向全域で平行光の照射が可能になり、ウェブ幅方向全体にわたって欠陥を精度よく検出することができる。
【0022】
なお、上記実施形態では、拡散反射性のスクリーン12,45から反射式にCCDラインセンサカメラ13で撮像したが、拡散透過型のスクリーンを利用してスクリーンの背後から撮像してもよい。また、CCDラインセンサカメラの代わりに、他のビデオカメラなどにより撮像してもよい。
【0023】
平行光発生部11は凹面鏡24として放物面鏡を用いることができる他に、反射型に代えてレンズを利用したコリメート光学系を用いてもよい。
【0024】
また、スクリーン12からの反射光を撮像する場合に、図1、図3では、ウェブ15を再度透過させて撮像しているが、図9に示すように、ウェブ15を透過させずにその反射光を撮像してもよい。
【0025】
なお、上記実施形態では、ウェブ欠陥検出装置に本発明の平行光発生装置を用いた例について説明したが、平行光発生装置はウェブ欠陥検出装置のみならず、平行光を必要とする各種装置に用いることが可能である。
【0026】
【発明の効果】
本発明によれば、光源と、この光源からの光を平行光発生光学系へ導光する導光手段と、この導光手段から平行光発生光学系への光の向きを変更する出射角度調整手段とから平行光発生装置を構成したから、導光手段を介して光源と平行光発生光学系とを分離することができ、光源部を光源の交換容易な位置に設定することが可能になる。また、射出角度調整手段により、平行光発生光学系への光の向きを変更することにより、被照射物である例えばウェブにおける平行光の投影領域において、ウェブ幅方向の光量をほぼ一定にすることができる。したがって、平行光発生装置をウェブ欠陥検出装置などに用いる場合には、光量分布変動に起因するムラ欠陥の検出感度の低下や検出精度の低下が抑制される。
【0027】
特に、歪曲収差を有する凹面鏡またはレンズであって、前記ウェブの幅方向に長いスリット状に光を投影するものを用いて平行光発生光学系を構成し、変位手段により平行光発生光学系への射出角度を変えて、前記歪曲収差が大きい部分を使用して前記スリット状の投影部分におけるウェブ幅方向の光量分布をほぼ一定にすることにより、簡単な構成で光量分布がほぼ一定な平行光が得られるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のウェブ欠陥検出装置を示す概略図である。
【図2】角度調整機構の概略を示す正面図である。
【図3】平行光発生部の概略を示す平面図である。
【図4】ウェブ欠陥検出装置を示す斜視図である。
【図5】スジなどの欠陥を検出する原理を示す概略図である。
【図6】ビデオ信号を示すグラフであり、(A)が本発明のものを、(B)が従来のものを示している。
【図7】凹面鏡による糸巻型の歪曲収差の一例と、検査光として利用する部位の光量分布の一例をその他の部位と比較して示すグラフである。
【図8】幅広のウェブを検査する他の実施形態における平行光発生部の配置例を示す斜視図である。
【図9】ウェブを透過してスクリーンで反射した光を直接に撮像する他の実施形態における平行光発生部、スクリーン、撮像部の配置例を示す概略図である。
【符号の説明】
10 ウェブ欠陥検出装置
11 平行光発生部
12,45 スクリーン
13 ラインセンサカメラ
14 信号処理部
15 ウェブ
20 ハロゲンランプ
24 凹面鏡
26 平行光発生器
27 ライトガイド
27a 光出端部
28 角度調整機構
29 投影エリア
31 保持プレート
32 支軸
33 固定ねじ
39a,39b 欠陥部

Claims (4)

  1. 平行光発生光学系を有し、被照射物に向けて平行光を照射する平行光発生装置において、
    光源と、この光源からの光を前記平行光発生光学系へ導光する導光手段と、この導光手段から前記平行光発生光学系への光の向きを変更する調整手段とを有することを特徴とする平行光発生装置。
  2. 前記導光手段は前記光源と前記平行光発生光学系との間に配置されるライトガイドであり、前記調整手段は前記ライトガイドの出射口を保持して変位する変位手段を有し、前記平行光発生光学系は、歪曲収差を有する凹面鏡またはレンズであって、前記被照射物に対してスリット状に光を投影するものを用い、前記変位手段により平行光発生光学系への射出角度または射出位置を変えて、前記歪曲収差が大きい部分を使用して前記スリット状の投影部分におけるスリット長手方向の光量分布をほぼ一定にすることを特徴とする請求項1記載の平行光発生装置。
  3. 平行光発生光学系を有する平行光発生手段からの平行光をウェブに向けて照射し、前記ウェブを透過した平行光を撮像手段により撮像し、この撮像手段からのビデオ信号に基づき前記ウェブの欠陥を検出するウェブ欠陥検出装置において、
    前記平行光発生手段を、光源と、この光源からの光を前記平行光発生光学系へ導光する導光手段と、この導光手段から前記平行光発生光学系への光の向きを変更する調整手段とから構成したことを特徴とするウェブ欠陥検出装置。
  4. 前記導光手段は前記光源と前記平行光発生光学系との間に配置されるライトガイドであり、前記調整手段は前記ライトガイドの出射口を保持して変位する変位手段を有し、前記平行光発生光学系は、歪曲収差を有する凹面鏡またはレンズであって、前記ウェブの幅方向に長いスリット状に光を投影するものを用い、前記変位手段により平行光発生光学系への射出角度または射出位置を変えて、前記歪曲収差が大きい部分を使用して前記スリット状の投影部分におけるウェブ幅方向の光量分布をほぼ一定にすることを特徴とする請求項3記載のウェブ欠陥検出装置。
JP2002185239A 2002-06-25 2002-06-25 平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置 Pending JP2004028785A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002185239A JP2004028785A (ja) 2002-06-25 2002-06-25 平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002185239A JP2004028785A (ja) 2002-06-25 2002-06-25 平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004028785A true JP2004028785A (ja) 2004-01-29

Family

ID=31180947

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002185239A Pending JP2004028785A (ja) 2002-06-25 2002-06-25 平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004028785A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008536127A (ja) * 2005-04-06 2008-09-04 コーニング インコーポレイテッド ガラス検査装置及びその使用方法
CN110530881A (zh) * 2019-09-23 2019-12-03 苏州科洛尼自动化有限公司 高精度屏幕视觉检测系统

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008536127A (ja) * 2005-04-06 2008-09-04 コーニング インコーポレイテッド ガラス検査装置及びその使用方法
CN110530881A (zh) * 2019-09-23 2019-12-03 苏州科洛尼自动化有限公司 高精度屏幕视觉检测系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7973921B2 (en) Dynamic illumination in optical inspection systems
JP3404134B2 (ja) 検査装置
US7382457B2 (en) Illumination system for material inspection
US7295305B2 (en) Method and its apparatus for inspecting a pattern
JP5388543B2 (ja) 外観検査装置
JP3729154B2 (ja) パターン欠陥検査方法及びその装置
JP3385432B2 (ja) 検査装置
EP3355049A1 (en) Inspection illumination device and inspection system
TWI497031B (zh) 產生一物體之一影像的光學裝置及方法
JP5866573B1 (ja) 検査用照明装置及び検査システム
KR101120226B1 (ko) 표면 검사 장치
US20130258324A1 (en) Surface defect detecting apparatus and method of controlling the same
JPH1090198A (ja) 欠陥を検出するための方法および照射装置
CN218917225U (zh) 检测系统
KR101211438B1 (ko) 결함 검사장치
JP2004012301A (ja) パターン欠陥検出方法およびその装置
JP2006284212A (ja) ムラ検査装置およびムラ検査方法
CN107796829B (zh) 检查装置
JP2004028785A (ja) 平行光発生装置及びウェブ欠陥検出装置
KR101447857B1 (ko) 렌즈 모듈 이물 검사 시스템
CN106999037B (zh) 眼睛检查装置
TWI817991B (zh) 光學系統,照明模組及自動光學檢測系統
KR20230022725A (ko) 머신비전용 조명모듈 검사장치 및 이를 이용한 머신비전용 조명모듈 검사방법
JP2012042254A (ja) レンズ欠陥の検査方法
KR100767499B1 (ko) 불균일 검사장치 및 불균일 검사 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050202

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712

Effective date: 20061214

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070831

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071017

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071210

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080319

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080430

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080528

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080708

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080903